KR102409462B1 - 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명의 한 실시예는 연구용 원자로 내부에서 핵연료 및 재료 조사 시험 중에 실시간으로 사용되는 방사선 계측 시험 중 감마선을 용이하게 측정할 수 있는 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치를 제공하기 위한 것이다. 본 발명의 한 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치는 일측에 MI(Mineral Insulator) 케이블이 삽입되고 길이방향을 따라 내부 공간을 갖고, 상부의 제1 플러그와 하부의 제2 플러그의 결합으로 밀폐되는 외형을 형성하는 본체, MI 케이블과 전기적으로 연결되며, 서로 대면되는 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트를 포함하는 콜렉터 플레이트, 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트의 사이에 구비되어 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트에 각각 결합되며, MI 케이블과 전기적으로 연결되는 에미터 플레이트, 그리고 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트의 체결부위에 결합되어 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트, 그리고 에미터 플레이트의 결합상태를 유지하는 체결부를 포함하며, 외부로부터 감마선이 본체와 콜렉터 플레이트를 통과하여 에미터 플레이트로 입사되면 이온화되어 발생하는 전자를 외부로부터 인가되는 바이어스 전원의 MI 케이블에 의해 흐르는 전류를 측정한다.

Description

조사시험용 바이어스 감마선 검출장치{BIAS GAMMA-RAY DETECTOR FOR IRRADIATION TEST}
본 발명은 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치에 관한 것이다.
원자로에서 감마선을 측정함으로써 위치에 따른 노내 방사선 측정에 사용되는 감마선 측정 검출기가 자기 출력형 감마 검출기(SPGD; Self Powered Gamma Detector)로 상용화되어 사용되고 있다. 자기 출력형 감마 검출기의 기본 원리는 전기 신호용 동축 케이블과 연결된 에미터(Emitter)에 감마선이 흡수되면 컴프턴 효과(Compton Effect)와 광전효과(Photoelectric Effect)에 의해 전자가 방출된다. 그리고 알루미나(Al2O3) 혹은 산화 마그네슘(MgO2)과 같은 절연체를 거쳐 콜렉터(Collector)에 도달함으로써 에미터에는 전자가 부족하여 중심 도선은 + 전위를 보이고 콜렉터에는 전자 공급에 의해 - 전위가 된다. 이때 감마선 조사에 따른 미소 전류를 측정하기 위해서는 반드시 에미터에서 발생된 전자가 콜렉터에 도달하여야 하는데 일부 전자는 에미터와 콜렉터 사이의 절연체내 흡수되거나 에미터 내부에서 소멸 등으로 전류 형성에 기여하지 못한다. 따라서 감마선 조사에 따른 미소 전류를 정확히 측정하기 위한 기술이 요구되고 있다.
관련 선행문헌으로 일본등록특허 6,095,099는 "자기 출력형 감마선 검출기"을 개시한다.
일본등록특허 6,095,099
본 발명의 한 실시예는 연구용 원자로 내부에서 핵연료 및 재료 조사 시험 중에 실시간으로 사용되는 방사선 계측 시험 중 감마선을 용이하게 측정할 수 있는 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치를 제공하기 위한 것이다.
상기 과제 이외에도 구체적으로 언급되지 않은 다른 과제를 달성하는 데 본 발명에 따른 실시예가 사용될 수 있다.
본 발명의 한 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치는 일측에 MI(Mineral Insulator) 케이블이 삽입되고 길이방향을 따라 내부 공간을 갖고 길게 형성되며, 상부의 제1 플러그와 하부의 제2 플러그의 결합으로 밀폐되는 외형을 형성하는 본체, MI 케이블과 전기적으로 연결되며, 서로 대면되는 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트를 포함하는 콜렉터 플레이트, 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트의 사이에 구비되어 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트에 각각 결합되며, MI 케이블과 전기적으로 연결되는 에미터 플레이트, 그리고 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트의 체결부위에 결합되어 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트, 그리고 에미터 플레이트의 결합상태를 유지하는 체결부를 포함하며, 외부로부터 감마선이 본체와 콜렉터 플레이트를 통과하여 에미터 플레이트로 입사되면 이온화되어 발생하는 전자를 외부로부터 인가되는 바이어스 전원의 MI 케이블에 의해 흐르는 전류를 측정한다.
본 발명의 한 실시예는 에미터 플레이트와 콜렉터 플레이트 사이의 전하 손실이 최소로 되어 기존 자기 출력형 감마 검출기보다 훨씬 큰 전류값을 측정할 수 있으며, 본체 내부의 밀봉으로 외부 잡음에 대한 특성을 향상시킬 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마 검출장치의 내부를 도시한 부분 단면도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 콜렉터 플레이트와 에미터 플레이트의 결합관계를 도시한 도면이다.
도 3는 본 발명의 실시예에 따른 콜렉터 플레이트와 에미터 플레이트에 전기적으로 연결되는 외부 바이어스 전압 및 출력 전류의 예시도이다.
도 4는 본 발명의 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마 검출장치의 소형 캡슐 형태의 외형을 나타낸 도면이다.
첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대해 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 도면부호가 사용되었다. 또한 널리 알려져 있는 공지기술의 경우 그 구체적인 설명은 생략한다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
이하에서는 도면들을 참조하여 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치를 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마 검출장치의 내부를 도시한 부분 단면도이며, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 콜렉터 플레이트와 에미터 플레이트의 결합관계를 도시한 도면이다. 그리고 도 3는 본 발명의 실시예에 따른 콜렉터 플레이트와 에미터 플레이트에 전기적으로 연결되는 외부 바이어스 전압 및 출력 전류의 예시도이며, 도 4는 본 발명의 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마 검출장치의 소형 캡슐 형태의 본체 외형을 나타낸 도면으로 외형의 크기를 간접적으로 확인할 수 있다.
도 1 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마 검출장치는 MI(Mineral Insulator) 케이블(100), 슬리브(110), 제1 플러그(120), 본체(130), 제2 플러그(140), 핀 홀(150), 제1 콜렉터 플레이트(160), 제2 콜렉터 플레이트(170), 에미터 플레이트(180), 체결부(190)를 포함하며, 외부로부터 감마선이 본체(130)와 콜렉터 플레이트를 통과하여 에미터 플레이트(180)로 입사되면 이온화되어 발생하는 전자를 외부로부터 인가되는 바이어스 전원의 MI 케이블(100)에 의해 흐르는 전류를 측정한다. 그리고 본체(130) 부분을 소형 캡슐 형태로 형성할 수 있어 접촉부에 대한 내구성 향상과 고온 환경에서의 사용뿐만 아니라 에미터 플레이트(180)에서 발생되는 신호를 손실없이 전류 측정이 가능하다.
본체(130)는 일측에 MI 케이블(100)의 일부가 삽입되고 길이방향을 따라 내부 공간을 갖고 길게 형성되며, 상부의 제1 플러그(120)와 하부의 제2 플러그(140)의 결합으로 밀폐되는 외형을 형성할 수 있다. 본체(130)는 원자로 냉각수로부터 보호하기 위해 외부가 밀폐된 캡슐 형태로 형성될 수 있다. 본체(130)는 제1 플러그(120)의 일측에 구비되어 본체(130)의 내부 진공 후 헬륨을 채운 다음 용접으로 밀봉하여 헬륨 누설 검사를 하는 핀 홀(150)을 더 포함할 수 있다. MI 케이블(100)이 내측에 보호되어 외부와의 접촉을 차단하는 원통형상의 슬리브(110)를 더 포함할 수 있다. MI 케이블(100)과 연결된 본체(130)의 내부는 원자로 냉각수로부터 보호하기 위해 외부가 밀폐된 소형 캡슐 형태로 형성할 수 있다. 즉, 본체(130)는 제1 플러그(120), 그리고 제2 플러그(140)와 조립되며 MI 케이블(100)과 제1 플러그(120)와의 연결 부위는 정밀 용접하여 밀봉할 수 있다. 최종적으로 본체(130)는 소형 캡슐 형태로 형성할 수 있으며, 본체(130)의 내부는 제1 플러그(120)의 핀 홀(150)을 통해 진공 후 헬륨을 채운 다음 핀 홀(150) 용접으로 밀봉하여 헬륨 누설 검사가 가능하도록 형성할 수 있다.
콜렉터 플레이트는 MI 케이블(100)과 전기적으로 연결되며, 서로 대면되는 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170)를 포함할 수 있다. MI 케이블(100)의 + 도선은 제1 콜렉터 플레이트(160)에 전기적으로 연결될 수 있다. 제1 콜렉터 플레이트(160)는 MI 케이블(100)의 + 도선이 MI 케이블(100)의 - 도선과 일부 분기되어 안착되도록 오목한 형상의 안착홈(200)을 구비할 수 있다. 여기서 안착홈(200)은 V형상으로 형성될 수 있다. 콜렉터 플레이트는 알루미늄 성분을 포함할 수 있다. 제1 콜렉터 플레이트(160)의 표면과 제2 콜렉터 플레이트(170)의 표면은 적어도 에미터 플레이트(180)와 접하는 면에 절연층을 포함할 수 있다. 여기서, 절연층은 아노다이징 절연층을 포함할 수 있다. 제1 콜렉터 플레이트(160)의 표면과 제2 콜렉터 플레이트(170)의 표면은 적어도 에미터 플레이트(180)와 접하는 면에 에미터 플레이트(180)의 길이방향을 따라 대응하는 형상으로 오목한 결합홈(162)이 구비될 수 있다. 여기서, 결합홈(162)의 두께는 에미터 플레이트(180)의 두께보다 크거나 같은 크기로 형성되며, 체결부(190)의 결합으로 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170)의 사이에서 가압 밀착 접촉될 수 있다.
에미터 플레이트(180)는 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170)의 사이에 구비되어 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170)에 각각 표면 결합되며, MI 케이블(100)과 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 에미터 플레이트(180)는 외부 표면을 아노다이징 절연층으로 형성된 하부의 제1 콜렉터 플레이트(160와 상부의 제2 콜렉터 플레이트(170)의 사이에 조립시킨다. MI 케이블(100)의 - 도선은 에미터 플레이트(180)에 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 계장선으로 사용되는 MI 케이블(100)의 2개 도선이 에미터 플레이트(180)와 콜렉터 플레이트에 각각 전기적으로 연결되도록 위치시킨 후 체결부(190)를 통해 MI 케이블(100)을 견고하게 조립한다. MI 케이블(100)의 - 도선은 에미터 플레이트(180)에 위치하여 연결한다. 그리고 MI 케이블(100)의 + 도선은 제1 콜렉터 플레이트(160)의 안착홈(200)에 연결되도록 조립한다. 조립되는 에미터 플레이트(180)와 제1 콜렉터 플레이트(160), 그리고 제2 콜렉터 플레이트(170) 사이는 외부로부터 바이어스 전원이 공급되므로 반드시 절연이 유지되어야 한다. 만약, 제1 콜렉터 플레이트(160)의 표면과 제2 콜렉터 플레이트(170)의 표면에서 적어도 에미터 플레이트(180)와 접하는 절연층 면에 구비되는 아노다이징 절연층이 얇아 절연이 만족스럽지 못하면 알루미나 스프레이 혹은 테프론 시트를 사용하여 절연 특성을 더 향상시킬 수 있다. 한편, 에미터 플레이트(180)는 고순도 납(Pb) 성분을 포함할 수 있다. 즉, 에미터 플레이트(180)는 고순도 납(Pb) 플레이트를 포함할 수 있다. 감마선을 측정하기 위해 재료의 중성자 흡수 단면적 및 용융점을 고려하여 플레이트(Plate) 형태의 고순도 납(Pb, 0.17b, 327℃)을 에미터 플레이트(180)로 사용할 수 있다. 에미터 플레이트(180)는 납보다 용융점이 낮지만 감마선에 응답 특성은 크고 중성자에 대한 낮은 응답 특성을 갖는 비스므스(Bi, 0.034b, 271℃)를 사용할 수도 있다. 기타 중성자 흡수 단면적은 작고 용융점이 높은 에미터 플레이트(180)의 재료로 베릴늄(Be, 0.0092b, 1287℃), 지르코늄(Zi, 0.184b, 1860℃), 마그네슘(Mg, 0.184b, 1860℃)도 사용 가능하다. 에미터 플레이트(180)는 결합홈(162)에 삽입되어 절연층에 표면 접촉할 수 있다.
체결부(190)는 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170)의 체결부위에 결합되어 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170), 그리고 에미터 플레이트(180)의 표면 결합상태를 유지할 수 있다. 체결부(190)는 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170)의 길이방향을 따라 등간격으로 구비되는 체결부위에 체결되는 마이크로 나사를 포함할 수 있다.
상기한 바와 같이 본 발명의 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치는 외부로부터 감마선이 본체(130)와 콜렉터 플레이트를 통과하여 에미터 플레이트(180) 내로 입사되면 이온화되어 발생하는 전자를 외부로부터 인가되는 바이어스 전원의 MI 케이블(100)에 의해 흐르는 전류를 측정하는 구조를 포함한다. 따라서, 에미터 플레이트(180)와 콜렉터 플레이트 및 MI 케이블(100)과의 접촉부 연결이 매우 중요하다. 본 발명의 실시예와 같이 콜렉터 플레이트 외면이 절연층으로 형성된 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170) 사이에 에미터 플레이트(180)가 위치하도록 결합홈(162)을 만들고 체결부(190)로 조립하면 접촉부에 대한 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 이와 같이 용융점이 높은 에미터 플레이트(180)를 사용하고 신호 연결부는 기계적 접촉 방식으로 연결할 수 있다. 외부 바이어스 전원이 인가되는 소형 캡슐 형태의 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치를 형성함으로써 접촉부에 대한 내구성 향상과 고온 환경에서의 사용뿐만 아니라 에미터 플레이트(180)에서 발생되는 신호를 손실없이 전류 측정이 가능하다.
본 발명의 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치는 표면에 아노다이징 절연층을 갖는 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170)의 결합홈(162) 사이에 이온화 전자를 발생하는 에미터 플레이트(180)를 위치시키고 신호선으로 사용되는 MI 케이블(100)을 연결 후 기계적 접촉 방식인 체결부(190)로 조립한다. 제2 콜렉터 플레이트(170)의 안착홈(200)과 에미터 플레이트(180)와 연결된 MI 케이블(100)을 통하여 외부 바이어스 전압은 콜렉터 플레이트에서 발생된 전자를 손실없이 전류로 측정하는 기능을 한다. 최종적으로 본체(130)의 외부는 소형 캡슐 형태로 밀봉 용접하여 제작한다. 이와 같은 소형 캡슐 구조를 갖는 조사시험용 바이어스 감마 검출장치는 고온 사용과 내구성 향상 및 신뢰성 있는 신호 전류 측정이 요구되는 감마선 검출장치로 연구용 원자로 조사시험과 노외 방사선 시설에도 유용하게 사용될 수 있다. 즉, 연구용 원자로 내부에서 핵연료 및 재료 조사 시험 중에 실시간으로 사용되는 방사선 계측 기술 분야에서 조사 시험 중 감마선을 측정할 수 있다.
조사시험용 바이어스 감마선 검출장치의 내부 소자로 사용되는 에미터 플레이트(180)는 고순도 납(Pb)을 포함한다. 고순도 납과 함께 외부의 감마선을 받아 발생되는 전자를 수집하기 위한 상하 콜렉터 플레이트로 구성할 수 있다. 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치는 에미터 플레이트(180)로부터 감마선에 의해 발생된 전자가 손실이 없이 콜렉터 플레이트에 도달하여야 한다. 이를 위해 에미터 플레이트(180)와 콜렉터 플레이트의 간격은 작고 절연 특성은 커야 한다. 콜렉터 플레이트 재료는 알루미늄 성분을 포함하고 표면을 두껍게 아노다이징(Anodizing) 하면 절연 특성을 향상시킬 수 있다. 한편 에미터 플레이트(180)에서 발생된 전자를 콜렉터 플레이트의 표면 절연층을 거처서 콜렉터 플레이트 내부까지 손실 없이 전달하기 위해서 외부에서 콜렉터 플레이트에 + 바이어스(Bias) 전압을 인가하면서 전류를 측정하면 손실이 작은 전류를 측정할 수 있다. 이를 위해 MI 케이블(100)의 - 바이어스 전위는 에미터 플레이트(180)에 연결한다. 그리고 MI 케이블(100)의 + 바이어스 전위는 콜렉터 플레이트에 연결시키고 체결부(190)로 조립한다. 하부의 제1 콜렉터 플레이트(160)와 상부의 제2 콜렉터 플레이트(170), 그리고 제1 콜렉터 플레이트(160)와 제2 콜렉터 플레이트(170)의 사이에 구비되는 에미터 플레이트(180), MI 케이블(100)의 정상적 연결 확인은 누설 전류 및 바이어스 전압을 측정하여 확인할 수 있다. 한편 본체(130) 내부는 핀 홀(150)을 통해 헬륨 가스를 충진 후 밀봉하면 검출장치 제작 완료 후 헬륨 누출 검사가 가능하며, 외부 잡음에 대한 특성을 향상시킬 수 있다.
조사시험용 바이어스 감마선 검출장치는 신호선 MI 케이블(100)과 연결시키는 기술과 검출장치의 외부를 금속 튜브 형태로 용접하여 소형 캡슐 형태로 형성할 수 있다. 연구용 원자로에서 핵연료 및 재료 조사시험 시 다수의 열전대와 검출기들이 조사시험 장치 내부에 설치되므로 가능하면 소형 크기로 제작되어야 한다. 또한 설치된 검출기는 원자로와 같이 고온 고압의 극한 환경에서도 사용될 수 있어야 한다. 이를 위해 감마선에 신호 응답이 크고 중성자 영향이 작은 물질로 금속 재료의 에미터 플레이트(180)가 사용될 수 있다. 그리고 에미터 플레이트(180)와 콜렉터 플레이트 사이는 절연성이 매우 크게 유지되어야 한다. 에미터 플레이트(180)와 콜렉터 플레이트 사이에 강한 전계를 형성하기 위해 외부에서 바이어스(Bias) 전원을 인가하면 콜렉터 플레이트에 도달하기 전 소멸되는 전자의 수를 크게 감소할 수 있다. 예를 들어, 금속 플레이트 소자에 전극 기능을 하는 절연층을 상하면에 형성하고 외부 계장선이 연결되며 바이어스 전압이 공급된다. 외부로부터 고속 중성자뿐만 아니라 엑스선, 감마선, 알파선 및 파장이 짧은 자외선(UV) 등과 같이 고 에너지가 소자에 공급되면 이온화된 전자(Electronic)와 정공(Hole)이 발생되고, 공급된 바이어스 전압에 의해 전자는 양극으로 정공은 음극으로 이동하여 작은 전류를 측정할 수 있다.
한편, 자기 출력형 감마 검출장치는 외부의 전원 공급없이 에미터 플레이트(180)에서 발생되는 전하를 콜렉터 플레이트에서 수집하여 미소 전류를 측정한다는 장점이 있지만 측정되는 전류의 값이 너무 작아 외부 노이즈에 대한 영향을 많이 받는다. 이런 단점을 개선하기 위해 에미터 플레이트(180)로부터 발생되는 전자들을 손실없이 최대한 콜렉터 플레이트에서 전하를 수집하기 위해 에미터 플레이트(180)와 콜렉터 플레이트 사이를 얇은 아노다이징의 절연층으로 절연시킨 후 각각의 콜렉터 플레이트와 에미터 플레이트(180)에 외부 바이어스 전압이 인가되는 검출장치를 형성할 수 있다. 따라서 본 발명의 실시예에 따른 조사시험용 바이어스 감마 검출장치는 에미터 플레이트(180)와 콜렉터 플레이트 사이의 전하 손실이 최소로 되어 기존 자기 출력형 감마 검출기보다 훨씬 큰 전류값을 측정할 수 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
100: MI 케이블 110: 슬리브
120: 제1 플러그 130: 본체
140: 제2 플러그 150: 핀 홀
160: 제1 콜렉터 플레이트 162 ; 결합홈
170: 제2 콜렉터 플레이트 180: 에미터 플레이트
190: 체결부 200: 안착홈

Claims (7)

  1. 일측에 MI(Mineral Insulator) 케이블이 삽입되고 길이방향을 따라 내부 공간을 갖고, 상부의 제1 플러그와 하부의 제2 플러그의 결합으로 밀폐되는 외형을 형성하는 본체,
    상기 MI 케이블과 전기적으로 연결되며, 서로 대면되는 제1 콜렉터 플레이트와 제2 콜렉터 플레이트를 포함하는 콜렉터 플레이트,
    상기 제1 콜렉터 플레이트와 상기 제2 콜렉터 플레이트의 사이에 구비되어 상기 제1 콜렉터 플레이트와 상기 제2 콜렉터 플레이트에 각각 결합되며, 상기 MI 케이블과 전기적으로 연결되는 에미터 플레이트, 그리고
    상기 제1 콜렉터 플레이트와 상기 제2 콜렉터 플레이트의 체결부위에 결합되어 상기 제1 콜렉터 플레이트와 상기 제2 콜렉터 플레이트, 그리고 상기 에미터 플레이트의 결합상태를 유지하는 체결부
    를 포함하며,
    상기 제1 콜렉터 플레이트의 표면과 상기 제2 콜렉터 플레이트의 표면은 적어도 상기 에미터 플레이트와 접하는 면에 절연층을 포함하고,
    상기 MI 케이블의 - 바이어스 전위는 상기 에미터 플레이트에 연결되고, 상기 MI 케이블의 + 바이어스 전위는 상기 콜렉터 플레이트에 연결되며,
    외부로부터 감마선이 상기 본체와 상기 콜렉터 플레이트를 통과하여 상기 에미터 플레이트로 입사되는 경우, 이온화되어 발생하는 전자를 외부로부터 인가되는 바이어스 전원의 상기 MI 케이블에 의해 흐르는 전류를 측정하는 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치.
  2. 제1항에서,
    상기 본체는 원자로 냉각수로부터 보호하기 위해 외부가 밀폐된 캡슐 형태로 형성되는 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치.
  3. 제2항에서,
    상기 제1 플러그의 일측에 구비되어 상기 본체의 내부 진공 후 헬륨을 채운 다음 용접으로 밀봉하여 헬륨 누설 검사를 하는 핀 홀을 더 포함하는 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치.
  4. 삭제
  5. 제1항에서,
    상기 제1 콜렉터 플레이트의 표면과 상기 제2 콜렉터 플레이트의 표면은 적어도 상기 에미터 플레이트와 접하는 면에 상기 에미터 플레이트의 길이방향을 따라 대응하는 형상으로 오목한 결합홈이 구비되는 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치.
  6. 제5항에서,
    상기 결합홈의 두께는 상기 에미터 플레이트의 두께보다 크거나 같은 크기로 형성되며, 상기 체결부의 결합으로 상기 제1 콜렉터 플레이트와 상기 제2 콜렉터 플레이트의 사이에서 가압 밀착 접촉되는 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치.
  7. 제1항에서,
    상기 제1 콜렉터 플레이트는 상기 MI 케이블의 + 도선이 상기 MI 케이블의 - 도선과 일부 분기되어 안착되도록 오목한 형상의 안착홈을 구비하는 조사시험용 바이어스 감마선 검출장치.

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