KR102404177B1 - 전자기파를 측정하기 위한 감지 장치 및 측정 시스템 - Google Patents

전자기파를 측정하기 위한 감지 장치 및 측정 시스템 Download PDF

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KR102404177B1
KR102404177B1 KR1020170051399A KR20170051399A KR102404177B1 KR 102404177 B1 KR102404177 B1 KR 102404177B1 KR 1020170051399 A KR1020170051399 A KR 1020170051399A KR 20170051399 A KR20170051399 A KR 20170051399A KR 102404177 B1 KR102404177 B1 KR 102404177B1
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Abstract

본 발명의 다양한 실시 예에 따르면, 피측정물에서 발생하는 전자기파를 감지하기 위한 감지 회로를 포함하고, 상기 감지 회로는 가변 전기 용량을 갖는 가변 커패시터 및 상기 가변 커패시터와 전기적으로 연결된 인덕터를 포함하고, 상기 전자기파 감지 장치는 상기 가변 커패시터의 커패시턴스를 변경하면서 상기 피측정물에서 발생하는 전자기파를 감지하도록 설정되는 전자파 감지 장치가 개시된다. 이 외에도 명세서를 통해 파악되는 다양한 실시 예가 가능하다.

Description

전자기파를 측정하기 위한 감지 장치 및 측정 시스템{SENSING DEVICE AND MEASURING SYSTEM FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC WAVES}
본 문서에서 개시되는 실시 예들은, 다양한 주파수의 전자기파를 고감도로 측정하기 위한 감지 장치의 설계 및 측정 시스템에 관한 것이다.
다양한 주파수의 전자기파를 측정함에 있어, 프로브, 계측 장치 등 다양한 장치의 사용이 요구될 수 있다. 프로브는 대상 물체에서 발산되는 전자기파를 감지하여 계측 장치로 전달할 수 있다. 일반적으로, 비공진형 광대역 프로브는 상대적으로 높은 강도의 전자기파를 넓은 주파수 대역에서 감지할 수 있다. 반면, 공진형 프로브는 상대적으로 좁은 주파수 대역에서 미세한 전자기파도 감지할 수 있다.
임의의 물체에서 방출되는 전자기파를 측정함에 있어, 비공진형 광대역 프로브를 사용하면 전자기파의 강도가 낮은 경우 측정이 곤란할 수 있다. 공진형 프로브를 사용하는 경우에도, 일부 주파수 대역을 제외한 다른 대역에서는 미세한 전자기파의 측정이 어렵다. 측정 대상이 방출하는 전자기파의 주파수 대역에 대한 정보가 없거나 적은 경우에는 서로 다른 주파수 대역에서 고감도 특성을 가지는 여러 개의 공진형 프로브를 사용하여야 한다. 이는 비용 증가와 측정의 비효율성을 야기한다.
본 문서의 다양한 실시 예들은, 넓은 주파수 범위에서 전자기파를 고감도로 감지할 수 있는 감지 장치를 제공할 수 있다. 본 문서의 다양한 실시 예들은, 계측 장치를 비롯한 다른 전자 장치들과 상기 감지 장치를 결합하여 상기 고감도로 감지한 결과를 사용자에게 제공하는 시스템을 구현할 수 있다.
본 문서에 개시되는 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치는, 피측정물(device under test(DUT))에서 발생하는 전자기파를 감지하기 위한 감지 회로를 포함하고, 상기 감지 회로는 가변 전기 용량(capacitance)을 갖는 가변 커패시터(capacitor) 및, 상기 가변 커패시터와 전기적으로 연결된 인덕터(inductor)를 포함하고, 상기 전자기파 감지 장치는 상기 가변 커패시터의 전기 용량을 변경하면서 상기 피측정물에서 발생하는 전자기파를 측정하도록 설정되는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 문서에 개시되는 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 시스템은, 피측정물에서 발생하는 전자기파를 감지하기 위한 감지 회로, 및 상기 감지 회로와 전기적으로 연결되고, 상기 감지 회로를 통해 감지된 전자기파를 측정하는 계측 장치를 포함하고, 상기 감지 회로는 가변 전기 용량(capacitance)을 갖는 가변 커패시터(capacitor) 및, 상기 가변 커패시터와 전기적으로 연결된 인덕터(inductor)를 포함하고, 상기 전자기파 측정 시스템은 상기 가변 커패시터의 전기 용량을 변경하면서 상기 피측정물에서 발생하는 전자기파를 측정하도록 설정되는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 문서에 개시되는 실시 예들에 따르면, 하나의 감지 장치로 전자기파가 넒은 주파수 범위에서 고감도로 감지되고 측정될 수 있다. 사용자는 다양한 측정 대상에 대하여 하나의 감지 장치만을 이용함으로써 측정의 효율성 및 경제성을 도모할 수 있다.
이 외에, 본 문서를 통해 직접적 또는 간접적으로 파악되는 다양한 효과들이 제공될 수 있다.
도 1은 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치의 구성도를 나타낸다.
도 2는 일 실시 예에 따른 전자기파 측정 시스템의 블록도를 나타낸다.
도 3은 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치에 의해 측정된 전자기파의 감도 그래프를 나타낸다.
도 4는 일 실시 예에 따른, 하나의 측정 대상에 대해 전자기파를 측정하는 순서도를 나타낸다.
도 5는 일 실시 예에 따른, 복수의 측정 대상에 대해 전자기파를 측정하는 실시 예를 나타낸다.
도 6은 일 실시 예에 따른, 복수의 측정 대상에 대해 전자기파를 측정하는 순서도를 나타낸다.
도면의 설명과 관련하여, 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일 또는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다.
이하, 본 발명의 다양한 실시 예가 첨부된 도면을 참조하여 기재된다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 실시 예의 다양한 변경(modification), 균등물(equivalent), 및/또는 대체물(alternative)을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
도 1은 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치의 구성도를 나타낸다.
도 1을 참조하면, 전자기파 감지 장치(101)는 감지 회로(110)를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 감지 회로(110)는 측정 대상에서 방출된 전자기파에 의해 유도된 전자기적 신호를 감지할 수 있다. 전자기파 감지 장치(101)는 상기 감지된 전자기적 신호를 통해 상기 전자기파를 측정할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자기파 감지 장치(101)는 외부 장치(예: 로봇, 컴퓨팅 장치 등)에 부착될 수 있고, 상기 외부 장치의 제어에 의해 자동으로 피측정물(102)의 주변을 이동하면서 전자기파를 감지할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자기파 감지 장치(101)는 프로브에 해당할 수 있다.
피측정물(102)은 임의의 전자기파를 방출할 수 있는 물체에 해당할 수 있다. 예를 들어, 피측정물(102)은 완성되거나 또는 제조 공정 중에 있는 스마트폰, 타블렛 PC, TV 등의 전자 장치에 해당할 수 있다. 일반적으로, 측정 대상이 되는 피측정물(102)은 복수의 전자 부품을 포함할 수 있고, 각각의 전자 부품은 서로 다른 주파수 대역의 전자기파를 방출할 수 있다. 또한, 피측정물(102)은 다양한 주파수 대역의 전자기파를 방출하는 전자 부품을 하나 이상 포함할 수 있다.
감지 회로(110)는 인덕터(112) 및 버랙터(113)를 포함할 수 있다. 아래의 다양한 실시 예에서, 상기 버랙터(113)는 다양한 종류의 가변 커패시터로 대체될 수 있다. 예를 들면, 상기 버랙터(113)는 BST(barium strontium titanate)형 가변 커패시터 또는 MEMS(micro electro mechanical system)형 가변 커패시터 등으로 대체될 수 있다. 일 실시 예에서, 감지 회로(110)는 인덕터(112) 및 버랙터(113) 이외에 다른 구성 요소를 추가적으로 구비할 수도 있다. 예를 들면, 감지 회로(110)는 임피던스 매칭을 위한 저항, 커패시터, 또는 추가적인 인덕터를 더 포함할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 피측정물(102)로부터 발생하는 전자기파는 감지 회로(110)에 전자기적 신호를 유도시킬 수 있다. 예를 들면, 감지 회로(110)의 도선은 루프(111)를 형성할 수 있고, 전자기파가 상기 루프(111)를 통과하게 되면 유도 전류가 발생할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 감지 회로(110)는 상기 유도 전류와 같은 전자기적 신호를 통해 상기 전자기파를 감지할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 감지 회로(110)는 피측정물(102)로부터 일정한 거리 이내에 근접하면 전자기파를 감지할 수 있다. 상기 거리는 전자기파의 파장 길이를 λ라고 하였을 때
Figure 112017039177650-pat00001
로 나타낼 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 감지 회로(110)는 인덕터(112) 및 버랙터(113)에 의해 전자기적 공진을 형성할 수 있다. 공진 현상이 나타날 때 감지 회로(110)의 전체 임피던스는 최소가 될 수 있다.
인덕터(112)는 감지 회로(110)의 공진점을 형성하기 위한 수동 소자에 해당할 수 있다. 일 실시 예에 따르면 상기 인덕터(112)는 가변적인 인덕턴스를 가지는 가변 인덕터에 해당할 수 있다.
버랙터(113)는 감지 회로(110)의 공진점을 형성하기 위한 커패시터의 일종으로, 외부 입력 전압에 따라 가변적인 커패시턴스를 가질 수 있다. 예를 들어, 버랙터는 공급되는 전압의 입력에 기초하여 가변적인 커패시턴스를 가질 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 버랙터(113)가 BST(barium strontium titanate)형 가변 커패시터로 대체되는 경우, 상기 BST형 가변 커패시터는 전기장의 크기에 따라 가변적인 커패시턴스를 가질 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 버랙터(113)의 커패시턴스는 입력되는 직류 전압에 선형적으로 비례하거나 제곱 또는 제곱근에 비례하여 변할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 버랙터(113)에는 미리 지정된 범위의 전압이 공급될 수 있다. 예를 들면, 사용되는 버랙터(113)에 따라 상기 전압의 범위(예: 최소 입력 전압 및/또는 최대 입력 전압)가 다르게 설정될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 감지 회로(110)의 등가 커패시턴스 및 등가 인덕턴스에 의해 공진 주파수가 결정될 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 등가 커패시턴스는
Figure 112017039177650-pat00002
로 표현될 수 있고, 상기 등가 인덕턴스는
Figure 112017039177650-pat00003
로 표현될 수 있다. 일 실시 예에서 상기 등가 커패시턴스 및 상기 등가 인덕턴스에 의해 결정되는 공진 주파수(
Figure 112017039177650-pat00004
)는 아래와 같이 표현될 수 있다.
Figure 112017039177650-pat00005
일 실시 예에 따르면 감지 회로(110)에는 인덕터(112) 및 버랙터(113) 이외에 추가적인 인덕터 또는 커패시터가 포함될 수 있으므로 회로의 등가 인덕턴스
Figure 112017039177650-pat00006
는 인덕터(112)의 인덕턴스 L에 대한 함수로 표현될 수 있고, 회로의 등가 커패시턴스
Figure 112017039177650-pat00007
는 버랙터(113)의 커패시턴스 C에 대한 함수로 표현될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 버랙터(113)의 커패시턴스 C는 공급되는 전압 V에 대한 함수로 표현될 수 있다. 결과적으로, 감지 회로(110)의 공진 주파수(
Figure 112017039177650-pat00008
)는 아래와 같이 표현될 수 있다.
Figure 112017039177650-pat00009
일 실시 예에 따르면 감지 회로(110)가 공진을 일으킬 때 감지 회로(110)의 등가 임피던스는 최소가 될 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 결정된 공진 주파수와 동일한 주파수에 대응하는 전자기파는 감지 회로(110)에 공진을 일으킬 수 있고, 최소의 임피던스를 가지는 감지 회로(110)를 통해 고감도로 감지될 수 있다. 다시 말해서, 감지 회로(110)는 감지 회로(110)의 공진 주파수에 대응하는 전자기파를 고감도로 검출할 수 있다.
일 실시 예에서, 상기 공진 주파수(
Figure 112017039177650-pat00010
)에 대한 식을 참조하면, 상기 감지 회로(110)의 공진 주파수는 인덕터(112)의 인덕턴스 L 및 버랙터(113)의 가변적인 커패시턴스 C 에 기초하여 다양한 값을 가질 수 있다. 예를 들면, 버랙터(113)로 공급되는 직류 전압이 변하면 버랙터(113)의 커패시턴스가 변하고, 그에 기초한 공진 주파수도 변화할 수 있다. 또 다른 예를 들면, 인덕터(112)가 가변적인 인덕턴스를 가지는 가변 인덕터라면, 상기 인덕턴스의 변화에 기초하여 상기 공진 주파수가 변화할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 공진 주파수가 다양한 값을 가지게 됨에 따라 감지 장치(110)는 다양한 주파수의 전자기파를 고감도로 감지할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 전자기파 감지 장치(101)는 DC 차단 회로를 더 포함할 수 있다. 상기 DC 차단 회로는 버랙터(113)로 공급되는 전압에 의해 감지 회로(110)에 발생할 수 있는 직류 성분을 제거할 수 있다. 상기 DC 차단 회로에 의해 직류 성분이 제거됨으로써 전자기파 감지 장치(101)는 직류 성분에 의한 신호의 왜곡 없이 전자기파를 감지할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 버랙터(113)의 커패시턴스를 변화시키는 전압은 직류 전압 공급기(120)에 의해 공급될 수 있다. 다양한 실시 예에 따르면, 직류 전압 공급기(120)는 전자기파 감지 장치(101)의 외부에 존재할 수 있고, 전자기파 감지 장치(101)의 내부에 포함될 수도 있다. 일 실시 예에서, 직류 전압 공급기(120)는 버랙터(113)와 전기적으로 연결될 수 있다. 일 실시 예에서, 직류 전압 공급기(120)는 공급 전압을 변경함으로써 버랙터(113)의 커패시턴스를 변경할 수 있고, 결과적으로, 감지 회로(110)의 공진 주파수를 변경할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 직류 전압 공급기(120)는 일정한 범위내에서 지정된 간격에 따라 공급 전압을 순차적으로 상승 또는 하강시킬 수 있다. 예를 들어, 직류 전압 공급기(120)는 100ms마다 0.1V씩 공급 전압을 순차적으로 상승시킬 수 있다. 상기 일정한 범위는, 예컨대, 버랙터(113)의 허용 입력 전압 범위에 해당할 수 있다. 위 예시에서, 직류 전압 공급기(120)는 버랙터(113)의 최대 허용 전압(예: 20V)에 도달하면 공급 전압을 더 이상 증가시키지 않도록 설정될 수 있다.
일 실시 예에서 상기 지정된 간격은 사용자의 임의로 설정될 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 지정된 간격이 좁을수록 공진 주파수의 간격이 좁아지고, 전자기파 감지 장치(101)의 정밀도는 증가할 수 있다. 일 실시 예에서, 측정 시간의 상당한 증가를 방지하기 위해 단위 간격당 측정 시간은 지정된 간격의 변경에 기초하여 감소될 수 있다. 예를 들어, 공급 전압을 100ms 마다 0.1V씩 증가시키는 대신, 공급 전압을 0.05V를 증가시키는 경우 간격당 측정 시간은 50ms로 감소할 수 있다. 이와 같은 반비례 관계는 예시적인 것이며, 작업 환경에 적절한 수치로 제어될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 전자기파 감지 장치(101)는 계측기를 더 포함할 수 있다. 상기 계측기는 감지 회로(110)와 전기적으로 연결되고, 감지 회로(110)를 통해 감지된 전자기파를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 계측기는 계측기의 디스플레이 또는 계측기와 기능적으로 연결된 외부 디스플레이 장치로 측정 결과를 제공할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 직류 전압 공급기(120)는 일정한 시간동안 공급 전압을 일정하게 유지한 다음, 상기 지정된 간격에 따라 공급 전압을 변화시킬 수 있다. 상기 일정한 시간동안 공급 전압이 일정하게 유지되면, 감지 회로(110)의 공진 주파수는 특정 주파수로 일정하게 유지될 수 있다. 다시 말해, 상기 감지 회로(110)는 상기 특정 주파수에 대해서 고감도로 감지할 수 있다. 일 실시 예에서. 상기 계측기는 상기 감지된 전자기파를 상기 일정한 시간동안 전체 측정 범위에서 측정할 수 있다. 상기 측정 결과는 상기 특정 주파수 성분(frequency component)을 고감도로 측정하고 나머지 주파수 성분을 저감도로 측정한 결과에 해당할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 전자기파 감지 장치(101)는 공진 주파수의 변경을 통해 전자기파를 측정 범위 전체에서 고감도로 감지할 수 있고, 상기 계측기를 사용함으로써 상기 전자기파를 측정 범위 전체에서 고감도로 측정할 수 있다.
도 2는 일 실시 예에 따른 전자기파 측정 시스템의 블록도를 나타낸다.
도 2를 참조하면, 전자기파 측정 시스템(201)은 감지 회로(210), 직류 전압 공급기(220), 계측 장치(230), 및 컴퓨팅 장치(240)를 포함할 수 있다. 다양한 실시 예에서, 도 2에 전자기파 측정 시스템(201)은 도시된 구성 요소들 중 적어도 하나를 생략하거나 다른 구성요소를 추가적으로 구비할 수도 있다. 예를 들면, 상기 컴퓨팅 장치(240)는 전자기파 측정 시스템(201)에서 생략될 수 있다.
감지 회로(210)는 전자기파로부터 전자기적 신호가 유도됨으로써 전자기파를 감지할 수 있다. 감지 회로(210)는 도 1의 감지 회로(101)에 대응할 수 있다. 도 2의 설명에 있어서, 도 1에서 설명된 구성에 대한 설명은 생략될 수 있다.
일 실시 예에 따르면 감지 회로(210)가 공진을 일으킬 때 감지 회로(210)의 등가 임피던스는 최소가 될 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 공진 주파수와 동일한 주파수를 가지는 전자기파는 감지 회로(210)에 공진을 일으킬 수 있다. 상기 전자기파는 최소의 임피던스를 가지는 감지 회로(210)를 통해 고감도로 감지되고 계측 장치(230)에서 측정될 수 있다.
직류 전압 공급기(220)는 지정된 범위에서 버랙터(212)에 직류 전압을 공급하여 버랙터(212)의 커패시턴스를 제어할 수 있다. 일 실시 예에서, 직류 전압 공급기(220)는 파워 서플라이(power supply)에 해당할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 직류 전압 공급기(220)는 수동 또는 자동으로 공급 전압을 변경할 수 있다. 예를 들면, 직류 전압 공급기(220)는 컴퓨팅 장치(240)와 연결되어 상기 컴퓨팅 장치(240)에 의해 제어될 수 있다. 이 경우, 직류 전압 공급기(220)에서 감지 회로(210)로 공급되는 전압은 컴퓨팅 장치(240)에서 미리 프로그래밍 된 방식으로 자동으로 변경될 수 있다.
일 실시 예에서 직류 전압 공급기(220)는 전압 공급 기능을 가진 USB DAQ(data acquisition)로 구현될 수 있다. USB DAQ는 미리 프로그래밍 된 방식으로 직류 전압을 버랙터(212)에 공급할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 직류 전압 공급기(220)의 허용되는 공급 범위는 미리 설정될 수 있다. 예를 들어 상기 공급 범위는 버랙터(212)의 허용 입력 범위에 해당할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 직류 전압 공급기(220)는 상기 공급 범위를 지정된 간격으로 나누고, 공급하는 직류 전압의 크기를 상기 지정된 간격으로 상승 또는 하강시킬 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 지정된 간격은 사용자에 의해 임의로 설정될 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 지정된 간격이 좁을수록 고감도로 측정할 수 있는 공진 주파수의 간격이 좁아지므로 전자기파 측정 시스템(201)은 더 정밀하게 전자기파를 측정할 수 있다.
일 실시 예에 따르면 직류 전압 공급기(220)는 공급하는 전압의 크기를 일정한 시간동안 동일하게 유지한 이후에 지정된 간격으로 상승 또는 하강시킬 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 일정한 시간은 계측 장치(230)가 전체 측정 범위에서 전자기파에 대한 측정을 완료하는 시간보다 긴 시간에 해당할 수 있다. 그 결과, 계측 장치(230)는 특정 공급 전압에 따른 특정 공진 주파수에서 전자기파에 대한 측정을 완료한 후에, 새로운 공급 전압에 따른 새로운 공진 주파수에서 전자기파에 대한 측정을 반복할 수 있다.
계측 장치(230)는 감지 회로(210)로부터 감지된 전자기적 신호에 기초하여 전자기파를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서 계측 장치(230)는 디스플레이를 포함하고, 상기 전자기파에 대한 측정 결과를 상기 디스플레이에 출력할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 계측 장치(230)는 최대값만을 누적할 수 있다. 예를 들어, 감지 회로(210)의 공진 주파수가 전자기파의 주파수와 상이하면, 상기 전자기파는 저감도로 감지되고 상대적으로 작은 세기로 측정될 수 있다. 감지 회로(210)의 공진 주파수가 변경되어 상기 전자기파의 주파수와 동일하면, 상기 전자기파는 고감도로 감지되고 상대적으로 큰 세기로 측정될 수 있다. 상기 실시 예에서, 계측 장치(230)는 변경되는 공진 주파수에 따라 반복해서 측정된 값 중 최대값만을 출력할 수 있다. 일 실시 예에서, 전자기파 측정 시스템(201)은 상기 과정을 통해 전체 측정 범위에서 각 주파수별로 고감도로 측정된 값만을 출력할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 계측 장치(230)는 컴퓨팅 장치(240)와 연결될 수 있다. 계측 장치(230)는 측정한 전자기파에 대한 데이터를 직접 출력하는 대신 상기 컴퓨팅 장치(240)에 전송할 수 있다.
컴퓨팅 장치(240)는 직류 전압 공급기(220) 및/또는 계측 장치(230)와 연결될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 컴퓨팅 장치(240)는 디스플레이를 포함할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 컴퓨팅 장치(240)는 계측 장치(230)로부터 측정된 전자기파에 대한 데이터를 수신하고 상기 데이터를 디스플레이에 출력할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 컴퓨팅 장치(240)는 계측 장치(230)로부터 수신한 데이터를 다양한 방법으로 가공하고 사용자에게 제공할 수 있다. 예를 들면, 컴퓨팅 장치(240)는 상기 수신한 데이터를 그래프 또는 표 형식으로 사용자에게 제공할 수 있다.
도 3은 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치에 의해 측정된 전자기파의 감도 그래프를 나타낸다.
제1 그래프(310)는 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치에서 버랙터로 공급되는 전압이 0V일 때, 감지 회로에서 측정된 전자기파의 주파수별 감도에 해당한다. 제1 그래프(310)의 경우, 전자기파 감지 장치는 0.3GHz 부근에서 고감도 특성을 가지는 것을 확인할 수 있다.
제2 그래프(320)는 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치에서 버랙터로 공급되는 전압이 5V일 때, 감지 회로에서 측정된 전자기파의 주파수별 감도에 해당한다. 제2 그래프(320)의 경우, 전자기파 감지 장치는 0.6GHz 부근에서 고감도 특성을 가지는 것을 확인할 수 있다.
제3 그래프(330)는 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치에서 버랙터로 공급되는 전압이 10V일 때 감지 회로에서 측정된 전자기파의 주파수별 감도에 해당한다. 제3 그래프(330)의 경우, 전자기파 감지 장치는 0.9GHz 부근에서 고감도 특성을 가지는 것을 확인할 수 있다.
제4 그래프(340)는 상기 제1 내지 제3 그래프의 고감도 특성 부분을 연결한 그래프로 이해할 수 있다. 제4 그래프(340)는 공급 전압을 일정한 간격으로 연속하여 변경하였을 때 전자기파 측정 장치의 측정 감도를 나타내는 것으로 이해할 수 있다. 일 실시 예에서, 공급 전압의 간격이 좁을수록 제4 그래프(340)의 정확도 및 신뢰도는 향상될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 계측 장치는 특정 공진 주파수에서 감지된 전자기파를 전체 측정 범위에서 측정할 수 있다. 상기 측정 결과는 상기 특정 공진 주파수 성분에 대해서는 고감도로 측정된 결과이고, 나머지 주파수 성분에 대해서는 저감도로 측정된 결과에 해당할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 계측 장치는 변경된 공진 주파수에서 감지된 전자기파를 다시 전체 측정 범위에서 측정할 수 있다. 일 실시 예에서 상기 과정을 반복하면, 계측 장치는 제4 그래프(340)와 같이 측정 범위 전체에서 고감도로 전자기파를 측정할 수 있다.
제5 그래프(350)는 광대역에서 전자기파를 측정할 수 있는 비공진형 광대역 프로브의 감도를 나타내는 그래프에 해당한다. 제4 그래프(340)와 제5 그래프(350)를 비교하면, 광대역에서 일정한 수준의 감도를 가지는 것은 동일하나, 제5 그래프(350)는 전 주파수 대역에 걸쳐 저감도 특성을 가지는데 반하여, 제4 그래프(340)는 전 주파수 대역에 걸쳐 고감도 특성을 나타낼 수 있다. 본 발명의 다양한 실시 예에 의하면, 전자기파 감지 장치는 넓은 측점 범위를 가지면서도, 비공진형 광대역 프로브에 비하여 더 정밀하고 고감도로 전자기파를 측정할 수 있다.
도 4는 일 실시 예에 따른, 하나의 측정 대상에 대해 전자기파를 측정하는 순서도를 나타낸다.
도 4를 참조하면, 일 실시 예에 따른 전자기파 측정 시스템이 임의의 전자기파를 넓은 주파수 범위에서 고감도로 측정하고, 사용자에게 상기 측정 결과를 제공하는 방법을 나타낼 수 있다.
동작 401에서 전자기파 측정에 앞서, 직류 전압 공급기의 초기 출력 전압(초기값), 출력 전압을 동일하게 유지할 시간 및 상기 시간 경과 후 상승시킬 전압의 크기가 설정될 수 있다. 위 파라미터들은 사용자에 의해 설정될 수도 있고, 전자기파 측정 시스템에 의해 자동으로 설정될 수도 있다.
상기 초기값은 예를 들면, 버랙터의 허용 입력 최소값에 해당할 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 시간은 계측 장치가 측정 범위에서 측정을 완료하는 시간보다 길게 설정될 수 있다. 일 실시 예에서 상기 전압의 크기를 작게 할수록 고감도로 측정할 수 있는 주파수의 간격이 좁아지므로 전자기파는 더 정밀하게 측정될 수 있다.
동작 403에서 직류 전압 공급기의 출력 전압이 지정된 범위를 초과하는지 판단할 수 있다. 일 실시 예에서 상기 지정된 범위는 버랙터의 허용 입력 범위에 해당할 수 있다. 일 실시 예에서, 공급 전압이 상기 허용 입력 범위의 최대값을 초과하는 경우 동작 415가 수행될 수 있고, 허용 입력 범위 이내라면 동작 405가 수행될 수 있다.
동작 405에서 계측 장치는 설정된 간격에 따라 전체 측정 범위에서 전자기파를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 계측 장치의 측정이 계속되는 동안 직류 전압 공급기의 출력 전압은 일정한 값으로 유지될 수 있다. 직류 전압의 공급이 일정하다면, 감지 회로에서 고감도로 측정 가능한 주파수도 일정한 값으로 유지될 수 있다. 일 실시 예에서, 임의의 전자기파가 상기 고감도로 측정 가능한 주파수 성분을 포함한다면, 상기 주파수 성분은 고감도로 측정될 수 있다.
동작 407에서 계측 장치는 측정된 전자기파에 대하여, 기존에 저장된 값과 크기를 비교할 수 있다. 일 실시 예에서 기존에 저장된 값이 저감도에서 측정된 값이라면 고감도에서 새로 측정된 값은 상기 저장된 값보다 크기가 클 수 있다.
동작 409에서 계측 장치는 상기 동작 407의 비교 결과, 새로운 측정값이 기존에 저장된 값보다 큰 경우 새로운 측정값을 새로 저장할 수 있다.
동작 411에서 계측 장치는 상기 동작 407의 비교 결과, 새로운 측정값이 기존에 저장된 값보다 작은 경우 기존의 측정값을 유지할 수 있다.
동작 413에서 계측 장치가 감지 회로의 특정 공진점에서 측정을 완료하고 공급 전압을 일정하게 유지하도록 설정한 시간이 경과하였다면, 직류 전압 공급기는 공급 전압을 설정한 크기만큼 상승시킬 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자기파 측정 시스템은 상승된 직류 전압에 대하여 동작 403부터 동작 413까지를 반복할 수 있다.
동작 415에서 직류 전압의 값이 지정된 최대값을 초과하면, 전자기파 측정 시스템은 측정을 종료할 수 있다. 계측 장치는 상기 동작 407의 판단 결과에 따른, 동작 409 및 동작 411에서 저장한 값을 사용자에게 제공할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 제공된 결과에서 임의의 전자기파가 가지는 주파수 성분은 복수 개일 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 제공된 결과는 임의의 전자기파가 가지는 각 주파수 성분에 대하여 최대 측정값들을 나타낼 수 있다.
상기에 따라, 전자기파 측정 시스템은 최대값만을 누적하는 기능을 가지는 계측 장치를 이용하여 임의의 전자기파에 대한 고감도 측정 결과를 사용자에게 제공할 수 있다.
도 5는 일 실시 예에 따른, 복수의 측정 대상에 대해 전자기파를 측정하는 실시 예를 나타낸다.
도 5를 참조하면, 일 실시 예에 따른 집적 회로(501)는 복수의 소자들(510, 520, 530)을 포함할 수 있다. 상기 소자들은 예를 들면, 레지스터, 계수기, 디코더 등에 해당할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 복수의 소자(510, 520, 530)를 포함하는 집적 회로(501)는 일부 소자의 불량으로 인해 집적 회로(501) 전체가 제대로 동작하지 않을 수 있다. 사용자가 상기 동작 불량에 대해서 원인을 찾는 방법은 다양할 수 있고, 특정 소자로부터 특정 전자기파가 발생하는 것을 검출하는 것이 그 중 하나가 될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 임의의 소자가 방출하는 전자기파의 주파수 대역에 대한 정보가 없거나 부족한 경우 해당 소자에 의해 방출되는 전자기파의 검출을 위해 일 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치(502)가 사용될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 전자기파 감지 장치(502)는 수동 또는 자동으로 측정 위치를 변경할 수 있다. 예를 들면, 전자기파 감지 장치(502)는 자동으로 움직일 수 있는 외부 장치에 부착될 수 있고, 상기 외부 장치에 의해 측정 위치를 자동으로 변경할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 전자기파 감지 장치(502)는 제1 소자(510)에 근접하여 제1 소자(510)가 방출하는 전자기파를 측정할 수 있다. 일 실시 예에서, 전자기파 감지 장치(502)는 버랙터의 허용 입력 구간의 최소값 또는 최대값을 초기값으로 하여 측정을 시작할 수 있다. 일 실시 예에서, 초기 공급 전압이 버랙터의 허용 최소값으로 설정된 경우 전자기파 감지 장치(502)는 공급 전압의 크기를 단계적으로 상승시키면서 전자기파의 세기를 측정할 수 있다. 초기 공급 전압이 버랙터의 허용 최대값으로 설정된 경우 공급 전압의 크기를 단계적으로 하강시키면서 전자기파의 세기를 측정할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 제1 소자(510)가 방출하는 전자기파에 대한 측정이 완료되면, 전자기파 감지 장치(502)는 측정 결과를 사용자에게 제공하고 제2 소자(520)의 위치로 이동할 수 있다. 전자기파 감지 장치(502)는 제1 소자(510)를 측정하는 방식과 동일 또는 유사하게 제2 소자(520)에서 방출되는 전자기파를 측정할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 첫번째 소자에 대한 측정 시 초기값이 상기 버랙터의 허용 최소값이었으면 두번째 소자의 측정시에는 상기 버랙터의 허용 최대값이 초기값으로 설정될 수도 있다.
일 실시 예에 따르면, 제2 소자(520)가 방출하는 전자기파에 대한 측정이 완료되면, 전자기파 감지 장치(502)는 측정 결과를 사용자에게 제공할 수 있다. 제2 소자(520)에 대한 측정 결과 제공 후, 전자기파 감지 장치(502)는 제3 소자(530)의 위치로 이동하고 전자기파를 측정할 수 있다.
상기 과정을 통해 사용자는 하나의 전자기파 감지 장치(502)만을 이용하여 복수의 측정 대상에 대한 전자기파 측정을 수행할 수 있다.
도 6은 일 실시 예에 따른, 복수의 측정 대상에 대해 전자기파를 측정하는 순서도를 나타낸다.
도 6을 참조하면 일 실시 예에 따른 전자기파 측정 시스템은 복수의 측정 대상에 대하여 전자기파를 넓은 주파수 범위에서 고감도로 측정하고, 사용자에게 상기 측정 결과를 제공할 수 있다.
일 실시 예에서, 동작 601부터 동작 615까지의 동작들은, 도 4를 참조하면, 동작 401부터 동작 415까지의 동작들에 각각 대응할 수 있다.
동작 617에서 전자기파 측정 시스템은 새로운 측정 대상이 있는지 판단할 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 전자기파 측정 시스템은 더이상 측정 대상이 존재하지 않는 경우 측정을 종료할 수 있고, 측정 대상이 존재하는 경우 동작 601을 수행할 수 있다.
상기에 따라, 전자기파 측정 시스템은 복수의 측정 대상에 대하여 하나의 측정 시스템만으로 임의의 전자기파를 고감도로 측정하고 상기 측정 결과를 사용자에게 제공할 수 있다.
본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치는 가변 커패시터에 대한 외부 입력에 따라 다양한 공진 주파수를 가질 수 있다. 다양한 공진 주파수를 가지는 전자기파 감지 장치는 전자기파의 다양한 주파수 성분을 고감도로 감지할 수 있다. 따라서 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자기파 감지 장치는, 광범위한 주파수 영역 전체에서 전자기파를 고감도로 감지할 수 있다.
본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자기파 측정 시스템은, 상기 전자기파 감지 장치를 이용하여 전자기파를 측정할 수 있고, 그 결과를 사용자에게 제공할 수 있다. 상기 전자기파 감지 장치는 광범위한 주파수 대역에서 전자기파를 고감도로 감지할 수 있으므로 계측 장치를 포함한 전자기파 측정 시스템은 광범위한 주파수 대역에서 전자기파를 고감도로 측정할 수 있다. 나아가, 일 실시 예에서, 상기 계측 장치가 각 주파수 성분의 최대값만을 누적하여 기록할 수 있는 경우, 상기 전자기파 측정 시스템은 전체 주파수 대역에서 전자기파가 고감도로 측정된 결과만을 사용자에게 제공할 수 있다.
본 발명의 다양한 실시 예에 따른, 전자기파 감지 장치 및 측정 시스템은 복수가 아닌 하나의 감지 장치만으로도 광범위한 주파수 대역에서 고감도 측정이 가능하므로, 경제적인 측면에서 유리하고 측정의 효율성을 극대화 시킬 수 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따른, 전자기파 감지 장치는 피측정물에서 발생하는 전자기파를 감지하기 위한 감지 회로를 포함하고, 상기 감지 회로는 가변 전기 용량(capacitance)을 갖는 가변 커패시터(capacitor), 및 상기 가변 커패시터와 전기적으로 연결된 인덕터(inductor)를 포함하고, 상기 전자기파 감지 장치는 상기 가변 커패시터의 전기 용량을 변경하면서 상기 피측정물에서 발생하는 전자기파를 감지하도록 설정될 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 전자기파 감지 장치에서, 상기 가변 커패시터는 버랙터에 해당하고, 상기 버랙터는 공급되는 전압에 기초하여 전기 용량이 변하는 것을 특징으로 할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 전자기파 감지 장치는 직류 전압 공급기를 더 포함하고, 상기 직류 전압 공급기는 상기 버랙터에 대하여 공급 전압을 변경함으로써 상기 버랙터의 전기 용량을 변화시킬 수 있다. 일 실시 예에서 상기 직류 전압 공급기는 지정된 공급 범위내에서 지정된 간격으로 공급 전압을 상승 또는 하강시킬 수 있다. 일 실시 예에서, 상기 직류 전압 공급기는 공급 전압의 크기를 지정된 시간 동안 유지시킨 후에 지정된 공급 범위내에서 지정된 간격으로 공급 전압을 상승 또는 하강시킬 수 있다.
일 실시 예에 따르면 상기 전자기파 감지 장치는 계측기를 더 포함하고, 상기 계측기는 상기 감지된 전자기파를 측정하고, 상기 측정 결과를 사용자에게 제공할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 인덕터는 가변 인덕터에 해당할 수 있다.
일 실시 예에 따르면 상기 감지 회로는 DC 차단 회로를 더 포함하고, 상기 DC 차단 회로는 상기 공급 전압으로부터 발생할 수 있는 DC 성분을 제거하는 것을 특징으로 할 수 있다.
본 발명의 다양한 실시 예에 따른 전자기파 측정 시스템은 피측정물에서 발생하는 전자기파를 감지하기 위한 감지 회로 및 상기 감지 회로와 전기적으로 연결되고, 상기 감지 회로를 통해 감지된 전자기파를 측정하는 계측 장치를 포함하고, 상기 감지 회로는 가변 전기 용량(capacitance)을 갖는 가변 커패시터(capacitor), 및 상기 가변 커패시터와 전기적으로 연결된 인덕터(inductor)를 포함하고, 상기 전자기파 측정 시스템은 상기 가변 커패시터의 전기 용량을 변경하면서 상기 피측정물에서 발생하는 전자기파를 측정하도록 설정되는 것을 특징으로 할 수 있다.
일 실시 예에 따르면 상기 전자기파 측정 시스템에서, 상기 가변 커패시터는 버랙터에 해당하고, 상기 버랙터는 공급되는 전압에 기초하여 전기 용량이 변하는 것을 특징으로 할 수 있다.
일 실시 예에 따르면 상기 전자기파 측정 시스템은 직류 전압 공급기를 더 포함하고, 상기 직류 전압 공급기는 상기 버랙터에 대하여 공급 전압을 변경함으로써 상기 버랙터의 전기 용량을 변화시킬 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 직류 전압 공급기는 지정된 공급 범위내에서 지정된 간격으로 공급 전압을 상승 또는 하강시킬 수 있다. 일 실시 예에서 상기 직류 전압 공급기는 공급 전압의 크기를 지정된 시간동안 유지시킨 후에 지정된 공급 범위내에서 지정된 간격으로 공급 전압을 상승 또는 하강시킬 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 계측 장치는 특정 주파수에서 측정된 전자기파의 최대값을 누적하여 출력할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 전자기파 측정 시스템에서 상기 인덕터는 가변 인덕터에 해당할 수 있다.
일 실시 예에 따르면, 상기 전자기파 측정 시스템은 컴퓨팅 장치를 더 포함하고, 상기 직류 전압 공급기는 상기 컴퓨팅 장치에 의해 제어될 수 있다. 일 실시 예에 따르면, 상기 계측 장치는 상기 측정된 전자기파 대한 데이터를 상기 컴퓨팅 장치에 전송할 수 있다.
본 문서의 다양한 실시 예들 및 이에 사용된 용어들은 본 문서에 기재된 기술을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 해당 실시 예의 다양한 변경, 균등물, 및/또는 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 도면의 설명과 관련하여, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조 부호가 사용될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함할 수 있다. 본 문서에서, "A 또는 B", "A 및/또는 B 중 적어도 하나", "A, B 또는 C" 또는 "A, B 및/또는 C 중 적어도 하나" 등의 표현은 함께 나열된 항목들의 모든 가능한 조합을 포함할 수 있다. "제1," "제2," "첫째," 또는 "둘째,"등의 표현들은 해당 구성요소들을, 순서 또는 중요도에 상관없이 수식할 수 있고, 한 구성요소를 다른 구성요소와 구분하기 위해 사용될 뿐 해당 구성요소들을 한정하지 않는다. 어떤(예: 제1) 구성요소가 다른(예: 제2) 구성요소에 "(기능적으로 또는 통신적으로) 연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나, 다른 구성요소(예: 제 3 구성요소)를 통하여 연결될 수 있다.
본 문서에서, "~하도록 설정된(adapted to or configured to)"은 상황에 따라, 예를 들면, 하드웨어적 또는 소프트웨어적으로 "~에 적합한," "~하는 능력을 가지는," "~하도록 변경된," "~하도록 만들어진," "~를 할 수 있는," 또는 "~하도록 설계된"과 상호 호환적으로(interchangeably) 사용될 수 있다. 어떤 상황에서는, "~하도록 구성된 장치"라는 표현은, 그 장치가 다른 장치 또는 부품들과 함께 "~할 수 있는" 것을 의미할 수 있다. 예를 들면, 문구 "A, B, 및 C를 수행하도록 설정된 (또는 구성된) 프로세서"는 해당 동작들을 수행하기 위한 전용 프로세서(예: 임베디드 프로세서), 또는 메모리 장치(예: 메모리 130)에 저장된 하나 이상의 프로그램들을 실행함으로써, 해당 동작들을 수행할 수 있는 범용 프로세서(예: CPU 또는 AP)를 의미할 수 있다.
본 문서에서 사용된 용어 "모듈"은 하드웨어, 소프트웨어 또는 펌웨어(firmware)로 구성된 유닛(unit)을 포함하며, 예를 들면, 로직, 논리 블록, 부품, 또는 회로 등의 용어와 상호 호환적으로 사용될 수 있다. "모듈"은, 일체로 구성된 부품 또는 하나 또는 그 이상의 기능을 수행하는 최소 단위 또는 그 일부가 될 수 있다. "모듈"은 기계적으로 또는 전자적으로 구현될 수 있으며, 예를 들면, 어떤 동작들을 수행하는, 알려졌거나 앞으로 개발될, ASIC(application-specific integrated circuit) 칩, FPGAs(field-programmable gate arrays), 또는 프로그램 가능 논리 장치를 포함할 수 있다.
다양한 실시 예들에 따른 장치(예: 모듈들 또는 그 기능들) 또는 방법(예: 동작들)의 적어도 일부는 프로그램 모듈의 형태로 컴퓨터로 판독 가능한 저장 매체(예: 메모리(130))에 저장된 명령어로 구현될 수 있다. 상기 명령어가 프로세서(예: 프로세서(120))에 의해 실행될 경우, 프로세서가 상기 명령어에 해당하는 기능을 수행할 수 있다. 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체는, 하드디스크, 플로피디스크, 마그네틱 매체(예: 자기테이프), 광기록 매체(예: CD-ROM, DVD, 자기-광 매체(예: 플롭티컬 디스크), 내장 메모리 등을 포함할 수 있다. 명령어는 컴파일러에 의해 만들어지는 코드 또는 인터프리터에 의해 실행될 수 있는 코드를 포함할 수 있다.
다양한 실시 예들에 따른 구성 요소(예: 모듈 또는 프로그램 모듈) 각각은 단수 또는 복수의 개체로 구성될 수 있으며, 전술한 해당 서브 구성 요소들 중 일부 서브 구성 요소가 생략되거나, 또는 다른 서브 구성 요소를 더 포함할 수 있다. 대체적으로 또는 추가적으로, 일부 구성 요소들(예: 모듈 또는 프로그램 모듈)은 하나의 개체로 통합되어, 통합되기 이전의 각각의 해당 구성 요소에 의해 수행되는 기능을 동일 또는 유사하게 수행할 수 있다. 다양한 실시 예들에 따른 모듈, 프로그램 모듈 또는 다른 구성 요소에 의해 수행되는 동작들은 순차적, 병렬적, 반복적 또는 휴리스틱(heuristic)하게 실행되거나, 적어도 일부 동작이 다른 순서로 실행되거나, 생략되거나, 또는 다른 동작이 추가될 수 있다.

Claims (17)

  1. 전자기파 감지 장치에 있어서,
    피측정물에서 발생하는 전자기파를 감지하기 위한 감지 회로;
    상기 감지 회로에 포함되고, 가변 전기 용량(capacitance)을 갖는 가변 커패시터(capacitor);
    상기 감지 회로에 포함되고, 상기 가변 커패시터와 전기적으로 연결된 인덕터(inductor);
    상기 감지 회로에 포함되고, 상기 전자기파가 통과하게 되면 유도 전류를 발생시킴으로써 상기 감지 회로가 상기 전자기파를 감지하도록 구성되는 루프;
    상기 감지 회로와 전기적으로 연결되고, 상기 감지 회로를 통해 감지된 전자기파를 측정하도록 구성되는 계측 장치; 및
    상기 가변 커패시터로 공급 전압을 제공하도록 구성되는 직류 전압 공급기; 를 포함하고,
    상기 공급 전압의 값이 지정된 범위를 초과하는 경우, 상기 계측 장치를 이용한 상기 전자기파의 측정을 종료하고,
    상기 공급 전압의 값이 상기 지정된 범위 이하인 경우, 상기 가변 커패시터의 커패시턴스를 변경하면서 감지되는 상기 전자기파를 상기 계측 장치를 이용하여 반복적으로 측정하고,
    상기 계측 장치는 특정 주파수에서 측정된 전자기파의 최댓값을 누적하여 출력하도록 설정되는, 전자기파 측정 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 가변 커패시터는 버랙터에 해당하고, 상기 버랙터는 공급되는 전압에 기초하여 전기 용량이 변하는, 전자기파 감지 장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 직류 전압 공급기는 상기 버랙터에 대하여 상기 공급 전압의 값을 변경함으로써 상기 버랙터의 전기 용량을 변화시키는, 전자기파 감지 장치.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 직류 전압 공급기는 지정된 공급 범위내에서 지정된 간격으로 상기 공급 전압의 값을 상승 또는 하강시키는, 전자기파 감지 장치.
  5. ◈청구항 5은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈
    청구항 4에 있어서,
    상기 직류 전압 공급기는 상기 공급 전압의 값을 지정된 시간 동안 유지시킨 후에 지정된 공급 범위내에서 지정된 간격으로 상기 공급 전압의 값을 상승 또는 하강시키는, 전자기파 감지 장치.
  6. 삭제
  7. ◈청구항 7은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈
    청구항 1에 있어서,
    상기 인덕터는 가변 인덕터인, 전자기파 감지 장치.
  8. 청구항 2에 있어서,
    상기 감지 회로는 DC 차단 회로를 더 포함하고,
    상기 DC 차단 회로는 상기 공급 전압으로부터 발생할 수 있는 DC 성분을 제거하는, 전자기파 감지 장치.
  9. 전자기파 측정 시스템에 있어서,
    피측정물에서 발생하는 전자기파를 감지하기 위한 감지 회로;
    상기 감지 회로에 포함되고, 가변 전기 용량(capacitance)을 갖는 가변 커패시터(capacitor);
    상기 감지 회로에 포함되고, 상기 가변 커패시터와 전기적으로 연결된 인덕터(inductor);
    상기 감지 회로에 포함되고, 상기 전자기파가 통과하게 되면 유도 전류를 발생시킴으로써 상기 감지 회로가 상기 전자기파를 감지하도록 구성되는 루프;
    상기 감지 회로와 전기적으로 연결되고, 상기 감지 회로를 통해 감지된 전자기파를 측정하도록 구성되는 계측 장치; 및
    상기 가변 커패시터로 공급 전압을 제공하도록 구성되는 직류 전압 공급기; 를 포함하고,
    상기 전자기파 측정 시스템은:
    상기 공급 전압의 값이 지정된 범위를 초과하는 경우, 상기 계측 장치를 이용한 상기 전자기파의 측정을 종료하고,
    상기 공급 전압의 값이 상기 지정된 범위 이하인 경우, 상기 가변 커패시터의 커패시턴스를 변경하면서 감지되는 상기 전자기파를 상기 계측 장치를 이용하여 반복적으로 측정하고,
    상기 계측 장치는 특정 주파수에서 측정된 전자기파의 최댓값을 누적하여 출력하도록 설정되는, 전자기파 측정 시스템.
  10. 청구항 9에 있어서,
    상기 가변 커패시터는 버랙터에 해당하고, 상기 버랙터는 공급되는 전압에 기초하여 전기 용량이 변하는, 전자기파 측정 시스템.
  11. 청구항 10에 있어서,
    상기 직류 전압 공급기는 상기 버랙터에 대하여 상기 공급 전압의 값을 변경함으로써 상기 버랙터의 전기 용량을 변화시키는, 전자기파 측정 시스템.
  12. ◈청구항 12은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈
    청구항 11에 있어서,
    상기 직류 전압 공급기는 지정된 공급 범위내에서 지정된 간격으로 상기 공급 전압의 값을 상승 또는 하강시키는, 전자기파 측정 시스템.
  13. ◈청구항 13은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈
    청구항 12에 있어서,
    상기 직류 전압 공급기는 상기 공급 전압의 값을 지정된 시간동안 유지시킨 후에 지정된 공급 범위내에서 지정된 간격으로 상기 공급 전압의 값을 상승 또는 하강시키는, 전자기파 측정 시스템.
  14. 삭제
  15. ◈청구항 15은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈
    청구항 9에 있어서,
    상기 인덕터는 가변 인덕터인, 전자기파 측정 시스템.
  16. 청구항 9에 있어서,
    컴퓨팅 장치를 더 포함하고,
    상기 계측 장치는 상기 측정된 전자기파 대한 데이터를 상기 컴퓨팅 장치에 전송하는, 전자기파 측정 시스템.
  17. 청구항 11에 있어서,
    컴퓨팅 장치를 더 포함하고,
    상기 직류 전압 공급기는 상기 컴퓨팅 장치에 의해 제어되는, 전자기파 측정 시스템.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2004109850A1 (ja) * 2003-06-04 2004-12-16 Murata Manufacturing Co. Ltd. 周波数可変型アンテナおよびそれを備えた通信機
CN201449421U (zh) * 2009-04-02 2010-05-05 熊猫电子集团有限公司 一种场强仪

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