KR102367433B1 - 웨이퍼 다이싱 가공용 보호 유기 코팅제 조성물 및 이를 포함하는 보호 코팅제 - Google Patents
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Abstract
본 발명에 의한 웨이퍼 가공용 보호 코팅제에 의하면 웨이퍼 표면에 유기 수지 코팅층을 형성시킴으로써, 반도체 제조 공정 중에 웨이퍼의 절삭을 포함하는 가공 공정에서 웨이퍼 표면 상에 발생하는 손상을 근본적으로 방지하며 내오염성, 부착성을 증가시킬 수 있는 보호 코팅제를 제조할 수 있다.
Description
본 발명은 반도체를 만들기 위한 웨이퍼의 가공용 보호 유기코팅제 조성물에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 웨이퍼 등의 표면에 코팅되어 제조 공정 중에 상기 웨이퍼의 표면을 보호할 수 있는 웨이퍼 다이싱 가공용 보호 유기 코팅제 조성물 및 이를 포함하는 웨이퍼 가공용 보호 코팅제에 관한 것이다.
반도체 웨이퍼 가공 공정에서 다이싱(dicing) 공정이라 함은 쏘잉(sawing)이라고도 하며 반도체 생산 공정 가운데 웨이퍼 제조 공정과 패키징 공정 사이에 위치하여 웨이퍼를 개별칩 단위로 분리하는 공정이다.
이 때, 반도체 웨이퍼의 표면을 보호하기 위하여 반도체 웨이퍼 다이싱용 필름을 반도체 웨이퍼의 표면에 점착시키게 되는데, 이 반도체 웨이퍼 다이싱용 필름은 백그라인드 면에 붙여져서 다이싱시 커트된 칩을 유지하고 엑스밴드로 된 다음 분산된 칩을 본딩 공정으로 옮기는 역할을 지속하게 된다. 이 때문에 다이싱시에 칩을 비산하게 하지 않는 유지력과 픽업시에 용이하게 칩을 박리시킬 수 있는 이박리성(易剝離性)이라고 하는 상반되는 성능이 동시에 요구되어 설계에 많은 연구가 이루어지고 있다. 이 같은 반도체 웨이퍼 다이싱용 필름은 반도체의 소형 및 박형화에 따라 단지 벗겨지기 쉬운 것뿐만 아니라 접착제가 웨이퍼 상에 남지말아야 하고, 오염이 없을 것 등이 요구되어 왔다.
이에, 종래에는 상기와 물성을 충족시키기 위해 개발된 기술로서 특허 출원된 대한민국 공개특허공보 2004-34479호 및 2004-103450호에 다이싱/다이본딩 필름에 관한 기술이 특허 출원되어 있으나 상기 특허들은 다이싱/다이본딩 필름과 반도체웨이퍼 간의 점착 성능을 고려하여 점착제층에 도포되는 점착제의 특성만을 고려한 것으로, 이러한 방법은 반도체 칩의 크기가 클 때는 가공시간이 짧고 파편의 양이 적어서 유용하였으나, 칩의 크기가 작아지면서 가공시간이 길어지고 발생하는 파편의 양도 많아 지면서 파편들을 바로 제거하기가 불가능하므로, 결국 이렇게 남아 있는 잔여 파편들에 의해 스크래치, 찍힘 등의 불량이 여전히 해소되지 못하고 있다.
따라서, 이러한 웨이퍼 표면에 코팅층을 형성하여 절삭 공정을 비롯한 가공 공정 중에 발생하는 스크래치, 찍힘, 얼룩, 백화 또는 부식 등의 불량을 근본적으로 차단할 수 있는 웨이퍼 가공용 보호 코팅제가 필요하다.
한편, 이와 같은 반도체 웨이퍼 다이싱용 필름은 다이싱 공정이 완료된 뒤에 박리하는데, 종래, 이를 박리하는 수단으로서는, 예를 들어 일본 특허 공개 제2001-7179호 공보에 개시되어 있는 것이 알려져 있다. 즉, 양면 접착제층을 자외선의 조사에 의해 그 접착력이 저하하는 자외선 경화형의 것을 사용한다. 우선, 자외선 조사에 의해 미리 접착력을 저하시킨다. 다음에, 반도체 웨이퍼를 상하 2개의 테이블에 의해 끼워 진공 흡착한 상태로 가열하고, 양면 접착제층을 수축 변형시킴으로써 양면 접착제층과 반도체 웨이퍼의 접촉 면적을 작게 하여 반도체 웨이퍼를 부상시킨다. 또한, 여기서 사용되는 양면 접착제층으로서는 자외선 경화형 외에, 가열에 의해 발포하여 접착력이 저하되는 가열 박리성인 것이 사용된다.
그러나, 웨이퍼의 회로 형성면에 자외선을 조사하면, 소자(CCD 나 CMOS)를 파괴할 우려가 있다. 접착제층을 거쳐서 반도체 웨이퍼에 접합하여 보유 지지시킨 지지판을 박리하는 다른 수단으로서는, 웨이퍼의 박리면을 세정액을 사용하여 세정하는 것이 알려져 있다.
그러나 세정 후에도 여전히 접착제가 웨이퍼의 박리측면에 남아있어 반도체 장치의 품질 저하나 수율의 저하를 초래한다는 문제가 있었다.
더욱이, 유기계 박리 조성물의 경우 박리 후 세정 시간이 길고 환경처리 비용이 높은 문제점을 갖고 있을 뿐만 아니라 웨이퍼의 크기가 대구 경화됨에 따라 적용되고 있는 매엽식 방식에 적용하기에는 비용면에서 문제점이 있다.
따라서, 웨이퍼 표면에 잔존하는 접착제층을 용이하게 제거할 수 있으면서 상기 웨이퍼의 표면에 부식과 같은 손상을 유발시키지 않는 웨이퍼 가공용 박리제가 필요하다.
최근에 웨이퍼보호용코팅제로 개발되어진 기술 10-1928831, 10-1860549 보호코팅제가 있다. 본 발명은 유기수지를 이용한 코팅제로서 폴리에스테르, 에폭시, 아크릴등을 적용하여 각수지별로 보다 효과적인 다이싱공정에 적용을 목적으로 하고 있다.
박리제는 10-1928830에서 기존발표된 박리제로 잔류물없이 박리하여 웨이퍼보호코팅, 박리기술을 적용하고자 한다.
발명은 상기와 같은 점을 감안하여 안출한 것으로, 반도체 제조 공정 중에 웨이퍼 등을 가공시에 표면을 보호하여 이물질 유입 등에 따른 표면 손상을 막을 수 있고 내오염성이 향상된 웨이퍼 가공용 보호용 유기 코팅제를 제공하는데 목적이 있다.
또한, 웨이퍼 다이싱 가공용 보호 코팅제를 웨이퍼의 표면 손상이나 부식없이 용이하게 제거할 수 있는 웨이퍼 가공용 박리제를 제공하는데 목적이 있다.
상술한 과제를 해결하기 위하여, 유기 수지 5 ~ 65중량%과, 극성유기용매 또는 물 30 ~ 90중량%, 계면활성제 및 첨가제 0.0001~5중량%, 포함하는 웨이퍼 가공용 코팅제의 조성물을 제공한다.
본 발명의 바람직한 일실시예로, 상기 유기 수지는 중량 평균분자량(Mw) 500 ~ 30,000의 하기 화학식 1 내지 3으로서 표시되는 화합물 중 어느 하나를 포함할 수 있다.
[화학식 1]
[화학식 2]
[화학식 3]
상기 화학식 1 내지 3에서, 상기 n은 0 내지 30의 범위 내의 유리수이고, 상기 m은 상기 화학식 1 내지 3으로 표시되는 각 화합물의 중량평균분자량(Mw)이 500 ~ 30,000이 되도록 하는 유리수일 수 있다.
한편, 본 발명의 바람직한 일실시예에서, 상기 웨이퍼 표면을 상기 화학식 1 내지 3으로 표시되는 화합물로 코팅하는 제 1 공정; 상기 웨이퍼를 인상장치에 배치하는 제 2 공정; 상기 웨이퍼를 다이싱(dicing)하는 제 3 공정; 상기 다이싱 공정으로 절삭된 부품중 양품만을 선별하여 배열하는 제 4 공정; 선별된 양품들로부터 상기 코팅제 조성물을 박리하는 제 5 공정; 및 상기 코팅제 조성물이 박리된 양품들을 검사하는 제 6 공정;을 포함하는 웨이퍼 가공 공정을 제공한다.
여기서, 상기 제 1 공정에서 웨이퍼 표면을 상기 화학식 1 내지 3으로 표시되는 화합물로 코팅하는 공정은 0 ~ 50℃ 에서 1 ~ 240 초 동안 수행될 수 있다.
본 발명의 웨이퍼 가공용 보호 코팅제 조성물 및 이를 포함하는 웨이퍼 가공용 유기 보호코팅제에 의하면, 웨이퍼의 표면에 유기 수지를 포함하는 보호코팅층을 형성시킴으로써, 반도체 제조 공정 중에 웨이퍼의 절삭 공정을 포함하는 가공 공정에서 웨이퍼 표면 상에 발생하는 손상 또는 이물질에 의한 오염을 근본적으로 방지할 수 있는 효과가 있다.
이는 각각의 유기 보호 코팅제는 열에 의해 경화되는 물성을 가지며 경화 후에는 열이나 자외선에 영향을 받지 않고, 내수성 및 경도를 포함하고 있어서 제조 과정 중에서는 물에 의한 영향을 받지 않으면서도 파편들에 의한 표면 손상을 방지할 수 있음은 물론, 제조 공정이 완료된 후에는 알칼리 용액에 의해 용이하게 제거되는 특징을 가지고 있다.
또한, 본 발명에 따른 유기 보호 코팅제를 박리하는 웨이퍼 가공용 박리제에 의하면, 웨이퍼의 표면에 형성된 보호 코팅제를 별도의 10- 1928830 에 기공지된 박리제 조성물을 포함함으로써, 반도체 제조 공정 중에 웨이퍼의 가공 공정에서 웨이퍼 표면 상에 형성되어 있는 유기 보호코팅제를 상기 웨이퍼의 표면 손상없이 용이하게 제거할 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따른 유기 보호 코팅제를 웨이퍼 가공용 박리제는 친수성을 갖고 물과 용이하게 혼합될 수 있으므로, 박리 과정 중에 재료를 부식시키는 등의 문제가 발생되지 않을 뿐만 아니라 알코올과 같은 유기용매를 사용하지 않고 물로만 세척이 가능한 효과가 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 폴리에스테르계 화합물을 포함하는 유기 보호 코팅제의 코팅 및 박리 후의 SEM 사진이다.
도 2은 일 실시예에 따른 아크릴계 화합물을 포함하는 유기 보호 코팅제의 SEM EDS 사진이다.
도 3은 일 실시예에 따른 에폭시계 화합물을 포함하는 유기 보호 코팅제의 적외선 스펙트럼이다.
도 2은 일 실시예에 따른 아크릴계 화합물을 포함하는 유기 보호 코팅제의 SEM EDS 사진이다.
도 3은 일 실시예에 따른 에폭시계 화합물을 포함하는 유기 보호 코팅제의 적외선 스펙트럼이다.
본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다. 그러나, 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 부가한다.
본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세하게 설명한다. 그러나, 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 부가한다.
본 발명의 제 1 측면은, (A) 에폭시 화합물, 폴리에스테르계 화합물, 및 아크릴계 화합물 중 어느 하나를 포함하는 유기 수지 10 내지 70 중량부; 및 (B) 용매 30 내지 90 중량부;를 포함하는, 다이싱 공정용 보호코팅 조성물을 제공한다.
실시예에 있어서, 유기 수지는 전체 조성물 100 중량부를 기준으로, 10 내지 70 중량부, 10 내지 60 중량부, 10 내지 50 중량부, 10 내지 40 중량부, 10 내지 30 중량부, 10 내지 20 중량부, 20 내지 70 중량부, 20 내지 60 중량부, 20 내지 50 중량부, 20 내지 40 중량부, 20 내지 30 중량부, 30 내지 70 중량부, 30 내지 60 중량부, 30 내지 50 중량부, 30 내지 40 중량부, 40 내지 70 중량부, 40 내지 60 중량부, 40 내지 50 중량부, 50 내지 70 중량부, 50 내지 60 중량부, 또는 60 내지 70 중량부일 수 있다.
실시예에 있어서, 용매는 전체 조성물 100 중량부를 기준으로, 30 내지 90 중량부, 30 내지 80 중량부, 30 내지 70 중량부, 30 내지 60 중량부, 30 내지 50 중량부, 30 내지 40 중량부, 40 내지 90 중량부, 40 내지 80 중량부, 40 내지 70 중량부, 40 내지 60 중량부, 40 내지 50 중량부, 50 내지 90 중량부, 50 내지 80 중량부, 50 내지 70 중량부, 50 내지 60 중량부, 60 내지 90 중량부, 60 내지 80 중량부, 60 내지 70 중량부, 70 내지 90 중량부, 70 내지 80 중량부, 또는 80 내지 90 중량부일 수 있다.
실시예에 있어서, 다이싱 공정용 보호코팅 조성물은 (C) 첨가제 0.0001 내지 5 중량부를 더 포함할 수 있다. 예를 들어, 다이싱 공정용 보호코팅 조성물은 첨가제 0.0001 내지 5 중량부, 0.0001 내지 4 중량부, 0.0001 내지 3 중량부, 0.0001 내지 2 중량부, 0.0001 내지 1 중량부, 0.0001 내지 0.1 중량부, 0.0001 내지 0.01 중량부, 0.0001 내지 0.001 중량부, 0.001 내지 5 중량부, 0.001 내지 4 중량부, 0.001 내지 3 중량부, 0.001 내지 2 중량부, 0.001 내지 1 중량부, 0.001 내지 0.1 중량부, 0.001 내지 0.01 중량부, 0.01 내지 5 중량부, 0.01 내지 4 중량부, 0.01 내지 3 중량부, 0.01 내지 2 중량부, 0.01 내지 1 중량부, 0.01 내지 0.1 중량부, 0.1 내지 5 중량부, 0.1 내지 4 중량부, 0.1 내지 3 중량부, 0.1 내지 2 중량부, 0.1 내지 1 중량부, 1 내지 5 중량부, 1 내지 4 중량부, 1 내지 3 중량부, 1 내지 2 중량부, 2 내지 5 중량부, 2 내지 4 중량부, 2 내지 3 중량부, 3 내지 5 중량부, 3 내지 4 중량부, 또는 4 내지 5 중량부를 포함할 수 있다. 첨가제는 표면 조절용 첨가제, 유동성 조정제, 및 부착 증진제 중 1종 이상을 포함할 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.
실시예에 있어서, 상기 유기 수지의 중량평균분자량(Mw)은 500 내지 30,000일 수 있다. 예를 들어, 유기 수지의 중량평균분자량(Mw)은 500 내지 30,000, 500 내지 25,000, 500 내지 20,000, 500 내지 10,000, 500 내지 5,000, 500 내지 1,000, 1,000 내지 30,000, 1,000 내지 25,000, 1,000 내지 20,000, 1,000 내지 15,000, 1,000 내지 10,000, 1,000 내지 5,000, 5,000 내지 30,000, 5,000 내지 25,000, 5,000 내지 20,000, 5,000 내지 15,000, 5,000 내지 10,000, 10,000 내지 30,000, 10,000 내지 25,000, 15,000 내지 20,000, 20,000 내지 30,000, 20,000 내지 25,000, 또는 25,000 내지 30,000일 수 있으나, 이에 제한되지 않는다. 유기 수지의 중량평균분자량(Mw)이 500 미만인 경우 코팅제의 코팅성 및 도막형성이 저하될 수 있고, 30,000 초과인 경우 코팅제의 박리성이 저하될 수 있으나, 이에 제한되지 않는다.
실시예에 있어서, 에폭시 화합물은 1개 이상의 글리시딜기, 및 1개 이상의 에틸렌글리콜기를 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 에폭시 화합물은 하기 화학식 1로서 표시되는 화합물일 수 있다.
[화학식 1]
상기 화학식 1에서, 상기 m은 0.1 내지 13의 범위 내의 유리수이고, 상기 n은 0 내지 30의 범위 내의 유리수임.
실시예에 있어서, 폴리에스테르계 화합물은 하기 화학식 2로서 표시되는 화합물일 수 있다.
[화학식 2]
상기 화학식 2에서, 상기 m은 1 내지 60의 범위 내의 유리수이고, 상기 n은 0 내지 60의 범위 내의 유리수임.
실시예에 있어서, 아크릴계 화합물은 부틸메타크릴레이트 및 아크릴로니트릴 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 바람직한 실시예에 있어서, 아크릴계 화합물은 부틸아크릴레이트, 아크릴로니트릴, 및 부틸메타아크릴레이트 중 1종 이상을 포함할 수 있다.
실시예에 있어서, 아크릴계 화합물은 하기 화학식 3으로서 표시되는 화합물일 수 있다.
[화학식 3]
상기 화학식 3에서, 상기 n은 0 내지 30의 범위 내의 유리수임.
본 발명의 제 2 측면은, 제 1 측면에 따른 다이싱 공정용 보호코팅 조성물을 포함하는, 다이싱 공정용 보호코팅제를 제공한다.
본 발명의 제 3 측면은, 웨이퍼 표면을 제 2 측면에 따른 다이싱 공정용 보호코팅제로 코팅하는 제 1 공정; 상기 웨이퍼를 인상장치에 배치하는 제 2 공정; 및 상기 웨이퍼를 다이싱(dicing)하는 제 3 공정;을 포함하는, 웨이퍼 다이싱 공정을 제공한다.
종래에는 반도체 칩의 크기가 작아지면서 가공시간이 길어지고 발생하는 파편의 양도 많아지면서 파편들을 바로 제거하기가 어려워서 상기 파편들에 의한 웨이퍼 표면을 보호하는데 어려움이 있었다. 이에 본 발명에서는 유기 수지인 폴리에스테르, 아크릴, 에폭시 수지 등을 보호코팅제로 사용하여 웨이퍼 다이싱용 보호 코팅 조성물 및 코팅제를 제공함으로써, 상술한 문제점의 해결을 모색하였다.
상기 유기 수지는 상기 화학식 1~3으로 표시되는 화합물로서, 코팅제 조성물 전체 중량 중 5 ~ 70 중량%를 포함할 수 있다. 바람직하게는 20~ 50 중량%를 포함할 수 있고, 더욱 바람직하게는 25 ~ 45중량%를 포함할 수 있다. 이때, 유기 수지 함량이 10 중량% 미만이면 코팅이 제대로 되지 않는 문제가 있을 수 있고, 70 중량%를 초과하면 코팅이 불균일하게 되는 문제가 있을 수 있으므로 상기 범위 내에서 사용하는 것이 좋다.
본 발명의 코팅제 조성물 중 용매는 유기 수지를 용해하는 역할을 하는 것으로서, 코팅제 조성물 전체 중량 중 25 ~ 80 중량%를 포함할 수 있다. 바람직하게는 50 ~ 70중량%를 포함할 수 있고, 더욱 바람직하게는 55 ~ 65중량%일 수 있다. 이때, 용매 함량이 30 중량% 미만이면 유기 수지가 석출되는 문제가 있을 수 있고, 90 중량%를 초과하면 코팅이 제대로 되지 않는 문제가 있을 수 있으므로 상기 범위 내에서 사용하는 것이 좋다.
용매는 극성유기용매일 수 있고, 상기 극성유기용매는 알콜류, 케톤류 및 글리콜에테르 중에서 선택된 1종 단독 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있고, 바람직하게는 알콜류 및 케톤류 중에서 선택된 1종 단독 또는 2종 이상을 혼합하여 사용할 수 있으며, 더욱 바람직하게는 알콜류를 사용하는 것이 좋다.
본 발명 코팅제 조성물 중 하나인 표면조절용 첨가제는 코팅후 표면의 슬립성을 부여하는 역할을 하는 것으로서, 코팅제 조성물 전체 중량 중 0.0001 ~ 1 중량%를 포함할 수 있고, 바람직하게는 0.01 ~ 1중량%를 포함할 수 있다.
이때, 표면조절용 첨가제 함량이 0.0001 중량% 미만이면 슬립성이 부족하여 이물질이 부착되는 문제가 있을 수 있고, 1 중량%를 초과하면 코팅의 밀착력이 저하되는 문제가 있을 수 있으므로 상기 범위 내에서 사용하는 것이 좋다. 바람직하게는 상기 표면조절용 첨가제는 실리콘계를 사용할 수 있으며, 구체적으로 PROTEX International 사의 MODAREZ K-SE 305(실리콘계), MODAREZ K-SL 106(실리콘계), MODAREZ K-SL 107(실리콘계) 또는 BYK 사의 BYK-331, BYK-333(실리콘계), BYK-348(실리콘계), BYK-3455(실리콘계)를 사용할 수 있다.
본 발명의 코팅제 조성물 중 하나인 유동성 조정제는 코팅용액의 점도를 조절하는 역할을 하는 것으로서, 코팅제 조성물 전체 중량 중 0.0001 ~ 1 중량%를 포함할 수 있고, 바람직하게는 0.01 ~ 1중량%를 포함할 수 있다. 이때, 유동성 조정제 함량이 0.0001 중량% 미만이면 점도가 낮아서 코팅두께가 얇아지는 문제가 있을 수 있고, 1 중량%를 초과하면 점도가 높아서 불균일하게 코팅되는 문제가 있을 수 있으므로 상기 범위 내에서 사용하는 것이 좋다. 그리고, 상기 유동성 조정제는 PROTEX international사의 PROX A 300, PROX AM 162 S, SYNTHRO THIX 608 또는 BYK 사의 BYK-405, BYK-420, BYK-7420 ES를 사용할 수 있다.
본 발명 코팅제 조성물 중 하나인 부착 증진제는 코팅의 밀착력을 향상시키는 역할을 하는 것으로서, 코팅제 조성물 전체 중량 중 0.0001 ~ 1 중량%를 포함할 수 있고, 바람직하게는 0.01 ~ 1중량%를 포함할 수 있다. 이때, 부착 증진제 함량이 0.0001 중량% 미만이면 코팅의 밀착력이 떨어지는 문제가 있을 수 있고, 1 중량%를 초과하면 코팅의 슬립성이 떨어지는 문제가 있을 수 있으므로 상기 범위 내에서 사용하는 것이 좋다. 그리고, 상기 부착 증진제는 BYK 사의 BYK-4509, BYK-4500를 사용할 수 있다.
바람직하게 상기 웨이퍼 가공용 유기 코팅제 조성물을 포함하는 방법을 포함할 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 코팅제를 제거하는 상기 웨이퍼 가공용 박리제 조성물을 포함하는 기존발표한 10- 1928830 의 박리제로 웨이퍼 가공용 코팅을 제거가능하다.
여기서, 상기 박리제는 상기 화학식 1~3으로 표시되는 화합물을 포함하는 상기 코팅제를 제거하는데 효과적으로 적용될 수 있으며, 박리제의 절대점도는 80~120cps이고, 유효 알칼리도는 20~35이며, pH 는 8 ~ 14일 수 있다. 바람직하게는 상기 박리제의 절대점도는 90~110cps이고, 유효 알칼리도는 25~30이며, pH 는 9 ~ 13일 수 있으며, 더욱 바람직하게는 상기 박리제의 절대점도는 95 ~ 105cps이고, 유효 알칼리도는 27이며, pH 는 10 ~ 12일 수 있다. 이때, 만일 상기 절대점도가 80 미만 또는 120 초과일 경우에는 박리가 제대로 이루어지지 않는 문제가 발생될 수 있고, 상기 유효 알칼리도가 20 미만이면 박리성능이 저하되는 문제가 발생할 수 있고, 35 초과일 경우에는 부식을 발생시키는 문제가 있을 수 있다. 상기 pH 가 8 미만이면 박리시간이 길어지는 문제가 발생할 수 있고, 14 초과일 경우에는 강알칼리성 용액이 되어 폐수처리에 문제가 있을 수 있다.
본 발명은, 상기의 화학식 1~3으로 표시되는 화합물을 포함하는 코팅제를 사용하여 상기 웨이퍼 표면을 코팅하여 코팅층을 형성하는 제 1 단계; 상기 웨이퍼를 인상장치에 배치하는 제 2 공정; 상기 웨이퍼를 다이싱(dicing)하는 제 3공정; 상기 다이싱 공정으로 절삭된 부품중 양품만을 선별하여 배열하는 제 4공정; 선별된 양품들로부터 상기 코팅층을 상기 웨이퍼 가공용 박리제를 사용하여 박리하는 제 5 공정; 및 상기 코팅층이 박리된 양품들을 검사하는 제 6 공정;을 포함하는 웨이퍼 다이싱 가공 공정을 제공한다.
여기서, 상기 제 5 공정은 10℃ ~ 50℃의 온도에서 1~10 분 동안 수행될 수 있고, 바람직하게는 20℃ ~ 40℃의 온도에서 1~5 분 동안 수행될 수 있다.
상기 제 5 공정은 상기 코팅층이 형성되어 있는 웨이퍼를 상기 박리제가 주입되어 있는 용기에 침적하여 제거하는 방법을 포함할 수 있다.
이하, 본 발명을 하기 실시예를 통해 더욱 구체적으로 설명한다. 이때, 하기 실시예는 본 발명의 이해를 돕기 위해 제시되는 것일 뿐 본 발명의 범위를 제한하는 것은 아니다.
[실시예1~4] 폴리에스테르 수지의 합성 및 코팅물성
500ml 플라스크에 디엔스탁장치를 설치이후 하기의 폴리올과 DIBASIC ACID를 첨가한후 p-톨루엔설포닉산을 0.2g 첨가이후 180℃로 4시간 반응한다. 이후 알카리로 촉매를 제거한 다음 진공으로 수분을 제거하여 폴리머를 얻었다.
| 구 분 | 실시예1 | 실시예2 | 실시예3 | 실시예4 |
| DIBASIC ACID / 첨가량 | ADIPIC ACID / 100g | SEBACIC ACID / 100g | PHTHANLIC ANHYDRIDE /100g | DODECANOIC ACID+ UNDECANOIC ACID / 100g |
| NPG +TMP+ETHANOL (혼합비:6:2:3) / 첨가량 | 71g | 51g | 70g | 44g |
| catalyst | 0.5g | 0.5g | 0.5g | 0.5g |
| coating성 | △ | △ | ○ | ○ |
| 연필경도 | 1~2H | 1H | 1~2H | 1H |
| 부착성 | 3B | 3B | 2B | 3B |
| 박리성 | O | O | O | ○ |
(⊙: 매우 우수, ○: 우수, △: 보통)
[실시예5~8] 아크릴 수지의 합성 및 적용
| 구 분 | 실시예5 | 실시예6 | 실시예7 | 실시예8 |
| PVA첨가량 / DI 첨가량 | 3g / 100g | |||
| MONOMER종류 / 첨가량 | BA(55g),AN(25g) | BA,AN,AA,GMA,PVA | BA(55g), BMA(20g), GMA(1.5g),AA(2.1g) | BA,MMA,AM,HEMA |
| WATER | 150g | 150g | 150g | 150g |
| 개시제 | KPS(0.8g), WATER(20g), SLS(0.8g), SDBS(, Lauryl ether | |||
| 용액 분산안정성 | △ | △ | △ | △ |
| 내수성 | ○ | ○ | ⊙ | ○ |
| 연필경도 | 1~2H | 1~2H | 1~2H | 1~2H |
| 부착성 | 3B | 3B | 2B | 3B |
| 박리성 | △ | △ | △ | △ |
[실시예 9~12] 에폭시 수지의 합성 및 적용시험
TYPE (MONOMER/ POLYMER)
| 구 분 | 실시예9 | 실시예10 | 실시예11 | 실시예12 |
| TYPE / 첨가량 | STYRENE,MMA,AA, EHA / 20g, 10g, 20g,5g, 0.6~0.1g TEA/30g /DI 660g | IPDI, DMPA / 40.8g/ 10g | PEG 4000/400g | RICINOLEIC ACID / 68g |
| 반응물/ 첨가량 / CATALYST | DEGBA/ 240g, BC/100g, | PPG2000/ 71 g/ TEA 8.1g/ EDA/ 1g 수용성에폭시 100g |
BISPHENOL A / 46 g / EPCH/ 83g / NaOH |
DEGBA/ 249g |
| 반응온도 | 80℃ | 85℃, 4시간 | 80℃/ 5시간 | 165℃ / 5시간 |
| curing agent | 1액형 | 500g | anquanmine 721 500g | 2차반응: ACRYLIC ACID / 15g, Styrene / 75g / 140℃, 2시간/ TEA / 24g, DI 180ml, glycolether:100ml |
| 용액 분산안정성 | △ | △ | ○ | ○ |
| coating성 | ○ | ○ | △ | X |
| 연필경도 | 1~2H | 1H | 1~2H | 1H |
| 부착성 | 2B | 1B | 4B | 2B |
| 박리성 | ○ | ○ | △ | △ |
[실험예] 본 발명에 따른 유기 수지를 포함하는 보호코팅제(실시예 3, 7, 및 9)와 우레탄계 보호코팅제(비교예)의 물성 비교
| 구 분 | 실시예3 | 실시예7 | 실시예9 | 비교예 (10-1928831) |
| 용액 분산안정성 | ○ | △ | △ | △ |
| coating성 | ○ | ⊙ | ○ | △ |
| 연필경도 | 1~2H | 1~2H | 1~2H | 1~2H |
| 부착성 | 2B | 2B | 2B | 3B |
| 박리성 | O | △ | ○ | ○ |
| 내오염성 | △~○ | ○ | ○ | X ~△ |
(⊙: 매우 우수, ○: 우수, △: 보통)
상기는 경화조건 및 코팅조건에 따른 상대비교값임.(SPIN COATING: 100~500RPM, 경화조건:100~180℃)
비교예는 한국 등록특허 10-1928831에 개시된 우레탄계 보호코팅제를 사용하였고, 박리제는 한국 공개특허공보 10-2016-0103101, 한국 등록특허 10-1928830에 개시된 박리제를 사용하였다.
상기 표에 나타낸 바와 같이, 실시예 3, 7, 및 9에 따른 유기 수지 보호코팅제는 비교예와 비교하여 용액 분산안정성, coating성, 및 내오염성 중 하나 이상의 물성이 좋아짐을 확인할 수 있다.
Claims (10)
- (A) 폴리에스테르계 화합물을 포함하는 유기 수지 10 내지 70 중량부; 및
(B) 용매 30 내지 90 중량부;
를 포함하는, 다이싱 공정용 보호코팅 조성물로서,
상기 폴리에스테르계 화합물은 하기 화학식 2로서 표시되는 화합물인, 다이싱 공정용 보호코팅 조성물.
[화학식 2]
상기 화학식 2에서, 상기 m은 1 내지 60의 범위 내의 유리수이고, 상기 n은 0 내지 60의 범위 내의 유리수임. - 제 1 항에 있어서,
(C) 첨가제 0.0001 내지 5 중량부를 더 포함하는, 다이싱 공정용 보호코팅 조성물. - 제 1 항에 있어서,
상기 유기 수지의 중량평균분자량(Mw)은 500 내지 30,000인, 다이싱 공정용 보호코팅 조성물. - 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 따른 다이싱 공정용 보호코팅 조성물을 포함하는, 다이싱 공정용 보호코팅제.
- 웨이퍼 표면을 제 9 항에 따른 다이싱 공정용 보호코팅제로 코팅하는 제 1 공정;
상기 웨이퍼를 인상장치에 배치하는 제 2 공정; 및
상기 웨이퍼를 다이싱(dicing)하는 제 3 공정;
을 포함하는, 웨이퍼를 다이싱하는 방법.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| KR1020190084544A KR102367433B1 (ko) | 2019-07-12 | 2019-07-12 | 웨이퍼 다이싱 가공용 보호 유기 코팅제 조성물 및 이를 포함하는 보호 코팅제 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020190084544A KR102367433B1 (ko) | 2019-07-12 | 2019-07-12 | 웨이퍼 다이싱 가공용 보호 유기 코팅제 조성물 및 이를 포함하는 보호 코팅제 |
Publications (2)
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|---|---|
| KR20210007688A KR20210007688A (ko) | 2021-01-20 |
| KR102367433B1 true KR102367433B1 (ko) | 2022-02-25 |
Family
ID=74304625
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020190084544A KR102367433B1 (ko) | 2019-07-12 | 2019-07-12 | 웨이퍼 다이싱 가공용 보호 유기 코팅제 조성물 및 이를 포함하는 보호 코팅제 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR102367433B1 (ko) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019017226A1 (ja) * | 2017-07-20 | 2019-01-24 | 三井化学東セロ株式会社 | 電子装置の製造方法 |
Family Cites Families (2)
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|---|---|---|---|---|
| JP2001023935A (ja) * | 1999-07-09 | 2001-01-26 | Sharp Corp | 半導体装置の製造方法 |
| EP2359395B1 (en) * | 2008-11-25 | 2013-08-14 | Lord Corporation | Methods for protecting a die surface with photocurable materials |
-
2019
- 2019-07-12 KR KR1020190084544A patent/KR102367433B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2019017226A1 (ja) * | 2017-07-20 | 2019-01-24 | 三井化学東セロ株式会社 | 電子装置の製造方法 |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| A.M. Motawie et al., Synthesis and Characterization of Epoxy Resins for Coating, Aust. J. Basic & Appl.Sci., 4(6): 1376~1382, 2010* |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20210007688A (ko) | 2021-01-20 |
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