KR102356553B1 - 원자 알루미늄 이온을 생성하기 위한 고체 요오드화 알루미늄(ali3)을 사용하는 주입 및 요오드화 알루미늄과 관련된 부산물의 현장 세정 - Google Patents

원자 알루미늄 이온을 생성하기 위한 고체 요오드화 알루미늄(ali3)을 사용하는 주입 및 요오드화 알루미늄과 관련된 부산물의 현장 세정 Download PDF

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Abstract

요오드화 알루미늄으로부터 이온 빔을 형성하기 위한 이온 주입 시스템 및 방법이 제공된다. 또한, 수증기 소스는 요오드화 수소산을 형성하기 위하여 잔류 요오드화 알루미늄을 반응시키기 위한 물을 도입한다.

Description

원자 알루미늄 이온을 생성하기 위한 고체 요오드화 알루미늄(ALI3)을 사용하는 주입 및 요오드화 알루미늄과 관련된 부산물의 현장 세정
관련출원에 대한 상호참조
본 출원은 2016년 6월 21일자로 출원된 "원자 알루미늄 이온을 생성하기 위한 고체 요오드화 알루미늄(ALI3)을 사용하는 주입 및 요오드화 알루미늄과 관련된 부산물의 현장 세정"이라는 제목의 미국 가출원 제62/352,673호의 우선권을 주장하며, 우선권의 내용들은 그 전체가 참조로서 본 명세서에 통합된다.
본 발명은 이온 주입 시스템에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 요오드화 알루미늄 이온 소스 물질을 활용하여 알루미늄 이온을 주입하기 위한 이온 주입 시스템 및 이온 주입 시스템의 현장 세정을 위한 메커니즘을 갖는 관련 빔라인(beamline) 구성요소들에 관한 것이다.
이온 주입법(ion implantation)은 도판트(dopant)를 반도체 및/또는 웨이퍼 재료에 선택적으로 주입하기 위하여 반도체 장치 제조에 채용되는 물리적인 공정이다. 따라서, 주입 작용은 도판트 및 반도체 재료 사이의 화학적인 상호작용에 의존하지 않는다. 이온 주입을 위하여 이온 주입기의 이온 소스로부터 도판트 원자/분자는 이온화되고, 가속화되어 이온 빔으로 형성되며, 분석되고 웨이퍼를 가로지르거나, 또는 웨이퍼가 이온 빔을 통해 스윕된다. 상기 도판트 이온은 물리적으로 웨이퍼에 충돌하고, 표면에 들어가며 그들의 에너지와 관련된 깊이에서 표면의 하부에 멈춘다.
이온 주입기에서 이온 소스는 통상적으로 아크 챔버에서 소스 물질을 이온화시킴으로써 이온 빔을 발생시키며, 소스 물질의 성분은 바람직한 도판트 성분(desired dopant element)이다. 그런 다음, 상기 바람직한 도판트 성분은 이온 빔의 형태로 이온 소스 물질로부터 추출된다.
통상적으로, 알루미늄 이온들이 바람직한 도판트 성분일 경우 질화 알루미늄(AIN) 및 알루미나(Al2O3)과 같은 물질들은 이온 주입의 목적을 위하여 알루미늄 이온들의 소스 물질로써 사용되고 있다. 질화 알루미늄 또는 알루미나는 통상적으로 플라즈마가 형성되는(이온 소스에서) 아크 챔버에 배치되는 고체의 절연 물질이다.
통상적으로 가스는 알루미늄을 함유하고 있는 물질들을 화학적으로 에칭하기 위하여 도입되고(일예로, 불소), 이에 의해 소스 물질은 이온화되며, 알루미늄은 주입을 위하여 엔드 스테이션(end station)에 위치한 실리콘 카바이드 작업물로 빔라인을 따라 추출되고 전달된다. 예를 들면, 상기 알루미늄 함유 물질은 알루미늄 이온들의 소스 물질로서 아크 챔버에서 일부 형태의 에칭 가스(일예로, BF3, PF3, NF3 등)와 함께 일반적으로 사용된다. 그러나 이러한 물질들은 아크 챔버로부터 의도된 알루미늄 이온들과 함께 방출되는 절연 물질(일예로, AIN, Al2O3 등)을 생성하는 부작용을 갖는다.
상기 절연 물질은 추출 전극과 같은 이온 소스의 다양한 성분을 나중에 코팅하고, 전하를 형성하기 시작하며 추출 전극의 정전 특성을 바람직하지 않게 변화시킨다. 전하 축적의 결과는 일반적으로 축적 전하가 다른 성분 및 접지에 아크를 발생시킴에 따라 추출 전극의 아킹(arcing) 또는 글리칭(glitching)이라고 언급되는 행동을 야기한다. 극단적인 경우, 추출 전극을 위한 전원공급기의 동작이 변경되거나 왜곡될 수 있다. 이는 통상적으로 예기치 않은 빔 동작을 야기하고, 이온 소스와 관련된 다양한 성분들을 세정하기 위하여 감소된 빔 전류 및 빈번한 예방 정비를 야기한다. 부가적으로, 이들 물질로부터의 플레이크(flake) 및 다른 잔류물들은 아크 챔버에서 형성됨으로써 그것의 작동 특성을 변경하고 부가적인 빈번한 세정을 야기시킨다.
본 발명은 알루미늄 주입을 위한 이온 주입 시스템(ion implantation system)에서 성능을 향상시키고 이온 소스의 수명을 연장할 수 있는 시스템, 장치 및 방법을 제공함으로써 종래기술의 한계를 극복하고자 한다. 이에 따라, 다음에서는 본 발명의 일부 측면들(aspects)에 대한 기본적인 이해를 제공할 수 있도록 발명의 단순화된 요약을 제공한다. 본 요약은 발명의 광범위한 개요는 아니다. 본 발명의 핵심 요소 또는 중요한 요소를 식별하거나 본 발명의 범위를 기술하고자 하는 것이 아니다. 그 목적은 후에 표현되는 상세한 설명의 서막으로써 단순화된 형태로 본 발명의 일부 개념을 제시하는 데 있다.
본 발명의 측면들은 알루미늄 이온을 가공물(workpiece)에 주입하기 위한 이온 주입 공정을 가능하게 한다. 예시적인 일 측면에 따르면, 이온 주입 시스템을 위한 이온 소스는 고체 형태의 요오드화 알루미늄(aluminum iodide)을 포함하는 고체 상태의 물질 소스(solid-state material source)를 포함한다. 일예에서, 상기 요오드화 알루미늄은 하나 이상의 파우더 형태(powder form), 과립 형태(granular form) 및 벌크 고체 형태(bulk solid form)이다.
예를 들면, 상기 이온 주입 시스템은 이온 빔을 선택적으로 이동시킬 수 있는 빔라인 어셈블리(beamline assembly)를 더 포함하고, 엔드 스테이션(end station)은 알루미늄 이온의 주입을 위하여 상기 이온 빔을 가공물 측으로 수용할 수 있도록 구성된다.
예를 들어, 고체 소스 증발기(solid source vaporizer)는 요오드화 알루미늄을 기화시켜 기체 요오드화 알루미늄(gaseous aluminum iodide)을 규정한다. 전원공급기(power supply)는 기체 요오드화 알루미늄으로부터 플라즈마를 형성하기 위한 아크 챔버에 작동가능하게 연결될 수 있고, 상기 전원공급기로부터의 아크 전류(arc current)는 상기 요오드화 알루미늄으로부터 알루미늄 이온을 분리할 수 있다. 또한, 하나 이상의 추출 전극들(extraction electrodes)은 상기 아크 챔버로부터 이온 빔을 추출할 수 있고, 상기 이온 빔은 알루미늄 이온으로 이루어질 수 있다.
일 예에 따르면, 상기 고체 소스 증발기는 상기 요오드화 알루미늄을 대략 90℃ 내지 100℃ 사이의 증발온도(vaporization temperature)까지 가열하기 위한 하나 이상의 가열 요소들(heating elements)을 포함한다.
다른 예에 따르면, 추출 전원공급기(extraction power supply)가 더 제공되어 하나 이상의 추출 전극들과 연관된다. 예를 들면, 하나 이상의 추출 전극들은 추출 개구부(extraction aperture)를 포함하며, 상기 추출 전원공급기로부터의 추출 전류는 상기 추출 개구부를 통하여 이온 빔을 추출하도록 구성된다.
다른 예에 따르면, 진공 시스템(vacuum system)이 제공되어 아크 챔버와 같은 이온 주입 시스템의 하나 이상의 구성요소들을 선택적으로 비우도록 구성된다. 다른 실시예에 따르면, 물 도입 장치(water introduction apparatus)가 더 제공되어 이온 소스와 같은 이온 주입 시스템의 하나 이상의 구성요소들에 수증기를 도입한다. 또 다른 예에 따르면, 공동 가스 소스(co-gas source)가 제공되어 플라즈마의 형성을 보조하기 위하여 상기 아크 챔버에 공동 가스를 제공한다.
본 발명의 다른 예시적인 측면에 따르면, 알루미늄 이온을 가공물에 주입하기 위한 방법이 제공된다. 일 예에서, 상기 방법은 기화된 요오드화 알루미늄 소스 물질을 규정하는 고체 요오드화 알루미늄 소스 물질을 기화시키는 단계를 포함한다. 상기 기화된 요오드화 알루미늄 소스 물질은 이온 주입 시스템의 이온 소스에 제공되고, 요오드화 알루미늄 소스 물질은 상기 이온 소스에서 이온화된다. 알루미늄 이온을 함유하는 이온 빔은 상기 이온 소스로부터 추가로 추출되고 가공물을 향하며, 그에 의해 알루미늄 이온을 가공물에 주입한다.
일 예에 따르면, 잔류 요오드화 알루미늄(residual aluminum iodide) 및 요오드화 수소산(hydroiodic acid) 중 하나 이상이 상기 이온 주입 시스템의 하나 이상의 내부 구성요소에 형성되고 그것으로부터 세정된다. 예를 들면, 상기 잔류 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산 중 하나 이상을 세정하는 단계는 상기 이온 주입 시스템의 내부 구성요소에 수증기를 도입하는 단계를 포함하며, 상기 수증기는 요오드화 수소산을 형성할 수 있도록 이온 주입 시스템을 비우는 잔류 알루미늄과 반응한다. 또한, 반응된 잔류 요오드화 알루미늄 및 미반응된 요오드화 알루미늄은 진공 시스템(vacuum system)을 통해 이온 주입 시스템을 비움으로써 이온 주입 시스템으로부터 제거된다. 수증기는 현장(in-situ)에서 도입될 수 있고, 수증기는 반복적으로 도입될 수 있으며, 시스템은 잔류 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산을 제거하기 위하여 비워질 수 있다.
다른 예에 따르면, 셧 다운 빔(shut down beam)은 수증기를 이온 주입 시스템에 도입함과 동시에 수행된다. 상기 셧 다운 빔은 상기 아크 챔버에서 활성 아르곤 플라즈마를 유지함으로써 이온 주입 시스템을 냉각시킴과 동시에 비-이온화 환경을 대체로 방지한다.
상술한 요약은 단지 본 발명의 일부 실시예에 대한 일부 특징들에 대한 간략한 개요를 제공하고자 하는 것이며, 다른 실시예들은 위에서 언급한 특징들 이외에 부가적인 및/또는 다른 특징들을 포함할 수 있다. 특히, 이러한 요약은 본 발명의 범위를 제한하는 것으로 해석되어서는 안 된다. 따라서, 전술한 목적 및 관련된 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은 이후에 설명되는 특징들 및 특히 청구범위에서 지적된 특징들을 포함한다. 다음의 설명 및 첨부된 도면들은 본 발명의 예시적인 실시예를 상세하게 설명한다. 이러한 실시예들은 본 발명의 원리가 채용될 수 있는 다양한 방식 중 몇 가지를 나타낸다. 본 발명의 다른 목적들, 장점 및 신규한 특징들은 도면과 관련하여 고려될 때 다음의 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다.
도 1은 본 발명의 여러 측면에 따른 요오드화 알루미늄 이온 소스 물질을 활용한 예시적인 진공 시스템을 나타낸 블럭도이다.
도 2는 본 발명의 다른 측면에 따른 예시적인 증발기를 나타낸다.
도 3은 소스 물질로서 요오드화 알루미늄을 이용하여 알루미늄 이온을 가공물로 주입하기 위한 예시적인 방법을 도시한다.
도 4는 소스 물질로서 요오드화 알루미늄을 이용하는 이온 주입 시스템을 세정하기 위한 예시적인 방법을 도시한다.
본 발명은 대체로 이온 주입 시스템(ion implantation system) 및 이와 관련된 이온 소스 물질과 직접적으로 관련된다. 더욱 상세하게는, 본 발명은 1000℃ 까지의 범위의 다양한 온도에서 전기적으로 실리콘(silicon), 실리콘 카바이드(silicon carbide) 또는 다른 반도체 기재를 도핑하여 원자 알루미늄 이온을 생성하기 위한 요오드화 알루미늄(AlI3) 고체 소스 물질을 이용하는 이온 주입 시스템을 위한 구성요소들과 직접적으로 관련된다. 또한, 본 발명은 이온 주입 과정 동안 및/또는 후에 요오드화 알루미늄 및 그것의 부산물들에 대한 현장세정을 제공한다.
따라서, 본 발명은 도면을 참조하여 설명될 것이며, 동일한 도면부호가 명세서 전반에 걸쳐 동일한 요소를 나타내기 위해 사용될 수 있다. 이들 측면들에 대한 설명은 단지 예시적인 것으로 이해해야 할 것이며, 제한적인 의미로 해석되어서는 안 된다. 이하의 설명에서, 설명의 목적으로, 다수의 세부적인 사항들이 본 발명에 대한 완전한 이해를 제공하기 위하여 제시된다. 그러나 본 발명이 이러한 특정 사항들 없이 실시될 수 있다는 것은 당업자에게 명백할 것이다. 또한, 본 발명의 범위는 이하에서 첨부된 도면과 관련하여 설명된 실시예들 또는 예시들에 제한되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위 및 그 균등물에 의해서만 제한되도록 의도된다.
또한, 도면은 본 발명의 일부 실시예들의 측면들에 대한 설명을 제공하며, 따라서 단지 개략적인 것으로 간주되어야 함을 유의해야 한다. 특히, 도면에 도시된 구성요소들은 반드시 서로 축적될 필요는 없으며, 도면에서 다양한 구성요소들의 배치는 개개의 실시예들에 대한 명확한 이해를 제공하기 위하여 선택되며, 본 발명의 일 실시예에 따른 구현예에서 다양한 구성요소들의 실제 상대적인 위치에 대하여 대표되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 더욱이, 여기서 설명된 다양한 실시예들 및 예시들의 특징들은 특별하게 언급되지 않는 한 서로 결합될 수 있다.
또한, 다음의 설명에서 도면에 도시된 또는 여기서 설명된 기능적인 블럭들, 디바이스들, 구성요소들, 회로 소자들 또는 다른 물리적인 유닛 또는 기능적인 유닛들 간의 임의의 직접적인 연결 또는 결합은 간접적인 연결 또는 결합에 의해 구현될 수 있는 것으로 이해되어야 한다. 더욱이, 도면에 도시된 기능적인 블럭들 또는 유닛들은 일 실시예에서 개별적인 특징들 또는 회로들로서 구현될 수 있고, 대안적으로 다른 실시예에서 흔한 특징 또는 회로로 완전히 또는 부분적으로 구현될 수 있다. 예를 들면, 몇 개의 기능적인 블럭들은 신호 프로세서(signal processor)와 같은 흔한 프로세서(common processor)에서 구동하는 일반적인 소프트웨어로 구현될 수 있다. 또한, 이하의 명세서에서 유선 기반으로 설명된 임의의 연결은 특별히 언급하지 않는 한 무선 통신으로서 구현될 수도 있음을 이해해야 한다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 도 1은 예시적인 진공 시스템(vacuum system)(100)을 도시한다. 본 예시의 진공 시스템(100)은 이온 주입 시스템(ion implantation system)(101)을 포함하지만 플라즈마 처리 시스템들 또는 다른 반도체 처리 시스템들과 같은 다양한 다른 형태의 진공 시스템들이 고려될 수 있다. 예를 들면, 상기 이온 주입 시스템(101)은 터미널(terminal)(102), 빔라인 어셈블리(beamline assembly)(104) 및 엔드 스테이션(end station)(106)을 포함한다.
일반적으로 말하면, 상기 터미널(102)에서 이온 소스(108)는 전원공급기(power supply)(110)에 연결된다. 상기 이온 소스(108)는 아크 챔버(114)에서 이온 소스 물질(112)을 복수 개의 이온들로 이온화하며, 하나 이상의 추출 전극들(118)을 통해 이온 빔(116)을 형성하고 추출한다. 일예로, 상기 하나 이상의 추출 전극들(118)은 상기 이온 빔(116)이 추출되고 규정되는 추출 개구부(119)를 포함한다. 일예로, 추출 전원공급기(extraction power supply)(120)는 하나 이상의 추출 전극들(118)과 연관된다. 일예로, 상기 추출 전원공급기(120)로부터 하나 이상의 추출 전극들(118)로 공급되는 추출 전류(121)는 상기 추출 개구부(119)를 통해 이온 빔(116)을 추출하도록 구성된다. 일예로, 상기 추출 개구부(119)에 근접한 개개의 전극들(122)은 아크 챔버(114)에 근접하거나 상기 추출 개구부를 통한 뒤쪽으로의 중화 전자(neutralizing electron)의 역류(back streaming)를 억제할 수 있도록 바이어스될 수 있다. 본 발명의 일 예에 따르면, 상기 이온 소스 물질(112)은 이온 소스(108)의 아크 챔버(114)에 제공되며, 상기 이온 소스 물질은 더욱 상세하게 논의될 요오드화 알루미늄(AlI3)을 포함한다.
본 예에서, 상기 이온 빔(116)은 빔 조향 장치(beam-steering apparatus)(124)를 통해 지향되고, 상기 엔드 스테이션(106)을 향한 개구부(126)를 통해 배출된다. 상기 엔드 스테이션(106)에서 이온 빔(116)은 가공물(128)(일예로, 실리콘 웨이퍼, 실리콘 카바이드, 디스플레이 패널 등)을 폭격하며, 선택적으로 클램핑되거나 척(130)(일예로, 정전 척 또는 ESC)에 실장된다. 일단, 상기 가공물(128)의 격자 안으로 삽입되면, 주입된 이온들은 가공물의 물리적 및/또는 화학적 특성을 변화시킨다. 이로 인해, 이온 주입은 반도체 장치 제조 및 금속 마감뿐만 아니라 재료 과학 연구에서의 다양한 응용 분야에 사용된다.
본 발명의 이온 빔(116)은 연필 또는 스팟 빔, 리본 빔, 주사된 빔 또는 이온들이 엔드 스테이션(106) 측으로 제공되는 임의의 다른 형태와 같은 임의의 형태를 취할 수 있으며, 위의 모든 형태들은 본 발명의 범위 내에 있는 것으로 고려된다.
본 발명의 예시적인 측면에 따르면, 상기 엔드 스테이션(106)은 진공 챔버(134)와 같은 공정 챔버(132)를 포함하며, 공정 환경(process environment)(136)은 상기 공정 챔버와 연관된다. 상기 공정 환경(136)은 일반적으로 공정 챔버(132) 내에 존재하고, 일 예에서, 상기 공정 챔버와 연결되어 상기 공정 챔버를 대체로 비우기 위한 진공 시스템(138)(일예로, 진공 펌프)에 의해 생성된 진공을 포함한다. 상기 진공 시스템(138)은 상기 터미널(102), 빔라인 어셈블리(104) 및 엔드 스테이션(106)과 연관된 임의의 구성요소들과 같이 상기 진공 시스템(100)의 다양한 다른 구성요소들을 선택적으로 비울 수 있도록 구성될 수 있다. 예를 들면, 상기 진공 시스템(138)은 상기 이온 소스(108)의 아크 챔버(114)를 대체로 비울 수 있도록 유리하게 구성될 수 있다. 또한, 컨트롤러(140)는 상기 진공 시스템(100)의 전반적인 제어를 위해 제공된다.
본 발명은 그 위에 형성된 실리콘 카바이드 고체 상태 기반의 디바이스들(silcon carbide solid state based devices)(미도시)을 갖는 가공물(128)이 실리콘 기반의 디바이스들보다 더욱 우수한 열적 특성 및 전기적 특성들을 가진다는 것을 인식한다. 예를 들면, 실리콘 카바이드 고체 상태 디바이스들은 잠재적으로 고온에서 다량의 상대적인 높은 전압을 변환하는 응용분야에서 전통적인 실리콘 고체 상태 디바이스들보다 더욱 우수한 열적특성 및 전기적 특성을 가진다. 일예로, 실리콘 카바이드 기반의 디바이스들은 전기자동차 등과 같은 고전압 및 고온의 디바이스에서 유리하게 구현될 수 있다.
실리콘 카바이드를 포함하는 가공물(128)로의 이온 주입은 실리콘 가공물에 사용되는 것과는 다른 종류의 주입 도판트(implant dopants)를 활용한다. 예를 들면, 실리콘 카바이드를 포함하는 가공물(128)로 이온을 주입하는 경우, 알루미늄 및 질소 주입이 종종 수행되며, 알루미늄 및 질소 이온들은 각각 가공물로 주입된다. 예를 들면, 질소가 가스로서 이온 소스(108) 측으로 도입될 수 있음에 따라 질소 주입은 상대적으로 간단하고, 질소 주입과 연관된 질소 이온들의 이온화 및 추출은 상대적으로 쉬운 튜닝(turning), 세정(cleanup) 등을 제공하지만, 알루미늄 주입과 연관된 알루미늄 이온들의 이온화 및 추출은 현재 알려진 알루미늄의 양호한 기체 소스 해결책(gaseous source solution)이 거의 없기 때문에 훨씬 어렵다.
이에 따라, 본 발명은 원자 알루미늄 이온들을 상기 이온 소스(108)에서 생성할 수 있도록 이온 소스 물질(112)로서 요오드화 알루미늄(AlI3)을 사용하는 것을 고려한다. 지금까지 요오드화 알루미늄은 이온 소스 물질(112)로 사용되지 않았으며, 본 발명자들은 요오드화 알루미늄의 사용은 종래의 알루미늄 이온 주입시 마주치던 절연 물질 및 플레이크(flake) 등의 생성을 줄인다는 것을 인식한다. 이와 같이 요오드화 알루미늄이 소스 물질(112)로서 사용되는 경우 이온 소스와 연관된 다양한 구성요소들에서 종래의 알루미늄 이온 주입에서 나타난 절연 물질이 생성되지 않는다. 이에 따라, 이온 소스 물질(112)로서 요오드화 알루미늄을 활용함으로써 이온 소스(108) 및 추출 전극들(118)의 수명이 유리하게 증가하고, 이온 주입 시스템(101)의 작동시 더욱 안정적인 이온 빔(116)이 생성되며, 대체로 더 높은 빔 전류가 허용된다.
본 발명은 요오드화 알루미늄이 이온 소스(108)에서 소스 물질(112)로서 고체 형태로 제공되는 경우 단일의 원자 알루미늄 이온이 생성될 수 있다는 것을 독창적으로 인식함으로써 알루미늄 이온들이 1000℃ 까지의 범위의 온도에서 실리콘 카바이드, 실리콘 또는 다른 물질들을 포함하는 가공물(128)을 전기적으로 도핑하는데 활용될 수 있다. 이와 같이, 소스 물질(112)로서 요오드화 알루미늄(AlI3)을 활용함으로써 본 발명은 이전에 공지된 기술에 비하여 이온 주입 시스템(101)에서 개선된 이온 소스(108)의 수명, 개선된 빔 전류 및 다양한 다른 개선된 동작 특성들을 제공한다.
따라서, 본 발명에 따르면, 요오드화 알루미늄(AlI3)이 이온 주입 시스템(101)과 연관된 고체 소스 증발기(144)(solid source vaporizer)(일예로, 원통형 오븐) 측으로 삽입되는 고체 상태의 물질 소스(142)로서 제공된다. 예를 들면, 상기 이온 주입 시스템(101)은 매사추세츠 주 버벌리 소재 Axcelis 테크놀러지 사(Axcelis Technologies, Inc. of Beverley, MA)에 의해 제조된 적절한 이온 주입기를 포함할 수 있다. 일예로, 상기 요오드화 알루미늄은 하나 이상의 파우더 형태, 분말 형태 및 벌크 고체 형태로 상기 고체 소스 증발기(144) 측에 배치된다. 상기 고체 소스 증발기(144)의 삽입 후에 요오드화 알루미늄은 플라즈마를 형성하기 위한 소스 물질(112)로서 이온 소스(108)의 아크 챔버(114) 측으로 도입될 충분한 가스 물질의 방출을 생성할 수 있도록 증발온도(일예로, 90~100℃)까지 가열된다. 플라즈마의 형성은 상기 아크 챔버(114)에서 플라즈마의 초기 형성을 도와줄 수 있도록 아르곤과 같은 공동 가스(co-gas)(148)를 사용하거나 사용하지 않고 수행될 수 있다. 일예로, 상기 고체 소스 증발기(144)는 상기 요오드화 알루미늄을 증발온도까지 가열하기 위한 가열장치(146)(일예로, 하나 이상의 가열 요소들 또는 히팅 코일)을 포함한다.
상기 요오드화 알루미늄이 상기 고체 소스 증발기(144)에서 적절한 온도(일예로, 증발온도)까지 도달하면, 충분한 물질이 방출되어 안정적인 플라즈마가 이온 소스(108)의 아크 챔버(114)에서 요오드화 알루미늄 단독 또는 공동 가스(148)의 조합에 의해 생성될 수 있다. 이에 따라, 단일의 원자 알루미늄 이온은 알루미늄과 함께 가공물(128)에 주입될 수 있도록 조작되고 이송되는 이온 빔(116)을 형성하기 위하여 추출 전극들(118)을 통해 정전기적으로 추출된다.
또한, 본 발명은 요오드화 알루미늄과 이온 소스(108) 및 그 주변 영역으로부터 그것의 임의의 부산물을 현장 세정(in-situ cleaning)하는 기술을 제공하며, 여기서, 상기 주변 영역은 실리콘, 실리콘 카바이드 또는 다른 반도체 기재들을 포함하는 가공물(128)로 원자 알루미늄 이온들을 주입하기 위한 알루미늄 소스 물질로서 요오드화 알루미늄(AlCl3 등)을 사용함으로써 발생된 영역이다.
위에서 논의된 바와 같이, 요오드화 알루미늄은 이온 주입 시스템(101)에서 고체 상태의 물질 소스(142)로부터 상기 고체 소스 증발기(144)에 제공될 수 있다. 일예로, 상기 요오드화 알루미늄은 상기 고체 소스 증발기(144)에서 적절한 온도까지 가열됨으로써 기화되고, 유발된 요오드화 알루미늄 증기는 이온 주입 공정을 위한 이온 빔(116)의 형태로 추출되는 원자 알루미늄 이온들을 생성할 수 있도록 이온 소스(108)의 아크 챔버(114)에서 분리된 후 이온화된다. 요오드화 알루미늄과 연관된 비-이온화 물질(일예로, 분자 또는 비분리된)이 이온 주입 시스템(101)의 내부면에 축적되거나 또는 그들이 다양한 성분들로 나누어질 수 있다는 것이 잘 알려져 있다. 예를 들면, 요오드화 알루미늄에 대한 이러한 나누어지는 주요 성분들은 요오드화 알루미늄(aluminum iodide), 알루미늄(aluminum), 요오드화물(iodine) 및 요오드화 수소(hydrogen iodide)이다. 위에서 논의된 바와 같이, 알루미늄은 이온 주입 공정을 위한 바람직한 타겟 물질(target material)이고, 요오드화물은 이온 주입 시스템(101) 전체에 존재할 때 상대적으로 불활성이다. 그러나 요오드화 수소는 반응성이며 강한 부식성 산인 수소산을 형성할 수 있도록 화학적으로 분해하려는 경향을 가진다.
일예로, 상기 이온 소스(108)와 연관된 고체 소스 증발기(144)는 공기 중의 수분과 소스 물질의 반응이 시작되지 않도록 불활성 환경(일예로, 아르곤, 질소 또는 다른 불활성 가스 환경)에서 고체 상태의 물질 소스(142)로부터 소스 물질(112)(요오드화 알루미늄)을 수동적으로 로딩할 수 있다. 일예로, 상기 고체 소스 증발기(144) 및 이온 소스(108) 중 하나 이상이 이온 주입 시스템(101)으로부터 분리될 수 있고, 불활성 환경에서 소스 물질(112)의 수동적인 로딩을 위한 글로브 박스(glove box)에 배치될 수 있다. 그런 다음, 이온 소스(108) 및/또는 고체 소스 증발기(144)는 이온 주입 시스템(101)에 재설치될 수 있으며, 적어도 하나의 이온 소스(108)가 이온 주입 시스템의 작동 압력까지 진공으로 펌핑 다운될 수 있다.
일예로, 상기 소스 물질(112)(요오드화 알루미늄)은 증기(일예로, 기체 상)를 형성할 때까지 고체 소스 증발기(144)에서 가열되고, 상기 증기는 이동하거나 상술한 바와 같이 알루미늄이 이온화되고 이온 빔(116)으로서 추출되며 가공물(128)로 전달되는 아크 챔버(114)로 도입된다. 반응하지 않은 요오드화 알루미늄은 다른 빔라인 구성요소들뿐만 아니라 이온 소스(108)와 연관된 내부면(149)과 같은 더 차가운 표면(일예로, 대략 90~100℃보다 낮은 온도를 갖는 면)에 재응고되려는 경향을 가진다. 요오드화 알루미늄은 요오드화 알루미늄의 증발온도 때문에 더 뜨거운 표면(일예로, 대략 90~100℃보다 더 높은 온도를 갖는 면)에 재응고되지 않는 경향이 있다.
본 발명은 물과 같이 수소 또는 수소-함유 화합물과의 반응 부산물인 요오드화 수소가 이온 소스(108)(그리고 다른 빔 라인 구성요소들)의 내부면(149)을 형성하거나 상기 내부면(149)을 코팅할 수 있음을 인식한다. 예를 들면, 상기 고체 소스 증발기(144)에서 요오드화 알루미늄 물질이 대폭 감소하면, 이온 소스(108)는 이온 주입 시스템(101)으로부터 제거될 수 있고, 이에 의해 이온 소스는 공정을 계속하기 위하여 요오드화 알루미늄으로 세척되거나 재로딩될 수 있다. 그러나 이때는 부가적인 요오드화 수소(hydrogen iodide) 및 요오드화 수소산(hydroiodic acid)을 형성할 수 있도록 이온 소스(108)의 내부면(149) 상의 미반응된 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산이 수분을 함유하는 공기에 노출되는 때이다.
그러나 본 발명은 만약 요오드화 알루미늄이 수증기 현장(water vapor in-situ)에 노출된다면 액체와 같은 잔류물이 형성될 수 있고, 그에 의해 액체와 같은 잔류물이 진공 시스템(138)(일예로, 독성 가스 배출 도는 다른 진공 시스템)을 통해 펌핑되어 제거될 수 있다는 것을 인식한다. 따라서, 본 발명은 세정 및 유지보수를 도울 수 있도록 수증기에 이온 주입 시스템(101)의 이온 소스(108) 및/또는 다른 구성요소들의 현장 노출을 고려한다. 예를 들면, 현장 노출(in-situ exposure)은 일일 셧-다운 사이클시와 같이 주기적일 수도 있고, 이온 소스의 수명이 다했을 때 단일 일련의 노출(일예로, 퍼지 및 펌프 사이클)에서 수행될 수도 있다. 대안으로, 별도의 전용 용기가 이온 소스(108)의 세정을 위해 활용될 수 있다.
일정 시간으로 이온 소스(108)의 하우징 내의 다양한 부분들로 수증기를 도입하는 것은 진공 시스템(138)에 의해 세정되는 것을 허용하고 이소프로필 알콜(isopropyl alcohol) 또는 다른 덜 위험한 용액(solvent)으로 세정될 수 있는 잔존하는 물질들을 위하여 임의의 잔존하는 물질을 중화하는데 도움을 줄 수 있도록 요오드화 수소 및 요오드화 수소산을 유리하게 반응시킬 수 있다. 일예로, 상기 수증기의 도입은 유해한 화학 반응 및/또는 부식적인 측면을 최소화할 수 있도록 안전한 방식으로 상기 요오드화 알루미늄 부산물을 반응시키도록 제어될 수 있다.
본 발명은 전술한 물을 이용한 현장 세정 없이 내부면(149)에 형성된 미반응 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산의 상당량이 특별한 오염 제거 프로토콜 및 처분을 유도할 수 있다는 것을 인식한다. 따라서, 본 발명은 요오드화 알루미늄 부산물(일예로, 가스 배출을 통한)의 형성을 의도적으로 허용하고 진공 시스템(138)을 통한 부산물의 제거를 다룰 수 있도록 진공 시스템(100)(또는 대안적으로, 외부 용기) 측으로 수증기의 도입을 다룬다. 예를 들면, 상기 요오드화 알루미늄 부산물의 제거는 대기 빔 작동(일예로, 하룻밤)을 활용하는 것과 같이 정기적인 기계 정지 기간(machine shutdown period)동안 현장에서 달성될 수 있다. 대안으로, 요오드화 알루미늄 부산물의 제거는 일련의 개별적인 퍼지/펌프 사이클 또는 펌프 다운 사이클에 의해 뒤따르는 단일의 퍼지를 통해 이온 소스(108) 또는 증발기(144)의 수명이 다했을 때 현장에서 달성될 수 있다. 또한, 본 발명은 대기압과 같은 더 높은 압력에서 발생하는 퍼지/펌프 또는 단일 퍼지를 고려한다. 전용 외부 용기(미도시)가 상술한 퍼징(purging) 및 펌핑(pumping)을 위해 더 제공될 수 있다.
상기 진공 시스템(100)에 물 또는 수증기의 도입은 물 전달 시스템(150)(water delivery system)에 의해 달성될 수 있다. 예시적인 물 전달 시스템(150)이 도 2에 도시되어 있고, 매사추세츠 주 버벌리 소재 Axcelis 테크놀러지 사(Axcelis Technologies, Inc. of Beverley, MA)의 부품번호 110126300과 같은 물 도입 장치(152)는 도 1의 진공 시스템(100)에 물 또는 수증기의 현장 도입을 위한 물 저장고(154)로부터 물을 수용하도록 구성된다.
따라서, 본 발명은 증발기(144)에 배치되고 증발온도(일예로, 가열장치(146)를 통해)까지 가열되는 분말형 또는 이와 다르게 고체 요오드화 알루미늄을 활용한다. 상기 요오드화 알루미늄은 기화되고, 이에 의해 기화된 물질은 가공물(128) 측으로 주입될 수 있도록 이온화되고 빔라인을 따라 이동하는 이온 소스(108)의 아크 챔버(114)로 전달된다.
도 3은 알루미늄 이온을 가공물로 주입하기 위하여 제공되는 예시적인 방법(200)을 도시한다. 예시적인 방법들이 본 명세서에서 일련의 작용 또는 이벤트로서 도시되고 설명되었지만, 본 발명을 이러한 작용 또는 이벤트의 순서로 한정하는 것은 아니며, 일부 단계들은 본 발명에 따라 여기에 도시되고 설명된 것을 제외하고 다른 순서 및/또는 다른 순서와 함께 일어날 수 있다는 점에 유의해야 한다. 또한, 모든 도시된 단계들이 본 발명에 따른 방법을 구현하기 위하여 요구되는 것은 아니다. 더욱이, 상기 방법들은 본 명세서에서 도시되고 설명된 시스템들과 연관되어 구현될 수 있을 뿐만 아니라 도시되지 않은 다른 시스템들과 연관되어 구현될 수 있는 것으로 고려되어야 할 것이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 상기 방법(200)은 고체 요오드화 알루미늄 소스 물질을 기화시킴으로써 기화된 요오드화 알루미늄 소스 물질을 규정하는 단계 202로 시작한다. 일예로, 단계 202에서 상기 고체 요오드화 알루미늄 소스 물질은 초기에 분말 형태, 과립 형태 및 벌크 고체 형태 중 하나이다.
단계 204에서, 상기 기화된 요오드화 알루미늄 소스 물질은 도 1의 이온 주입 시스템(101)의 이온 소스(108)와 같은 이온 주입 시스템의 이온 소스에 제공된다. 도 3의 단계 206에서 요오드화 알루미늄 소스 물질은 상기 이온 소스에서 이온화된다. 단계 208에서, 알루미늄 이온들을 함유하는 이온 빔은 도 1의 하나 이상의 전극들을 통해 이온 소스로부터 추출된다. 도 3의 단계 210에서, 상기 이온 빔은 가공물을 향하고, 이에 의해 알루미늄 이온들을 가공물로 주입한다.
일 예에 따르면, 단계 206, 단계 208 및 단계 210 중 하나 이상의 단계를 수행할 때, 상기 잔류 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산 중 하나 이상이 이온 주입 시스템 중 하나 이상의 내부 구성요소들에 형성될 수 있고, 이에 의해 상기 잔류 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산 중 하나 이상은 이온 주입 시스템 중 하나 이상의 내부 구성요소들로부터 세정될 수 있다. 예를 들면, 상기 잔류 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산 중 하나 이상을 세정하는 단계는 이온 주입 시스템의 내부 구성요소들에 수증기를 도입하고 이온 주입 시스템을 비우는 단계를 포함할 수 있으며, 수증기, 잔류 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산을 대체로 제거한다.
다른 예에 따르면, 수증기는 이온 주입 시스템의 내부 구성요소들에 대기압 및 기화된 물 중 하나 이상을 도입함으로써 이온 주입 시스템의 내부 구성요소들로 도입될 수 있다.
또한, 요오드화 알루미늄이 요오드화 수소산을 형성하기 위하여 대기로부터 물을 흡수하는 흡수성 물질이기 때문에 본 발명은 요오드화 알루미늄이 전통적으로 다루기 어려운 물질이라는 것을 인식하고 있다. 이에 따라, 요오드화 알루미늄 및 그것의 부산물들은 전통적으로 다루기 어렵고(일예로, 불활성 가스를 갖는 글로브 박스가 통상적으로 상기 물질을 다루는데 사용됨), 부산물들과 접촉하는 성분들은 종종 사용 후에 주의 깊게 세정된다. 그러나 본 발명은 바람직한 공정 온도(일예로, 90~100℃ 범위의 온도)의 증발기에서 요오드화 알루미늄을 제공함으로써 이온 주입 시스템에서 알루미늄 주입을 위한 요오드화 알루미늄을 활용하는 것을 고려하고, 이에 의해 요오드화 알루미늄은 이전에 알루미나 등을 사용할 때 나타나던 절연성 또는 다른 유해한 부산물을 생성하는 것 없이 좋은 활약을 한다.
임의의 소스 물질과 마찬가지로, 요오드화 알루미늄의 사용 후에 잔류 물질들이 남는다. 기체 상의 소스 물질들을 주입할 때, 잔류 물질들은 진공 시스템을 통해 시스템 밖으로 펌핑될 수 있다. 그러나 고체 소스 물질들을 활용하여 주입할 때, 잔류물들은 대게 이온화되지 않은 이온 소스로부터 나오는 고체이고, 이에 의해 이온화되지 않은 물질은 빔라인을 따라 만나는 후속의 차가운 표면을 코팅한다. 요오드화 알루미늄을 사용하면, 이온화되지 않은 요오드화 알루미늄은 빔라인을 따라 더 차가운 구성요소들을 코팅할 수 있다. 더욱이, 요오드화 알루미늄은 흡습성이기 때문에 성분들의 제거 및 공기 중의 수증기에 대한 이후의 노출은 세정하는데 어려움을 야기할 수 있다. 그러나 본 발명은 고체 물질의 충전 수명이 끝날 때 공기 중의 수증기를 통해 또는 진공 시스템을 통한 후속 배출을 위해 물질들을 의도적으로 액화시키기 위한 활성수 배출(acitve water bleed)을 통해 의도적으로 수증기(일예로, 현장에서)를 도입한다.
따라서, 본 발명은 잔류하는 요오드화 알루미늄을 액화시키거나 또는 기화시키기 위하여 물 또는 수증기를 도입하고 표준 배출(standard evacuation)을 통해 상기 액화된 또는 기화된 물질을 제거한다. 또한, 도 4는 이러한 세정을 위한 예시적인 방법(300)을 도시한다. 본 발명은 일부 수동 세정이 제거하기 어려운 퇴적물들을 제거하기 위하여 여전히 수행될 수 있지만, 요오드화 알루미늄의 대부분이 수증기를 통해 유리하게 제거된다는 것을 인식한다. 또한, 수동 세정은 이소프로필 알콜을 사용하여 수행될 수 있다.
본 발명의 예시적인 일 측면에 따르면, 상기 방법(300)은 단계 302에서 요오드화 알루미늄의 이온화를 통해 가공물로 알루미늄 이온들을 주입하는 단계를 포함한다. 예를 들면, 단계 302에서 알루미늄 이온들을 주입하는 단계는 도 3의 방법(200)을 포함할 수 있다. 도 4에 도시된 바와 같이, 상기 방법(300)은 단계 304에서 알루미늄 이온들을 주입한 후에 이온 주입 시스템에 수증기를 도입하는 것을 계속한다. 단계 304에서 수증기의 도입은 수증기를 단계 306에서 이온 주입 시스템의 하나 이상의 구성요소들 중 하나 이상의 내부면에 형성된, 증착된 또는 퇴적된 잔류 요오드화 알루미늄과 반응시킨다. 예를 들면, 단계 306에서 수증기와 잔류 요오드화 알루미늄의 반응은 요오드화 수소산 및 반응하지 않은 잔류 요오드화 알루미늄과 같은 하나 이상의 생성물을 형성한다.
단계 308에서, 이온 주입 시스템은 비워지고, 반응 및 미반응된 잔류 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산과 같은 상기 잔류 요오드화 알루미늄 및 물의 반응에 의한 하나 이상의 생성물을 제거한다. 예를 들면, 단계 304, 단계 306 및 단계 308의 수행은 현장에서 수행될 수 있다. 또한, 단계 304에서 수증기를 도입하고 단계 306에서 수증기를 잔류 요오드화 알루미늄과 반응시키며, 단계 308에서 이온 주입 시스템을 비우는 것은 반복적으로 수행될 수 있다.
단계 304에서 이온 주입 시스템으로 수증기를 도입하는 것은 물을 기화시키고 기화된 물을 이온 주입 시스템의 이온 소스로 도입하는 단계를 포함할 수 있음을 알아야 한다. 이에 따라, 단계 306에서 수증기는 이온 주입 시스템 내에서 차가운 표면상에 증착될 수 있는 요오드화 알루미늄과 반응한다.
또한, 단계 304에서 수증기의 도입과 동시에 아르곤 이온 빔이 형성될 수 있고 이온 주입 시스템 내에서 따뜻한 환경을 유지할 수 있음을 알아야 한다. 예를 들면, 상기 아르곤 이온 빔은 셧 다운 빔(shut down beam)으로 고려될 수 있고, 이에 의해 활성 아르곤 플라즈마가 아크 챔버에서 유지되며, 그것 때문에 이온 주입 시스템을 냉각시키는 것과 동시에 비-이온화 환경을 대체로 방지한다.
다른 예에 따르면, 수증기는 이온 소스가 냉각되는 동안 도입된다. 또한, 소량의 수증기가 주기적으로 도입되고, 시스템은 작동시 계속해서 청결한 상태를 유지할 수 있으며, 결국에는 다량의 청소가 불필요하다.
대안으로, 이온 주입 시스템의 하나 이상의 구성요소들은 소스 물질의 사용 종료 시 다량의 수증기에 노출될 수 있고, 여기서 시스템은 펌핑 다운되고 노출이 여러번 반복된다. 저온 특성으로 인하여, 따뜻한 구성요소들은 물질 빌드-업(material build-up)에 의한 큰 영향을 받지 않으며, 빌드-업(build-up)은 종종 비-빔타격 영역(non beam-strike areas)에서 일어난다.
일예에서, 고체 소스 물질을 이용한 작동 사이클의 끝(일예로, 생산 일의 끝)일 때 증발온도가 낮아지고 물질이 냉각되면 아크 챔버에서 활성 플라즈마를 유지하기 위하여 "셧 다운 빔(shut down beam)"(일예로, 아르곤 빔)이 작동되며, 이에 따라 냉각시 비-이온화 환경을 대체로 방지한다. 따라서, 상기 아르곤 빔은 구성요소들을 따뜻하게 유지하고, 냉각기간 동안 제어된 양의 수증기가 하루 동안의 마지막 작동시간에 시스템으로 주입된다.
수증기의 현장 도입에 대한 대안으로써, 수증기의 더 큰 노출이 도입되고 시스템이 이어서 공기로 벤트되며, 이에 의해 요오드화 알루미늄은 액화 또는 기화되며, 그런 다음 진공 시스템을 통해 펌핑된다.
본 발명이 특정 실시예 또는 실시예들과 관련하여 도시되고 설명되었지만, 상술한 실시예들은 오직 본 발명의 일부 실시예들을 구현하기 위한 예시로써 제공되어야 하며, 본 발명의 적용이 이러한 실시예들로 제한되지 않는다. 특히 상술한 구성요소들(어셈블리들, 디바이스들, 회로들 등)에 의해 수행되는 다양한 기능들과 관련하여, 그러한 구성요소들을 설명하기 위하여 사용된 용어들(수단들에 대한 참조를 포함하는)은 비록 여기에 도시된 본 발명의 예시적인 실시예들에서 기능을 수행하는 게시된 구조와 구조적으로 동등하지는 않더라도 달리 지시되지 않는 한 상술한 구성요소(즉, 기능적으로 동등함)의 특정 기능을 수행하는 임의의 구성요소와 부합될 수 있다. 또한, 본 발명의 특정 특징이 여러 실시예들 중 단지 하나에 대하여 게시되었더라도 그러한 특징은 임의의 주어진 또는 특정 어플리케이션을 위한 바람직하고 유리할 수 있는 바와 같이 다른 실시예들이 하나 이상의 다른 특징들과 결합될 수 있다. 따라서, 본 발명은 상술한 실시예들에 한정되지 않으며, 첨부된 특허청구범위 및 그것의 균등물에 의해서만 제한되도록 의도된다.

Claims (20)

  1. 고체 형태의 요오드화 알루미늄의 소스 재료로부터 알루미늄 이온들을 주입하도록 구성되는 이온 주입 시스템으로서,
    상기 요오드화 알루미늄(aluminum iodide)으로부터 이온 빔(ion beam)을 형성하기 위한 이온 소스(ion source) - 상기 이온 소스는 상기 요오드화 알루미늄으로부터 상기 알루미늄 이온들을 분리하도록 구성되는 아크 챔버를 포함함 -;
    상기 이온 빔을 선택적으로 전달하기 위한 빔라인 어셈블리(beamline assembly);
    가공물(workpiece)로 알루미늄 이온들의 주입을 위하여 상기 이온 빔을 수용하는 엔드 스테이션(end station);
    상기 이온 소스, 빔라인 어셈블리 및 엔드 스테이션 중 하나 이상에 물 또는 수증기를 도입하기 위한 물 전달 시스템(water delivery system); 및
    상기 이온 소스, 빔라인 어셈블리 및 엔드 스테이션 중 하나 이상을 비우기 위한 진공 시스템(vacuum system);을 포함하고,
    상기 물 전달 시스템은 상기 물 또는 수증기를 하나 이상의 이온 소스, 빔라인 어셈블리 및 엔드 스테이션 중 하나 이상의 내부면 상에 형성된 잔류 요오드화 알루미늄(residual aluminum iodide)과 반응시킬 수 있도록 구성되고,
    상기 진공 시스템은 상기 물 또는 수증기와 반응된 잔류 요오드화 알루미늄과의 반응에 의한 하나 이상의 생성물들을 각각의 이온 소스로부터 제거하는 이온 주입 시스템.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 요오드화 알루미늄을 기화시켜 기체 요오드화 알루미늄(gaseous aluminum iodide)을 규정하는 고체 소스 증발기(solid source vaporizer);를 더 포함하고,
    상기 이온 소스는 상기 기체 요오드화 알루미늄으로부터 플라즈마를 형성하여 상기 기체상의 요오드화 알루미늄으로부터 알루미늄 이온들을 분리하는 상기 아크 챔버(arc chamber)를 포함하며,
    상기 물 전달 시스템은 상기 아크 챔버로 물 또는 수증기를 도입하는 이온 주입 시스템.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 이온 소스는 상기 아크 챔버로부터 상기 이온 빔을 추출하기 위한 하나 이상의 추출 전극들(extraction electrodes)을 더 포함하고,
    상기 물 전달 시스템은 상기 하나 이상의 추출 전극들로 상기 물 또는 수증기를 도입하는 이온 주입 시스템.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 고체 소스 증발기는 상기 요오드화 알루미늄을 증발온도까지 가열하기 위한 하나 이상의 가열 요소들(heating elements)을 포함하는 이온 주입 시스템.
  5. 제 2항에 있어서,
    상기 고체 소스 증발기는 90 내지 100℃ 사이까지 상기 요오드화 알루미늄을 가열하는 이온 주입 시스템.
  6. 제 1항에 있어서,
    상기 가공물은 실리콘 카바이드(silicon carbide)를 포함하는 이온 주입 시스템.
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 요오드화 알루미늄은 하나 이상의 분말 형태, 과립 형태 및 벌크 고체 형태로 존재하는 이온 주입 시스템.
  8. 이온 주입 시스템(ion implantation system)의 하나 이상의 구성요소들을 세정하기 위한 방법으로서,
    요오드화 알루미늄의 이온화를 통해 알루미늄 이온들을 가공물에 주입하는 단계 - 상기 하나 이상의 구성요소들 중 하나 이상의 내부면에 잔류 요오드화 알루미늄이 형성됨 -;
    상기 하나 이상의 구성요소들 중 하나 이상의 내부면에 수증기를 도입하는 단계; 및
    상기 이온 주입 시스템을 비우는 단계;를 포함하고,
    상기 수증기를 도입하는 단계는 요오드화 수소산(hydroiodic acid)을 형성할 수 있도록 상기 잔류 요오드화 알루미늄을 수증기와 반응시키고,
    상기 이온 주입 시스템을 비우는 단계는 상기 잔류 요오드화 알루미늄 및 요오드화 수소산을 제거하는 방법.
  9. 제 8항에 있어서,
    반복적으로 수증기를 도입하는 단계 및 이온 주입 시스템을 비우는 단계를 포함하는 방법.
  10. 제 8항에 있어서,
    상기 수증기는 현장에서 도입되는 방법.
  11. 제 8항에 있어서,
    수증기를 도입하는 단계 및 이온 주입 시스템을 비우는 단계를 더 포함하는 방법.
  12. 제 8항에 있어서,
    상기 하나 이상의 구성요소들은 이온 소스 및 추출 전극 중 하나 이상을 포함하는 방법.
  13. 고체 형태의 요오드화 알루미늄의 소스 재료로부터 알루미늄 이온들을 주입하는 이온 주입 시스템(ion implantation system)을 세정하기 위한 방법으로서,
    상기 요오드화 알루미늄(aluminum iodide)의 이온화를 통해 가공물(workpiece)로 상기 알루미늄 이온들을 주입하는 단계;
    상기 알루미늄 이온들을 주입한 후에 상기 이온 주입 시스템에 수증기를 도입하는 단계; 및
    상기 이온 주입 시스템을 비우는 단계;를 포함하고,
    상기 수증기를 도입하는 단계는 상기 수증기를 상기 이온 주입 시스템의 하나 이상의 구성요소들 중 하나 이상의 내부면 상에 형성된 잔류 요오드화 알루미늄(residual aluminum iodide)과 반응시키고,
    상기 이온 주입 시스템을 비우는 단계는 상기 수증기와 반응된 잔류 요오드화 알루미늄과의 반응에 의한 하나 이상의 생성물들을 상기 이온 주입 시스템으로부터 제거하는 방법.
  14. 제 13항에 있어서,
    상기 수증기와 잔류 요오드화 알루미늄의 반응은 요오드화 수소산(hydroiodic acid)을 형성하는 방법.
  15. 제 13항에 있어서,
    수증기를 도입하는 단계 및 이온 주입 시스템을 비우는 단계는 반복적으로 수행되는 방법.
  16. 제 13항에 있어서,
    상기 이온 주입 시스템에 수증기를 도입하는 단계는 물을 기화시키는 단계 및 이온 주입 시스템의 이온 소스로 기화된 물을 도입하는 단계를 포함하는 방법.
  17. 제 13항에 있어서,
    상기 수증기는 상기 이온 주입 시스템 내의 차가운 표면 상에 증착된 요오드화 알루미늄과 반응하는 방법.
  18. 제 13항에 있어서,
    상기 이온 주입 시스템에 수증기의 도입과 동시에 아르곤 이온 빔을 형성하는 단계를 더 포함하는 방법.
  19. 제 13항에 있어서,
    상기 이온 주입 시스템에 수증기의 도입과 동시에 셧 다운 빔(shut down beam)을 수행하는 단계를 더 포함하고, 상기 셧 다운 빔은 상기 이온 주입 시스템의 아크 챔버에서 활성 아르곤 플라즈마를 유지하는 단계를 포함하며,
    상기 활성 아르곤 플라즈마를 유지하는 단계는 상기 이온 주입 시스템을 냉각시킴과 동시에 비-이온화 환경(non-ionizing environment)을 방지하는 방법.
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