KR102351240B1 - 백라이트 모듈 검사 장치 - Google Patents

백라이트 모듈 검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR102351240B1
KR102351240B1 KR1020210101723A KR20210101723A KR102351240B1 KR 102351240 B1 KR102351240 B1 KR 102351240B1 KR 1020210101723 A KR1020210101723 A KR 1020210101723A KR 20210101723 A KR20210101723 A KR 20210101723A KR 102351240 B1 KR102351240 B1 KR 102351240B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
backlight module
power supply
unit
disposed
hole
Prior art date
Application number
KR1020210101723A
Other languages
English (en)
Inventor
정식원
Original Assignee
주식회사 비전에셀
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 비전에셀 filed Critical 주식회사 비전에셀
Priority to KR1020210101723A priority Critical patent/KR102351240B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102351240B1 publication Critical patent/KR102351240B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Planar Illumination Modules (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 발명은, 전면으로는 LED가 배치되고, 배면으로는 전원입력단자가 배치되는 백라이트 모듈을 검사하는 백라이트 모듈 검사장치에 있어서, 상부로는 상기 백라이트 모듈이 배치되는 배치홀이 형성되며, 상기 배치홀의 가장자리를 따라 제1 연결홀이 형성되는 모듈 배치부; 상기 배치홀 상에 착탈 가능하게 배치되고, 가장자리를 따라 상기 제1 연결홀에 대응하는 제2 연결홀이 형성되며, 하부로는 상기 백라이트 모듈에 대응하는 배치홈이 형성되는 커버; 상기 커버의 하부에 착탈 가능하게 배치되고, 제1 커넥터 배치홀, 위치 고정홀 및 상기 제2 연결홀에 대응하는 제3 연결홀이 각각 형성되는 제1 지지 플레이트; 및 상기 모듈 배치부의 하부에 배치되고, 상기 전원입력단자를 통해 상기 백라이트 모듈에 대하여 전원을 공급하는 전원 공급부; 를 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치를 제공한다.

Description

백라이트 모듈 검사 장치{Testing apparatus for backlight module}
본 발명은 백라이트 모듈 검사 장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 백라이트 모듈을 고정한 후 백라이트 모듈 측정 프로브가 하부에서 상승하여 백라이트 모듈에 접할 때 백라이트 모듈의 진동이 발생되지 않도록 하는 백라이트 모듈 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치는 박막트랜지스터(TFT: Thin Film Transistor)를 구비하는 회로패턴이 형성된 어레이 (array)기판과, 어레이기판과 대향하는 컬러필터(color folter)기판과, 어레이기판과 컬러필터기판의 사이에 충진된 액정층을 포함하며, 어레이기판과 컬러필터기판 사이의 전기장에 따라 변화하는 액정의 전기적, 광학적 성질을 이용하여 색상을 표현한다.
액정은 자체발광소자가 아니기 때문에 액정표시장치에는 어레이기판의 배면에 빛을 제공하는 백라이트(Back light)가 설치된다.
도 1은 백라이트유닛에 사용되는 LED 광원모듈을 예시한 평면도이다.
도 1을 참조하면, LED 광원모듈(10)은 전면으로 복수의 LED(14)가 매트릭스 형태로 탑재되어 있음을 알 수 있다. LED 광원모듈(10)의 일측으로는 미도시된 커넥터가 배치되어, LED에 대하여 전원을 공급할 수 있다.
여기서, 백라이트는 LED 광원모듈(10)을 포함하므로, 백라이트 모듈(Back light module)이라고 호칭된다.
백라이트 모듈은 LED 광원모듈에 대하여 전원을 인가하여 각각의 LED을 점등시켜 점등 여하에 따라 정상여부를 판단한다.
백라이트 모듈에 대한 점등을 위해 각각의 LED에 전원을 인가하는 프로브는 백라이트 모듈의 전방에서 백라이트 모듈을 향하여 진행하도록 구성된다.
이때, 프로브에 의해 백라이트 모듈이 가리워져 백라이트 모듈의 점등을 판단하지 못하는 문제점이 있다.
상기한 문제점을 해결하기 위하여, 백라이트 모듈의 소정 위치에 배치한 후 백라이트 모듈의 측단이나 배면을 통해 연결된 전원 공급 커넥터를 통해 전원을 공급하여 백라이트 모듈이 점등이 이루어지도록 하고 있다. 이때, 백라이트 모듈에 전원 공급 커넥터가 연결될 때 백라이트 모듈에 흔들림이 발생하여 백라이트 모듈에 대한 전원 공급 커넥터의 연결이 이루어지지 못하는 문제점이 있다.
본 발명에 대한 선행기술로는 공개특허 2007-0117870호를 예시할 수 있다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 백라이트 모듈의 점등 검사를 위해 백라이트 모듈에 대하여 전원을 인가하는 전원 공급 커넥터가 백라이트 모듈에 연결될 때, 백라이트 모듈의 흔들림이 방지되는 백라이트 모듈 검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 전면으로는 LED가 배치되고, 배면으로는 전원입력단자가 배치되는 백라이트 모듈을 검사하는 백라이트 모듈 검사장치에 있어서, 상부로는 상기 백라이트 모듈이 배치되는 배치홀이 형성되며, 상기 배치홀의 가장자리를 따라 제1 연결홀이 형성되는 모듈 배치부; 상기 배치홀 상에 착탈 가능하게 배치되고, 가장자리를 따라 상기 제1 연결홀에 대응하는 제2 연결홀이 형성되며, 하부로는 상기 백라이트 모듈에 대응하는 배치홈이 형성되는 커버; 상기 커버의 하부에 착탈 가능하게 배치되고, 제1 커넥터 배치홀, 위치 고정홀 및 상기 제2 연결홀에 대응하는 제3 연결홀이 각각 형성되는 제1 지지 플레이트; 및 상기 모듈 배치부의 하부에 배치되고, 상기 전원입력단자를 통해 상기 백라이트 모듈에 대하여 전원을 공급하는 전원 공급부; 를 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치를 제공한다.
상기 제1 지지 플레이트와 상기 전원 공급부 사이에 배치되고, 상기 제1 커넥터 배치홀에 대응하는 제2 커넥터 배치홀이 형성되며, 상부에는 상기 위치 고정홀에 삽입되는 위치 고정핀이 배치되는 제2 지지 플레이트를 더 포함할 수 있다.
상기 모듈 배치부의 높이를 조절하는 제1 높이 조절부; 상기 전원 공급부의 높이를 조절하는 제2 높이 조절부; 및 상기 전원 공급부, 상기 제1 높이 조절부 및 상기 제2 높이 조절부의 동작을 제어하는 제어부를 더 포함할 수 있다.
상기 제1 높이 조절부는, 상기 모듈 배치부의 하부에 배치되는 제1 지지대와, 상기 제1 지지대의 하부에 배치되고, 외부의 제어에 의해 동작하여, 상기 제1 지지대를 승강시키는 제1 동작 실린더를 포함할 수 있다.
상기 제2 높이 조절부는, 상기 전원 공급부의 하부에 각각 배치되는 제2 지지대와, 상기 제2 지지대의 하부에 배치되고, 외부의 제어에 의해 동작하여, 상기 제2 지지대를 승강시키는 제2 동작 실린더를 포함할 수 있다.
상기 제2 지지대는, 상기 모듈 배치부의 하부 양측으로 배치되는 상기 제1 지지대 사이의 이격 공간 상에 배치될 수 있다.
상기 전원 공급부는, 전원 공급 수단과, 일단은 상기 전원 공급 수단에 연결되고, 타단은 상기 제1 및 제2 커넥터 배치홀을 통해 상기 백라이트 모듈의 상기 전원입력단자로 연결되는 전원 공급 커넥터를 포함할 수 있다.
상기 제어부는, 상기 제1 높이 조절부와 상기 제2 높이 조절부의 제어가 완료된 후, 상기 전원 공급부의 전원 공급을 제어할 수 있다.
상기 제1 내지 제3 연결홀을 통해 배치되는 고정 로드와, 상기 고정 로드의 단부에 배치되는 고정 볼트를 더 포함할 수 있다.
상기 커버는, 투명한 재질을 포함할 수 있다.
상기와 같은 본 발명은, 백라이트 모듈의 상부에 백라이트 모듈이 배치되는 배치홈이 형성된 커버를 배치하고, 배치홈 상에 백라이트 모듈을 배치함으로써, 백라이트 모듈의 점등 검사를 위해 백라이트 모듈에 대하여 전원을 인가하는 전원 공급 커넥터가 백라이트 모듈에 연결될 때, 백라이트 모듈이 흔들리며 전원 공급 커넥터와의 연결이 불완전하게 되는 현상이 방지될 수 있다.
도 1은 백라이트유닛에 사용되는 LED 광원모듈을 예시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 사시도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 분해 사시도이다.
도 4는 본 발명에서 사용하는 제어부, 제1 높이 조절부, 제2 높이 조절부, 전원 공급부의 연결 관계를 나타내는 블록도이다.
도 5는 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치에 의해 검사가 이루어지는 백라이트 모듈의 일 예의 구성을 나타내는 배면도이다.
도 6는 도 3의 A-A 선에 따른 선단면도이다.
도 7은 도 3의 B-B 선에 따른 선단면도이다.
도 8과 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치를 사용한 백라이트 모듈의 검사를 나타내는 도면이다.
이하 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 사시도이고, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치의 구성을 나타내는 분해 사시도이다. 또한, 도 4는 본 발명에서 사용하는 제어부, 제1 높이 조절부, 제2 높이 조절부, 전원 공급부의 연결 관계를 나타내는 블록도이다.
도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)는 모듈 배치부(110), 커버(120), 제1 지지 플레이트(130A), 전원 공급부(140)를 포함한다. 또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)는 제2 지지 플레이트(130B), 제1 높이 조절부(160A), 제2 높이 조절부(160B) 및 제어부(170)를 포함한다.
우선, 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)의 검사 대상인 백라이트 모듈(1)에 대해 살펴보기로 한다.
도 5는 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치에 의해 검사가 이루어지는 백라이트 모듈의 일 예의 구성을 나타내는 배면도이다.
도 5를 참조하면, 백라이트 모듈(1)은 소정의 가로 세로 길이를 갖는 직사각형의 플레이트 형태로 이루어진다. 여기서, 백라이트 모듈(1)의 형상과 크기는 사용자의 필요에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
여기서, 백라이트 모듈(1)의 전면으로는 외부에서 인가되는 전원에 의해 점등되는 LED(미도시)가 배치된다. 그리고, 백라이트 모듈(1)의 배면으로는 외부에서 인가되는 전원이 입력되는 소정의 전원입력단자(20)가 배치된다. 도면 상에는 4개의 전원입력단자(20)가 배치되는 것으로 도시되어 있으나, 전원입력단자(20)의 형상과 개수는 사용자의 필요에 따라 다양하게 변경될 수 있다.
다시, 도 2 내지 도 4를 참조하기로 한다.
모듈 배치부(110)는 소정의 크기를 갖는 직육면체 형태로 이루어진다. 모듈 배치부(110)의 상부 중앙으로는 검사 대상인 백라이트 모듈(1)이 배치된다. 여기서, 백라이트 모듈(1)의 배치를 용이하게 하기 위해, 모듈 배치부(110)의 상부 중앙으로는 검사 대상인 백라이트 모듈(1)이 배치되는 배치홀(112)이 형성된다.
배치홀(112)은 검사 대상인 백라이트 모듈(1)의 크기와 형태와 대응하여 제작된다. 따라서, 배치홀(112)은 소정 면적과 크기를 갖는 직사각형 형태일 수 있다.
모듈 배치부(110)의 내측으로는 후술하는 제1 지지 플레이트(130A), 제2 지지 플레이트(130B), 백라이트 모듈(1)의 배치를 위한 공간이 제공된다. 그리고, 모듈 배치부(110)의 외측 모서리 하부로는 후술하는 제1 높이 조절부(160A)가 배치된다.
또한, 모듈 배치부(110)의 전면으로는 검사 대상인 백라이트 모듈(1)의 배치를 위해 소정의 개구가 형성될 수 있다.
또한, 모듈 배치부(110)의 하부로는 육면체 형상의 케이스(200) 및 적재부(210)가 배치될 수 있다.
케이스(200) 및 적재부(210)에 대해서는 후술하기로 한다.
모듈 배치부(110) 상에 형성된 배치홀(112)의 양측 가장자리를 따라 일정 간격으로 소정 직경의 제1 연결홀(114)이 형성된다. 제1 연결홀(114)은 후술하는 제2 연결홀(124)과 연결된다.
배치홀(112) 상에는 백라이트 모듈(1)의 배치 및 고정을 위한 커버(120)가 착탈 가능하게 배치된다.
커버(120)는 소정의 크기와 형태를 갖는 플레이트 형상으로 이루어진다. 여기서,커버(120)의 크기와 형태는 배치홀(112)의 크기와 형태에 대응하는 것이 바람직하다. 이때, 커버(120)의 배치를 용이하게 하기 위해 커버(120)는 배치홀(112)의 가로 세로 길이보다 소정 길이만큼 크게 형성되는 것이 바람직하다.
여기서, 커버(120)는 배치홀(112) 상에 다음과 같이 배치될 수 있다.
우선, 커버(120)의 양측 가장자리를 따라 일정 간격으로 소정 직경의 제2 연결홀(124)이 형성된다.
그리고, 여기서, 제2 연결홀(124)의 직경은 제1 연결홀(114)의 직경에 대응하는 것이 바람직하다. 또한, 제2 연결홀(124)의 형성 간격과 개수는 제1 연결홀(114)의 형성 간격과 개수에 대응하는 것이 바람직하다.
커버(120)의 하부로는 검사 대상인 백라이트 모듈(1)이 배치되어, 검사 도중 백라이트 모듈(1)의 흔들림을 방지한다.
도 6는 도 3의 A-A 선에 따른 선단면도이다.
도 6를 참조하면, 커버(120) 하부에 백라이트 모듈(1)의 배치를 용이하게 하기 위해, 커버(120)의 하부면 상에는 백라이트 모듈(1)이 배치되는 배치홈(122)이 형성된다. 배치홈(122)의 형태와 크기는 백라이트 모듈(1)의 형태와 크기에 대응한다.
삭제
여기서, 배치홈(122)에 배치된 백라이트 모듈(1)의 점등 여부 관찰을 용이하게 하기 위해 커버(120)는 투명 재질로 제작될 수 있다. 또한, 커버(120) 상에는 백라이트 모듈(1)이 포함하는 LED에 대응하는 부분에 소정의 홀(미도시)이 형성될 수도 있다.
제1 지지 플레이트(130A)는 소정의 면적을 갖는 직사각형 형태의 플레이트로 이루어진다.
제1 지지 플레이트(130A)는 모듈 배치부(110)의 하부에 착탈 가능하게 배치된다. 제1 지지 플레이트(130A)는 배치홈(122) 상에 내장된 백라이트 모듈(1)을 지지하며 백라이트 모듈(1)이 배치홈(122) 상에 유지되도록 한다. 제1 지지 플레이트(130A)의 크기와 형태는 커버(120)의 크기와 형태에 대응하는 것이 바람직하다.
도 7은 도 3의 B-B 선에 따른 선단면도이다.
도 7을 참조하면, 제1 지지 플레이트(130A)는 상에는 제1 커넥터 배치홀(132A), 제3 연결홀(134A) 및 위치 고정홀(136A)이 각각 형성된다.
제1 커넥터 배치홀(132A)은 후술하는 전원 공급부(140)가 포함하는 전원 공급 커넥터(144)가 통과하여, 백라이트 모듈(1) 배면의 전원입력단자(20)와 연결될 수 있도록 한다.
제1 커넥터 배치홀(132A)의 형성 위치는 전원입력단자(20)의 형성 위치에 대응한다. 또한, 제1 커넥터 배치홀(132A)의 형성 개수는 전원입력단자(20)의 개수에 대응한다.
제3 연결홀(134A)은 제1 지지 플레이트(130A)의 양측 가장자리를 따라 형성된다. 제3 연결홀(134A)의 직경과 형성 간격은 제2 연결홀(124)의 직경과 형성 간격에 대응한다.
위치 고정홀(136A)은 제1 지지 플레이트(130A) 상의 소정 위치에 형성된다. 위치 고정홀(136A)로는 후술하는 제2 지지 플레이트(130B) 상의 위치 고정핀(136B)이 삽입되어, 제1 지지 플레이트(130A)와 제2 지지 플레이트(130B)의 위치 설정이 용이하게 이루어지도록 한다.
도면상에서, 위치 고정홀(136A)은 제1 커넥터 배치홀(132A)과 제3 연결홀(134A) 사이에 형성되지만, 후술하는 위치 고정핀(136B)의 삽입이 이루어지고, 제1 지지 플레이트(130A)와 제2 지지 플레이트(130B)의 위치 설정이 용이하게 이루어진다면 사용자의 필요에 따라 다른 위치에 형성될 수도 있다.
한편, 제1 연결홀(114) 내지 제3 연결홀(134A)을 통해서는 소정의 길이와 직경을 갖는 고정 로드(138)가 배치된다. 여기서, 고정 로드(138)의 양단으로는 소정의 나사산이 형성되는 것이 바람직하다.
제1 연결홀(114) 내지 제3 연결홀(134A)을 통해 배치된 고정 로드(138)의 양단부 각각에는 고정 볼트(139)가 배치되어, 커버(120)와 제1 지지 플레이트(130A)가 모듈 배치부(110) 상에 고정되도록 한다.
전원 공급부(140)는 모듈 배치부(110)의 하부에 배치된다.
전원 공급부(140)는 외부에서 공급되는 전원을 검사 대상인 백라이트 모듈(1)로 공급하여 백라이트 모듈(1)의 점등이 이루어지도록 한다.
전원 공급부(140)는 외부에서의 습기 유입 방지, 외력에 의한 손상 방지 등을 위해 직육면체 형상의 케이스(200) 내에 배치될 수 있다.
본 발명에서 사용하는 케이스(200)는 모듈 배치부(110)와 후술하는 적재부(210)의 사이에 배치되고, 내측으로는 전원 공급부(140)가 배치된다. 여기서, 케이스(200) 내에 배치된 전원 공급부(140)와 백라이트 모듈(1)의 연결을 위해 케이스(200)의 상부는 개방 형성될 수 있다.
케이스(200)의 전면으로는 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)의 동작을 제어하는 제어반이 배치될 수 있다.
전원 공급부(140)는 전원 공급 수단(142)과 전원 공급 커넥터(144)를 포함한다.
전원 공급 수단(142)은 검사 대상인 백라이트 모듈(1)에 대하여 소정의 전원을 공급한다. 즉, 전원 공급 수단(142)은 외부에서 공급되는 전원을 백라이트 모듈(1)의 동작에 필요한 전압과 전류값을 갖는 전원으로 변환한 후, 백라이트 모듈(1)에 대하여 일정하게 공급한다.
도면 상에서, 전원 공급 수단(142)은 평판 형태로 도시되어 있으나, 백라이트 모듈(1)의 동작에 필요한 전원을 공급할 수 있다면 다양한 형태로 이루어질 수 있다.
전원 공급 커넥터(144)는 백라이트 모듈(1)의 배면으로 배치된 전원입력단자(20)와 연결되어 백라이트 모듈(1)에 대하여 전원을 공급한다. 전원 공급 커넥터(144)는 전원 공급 수단(142)의 상부에 배치된다.
전원 공급 커넥터(144)의 배치 개수는 전원입력단자(20)의 배치 개수에 대응한다. 그리고, 전원 공급 수단(142)의 하부에는 후술하는 제2 높이 조절부(160B)가 배치된다. 따라서, 후술하는 제2 높이 조절부(160B)에 의해 전원 공급 수단(142)이 승강됨으로써, 전원 공급 수단(142)의 상부에 배치된 전원 공급 커넥터(144)가 승강할 수 있다.
본 실시예에서, 전원 공급 커넥터(144)는 전원 공급 수단(142)의 상부에 배치되어, 전원 공급 수단(142)과 함께 승강하는 것으로 도시되어 있으나, 전원 공급 수단(142)에서 공급되는 전원이 전원 공급 커넥터(144)를 통해 백라이트 모듈(1)로 공급될 있다면, 전원 공급 수단(142)과 전원 공급 커넥터(144)는 서로 별도로 설치된 후, 소정의 케이블에 의해 연결된 후, 전원 공급 커넥터(144) 만 승강할 수 있도록 구성되는 등, 다양한 형태으로 이루어질 수 있다.
전원 공급 커넥터(144)와 전원입력단자(20)의 연결이 용이하게 이루어지도록 하기 위해, 제2 지지 플레이트(130B)가 배치된다.
제2 지지 플레이트(130B)는 제1 지지 플레이트(130A)와 전원 공급부(140) 사이에 배치된다.
제2 지지 플레이트(130B)는 소정의 면적을 갖는 직사각형 형태의 플레이트이다. 제2 지지 플레이트(130B)의 면적과 형태는 제1 지지 플레이트(130A)의 면적과 형태에 대응한다.
제2 지지 플레이트(130B) 상에는 제2 커넥터 배치홀(132B)이 형성된다.
제2 커넥터 배치홀(132B)로는 전원 공급 커넥터(144)가 통과할 수 있다. 따라서, 제2 커넥터 배치홀(132B)의 크기, 형성 위치, 형성 개수는 제1 커넥터 배치홀(132A)의 크기, 형성 위치, 형성 개수에 대응한다.
또한, 제2 지지 플레이트(130B)의 상부에는 위치 고정핀(136B)이 배치된다.
위치 고정핀(136B)은 소정의 길이와 직경을 갖는 로드 형상으로 이루어잘 수 있다. 위치 고정핀(136B)은 위치 고정홀(136A)로 삽입된다. 위치 고정핀(136B)이 위치 고정홀(136A)로 삽입되면 제1 지지 플레이트(130A) 상의 제1 커넥터 배치홀(132A)과 제2 지지 플레이트(130B) 상기 제2 커넥터 배치홀(132B)이 서로 일치될 수 있고, 이에 따라 전원 공급 커넥터(144)와 전원입력단자(20)의 연결이 용이하게 이루어질 수 있다.
모듈 배치부(110)에 검사 대상인 백라이트 모듈(1)를 배치하거나, 배치된 백라이트 모듈(1)의 탈거를 위한, 모듈 배치부(110)의 높이 설정을 용이하게 하기 위해 제1 높이 조절부(160A)가 배치된다.
제1 높이 조절부(160A)는 백라이트 모듈(1)에 대한 검사 수행 시, 모듈 배치부(110)의 높이를 사용자의 필요에 따라 조절한다.
제1 높이 조절부(160A)는 제1 지지대(162A)와 제1 동작 실린더(164A)를 포함한다.
제1 지지대(162A)는 소정의 길이를 갖는 로드 형태로, 모듈 배치부(110)의 하부에 복수로 배치된다. 모듈 배치부(110)는 직육면체 형태로 이루어지므로 제1 지지대(162A)는 모듈 배치부(110)의 하부 모서리 부위 각각에 배치되는 것이 바람직하다. 복수의 제1 지지대(162A)는 서로 동일한 형상으로 이루어지는 것이 바람직하다.
제1 동작 실린더(164A)하는 제1 지지대(162A)의 하단부에 배치된다.
제1 동작 실린더(164A)는 외부에서 인가되는 제어 신호에 따라 동작하며, 제1 지지대(162A)를 승강시킨다. 복수의 제1 동작 실린더(164A)는 연동한다,
여기서, 제1 동작 실린더(164A)는 외부에서 공급되는 공압 또는 유압에 의해 동작한다. 또한, 사용자의 필요에 따라 소정의 전원에 의해 동작할 수 있다.
또한, 제1 동작 실린더(164A)는 후술하는 제어부(170)에서 출력되는 소정의 제어 신호에 따라 소정의 동작을 수행할 수 있다. 이때, 제어부(170)는 기 저장되어 있는 소정의 설정값에 따라 제어 신호를 출력하거나, 사용자의 조작에 따른 제어 신호를 출력할 수 있다.
또한, 전원 공급 커넥터(144)와 백라이트 모듈(1)의 연결을 단속하기 위해 제2 높이 조절부(160B)가 사용된다.
제2 높이 조절부(160B)는 백라이트 모듈(1)에 대한 검사 수행 시, 전원 공급부(140)의 높이를 조절하며 전원 공급 커넥터(144)가 백라이트 모듈(1)의 배면의 전원입력단자(20)와 연결되도록 한다.
제2 높이 조절부(160B)는 제2 지지대(162B)와 제2 동작 실린더(164B)를 포함한다.
제2 지지대(162B)는 소정의 길이를 갖는 로드 형태로 이루어진다. 제2 지지대(162B)는 전원 공급 커넥터(144)의 하부에 배치된다. 여기서, 전원 공급 커넥터(144)가 복수로 배치되는 경우, 복수의 전원 공급 커넥터(144)는 소정의 지지체에 의해 일체로 배치되고, 제2 지지대(162B)는 지지체의 하부에 배치될 수 있다. 복수의 제2 지지대(162B)는 서로 동일한 형상으로 이루어지는 것이 바람직하다.
제2 동작 실린더(164B)는 제2 지지대(162B) 각각의 하단에 배치된다.
제2 동작 실린더(164B)는 외부의 제어에 따라 동작하며 제2 지지대(162B)를 승강시킨다. 여기서, 제2 동작 실린더(164B)는 외부에서 공급되는 공압 또는 유압에 의해 동작한다. 또한, 사용자의 필요에 따라 소정의 전원에 의해 동작할 수 있다.
제2 동작 실린더(164B)가 복수로 사용되는 경우, 복수의 제2 동작 실린더(164B)는 서로 연동한다.
제어부(170)는 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)가 포함하는 구성 요소들의 동작을 제어한다.
즉, 제어부(170)는 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)의 동작이 개시되면, 제1 높이 조절부(160A), 제2 높이 조절부(160B) 및 전원 공급부(140)의 동작을 제어하여, 백라이트 모듈(1)의 점등이 이루어지도록 한다.
사용자에 의해 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사 장치(100)의 동작이 개시되면, 제어부(170)는 제1 높이 조절부(160A)가 동작하도록 하여, 모듈 배치부(110)의 높이를 조절한다. 그리고, 제2 높이 조절부(160B)가 동작하도록 하여, 백라이트 모듈(1)의 전원입력단자(20)가 전원 공급 커넥터(144)와 연결되도록 한다.
이후, 전원 공급부(140)를 통한 전원 공급이 개시되도록 하여 백라이트 모듈(1)이 점등되도록 한다.
적재부(210)는 소정의 육면체 형태로 이루진다. 적재부(210)는 케이스(200)의 하부에 배치되어, 백라이트 모듈 검사 작업 중, 모듈 배치부(110)가 안정적으로 지지되도록 한다.
또한, 적재부(210)의 내측으로는 사용자가 사용하는 공구 및 자재가 배치되는 공간을 제공한다.
상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 백라이트 모듈 검사장치(100)의 사용에 대해 살펴보기로 한다.
도 8과 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 백라이트 모듈 검사 장치를 사용한 백라이트 모듈의 검사를 나타내는 도면이다.
우선, 사용자는 검사 대상인 백라이트 모듈(1)을 준비한다.
그리고, 사용자는 고정 로드(138)의 단부에서 고정 볼트(139)를 해제하여, 커버(120)와 제1 지지 플레이트(130A)의 연결을 해제한다.
이후, 사용자는 도 8에 도시된 바와 같이, 커버(120)의 배치홈(122) 상에 검사 대상인 백라이트 모듈(1)을 배치하고, 커버(120)의 하부에 제1 지지 플레이트(130A)를 다시 배치한 후, 고정 로드(138)를 이용하여 커버(120)와 제1 지지 플레이트(130A)가 연결되도록 한다.
사용자는 제어부(170)의 동작이 개시되도록 한다. 제어부(170)는 소정의 제어 신호를 출력하여 제1 높이 조절부(160A)를 동작시켜 백라이트 모듈(1)의 높이를 설정한다.
이후, 도 9에 도시된 바와 같이, 사용자는 제어부(170)를 통해 제2 높이 조절부(160B)를 동작시켜 전원 공급 커넥터(144)가 전원입력단자(20)와 연결되도록 한다.
전원 공급 커넥터(144)와 전원입력단자(20)가 연결되면, 제어부(170)는 전원 공급 커넥터(144)를 통해 소정의 전원이 전원입력단자(20)로 인가되도록 한다.
여기서, 전원 공급 커넥터(144)와 전원입력단자(20)가 연결될 때, 소정의 진동이 발생하여 백라이트 모듈(1)에 인가될 수 있지만, 백라이트 모듈(1)은 배치홈(122) 상에 배치되어 있고, 배치홈(122)의 하부에는 제1 지지 플레이트(130A)가 배치되어 있어, 검사 대상인 백라이트 모듈(1)는 검사 도중 흔들림이 발생되지 않는다.
이후, 사용자는 백라이트 모듈(1)의 점등 상태를 관찰하며 백라이트 모듈(1)의 양부를 판단한다.
상기와 같이 구성된 본 발명은, 백라이트 모듈의 상부에 백라이트 모듈이 배치되는 배치홈이 형성된 커버를 배치하고, 배치홈 상에 백라이트 모듈을 배치함으로써, 백라이트 모듈의 점등 검사를 위해 백라이트 모듈에 대하여 전원을 인가하는 전원 공급 커넥터가 백라이트 모듈에 연결될 때, 백라이트 모듈의 흔들리며 전원 공급 커넥터와의 연결이 불완전하게 되는 현상이 방지될 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
100: 백라이트 모듈 검사 장치
110: 모듈 배치부 120: 커버
130A: 제1 지지 플레이트 130B: 제2 지지 플레이트
140: 전원 공급부 160A: 제1 높이 조절부
160B: 제2 높이 조절부 170: 제어부

Claims (10)

  1. 전면으로는 LED가 배치되고, 배면으로는 전원입력단자가 배치되는 백라이트 모듈을 검사하는 백라이트 모듈 검사장치에 있어서,
    상부로는 상기 백라이트 모듈이 배치되는 배치홀이 형성되며, 상기 배치홀의 가장자리를 따라 제1 연결홀이 형성되는 모듈 배치부;
    상기 배치홀 상에 착탈 가능하게 배치되고, 가장자리를 따라 상기 제1 연결홀에 대응하는 제2 연결홀이 형성되며, 하부로는 상기 백라이트 모듈에 대응하는 배치홈이 형성되는 커버;
    상기 커버의 하부에 착탈 가능하게 배치되고, 제1 커넥터 배치홀, 위치 고정홀 및 상기 제2 연결홀에 대응하는 제3 연결홀이 각각 형성되는 제1 지지 플레이트;
    상기 모듈 배치부의 하부에 배치되고, 상기 전원입력단자를 통해 상기 백라이트 모듈에 대하여 전원을 공급하는 전원 공급부; 및
    상기 제1 지지 플레이트와 상기 전원 공급부 사이에 배치되고, 상기 제1 커넥터 배치홀에 대응하는 제2 커넥터 배치홀이 형성되며, 상부에는 상기 위치 고정홀에 삽입되는 위치 고정핀이 배치되는 제2 지지 플레이트를 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 모듈 배치부의 높이를 조절하는 제1 높이 조절부;
    상기 전원 공급부의 높이를 조절하는 제2 높이 조절부; 및
    상기 전원 공급부, 상기 제1 높이 조절부 및 상기 제2 높이 조절부의 동작을 제어하는 제어부를 더 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 높이 조절부는,
    상기 모듈 배치부의 하부에 배치되는 제1 지지대와,
    상기 제1 지지대의 하부에 배치되고, 외부의 제어에 의해 동작하여, 상기 제1 지지대를 승강시키는 제1 동작 실린더를 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제2 높이 조절부는,
    상기 전원 공급부의 하부에 각각 배치되는 제2 지지대와,
    상기 제2 지지대의 하부에 배치되고, 외부의 제어에 의해 동작하여, 상기 제2 지지대를 승강시키는 제2 동작 실린더를 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제2 지지대는,
    상기 모듈 배치부의 하부 양측으로 배치되는 상기 제1 지지대 사이의 이격 공간 상에 배치되는 백라이트 모듈 검사 장치.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 전원 공급부는,
    전원 공급 수단과,
    일단은 상기 전원 공급 수단에 연결되고, 타단은 상기 제1 및 제2 커넥터 배치홀을 통해 상기 백라이트 모듈의 상기 전원입력단자로 연결되는 전원 공급 커넥터를 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 제1 높이 조절부와 상기 제2 높이 조절부의 제어가 완료된 후, 상기 전원 공급부의 전원 공급을 제어하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 제1 내지 제3 연결홀을 통해 배치되는 고정 로드와,
    상기 고정 로드의 단부에 배치되는 고정 볼트를 더 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 커버는,
    투명한 재질을 포함하는 백라이트 모듈 검사 장치.
KR1020210101723A 2021-08-03 2021-08-03 백라이트 모듈 검사 장치 KR102351240B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210101723A KR102351240B1 (ko) 2021-08-03 2021-08-03 백라이트 모듈 검사 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210101723A KR102351240B1 (ko) 2021-08-03 2021-08-03 백라이트 모듈 검사 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR102351240B1 true KR102351240B1 (ko) 2022-01-17

Family

ID=80051486

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210101723A KR102351240B1 (ko) 2021-08-03 2021-08-03 백라이트 모듈 검사 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102351240B1 (ko)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017065539A1 (ko) * 2015-10-16 2017-04-20 주식회사 프로텍 Led 소자 검사 장치 및 led 소자 검사 방법
KR102206404B1 (ko) * 2020-06-23 2021-01-25 (주)뉴씨텍 전극부 가동식 지그

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017065539A1 (ko) * 2015-10-16 2017-04-20 주식회사 프로텍 Led 소자 검사 장치 및 led 소자 검사 방법
KR102206404B1 (ko) * 2020-06-23 2021-01-25 (주)뉴씨텍 전극부 가동식 지그

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100645788B1 (ko) 백라이트 장치
KR20080027599A (ko) 백라이트 어셈블리 및 이를 포함하는 표시 장치
CN101821668B (zh) 照明单元以及具有该照明单元的显示装置
KR101535064B1 (ko) 표시 장치용 광원 모듈 및 이를 포함하는 표시 장치
CN101097352B (zh) 背光单元及使用该背光单元的液晶显示模块
KR101265372B1 (ko) 백라이트 유닛
CN1746743A (zh) 使用多个光传感器调整用于显示器的直亮式背光
CN101354498A (zh) 液晶显示装置
KR20080087955A (ko) 백라이트 어셈블리, 이를 갖는 표시 장치 및 이의 제조방법
KR20210012516A (ko) Led 패키지를 구비한 디스플레이 모듈 및 그 제조 방법
KR102351240B1 (ko) 백라이트 모듈 검사 장치
KR20090015734A (ko) 광원 장치
KR102388161B1 (ko) 기판 검사장치 및 검사방법
KR101123541B1 (ko) 평면 광원 유닛 및 그를 포함한 액정 표시 장치
KR20090056717A (ko) 접촉센서모듈 검사용 지그장치 및 이를 이용한 검사 방법
KR101323387B1 (ko) 직하형 백라이트 유닛 및 이를 구비한 액정 표시 모듈
KR101283246B1 (ko) 멀티센서가 구비된 백라이트 유닛
KR200464801Y1 (ko) 엘이디 디스플레이 유닛
KR20130015747A (ko) Led 어레이 및 이의 제조방법, led 백라이트 유닛을 구비하는 액정표시장치모듈
US7405797B2 (en) Flat-type light source apparatus, liquid crystal display apparatus using the same, and method of inspecting the liquid crystal display
KR101279223B1 (ko) 평면 광원 유닛 및 그를 포함한 액정 표시 장치
JP2008268428A (ja) 液晶表示パネルの点灯検査装置
KR20080050764A (ko) 액정표시장치의 백라이트 유닛
CN106249471A (zh) 液晶显示设备
KR100768122B1 (ko) 패널 상태 검사 장치 및 그 방법

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant