KR102350069B9 - X선을 이용한 구조물의 결함 검사 시스템이 판별한 결함의 깊이를 산출하는 방법 - Google Patents

X선을 이용한 구조물의 결함 검사 시스템이 판별한 결함의 깊이를 산출하는 방법

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KR101200464B1 (ko) * 2010-11-03 2012-11-12 동양검사기술주식회사 송전 케이블 접속부위의 방사선투과검사를 이용한 결함 평가 방법
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US10539708B2 (en) * 2016-02-01 2020-01-21 The University Of North Carolina At Chapel Hill Mobile and free-form x-ray imaging systems and methods
US20190041856A1 (en) * 2017-11-07 2019-02-07 Intel IP Corporation Methods and apparatus to capture tomograms of structures using unmanned aerial vehicles
KR101958266B1 (ko) * 2018-05-04 2019-03-14 (주)지엠시스텍 가공전선 검사시스템 및 가공전선 검사방법

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