KR102349036B1 - Individual zero-setting multiple stage based automatic inspection device - Google Patents

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유학현
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Abstract

본 발명은 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치을 제공한다. 이와 같은 본 발명에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치는 외부로부터 투입되는 검사체가 정위치 고정되는 복수의 검사영역을 구비하는 검사 테이블(10); 상기 검사 테이블(10)에 설치되어 상기 검사영역을 형성시키고, 스테이지 인덱스에 대응하는 2진수 식별번호가 각각 부여되어 있는 복수의 스테이지 유닛(20); 상기 스테이지 유닛(20) 각각에 설치되고, 각 스테이지 유닛(20)에 부여된 2진수 식별번호를 표시하는 복수의 2진수 인덱스 표시체(30); 상기 검사 테이블(10)로부터 이격된 검사기 배치영역에 설치되고, 상기 2진수 인덱스 표시체(30)와의 상호작용으로 2진수 카운팅을 수행하는 2진수 카운터(40); 상기 검사기 배치영역에 설치되고, 상기 검사체에 대한 설정 종류의 검사를 수행하는 검사기(50); 각 스테이지 유닛(20)의 영점조정 정보가 해당 스테이지 유닛(20)의 스테이지 인덱스와 연동되어 설정되고, 상기 2진수 카운터(40)로부터 2진수 카운팅 정보를 전달받아 스테이지 인덱스를 검출하게 되며, 해당 스테이지 인덱스에 연동된 영점조정 정보에 따라 상기 검사기(50)의 영점조정을 제어하는 컨트롤러(60);를 포함하는 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The present invention provides an individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus. The individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus according to the present invention includes: an inspection table 10 having a plurality of inspection areas in which an inspection object input from the outside is fixed in place; a plurality of stage units 20 installed on the inspection table 10 to form the inspection area, and to which binary identification numbers corresponding to stage indexes are respectively assigned; a plurality of binary index display bodies (30) installed in each of the stage units (20) and displaying a binary identification number assigned to each stage unit (20); a binary counter 40 installed in a checker arrangement area spaced apart from the check table 10 and performing binary counting by interaction with the binary index indicator 30; a tester 50 installed in the tester arrangement area and configured to perform a set type of test on the test object; The zero adjustment information of each stage unit 20 is set in association with the stage index of the corresponding stage unit 20, and the stage index is detected by receiving binary counting information from the binary counter 40, and the corresponding stage It characterized in that it consists of a configuration comprising; a controller (60) for controlling the zero adjustment of the tester (50) according to the zero adjustment information linked to the index.

Description

개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치{Individual zero-setting multiple stage based automatic inspection device}Individual zero-setting multiple stage based automatic inspection device

본 발명은 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 검사가 이루어지는 스테이지 유닛의 식별이 2진수로 이루어지고, 스테이지 유닛 별로 영점 설정이 가능하도록 함으로써 더욱 정밀하고 빠른 검사가 가능하도록 하는 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an individual zero-setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus, and more specifically, a more precise and faster inspection by enabling the identification of stage units to be inspected in binary numbers and zero setting for each stage unit. It relates to an individual zero-setting type multi-stage-based automatic inspection device that enables

최근 생산기술이 발전하고 생산설비가 자동화됨에 따라 제품을 생산함에 있어서 더욱 정밀하게 제품의 설계사양을 따르도록 하는 기술이 개발되고 있다.Recently, as production technology develops and production facilities are automated, a technology to more precisely follow the design specification of the product is being developed in the production of the product.

대표적으로, 비전검사와 같은 검사방법이 있다. 이는 검사 시간을 줄이고 정밀한 검사를 가능하게 함으로써 생산 효율을 높일 수 있도록, 회전 인덱스 테이블 주위에 각종 검사기를 배치하여 검사를 수행하는 검사장치이다.Typically, there is an inspection method such as a vision inspection. This is an inspection device that performs inspection by arranging various inspection machines around a rotary index table to reduce inspection time and increase production efficiency by enabling precise inspection.

자세하게는, 회전 인덱스 테이블 위 원주 방향으로 형성되는 복수의 소켓부에 각각 검사체를 장착시켜 복수의 검사체에 대하여 테이블 주위에 배치된 검사기를 통해 동시에 서로 다른 검사를 수행하고, 현재의 검사존에서 검사가 모두 완료되면 테이블을 회전시켜 다음 검사존에서 이어서 함께 검사를 수행하는 방법으로 검사가 진행되는 장치이다.In detail, each test object is mounted on a plurality of socket parts formed in the circumferential direction on the rotary index table, and different tests are performed on the plurality of test objects at the same time through an inspection machine disposed around the table, and in the current test zone When all inspections are completed, the table is rotated and the inspection is performed in the next inspection zone.

이러한 기술로서, '검사 데이터 처리의 부하를 분산시키는 회전식 카메라모듈 검사장치(등록번호 : 10-1966601)'에서는 회전 인덱스 테이블에 장착되는 복수의 카메라모듈 각각에 대응되도록 회전 인덱스 테이블 상에 고정되어 카메라모듈의 검사를 제어하고 생성된 검사 데이터를 처리하는 복수의 검사제어처리부 사이를 네트워크 연결시키도록 하여, 데이터 처리되어 용량이 적은 검사 결과 데이터를 외부의 검사장치 제어부로 전송하도록 하여 외부의 검사장치 제어부와의 전기적 연결 및 전송되는 데이터의 양을 최소화하고, 나아가 네트워크 연결된 복수의 검사제어처리부 사이에 검사에 의해 생성된 검사 데이터의 처리 부하를 분산시켜 검사 처리 효율을 향상시키는 회전식 카메라모듈 검사장치를 개시하고 있다.As such technology, in the 'rotational camera module inspection device that distributes the load of inspection data processing (registration number: 10-1966601)', the camera is fixed on the rotation index table to correspond to each of the plurality of camera modules mounted on the rotation index table. A network connection is made between the plurality of inspection control processing units that control the inspection of the module and process the generated inspection data, so that the data-processed and small-capacity inspection result data is transmitted to the external inspection apparatus control unit. Disclosed is a rotary camera module inspection device that improves inspection processing efficiency by minimizing the amount of data transmitted and electrical connection to, and distributing the processing load of inspection data generated by inspection among a plurality of inspection control processing units connected to a network. are doing

이를 포함하는 종래의 검사장치를 이용한 검사체의 이상유무 검사에서는 검사체가 장착되는 소켓부 또는 검사장치가 이동하면서 영점이 달라져 검사 정확도가 저하되는 한계가 존재하므로 이에 대한 새로운 기술 개발이 요구되는 시점이다.In the inspection for abnormality of an inspection object using a conventional inspection device including this, there is a limit in which the inspection accuracy is deteriorated because the zero point is changed while the socket part or the inspection device to which the inspection object is mounted is moved, so new technology development is required. .

대한민국 등록특허공보 등록번호 제10-1966601호 "검사 데이터 처리의 부하를 분산시키는 회전식 카메라모듈 검사장치"Republic of Korea Patent Publication No. 10-1966601 "Rotational camera module inspection device to distribute the load of inspection data processing"

따라서 본 발명은 이와 같은 종래 기술의 문제점을 개선하여, 검사가 이루어지는 스테이지 유닛의 식별이 2진수로 이루어지고, 스테이지 유닛 별로 영점 설정이 가능하도록 함으로써 더욱 정밀하고 빠른 검사가 가능하도록 하는 새로운 형태의 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.Therefore, the present invention improves the problems of the prior art, so that the identification of the stage unit to be inspected is made in binary, and a zero point can be set for each stage unit, thereby enabling more precise and faster inspection. An object of the present invention is to provide a zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection device.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 의하면, 본 발명은 외부로부터 투입되는 검사체가 정위치 고정되는 복수의 검사영역을 구비하는 검사 테이블(10); 상기 검사 테이블(10)에 설치되어 상기 검사영역을 형성시키고, 스테이지 인덱스에 대응하는 2진수 식별번호가 각각 부여되어 있는 복수의 스테이지 유닛(20); 상기 스테이지 유닛(20) 각각에 설치되고, 각 스테이지 유닛(20)에 부여된 2진수 식별번호를 표시하는 복수의 2진수 인덱스 표시체(30); 상기 검사 테이블(10)로부터 이격된 검사기 배치영역에 설치되고, 상기 2진수 인덱스 표시체(30)와의 상호작용으로 2진수 카운팅을 수행하는 2진수 카운터(40); 상기 검사기 배치영역에 설치되고, 상기 검사체에 대한 설정 종류의 검사를 수행하는 검사기(50); 각 스테이지 유닛(20)의 영점조정 정보가 해당 스테이지 유닛(20)의 스테이지 인덱스와 연동되어 설정되고, 상기 2진수 카운터(40)로부터 2진수 카운팅 정보를 전달받아 스테이지 인덱스를 검출하게 되며, 해당 스테이지 인덱스에 연동된 영점조정 정보에 따라 상기 검사기(50)의 영점조정을 제어하는 컨트롤러(60);를 포함하는 구성으로 이루어지는 것을 기술적 요지로 한다.According to a feature of the present invention for achieving the above object, the present invention is an inspection table 10 having a plurality of inspection areas in which an inspection object input from the outside is fixed in place; a plurality of stage units 20 installed on the inspection table 10 to form the inspection area, and to which binary identification numbers corresponding to stage indexes are respectively assigned; a plurality of binary index display bodies (30) installed in each of the stage units (20) and displaying a binary identification number assigned to each stage unit (20); a binary counter 40 installed in the checker arrangement area spaced apart from the check table 10 and performing binary counting by interaction with the binary index indicator 30; a tester 50 installed in the tester arrangement area and configured to perform a set type of test on the test object; Zero point adjustment information of each stage unit 20 is set in association with the stage index of the corresponding stage unit 20, and the stage index is detected by receiving binary counting information from the binary counter 40, and the corresponding stage A technical gist of the present invention is that the controller 60 controls the zero adjustment of the tester 50 according to the zero adjustment information linked to the index.

이와 같은 본 발명에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치에서 상기 2진수 인덱스 표시체(30)는, 상기 스테이지 유닛(20)의 외측에 배치되고, 복수의 자릿수 영역이 설정되어 있는 고정베이스(31); 상기 스테이지 유닛(20)의 2진수 식별번호에 맞추어 상기 고정베이스(31)의 자릿수 영역에 고정되고, 상기 2진수 카운터(40)에 의해 인식되는 센싱 대상체(33);를 포함하는 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 한다.In such an individual zero point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus according to the present invention, the binary index display body 30 is disposed on the outside of the stage unit 20, and a fixed base in which a plurality of digit areas are set. (31); A sensing object 33 fixed to the digit area of the fixed base 31 according to the binary identification number of the stage unit 20 and recognized by the binary counter 40; characterized.

이와 같은 본 발명에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치에서 상기 2진수 인덱스 표시체(30)는, 상기 스테이지 유닛(20)의 전체 개수에 대응하는 자릿수 영역을 갖는 고정베이스(31)를 구비하는 것을 특징으로 한다.In such an individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus according to the present invention, the binary index display body 30 includes a fixed base 31 having a digit area corresponding to the total number of the stage units 20 . It is characterized in that it is provided.

이와 같은 본 발명에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치에서 상기 2진수 인덱스 표시체(30)의 센싱 대상체(33)와 상기 2진수 카운터(40)는 센싱 가능거리만큼 이격 배치되고, 상기 2진수 카운터(40)는, 상기 고정베이스(31)의 자릿수 영역의 개수와 동일한 개수로 구비되고, 상기 센싱 대상체(33)의 인식 여부에 따라 0과 1의 신호 생성을 유도하는 복수의 근접센서(41)로 이루어지는 것을 특징으로 한다.In such an individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus according to the present invention, the sensing object 33 of the binary index display body 30 and the binary counter 40 are spaced apart by a sensingable distance, and the The binary counter 40 is provided in the same number as the number of digit regions of the fixed base 31 , and a plurality of proximity sensors for inducing generation of signals of 0 and 1 depending on whether the sensing object 33 is recognized. It is characterized in that it consists of (41).

이와 같은 본 발명에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치에서 상기 검사 테이블(10)은 회전하는 턴테이블 구조로 이루어지고, 상기 복수의 스테이지 유닛(20)은 원형을 이루면서 이격 배열되는 것을 특징으로 한다. In such an individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus according to the present invention, the inspection table 10 is formed of a rotating turntable structure, and the plurality of stage units 20 are arranged in a circle and spaced apart from each other. do.

본 발명에 의한 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치에 의하면, 인덱스별로 영점을 설정가능하도록 함으로써 더욱 정밀한 검사가 가능한 이점이 있다.According to the individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus according to the present invention, there is an advantage in that a more precise inspection is possible by enabling zero points to be set for each index.

또한, 검사체가 배치되는 각각의 스테이지 유닛마다 스테이지 인덱스에 대응하는 2진수 식별번호를 부여함으로써 각 스테이지 유닛을 용이하게 인식할 수 있는 효과가 있다.In addition, by assigning a binary identification number corresponding to a stage index to each stage unit in which the test object is disposed, there is an effect that each stage unit can be easily recognized.

추가로, 각 스테이지 유닛마다 저장된 영점조정 정보를 이용하여 정밀한 영점 설정이 가능하므로 이미지 또는 영상 검사시 데이터 처리 속도가 현저기 감소하므로 검사에 소요되는 시간을 절약할 수 있다는 효과가 있다.In addition, since precise zero setting is possible using the zero adjustment information stored for each stage unit, the data processing speed during image or image inspection is significantly reduced, thereby saving time required for inspection.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치의 블록도.
도 2는 도 1의 2진수 인덱스 표시체를 통해 2진수 카운터가 스테이지 인덱스에 대응하는 2진수 식별번호를 인식하는 방법을 나타내는 설명도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치의 구성도.1 is a block diagram of an individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory view showing a method for a binary counter to recognize a binary identification number corresponding to a stage index through the binary index display body of FIG. 1. FIG.
3 is a block diagram of an individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 3에 의거하여 상세히 설명한다. 한편, 도면과 상세한 설명에서 일반적인 비전검사 등을 이용한 제품의 검사방법 등으로부터 이 분야의 종사자들이 용이하게 알 수 있는 구성 및 작용에 대한 도시 및 언급은 간략히 하거나 생략하였다. 특히 도면의 도시 및 상세한 설명에 있어서 본 발명의 기술적 특징과 직접적으로 연관되지 않는 요소의 구체적인 기술적 구성 및 작용에 대한 상세한 설명 및 도시는 생략하고, 본 발명과 관련되는 기술적 구성만을 간략하게 도시하거나 설명하였다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings 1 to 3 . On the other hand, in the drawings and detailed description, drawings and descriptions of configurations and actions that can be easily recognized by those in this field from inspection methods of products using general vision inspection, etc. are simplified or omitted. In particular, in the drawings and detailed descriptions, detailed descriptions and illustrations of specific technical configurations and actions of elements not directly related to the technical features of the present invention are omitted, and only the technical configurations related to the present invention are briefly illustrated or described. did

본 발명의 실시예에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치(100)는 검사 테이블(10), 스테이지 유닛(20), 2진수 인덱스 표시체(30), 2진수 카운터(40), 검사기(50) 및 컨트롤러(60)를 포함하여 구성된다.An individual zero setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention includes an inspection table 10 , a stage unit 20 , a binary index display body 30 , a binary counter 40 , and an inspection machine 50 and a controller 60 .

검사 테이블(10)은 외부로부터 투입되는 검사체가 고정되는 검사영역이 구비되는 구성이다. 이러한 검사 테이블(10)은 회전 테이블이나 컨베이어 벨트 형태 등 복수의 검사영역이 구비될 수 있는 구조라면 어떤 형태로도 이루어질 수 있다. 이러한 검사 테이블(10)에 검사체가 투입되는 검사체는 검사의 정확도를 향상시키기 위하여 각 검사영역에 정위치 고정된다.The inspection table 10 is configured to include an inspection area to which an inspection object input from the outside is fixed. The inspection table 10 may be formed in any shape as long as it has a structure in which a plurality of inspection areas, such as a rotary table or a conveyor belt, can be provided. The inspection object, which is put into the inspection table 10, is fixed in place in each inspection area in order to improve the accuracy of the inspection.

스테이지 유닛(20)은 검사 테이블(10)에 복수개 설치되어 검사영역을 형성시키는 구성이다. 이러한 스테이지 유닛(20)은 소켓, 클램프 등과 같이 검사체를 고정시킬 수 있는 구성을 더 포함하여 검사체가 안착되어 정위치 고정되도록 한다. A plurality of stage units 20 are installed on the inspection table 10 to form an inspection area. The stage unit 20 further includes a component capable of fixing the test object, such as a socket or clamp, so that the test object is seated and fixed in place.

한편, 각 스테이지 유닛(20)에는 스테이지 인덱스가 부여되고, 스테이지 인덱스는 2진수 식별번호가 부여되어 서로 구분되어 식별되도록 한다. 스테이지 인덱스는 숫자로 부여될 수 있는데, 본 발명의 실시예에 따른 스테이지 유닛(20)은 1, 2, 3의 스테이지 인덱스에 각각 2진수 식별번호인 001, 010, 011를 부여받게 된다.Meanwhile, a stage index is assigned to each stage unit 20 , and a binary identification number is assigned to the stage index to be distinguished from each other and identified. The stage index may be assigned a number, and the stage unit 20 according to an embodiment of the present invention is assigned binary identification numbers 001, 010, and 011 to the stage indices 1, 2, and 3, respectively.

2진수 인덱스 표시체(30)는 각각의 스테이지 유닛(20)에 설치되어 해당 스테이지 유닛(20)에 부여된 2진수 식별번호를 나타내는 구성이다. 따라서, 검사 테이블(10)에는 동일한 개수의 스테이지 유닛(20)과 2진수 인덱스 표시체(30)가 설치되는 것이 바람직하다. The binary index display body 30 is installed in each stage unit 20 to indicate a binary identification number assigned to the corresponding stage unit 20 . Therefore, it is preferable that the same number of stage units 20 and binary index display bodies 30 are installed in the inspection table 10 .

이러한 2진수 인덱스 표시체(30)는 복수의 자릿수 영역이 설정되는 고정베이스(31)와 각 자릿수 영역에 고정되는 센싱 대상체(33)로 구성된다.The binary index display body 30 includes a fixed base 31 in which a plurality of digit areas are set and a sensing object 33 fixed to each digit area.

고정베이스(31)에 설정되는 자릿수 영역은 스테이지 유닛(20)의 전체 개수에 대응하여 정해지는 2진수 식별번호 자릿수와 동일하게 설정되도록 한다. 이러한 각 자릿수 영역에 고정되는 센싱 대상체(33)는 2진수 식별번호에서 0과 1을 나타내게 된다. 즉, 각 자릿수 영역에 센싱 대상체(33)가 구비되면 1을, 센싱 대상체(33)가 없이 자릿수 영역이 비어있으면 0을 나타내도록 하는 것이다.The number of digits set in the fixed base 31 is set to be the same as the number of digits of the binary identification number determined corresponding to the total number of stage units 20 . The sensing object 33 fixed to each digit area represents 0 and 1 in the binary identification number. That is, when the sensing object 33 is provided in each digit area, 1 is indicated, and when the digit area is empty without the sensing object 33, 0 is indicated.

따라서, 스테이지 유닛(20)의 개수가 1 내지 3개이면 고정 베이스(31)에 구비되는 자릿수 영역은 2개, 스테이지 유닛(20)의 개수가 4 내지 7개이면 고정 베이스(31)에 구비되는 자릿수 영역은 3개, 스테이지 유닛(20)의 개수가 8 내지 15개이면 고정 베이스(31)에 구비되는 자릿수 영역은 3개 구비되어야 한다.Accordingly, if the number of stage units 20 is 1 to 3, the number of digits provided in the fixed base 31 is two, and if the number of stage units 20 is 4 to 7, the fixed base 31 is provided If the number of digits is 3, and the number of stage units 20 is 8 to 15, the number of digits provided in the fixed base 31 should be 3.

즉, 스테이지 유닛(20)의 개수가 2n-1 내지 2n-1개이면 고정 베이스(31)에 구비되는 자릿수 영역의 개수는 n+1개로 되는 것이 바람직하다.That is, if the number of stage units 20 is 2 n-1 to 2 n -1, it is preferable that the number of digit regions provided in the fixed base 31 is n+1.

예를 들어, 도 2의 (a)에 도시된 2진수 인덱스 표시체(30)는 고정베이스(31)에 3개의 자릿수 영역이 설정되어 있고, 각 자릿수 영역에 센싱 대상체(33)가 모두 형성되어 있으므로 2진수 식별번호 111을 나타내는 것이다. 같은 방법으로, 도 2의 (b)에 도시된 2진수 인덱스 표시체(30)는 고정베이스(31)에 3개의 자릿수 영역이 설정되어 있고, 첫번째와 세번째 자릿수 영역에는 센싱 대상체(33)가 형성되어 있으나, 두번째 자릿수 영역에는 센싱 대상체(33)가 형성되어 있지 않고 비어있는 상태이므로 2진수 식별번호 101을 나타내는 것이다.For example, in the binary index display body 30 shown in (a) of FIG. 2, three digit areas are set on the fixed base 31, and the sensing object 33 is all formed in each digit area. Therefore, it represents the binary identification number 111. In the same way, in the binary index display body 30 shown in (b) of FIG. 2, three-digit areas are set on the fixed base 31, and the sensing object 33 is formed in the first and third-digit areas. However, since the sensing object 33 is not formed in the second digit area and is in an empty state, the binary identification number 101 is indicated.

여기서, 센싱 대상체(33)는 후술할 2진수 카운터(40)가 용이하게 인식할 수 있도록 고정베이스(31)보다 돌출되게 형성되는 것이 바람직하다.Here, the sensing object 33 is preferably formed to protrude from the fixed base 31 so that a binary counter 40 to be described later can easily recognize it.

2진수 카운터(40)는 2진수 인덱스 표시체(30)와의 상호작용으로 2진수 카운팅을 수행하는 구성이다. 2진수 카운터(40)는 후술할 검사기(50) 배치영역에 설치되어 2진수 카운팅을 수행하면 검사기(50)가 각 스테이지 유닛(20)의 2진수 식별번호를 인식함으로써 스테이지 유닛(20)의 영점조정 정보를 불러올 수 있게 되는 것이다.The binary counter 40 is configured to perform binary counting by interaction with the binary index display body 30 . The binary counter 40 is installed in the arrangement area of the inspection machine 50 to be described later and performing binary counting, the checker 50 recognizes the binary identification number of each stage unit 20 and thus the zero point of the stage unit 20 It will be possible to retrieve the adjustment information.

이러한 2진수 카운터(40)는 2진수 인덱스 표시체(30)에 형성된 센싱 대상체(33)의 인식 여부에 따라 0과 1의 신호를 생성할 수 있다면 근접센서, 홀센서, 리미트 스위치 등 무엇이든 가능하지만, 2진수 인덱스 표시체(30)가 이동하면서 서로 접촉하여 마모되지 않도록 센싱 가능한 거리만큼 이격 배치되는 것이 바람직하므로 본 실시예에서는 근접센서(41)로 되는 것으로 예를 들어 설명하기로 한다.This binary counter 40 can generate signals of 0 and 1 depending on whether the sensing object 33 formed in the binary index display body 30 is recognized, so long as it can generate a proximity sensor, a hall sensor, a limit switch, etc. However, since the binary index display body 30 is preferably spaced apart by a sensing distance so as not to contact and wear while moving, it will be described as an example of the proximity sensor 41 in this embodiment.

근접센서(41)는 고정베이스(31)에 설정된 자릿수 영역에 대응하여 구비되고, 각 자릿수 영역에서 센싱 대상체(33)의 유무를 인식하여 그에 따라 0과 1의 신호 생성을 유도한다.The proximity sensor 41 is provided to correspond to the digit area set in the fixed base 31, recognizes the presence or absence of the sensing object 33 in each digit area, and induces signal generation of 0 and 1 accordingly.

도 2의 (a)와 같이, 2진수 인덱스 표시체(30)가 2진수 식별번호 111을 나타내는 경우, 근접센서(41)는 3개 구비되고, 각 근접센서(41)는 1의 신호를 생성한다. 반면, 도 2의 (b)와 같이, 2진수 인덱스 표시체(30)가 2진수 식별번호 101을 나타내는 경우, 근접센서(41)는 3개 구비되고, 첫번째와 세번째 근접센서(41)는 1의 신호를 생성하고, 두번째 근접센서(41)는 0의 신호를 생성하게 되는 것이다.As shown in (a) of Figure 2, when the binary index display body 30 represents the binary identification number 111, the proximity sensor 41 is provided with three, each proximity sensor 41 generates a signal of 1. do. On the other hand, as shown in (b) of FIG. 2, when the binary index display body 30 indicates the binary identification number 101, three proximity sensors 41 are provided, and the first and third proximity sensors 41 are 1 , and the second proximity sensor 41 generates a signal of 0.

검사기(50)는 검사기 배치영역에 설치되어 스테이지 유닛(20)에 고정된 검사체를 검사하는 구성이다. 검사기(50)는 검사체에 따라 다양한 검사 종류를 설정하여 수행할 수 있도록 비전검사와 같이 이미지 또는 영상을 분석하여 검사하는 장치이거나 변위센서 등을 이용하여 길이, 넓이, 두께 등의 수치를 검사하는 장치일 수도 있다.The inspection machine 50 is installed in the inspection machine arrangement area and is configured to inspect the inspection object fixed to the stage unit 20 . The inspector 50 is a device that analyzes and inspects images or images such as vision inspection so that various inspection types can be set and performed according to the inspection object, or that inspects numerical values such as length, width, and thickness using a displacement sensor. It may be a device.

컨트롤러(60)는 검사기(50)의 영점조정을 제어하는 구성이다.The controller 60 is configured to control the zero point adjustment of the tester 50 .

즉, 컨트롤러(60)는 2진수 카운터(40)로부터 2진수 카운팅 신호를 전달받아 2진수 식별번호를 인식함으로써 각 스테이지 유닛(20)의 스테이지 인덱스에 저장된 영점조정 정보에 대응하여 검사기(50)의 영점조정을 제어하는 것이다.That is, the controller 60 receives the binary counting signal from the binary counter 40 and recognizes the binary identification number to correspond to the zero adjustment information stored in the stage index of each stage unit 20 of the checker 50 . It is to control the zero point adjustment.

검사기(50)의 검사 정확도를 향상시키기 위해서는 모든 검사체의 영점을 동일하게 설정하는 것이 바람직하다. 그러나 검사 테이블(10)이 회전하거나 이동할 때 마다 영점은 변화되고, 검사체를 하나씩 검사할때마다 영점조정을 위하여 검사 테이블(10) 전체를 움직여야하므로 검사를 수행하는데 소요되는 시간이 길어지는 문제점이 발생한다.In order to improve the inspection accuracy of the inspector 50, it is preferable to set the zero points of all inspection objects to be the same. However, the zero point is changed whenever the inspection table 10 is rotated or moved, and the entire inspection table 10 has to be moved to adjust the zero point each time an inspection object is inspected, which increases the time required to perform the inspection. Occurs.

반면, 본 발명에서는 검사기(50)가 2진수 카운터(40)로부터 2진수 카운팅 정보를 전달받아 스테이지 인덱스를 검출하는 것만으로 각 스테이지 인덱스에 연동된 해당 스테이지 유닛(20)의 영점조정 정보에 따라 검사기(50)의 영점조정을 제어함으로써 더욱 정밀하게 검사가 가능하므로 검사의 정확도를 향상시키고 검사에 소요되는 시간을 단축시킬 수 있다.On the other hand, in the present invention, the checker 50 receives binary counting information from the binary counter 40 and detects the stage index only by detecting the stage index according to the zero adjustment information of the corresponding stage unit 20 linked to each stage index. By controlling the zero adjustment of (50), more precise inspection is possible, so the accuracy of the inspection can be improved and the time required for the inspection can be shortened.

이러한 본 발명의 실시예에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치(100)는 도 3과 같이 구성될 수 있다.The individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention may be configured as shown in FIG. 3 .

본 실시예는 검사 테이블(10)은 회전하는 턴테이블 구조로 이루어지고, 스테이지 유닛(20)은 원형을 이루면서 이격 배열되며, 7개의 스테이지 유닛(20)이 구비되는 경우의 예시이다.This embodiment is an example of a case in which the examination table 10 has a rotating turntable structure, the stage units 20 are arranged to be spaced apart while forming a circle, and seven stage units 20 are provided.

스테이지 유닛(20)이 7개이므로, 각 스테이지 유닛(20)에 대응되는 2진수 식별번호는 각각 001, 010, 011, 100, 101, 110, 111가 차례로 부여되고, 2진수 인덱스 표시체(30)는 그에 대응되도록 센싱 대상체(33)가 구비된다.Since there are 7 stage units 20, binary identification numbers corresponding to each stage unit 20 are given in sequence 001, 010, 011, 100, 101, 110, 111, respectively, and a binary index display body 30 ) is provided with a sensing object 33 to correspond thereto.

검사를 수행하기 위해서는 자동 검사장치(100)는 검사 테이블(10)이 회전하면서 공급부(80)로부터 7개의 검사체를 공급받아 1번부터 7번까지의 각 스테이지 유닛(20)에 정위치 고정시킨다.In order to perform the inspection, the automatic inspection apparatus 100 receives seven inspection objects from the supply unit 80 while the inspection table 10 rotates and fixes them in place at each stage unit 20 from No. 1 to No. 7 .

2진수 카운터(40)는 검사 테이블(10)이 회전하면서 근접하는 2진수 인덱스 표시체(30)의 2진수 식별번호를 인식하여 그에 대응되는 신호를 발생시키고, 이 신호를 전달받은 컨트롤러(60)가 해당 2진수 식별번호에 대응하는 스테이지 인덱스의 영점조정 정보를 이용하여 검사기(50)의 영점조정을 제어하고, 검사기(50)가 검사를 수행하여 양품인지 불량품인지 검사한다.The binary counter 40 recognizes the binary identification number of the binary index display body 30 that is adjacent while the check table 10 rotates and generates a signal corresponding thereto, and the controller 60 that has received this signal controls the zero adjustment of the inspection machine 50 using the zero adjustment information of the stage index corresponding to the binary identification number, and the inspector 50 performs the inspection to check whether the product is a good product or a defective product.

검사 결과를 다시 스테이지 인덱스에 저장하고, 반출부(70)에서는 스테이지 인덱스에 저장된 검사 결과에 따라 양품과 불량품을 분류하면서 반출할 수 있다. The inspection result may be stored again in the stage index, and the unloading unit 70 may take it out while classifying the good product and the defective product according to the inspection result stored in the stage index.

이와 같이 구성되는 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치(100)는 인덱스별로 영점을 설정가능하도록 함으로써 더욱 정밀한 검사가 가능하고, 검사체가 배치되는 각각의 스테이지 유닛(20)마다 스테이지 인덱스에 대응하는 2진수 식별번호를 부여함으로써 각 스테이지 유닛(20)을 용이하게 인식할 수 있으며, 각 스테이지 유닛(20)마다 저장된 영점조정 정보를 이용하여 정밀한 영점 설정이 가능하므로 이미지 또는 영상 검사시 데이터 처리 속도가 현저기 감소하므로 검사에 소요되는 시간을 절약할 수 있다는 효과가 있다.The individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus 100 configured in this way enables more precise inspection by enabling zero points to be set for each index, and corresponding to the stage index for each stage unit 20 where the inspection object is disposed By giving a binary identification number, each stage unit 20 can be easily recognized, and precise zero point setting is possible using the zero point adjustment information stored for each stage unit 20, so the data processing speed when inspecting images or images is reduced. It has the effect of saving the time required for the examination as the marked reduction is reduced.

상술한 바와 같은, 본 발명의 실시예에 따른 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치를 상기한 설명 및 도면에 따라 도시하였지만, 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능하다는 것을 이 분야의 통상적인 기술자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.As described above, although an individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus according to an embodiment of the present invention has been illustrated according to the above description and drawings, this is merely an example and does not depart from the spirit of the present invention. It will be appreciated by those skilled in the art that various changes and modifications are possible therein.

100 : 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치
10: 검사 테이블
20: 스테이지 유닛
30: 2진수 인덱스 표시체
31: 고정베이스
33: 센싱 대상체
40: 2진수 카운터
41: 근접센서
50: 검사기
60: 컨트롤러
70: 공급부
80: 반출부100: Individual zero setting type multi-stage-based automatic inspection device
10: check table
20: stage unit
30: Binary index display
31: fixed base
33: sensing object
40: binary counter
41: proximity sensor
50: checker
60: controller
70: supply unit
80: take out part

Claims (5)

외부로부터 투입되는 검사체가 정위치 고정되는 복수의 검사영역을 구비하는 검사 테이블(10);
상기 검사 테이블(10)에 설치되어 상기 검사영역을 형성시키고, 스테이지 인덱스에 대응하는 2진수 식별번호가 각각 부여되어 있는 복수의 스테이지 유닛(20);
상기 스테이지 유닛(20) 각각에 설치되고, 각 스테이지 유닛(20)에 부여된 2진수 식별번호를 표시하는 복수의 2진수 인덱스 표시체(30);
상기 검사 테이블(10)로부터 이격된 검사기 배치영역에 설치되고, 상기 2진수 인덱스 표시체(30)와의 상호작용으로 2진수 카운팅을 수행하는 2진수 카운터(40);
상기 검사기 배치영역에 설치되고, 상기 검사체에 대한 설정 종류의 검사를 수행하는 검사기(50);
각 스테이지 유닛(20)의 영점조정 정보가 해당 스테이지 유닛(20)의 스테이지 인덱스와 연동되어 설정되고, 상기 2진수 카운터(40)로부터 2진수 카운팅 정보를 전달받아 스테이지 인덱스를 검출하게 되며, 해당 스테이지 인덱스에 연동된 영점조정 정보에 따라 상기 검사기(50)의 영점조정을 제어하는 컨트롤러(60);를 포함하고,
상기 2진수 인덱스 표시체(30)는,
상기 스테이지 유닛(20)의 외측에 배치되고, 복수의 자릿수 영역이 설정되어 있는 고정베이스(31);
상기 스테이지 유닛(20)의 2진수 식별번호에 맞추어 상기 고정베이스(31)의 자릿수 영역에 고정되고, 상기 2진수 카운터(40)에 의해 인식되는 센싱 대상체(33);를 포함하는 구성으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치.an examination table 10 having a plurality of examination areas in which an examination object input from the outside is fixed in place;
a plurality of stage units 20 installed on the inspection table 10 to form the inspection area, and to which binary identification numbers corresponding to stage indexes are respectively assigned;
a plurality of binary index display bodies (30) installed in each of the stage units (20) and displaying a binary identification number assigned to each stage unit (20);
a binary counter 40 installed in a checker arrangement area spaced apart from the check table 10 and performing binary counting by interaction with the binary index indicator 30;
a tester 50 installed in the tester arrangement area and configured to perform a set type of test on the test object;
The zero adjustment information of each stage unit 20 is set in association with the stage index of the corresponding stage unit 20, and the stage index is detected by receiving binary counting information from the binary counter 40, and the corresponding stage A controller 60 for controlling the zero adjustment of the tester 50 according to the zero adjustment information linked to the index; includes;
The binary index display body 30 is,
a fixed base 31 disposed outside the stage unit 20 and having a plurality of digit areas set;
A sensing object 33 fixed to the digit area of the fixed base 31 according to the binary identification number of the stage unit 20 and recognized by the binary counter 40; An individual zero-setting type multi-stage-based automatic inspection device. 삭제delete 제 1항에 있어서,
상기 2진수 인덱스 표시체(30)는,
상기 스테이지 유닛(20)의 전체 개수에 대응하는 자릿수 영역을 갖는 고정베이스(31)를 구비하는 것을 특징으로 하는 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치.The method of claim 1,
The binary index display body 30 is,
An individual zero-point setting type multi-stage-based automatic inspection apparatus comprising a fixed base (31) having a digit area corresponding to the total number of the stage units (20). 제 3항에 있어서,
상기 2진수 인덱스 표시체(30)의 센싱 대상체(33)와 상기 2진수 카운터(40)는 센싱 가능거리만큼 이격 배치되고,
상기 2진수 카운터(40)는,
상기 고정베이스(31)의 자릿수 영역의 개수와 동일한 개수로 구비되고, 상기 센싱 대상체(33)의 인식 여부에 따라 0과 1의 신호 생성을 유도하는 복수의 근접센서(41)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치.4. The method of claim 3,
The sensing object 33 of the binary index display body 30 and the binary counter 40 are spaced apart by a sensingable distance,
The binary counter 40 is
It is provided in the same number as the number of digit regions of the fixed base 31, and consists of a plurality of proximity sensors 41 that induce signal generation of 0 and 1 depending on whether the sensing object 33 is recognized. Individual zero-setting type multi-stage-based automatic inspection device. 제 1항에 있어서,
상기 검사 테이블(10)은 회전하는 턴테이블 구조로 이루어지고, 상기 복수의 스테이지 유닛(20)은 원형을 이루면서 이격 배열되는 것을 특징으로 하는 개별 영점설정형 복수 스테이지 기반 자동 검사장치.The method of claim 1,
The inspection table (10) is formed of a rotating turntable structure, and the plurality of stage units (20) are arranged in a circle and spaced apart from each other.
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