KR102293749B1 - Dicing film substrate and dicing film - Google Patents
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Abstract
내열성이 우수하고, 칩 분단성과 확장성과의 밸런스가 우수한 다이싱 필름 기재를 제공한다. 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (A) 30질량부 이상 95질량부 이하와, 폴리아미드 및 폴리우레탄으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (B) 5질량부 이상 40질량부 미만과, 상기 폴리아미드 이외의 대전 방지제 (C) 0질량부 이상 30질량부 이하(단, 수지 (A), 수지 (B) 및 대전 방지제 (C)의 합계를 100질량부라고 함)를 함유하는 수지 조성물로 이루어지는 제 1 수지층과, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (D)를 포함하는 제 2 수지층을 포함하는, 다이싱 필름 기재.Disclosed is a dicing film substrate having excellent heat resistance and excellent balance between chip breakability and expandability. 30 parts by mass or more and 95 parts by mass or less of at least one resin (A) selected from the group consisting of ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymers and ionomers of the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymers, polyamide and polyurethane; 5 parts by mass or more and less than 40 parts by mass of at least one resin (B) selected from the group consisting of, and 0 parts by mass or more and 30 parts by mass or less of an antistatic agent (C) other than the polyamide (provided that the resin (A), A first resin layer comprising a resin composition containing a resin (B) and an antistatic agent (C) in a total of 100 parts by mass), an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer, and the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer A dicing film substrate comprising a second resin layer comprising at least one resin (D) selected from the group consisting of ionomers.
Description
본 발명은, 다이싱 필름 기재, 및 다이싱 필름에 관한 것이다.The present invention relates to a dicing film substrate and a dicing film.
IC 등의 반도체 장치의 제조 과정에 있어서는, 회로 패턴을 형성한 반도체 웨이퍼를 박막화한 후, 반도체 웨이퍼를 칩 단위로 분단하기 위한 다이싱 공정을 행하는 것이 일반적이다. 다이싱 공정에 있어서는, 반도체 웨이퍼의 이면에 신축성을 가지는 웨이퍼 가공용 필름(다이싱 필름 또는 다이싱 테이프라고 함)을 첩착(貼着)하고, 냉각수 및 세정수를 이용하면서 다이싱 블레이드에 의해 반도체 웨이퍼를 칩 단위로 분단한다. 그리고 다음의 확장 공정에 있어서는, 절단된 웨이퍼에 대응하는 다이싱 테이프를 확장함으로써, 칩을 소편화(小片化)한다. 이 때, 반도체 웨이퍼를 다이싱 필름에 의해 고정하여, 칩의 비산을 방지하고 있다.In the manufacturing process of semiconductor devices, such as an IC, after thinning the semiconductor wafer in which the circuit pattern was formed, it is common to perform the dicing process for dividing a semiconductor wafer into chip unit. In the dicing process, a flexible wafer processing film (referred to as a dicing film or a dicing tape) is adhered to the back surface of a semiconductor wafer, and a semiconductor wafer is used with a dicing blade while using cooling water and washing water. is divided into chips. And in the next expansion process, the chip|tip is made small by expanding the dicing tape corresponding to the cut|disconnected wafer. At this time, the semiconductor wafer is fixed with a dicing film, and the scattering of a chip is prevented.
다이싱 필름은 가열 조건하에서 반도체 웨이퍼에 첩착하는 경우도 있기 때문에, 내열성이 요구되고 있다. 다이싱 필름의 내열성이 낮으면, 열에 의해 연화 등 하여 박리하는 것이 곤란해지거나, 작업 테이블(다이) 상에 고착되거나 하는 경우가 있다. 또한, 열에 의해 다이싱 필름에 뒤틀림이나 휨 등의 변형이 발생해버리면, 박육화(薄肉化)한 반도체 웨이퍼가 변형되어버릴 가능성도 있다. 이 때문에, 다이싱 필름에 대해서는, 다이싱 필름으로서 반도체 웨이퍼를 고정하기 위한 확장성과 함께 내열성이 요구된다.Since a dicing film may stick to a semiconductor wafer under heating conditions, heat resistance is calculated|required. When the heat resistance of a dicing film is low, it may become difficult to peel by softening by heat, etc., or it may stick on a work table (die). Moreover, when distortion, such as distortion or warping, etc. generate|occur|produces in a dicing film by heat, the thinned semiconductor wafer may deform|transform. For this reason, about the dicing film, heat resistance is calculated|required together with the expandability for fixing a semiconductor wafer as a dicing film.
또한, 스텔스 다이싱 공정에 있어서는, 레이저에 의한 반도체 웨이퍼 내부에 균열층을 형성하고, 반도체 웨이퍼의 완전한 재단을 행하기 위해, 웨이퍼를 보지(保持)하는 다이싱 필름의 응력으로, 반도체 웨이퍼를 재단하는 것이 요구된다. 따라서, 다이싱 필름은 칩의 분단성과 확장성과의 밸런스가 중요하다.Moreover, in the stealth dicing process, in order to form a cracking layer inside a semiconductor wafer by a laser, and to perform complete cutting of a semiconductor wafer, a semiconductor wafer is cut with the stress of the dicing film which holds the wafer. it is required to Therefore, in the dicing film, it is important to balance the chip breakability and expandability.
다이싱 필름을 형성하기 위한 재료로서, 에틸렌·(메타)아크릴산 공중합체를 금속 이온으로 가교한 아이오노머가 사용되고 있다. 예를 들면, 아이오노머와, 폴리에테르 성분을 포함하는 대전 방지 수지를 포함하는 수지 조성물로 이루어지는 방사선 경화형 웨이퍼 가공용 점착 테이프(특허 문헌 1)나, 아이오노머와 함께, 에틸렌, (메타)아크릴산, 및 (메타)아크릴산 알킬에스테르를 구성 성분으로 하는 중합체를 함유하는 다이싱 필름 기재용 수지 조성물(특허 문헌 2) 등을 들 수 있다.As a material for forming the dicing film, an ionomer obtained by crosslinking an ethylene/(meth)acrylic acid copolymer with a metal ion is used. For example, an ionomer and an adhesive tape for processing a radiation-curable wafer comprising a resin composition containing an antistatic resin containing a polyether component (Patent Document 1), along with the ionomer, ethylene, (meth)acrylic acid, and The resin composition for dicing film base materials containing the polymer which has (meth)acrylic-acid alkylester as a structural component (patent document 2) etc. are mentioned.
또한, 상기 서술한 바와 같은 아이오노머를 포함하는 수지 조성물로서는, 폴리아미드와, 에틸렌 및 α, β-에틸렌성 불포화 카르본산을 함유하는 공중합체의 아이오노머를 포함하는 아이오노머/폴리아미드 배합물(특허 문헌 3)도 알려져 있다.In addition, as a resin composition containing an ionomer as described above, an ionomer/polyamide formulation comprising a polyamide and an ionomer of a copolymer containing ethylene and α,β-ethylenically unsaturated carboxylic acid (patent Document 3) is also known.
아이오노머와 대전 방지 수지를 조합한 특허 문헌 1에 기재된 웨이퍼 가공용 점착 테이프는, 대전 방지성이 우수하기는 하지만, 내열성에 관한 기재는 없다. 또한, 아이오노머와, 에틸렌, (메타)아크릴산, 및 (메타)아크릴산 알킬에스테르를 구성 성분으로 하는 중합체를 조합한 특허 문헌 2의 다이싱 필름 기재용 수지 조성물에 대해서는, 내열성이 향상되었다고 기재되어 있지만, 실시예에 있어서의 내열성 시험의 결과는, 비교예를 포함하는 모든 샘플이 ○(신장되지 않음)이며, 종래 기술에 비하여 내열성에 현격한 향상이 인정되었다고는 생각되지 않는다. 또한, 특허 문헌 3에 기재된 아이오노머 배합물에 대해서는, 성형 부품 등의 제조용이며, 다이싱 필름 등의 반도체에 관련된 용도에 관한 기재는 없다. 또한, 이 배합물은, 폴리아미드를 40~60질량%로 다량으로 포함하기 때문에, 펠릿화는 가능하지만, 필름 성형하는 것은 불가능하다.Although the adhesive tape for wafer processing described in patent document 1 which combined an ionomer and antistatic resin is excellent in antistatic property, there is no description regarding heat resistance. In addition, with respect to the resin composition for a dicing film base material of
본 발명은, 이와 같은 종래 기술이 가지는 문제점을 감안하여 이루어진 것이며, 그 과제로 하는 바는, 내열성이 우수하고, 또한 칩 분단성과 확장성의 밸런스가 잡힌 다이싱 필름 기재 및 다이싱 필름을 제공하는 것에 있다.The present invention has been made in view of the problems of the prior art, and its object is to provide a dicing film base material and a dicing film that are excellent in heat resistance and have a balanced chip breakability and expandability. have.
즉, 본 발명에 의하면, 이하에 나타내는 다이싱 필름 기재, 및 다이싱 필름이 제공된다.That is, according to this invention, the dicing film base material and dicing film shown below are provided.
[1] 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (A) 30질량부 이상 95질량부 이하와,[1] 30 parts by mass or more and 95 parts by mass or less of at least one resin (A) selected from the group consisting of an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer and an ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer;
폴리아미드 및 폴리우레탄으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (B) 5질량부 이상 40질량부 미만과,5 parts by mass or more and less than 40 parts by mass of at least one resin (B) selected from the group consisting of polyamide and polyurethane;
상기 폴리아미드 이외의 대전 방지제 (C) 0질량부 이상, 30질량부 이하(단, 성분 (A), 성분 (B) 및 성분 (C)의 합계를 100질량부라고 함)0 parts by mass or more and 30 parts by mass or less of an antistatic agent (C) other than the polyamide (however, the total of component (A), component (B), and component (C) is referred to as 100 parts by mass)
를 함유하는 수지 조성물로 이루어지는 제 1 수지층과,A first resin layer made of a resin composition containing
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (D)를 포함하는, 제 2 수지층을 포함하는, 다이싱 필름 기재.A dicing film comprising a second resin layer comprising at least one resin (D) selected from the group consisting of an ethylene-unsaturated carboxylic acid-based copolymer and an ionomer of the ethylene-unsaturated carboxylic acid-based copolymer. write.
[2] 상기 대전 방지제 (C)의 함유량이 0 질량부인, [1]에 기재된 다이싱 필름 기재.[2] The dicing film substrate according to [1], wherein the content of the antistatic agent (C) is 0 parts by mass.
[3] 상기 대전 방지제 (C)의 함유량이 5질량부 이상 30질량부 이하인, [1]에 기재된 다이싱 필름 기재.[3] The dicing film substrate according to [1], wherein the content of the antistatic agent (C) is 5 parts by mass or more and 30 parts by mass or less.
[4] 상기 폴리우레탄이 열가소성 폴리우레탄 엘라스토머인, [1]~[3] 중 어느 것에 기재된 다이싱 필름 기재.[4] The dicing film substrate according to any one of [1] to [3], wherein the polyurethane is a thermoplastic polyurethane elastomer.
[5] [1]~[4] 중 어느 것에 기재된 다이싱 필름 기재와,[5] The dicing film substrate according to any one of [1] to [4];
상기 다이싱 필름 기재 중 적어도 일방의 면에 적층된 점착층을 가지는 것을 특징으로 하는, 다이싱 필름.It has an adhesive layer laminated|stacked on at least one surface of the said dicing film base material, The dicing film characterized by the above-mentioned.
본 발명은, 우수한 내열성을 가지고, 다이싱 필름으로서 바람직한 밸런스가 잡힌 칩 분단성과 확장성을 나타내는, 다이싱 필름 기재 및 다이싱 필름을 제공한다.The present invention provides a dicing film substrate and a dicing film having excellent heat resistance and exhibiting a well-balanced chip breaking property and expandability suitable as a dicing film.
도 1은 본 발명의 다이싱 필름 기재의 일 실시 형태를 나타내는 단면도이다.
도 2는 본 발명의 다이싱 필름의 일 실시 형태를 나타내는 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing which shows one Embodiment of the dicing film base material of this invention.
It is sectional drawing which shows one Embodiment of the dicing film of this invention.
이하, 본 발명의 다이싱 필름 기재에 대하여 상세하게 설명함과 함께, 다이싱 필름에 대해서도 상세하게 설명한다.Hereinafter, while the dicing film base material of this invention is demonstrated in detail, the dicing film is also demonstrated in detail.
또한, 본 명세서 중에 있어서, 수치 범위를 나타내는 「~」의 표기는, 수치 범위의 하한값과 상한값의 값을 포함하는 의미이다.In addition, in this specification, the description of "to" which shows a numerical range is meaning including the value of the lower limit and upper limit of a numerical range.
또한, 「(메타)아크릴산」은, 「아크릴산」 및 「메타크릴산」의 쌍방을 포함하여 이용되는 표기이며, 「(메타)아크릴레이트」는, 「아크릴레이트」 및 「메타크릴레이트」의 쌍방을 포함하여 이용되는 표기이다.In addition, "(meth)acrylic acid" is a notation used including both "acrylic acid" and "methacrylic acid", and "(meth)acrylate" is both "acrylate" and "methacrylate" It is a notation used including .
1. 다이싱 필름 기재1. Dicing film substrate
본 발명의 제 1 양태는, 다이싱 필름 기재이다. 도 1은, 본 발명의 다이싱 필름 기재의 일 실시 형태를 나타내는 단면도이다. 도 1에 나타내는 바와 같이, 본 실시 형태의 다이싱 필름 기재(10)는, 제 1 수지층(1)과 제 2 수지층(2)이 적층된 구조를 가진다. 이어서, 각층에 대하여 설명한다.A first aspect of the present invention is a dicing film substrate. BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is sectional drawing which shows one Embodiment of the dicing film base material of this invention. As shown in FIG. 1, the dicing
1-1. 제 1 수지층1-1. first resin layer
제 1 수지층은, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (A) 30질량부 이상, 95질량부 이하와, 폴리아미드 및 폴리우레탄으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (B) 5질량부 이상, 40질량부 미만과, 상기 폴리아미드 이외의 대전 방지제 (C) 0질량부 이상, 30질량부 이하(단, 성분 (A), 성분 (B) 및 성분 (C)의 합계를 100질량부라고 함)를 함유하는 수지 조성물로 이루어지는 층이다. 이와 같은 수지 조성물층은, 내열성이 우수하고, 또한, 칩 분단성과 확장성의 밸런스가 우수하다.The first resin layer is 30 parts by mass or more and 95 parts by mass or less of at least one resin (A) selected from the group consisting of an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer and an ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer. and 5 parts by mass or more and less than 40 parts by mass of at least one resin (B) selected from the group consisting of polyamide and polyurethane, and 0 parts by mass or more and 30 parts by mass of an antistatic agent (C) other than the polyamide It is a layer which consists of the resin composition containing the following (however, the sum total of a component (A), a component (B), and a component (C) is called 100 mass parts). Such a resin composition layer is excellent in heat resistance, and is excellent in the balance of chip breakability and expandability.
<수지 (A)><Resin (A)>
본 발명에 있어서의 수지 (A)는, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체(이하, 단순히 「공중합체 (A)」라고도 함) 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머(이하, 단순히 「아이오노머 (A)」라고도 함)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이다. 본 발명에 있어서, 수지 (A)로서 이용하는 에틸렌·불포화 카르산계 공중합체의 아이오노머는, 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 카르복실기의 일부, 또는 모두가 금속(이온)으로 중화된 것이다. 본 발명에서는, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 산기 중 적어도 일부가 금속(이온)으로 중화되어 있는 것을 「아이오노머」, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 산기가 금속(이온)에 의해 중화되어 있지 않은 것을 「공중합체」라고 한다.The resin (A) in the present invention is an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (hereinafter simply referred to as “copolymer (A)”) and an ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (hereinafter simply referred to as “copolymer (A)”). It is at least 1 sort(s) selected from the group which consists of "ionomer (A)"). In the present invention, the ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer used as the resin (A) is one in which a part or all of the carboxyl groups of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer are neutralized with a metal (ion). In the present invention, an "ionomer" in which at least a part of the acid groups of the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer are neutralized with a metal (ion), and the acid group of the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer are neutralized with a metal (ion) What is not formed is called a "copolymer".
상기 공중합체 (A), 또는 그 아이오노머 (A)를 구성하는 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체는, 에틸렌과 불포화 카르본산이 공중합된 적어도 2원(元)의 공중합체이며, 또한 제 3 공중합 성분이 공중합된 3원 이상의 다원 공중합체여도 된다. 또한, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체는, 일종 단독으로 이용해도 되고, 2종 이상의 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체를 병용해도 된다.The ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer constituting the copolymer (A) or the ionomer (A) is at least a binary copolymer in which ethylene and unsaturated carboxylic acid are copolymerized, and a third copolymer It may be a ternary or more multicomponent copolymer in which the components are copolymerized. In addition, an ethylene/unsaturated carboxylic acid type copolymer may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types of ethylene/unsaturated carboxylic acid type copolymer together.
에틸렌·불포화 카르본산 2원 공중합체를 구성하는 불포화 카르본산으로서는, 예를 들면, 아크릴산, 메타크릴산, 에타크릴산, 이타콘산, 무수 이타콘산, 푸마르산, 크로톤산, 말레산, 무수 말레산 등의 탄소수 4~8의 불포화 카르본산 등을 들 수 있다. 특히, 아크릴산 또는 메타크릴산이 바람직하다.As the unsaturated carboxylic acid constituting the ethylene/unsaturated carboxylic acid binary copolymer, for example, acrylic acid, methacrylic acid, ethacrylic acid, itaconic acid, itaconic anhydride, fumaric acid, crotonic acid, maleic acid, maleic anhydride, etc. and unsaturated carboxylic acids having 4 to 8 carbon atoms. In particular, acrylic acid or methacrylic acid is preferable.
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 (A)가 3원 이상의 다원 공중합체일 때, 다원 공중합체를 형성하는 모노머(제 3 공중합 성분)를 포함해도 된다. 제 3 공중합 성분으로서는, 불포화 카르본산 에스테르(예를 들면, 아크릴산 메틸, 아크릴산 에틸, 아크릴산 이소부틸, 아크릴산 n-부틸, 아크릴산 이소옥틸, 메타크릴산 메틸, 메타크릴산 에틸, 메타크릴산 이소부틸, 말레산 디메틸, 말레산 디에틸 등의 (메타)아크릴산 알킬에스테르), 불포화 탄화수소(예를 들면, 프로필렌, 부텐, 1,3-부타디엔, 펜텐, 1,3-펜타디엔, 1-헥센 등), 비닐에스테르(예를 들면, 아세트산 비닐, 프로피온산 비닐 등), 비닐 황산이나 비닐 질산 등의 산화물, 할로겐 화합물(예를 들면, 염화 비닐, 불화 비닐 등), 비닐기 함유 1, 2급 아민 화합물, 일산화탄소, 이산화유황 등을 들 수 있고, 이들 공중합 성분으로서는, 불포화 카르본산 에스테르가 바람직하다.When the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer (A) is a ternary or more multi-component copolymer, a monomer (third copolymerization component) that forms the multi-component copolymer may also be included. Examples of the third copolymerization component include unsaturated carboxylic acid esters (eg, methyl acrylate, ethyl acrylate, isobutyl acrylate, n-butyl acrylate, isooctyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, isobutyl methacrylate, (meth)acrylic acid alkyl esters such as dimethyl maleate and diethyl maleate), unsaturated hydrocarbons (eg, propylene, butene, 1,3-butadiene, pentene, 1,3-pentadiene, 1-hexene, etc.); Vinyl esters (for example, vinyl acetate, vinyl propionate, etc.), oxides such as vinyl sulfuric acid and vinyl nitric acid, halogen compounds (for example, vinyl chloride, vinyl fluoride, etc.), vinyl group-containing primary and secondary amine compounds, carbon monoxide , sulfur dioxide, and the like, and as these copolymerization components, unsaturated carboxylic acid esters are preferable.
예를 들면, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 (A)가 3원 공중합체인 경우에는, 에틸렌과, 불포화 카르본산과, 불포화 카르본산 에스테르와의 3원 공중합체, 에틸렌과, 불포화 카르본산과, 불포화 탄화수소와의 3원 공중합체 등을 적합하게 들 수 있다.For example, when the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (A) is a ternary copolymer, a ternary copolymer of ethylene, an unsaturated carboxylic acid, and an unsaturated carboxylic acid ester, ethylene, and an unsaturated carboxylic acid; A terpolymer with an unsaturated hydrocarbon, etc. are mentioned suitably.
불포화 카르본산 에스테르로서는, 불포화 카르본산 알킬에스테르가 바람직하고, 알킬에스테르의 알킬 부위의 탄소수는 1~12가 바람직하고, 1~8이 보다 바람직하며, 1~4가 더 바람직하다. 알킬 부위의 예로서는, 메틸, 에틸, n-프로필, 이소프로필, n-부틸, 이소부틸, 세컨더리-부틸, 2-에틸헥실, 이소옥틸 등을 들 수 있다.As unsaturated carboxylic acid ester, unsaturated carboxylic acid alkylester is preferable, 1-12 are preferable, as for carbon number of the alkyl part of alkylester, 1-8 are more preferable, and 1-4 are still more preferable. Examples of the alkyl moiety include methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, secondary-butyl, 2-ethylhexyl, isooctyl and the like.
불포화 카르본산 에스테르의 구체예로서는, 알킬 부위의 탄소수가 1~12의 불포화 카르본산 알킬에스테르(예를 들면, 아크릴산 메틸, 아크릴산 에틸, 아크릴산 이소부틸, 아크릴산 n-부틸, 아크릴산 이소옥틸 등의 아크릴산 알킬에스테르, 메타크릴산 메틸, 메타크릴산 에틸, 메타크릴산 이소부틸 등의 메타크릴산 알킬에스테르, 말레산 디메틸, 말레산 디에틸 등의 말레산 알킬에스테르) 등을 들 수 있다.Specific examples of the unsaturated carboxylic acid ester include unsaturated carboxylic acid alkyl esters having 1 to 12 carbon atoms in the alkyl moiety (for example, acrylic acid alkyl esters such as methyl acrylate, ethyl acrylate, isobutyl acrylate, n-butyl acrylate, and isooctyl acrylate) , methyl methacrylate, ethyl methacrylate, methacrylic acid alkyl esters such as isobutyl methacrylate, maleic acid alkyl esters such as dimethyl maleate and diethyl maleate); and the like.
불포화 카르본산 알킬에스테르 중에서는, 알킬 부위의 탄소수가 1~4의 (메타)아크릴산 알킬에스테르가 보다 바람직하다.Among the unsaturated carboxylic acid alkylesters, (meth)acrylic acid alkylesters having 1 to 4 carbon atoms in the alkyl moiety are more preferable.
공중합체의 형태는, 블록 공중합체, 랜덤 공중합체, 그래프트 공중합체 중 어느 것이어도 되고, 2원 공중합체, 3원 공중합체 중 어느 것이어도 된다. 그 중에서도, 공업적으로 입수 가능한 점에서, 2원 랜덤 공중합체, 3원 랜덤 공중합체, 2원 랜덤 공중합체의 그래프트 공중합체 혹은 3원 랜덤 공중합체의 그래프트 공중합체가 바람직하고, 보다 바람직하게는 2원 랜덤 공중합체 또는 3원 랜덤 공중합체이다.Any of a block copolymer, a random copolymer, and a graft copolymer may be sufficient as the form of a copolymer, and any of a binary copolymer and a terpolymer may be sufficient. Among them, from the viewpoint of being industrially available, a binary random copolymer, a ternary random copolymer, a graft copolymer of a binary random copolymer, or a graft copolymer of a ternary random copolymer is preferable, and more preferably binary random copolymer or ternary random copolymer.
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 구체예로서는, 에틸렌·아크릴산 공중합체, 에틸렌·메타크릴산 공중합체 등의 2원 공중합체, 에틸렌·메타크릴산·아크릴산 이소부틸 공중합체 등의 3원 공중합체를 들 수 있다. 또한, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체로서 출시되어 있는 시판품을 이용해도 되고, 예를 들면, 미쓰이·듀폰 폴리케미칼사제의 뉴크렐 시리즈(등록 상표) 등을 사용할 수 있다.Specific examples of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer include binary copolymers such as ethylene/acrylic acid copolymer and ethylene/methacrylic acid copolymer, and terpolymers such as ethylene/methacrylic acid/isobutyl acrylate copolymer. can be heard Moreover, you may use the commercial item marketed as an ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer, For example, the Nucrel series (trademark) manufactured by Mitsui DuPont Polychemicals, etc. can be used.
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 중에 있어서의, 불포화 카르본산의 공중합비(질량비)는, 4질량%~20질량%가 바람직하고, 보다 바람직하게는 5질량%~15질량%이다. 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 중에 있어서의, 불포화 카르본산 에스테르의 공중합비(질량비)는, 1질량%~20질량%가 바람직하고, 보다 바람직하게는 5질량%~15질량%이다. 불포화 카르본산 에스테르 유래의 구성 단위의 함유 비율은, 확장성의 관점에서, 1질량% 이상, 바람직하게는 5질량% 이상인 것이 바람직하다. 또한, 불포화 카르본산 에스테르 유래의 구성 단위의 함유 비율은, 블로킹 및 융착을 방지하는 관점에서는, 20질량% 이하인 것이 바람직하고, 15질량% 이하인 것이 보다 바람직하다.4 mass % - 20 mass % are preferable, as for the copolymerization ratio (mass ratio) of unsaturated carboxylic acid in an ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer, More preferably, they are 5 mass % - 15 mass %. 1 mass % - 20 mass % are preferable, as for the copolymerization ratio (mass ratio) of the unsaturated carboxylic acid ester in an ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer, More preferably, they are 5 mass % - 15 mass %. The content rate of the structural unit derived from unsaturated carboxylic acid ester is 1 mass % or more from a scalability viewpoint, It is preferable that it is preferably 5 mass % or more. Moreover, it is preferable that it is 20 mass % or less from a viewpoint of preventing blocking and fusion|fusion, and, as for the content rate of the structural unit derived from unsaturated carboxylic acid ester, it is more preferable that it is 15 mass % or less.
본 발명에 있어서 수지 (A)로서 이용하는 아이오노머 (A)는, 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체에 포함되는 카르복실기가 금속 이온에 의해 임의의 비율로 가교(중화)된 것이 바람직하다. 산기의 중화에 이용되는 금속 이온으로서는, 리튬 이온, 나트륨 이온, 칼륨 이온, 루비듐 이온, 세슘 이온, 아연 이온, 마그네슘 이온, 망간 이온 등의 금속 이온을 들 수 있다. 이들 금속 이온 중에서도, 공업화 제품의 입수 용이성으로부터 마그네슘 이온, 나트륨 이온 및 아연 이온이 바람직하고, 나트륨 이온 및 아연 이온이 보다 바람직하다.In the ionomer (A) used as the resin (A) in the present invention, it is preferable that the carboxyl groups contained in the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer are crosslinked (neutralized) in an arbitrary ratio with a metal ion. Metal ions, such as a lithium ion, a sodium ion, a potassium ion, a rubidium ion, a cesium ion, a zinc ion, a magnesium ion, and a manganese ion, are mentioned as a metal ion used for neutralization of an acidic radical. Among these metal ions, a magnesium ion, a sodium ion, and a zinc ion are preferable from the viewpoint of the availability of industrialized products, and a sodium ion and a zinc ion are more preferable.
아이오노머 (A)에 있어서의 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 중화도는, 10%~85%가 바람직하고, 15%~82%가 더 바람직하다. 중화도가 10% 이상이면, 칩 분단성을 보다 향상시킬 수 있으며, 85% 이하임으로써, 가공성이나 성형성이 우수하다.10 % - 85 % are preferable and, as for the neutralization degree of the ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer in an ionomer (A), 15 % - 82 % are more preferable. When the degree of neutralization is 10% or more, chip breakability can be further improved, and when it is 85% or less, workability and moldability are excellent.
또한, 중화도란, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체가 가지는 산기, 특히 카르복실기의 몰수에 대한, 금속 이온의 배합 비율(몰%)이다.In addition, the neutralization degree is the compounding ratio (mol%) of the metal ion with respect to the mole number of the acidic radical which an ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer has, especially a carboxyl group.
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 그 아이오노머의 멜트 플로우 레이트(MFR)는, 0.2g/10분~20.0g/10분의 범위가 바람직하고, 0.5g/10분~20.0g/10분이 보다 바람직하며, 0.5g/10분~18.0g/10분이 더 바람직하다. 멜트 플로우 레이트가 상기 범위 내이면, 성형할 때에 유리하다.The melt flow rate (MFR) of the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer and its ionomer is preferably in the range of 0.2 g/10 min to 20.0 g/10 min, and more than 0.5 g/10 min to 20.0 g/10 min. Preferably, 0.5 g/10 min to 18.0 g/10 min is more preferable. When a melt flow rate is in the said range, it is advantageous at the time of shaping|molding.
또한, MFR은, JIS K7210-1999에 준거한 방법에 의해 190℃, 하중 2160g에 의해 측정되는 값이다.In addition, MFR is a value measured by the method based on JISK7210-1999 at 190 degreeC and 2160 g of loads.
제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물에 있어서의 수지 (A)의 함유량은, 수지 (A), 후술하는 수지 (B) 및 후술하는 대전 방지제 (C)의 합계량에 대하여, 30질량부 이상 95질량부 이하이며, 40질량부 이상 90질량부 이하가 바람직하고, 50질량부 이상 90질량부 이하가 보다 바람직하다.Content of resin (A) in the resin composition which comprises a 1st resin layer is 30 mass parts or more and 95 mass with respect to the total amount of resin (A), resin (B) mentioned later, and antistatic agent (C) mentioned later. It is a part or less, 40 mass parts or more and 90 mass parts or less are preferable, and 50 mass parts or more and 90 mass parts or less are more preferable.
수지 (A)의 함유량이 상기 범위 내이면 필름 가공성이 우수하다.When content of resin (A) is in the said range, it is excellent in film workability.
<수지 (B)><Resin (B)>
본 발명에 있어서의 수지 (B)란, 폴리아미드 및 폴리우레탄으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이다. 일반적으로 수지 (A)로서 사용하는 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체나 그 아이오노머의 융점은 100℃ 이하로 낮고, 이에 따라 융점이 높은 수지를 혼합한 수지 조성물의 내열성이 어느 정도 상승하는 것은, 추정의 범위 내이다. 그러나, 융점이 비교적 높은 수지 중에서도, 폴리아미드 및/또는 폴리우레탄을, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 또는 그 아이오노머(수지 (A))와 조합함으로써, 폴리아미드나 폴리우레탄의 융점으로부터 예상되는 것 보다 높은 내열성을 가지는 수지 조성물이 얻어진다. 또한 이와 같은 수지 조성물을 이용하여 제작한 필름은, 우수한 내열성뿐만 아니라, 다이싱 필름으로서 바람직한 밸런스가 잡힌 칩 분단성과 확장성을 가진다.Resin (B) in this invention is at least 1 sort(s) chosen from the group which consists of polyamide and polyurethane. Generally, the melting point of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer or its ionomer used as the resin (A) is as low as 100° C. or less, and accordingly, the heat resistance of the resin composition mixed with the high melting point resin increases to some extent, It is within the scope of the estimate. However, among resins having a relatively high melting point, by combining polyamide and/or polyurethane with an ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer or its ionomer (resin (A)), it is expected from the melting point of polyamide or polyurethane. A resin composition having higher heat resistance than that is obtained. In addition, the film produced using such a resin composition has not only excellent heat resistance but also the well-balanced chip breaking property and expandability suitable as a dicing film.
폴리아미드로서는, 예를 들면, 옥살산, 아디프산, 세바스산, 도데칸산, 테레프탈산, 이소프탈산, 1,4-시클로헥산디카르본산 등의 카르본산과, 에틸렌디아민, 테트라메틸렌디아민, 펜타메틸렌디아민, 헥사메틸렌디아민, 데카메틸렌디아민, 1,4-시클로헥실디아민, m-크실릴렌디아민 등의 디아민과의 중축합체, ε-카프로락탐, ω-라우로락탐 등의 환상(環狀) 락탐 개환 중합체, 6-아미노카프론산, 9-아미노노난산, 11-아미노운데칸산, 12-아미노도데칸산 등의 아미노카르본산의 중축합체, 혹은 상기 환상 락탐과 디카르본산과 디아민과의 공중합 등을 들 수 있다.Examples of the polyamide include carboxylic acids such as oxalic acid, adipic acid, sebacic acid, dodecanoic acid, terephthalic acid, isophthalic acid, and 1,4-cyclohexanedicarboxylic acid, ethylenediamine, tetramethylenediamine, and pentamethylenediamine. Polycondensates with diamines such as , hexamethylenediamine, decamethylenediamine, 1,4-cyclohexyldiamine, and m-xylylenediamine; ring-opening cyclic lactams such as ε-caprolactam and ω-laurolactam Polymers, polycondensates of aminocarboxylic acids such as 6-aminocaproic acid, 9-aminononanoic acid, 11-aminoundecanoic acid and 12-aminododecanoic acid, or copolymerization of the cyclic lactam with dicarboxylic acid with diamine, etc. can be heard
폴리아미드는 시판되고 있는 것이어도 된다. 구체적으로는, 나일론 4, 나일론 6, 나일론 46, 나일론 66, 나일론 610, 나일론 612, 나일론 6T, 나일론 11, 나일론 12, 공중합체 나일론(예를 들면, 나일론 6/66, 나일론 6/12, 나일론 6/610, 나일론 66/12, 나일론 6/66/610 등), 나일론 MXD6, 나일론 46 등을 들 수 있다.The polyamide may be commercially available. Specifically, nylon 4, nylon 6, nylon 46, nylon 66, nylon 610, nylon 612, nylon 6T,
이들 폴리아미드 중에서도, 나일론 6이나 나일론 6/12이 바람직하다.Among these polyamides, nylon 6 and nylon 6/12 are preferable.
폴리우레탄으로서는, 열가소성 폴리우레탄 엘라스토머가 적합하게 이용된다. 열가소성 폴리우레탄 엘라스토머로서는, 폴리이소시아네이트(예를 들면, 지방족, 지환족 또는 방향족의 디이소시아네이트), 고분자 폴리올(예를 들면, 폴리에테르 폴리올, 폴리카보네이트 폴리올, 아크릴 폴리올) 및 쇄(鎖)신장제(예를 들면, 에틸렌글리콜, 1,2-프로판디올, 1,3-프로판디올, 1,4-부탄디올, 1,6-헥산디올, 디에틸렌글리콜, 트리에틸렌글리콜, 비스페놀 A, p-크실릴렌글리콜 등의 디올류)의 공중합에 의해 얻어지는 것을 들 수 있다.As the polyurethane, a thermoplastic polyurethane elastomer is preferably used. As the thermoplastic polyurethane elastomer, polyisocyanates (eg, aliphatic, alicyclic or aromatic diisocyanates), high molecular polyols (eg, polyether polyols, polycarbonate polyols, acrylic polyols) and chain extenders ( For example, ethylene glycol, 1,2-propanediol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, 1,6-hexanediol, diethylene glycol, triethylene glycol, bisphenol A, p-xylylene those obtained by copolymerization of diols such as glycol).
제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물에 있어서의 수지 (B)의 함유량은, 수지 (A), 수지 (B) 및 후술하는 대전 방지제 (C)의 합계량에 대하여, 5질량부 이상 40질량부 미만이며, 5질량부 이상 35질량부 이하가 바람직하고, 5질량부 이상 30질량부 이하가 보다 바람직하다.Content of resin (B) in the resin composition which comprises 1st resin layer is 5 mass parts or more and less than 40 mass parts with respect to the total amount of resin (A), resin (B), and antistatic agent (C) mentioned later. and 5 mass parts or more and 35 mass parts or less are preferable, and 5 mass parts or more and 30 mass parts or less are more preferable.
수지 (B)의 함유량이 5질량부 미만에서는, 수지 (B)에 의한 내열성 개선 효과가 발휘되지 않는다. 또한, 수지 (B)의 함유량이 40질량부 이상에서는, 제 1 수지층과 제 2 수지층을 포함하는 다이싱 필름 기재의 제조가 곤란해진다. 구체적으로는, 수지 (B)의 함유량이 40질량부 이상 60질량부 미만에서는, 필름 성형은 가능하지만, 제 1 층의 압출이 불안정해져, 제 1 수지층이 되는 필름의 두께 정밀도가 불충분해지기 쉽다. 또한 수지 (B)의 함유량이 60질량부 이상에서는, 필름의 두께 정밀도는 충분하지만, 제 2 수지층과의 층간 접착성이 저하되는 경향이 있다.When content of resin (B) is less than 5 mass parts, the heat resistance improvement effect by resin (B) is not exhibited. Moreover, if content of resin (B) is 40 mass parts or more, manufacture of the dicing film base material containing a 1st resin layer and a 2nd resin layer becomes difficult. Specifically, when the content of the resin (B) is 40 parts by mass or more and less than 60 parts by mass, film molding is possible, but the extrusion of the first layer becomes unstable, and the thickness precision of the film used as the first resin layer becomes insufficient. easy. Moreover, when content of resin (B) is 60 mass parts or more, although the thickness precision of a film is sufficient, there exists a tendency for interlayer adhesiveness with a 2nd resin layer to fall.
<대전 방지제 (C)><Antistatic agent (C)>
제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물은, 수지 (A)와 수지 (B)에 더해, 대전 방지제 (C)를 포함하는 것이 바람직하다. 대전 방지제 (C)는, 수지 조성물에 대전 방지성을 부여할 뿐만 아니라, 수지 (A) 및 수지 (B)와의 상호 작용에 의해, 수지 조성물의 내열성을 더 향상시킨다.It is preferable that the resin composition which comprises a 1st resin layer contains an antistatic agent (C) in addition to resin (A) and resin (B). An antistatic agent (C) not only provides antistatic property to a resin composition, but also improves the heat resistance of a resin composition by interaction with resin (A) and resin (B).
대전 방지제 (C)로서는, 고분자형 대전 방지제나, 계면활성제 등의 저분자형 대전 방지제 등을 들 수 있다. 이들 대전 방지제 중에서는, 블리드 아웃에 의한 표면 오염이 억제되는 점에서, 고분자형 대전 방지제가 바람직하다.Examples of the antistatic agent (C) include high molecular weight antistatic agents and low molecular weight antistatic agents such as surfactants. Among these antistatic agents, a polymer type antistatic agent is preferable at the point that the surface contamination by bleed-out is suppressed.
고분자형 대전 방지제란, 도전성 부위(예를 들면, 폴리에테르 유래의 구조 부위, 4급 암모늄염기 부위 등)와 비도전성 부위(예를 들면, 폴리아미드 유래의 구조 부위, 폴리에틸렌 등의 폴리올레핀 유래의 구조 부위, 아크릴레이트 유래의 구조 부위, 메타크릴레이트 유래의 구조 부위, 스티렌 유래의 구조 부위 등)를 포함하고, 분자량이 300 이상(바람직하게는 1000~10000)의 공중합체이다. 분자량은 GPC로 측정한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량이다.The polymer-type antistatic agent refers to a conductive moiety (for example, a polyether-derived structural moiety, a quaternary ammonium base moiety, etc.) and a non-conductive moiety (e.g., a polyamide-derived structural moiety, a polyolefin-derived structure such as polyethylene) site, acrylate-derived structural moiety, methacrylate-derived structural moiety, styrene-derived structural moiety, etc.), and is a copolymer having a molecular weight of 300 or more (preferably 1000 to 10000). Molecular weight is the weight average molecular weight of polystyrene conversion measured by GPC.
또한, 도전성이란, ASTM D257에 의거하여 측정되는 표면 저항률이 1010Ω/□ 이하인 것을 말한다.In addition, electroconductivity means that the surface resistivity measured based on ASTMD257 is 10 10 ohms/square or less.
고분자형 대전 방지제로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌옥사이드, 폴리프로필렌옥사이드, 폴리에틸렌글리콜, 폴리에테르에스테르아미드, 폴리에테르에스테르, 폴리에테르폴리올레핀, 에틸렌옥사이드·에피클로로히드린계 공중합체 등의 비이온성 고분자형 대전 방지제, 폴리스티렌설폰산 등의 아니온성 고분자형 대전 방지제, 4급 암모늄염 함유 아크릴레이트 중합체, 4급 암모늄염 함유 스티렌 중합체, 4급 암모늄염 함유 폴리에틸렌글리콜메타크릴레이트 중합체 등의 카티온계 고분자형 대전 방지제 등을 들 수 있다.Examples of the polymer-type antistatic agent include nonionic polymer-type antistatic agents such as polyethylene oxide, polypropylene oxide, polyethylene glycol, polyether esteramide, polyether ester, polyether polyolefin, and ethylene oxide/epichlorohydrin-based copolymer. Antistatic agents, anionic polymeric antistatic agents such as polystyrenesulfonic acid, quaternary ammonium salt-containing acrylate polymers, quaternary ammonium salt-containing styrene polymers, and cationic polymeric antistatic agents such as quaternary ammonium salt-containing polyethylene glycol methacrylate polymers can
보다 구체적으로는, 예를 들면, 일본공개특허 특개평1-163234호 공보에 기재되어 있는 폴리에테르에스테르아미드나, 일본공개특허 특개2001-278985호 공보에 기재되어 있는 폴리올레핀의 블록과, 친수성 폴리머의 블록이, 반복하여 번갈아 결합된 구조를 가지는 블록 공중합체, 올레핀계 모노머가 중합되어 이루어지는 올레핀계 블록과 친수성 모노머가 중합되어 이루어지는 친수계 블록이, 반복하여 번갈아 결합된 구조를 가지는 공중합체를 들 수 있다.More specifically, for example, polyether ester amide described in JP-A-H1-163234 or a block of polyolefin disclosed in JP-A 2001-278985, and a hydrophilic polymer block copolymers having a structure in which blocks are repeatedly bonded together, and copolymers having a structure in which olefinic blocks formed by polymerization of olefinic monomers and hydrophilic blocks formed by polymerization of hydrophilic monomers are repeatedly bonded to each other have.
이들 대전 방지제 중에서도, 수지 (A) 및 수지 (B)와의 상용성이나, 내열성과 대전 방지성의 관점에서, 폴리에테르에스테르아미드가 바람직하다. 폴리에테르에스테르아미드란, 폴리아미드에 유래된 구조 부위와, 폴리에테르 유래의 구조 부위를 가지고, 이들 구조 부위가 에스테르 결합된 공중합체를 가리킨다.Among these antistatic agents, from the viewpoint of compatibility with resin (A) and resin (B), heat resistance, and antistatic property, polyether esteramide is preferable. Polyetheresteramide refers to a copolymer having a structural moiety derived from polyamide and a structural moiety derived from polyether, and these structural moieties are ester-bonded.
폴리에테르에스테르아미드에 있어서의 폴리아미드에 유래된 구조 부위를 형성하는 폴리아미드로서, 예를 들면, 디카르본산(예: 옥살산, 숙신산, 아디프산, 세바스산, 도데칸이산, 테레프탈산, 이소프탈산, 1,4-시클로헥산디카르본산 등)과, 디아민(예: 에틸렌디아민, 테트라메틸렌디아민, 펜타메틸렌디아민, 헥사메틸렌디아민, 데카메틸렌디아민, 2,2,4-트리메틸헥사메틸렌디아민, 2,4,4-트리메틸헥사메틸렌디아민, 1,3-비스(아미노메틸)시클로헥산, 1,4-비스(아미노메틸)시클로헥산, 메틸렌비스(4-아미노시클로헥산), m-크실릴렌디아민, p-크실릴렌디아민 등)과의 중축합, ε-카프로락탐, ω-도데카락탐 등의 락탐의 개환 중합, 6-아미노카프론산, 9-아미노노난산, 11-아미노운데칸산, 12-아미노도데칸산 등의 아미노카르본산의 중축합, 혹은 상기 락탐과 디카르본산과 디아민과의 공중합 등에 의해 얻어지는 것이다. 이와 같은 폴리아미드 세그먼트는, 나일론 4, 나일론 6, 나일론 46, 나일론 66, 나일론 610, 나일론 612, 나일론 6T, 나일론 11, 나일론 12, 나일론 6/66, 나일론 6/12, 나일론 6/610, 나일론 66/12, 나일론 6/66/610 등이며, 특히 나일론 11, 나일론 12 등이 바람직하다. 폴리아미드 블록의 분자량은, 예를 들면 400~5000 정도이다.As a polyamide forming a structural moiety derived from polyamide in polyether esteramide, for example, dicarboxylic acid (eg, oxalic acid, succinic acid, adipic acid, sebacic acid, dodecanedioic acid, terephthalic acid, isophthalic acid) , 1,4-cyclohexanedicarboxylic acid, etc.) and diamines (eg, ethylenediamine, tetramethylenediamine, pentamethylenediamine, hexamethylenediamine, decamethylenediamine, 2,2,4-trimethylhexamethylenediamine, 2, 4,4-trimethylhexamethylenediamine, 1,3-bis(aminomethyl)cyclohexane, 1,4-bis(aminomethyl)cyclohexane, methylenebis(4-aminocyclohexane), m-xylylenediamine, polycondensation with p-xylylenediamine, etc.), ring-opening polymerization of lactams such as ε-caprolactam and ω-dodecalactam, 6-aminocaproic acid, 9-aminononanoic acid, 11-aminoundecanoic acid, 12- It is obtained by polycondensation of aminocarboxylic acids, such as aminododecanoic acid, or copolymerization of the said lactam, dicarboxylic acid, and diamine, etc. Such polyamide segments include nylon 4, nylon 6, nylon 46, nylon 66, nylon 610, nylon 612, nylon 6T,
또한, 수지 (B)로서 폴리아미드를 사용하는 경우에는, 대전 방지제 (C)의 폴리아미드 유래의 구조 부위는, 수지 (B)로서 사용하는 폴리아미드 이외의 화합물로 한다.In addition, when using polyamide as resin (B), let the structural site|part derived from polyamide of antistatic agent (C) be a compound other than polyamide used as resin (B).
또한, 폴리에테르 블록으로서는, 폴리옥시에틸렌글리콜, 폴리옥시프로필렌글리콜, 폴리옥시테트라메틸렌글리콜, 폴리옥시에틸렌·폴리옥시프로필렌글리콜 등의 폴리옥시알킬렌글리콜 혹은 이들의 혼합물 등이 예시된다. 이들의 분자량은, 예를 들면 400~6000 정도, 나아가서는 600~5000 정도가 좋다.Moreover, as a polyether block, polyoxyalkylene glycol, such as polyoxyethylene glycol, polyoxypropylene glycol, polyoxytetramethylene glycol, polyoxyethylene polyoxypropylene glycol, or these mixtures, etc. are illustrated. These molecular weights are, for example, about 400-6000, Furthermore, about 600-5000 is good.
폴리에테르에스테르아미드로서는, 폴리옥시알킬렌글리콜(바람직하게는 폴리에틸렌글리콜 또는 폴리프로필렌글리콜)에 유래된 구조 부위가 폴리에테르에스테르아미드의 전체 질량에 대하여 5질량%~80질량%(보다 바람직하게는 15질량%~70질량%) 포함되는 것이 바람직하다. 또한 융점이 190℃ 미만인 폴리에테르에스테르아미드는, 190℃, 2160g 하중에 의해 측정되는 멜트 플로우 레이트(MFR)가 0.1~1000g/10분(보다 바람직하게는 1~100g/10분)인 것이 바람직하고, 융점이 190℃ 이상의 폴리에테르에스테르아미드는, 230℃, 2160g 하중에 의해 측정되는 멜트 플로우 레이트가, 0.1~1000g/10분(보다 바람직하게는 1~100g/10분)인 것이 바람직하다. 또한, 폴리에테르에스테르아미드는, 시차 주사 열량계(DSC)로 측정되는 융점(최대 흡열량을 나타내는 온도)이 130℃~175℃인 것이 바람직하다. 이와 같은 폴리에테르에스테르아미드는, 분자량이 600~5000인 폴리아미드와 폴리옥시알킬렌글리콜과 필요에 따라 카르본산을 반응시킴으로써 얻을 수 있다.As the polyether esteramide, the structural moiety derived from polyoxyalkylene glycol (preferably polyethylene glycol or polypropylene glycol) is 5% by mass to 80% by mass (more preferably 15% by mass) with respect to the total mass of the polyether esteramide. It is preferable that mass % - 70 mass %) is contained. In addition, the polyether esteramide having a melting point of less than 190°C preferably has a melt flow rate (MFR) of 0.1 to 1000 g/10 min (more preferably 1 to 100 g/10 min) measured at 190° C. and a load of 2160 g. Polyetheresteramide having a melting point of 190°C or higher preferably has a melt flow rate of 0.1 to 1000 g/10 min (more preferably 1 to 100 g/10 min) at 230°C and a load of 2160 g. Moreover, it is preferable that the melting|fusing point (the temperature which shows the maximum amount of heat absorption) of polyether esteramide measured with a differential scanning calorimeter (DSC) is 130 degreeC - 175 degreeC. Such polyether esteramide can be obtained by reacting a polyamide having a molecular weight of 600 to 5000, polyoxyalkylene glycol, and, if necessary, carboxylic acid.
저분자형 대전 방지제로서는, 예를 들면, 제 4 급 암모늄염, 피리디늄염, 제 1~제 3급 아미노기 등의 카티온성기를 가지는 카티온성 대전 방지제, 술폰산염기, 황산 에스테르염기, 인산 에스테르염기 등의 아니온성 기를 가지는 아니온성 대전 방지제, 아미노산 대전 방지제, 아미노 황산 에스테르 대전 방지제 등의 양성 대전 방지제, 아미노알코올 대전 방지제, 글리세린 대전 방지제, 폴리에틸렌글리콜 대전 방지제 등의 논이온성 대전 방지제 등을 들 수 있다.Examples of the low-molecular antistatic agent include quaternary ammonium salts, pyridinium salts, cationic antistatic agents having cationic groups such as primary to tertiary amino groups, sulfonate groups, sulfuric acid ester bases, phosphoric acid ester bases, and the like. and positive antistatic agents such as anionic antistatic agents having an anionic group, amino acid antistatic agents and amino sulfate ester antistatic agents, amino alcohol antistatic agents, glycerin antistatic agents, and nonionic antistatic agents such as polyethylene glycol antistatic agents.
대전 방지제는, 시판품을 이용해도 되고, 구체예로서는, 산요화성공업사제의 펠레스타트(PELESTAT) 230, 펠레스타트 HC250, 펠레스타트 300, 펠레스타트 2450, 펠렉트론(PELECTRON) PVL, BASF재팬사제(製)의 이르가스타트 P-16, 동(同) P-18FCA, 동 P-20, 동 P-22 등을 들 수 있다.As an antistatic agent, a commercial item may be used, As a specific example, Sanyo Chemical Industry Co., Ltd. PELESTAT 230, Pelestat HC250, Pelestat 300, Pelestat 2450, PELECTRON PVL, BASF Japan company make Irgastat P-16, the same P-18FCA, the same P-20, the same P-22, etc. are mentioned.
또한, 대전 방지제는 수지 조성물의 내열성을 향상시키는 효과를 높이는 관점에서, 융점이 100℃ 이상 200℃ 이하인 것이 바람직하고, 120℃ 이상 200℃ 이하인 것이 보다 바람직하다. 또한, 융점은, JIS-K7121(1987년)에 준거하여, 시차 주사 열량계(DSC)로 측정한 융해 온도를 이용할 수 있다.Moreover, from a viewpoint of improving the effect of improving the heat resistance of a resin composition, it is preferable that melting|fusing point is 100 degreeC or more and 200 degrees C or less, and, as for an antistatic agent, it is more preferable that they are 120 degreeC or more and 200 degrees C or less. In addition, as melting|fusing point, based on JIS-K7121 (1987), the melting|fusing temperature measured with a differential scanning calorimeter (DSC) can be used.
제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물에 있어서의 대전 방지제 (C)의 함유량은, 수지 (A), 수지 (B) 및 대전 방지제 (C)의 합계량에 대하여, 0질량부 이상 30질량부 이하이며, 5질량부 이상 30질량부 미만이 바람직하고, 5질량부 이상 25질량부 미만이 보다 바람직하다. 대전 방지제 (C)의 함유량이 5질량부 미만에서는, 대전 방지제에 의한 내열성 개선 효과는 발휘되기 어렵고, 30질량부를 초과하면 필름의 확장성이 악화되는 경우가 있다. 제 1 수지층 중의 수지 (A), 수지 (B) 및 대전 방지제 (C)의 합계 함유량은, 80질량% 이상 100질량% 이하가 바람직하고, 90질량% 이상 100질량% 이하가 보다 바람직하다.The content of the antistatic agent (C) in the resin composition constituting the first resin layer is 0 parts by mass or more and 30 parts by mass or less with respect to the total amount of the resin (A), the resin (B), and the antistatic agent (C). , 5 mass parts or more and less than 30 mass parts are preferable, and 5 mass parts or more and less than 25 mass parts are more preferable. When content of an antistatic agent (C) is less than 5 mass parts, the heat resistance improvement effect by an antistatic agent is hard to be exhibited, and when it exceeds 30 mass parts, the extensibility of a film may deteriorate. 80 mass % or more and 100 mass % or less are preferable, and, as for the total content of resin (A) in a 1st resin layer, resin (B), and antistatic agent (C), 90 mass % or more and 100 mass % or less are more preferable.
<다른 중합체 및 첨가제><Other Polymers and Additives>
제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물에는, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서, 필요에 따라 그 밖의 중합체나 각종 첨가제가 첨가되어도 된다. 상기 그 밖의 중합체의 예로서, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 에틸렌·α-올레핀 공중합체(α-올레핀으로서는 프로필렌, 부틸렌, 옥텐 등을 들 수 있음) 등의 폴리올레핀을 들 수 있다. 이와 같은 그 밖의 중합체는, 상기 (A), (B) 및 (C)의 합계 100질량부에 대하여, 예를 들면 20질량부 이하의 비율로 배합할 수 있다. 상기 첨가제의 일례로서, 산화방지제, 열 안정제, 광 안정제, 자외선 흡수제, 안료, 염료, 활제, 블로킹 방지제, 대전 방지제, 방미제, 항균제, 난연제, 난연 조제, 가교제, 가교 조제, 발포제, 발포 조제, 무기 충전제, 섬유 강화재 등을 들 수 있다. 열 융착 방지의 관점에서 상기 첨가제를 소량 첨가해도 된다. 자외선 흡수제의 구체예로서는, 벤조페논계, 벤조에이트계, 벤조트리아졸계, 시아노아크릴레이트계, 힌더드아민계 등; 충전제의 구체예로서는, 실리카, 클레이, 탄산 칼슘, 황산 바륨, 글래스 비즈, 탤크 등을 들 수 있다.Other polymers and various additives may be added to the resin composition constituting the first resin layer as needed within a range that does not impair the effects of the present invention. Examples of the other polymers include polyolefins such as polyethylene, polypropylene, and ethylene/α-olefin copolymer (the α-olefin includes propylene, butylene, octene, and the like). Such other polymers can be mix|blended in the ratio of 20 mass parts or less with respect to a total of 100 mass parts of said (A), (B), and (C). As an example of the additives, antioxidants, heat stabilizers, light stabilizers, ultraviolet absorbers, pigments, dyes, lubricants, antiblocking agents, antistatic agents, mildew inhibitors, antibacterial agents, flame retardants, flame retardant aids, crosslinking agents, crosslinking aids, foaming agents, foaming aids, An inorganic filler, a fiber reinforcement, etc. are mentioned. You may add a small amount of the said additive from a viewpoint of heat-sealing prevention. Specific examples of the ultraviolet absorber include benzophenone, benzoate, benzotriazole, cyanoacrylate, and hindered amine; Specific examples of the filler include silica, clay, calcium carbonate, barium sulfate, glass beads, and talc.
<수지 조성물의 제조 방법><Method for producing a resin composition>
제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물은, 수지 (A), 수지 (B) 및 소망에 따라 대전 방지제 (C), 또한 필요에 따라 그 밖의 중합체나 첨가제를 혼합함으로써 얻을 수 있다. 수지 조성물의 제조 방법에 특별히 한정은 없지만, 예를 들면, 모든 성분을 드라이 블렌드한 후에 용융 혼련함으로써 얻을 수 있다.The resin composition which comprises a 1st resin layer can be obtained by mixing resin (A), resin (B), and an antistatic agent (C) as needed, and another polymer and an additive as needed. Although there is no limitation in particular in the manufacturing method of a resin composition, For example, after dry blending all the components, it can obtain by melt-kneading.
제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물은, 230℃, 2160g 하중에 의해 측정되는 멜트 플로우 레이트(MFR)가, 1g/10분~50g/10분인 것이 바람직하다. 특히 수지 (A)로서 에틸렌·(메타)아크릴산 공중합체 또는 아이오노머 (A)를 사용한 경우에는, 230℃에 있어서의 MFR이 20g/10분 이하인 것이 바람직하다. 230℃에 있어서의 MFR이 20g/10분 이하이면, 140℃에 있어서의 내열성과 확장성과의 밸런스가 우수한 필름이 얻어진다.As for the resin composition which comprises 1st resin layer, it is preferable that melt flow rate (MFR) measured by 230 degreeC and 2160 g load is 1 g/10min - 50 g/10min. When an ethylene/(meth)acrylic acid copolymer or an ionomer (A) is used especially as resin (A), it is preferable that MFR in 230 degreeC is 20 g/10min or less. If MFR in 230 degreeC is 20 g/10min or less, the film excellent in the balance of the heat resistance in 140 degreeC, and expandability will be obtained.
1-2. 제 2 수지층1-2. 2nd resin layer
제 2 수지층은, 수지 (D)를 포함하는 층이며, 수지 (D)는, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지이다. 수지 (D)는, 제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물과의 접착성이 높은 재료이다. 따라서, 제 1 수지층과 적층함으로써, 층간 박리의 문제를 발생시키지 않고, 다이싱 필름 기재의 강도를 높이며, 또한 다이싱 필름에 필요한 칩 분단성과 확장성과의 밸런스를 유지하는 것이 가능해진다.The second resin layer is a layer containing the resin (D), and the resin (D) is at least selected from the group consisting of an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer and an ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer. It is one kind of resin. Resin (D) is a material with high adhesiveness with the resin composition which comprises a 1st resin layer. Therefore, by laminating|stacking with the 1st resin layer, it becomes possible to raise the intensity|strength of a dicing film base material, and to maintain the balance between chip breakability and expandability required for a dicing film without generating the problem of delamination.
<수지 D><Resin D>
본 발명에 있어서의 수지 (D)는, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체(이하, 단순히 「공중합체 (D)」라고도 함) 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머(이하, 단순히 「아이오노머 (D)」라고도 함)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이다. 본 발명에 있어서, 수지 (D)로서 이용하는 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머는, 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 카르복실기의 일부, 또는 모두가 금속(이온)에 의해 중화된 것이다. 본 발명에서는, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 산기 중 적어도 일부가 금속(이온)에 의해 중화되어 있는 것을 「아이오노머」, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 산기가 금속(이온)에 의해 중화되어 있지 않은 것을 「공중합체」라고 한다.The resin (D) in the present invention is an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (hereinafter simply referred to as “copolymer (D)”) and an ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (hereinafter simply referred to as “copolymer (D)”). It is at least 1 sort(s) selected from the group which consists of "ionomer (D)"). In the present invention, the ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer used as the resin (D) is one in which a part or all of the carboxyl groups of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer are neutralized with a metal (ion). . In the present invention, an "ionomer" in which at least a part of the acid groups of the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer is neutralized by a metal (ion), and the acid group of the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer by a metal (ion) What is not neutralized is called a "copolymer."
또한, 하기에서 상세하게 설명하는 바와 같이, 수지 (D)는, 제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물에 포함되는 수지 (A)와 동일한 수지이다.In addition, as demonstrated in detail below, resin (D) is resin similar to resin (A) contained in the resin composition which comprises a 1st resin layer.
상기 공중합체 (D), 또는 그 아이오노머 (D)를 구성하는 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체는, 에틸렌과 불포화 카르본산이 공중합된 적어도 2원의 공중합체이며, 또한 제 3 공중합 성분이 공중합된 3원 이상의 다원 공중합체여도 된다. 또한, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체는, 일종 단독으로 이용해도 되고, 2종 이상의 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체를 병용해도 된다.The ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer constituting the copolymer (D) or the ionomer (D) is at least a binary copolymer in which ethylene and unsaturated carboxylic acid are copolymerized, and the third copolymer component is copolymerized It may be a ternary or more multi-component copolymer. In addition, an ethylene/unsaturated carboxylic acid type copolymer may be used individually by 1 type, and may use 2 or more types of ethylene/unsaturated carboxylic acid type copolymer together.
에틸렌·불포화 카르본산 2원 공중합체를 구성하는 불포화 카르본산으로서는, 예를 들면, 아크릴산, 메타크릴산, 에타크릴산, 이타콘산, 무수 이타콘산, 푸마르산, 크로톤산, 말레산, 무수 말레산 등의 탄소수 4~8의 불포화 카르본산 등을 들 수 있다. 특히, 아크릴산 또는 메타크릴산이 바람직하다.As the unsaturated carboxylic acid constituting the ethylene/unsaturated carboxylic acid binary copolymer, for example, acrylic acid, methacrylic acid, ethacrylic acid, itaconic acid, itaconic anhydride, fumaric acid, crotonic acid, maleic acid, maleic anhydride, etc. and unsaturated carboxylic acids having 4 to 8 carbon atoms. In particular, acrylic acid or methacrylic acid is preferable.
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 (D)가 3원 이상의 다원 공중합체일 때, 다원 공중합체를 형성하는 모노머(제 3 공중합 성분)를 포함해도 된다. 제 3 공중합 성분으로서는, 불포화 카르본산 에스테르(예를 들면, 아크릴산 메틸, 아크릴산 에틸, 아크릴산 이소부틸, 아크릴산 n-부틸, 아크릴산 이소옥틸, 메타크릴산 메틸, 메타크릴산 에틸, 메타크릴산 이소부틸, 말레산 디메틸, 말레산 디에틸 등의 (메타)아크릴산 알킬에스테르), 불포화 탄화수소(예를 들면, 프로필렌, 부텐, 1,3-부타디엔, 펜텐, 1,3-펜타디엔, 1-헥센 등), 비닐에스테르(예를 들면, 아세트산 비닐, 프로피온산 비닐 등), 비닐 황산이나 비닐 질산 등의 산화물, 할로겐 화합물(예를 들면, 염화 비닐, 불화 비닐 등), 비닐기 함유 1, 2급 아민 화합물, 일산화탄소, 이산화유황 등을 들 수 있고, 이들 공중합 성분으로서는, 불포화 카르본산 에스테르가 바람직하다.When the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer (D) is a ternary or more multi-component copolymer, a monomer (third copolymerization component) that forms the multi-component copolymer may also be included. Examples of the third copolymerization component include unsaturated carboxylic acid esters (eg, methyl acrylate, ethyl acrylate, isobutyl acrylate, n-butyl acrylate, isooctyl acrylate, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, isobutyl methacrylate, (meth)acrylic acid alkyl esters such as dimethyl maleate and diethyl maleate), unsaturated hydrocarbons (eg, propylene, butene, 1,3-butadiene, pentene, 1,3-pentadiene, 1-hexene, etc.); Vinyl esters (for example, vinyl acetate, vinyl propionate, etc.), oxides such as vinyl sulfuric acid and vinyl nitric acid, halogen compounds (for example, vinyl chloride, vinyl fluoride, etc.), vinyl group-containing primary and secondary amine compounds, carbon monoxide , sulfur dioxide, and the like, and as these copolymerization components, unsaturated carboxylic acid esters are preferable.
예를 들면, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 (D)가 3원 공중합체인 경우에는, 에틸렌과, 불포화 카르본산과, 불포화 카르본산 에스테르와의 3원 공중합체, 에틸렌과, 불포화 카르본산과, 불포화 탄화수소와의 3원 공중합체 등을 적합하게 들 수 있다.For example, when the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (D) is a ternary copolymer, a ternary copolymer of ethylene, an unsaturated carboxylic acid, and an unsaturated carboxylic acid ester, ethylene, and an unsaturated carboxylic acid; A terpolymer with an unsaturated hydrocarbon, etc. are mentioned suitably.
불포화 카르본산 에스테르로서는, 불포화 카르본산 알킬에스테르가 바람직하고, 알킬에스테르의 알킬 부위의 탄소수는 1~12가 바람직하고, 1~8이 보다 바람직하며, 1~4가 더 바람직하다. 알킬 부위의 예로서는, 메틸, 에틸, n-프로필, 이소프로필, n-부틸, 이소부틸, 세컨더리-부틸, 2-에틸헥실, 이소옥틸 등을 들 수 있다.As unsaturated carboxylic acid ester, unsaturated carboxylic acid alkylester is preferable, 1-12 are preferable, as for carbon number of the alkyl part of alkylester, 1-8 are more preferable, and 1-4 are still more preferable. Examples of the alkyl moiety include methyl, ethyl, n-propyl, isopropyl, n-butyl, isobutyl, secondary-butyl, 2-ethylhexyl, isooctyl and the like.
불포화 카르본산 에스테르의 구체예로서는, 알킬 부위의 탄소수가 1~12의 불포화 카르본산 알킬에스테르(예를 들면, 아크릴산 메틸, 아크릴산 에틸, 아크릴산 이소부틸, 아크릴산 n-부틸, 아크릴산 이소옥틸 등의 아크릴산 알킬에스테르, 메타크릴산 메틸, 메타크릴산 에틸, 메타크릴산 이소부틸 등의 메타크릴산 알킬에스테르, 말레산 디메틸, 말레산 디에틸 등의 말레산 알킬에스테르) 등을 들 수 있다.Specific examples of the unsaturated carboxylic acid ester include unsaturated carboxylic acid alkyl esters having 1 to 12 carbon atoms in the alkyl moiety (for example, acrylic acid alkyl esters such as methyl acrylate, ethyl acrylate, isobutyl acrylate, n-butyl acrylate, and isooctyl acrylate) , methyl methacrylate, ethyl methacrylate, methacrylic acid alkyl esters such as isobutyl methacrylate, maleic acid alkyl esters such as dimethyl maleate and diethyl maleate); and the like.
불포화 카르본산 알킬에스테르 중에서는, 알킬 부위의 탄소수가 1~4의 (메타)아크릴산 알킬에스테르가 보다 바람직하다.Among the unsaturated carboxylic acid alkylesters, (meth)acrylic acid alkylesters having 1 to 4 carbon atoms in the alkyl moiety are more preferable.
공중합체의 형태는, 블록 공중합체, 랜덤 공중합체, 그래프트 공중합체 중 어느 것이어도 되고, 2원 공중합체, 3원 공중합체 중 어느 것이어도 된다. 그 중에서도, 공업적으로 입수 가능한 점에서, 2원 랜덤 공중합체, 3원 랜덤 공중합체, 2원 랜덤 공중합체의 그래프트 공중합체 혹은 3원 랜덤 공중합체의 그래프트 공중합체가 바람직하고, 보다 바람직하게는 2원 랜덤 공중합체 또는 3원 랜덤 공중합체이다.Any of a block copolymer, a random copolymer, and a graft copolymer may be sufficient as the form of a copolymer, and any of a binary copolymer and a terpolymer may be sufficient. Among them, from the viewpoint of being industrially available, a binary random copolymer, a ternary random copolymer, a graft copolymer of a binary random copolymer, or a graft copolymer of a ternary random copolymer is preferable, and more preferably binary random copolymer or ternary random copolymer.
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 구체예로서는, 에틸렌·아크릴산 공중합체, 에틸렌·메타크릴산 공중합체 등의 2원 공중합체, 에틸렌·메타크릴산·아크릴산 이소부틸 공중합체 등의 3원 공중합체를 들 수 있다. 또한, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체로서 출시되고 있는 시판품을 이용해도 되고, 예를 들면, 미쓰이·듀폰 폴리케미칼사제의 뉴크렐 시리즈(등록 상표) 등을 사용할 수 있다.Specific examples of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer include binary copolymers such as ethylene/acrylic acid copolymer and ethylene/methacrylic acid copolymer, and terpolymers such as ethylene/methacrylic acid/isobutyl acrylate copolymer. can be heard Moreover, you may use the commercial item marketed as an ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer, For example, the Nucrel series (trademark) manufactured by Mitsui DuPont Polychemicals, etc. can be used.
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 중에 있어서의, 불포화 카르본산의 공중합비(질량비)는, 4질량%~20질량%가 바람직하고, 보다 바람직하게는 5질량%~15질량%이다. 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 중에 있어서의, 불포화 카르본산 에스테르의 공중합비(질량비)는, 1질량%~20질량%가 바람직하고, 보다 바람직하게는 5질량%~15질량%이다. 불포화 카르본산 에스테르 유래의 구성 단위의 함유 비율은, 확장성의 관점에서, 1질량% 이상, 바람직하게는 5질량% 이상인 것이 바람직하다. 또한, 불포화 카르본산 에스테르 유래의 구성 단위의 함유 비율은, 블로킹 및 융착을 방지하는 관점에서는, 20질량% 이하인 것이 바람직하고, 15질량% 이하인 것이 보다 바람직하다.4 mass % - 20 mass % are preferable, as for the copolymerization ratio (mass ratio) of unsaturated carboxylic acid in an ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer, More preferably, they are 5 mass % - 15 mass %. 1 mass % - 20 mass % are preferable, as for the copolymerization ratio (mass ratio) of the unsaturated carboxylic acid ester in an ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer, More preferably, they are 5 mass % - 15 mass %. The content rate of the structural unit derived from unsaturated carboxylic acid ester is 1 mass % or more from a scalability viewpoint, It is preferable that it is preferably 5 mass % or more. Moreover, it is preferable that it is 20 mass % or less from a viewpoint of preventing blocking and fusion|fusion, and, as for the content rate of the structural unit derived from unsaturated carboxylic acid ester, it is more preferable that it is 15 mass % or less.
본 발명에 있어서 수지 (D)로서 이용하는 아이오노머 (D)는, 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체에 포함되는 카르복실기가 금속 이온에 의해 임의의 비율로 가교(중화)된 것이 바람직하다. 산기의 중화에 이용되는 금속 이온으로서는, 리튬 이온, 나트륨 이온, 칼륨 이온, 루비듐 이온, 세슘 이온, 아연 이온, 마그네슘 이온, 망간 이온 등의 금속 이온을 들 수 있다. 이들 금속 이온 중에서도, 공업화 제품의 입수 용이성으로부터 마그네슘 이온, 나트륨 이온 및 아연 이온이 바람직하고, 나트륨 이온 및 아연 이온이 보다 바람직하다.In the ionomer (D) used as the resin (D) in the present invention, the carboxyl group contained in the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer is preferably crosslinked (neutralized) in an arbitrary ratio with a metal ion. Metal ions, such as a lithium ion, a sodium ion, a potassium ion, a rubidium ion, a cesium ion, a zinc ion, a magnesium ion, and a manganese ion, are mentioned as a metal ion used for neutralization of an acidic radical. Among these metal ions, a magnesium ion, a sodium ion, and a zinc ion are preferable from the viewpoint of the availability of industrialized products, and a sodium ion and a zinc ion are more preferable.
아이오노머 (D)에 있어서의 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 중화도는, 10%~85%가 바람직하고, 15%~82%가 더 바람직하다. 중화도가 10% 이상이면, 칩 분단성을 보다 향상시킬 수 있으며, 85% 이하임으로써, 가공성이나 성형성이 우수하다.10 % - 85 % are preferable and, as for the neutralization degree of the ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer in an ionomer (D), 15 % - 82 % are more preferable. When the degree of neutralization is 10% or more, chip breakability can be further improved, and when it is 85% or less, workability and moldability are excellent.
또한, 중화도란, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체가 가지는 산기, 특히 카르복실기의 몰수에 대한, 금속 이온의 배합 비율(몰%)이다.In addition, the neutralization degree is the compounding ratio (mol%) of the metal ion with respect to the mole number of the acidic radical which an ethylene-unsaturated carboxylic acid type copolymer has, especially a carboxyl group.
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 그 아이오노머의 멜트 플로우 레이트(MFR)는, 0.2g/10분~20.0g/10분의 범위가 바람직하고, 0.5g/10분~20.0g/10분이 보다 바람직하며, 0.5g/10분~18.0g/10분이 더 바람직하다. 멜트 플로우 레이트가 상기 범위 내이면, 성형할 때에 유리하다.The melt flow rate (MFR) of the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer and its ionomer is preferably in the range of 0.2 g/10 min to 20.0 g/10 min, and more than 0.5 g/10 min to 20.0 g/10 min. Preferably, 0.5 g/10 min to 18.0 g/10 min is more preferable. When a melt flow rate is in the said range, it is advantageous at the time of shaping|molding.
또한, MFR은, JIS K7210-1999에 준거한 방법에 의해 190℃, 하중 2160g에 의해 측정되는 값이다.In addition, MFR is a value measured by the method based on JISK7210-1999 at 190 degreeC and 2160 g of loads.
제 2 수지층 중의 수지 (D)의 함유량은, 80질량% 이상 100질량% 이하가 바람직하고, 90질량% 이상 100질량% 이하가 보다 바람직하다.80 mass % or more and 100 mass % or less are preferable, and, as for content of resin (D) in a 2nd resin layer, 90 mass % or more and 100 mass % or less are more preferable.
<첨가제><Additives>
제 2 수지층을 구성하는 수지 (D)에는, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 범위에서, 필요에 따라 각종 첨가제나 그 밖의 수지가 첨가되어도 된다. 상기 첨가제의 일례로서, 산화방지제, 열 안정제, 광 안정제, 자외선 흡수제, 안료, 염료, 활제, 블로킹 방지제, 대전 방지제, 방미제, 항균제, 난연제, 난연 조제, 가교제, 가교 조제, 발포제, 발포 조제, 무기 충전제, 섬유 강화재 등을 들 수 있다. 열 융착 방지의 관점에서 상기 첨가제를 소량 첨가해도 된다. 자외선 흡수제의 구체예로서는, 벤조페논계, 벤조에이트계, 벤조트리아졸계, 시아노아크릴레이트계, 힌더드아민계 등; 충전제의 구체예로서는, 실리카, 클레이, 탄산 칼슘, 황산 바륨, 글래스 비즈, 탤크 등을 들 수 있다. 그 밖의 수지로서는, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 에틸렌·α-올레핀 공중합체 등을 들 수 있다.Various additives and other resin may be added to resin (D) which comprises a 2nd resin layer as needed in the range which does not impair the effect of this invention. As an example of the additive, antioxidants, heat stabilizers, light stabilizers, ultraviolet absorbers, pigments, dyes, lubricants, antiblocking agents, antistatic agents, mildew inhibitors, antibacterial agents, flame retardants, flame retardant aids, crosslinking agents, crosslinking aids, foaming agents, foaming aids, An inorganic filler, a fiber reinforcement, etc. are mentioned. You may add a small amount of the said additive from a viewpoint of heat-sealing prevention. Specific examples of the ultraviolet absorber include benzophenone, benzoate, benzotriazole, cyanoacrylate, and hindered amine; Specific examples of the filler include silica, clay, calcium carbonate, barium sulfate, glass beads, and talc. Examples of other resins include polyethylene, polypropylene, and ethylene/α-olefin copolymer.
1-3. 층 구성1-3. layer composition
본 발명의 다이싱 필름 기재는, 상기 제 1 수지층 및 상기 제 2 수지층을 포함하는 다이싱 필름 기재이다(도 1 참조). 다이싱 필름 기재는, 상기 2층을 포함하는 한, 그 층 구성은 특별히 한정되지 않지만, 층간 박리를 방지하는 관점에서, 제 1 수지층과 제 2 수지층은 직접 적층되어 있는 것이 바람직하다.The dicing film base material of this invention is a dicing film base material containing the said 1st resin layer and the said 2nd resin layer (refer FIG. 1). Although the layer structure is not specifically limited as long as a dicing film base material contains the said two layers, From a viewpoint of preventing delamination, it is preferable that the 1st resin layer and the 2nd resin layer are laminated|stacked directly.
제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물에 포함되는 수지 (A)와, 제 2 수지층을 구성하는 수지 (D)는 동일한 수지여도 상이하게 되어 있어도 된다. 제 1 수지층과 제 2 수지층의 바람직한 조합으로서는, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머와 에틸렌·불포화 카르본산 공중합체의 아이오노머와의 조합이, 칩 분단성, 확장성의 관점에서 바람직하다.Resin (A) contained in the resin composition which comprises a 1st resin layer, and resin (D) which comprises a 2nd resin layer may be the same resin, or may be different. As a preferable combination of the first resin layer and the second resin layer, the combination of the ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer and the ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer is preferable from the viewpoint of chip breakability and expandability. do.
다이싱 필름 기재는, 3층 이상이 되는 다층 구성이어도 된다. 예를 들면, 제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물을 이용하여 성형되는 시트를 복수 적층한 곳에, 제 2 수지층을 마련한 구성이어도 되고, 2개의 제 1 수지층으로 제 2 수지층을 사이에 끼운 구성이어도 된다. 또한, 제 1 수지층과 제 2 수지층에 더해, 다른 수지층을 적층한 구성이어도 된다.The multilayer structure used as three or more layers may be sufficient as a dicing film base material. For example, a configuration in which a second resin layer is provided in a place in which a plurality of sheets to be molded using the resin composition constituting the first resin layer are laminated may be employed, or the second resin layer is sandwiched by two first resin layers. configuration may be sufficient. Moreover, in addition to the 1st resin layer and the 2nd resin layer, the structure which laminated|stacked the other resin layer may be sufficient.
본 발명의 다이싱 필름 기재에 적층하는 다른 수지층을 구성하는 수지는, 직쇄상 저밀도 폴리에틸렌(LLDPE), 저밀도 폴리에틸렌(LDPE), 에틸렌-α 올레핀 공중합체, 폴리프로필렌, 및 에틸렌·비닐에스테르 공중합체로부터 선택되는, 단체 혹은 임의의 복수로 이루어지는 블렌드물을 대표예로서 들 수 있다.The resin constituting the other resin layer laminated on the dicing film substrate of the present invention is linear low-density polyethylene (LLDPE), low-density polyethylene (LDPE), ethylene-α olefin copolymer, polypropylene, and ethylene/vinyl ester copolymer. A typical example is a blend product selected from, single-piece or an arbitrary plurality.
또한, 적층하는 다른 수지층은 기능성층(예를 들면, 점착 시트 등)이어도 되고, 폴리올레핀 필름(또는 시트), 폴리염화 비닐 필름(또는 시트) 등의 기재여도 된다. 상기 기재는, 단층 또는 다층 중 어느 구조를 가지는 것이어도 된다. 본 발명에 있어서는 이들 기재를 포함하여 「다이싱 필름 기재」라고 한다.In addition, the other resin layer to be laminated|stacked may be a functional layer (for example, adhesive sheet etc.), and may be sufficient as a base material, such as a polyolefin film (or sheet), a polyvinyl chloride film (or a sheet|seat). The substrate may have either a single layer or a multilayer structure. In this invention, including these base materials, it is called "dicing film base material."
다이싱 필름 기재 표면의 접착력을 향상시키기 위해, 다이싱 필름 기재 표면에, 예를 들면 코로나 방전 처리 등의 공지의 표면 처리를 실시해도 된다.In order to improve the adhesive force of the dicing film base material surface, you may give well-known surface treatment, such as corona discharge treatment, to the dicing film base material surface, for example.
또한, 내열성 향상의 관점에서, 제 1 수지층, 제 2 수지층이나 다른 수지층, 또는 다이싱 필름 기재에, 필요에 따라, 전자선 조사를 행해도 된다.Moreover, you may irradiate an electron beam to a 1st resin layer, a 2nd resin layer, another resin layer, or a dicing film base material from a viewpoint of a heat resistance improvement as needed.
1-4. 제조 방법1-4. Manufacturing method
본 발명의 다이싱 필름 기재의 제조 방법으로서는, 제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물 및 제 2 수지층을 구성하는 수지 (D)를 각각 공지의 방법으로 필름 형상으로 가공하여, 적층하는 방법을 들 수 있다. 수지 조성물 또는 수지를 필름 형상으로 가공하는 방법에 특별히 한정은 없지만, 예를 들면, 종래 공지의 T 다이 캐스트 성형법, T 다이 닙 성형법, 인플레이션 성형법, 압출 라미네이트법, 캘린더 성형법 등의 각종 성형 방법으로, 필름을 제조할 수 있다.As a manufacturing method of the dicing film base material of this invention, the resin composition which comprises a 1st resin layer, and resin (D) which comprises a 2nd resin layer are processed into a film shape by a well-known method, respectively, and the method of laminating|stacking is mentioned. can Although there is no particular limitation on the method of processing the resin composition or resin into a film shape, for example, the conventionally known T die cast molding method, T die nip molding method, inflation molding method, extrusion lamination method, calender molding method, etc. Various molding methods, Films can be made.
또한, 본 발명의 다이싱 필름 기재는, 제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물과, 제 2 수지층을 구성하는 수지 (D)를, 예를 들면, 공압출 라미네이트를 행함으로써 제조할 수 있다.Moreover, the dicing film base material of this invention can be manufactured by performing coextrusion lamination of the resin composition which comprises a 1st resin layer, and resin (D) which comprises a 2nd resin layer, for example.
예를 들면, 제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물을 T 다이 필름 성형기, 또는 압출 코팅 성형기 등에 의해 제 2 수지층이 되는 수지 (D)의 필름의 표면에 적층하는 경우에는, 제 2 수지층과의 접착성을 향상시키기 위해, 공압출 코팅 성형기에 의해 접착성 수지층을 개재하여 형성되어도 된다. 이와 같은 접착성 수지로서는, 전술의 각종 에틸렌 공중합체, 혹은 이들의 불포화 카르본산 그래프트물로부터 선택되는, 단체 혹은 임의의 복수로 이루어지는 블렌드물을 대표예로서 들 수 있다.For example, when laminating the resin composition constituting the first resin layer on the surface of the film of the resin (D) used as the second resin layer by a T-die film molding machine or an extrusion coating molding machine, the second resin layer and In order to improve the adhesiveness of , it may be formed through an adhesive resin layer by a co-extrusion coating molding machine. As such an adhesive resin, a single-piece|unit selected from the above-mentioned various ethylene copolymers, or these unsaturated carboxylic acid graft materials, or the blend which consists of arbitrary plurality is mentioned as a representative example.
또한, 본 발명의 다이싱 필름 기재의 성형 예로서 T 다이 필름 성형기, 또는, 압출 코팅 성형기를 이용하여, 제 2 수지층이 되는 수지 (D)의 필름의 표면에, 제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물을 열 접착시킴으로써 중층체(重層體)를 형성하는 방법을 들 수 있다.In addition, as a molding example of the dicing film substrate of the present invention, a T-die film molding machine or an extrusion coating molding machine is used to form a first resin layer on the surface of the film of the resin (D) serving as the second resin layer The method of forming a laminated body by heat-bonding a resin composition is mentioned.
또한, 제 2 수지층이 되는 수지 (D)의 필름 상에, 제 1 수지층이 되는 수지 조성물로 이루어지는 층을 형성하는 방법에 대하여 기재하였지만, 이와 반대로, 제 1 수지층이 되는 수지 조성물의 필름 상에, 제 2 수지층이 되는 수지 (D)로 층을 형성하거나, 다른 수지층의 위에 제 1 수지나 제 2 수지층을 마련하는 방법으로도, 본 발명의 다이싱 필름 기재를 제조할 수 있다.Moreover, although the method of forming the layer which consists of the resin composition used as a 1st resin layer on the film of resin (D) used as a 2nd resin layer was described, on the contrary, the film of the resin composition used as a 1st resin layer on the contrary. The dicing film base material of this invention can be manufactured also by the method of forming a layer with the resin (D) used as a 2nd resin layer, or providing a 1st resin or a 2nd resin layer on top of another resin layer. have.
다이싱 필름 기재의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 다이싱 필름의 구성 부재로서 이용하는 것을 고려하면, 다이싱 시의 프레임 유지의 관점에서 65㎛ 이상, 확장성의 관점에서 200㎛ 이하인 것이 바람직하다. 또한, 다이싱 필름 기재를 구성하는 각 수지층의 두께는, 그들의 합계가 다이싱 필름 기재의 상기 두께를 넘지 않는 한 특별히 한정은 없지만, 제 1 수지층, 제 2 수지층 모두 30㎛ 이상 100㎛ 이하인 것이 바람직하고, 제 1 수지층과 제 2 수지층과의 두께의 비는, 30/70~70/30인 것이 바람직하다.Although the thickness of the dicing film base material is not particularly limited, considering its use as a constituent member of the dicing film, it is preferably 65 µm or more from the viewpoint of frame holding during dicing and 200 µm or less from the viewpoint of expandability. The thickness of each resin layer constituting the dicing film substrate is not particularly limited as long as their total does not exceed the thickness of the dicing film substrate, but both the first resin layer and the second resin layer are 30 µm or more and 100 µm It is preferable that it is the following, and it is preferable that ratio of the thickness of a 1st resin layer and a 2nd resin layer is 30/70-70/30.
2. 다이싱 필름2. Dicing Film
본 발명의 제 2 양태는, 상기 서술한 본 발명의 다이싱 필름 기재와, 그 중 적어도 일방의 면에 적층된 점착층을 구비한 다이싱 필름이다. 도 2는, 본 발명의 다이싱 필름(20)의 일 실시 형태를 나타내는 단면도이다. 도 2에 나타내는 바와 같이, 본 발명의 다이싱 필름(20)은, 제 1 수지층(1) 및 제 2 수지층(2)을 포함하는 다이싱 필름 기재(10)와, 그 표면에 마련된 점착층(11)을 가진다.A 2nd aspect of this invention is a dicing film provided with the dicing film base material of this invention mentioned above, and the adhesion layer laminated|stacked on at least one surface of them. 2 : is sectional drawing which shows one Embodiment of the dicing
다이싱 필름은, 내열성의 관점에서, 제 1 수지층이 최표층이 되도록 구성되는 것이 바람직하고, 또한 그 최표층에 점착층이 형성된 구성이 보다 바람직하다. 점착층은, 다이싱 필름 기재의 표면에 배치된다. 이 점착층을 개재하여 반도체 웨이퍼에 다이싱 필름을 접착하여, 반도체 웨이퍼의 다이싱을 행할 수 있다.From a heat resistant viewpoint, it is preferable to be comprised so that a 1st resin layer may become an outermost layer, and the structure in which the adhesion layer was formed in the outermost layer is more preferable. The adhesion layer is arrange|positioned on the surface of a dicing film base material. A dicing film can be adhere|attached to a semiconductor wafer through this adhesion layer, and a semiconductor wafer can be diced.
상기한 바와 같이, 본 발명의 다이싱 필름 기재는 우수한 내열성을 가지므로, 본 발명의 다이싱 필름도 마찬가지로, 우수한 내열성을 가지고, 또한 칩 분단성과 확장성과의 밸런스가 우수한 필름이다. 이 때문에, 본 발명의 다이싱 필름을 이용하면, 효율적이고 또한 고정밀도로 반도체 웨이퍼를 가공할 수 있다.As described above, since the dicing film substrate of the present invention has excellent heat resistance, the dicing film of the present invention is also a film having excellent heat resistance and excellent balance between chip breakability and expandability. For this reason, if the dicing film of this invention is used, a semiconductor wafer can be processed efficiently and with high precision.
<점착층><Adhesive layer>
본 발명의 다이싱 필름은, 본 발명의 다이싱 필름 기재와, 다이싱 필름 기재의 편면에 마련된 점착층을 구비하는 것이며, 점착층에, 다이싱 가공의 대상이 되는 반도체 웨이퍼가 첩착 고정된다. 점착층의 두께는, 점착제의 종류에도 따르지만, 3~100㎛인 것이 바람직하고, 3~50㎛인 것이 더 바람직하다.The dicing film of this invention is equipped with the dicing film base material of this invention, and the adhesive layer provided on the single side|surface of the dicing film base material, The semiconductor wafer used as the object of dicing is stuck and fixed to the adhesive layer. Although the thickness of an adhesion layer also depends on the kind of adhesive, it is preferable that it is 3-100 micrometers, and it is more preferable that it is 3-50 micrometers.
점착층을 구성하는 점착제로서, 종래 공지의 점착제를 이용할 수 있다. 점착제의 예에는, 고무계, 아크릴계, 실리콘계, 폴리비닐에테르계의 점착제; 방사선 경화형 점착제; 가열 발포형 점착제 등이 포함된다. 그 중에서도, 반도체 웨이퍼로부터의 다이싱 필름의 박리성 등을 고려하면, 점착층은 자외선 경화형 점착제를 포함하는 것이 바람직하다.As the pressure-sensitive adhesive constituting the pressure-sensitive adhesive layer, a conventionally known pressure-sensitive adhesive can be used. Examples of the pressure-sensitive adhesive include a rubber-based, acrylic-based, silicone-based, and polyvinyl ether-based pressure-sensitive adhesive; radiation curing adhesive; Heat-foaming type adhesive, etc. are included. Especially, when the peelability of the dicing film from a semiconductor wafer, etc. are considered, it is preferable that an adhesive layer contains an ultraviolet curable adhesive.
점착층을 구성할 수 있는 아크릴계 점착제의 예에는, (메타)아크릴산 에스테르의 단독 중합체, 및 (메타)아크릴산 에스테르와 공중합성 모노머와의 공중합체가 포함된다. (메타)아크릴산 에스테르의 구체예에는, (메타)아크릴산 메틸, (메타)아크릴산 에틸, (메타)아크릴산 부틸, (메타)아크릴산 2-에틸헥실, (메타)아크릴산 옥틸, (메타)아크릴산 이소노닐 등의 (메타)아크릴산 알킬에스테르, (메타)아크릴산 히드록시에틸, (메타)아크릴산 히드록시부틸, (메타)아크릴산 히드록시헥실 등의 (메타)아크릴산 히드록시알킬에스테르, (메타)아크릴산 글리시딜에스테르 등이 포함된다.Examples of the acrylic pressure-sensitive adhesive capable of constituting the pressure-sensitive adhesive layer include a homopolymer of (meth)acrylic acid ester, and a copolymer of (meth)acrylic acid ester and a copolymerizable monomer. Specific examples of the (meth)acrylic acid ester include methyl (meth)acrylate, ethyl (meth)acrylate, butyl (meth)acrylate, 2-ethylhexyl (meth)acrylate, octyl (meth)acrylate, isononyl (meth)acrylate, etc. (meth)acrylic acid alkyl ester, (meth)acrylic acid hydroxyethyl, (meth)acrylic acid hydroxybutyl, (meth)acrylic acid hydroxyalkyl ester, such as (meth)acrylic acid hydroxyhexyl, (meth)acrylic acid glycidyl ester etc. are included.
(메타)아크릴산 에스테르와의 공중합성 모노머의 구체예에는, (메타)아크릴산, 이타콘산, 무수 말레산, (메타)아크릴산 아미드, (메타)아크릴산 N-히드록시메틸아미드, (메타)아크릴산 알킬아미노알킬에스테르(예를 들면, 디메틸아미노에틸메타크릴레이트, t-부틸아미노에틸메타크릴레이트 등), 아세트산 비닐, 스티렌, 아크릴로니트릴 등이 포함된다.Specific examples of the monomer copolymerizable with (meth)acrylic acid ester include (meth)acrylic acid, itaconic acid, maleic anhydride, (meth)acrylic acid amide, (meth)acrylic acid N-hydroxymethylamide, (meth)acrylic acid alkylamino alkyl esters (eg, dimethylaminoethyl methacrylate, t-butylaminoethyl methacrylate, etc.), vinyl acetate, styrene, acrylonitrile, and the like.
점착층을 구성할 수 있는 자외선 경화형 점착제는, 특별히 한정되지 않지만, 상기 아크릴계 점착제와, 자외선 경화 성분(아크릴계 점착제의 폴리머 측쇄에 탄소-탄소 이중 결합을 부가할 수 있는 성분)과, 광중합 개시제를 함유한다. 또한, 자외선 경화형 접착제에는, 필요에 따라 가교제, 점착 부여제, 충전제, 노화 방지제, 착색제 등의 첨가제 등을 첨가해도 된다.The UV-curable pressure-sensitive adhesive capable of constituting the pressure-sensitive adhesive layer is not particularly limited, but contains the acrylic pressure-sensitive adhesive, an ultraviolet curing component (a component capable of adding a carbon-carbon double bond to the polymer side chain of the acrylic pressure-sensitive adhesive), and a photopolymerization initiator. do. Moreover, you may add additives, such as a crosslinking agent, a tackifier, a filler, an antioxidant, a coloring agent, to an ultraviolet curing adhesive agent as needed.
자외선 경화형 점착제에 포함되는 자외선 경화 성분이란, 예를 들면 분자 중에 탄소-탄소 이중 결합을 가지고, 라디칼 중합에 의해 경화 가능한 모노머, 올리고머, 또는 폴리머이다. 자외선 경화 성분의 구체예에는, 트리메틸올프로판트리(메타)아크릴레이트, 펜타에리스리톨트리(메타)아크릴레이트, 테트라에틸렌글리콜디(메타)아크릴레이트, 1,6-헥산디올(메타)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메타)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨헥사(메타)아크릴레이트 등의 (메타)아크릴산과 다가 알코올과의 에스테르, 또한 그 올리고머; 2-프로페닐디-3-부테닐시아누레이트, 2-히드록시에틸비스(2-아크릴옥시에틸)이소시아누레이트, 트리스(2-메크릴옥시에틸)이소시아누레이트, 트리스(2-메타크릴옥시에틸)이소시아누레이트 등의 이소시아누레이트 등이 포함된다.The ultraviolet curable component contained in the ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive is, for example, a monomer, oligomer, or polymer that has a carbon-carbon double bond in the molecule and can be cured by radical polymerization. Specific examples of the ultraviolet curing component include trimethylolpropane tri(meth)acrylate, pentaerythritol tri(meth)acrylate, tetraethylene glycol di(meth)acrylate, 1,6-hexanediol (meth)acrylate, neo esters of (meth)acrylic acid and polyhydric alcohols such as pentyl glycol di(meth)acrylate and dipentaerythritol hexa(meth)acrylate, and oligomers thereof; 2-propenyldi-3-butenylcyanurate, 2-hydroxyethylbis(2-acryloxyethyl)isocyanurate, tris(2-methacryloxyethyl)isocyanurate, tris(2- isocyanurates, such as methacryloxyethyl) isocyanurate, etc. are contained.
자외선 경화형 점착제에 포함되는 광중합 개시제의 구체예에는, 벤조인메틸에테르, 벤조인이소프로필에테르, 벤조인이소부틸에테르 등의 벤조인알킬에테르류, α-히드록시시클로헥실페닐케톤 등의 방향족 케톤류, 벤질디메틸케탈 등의 방향족 케탈류, 폴리비닐벤조페논, 클로로티오크산톤, 도데실티오크산톤, 디메틸티오크산톤, 디에틸티오크산톤 등의 티오크산톤류 등이 포함된다.Specific examples of the photopolymerization initiator contained in the UV-curable pressure-sensitive adhesive include benzoin alkyl ethers such as benzoin methyl ether, benzoin isopropyl ether, and benzoin isobutyl ether; aromatic ketones such as α-hydroxycyclohexylphenyl ketone; Aromatic ketals, such as benzyl dimethyl ketal, thioxanthone, such as polyvinyl benzophenone, chloro thioxanthone, dodecyl thioxanthone, dimethyl thioxanthone, and diethyl thioxanthone, etc. are contained.
자외선 경화형 점착제에 포함되는 가교제의 예에는, 폴리이소시아네이트 화합물, 멜라민 수지, 요소 수지, 폴리아민, 카르복실기 함유 폴리머 등이 포함된다.Examples of the crosslinking agent contained in the ultraviolet curable pressure-sensitive adhesive include a polyisocyanate compound, a melamine resin, a urea resin, a polyamine, a carboxyl group-containing polymer, and the like.
본 발명의 다이싱 필름의 점착층의 표면에는, 세퍼레이터를 부착하는 것이 바람직하다. 세퍼레이터를 첩부함으로써, 점착층의 표면을 평활하게 유지할 수 있다. 또한, 반도체 제조용 필름의 취급이나 운반이 용이해짐과 함께, 세퍼레이터 상에 라벨 가공하는 것도 가능해진다.It is preferable to attach a separator to the surface of the adhesion layer of the dicing film of this invention. By affixing a separator, the surface of an adhesion layer can be kept smooth. Moreover, while handling and conveyance of the film for semiconductor manufacture become easy, it also becomes possible to label-process on a separator.
세퍼레이터는, 종이, 또는 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 합성 수지 필름 등일 수 있다. 또한, 세퍼레이터의 점착층과 접하는 면에는, 점착층으로부터의 박리성을 높이기 위해, 필요에 따라 실리콘 처리나 불소 처리 등의 이형 처리가 실시되고 있어도 된다. 세퍼레이터의 두께는, 통상 10~200㎛, 바람직하게는 25~100㎛ 정도이다.The separator may be paper or a synthetic resin film such as polyethylene, polypropylene, or polyethylene terephthalate. Moreover, in order to improve the peelability from an adhesion layer, the release process, such as a silicone treatment and a fluorine treatment, may be given to the surface of a separator in contact with the adhesion layer as needed. The thickness of a separator is 10-200 micrometers normally, Preferably it is about 25-100 micrometers.
<다이싱 필름의 제조 방법><Method for producing dicing film>
본 발명의 다이싱 필름을 제조할 때에는 점착제를 공지의 방법, 예를 들면 그라비어 롤 코터, 리버스 롤 코터, 키스 롤 코터, 딥 롤 코터, 바 코터, 나이프 코터, 스프레이 코터 등을 이용하여, 다이싱 필름 기재에 직접 도포하는 방법, 혹은 박리 시트 상에 점착제를 상기 공지의 방법으로 도포하여 점착층을 마련한 후, 다이싱 필름 기재의 표면층에 첩착하여 점착층을 전사하는 방법 등을 이용할 수 있다.When manufacturing the dicing film of the present invention, the pressure-sensitive adhesive is diced using a known method, for example, a gravure roll coater, a reverse roll coater, a kiss roll coater, a dip roll coater, a bar coater, a knife coater, a spray coater, etc. A method of applying directly to a film substrate, or a method of applying an adhesive on a release sheet by the above-known method to provide an adhesive layer, and then attaching it to the surface layer of a dicing film substrate to transfer the adhesive layer, etc. can be used.
또한, 제 1 수지층을 구성하는 수지 조성물과, 점착층을 구성하는 재료를 공압출함으로써 적층 필름을 얻고(공압출 성형법), 거기에 제 2 수지층을 마련함으로써, 다이싱 필름이 제조될 수 있다.In addition, by co-extruding the resin composition constituting the first resin layer and the material constituting the adhesive layer, a laminated film is obtained (co-extrusion molding method), and by providing a second resin layer thereto, a dicing film can be produced have.
또한, 점착제 조성물의 층을, 필요에 따라 가열 가교를 실시하여 점착층으로 해도 된다.Moreover, it is good also considering the layer of an adhesive composition as an adhesive layer by heat-crosslinking as needed.
또한, 점착층의 표면 상에 세퍼레이터를 부착해도 된다.Moreover, you may stick a separator on the surface of an adhesion layer.
실시예Example
이어서, 본 발명을 실시예에 의거하여 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들의 실시예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 특별히 언급이 없는 한, 「부(部)」는 질량 기준이다.Next, although this invention is demonstrated in detail based on an Example, this invention is not limited to these Examples. In addition, unless otherwise indicated, "part" is a mass basis.
1. 수지 (A)1. Resin (A)
수지 (A)로서, 하기의 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머(이하, 「아이오노머」라고 함) 및 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체(이하, 「공중합체」라고 생략함)를 준비했다. 또한, 하기 수지의 멜트 플로우 레이트(MFR)는, JIS K7210(1999)에 준거하여, 190℃, 2160g 하중으로 측정한 값이다.As the resin (A), an ionomer of the following ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (hereinafter referred to as "ionomer") and an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (hereinafter, abbreviated as "copolymer") prepared In addition, the melt flow rate (MFR) of the following resin is the value measured based on JISK7210 (1999) at 190 degreeC and a 2160 g load.
·아이오노머 1(IO1)・Ionomer 1 (IO1)
에틸렌 함유량: 80질량%, 메타크릴산 함유량: 10질량%, 아크릴산 부틸에스테르 함유량: 10질량%, 중화도: 70% 아연 중화, MFR: 1g/10분Ethylene content: 80 mass %, methacrylic acid content: 10 mass %, acrylic acid butyl ester content: 10 mass %, neutralization degree: 70% Zinc neutralization, MFR: 1 g/10min
·아이오노머 2(IO2)・Ionomer 2 (IO2)
에틸렌 함유량: 85질량%, 메타크릴산 함유량: 15질량%, 중화도: 59% 아연 중화, MFR: 1g/10분Ethylene content: 85 mass %, methacrylic acid content: 15 mass %, neutralization degree: 59% Zinc neutralization, MFR: 1 g/10 min.
·아이오노머 3(IO3)・Ionomer 3 (IO3)
에틸렌 함유량: 89질량%, 메타크릴산 함유량: 11질량%, 중화도: 65% 아연 중화, MFR: 5g/10분Ethylene content: 89 mass%, methacrylic acid content: 11 mass%, neutralization degree: 65% Zinc neutralization, MFR: 5 g/10 min
·아이오노머 4(IO4)・Ionomer 4 (IO4)
에틸렌 함유량: 85질량%, 메타크릴산 함유량: 15질량%, 중화도: 23% 아연 중화, MFR: 5g/10분Ethylene content: 85 mass %, methacrylic acid content: 15 mass %, neutralization degree: 23% Zinc neutralization, MFR: 5 g/10 min.
·아이오노머 5(IO5)・Ionomer 5 (IO5)
에틸렌 함유량: 90질량%, 메타크릴산 함유량: 10질량%, 중화도: 50% 나트륨 중화, MFR: 1g/10분Ethylene content: 90 mass %, methacrylic acid content: 10 mass %, neutralization degree: 50% sodium neutralization, MFR: 1 g/10 min.
·공중합체(EMAA1)・Copolymer (EMAA1)
에틸렌 함유량: 91질량%, 메타크릴산 함유량: 9질량%, MFR 3g/10분Ethylene content: 91 mass %, methacrylic acid content: 9 mass %, MFR 3g/10min
·공중합체(EMAA2)・Copolymer (EMAA2)
에틸렌 함유량: 79질량%, 메타크릴산 함유량: 11질량%, 아크릴산 부틸 에스테르: 10질량%, MFR 10g/10분Ethylene content: 79 mass %, methacrylic acid content: 11 mass %, acrylic acid butyl ester: 10 mass %, MFR 10 g/10min
2. 수지 (B)2. Resin (B)
수지 (B)로서, 하기의 수지를 준비했다.As resin (B), the following resin was prepared.
·폴리아미드 1(PA1): 나일론 6(도레이주식회사제의 아밀란 CM1021XF)Polyamide 1 (PA1): Nylon 6 (Amilan CM1021XF manufactured by Toray Corporation)
·폴리아미드 2(PA2): 나일론 6-12(우베흥산주식회사제의 UBE 나일론 7024B)Polyamide 2 (PA2): Nylon 6-12 (UBE Nylon 7024B manufactured by Ube Kogsan Co., Ltd.)
·폴리우레탄(TPU): 열가소성 폴리우레탄 엘라스토머(토소주식회사제의 미락트란 P485RSUI)・Polyurethane (TPU): Thermoplastic polyurethane elastomer (Miractran P485RSUI manufactured by Tosoh Corporation)
3. 대전 방지제 (C)3. Antistatic agent (C)
대전 방지제 (C)로서, 하기의 화합물을 준비했다.As the antistatic agent (C), the following compound was prepared.
·폴리에테르에스테르아미드(PEEA): 산요화성공업주식회사제의 펠레스타트 230Polyether esteramide (PEEA): Pelestat 230 manufactured by Sanyo Chemical Industry Co., Ltd.
4. 수지 (D)4. Resin (D)
수지 (D)로서, 하기의 수지를 준비했다.As resin (D), the following resin was prepared.
·아이오노머 1(IO1)(수지 (A)로서 사용하는 것과 동일)・Ionomer 1 (IO1) (same as used as resin (A))
에틸렌 함유량: 80질량%, 메타크릴산 함유량: 10질량%, 아크릴산 부틸에스테르 함유량: 10질량%, 중화도: 70% 아연 중화, MFR: 1g/10분Ethylene content: 80 mass %, methacrylic acid content: 10 mass %, acrylic acid butyl ester content: 10 mass %, neutralization degree: 70% Zinc neutralization, MFR: 1 g/10min
·에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체(EMAA1)・Ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (EMAA1)
에틸렌 함유량: 91질량%, 메타크릴산 함유량: 9질량%, MFR: 3g/10분Ethylene content: 91 mass %, methacrylic acid content: 9 mass %, MFR: 3 g/10min
·그 밖의 수지(LDPE1)・Other resins (LDPE1)
저밀도 폴리에틸렌, MFR: 1.6g/10분, 밀도: 921kg/m3 Low Density Polyethylene, MFR: 1.6 g/10 min, Density: 921 kg/m 3
(실시예 1)(Example 1)
표 1에 나타낸 비율(질량%)의 수지 (A) 및 수지 (B)를 드라이 블렌드했다. 이어서, 30mmφ 2축 압출기의 수지 투입구에 드라이 블렌드한 혼합물을 투입하여, 다이 온도 230℃에서 용융 혼련함으로써, 제 1 수지층용의 수지 조성물을 얻었다.Resin (A) and resin (B) of the ratio (mass %) shown in Table 1 were dry-blended. Next, the resin composition for 1st resin layers was obtained by injecting|throwing-in the dry-blended mixture to the resin inlet of a 30 mm (phi) twin screw extruder, and melt-kneading at the die temperature of 230 degreeC.
얻어진 제 1 수지층용의 수지 조성물에 대하여, JIS K7210(1999)에 준거하여, 230℃, 2160g 하중에 의해 MFR을 측정하여, 표 1에 기재했다.About the obtained resin composition for 1st resin layers, based on JISK7210 (1999), MFR was measured by 230 degreeC and 2160g load, and it described in Table 1.
얻어진 제 1 수지층용의 수지 조성물과, 제 2 수지층용의 수지 (D)를, 2종 2층 40㎜φ T 다이 필름 성형기를 이용하여, 각각의 압출기에 투입하고, 가공 온도 240℃의 조건으로 성형하여, 100㎛ 두께의 2종 2층 T 다이 필름을 제작했다.The obtained resin composition for the 1st resin layer and the resin (D) for the 2nd resin layer are injected|thrown-in to each extruder using the 2
상기에 의해, 2층 구조를 가지는 100㎛ 두께의 적층 필름(제 1 층과 제 2 층의 두께비=50/50)을 얻었다. 얻어진 적층 필름을 다이싱 필름 기재로 하고, 하기의 방법으로 평가했다. 평가 결과는 표 1에 나타냈다.By the above, a 100-micrometer-thick laminated film having a two-layer structure (thickness ratio of the first layer and the second layer = 50/50) was obtained. The obtained laminated|multilayer film was made into the dicing film base material, and the following method evaluated. The evaluation results are shown in Table 1.
(1) 160℃ 내열성(1) 160℃ heat resistance
다이싱 필름 기재를, 각각, MD 방향(Machine Direction) 10cm×TD 방향(Transverse Direction) 3cm로 재단하여, 평가용 필름으로 했다. 평가용 필름의 MD 방향 중앙부에 있어서, MD 방향으로 길이 60㎜의 표선을 기입했다.The dicing film base material was cut out to MD direction (Machine Direction) 10cm x TD direction (Transverse Direction) 3cm, respectively, and it was set as the film for evaluation. The MD direction center part of the film for evaluation WHEREIN: The mark line of length 60mm was written in MD direction.
각 평가용 필름을 160℃, 5g 하중하, 2분간 방치한 후, 그 표선 길이를 측정하고, 가열 시험 전의 표선의 길이에 대한, 가열 시험 후의 표선의 길이를 산출했다.After each film for evaluation was left to stand for 2 minutes under 160 degreeC and a 5g load, the length of the marked line was measured, and the length of the marked line after a heating test was computed with respect to the length of the marked line before a heating test.
가열 시험 후의 표선의 길이[%]=(가열 시험 후의 표선 길이/60㎜)×100Length of marked line after heating test [%] = (length of marked line after heating test / 60 mm) x 100
표선 길이가 100인 것은, 필름이 가열에 의해 변화되지 않고 있는 것을 의미하고, 표선 길이가 100을 초과한 경우에는, 필름이 가열에 의해 신장된 것을 의미하며, 표선 길이가 100 미만이 된 경우에는, 필름이 가열에 의해 줄어든 것을 의미한다. A mark length of 100 means that the film is not changed by heating, and when the mark length exceeds 100, it means that the film is elongated by heating, and when the mark length is less than 100 , means that the film has been reduced by heating.
160℃ 내열은, 가열 시험 후의 표선의 길이에 의거하여, 이하의 기준에 따라 평가했다.160 degreeC heat resistance was evaluated according to the following criteria based on the length of the marked line after a heating test.
◎: 가열 시험 후의 표선의 길이가 100.0(double-circle): The length of the marked line after a heating test is 100.0
○: 가열 시험 후의 표선의 길이가 100.1~110.0, 또는 90.0~99.9○: The length of the marked line after the heating test is 100.1 to 110.0, or 90.0 to 99.9
△: 가열 시험 후의 표선의 길이가 110.1~115.0, 또는 86.0~89.9△: The length of the marked line after the heating test is 110.1 to 115.0, or 86.0 to 89.9
×: 가열 시험 후의 표선의 길이가 115.1 이상, 또는 85.9 이하x: the length of the marked line after the heating test is 115.1 or more, or 85.9 or less
(2) 층간 접착성(2) interlayer adhesion
다이싱 필름 기재의 제 1 층과 제 2 층과의 사이의 접착 강도는, 박리 각도 90°(T 필), 박리 속도 300㎜/min, 시험편 폭 15㎜로 박리하였을 때의 강도(N/15㎜)로 나타냈다.The adhesive strength between the 1st layer and the 2nd layer of a dicing film base material is the strength (N/15) when peeling with a peeling angle 90 degree (T peel), a peeling rate 300 mm/min, and a test piece width|variety 15 mm. mm).
또한 접착 강도에 의거하여, 이하의 기준에 따라 층간 접착성을 평가했다.Moreover, based on the adhesive strength, the following criteria evaluated interlayer adhesiveness.
○: 제 1 수지층과 제 2 수지층의 층간 접착 강도가, 5N/15㎜ 이상(circle): The interlayer adhesive strength of a 1st resin layer and a 2nd resin layer is 5 N/15 mm or more
×: 제 1 수지층과 제 2 수지층의 층간 접착 강도가, 5N/15㎜ 미만x: The interlayer adhesive strength of a 1st resin layer and a 2nd resin layer is less than 5 N/15 mm
(3) 표면 저항률(3) surface resistivity
JIS K6911에 준거하여, 미쓰비시화학(주)제의 Hiresta-UP을 이용하여, 23℃, 50% 상대 습도 분위기하에서 인가 전압 500V, 측정 시간 30초로 하여, 표면 저항률을 측정했다.According to JIS K6911, using Hiresta-UP manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., the applied voltage was 500 V and the measurement time was 30 seconds in an atmosphere of 23°C and 50% relative humidity, and the surface resistivity was measured.
(4) 확장성(확장률)(4) Scalability (scalability)
다이싱 필름 기재로부터 MD 방향 300㎜ 이상×TD 방향 300㎜ 이상의 사각형을 잘라내고, 그 안에 가로세로 141㎜의 정사각형을 유성 펜 등의 필기 용구를 이용하여 그렸다(이하, 측정 대상). 8인치 웨이퍼용의 웨이퍼 확장 장치(테크노비전사제의 웨이퍼 확장 장치 TEX-218G GR-8)에, 측정 대상을 세팅했다. 이 때, 웨이퍼 확장 장치의 스테이지 중심과 측정 대상에 그린 정사각형의 중심이 합치하도록 세팅했다. 이어서, 스테이지를 15㎜ 끌어 올려, 다이싱 필름 기재를 확장한 후, 60초간 정치하고, 측정 대상에 그린 정사각형의 각 변의 길이(변 길이)를 측정했다. 얻어진 MD 방향 변 길이 2점에 대하여, 각각 신장률(%)(=확장 후의 변 길이/확장 전의 변 길이×100)을 계산하고, 그 평균값을 확장률[%]이라고 했다. 확장률은 103% 이상이 바람직하다.A rectangle of 300 mm or more in the MD direction x 300 mm or more in the TD direction was cut out from the dicing film substrate, and a square of 141 mm in width and height was drawn therein using a writing implement such as an oil-based pen (hereinafter, measurement target). A measurement target was set in a wafer expansion device for 8-inch wafers (a wafer expansion device TEX-218G GR-8 manufactured by Technovision Corporation). At this time, it was set so that the center of the stage of the wafer expansion apparatus and the center of the square drawn on the measurement object coincided. Next, after raising the stage by 15 mm and expanding the dicing film base material, it left still for 60 second, and the length (side length) of each side of the square drawn on the measurement object was measured. For each of the obtained two side lengths in the MD direction, the elongation rate (%) (= side length after extension/side length before extension × 100) was calculated, and the average value was set as the extension rate [%]. The expansion ratio is preferably 103% or more.
(5) 인장 시험(모듈러스)(5) Tensile test (modulus)
다이싱 필름 기재를 10㎜ 폭의 직사각 형상으로 재단하여 측정 대상으로 했다. JIS K7127에 준거하여, 측정 대상의 MD 방향, TD 방향 각각에 있어서의 25% 모듈러스를 측정했다. 또한, 시험 속도는 500㎜/분으로 했다.The dicing film base material was cut into the rectangular shape of 10 mm width, and it was set as the measurement object. Based on JIS K7127, the 25% modulus in each of the MD direction and TD direction of a measurement object was measured. In addition, the test speed was set to 500 mm/min.
25% 모듈러스는 8Mpa 이상이 칩 분단성의 관점에서 바람직하다.The 25% modulus is preferably 8 Mpa or more from the viewpoint of chip breakability.
(실시예 2~15, 비교예 1~5)(Examples 2-15, Comparative Examples 1-5)
수지 (A), 수지 (B), 대전 방지제 (C) 및 수지 (D)의 종류 및 양, 그리고 제 1 수지층 및 제 2 수지층의 두께를 표 1 및 표 2에 나타나는 바와 같이 변경한 것 이외는 실시예 1과 마찬가지로, 제 1 수지층 및 제 2 수지층을 포함하는 적층 필름을 제작했다. 또한, 대전 방지제 (C)는, 수지 (A) 및 수지 (B)와 함께 표 1에 기재된 양을 드라이 블렌드하여 사용했다.The resin (A), the resin (B), the antistatic agent (C), the type and amount of the resin (D), and the thickness of the first resin layer and the second resin layer were changed as shown in Tables 1 and 2 Other than that, similarly to Example 1, the laminated|multilayer film containing a 1st resin layer and a 2nd resin layer were produced. In addition, the amount of Table 1 was dry-blended and used for the antistatic agent (C) with resin (A) and resin (B).
얻어진 적층 필름을 다이싱 필름 기재로 하여, 상기의 방법으로 평가했다. 평가 결과를 표 1 및 표 2에 나타냈다.The obtained laminated|multilayer film was used as a dicing film base material, and said method evaluated. The evaluation results are shown in Tables 1 and 2.
표 1 및 표 2에 나타낸 결과로부터 명백한 바와 같이, 수지 (A)와, 수지 (B)를 필수 성분에 포함하는 수지 조성물로 이루어지는 제 1 수지층을 가지는 실시예 1~15의 다이싱 필름 기재는, 수지 (A) 단독으로 이루어지는 제 1 수지층을 가지는 비교예 1과 비교해, 160℃ 내열성 시험 후의 필름의 변화가 적어, 보다 우수한 내열성을 나타냈다.As is apparent from the results shown in Tables 1 and 2, the dicing film substrates of Examples 1 to 15 having a resin (A) and a first resin layer comprising a resin composition containing the resin (B) as essential components were , compared with Comparative Example 1 having a first resin layer composed of resin (A) alone, there was little change in the film after the 160°C heat resistance test, and more excellent heat resistance was exhibited.
또한, 제 2 수지층이, 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (D)를 포함하는 실시예 1~15의 다이싱 필름 기재는, 다른 수지(저밀도 폴리에틸렌)로 이루어지는 제 2 수지층을 가지는 비교예 2의 다이싱 필름 기재와 비교해, 필름층간 접착력이 높고, 층간 박리가 전혀 발견되지 않았다. 이와 같은 우수한 층간 접착성은, 수지 (D)로서 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체(EMAA) 및 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머(IO) 중 어느 것을 이용한 경우에도 인정되었다.Further, the second resin layer contains at least one resin (D) selected from the group consisting of an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer and an ionomer of the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer. Examples 1 to The dicing film substrate of No. 15 had a high adhesion between the film layers, and no delamination was found in the dicing film substrate of Comparative Example 2, which had a second resin layer made of another resin (low-density polyethylene). Such excellent interlayer adhesiveness was recognized even when either an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer (EMAA) or an ionomer (IO) of an ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer was used as the resin (D).
또한, 과잉량의 대전 방지제 (C)를 포함하는 비교예 4, 및 과잉량(단, 40질량부 이상 60질량부 미만)의 수지 (B)를 포함하는 비교예 5에 있어서는, 수지 조성물을 이용하여 필름을 성형할 수는 있었지만, 제 1 수지층의 압출이 불안정해져, 필름의 두께 정밀도가 불충분했기 때문에, 각종 물성을 측정할 수는 없었다. 그러나, 또한 과잉량(60질량부 이상)의 수지 (B)를 포함하는 비교예 3에 있어서는, 제 1 수지층과 제 2 수지층을 가지는 적층 필름의 성형은 가능했지만, 필름의 층간 접착력이 낮았다.In addition, in Comparative Example 4 containing an excessive amount of the antistatic agent (C), and Comparative Example 5 containing an excessive amount (however, 40 parts by mass or more and less than 60 parts by mass) of the resin (B), the resin composition was used Although it was possible to shape|mold a film, the extrusion of the 1st resin layer became unstable, and since the thickness precision of a film was inadequate, various physical properties could not be measured. However, in Comparative Example 3 containing an excess amount (60 parts by mass or more) of the resin (B), although molding of a laminated film having the first resin layer and the second resin layer was possible, the interlayer adhesive force of the film was low. .
본 출원은, 2016년 12월 27일 출원의 일본특허출원 특원2016-253244에 의거한 우선권을 주장한다. 당해 출원 명세서에 기재된 내용은, 모두 본원 명세서에 원용된다.This application claims the priority based on Japanese Patent Application No. 2016-253244 of the application on December 27, 2016. All the content described in the said application specification is integrated in this specification.
본 발명의 다이싱 필름 기재는, 우수한 내열성을 가지고, 또한 칩 분단성과 확장성과의 밸런스가 우수하다. 따라서 본 발명의 다이싱 필름 기재 및 다이싱 필름을 사용함으로써, 반도체 제조 시의 다이싱 공정 및 계속되는 확장 공정을 원활하게 실시하여, 테이프 잔존이나 변형이 없는 반도체의 제조가 가능해진다.The dicing film base material of this invention has the outstanding heat resistance, and is excellent in the balance of chip breaking property and expandability. Therefore, by using the dicing film substrate and the dicing film of the present invention, the dicing process and the subsequent expansion process at the time of semiconductor manufacturing can be smoothly performed, and the semiconductor can be manufactured without remaining tape or deformation.
1 제 1 수지층
2 제 2 수지층
10 다이싱 필름 기재
11 점착층
20 다이싱 필름1 first resin layer
2 second resin layer
10 Dicing film substrate
11 adhesive layer
20 dicing film
Claims (5)
폴리아미드 및 폴리우레탄으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (B) 5질량부 이상 40질량부 미만과,
대전 방지제 (C) 0질량부 이상, 30질량부 이하(단, 성분 (A), 성분 (B) 및 성분 (C)의 합계를 100질량부로 함)를 함유하는 수지 조성물로 이루어지는 제 1 수지층과,
에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체 및 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체의 아이오노머로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 수지 (D)를 포함하는, 제 2 수지층을 포함하고,
상기 수지 (A)에 있어서, 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체는, 에틸렌·불포화 카르본산 2원 공중합체 또는 에틸렌·불포화 카르본산·불포화 카르본산 에스테르 3원 공중합체이며,
상기 수지 (B)에 있어서, 상기 폴리우레탄은 열가소성 폴리우레탄 엘라스토머이고,
상기 대전 방지제 (C)는, 도전성 부위와 비도전성 부위를 포함하고, 분자량이 300 이상의 공중합체인 고분자형 대전 방지제, 카티온성기를 가지는 카티온성 대전 방지제, 아니온성기를 가지는 아니온성 대전 방지제, 양성 대전 방지제, 및 논이온성 대전 방지제로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종이며(단, 상기 수지 (B)가 폴리아미드이고, 상기 대전 방지제 (C)가 고분자형 대전 방지제인 경우, 상기 대전 방지제 (C)의 폴리아미드 유래의 구조 부위는 상기 수지 (B)로서 사용하는 폴리아미드 이외의 화합물로 함),
상기 수지 (D)에 있어서, 상기 에틸렌·불포화 카르본산계 공중합체는, 에틸렌과 불포화 카르본산이 공중합한 2원의 공중합체, 또는 상기 2원의 공중합체에 제 3 공중합 성분이 공중합한 3원 이상의 다원 공중합체인, 다이싱 필름 기재.30 parts by mass or more and 95 parts by mass or less of at least one resin (A) selected from the group consisting of an ethylene-unsaturated carboxylic acid-based copolymer and an ionomer of the ethylene-unsaturated carboxylic acid-based copolymer;
5 parts by mass or more and less than 40 parts by mass of at least one resin (B) selected from the group consisting of polyamide and polyurethane;
1st resin layer which consists of a resin composition containing 0 mass parts or more and 30 mass parts or less of antistatic agent (C) (however, let the sum total of a component (A), a component (B), and a component (C) be 100 mass parts). class,
A second resin layer comprising at least one resin (D) selected from the group consisting of an ethylene-unsaturated carboxylic acid-based copolymer and an ionomer of the ethylene-unsaturated carboxylic acid-based copolymer,
In the resin (A), the ethylene/unsaturated carboxylic acid-based copolymer is an ethylene/unsaturated carboxylic acid binary copolymer or an ethylene/unsaturated carboxylic acid/unsaturated carboxylic acid ester terpolymer,
In the resin (B), the polyurethane is a thermoplastic polyurethane elastomer,
The antistatic agent (C) includes a conductive moiety and a non-conductive moiety, a polymeric antistatic agent having a molecular weight of 300 or more, a cationic antistatic agent having a cationic group, an anionic antistatic agent having an anionic group, a positive antistatic agent and at least one selected from the group consisting of a nonionic antistatic agent (provided that when the resin (B) is polyamide and the antistatic agent (C) is a polymer type antistatic agent, the antistatic agent (C) The structural moiety derived from the polyamide of
In the resin (D), the ethylene/unsaturated carboxylic acid copolymer is a binary copolymer in which ethylene and unsaturated carboxylic acid are copolymerized, or a ternary copolymer in which a third copolymer component is copolymerized in the binary copolymer. The dicing film base material which is the above multi-component copolymer.
상기 대전 방지제 (C)의 함유량이 0질량부인, 다이싱 필름 기재.The method of claim 1,
The dicing film base material whose content of the said antistatic agent (C) is 0 mass parts.
상기 대전 방지제 (C)의 함유량이 5질량부 이상 30질량부 이하인, 다이싱 필름 기재.The method of claim 1,
The dicing film base material whose content of the said antistatic agent (C) is 5 mass parts or more and 30 mass parts or less.
상기 다이싱 필름 기재의 적어도 일방의 면에 적층된 점착층을 가지는 다이싱 필름.The dicing film base material in any one of Claims 1-3;
A dicing film having an adhesive layer laminated on at least one surface of the dicing film substrate.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2016-253244 | 2016-12-27 | ||
JP2016253244 | 2016-12-27 | ||
PCT/JP2017/045918 WO2018123804A1 (en) | 2016-12-27 | 2017-12-21 | Dicing film base and dicing film |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20190091297A KR20190091297A (en) | 2019-08-05 |
KR102293749B1 true KR102293749B1 (en) | 2021-08-26 |
Family
ID=62710436
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020197018726A KR102293749B1 (en) | 2016-12-27 | 2017-12-21 | Dicing film substrate and dicing film |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6667671B2 (en) |
KR (1) | KR102293749B1 (en) |
CN (1) | CN110178203B (en) |
TW (1) | TWI736728B (en) |
WO (1) | WO2018123804A1 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR102483810B1 (en) * | 2018-08-08 | 2023-01-03 | 미츠이·다우 폴리케미칼 가부시키가이샤 | Resin composition for dicing film substrate, dicing film substrate and dicing film |
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JP7560345B2 (en) | 2020-12-16 | 2024-10-02 | マクセル株式会社 | Dicing Tape |
JPWO2022196392A1 (en) * | 2021-03-18 | 2022-09-22 |
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WO2015193991A1 (en) | 2014-06-18 | 2015-12-23 | リンテック株式会社 | Dicing-sheet base film and dicing sheet |
JP2017098369A (en) | 2015-11-20 | 2017-06-01 | 三井・デュポンポリケミカル株式会社 | Resin composition for dicing film base, dicing film base and dicing film |
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JP6472972B2 (en) * | 2013-10-23 | 2019-02-20 | 三井・デュポンポリケミカル株式会社 | Resin composition for dicing tape substrate and dicing tape substrate |
-
2017
- 2017-12-21 WO PCT/JP2017/045918 patent/WO2018123804A1/en active Application Filing
- 2017-12-21 JP JP2018559117A patent/JP6667671B2/en active Active
- 2017-12-21 KR KR1020197018726A patent/KR102293749B1/en active IP Right Grant
- 2017-12-21 CN CN201780080673.4A patent/CN110178203B/en active Active
- 2017-12-26 TW TW106145749A patent/TWI736728B/en active
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JP2017098369A (en) | 2015-11-20 | 2017-06-01 | 三井・デュポンポリケミカル株式会社 | Resin composition for dicing film base, dicing film base and dicing film |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2018123804A1 (en) | 2019-10-31 |
CN110178203B (en) | 2023-05-23 |
JP6667671B2 (en) | 2020-03-18 |
WO2018123804A1 (en) | 2018-07-05 |
TW201840434A (en) | 2018-11-16 |
TWI736728B (en) | 2021-08-21 |
CN110178203A (en) | 2019-08-27 |
KR20190091297A (en) | 2019-08-05 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right |