KR102286476B1 - Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method - Google Patents

Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method Download PDF

Info

Publication number
KR102286476B1
KR102286476B1 KR1020190060416A KR20190060416A KR102286476B1 KR 102286476 B1 KR102286476 B1 KR 102286476B1 KR 1020190060416 A KR1020190060416 A KR 1020190060416A KR 20190060416 A KR20190060416 A KR 20190060416A KR 102286476 B1 KR102286476 B1 KR 102286476B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
glass substrate
resin pattern
pattern
laser light
forming
Prior art date
Application number
KR1020190060416A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20200135614A (en
Inventor
김은석
박영선
정태옥
Original Assignee
코닝 인코포레이티드
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 코닝 인코포레이티드 filed Critical 코닝 인코포레이티드
Priority to KR1020190060416A priority Critical patent/KR102286476B1/en
Priority to PCT/US2020/032621 priority patent/WO2020236479A1/en
Priority to JP2021569096A priority patent/JP2022533719A/en
Priority to CN202080048087.3A priority patent/CN114072709A/en
Priority to TW109116516A priority patent/TW202102451A/en
Publication of KR20200135614A publication Critical patent/KR20200135614A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102286476B1 publication Critical patent/KR102286476B1/en

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/02Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • C03B33/033Apparatus for opening score lines in glass sheets
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C17/00Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating
    • C03C17/06Surface treatment of glass, not in the form of fibres or filaments, by coating with metals
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/0001Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
    • G02B6/0011Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being planar or of plate-like form
    • G02B6/0033Means for improving the coupling-out of light from the light guide
    • G02B6/0035Means for improving the coupling-out of light from the light guide provided on the surface of the light guide or in the bulk of it
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/36Removing material
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/70Auxiliary operations or equipment
    • B23K26/702Auxiliary equipment
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/02Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/0222Scoring using a focussed radiation beam, e.g. laser
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/02Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/02Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • C03B33/03Glass cutting tables; Apparatus for transporting or handling sheet glass during the cutting or breaking operations
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/02Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor
    • C03B33/023Cutting or splitting sheet glass or ribbons; Apparatus or machines therefor the sheet or ribbon being in a horizontal position
    • C03B33/037Controlling or regulating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/07Cutting armoured, multi-layered, coated or laminated, glass products
    • C03B33/074Glass products comprising an outer layer or surface coating of non-glass material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/08Severing cooled glass by fusing, i.e. by melting through the glass
    • C03B33/082Severing cooled glass by fusing, i.e. by melting through the glass using a focussed radiation beam, e.g. laser
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/09Severing cooled glass by thermal shock
    • C03B33/091Severing cooled glass by thermal shock using at least one focussed radiation beam, e.g. laser beam
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C23/00Other surface treatment of glass not in the form of fibres or filaments
    • C03C23/0005Other surface treatment of glass not in the form of fibres or filaments by irradiation
    • C03C23/0025Other surface treatment of glass not in the form of fibres or filaments by irradiation by a laser beam
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B3/00Simple or compound lenses
    • G02B3/0006Arrays
    • G02B3/0037Arrays characterized by the distribution or form of lenses
    • G02B3/005Arrays characterized by the distribution or form of lenses arranged along a single direction only, e.g. lenticular sheets
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/0001Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
    • G02B6/0011Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being planar or of plate-like form
    • G02B6/0033Means for improving the coupling-out of light from the light guide
    • G02B6/0035Means for improving the coupling-out of light from the light guide provided on the surface of the light guide or in the bulk of it
    • G02B6/0038Linear indentations or grooves, e.g. arc-shaped grooves or meandering grooves, extending over the full length or width of the light guide
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/0001Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
    • G02B6/0011Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being planar or of plate-like form
    • G02B6/0065Manufacturing aspects; Material aspects
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0017Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor for the production of embossing, cutting or similar devices; for the production of casting means
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/20Exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/2002Exposure; Apparatus therefor with visible light or UV light, through an original having an opaque pattern on a transparent support, e.g. film printing, projection printing; by reflection of visible or UV light from an original such as a printed image
    • G03F7/2014Contact or film exposure of light sensitive plates such as lithographic plates or circuit boards, e.g. in a vacuum frame
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2218/00Methods for coating glass
    • C03C2218/30Aspects of methods for coating glass not covered above
    • C03C2218/32After-treatment
    • C03C2218/328Partly or completely removing a coating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03CCHEMICAL COMPOSITION OF GLASSES, GLAZES OR VITREOUS ENAMELS; SURFACE TREATMENT OF GLASS; SURFACE TREATMENT OF FIBRES OR FILAMENTS MADE FROM GLASS, MINERALS OR SLAGS; JOINING GLASS TO GLASS OR OTHER MATERIALS
    • C03C2218/00Methods for coating glass
    • C03C2218/30Aspects of methods for coating glass not covered above
    • C03C2218/355Temporary coating
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/0001Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems
    • G02B6/0011Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings specially adapted for lighting devices or systems the light guides being planar or of plate-like form
    • G02B6/0033Means for improving the coupling-out of light from the light guide
    • G02B6/005Means for improving the coupling-out of light from the light guide provided by one optical element, or plurality thereof, placed on the light output side of the light guide
    • G02B6/0053Prismatic sheet or layer; Brightness enhancement element, sheet or layer
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0002Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/0005Production of optical devices or components in so far as characterised by the lithographic processes or materials used therefor

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Geochemistry & Mineralogy (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Thermal Sciences (AREA)
  • Re-Forming, After-Treatment, Cutting And Transporting Of Glass Products (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
  • Planar Illumination Modules (AREA)

Abstract

본 발명의 기술적 사상은 유리 기판의 제1 면 상에 상기 제1 면에 렌티큘라 패턴을 포함하는 레진 패턴을 형성하는 단계; 레이저 광을 이용하여 상기 레진 패턴의 일부를 제거하는 단계; 상기 유리 기판의 상기 레진 패턴이 제거에 의해 노출된 부분에 스크라이브 라인들을 형성하는 단계; 및 상기 스크라이브 라인들을 따라 상기 유리 기판을 절단하는 단계를 포함하는 유리 기판 절단 방법을 제공한다.The technical idea of the present invention is to form a resin pattern including a lenticular pattern on the first surface of the glass substrate on the first surface; removing a portion of the resin pattern using laser light; forming scribe lines on a portion of the glass substrate where the resin pattern is exposed by removal; and cutting the glass substrate along the scribe lines.

Description

유리 기판 절단 방법 및 도광판 제조 방법{GLASS SUBSTRATE CUTTING METHOD AND LIGHT GUIDE PLATE MANUFACTURING METHOD}Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method

본 발명의 기술적 사상은 유리 기판 절단 방법 및 이를 이용한 도광판 제조 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 레진 패턴이 형성된 유리 기판의 절단 방법 및 이를 이용한 도광판 제조 방법에 관한 것이다.The technical idea of the present invention relates to a method for cutting a glass substrate and a method for manufacturing a light guide plate using the same, and more particularly, to a method for cutting a glass substrate on which a resin pattern is formed and a method for manufacturing a light guide plate using the same.

디스플레이 장치에 사용되는 도광판은 광원으로부터 상기 도광판에 입사한 광을 디스플레이 전면에 걸쳐 균일하게 산란시키고, 확산시키는 장치이다. 일반적으로 도광판은 백라이트 장치(Back Light Unit, BLU)등의 광학 장치에 채용된다. 도광판의 측면에 적어도 하나 이상의 광원이 배치될 수 있다. 도광판에 입사한 광원의 광은 내부 전반사 방식으로 가이드될 수 있다. 도광판 내부를 진행하는 광은 도광판의 일면에 형성된 광 추출 패턴 등에 의해 외부로 방출될 수 있다.A light guide plate used in a display device is a device for uniformly scattering and diffusing light incident on the light guide plate from a light source over the entire surface of the display. In general, a light guide plate is employed in an optical device such as a backlight unit (BLU). At least one light source may be disposed on a side surface of the light guide plate. The light of the light source incident on the light guide plate may be guided in a total internal reflection method. The light traveling inside the light guide plate may be emitted to the outside by a light extraction pattern formed on one surface of the light guide plate.

본 발명의 기술적 사상이 해결하고자 하는 과제는 생산성 및 신뢰성이 제고된 유리 기판 절단 방법 및 도광판 제조 방법을 제공하는데 있다The problem to be solved by the technical idea of the present invention is to provide a method for cutting a glass substrate and a method for manufacturing a light guide plate with improved productivity and reliability

상술한 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 기술적 사상의 실시예들은 유리 기판 절단 방법을 제공한다. 상기 유리 기판 절단 방법은 유리 기판의 제1 면 상에 렌티큘라 패턴을 포함하는 레진 패턴을 형성하는 단계; 레이저 광을 이용하여 상기 레진 패턴의 일부를 제거하는 단계; 상기 레진 패턴이 제거에 의해 노출된 상기 제1 면 상에 스크라이브 라인들을 형성하는 단계; 및 상기 스크라이브 라인들을 따라 상기 유리 기판을 절단하는 단계를 포함한다.In order to solve the above problems, embodiments of the technical idea of the present invention provide a method for cutting a glass substrate. The method for cutting the glass substrate includes: forming a resin pattern including a lenticular pattern on a first surface of the glass substrate; removing a portion of the resin pattern using laser light; forming scribe lines on the first surface exposed by removing the resin pattern; and cutting the glass substrate along the scribe lines.

상기 레진 패턴을 형성하는 단계는, 상기 레진 패턴을 형성하는 것과 동시에 상기 유리 기판의 코너들에 기준 마크를 형성한다.In the forming of the resin pattern, reference marks are formed at corners of the glass substrate at the same time as forming the resin pattern.

상기 레이저 광의 상기 유리 기판에 대한 투과율은 상기 레진 패턴에 대한투과율 보다 높다.The transmittance of the laser light to the glass substrate is higher than the transmittance to the resin pattern.

상기 레진 패턴의 일부를 제거하는 단계는, 상기 유리 기판을 실질적으로 제거하지 않고, 상기 레진 패턴의 일부만을 선택적으로 제거한다.The step of removing a portion of the resin pattern selectively removes only a portion of the resin pattern without substantially removing the glass substrate.

상기 유리 기판 상에 유효 광학 영역들 및 상기 유효 광학 영역들을 둘러싸는 바깥 영역이 정의된다.Effective optical regions and an outer region surrounding the effective optical regions are defined on the glass substrate.

상기 레진 패턴은 상기 유효 광학 영역 상에 형성된 광 추출 패턴을 더 포함한다.The resin pattern further includes a light extraction pattern formed on the effective optical area.

상기 렌티큘라 패턴은 상기 유효 광학 영역들로부터 상기 바깥 영역으로 연장된다.The lenticular pattern extends from the effective optical areas to the outer area.

상기 스크라이브 라인들은 상기 유리 기판의 가장자리에 인접하게 배치된 적어도 하나의 제1 스크라이브 라인 및, 상기 유리 기판의 중앙부에 인접하게 배치된 적어도 하나의 제2 스크라이브 라인을 포함한다.The scribe lines include at least one first scribe line disposed adjacent to an edge of the glass substrate and at least one second scribe line disposed adjacent to a central portion of the glass substrate.

상기 유리 기판을 절단하는 단계는, 상기 제1 스크라이브 라인을 따라, 상기 유리 기판을 점 가압하는 단계; 및 상기 제2 스크라이브 라인을 따라, 상기 유리 기판을 선 가압하는 단계를 포함한다.Cutting the glass substrate may include: point-pressing the glass substrate along the first scribe line; and pre-pressing the glass substrate along the second scribe line.

상기 유리 기판을 절단하여 형성된 절단면과 상기 제1 면의 법선 사이의 각도는 1° 이하이다.The angle between the cut surface formed by cutting the glass substrate and the normal line of the first surface is 1° or less.

본 발명의 기술적 사상의 실시예들은 도광판의 제조 방법을 제공한다. 도광판의 제조 방법은, 유리 기판의 제1 면 상에 레진 패턴을 형성하는 단계로서, 상기 레진 패턴은 상기 제1 면에 평행한 제1 방향으로 길게 연장되고 상기 제1 면에 평행하며 상기 제1 방향에 실질적으로 수직한 제2 방향을 따라 열을 이루며 배치되는 렌티큘라 패턴 및 상기 렌티큘라 패턴으로부터 상기 제1 및 제2 방향에 수직한 제3 방향으로 리세스된 광 추출 패턴을 포함하고; 상기 레진 패턴의 적어도 일부를 제거하여 상기 유리 기판의 제1 면을 노출시키는 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들을 형성하는 단계; 상기 유리 기판에 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들 상에 연장되는 스크라이브 라인을 형성하는 단계; 및 상기 스크라이브 라인을 따라 상기 유리 기판을 절단하는 단계;를 포함한다.SUMMARY Embodiments of the technical idea of the present invention provide a method of manufacturing a light guide plate. A method of manufacturing a light guide plate includes forming a resin pattern on a first surface of a glass substrate, wherein the resin pattern extends in a first direction parallel to the first surface and is parallel to the first surface and the first surface a lenticular pattern disposed in a row along a second direction substantially perpendicular to the direction and a light extraction pattern recessed from the lenticular pattern in a third direction perpendicular to the first and second directions; removing at least a portion of the resin pattern to form first and second scheduled scribing portions exposing a first surface of the glass substrate; forming a scribe line extending on the first and second planned scribing portions on the glass substrate; and cutting the glass substrate along the scribe line.

상기 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들을 형성하는 단계는, 상기 유리 기판에 대해 투명한 파장의 레이저 광을 이용한다.In the forming of the first and second planned scribing portions, laser light having a wavelength that is transparent to the glass substrate is used.

상기 유리 기판을 절단하는 단계에서 형성된 상기 유리 기판의 절단면은 상기 제1 면에 실질적으로 수직하다.The cut surface of the glass substrate formed in the step of cutting the glass substrate is substantially perpendicular to the first surface.

상기 레진 패턴을 선택적으로 제거하는 단계는 상기 유리 기판에 데미지 없이 상기 레진 패턴을 선택적으로 제거한다.The selectively removing the resin pattern selectively removes the resin pattern without damaging the glass substrate.

상기 레진 패턴을 형성하는 단계는, 상기 유리 기판의 코너들에 기준 마크들을 더 형성한다.In the forming of the resin pattern, reference marks are further formed at corners of the glass substrate.

상기 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들 형성하는 단계는, 상기 레진 패턴을 사이에 두고 상기 제1 방향 또는 상기 제2 방향으로 이격된 상기 기준 마크들을 잇는 직선 상에 배치된 상기 레진 패턴을 제거한다.The forming of the first and second planned scribing portions may include removing the resin pattern disposed on a straight line connecting the reference marks spaced apart in the first direction or the second direction with the resin pattern interposed therebetween. do.

상기 제1 및 제2 스크라이빙 예정부를 형성하는 단계에서, 기준 마크들이 더 제거된다.In the forming of the first and second scribing scheduled portions, reference marks are further removed.

상기 제1 스크라이빙 예정부는 상기 제1 방향을 따라 연장되고, 상기 제2 스크라이빙 예정부는 상기 제2 방향을 따라 연장된다.The first scribing schedule portion extends along the first direction, and the second scribing schedule portion extends along the second direction.

본 발명의 기술적 사상의 실시예들은 도광판의 제조 방법을 제공한다. 도광판의 제조 방법은, 유리 기판의 제1 면 상에 레진 패턴 및 기준 마크들을 형성하는 단계; 레이저 광을 이용하여 상기 기준 마크들 및 상기 레진 패턴의 적어도 일부를 제거하는 단계; 상기 레진 패턴이 제거된 부분의 상기 유리 기판에 스크라이브 라인들을 형성하는 단계; 및 상기 스크라이브 라인들을 따라 상기 유리 기판을 절단하는 단계를 포함한다.SUMMARY Embodiments of the technical idea of the present invention provide a method of manufacturing a light guide plate. A method of manufacturing a light guide plate includes: forming a resin pattern and reference marks on a first surface of a glass substrate; removing at least a portion of the reference marks and the resin pattern using laser light; forming scribe lines on the glass substrate in the portion from which the resin pattern is removed; and cutting the glass substrate along the scribe lines.

상기 레이저 광의 피사계 심도는 -3mm 보다 더 작다.The depth of field of the laser light is smaller than -3 mm.

상기 레진 패턴의 적어도 일부를 제거하는 단계는 100mm/s 이하의 속도로 진행하는 레이저 광을 상기 레진 패턴 상에 조사한다.In the step of removing at least a portion of the resin pattern, laser light traveling at a speed of 100 mm/s or less is irradiated onto the resin pattern.

상기 레이저 광의 파장은 8μm 내지 12μm이다.The wavelength of the laser light is 8 μm to 12 μm.

본 발명의 기술적 사상에 따르면, 유리 기판에 레진 패턴을 형성하고, 상기 레진 패턴을 부분적으로 제거하여 스크라이브 예정부를 형성한다. 이어서 스크라이브 예정부 상에 형성된 스크라이브 라인을 따라 상기 유리 기판을 절단함으로써, 생산성을 제고함과 동시에 신뢰성을 제고할 수 있다. According to the technical idea of the present invention, a resin pattern is formed on a glass substrate, and a scribe scheduled portion is formed by partially removing the resin pattern. Then, by cutting the glass substrate along the scribe line formed on the scribe planned portion, it is possible to improve productivity and improve reliability at the same time.

도 1은 일부 실시예들에 따른 스크라이빙 장비(SA)를 설명하기 위한 개략적인 사시도이다.
도 2a 내지 도 2d는 본 발명의 기술적 사상에 따른 효과를 설명하기 위한 도면들이다.
도 3a는 비교예에 따른 유리 기판의 절단 결과를 나타내는 도면이다
도 3b는 일 실험예에 따른 유리 기판의 절단 결과를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 일부 실시예들에 따른 유리 기판 절단 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 5a는 일부 실시예들에 따른 유리 기판 절단 방법을 설명하기 위한 평면도이다.
도 5b는 도 5a의 5E를 확대하여 도시한 사시도이다.
도 5c는 도 5a의 절단선, 5I-5I', 5II-5II' 및 5III-5III'를 따라 취한 부분단면도들이다.
도 6a는 일부 실시예들에 따른 유리 기판 절단 방법을 설명하기 위한 평면도이다.
도 6b는 도 6a의 절단선, 6I-6I', 6II-4II' 및 6III-6III'를 따라 취한 부분단면도들이다.
도 7a는 일부 실시예들에 따른 유리 기판 절단 방법을 설명하기 위한 평면도이다.
도 7b 내지 도 7d는 도 7a의 절단선, 7I-7I', 7II-7II' 및 7III-7III'를 따라 취한 부분단면도들이다.
도 8은 일부 실시예들에 따른 유리 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 9는 일부 실시예들에 따른 유리 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다.
1 is a schematic perspective view for explaining a scribing equipment SA according to some embodiments.
2A to 2D are diagrams for explaining the effect according to the technical idea of the present invention.
3A is a view showing a result of cutting a glass substrate according to a comparative example;
3B is a view showing a result of cutting a glass substrate according to an experimental example.
4 is a flowchart for explaining a method for cutting a glass substrate according to some embodiments of the present invention.
5A is a plan view for explaining a method for cutting a glass substrate according to some embodiments.
5B is an enlarged perspective view of 5E of FIG. 5A.
5C is a partial cross-sectional view taken along the cut line of FIG. 5A, 5I-5I', 5II-5II' and 5III-5III'.
6A is a plan view for explaining a method of cutting a glass substrate according to some embodiments.
6B is a partial cross-sectional view taken along the cut line of FIG. 6A, 6I-6I', 6II-4II' and 6III-6III'.
7A is a plan view for explaining a method for cutting a glass substrate according to some embodiments.
7B to 7D are partial cross-sectional views taken along the cut line of FIG. 7A, 7I-7I', 7II-7II' and 7III-7III'.
8 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a glass according to some embodiments.
9 is a cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a glass according to some embodiments.

이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명 개념의 바람직한 실시예들을 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명 개념의 실시예들은 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명 개념의 범위가 아래에서 상술하는 실시예들로 인해 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 발명 개념의 실시예들은 당 업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명 개념을 보다 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것으로 해석되는 것이 바람직하다. 동일한 부호는 시종 동일한 요소를 의미한다. 나아가, 도면에서의 다양한 요소와 영역은 개략적으로 그려진 것이다. 따라서, 본 발명 개념은 첨부한 도면에 그려진 상대적인 크기나 간격에 의해 제한되어지지 않는다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention concept will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, embodiments of the inventive concept may be modified in various other forms, and the scope of the inventive concept should not be construed as being limited by the embodiments described below. The embodiments of the inventive concept are preferably interpreted as being provided in order to more completely explain the inventive concept to those of ordinary skill in the art. The same symbols refer to the same elements from beginning to end. Furthermore, various elements and regions in the drawings are schematically drawn. Accordingly, the inventive concept is not limited by the relative size or spacing drawn in the accompanying drawings.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는 데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명 개념의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제 1 구성 요소는 제 2 구성 요소로 명명될 수 있고, 반대로 제 2 구성 요소는 제 1 구성 요소로 명명될 수 있다.Terms such as first, second, etc. may be used to describe various elements, but the elements are not limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the inventive concept, the first component may be referred to as the second component, and conversely, the second component may be referred to as the first component.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예들을 설명하기 위해 사용된 것으로서, 본 발명 개념을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함한다" 또는 "갖는다" 등의 표현은 명세서에 기재된 특징, 개수, 단계, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 개수, 동작, 구성 요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the present application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the inventive concept. The singular expression includes the plural expression unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, expressions such as “comprises” or “have” are intended to designate that a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification is present, but one or more other features or It should be understood that the existence or addition of numbers, operations, components, parts or combinations thereof is not precluded in advance.

달리 정의되지 않는 한, 여기에 사용되는 모든 용어들은 기술 용어와 과학 용어를 포함하여 본 발명 개념이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 공통적으로 이해하고 있는 바와 동일한 의미를 지닌다. 또한, 통상적으로 사용되는, 사전에 정의된 바와 같은 용어들은 관련되는 기술의 맥락에서 이들이 의미하는 바와 일관되는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 여기에 명시적으로 정의하지 않는 한 과도하게 형식적인 의미로 해석되어서는 아니 될 것임은 이해될 것이다.Unless defined otherwise, all terms used herein have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which the inventive concept belongs, including technical and scientific terms. Also, commonly used terms as defined in the dictionary should be construed as having a meaning consistent with what they mean in the context of the relevant technology, and unless explicitly defined herein, in an overly formal sense. It will be understood that they should not be construed.

어떤 실시예가 달리 구현 가능한 경우에 특정한 공정 순서는 설명되는 순서와 다르게 수행될 수도 있다. 예를 들어, 연속하여 설명되는 두 공정이 실질적으로 동시에 수행될 수도 있고, 설명되는 순서와 반대의 순서로 수행될 수도 있다.Where certain embodiments are otherwise feasible, a specific process sequence may be performed different from the described sequence. For example, two processes described in succession may be performed substantially simultaneously, or may be performed in an order opposite to the described order.

유리를 포함하는 도광판은 강도 및 CTE 특성이 플라스틱 보다 훨씬 뛰어나며 LCD TV 세트의 두께를 줄일 수 있다. 도광판들은 렌티큘라 패턴과 광 추출 패턴을 포함할 수 있다. 종래의 도광판은 서로 반대면에 렌티큘라 패턴 및 광 추출 패턴을 포함한다. 일부 실시예들에 따르면, 반면에, 도광판은 유리 기판의 동일 면 상에 형성되고 렌티큘라 패턴 및 광 추출 패턴의 통합된 패턴을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에 따른 도광판에 포함된 통합된 패턴은 레진으로 형성될 수 있고, 렌티큘라 패턴과 광 추출 패턴이 서로 반대면에 형성된 도광판보다 우수한 광학적 성능을 갖는다. 또한, 한번의 임프린트 공정에 의해 렌티큘라 패턴과 광 추출 패턴이 동시에 형성되므로 도광판의 생산성 또한 크게 제고될 수 있다.Light guide plates containing glass have much better strength and CTE properties than plastics, and can reduce the thickness of LCD TV sets. The light guide plates may include a lenticular pattern and a light extraction pattern. A conventional light guide plate includes a lenticular pattern and a light extraction pattern on opposite surfaces. According to some embodiments, on the other hand, the light guide plate may be formed on the same side of the glass substrate and include an integrated pattern of a lenticular pattern and a light extraction pattern. The integrated pattern included in the light guide plate according to some embodiments may be formed of resin, and has superior optical performance than the light guide plate in which the lenticular pattern and the light extraction pattern are formed on opposite surfaces. In addition, since the lenticular pattern and the light extraction pattern are simultaneously formed by one imprint process, the productivity of the light guide plate can also be greatly improved.

도 1은 일부 실시예들에 따른 스크라이빙 장비(SA)를 설명하기 위한 개략적인 사시도이다.1 is a schematic perspective view for explaining a scribing equipment SA according to some embodiments.

도 1을 참조하면 스크라이빙 장비(SA)는 레진 패턴(120) 및 유리 기판(110)을 처리하기 위한 장치일 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 스크라이빙 장비(SA)는 레진 패턴(120)을 부분적으로, 그리고 선택적으로 제거하기 위한 장치일 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 스크라이빙 장비(SA)는 유리 기판(110)에 스크라이브 라인(SL, 도 7b, 도 7c 참조)을 형성하기 위한 장치일 수 있다. 스크라이빙 장비(SA)에 의해 처리되는 레진 패턴(120) 및 유리 기판(110)의 구조는 도 5a 내지 도 5d를 이용하여 뒤에서 자세히 설명하도록 한다.Referring to FIG. 1 , the scribing equipment SA may be an apparatus for processing the resin pattern 120 and the glass substrate 110 . According to some embodiments, the scribing equipment SA may be a device for partially and selectively removing the resin pattern 120 . According to some embodiments, the scribing equipment SA may be an apparatus for forming a scribe line SL (refer to FIGS. 7B and 7C ) on the glass substrate 110 . The structures of the resin pattern 120 and the glass substrate 110 processed by the scribing equipment SA will be described in detail later with reference to FIGS. 5A to 5D .

일부 실시예들에 따르면, 제1 내지 제3 스크라이브 툴들(ST1, ST2, ST3)을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제2 및 제3 스크라이브 장치들(ST2, ST3) 중 어느 하나가 생략될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 스크라이빙 장비(SA)는 제3 스크라이브 장치(ST3)이 생략되어 유리 기판(110)의 제1 면에 인접하게 배치된 제1 및 제2 스크라이브 장치들(ST1, ST2)만을 포함할 수 있다. 여기서 제1 면은 레진 패턴(120)과 접하는 유리 기판(110)의 표면을 지칭하며, 제2 면은 그 반대 표면을 지칭한다. 일부 실시예들에 따르면, 스크라이빙 장비(SA)는 제2 스크라이브 장치(ST2)이 생략되어 유리 기판(110)의 제1 면에 인접하게 배치된 제1 스크라이브 장치(ST) 및 제2 면에 배치된 제3 스크라이브 장치(ST3)만을 포함할 수 있다.According to some embodiments, first to third scribing tools ST1 , ST2 , and ST3 may be included. According to some embodiments, any one of the second and third scribe devices ST2 and ST3 may be omitted. According to some embodiments, in the scribing device SA, the third scribing device ST3 is omitted so that the first and second scribing devices ST1 and ST1 are disposed adjacent to the first surface of the glass substrate 110 . ST2) only. Here, the first surface refers to the surface of the glass substrate 110 in contact with the resin pattern 120 , and the second surface refers to the opposite surface. According to some embodiments, in the scribing device SA, the second scribing device ST2 is omitted so that the first scribing device ST and the second surface are disposed adjacent to the first surface of the glass substrate 110 . It may include only the third scribe device ST3 disposed in the .

일부 실시예들에 따르면, 제1 스크라이브 장치(ST1)은 레이저 스크라이브 장치일 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제1 스크라이브 장치(ST1)은 레진 패턴(120, 도 2a 참조)을 부분적으로 제거할 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제2 및 제3 스크라이브 장치들(ST2, ST3)은 다이아몬드 스크라이브 장치 등과 같은 기계적 스크라이브 장치일 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제2 및 제3 스크라이브 장치들(ST2, ST3)은 후술하는 스크라이브 라인(SL, 도 7a 참조)을 형성할 수 있다. According to some embodiments, the first scribing device ST1 may be a laser scribing device. According to some embodiments, the first scribing apparatus ST1 may partially remove the resin pattern 120 (refer to FIG. 2A ). According to some embodiments, the second and third scribe devices ST2 and ST3 may be mechanical scribing devices such as a diamond scribe device. According to some embodiments, the second and third scribe devices ST2 and ST3 may form a scribe line SL (refer to FIG. 7A ), which will be described later.

일부 실시예들에 따르면, 제1 내지 제3 스크라이브 장치들(ST1, ST2, ST3)은 동일한 구동 수단에 연결되거나, 동기화된 구동수단에 연결되어 동시에 동작할 수 있다. 이 경우, 제1 스크라이브 장치(ST1)이 레진 패턴(120)을 부분적으로 제거하며 이동하면서, 제2 스크라이브 장치(ST2) 및/또는 제3 스크라이브 장치(ST3)도 이에 동기화되어 이동하면서 스크라이브 라인(SL, 도 7a 참조)을 형성할 수 있다. 이에 따라 레진 패턴(120)이 제거되어 노출된 부분의 유리 기판(110)의 제1 면, 또는 이에 대응하는 제2 면 상에 스크라이브 라인(SL, 도 7a 참조)이 형성될 수 있다. According to some embodiments, the first to third scribe devices ST1 , ST2 , and ST3 may be connected to the same driving means or may be connected to a synchronized driving means to operate at the same time. In this case, while the first scribe device ST1 partially removes the resin pattern 120 and moves, the second scribe device ST2 and/or the third scribe device ST3 also moves in synchronization with the scribe line ( SL, see FIG. 7a) can be formed. Accordingly, a scribe line SL (refer to FIG. 7A ) may be formed on the first surface of the glass substrate 110 or the second surface corresponding to the portion exposed by removing the resin pattern 120 .

다른 일부 실시예들에 따르면, 제1 내지 제3 스크라이브 장치들(ST1, ST2, ST3)은 별도의 구동수단에 연결되어 서로 다른 시점에 동작할 수 있다. 이 경우, 제1 스크라이브 장치(ST1)에 의한 레진 패턴(120)의 부분적 제거가 완료된 후, 스크라이빙이 수행될 수 있다. 다른 일부 실시예들에 따르면, 제1 및 제3 스크라이브 장치(ST1, ST3)만이 제공되는 경우, 기준 마크들(123, 도 5a)을 이용하여 스크라이빙을 먼저 수행하고, 이어서 레진 패턴(120)을 선택적으로 제거하는 것도 가능하다.According to some other embodiments, the first to third scribe devices ST1 , ST2 , and ST3 may be connected to separate driving means to operate at different times. In this case, after the partial removal of the resin pattern 120 by the first scribing apparatus ST1 is completed, scribing may be performed. According to some other embodiments, when only the first and third scribing apparatuses ST1 and ST3 are provided, scribing is first performed using the reference marks 123 ( FIG. 5A ), and then the resin pattern 120 is provided. ) can be selectively removed.

도 2a 내지 도 2d는 하나 이상의 실시예들에 따른 효과를 설명하기 위한 도면들이다. 보다 구체적으로, 도 2a 내지 도 2d는 도 1에 도시된 스크라이빙 장비(SA)에 의한 레진 패턴(120)의 처리를 설명하기 위한 도면들로서, 각각 순서대로 아래 표 1에 기재된 제1 내지 제4 실험예의 결과를 도시한 것이다.2A to 2D are diagrams for explaining effects according to one or more embodiments. More specifically, FIGS. 2A to 2D are views for explaining the processing of the resin pattern 120 by the scribing equipment SA shown in FIG. 4 shows the results of the experimental example.

레진 패턴(120)은 스크린 프린팅의 방식으로 제공된 폴리 카보네이트 UV 레진 층을 임프린트하여 형성되었다. 제1 내지 제4 실험예에서 레진 패턴(120)은 약 31μm 두께를 갖는다. 이때, 레진 패턴(120)은 도 5a를 참조하여 설명하는 것처럼 렌티큘라 패턴(LT)을 포함하고, 레진 패턴(120)의 두께는 렌티큘라 패턴(LT)의 최고점, 즉, 유리 기판(110)으로부터 가장 멀리 이격된 점과 상기 레진 패턴(120)의 하면 사이의 거리일 수 있다.The resin pattern 120 was formed by imprinting a polycarbonate UV resin layer provided by screen printing. In the first to fourth experimental examples, the resin pattern 120 has a thickness of about 31 μm. At this time, the resin pattern 120 includes the lenticular pattern LT as described with reference to FIG. 5A , and the thickness of the resin pattern 120 is the highest point of the lenticular pattern LT, that is, the glass substrate 110 . It may be a distance between a point farthest away from and the lower surface of the resin pattern 120 .

레진 패턴(120)의 처리에 사용된 레이저는, CO2레이저로서, 약 10μm의 파장을 갖는 광을 출력하였다. 실험에 사용된 레이저의 파워는 약 48.4W 이었다.The laser used for the processing of the resin pattern 120 is a CO 2 laser and output light having a wavelength of about 10 μm. The power of the laser used in the experiment was about 48.4W.

Yes 레이저 셋 업laser setup 제거 영역removal area 평가evaluation 피사계 심도(mm)Depth of Field (mm) 속도
(mm/s)
speed
(mm/s)
깊이
(μm)
depth
(μm)

(μm)
width
(μm)
제1 실험예Experiment 1 5.45.4 15001500 3232 100~200100-200 표면 데미지surface damage 제2 실험예2nd Experimental Example -3-3 500500 2222 500500 레진 패턴 미제거Resin pattern not removed 제3 실험예3rd Experimental Example -3-3 200200 3131 400~800400-800 일부 미제거some not removed 제4 실험예Example 4 -8-8 100100 3131 670~1170670~1170 깨끗한 제거clean removal

도 2a 및 표 1을 참조하면, 제1 실험예에서 피사계 심도 약 5.4mm, 진행 속도 약 1500mm/s의 레이저 광을 이용하여 레진 패턴(120)을 제거한 경우, 제거된 부분의 깊이가 약 32μm으로, 약 31μm 두께의 레진 패턴(120)의 제거에 더해 유리 기판(100)의 상부가 일부 제거(즉, 손상)된 것을 확인할 수 있었다. 유리 기판 (100)의 손상은 레진 패턴(120)의 제거에 의해 유리 기판 (100)의 상부가 부분적으로 제거되는 것, 또는 레진 패턴(120)의 제거 중에 유리 기판의 상부가 부분적으로 제거되지 않았으나, 유리 기판(100)에 허용 값을 초과하는 과도한 응력이 인가된 것을 의미할 수 있다. 도 2b 및 표 1을 참조하면, 제2 실험예에서 피사계 심도 약 -3mm, 진행 속도 약 500mm/s의 레이저 광을 이용하여 레진 패턴(120)을 제거한 경우, 제거된 부분의 깊이가 약 22μm으로, 레진 패턴(120)이 완전히 제거되지 않고 잔존하는 것을 확인할 수 있었다. 이에 따라 레진 패턴(120) 아래에 배치된 유리 기판(110)의 제1면 노출되지 않았다.Referring to FIG. 2A and Table 1, when the resin pattern 120 was removed using laser light having a depth of field of about 5.4 mm and a progress rate of about 1500 mm/s in the first experimental example, the depth of the removed portion was about 32 μm. , it was confirmed that the upper portion of the glass substrate 100 was partially removed (ie, damaged) in addition to the removal of the resin pattern 120 having a thickness of about 31 μm. Damage to the glass substrate 100 is that the upper portion of the glass substrate 100 is partially removed by the removal of the resin pattern 120 , or the upper portion of the glass substrate is not partially removed during the removal of the resin pattern 120 . , may mean that an excessive stress exceeding an allowable value is applied to the glass substrate 100 . Referring to FIG. 2B and Table 1, in the second experimental example, when the resin pattern 120 was removed using laser light having a depth of field of about -3 mm and a progress rate of about 500 mm/s, the depth of the removed portion was about 22 μm. , it was confirmed that the resin pattern 120 remained without being completely removed. Accordingly, the first surface of the glass substrate 110 disposed under the resin pattern 120 was not exposed.

도 2c 및 표 1을 참조하면, 제3 실험예에서 피사계 심도 약 -3mm, 진행 속도 약 200mm/s의 레이저 광을 이용하여 레진 패턴(120)을 제거한 경우, 제거된 부분의 깊이가 약 31μm으로, 유리 기판(110)이 손상되지 않은 것을 확인할 수 있었다. 유리 기판(110)의 제1 면이 부분적으로 노출되었으나, 제1 면의 일부 영역에서 레진 패턴에 기포가 형성되면서 완전히 제거되지 않은 영역이 존재하였다. 레진 패턴(120)이 제거된 부분의 수평 폭은 약 400μm 내지 약 800μm 이었다. Referring to FIG. 2C and Table 1, in the third experimental example, when the resin pattern 120 was removed using laser light having a depth of field of about -3 mm and a progress rate of about 200 mm/s, the depth of the removed portion was about 31 μm. , it was confirmed that the glass substrate 110 was not damaged. Although the first surface of the glass substrate 110 was partially exposed, there was a region that was not completely removed as bubbles were formed in the resin pattern in some regions of the first surface. The horizontal width of the portion from which the resin pattern 120 was removed was about 400 μm to about 800 μm.

도 2d 및 표 1을 참조하면, 제4 실험예에서 피사계 심도 약 -8mm, 진행 속도 약 100mm/s의 레이저 광을 이용하여 레진 패턴(120)을 제거한 경우, 제거된 부분의 깊이가 약 31μm으로, 레진 패턴(120)이 완전히 제거되었고, 유리 기판(110)이 손상되지 않은 것을 확인할 수 있다. 이에 따라 손상 되지 않은 유리 기판(110)의 제1 면이 노출되었다. 또한, 레진 패턴(120)이 제거된 부분의 폭은 약 670μm 내지 약 1170μm 이었다.Referring to FIG. 2D and Table 1, in the fourth experimental example, when the resin pattern 120 was removed using laser light having a depth of field of about -8 mm and a progress rate of about 100 mm/s, the depth of the removed portion was about 31 μm. , it can be seen that the resin pattern 120 has been completely removed, and the glass substrate 110 is not damaged. Accordingly, the undamaged first surface of the glass substrate 110 was exposed. In addition, the width of the portion from which the resin pattern 120 is removed was about 670 μm to about 1170 μm.

도 3a는 비교예에 따른 유리 기판의 절단 결과를 나타내는 도면이며, 도 3b는 일 실험예에 따른 유리 기판의 절단 결과를 나타내는 도면이다.Figure 3a is a view showing the cutting result of the glass substrate according to the comparative example, Figure 3b is a view showing the cutting result of the glass substrate according to an experimental example.

도 3a를 참조하면, 레진 패턴(120)을 제거하지 않고, 제3 스크라이브 장치(ST3)을 이용하여 제2 면(즉 레진 패턴(120)이 형성된 면의 반대면)에 스크라이브 라인(SL, 도 7a 참조)을 형성한 후, 유리 기판(110)을 절단하여 분리한 결과가 도시되어 있다. 스크라이브 라인(SL, 도 7a 참조)은 제3 스크라이브 장치(ST3)에 의해 형성되었으며, 유리 기판(110)은 점 가압의 방식에 의해 절단되었다. 도 3a를 참조하면, 유리 기판(110)의 분리 과정에서 레진 패턴(120)이 유리 기판(110)으로부터 박리된 것이 확인되었다.Referring to FIG. 3A , without removing the resin pattern 120 , a scribe line SL, FIG. 7a), the result of cutting and separating the glass substrate 110 is shown. The scribe line SL (refer to FIG. 7A ) was formed by the third scribe device ST3, and the glass substrate 110 was cut by a point pressing method. Referring to FIG. 3A , it was confirmed that the resin pattern 120 was peeled from the glass substrate 110 during the separation process of the glass substrate 110 .

도 3b는 레진 패턴(120)을 제거하고, 제2 면에 스크라이브 라인(SL, 도 7a 참조)을 형성한 후, 상기 스크라이브 라인(SL, 도 7a 참조)을 따라 유리 기판(110)을 절단한 결과가 도시되어 있다. 도 3b를 참조하면, 유리 기판(110)의 분리 과정에서 레진 패턴(120)이 유리 기판(110)으로부터 박리되지 않은 것을 확인할 수 있다.FIG. 3B shows a process in which the resin pattern 120 is removed, a scribe line SL (refer to FIG. 7A ) is formed on the second surface, and the glass substrate 110 is cut along the scribe line SL (refer to FIG. 7A ). The results are shown. Referring to FIG. 3B , it can be seen that the resin pattern 120 is not peeled from the glass substrate 110 during the separation process of the glass substrate 110 .

도 1 내지 도 3b를 참조하면, 레진 패턴(120)을 부분적으로 제거하고, 스크라이브 라인(SL, 도 7a 참조)을 형성한 후, 유리 기판(110)을 절단한 경우 레진 패턴(120)이 유리 기판(110)으로부터 분리되지 않는 것을 확인할 수 있다. 이에 따라 유리 기판(110) 절단 및 제조의 신뢰성을 제고할 수 있다.Referring to FIGS. 1 to 3B , when the resin pattern 120 is partially removed, a scribe line SL (refer to FIG. 7A ) is formed, and then the glass substrate 110 is cut, the resin pattern 120 is glass. It can be seen that it is not separated from the substrate 110 . Accordingly, the reliability of cutting and manufacturing the glass substrate 110 may be improved.

도 4는 본 발명의 일부 실시예들에 따른 유리 기판 절단 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 4 is a flowchart for explaining a method for cutting a glass substrate according to some embodiments of the present invention.

도 5a는 일부 실시예들에 따른 유리 기판 절단 방법을 설명하기 위한 평면도이고, 도 5b는 도 5a의 5E를 확대하여 도시한 사시도이며, 도 5c는 도 5a의 절단선, 5I-5I', 5II-5II' 및 5III-5III'를 따라 취한 부분단면도들이다.5A is a plan view for explaining a method of cutting a glass substrate according to some embodiments, FIG. 5B is an enlarged perspective view of 5E of FIG. 5A, and FIG. 5C is a cut line of FIG. 5A, 5I-5I', 5II Partial cross-sectional views taken along -5II' and 5III-5III'.

도 4 내지 도 5c를 참조하면 P10에서 유리 기판(110) 상에 통합 패턴(IP)을 포함하는 레진 패턴(120) 및 기준 마크들(123)을 형성할 수 있다. Referring to FIGS. 4 to 5C , the resin pattern 120 including the integrated pattern IP and the reference marks 123 may be formed on the glass substrate 110 at P10 .

일부 실시예들에 따르면, 유리 기판(110)은 평판 형상을 가질 수 있다. 이하에서는 설명의 편의상 유리 기판(110)이 대략 사각 평판의 형상을 갖는 것을 기준으로 설명하지만, 이는 어떠한 의미에서도 여기에 개시된 실시예들을 제한하지 않는다. 예컨대, 유리 기판(110)은 원형, 타원형, 삼각형, 오각형 이상의 다각형등 임의의 다양한 평판형상을 가질 수 있다.According to some embodiments, the glass substrate 110 may have a flat plate shape. Hereinafter, for convenience of description, the glass substrate 110 will be described based on the shape of a substantially rectangular flat plate, but this does not limit the embodiments disclosed herein in any sense. For example, the glass substrate 110 may have any of various flat plate shapes, such as a circle, an ellipse, a triangle, a polygon of a pentagon or more.

유리 기판(110) 상에 레진 패턴(120) 및 기준 마크들(123)을 형성하는 것은, 기판 상에 레진층(미도시)을 코팅하고, 상기 레진층을 임프린트 등의 방식으로 패터닝하는 것을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 레진층은 PMMA(Poly Methyl Meth Acrylate), MS(MMA-Styrene copolymer), PS(poly-styrene), PC(poly-carbonate), PET(polyethylene-terephthalate) 등의 물질을 포함할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 레진층은 자외선 경화성 물질을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 레진 패턴(120)에 자외선 및/또는 적외선을 이용한 큐어링 등이 추가적으로 수행될 수 있다. 자외선 및/또는 적외선 큐어링에 의해 레진 패턴(120)의 강도 및 유리 기판(110)에 대한 접착력이 강화될 수 있다. Forming the resin pattern 120 and the reference marks 123 on the glass substrate 110 includes coating a resin layer (not shown) on the substrate, and patterning the resin layer by imprinting or the like. can do. According to some embodiments, the resin layer is made of a material such as PMMA (Poly Methyl Meth Acrylate), MS (MMA-Styrene copolymer), PS (poly-styrene), PC (poly-carbonate), PET (polyethylene-terephthalate), etc. It may include, but is not limited to. The resin layer may include an ultraviolet curable material. According to some embodiments, curing using ultraviolet and/or infrared rays may be additionally performed on the resin pattern 120 . The strength of the resin pattern 120 and adhesion to the glass substrate 110 may be enhanced by UV and/or infrared curing.

이하에서는, 도 1에서 정의한 것과 마찬가지로 레진 패턴(120)과 접하는 면을 제1 면이라 지칭하고, 그 반대면을 제2 면이라고 지칭하도록 한다. 또한, 유리 기판(110)의 제1 면과 평행하고 서로 실질적으로 수직한 두 방향을 각각 순서대로 제1 및 제2 방향(X 방향, Y 방향)이라 정의하고, 상기 제1 면과 실질적으로 수직한 방향을 제3 방향(Z 방향)이라고 정의한다.Hereinafter, as defined in FIG. 1 , a surface in contact with the resin pattern 120 is referred to as a first surface, and an opposite surface is referred to as a second surface. In addition, two directions parallel to the first surface of the glass substrate 110 and substantially perpendicular to each other are defined as first and second directions (X-direction, Y-direction) in order, respectively, and substantially perpendicular to the first surface. One direction is defined as a third direction (Z direction).

일부 실시예들에 따르면, 유리 기판(110) 상에 유효 광학 영역(110E) 및 바깥 영역(110R)이 정의될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 바깥 영역(110R)은 유효 광학 영역(110E)을 둘러쌀 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 유효 광학 영역(110E)은 본 명세서에서 설명한 방법에 의해 제조된 유리 제품이 어떠한 광학 제품(예컨대, 디스플레이)에 적용되었을 때 실질적인 광학적 기능(예컨대, 높은 균일도의 광 추출)을 수행하는 영역일 수 있다. According to some embodiments, an effective optical area 110E and an outer area 110R may be defined on the glass substrate 110 . According to some embodiments, the outer region 110R may surround the effective optical region 110E. According to some embodiments, the effective optical area 110E has a substantial optical function (eg, high uniformity of light extraction) when a glass article made by the methods described herein is applied to any optical article (eg, a display). It may be an area in which

일부 실시예들에 따르면, 레진 패턴(120)은 통합 패턴(IP)을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 통합 패턴(IP)은 렌티큘라 패턴(LT)과 광 추출 패턴(EP)을 포함할 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 유효 광학 영역(110E) 상에 통합 패턴들(IP)이 형성될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 바깥 영역(110R) 상에 통합 패턴들(IP)이 형성되지 않을 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 바깥 영역(110R)에 렌티큘라 패턴(LT)만이 형성되되, 광 추출 패턴(EP)은 형성되지 않을 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 렌티큘라 패턴(LT)은 유효 광학 영역(110E)으로부터 바깥 영역(110R)까지 연장될 수 있다.According to some embodiments, the resin pattern 120 may include an integrated pattern (IP). According to some embodiments, the integrated pattern IP may include a lenticular pattern LT and a light extraction pattern EP. According to some embodiments, integrated patterns IP may be formed on the effective optical area 110E. According to some embodiments, the integrated patterns IP may not be formed on the outer region 110R. According to some embodiments, only the lenticular pattern LT is formed in the outer region 110R, but the light extraction pattern EP may not be formed. According to some embodiments, the lenticular pattern LT may extend from the effective optical area 110E to the outer area 110R.

레진 패턴(120)의 두께(즉, 제3 방향(Z 방향) 길이)는 약 30μm 이상일 수 있다. 여기서 레진 패턴(120)은 렌티큘라 패턴(LT)을 포함하므로, 레진 패턴(120)의 두께는, 제3 방향(Z 방향)의 최대 두께를 지칭한다. 또는 대체적으로, 레진 패턴(120)의 두께는, 렌티큘라 패턴(LT)의 최고점으로부터 유리 기판과 접하는 레진 패턴(120)의 하면까지의 거리일 수 있다.A thickness (ie, a third direction (Z direction) length) of the resin pattern 120 may be about 30 μm or more. Here, since the resin pattern 120 includes the lenticular pattern LT, the thickness of the resin pattern 120 refers to the maximum thickness in the third direction (Z direction). Alternatively, the thickness of the resin pattern 120 may be a distance from the highest point of the lenticular pattern LT to the lower surface of the resin pattern 120 in contact with the glass substrate.

도 5a에서 하나의 유리 기판(110)에 네 개의 실질적으로 동일한 유효 광학 영역(110E)이 정의되는 것으로 도시되었으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 보다 구체적으로, 생산하려는 유리 제품(예컨대, 도광판)의 스펙에 따라 다양한 크기 및 개수의 유효 광학 영역(110E)이 정의될 수 있다. 즉, 하나의 유리 기판(110)에 2개, 3개, 또는 5개 이상의 유효 광학 영역이 정의되거나, 서로 다른 크기 및 형상을 갖는 유효 광학 영역이 정의되는 것도 가능하다.Although it is illustrated that four substantially identical effective optical regions 110E are defined on one glass substrate 110 in FIG. 5A , the present invention is not limited thereto. More specifically, various sizes and numbers of effective optical areas 110E may be defined according to specifications of a glass product (eg, a light guide plate) to be produced. That is, two, three, or five or more effective optical regions may be defined on one glass substrate 110 , or effective optical regions having different sizes and shapes may be defined.

일부 실시예들에 따르면, 렌티큘라 패턴(LT)의 단면 형상은 예컨대, 쐐기 형상이나 볼록하게 돌출된 원호 형상, 다각호 형상, 및 돔 형상들 중 어느 하나를 가질 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 렌티큘라 패턴(LT)은 제2 방향(Y 방향)을 따라 길게 연장될 수 있다. 렌티큘라 패턴들(LT)은 제1 방향(X 방향)을 따라 정렬된 복수의 열을 이루도록 형성될 수 있다. According to some embodiments, the cross-sectional shape of the lenticular pattern LT may have, for example, any one of a wedge shape, a convexly protruding arc shape, a polygonal arc shape, and a dome shape. According to some embodiments, the lenticular pattern LT may extend long in the second direction (Y direction). The lenticular patterns LT may be formed to form a plurality of columns aligned along the first direction (X direction).

일부 실시예들에 따르면, 광 추출 패턴(EP)은 렌티큘라 패턴(LT)이 부분적으로 리세스된 형상을 가질 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 광 추출 패턴(EP)은 렌티큘라 패턴(LT)에 형성된 덴트 또는 리세스일 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 광 추출 패턴(EP)은 주기적이거나 또는 비주기적인 피치로 형성될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 광 추출 패턴(EP)은 규칙적인 또는 비규칙적인 형상 및/또는 크기를 가질 수 있다. 도 2c에, 광 추출 패턴(EP)의 위에서 본 프로파일은 사각형인 것으로 도시되었으나, 이에 제한되는 것은 아니다. 광 추출 패턴(EP)의 위에서 본 프로파일은 다각형, 원형, 타원형 등 임의의 다양한 형상을 가질 수 있다.According to some embodiments, the light extraction pattern EP may have a shape in which the lenticular pattern LT is partially recessed. According to some embodiments, the light extraction pattern EP may be a dent or a recess formed in the lenticular pattern LT. According to some embodiments, the light extraction pattern EP may be formed with a periodic or aperiodic pitch. According to some embodiments, the light extraction pattern EP may have a regular or irregular shape and/or size. In FIG. 2C , the profile viewed from above of the light extraction pattern EP is illustrated as having a rectangular shape, but is not limited thereto. The profile viewed from above of the light extraction pattern EP may have any of various shapes such as polygons, circles, ellipses, and the like.

일부 실시예들에 따르면, 렌티큘라 패턴(LT)은 유효 광학 영역(110E)의 평균경사각을 크게 할 수 있다. 이에 따라 유효 광학 영역(110E)에서 진행하는 광이 전반사 임계각 이하의 성분을 많이 갖게 되는바, 출사되는 광량이 증가할 수 있다.According to some embodiments, the lenticular pattern LT may increase the average inclination angle of the effective optical area 110E. Accordingly, since the light traveling in the effective optical area 110E has many components equal to or less than the total reflection critical angle, the amount of emitted light may increase.

일부 실시예들에 따르면, 레진층의 패터닝 시에 기준 마크들(123)이 함께 형성될 수 있다. 기준 마크들(123)은 대략 십자 형상을 가질 수 있다. 하지만 이에 제한되는 것은 아니고, 기준 마크들(123)은 다각형, 원형, 별형(star shape), 타원형 및 불규칙형 등 광학적으로 식별 용이한 임의의 형상을 가질 수 있다. 기준 마크들(123)의 제1 및 제2 방향(X 방향, Y 방향) 길이는 각각 대략 수백 마이크로미터 범위이고, 폭은 약 100 마이크로미터 내외일 수 있으나, 이는 예시적인 수치일 뿐 어떠한 의미에서도 본 발명을 제한하지 않는다. 일부 실시예들에 따르면, 기준 마크들(123)은 후술하는 레진 패턴(120)의 선택적 제거 공정의 정밀도를 제고시키기 위한 기준일 수 있다.According to some embodiments, reference marks 123 may be formed together when the resin layer is patterned. The fiducial marks 123 may have a substantially cross shape. However, the present invention is not limited thereto, and the reference marks 123 may have any shape that is optically easy to identify, such as a polygon, a circle, a star shape, an ellipse, and an irregular shape. The lengths of the first and second directions (X-direction, Y-direction) of the fiducial marks 123 may be in the range of approximately several hundred micrometers, respectively, and the width may be approximately 100 micrometers, but this is only an exemplary numerical value and in any sense It does not limit the invention. According to some embodiments, the reference marks 123 may be a reference for improving the precision of the selective removal process of the resin pattern 120 to be described later.

일부 실시예들에 따르면, 기준 마크들(123)은 레진 패턴(120)의 각 코너에 인접하게 둘 이상 배치될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 기준 마크들(123)은 레진 패턴(120)의 네 변의 중점에 인접하게 배치될 수 있다. 하지만 도 2a에 도시된 기준 마크들(123)의 배치는 예시적인 것으로서 어떠한 의미에서도 본 발명을 제한하지 않는다. 즉, 기준 마크들(123)의 배치는 절단 공정으로 형성하려는 유리 제품의 크기 및 형상에 따라 다양하게 변형될 수 있다.According to some embodiments, two or more reference marks 123 may be disposed adjacent to each corner of the resin pattern 120 . According to some embodiments, the reference marks 123 may be disposed adjacent to midpoints of four sides of the resin pattern 120 . However, the arrangement of the fiducial marks 123 shown in FIG. 2A is exemplary and does not limit the present invention in any sense. That is, the arrangement of the reference marks 123 may be variously modified according to the size and shape of the glass product to be formed by the cutting process.

유리 기판(110)을 절단하여 분리하는 경우, 코팅, 임프린팅, 절단 및 연삭(grinding) 등을 포함하는 일련의 공정들의 누적 오차로 인해 유리 기판(110)의 절단면과 통합 패턴(IP)에 포함된 렌티큘라 패턴(LT)의 연장 방향(즉, 제2 방향(Y 방향))이 미스 얼라인되는 문제점이 있다.When the glass substrate 110 is cut and separated, it is included in the cut surface of the glass substrate 110 and the integrated pattern (IP) due to the cumulative error of a series of processes including coating, imprinting, cutting and grinding, etc. There is a problem in that the extension direction (ie, the second direction (Y direction)) of the lenticular pattern LT is misaligned.

하나 이상의 예시적인 실시예들에 따르면, 임프린트 과정에서 통합 패턴(IP)과 정확하게 정렬된 기준 마크들(123)을 이용하여 제1 및 제2 스크라이빙 예정부(SPP1, SPP2, 도 6a 참조)을 형성하고, 제1 및 제2 스크라이빙 예정부(SPP1, SPP2)을 기준하여 스크라이브 라인(SL, 도 7a 참조)을 형성할 수 있다. 이에 따라 상기 유리 기판(110)의 절단면과 렌티큘라 패턴(LT)의 연장 방향(즉, 제2 방향)을 정확하게 정렬시킬 수 있다. 특히, 상기 유리 기판(110)이 도광판으로 사용되는 경우, 후술하는 절단 공정에서 형성되는 유리 기판(110)의 절단면들 중 광 추출 면에 대응되는 것과 상기 렌티큘라 패턴(LT)이 실질적으로 평행하도록 정렬될 수 있다. 이에 따라 최종 제품인 도광판의 광학적 성능이 제고될 수 있다.According to one or more exemplary embodiments, the first and second scribing schedulers SPP1 and SPP2 (see FIG. 6A ) using the reference marks 123 precisely aligned with the integrated pattern IP during the imprinting process. may be formed, and a scribe line SL (refer to FIG. 7A ) may be formed based on the first and second scribing scheduled portions SPP1 and SPP2. Accordingly, the cutting surface of the glass substrate 110 and the extending direction (ie, the second direction) of the lenticular pattern LT may be precisely aligned. In particular, when the glass substrate 110 is used as a light guide plate, the lenticular pattern LT is substantially parallel to that corresponding to the light extraction surface among the cut surfaces of the glass substrate 110 formed in a cutting process to be described later. can be sorted. Accordingly, the optical performance of the light guide plate, which is the final product, may be improved.

도 6a는 일부 실시예들에 따른 유리 기판 절단 방법을 설명하기 위한 평면도이며, 도 6b는 도 6a의 절단선, 6I-6I', 6II-4II' 및 6III-6III'를 따라 취한 부분단면도들이다.6A is a plan view for explaining a method of cutting a glass substrate according to some embodiments, and FIG. 6B is a partial cross-sectional view taken along the cutting line of FIG. 6A, 6I-6I', 6II-4II' and 6III-6III'.

도 1, 도 4, 도 6a 및 도 6b를 참조하면, P20에서 레진 패턴(120)의 일부를 선택적으로 제거할 수 있다. 1, 4, 6A, and 6B , a portion of the resin pattern 120 may be selectively removed at P20.

일부 실시예들에 따르면, 레진 패턴(120)의 선택적 제거에 의해 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들(SPP1, SPP2)이 형성될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들(SPP1, SPP2)에서 유리 기판(100)의 상면이 노출될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제1 스크라이빙 예정부들(SPP1)은 제1 방향(X 방향)과 실질적으로 평행하게 연장될 수 있고, 제2 스크라이빙 예정부들(SPP2)은 제2 방향(Y 방향)과 실질적으로 평행하게 연장될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 각각의 제1 스크라이빙 예정부들(SPP1)은 제2 스크라이빙 예정부들(SPP2) 각각과 십자 형상으로 교차할 수 있다. According to some embodiments, the first and second planned scribing portions SPP1 and SPP2 may be formed by the selective removal of the resin pattern 120 . According to some embodiments, the upper surface of the glass substrate 100 may be exposed in the first and second planned scribing portions SPP1 and SPP2 . According to some embodiments, the first planned scribing parts SPP1 may extend substantially parallel to the first direction (X direction), and the second planned scribing parts SPP2 may extend in the second direction ( Y direction) and may extend substantially parallel to each other. According to some embodiments, each of the first planned scribing parts SPP1 may cross each of the second planned scribing parts SPP2 in a cross shape.

일부 실시예들에 따르면, 레진 패턴(120)은 제1 스크라이브 장치(ST1)에 의해 선택적으로 제거될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제1 스크라이브 장치(ST1)은 레이저 스크라이브 장치일 수 있고, 제1 스크라이브 장치(ST1)에 의해 생성된 레이저 광은 유리 기판(110)에 대해 투명한 파장을 가질 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제1 스크라이브 장치(ST1)에 의해 생성된 레이저 광의 유리 기판(110)에 대한 투과율은 레진 패턴(120)에 대한 투과율보다 더 높을 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제1 스크라이브 장치(ST1)에 의해 생성된 레이저 광의 파장은 약 8 μm 내지 약 12μm일 수 있다. 이에 따라 제1 스크라이브 장치(ST1)에 의해 생성된 레이저 광은 유리 기판(110)을 실질적으로 손상시키지 않고, 레진 패턴(120)만을 선택적으로 제거할 수 있다. 즉, 레진 패턴(120)의 선택적으로 제거라 함은, 유리 기판(110)의 손상시키지 않고 레진 패턴(120)만을 부분적으로 제거하는 것을 의미한다.According to some embodiments, the resin pattern 120 may be selectively removed by the first scribing apparatus ST1 . According to some embodiments, the first scribing device ST1 may be a laser scribing device, and laser light generated by the first scribing device ST1 may have a wavelength transparent to the glass substrate 110 . According to some embodiments, the transmittance of the laser light generated by the first scribing apparatus ST1 to the glass substrate 110 may be higher than that to the resin pattern 120 . According to some embodiments, the wavelength of the laser light generated by the first scribing device ST1 may be about 8 μm to about 12 μm. Accordingly, the laser light generated by the first scribing apparatus ST1 may selectively remove only the resin pattern 120 without substantially damaging the glass substrate 110 . That is, selectively removing the resin pattern 120 means partially removing only the resin pattern 120 without damaging the glass substrate 110 .

일부 실시예들에 따르면, 제1 스크라이브 장치(ST1)에 의해 생성된 레이저 광의 피사계 심도는 -3mm와 같거나 그보다 더 작을 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제1 스크라이브 장치(ST1)의 진행속도 및, 그에 따른 레이저광의 진행 속도는 약 200mm/s 이하일 수 있다.According to some embodiments, the depth of field of the laser light generated by the first scribing device ST1 may be equal to or smaller than -3 mm. According to some embodiments, the traveling speed of the first scribing device ST1 and, accordingly, the traveling speed of the laser light may be about 200 mm/s or less.

일부 실시예들에 따르면, 레진 패턴(120)의 선택적 제거는 기준 마크들(123, 도 2a 참조)을 얼라인 마크로 하여 수행될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 제1 방향(X 방향)을 따라 레진 패턴(120)을 사이에 두고 이격된 기준 마크들(123, 도 2a 참조)을 연결하고, 제1 방향(X 방향)과 실질적으로 평행한 제1 직선 상에 배치된 레진 패턴(120)이 제거됨에 따라 제1 스크라이빙 예정부(SPP1)가 형성될 수 있다. 마찬가지로, 일부 실시예들에 따르면, 제2 방향(Y 방향)을 따라 레진 패턴(120)을 사이에 두고 이격된 기준 마크들(123, 도 2a 참조)을 연결하고, 제2 방향(Y 방향)과 실질적으로 평행한 제2 직선 상에 배치된 레진 패턴(120)이 제거됨에 따라 제1 스크라이빙 예정부(SPP1)가 형성될 수 있다.According to some embodiments, the selective removal of the resin pattern 120 may be performed using the reference marks 123 (refer to FIG. 2A ) as alignment marks. According to some embodiments, the reference marks 123 (refer to FIG. 2A ) spaced apart with the resin pattern 120 therebetween are connected in the first direction (X direction), and the first direction (X direction) and substantially As the resin pattern 120 disposed on the first straight line parallel to , is removed, the first scheduled scribing portion SPP1 may be formed. Similarly, according to some embodiments, the reference marks 123 (refer to FIG. 2A ) spaced apart with the resin pattern 120 therebetween are connected in the second direction (Y direction), and the second direction (Y direction) As the resin pattern 120 disposed on the second straight line substantially parallel to the , the first scribing scheduled portion SPP1 is formed.

일부 실시예들에 따르면, 기준 마크들(123, 도 2a 참조)이 레진 패턴(120)의 선택적 제거와 함께 제1 스크라이브 장치(ST1)에 의해 제거될 수 있다. 도 6a를 참조하면 기준 마크들(123, 도 5a 참조)이 완전히 제거된 것으로 도시되었으나, 이에 제한되는 것은 아니고, 기준 마크들(123, 도 5a 참조)의 일부가 잔존하는 것도 가능하다.According to some embodiments, the reference marks 123 (refer to FIG. 2A ) may be removed by the first scribing apparatus ST1 together with the selective removal of the resin pattern 120 . Referring to FIG. 6A , although it is illustrated that the reference marks 123 (see FIG. 5A ) are completely removed, the present invention is not limited thereto, and some of the reference marks 123 (see FIG. 5A ) may remain.

도 7a는 일부 실시예들에 따른 유리 기판 절단 방법을 설명하기 위한 평면도이며, 도 7b는 도 7a의 절단선, 7I-7I', 7II-7II' 및 7III-7III'를 따라 취한 부분단면도들이다.7A is a plan view for explaining a method for cutting a glass substrate according to some embodiments, and FIG. 7B is a partial cross-sectional view taken along the cutting line of FIG. 7A, 7I-7I', 7II-7II' and 7III-7III'.

도 1, 도 4, 도 7a 및 도 7b를 참조하면, P30에서 스크라이브 라인(SL)을 형성할 수 있다.1, 4, 7A, and 7B , a scribe line SL may be formed at P30.

일부 실시예들에 따르면, 스크라이브 라인(SL)은 후술하는 절단 공정에서 절단면의 품질을 향상시키기 위한 균열, 마이크로 터널 및/또는 천공일 수 있다. 도 5b는 제3 스크라이브 장치(ST3)이 생략된 경우(또는, 생략되지 않았으나, 스크라이빙 공정을 수행하지 않은 경우)에 관한 도면이다. 도 7b에 도시된 스크라이브 라인(SL)은 제2 스크라이브 장치(ST2)에 의해 형성된 것일 수 있다. 일부 실시예들에 따르면 스크라이브 라인(SL)의 깊이는 유리 기판(110) 두께(즉 제3 방향(Z 방향) 길이)의 약 1/20 내지 1/2일 수 있으나 이에 제한되지 않는다.According to some embodiments, the scribe line SL may be a crack, a microtunnel, and/or a perforation to improve the quality of the cut surface in a cutting process to be described later. FIG. 5B is a diagram illustrating a case in which the third scribing apparatus ST3 is omitted (or, although not omitted, a scribing process is not performed). The scribe line SL shown in FIG. 7B may be formed by the second scribe device ST2. According to some embodiments, the depth of the scribe line SL may be about 1/20 to 1/2 of the thickness of the glass substrate 110 (ie, the length in the third direction (Z direction)), but is not limited thereto.

일부 실시예들에 따르면, 스크라이브 라인들(SL)은 제1 및 제2 스크라이빙 예정부(SPP1, SPP2)을 참조하여 형성될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 스크라이브 라인들(SL)은 제1 및 제2 스크라이빙 예정부(SPP1, SPP2)의 중심선 상에서 연장될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 스크라이브 라인들(SL)은 유리 기판(110)의 상면을 완전히 가로지르도록 연장될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 각각의 스크라이브 라인들(SL)에 의해 유리 기판(110)은 두 부분으로 나눠질 수 있다. 이에 따라 절단 공정시 유리 기판(110은 스크라이브 라인들(SL)을 중심으로 서로 다른 유리 제품으로 분리될 수 있다. According to some embodiments, the scribe lines SL may be formed with reference to the first and second scribing schedule portions SPP1 and SPP2. According to some embodiments, the scribe lines SL may extend on center lines of the first and second scribing scheduled portions SPP1 and SPP2. According to some embodiments, the scribe lines SL may extend to completely cross the top surface of the glass substrate 110 . According to some embodiments, the glass substrate 110 may be divided into two parts by respective scribe lines SL. Accordingly, during the cutting process, the glass substrate 110 may be separated into different glass products based on the scribe lines SL.

일부 실시예들에 따르면, 각각의 유효 광학 영역(110E)은 스크라이브 라인들(SL)에 의해 둘러싸일 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 각각의 유효 광학 영역(110E)은 스크라이브 라인들(SL)을 사이에 두고 이격되어 배치될 수 있다.According to some embodiments, each effective optical area 110E may be surrounded by scribe lines SL. According to some embodiments, each of the effective optical areas 110E may be disposed to be spaced apart from each other with the scribe lines SL interposed therebetween.

도 7c 및 도 7d는 도 7a의 절단선, 7I-7I', 7II-7II' 및 7III-7III'를 따라 취한 부분단면도들로서, 보다 구체적으로, 서로 다른 방식으로 형성된 스크라이브 라인들(SL)을 설명하기 위한 부분 단면도들이다.7C and 7D are partial cross-sectional views taken along the cutting line 7I-7I', 7II-7II' and 7III-7III' of FIG. 7A, and more specifically, scribe lines SL formed in different ways These are partial cross-sectional views for

도 7c는 제2 스크라이브 장치(ST2)이 생략되고 제3 스크라이브 장치(ST3)에 의해 스크라이브 라인(SL)이 형성된 경우에 관한 도면이다. 또는 대체적으로, 도 7c는 제2 및 제3 스크라이브 장치들(ST2, ST3)이 모두 제공되었으나, 제3 스크라이브 장치(ST3)에 의한 스크라이빙 공정을 수행하지 않은 경우에 관한 도면이다.FIG. 7C is a diagram illustrating a case in which the second scribe device ST2 is omitted and the scribe line SL is formed by the third scribe device ST3. Alternatively, alternatively, FIG. 7C is a diagram illustrating a case in which both the second and third scribing devices ST2 and ST3 are provided, but a scribing process by the third scribing device ST3 is not performed.

도 1 및 도 7c를 참조하면, 제2 면에 스크라이브 라인(SL)이 형성될 수 있다. 제2 면에 형성된 스크라이브 라인들(SL)은 유리 기판(110)의 상면을 완전히 가로지르도록 연장될 수 있고, 일부 실시예들에 따르면, 각각의 스크라이브 라인들(SL)에 의해 유리 기판(110)은 두 부분으로 나눠질 수 있다. 1 and 7C , a scribe line SL may be formed on the second surface. The scribe lines SL formed on the second surface may extend to completely cross the top surface of the glass substrate 110 , and according to some embodiments, the scribe lines SL may be formed on the glass substrate 110 by the respective scribe lines SL. ) can be divided into two parts.

도 7d는 제1 내지 제3 스크라이브 장치(ST1, ST2, ST3)이 모두 사용된 경우에 관한 도면이다. 도 7d를 참조하면, 스크라이브 라인(SL)은 제1 및 제2 면에 각각 형성될 수 있다. 7D is a diagram illustrating a case in which all of the first to third scribing devices ST1, ST2, and ST3 are used. Referring to FIG. 7D , the scribe line SL may be formed on the first and second surfaces, respectively.

도 4 및 도 7a를 참조하면, P40에서 유리 기판(110)을 절단할 수 있다.4 and 7A , the glass substrate 110 may be cut at P40.

유리 기판(110)은 스크라이브 라인(SL)을 따라 절단될 수 있다. 유리 기판(110)의 분리는 볼 브레이킹, 바 브레이킹 및 기울임 브레이킹 등 공지된 임의의 방법에 의해 수행될 수 있다. 볼 브레이킹은 유리 기판(110)에 형성된 스크라이브 라인(SL)을 점 가압하는 방식일 수 있다. 바 브레이킹 및 기울임 브레이킹은 유리 기판(110)에 형성된 스크라이브 라인(SL)을 선 가압하는 방식일 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 유리 기판(110)의 가장자리에 인접하게 배치된 스크라이브 라인(SL)을 따라 유리 기판(110)을 절단할 때, 볼 브레이킹 방식을 이용할 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 유리 기판(110)의 중앙부에 인접하게 배치된 스크라이브 라인(SL)을 따라 유리 기판(110)을 절단할 때, 바 브레이킹 및 기울임 브레이킹을 이용할 수 있다.The glass substrate 110 may be cut along the scribe line SL. Separation of the glass substrate 110 may be performed by any known method such as ball breaking, bar breaking, and tilt breaking. Ball breaking may be a method of point-pressing the scribe line SL formed on the glass substrate 110 . Bar breaking and tilt breaking may be a method of pre-pressing the scribe line SL formed on the glass substrate 110 . According to some embodiments, when cutting the glass substrate 110 along the scribe line SL disposed adjacent to the edge of the glass substrate 110, a ball breaking method may be used. According to some embodiments, when cutting the glass substrate 110 along the scribe line SL disposed adjacent to the central portion of the glass substrate 110, bar breaking and tilt breaking may be used.

종래의 도광판의 제조 공정은 유리 기판을 용도에 맞게 절단한 후, 절단된 유리 기판 각각에 대해 렌티큘라 패턴 및 광 추출 패턴을 형성하기 위한 별도의 공정들이 수행되었다. 예시적인 실시예들에 따르면, 유리 기판(110)을 절단하기 전 유리 기판(110) 상에 레진 패턴(120)을 형성한 후 이를 절단하므로, 유리 제품(예컨대, 도광판)의 생산성을 크게 향상시킬 수 있다.In the conventional manufacturing process of the light guide plate, after cutting the glass substrate according to the purpose, separate processes for forming a lenticular pattern and a light extraction pattern for each of the cut glass substrates were performed. According to exemplary embodiments, since the resin pattern 120 is formed on the glass substrate 110 before cutting the glass substrate 110 and then cut, the productivity of glass products (eg, light guide plate) can be greatly improved. can

일반적인 도광판은 측면 절단면을 통해 광이 입사하게 되므로, 임프린트된 유리의 절단면을 고품질(즉, 결함 발생 없이)로 형성하는 것은 광학 성능에 매우 중요하다. 레진 패턴(120)이 형성된 면을 기계적으로 커팅하는 경우, 높은 압력의 커팅 스크라이브 장치를 사용하는 경우에도 레진 패턴(120)에 의해 차단되어 유리 기판(110)의 표면에 스크라이브 장치가 닿지 않는 기술적 어려움이 있다. Since light is incident through the side cut surface of a general light guide plate, it is very important for optical performance to form the cut surface of the imprinted glass with high quality (ie, no defects). When the surface on which the resin pattern 120 is formed is mechanically cut, the scribe device does not touch the surface of the glass substrate 110 because it is blocked by the resin pattern 120 even when a high pressure cutting scribe device is used. There is this.

하나 이상의 예시적인 실시예들에 따르면, 제1 스크라이브 장치(ST1)이 유리 기판(110)의 손상 없이 레진 패턴(120)만을 선택적으로 제거할 수 있으며, 제2 및/또는 제3 스크라이브 장치(ST2, ST3)에 의해 레진 패턴이 제거된 제1면 또는 이에 대응하는 부분이 제2면에 스크라이브 라인(SL)을 형성할 수 있다. 따라서, 스크라이브 라인(SL)을 형성하기 전에 레진 패턴(120)을 선택적으로 제거함으로써, 전술한 것과 같이 생산성을 제고함과 동시에 신뢰성을 확보할 수 있다.According to one or more exemplary embodiments, the first scribing device ST1 may selectively remove only the resin pattern 120 without damaging the glass substrate 110 , and the second and/or third scribing device ST2 may be used. , ST3) may form a scribe line SL on the first surface or a portion corresponding thereto from which the resin pattern is removed. Therefore, by selectively removing the resin pattern 120 before forming the scribe line SL, as described above, productivity can be improved and reliability can be secured.

도 8은 일부 실시예들에 따른 유리 제조 방법을 설명하기 위한 순서도이다. 도 9는 일부 실시예들에 따른 유리 제조 방법을 설명하기 위한 단면도이다. 보다 구체적으로, 도 9는 유리 기판(110)의 절단면 부분을 확대하여 도시한 부분 단면도이다.8 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a glass according to some embodiments. 9 is a cross-sectional view for explaining a method of manufacturing a glass according to some embodiments. More specifically, FIG. 9 is a partial cross-sectional view illustrating an enlarged cut surface of the glass substrate 110 .

도 8의 P10 내지 P40은 도 1을 참조하여 설명한 P10 내지 P40과 실질적으로 동일할 수 있다. 따라서, 설명의 편의상 도 1을 참조하여 설명한 것과 중복되는 것은 생략하고 차이점을 위주로 설명하도록 한다.P10 to P40 of FIG. 8 may be substantially the same as P10 to P40 described with reference to FIG. 1 . Therefore, for convenience of description, duplicates of those described with reference to FIG. 1 will be omitted, and differences will be mainly described.

도 8 및 도 9를 참조하면, P50에서 절단면을 면취할 수 있다.Referring to FIGS. 8 and 9 , the cut surface may be chamfered at P50.

절단면의 면취는 회전하는 면취스크라이브 장치(CHW)에 기판을 연장방향으로 접근시키는 것에 의해 수행될 수 있다. 면취된 유리 기판(110)의 품질은 두께(t), 면취 폭(Wc), 면취 높이(Hc) 및 절단면 각도(θ)에 의해 특성화될 수 있다. 여기서 절단면 각도는 절단면과 제1 면의 법선이 이루는 각도에 의해 정의될 수 있다.The chamfering of the cut surface may be performed by approaching the substrate to the rotating chamfering scribe device (CHW) in the extending direction. The quality of the chamfered glass substrate 110 may be characterized by a thickness (t), a chamfer width (Wc), a chamfer height (Hc), and a cut plane angle (θ). Here, the cutting plane angle may be defined by an angle between the cutting plane and the normal of the first surface.

특히 최종 생산되는 유리 제품이 도광판인 경우 절단면 각도(θ)가 실질적으로 수직한 것이 도광판의 광학 성능에 매우 중요하다. 하나 또는 그 이상의 실시예들에서, 유리 기판(110)의 절단면 각도는 약 1°이하로, 우수한 광학 특성을 나타내는 것을 확인할 수 있다.In particular, when the finally produced glass product is a light guide plate, it is very important for the optical performance of the light guide plate that the cutting plane angle θ is substantially perpendicular. In one or more embodiments, the cut angle of the glass substrate 110 is about 1° or less, and it can be seen that excellent optical properties are exhibited.

이어서 도 9를 참조하면, P60에서 절단된 유리 기판(110)이 세정될 수 있다. 유리 기판(110)의 세정은 세정 장치에 의해 수행될 수 있다. 일부 실시예들에 따르면, 세정 장치는 인-라인 타입이거나, 배치 타입일 수 있다. 여기서 인 라인 타입은 세정 장치는, 콘베이어를 따라 이동하는 유리 기판을 세정액 및 스폰지등을 이용하여 세정할 수 있다. 배치 타입 세정 장치는 세정액에 담근 유리 기판을 세정할 수 있다.Then, referring to FIG. 9 , the glass substrate 110 cut at P60 may be cleaned. The cleaning of the glass substrate 110 may be performed by a cleaning apparatus. According to some embodiments, the cleaning apparatus may be of an in-line type or a batch type. Here, the in-line type cleaning apparatus can clean the glass substrate moving along the conveyor using a cleaning solution and a sponge. A batch type cleaning apparatus can clean a glass substrate immersed in a cleaning solution.

이상에서와 같이 도면과 명세서에서 예시적인 실시예들이 개시되었다. 본 명세서에서 특정한 용어를 사용하여 실시예들을 설명되었으나, 이는 단지 본 개시의 기술적 사상을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 청구범위에 기재된 본 개시의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 개시의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.Exemplary embodiments have been disclosed in the drawings and specification as described above. Although the embodiments have been described using specific terms in the present specification, these are used only for the purpose of explaining the technical spirit of the present disclosure, and are not used to limit the meaning or the scope of the present disclosure described in the claims. Therefore, it will be understood by those skilled in the art that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Accordingly, the true technical protection scope of the present disclosure should be defined by the technical spirit of the appended claims.

110: 유리 기판, 110E: 유효 광학 영역, 110R: 바깥 영역
120: 레진 패턴, 123:기준 마크
LT: 렌티큘라 패턴, EP: 광 추출 패턴, IP: 통합 패턴
ST1, ST2, ST3: 제1 내지 제3 스크라이브 장치
SPP1, SPP2: 제1 및 제2 스크라이빙 예정부, SL: 스크라이브 라인
110: glass substrate, 110E: effective optical area, 110R: outer area
120: resin pattern, 123: reference mark
LT: Lenticular pattern, EP: Light extraction pattern, IP: Integration pattern
ST1, ST2, ST3: first to third scribe devices
SPP1, SPP2: first and second scribing scheduled parts, SL: scribe line

Claims (20)

유리 기판의 제1 면 상에 렌티큘라 패턴을 포함하는 레진 패턴을 형성하는 단계;
레이저 광을 이용하여 상기 레진 패턴의 일부를 제거하는 단계;
상기 레진 패턴이 제거에 의해 노출된 상기 제1 면 상에 스크라이브 라인들을 형성하는 단계; 및
상기 스크라이브 라인들을 따라 상기 유리 기판을 절단하는 단계를 포함하되,
상기 레진 패턴의 일부를 제거하는 단계는, 상기 레이저 광을 상기 렌티큘라 패턴의 연장 방향에 수직한 방향을 따라 조사하는 것을 포함하되,
상기 레진 패턴의 두께는 30μm 이상이고, 상기 레이저 광의 파장은 8 μm 내지 12 μm이며, 상기 레이저 광의 피사계 심도는 -3mm 이하이고, 상기 레이저 광의 상기 렌티큘라 패턴의 연장 방향에 수직한 방향에 따른 진행 속도는 200mm/s 이하인 것을 특징으로 하는 유리 기판 절단 방법.
forming a resin pattern including a lenticular pattern on a first surface of a glass substrate;
removing a portion of the resin pattern using laser light;
forming scribe lines on the first surface exposed by removing the resin pattern; and
cutting the glass substrate along the scribe lines;
The step of removing a portion of the resin pattern includes irradiating the laser light along a direction perpendicular to the extension direction of the lenticular pattern,
The thickness of the resin pattern is 30 µm or more, the wavelength of the laser light is 8 µm to 12 µm, the depth of field of the laser light is -3 mm or less, and the laser light proceeds in a direction perpendicular to the extending direction of the lenticular pattern The speed is 200mm/s or less, characterized in that the glass substrate cutting method.
제1항에 있어서,
상기 레진 패턴을 형성하는 단계는, 상기 레진 패턴을 형성하는 것과 동시에 상기 유리 기판의 코너들에 기준 마크를 형성하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 절단 방법.
According to claim 1,
The forming of the resin pattern includes forming reference marks at corners of the glass substrate at the same time as forming the resin pattern.
제1항에 있어서,
상기 레이저 광의 상기 유리 기판에 대한 투과율은 상기 레진 패턴에 대한 투과율보다 높은 것을 특징으로 하는 유리 기판 절단 방법.
According to claim 1,
Transmittance of the laser light to the glass substrate is a glass substrate cutting method, characterized in that higher than the transmittance for the resin pattern.
제1항에 있어서,
상기 레진 패턴의 일부를 제거하는 단계는, 상기 유리 기판을 제거하지 않고, 상기 레진 패턴의 일부만을 선택적으로 제거하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 절단 방법.
According to claim 1,
The step of removing a portion of the resin pattern, without removing the glass substrate, the glass substrate cutting method, characterized in that selectively removing only a portion of the resin pattern.
제1항에 있어서,
상기 유리 기판 상에 유효 광학 영역들 및 상기 유효 광학 영역들을 둘러싸는 바깥 영역이 정의되고,
상기 레진 패턴은 상기 유효 광학 영역 상에 형성된 광 추출 패턴을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 절단 방법.
According to claim 1,
Effective optical regions and an outer region surrounding the effective optical regions are defined on the glass substrate;
The resin pattern is a glass substrate cutting method, characterized in that it further comprises a light extraction pattern formed on the effective optical area.
제5항에 있어서,
상기 렌티큘라 패턴은 상기 유효 광학 영역들로부터 상기 바깥 영역으로 연장되는 것을 특징으로 하는 유리 기판 절단 방법.
6. The method of claim 5,
and the lenticular pattern extends from the effective optical areas to the outer area.
제1항에 있어서,
상기 스크라이브 라인들은 상기 유리 기판의 가장자리에 인접하게 배치된 적어도 하나의 제1 스크라이브 라인 및, 상기 유리 기판의 중앙부에 인접하게 배치된 적어도 하나의 제2 스크라이브 라인을 포함하고,
상기 유리 기판을 절단하는 단계는,
상기 제1 스크라이브 라인을 따라, 상기 유리 기판을 점 가압하는 단계; 및
상기 제2 스크라이브 라인을 따라, 상기 유리 기판을 선 가압하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 절단 방법.
According to claim 1,
The scribe lines include at least one first scribe line disposed adjacent to an edge of the glass substrate and at least one second scribe line disposed adjacent to a central portion of the glass substrate,
The step of cutting the glass substrate,
Point pressing the glass substrate along the first scribe line; and
along the second scribe line, a method for cutting a glass substrate comprising the step of pre-pressing the glass substrate.
제1항에 있어서,
상기 유리 기판을 절단하여 형성된 절단면과 상기 제1 면의 법선 사이의 각도는 1° 이하인 것을 특징으로 하는 유리 기판 절단 방법.
According to claim 1,
The angle between the cut surface formed by cutting the glass substrate and the normal of the first surface is a glass substrate cutting method, characterized in that less than 1 °.
유리 기판의 제1 면 상에 레진 패턴을 형성하는 단계로서, 상기 레진 패턴은 상기 제1 면에 평행한 제1 방향으로 길게 연장되고 상기 제1 면에 평행하며 상기 제1 방향에 수직한 제2 방향을 따라 열을 이루며 배치되는 렌티큘라 패턴 및 상기 렌티큘라 패턴으로부터 상기 제1 및 제2 방향에 수직한 제3 방향으로 리세스된 광 추출 패턴을 포함하고;
상기 레진 패턴의 적어도 일부를 제거하여 상기 유리 기판의 제1 면을 노출시키는 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들을 형성하는 단계;
상기 유리 기판에 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들 상에 연장되는 스크라이브 라인을 형성하는 단계; 및
상기 스크라이브 라인을 따라 상기 유리 기판을 절단하는 단계;를 포함하되,
상기 제1 스크라이빙 예정부를 형성하는 것은 레이저 광을 상기 제2 방향을 따라 조사하는 것을 포함하되,
상기 레진 패턴의 두께는 30μm 이상이고, 상기 레이저 광의 파장은 8 μm 내지 12 μm이며, 상기 레이저 광의 피사계 심도는 -3mm 이하이고, 및 상기 레이저 광의 상기 제2 방향에 따른 진행 속도는 200mm/s 이하인 것을 특징으로 하는 도광판 제조 방법.
Forming a resin pattern on a first surface of a glass substrate, wherein the resin pattern is elongated in a first direction parallel to the first surface, parallel to the first surface, and perpendicular to the first direction. a lenticular pattern arranged in rows along a direction and a light extraction pattern recessed from the lenticular pattern in a third direction perpendicular to the first and second directions;
removing at least a portion of the resin pattern to form first and second scheduled scribing portions exposing a first surface of the glass substrate;
forming a scribe line extending on the first and second planned scribing portions on the glass substrate; and
Including; cutting the glass substrate along the scribe line;
Forming the first scribing scheduled portion comprises irradiating laser light along the second direction,
The thickness of the resin pattern is 30 μm or more, the wavelength of the laser light is 8 μm to 12 μm, the depth of field of the laser light is -3 mm or less, and the traveling speed of the laser light in the second direction is 200 mm/s or less. A method for manufacturing a light guide plate, characterized in that
제9항에 있어서,
상기 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들을 형성하는 단계는, 상기 유리 기판에 대해 투명한 파장의 레이저 광을 이용하는 것을 특징으로 하는 도광판 제조 방법.
10. The method of claim 9,
The forming of the first and second planned scribing portions may include using laser light having a wavelength that is transparent to the glass substrate.
제9항에 있어서,
상기 유리 기판을 절단하는 단계에서 형성된 상기 유리 기판의 절단면은 상기 제1 면에 수직한 것을 특징으로 하는 도광판 제조 방법.
10. The method of claim 9,
The method for manufacturing a light guide plate, characterized in that the cut surface of the glass substrate formed in the step of cutting the glass substrate is perpendicular to the first surface.
제9항에 있어서,
상기 레진 패턴을 선택적으로 제거하는 단계는 상기 유리 기판에 데미지 없이 상기 레진 패턴을 선택적으로 제거하는 것을 특징으로 하는 도광판 제조 방법.
10. The method of claim 9,
The selectively removing the resin pattern comprises selectively removing the resin pattern without damaging the glass substrate.
제9항에 있어서,
상기 레진 패턴을 형성하는 단계는, 상기 유리 기판의 코너들에 기준 마크들을 더 형성하는 것을 특징으로 하는 도광판 제조 방법.
10. The method of claim 9,
The forming of the resin pattern may include forming reference marks at corners of the glass substrate.
제13항에 있어서,
상기 제1 및 제2 스크라이빙 예정부들을 형성하는 단계는, 상기 레진 패턴을 사이에 두고 상기 제1 방향 또는 상기 제2 방향으로 이격된 상기 기준 마크들을 잇는 직선 상에 배치된 상기 레진 패턴을 제거하는 것을 특징으로 하는 도광판 제조 방법.
14. The method of claim 13,
The forming of the first and second scheduled scribing portions may include forming the resin pattern disposed on a straight line connecting the reference marks spaced apart in the first direction or the second direction with the resin pattern interposed therebetween. A method of manufacturing a light guide plate, characterized in that it is removed.
제13항에 있어서,
상기 제1 및 제2 스크라이빙 예정부를 형성하는 단계에서, 기준 마크들이 더 제거되는 것을 특징으로 하는 도광판 제조 방법.
14. The method of claim 13,
In the forming of the first and second scribing scheduled portions, reference marks are further removed.
제13항에 있어서,
상기 제1 스크라이빙 예정부는 상기 제1 방향을 따라 연장되고, 상기 제2 스크라이빙 예정부는 상기 제2 방향을 따라 연장되는 것을 특징으로 하는 도광판 제조 방법.
14. The method of claim 13,
The method of claim 1 , wherein the first scribing scheduled portion extends along the first direction, and the second scribing scheduled portion extends along the second direction.
유리 기판의 제1 면 상에 기준 마크들 및 렌티큘라 패턴을 포함하는 레진 패턴을 형성하는 단계;
레이저 광을 이용하여 상기 기준 마크들 및 상기 레진 패턴의 적어도 일부를 제거하는 단계;
상기 레진 패턴이 제거된 부분의 상기 유리 기판에 스크라이브 라인들을 형성하는 단계; 및
상기 스크라이브 라인들을 따라 상기 유리 기판을 절단하는 단계를 포함하되,
상기 레진 패턴의 적어도 일부를 제거하는 단계는, 상기 렌티큘러 패턴의 연장 방향에 수직한 방향으로 상기 레이저 광을 조사하는 것을 포함하되,
상기 레진 패턴의 두께는 30μm 이상이고, 상기 레이저 광의 파장은 8 μm 내지 12 μm이며, 상기 레이저 광의 피사계 심도는 -3mm 이하이고, 상기 레이저 광의 상기 렌티큘라 패턴의 연장 방향에 수직한 방향에 따른 진행 속도는 200mm/s이하인 것을 특징으로 하는 도광판 제조 방법.

forming a resin pattern including reference marks and a lenticular pattern on a first surface of a glass substrate;
removing at least a portion of the reference marks and the resin pattern using laser light;
forming scribe lines on the glass substrate in the portion from which the resin pattern is removed; and
cutting the glass substrate along the scribe lines;
The step of removing at least a portion of the resin pattern includes irradiating the laser light in a direction perpendicular to an extension direction of the lenticular pattern,
The thickness of the resin pattern is 30 µm or more, the wavelength of the laser light is 8 µm to 12 µm, the depth of field of the laser light is -3 mm or less, and the laser light proceeds in a direction perpendicular to the extending direction of the lenticular pattern A method for manufacturing a light guide plate, characterized in that the speed is 200 mm/s or less.

삭제delete 삭제delete 삭제delete
KR1020190060416A 2019-05-23 2019-05-23 Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method KR102286476B1 (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190060416A KR102286476B1 (en) 2019-05-23 2019-05-23 Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method
PCT/US2020/032621 WO2020236479A1 (en) 2019-05-23 2020-05-13 Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method
JP2021569096A JP2022533719A (en) 2019-05-23 2020-05-13 Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method
CN202080048087.3A CN114072709A (en) 2019-05-23 2020-05-13 Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method
TW109116516A TW202102451A (en) 2019-05-23 2020-05-19 Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190060416A KR102286476B1 (en) 2019-05-23 2019-05-23 Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200135614A KR20200135614A (en) 2020-12-03
KR102286476B1 true KR102286476B1 (en) 2021-08-06

Family

ID=73459140

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190060416A KR102286476B1 (en) 2019-05-23 2019-05-23 Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP2022533719A (en)
KR (1) KR102286476B1 (en)
CN (1) CN114072709A (en)
TW (1) TW202102451A (en)
WO (1) WO2020236479A1 (en)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102652037B1 (en) * 2021-08-11 2024-04-01 (주)중우엠텍 Method for cutting substrate
CN115236791B (en) * 2022-07-27 2024-06-07 广东绿展科技有限公司 Light guide glass, composite light guide glass, preparation method of composite light guide glass and light guide glass device
CN115432917B (en) * 2022-09-20 2023-11-28 南京长明光电科技有限公司 Cutting device and cutting method for processing glass optical filter

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100848854B1 (en) 2008-04-21 2008-07-30 주식회사 탑 엔지니어링 Scribing apparatus of fragile substrate and method thereof

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100514095B1 (en) * 1998-12-04 2005-11-25 삼성전자주식회사 Laser cutting equipment and cutting path correction method using the same
KR20000040563A (en) * 1998-12-18 2000-07-05 구자홍 Apparatus for cutting processed glass formed with a pattern
KR100633488B1 (en) * 2001-11-08 2006-10-13 샤프 가부시키가이샤 Method and device for parting glass substrate, and liquid crystal panel manufacturing device
JP5139852B2 (en) * 2008-03-17 2013-02-06 三星ダイヤモンド工業株式会社 Scribing apparatus and scribing method
JP6166587B2 (en) * 2013-05-20 2017-07-19 三星ダイヤモンド工業株式会社 Cutting method of resin plate attached to glass substrate
JP2015219422A (en) * 2014-05-19 2015-12-07 Nltテクノロジー株式会社 Optical member and display device
KR20190017951A (en) * 2016-06-10 2019-02-20 코닝 인코포레이티드 Microstructured and patterned light guide plates and devices comprising the same
KR20180011952A (en) * 2016-07-26 2018-02-05 노바테크인더스트리 주식회사 Beveling free glass cutting method by etching

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100848854B1 (en) 2008-04-21 2008-07-30 주식회사 탑 엔지니어링 Scribing apparatus of fragile substrate and method thereof

Also Published As

Publication number Publication date
WO2020236479A1 (en) 2020-11-26
KR20200135614A (en) 2020-12-03
TW202102451A (en) 2021-01-16
JP2022533719A (en) 2022-07-25
CN114072709A (en) 2022-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102286476B1 (en) Glass substrate cutting method and light guide plate manufacturing method
KR101164854B1 (en) Method for manufacturing brittle material scribing wheel
KR102157750B1 (en) Methods of fabricating glass articles by laser damage and etching
KR101824709B1 (en) Process for producing laminate of light-transmitting rigid plates and device for laminating light-transmitting rigid plates
JP2011213589A (en) Cutter wheel for scribing fragile material substrate and method of manufacturing the same
KR20140131520A (en) Methods and apparatus for machining strengthened glass and articles produced thereby
TWI300766B (en)
KR101467157B1 (en) Scribe method for brittle material substrate
US20190358765A1 (en) Methods for strengthening edges of laminated glass articles and laminated glass articles formed therefrom
KR20140142224A (en) Glass film fracturing method and glass film laminate body
KR101212002B1 (en) Method for scribing laminated substrate
KR20190066006A (en) Production method of glass resin laminate and glass laminate
JP2018081242A (en) Method for manufacturing liquid crystal panel
CN110770640A (en) Method for manufacturing glass panel with transparent film, method for manufacturing liquid crystal panel with transparent film, method for manufacturing glass panel, and method for manufacturing liquid crystal panel
JP2014069981A (en) Substrate processing device and substrate processing method
JP2006263975A (en) Manufacturing method of optical element
KR101683473B1 (en) Method for cutting glass by double etching
JP2019156651A (en) Glass substrate cutting device and production method of liquid crystal panel using the same
TWI804634B (en) Liquid crystal panel manufacturing method
KR102604022B1 (en) Side healing method of UTG glass using acid-resistant coating and film
JP6501093B1 (en) METHOD FOR MANUFACTURING GLASS PANEL WITH TRANSPARENT THIN FILM AND METHOD FOR MANUFACTURING LIQUID CRYSTAL PANEL WITH TRANSPARENT THIN FILM
KR20230037134A (en) Manufacturing method for ultra thin flexible glass and ultra thin glasses manufactured by the same
KR20210061847A (en) Method for cutting a combined structure of a glass substrate and a light-absorbing plate
KR101770260B1 (en) Roller For Manufacturing Light Guide Plate And Manufacturing Mathod Thereof
TW202306916A (en) Element made of brittle material having a structured edge, intermediate product, and method for producing the element

Legal Events

Date Code Title Description
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
X701 Decision to grant (after re-examination)