KR102276251B1 - Resin composition containing polyimide precursor and method for manufacturing cured film using said resin composition - Google Patents

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Abstract

본 발명은, (a) 하기 일반식(1)로 표시되는 구조 단위를 가지는 폴리이미드 전구체, (b) 하기 일반식(2)로 표시되는 화합물, 및 (c) 활성 광선 조사에 의해 라디칼을 발생하는 화합물을 함유하는 수지 조성물, 그것으로부터 형성되는 경화막 또는 패턴 경화막, 그것을 사용한 경막막의 제조 방법, 및 상기 경화막 또는 패턴 경화막을 가지는 전자 부품이다. (식(1) 중, R1은 4가의 유기기, R2는 2가의 유기기, R3 및 R4는 각각 독립적으로 수소 원자, 알킬기, 사이클로알킬기, 또는 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기이다.) (식(2) 중, R5는 수소 원자 또는, 탄소수 1~4의 알킬기이며, R6은 (메타)아크릴기를 포함하지 않는 1가의 유기기이다.)

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Figure 112016033611724-pct00033
The present invention generates radicals by (a) a polyimide precursor having a structural unit represented by the following general formula (1), (b) a compound represented by the following general formula (2), and (c) actinic light irradiation It is an electronic component which has the resin composition containing the compound which says, the cured film or pattern cured film formed from it, the manufacturing method of the hard film using the same, and the said cured film or pattern cured film. (In formula (1), R 1 is a tetravalent organic group, R 2 is a divalent organic group, R 3 and R 4 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, or a monovalent carbon carbon unsaturated double bond. It is an organic group.) (In formula (2), R 5 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 6 is a monovalent organic group not containing a (meth)acryl group.)
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Description

폴리이미드 전구체를 포함하는 수지 조성물, 및 그것을 사용한 경화막의 제조 방법{RESIN COMPOSITION CONTAINING POLYIMIDE PRECURSOR AND METHOD FOR MANUFACTURING CURED FILM USING SAID RESIN COMPOSITION}The resin composition containing a polyimide precursor, and the manufacturing method of the cured film using it TECHNICAL FIELD

본 발명은, 반도체 소자의 표면 코트막 등의 보호막, 박막 다층 배선 기판의 층간 절연막, 절연막 등의 재료로서 적합한 폴리이미드 전구체를 포함하는 수지 조성물, 그것을 사용한 경화막의 제조 방법 및 전자 부품에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition containing a polyimide precursor suitable as a material such as a protective film such as a surface coating film of a semiconductor element, an interlayer insulating film of a thin film multilayer wiring board, and an insulating film, a method for producing a cured film using the same, and an electronic component.

최근, 반도체 집적회로의 보호막 재료로서, 폴리이미드 수지 등의 높은 내열성을 가지는 유기 재료가 널리 적용되고 있다. 이와 같은 폴리이미드 수지를 사용한 보호막(경화막)은, 폴리이미드 전구체 또는 폴리이미드 전구체를 함유하는 수지 조성물을 기판 위에 도포 및 건조하여 형성한 수지막을, 가열하여 경화함으로써 얻을 수 있다. In recent years, an organic material having high heat resistance, such as a polyimide resin, has been widely applied as a material for a protective film of a semiconductor integrated circuit. The protective film (cured film) using such a polyimide resin can be obtained by heating and hardening the resin film formed by apply|coating and drying a polyimide precursor or the resin composition containing a polyimide precursor on a board|substrate.

폴리이미드 수지가 감광성이면, 용이하게 패턴 수지막(패턴 형성된 수지막)을 형성하는 것이 가능하다. 이와 같은 패턴 수지막을 가열하여 경화함으로써, 용이하게 패턴 경화막(패턴 형성된 경화막)을 형성할 수 있다. If the polyimide resin is photosensitive, it is possible to easily form a patterned resin film (patterned resin film). By heating and hardening such a pattern resin film, a pattern cured film (pattern-formed cured film) can be formed easily.

종래, 폴리이미드 전구체로서는, 방향족 테트라카복실산 이무수물을 올레핀 불포화 알코올과 반응시켜 올레핀 방향족 테트라카복실산디에스테르를 합성하고, 이 화합물과 디아민을 카보디이미드류를 사용한 탈수 축합 반응에 의해 중합시켜, 공유결합으로 감광기(感光基)를 도입한 폴리이미드 전구체가 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌 1 참조). Conventionally, as a polyimide precursor, an aromatic tetracarboxylic dianhydride is reacted with an olefinically unsaturated alcohol to synthesize an olefin aromatic tetracarboxylic acid diester, and this compound and a diamine are polymerized by a dehydration condensation reaction using carbodiimides to form a covalent bond. A polyimide precursor to which a photosensitive group is introduced is known (for example, refer to Patent Document 1).

또한, 방향족 테트라카복실산 이무수물을 방향족 디아민과 반응시켜 얻어지는 폴리아미드산에, 감광기를 가지는 이소시아네이트 화합물을 결합시킨 폴리이미드 전구체도 알려져 있다(예를 들면, 특허문헌 2 참조). Moreover, the polyimide precursor which couple|bonded the isocyanate compound which has a photosensitive group to the polyamic acid obtained by making aromatic tetracarboxylic dianhydride react with aromatic diamine is also known (for example, refer patent document 2).

이들 폴리이미드 전구체는, 유기용제에 용해한 바니스 상태에서 기판에 도포, 건조하여, 피막으로 한 후에, 포토마스크를 통하여 자외선을 조사하여 노광부를 광경화시키는 네가티브형 감광성 수지 조성물로서 사용되고 있다. 상기 노광부 이외의 미(未)노광부를 유기용매를 사용하여 현상 및 린스 함으로써, 릴리프 패턴(relief pattern)을 얻을 수 있다. These polyimide precursors are applied to a substrate in a varnish state dissolved in an organic solvent, dried to form a film, and then used as a negative photosensitive resin composition for photocuring the exposed portion by irradiating ultraviolet rays through a photomask. A relief pattern can be obtained by developing and rinsing unexposed areas other than the exposed areas using an organic solvent.

그런데, 상기 폴리이미드 전구체를 포함하는 네가티브형 감광성 수지 조성물에서는, 종래, 노광부를 광경화시킬 때의 가교제로서, 2관능의 디(메타)아크릴레이트 화합물이 널리 사용되어 왔다(예를 들면, 특허문헌 2~5 참조). By the way, in the negative photosensitive resin composition containing the said polyimide precursor, a bifunctional di(meth)acrylate compound has been widely used conventionally as a crosslinking agent at the time of photocuring an exposed part (for example, patent document) 2-5).

폴리이미드 수지를 사용한 경화막은, 후막화 및 고탄성율화함으로써, 경화 후의 응력이 증대되어, 반도체 웨이퍼의 휨이 커지고, 반송이나 웨이퍼 고정 시에 문제가 발생하는 경우가 있어, 응력이 낮은 경화막의 개발이 요망되고 있다. Cured films using polyimide resins increase in thickness after curing and increase in modulus of elasticity by increasing the thickness and modulus of elasticity, resulting in increased warpage of semiconductor wafers, which may cause problems during transport or wafer fixation. Development of a cured film with low stress is being desired

폴리이미드 수지를 저응력으로 하는 방법으로서, 예를 들면, 테트라카복실산화합물에 특정의 관능기를 가지는 프탈산 화합물을 공중축합시킨 폴리아미드를 사용하는 방법(예를 들면, 특허문헌 6)을 들 수 있다. As a method of making a polyimide resin low stress, the method of using the polyamide which co-condensed the phthalic acid compound which has a specific functional group to a tetracarboxylic acid compound (for example, patent document 6) is mentioned, for example.

또한, 폴리이미드 전구체의 가열 경화 온도에 대하여, 저온 경화의 요구가 높아지고 있고, 종래이라면, 370℃ 정도의 고온에서 폴리이미드 전구체의 가열 경화를 실시하였었지만, 300℃ 이하의 가열 경화가 요구되고 있다(예를 들면, 특허문헌 7). In addition, with respect to the heat curing temperature of the polyimide precursor, the demand for low-temperature curing is increasing. Conventionally, heat curing of the polyimide precursor was performed at a high temperature of about 370° C., but heat curing of 300° C. or less is required. (For example, Patent Document 7).

특허문헌 1 : 일본국 특허공개 특개 소60-233646호 공보Patent Document 1: Japanese Patent Laid-Open No. 60-233646 특허문헌 2 : 일본국 특허공개 특개 평9-188762호 공보Patent Document 2: Japanese Patent Laid-Open No. 9-188762 특허문헌 3 : 일본국 특허공개 특개 평6-342211호 공보Patent Document 3: Japanese Patent Laid-Open No. 6-342211 특허문헌 4 : 일본국 특허공개 특개 평10-95848호 공보Patent Document 4: Japanese Patent Laid-Open No. 10-95848 특허문헌 5 : 일본국 특허공개 특개 평8-286374호 공보Patent Document 5: Japanese Patent Laid-Open No. 8-286374 특허문헌 6 : 국제 공개 제2006/008991호Patent Document 6: International Publication No. 2006/008991 특허문헌 7 : 국제 공개 제2009/060380호Patent Document 7: International Publication No. 2009/060380

발명의 개요Summary of invention

본 기술 분야에 있어서는, 2관능 이상의 (메타)아크릴레이트 화합물이 아니면, 고분자쇄간에서의 가교 반응을 진행하지 않고, 현상액으로서 사용되는 유기용제에 대하여 불용성이 되지 않는다고 생각되어왔다.In this technical field, unless it is a (meth)acrylate compound more than bifunctional, crosslinking reaction between polymer chains does not progress, and it has been thought that it does not become insoluble with respect to the organic solvent used as a developing solution.

그런데 본 발명자들의 검토 결과, 단관능 (메타)아크릴레이트 화합물을 사용한 경우도, 2관능 이상의 (메타)아크릴레이트 화합물을 사용한 경우와 동등한 감광 특성을 가지는 감광성 수지 조성물과 경화막을 얻을 수 있는 것을 발견했다. By the way, as a result of examination of the present inventors, also when using a monofunctional (meth)acrylate compound, it discovered that the photosensitive resin composition and cured film which have the photosensitive characteristic equivalent to the case of using the (meth)acrylate compound more than bifunctional can be obtained. .

본 발명의 목적은, 신규 폴리이미드 전구체 함유 수지 조성물, 및 그것을 사용한 경화막의 제조 방법을 제공하는 것이다. The objective of this invention is providing a novel polyimide precursor containing resin composition, and the manufacturing method of a cured film using the same.

본 발명에 의하면, 이하의 수지 조성물, 그것을 사용한 경화막의 제조 방법 등이 제공된다. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method of the following resin composition, the cured film using the same, etc. are provided.

1. 하기 (a), (b) 및 (c)성분을 함유하는 수지 조성물. 1. The resin composition containing following (a), (b) and (c) component.

 (a) 하기 일반식(1)로 표시되는 구조 단위를 가지는 폴리이미드 전구체(a) a polyimide precursor having a structural unit represented by the following general formula (1)

 (b) 하기 일반식(2)로 표시되는 화합물(b) a compound represented by the following general formula (2)

 (c) 활성 광선 조사에 의해 라디칼을 발생하는 화합물 (c) a compound that generates radicals by irradiation with actinic light

Figure 112016033611724-pct00001
Figure 112016033611724-pct00001

(식 중, R1은 4가의 유기기, R2는 2가의 유기기, R3 및 R4는 각각 독립적으로 수소 원자, 알킬기, 사이클로알킬기, 또는 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기이다.)(Wherein, R 1 is a tetravalent organic group, R 2 is a divalent organic group, R 3 and R 4 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, or a monovalent organic group having a carbon carbon unsaturated double bond. .)

Figure 112016033611724-pct00002
Figure 112016033611724-pct00002

(식 중, R5는 수소 원자 또는, 탄소수 1~4의 알킬기이며, R6은 (메타)아크릴기를 포함하지 않는 1가의 유기기이다.)(Wherein, R 5 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 6 is a monovalent organic group not containing a (meth)acryl group.)

2. 상기 (b)성분이, (a)성분 100질량부에 대하여, 1~100질량부 함유하는 1에 기재된 수지 조성물. 2. The resin composition of 1 in which said (b) component contains 1-100 mass parts with respect to 100 mass parts of (a) component.

3. 상기 식(2) 중의 R6은 (메타)아크릴기, 하이드록실기, 및 아미노기를 포함하지 않는 1가의 유기기인 1 또는 2에 기재된 수지 조성물. 3. The resin composition as described in 1 or 2 whose R<6> in said Formula (2) is a monovalent organic group which does not contain a (meth)acryl group, a hydroxyl group, and an amino group.

4. 상기 (b)성분이, 분자량이 300 이하인 단관능 광중합성 화합물인 1~3 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. 4. The resin composition in any one of 1-3 whose said (b) component is a monofunctional photopolymerizable compound whose molecular weight is 300 or less.

5. 상기 식(1) 중의 R3 및 R4 중 적어도 한쪽이, 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기인, 1~4 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. 5. The resin composition according to any one of 1 to 4, wherein at least one of R 3 and R 4 in the formula (1) is a monovalent organic group having a carbon-carbon unsaturated double bond.

6. 상기 식(1) 중의 R1이, 하기 일반식(2a)~(2e)로 표시되는 4가의 유기기 중 어느 하나인 1~5 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. 6. The resin composition according to any one of 1 to 5, wherein R 1 in the formula (1) is any one of tetravalent organic groups represented by the following general formulas (2a) to (2e).

Figure 112016033611724-pct00003
Figure 112016033611724-pct00003

(식(2d) 중, X 및 Y는, 각각 독립적으로 각각이 결합하는 벤젠환과 공역하지 않는 2가의 기 또는 단결합을 나타낸다. 일반식(2e) 중, Z는 에테르 결합(-O-) 또는 설파이드 결합(-S-)이다.)(In formula (2d), X and Y each independently represent a divalent group or single bond not conjugated to the benzene ring to which each is bonded. In formula (2e), Z is an ether bond (-O-) or It is a sulfide bond (-S-).)

7. 상기 식(1) 중의 R2가, 하기 일반식(5) 또는 (6)으로 표시되는 2가의 유기기인 1~6 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. 7. The resin composition according to any one of 1 to 6, wherein R 2 in the formula (1) is a divalent organic group represented by the following general formula (5) or (6).

Figure 112016033611724-pct00004
Figure 112016033611724-pct00004

(식 중, R10~R17은 각각 독립적으로, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 1가의 유기기를 나타내고, R10~R17 중 적어도 하나는 할로겐 원자 또는 할로겐화 알킬기이다. R18 및 R19는 각각 독립적으로 할로겐 원자 또는 할로겐화 알킬기이다.)(Wherein, R 10 to R 17 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom or a monovalent organic group, and at least one of R 10 to R 17 is a halogen atom or a halogenated alkyl group. R 18 and R 19 are each independently is a halogen atom or a halogenated alkyl group.)

8. 상기 (c)성분이, 옥심에스테르 화합물인 1~7 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물. 8. The resin composition in any one of 1-7 whose said (c)component is an oxime ester compound.

9. 1~8 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물로부터 형성되는 경화막. 9. Cured film formed from the resin composition in any one of 1-8.

10. 1~8 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물을 기판 위에 도포하고 건조하여 도막을 형성하는 공정과, 도막을 가열 처리하는 공정을 포함하는, 경화막의 제조 방법. 10. The manufacturing method of a cured film including the process of apply|coating the resin composition in any one of 1-8 on a board|substrate, drying, and forming a coating film, and the process of heat-processing a coating film.

11. 1~8 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물로부터 형성되는 패턴 경화막. 11. A pattern cured film formed from the resin composition in any one of 1-8.

12. 1~8 중 어느 하나에 기재된 수지 조성물을 기판 위에 도포하고 건조하여 도막을 형성하는 공정과, 상기 도막에 활성 광선을 조사 후, 현상하여 패턴 수지막을 얻는 공정과, 상기 패턴 수지막을 가열 처리하는 공정을 포함하는, 패턴 경화막의 제조 방법. 12. A step of applying the resin composition according to any one of 1 to 8 on a substrate and drying it to form a coating film, a step of irradiating the coating film with actinic light, followed by development to obtain a pattern resin film, and heat treatment of the pattern resin film The manufacturing method of the pattern cured film including the process of doing.

13. 9에 기재된 경화막 또는 11에 기재된 패턴 경화막을 가지는 전자 부품. 13. The electronic component which has the cured film of 9 or the pattern cured film of 11.

본 발명에 의하면, 신규 폴리이미드 전구체 함유 수지 조성물, 및 그것을 사용한 경화막의 제조 방법을 제공할 수 있다. ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the manufacturing method of a novel polyimide precursor containing resin composition and a cured film using the same can be provided.

[도 1] 본 발명의 수지 조성물을 사용한 반도체 장치의 일 실시형태의 개략 단면도이다.
[도 2](a)는, 실시예 10에서 얻어진 경화막에 관하여 열분해 가스 크로마토그래피 질량 분석을 실시했을 때의 가스 크로마토그램이다. (b)는, 비교예 2에서 얻어진 경화막에 관하여 열분해 가스 크로마토그래피 질량 분석을 실시했을 때의 가스 크로마토그램이다.
[도 3](a)은, 가열 발생 가스 질량 분석을 이용하여, 비교예 2의 경화막으로부터의 아웃 가스를 측정한 도면이다. (b)는, 가열 발생 가스 질량 분석을 이용하여, 실시예 1의 경화막으로부터의 아웃 가스를 측정한 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is a schematic sectional drawing of one Embodiment of the semiconductor device using the resin composition of this invention.
Fig.2 (a) is a gas chromatogram at the time of performing thermal decomposition gas chromatography mass spectrometry about the cured film obtained in Example 10. (b) is a gas chromatogram at the time of performing thermal decomposition gas chromatography mass spectrometry about the cured film obtained by the comparative example 2.
Fig.3 (a) is the figure which measured the outgas from the cured film of the comparative example 2 using heat generation gas mass spectrometry. (b) is the figure which measured the outgas from the cured film of Example 1 using heat generation gas mass spectrometry.

이하에, 본 발명에 관련된 수지 조성물, 수지 조성물을 사용한 경화막과 경화막의 제조 방법 등 및 전자 부품의 실시형태를 상세히 설명한다. 또한, 본 발명에 있어서, 메타크릴레이트 및 아크릴레이트를 총괄하여, (메타)아크릴레이트이라고 한다. 또한, 메타크릴기 및 아크릴기도 동일하게, 총괄하여, (메타)아크릴기이라고 한다. 메타크릴옥시기 및 아크릴옥시기도 동일하게 (메타)아크릴옥시기이라고 한다. 또한, 「~」를 이용하여 나타낸 수치 범위는, 「~」의 전후에 기재되는 수치를 각각 최소값 및 최대값으로서 포함하는 범위를 나타낸다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Below, embodiment of the resin composition which concerns on this invention, the cured film using the resin composition, the manufacturing method of a cured film, etc. and an electronic component are demonstrated in detail. In addition, in this invention, a methacrylate and an acrylate are collectively called (meth)acrylate. In addition, a methacryl group and an acryl group are collectively called a (meth)acryl group similarly. A methacryloxy group and an acryloxy group are also called a (meth)acryloxy group. In addition, the numerical range shown using "-" represents a range including the numerical value described before and after "-" as a minimum value and a maximum value, respectively.

<수지 조성물><Resin composition>

본 발명의 수지 조성물은 하기 (a), (b) 및 (c)성분을 함유한다. The resin composition of this invention contains following (a), (b), and (c) component.

(a) 하기 일반식(1)로 표시되는 구조 단위를 가지는 폴리이미드 전구체(a) a polyimide precursor having a structural unit represented by the following general formula (1)

(b) 하기 일반식(2)로 표시되는 화합물(b) a compound represented by the following general formula (2)

(c) 활성 광선 조사에 의해 라디칼을 발생하는 화합물(c) a compound that generates radicals by irradiation with actinic light

Figure 112016033611724-pct00005
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(식 중, R1은 4가의 유기기, R2는 2가의 유기기, R3 및 R4는 각각 독립적으로 수소 원자, 알킬기, 사이클로알킬기, 또는 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기이다.)(Wherein, R 1 is a tetravalent organic group, R 2 is a divalent organic group, R 3 and R 4 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, or a monovalent organic group having a carbon carbon unsaturated double bond. .)

Figure 112016033611724-pct00006
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(식 중, R5는 수소 원자 또는, 탄소수 1~4의 알킬기를 나타내고, R6은 (메타)아크릴기를 포함하지 않는 1가의 유기기이다.)(In the formula, R 5 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 6 is a monovalent organic group not containing a (meth)acryl group.)

본 발명의 수지 조성물의 (b)성분은 가교제이다. 본 발명에서는 상기 구성으로 함으로써, 다관능(메타)아크릴레이트 화합물을 사용하는 일 없이, 패턴 경화막을 얻을 수 있다. 이에 의해, 경화 반응 시에 발생하는 아웃 가스를 억제할 수 있다. (b) component of the resin composition of this invention is a crosslinking agent. In this invention, a pattern cured film can be obtained by setting it as the said structure, without using a polyfunctional (meth)acrylate compound. Thereby, the outgas which generate|occur|produces at the time of hardening reaction can be suppressed.

상기에 더하여, 가열 경화 온도가 300℃ 이하로 저온이 되면, 폴리이미드 경화막 형성 프로세스 후의, 전극부의 에칭 등의 진공 프로세스에 있어서, 폴리이미드막으로부터의 아웃 가스가 증대되어, 공정 중의 아웃 가스의 발생에 의해, 챔버가 오염되는 문제가 있다. (b)성분이 식(2)로 표시되는, 분자량이 300 이하인 단관능 광중합성 화합물이면, 300℃ 이하의 저온으로 경화된 경화막이어도, 진공 프로세스에 노출되었을 때에 발생하는 아웃 가스를 억제할 수 있어, 응력이 낮은 경화막을 얻을 수 있다. In addition to the above, when the heat curing temperature is 300 ° C. or less, the outgas from the polyimide film increases in the vacuum process such as the etching of the electrode part after the polyimide cured film formation process. There is a problem in that the chamber is contaminated by the occurrence. (b) If the component is a monofunctional photopolymerizable compound having a molecular weight of 300 or less, represented by the formula (2), even a cured film cured at a low temperature of 300 ° C. or less can suppress outgas generated when exposed to a vacuum process and a cured film with low stress can be obtained.

(a)성분: 일반식(1)로 표시되는 구조 단위를 가지는 폴리이미드 전구체 (a) Component: Polyimide precursor which has a structural unit represented by General formula (1)

본 발명의 수지 조성물은, (a) 하기 일반식(1)로 표시되는 구조 단위를 가지는 폴리이미드 전구체를 함유한다. The resin composition of this invention contains the polyimide precursor which has a structural unit represented by (a) following General formula (1).

Figure 112016033611724-pct00007
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(식 중, R1은 4가의 유기기, R2는 2가의 유기기, R3 및 R4는 각각 독립적으로 수소 원자, 알킬기, 사이클로알킬기, 또는 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기이다.)(Wherein, R 1 is a tetravalent organic group, R 2 is a divalent organic group, R 3 and R 4 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, or a monovalent organic group having a carbon carbon unsaturated double bond. .)

본 발명의 수지 조성물은, 높은 i선 투과율을 나타낼 수 있지만, 구체적으로는, 막두께 20㎛에 있어서, i선 투과율이 1% 이상인 것이 바람직하고, 10% 이상인 것이 보다 바람직하고, 15% 이상인 것이 더욱 바람직하다. 1%보다 낮으면, i선이 심부(深部)까지 도달되지 않아, 라디칼이 충분히 발생되지 않기 때문에, 현상 시에 막의 기판측으로부터 수지가 비어져 나오는 등, 감광 특성이 저하될 우려가 있다. Although the resin composition of the present invention can exhibit high i-ray transmittance, specifically, in a film thickness of 20 µm, i-line transmittance is preferably 1% or more, more preferably 10% or more, and 15% or more. more preferably. When it is lower than 1%, the i-line does not reach the deep part, and radicals are not sufficiently generated. Therefore, there is a possibility that the photosensitive characteristics may be deteriorated, such as the resin protruding from the substrate side of the film during development.

또한, i선 투과율은 U-3310 spctrophotometer((주)히타치세이사쿠쇼제)를 이용하여, 투과 UV스펙트럼을 측정에 의해 측정할 수 있다. In addition, the i-ray transmittance can be measured by measuring the transmitted UV spectrum using a U-3310 spctrophotometer (manufactured by Hitachi Seisakusho Co., Ltd.).

일반식(1) 중의 R1은, 예를 들면 원료로서 사용되는 테트라카복실산 이무수물에서 유래하는 구조이다. 사용하는 테트라카복실산 이무수물로서는, 특별히 한정은 없지만, 전자 부품에 대하여 내열성이 뛰어난 관점에서, 피로멜리트산 이무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카복실산 이무수물, 2,3,3',4'-비페닐테트라카복실산 이무수물, 2,2',3,3'-비페닐테트라카복실산 이무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카복실산 이무수물, 3,3',4,4'-디페닐에테르테트라카복실산 이무수물, 3,3',4,4'-디페닐설폰테트라카복실산 이무수물, 1,2,5,6-나프탈렌테트라카복실산 이무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카복실산 이무수물, 1,4,5,8-나프탈렌테트라카복실산 이무수물, 2,3,5,6-피리딘테트라카복실산 이무수물, 3,4,9,10-페릴렌테트라카복실산 이무수물, 3,3',4,4'-테트라페닐실란테트라카복실산 이무수물, 2,2-비스(3,4-디카복시페닐)헥사플루오로프로판 이무수물, 2,2-비스{4'-(2,3-디카복시페녹시)페닐}프로판 이무수물, 2,2-비스{4'-(3,4-디카복시페녹시)페닐}프로판 이무수물, 1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2,2'-비스{4'-(2,3-디카복시페녹시)페닐}프로판 이무수물, 1,1,1,3,3,3-헥사플루오로-2,2'-비스{4-(3,4-디카복시페녹시)페닐}프로판 이무수물, 4,4'-옥시디프탈산 이무수물, 4,4'-설포닐디프탈산 이무수물 등의 방향족계 테트라카복실산 이무수물이 바람직하다. 이들을 단독으로 또는 2종 이상 조합하여 사용할 수 있다. R<1> in General formula (1) is a structure derived from the tetracarboxylic dianhydride used as a raw material, for example. The tetracarboxylic dianhydride to be used is not particularly limited, but from the viewpoint of excellent heat resistance for electronic components, pyromellitic dianhydride, 3,3',4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,3, 3',4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2',3,3'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3',4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 3,3 ',4,4'-diphenyl ether tetracarboxylic dianhydride, 3,3',4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic dianhydride, 1,2,5,6-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3 ,6,7-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,4,5,8-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 2,3,5,6-pyridinetetracarboxylic dianhydride, 3,4,9,10-perylenetetra Carboxylic dianhydride, 3,3',4,4'-tetraphenylsilanetetracarboxylic dianhydride, 2,2-bis(3,4-dicarboxyphenyl)hexafluoropropane dianhydride, 2,2-bis{4 '-(2,3-dicarboxyphenoxy)phenyl}propane dianhydride, 2,2-bis{4'-(3,4-dicarboxyphenoxy)phenyl}propane dianhydride, 1,1,1,3 ,3,3-hexafluoro-2,2'-bis{4'-(2,3-dicarboxyphenoxy)phenyl}propane dianhydride, 1,1,1,3,3,3-hexafluoro Aromatics such as -2,2'-bis{4-(3,4-dicarboxyphenoxy)phenyl}propane dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic dianhydride, and 4,4'-sulfonyldiphthalic dianhydride The system tetracarboxylic dianhydride is preferred. These can be used individually or in combination of 2 or more types.

R1에 있어서의 4가의 유기기로서는, 하기 일반식(2a)~(2e)로 표시되는 4가의 유기기 중 어느 하나인 것이 바람직하다. As a tetravalent organic group in R<1> , it is preferable that it is any one of tetravalent organic groups represented by the following general formula (2a) - (2e).

Figure 112016033611724-pct00008
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(일반식(2d) 중, X 및 Y는, 각각 독립적으로 각각이 결합하는 벤젠환과 공역하지 않는 2가의 기 또는 단결합을 나타낸다. 일반식(2e) 중, Z는 에테르 결합(-O-) 또는 설파이드 결합(-S-)이다.)(In the general formula (2d), X and Y each independently represent a divalent group or a single bond that is not conjugated to the benzene ring to which each is bonded. In the general formula (2e), Z is an ether bond (-O-) or a sulfide bond (-S-).)

일반식(2d)의 X 및 Y의 「결합하는 벤젠환과 공역하지 않는 2가의 기」로서는, -O-, -S-, 또는 하기 식으로 표시되는 2가의 기이다. The "divalent group not conjugated with the benzene ring to be bonded" of X and Y in the general formula (2d) is -O-, -S-, or a divalent group represented by the following formula.

Figure 112016033611724-pct00009
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(식 중, R8은 탄소 원자 또는 규소 원자이다. R9는, 각각 독립적으로, 수소 원자, 또는, 불소 원자, 염소 원자, 브롬 원자, 요오드 원자로부터 선택되는 할로겐 원자이다. (Wherein, R 8 is a carbon atom or a silicon atom. R 9 is each independently a hydrogen atom or a halogen atom selected from a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.

 n=3이다.)n=3.)

또한, 일반식(1) 중의 R2는, 예를 들면 원료로서 사용되는 디아민에서 유래하는 구조이다. In addition, R<2> in General formula (1) is a structure derived from the diamine used as a raw material, for example.

본 발명에서 사용되는 디아민으로서는, 특별히 한정은 없지만, 예를 들면, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐설폰, 4,4'-디아미노디페닐설파이드, 벤지진, m-페닐렌디아민, p-페닐렌디아민, 1,5-나프탈렌디아민, 2,6-나프탈렌디아민, 비스(4-아미노페녹시페닐)설폰, 비스(3-아미노페녹시페닐)설폰, 비스(4-아미노페녹시)비페닐, 비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]에테르, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠 등의 방향환을 가지는 디아민, 1,3-디아미노-4-하이드록시벤젠, 1,3-디아미노-5-하이드록시벤젠, 3,3'-디아미노-4,4'-디하이드록시비페닐, 4,4'-디아미노-3,3'-디하이드록시비페닐, 비스(3-아미노-4-하이드록시페닐)프로판, 비스(4-아미노-3-하이드록시페닐)프로판, 비스(3-아미노-4-하이드록시페닐)설폰, 비스(4-아미노-3-하이드록시페닐)설폰, 비스(3-아미노-4-하이드록시페닐)헥사플루오로프로판, 비스(4-아미노-3-하이드록시페닐)헥사플루오로프로판 등의 하이드록실기와 방향환을 가지는 디아민, 2, 5-디아미노벤조산, 3,4-디아미노벤조산, 3,5-디아미노벤조산, 2,5-디아미노테레프탈산, 비스(4-아미노-3-카복시페닐)메틸렌, 비스(4-아미노-3-카복시페닐)에테르, 4,4'-디아미노-3,3'-디카복시비페닐, 4,4'-디아미노-5,5'-디카복시-2,2'-디메틸비페닐 등의 카복실기와 방향환을 가지는 디아민 등을 들 수 있고, 이들을 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 사용해도 된다. The diamine used in the present invention is not particularly limited, and for example, 4,4'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 4,4'-diaminodiphenylsulfide, benzizine, m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, 1,5-naphthalenediamine, 2,6-naphthalenediamine, bis(4-aminophenoxyphenyl)sulfone , bis(3-aminophenoxyphenyl)sulfone, bis(4-aminophenoxy)biphenyl, bis[4-(4-aminophenoxy)phenyl]ether, 1,4-bis(4-aminophenoxy) Diamine having an aromatic ring such as benzene, 1,3-diamino-4-hydroxybenzene, 1,3-diamino-5-hydroxybenzene, 3,3'-diamino-4,4'-dihydr Roxybiphenyl, 4,4'-diamino-3,3'-dihydroxybiphenyl, bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)propane, bis(4-amino-3-hydroxyphenyl)propane , bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)sulfone, bis(4-amino-3-hydroxyphenyl)sulfone, bis(3-amino-4-hydroxyphenyl)hexafluoropropane, bis(4- Diamine having a hydroxyl group and an aromatic ring such as amino-3-hydroxyphenyl) hexafluoropropane, 2,5-diaminobenzoic acid, 3,4-diaminobenzoic acid, 3,5-diaminobenzoic acid, 2, 5-diaminoterephthalic acid, bis(4-amino-3-carboxyphenyl)methylene, bis(4-amino-3-carboxyphenyl)ether, 4,4'-diamino-3,3'-dicarboxybiphenyl, and diamines having an aromatic ring and a carboxyl group such as 4,4'-diamino-5,5'-dicarboxy-2,2'-dimethylbiphenyl, and these may be used alone or in combination of two or more. also be

R2에 있어서의 2가의 유기기로서는, 하기 일반식(5) 또는 (6)으로 표시되는 2가의 유기기인 것이 바람직하다. As the divalent organic group in R 2, it is preferred for the divalent organic group represented by the formula (5) or (6).

Figure 112016033611724-pct00010
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식 중, R10~R17은 각각 독립적으로, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 1가의 유기기를 나타내고, R10~R17 중 적어도 하나는 할로겐 원자 또는 할로겐화 알킬기이다. R18 및 R19는 각각 독립적으로 할로겐 원자 또는 할로겐화 알킬기이다. In the formula, each of R 10 to R 17 independently represents a hydrogen atom, a halogen atom or a monovalent organic group, and at least one of R 10 to R 17 is a halogen atom or a halogenated alkyl group. R 18 and R 19 are each independently a halogen atom or a halogenated alkyl group.

R10~R17의 1가의 유기기로서는, 탄소수 1~20의 알킬기 (메틸기 등), 탄소수 1~20의 할로겐화 알킬기 (트리플루오로메틸기 등), 탄소수 1~20의 알킬기를 가지는 알콕시기 (메톡시기 등)를 들 수 있다. Examples of the monovalent organic group of R 10 to R 17 include an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms (methyl group, etc.), a halogenated alkyl group having 1 to 20 carbon atoms (trifluoromethyl group, etc.), an alkoxy group having an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms (methoxy time, etc.).

할로겐 원자는 불소 원자인 것이 바람직하다. The halogen atom is preferably a fluorine atom.

할로겐화 알킬기는, 퍼플루오로알킬기인 것이 바람직하다. The halogenated alkyl group is preferably a perfluoroalkyl group.

알킬기 및 할로겐화 알킬기의 탄소수는, 1~6인 것이 바람직하다. It is preferable that carbon number of an alkyl group and a halogenated alkyl group is 1-6.

일반식(1) 중의 R3 및 R4로서는, 예를 들면, 각각 독립적으로 수소 원자, 탄소수 1~20(바람직하게는 탄소수 1~10, 보다 바람직하게는 탄소수 1~6)의 알킬기, 탄소수 3~20(바람직하게는 탄소수 5~15, 보다 바람직하게는 탄소수 6~12)의 사이클로알킬기 또는 탄화수소기의 탄소수가 1~10(바람직하게는 탄소수 1~6)의 (메타)아크릴옥시기를 함유하는 탄화수소기를 들 수 있다. (메타)아크릴옥시기를 함유하는 탄화수소기는 (메타)아크릴옥시기 함유 알킬기가 바람직하다. As R 3 and R 4 in the general formula (1), for example, each independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms (preferably 1 to 10 carbon atoms, more preferably 1 to 6 carbon atoms), 3 carbon atoms A cycloalkyl group or hydrocarbon group having ~20 (preferably 5 to 15 carbon atoms, more preferably 6 to 12 carbon atoms) containing a (meth)acryloxy group having 1 to 10 carbon atoms (preferably 1 to 6 carbon atoms) A hydrocarbon group is mentioned. The hydrocarbon group containing a (meth)acryloxy group has a preferable (meth)acryloxy group containing alkyl group.

탄소수 1~20의 알킬기로서는, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, 2-프로필기, n-부틸기, n-헥실기, n-헵틸기, n-데실기, n-도데실기 등을 들 수 있고, 탄소수 3~20의 사이클로알킬기로서는 사이클로프로필기, 사이클로부틸기, 사이클로펜틸기, 사이클로헥실기, 아다만틸기 등을 들 수 있다. Examples of the alkyl group having 1 to 20 carbon atoms include methyl group, ethyl group, n-propyl group, 2-propyl group, n-butyl group, n-hexyl group, n-heptyl group, n-decyl group, n-dodecyl group and the like. and examples of the cycloalkyl group having 3 to 20 carbon atoms include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and an adamantyl group.

탄화수소기의 탄소수가 1~10의 (메타)아크릴옥시기를 함유하는 탄화수소기로서는, 아크릴옥시에틸기, 아크릴옥시프로필기, 아크릴옥시부틸기, 메타크릴옥시에틸기, 메타크릴옥시프로필기, 메타크릴옥시부틸기 등을 들 수 있다. Examples of the hydrocarbon group containing a (meth)acryloxy group having 1 to 10 carbon atoms include acryloxyethyl group, acryloxypropyl group, acryloxybutyl group, methacryloxyethyl group, methacryloxypropyl group, and methacryloxybutyl group. and the like.

본 발명의 수지 조성물은, R3 및 R4 중 적어도 한쪽이, (메타)아크릴옥시알킬기와 같은, 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지고 있고, 활성 광선 조사에 의해 라디칼을 발생하는 화합물과 조합하여, 라디칼 중합에 의한 분자쇄간의 가교가 가능하게 되도록 하는 것이 바람직하다. In the resin composition of the present invention , at least one of R 3 and R 4 has a carbon carbon unsaturated double bond, such as a (meth)acryloxyalkyl group, and in combination with a compound that generates a radical upon irradiation with actinic light, a radical It is preferable to make it possible to crosslink between molecular chains by polymerization.

(a)성분은, 테트라카복실산 이무수물과 디아민을 부가 중합시켜 합성할 수 있다. 또한, 식(10)으로 표시되는 테트라카복실산 이무수물을 디에스테르 유도체로 한 후, 식(11)로 표시되는 산염화물로 변환하여, 식(12)로 표시되는 디아민과 반응시킴으로써 합성할 수 있다. 이와 같은 합성 방법은 공지된 방법으로부터 선택할 수 있다. (a) component can be synthesize|combined by addition polymerization of tetracarboxylic dianhydride and diamine. Moreover, it can synthesize|combine by making tetracarboxylic dianhydride represented by Formula (10) into a diester derivative, converting into the acid chloride represented by Formula (11), and making it react with the diamine represented by Formula (12). Such a synthesis method can be selected from known methods.

Figure 112016033611724-pct00011
Figure 112016033611724-pct00011

(여기서 R1~R4는 식(1)과 동일하다.)(Here, R 1 to R 4 are the same as in Formula (1).)

상기 일반식(11)로 표시되는 테트라카복실산모노(디)에스테르디클로라이드는, 상기 일반식(10)으로 표시되는 테트라카복실산 이무수물과, 하기 일반식(13)으로 표시되는 화합물을 반응시켜 얻어지는 테트라카복실산모노(디)에스테르와 염화티오닐 또는 디클로로옥살산 등의 염소화제를 반응시켜 얻을 수 있다. The tetracarboxylic acid mono(di)ester dichloride represented by the general formula (11) is tetracarboxylic acid dianhydride represented by the general formula (10) and a compound represented by the following general formula (13). It can be obtained by reacting a carboxylic acid mono(di)ester with a chlorinating agent such as thionyl chloride or dichlorooxalic acid.

Figure 112016033611724-pct00012
Figure 112016033611724-pct00012

(여기서 식 중의 R22는, 알킬기, 사이클로알킬기, 또는 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기이다.)(R 22 in the formula is an alkyl group, a cycloalkyl group, or a monovalent organic group having a carbon-carbon unsaturated double bond.)

염소화제는, 테트라카복실산모노(디)에스테르 1 몰에 대하여, 통상 2몰 당량을, 염소화제에 대하여 2배량의 염기성 화합물 존재 하에서 반응시킴으로써 실시하지만, 합성되는 폴리이미드 전구체의 분자량을 제어하기 위해서, 당량을 적절히 조정해도 된다. 염소화제의 당량으로서는 1.5~2.5몰 당량이 바람직하고, 1.6~2.4 몰 당량이 보다 바람직하고, 1.7~2.3몰 당량이 더욱 바람직하다. 1.5몰 당량보다 적은 경우, 폴리이미드 전구체의 분자량이 낮기 때문에 경화 후의 저응력성이 충분히 발현되지 않을 가능성이 있고, 2.5몰 당량보다 많은 경우에는, 염기성 화합물의 염산염이 다량으로 폴리이미드 전구체 내에 잔존되어, 경화 후의 폴리이미드의 전기절연성이 저하될 우려가 있다. The chlorinating agent is usually carried out by reacting 2 molar equivalents with respect to 1 mole of tetracarboxylic acid mono(di)ester in the presence of a basic compound in an amount of 2 times the amount of the chlorinating agent. In order to control the molecular weight of the synthesized polyimide precursor, You may adjust an equivalent weight appropriately. As an equivalent of a chlorinating agent, 1.5-2.5 molar equivalent is preferable, 1.6-2.4 molar equivalent is more preferable, 1.7-2.3 molar equivalent is still more preferable. When less than 1.5 molar equivalent, since the molecular weight of the polyimide precursor is low, low stress after curing may not be sufficiently expressed. When more than 2.5 molar equivalent, a large amount of hydrochloric acid salt of the basic compound remains in the polyimide precursor. , there is a fear that the electrical insulation of the polyimide after curing may decrease.

염기성 화합물로서는, 예를 들면 피리딘, 4-디메틸아미노피리딘, 트리에틸아민 등을 사용할 수 있고, 염소화제에 대하여, 1.5~2.5배량 사용하는 것이 바람직하고, 1.7~2.4배량인 것이 보다 바람직하고, 1.8~2.3배량인 것이 더욱 바람직하다. 1.5배량보다 적으면, 폴리이미드 전구체의 분자량이 낮아져, 경화 후의 응력이 충분히 저하되지 않을 우려가 있고, 2.5배량보다 많으면, 폴리이미드 전구체가 착색될 우려가 있다. As a basic compound, for example, pyridine, 4-dimethylaminopyridine, triethylamine, etc. can be used, It is preferable to use 1.5 to 2.5 times with respect to a chlorinating agent, It is more preferable that it is 1.7 to 2.4 times, It is more preferable, 1.8 It is more preferable that it is ~2.3 times. When it is less than 1.5 times, there exists a possibility that the molecular weight of a polyimide precursor becomes low and the stress after hardening may not fully fall, and when it is more than 2.5 times, there exists a possibility that a polyimide precursor may color.

또한, 테트라카복실산 이무수물과 일반식(13)의 화합물은, 염기성 촉매의 존재 하에서 반응시켜도 된다. 염기성 촉매로서는, 1,8-디아자비사이클로[5.4.0]운데카-7-엔, 1,5-디아자비사이클로[4.3.0]노나-5-엔 등을 들 수 있다. In addition, you may make tetracarboxylic dianhydride and the compound of General formula (13) react in presence of a basic catalyst. Examples of the basic catalyst include 1,8-diazabicyclo[5.4.0]undeca-7-ene and 1,5-diazabicyclo[4.3.0]nona-5-ene.

상기 일반식(13)으로 표시되는 화합물 중, 알코올류로서는, R22가 탄소수 1~20의 알킬기 또는 탄소수 3~20의 사이클로알킬기인 알코올을 들 수 있다. Among the compounds represented by the general formula (13), examples of alcohols include alcohols in which R 22 is an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or a cycloalkyl group having 3 to 20 carbon atoms.

R22가 나타내는 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기로서는, 알킬기의 탄소수가 1~10의 (메타)아크릴옥시알킬기를 들 수 있다. Examples of the monovalent organic group having a carbon-carbon unsaturated double bond represented by R 22 include a (meth)acryloxyalkyl group having 1 to 10 carbon atoms in the alkyl group.

구체적으로는, 메탄올, 에탄올, n-프로판올, 이소프로판올, n-부탄올, 2-부탄올, t-부탄올, 헥산올, 사이클로헥산올, 2-하이드록시에틸아크릴레이트, 2-하이드록시에틸메타크릴레이트, 2-하이드록시프로필아크릴레이트, 2-하이드록시프로필메타크릴레이트, 2-하이드록시부틸아크릴레이트, 2-하이드록시부틸메타크릴레이트, 4-하이드록시부틸아크릴레이트, 4-하이드록시부틸메타크릴레이트 등을 들 수 있다. 이들은, 단독으로 사용해도 되고, 2종류 이상을 혼합하여 사용해도 된다. Specifically, methanol, ethanol, n-propanol, isopropanol, n-butanol, 2-butanol, t-butanol, hexanol, cyclohexanol, 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, 2-hydroxypropyl methacrylate, 2-hydroxybutyl acrylate, 2-hydroxybutyl methacrylate, 4-hydroxybutyl acrylate, 4-hydroxybutyl methacrylate and the like. These may be used independently and may mix and use 2 or more types.

폴리이미드 전구체의 중량평균분자량은, 10000~100000인 것이 바람직하고, 15000~100000인 것이 보다 바람직하고, 20000~85000인 것이 더욱 바람직하다. 경화 후의 응력을 충분히 저하시키는 관점에서 중량평균분자량은 10000이상인 것이 바람직하다. 용제에에 대한 용해성을 높이고, 용액의 점도가 증대되어 취급성이 저하되는 것을 방지하는 관점에서 100000 이하인 것이 바람직하다. 또한, 중량평균분자량은, 겔 침투 크로마토그래피법에 의해 측정할 수 있고, 표준 폴리스티렌 검량선을 이용하여 환산함으로써 구할 수 있다. It is preferable that it is 10000-100000, as for the weight average molecular weight of a polyimide precursor, it is more preferable that it is 15000-100000, It is still more preferable that it is 20000-85000. From the viewpoint of sufficiently reducing the stress after curing, the weight average molecular weight is preferably 10,000 or more. It is preferable that it is 100000 or less from a viewpoint of improving the solubility with respect to a solvent, and preventing the viscosity of a solution from increasing and handling property falling. In addition, a weight average molecular weight can be measured by the gel permeation chromatography method, and can be calculated|required by converting using a standard polystyrene analytical curve.

폴리이미드 전구체를 합성할 때의 테트라카복실산 이무수물과 디아민의 몰비는 통상 1.0으로 실시하지만, 분자량이나 말단 잔기를 제어할 목적으로, 0.7~1.3의 범위의 몰비로 실시해도 된다. 몰비가 0.7 이하 또는 1.3 이상인 경우, 얻어지는 폴리이미드 전구체의 분자량이 작아져, 경화 후의 저응력성이 충분히 발현되지 않을 우려가 있다. The molar ratio of tetracarboxylic dianhydride and diamine at the time of synthesizing the polyimide precursor is usually 1.0, but for the purpose of controlling molecular weight and terminal residues, it may be carried out in a molar ratio in the range of 0.7 to 1.3. When molar ratio is 0.7 or less or 1.3 or more, the molecular weight of the polyimide precursor obtained may become small, and there exists a possibility that the low stress property after hardening may not fully be expressed.

상기 부가 중합 및 축합 반응, 및 디에스테르 유도체 및 산염화물의 합성은, 유기용매 중에서 실시하는 것이 바람직하다. 사용하는 유기용매로서는, 합성되는 폴리이미드 전구체를 완전하게 용해하는 극성 용매가 바람직하고, N-메틸-2-피롤리돈, N,N-디메틸아세토아미드, N,N-디메틸포름아미드, 디메틸설폭사이드, 테트라메틸 요소, 헥사메틸인산트리아미드, γ-부티로락톤 등을 들 수 있다.It is preferable to carry out the said addition polymerization and condensation reaction, and the synthesis|combination of a diester derivative and an acid chloride in an organic solvent. As the organic solvent to be used, a polar solvent that completely dissolves the polyimide precursor to be synthesized is preferable, and N-methyl-2-pyrrolidone, N,N-dimethylacetoamide, N,N-dimethylformamide, dimethyl sulfoxide side, tetramethyl urea, hexamethyl phosphate triamide, γ-butyrolactone, and the like.

또한, 상기 극성 용매 이외에, 케톤류, 에스테르류, 락톤류, 에테르류, 할로겐화 탄화수소류, 탄화수소류 등도 사용할 수 있다. In addition to the polar solvent, ketones, esters, lactones, ethers, halogenated hydrocarbons, hydrocarbons and the like can also be used.

(b)성분: 일반식(2)로 표시되는 화합물 (b) Component: The compound represented by General formula (2)

본 발명의 수지 조성물은, 네가티브형의 패턴 형성성(形成性)의 관점에서, (b)성분으로서, 하기 일반식(2)로 표시되는 화합물을 함유한다. (b)성분은 활성 광선 조사에 의해 발생한 라디칼에 의해, (b)성분끼리 또는 (a)성분이 가지는 불포화 이중 결합과 반응한다. The resin composition of this invention contains the compound represented by the following general formula (2) as (b) component from a viewpoint of negative pattern formation. (b) A component reacts with the unsaturated double bond which (b) components or (a) component has with the radical which generate|occur|produced by actinic light irradiation.

Figure 112016033611724-pct00013
Figure 112016033611724-pct00013

(식 중, R5는 수소 원자 또는, 탄소수 1~4의 알킬기를 나타내고, R6은 (메타)아크릴기를 포함하지 않는 1가의 유기기이다.)(In the formula, R 5 represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 6 is a monovalent organic group not containing a (meth)acryl group.)

상기 식(2) 중의 R6은 (메타)아크릴기, 하이드록실기, 아미노기를 포함하지 않는 1가의 유기기인 것이 바람직하다. It is preferable that R<6> in said Formula (2) is a monovalent organic group which does not contain a (meth)acryl group, a hydroxyl group, and an amino group.

R6의 (메타)아크릴기를 포함하지 않는 1가의 유기기로서는, 피페리딘 골격을 가지는 기, 치환 또는 무치환의 아미노알킬기, 다환식 탄화수소기를 가지는 기, 방향족 탄화수소기를 가지는 기, 함질소 복소환식기를 가지는 기, 직쇄 또는 분기쇄상 알킬폴리에틸렌글리콜 잔기, 환상 알킬폴리에틸렌글리콜 잔기, 치환 또는 무치환의 페닐폴리에틸렌글리콜 잔기 등을 들 수 있다. Examples of the monovalent organic group not containing a (meth)acryl group for R 6 include a group having a piperidine skeleton, a substituted or unsubstituted aminoalkyl group, a group having a polycyclic hydrocarbon group, a group having an aromatic hydrocarbon group, and a nitrogen-containing heterocycle. and a group having a tableware, a linear or branched alkyl polyethylene glycol residue, a cyclic alkyl polyethylene glycol residue, and a substituted or unsubstituted phenyl polyethylene glycol residue.

일반식(2)로 표시되는 화합물로서는, 특별히 제한 없이 사용할 수 있지만, 예를 들면, 피페리딘-4-일(메타)아크릴레이트, 1-메틸피페리딘-4-일(메타)아크릴레이트, 2,2,6,6-테트라메틸피페리딘-4-일(메타)아크릴레이트, 1,2,2,6,6-펜타메틸피페리딘-4-일(메타)아크릴레이트, (피페리딘-4-일)메틸(메타)아크릴레이트, 2-(피페리딘-4-일)에틸(메타)아크릴레이트 등의 피페리딘 골격 함유 (메타)아크릴레이트;Although it can use especially without limitation as a compound represented by General formula (2), For example, piperidin-4-yl (meth)acrylate, 1-methylpiperidin-4-yl (meth)acrylate , 2,2,6,6-tetramethylpiperidin-4-yl (meth)acrylate, 1,2,2,6,6-pentamethylpiperidin-4-yl (meth)acrylate, ( piperidine skeleton-containing (meth)acrylates such as piperidin-4-yl)methyl (meth)acrylate and 2-(piperidin-4-yl)ethyl (meth)acrylate;

아미노에틸(메타)아크릴레이트, N-메틸아미노에틸(메타)아크릴레이트, N,N-디메틸아미노에틸(메타)아크릴레이트, N-에틸아미노에틸(메타)아크릴레이트, N,N-디에틸아미노에틸(메타)아크릴레이트, 아미노프로필(메타)아크릴레이트, N-메틸아미노프로필(메타)아크릴레이트, N,N-디메틸아미노프로필(메타)아크릴레이트, N-에틸아미노프로필(메타)아크릴레이트, N,N-디에틸아미노프로필(메타)아크릴레이트 등의 치환 또는 무치환의 아미노알킬(메타)아크릴레이트;Aminoethyl (meth)acrylate, N-methylaminoethyl (meth)acrylate, N,N-dimethylaminoethyl (meth)acrylate, N-ethylaminoethyl (meth)acrylate, N,N-diethylamino Ethyl (meth) acrylate, aminopropyl (meth) acrylate, N-methylaminopropyl (meth) acrylate, N,N-dimethylaminopropyl (meth) acrylate, N-ethylaminopropyl (meth) acrylate, substituted or unsubstituted aminoalkyl (meth)acrylates such as N,N-diethylaminopropyl (meth)acrylate;

노보닐(메타)아크릴레이트, 이소보닐(메타)아크릴레이트, 노보나닐(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜테닐(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜테닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜타닐(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜타닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 트리사이클로데칸디메틸올(메타)아크릴레이트 등의 다환식 탄화수소기 함유 (메타)아크릴레이트;Norbornyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, norbornanyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth)acrylates containing polycyclic hydrocarbon groups such as (meth)acrylate, dicyclopentanyloxyethyl (meth)acrylate, and tricyclodecanedimethylol (meth)acrylate;

벤질(메타)아크릴레이트 등의 방향족 탄화수소기 함유 (메타)아크릴레이트;(meth)acrylates containing aromatic hydrocarbon groups such as benzyl (meth)acrylate;

2-(1,2-사이클로헥사카복시이미드)에틸(메타)아크릴레이트 등의 함질소 복소환식기 함유 (메타)아크릴레이트;Nitrogen-containing heterocyclic group-containing (meth)acrylates such as 2-(1,2-cyclohexacarboxyimide)ethyl (meth)acrylate;

2-에틸헥실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 펜틸폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 이소펜틸폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 네오펜틸폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 헥실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 헵틸폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 옥틸폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 노닐폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 운데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 도데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 트리데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 테트라데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 펜타데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 헥사데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 헵타데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 옥타데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 노나데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 이코실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트 등의 직쇄 또는 분기쇄상 알킬폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트;2-ethylhexyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, pentyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, isopentyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, neopentyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, hexyl polyethylene glycol mono ( Meth) acrylate, heptyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, octyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, nonyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, decyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, undecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, dodecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, tridecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, tetradecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, pentadecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, Hexadecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, heptadecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, octadecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, nonadecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, icosyl polyethylene glycol mono ( linear or branched alkyl polyethylene glycol mono (meth) acrylates such as meth) acrylate;

사이클로프로필폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 사이클로부틸폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 사이클로펜틸폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 사이클로헥실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 사이클로헵틸폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 사이클로옥틸폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 사이클로노닐폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 사이클로데실폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트 등의 환상 알킬폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트; 및 노닐페녹시폴리에틸렌글리콜아크릴레이트 등의 치환 또는 무치환의 페닐폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트를 들 수 있다. 이들은 단독으로 또는 2 종류 이상을 조합하여 사용된다. Cyclopropyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, cyclobutyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, cyclopentyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, cyclohexyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, cycloheptyl polyethylene glycol mono ( Cyclic alkyl polyethylene glycol mono (meth) acrylates such as meth) acrylate, cyclooctyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, cyclononyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, and cyclodecyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate; and substituted or unsubstituted phenyl polyethylene glycol mono (meth) acrylates such as nonylphenoxy polyethylene glycol acrylate. These are used individually or in combination of 2 or more types.

그들 중에서도, 직쇄 또는 분기쇄상 알킬폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 방향족 탄화수소기 함유 (메타)아크릴레이트, 다환식 탄화수소기 함유 (메타)아크릴레이트, 함질소 복소환식기 함유 (메타)아크릴레이트, 및 치환 또는 무치환의 페닐폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트, 노닐페녹시폴리에틸렌글리콜(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜테닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜타닐(메타)아크릴레이트, 벤질(메타)아크릴레이트 또는 2-(1,2-사이클로헥사카복시이미드)에틸(메타)아크릴레이트가, 광경화성이 뛰어난 점에서, 보다 바람직하다. Among them, linear or branched alkyl polyethylene glycol mono(meth)acrylate, aromatic hydrocarbon group-containing (meth)acrylate, polycyclic hydrocarbon group-containing (meth)acrylate, nitrogen-containing heterocyclic group-containing (meth)acrylate, and substituted or unsubstituted phenyl polyethylene glycol mono (meth) acrylate, nonylphenoxy polyethylene glycol (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, benzyl ( Meth)acrylate or 2-(1,2-cyclohexacarboxyimide)ethyl (meth)acrylate is more preferable at the point excellent in photocurability.

또한, (b)성분은, 비닐노보넨, 비닐노보난 등의 비닐기를 가지는 것과 조합하여 사용할 수도 있다. Moreover, (b) component can also be used combining with what has vinyl groups, such as vinyl norbornene and vinyl norbornane.

상기 중에서도, 경화막으로부터의 아웃 가스 발생을 억제하는 관점에서, 분자량이 300 이하인 화합물을 사용하는 것이 바람직하다. 보다 상세하게는, 100~300의 범위인 것이 바람직하고, 110~300의 범위인 것이 보다 바람직하고, 120~280의 범위인 것이 더욱 바람직하고, 130~260의 범위인 것이 특히 바람직하고, 150~255의 범위인 것이 매우 바람직하다. Among the above, it is preferable to use the compound whose molecular weight is 300 or less from a viewpoint of suppressing generation|occurrence|production of the outgas from a cured film. More specifically, it is preferable that it is the range of 100-300, It is more preferable that it is the range of 110-300, It is still more preferable that it is the range of 120-280, It is especially preferable that it is the range of 130-260, It is 150- A range of 255 is highly desirable.

그들 중에서도, 직쇄 또는 분기쇄상 알킬폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트 중 분자량이 300 이하인 것, 방향족 탄화수소기 함유 (메타)아크릴레이트, 다환식 탄화수소기 함유 (메타)아크릴레이트, 함질소 복소환식기 함유 (메타)아크릴레이트, 및 치환 또는 무치환의 페닐폴리에틸렌글리콜모노(메타)아크릴레이트 중 분자량이 300 이하인 것이 바람직하고, 노닐페녹시폴리에틸렌글리콜(메타)아크릴레이트 중 분자량이 300 이하인 것, 디사이클로펜테닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜타닐(메타)아크릴레이트, 벤질(메타)아크릴레이트 또는 2-(1,2-사이클로헥사카복시이미드)에틸(메타)아크릴레이트가, 광경화성이 뛰어난 점에서, 보다 바람직하다. Among them, linear or branched alkyl polyethylene glycol mono (meth) acrylates having a molecular weight of 300 or less, aromatic hydrocarbon group-containing (meth) acrylate, polycyclic hydrocarbon group-containing (meth) acrylate, nitrogen-containing heterocyclic group-containing Among (meth)acrylates and substituted or unsubstituted phenyl polyethylene glycol mono (meth) acrylates, those having a molecular weight of 300 or less, and among nonylphenoxy polyethylene glycol (meth) acrylates having a molecular weight of 300 or less, dicyclophene Tenyloxyethyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate or 2-(1,2-cyclohexacarboxyimide) ethyl (meth) acrylate have excellent photocurability , it is more preferable.

구체적으로는 예를 들면, 디사이클로펜테닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜타닐(메타)아크릴레이트, 벤질(메타)아크릴레이트 또는 2-(1,2-사이클로헥사카복시이미드)에틸(메타)아크릴레이트가 바람직하고, 2-(1,2-사이클로헥사카복시이미드)에틸아크릴레이트가 보다 바람직하다. Specifically, for example, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate or 2-(1,2-cyclohexacarboxyimide) ethyl (meth) ) acrylate is preferable, and 2-(1,2-cyclohexacarboxyimide)ethyl acrylate is more preferable.

(b)성분은, (a)성분 100질량부에 대하여, 1~100질량부 함유하는 것이 바람직하고, 3~80질량부 함유하는 것이 보다 바람직하고, 5~50질량부 함유하는 것이 더욱 바람직하고, 5~25질량부 함유하는 것이 특히 바람직하고, 5~15질량부 함유하는 것이 매우 바람직하다. (b) It is preferable to contain 1-100 mass parts with respect to 100 mass parts of (a) component, as for component, it is more preferable to contain 3-80 mass parts, It is still more preferable to contain 5-50 mass parts, , It is especially preferable to contain 5-25 mass parts, and it is very preferable to contain 5-15 mass parts.

그 밖의 가교제를 함유하는 경우의 배합량은, (a)성분 100질량부에 대하여, 1~100질량부로 하는 것이 바람직하고, 2~75질량부로 하는 것이 보다 바람직하고, 3~50질량부로 하는 것이 더욱 바람직하고, 5~30질량부로 하는 것이 특히 바람직하다. 배합량이 1질량부 이상이면, 양호한 감광 특성을 부여할 수 있다. It is preferable to set it as 1-100 mass parts with respect to 100 mass parts of (a) component, as for the compounding quantity in the case of containing another crosslinking agent, It is more preferable to set it as 2-75 mass parts, It is further more preferable to set it as 3-50 mass parts. It is preferable, and it is especially preferable to set it as 5-30 mass parts. A favorable photosensitive characteristic can be provided as a compounding quantity is 1 mass part or more.

(c)성분:활성 광선에 의해 라디칼을 발생하는 화합물(c) A component: The compound which generates a radical by actinic light

(a)성분의 폴리이미드 전구체 내의 R3 및 또는 R4 중 적어도 일부가 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기인 경우, 활성 광선을 조사하면 라디칼을 발생하는 화합물과 병용하여, 용제에 용해함으로써 감광성 수지 조성물로 할 수 있다. (a) When at least a part of R 3 and or R 4 in the polyimide precursor of the component is a monovalent organic group having a carbon carbon unsaturated double bond, it is used in combination with a compound that generates a radical when irradiated with actinic light, and dissolved in a solvent It can be set as the photosensitive resin composition.

(c)성분으로서는, 예를 들면, 후술하는 옥심에스테르 화합물, 벤조페논, N,N'-테트라메틸-4,4'-디아미노벤조페논(미히라케톤) 등의 N,N'-테트라알킬-4,4'-디아미노벤조페논, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부탄온-1,2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노-프로판온-1 등의 방향족 케톤, 알킬안트라퀴논 등의 방향환과 축환(縮環)된 퀴논류, 벤조인알킬에테르 등의 벤조인에테르 화합물, 벤조인, 알킬벤조인 등의 벤조인 화합물, 벤질디메틸케탈 등의 벤질 유도체를 들 수 있다. (c) As a component, N,N'- tetraalkyl, such as an oxime ester compound mentioned later, benzophenone, N,N'- tetramethyl-4,4'- diaminobenzophenone (mihiraketone), etc. as a component, for example -4,4'-diaminobenzophenone, 2-benzyl-2-dimethylamino-1-(4-morpholinophenyl)-butanone-1,2-methyl-1-[4-(methylthio)phenyl Aromatic ketones such as ]-2-morpholino-propanone-1, quinones condensed with aromatic rings such as alkylanthraquinone, benzoin ether compounds such as benzoin alkyl ether, benzoin, and alkylbenzoin Benzyl derivatives, such as a benzoin compound, such as a benzyl dimethyl ketal, are mentioned.

이들 중에서도, 감도가 뛰어나고, 양호한 패턴을 부여하기 위해, 옥심에스테르 화합물이 바람직하다. Among these, in order to be excellent in a sensitivity and to provide a favorable pattern, an oxime ester compound is preferable.

양호한 감도, 잔막율을 얻을 수 있는 관점에서, 옥심에스테르 화합물은, 하기 식(7)로 표시되는 화합물, 하기 식(8)로 표시되는 화합물 또는 하기 일반식(9)로 표시되는 화합물인 것이 바람직하다. It is preferable that an oxime ester compound is a compound represented by a compound represented by the following formula (7), a compound represented by the following formula (8), or a compound represented by the following general formula (9) from a viewpoint that a favorable sensitivity and a film remaining rate can be obtained Do.

Figure 112016033611724-pct00014
Figure 112016033611724-pct00014

식(7) 중, R 및 R1은, 각각 탄소수 1~12의 알킬기, 탄소수 4~10의 사이클로알킬기, 페닐기 또는 톨릴기를 나타내고, 탄소수 1~8의 알킬기, 탄소수 4~6의 사이클로알킬기, 페닐기 또는 톨릴기인 것이 바람직하고, 탄소수 1~4의 알킬기, 탄소수 4~6의 사이클로알킬기, 페닐기 또는 톨릴기인 것이 보다 바람직하고, 메틸기, 사이클로펜틸기, 페닐기 또는 톨릴기인 것이 더욱 바람직하다. In formula (7), R and R 1 each represent an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, a cycloalkyl group having 4 to 10 carbon atoms, a phenyl group or a tolyl group, and an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, a cycloalkyl group having 4 to 6 carbon atoms, and a phenyl group. Or it is preferably a tolyl group, more preferably a C1-C4 alkyl group, a C4-C6 cycloalkyl group, a phenyl group or a tolyl group, and still more preferably a methyl group, a cyclopentyl group, a phenyl group or a tolyl group.

R2는, 수소 원자, -OH, -COOH, -O(CH2)OH, -O(CH2)2OH, -COO(CH2)OH 또는 -COO(CH2)2OH를 나타내고, 수소 원자, -O(CH2)OH, -O(CH2)2OH, -COO(CH2)OH 또는 -COO(CH2)2OH인 것이 바람직하고, 수소 원자, -O(CH2)2OH 또는 -COO(CH2)2OH인 것이 보다 바람직하다. 또한, 방향환에는, R2 이외의 치환기를 가져도 된다.R 2 represents a hydrogen atom, -OH, -COOH, -O(CH 2 )OH, -O(CH 2 ) 2 OH, -COO(CH 2 )OH or -COO(CH 2 ) 2 OH, hydrogen atom, -O(CH 2 )OH, -O(CH 2 ) 2 OH, -COO(CH 2 )OH or -COO(CH 2 ) 2 OH, preferably a hydrogen atom, -O(CH 2 ) 2 More preferably, it is OH or -COO(CH 2 ) 2 OH. Moreover, you may have substituents other than R<2> in an aromatic ring.

Figure 112016033611724-pct00015
Figure 112016033611724-pct00015

식(8) 중, R3은, 각각 독립적으로 탄소수 1~6의 알킬기를 나타내고, 프로필기인 것이 바람직하다. In Formula (8), R<3> represents a C1-C6 alkyl group each independently, and it is preferable that it is a propyl group.

R4는, -NO2 또는 -C(=O)Ar(여기서, Ar는 아릴기를 나타낸다.)을 나타내고, Ar로서는, 톨릴기가 바람직하다. R 4 represents -NO 2 or -C(=O)Ar (here, Ar represents an aryl group), and as Ar, a tolyl group is preferable.

R5 및 R6은, 각각 탄소수 1~12의 알킬기, 페닐기 또는 톨릴기를 나타내고, 메틸기, 페닐기 또는 톨릴기인 것이 바람직하다. Each of R 5 and R 6 represents an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, a phenyl group or a tolyl group, and is preferably a methyl group, a phenyl group or a tolyl group.

또한, 방향환에는, R4 이외의 치환기를 가져도 된다. Moreover, you may have substituents other than R<4> in an aromatic ring.

Figure 112016033611724-pct00016
Figure 112016033611724-pct00016

식(9) 중, R7은, 탄소수 1~6의 알킬기를 나타내고, 에틸기인 것이 바람직하다. In Formula (9), R<7> represents a C1-C6 alkyl group, and it is preferable that it is an ethyl group.

R8은 아세탈 결합을 가지는 유기기이며, 하기 식(9-1)로 표시되는 화합물이 가지는 R8에 대응하는 치환기인 것이 바람직하다. R 8 is an organic group having an acetal bond, and is preferably a substituent corresponding to R 8 in the compound represented by the following formula (9-1).

R9 및 R10은, 각각 탄소수 1~12의 알킬기, 페닐기 또는 톨릴기를 나타내고, 메틸기, 페닐기 또는 톨릴기인 것이 바람직하고, 메틸기인 것이 보다 바람직하다. Each of R 9 and R 10 represents an alkyl group, phenyl group or tolyl group having 1 to 12 carbon atoms, preferably a methyl group, a phenyl group or a tolyl group, and more preferably a methyl group.

또한, 방향환에는, R8 이외의 치환기를 가져도 된다. Moreover, you may have substituents other than R<8> in an aromatic ring.

상기 식(7)로 표시되는 화합물로서는, 예를 들면, 하기 식(7-1)로 표시되는 화합물 및 하기 식(7-2)로 표시되는 화합물을 들 수 있다. 하기 식(7-1)로 표시되는 화합물은, IRGACURE OXE-01(BASF(주)제, 상품명)로서 입수 가능하다. Examples of the compound represented by the formula (7) include a compound represented by the following formula (7-1) and a compound represented by the following formula (7-2). The compound represented by the following formula (7-1) is available as IRGACURE OXE-01 (manufactured by BASF Corporation, trade name).

Figure 112016033611724-pct00017
Figure 112016033611724-pct00017

Figure 112016033611724-pct00018
Figure 112016033611724-pct00018

상기 식(8)로 표시되는 화합물로서는, 예를 들면, 하기 식(8-1)로 표시되는 화합물을 들 수 있다. 이 화합물은, DFI-091(다이토케믹스(주)제, 상품명)로서 입수 가능하다. As a compound represented by said formula (8), the compound represented by following formula (8-1) is mentioned, for example. This compound is available as DFI-091 (manufactured by Daito Chemix Co., Ltd., trade name).

Figure 112016033611724-pct00019
Figure 112016033611724-pct00019

상기 식(9)로 표시되는 화합물로서는, 예를 들면, 하기 식(9-1)로 표시되는 화합물을 들 수 있다. 아데카옵토머 N-1919((주)ADEKA제, 상품명)로서 입수 가능하다. As a compound represented by said formula (9), the compound represented by following formula (9-1) is mentioned, for example. It can be obtained as Adeka Optomer N-1919 (made by ADEKA Corporation, a brand name).

Figure 112016033611724-pct00020
Figure 112016033611724-pct00020

그 외의 옥심에스테르 화합물로서는, 하기 화합물을 사용하는 것이 바람직하다. As another oxime ester compound, it is preferable to use the following compound.

Figure 112016033611724-pct00021
Figure 112016033611724-pct00021

또한, (c)성분으로서 이하의 화합물을 사용할 수도 있다. Moreover, the following compounds can also be used as (c)component.

Figure 112016033611724-pct00022
Figure 112016033611724-pct00022

(c)성분의 함유량으로서는, (a)성분 100질량부에 대하여, 0.01~30질량부인 것이 바람직하고, 0.03~20질량부인 것이 보다 바람직하고, 0.05~15질량부인 것이 더욱 바람직하고, 0.5~10질량부인 것이 특히 바람직하다. 배합량이 0.01질량부 이상이면, 노광부가 충분히 가교되어, 보다 감광 특성이 양호하게 되며, 30질량부 이하이면 보다 경화막의 내열성이 향상되는 경향이 있다. (c) As content of component, it is preferable that it is 0.01-30 mass parts with respect to 100 mass parts of (a) component, It is more preferable that it is 0.03-20 mass parts, It is still more preferable that it is 0.05-15 mass parts, 0.5-10 It is especially preferable that it is a mass part. When a compounding quantity is 0.01 mass part or more, an exposure part fully bridge|crosslinks, a photosensitive characteristic becomes more favorable, and it exists in the tendency for the heat resistance of a cured film to improve more as it is 30 mass parts or less.

(d)성분(밀착조제):유기 실란 화합물 (d) component (adhesion aid): organic silane compound

본 발명의 수지 조성물에는, 경화 후의 실리콘 기판 등에 대한 밀착성을 향상시키기 위해서, (d)성분으로서 유기 실란 화합물을 포함하고 있어도 된다. 유기 실란 화합물로서는, γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리에톡시실란, 비닐트리에톡시실란, 비닐트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필트리에톡시실란, γ-글리시독시프로필트리메톡시실란, γ-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란, γ-아크릴옥시프로필트리메톡시실란, 3-우레이드프로필트리에톡시실란, 3-머캅토프로필트리메톡시실란, 트리에톡시실릴프로필에틸카바메이트, 3-(트리에톡시실릴)프로필숙신산무수물, 페닐트리에톡시실란, 페닐트리메톡시실란, N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-트리에톡시실릴-N-(1,3-디메틸부틸리덴)프로필아민, 2-(3,4-에폭시사이클로헥실)에틸트리메톡시실란, 1-이소시아나토메틸트리메틸실란, 1-이소시아나토메틸트리에틸실란, 1-이소시아나토메틸트리프로필실란, 1-이소시아나토메틸트리부틸실란, 1-이소시아나토메틸트리메톡시실란, 1-이소시아나토메틸디메톡시메틸실란, 1-이소시아나토메틸메톡시디메틸실란, 1-이소시아나토메틸트리에톡시실란, 1-이소시아나토메틸트리프로폭시실란, 1-이소시아나토메틸트리부톡시실란, 1-이소시아나토메틸디에톡시에틸실란, 3-이소시아나토프로필트리메틸실란, 3-이소시아나토프로필트리에틸실란, 3-이소시아나토프로필트리메톡시실란, 3-이소시아나토프로필디메톡시메틸실란, 3-이소시아나토프로필메톡시디메틸실란, 3-이소시아나토프로필트리에톡시실란, 3-이소시아나토프로필디에톡시에틸실란, 3-이소시아나토프로필에톡시디에틸실란, 6-이소시아나토헥실트리메톡시실란, 6-이소시아나토헥실디메톡시메틸실란, 6-이소시아나토헥실메톡시디메틸실란, 6-이소시아나토헥실트리에톡시실란, 6-이소시아나토헥실디에톡시에틸실란, 6-이소시아나토헥실에톡시디에틸실란, 비스(2-하이드록시에틸)-3-아미노프로필트리에톡시실란, N,N-비스(2-하이드록시에틸)-N,N-비스(트리메톡시실릴프로필)에틸렌디아민, N-(하이드록시메틸)-N-메틸아미노프로필트리메톡시실란, 7-트리에톡시실릴프로폭시-5-하이드록시플라본, N-(3-트리에톡시실릴프로필)-4-하이드록시부티르아미드, 2-하이드록시-4-(3메틸디에톡시실릴프로폭시)디페닐케톤, 1,3-비스(4-하이드록시부틸)테트라메틸디실록산, 3-(N-아세틸-4-하이드록시프로필옥시)프로필트리에톡시실란, 하이드록시메틸트리에톡시실란, γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리에톡시실란, 비닐트리에톡시실란, 비닐트리메톡시실란, γ-글리시독시프로필트리에톡시실란, γ-글리시독시프로필트리메톡시실란, 2-(3,4-에폭시사이클로헥실)에틸트리메톡시실란, 트리에톡시실릴프로필에틸카바메이트, N-(3-트리에톡시실릴프로필)O-t-부틸카바메이트 등을 들 수 있다. 배합량은, 원하는 효과를 얻을 수 있도록 적절히 조정된다. In order to improve the adhesiveness to the silicon substrate etc. after hardening in the resin composition of this invention, you may contain the organosilane compound as (d)component. Examples of the organosilane compound include γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltriethoxysilane, γ-glycy Doxypropyltrimethoxysilane, γ-methacryloxypropyltrimethoxysilane, γ-acryloxypropyltrimethoxysilane, 3-ureidepropyltriethoxysilane, 3-mercaptopropyltrimethoxysilane, trie Toxysilylpropylethylcarbamate, 3-(triethoxysilyl)propylsuccinic anhydride, phenyltriethoxysilane, phenyltrimethoxysilane, N-phenyl-3-aminopropyltrimethoxysilane, 3-triethoxysilyl -N-(1,3-dimethylbutylidene)propylamine, 2-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, 1-isocyanatomethyltrimethylsilane, 1-isocyanatomethyltriethyl Silane, 1-isocyanatomethyltripropylsilane, 1-isocyanatomethyltributylsilane, 1-isocyanatomethyltrimethoxysilane, 1-isocyanatomethyldimethoxymethylsilane, 1-isocyanatomethyl Methoxydimethylsilane, 1-isocyanatomethyltriethoxysilane, 1-isocyanatomethyltripropoxysilane, 1-isocyanatomethyltributoxysilane, 1-isocyanatomethyldiethoxyethylsilane, 3 -isocyanatopropyltrimethylsilane, 3-isocyanatopropyltriethylsilane, 3-isocyanatopropyltrimethoxysilane, 3-isocyanatopropyldimethoxymethylsilane, 3-isocyanatopropylmethoxydimethylsilane , 3-isocyanatopropyltriethoxysilane, 3-isocyanatopropyldiethoxyethylsilane, 3-isocyanatopropylethoxydiethylsilane, 6-isocyanatohexyltrimethoxysilane, 6-isocia Natohexyldimethoxymethylsilane, 6-isocyanatohexylmethoxydimethylsilane, 6-isocyanatohexyltriethoxysilane, 6-isocyanatohexyldiethoxyethylsilane, 6-isocyanatohexylethoxydiethyl Silane, bis(2-hydroxyethyl)-3-aminopropyltriethoxysilane, N,N-bis(2-hydroxyethyl)-N,N-bis(trimethoxysilylpropyl)ethylenediamine, N- (hydroxymethyl)-N-methylaminopropyltrimethoxysilane, 7-triethoxysilylpropoxy-5-hydroxyflavone, N-(3-triethoxysilylpropyl)-4-hydroxybutyramide , 2-hydroxy-4- (3methyldiethoxyl Rylpropoxy)diphenylketone, 1,3-bis(4-hydroxybutyl)tetramethyldisiloxane, 3-(N-acetyl-4-hydroxypropyloxy)propyltriethoxysilane, hydroxymethyltriethane Toxysilane, γ-aminopropyltrimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, vinyltriethoxysilane, vinyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropyltriethoxysilane, γ-glycidoxypropyl trimethoxysilane, 2-(3,4-epoxycyclohexyl)ethyltrimethoxysilane, triethoxysilylpropylethylcarbamate, N-(3-triethoxysilylpropyl)Ot-butylcarbamate, etc. can A compounding quantity is adjusted suitably so that a desired effect may be acquired.

이들 중에서도, 비스(2-하이드록시에틸)-3-아미노프로필트리에톡시실란을 사용하는 것이 바람직하다. Among these, it is preferable to use bis(2-hydroxyethyl)-3-aminopropyltriethoxysilane.

(e)성분:용제 (e) Ingredient: Solvent

본 발명의 수지 조성물에는, 필요에 따라 (e)성분으로서 용제를 사용할 수 있다. A solvent can be used for the resin composition of this invention as (e) component as needed.

(e)성분으로서는 폴리이미드 전구체를 완전하게 용해하는 극성 용제가 바람직하고, 예를 들면 N-메틸-2-피롤리돈, N,N-디메틸아세트아미드, N,N-디메틸포름아미드, 디메틸설폭사이드, 테트라메틸요소(尿素), 헥사메틸인산트리아미드, γ-부티로락톤, δ-발레로락톤, γ-발레로락톤, 사이클로헥산온, 사이클로펜탄온, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트, 프로필렌카보네이트, 락트산에틸, 1,3-디메틸-2-이미다졸리디온을 들 수 있다. 이들은 단독으로 사용해도 되고, 둘 이상을 조합하여 사용해도 된다. (e) As a component, the polar solvent which melt|dissolves polyimide precursor completely is preferable, For example, N-methyl- 2-pyrrolidone, N,N- dimethylacetamide, N,N- dimethylformamide, dimethyl sulfoxide. Side, tetramethylurea, hexamethyl phosphate triamide, γ-butyrolactone, δ-valerolactone, γ-valerolactone, cyclohexanone, cyclopentanone, propylene glycol monomethyl ether acetate, propylene carbonate , ethyl lactate, and 1,3-dimethyl-2-imidazolidione. These may be used independently and may be used in combination of two or more.

(e)성분의 함유량으로서는, 특별히 한정되지 않지만, 통상, (a)성분 100질량부에 대하여, 50~1000질량부가 바람직하고, 100~500질량부가 보다 바람직하다. Although it does not specifically limit as content of (e) component, Usually, 50-1000 mass parts is preferable with respect to 100 mass parts of (a) component, and 100-500 mass parts is more preferable.

또한, 본 발명의 수지 조성물에는, 양호한 보존 안정성을 확보하기 위해서, 라디칼 중합 금지제 또는 라디칼 중합 억제제를 배합해도 된다. 라디칼 중합 금지제 또는 라디칼 중합 억제제로서는, 예를 들면, p-메톡시페놀, 디페닐-p-벤조퀴논, 벤조퀴논, 하이드로퀴논, 피로갈롤, 페노티아진, 레조르시놀, 오르토디니트로벤젠, 파라디니트로벤젠, 메타디니트로벤젠, 페난트라퀴논, N-페닐-2-나프틸아민, 쿠페론, 2,5-톨퀴논, 타닌산, 파라벤딜아미노페놀, 니트로소아민류 등을 들 수 있다. 이들은 단독으로 사용해도 되고, 2종류 이상을 조합하여 사용해도 된다. Moreover, in order to ensure favorable storage stability, you may mix|blend a radical polymerization inhibitor or a radical polymerization inhibitor with the resin composition of this invention. Examples of the radical polymerization inhibitor or radical polymerization inhibitor include p-methoxyphenol, diphenyl-p-benzoquinone, benzoquinone, hydroquinone, pyrogallol, phenothiazine, resorcinol, orthodinitrobenzene; Paradinitrobenzene, metadinitrobenzene, phenanthraquinone, N-phenyl-2-naphthylamine, cuperone, 2,5-tolquinone, tannic acid, parabendylaminophenol, nitrosamines, etc. are mentioned. These may be used independently and may be used in combination of 2 or more types.

라디칼 중합 금지제 또는 라디칼 중합 억제제를 함유하는 경우의 배합량으로서는, 폴리이미드 전구체 100질량부에 대하여, 0.01~30질량부인 것이 바람직하고, 0.01~10질량부인 것이 보다 바람직하고, 0.05~5질량부인 것이 더욱 바람직하다. 배합량이 0.01질량부 이상이면 보다 보존 안정성이 양호하게 되며, 30질량부 이하이면, 보다 경화막의 내열성을 향상할 수 있다. As a compounding quantity in the case of containing a radical polymerization inhibitor or a radical polymerization inhibitor, it is preferable that it is 0.01-30 mass parts with respect to 100 mass parts of polyimide precursors, It is more preferable that it is 0.01-10 mass parts, It is 0.05-5 mass parts more preferably. Storage stability becomes more favorable as a compounding quantity is 0.01 mass part or more, and the heat resistance of a cured film can be improved more in it being 30 mass parts or less.

본 발명의 수지 조성물은, 2관능 이상의 광중합성 화합물을, 본 발명의 효과를 저해하지 않는 범위에서 함유해도 된다. 2관능 이상의 광중합성 화합물로서는, 테트라에틸렌글리콜디메타크릴레이트 등을 들 수 있다. The resin composition of this invention may contain the photopolymerizable compound more than bifunctional in the range which does not impair the effect of this invention. As a photopolymerizable compound more than bifunctional, tetraethylene glycol dimethacrylate etc. are mentioned.

2관능 이상의 광중합성 화합물을 함유하는 경우의 배합량으로서는, 폴리이미드 전구체 100질량부에 대하여, 1~10질량부인 것이 바람직하고, 1~8질량부인 것이 보다 바람직하고, 1~5질량부인 것이 더욱 바람직하다. As a compounding quantity in the case of containing a photopolymerizable compound more than bifunctional, it is preferable that it is 1-10 mass parts with respect to 100 mass parts of polyimide precursors, It is more preferable that it is 1-8 mass parts, It is still more preferable that it is 1-5 mass parts Do.

또한, 본 발명의 수지 조성물은, 상기 (a)~(c)성분과, 임의로 상기 (d)성분, (e)성분, 라디칼 중합 금지제 및 라디칼 중합 억제제 중 적어도 1개로 실질적으로 이루어져 있어도 되고, 또한, 이와 같은 성분만으로 이루어져 있어도 된다. 「실질적으로 이루어지는」이란, 상기 성분이 조성물 전체에 대하여, 95질량% 이상, 또는 98질량% 이상인 것을 의미한다. In addition, the resin composition of the present invention may substantially consist of the above components (a) to (c) and optionally at least one of component (d), component (e), a radical polymerization inhibitor and a radical polymerization inhibitor, Moreover, you may consist only of such a component. "Consisting substantially" means that the said component is 95 mass % or more, or 98 mass % or more with respect to the whole composition.

<경화막 및 패턴 경화막의 제조 방법><The manufacturing method of a cured film and a pattern cured film>

본 발명의 경화막은, 상술한 수지 조성물로 형성된다. The cured film of this invention is formed from the resin composition mentioned above.

또한, 본 발명의 패턴 경화막은, 상술한 수지 조성물에 의해 형성되는 패턴 경화막이다. In addition, the pattern cured film of this invention is a pattern cured film formed with the resin composition mentioned above.

본 발명의 패턴 경화막의 제조 방법은, 상술한 수지 조성물을 기판 위에 도포하고 건조하여 도막을 형성하는 공정과, 상기 공정에서 형성한 도막에 활성 광선을 조사 후, 현상하여 패턴 수지막을 얻는 공정과, 패턴 수지막을 가열 처리하는 공정을 포함한다. The manufacturing method of the pattern cured film of this invention apply|coats the above-mentioned resin composition on a board|substrate and dries to form a coating film, After irradiating actinic light to the coating film formed in the said process, the process of developing and obtaining a pattern resin film, and a step of heat-treating the patterned resin film.

이하, 우선 패턴 경화막의 제조 방법의 각 공정에 관하여 설명한다. Hereinafter, each process of the manufacturing method of a pattern cured film is demonstrated first.

본 발명의 패턴 경화막의 제조 방법은, 상술한 수지 조성물을 기판 위에 도포하고 건조하여 도막을 형성하는 공정을 포함한다. 수지 조성물을 기재(基材) 위에 도포하는 방법으로서는, 예를 들면, 침지법, 스프레이법, 스크린 인쇄법, 스핀 코트법을 들 수 있다. 기재로서는, 예를 들면 실리콘 웨이퍼, 금속 기판, 세라믹 기판 등을 들 수 있다. The manufacturing method of the pattern cured film of this invention includes the process of apply|coating the above-mentioned resin composition on a board|substrate, drying it, and forming a coating film. As a method of apply|coating a resin composition on a base material, the dipping method, the spraying method, the screen printing method, and the spin coating method are mentioned, for example. As a base material, a silicon wafer, a metal substrate, a ceramic substrate etc. are mentioned, for example.

건조 공정에서는, 용제를 가열 제거함으로써, 점착성이 없는 도막을 형성할 수 있다. 건조 공정은 PMC(주)제, DATAPLATE(Digital Hotplate) 등의 장치를 이용할 수 있고, 건조 온도로서는 90~130℃가 바람직하고, 건조 시간으로서는 100~400초가 바람직하다.In a drying process, a coating film without adhesiveness can be formed by heating and removing a solvent. The drying process can use apparatuses, such as a PMC Co., Ltd. product, DATAPLATE (Digital Hotplate), 90-130 degreeC is preferable as a drying temperature, and 100-400 second is preferable as a drying time.

 본 발명의 패턴 경화막의 제조 방법은, 상기 공정에서 형성한 도막에 활성 광선을 조사 후, 현상하여 패턴 수지막을 얻는 공정을 포함한다. 이에 의해 원하는 패턴이 형성된 수지막을 얻을 수 있다.The manufacturing method of the patterned cured film of this invention includes the process of developing and obtaining a patterned resin film, after irradiating actinic light to the coating film formed in the said process. Thereby, the resin film in which the desired pattern was formed can be obtained.

본 발명의 수지 조성물은 i선 노광용으로 적합하지만, 조사하는 활성 광선으로서는, 자외선, 원자외선, 가시광선, 전자선, X선 등을 사용할 수 있다.Although the resin composition of this invention is suitable for i-ray exposure, as an actinic light to irradiate, an ultraviolet-ray, a deep ultraviolet-ray, a visible light, an electron beam, X-ray, etc. can be used.

현상액으로서는, 특히 제한은 없으나, 1,1,1-트리클로로에탄 등의 난연성(難燃性) 용매, 탄산나트륨 수용액, 테트라메틸암모늄하이드로옥사이드 수용액 등의 알칼리 수용액, N,N-디메틸포름아미드, 디메틸설폭사이드, N,N-디메틸아세토아미드, N-메틸-2-피롤리돈, 사이클로펜타논, γ-부티로락톤, 아세트산에스테르류 등의 양용매(良溶媒), 이들 양용매와 저급 알코올, 물, 방향족 탄화수소 등의 빈용매(貧溶媒)와의 혼합 용매 등이 사용된다. 현상 후는 필요에 따라서 빈용매 등으로 린스 세정을 실시한다.The developer is not particularly limited, but a flame retardant solvent such as 1,1,1-trichloroethane, an aqueous sodium carbonate solution, an aqueous alkali solution such as an aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide, N,N-dimethylformamide, and dimethyl good solvents such as sulfoxide, N,N-dimethylacetoamide, N-methyl-2-pyrrolidone, cyclopentanone, γ-butyrolactone, and acetate esters, these good solvents and lower alcohols; A mixed solvent with poor solvents, such as water and an aromatic hydrocarbon, etc. are used. After development, rinsing is performed with a poor solvent or the like as necessary.

본 발명의 패턴 경화막의 제조 방법은, 패턴 수지막을 가열 처리하는 공정을 포함한다.The manufacturing method of the pattern cured film of this invention includes the process of heat-processing a pattern resin film.

이 가열 처리는 코요린드버그제 종형 확산로 등의 장치를 사용할 수 있고, 가열 온도 80~400℃에서 실시하는 것이 바람직하며, 가열 시간은 5~300분간인 것이 바람직하다. 이 공정에 의해서, 수지 조성물 중의 폴리이미드 전구체의 이미드화를 진행시켜 폴리이미드 수지를 함유하는 패턴 경화막을 얻을 수 있다.For this heat treatment, an apparatus such as a vertical diffusion furnace made by Koyo Lindbergh can be used, and it is preferable to carry out at a heating temperature of 80 to 400°C, and the heating time is preferably 5 to 300 minutes. According to this process, imidation of the polyimide precursor in a resin composition can advance, and the pattern cured film containing polyimide resin can be obtained.

또한, 가열 온도는, 250~300℃가 보다 바람직하고, 260~290℃가 더욱 바람직하다. 또한, 가열 시간은, 120~280분간이 보다 바람직하고, 180~270분간이 더욱 바람직하다.Moreover, 250-300 degreeC is more preferable, and, as for heating temperature, 260-290 degreeC is still more preferable. Moreover, as for heat time, 120 to 280 minutes are more preferable, and 180 to 270 minutes are still more preferable.

본 발명의 경화막의 제조 방법은 수지 조성물을 기판 위에 도포하고 건조하여 도막을 형성하는 공정과, 도막을 가열 처리하는 공정을 포함한다. 도막을 형성하는 공정, 가열 처리하는 공정은, 상기 패턴 경화막의 제조 방법과 동일하게 할 수 있다. 본 발명의 경화막은 패턴 형성되어 있지 않은 경화막이어도 된다.The manufacturing method of the cured film of this invention includes the process of apply|coating a resin composition on a board|substrate, drying it, and forming a coating film, and the process of heat-processing a coating film. The process of forming a coating film and the process of heat-processing can be carried out similarly to the manufacturing method of the said pattern cured film. The cured film in which pattern formation is not carried out may be sufficient as the cured film of this invention.

이와 같이하여 얻어진 본 발명의 경화막 또는 패턴 경화막은, 반도체 장치의 표면 보호층, 층간 절연층, 재배선층 등으로서 사용할 수 있다.The cured film or pattern cured film of the present invention obtained in this way can be used as a surface protective layer, an interlayer insulating layer, a rewiring layer, etc. of a semiconductor device.

도 1은 본 발명의 일 실시형태인 재배선 구조를 가지는 반도체 장치의 개략 단면도이다.1 is a schematic cross-sectional view of a semiconductor device having a redistribution structure according to an embodiment of the present invention.

본 실시형태의 반도체 장치는 다층 배선 구조를 가지고 있다. 층간 절연층(층간 절연막)(1) 상에는 Al 배선층(2)이 형성되고, 그 상부에는 절연층(절연막)(3)(예를 들면 P-SiN층)이 더 형성되고, 또한 소자의 표면 보호층(표면 보호막)(4)이 형성되어 있다. 배선층(2)의 퍼트부(5)로부터는 재배선층(6)이 형성되어, 외부 접속 단자인 땜납, 금 등으로 형성된 도전성 볼(7)과의 접속 부분인, 코어(8)의 상부까지 이어져 있다. 또한 표면 보호층(4) 상에는, 커버 코트층(9)이 형성되어 있다. 재배선층(6)은, 배리어 메탈(10)을 통하여 도전성 볼(7)에 접속되어 있으나, 이 도전성 볼(7)을 유지하기 위하여, 칼라(11)가 설치되어 있다. 이와 같은 구조의 패키지를 실장할 때에는, 응력을 더 완화하기 위하여, 언더 필(12)을 통하는 것도 있다.The semiconductor device of this embodiment has a multilayer wiring structure. An Al wiring layer 2 is formed on the interlayer insulating layer (interlayer insulating film) 1, and an insulating layer (insulating film) 3 (for example, a P-SiN layer) is further formed thereon, and further protecting the surface of the device A layer (surface protective film) 4 is formed. A redistribution layer 6 is formed from the putt portion 5 of the wiring layer 2, and extends to the upper portion of the core 8, which is a connection portion with an external connection terminal, such as a conductive ball 7 formed of solder, gold, or the like. have. Further, on the surface protective layer 4 , a cover coat layer 9 is formed. The redistribution layer 6 is connected to the conductive ball 7 through the barrier metal 10 , but a collar 11 is provided to hold the conductive ball 7 . When a package having such a structure is mounted, in order to further relieve stress, there is a case through the underfill 12 .

본 발명의 경화막 또는 패턴 경화막은, 상기 실시형태의 커버 코트층(9), 재배선용 코어(8), 땜납 등의 볼용 칼라(11), 언더 필(12) 등, 이른바 패키지 용도로 사용할 수 있다.The cured film or pattern cured film of the present invention can be used for so-called package applications such as the cover coat layer 9 of the above embodiment, the core 8 for rewiring, the collar 11 for balls such as solder, and the underfill 12. have.

본 발명의 경화막 또는 패턴 경화막은, 메탈층이나 봉지제 등과의 접착성이 우수함과 동시에 내동(耐銅)마이그레이션성이 우수하며, 응력 완화 효과도 높기 때문에, 본 발명의 경화막 또는 패턴 경화막을 가지는 반도체 소자는, 신뢰성이 우수한 것이 된다.The cured film or pattern cured film of the present invention is excellent in adhesiveness to a metal layer or an encapsulant, etc., is excellent in copper migration resistance, and has a high stress relaxation effect. Therefore, the cured film or pattern cured film of the present invention is excellent. A semiconductor element to have becomes a thing excellent in reliability.

본 발명의 전자 부품은, 본 발명의 경화막 또는 패턴 경화막을 사용한 커버 코트, 재배선용 코어, 땜납 등의 볼용 칼라, 플립칩 등으로 사용되는 언더 필 등을 가지는 것 이외는 특히 제한되지 않고, 여러 가지 구조를 취할 수 있다.The electronic component of the present invention is not particularly limited except for having a cover coat using the cured film or pattern cured film of the present invention, a core for rewiring, a ball collar such as solder, an underfill used for flip chips, etc. It can take a branch structure.

실시예Example

이하, 실시예에 의해 본 발명을 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들에 의해 아무런 제한을 받지 않는다.Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples, but the present invention is not limited thereto.

합성예 1(피로멜리트산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르의 합성)Synthesis Example 1 (Synthesis of pyromellitic acid-hydroxyethyl methacrylate diester)

0.5리터의 폴리병 중에, 160℃의 건조기로 24시간 건조시킨 피로멜리트산 이무수물 43.624g(200mmol)과 메타크릴산 2-하이드록시에틸 54.919g(401mmol)과 하이드로퀴논 0.220g를 N-메틸피롤리돈 394g에 용해하고, 1,8-디아자비사이클로운데센을 촉매량 첨가한 후에, 실온하(25℃)에서 24시간 교반하여, 에스테르화를 실시하고, 피로멜리트산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르(PMDA(HEMA)) 용액을 얻었다.In a 0.5 liter poly bottle, 43.624 g (200 mmol) of pyromellitic dianhydride, 54.919 g (401 mmol) of 2-hydroxyethyl methacrylate, and 0.220 g of hydroquinone, dried for 24 hours with a dryer at 160° C. After dissolving in 394 g of rolidone, adding a catalytic amount of 1,8-diazabicycloundecene, stirring at room temperature (25°C) for 24 hours, esterification was carried out, and pyromellitic acid-hydroxyethyl methacrylate A diester (PMDA(HEMA)) solution was obtained.

합성예 2(3,3'-4,4'-비페닐테트라카복실산 디에스테르의 합성)Synthesis Example 2 (Synthesis of 3,3'-4,4'-biphenyltetracarboxylic acid diester)

0.5리터의 폴리병 중에, 160℃의 건조기로 24시간 건조시킨 3,3'-4,4'-비페닐테트라카복실산 이무수물 30.893g(105mmol)과 메타크릴산2-하이드록시에틸 28.833g(210mmol)과 하이드로퀴논 0.110g을 N-메틸피롤리돈 239g에 용해하고, 1,8-디아자비사이클로운데센을 촉매량 첨가한 후에, 실온하(25℃)에서 24시간 교반하여, 에스테르화를 실시하고, 3,3'-4,4'-비페닐테트라카복실산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르(s-BPDA(HEMA)) 용액을 얻었다.In a 0.5 liter poly bottle, 30.893 g (105 mmol) of 3,3'-4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride and 28.833 g (210 mmol) of 2-hydroxyethyl methacrylate dried at 160°C for 24 hours ) and 0.110 g of hydroquinone were dissolved in 239 g of N-methylpyrrolidone, a catalytic amount of 1,8-diazabicycloundecene was added, and then stirred at room temperature (25° C.) for 24 hours to perform esterification. , 3,3'-4,4'-biphenyltetracarboxylic acid-hydroxyethyl methacrylate diester (s-BPDA (HEMA)) solution was obtained.

합성예 3(4,4'-옥시디프탈산 디에스테르의 합성)Synthesis Example 3 (Synthesis of 4,4'-oxydiphthalic acid diester)

0.5리터의 폴리병 중에, 160℃의 건조기로 24시간 건조시킨 4,4'-옥시디프탈산 49.634g(160mmol)과 메타크릴산2-하이드록시에틸 44.976g(328mmol)과 하이드로퀴논 0.176g을 N-메틸피롤리돈 378g에 용해하고, 1,8-디아자비사이클로운데센을 촉매량 첨가한 후에, 실온하(25℃)에서 48시간 교반하여, 에스테르화를 실시하고, 4,4'-옥시디프탈산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르(ODPA(HEMA)) 용액을 얻었다.In a 0.5 liter poly bottle, 49.634 g (160 mmol) of 4,4'-oxydiphthalic acid, 44.976 g (328 mmol) of 2-hydroxyethyl methacrylate, and 0.176 g of hydroquinone dried for 24 hours with a dryer at 160 ° C. After dissolving in 378 g of methylpyrrolidone, adding a catalytic amount of 1,8-diazabicycloundecene, stirring at room temperature (25° C.) for 48 hours to effect esterification, 4,4'-oxydi A solution of phthalic acid-hydroxyethyl methacrylate diester (ODPA (HEMA)) was obtained.

합성예 4(폴리머 1의 합성)Synthesis Example 4 (Synthesis of Polymer 1)

교반기, 온도계를 구비한 0.5리터의 플라스크 중에 합성예 1에서 얻어진 PMDA(HEMA) 용액 195.564g과 합성예 3에서 얻어진 ODPA(HEMA) 용액 58.652g을 넣고, 그 후, 빙랭(氷冷)하에서 염화티오닐 25.9g(217.8mmol)을 반응 용액 온도가 10℃ 이하를 유지하도록 적하 로우트를 사용하여 적하했다. 염화티오닐의 적하가 종료한 후, 빙랭하에서 2시간 반응을 실시하고 PMDA(HEMA)와 ODPA(HEMA)의 산클로라이드의 용액을 얻었다. 이어서, 적하 로우트를 사용하여, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤디진 31.696g(99.0mmol), 피리딘 34.457g(435.6mmol), 하이드로퀴논 0.076g(0.693mmol)의 N-메틸피롤리돈 90.211g 용액을 빙랭화로 반응 용액의 온도가 10℃를 넘지 않게 주의하면서 적하했다. 이 반응액을 증류수에 적하하고, 침전물을 여별(濾別)하여 모아, 감압 건조함으로써 폴리아미드산 에스테르를 얻었다. 표준 폴리스틸렌 환산에 의해 구한 중량평균분자량은 34,000이었다. 이것을 폴리머 1(피로멜리트산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르/4,4'-옥시디프탈산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르/2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤디진 축중합체(PMDA/ODPA/TFMB))로 한다. 1g의 폴리머 1을 N-메틸피롤리돈 1.5g에 용해시켜, 유리 기판 위에 스핀 코트로 도포하고, 100℃의 핫플레이트 상에서 180초 가열하여 용제를 휘발시켜 두께 20㎛의 도막을 형성했다. 이때, 얻어진 도막의 i-선 투과율은 30%였다.In a 0.5 liter flask equipped with a stirrer and a thermometer, 195.564 g of the PMDA (HEMA) solution obtained in Synthesis Example 1 and 58.652 g of the ODPA (HEMA) solution obtained in Synthesis Example 3 were put, and then, thereafter, under ice cooling, tea chloride 25.9 g (217.8 mmol) of O'Neil was dripped using the dropping funnel so that the reaction solution temperature might be maintained at 10 degrees C or less. After completion|finish of dripping of thionyl chloride, reaction was performed under ice cooling for 2 hours, and the solution of the acid chloride of PMDA (HEMA) and ODPA (HEMA) was obtained. Then, using a dropping funnel, 31.696 g (99.0 mmol) of 2,2'-bis(trifluoromethyl)bendizine, 34.457 g (435.6 mmol) of pyridine, 0.076 g (0.693 mmol) of hydroquinone N-methyl The 90.211 g solution of pyrrolidone was dripped, being careful not to exceed 10 degreeC by the temperature of the reaction solution by ice cooling. This reaction solution was added dropwise to distilled water, and the precipitate was collected by filtration and dried under reduced pressure to obtain polyamic acid ester. The weight average molecular weight calculated|required by standard polystyrene conversion was 34,000. This is polymer 1 (pyromellitic acid-hydroxyethyl methacrylate diester/4,4'-oxydiphthalic acid-hydroxyethyl methacrylate diester/2,2'-bis(trifluoromethyl)bendizine axis polymer (PMDA/ODPA/TFMB)). 1 g of Polymer 1 was dissolved in 1.5 g of N-methylpyrrolidone, applied by spin coating on a glass substrate, heated for 180 seconds on a hot plate at 100° C. to volatilize the solvent, and a coating film having a thickness of 20 μm was formed. At this time, the i-ray transmittance of the obtained coating film was 30%.

합성예 5(폴리머 2의 합성)Synthesis Example 5 (Synthesis of Polymer 2)

교반기, 온도계를 구비한 0.5리터의 플라스크 중에 합성예 2에서 얻어진 s-BPDA(HEMA) 용액 282.125g를 넣고, 그 후, 빙랭하에서 염화티오닐 25.9g(217.8mmol)을 반응 용액 온도가 10℃ 이하를 유지하도록 적하 로우트를 사용하여 적하했다. 염화티오닐의 적하가 종료된 후, 빙랭하에서 1시간 교반을 실시하고 s-BPDA(HEMA) 염화물의 용액을 얻었다. 이어서, 적하 로우트를 사용하여, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤디진 31.696g(99.0mmol), 피리딘 34.457g(435.6mmol), 하이드로퀴논 0.076g(0.693mmol)의 N-메틸피롤리돈 90.211g 용액을 빙랭화로 반응 용액의 온도가 10℃를 넘지 않게 주의하면서 적하했다. 이 반응액을 증류수에 적하하고, 침전물을 여별하여 모아, 감압 건조함으로써 폴리아미드산에스테르를 얻었다. 표준 폴리스티렌 환산에 의해 구한 중량평균분자량은 85,000이었다. 이것을 폴리머 2(3,3'-4,4'-비페닐테트라카복실산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르/2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤디진 축중합체(BPDA/TFMB))로 한다. 1g의 폴리머 2를 N-메틸피롤리돈 1.5g에 용해시켜, 유리 기판 위에 스핀 코트로 도포하고, 100℃의 핫플레이트 상에서 180초 가열하여 용제를 휘발시켜 두께 20㎛의 도막을 형성했다. 이때, 얻어진 도막의 i-선 투과율은 60%였다.In a 0.5 liter flask equipped with a stirrer and a thermometer, 282.125 g of the s-BPDA (HEMA) solution obtained in Synthesis Example 2 was put, and then 25.9 g (217.8 mmol) of thionyl chloride was added under ice cooling with a reaction solution temperature of 10° C. or less. was dropped using a dropping funnel to maintain After completion|finish of dripping of thionyl chloride, stirring was performed under ice cooling for 1 hour, and the solution of s-BPDA(HEMA) chloride was obtained. Then, using a dropping funnel, 31.696 g (99.0 mmol) of 2,2'-bis(trifluoromethyl)bendizine, 34.457 g (435.6 mmol) of pyridine, 0.076 g (0.693 mmol) of hydroquinone N-methyl The 90.211 g solution of pyrrolidone was dripped, being careful not to exceed 10 degreeC by the temperature of the reaction solution by ice cooling. This reaction solution was added dropwise to distilled water, and the precipitate was collected by filtration and dried under reduced pressure to obtain polyamic acid ester. The weight average molecular weight calculated|required by standard polystyrene conversion was 85,000. Polymer 2 (3,3'-4,4'-biphenyltetracarboxylic acid-hydroxyethyl methacrylate diester/2,2'-bis(trifluoromethyl)bendizine condensation polymer (BPDA/TFMB)) do it with 1 g of polymer 2 was dissolved in 1.5 g of N-methylpyrrolidone, applied by spin coating on a glass substrate, heated for 180 seconds on a hot plate at 100° C. to evaporate the solvent, and a coating film having a thickness of 20 μm was formed. At this time, the i-ray transmittance of the obtained coating film was 60%.

합성예 6(폴리머 3의 합성)Synthesis Example 6 (Synthesis of Polymer 3)

교반기, 온도계를 구비한 0.5리터의 플라스크 중에 합성예 1에서 얻어진 PMDA(HEMA) 용액 244.455g를 넣고, 그 후, 빙랭하에서 염화티오닐 25.9g(217.8mmol)을 반응 용액 온도가 10℃ 이하를 유지하도록 적하 로우트를 사용하여 적하했다. 염화티오닐의 적하가 종료된 후, 빙랭하에서 1시간 교반을 실시하고 PMDA(HEMA) 염화물의 용액을 얻었다. 이어서, 적하 로우트를 사용하여, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤디진 31.696g(99.0mmol), 피리딘 34.457g(435.6mmol), 하이드로퀴논 0.076g(0.693mmol)의 N-메틸피롤리돈 90.211g 용액을 빙랭화로 반응 용액의 온도가 10℃를 넘지 않게 주의하면서 적하했다. 이 반응액을 증류수에 적하하고, 침전물을 여별하여 모아, 감압 건조함으로써 폴리아미드산에스테르를 얻었다. 표준 폴리스티렌 환산에 의해 구한 중량평균분자량은 32,000이었다. 이것을 폴리머 3(피로멜리트산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르/2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤디진 축중합체(PMDA/TFMB))로 한다. 1g의 폴리머 3을 N-메틸피롤리돈 1.5g에 용해시켜, 유리 기판 위에 스핀 코트로 도포하고, 100℃의 핫플레이트 상에서 180초 가열하여 용제를 휘발시켜 두께 20㎛의 도막을 형성했다. 이때, 얻어진 도막의 i-선 투과율은 17%였다.In a 0.5 liter flask equipped with a stirrer and a thermometer, 244.455 g of the PMDA (HEMA) solution obtained in Synthesis Example 1 was put, and thereafter, 25.9 g (217.8 mmol) of thionyl chloride was added under ice cooling to keep the reaction solution temperature at 10°C or less. It was dripped using the dropping route so that it might be. After completion|finish of dripping of thionyl chloride, stirring was performed under ice cooling for 1 hour, and the solution of PMDA (HEMA) chloride was obtained. Then, using a dropping funnel, 31.696 g (99.0 mmol) of 2,2'-bis(trifluoromethyl)bendizine, 34.457 g (435.6 mmol) of pyridine, 0.076 g (0.693 mmol) of hydroquinone N-methyl The 90.211 g solution of pyrrolidone was dripped, being careful not to exceed 10 degreeC by the temperature of the reaction solution by ice cooling. This reaction solution was added dropwise to distilled water, and the precipitate was collected by filtration and dried under reduced pressure to obtain polyamic acid ester. The weight average molecular weight calculated|required by standard polystyrene conversion was 32,000. Let this be polymer 3 (pyromellitic acid-hydroxyethyl methacrylate diester/2,2'-bis(trifluoromethyl)bendizine condensation polymer (PMDA/TFMB)). 1 g of Polymer 3 was dissolved in 1.5 g of N-methylpyrrolidone, applied by spin coating on a glass substrate, heated for 180 seconds on a hot plate at 100° C. to volatilize the solvent, and a coating film having a thickness of 20 μm was formed. At this time, the i-ray transmittance of the obtained coating film was 17%.

합성예 7(폴리머 4의 합성)Synthesis Example 7 (Synthesis of Polymer 4)

교반기, 온도계를 구비한 0.5리터의 플라스크 중에 합성예 2에서 얻어진 s-BPDA(HEMA) 용액 169.275g과 합성예 3에서 얻어진 ODPA(HEMA) 72.7776g 용액을 넣고, 그 후, 빙랭하에서 염화티오닐 25.9g(217.8mmol)을 반응 용액 온도가 10℃ 이하를 유지하도록 적하 로우트를 사용하여 적하했다. 염화티오닐의 적하가 종료된 후, 빙랭하에서 1시간 교반을 실시하고 s-BPDA(HEMA)와 ODPA(HEMA)의 염화물의 용액을 얻었다. 이어서, 적하 로우트를 사용하여, 이어서, 적하 로우트를 사용하여, 2,2'-디메틸벤디진 21.017g(99.0mmol), 피리딘 34.457g(435.6mmol), 하이드로퀴논 0.076g(0.693mmol)의 N-메틸피롤리돈 59.817g 용액을 빙랭화로 반응 용액의 온도가 10℃를 넘지 않게 주의하면서 적하했다. 이 반응액을 증류수에 적하하고, 침전물을 여별하여 모아, 감압 건조함으로써 폴리아미드산에스테르를 얻었다. 표준 폴리스티렌 환산에 의해 구한 중량평균분자량은 35,000이었다. 이것을 폴리머 4(3,3'-4,4'-비페닐테트라카복실산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르/4,4'-옥시디프탈산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르/2,2'-디메틸벤디진 축중합체(BPDA/ODPA/DMB))로 한다. 1g의 폴리머 4를 N-메틸피롤리돈 1.5g에 용해시켜, 유리 기판 위에 스핀 코트로 도포하고, 100℃의 핫플레이트 상에서 180초 가열하여 용제를 휘발시켜 두께 20㎛의 도막을 형성했다. 이때, 얻어진 도막의 i-선 투과율은 8%였다.In a 0.5 liter flask equipped with a stirrer and a thermometer, 169.275 g of the s-BPDA (HEMA) solution obtained in Synthesis Example 2 and 72.7776 g of ODPA (HEMA) solution obtained in Synthesis Example 3 were placed, and then, 25.9 thionyl chloride 25.9 were cooled under ice. g (217.8 mmol) was added dropwise using a dropping funnel so that the temperature of the reaction solution was maintained at 10°C or lower. After completion|finish of dripping of thionyl chloride, stirring was performed under ice cooling for 1 hour, and the solution of the chloride of s-BPDA (HEMA) and ODPA (HEMA) was obtained. Then, using a dropping funnel, and then using a dropping funnel, 21.017 g (99.0 mmol) of 2,2'-dimethylbendizine, 34.457 g (435.6 mmol) of pyridine, and 0.076 g (0.693 mmol) of hydroquinone The 59.817 g solution of N-methylpyrrolidone was dripped, being careful that the temperature of the reaction solution does not exceed 10 degreeC by ice-cooling. This reaction solution was added dropwise to distilled water, and the precipitate was collected by filtration and dried under reduced pressure to obtain polyamic acid ester. The weight average molecular weight calculated|required by standard polystyrene conversion was 35,000. Polymer 4 (3,3'-4,4'-biphenyltetracarboxylic acid-hydroxyethyl methacrylate diester/4,4'-oxydiphthalic acid-hydroxyethyl methacrylate diester/2,2' -Dimethylbendizine condensation polymer (BPDA/ODPA/DMB)). 1 g of polymer 4 was dissolved in 1.5 g of N-methylpyrrolidone, applied by spin coating on a glass substrate, heated for 180 seconds on a hot plate at 100° C. to evaporate the solvent, and a coating film having a thickness of 20 μm was formed. At this time, the i-ray transmittance of the obtained coating film was 8%.

합성예 8(폴리머 5의 합성)Synthesis Example 8 (Synthesis of Polymer 5)

교반기, 온도계를 구비한 0.5리터의 플라스크 중에 합성예 3에서 얻어진 ODPA(HEMA) 용액 181.944g을 넣고, 그 후, 빙랭하에서 염화티오닐 25.9g(217.8mmol)을 반응 용액 온도가 10℃ 이하를 유지하도록 적하 로우트를 사용하여 적하했다. 염화티오닐의 적하가 종료된 후, 빙랭하에서 1시간 교반을 실시하고 ODPA(HEMA) 염화물의 용액을 얻었다. 이어서, 적하 로우트를 사용하여, 2,2'-디메틸벤디진 21.017g(99.0mmol), 피리딘 34.457g(435.6mmol), 하이드로퀴논 0.076g(0.693mmol)의 N-메틸피롤리돈 59.817g 용액을 빙랭화로 반응 용액의 온도가 10℃를 넘지 않게 주의하면서 적하했다. 이 반응액을 증류수에 적하하고, 침전물을 여별하여 모아, 감압 건조함으로써 폴리아미드산에스테르를 얻었다. 표준 폴리스티렌 환산에 의해 구한 중량평균분자량은 35,000이었다. 이것을 폴리머 5(4,4'-옥시디프탈산-하이드록시에틸메타크릴레이트디에스테르/2,2'-디메틸벤디진 축중합체(ODPA/DMB))로 한다. 1g의 폴리머 5를 N-메틸피롤리돈 1.5g에 용해시켜, 유리 기판 위에 스핀 코트로 도포하고, 100℃의 핫플레이트 상에서 180초 가열하여 용제를 휘발시켜 두께 20㎛의 도막을 형성했다. 이때, 얻어진 도막의 i-선 투과율은 40%였다.In a 0.5 liter flask equipped with a stirrer and a thermometer, 181.944 g of the ODPA (HEMA) solution obtained in Synthesis Example 3 was put, and thereafter, 25.9 g (217.8 mmol) of thionyl chloride was added under ice-cooling to maintain the reaction solution temperature at 10°C or less. It was dripped using the dropping route so that it might be. After completion of the dropwise addition of thionyl chloride, the mixture was stirred under ice cooling for 1 hour to obtain a solution of ODPA (HEMA) chloride. Then, using a dropping funnel, a solution of 21.017 g (99.0 mmol) of 2,2'-dimethylbendizine, 34.457 g (435.6 mmol) of pyridine, and 59.817 g of N-methylpyrrolidone of 0.076 g (0.693 mmol) of hydroquinone was added dropwise, being careful that the temperature of the reaction solution did not exceed 10°C by ice-cooling. This reaction solution was added dropwise to distilled water, and the precipitate was collected by filtration and dried under reduced pressure to obtain polyamic acid ester. The weight average molecular weight calculated|required by standard polystyrene conversion was 35,000. Let this be polymer 5 (4,4'-oxydiphthalic acid-hydroxyethyl methacrylate diester/2,2'-dimethylbendizine condensation polymer (ODPA/DMB)). 1 g of polymer 5 was dissolved in 1.5 g of N-methylpyrrolidone, applied by spin coating on a glass substrate, heated for 180 seconds on a hot plate at 100° C. to volatilize the solvent, and a coating film having a thickness of 20 μm was formed. At this time, the i-ray transmittance of the obtained coating film was 40%.

폴리머 1~5의 GPC법 표준 폴리스티렌 환산에 의해 구한 중량평균분자량의 측정 조건은 이하와 같으며, 폴리머 0.5mg에 대하여 용매[테트라하이드로퓨란(THF)/디메틸포름아미드(DMF)=1/1(용적비)] 1mL의 용액을 사용하여 측정했다.The conditions for measuring the weight average molecular weight of polymers 1 to 5 in terms of standard polystyrene by GPC method are as follows, and solvent [tetrahydrofuran (THF) / dimethylformamide (DMF) = 1/1 (for 0.5 mg of polymer) volume ratio)] was measured using 1 mL of the solution.

측정 장치:검출기 (주) 히타치세이사쿠쇼제 L4000UVMeasuring device: Detector: L4000UV manufactured by Hitachi Seisakusho Co., Ltd.

펌프:(주) 히타치세이사쿠쇼제 L6000A pump: L6000 made by Hitachi Seisakusho

   (주) 시마즈세이사쿠쇼제 C-R4A ChromatopacC-R4A Chromatopac manufactured by Shimadzu Corporation

측정 조건:컬럼 Gelpack GL-S300MDT-5×2개Measurement conditions: Column Gelpack GL-S300MDT-5×2

용리액:THF/DMF=1/1(용적비)Eluent: THF/DMF=1/1 (volume ratio)

    LiBr(0.03mol/L), H3PO4(0.06mol/L)LiBr (0.03 mol/L), H 3 PO 4 (0.06 mol/L)

유속:1.0mL/min, 검출기:UV270nmFlow rate: 1.0 mL/min, Detector: UV270 nm

폴리머 1~5의 i선 투과율은 U-3310 Spectrophotometer((주) 히타치세이사쿠쇼제)를 사용하여 측정했다.The i-ray transmittance of the polymers 1 to 5 was measured using a U-3310 Spectrophotometer (manufactured by Hitachi, Ltd.).

<실시예 1~9, 비교예 1><Examples 1 to 9, Comparative Example 1>

(a)성분~(c)성분과 밀착조제를, 표 1에 나타내는 배합으로 N-메틸피롤리돈에 용해하고, 수지 조성물을 조제했다.(a) Component - (c) The component and adhesion|attachment adjuvant were melt|dissolved in N-methylpyrrolidone by the compounding shown in Table 1, and the resin composition was prepared.

표 1에 있어서, (b)성분, (c)성분 및 밀착조제의 각 란의 괄호 안의 숫자는, (a)성분 100질량부에 대한 첨가량(질량부)을 나타낸다. 또한, 용제로서 N-메틸피롤리돈을 사용하고, 사용량은, 모두 (a)성분 100질량부에 대하여 1.5배(150질량부)로 사용했다.In Table 1, the number in parentheses of each column of (b) component, (c) component, and adhesion aid shows the addition amount (mass part) with respect to 100 mass parts of (a) component. In addition, N-methylpyrrolidone was used as a solvent, and the usage-amount used all 1.5 times (150 mass parts) with respect to 100 mass parts of (a) component.

또한, 실시예에 있어서 (c)성분으로서, 하기의 1,2-옥탄디온, 1-[4-(페닐티오)페닐-, 2-(O-벤조일옥심)](BASF(주)제 IRGACURE OXE-01)을 사용했다.Moreover, as (c)component in an Example, following 1,2-octanedione, 1- [4- (phenylthio) phenyl-, 2- (O-benzoyl oxime)] (BASF Corporation IRGACURE OXE) -01) was used.

Figure 112016033611724-pct00023
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또한, 밀착조제로서는, 비스(2-하이드록시에틸)-3-아미노프로필트리에톡시실란(Gelest(주)제, SIB-1140)를 사용했다.In addition, as an adhesion aid, bis(2-hydroxyethyl)-3-aminopropyltriethoxysilane (Gelest Co., Ltd. product, SIB-1140) was used.

실시예 및 비교예로 조제한 수지 조성물에 관하여, 성막(成膜)시의 감광 특성(잔막율, 해상도)을 측정한 결과를 표 1에 나타낸다. 평가방법은 이하와 같다.About the resin composition prepared by the Example and the comparative example, the result of having measured the photosensitive characteristic (remaining film rate, resolution) at the time of film-forming is shown in Table 1. The evaluation method is as follows.

(감광 특성(잔막율, 해상도)의 평가)(Evaluation of photosensitive characteristics (remaining film rate, resolution))

상기 수지 조성물을, 6인치 실리콘 웨이퍼 상에 스핀 코트법에 따라 도포하고, 100℃의 핫플레이트 상에서 3분간 가열하고, 용제를 휘발시켜, 막두께 10㎛의 도막을 얻었다. 이 도막을 γ-부티로락톤:아세트산부틸=7:3의 혼합 용매에 침지하고 완전하게 용해할 때까지의 시간의 2배를 현상 시간으로서 설정했다. 동일한 방법으로 얻어진 도막에 포토마스크를 통하여, 캐논(주)제 i선 스텝퍼 FPA-3000iW를 사용하여, i선 환산으로 200mJ/cm2 노광을 실시했다. 웨이퍼를 γ-부티로락톤:아세트산부틸=7:3에 침지하고, 상기의 현상 시간으로, 패들 현상한 후, 사이클로펜타논으로 린스 세정을 실시했다. 이때의 노후부(露後部)의 잔막율을 평가했다. 여기서 잔막율은 하기 식(1)의 방법으로 산출했다.The said resin composition was apply|coated according to the spin coating method on a 6-inch silicon wafer, and it heated for 3 minutes on a 100 degreeC hotplate, the solvent was volatilized, and the coating film with a film thickness of 10 micrometers was obtained. This coating film was immersed in a mixed solvent of γ-butyrolactone:butyl acetate = 7:3 and twice the time until completely dissolved was set as the developing time. 200 mJ/cm<2> exposure was performed to the coating film obtained by the same method through a photomask in conversion of i line|wire using Canon Co., Ltd. product i-line stepper FPA-3000iW. The wafer was immersed in γ-butyrolactone:butyl acetate = 7:3, paddle-developed at the above-mentioned development time, and then rinsed with cyclopentanone. The residual film ratio of the old part at this time was evaluated. Here, the remaining film rate was computed by the method of following formula (1).

상기와 같은 방법으로, 얻어진 도막에 포토마스크를 통하여 i선 환산으로 400mJ/cm2 노광했을 때에 생긴 라인 앤드 스페이스 패턴의 마스크 치수의 최소치를 해상도로서 평가했다.The minimum value of the mask dimension of the line-and-space pattern which arose when 400 mJ/cm<2> was exposed to the obtained coating film in i-line conversion through a photomask by the above method was evaluated as resolution.

Figure 112016033611724-pct00024
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Figure 112016033611724-pct00025
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표 1에 있어서 (a)성분은 하기의 화합물이다.In Table 1, (a) component is a following compound.

P1:합성예 4로 합성한 폴리머 1(PMDA/ODPA/TFMB)P1: Polymer 1 synthesized in Synthesis Example 4 (PMDA/ODPA/TFMB)

P2:합성예 5로 합성한 폴리머 2(BPDA/TFMB)P2: Polymer 2 synthesized in Synthesis Example 5 (BPDA/TFMB)

P3:합성예 6으로 합성한 폴리머 3(PMDA/TFMB)P3: Polymer 3 synthesized in Synthesis Example 6 (PMDA/TFMB)

P4:합성예 7으로 합성한 폴리머 4(BPDA/ODPA/DMB)P4: Polymer 4 synthesized in Synthesis Example 7 (BPDA/ODPA/DMB)

P5:합성예 8으로 합성한 폴리머 5(ODPA/DMB)P5: Polymer 5 synthesized in Synthesis Example 8 (ODPA/DMB)

표 1에 있어서 (b)성분은 이하의 구조식으로 표시되는 화합물이다.In Table 1, (b) component is a compound represented by the following structural formula.

Figure 112016033611724-pct00026
Figure 112016033611724-pct00026

b1:노닐페녹시폴리에틸렌글리콜아크릴레이트(히타치가세이(주)제, FA-318A, n(평균치)=8)b1: Nonylphenoxy polyethylene glycol acrylate (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., FA-318A, n (average value) = 8)

b2:디사이클로펜테닐옥시에틸메타크릴레이트(히타치가세이(주)제, FA-512M)b2: dicyclopentenyloxyethyl methacrylate (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., FA-512M)

b3:디사이클로펜타닐메타크릴레이트(히타치가세이(주)제, FA-513M)b3: dicyclofentanyl methacrylate (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., FA-513M)

b4:벤질메타크릴레이트(신나카무라가가쿠(주)제, BzMA)b4: Benzyl methacrylate (manufactured by Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd., BzMA)

b5:2-(1,2-사이클로헥사카복시이미드)에틸아크릴레이트(토아고세이(주)제, M-140)b5: 2-(1,2-cyclohexacarboxyimide) ethyl acrylate (manufactured by Toagosei Co., Ltd., M-140)

b':테트라에틸렌글리콜디메타크릴레이트(서트마(주)제, TEGDMA)b': tetraethylene glycol dimethacrylate (manufactured by Sutma Co., Ltd., TEGDMA)

표 1에 나타내듯이, 실시예 1~9의 수지 조성물은, (b)성분으로서, 단관능(單官能)(메타)아크릴레이트를 사용해도, 비교예 1의, 이관능(二官能)의 테트라에틸렌글리콜디메타크릴레이트를 사용한 수지 조성물과 손색이 없는 패턴성을 가진다.As shown in Table 1, even if the resin composition of Examples 1-9 uses a monofunctional (meth)acrylate as (b) component, the bifunctional tetra of Comparative Example 1 It has pattern properties comparable to that of a resin composition using ethylene glycol dimethacrylate.

<실시예 10~13, 비교예 2><Examples 10-13, Comparative Example 2>

그런데, 폴리이미드 수지를 사용한 경화막은, 후막화 및 고탄성율화함으로써, 경화 후의 응력이 증대하고, 반도체 웨이퍼의 휨이 커져, 반송이나 웨이퍼 고정 시에 문제가 발생하는 경우가 있다.By the way, as for the cured film using polyimide resin, the stress after hardening may increase by thickening and making a high elastic modulus, the curvature of a semiconductor wafer becomes large, and a problem may arise at the time of conveyance and wafer fixation.

본 발명자들은, 가열 경화 온도가 300℃ 이하와 저온이 되면, 폴리이미드 경화막 형성 프로세스 후의, 전극부의 에칭 등의 진공 프로세스에 있어서, 폴리이미드막으로부터의 아웃 가스가 증대한다는 과제에 직면했다. 공정 중에 아웃 가스가 발생하면, 챔버가 오염되기 때문에, 문제가 된다. 아웃 가스 발생의 관점에서는 이하의 실시예 10~12에 나타내는 태양이 바람직하다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM When heat-hardening temperature becomes 300 degrees C or less and low temperature, vacuum processes, such as etching of an electrode part, after a polyimide cured film formation process WHEREIN: The subject that the outgas from a polyimide film increases. If outgas is generated during the process, it becomes a problem because the chamber is contaminated. From a viewpoint of outgassing, the aspect shown to the following Examples 10-12 is preferable.

실시예 10Example 10

(a) 폴리머 1을 100질량부, (b) 2-(1,2-사이클로헥사카복시이미드)에틸아크릴레이트(토아고세이(주)제, M-140, 분자량 251)를 10질량부, (c)의 1,2-옥탄디온, 1-[4-(페닐티오)페닐-, 2-(O-벤조일옥심)](BASF(주)제 IRGACURE OXE-01)을 2질량부, 비스(2-하이드록시에틸)-3-아미노프로필트리에톡시실란(Gelest(주)제, SIB-1140) 3질량부를, N-메틸피롤리돈(용제 150질량부)에 용해하고, 수지 조성물을 조제했다.(a) 100 parts by mass of Polymer 1, (b) 10 parts by mass of 2-(1,2-cyclohexacarboxyimide)ethyl acrylate (M-140, molecular weight 251, manufactured by Toagosei Co., Ltd.), (c) ) of 1,2-octanedione, 1-[4-(phenylthio)phenyl-, 2-(O-benzoyloxime)] (BASF Corporation IRGACURE OXE-01) in 2 parts by mass, bis(2- 3 mass parts of hydroxyethyl)-3-aminopropyl triethoxysilane (Gelest Co., Ltd. product, SIB-1140) was melt|dissolved in N-methylpyrrolidone (150 mass parts of solvents), and the resin composition was prepared.

조제한 수지 조성물에 관하여, 성막시의 감광 특성(잔막율, 해상도)과 경화 후의 응력 및 아웃 가스 발생량을 하기 평가방법에 따라 측정했다.About the prepared resin composition, the photosensitive characteristic (remaining film rate, resolution) at the time of film-forming, the stress after hardening, and the amount of outgassing were measured according to the following evaluation method.

(감광 특성(잔막율, 해상도)의 평가)(Evaluation of photosensitive characteristics (remaining film rate, resolution))

상기 수지 조성물을, 6인치 실리콘 웨이퍼 상에 스핀 코트법에 따라 도포하고, 100℃의 핫플레이트 상에서 3분간 가열하고, 용제를 휘발시켜, 막두께 10㎛의 도막을 얻었다. 이 도막을 γ-부티로락톤:아세트산부틸=7:3의 혼합 용매에 침지하고 완전하게 용해할 때까지의 시간의 2배를 현상 시간으로서 설정했다. 동일한 방법으로 얻어진 도막에 포토마스크를 통하여, 캐논가부시키가이샤제 i선 스텝퍼 FPA-3000iW를 사용하고, i선 환산으로 200mJ/cm2 노광을 실시했다. 웨이퍼를 γ-부티로락톤:아세트산부틸=7:3에 침지하고, 상기의 현상 시간에서, 패들 현상 한 후, 사이클로펜타논으로 린스 세정을 실시했다. 이때의 노광부의 잔막율을 평가한 바, 92%였다. 또한, 잔막율은 현상전 막두께에 대한 현상 후 막두께로 산출했다.The said resin composition was apply|coated according to the spin coating method on a 6-inch silicon wafer, and it heated for 3 minutes on a 100 degreeC hotplate, the solvent was volatilized, and the coating film with a film thickness of 10 micrometers was obtained. This coating film was immersed in a mixed solvent of γ-butyrolactone:butyl acetate = 7:3 and twice the time until completely dissolved was set as the developing time. 200 mJ/cm<2> exposure was performed to the coating film obtained by the same method through the photomask in i line|wire conversion using the Canon Corporation i line|wire stepper FPA-3000iW. The wafer was immersed in γ-butyrolactone:butyl acetate = 7:3, and after paddle development at the above development time, rinse-cleaning was performed with cyclopentanone. It was 92 % when the remaining-film rate of the exposure part at this time was evaluated. In addition, the remaining film ratio was computed with the film thickness after image development with respect to the film thickness before image development.

상기와 같은 방법으로, 얻어진 도막에 포토마스크를 통하여 i선 환산으로 400mJ/cm2 노광했을 때에 생긴 라인 앤드 스페이스 패턴의 마스크 치수의 최소치를 해상도로서 평가한바 8㎛였다. When the obtained coating film was exposed to 400 mJ/cm 2 in i-line conversion through a photomask in the same manner as described above, the minimum value of the mask dimension of the line-and-space pattern generated as a resolution was evaluated as 8 µm.

(잔류 응력의 측정)(Measurement of residual stress)

얻어진 수지 조성물을, 6 인치 실리콘 웨이퍼 상에 스핀 코트법에 따라 도포하고, 100℃의 핫플레이트 상에서 3분간 가열하고, 용제를 휘발시켜 경화 후 막두께가 10㎛가 되는 도막을 얻었다. 이를, 코요린드버그제 종형 확산로를 사용하고, 질소 분위기하, 270℃로 4시간 가열 경화하여, 폴리이미드막(경화막)을 얻었다. 경화 후의 폴리이미드막의 잔류 응력은 KLATencor(주)제 박막 스트레스 측정 장치 FLX-2320을 사용하여, 실온으로 측정한 바, 22MPa였다.The obtained resin composition was applied on a 6-inch silicon wafer by a spin coating method, heated on a hot plate at 100° C. for 3 minutes, and the solvent was volatilized to obtain a coating film having a film thickness of 10 µm after curing. This was heat-cured for 4 hours at 270 degreeC in nitrogen atmosphere using the vertical diffusion furnace made from Koyo Lindbergh, and the polyimide film (cured film) was obtained. The residual stress of the polyimide film after curing was 22 MPa when measured at room temperature using KLATencor Co., Ltd. thin film stress measuring apparatus FLX-2320.

(열분해 가스 크로마토그래피 질량 분석)(Pyrolysis Gas Chromatography Mass Spectrometry)

상기 잔류 응력의 측정과 동일하게 폴리이미드막을 작성하고, 열분해 가스 크로마토그래피 질량 분석용의 샘플을 얻었다. 샘플을 Tekmar 7000HT 헤드스페이스샘플러를 사용하여, 270℃/30min로 가열 후, 발생 가스를 GC/MS(시마즈세이사쿠쇼제, 제품번호:GC/MS QP-2010, 캐리어가스:헬륨, 1.0mL/min, 컬럼:HP-5MS, Oven:40℃로 5분간 가열 후, 15℃/min의 비율로 280℃까지 승온, 인터페이스 온도:280℃, 이온 소스 온도:250℃, 샘플 주입량:0.1mL)에 도입하여 분석을 했다. 도 2(a)에 측정 결과를 나타낸다. 각 피크 면적치의 합을 아웃 가스의 총량으로 했다. 피크 면적치의 총합은 38, 375, 993이며, 후술하는 비교예 2의 피크 면적치의 총합의 값을 1로 했을 때에, 0.26 정도가 되어, 충분히 아웃 가스가 저감되고 있었다.A polyimide membrane was created similarly to the measurement of the said residual stress, and the sample for thermal decomposition gas chromatography mass spectrometry was obtained. The sample was heated to 270°C/30min using a Tekmar 7000HT headspace sampler, and the generated gas was GC/MS (manufactured by Shimadzu Corporation, model number: GC/MSQP-2010, carrier gas: helium, 1.0 mL/min). , Column: HP-5MS, Oven: After heating at 40°C for 5 minutes, the temperature is raised to 280°C at a rate of 15°C/min, interface temperature: 280°C, ion source temperature: 250°C, sample injection volume: 0.1 mL) was analyzed. The measurement result is shown in FIG.2(a). The sum of each peak area value was made into the total amount of outgas. The sum of the peak area values is 38, 375, and 993, and when the value of the sum of the peak area values of the comparative example 2 mentioned later is set to 1, it became about 0.26, and the outgas was fully reduced.

실시예 11Example 11

(c)의 1,2-옥탄디온, 1-[4-(페닐티오)페닐-, 2-(O-벤조일옥심)]을, 하기 화합물로 변경한 것 이외는 실시예 10과 동일하게, 수지 조성물을 조제하고, 평가했다.In the same manner as in Example 10, except that 1,2-octanedione, 1-[4-(phenylthio)phenyl-, 2-(O-benzoyloxime)] of (c) was changed to the following compound, the resin A composition was prepared and evaluated.

Figure 112016033611724-pct00027
Figure 112016033611724-pct00027

실시예 11에서는, 잔막율은 95%, 해상도는 7㎛, 잔류 응력은 22MPa였다. 열분해 가스 크로마토그래피 질량 분석에 있어서의 피크 면적치의 총합은, 58, 315, 432이며, 후술하는 비교예 2의 피크 면적치의 총합의 값을 1로 했을 때에, 0.39 정도가 되어, 충분히 아웃 가스가 저감되고 있었다.In Example 11, the residual film rate was 95%, the resolution was 7 micrometers, and the residual stress was 22 MPa. The sum of the peak area values in pyrolysis gas chromatography mass spectrometry is 58, 315, and 432, and when the value of the sum of the peak area values of Comparative Example 2 to be described later is 1, it is about 0.39, and the outgas is sufficiently reduced was becoming

실시예 12Example 12

테트라에틸렌글리콜디메타크릴레이트(서트마(주)제, TEGDMA)를 5질량부 더 첨가한 것 이외는 실시예 10과 동일하게, 수지 조성물을 조제하고, 평가했다.A resin composition was prepared and evaluated in the same manner as in Example 10 except that 5 parts by mass of tetraethylene glycol dimethacrylate (manufactured by Sutma Co., Ltd., TEGDMA) was further added.

잔막율은 95%, 해상도는 7㎛, 잔류 응력은 22MPa였다. 열분해 가스 크로마토그래피 질량 분석에 있어서의 피크 면적치의 총합은 67, 924, 419이며, 후술하는 비교예 2의 피크 면적치의 총합의 값을 1로 했을 때에, 0.45 정도가 되어 충분히 아웃 가스가 저감되고 있었다.The remaining film ratio was 95%, the resolution was 7 µm, and the residual stress was 22 MPa. The sum of the peak area values in pyrolysis gas chromatography mass spectrometry is 67, 924, and 419, and when the value of the sum of the peak area values of Comparative Example 2 to be described later is 1, it is about 0.45, and the outgas is sufficiently reduced. .

실시예 13Example 13

(b)의 2-(1,2-사이클로헥사카복시이미드)에틸아크릴레이트를 노닐페녹시폴리에틸렌글리콜아크릴레이트(히타치가세이(주)제, FA-318A, n(평균치)=8, 분자량 625)로 변경한 것 이외는 실시예 10과 동일하게, 수지 조성물을 조제하고, 평가했다.(b) 2- (1,2-cyclohexacarboxyimide) ethyl acrylate to nonylphenoxy polyethylene glycol acrylate (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., FA-318A, n (average value) = 8, molecular weight 625) A resin composition was prepared and evaluated in the same manner as in Example 10 except for changing to .

잔막율은 89%, 해상도는 8㎛, 잔류 응력은 24MPa였다. 열분해 가스 크로마토그래피 질량 분석에 있어서의 피크 면적치의 총합은, 424, 225, 722이며, 후술하는 비교예 2의 피크 면적치의 총합의 값을 1로 했을 때에, 2.84배 정도로 증가하고 있어 아웃 가스가 증대했다.The remaining film ratio was 89%, the resolution was 8 µm, and the residual stress was 24 MPa. The sum of the peak area values in pyrolysis gas chromatography mass spectrometry is 424, 225, and 722, and when the value of the sum of the peak area values of Comparative Example 2 to be described later is 1, it increases by about 2.84 times, and the outgas increases did.

비교예 2Comparative Example 2

(b)의 2-(1,2-사이클로헥사카복시이미드)에틸아크릴레이트를 테트라에틸렌글리콜디메타크릴레이트(분자량 306)로 변경한 것 이외는 실시예 10과 동일하게, 수지 조성물을 조제하고, 평가했다.A resin composition was prepared in the same manner as in Example 10 except that 2-(1,2-cyclohexacarboxyimide)ethyl acrylate of (b) was changed to tetraethylene glycol dimethacrylate (molecular weight 306), evaluated.

잔막율은 92%, 해상도는 8㎛, 잔류 응력은 22MPa였다. 열분해 가스 크로마토그래피 질량 분석의 측정 결과를 도 2(b)에 나타낸다. 피크 면적치의 총합은 149, 526, 749였다.The remaining film ratio was 92%, the resolution was 8 µm, and the residual stress was 22 MPa. The measurement result of pyrolysis gas chromatography mass spectrometry is shown in FIG.2(b). The sum of the peak area values was 149, 526, and 749.

실시예 10~12는, 패턴성이 우수하고, 게다가, 아웃 가스의 발생량이 적었다.Examples 10-12 were excellent in pattern property, and there was little amount of generation of an outgas.

실험예Experimental example

저온 경화 후의 경화막을, 전극부의 에칭 등의 진공 프로세스에 사용한 경우의 챔버의 오염 원인을 조사하기 위해, 폴리이미드막으로부터 나오는 아웃 가스를 측정하는 실험을 실시했다.In order to investigate the cause of contamination of the chamber at the time of using the cured film after low temperature hardening for vacuum processes, such as etching of an electrode part, the experiment which measures the outgas which comes out from a polyimide film was performed.

실시예 10과 비교예 2에 있어서, 잔류 응력의 측정과 동일하게 폴리이미드막을 작성하고, 경화막을 열분해 장치(FRONTIER LAB PY2020D, 프런티어·라보가부시키가이샤(주)제)를 사용하고, 1분간에 15℃의 비율로 375℃까지 온도상승 후, 발생 가스를 GC/MS(아지렌트·테크놀로지가부시키가이샤(주)제, 제품번호:GC/MS 5973 MSD, 캐리어 가스:헬륨, 0.9mL/min, 컬럼:UADTM-2.5N, Oven:350℃)에 도입하여, 분석을 실시했다.In Example 10 and Comparative Example 2, a polyimide film was prepared in the same manner as in the measurement of residual stress, and the cured film was thermally decomposed (FRONTIER LAB PY2020D, manufactured by Frontier Laboratories Co., Ltd.) for 1 minute After the temperature was raised to 375°C at a rate of 15°C, the generated gas was GC/MS (manufactured by Agilent Technologies, Ltd., model number: GC/MS 5973 MSD, carrier gas: helium, 0.9 mL/ min, column: UADTM-2.5N, Oven: 350°C) and analyzed.

도 3(a)에 비교예 2의 측정 결과를 나타낸다. 파선은 폴리머 1을 나타내고, 실선은 TEGDMA를 나타낸다.The measurement result of Comparative Example 2 is shown to Fig.3 (a). The dashed line represents Polymer 1, and the solid line represents TEGDMA.

도 3(b)에 실시예 10의 측정 결과를 나타낸다. 파선은 폴리머 1을 나타내고, 실선은 M-140을 나타낸다.The measurement result of Example 10 is shown to FIG.3(b). The dashed line represents Polymer 1, and the solid line represents M-140.

비교예 2의 경화막 중의 TEGDMA는 300℃ 부근에서 가스화했지만, 실시예 10의 경화막 중의 M-140은 300℃ 이상에서는, 거의 가스화하지 않았다.Although TEGDMA in the cured film of Comparative Example 2 was gasified at around 300°C, M-140 in the cured film of Example 10 was hardly gasified at 300°C or higher.

종래의 370℃ 정도의 경화 온도에서는, 경화 온도가 경화막의 유리 전이 온도보다 높기 때문에, 경화막은 일단, 고무상(狀) 영역이 되어 아웃 가스로서 가교제를 방출하고, 모두 가스화하여 문제가 되지 않지만, 경화 온도가 경화막의 유리 전이 온도보다 낮을 때에는, 경화막은 유리 상태인 채로 되어, 경화막에 아웃 가스 성분을 내포해 버리므로, 이 막을 고진공하에 노출하면, 내포되어 있던 가교제가 아웃 가스 성분으로서 발생해 버린다고 추측된다.At the conventional curing temperature of about 370 ° C., since the curing temperature is higher than the glass transition temperature of the cured film, the cured film becomes a rubber-like region once and releases the crosslinking agent as an outgas, all of which is gasified, so there is no problem, When the curing temperature is lower than the glass transition temperature of the cured film, the cured film remains in a glassy state and contains an outgas component in the cured film. Therefore, when this film is exposed to a high vacuum, the contained crosslinking agent is generated as an outgas component. It is assumed that discarded

실험예Experimental example

저온 경화 후의 경화막을, 전극부의 에칭 등의 진공 프로세스에 사용한 경우의 챔버의 오염 원인을 조사하기 위해, 폴리이미드막으로부터 나오는 아웃 가스를 측정하는 실험을 실시했다.In order to investigate the cause of contamination of the chamber at the time of using the cured film after low temperature hardening for vacuum processes, such as etching of an electrode part, the experiment which measures the outgas which comes out from a polyimide film was performed.

실시예 1과 비교예 2에 있어서, 잔류 응력의 측정과 동일하게 폴리이미드막을 작성하고, 경화막을 열분해 장치(FRONTIER LAB PY2020D, 프런티어·라보 가부시키가이샤제)를 사용하여, 1분간에 15℃의 비율로 375℃까지 온도상승 후, 발생 가스를 GC/MS(아지렌트·테크놀로지 가부시키가이샤제, 제품번호:GC/MS 5973 MSD, 캐리어 가스:헬륨, 0.9mL/min, 컬럼:UADTM-2.5N, Oven:350℃)에 도입하고, 분석을 실시했다.In Example 1 and Comparative Example 2, a polyimide film was prepared in the same manner as in the measurement of residual stress, and the cured film was heated at 15°C for 1 minute using a thermal decomposition device (FRONTIER LAB PY2020D, manufactured by Frontier Labs, Inc.). After the temperature was raised to 375°C at a rate, the generated gas was GC/MS (manufactured by Azirent Technology, Ltd., model number: GC/MS 5973 MSD, carrier gas: helium, 0.9 mL/min, column: UADTM-2.5N) , Oven: 350°C) and analyzed.

도 3(a)에 비교예 2의 측정 결과를 나타낸다. 파선은 폴리머 1을 나타내고, 실선은 TEGDMA를 나타낸다.The measurement result of Comparative Example 2 is shown to Fig.3 (a). The dashed line represents Polymer 1, and the solid line represents TEGDMA.

도 3(b)에 실시예 1의 측정 결과를 나타낸다. 파선은 폴리머 1을 나타내고, 실선은 M-140을 나타낸다.The measurement result of Example 1 is shown in FIG.3(b). The dashed line represents Polymer 1, and the solid line represents M-140.

비교예 2의 경화막 중의 TEGDMA는 300℃ 부근에서 가스화했지만, 실시예 1의 경화막 중의 M-140은 300℃이상에서는, 거의 가스화하지 않았다.Although TEGDMA in the cured film of Comparative Example 2 was gasified at around 300°C, M-140 in the cured film of Example 1 was hardly gasified at 300°C or higher.

종래의 370℃ 정도의 경화 온도에서는, 경화 온도가 경화막의 유리 전이 온도보다 높기 때문에, 경화막은 일단, 고무상 영역이 되어 아웃 가스로서 가교제를 방출하고, 모두 가스화하여 문제가 되지 않지만, 경화 온도가 경화막의 유리 전이 온도보다 낮을 때에는, 경화막은 유리 상태인 채로 되어, 경화막에 아웃 가스 성분을 내포해 버리므로, 이 막을 고진공하에 노출하면, 내포되어 있던 가교제가 아웃 가스 성분으로서 발생해 버린다고 추측된다.At the conventional curing temperature of about 370 ° C., since the curing temperature is higher than the glass transition temperature of the cured film, the cured film becomes a rubber-like region once and releases the crosslinking agent as an outgas, all gasification is not a problem, but the curing temperature is When it is lower than the glass transition temperature of a cured film, a cured film remains in a glassy state, and since an outgas component will be contained in a cured film, when this film is exposed to high vacuum, it is estimated that the contained crosslinking agent will generate|occur|produce as an outgas component. .

산업상의 사용 가능성Industrial Applicability

본 발명의 수지 조성물은, 반도체 장치 등의 전자 부품을 형성하는, 커버 코트재, 재배선용 코어재, 땜납 등의 볼용 칼라재, 언더필재 등, 이른바 패키지 용도로 사용할 수 있다.The resin composition of the present invention can be used for so-called package applications, such as a cover coating material for forming electronic components such as semiconductor devices, a core material for rewiring, a color material for balls such as solder, and an underfill material.

상기에 본 발명의 실시형태 및/또는 실시예를 몇가지 상세히 설명했지만, 당업자는, 본 발명의 신규한 교시 및 효과로부터 실질적으로 멀어지는 일 없이, 이들 예시인 실시형태 및/또는 실시예에 많은 변경을 추가하는 것이 용이하다. 따라서, 이들 많은 변경은 본 발명의 범위에 포함된다.Although some embodiments and/or examples of the present invention have been described in detail above, those skilled in the art can make many changes to these illustrative embodiments and/or examples without departing substantially from the novel teachings and effects of the present invention. It is easy to add Accordingly, many of these modifications are included within the scope of the present invention.

본원의 파리조약 우선권 주장의 기초가 되는 일본 출원 명세서의 내용을 모두 여기에 원용한다.All the content of the Japanese application specification which becomes the basis of the Paris Convention priority claim of this application is used here.

Claims (14)

하기 (a), (b) 및 (c)성분을 함유하는 수지 조성물.
(a) 하기 일반식(1)로 표시되는 구조 단위를 가지는 폴리이미드 전구체
(b) 하기 일반식(2)로 표시되는 화합물로서, 디사이클로펜테닐(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜테닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜타닐(메타)아크릴레이트, 디사이클로펜타닐옥시에틸(메타)아크릴레이트, 벤질(메타)아크릴레이트, 및 함질소 복소환식기 함유 (메타)아크릴레이트로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1 이상의 화합물
(c) 하기 식(7)로 표시되는 화합물
Figure 112021001884682-pct00037

(식 중, R1은 4가의 유기기, R2는 2가의 유기기, R3 및 R4는 각각 독립적으로 수소 원자, 알킬기, 사이클로알킬기, 또는 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기이다.)
Figure 112021001884682-pct00038

(식 중, R5는 수소 원자 또는, 탄소수 1~4의 알킬기이며, R6은 (메타)아크릴기를 포함하지 않는 1가의 유기기이다.)
Figure 112021001884682-pct00039

(식(7) 중, R 및 R1은, 각각 탄소수 1~12의 알킬기, 탄소수 4~10의 사이클로알킬기, 페닐기 또는 톨릴기를 나타내고,
R2는, 수소 원자, -OH, -COOH, -O(CH2)OH, -O(CH2)2OH, -COO(CH2)OH 또는 -COO(CH2)2OH를 나타낸다.)
The resin composition containing following (a), (b), and (c) component.
(a) a polyimide precursor having a structural unit represented by the following general formula (1)
(b) as a compound represented by the following general formula (2), dicyclopentenyl (meth) acrylate, dicyclopentenyloxyethyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, dicyclopentanyloxy At least one compound selected from the group consisting of ethyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, and nitrogen-containing heterocyclic group-containing (meth) acrylate
(c) a compound represented by the following formula (7)
Figure 112021001884682-pct00037

(Wherein, R 1 is a tetravalent organic group, R 2 is a divalent organic group, R 3 and R 4 are each independently a hydrogen atom, an alkyl group, a cycloalkyl group, or a monovalent organic group having a carbon carbon unsaturated double bond. .)
Figure 112021001884682-pct00038

(Wherein, R 5 is a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 6 is a monovalent organic group not containing a (meth)acryl group.)
Figure 112021001884682-pct00039

(In formula (7), R and R 1 each represent an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, a cycloalkyl group having 4 to 10 carbon atoms, a phenyl group or a tolyl group,
R 2 represents a hydrogen atom, -OH, -COOH, -O(CH 2 )OH, -O(CH 2 ) 2 OH, -COO(CH 2 )OH or -COO(CH 2 ) 2 OH.)
제1항에 있어서,
상기 (b)성분이, (a)성분 100질량부에 대하여, 1~100질량부 함유하는 수지 조성물.
According to claim 1,
The resin composition in which the said (b) component contains 1-100 mass parts with respect to 100 mass parts of (a) component.
제1항에 있어서,
상기 식(2) 중의 R6은 (메타)아크릴기, 하이드록실기, 및 아미노기를 포함하지 않는 1가의 유기기인 수지 조성물.
According to claim 1,
R<6> in said Formula (2) is a (meth)acryl group, a hydroxyl group, and the resin composition which is a monovalent organic group which does not contain an amino group.
제1항에 있어서,
상기 (b)성분이, 분자량이 300 이하인 단관능 광중합성 화합물인 수지 조성물.
According to claim 1,
The resin composition in which the said (b) component is a monofunctional photopolymerizable compound whose molecular weight is 300 or less.
제1항에 있어서,
상기 식(1) 중의 R3 및 R4 중 적어도 한쪽이, 탄소 탄소 불포화 이중 결합을 가지는 1가의 유기기인, 수지 조성물.
According to claim 1,
The resin composition, wherein at least one of R 3 and R 4 in the formula (1) is a monovalent organic group having a carbon-carbon unsaturated double bond.
제1항에 있어서,
상기 식(1) 중의 R1이, 하기 일반식(2a)~(2e)로 표시되는 4가의 유기기 중 어느 하나인 수지 조성물.
Figure 112021001884682-pct00030

(식(2d) 중, X 및 Y는, 각각 독립적으로 각각이 결합하는 벤젠환과 공역하지 않는 2가의 기 또는 단결합을 나타낸다. 일반식(2e) 중, Z는 에테르 결합(-O-) 또는 설파이드 결합(-S-)이다.)
According to claim 1,
The resin composition in which R<1> in said Formula (1) is any one of the tetravalent organic groups represented by the following general formula (2a) - (2e).
Figure 112021001884682-pct00030

(In formula (2d), X and Y each independently represent a divalent group or single bond not conjugated to the benzene ring to which each is bonded. In formula (2e), Z is an ether bond (-O-) or It is a sulfide bond (-S-).)
제1항에 있어서,
상기 식(1) 중의 R2가, 하기 일반식(5) 또는 (6)으로 표시되는 2가의 유기기인 수지 조성물.
Figure 112021001884682-pct00031

(식 중, R10~R17은 각각 독립적으로, 수소 원자, 할로겐 원자 또는 1가의 유기기를 나타내고, R10~R17 중 적어도 하나는 할로겐 원자 또는 할로겐화 알킬기이다. R18 및 R19는 각각 독립적으로 할로겐 원자 또는 할로겐화 알킬기이다.)
According to claim 1,
The resin composition wherein R 2 in the formula (1) is a divalent organic group represented by the following general formula (5) or (6).
Figure 112021001884682-pct00031

(Wherein, R 10 to R 17 each independently represent a hydrogen atom, a halogen atom or a monovalent organic group, and at least one of R 10 to R 17 is a halogen atom or a halogenated alkyl group. R 18 and R 19 are each independently is a halogen atom or a halogenated alkyl group.)
삭제delete 제1항 내지 제7항의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물로부터 형성되는 경화막.The cured film formed from the resin composition in any one of Claims 1-7. 제1항 내지 제7항의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 기판 위에 도포하고 건조하여 도막을 형성하는 공정과, 도막을 가열 처리하는 공정을 포함하는, 경화막의 제조 방법.The manufacturing method of a cured film including the process of apply|coating the resin composition in any one of Claims 1-7 on a board|substrate, drying it, and forming a coating film, and the process of heat-processing a coating film. 제1항 내지 제7항의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물로부터 형성되는 패턴 경화막.The pattern cured film formed from the resin composition in any one of Claims 1-7. 제1항 내지 제7항의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 기판 위에 도포하고 건조하여 도막을 형성하는 공정과, 상기 도막에 활성 광선을 조사 후, 현상하여 패턴 수지막을 얻는 공정과, 상기 패턴 수지막을 가열 처리하는 공정을 포함하는, 패턴 경화막의 제조 방법.A step of applying the resin composition according to any one of claims 1 to 7 on a substrate and drying it to form a coating film, a step of irradiating the coating film with actinic light and then developing to obtain a pattern resin film; The manufacturing method of a pattern cured film including the process of heat-processing. 제9항에 기재된 경화막을 가지는 전자 부품.The electronic component which has the cured film of Claim 9. 제11항에 기재된 패턴 경화막을 가지는 전자 부품.The electronic component which has the pattern cured film of Claim 11.
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102090451B1 (en) * 2015-08-21 2020-03-18 아사히 가세이 가부시키가이샤 Photosensitive resin composition, polyimide production method, and semiconductor device
CN113820920B (en) * 2016-03-31 2023-07-04 旭化成株式会社 Photosensitive resin composition, method for producing cured relief pattern, and semiconductor device
WO2018154688A1 (en) * 2017-02-23 2018-08-30 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 Resin composition, cured product, pattern cured product, method for producing cured product, interlayer insulating film, surface protective film and electronic component
JPWO2018179330A1 (en) * 2017-03-31 2020-02-06 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 Photosensitive resin composition, method for producing pattern cured film, cured product, interlayer insulating film, cover coat layer, surface protective film, and electronic component
WO2018179382A1 (en) 2017-03-31 2018-10-04 日立化成デュポンマイクロシステムズ株式会社 Photosensitive resin composition, method for producing pattern cured product, cured product, interlayer insulating film, cover-coat layer, surface protective film, and electronic component
KR102417834B1 (en) * 2017-11-28 2022-07-07 (주)덕산테코피아 Egative photosensitive resin composition and electronic device having organic insulating film using same
JP2023534494A (en) * 2020-07-15 2023-08-09 フジフイルム エレクトロニック マテリアルズ ユー.エス.エー., インコーポレイテッド Dielectric film forming composition
TW202219161A (en) * 2020-09-25 2022-05-16 日商富士軟片股份有限公司 Resin composition, cured product, laminate, cured product production method, and semiconductor device

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001330950A (en) * 2000-05-18 2001-11-30 Toray Ind Inc Photosensitive polymer composition
WO2002097532A1 (en) 2001-05-30 2002-12-05 Kaneka Corporation Photosensitive resin composition and photosensitive dry film resist and photosensitive cover ray film using the same
JP2007133377A (en) * 2005-10-12 2007-05-31 Toray Ind Inc Photosensitive resin composition
WO2011025305A2 (en) 2009-08-28 2011-03-03 주식회사 엘지화학 Novel polyamic acid, polyimide, photosensitive resin composition comprising same, and dry film produced from the composition

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3411697A1 (en) 1984-03-29 1985-10-10 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München METHOD FOR PRODUCING POLYIMIDE AND POLYISOINDOLOCHINAZOLINDION RELIEF STRUCTURES
JP2826940B2 (en) 1992-07-22 1998-11-18 旭化成工業株式会社 Photosensitive composition for i-line exposure
JP3289399B2 (en) * 1993-05-19 2002-06-04 東レ株式会社 Photosensitive polyimide precursor composition
JP3170174B2 (en) 1995-04-18 2001-05-28 日本ゼオン株式会社 Polyimide resin composition
JPH09188762A (en) 1996-01-10 1997-07-22 Hitachi Ltd Production of photosensitive polyimide precursor, amidation of polymer and amidation catalyst of polymer
JP3321548B2 (en) 1996-06-17 2002-09-03 株式会社日立製作所 Photosensitive polyimide precursor composition and pattern forming method using the same
JP2001281859A (en) * 2000-03-31 2001-10-10 Hitachi Chemical Dupont Microsystems Ltd Alkali negative development type photosensitive resin composition, method for producing pattern and electronic parts
JP2003345012A (en) * 2002-05-28 2003-12-03 Hitachi Chemical Dupont Microsystems Ltd Photosensitive composition and electronic parts using the same
JP4337481B2 (en) * 2002-09-17 2009-09-30 東レ株式会社 Negative photosensitive resin precursor composition, electronic component using the same, and display device
EP1775316A4 (en) 2004-07-16 2011-11-02 Asahi Kasei Emd Corp Polyamide
JP2006169409A (en) * 2004-12-16 2006-06-29 Kaneka Corp Polyimide precursor and photosensitive resin composition using it
JP5043932B2 (en) * 2007-04-04 2012-10-10 旭化成エレクトロニクス株式会社 Photosensitive polyamic acid ester composition
ITTO20070783A1 (en) 2007-11-06 2009-05-07 Massimo Franzosi ANALOGUE CLOCK, IN PARTICULAR WRISTWATCH, WITH AUTOMATIC LIGHTING OF THE DIAL WITH ELETTROLUMINESCENCE
JP2009251451A (en) * 2008-04-09 2009-10-29 Hitachi Chem Co Ltd Photosensitive resin composition and photosensitive element
JP2012185211A (en) * 2011-03-03 2012-09-27 Nippon Kayaku Co Ltd Negative photosensitive resin composition and use thereof

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001330950A (en) * 2000-05-18 2001-11-30 Toray Ind Inc Photosensitive polymer composition
WO2002097532A1 (en) 2001-05-30 2002-12-05 Kaneka Corporation Photosensitive resin composition and photosensitive dry film resist and photosensitive cover ray film using the same
JP2007133377A (en) * 2005-10-12 2007-05-31 Toray Ind Inc Photosensitive resin composition
WO2011025305A2 (en) 2009-08-28 2011-03-03 주식회사 엘지화학 Novel polyamic acid, polyimide, photosensitive resin composition comprising same, and dry film produced from the composition

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