KR102243270B1 - Apparatus for processing substrate - Google Patents

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Abstract

기판처리 장치가 개시된다. 본 발명에 따른 기판처리 장치는, 기판 상의 물질을 기화시키거나 건조시키는 기판처리 장치로서, 기판처리 공간을 제공하는 챔버(101)를 포함하는 본체(100) 및 챔버(101) 내부를 가열하는 발열부(200)를 포함하며, 본체(100)의 하부(BC)는 하부(BC) 상단에서 하부(BC) 하단으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지는 것을 특징으로 한다.A substrate processing apparatus is disclosed. A substrate processing apparatus according to the present invention is a substrate processing apparatus for vaporizing or drying a material on a substrate, and a body 100 including a chamber 101 providing a substrate processing space and a heat generating heat for heating the inside of the chamber 101 A portion 200 is included, and the lower portion BC of the main body 100 has a shape in which the size of the flat cross-sectional area decreases from the upper portion of the lower portion BC to the lower portion of the lower portion BC.

Description

기판처리 장치 {APPARATUS FOR PROCESSING SUBSTRATE}Substrate processing equipment {APPARATUS FOR PROCESSING SUBSTRATE}

본 발명은 기판처리 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본체 내측면의 온도를 제어하는 본체 발열부를 구비하고, 본체의 형상에 기울어진 각도를 적용하여, 본체의 내측벽에 기판 처리 가스 또는 휘발성 물질이 응축되지 않도록 하고, 응축된 경우에는 본체의 내측면을 따라 응축된 물질이 흘러내려갈 수 있도록 한 기판처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate processing apparatus. More specifically, a main body heating part for controlling the temperature of the inner side of the main body is provided, and an inclined angle is applied to the shape of the main body to prevent condensation of the substrate processing gas or volatile substances on the inner wall of the main body, and when condensed In the above, it relates to a substrate processing apparatus in which the condensed material can flow down along the inner surface of the main body.

표시 장치 또는 반도체 소자 제조시 사용되는 기판처리 장치에서 기판이 처리되는 챔버 내부에는 많은 양의 가스가 공급 및 배출될 수 있다. 이러한 가스는 기판 상에 박막을 형성하거나, 기판 상의 박막에 패턴을 형성하거나, 챔버 내부의 분위기를 환기시키는 등의 목적으로 챔버에 내부에 공급되고, 챔버로부터 외부로 배출될 수 있다.In a substrate processing apparatus used in manufacturing a display device or a semiconductor device, a large amount of gas may be supplied and discharged into a chamber in which a substrate is processed. Such gas may be supplied to the inside of the chamber for the purpose of forming a thin film on the substrate, forming a pattern on the thin film on the substrate, or ventilating the atmosphere inside the chamber, and may be discharged from the chamber to the outside.

특히, 플렉서블 기판을 제조하는 과정에서, 논플렉서블 기판에서 플렉서블 기판을 분리하기 위해 솔벤트를 주입하는 것이 일반적이며, 주입하는 솔벤트 성분 또는 플렉서블 기판에 포함되어 있는 솔벤트 성분이 휘발되어 챔버 외부로 배출될 수 있다.In particular, in the process of manufacturing a flexible substrate, it is common to inject a solvent to separate the flexible substrate from the non-flexible substrate, and the injected solvent component or the solvent component contained in the flexible substrate may be volatilized and discharged to the outside of the chamber. have.

기판처리 공정 중에 챔버 내부는 소정의 공정 온도 및 공정 압력을 유지해야 할 필요성이 있다. 하지만, 챔버 외부와 챔버 내부의 온도 및 압력 차이 때문에 솔벤트 성분, 또는 가스가 챔버 내벽에 응축되는 현상이 발생할 수 있다. 응축된 가스는 반복되는 기판처리 공정에 있어서 증발 및 응축을 반복하거나, 다른 화학 성분의 가스와 반응하거나, 특정 온도 환경 하에서 변질됨으로써 챔버 내벽을 더욱 오염시킬 수 있다.During the substrate treatment process, there is a need to maintain a predetermined process temperature and process pressure inside the chamber. However, a phenomenon in which a solvent component or gas is condensed on the inner wall of the chamber may occur due to a difference in temperature and pressure between the outside of the chamber and the inside of the chamber. The condensed gas may further contaminate the inner wall of the chamber by repeating evaporation and condensation in repeated substrate treatment processes, reacting with gases of other chemical components, or deteriorating under a specific temperature environment.

결국, 종래의 기판처리 장치는, 챔버 내벽의 오염된 물질이 이후의 기판처리 과정 중에 재증발하여 기판 상에 유입되어 기판을 오염시키므로, 제품의 신뢰성이 저하되고, 수율을 하락시키는 문제점이 있었다.As a result, in the conventional substrate processing apparatus, the contaminated material on the inner wall of the chamber re-evaporates during a subsequent substrate processing process and flows onto the substrate to contaminate the substrate, thereby reducing the reliability of the product and lowering the yield.

또한, 종래의 기판처리 장치는, 챔버 내벽에 오염된 물질을 세정하거나, 오염된 챔버벽 자체를 교체해야 하는 문제가 발생하므로, 제품의 생산 비용이 증대되는 문제점이 있었다.Further, in the conventional substrate processing apparatus, there is a problem in that a contaminated material on the inner wall of the chamber needs to be cleaned or the contaminated chamber wall itself needs to be replaced, so that the production cost of the product is increased.

본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 제반 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본체 내벽에 가스가 응축되지 않도록 본체 내벽을 소정의 온도로 유지할 수 있는 기판처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of maintaining an inner wall of a body at a predetermined temperature so that gas does not condense on the inner wall of the body, as conceived to solve the problems of the prior art as described above.

또한, 본 발명은 챔버 내벽에 응축된 물질이 흘러내려갈 수 있도록 본체의 형상을 변화시킨 기판처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus in which a shape of a main body is changed so that a material condensed on an inner wall of a chamber can flow down.

또한, 본 발명은 온도 컨트롤러 및 본체 발열부를 동시에 사용하여, 본체 내벽을 신속하게 원하는 온도로 유지할 수 있는 기판처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of rapidly maintaining an inner wall of a body at a desired temperature by simultaneously using a temperature controller and a body heating unit.

또한, 본 발명은 챔버 내벽을 오염되지 않게 유지함으로써, 제품의 신뢰성 및 수율을 증대시킬 수 있는 기판처리 장치 및 휘발성 물질 응축방지 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.In addition, an object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus and a method for preventing condensation of volatile substances, which can increase product reliability and yield by keeping the inner wall of the chamber free from contamination.

상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치는, 기판 상의 물질을 기화시키거나 건조시키는 기판처리 장치로서, 기판처리 공간을 제공하는 챔버를 포함하는 본체; 상기 챔버 내부를 가열하는 발열부; 및 상기 본체의 내측면과 상기 본체의 상부면이 접하는 모서리, 또는 상기 본체의 내측면과 상기 본체의 하부면이 접하는 모서리 중 적어도 어느 하나에 배치되는 본체 발열부를 포함하며, 상기 본체의 하부는 하부 상단에서 하부 하단으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention is a substrate processing apparatus for vaporizing or drying a material on a substrate, comprising: a main body including a chamber providing a substrate processing space; A heating unit that heats the inside of the chamber; And a body heating unit disposed at at least one of an edge contacting the inner surface of the body and the upper surface of the body, or an edge contacting the inner surface of the body and the lower surface of the body, wherein the lower portion of the body is It is characterized in that it has a shape in which the size of the flat sectional area decreases from the top to the bottom of the bottom.

상기 본체의 상부는 상부 하단에서 상부 상단으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가질 수 있다.The upper portion of the main body may have a shape in which a size of a flat cross-sectional area decreases from an upper lower end to an upper upper end.

상기 본체의 최상단 모서리 또는 상기 본체의 최하단 모서리 중 적어도 어느 하나에 상기 본체 발열부가 더 배치될 수 있다.The body heating unit may be further disposed at at least one of an uppermost edge of the body or a lowermost edge of the body.

상기 본체는 정단면의 형상이 육각형일 수 있다.The main body may have a hexagonal shape in its front cross-section.

상기 본체의 상부 또는 상기 본체의 하부는 각뿔(pyramid) 형상일 수 있다.An upper portion of the main body or a lower portion of the main body may have a pyramid shape.

상기 물질이 상기 본체 내측면에서 응집되고, 상기 내측면을 따라 흘러내림으로써, 상기 본체의 하단으로 포집될 수 있따.The material is aggregated on the inner side of the main body and flows down along the inner side, so that the material may be collected at the lower end of the main body.

상기 본체 발열부는, 상기 챔버 내에서 기화되거나 건조되는 기판 상의 물질이 상기 본체의 내측면에 응축되지 않도록, 상기 본체의 상기 내측면의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있다.The main body heating unit may maintain a temperature of the inner surface of the main body at 50° C. to 250° C. so that the material on the substrate vaporized or dried in the chamber is not condensed on the inner surface of the main body.

상기 본체의 외측면에 배치되며 상기 본체 내측면의 온도를 제어하는 온도 제어부를 더 포함하고, 상기 본체의 전면에는 상기 기판이 출입하는 출입구가 형성되고, 상기 출입구를 개폐하는 도어가 설치되며, 상기 도어에는 상기 도어의 온도를 조절하는 수단이 설치될 수 있다.Further comprising a temperature control unit disposed on the outer surface of the main body to control the temperature of the inner surface of the main body, the front surface of the main body is formed with an entrance through which the substrate enters and exits, a door for opening and closing the entrance is installed, the A means for controlling the temperature of the door may be installed on the door.

상기 온도 제어부는, 상기 챔버 내에서 기화되거나 건조되는 기판 상의 물질이 상기 본체의 내측면에 응축되지 않도록, 상기 본체의 상기 내측면의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하고, 상기 도어의 온도를 조절하는 수단은, 상기 도어와 상기 출입구가 접하는 상기 본체의 부분에 상기 물질이 응축되지 않도록, 상기 도어와 상기 출입구가 접하는 상기 본체의 부분의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있다.The temperature control unit maintains the temperature of the inner surface of the main body at 50°C to 250°C so that the material on the substrate vaporized or dried in the chamber is not condensed on the inner surface of the main body, and the temperature of the door The adjusting means may maintain a temperature of a portion of the main body in contact with the door and the door at 50°C to 250°C so that the material does not condense on a portion of the main body in contact with the door and the door.

상기 물질은 휘발성 물질로서, 50℃ 내지 250℃에서 기화되는 물질일 수 있다.The material is a volatile material and may be a material vaporized at 50°C to 250°C.

상기 발열부 및 상기 본체 발열부는 상기 챔버의 일측면에서 타측면까지 연통되는 바(bar) 형상의 발열체를 포함할 수 있다.The heating part and the main body heating part may include a heating element having a bar shape that communicates from one side of the chamber to the other side.

상기 챔버의 외부 일측면에 연결되어 상기 챔버 내에 기판처리 가스를 공급하는 가스 공급부; 및 상기 챔버의 외부 타측면에 연결되어 상기 챔버 내의 기판처리 가스를 외부로 배출하는 가스 배출부를 더 포함할 수 있다.A gas supply unit connected to an outer side of the chamber to supply a substrate processing gas into the chamber; And a gas discharge unit connected to the other side of the chamber to discharge the substrate processing gas in the chamber to the outside.

상기 가스 공급부 또는 상기 가스 배출부 중 적어도 하나는 상기 물질을 배출하는 드레인 포트(drain port)를 더 구비할 수 있다.At least one of the gas supply unit and the gas discharge unit may further include a drain port for discharging the material.

상기 챔버의 적어도 하나의 측면에는 복수개의 물질 배출공이 형성될 수 있다.A plurality of material discharge holes may be formed on at least one side of the chamber.

상기와 같이 구성된 본 발명에 따르면, 본체 내벽에 가스가 응축되지 않도록 본체 내벽을 소정의 온도로 유지할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention configured as described above, there is an effect of maintaining the inner wall of the body at a predetermined temperature so that gas does not condense on the inner wall of the body.

또한, 본 발명에 따르면, 본체의 형상을 변화시킴으로써, 챔버 내벽에 응축된 물질이 흘러내려갈 수 있는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, by changing the shape of the main body, there is an effect that the material condensed on the inner wall of the chamber can flow down.

또한, 본 발명에 따르면, 온도 컨트롤러 및 본체 발열부를 동시에 사용하여, 본체 내벽을 신속하게 원하는 온도로 유지할 수 있는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, by using the temperature controller and the body heating unit at the same time, there is an effect that the inner wall of the body can be quickly maintained at a desired temperature.

또한, 본 발명에 따르면, 챔버 내벽을 오염되지 않게 유지함으로써, 제품의 신뢰성 및 수율을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, according to the present invention, by keeping the inner wall of the chamber free from contamination, there is an effect of increasing the reliability and yield of the product.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치의 전체적인 구성을 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치를 나타내는 정단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치의 본체의 형상을 나타내는 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 컨트롤러의 동작을 나타내는 개략도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 도어와 출입구의 부분 확대 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 가스 공급부 및 가스 배출부를 나타내는 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치에 배출공이 형성된 형태를 나타내는 사시도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판처리 장치의 본체의 형상을 나타내는 개략도이다.
1 is a perspective view showing the overall configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a front cross-sectional view showing a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a schematic diagram showing a shape of a main body of a substrate processing apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.
4 is a schematic diagram showing the operation of the temperature controller according to an embodiment of the present invention.
5 is a partially enlarged perspective view of a door and an entrance according to an embodiment of the present invention.
6 is a cross-sectional view illustrating a gas supply unit and a gas discharge unit according to an exemplary embodiment of the present invention.
7 is a perspective view showing a form in which discharge holes are formed in the substrate processing apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention.
8 is a schematic diagram showing a shape of a main body of a substrate processing apparatus according to another embodiment of the present invention.

후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭하며, 길이 및 면적, 두께 등과 그 형태는 편의를 위하여 과장되어 표현될 수도 있다.DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The detailed description of the present invention described below refers to the accompanying drawings, which illustrate specific embodiments in which the present invention may be practiced. These embodiments are described in detail sufficient to enable a person skilled in the art to practice the present invention. It should be understood that the various embodiments of the present invention are different from each other, but need not be mutually exclusive. For example, specific shapes, structures, and characteristics described herein may be implemented in other embodiments without departing from the spirit and scope of the present invention in relation to one embodiment. In addition, it should be understood that the location or arrangement of individual components within each disclosed embodiment may be changed without departing from the spirit and scope of the present invention. Accordingly, the detailed description to be described below is not intended to be taken in a limiting sense, and the scope of the present invention, if appropriately described, is limited only by the appended claims, along with all ranges equivalent to those claimed by the claims. In the drawings, similar reference numerals refer to the same or similar functions over various aspects, and the length, area, thickness, and the like may be exaggerated and expressed for convenience.

본 명세서에 있어서, 기판은 LED, LCD 등의 표시장치에 사용하는 기판, 반도체 기판, 태양전지 기판 등을 포함하는 의미로 이해될 수 있으며, 바람직하게는 플렉서블(Flexible) 표시장치에 사용되는 플렉서블 기판의 의미하는 것으로 이해될 수 있다.In the present specification, the substrate may be understood to include a substrate used for display devices such as LEDs and LCDs, a semiconductor substrate, a solar cell substrate, and the like, and preferably a flexible substrate used for a flexible display device. It can be understood as meaning of.

또한, 본 명세서에 있어서, 기판처리 공정이란 증착 공정, 열처리 공정 등을 포함하는 의미로 이해될 수 있으며, 바람직하게는 논플렉서블(Non-Flexible) 기판 상에 플렉서블 기판 형성, 플렉서블 기판 상에 패턴 형성, 플렉서블 기판 분리 등의 공정을 의미하는 것으로 이해될 수 있다.In addition, in the present specification, the substrate processing process may be understood to include a deposition process, a heat treatment process, etc., and preferably, a flexible substrate is formed on a non-flexible substrate, and a pattern is formed on the flexible substrate. , It may be understood to mean a process such as separation of a flexible substrate.

또한, 본 명세서에 있어서, 기판 상의 물질이란 기판의 표면과 접촉하고 있는 물질과 기판의 표면과 접촉하지는 않으나 기판의 상측에 존재하는 물질을 모두 포함하는 개념으로 이해될 수 있따.In addition, in the present specification, the material on the substrate may be understood as a concept including both a material that is in contact with the surface of the substrate and a material that does not contact the surface of the substrate but exists on the upper side of the substrate.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 인라인 열처리 장치를 상세히 설명한다.Hereinafter, an in-line heat treatment apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치의 전체적인 구성을 나타내는 사시도, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치를 나타내는 정단면도, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치의 본체의 형상을 나타내는 개략도이다.1 is a perspective view showing the overall configuration of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a front cross-sectional view showing a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a diagram illustrating an embodiment of the present invention. It is a schematic diagram showing the shape of the main body of the substrate processing apparatus according to the present invention.

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 실시예에 따른 기판처리 장치는 본체(100), 발열부(200) 및 본체 발열부(250)를 포함할 수 있다.1 to 3, the substrate processing apparatus according to the present embodiment may include a main body 100, a heating unit 200, and a main body heating unit 250.

본체(100)는 내부에 기판(미도시)이 로딩되어 처리되는 밀폐된 공간인 챔버(101)를 구성한다. 본체(100)의 재질은 석영(Quartz), 스테인리스 스틸(SUS), 알루미늄(Aluminium), 그라파이트(Graphite), 실리콘 카바이드(Silicon carbide) 또는 산화 알루미늄(Aluminium oxide) 중 적어도 어느 하나일 수 있다.The main body 100 constitutes a chamber 101, which is an enclosed space in which a substrate (not shown) is loaded and processed. The material of the body 100 may be at least one of quartz, stainless steel (SUS), aluminum, graphite, silicon carbide, or aluminum oxide.

챔버(101) 내부에는 복수개의 기판이 배치될 수 있다. 복수개의 기판은 각각 일정간격을 가지면서 배치되며, 기판 홀더(미도시)에 지지되거나, 보트(미도시)에 안착되어 챔버(101) 내부에 배치될 수 있다.A plurality of substrates may be disposed inside the chamber 101. The plurality of substrates may be disposed at regular intervals, respectively, and may be supported by a substrate holder (not shown), or may be seated on a boat (not shown) and disposed inside the chamber 101.

본체(100)의 일면[일 예로, 전면]에는 기판이 로딩/언로딩 되는 통로인 출입구(115)가 형성될 수 있다. 출입구(115)는 본체(100)의 일면[일 예로, 전면]에만 형성될 수 있고, 반대면[일 예로, 후면]에도 형성될 수 있다.An entrance 115, which is a passage through which a substrate is loaded/unloaded, may be formed on one surface (for example, the front surface) of the main body 100. The entrance 115 may be formed only on one side [for example, the front side] of the main body 100, and may also be formed on the opposite side [for example, the rear side].

도어(110)는 본체(100)의 일면[즉, 출입구(115)가 형성된 면]에 설치될 수 있다. 도어는 전후방향, 좌우방향 또는 상하방향으로 슬라이딩 가능하게 설치될 수 있다. 도어(110)는 출입구(115)를 개폐할 수 있고, 출입구(115)의 개폐 여부에 따라서 챔버(101)도 물론 개폐될 수 있다. 또한, 도어(110)에 의하여 출입구(115)가 완전하게 실링되도록 도어(110)와 본체(100)의 출입구(115)가 형성된 면 사이에는 오링(O-ring) 등의 실링부재(116)[도 5 참조]가 개재될 수 있다.The door 110 may be installed on one side of the main body 100 (ie, the side on which the entrance 115 is formed). The door may be installed to be slidable in the front-rear direction, the left-right direction or the vertical direction. The door 110 can open and close the entrance 115, and the chamber 101 can of course be opened or closed depending on whether the entrance 115 is opened or closed. In addition, a sealing member 116 such as an O-ring (O-ring) between the door 110 and the surface on which the entrance 115 of the main body 100 is formed so that the entrance 115 is completely sealed by the door 110 5] may be interposed.

한편, 본체(100)의 외측면 상에는 보강리브(120)를 결합할 수 있다. 본체(100)는 공정 중에 내부에서 강한 압력 또는 고온의 영향을 받아 파손되거나 변형이 발생할 수 있다. 따라서 보강리브(120)를 본체(100)의 외측면 상에 결합하여 본체(100)의 내구성을 향상시킬 수 있다. 필요에 따라서, 특정 외측면 또는 외측면 상의 일부에만 보강리브(120)를 결합할 수도 있다.Meanwhile, the reinforcing rib 120 may be coupled to the outer surface of the main body 100. The body 100 may be damaged or deformed under the influence of strong pressure or high temperature inside during the process. Therefore, by coupling the reinforcing ribs 120 on the outer surface of the main body 100, durability of the main body 100 may be improved. If necessary, the reinforcing ribs 120 may be combined only on a specific outer surface or a part of the outer surface.

발열부(200)는 챔버(101) 내부를 가열하여 기판처리 분위기를 조성하며 기판을 직접 가열하는 역할을 하는 주 발열부(210) 및 챔버(101) 내부의 열 손실을 방지하는 역할을 하는 보조 발열부(220)를 포함할 수 있다.The heating unit 200 heats the inside of the chamber 101 to create a substrate processing atmosphere, and a main heating unit 210 that directly heats the substrate and an auxiliary function that prevents heat loss inside the chamber 101. It may include a heating unit 220.

주 발열부(210)는 기판(미도시)의 로딩/언로딩 방향과 수직한 방향, 즉, 본체(100)의 전후 방향으로 일정한 간격을 가지면서 배치될 수 있고, 기판의 적층 방향을 따라 수직으로 일정한 간격을 가지면서 배치될 수 있다. 보조 발열부(220)는 기판(미도시)의 로딩/언로딩 방향과 평행한 방향, 즉, 본체(100)의 좌우 방향으로 챔버(101) 내벽에 기판의 적층 방향을 따라 수직으로 일정한 간격을 가지면서 배치될 수 있다.The main heating unit 210 may be disposed in a direction perpendicular to the loading/unloading direction of the substrate (not shown), that is, in the front-rear direction of the main body 100, having a predetermined distance, and is perpendicular to the stacking direction of the substrate. It can be arranged at regular intervals. The auxiliary heating unit 220 has a regular interval in a direction parallel to the loading/unloading direction of the substrate (not shown), that is, in the left and right direction of the main body 100 along the stacking direction of the substrate on the inner wall of the chamber 101. Can be placed while having.

주 발열부(210)는 복수개의 발열체(211) 및 각각의 발열체(211)의 양단에 설치된 단자(212)를 포함할 수 있고, 보조 발열체(220)도 동일하게 복수개의 발열체(221) 및 각각의 발열체(221)의 양단에 설치된 단자(222)를 포함할 수 있다. 발열체(211, 221)의 개수는 본체(100)의 크기, 기판의 크기 및 개수에 따라서 다양하게 변경될 수 있다.The main heating unit 210 may include a plurality of heating elements 211 and terminals 212 installed at both ends of each of the heating elements 211, and the auxiliary heating elements 220 may also include a plurality of heating elements 221 and each It may include terminals 222 installed at both ends of the heating element 221 of. The number of heating elements 211 and 221 may be variously changed according to the size of the body 100 and the size and number of substrates.

발열체(211, 221)는 챔버(101)의 일측면에서 타측면까지 연통되는 바(bar) 형상을 가지며, 석영관 내부에 발열 물질이 삽입된 형태일 수 있다. 일 예로, 주 발열부(210)의 발열체(211)는 챔버(101)의 좌측면에서 우측면까지 연통될 수 있고, 보조 발열부(220)의 발열체(221)는 출입구(115) 부분을 제외한 챔버(101)의 전면에서 후면까지 연통될 수 있다. 단자(212, 222)는 외부의 전원(미도시)로부터 전력을 공급받아 발열체(211, 221)에서 열을 발생시킬 수 있도록 한다.The heating elements 211 and 221 have a bar shape that communicates from one side of the chamber 101 to the other side, and may have a form in which a heating material is inserted into the quartz tube. For example, the heating element 211 of the main heating part 210 may be in communication from the left side to the right side of the chamber 101, and the heating element 221 of the auxiliary heating part 220 is a chamber excluding the entrance 115 part. It can communicate from the front of 101 to the rear. The terminals 212 and 222 receive power from an external power source (not shown) to generate heat in the heating elements 211 and 221.

따라서, 기판(10)은 상부 및 하부에 배치된 발열부(200)에 의해서 전면적이 균일하게 가열될 수 있으므로, 기판처리 공정의 신뢰성이 향상되는 이점이 있다.Accordingly, the entire surface of the substrate 10 can be uniformly heated by the heating units 200 disposed above and below, thereby improving the reliability of the substrate processing process.

종래의 기판처리 장치의 본체는 정육면체 또는 직육면체 형상을 가지는 것이 일반적이다. 본체의 전후좌우 측면은 지면에 수직하게 형성되므로, 이 측면에 물질이 응축되어 있어도 작용하는 중력에 의해 응축된 액적(droplet)[또는, 응축된 가스, 물질]이 아래로 흘러내려 갈 수 있다. 하지만, 본체의 상부면 및 하부면은 지면에 평행하게 형성되므로, 이 면에 물질이 응축되어 있으면 본체 내면을 따라 흘러내려 가지 않는다. 즉, 본체 하부면에 액적이 잔존하고 있고, 본체 하부면의 배출구를 따라서 배출될 수 없다. 이 경우, 응축된 물질이 반복되는 기판처리 공정에 있어서, 증발 및 응축을 반복하거나, 다른 화학 성분의 가스와 반응하거나, 특정 온도 환경 하에서 변질됨으로써 챔버 내벽을 더욱 오염시킬 수 있다.The main body of a conventional substrate processing apparatus generally has a shape of a cube or a rectangular parallelepiped. Since the front, rear, left and right sides of the main body are formed perpendicular to the ground, condensed droplets (or condensed gas, material) can flow down by gravity acting even if the material is condensed on this side. However, since the upper and lower surfaces of the main body are formed parallel to the ground, if the material is condensed on this surface, it does not flow down along the inner surface of the main body. That is, droplets remain on the lower surface of the main body, and cannot be discharged along the outlet of the lower surface of the main body. In this case, in a substrate treatment process in which the condensed material is repeated, evaporation and condensation are repeated, reacting with gases of other chemical components, or deterioration under a specific temperature environment, thereby further contaminating the inner wall of the chamber.

따라서, 본 발명은 본체(100)의 하부(BC)[도 2 및 도 3 참조]가 하부(BC)의 상단(BC1)에서 하부(BC)의 하단(BC2)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지는 것을 특징으로 한다. 평단면은 x-y 평면으로서, 본체(100)의 하부(BC) 상단(BC1)의 x-y 평면의 넓이가 본체(100)의 하부(BC) 하단(BC2)의 x-y 평면의 넓이보다 큰 것을 의미한다. 다시 말해, 본체(100)의 하부면이 지면에 평행하지 않고, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 하부(BC)를 구성하는 적어도 하나의 면(100b)이 수직하지 않으며, 기울어져 형성되는 것을 특징으로 한다.Therefore, in the present invention, the size of the flat cross-sectional area decreases as the lower part BC (refer to FIGS. 2 and 3) of the main body 100 goes from the upper part BC1 of the lower part BC to the lower part BC2 of the lower part BC. It is characterized in that it has a losing shape. The flat cross-section is an x-y plane, which means that the area of the x-y plane of the upper part BC1 of the lower part BC of the main body 100 is larger than the area of the x-y plane of the lower part BC and the lower part BC2 of the main body 100. In other words, the lower surface of the main body 100 is not parallel to the ground, and at least one surface 100b constituting the front, rear, left and right sides 100a of the main body 100 and the lower part BC of the main body 100 is vertical. It is not characterized in that it is formed in an inclined manner.

본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 하부(BC)를 구성하는 적어도 하나의 면(100b)이 이루는 각도(기울어진 각도; a)는 90°내지 180°일 수 있다. 다만, 90°에 너무 가까우면 실질적으로 종래의 육면체 형상의 본체(100)와 같이 응축된 액적이 하부면에 잔존할 수 있고, 180°에 가까우면 본체(100)의 높이가 불필요하게 높아지는 문제가 발생할 수 있으므로, 100° 내지 160° 정도의 각도(a)를 이루는 것이 바람직하며, 120°의 각도를 이루는 것이 더욱 바람직하다.An angle (inclined angle; a) formed between the front and rear sides 100a of the main body 100 and at least one surface 100b constituting the lower portion BC of the main body 100 may be 90° to 180°. . However, if it is too close to 90°, condensed droplets may remain on the lower surface substantially like the conventional hexahedral body 100, and if it is close to 180°, there is a problem that the height of the main body 100 is unnecessarily increased. Since it may occur, it is preferable to achieve an angle (a) of about 100° to 160°, and more preferably achieve an angle of 120°.

본체(100) 하부(BC)의 형상은 각뿔(pyramid) 형상으로 대변될 수도 있고, 본체(100)의 측면(100a)이 전후좌우 4개의 면으로 구성되는 것을 고려하면, 본체(100)의 하부(BC)의 형상은 사각뿔 형상일 수 있다.The shape of the lower part BC of the main body 100 may be represented by a pyramid shape, and considering that the side surface 100a of the main body 100 is composed of four front, rear, left and right sides, the lower part of the main body 100 The shape of (BC) may be a square pyramid shape.

또는, 각뿔이 아니면서, 상기 본체(100)의 형상 조건을 만족하기 위해서, 본체(100)의 정단면이 육각형인 형상을 가질 수도 있다. 즉, 육각 기둥을 세워놓은 형태를 가질 수 있다. 본 명세서에서는 본체(100)의 정단면이 육각형인 형상을 상정하여 설명한다. 본체(100)의 정단면이 육각형인 형상은 후술할 본체(100) 상부(TC)의 형상도 하부(BC)와 동일한 형상을 가지는 것을 포함하는 의미이다.Alternatively, in order to satisfy the shape condition of the main body 100 without being a pyramid, the front end surface of the main body 100 may have a hexagonal shape. In other words, it may have a shape in which a hexagonal column is erected. In this specification, it is assumed that the front cross-section of the main body 100 is a hexagonal shape. The shape in which the front cross-section of the main body 100 is hexagonal means that the shape of the upper part TC of the main body 100 to be described later also has the same shape as the lower part BC.

한편, 응축된 액적이 더 잘 흘러내릴 수 있도록, 본체(100) 내면의 표면 거칠기를 Ra 1.0㎛ 이하로 형성할 수 있다. 폴리싱을 통해 표면 거칠기를 제어할 수 있으며, 표면 거칠기가 Ra 1.0㎛ 이하일 때, 본체(100) 내면에서의 열반사 효과도 기대할 수 있다.On the other hand, the surface roughness of the inner surface of the main body 100 may be formed to Ra 1.0 μm or less so that the condensed droplets can flow down more easily. The surface roughness can be controlled through polishing, and when the surface roughness is Ra 1.0 μm or less, a heat reflection effect on the inner surface of the main body 100 can be expected.

본체(100)가 하부(BC)의 상단(BC1)에서 하부(BC)의 하단(BC2)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지므로, 즉, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 하부면(100b)이 수직하지 않고 기울어져 형성되어 있으므로, 본체(100)의 내면에 응축된 액적이 본체(100)의 하부(BC)로 포집될 수 있다. 본체(100)의 전후좌우 내측면에 응축된 액적은 중력에 의해 아래로 흘러내리며, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 하부면(100b)과의 경계에서는 연속적으로 중력에 의해 기울어져 형성된 하부면(100b)을 따라 흘러내릴 수 있게 된다. 그리하여, 본체(100)의 하단으로 액적이 포집될 수 있다. 포집된 액적은 본체(100) 하단에 형성된 배출 수단(130), 펌핑 수단(미도시)을 통해 외부로 배출되어 재사용되거나 폐기될 수 있다.Since the main body 100 has a shape in which the size of the flat sectional area decreases from the upper end BC1 of the lower part BC to the lower end BC2 of the lower part BC, that is, the front and rear sides 100a of the main body 100 ) And the lower surface 100b of the main body 100 are formed to be inclined rather than vertical, the droplets condensed on the inner surface of the main body 100 may be collected in the lower part BC of the main body 100. The condensed droplets on the front, rear, left and right inner surfaces of the main body 100 flow down by gravity, and at the boundary between the front and rear, left and right sides 100a and the lower surface 100b of the main body 100, they are continuously inclined by gravity. It can flow down along the formed lower surface (100b). Thus, droplets may be collected to the lower end of the main body 100. The collected droplets may be discharged to the outside through a discharge means 130 formed at the lower end of the main body 100 and a pumping means (not shown) to be reused or discarded.

한편, 본체(100)의 상부(TC)가 상부(TC) 하단(TC2)에서 상부(TC) 상단(TC1)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가질 수 있다. 다시 말해, 본체(100)의 상부면이 지면에 평행하지 않고, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 상부(TC)를 구성하는 적어도 하나의 면(100c)이 수직하지 않으며, 기울어져 형성될 수 있다.Meanwhile, the top (TC) of the main body 100 may have a shape in which the size of the flat cross-sectional area decreases from the top (TC) bottom (TC2) to the top (TC) top (TC1). In other words, the upper surface of the main body 100 is not parallel to the ground, and at least one surface 100c constituting the front, rear, left and right sides 100a of the main body 100 and the upper part TC of the main body 100 is vertical. Does not, and may be formed in an inclined manner.

본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 상부(TC)를 구성하는 적어도 하나의 면(100c)이 이루는 각도(기울어진 각도; b)는 90°내지 180°일 수 있다. 다만, 90°에 너무 가까우면 실질적으로 종래의 육면체 형상의 본체(100)와 같이 응축된 액적이 상부면에 잔존할 수 있고, 180°에 가까우면 본체(100)의 높이가 불필요하게 높아지는 문제가 발생할 수 있다. 특히, 90°에 가까워 응축된 액적이 본체(100)의 상부면에 잔존하다가 기판처리 공정 중 낙하하여 기판 상에 떨어지면 기판이 오염될 수 있다. 따라서, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 상부면을 구성하는 적어도 하나의 면(100c)이 이루는 각도(b)는 100° 내지 160° 정도의 각도를 이루는 것이 바람직하며, 120°의 각도를 이루는 것이 더욱 바람직하다.An angle (inclined angle; b) formed between the front and rear sides 100a of the main body 100 and at least one surface 100c constituting the upper portion TC of the main body 100 may be 90° to 180°. . However, if it is too close to 90°, condensed droplets may remain on the upper surface substantially like the conventional hexahedral body 100, and if it is close to 180°, the height of the main body 100 is unnecessarily increased. Can occur. Particularly, if the condensed droplets close to 90° remain on the upper surface of the main body 100 and fall during the substrate processing process and fall on the substrate, the substrate may be contaminated. Therefore, the angle (b) formed by the front and rear, left and right sides (100a) of the body (100) and at least one surface (100c) constituting the upper surface of the body (100) is preferably an angle of about 100 ° to 160 °. And, it is more preferable to achieve an angle of 120°.

본체(100) 상부(TC)의 형상은 각뿔(pyramid) 형상으로 대변될 수 있고, 본체(100)의 측면(100a)이 전후좌우 4개의 면으로 구성되는 것을 고려하면, 본체(100)의 상부(TC)의 형상은 사각뿔 형상일 수 있다.The shape of the upper part TC of the main body 100 may be represented by a pyramid shape, and considering that the side surface 100a of the main body 100 is composed of four front, rear, left and right sides, the upper part of the main body 100 The shape of (TC) may be a square pyramid shape.

본체(100)의 상부(TC)의 하단(TC2)에서 상부(TC)의 상단(TC1)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지므로, 즉, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 상부면(100c)이 수직하지 않고 기울어져 형성되어 있으므로, 본체(100)의 상부(TC)을 구성하는 적어도 하나의 면(100c)의 내측에 응축된 액적이 본체(100)의 내측을 따라 흘러내릴 수 있다. 즉, 본체(100)의 상부(TC)을 구성하는 적어도 하나의 면(100c)의 내측에 응축된 액적이 기판 상으로 곧바로 낙하하지 않고, 내측을 따라 흘러내리며, 본체(100)의 전후좌우 내측면(100a)을 통과하여, 본체(100)의 하단까지 흘러내려 포집될 수 있다. 포집된 액적은 본체(100) 하단에 형성된 배출 수단(130), 펌핑 수단(미도시)을 통해 외부로 배출되어 재사용되거나 폐기될 수 있다.Since the size of the flat cross-sectional area decreases from the lower portion TC2 of the upper portion TC of the main body 100 to the upper portion TC1 of the upper portion TC, that is, the front, rear, left and right sides 100a of the main body 100 ) And the upper surface 100c of the main body 100 are formed inclined rather than vertically, the droplet condensed on the inside of at least one surface 100c constituting the upper part TC of the main body 100 is the main body ( It can flow down along the inside of 100). That is, droplets condensed on the inner side of at least one surface 100c constituting the upper portion TC of the main body 100 do not fall directly onto the substrate, but flow down along the inner side, and inside the front and rear, left and right sides of the main body 100 Passing through the side surface (100a), flows down to the lower end of the main body 100 may be collected. The collected droplets may be discharged to the outside through a discharge means 130 formed at the lower end of the main body 100 and a pumping means (not shown) to be reused or discarded.

한편, 본 발명의 기판처리 장치는, 본체(100)의 면과 면이 접하는 모서리 부분에 본체 히터(250: 250a, 250c, 250d)가 배치되는 것을 특징으로 한다. 보다 구체적으로, 본체(100)의 내측면(100a)과 본체(100)의 상부면(100c)이 접하는 경계의 모서리 부분, 또는 본체(100)의 내측면(100a)과 본체(100)의 하부면(100b)이 접하는 경계의 모서리 부분 중 적어도 어느 하나에 본체 히터(250c, 250d)가 배치되는 것을 특징으로 한다.On the other hand, the substrate processing apparatus of the present invention is characterized in that the main body heaters 250 (250a, 250c, 250d) are disposed at a corner portion where the surface of the main body 100 and the surface are in contact with each other. More specifically, the edge portion of the boundary between the inner surface 100a of the main body 100 and the upper surface 100c of the main body 100, or the inner surface 100a of the main body 100 and the lower part of the main body 100 It is characterized in that the main body heaters 250c and 250d are disposed on at least one of the edge portions of the boundary where the surface 100b is in contact with each other.

또한, 본체(100)의 정단면의 형상이 육각 형상인 경우, 본체(100)의 최상단 모서리[상부(TC)의 상단(TC1) 모서리] 또는 최하단 모서리[하부(BC)의 하단(BC2) 모서리]에 본체 발열부(250a, 250b)가 배치될 수 있다.In addition, when the shape of the front end surface of the body 100 is a hexagonal shape, the uppermost edge of the body 100 (the upper end (TC1) edge of the upper part (TC)) or the lowermost edge (the lower end (BC2) edge of the lower part (BC)) The main body heating parts 250a and 250b may be disposed in ].

본체 히터(250)는 챔버(101) 내부를 가열하기보다는 본체(100)의 내측면(100a, 100b, 100c)을 가열하여 본체(100)의 내벽의 온도를 조절하는 역할을 할 수 있다. 본체(100)의 내벽의 온도를 조절함에 따라, 후술할 휘발성 물질이 본체(100)의 내벽에 응축되지 않고 기체 상태로 존재하도록 할 수 있다. 바람직하게는, 본체 히터(250)는 본체(100)의 내벽 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있다.The body heater 250 may serve to regulate the temperature of the inner wall of the body 100 by heating the inner surfaces 100a, 100b, and 100c of the body 100 rather than heating the inside of the chamber 101. By adjusting the temperature of the inner wall of the main body 100, a volatile substance to be described later may not be condensed on the inner wall of the main body 100 and may exist in a gaseous state. Preferably, the main body heater 250 may maintain the temperature of the inner wall of the main body 100 at 50°C to 250°C.

특히, 본체(100)의 하부(BC)의 상단(BC1)에서 하부(BC)의 하단(BC2)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상, 본체(100)의 상부(TC)의 하단(TC2)에서 상부(TC)의 상단(TC1)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상, 본체(100)의 정단면의 형상이 육각 형상인 경우, 모서리 부분에 열이 불균일하게 전해져 휘발성 물질이 많이 응축될 수 있다. 그러므로, 본체 히터(250)는 본체(100)의 모서리 부분, 또는 굴곡진 부분에 집중적으로 배치하는 것이 바람직하다.In particular, the size of the flat sectional area decreases from the top (BC1) of the lower part (BC) of the main body (BC) to the lower part (BC2) of the lower part (BC), and the lower part (TC2) of the upper part (TC) of the main body 100 ) To the top (TC1) of the top (TC), the size of the flat cross-sectional area decreases, and when the shape of the front cross-section of the main body 100 is a hexagonal shape, heat is unevenly transmitted to the corners and a lot of volatile substances are condensed. Can be. Therefore, it is preferable that the main body heater 250 is intensively disposed at a corner portion or a curved portion of the main body 100.

이 외에, 본체(100) 내측면 중에서 넓은 면적을 가져 휘발성 물질이 내벽에 응축될 가능성이 높은 상측면(100c), 하측면(100b) 부분에 본체 히터(250)를 추가로 배치할 수도 있다. 또한, 각 모서리 당 하나의 본체 발열부(250)를 배치할 수 있고, 복수의 본체 발열부(250)를 집중적으로 배치할 수도 있다.In addition, the main body heater 250 may be additionally disposed on the upper side 100c and the lower side 100b, which have a large area among the inner side of the main body 100 and are likely to condense volatile substances on the inner wall. In addition, one main body heating unit 250 may be disposed for each corner, and a plurality of main body heating units 250 may be intensively disposed.

본체 히터(250)는 히터(200)와 동일하게, 본체(100)의 일측면에서 타측면까지 연통되는 바(bar) 형상을 가지고, 석영관 내부에 발열 물질이 삽입된 형태일 수 있으며, 발열체(251) 및 단자(252)를 포함할 수 있다. 일 예로, 본 명세서에서는 본체 히터(250)가 기판(10)의 로딩/언로딩 방향과 수직한 방향[메인 히터(210)와 동일한 방향]으로 배치되는 것으로 도시하였으나, 반드시 이에 제한되는 것은 아니며, 모서리 부분에 배치되는 범위 내에서는 자유롭게 배치가 가능하다.The body heater 250, like the heater 200, has a bar shape that communicates from one side of the body 100 to the other side, and may have a form in which a heating material is inserted into the quartz tube. 251 and a terminal 252 may be included. For example, in the present specification, the main heater 250 is shown to be disposed in a direction perpendicular to the loading/unloading direction of the substrate 10 (the same direction as the main heater 210), but is not limited thereto. It can be freely arranged within the range of being arranged at the corners.

도 1 및 도 2를 다시 참조하면, 기판처리 장치는 가스 공급부(300) 및 가스 배출부(400)를 더 포함할 수 있다.Referring back to FIGS. 1 and 2, the substrate processing apparatus may further include a gas supply unit 300 and a gas discharge unit 400.

가스 공급부(300)는 챔버(101)[또는 본체(100)]의 외부 일측면[일 예로, 좌측면]에 연결되고, 가스 배출부(400)는 챔버(101)[또는 본체(100)]의 외부 타측면[일 예로, 우측면]에 연결될 수 있다.The gas supply unit 300 is connected to the outer one side [for example, the left side] of the chamber 101 (or the main body 100), and the gas discharge unit 400 is the chamber 101 (or the main body 100) It may be connected to the other side of the [for example, the right side].

가스 공급부(300)는 챔버(101)의 내부로 기판처리 가스를 공급하는 통로를 제공할 수 있다. 가스 공급부(300)는 가스 저장부(미도시)와 연결되어 기판처리 가스를 공급받는 가스 공급관(320) 및 가스 공급관(320)에 수직으로 일정한 간격을 가지도록 복수개 형성된 가스 토출관(310)을 포함할 수 있다. 가스 토출관(310)은 본체(100)를 관통하여 챔버(101) 내부로 연결될 수 있으며, 가스 토출관(310)의 단부에 형성된 가스 토출공(311)을 통해 기판처리 가스가 챔버(101) 내부로 공급될 수 있다.The gas supply unit 300 may provide a passage for supplying a substrate processing gas into the chamber 101. The gas supply unit 300 includes a gas supply pipe 320 connected to a gas storage unit (not shown) to receive a substrate processing gas and a plurality of gas discharge pipes 310 formed to have a regular interval perpendicular to the gas supply pipe 320. Can include. The gas discharge pipe 310 may pass through the main body 100 and be connected to the inside of the chamber 101, and the substrate processing gas is supplied to the chamber 101 through a gas discharge hole 311 formed at the end of the gas discharge pipe 310. Can be supplied internally.

가스 배출부(400)는 챔버(101) 내부의 기판처리 가스를 외부로 배출하는 통로를 제공할 수 있다. 가스 배출부(400)는 외부의 가스 배출시설(미도시)과 연결되어 기판처리 가스를 배출하는 가스 배출관(420) 및 가스 배출관(420)에 수직으로 일정한 간격을 가지도록 복수개 형성된 가스 배출관(410)을 포함할 수 있다. 가스 배출관(410)은 본체(100)를 관통하여 챔버(101) 내부로 연결될 수 있으며, 가스 배출관(410)의 단부에 형성된 가스 배출공(411)을 통해 가스가 챔버(101) 내부에서 외부로 배출될 수 있다.The gas discharge unit 400 may provide a passage for discharging the substrate processing gas inside the chamber 101 to the outside. The gas discharge unit 400 is connected to an external gas discharge facility (not shown) to discharge a substrate processing gas, and a plurality of gas discharge pipes 410 formed to have a regular interval perpendicular to the gas discharge pipe 420 ) Can be included. The gas discharge pipe 410 may pass through the main body 100 and be connected to the inside of the chamber 101, and gas is transferred from the inside of the chamber 101 to the outside through the gas discharge hole 411 formed at the end of the gas discharge pipe 410. Can be discharged.

가스 토출공(311)[또는 가스 토출관(310)] 및 가스 배출공(411)[또는 가스 배출관(410)]은, 복수개의 기판(10)이 챔버(101)에 수용되었을 때, 기판처리 가스를 기판으로 균일하게 공급하고, 기판처리 가스를 용이하게 흡입하여 외부로 배출할 수 있도록, 챔버(101) 내에 배치된 기판과 상부 또는 하부에 인접하는 기판 사이의 간격에 각각 위치되는 것이 바람직하다.The gas discharge hole 311 (or gas discharge pipe 310) and the gas discharge hole 411 (or gas discharge pipe 410), when a plurality of substrates 10 are accommodated in the chamber 101, substrate processing In order to uniformly supply the gas to the substrate and to easily suck in the substrate processing gas and discharge it to the outside, it is preferable to be positioned at a distance between the substrate disposed in the chamber 101 and the substrate adjacent to the upper or lower portion. .

본 발명의 일 실시예에 따라, 기판처리 장치가 플렉서블 표시장치에 사용되는 플렉서블 기판을 처리하는 것을 설명하면 아래와 같다.In accordance with an embodiment of the present invention, a description will be given of a substrate processing apparatus processing a flexible substrate used in a flexible display device as follows.

일반적으로 플렉서블 기판의 제조과정은, 논플렉서블 기판 상에 플렉서블 기판을 형성하는 공정, 플렉서블 기판에 패턴을 형성하는 공정 및 논플렉서블 기판에서 플렉서블 기판을 분리하는 공정으로 나누어 질 수 있다.In general, the manufacturing process of the flexible substrate may be divided into a process of forming a flexible substrate on a non-flexible substrate, a process of forming a pattern on the flexible substrate, and a process of separating the flexible substrate from the non-flexible substrate.

플렉서블 기판은 유리, 플라스틱 등의 논플렉서블 기판 상에 폴리이미드(Polyimide) 등으로 구성되는 막을 형성하고 열처리를 하여 경화시킨 후, 논플렉서블 기판과 플렉서블 기판을 점착하는 물질에 솔벤트를 주입하여 점착력을 약화시키거나 점착 물질을 분해하여 플렉서블 기판을 논플렉서블 기판으로부터 분리하여 완성할 수 있다.For the flexible substrate, a film made of polyimide, such as glass or plastic, is formed on a non-flexible substrate such as glass, plastic, etc., and cured by heat treatment, and then a solvent is injected into the material that adheres the non-flexible substrate and the flexible substrate to weaken adhesion It can be completed by separating the flexible substrate from the non-flexible substrate by decomposing or decomposing the adhesive material.

이때, 주입하는 솔벤트 성분 또는 플렉서블 기판의 형성과정 중에 플렉서블 기판에 포함되어 있던 솔벤트 성분이 휘발되어 가스 배출부(400)를 통해 챔버(101) 외부로 배출될 수 있으나, 챔버(101) 외부와 챔버(101) 내부의 온도 및 압력 차이 때문에 챔버(101) 내벽의 소정의 부분은 위 물질이 휘발되지 못하고 응축될 정도로 챔버(101) 내벽의 온도가 낮게 형성되어 있을 수 있다. 결국, 챔버(101) 내벽에 응축된 솔벤트 성분은 챔버(101)를 오염시키거나, 후속 공정에서 기판(10)을 오염시키는 문제점이 발생할 수 있다. 일 예로, 기판(10)의 적어도 일부 표면에 존재하던 물질은 솔벤트와 같은 휘발성 물질로서, 50℃ 내지 250℃에서 기화되는 물질일 수 있다. 이러한 물질은 바람직하게는 NMP(n-methyl-2-pyrrolidone)일 수 있고, IPA, 아세톤(Acetone), PGMEA(Propylene Glycol Monomethyl Ether Acetate) 등의 휘발성 물질일 수도 있다.At this time, the solvent component to be injected or the solvent component included in the flexible substrate during the formation process of the flexible substrate may be volatilized and discharged to the outside of the chamber 101 through the gas discharge unit 400, but the outside of the chamber 101 and the chamber (101) Due to the difference in temperature and pressure inside the chamber 101, a predetermined portion of the inner wall of the chamber 101 may have a low temperature of the inner wall of the chamber 101 such that the above material cannot be volatilized and condensed. As a result, the solvent component condensed on the inner wall of the chamber 101 may contaminate the chamber 101 or contaminate the substrate 10 in a subsequent process. For example, a material existing on at least a portion of the surface of the substrate 10 is a volatile material such as a solvent, and may be a material vaporized at 50°C to 250°C. Such a material may preferably be n-methyl-2-pyrrolidone (NMP), and may be a volatile material such as IPA, acetone, or PGMEA (Propylene Glycol Monomethyl Ether Acetate).

따라서, 본 발명의 기판처리 장치는 솔벤트를 포함한 챔버(101) 내의 가스가 챔버(101) 내벽에 응축된 경우, 응축된 액적이 챔버(101) 내벽[또는, 본체(100) 내벽]에 잔존하지 않고 흘러내리도록 하여 본체(100)의 하단에서 포집될 수 있도록, 본체(100)의 형상에 기울어진 각도(a, b)를 적용한 것을 특징으로 한다.Accordingly, in the substrate processing apparatus of the present invention, when the gas in the chamber 101 containing solvent is condensed on the inner wall of the chamber 101, the condensed droplets do not remain on the inner wall of the chamber 101 (or the inner wall of the main body 100). It is characterized in that inclined angles (a, b) are applied to the shape of the main body 100 so that it can be collected from the lower end of the main body 100 by allowing it to flow down without flowing down.

본 발명은 본체(100)의 형상을 변경한 간단한 구성을 통해 응축된 물질이 외부로 흘러 내보낼 수 있고, 이로 인해 챔버 내벽을 오염되지 않게 유지함으로써, 제품의 신뢰성 및 수율을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.In the present invention, the condensed material can flow to the outside through a simple configuration in which the shape of the main body 100 is changed, and thus, by keeping the inner wall of the chamber free from contamination, there is an effect of increasing the reliability and yield of the product. have.

이에 더하여, 응축된 액적이 챔버(101)의 내벽에 보다 잔존시키지 않고 기체 상태로도 외부에 배출되도록, 본체(100) 내벽 온도를 가스가 응축되지 않을 정도로 유지하는 것을 특징으로 한다. 본체 히터부(250)를 응축된 액적이 보다 많이 집중되어 있는 본체(100)의 모서리 부분에 배치함에 따라서, 응축된 액적을 기체 상태로 휘발시키고, 이로 인해 챔버 내벽을 오염되지 않게 유지함으로써, 제품의 신뢰성 및 수율을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, it is characterized in that the temperature of the inner wall of the main body 100 is maintained so that the gas is not condensed so that the condensed droplets do not remain on the inner wall of the chamber 101 and are discharged to the outside even in a gaseous state. As the main body heater part 250 is disposed at the edge of the main body 100 in which the condensed droplets are more concentrated, the condensed droplets are volatilized in a gaseous state, and thus the inner wall of the chamber is not contaminated, There is an effect that can increase the reliability and yield of.

한편, 본 발명의 기판처리 장치는 필요에 따라, 기판처리 공정 완료 후 또는 기판처리 공정 중에 본체(100) 벽 또는 챔버(101) 내부의 온도를 제어하기 위한 온도 제어부(500)를 본체(100)의 외측면에 설치하고, 동작시킬 수도 있다.On the other hand, the substrate processing apparatus of the present invention includes a temperature controller 500 for controlling the temperature inside the wall of the main body 100 or the chamber 101 after the completion of the substrate processing process or during the substrate processing process, if necessary. It can also be installed and operated on the outer side of the.

온도 제어부(500)는 본체벽의 외측면에 인접하거나, 소정의 거리만큼 이격되어 배치될 수 있으며, 내부에 열매(熱媒) 또는 냉매(冷媒)가 흐를 수 있는 파이프 등을 지그재그로 휘어지게 배치하는 것이 바람직하다. 온도 제어부(500)는 기판처리 공정 중에 기판(10) 상에서 휘발되는 물질, 챔버(101)에 공급되고 배출되는 물질 등이 본체(100)의 내벽에 응축되지 않도록 본체(100)의 내벽 온도를 소정의 온도로 유지하는 역할을 할 수 있다. 바람직하게는, 본체(100)의 내벽 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있다.The temperature control unit 500 may be disposed adjacent to the outer surface of the main body wall or spaced apart by a predetermined distance, and a pipe through which a heat medium or refrigerant may flow is arranged to be bent in a zigzag manner. It is desirable to do it. The temperature control unit 500 determines the temperature of the inner wall of the main body 100 so that the material volatilized on the substrate 10 and the material supplied to and discharged from the chamber 101 are not condensed on the inner wall of the main body 100 during the substrate processing process. It can play a role of maintaining the temperature of. Preferably, the temperature of the inner wall of the main body 100 may be maintained at 50°C to 250°C.

온도 제어부(500)는 본체(100) 모든 외측면 상에 배치될 수 있으나, 본체(100)의 내벽 온도를 소정의 온도로 유지하는 본 발명의 목적에 달성되는 범위 내에서, 본체(100)의 일부 외측면에는 온도 제어부(500)의 배치가 생략될 수도 있다.The temperature control unit 500 may be disposed on all outer surfaces of the main body 100, but within the range achieved for the purpose of the present invention to maintain the inner wall temperature of the main body 100 at a predetermined temperature, Arrangement of the temperature control unit 500 may be omitted on some outer surfaces.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 제어부(500)의 동작을 나타내는 개략도이다.4 is a schematic diagram showing the operation of the temperature control unit 500 according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 온도 제어부(500), 본체벽 가열 모듈(600) 및 본체벽 냉각 모듈(700) 중간에는 3 웨이 밸브(3 way valve; 3WV)가 설치될 수 있다. 본체벽 가열 모듈(600)은 냉각수(Process Cooling Water, PCW)의 온도를 순간적으로 올릴 수 있는 열 교환기를 포함하여, 냉각수를 가열하여 공급하는 장치로 이해될 수 있고, 본체벽 냉각 모듈(700)은 냉각수를 공급하는 장치로 이해될 수 있다.Referring to FIG. 4, a 3-way valve (3WV) may be installed between the temperature controller 500, the body wall heating module 600, and the body wall cooling module 700. The body wall heating module 600 may be understood as a device for heating and supplying cooling water, including a heat exchanger capable of instantaneously raising the temperature of the cooling water (Process Cooling Water, PCW), and the body wall cooling module 700 Can be understood as a device that supplies cooling water.

일 예로, 기판처리 공정시에는 챔버(101)[또는 본체(100)] 내부의 기판 프로세싱 온도가 80℃에서 150℃, 150℃에서 250℃, 250℃에서 350℃ 등으로 단계적으로 상승할 수 있다. 기판 프로세싱 초기에는 챔버(101) 내부의 기판 프로세싱 온도가 80℃ 정도이기 때문에 본체(10) 내벽의 온도는 상대적으로 더 낮은 60 ~ 80℃ 미만일 수 있고, 증발대역을 80 ~ 150℃정도로 갖는 휘발성 물질 중 하나인 NMP는 본체(100) 내벽에 응축될 가능성이 높다. 따라서, 기판 프로세싱 초기에는 3 웨이 밸브(3WV)를 제어하여 본체벽 가열 모듈(600)로부터 온도 제어부(500)에 냉각수를 가열하여 공급함으로써(P1), 본체벽의 온도를 NMP의 최소 증발대역인 80℃ 이상으로 유지할 수 있다.For example, during the substrate processing process, the substrate processing temperature inside the chamber 101 (or the main body 100) may be increased stepwise from 80°C to 150°C, 150°C to 250°C, 250°C to 350°C, etc. . In the initial stage of substrate processing, since the substrate processing temperature inside the chamber 101 is about 80° C., the temperature of the inner wall of the main body 10 may be lower than 60 to 80° C., and a volatile material having an evaporation band of about 80 to 150° C. One of the NMPs is likely to be condensed on the inner wall of the main body 100. Therefore, in the initial stage of substrate processing, by controlling the 3-way valve (3WV) to heat and supply cooling water from the body wall heating module 600 to the temperature control unit 500 (P1), the temperature of the body wall is reduced to the minimum evaporation band of NMP. It can be maintained above 80℃.

본체 발열부(250)는 온도 제어부(500)를 사용하는 것보다 본체벽의 온도를 빠르게 제어할 수 있으므로, 본체(100) 내벽에 휘발성 물질이 응축되는 것을 보다 효과적으로 방지할 수 있다. 즉, 본체 발열부(250)를 제어하여 본체벽의 온도를 NMP의 최소 증발대역인 80℃ 이상으로 빠르게 유지할 수 있다. 물론, 본체 발열부(250) 및 온도 컨트롤러(500)를 조합하여 사용하는 것도 가능하다.Since the body heating unit 250 can control the temperature of the body wall faster than using the temperature control unit 500, condensation of volatile substances on the inner wall of the body 100 can be more effectively prevented. That is, by controlling the body heating unit 250, the temperature of the body wall can be quickly maintained above 80° C., which is the minimum evaporation band of NMP. Of course, it is also possible to use a combination of the body heating unit 250 and the temperature controller 500.

챔버(101) 내부의 기판 프로세싱 온도가 300℃ 이하인 경우에는 본체벽 가열 모듈(600)을 작동시키고, 챔버(101) 내부의 기판처리 온도가 300℃를 초과하게 되면, 3웨이 밸브(3WV)를 제어하여 본체벽 냉각 모듈(700)로부터 온도 제어부(500)에 냉각수를 공급함으로써(P2), 본체벽의 온도를 NMP의 최소 증발대역인 80℃ 이상으로 유지할 수 있다. 물론, 챔버(101) 내부의 기판처리 온도가 300℃를 초과하게 되면 굳이 온도 제어부(500)에 냉각수를 공급하지 않더라도 본체벽의 온도가 80℃이상이 될 수 있으나, 본체벽의 온도가 너무 상승하여 휘발성 물질의 증발대역인 80 ~ 250℃를 넘어서게 되면 본체벽의 뒤틀림, 파손 문제가 발생할 수 있으므로, 본체벽 냉각 모듈(700)을 통해 온도 제어부(500)에 적절하게 냉각수를 공급하는 것이 필요하다. 다시 말해, 챔버(101) 내부의 기판처리 온도가 300℃ 이하이면 본체벽 가열 모듈(600)을 작동시키고, 챔버(101) 내부의 기판처리 온도가 300℃를 초과하면 본체벽 쿨링 모듈(700)을 작동시켜, 본체(100)의 내벽의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있는 것이다.When the substrate processing temperature inside the chamber 101 is 300°C or less, the main body wall heating module 600 is operated, and when the substrate processing temperature inside the chamber 101 exceeds 300°C, the 3-way valve 3WV is turned on. By controlling and supplying cooling water from the body wall cooling module 700 to the temperature controller 500 (P2), the temperature of the body wall can be maintained above 80°C, which is the minimum evaporation band of NMP. Of course, when the substrate processing temperature inside the chamber 101 exceeds 300°C, the temperature of the body wall may be 80°C or higher even if cooling water is not supplied to the temperature control unit 500, but the temperature of the body wall rises too much. Therefore, when the evaporation band of volatile substances exceeds 80 to 250°C, distortion and damage of the body wall may occur. Therefore, it is necessary to appropriately supply cooling water to the temperature control unit 500 through the body wall cooling module 700. . In other words, when the substrate processing temperature inside the chamber 101 is 300°C or less, the body wall heating module 600 is operated, and when the substrate processing temperature inside the chamber 101 exceeds 300°C, the body wall cooling module 700 By operating, the temperature of the inner wall of the main body 100 can be maintained at 50°C to 250°C.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 도어(110)와 출입구(115)의 부분 확대 사시도이다.5 is a partially enlarged perspective view of the door 110 and the entrance 115 according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 도어(110)에는 도어(110)의 온도를 조절하는 수단이 설치될 수 있다. 이하에서는 와이어 히터, 플레이트 히터인 도어 발열부(230)를 도어(110)의 온도 조절 수단으로 상정하여 설명하나, 이에 제한되는 것은 아니며, 도어(110)의 온도를 조절하는 공지의 기술을 적용 가능함을 밝혀둔다.Referring to FIG. 5, a means for adjusting the temperature of the door 110 may be installed in the door 110. Hereinafter, the door heating unit 230, which is a wire heater and a plate heater, is assumed to be a temperature control means of the door 110, but is not limited thereto, and a known technique for controlling the temperature of the door 110 may be applied. Reveal.

도어(110)는 출입구(115)가 실링될 수 있도록 실링부재(116)를 개재하며, 본체(100)의 일면[즉, 출입구(115)가 형성된 면]에 설치될 수 있다. 도면(110)과 출입구(115)가 접하는 본체(100)의 부분(IC), 즉, 계면 부분(IC)은 챔버(101) 외부와 챔버(101) 내부의 온도차에 의해 보다 많은 양의 가스, 물질 등이 응축될 수 있다. 물론, 본체(100)의 내측면을 따라 응축된 액적을 흘러내리게 할 수 있으나, 많은 양으로 인해, 계면 부분(IC)에서 액적이 잔존할 가능성이 높다.The door 110 interposes a sealing member 116 so that the entrance 115 can be sealed, and may be installed on one surface of the main body 100 (ie, the surface on which the entrance 115 is formed). The part (IC) of the main body 100, that is, the interface part (IC) in contact with the drawing 110 and the entrance 115 is a greater amount of gas due to the temperature difference between the outside of the chamber 101 and the inside of the chamber 101, Substances and the like may be condensed. Of course, condensed droplets can flow down along the inner surface of the main body 100, but due to a large amount, there is a high possibility that droplets remain in the interface portion IC.

따라서, 도어(110)에 도어(110)의 온도를 조절하는 수단, 즉, 도어 발열체(230)을 설치함으로써, 도어(110)와 출입구(115)가 접하는 본체(100)의 부분(IC)의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하도록 열을 발생시킬 수 있다. 50℃ 내지 250℃ 온도가 유지되므로, 챔버(101) 내벽에 가스, 물질이 응축되지 않고 기화될 수 있다. 그리하여, 액적이 잔존할 가능성이 높은 도어(110)와 출입구(115)가 접하는 본체(100)의 부분(IC)에서의 오염을 방지할 수 있는 효과가 있다.Therefore, by installing a means for adjusting the temperature of the door 110, that is, the door heating element 230 on the door 110, the portion (IC) of the main body 100 in contact with the door 110 and the entrance 115 Heat can be generated to maintain the temperature between 50°C and 250°C. Since the temperature of 50°C to 250°C is maintained, gases and substances may be vaporized without condensing on the inner wall of the chamber 101. Thus, there is an effect of preventing contamination in the portion IC of the main body 100 where the door 110 and the entrance 115, which have a high possibility of remaining droplets, are in contact.

한편, 본 발명의 기판처리 장치는 응축된 가스를 배출하기 위한 수단을 더 구비할 수 있다. 이하에서는 도 6 및 도 7을 참조하여 설명한다.Meanwhile, the substrate treatment apparatus of the present invention may further include a means for discharging the condensed gas. Hereinafter, it will be described with reference to FIGS. 6 and 7.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 가스 공급부(300) 및 가스 배출부(400)를 나타내는 단면도이다. 도 6의 (a)는 가스 공급부(300), 도 6의 (b)는 가스 배출부(400)를 나타낸다.6 is a cross-sectional view illustrating a gas supply unit 300 and a gas discharge unit 400 according to an embodiment of the present invention. 6(a) shows the gas supply unit 300, and FIG. 6(b) shows the gas discharge unit 400.

챔버(101)의 외부 일측면[일 예로, 좌측면] 및 외부 타측면[일 예로, 우측면]에 연결된 가스 공급부(300)와 가스 배출부(400)는 외부의 낮은 온도의 영향을 받아 가스가 쉽게 응축될 수 있다. 응축된 가스는 가스 공급부(300)의 관에 응축되어 있다가 기판처리 공정시에 기판처리 가스의 공급과 더불어 챔버(101) 내부로 토출되면서 기판의 오염을 발생할 수 있는 문제점이 있다.The gas supply unit 300 and the gas discharge unit 400 connected to the outer one side [for example, the left side] and the other outer side [for example, the right side] of the chamber 101 are affected by the external low temperature, so that the gas is Can be easily condensed. The condensed gas is condensed in the tube of the gas supply unit 300 and is discharged into the chamber 101 along with the supply of the substrate processing gas during the substrate processing process, thereby causing contamination of the substrate.

따라서, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이, 가스 공급부(300)는 응축된 가스[또는, 응축된 휘발성 물질]을 배출할 수 있는 드레인 포트(drain port; 330)를 더 구비할 수 있다. 드레인 포트(330)는 단순히 응축된 액적을 흘러 내보내는 통로일 수도 있고, 펌프(미도시) 등과 연결되어 공기를 흡입할 수 있는 석션(suction) 기능을 갖출 수도 있다. 가스 공급관(320)을 통해서 가스를 공급(g)하고, 가스 공급부(300) 내부에서 응축된 가스 등은 드레인 포트(330)를 통해 배출(d)할 수 있다.Accordingly, as shown in (a) of FIG. 6, the gas supply unit 300 may further include a drain port 330 capable of discharging the condensed gas (or condensed volatile material). . The drain port 330 may simply be a passage through which condensed droplets flow out, or may be connected to a pump (not shown) and may have a suction function capable of inhaling air. Gas may be supplied (g) through the gas supply pipe 320, and gas condensed in the gas supply unit 300 may be discharged (d) through the drain port 330.

가스 배출부(400) 역시 가스 공급부(300)와 동일하게 가스 배출관(420)에 드레인 포트(미도시)가 연결된 구성을 가질 수 있다.The gas discharge unit 400 may also have a configuration in which a drain port (not shown) is connected to the gas discharge pipe 420 in the same manner as the gas supply unit 300.

한편, 도 6의 (b)에 도시된 바와 같이, 가스 배출부(400)는 챔버(101) 내부의 가스를 외부로 배출(g)하는 역할을 하므로, 따로 드레인 포트(미도시)를 구비할 필요없이, 가스 배출관(420)의 단부(430)가 드레인 포트의 역할을 겸할 수 있도록, 챔버(101) 내부의 가스를 외부로 배출(g)함과 동시에 가스 배출부(400) 내부에서 응축된 가스 등을 외부로 같이 배출(d)할 수 있다.On the other hand, as shown in (b) of FIG. 6, the gas discharge unit 400 serves to discharge (g) the gas inside the chamber 101 to the outside, so that a separate drain port (not shown) is provided. Needless to say, the gas in the chamber 101 is discharged to the outside (g) so that the end 430 of the gas discharge pipe 420 can serve as a drain port and at the same time condensed inside the gas discharge part 400 Gas can be discharged to the outside together (d).

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치에 배출공(140: 140a, 140b, 140c)이 형성된 형태를 나타내는 사시도이다.7 is a perspective view showing a form in which discharge holes 140 (140a, 140b, 140c) are formed in the substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 챔버(101)의 적어도 하나의 측면, 구체적으로는 도 5를 참조하여 설명한 가스 공급부(300) 및 가스 배출부(400)가 배치되는 챔버(101)의 좌측면 및 우측면을 제외한 측면에 복수개의 배출공(140: 140a, 140b, 140c)이 형성될 수 있다. 배출공(140)은 외부에 배치된 펌핑 수단(미도시)에 연결되어 챔버(101) 내부의 응축된 물질을 효과적으로 배출할 수 있다.Referring to FIG. 7, at least one side surface of the chamber 101, specifically, the left and right sides of the chamber 101 in which the gas supply unit 300 and the gas discharge unit 400 described with reference to FIG. 5 are disposed. A plurality of discharge holes 140 (140a, 140b, 140c) may be formed on the excluding side. The discharge hole 140 is connected to a pumping means (not shown) disposed outside to effectively discharge the condensed material inside the chamber 101.

본체(100)의 내측(100a, 100b, 100c)에서 응축된 액적이 중력에 의해서 내측(100a, 100b, 100c)을 따라 흘러내릴 수 있음에도 불구하고, 본체(100)의 내측면(100a, 100b, 100c) 상에 잔존하는 상황이 발생할 수 있다. 따라서, 내측면(100a, 100b, 100c) 상에 복수개의 배출공(140)을 형성하여, 가스가 응축되어 챔버(101)의 내벽에서 잔존하는 상황이 발생하더라도, 배출공(140)을 통해 외부로 방출함으로써, 챔버(101) 내벽의 오염을 더욱 효과적으로 방지하고, 제품의 신뢰성 및 수율을 보다 증대시킬 수 있는 이점이 있다.Although the droplets condensed in the inner side (100a, 100b, 100c) of the main body 100 can flow down along the inner side (100a, 100b, 100c) by gravity, the inner side (100a, 100b, A situation that remains on the 100c) phase may occur. Therefore, by forming a plurality of discharge holes 140 on the inner surface (100a, 100b, 100c), even if a situation occurs in which the gas is condensed and remains in the inner wall of the chamber 101, the outside through the discharge hole 140 By discharging to, there is an advantage that contamination of the inner wall of the chamber 101 can be more effectively prevented and the reliability and yield of the product can be further increased.

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판처리 장치의 본체(100)의 형상을 나타내는 개략도이다.8 is a schematic diagram showing a shape of a main body 100 of a substrate processing apparatus according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 기판처리 장치는 본체(100)의 하부(BC)는 하부 상단(BC1)에서 하부 하단(BC2)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지고, 본체(100)의 상부(TC)는 상부 하단(TC2)에서 상부 상단(TC1)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 구비하여, 응축된 액적이 중력에 의해서 본체(100)의 내측을 따라 흘러내릴 수 있도록 한다면, 그 형상에 있어서 제한은 없다. 정단면이 육각형인 형상뿐만 아니라, 도 8과 같이 정단면이 팔각형 또는 그 이상의 다각형으로 구성될 수도 있다.In the substrate processing apparatus of the present invention, the lower portion BC of the main body 100 has a shape in which the size of the flat cross-sectional area decreases from the lower upper portion BC1 to the lower lower portion BC2, and the upper portion TC of the main body 100 Has a shape in which the size of the flat cross-sectional area decreases from the top bottom (TC2) to the top top (TC1), so that condensed droplets can flow down along the inside of the main body 100 by gravity, There is no limit. In addition to the shape in which the front cross-section is a hexagonal shape, the front cross-section may be formed of an octagonal or higher polygon as shown in FIG. 8.

그리고, 정단면이 육각형 이상의 다각형으로 구성되면, 본체(100)의 면과 면이 접하는 모서리 부분에 본체 히터(250: 250a, 250b, 250c, 250d)가 각각 배치될 수 있다.In addition, when the front cross-section is composed of a polygonal shape of a hexagonal shape or more, the main body heaters 250 (250a, 250b, 250c, 250d) may be disposed at a corner portion where the surface of the main body 100 and the surface contact each other.

본 발명은 상술한 바와 같이 바람직한 실시예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기 실시예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형과 변경이 가능하다. 그러한 변형예 및 변경예는 본 발명과 첨부된 특허청구범위의 범위 내에 속하는 것으로 보아야 한다.Although the present invention has been shown and described with reference to a preferred embodiment as described above, it is not limited to the above embodiment, and within the scope not departing from the spirit of the present invention, various It can be transformed and changed. Such modifications and variations should be viewed as falling within the scope of the present invention and the appended claims.

100: 본체
101: 챔버
110: 도어
120: 보강리브
130: 배출 수단
140: 배출공
200: 발열부
210: 주 발열부
220: 보조 발열부
230: 도어 발열부
250: 본체 발열부
300: 가스 공급부
400: 가스 배출부
500: 냉각부
BC: 본체 하부
BC1: 본체 하부 상단
BC2: 본체 하부 하단
TC: 본체 상부
TC1: 본체 상부 상단
TC2: 본체 상부 하단
a, b: 각도
100: main body
101: chamber
110: door
120: reinforcing rib
130: discharge means
140: discharge hole
200: heating part
210: main heating part
220: auxiliary heating part
230: door heating part
250: body heating part
300: gas supply
400: gas discharge unit
500: cooling unit
BC: lower body
BC1: The upper part of the lower part of the body
BC2: Lower body bottom
TC: upper body
TC1: The upper part of the main body
TC2: upper and lower body
a, b: angle

Claims (14)

기판 상의 물질을 기화시키거나 건조시키는 기판처리 장치로서,
기판처리 공간을 제공하는 챔버를 포함하는 본체;
상기 챔버 내부를 가열하는 발열부; 및
상기 본체의 내측면과 상기 본체의 상부면이 접하는 모서리, 또는 상기 본체의 내측면과 상기 본체의 하부면이 접하는 모서리 중 적어도 어느 하나에 배치되는 본체 발열부
를 포함하며,
상기 본체는 정단면의 형상이 육각형이고,
상기 본체의 상부는 상부 하단에서 상부 상단으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지며, 상기 본체의 하부는 하부 상단에서 하부 하단으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지고,
상기 본체의 최상단 모서리 및 상기 본체의 최하단 모서리에 상기 본체 발열부가 더 배치되는, 기판처리 장치.
A substrate processing apparatus for vaporizing or drying a material on a substrate,
A main body including a chamber providing a substrate processing space;
A heating unit that heats the inside of the chamber; And
A main body heating unit disposed at at least one of an edge where the inner surface of the main body and the upper surface of the main body are in contact, or an edge where the inner surface of the main body and the lower surface of the main body are in contact with each other.
Including,
The main body has a hexagonal shape in its front cross section,
The upper portion of the main body has a shape in which the size of the flat cross-sectional area decreases from the upper lower end to the upper upper end, and
The body heating unit is further disposed at the uppermost edge of the body and the lowermost edge of the body.
삭제delete 삭제delete 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 본체의 상부 또는 상기 본체의 하부는 각뿔(pyramid) 형상인, 기판처리 장치.
The method of claim 1,
An upper portion of the main body or a lower portion of the main body has a pyramid shape.
제1항에 있어서,
상기 물질이 상기 본체 내측면에서 응집되고, 상기 내측면을 따라 흘러내림으로써, 상기 본체의 하단으로 포집되는, 기판처리 장치.
The method of claim 1,
The substrate processing apparatus, wherein the material is aggregated on an inner surface of the body and flows down along the inner surface to be collected at a lower end of the body.
제1항에 있어서,
상기 본체 발열부는, 상기 챔버 내에서 기화되거나 건조되는 기판 상의 물질이 상기 본체의 내측면에 응축되지 않도록, 상기 본체의 상기 내측면의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하는, 기판처리 장치.
The method of claim 1,
The main body heating unit maintains a temperature of the inner surface of the main body at 50° C. to 250° C. so that the material on the substrate vaporized or dried in the chamber is not condensed on the inner surface of the main body.
제1항에 있어서,
상기 본체의 외측면에 배치되며 상기 본체 내측면의 온도를 제어하는 온도 제어부를 더 포함하고,
상기 본체의 전면에는 상기 기판이 출입하는 출입구가 형성되고, 상기 출입구를 개폐하는 도어가 설치되며,
상기 도어에는 상기 도어의 온도를 조절하는 수단이 설치된, 기판처리 장치.
The method of claim 1,
It is disposed on the outer surface of the body and further comprises a temperature control unit for controlling the temperature of the inner surface of the body,
A doorway through which the substrate enters and exits is formed on the front surface of the main body, and a door for opening and closing the doorway is installed,
The substrate processing apparatus, wherein the door is provided with a means for adjusting the temperature of the door.
제8항에 있어서,
상기 온도 제어부는, 상기 챔버 내에서 기화되거나 건조되는 기판 상의 물질이 상기 본체의 내측면에 응축되지 않도록, 상기 본체의 상기 내측면의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하고,
상기 도어의 온도를 조절하는 수단은, 상기 도어와 상기 출입구가 접하는 상기 본체의 부분에 상기 물질이 응축되지 않도록, 상기 도어와 상기 출입구가 접하는 상기 본체의 부분의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하는, 기판처리 장치.
The method of claim 8,
The temperature control unit maintains the temperature of the inner surface of the main body at 50° C. to 250° C. so that the material on the substrate vaporized or dried in the chamber is not condensed on the inner surface of the main body,
The means for controlling the temperature of the door maintains the temperature of the part of the main body in contact with the door and the door at 50°C to 250°C so that the material does not condense on the part of the main body where the door and the door contact each other A substrate processing apparatus.
제7항 또는 제9항에 있어서,
상기 물질은 휘발성 물질로서, 50℃ 내지 250℃에서 기화되는 물질인, 기판처리 장치.
The method according to claim 7 or 9,
The material is a volatile material, which is a material that is vaporized at 50°C to 250°C.
제1항에 있어서,
상기 발열부 및 상기 본체 발열부는 상기 챔버의 일측면에서 타측면까지 연통되는 바(bar) 형상의 발열체를 포함하는, 기판처리 장치.
The method of claim 1,
The substrate processing apparatus, wherein the heating unit and the main body heating unit include a bar-shaped heating element communicating from one side of the chamber to the other side of the chamber.
제1항에 있어서,
상기 챔버의 외부 일측면에 연결되어 상기 챔버 내에 기판처리 가스를 공급하는 가스 공급부; 및
상기 챔버의 외부 타측면에 연결되어 상기 챔버 내의 기판처리 가스를 외부로 배출하는 가스 배출부
를 더 포함하는, 기판처리 장치.
The method of claim 1,
A gas supply unit connected to an outer side of the chamber to supply a substrate processing gas into the chamber; And
A gas discharge unit connected to the other side of the chamber to discharge the substrate processing gas in the chamber to the outside
Further comprising a substrate processing apparatus.
제12항에 있어서,
상기 가스 공급부 또는 상기 가스 배출부 중 적어도 하나는 상기 물질을 배출하는 드레인 포트(drain port)를 더 구비한, 기판처리 장치.
The method of claim 12,
At least one of the gas supply unit and the gas discharge unit further includes a drain port for discharging the material.
제1항에 있어서,
상기 챔버의 적어도 하나의 측면에는 복수개의 물질 배출공이 형성된, 기판처리 장치.
The method of claim 1,
A substrate processing apparatus, wherein a plurality of material discharge holes are formed on at least one side of the chamber.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6450117B1 (en) * 2000-08-07 2002-09-17 Applied Materials, Inc. Directing a flow of gas in a substrate processing chamber
KR100453014B1 (en) * 2001-12-26 2004-10-14 주성엔지니어링(주) Apparatus for Chemical Vapor Deposition
KR20080044419A (en) * 2006-11-16 2008-05-21 세메스 주식회사 Chemical recovery apparatus and method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101661178B1 (en) * 2014-11-18 2016-10-04 주식회사 테라세미콘 Apparatus for processing wafer

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