KR20190067567A - Apparatus for processing substrate - Google Patents

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Abstract

Disclosed is a substrate processing apparatus. According to the present invention, the substrate processing apparatus, which vaporizes or dries substances on a substrate, includes: a main body (100) including a chamber (101) providing a substrate processing space; and a heating unit (200) heating the inside of the chamber (101), wherein a lower portion (BC) of the main body (100) has a shape in which a size of a flat cross sectional area becomes smaller from an upper end of the lower portion (BC) to a lower end of the lower portion (BC).

Description

기판처리 장치 {APPARATUS FOR PROCESSING SUBSTRATE}[0001] APPARATUS FOR PROCESSING SUBSTRATE [0002]

본 발명은 기판처리 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 본체 내측면의 온도를 제어하는 본체 발열부를 구비하고, 본체의 형상에 기울어진 각도를 적용하여, 본체의 내측벽에 기판 처리 가스 또는 휘발성 물질이 응축되지 않도록 하고, 응축된 경우에는 본체의 내측면을 따라 응축된 물질이 흘러내려갈 수 있도록 한 기판처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a substrate processing apparatus. More particularly, the present invention relates to an apparatus and a method for controlling a temperature of a main body of a main body, which includes a main body heat generating part for controlling a temperature of an inner side surface of the main body and an inclined angle to the shape of the main body, To a substrate processing apparatus capable of flowing condensed material along the inner surface of the main body.

표시 장치 또는 반도체 소자 제조시 사용되는 기판처리 장치에서 기판이 처리되는 챔버 내부에는 많은 양의 가스가 공급 및 배출될 수 있다. 이러한 가스는 기판 상에 박막을 형성하거나, 기판 상의 박막에 패턴을 형성하거나, 챔버 내부의 분위기를 환기시키는 등의 목적으로 챔버에 내부에 공급되고, 챔버로부터 외부로 배출될 수 있다.A large amount of gas can be supplied and discharged inside the chamber in which the substrate is processed in the substrate processing apparatus used for manufacturing the display device or the semiconductor device. Such gas may be supplied to the chamber for the purpose of forming a thin film on the substrate, forming a pattern on the thin film on the substrate, ventilating the atmosphere inside the chamber, and the like, and may be discharged from the chamber to the outside.

특히, 플렉서블 기판을 제조하는 과정에서, 논플렉서블 기판에서 플렉서블 기판을 분리하기 위해 솔벤트를 주입하는 것이 일반적이며, 주입하는 솔벤트 성분 또는 플렉서블 기판에 포함되어 있는 솔벤트 성분이 휘발되어 챔버 외부로 배출될 수 있다.In particular, in the process of manufacturing a flexible substrate, it is common to inject a solvent to separate the flexible substrate from the non-flexible substrate, and the solvent component injected or the solvent component contained in the flexible substrate is volatilized and discharged to the outside of the chamber have.

기판처리 공정 중에 챔버 내부는 소정의 공정 온도 및 공정 압력을 유지해야 할 필요성이 있다. 하지만, 챔버 외부와 챔버 내부의 온도 및 압력 차이 때문에 솔벤트 성분, 또는 가스가 챔버 내벽에 응축되는 현상이 발생할 수 있다. 응축된 가스는 반복되는 기판처리 공정에 있어서 증발 및 응축을 반복하거나, 다른 화학 성분의 가스와 반응하거나, 특정 온도 환경 하에서 변질됨으로써 챔버 내벽을 더욱 오염시킬 수 있다.During the substrate processing process, there is a need to maintain a predetermined process temperature and process pressure inside the chamber. However, due to the temperature and pressure difference between the chamber and the inside of the chamber, the solvent component or gas may condense on the chamber inner wall. The condensed gas may be repeatedly vaporized and condensed in a repeated substrate processing process, reacted with gases of other chemical components, or degenerated under certain temperature conditions, thereby further contaminating the chamber inner wall.

결국, 종래의 기판처리 장치는, 챔버 내벽의 오염된 물질이 이후의 기판처리 과정 중에 재증발하여 기판 상에 유입되어 기판을 오염시키므로, 제품의 신뢰성이 저하되고, 수율을 하락시키는 문제점이 있었다.As a result, the conventional substrate processing apparatus has a problem that the contaminated material on the inner wall of the chamber is re-evaporated during the subsequent substrate processing process and flows on the substrate to contaminate the substrate, thereby lowering the reliability of the product and lowering the yield.

또한, 종래의 기판처리 장치는, 챔버 내벽에 오염된 물질을 세정하거나, 오염된 챔버벽 자체를 교체해야 하는 문제가 발생하므로, 제품의 생산 비용이 증대되는 문제점이 있었다.Further, in the conventional substrate processing apparatus, there is a problem that the contaminated material is washed in the inner wall of the chamber, or the contaminated chamber wall itself needs to be replaced, thereby increasing the production cost of the product.

본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 제반 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본체 내벽에 가스가 응축되지 않도록 본체 내벽을 소정의 온도로 유지할 수 있는 기판처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a substrate processing apparatus capable of maintaining an inner wall of a main body at a predetermined temperature so that gas is not condensed on the inner wall of the main body.

또한, 본 발명은 챔버 내벽에 응축된 물질이 흘러내려갈 수 있도록 본체의 형상을 변화시킨 기판처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide a substrate processing apparatus in which the shape of a main body is changed so that a condensed material flows down on an inner wall of a chamber.

또한, 본 발명은 온도 컨트롤러 및 본체 발열부를 동시에 사용하여, 본체 내벽을 신속하게 원하는 온도로 유지할 수 있는 기판처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide a substrate processing apparatus capable of rapidly maintaining the inner wall of a main body at a desired temperature by simultaneously using a temperature controller and a main body heat generating portion.

또한, 본 발명은 챔버 내벽을 오염되지 않게 유지함으로써, 제품의 신뢰성 및 수율을 증대시킬 수 있는 기판처리 장치 및 휘발성 물질 응축방지 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide a substrate processing apparatus and a method for preventing condensation of volatile substances that can increase the reliability and yield of a product by keeping the chamber inner wall free from contamination.

상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치는, 기판 상의 물질을 기화시키거나 건조시키는 기판처리 장치로서, 기판처리 공간을 제공하는 챔버를 포함하는 본체; 상기 챔버 내부를 가열하는 발열부; 및 상기 본체의 내측면과 상기 본체의 상부면이 접하는 모서리, 또는 상기 본체의 내측면과 상기 본체의 하부면이 접하는 모서리 중 적어도 어느 하나에 배치되는 본체 발열부를 포함하며, 상기 본체의 하부는 하부 상단에서 하부 하단으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for vaporizing or drying a substance on a substrate, comprising: a body including a chamber for providing a substrate processing space; A heating unit for heating the inside of the chamber; And a main body heat generating portion disposed on at least one of an edge where the inner surface of the main body contacts the upper surface of the main body or an edge where the inner surface of the main body contacts the lower surface of the main body, And has a shape in which the size of the flat area decreases from the upper end to the lower end.

상기 본체의 상부는 상부 하단에서 상부 상단으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가질 수 있다.The upper portion of the main body may have a shape in which the size of the flat area decreases from the upper lower end to the upper upper end.

상기 본체의 최상단 모서리 또는 상기 본체의 최하단 모서리 중 적어도 어느 하나에 상기 본체 발열부가 더 배치될 수 있다.The main body heat generating portion may be further disposed on at least one of the uppermost edge of the main body or the lowermost edge of the main body.

상기 본체는 정단면의 형상이 육각형일 수 있다.The body may have a hexagonal shape in a positive section.

상기 본체의 상부 또는 상기 본체의 하부는 각뿔(pyramid) 형상일 수 있다.The upper portion of the main body or the lower portion of the main body may be pyramid-shaped.

상기 물질이 상기 본체 내측면에서 응집되고, 상기 내측면을 따라 흘러내림으로써, 상기 본체의 하단으로 포집될 수 있따.The material can be collected at the bottom of the body by being agglomerated at the inner side of the body and flowing down along the inner side.

상기 본체 발열부는, 상기 챔버 내에서 기화되거나 건조되는 기판 상의 물질이 상기 본체의 내측면에 응축되지 않도록, 상기 본체의 상기 내측면의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있다.The main body heat generating portion may maintain the temperature of the inner surface of the main body at 50 ° C to 250 ° C so that the material on the substrate to be vaporized or dried in the chamber is not condensed on the inner surface of the main body.

상기 본체의 외측면에 배치되며 상기 본체 내측면의 온도를 제어하는 온도 제어부를 더 포함하고, 상기 본체의 전면에는 상기 기판이 출입하는 출입구가 형성되고, 상기 출입구를 개폐하는 도어가 설치되며, 상기 도어에는 상기 도어의 온도를 조절하는 수단이 설치될 수 있다.And a temperature control unit disposed on an outer surface of the main body and controlling a temperature of an inner surface of the main body, wherein an entrance and an entrance through which the substrate enters and exits are formed on a front surface of the main body, The door may be provided with a means for controlling the temperature of the door.

상기 온도 제어부는, 상기 챔버 내에서 기화되거나 건조되는 기판 상의 물질이 상기 본체의 내측면에 응축되지 않도록, 상기 본체의 상기 내측면의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하고, 상기 도어의 온도를 조절하는 수단은, 상기 도어와 상기 출입구가 접하는 상기 본체의 부분에 상기 물질이 응축되지 않도록, 상기 도어와 상기 출입구가 접하는 상기 본체의 부분의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있다.Wherein the temperature control unit maintains the temperature of the inner surface of the body at 50 to 250 DEG C so that the substance on the substrate to be vaporized or dried in the chamber is not condensed on the inner surface of the body, The adjusting means may maintain the temperature of the portion of the main body in contact with the door and the entrance so that the material does not condense in the portion of the main body in contact with the door and the entrance.

상기 물질은 휘발성 물질로서, 50℃ 내지 250℃에서 기화되는 물질일 수 있다.The material may be a volatile material that is vaporized at 50 ° C to 250 ° C.

상기 발열부 및 상기 본체 발열부는 상기 챔버의 일측면에서 타측면까지 연통되는 바(bar) 형상의 발열체를 포함할 수 있다.The heating unit and the main body heat generating unit may include a bar-shaped heating element communicating from one side to the other side of the chamber.

상기 챔버의 외부 일측면에 연결되어 상기 챔버 내에 기판처리 가스를 공급하는 가스 공급부; 및 상기 챔버의 외부 타측면에 연결되어 상기 챔버 내의 기판처리 가스를 외부로 배출하는 가스 배출부를 더 포함할 수 있다.A gas supply connected to one external side of the chamber to supply substrate processing gas into the chamber; And a gas discharge unit connected to the other outer side of the chamber and discharging the substrate processing gas in the chamber to the outside.

상기 가스 공급부 또는 상기 가스 배출부 중 적어도 하나는 상기 물질을 배출하는 드레인 포트(drain port)를 더 구비할 수 있다.At least one of the gas supply unit and the gas discharge unit may further include a drain port for discharging the material.

상기 챔버의 적어도 하나의 측면에는 복수개의 물질 배출공이 형성될 수 있다.A plurality of material discharge holes may be formed in at least one side surface of the chamber.

상기와 같이 구성된 본 발명에 따르면, 본체 내벽에 가스가 응축되지 않도록 본체 내벽을 소정의 온도로 유지할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention configured as described above, there is an effect that the inner wall of the main body can be maintained at a predetermined temperature so that gas is not condensed on the inner wall of the main body.

또한, 본 발명에 따르면, 본체의 형상을 변화시킴으로써, 챔버 내벽에 응축된 물질이 흘러내려갈 수 있는 효과가 있다.Further, according to the present invention, by changing the shape of the main body, there is an effect that the condensed material can flow down on the inner wall of the chamber.

또한, 본 발명에 따르면, 온도 컨트롤러 및 본체 발열부를 동시에 사용하여, 본체 내벽을 신속하게 원하는 온도로 유지할 수 있는 효과가 있다.Further, according to the present invention, the inner wall of the main body can be quickly maintained at a desired temperature by simultaneously using the temperature controller and the main body heat generating portion.

또한, 본 발명에 따르면, 챔버 내벽을 오염되지 않게 유지함으로써, 제품의 신뢰성 및 수율을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.Further, according to the present invention, there is an effect that the reliability and yield of the product can be increased by keeping the chamber inner wall free from contamination.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치의 전체적인 구성을 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치를 나타내는 정단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치의 본체의 형상을 나타내는 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 컨트롤러의 동작을 나타내는 개략도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 도어와 출입구의 부분 확대 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 가스 공급부 및 가스 배출부를 나타내는 단면도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치에 배출공이 형성된 형태를 나타내는 사시도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판처리 장치의 본체의 형상을 나타내는 개략도이다.
1 is a perspective view showing the overall structure of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a front sectional view showing a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.
3 is a schematic view showing the shape of the main body of the substrate processing apparatus according to the embodiment of the present invention.
4 is a schematic diagram illustrating operation of a temperature controller according to an embodiment of the present invention.
5 is a partially enlarged perspective view of a door and an entrance according to an embodiment of the present invention.
6 is a cross-sectional view illustrating a gas supply unit and a gas discharge unit according to an embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a perspective view showing a state in which a discharge hole is formed in the substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG.
8 is a schematic view showing the shape of the main body of the substrate processing apparatus according to another embodiment of the present invention.

후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일하거나 유사한 기능을 지칭하며, 길이 및 면적, 두께 등과 그 형태는 편의를 위하여 과장되어 표현될 수도 있다.The following detailed description of the invention refers to the accompanying drawings, which illustrate, by way of illustration, specific embodiments in which the invention may be practiced. These embodiments are described in sufficient detail to enable those skilled in the art to practice the invention. It should be understood that the various embodiments of the present invention are different, but need not be mutually exclusive. For example, certain features, structures, and characteristics described herein may be implemented in other embodiments without departing from the spirit and scope of the invention in connection with an embodiment. It is also to be understood that the position or arrangement of the individual components within each disclosed embodiment may be varied without departing from the spirit and scope of the invention. The following detailed description is, therefore, not to be taken in a limiting sense, and the scope of the present invention is to be limited only by the appended claims, along with the full scope of equivalents to which such claims are entitled, if properly explained. In the drawings, like reference numerals refer to the same or similar functions throughout the several views, and length and area, thickness, and the like may be exaggerated for convenience.

본 명세서에 있어서, 기판은 LED, LCD 등의 표시장치에 사용하는 기판, 반도체 기판, 태양전지 기판 등을 포함하는 의미로 이해될 수 있으며, 바람직하게는 플렉서블(Flexible) 표시장치에 사용되는 플렉서블 기판의 의미하는 것으로 이해될 수 있다.In this specification, the substrate may be understood to include a substrate, a semiconductor substrate, a solar cell substrate, and the like used in a display device such as an LED and an LCD. Preferably, the substrate is a flexible substrate And the like.

또한, 본 명세서에 있어서, 기판처리 공정이란 증착 공정, 열처리 공정 등을 포함하는 의미로 이해될 수 있으며, 바람직하게는 논플렉서블(Non-Flexible) 기판 상에 플렉서블 기판 형성, 플렉서블 기판 상에 패턴 형성, 플렉서블 기판 분리 등의 공정을 의미하는 것으로 이해될 수 있다.In the present specification, the substrate processing step may be understood to include a deposition step, a heat treatment step, and the like. Preferably, the substrate processing step may include forming a flexible substrate on a non-flexible substrate, , Flexible substrate separation, and the like.

또한, 본 명세서에 있어서, 기판 상의 물질이란 기판의 표면과 접촉하고 있는 물질과 기판의 표면과 접촉하지는 않으나 기판의 상측에 존재하는 물질을 모두 포함하는 개념으로 이해될 수 있따.Also, in this specification, a substance on a substrate can be understood as a concept including both a substance in contact with the surface of the substrate and a substance that is not in contact with the surface of the substrate but exists on the upper side of the substrate.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 인라인 열처리 장치를 상세히 설명한다.Hereinafter, an inline thermal processing apparatus according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치의 전체적인 구성을 나타내는 사시도, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치를 나타내는 정단면도, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치의 본체의 형상을 나타내는 개략도이다.2 is a front sectional view showing a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention, and Fig. 3 is a cross-sectional view of a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention. Fig. 2 is a schematic view showing the shape of the main body of the substrate processing apparatus according to the first embodiment;

도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 실시예에 따른 기판처리 장치는 본체(100), 발열부(200) 및 본체 발열부(250)를 포함할 수 있다.1 to 3, the substrate processing apparatus according to the present embodiment may include a main body 100, a heating unit 200, and a main body heating unit 250.

본체(100)는 내부에 기판(미도시)이 로딩되어 처리되는 밀폐된 공간인 챔버(101)를 구성한다. 본체(100)의 재질은 석영(Quartz), 스테인리스 스틸(SUS), 알루미늄(Aluminium), 그라파이트(Graphite), 실리콘 카바이드(Silicon carbide) 또는 산화 알루미늄(Aluminium oxide) 중 적어도 어느 하나일 수 있다.The main body 100 constitutes a chamber 101 which is a closed space in which a substrate (not shown) is loaded and processed. The material of the main body 100 may be at least one of quartz, stainless steel, aluminum, graphite, silicon carbide, or aluminum oxide.

챔버(101) 내부에는 복수개의 기판이 배치될 수 있다. 복수개의 기판은 각각 일정간격을 가지면서 배치되며, 기판 홀더(미도시)에 지지되거나, 보트(미도시)에 안착되어 챔버(101) 내부에 배치될 수 있다.A plurality of substrates may be disposed in the chamber 101. The plurality of substrates may be disposed at regular intervals and may be supported in a substrate holder (not shown), or may be placed in a boat (not shown) and disposed inside the chamber 101.

본체(100)의 일면[일 예로, 전면]에는 기판이 로딩/언로딩 되는 통로인 출입구(115)가 형성될 수 있다. 출입구(115)는 본체(100)의 일면[일 예로, 전면]에만 형성될 수 있고, 반대면[일 예로, 후면]에도 형성될 수 있다.An entrance 115, which is a passage through which the substrate is loaded / unloaded, may be formed on one surface (e.g., a front surface) of the main body 100. The entrance 115 may be formed on only one side (e.g., the front side) of the main body 100, or on the opposite side (e.g., the back side).

도어(110)는 본체(100)의 일면[즉, 출입구(115)가 형성된 면]에 설치될 수 있다. 도어는 전후방향, 좌우방향 또는 상하방향으로 슬라이딩 가능하게 설치될 수 있다. 도어(110)는 출입구(115)를 개폐할 수 있고, 출입구(115)의 개폐 여부에 따라서 챔버(101)도 물론 개폐될 수 있다. 또한, 도어(110)에 의하여 출입구(115)가 완전하게 실링되도록 도어(110)와 본체(100)의 출입구(115)가 형성된 면 사이에는 오링(O-ring) 등의 실링부재(116)[도 5 참조]가 개재될 수 있다.The door 110 may be installed on one side of the main body 100 (that is, the side on which the entrance 115 is formed). The door can be slidably mounted in the front-rear direction, the left-right direction, or the vertical direction. The door 110 can open and close the entrance 115 and can open and close the chamber 101 depending on whether the entrance 115 is open or closed. A sealing member 116 such as an O-ring is provided between the door 110 and the surface of the main body 100 where the door 115 is formed so that the door 115 is completely sealed by the door 110. [ See Fig. 5] may be interposed.

한편, 본체(100)의 외측면 상에는 보강리브(120)를 결합할 수 있다. 본체(100)는 공정 중에 내부에서 강한 압력 또는 고온의 영향을 받아 파손되거나 변형이 발생할 수 있다. 따라서 보강리브(120)를 본체(100)의 외측면 상에 결합하여 본체(100)의 내구성을 향상시킬 수 있다. 필요에 따라서, 특정 외측면 또는 외측면 상의 일부에만 보강리브(120)를 결합할 수도 있다.On the other hand, the reinforcing rib 120 can be coupled to the outer surface of the main body 100. The main body 100 may be damaged or deformed due to strong pressure or high temperature from the inside during the process. Therefore, the durability of the main body 100 can be improved by combining the reinforcing ribs 120 on the outer surface of the main body 100. Optionally, the reinforcing ribs 120 may be joined to only a portion of the outer surface or the outer surface.

발열부(200)는 챔버(101) 내부를 가열하여 기판처리 분위기를 조성하며 기판을 직접 가열하는 역할을 하는 주 발열부(210) 및 챔버(101) 내부의 열 손실을 방지하는 역할을 하는 보조 발열부(220)를 포함할 수 있다.The heat generating unit 200 includes a main heat generating unit 210 that heats the inside of the chamber 101 and functions to directly heat the substrate and an auxiliary And may include a heating unit 220.

주 발열부(210)는 기판(미도시)의 로딩/언로딩 방향과 수직한 방향, 즉, 본체(100)의 전후 방향으로 일정한 간격을 가지면서 배치될 수 있고, 기판의 적층 방향을 따라 수직으로 일정한 간격을 가지면서 배치될 수 있다. 보조 발열부(220)는 기판(미도시)의 로딩/언로딩 방향과 평행한 방향, 즉, 본체(100)의 좌우 방향으로 챔버(101) 내벽에 기판의 적층 방향을 따라 수직으로 일정한 간격을 가지면서 배치될 수 있다.The main heat generating unit 210 may be disposed at regular intervals in a direction perpendicular to the loading / unloading direction of the substrate (not shown), that is, in the front-rear direction of the main body 100, As shown in FIG. The auxiliary heating unit 220 is spaced vertically from the inner wall of the chamber 101 in the direction parallel to the loading / unloading direction of the substrate (not shown) And can be arranged.

주 발열부(210)는 복수개의 발열체(211) 및 각각의 발열체(211)의 양단에 설치된 단자(212)를 포함할 수 있고, 보조 발열체(220)도 동일하게 복수개의 발열체(221) 및 각각의 발열체(221)의 양단에 설치된 단자(222)를 포함할 수 있다. 발열체(211, 221)의 개수는 본체(100)의 크기, 기판의 크기 및 개수에 따라서 다양하게 변경될 수 있다.The main heating unit 210 may include a plurality of heating elements 211 and terminals 212 provided at both ends of the heating elements 211. The auxiliary heating element 220 may also include a plurality of heating elements 221, And a terminal 222 provided at both ends of the heating element 221 of the heating element 221. The number of the heating elements 211 and 221 may be variously changed according to the size of the main body 100, the size and number of the substrates.

발열체(211, 221)는 챔버(101)의 일측면에서 타측면까지 연통되는 바(bar) 형상을 가지며, 석영관 내부에 발열 물질이 삽입된 형태일 수 있다. 일 예로, 주 발열부(210)의 발열체(211)는 챔버(101)의 좌측면에서 우측면까지 연통될 수 있고, 보조 발열부(220)의 발열체(221)는 출입구(115) 부분을 제외한 챔버(101)의 전면에서 후면까지 연통될 수 있다. 단자(212, 222)는 외부의 전원(미도시)로부터 전력을 공급받아 발열체(211, 221)에서 열을 발생시킬 수 있도록 한다.The heating elements 211 and 221 have a bar shape communicating from one side to the other side of the chamber 101 and may be formed by inserting a heating material into the quartz tube. The heating element 211 of the main heating part 210 may be communicated from the left side to the right side of the chamber 101 and the heating element 221 of the auxiliary heating part 220 may be connected to the outside of the chamber 115, And can be communicated from the front surface to the rear surface of the housing 101. The terminals 212 and 222 are supplied with power from an external power source (not shown) to generate heat from the heating elements 211 and 221.

따라서, 기판(10)은 상부 및 하부에 배치된 발열부(200)에 의해서 전면적이 균일하게 가열될 수 있으므로, 기판처리 공정의 신뢰성이 향상되는 이점이 있다.Accordingly, the entire surface of the substrate 10 can be uniformly heated by the heat generating units 200 disposed at the upper and lower portions, thereby improving the reliability of the substrate processing process.

종래의 기판처리 장치의 본체는 정육면체 또는 직육면체 형상을 가지는 것이 일반적이다. 본체의 전후좌우 측면은 지면에 수직하게 형성되므로, 이 측면에 물질이 응축되어 있어도 작용하는 중력에 의해 응축된 액적(droplet)[또는, 응축된 가스, 물질]이 아래로 흘러내려 갈 수 있다. 하지만, 본체의 상부면 및 하부면은 지면에 평행하게 형성되므로, 이 면에 물질이 응축되어 있으면 본체 내면을 따라 흘러내려 가지 않는다. 즉, 본체 하부면에 액적이 잔존하고 있고, 본체 하부면의 배출구를 따라서 배출될 수 없다. 이 경우, 응축된 물질이 반복되는 기판처리 공정에 있어서, 증발 및 응축을 반복하거나, 다른 화학 성분의 가스와 반응하거나, 특정 온도 환경 하에서 변질됨으로써 챔버 내벽을 더욱 오염시킬 수 있다.The main body of the conventional substrate processing apparatus generally has a cubic or rectangular parallelepiped shape. Since the front, rear, left and right sides of the body are formed perpendicular to the surface of the body, droplets (or condensed gases, substances) condensed by the gravity acting even when the material is condensed on this side can flow down. However, since the upper and lower surfaces of the body are formed parallel to the paper surface, they do not flow along the inner surface of the body if the material is condensed on this surface. That is, the droplet remains on the lower surface of the main body, and can not be discharged along the discharge port on the lower surface of the main body. In this case, in the substrate processing process where the condensed material is repeated, the inner wall of the chamber may be further contaminated by repeating evaporation and condensation, reacting with gases of other chemical components, or altering under a specific temperature environment.

따라서, 본 발명은 본체(100)의 하부(BC)[도 2 및 도 3 참조]가 하부(BC)의 상단(BC1)에서 하부(BC)의 하단(BC2)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지는 것을 특징으로 한다. 평단면은 x-y 평면으로서, 본체(100)의 하부(BC) 상단(BC1)의 x-y 평면의 넓이가 본체(100)의 하부(BC) 하단(BC2)의 x-y 평면의 넓이보다 큰 것을 의미한다. 다시 말해, 본체(100)의 하부면이 지면에 평행하지 않고, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 하부(BC)를 구성하는 적어도 하나의 면(100b)이 수직하지 않으며, 기울어져 형성되는 것을 특징으로 한다.2 and 3) of the main body 100 is smaller in size from the upper end BC1 of the lower portion BC to the lower end BC2 of the lower portion BC, And has a loose shape. The flat section is an xy plane and means that the width of the upper end BC1 of the lower portion BC1 of the main body 100 is larger than the width of the lower end BC2 of the lower portion BC of the main body 100 in the x-y plane. In other words, the lower surface of the main body 100 is not parallel to the paper surface, and at least one surface 100b constituting the front and rear left and right side surfaces 100a of the main body 100 and the bottom portion BC of the main body 100 are vertical And is formed to be inclined.

본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 하부(BC)를 구성하는 적어도 하나의 면(100b)이 이루는 각도(기울어진 각도; a)는 90°내지 180°일 수 있다. 다만, 90°에 너무 가까우면 실질적으로 종래의 육면체 형상의 본체(100)와 같이 응축된 액적이 하부면에 잔존할 수 있고, 180°에 가까우면 본체(100)의 높이가 불필요하게 높아지는 문제가 발생할 수 있으므로, 100° 내지 160° 정도의 각도(a)를 이루는 것이 바람직하며, 120°의 각도를 이루는 것이 더욱 바람직하다.An angle (inclined angle) between the front, rear, left and right side surfaces 100a of the main body 100 and at least one surface 100b constituting the lower portion BC of the main body 100 may be 90 ° to 180 ° . However, if the angle is too close to 90 degrees, a condensed droplet may remain on the lower surface substantially like the conventional hexahedral body 100, and if the angle is close to 180 degrees, the height of the body 100 becomes unnecessarily high It is preferable to form an angle (a) of about 100 ° to 160 °, and more preferably an angle of 120 °.

본체(100) 하부(BC)의 형상은 각뿔(pyramid) 형상으로 대변될 수도 있고, 본체(100)의 측면(100a)이 전후좌우 4개의 면으로 구성되는 것을 고려하면, 본체(100)의 하부(BC)의 형상은 사각뿔 형상일 수 있다.The bottom portion BC of the main body 100 may be pyramid-shaped and the bottom portion 100a of the main body 100 may be divided into four portions, (BC) may have a quadrangular pyramid shape.

또는, 각뿔이 아니면서, 상기 본체(100)의 형상 조건을 만족하기 위해서, 본체(100)의 정단면이 육각형인 형상을 가질 수도 있다. 즉, 육각 기둥을 세워놓은 형태를 가질 수 있다. 본 명세서에서는 본체(100)의 정단면이 육각형인 형상을 상정하여 설명한다. 본체(100)의 정단면이 육각형인 형상은 후술할 본체(100) 상부(TC)의 형상도 하부(BC)와 동일한 형상을 가지는 것을 포함하는 의미이다.Alternatively, in order to satisfy the shape condition of the main body 100 without being a pyramid, the main body 100 may have a hexagonal shape in the forward end face. That is, it can have a hexagonal column standing up. In the present specification, a description will be given on the assumption that the main body 100 has a hexagonal front face. The hexagonal shape of the main body 100 means that the upper portion TC of the main body 100 has the same shape as the lower portion BC.

한편, 응축된 액적이 더 잘 흘러내릴 수 있도록, 본체(100) 내면의 표면 거칠기를 Ra 1.0㎛ 이하로 형성할 수 있다. 폴리싱을 통해 표면 거칠기를 제어할 수 있으며, 표면 거칠기가 Ra 1.0㎛ 이하일 때, 본체(100) 내면에서의 열반사 효과도 기대할 수 있다.On the other hand, the surface roughness of the inner surface of the main body 100 can be made to be Ra 1.0 탆 or less so that the condensed droplets can flow down more easily. The surface roughness can be controlled by polishing. When the surface roughness Ra is 1.0 탆 or less, the effect of heat reflection on the inner surface of the main body 100 can be expected.

본체(100)가 하부(BC)의 상단(BC1)에서 하부(BC)의 하단(BC2)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지므로, 즉, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 하부면(100b)이 수직하지 않고 기울어져 형성되어 있으므로, 본체(100)의 내면에 응축된 액적이 본체(100)의 하부(BC)로 포집될 수 있다. 본체(100)의 전후좌우 내측면에 응축된 액적은 중력에 의해 아래로 흘러내리며, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 하부면(100b)과의 경계에서는 연속적으로 중력에 의해 기울어져 형성된 하부면(100b)을 따라 흘러내릴 수 있게 된다. 그리하여, 본체(100)의 하단으로 액적이 포집될 수 있다. 포집된 액적은 본체(100) 하단에 형성된 배출 수단(130), 펌핑 수단(미도시)을 통해 외부로 배출되어 재사용되거나 폐기될 수 있다.Since the body 100 has a shape in which the size of the flat surface area decreases from the upper end BC1 of the lower portion BC to the lower end BC2 of the lower portion BC, And the lower surface 100b of the main body 100 are formed to be inclined without being perpendicular to each other so that liquid droplets condensed on the inner surface of the main body 100 can be collected in the lower portion BC of the main body 100. [ The droplets condensed on the front, rear, left, and right inner sides of the main body 100 flow downward due to gravity, and are continuously inclined by gravity at the boundary between the front, rear, left and right side surfaces 100a and 100b of the main body 100 It is possible to flow along the lower surface 100b formed. Thus, the droplet can be collected at the lower end of the main body 100. The collected droplets can be discharged to the outside through the discharge means 130 and the pumping means (not shown) formed at the lower end of the main body 100, and can be reused or discarded.

한편, 본체(100)의 상부(TC)가 상부(TC) 하단(TC2)에서 상부(TC) 상단(TC1)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가질 수 있다. 다시 말해, 본체(100)의 상부면이 지면에 평행하지 않고, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 상부(TC)를 구성하는 적어도 하나의 면(100c)이 수직하지 않으며, 기울어져 형성될 수 있다.On the other hand, the upper surface TC of the main body 100 may have a shape in which the size of the flat surface area decreases from the lower TC2 of the upper portion TC to the upper portion TC1 of the upper portion TC. In other words, the upper surface of the main body 100 is not parallel to the ground surface, and at least one surface 100c constituting the upper portion TC of the main body 100 and the front, rear, left and right side surfaces 100a of the main body 100 are perpendicular And can be formed by inclining.

본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 상부(TC)를 구성하는 적어도 하나의 면(100c)이 이루는 각도(기울어진 각도; b)는 90°내지 180°일 수 있다. 다만, 90°에 너무 가까우면 실질적으로 종래의 육면체 형상의 본체(100)와 같이 응축된 액적이 상부면에 잔존할 수 있고, 180°에 가까우면 본체(100)의 높이가 불필요하게 높아지는 문제가 발생할 수 있다. 특히, 90°에 가까워 응축된 액적이 본체(100)의 상부면에 잔존하다가 기판처리 공정 중 낙하하여 기판 상에 떨어지면 기판이 오염될 수 있다. 따라서, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 상부면을 구성하는 적어도 하나의 면(100c)이 이루는 각도(b)는 100° 내지 160° 정도의 각도를 이루는 것이 바람직하며, 120°의 각도를 이루는 것이 더욱 바람직하다.An angle (inclined angle) b (angle formed by the front, rear, left and right side surfaces 100a of the main body 100 and at least one surface 100c constituting the upper portion TC of the main body 100) may be 90 ° to 180 ° . However, if the angle is too close to 90 °, a liquid droplet condensed in a substantially similar manner to the conventional hexahedral body 100 may remain on the upper surface, and if the angle is close to 180 °, the height of the body 100 may unnecessarily increase Lt; / RTI > Particularly, when the droplet condensed near 90 ° is left on the upper surface of the main body 100 and falls down on the substrate during the substrate processing process, the substrate may be contaminated. Therefore, the angle b formed by the front, rear, left and right side surfaces 100a of the main body 100 and at least one surface 100c constituting the upper surface of the main body 100 preferably has an angle of about 100 ° to 160 ° , And it is more preferable to form an angle of 120 [deg.].

본체(100) 상부(TC)의 형상은 각뿔(pyramid) 형상으로 대변될 수 있고, 본체(100)의 측면(100a)이 전후좌우 4개의 면으로 구성되는 것을 고려하면, 본체(100)의 상부(TC)의 형상은 사각뿔 형상일 수 있다.Considering that the side surface 100a of the main body 100 is composed of four surfaces in the front, back, left, and right directions, the upper portion TC of the main body 100 may be pyramid- (TC) may be in the shape of a quadrangular pyramid.

본체(100)의 상부(TC)의 하단(TC2)에서 상부(TC)의 상단(TC1)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지므로, 즉, 본체(100)의 전후좌우 측면(100a)과 본체(100)의 상부면(100c)이 수직하지 않고 기울어져 형성되어 있으므로, 본체(100)의 상부(TC)을 구성하는 적어도 하나의 면(100c)의 내측에 응축된 액적이 본체(100)의 내측을 따라 흘러내릴 수 있다. 즉, 본체(100)의 상부(TC)을 구성하는 적어도 하나의 면(100c)의 내측에 응축된 액적이 기판 상으로 곧바로 낙하하지 않고, 내측을 따라 흘러내리며, 본체(100)의 전후좌우 내측면(100a)을 통과하여, 본체(100)의 하단까지 흘러내려 포집될 수 있다. 포집된 액적은 본체(100) 하단에 형성된 배출 수단(130), 펌핑 수단(미도시)을 통해 외부로 배출되어 재사용되거나 폐기될 수 있다.The front and rear left and right side surfaces 100a and 100b of the main body 100 have a shape in which the size of the flat area decreases from the lower end TC2 of the upper body TC to the upper end TC1 of the upper body TC, And the upper surface 100c of the main body 100 are inclined without being perpendicular to each other so that liquid droplets condensed inside at least one surface 100c constituting the upper portion TC of the main body 100 100, respectively. That is, the liquid droplets condensed on the inside of at least one surface 100c constituting the upper portion TC of the main body 100 do not directly fall down onto the substrate but flow down along the inside, Passes through the side surface 100a, flows down to the lower end of the main body 100, and can be collected. The collected droplets can be discharged to the outside through the discharge means 130 and the pumping means (not shown) formed at the lower end of the main body 100, and can be reused or discarded.

한편, 본 발명의 기판처리 장치는, 본체(100)의 면과 면이 접하는 모서리 부분에 본체 히터(250: 250a, 250c, 250d)가 배치되는 것을 특징으로 한다. 보다 구체적으로, 본체(100)의 내측면(100a)과 본체(100)의 상부면(100c)이 접하는 경계의 모서리 부분, 또는 본체(100)의 내측면(100a)과 본체(100)의 하부면(100b)이 접하는 경계의 모서리 부분 중 적어도 어느 하나에 본체 히터(250c, 250d)가 배치되는 것을 특징으로 한다.The substrate processing apparatus of the present invention is characterized in that main heaters 250 (250a, 250c, and 250d) are disposed at corner portions where a surface of the main body 100 is in contact with a surface. More specifically, the edge of the boundary where the inner surface 100a of the main body 100 and the upper surface 100c of the main body 100 are in contact with each other or the inner surface 100a of the main body 100 and the bottom of the main body 100, And main heaters 250c and 250d are disposed on at least one of the corner portions of the boundary where the surface 100b contacts.

또한, 본체(100)의 정단면의 형상이 육각 형상인 경우, 본체(100)의 최상단 모서리[상부(TC)의 상단(TC1) 모서리] 또는 최하단 모서리[하부(BC)의 하단(BC2) 모서리]에 본체 발열부(250a, 250b)가 배치될 수 있다.When the top surface of the main body 100 has a hexagonal shape, the top edge (TC1 corner of the upper portion TC) or the bottom edge BC2 of the bottom edge BC2 of the main body 100 The main body heat generating portions 250a and 250b may be disposed.

본체 히터(250)는 챔버(101) 내부를 가열하기보다는 본체(100)의 내측면(100a, 100b, 100c)을 가열하여 본체(100)의 내벽의 온도를 조절하는 역할을 할 수 있다. 본체(100)의 내벽의 온도를 조절함에 따라, 후술할 휘발성 물질이 본체(100)의 내벽에 응축되지 않고 기체 상태로 존재하도록 할 수 있다. 바람직하게는, 본체 히터(250)는 본체(100)의 내벽 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있다.The main heater 250 may function to control the temperature of the inner wall of the main body 100 by heating the inner surfaces 100a, 100b, and 100c of the main body 100, rather than heating the inside of the chamber 101. [ By controlling the temperature of the inner wall of the main body 100, volatile substances to be described later can be present in a gaseous state without being condensed on the inner wall of the main body 100. Preferably, the main body heater 250 can maintain the inner wall temperature of the main body 100 at 50 ° C to 250 ° C.

특히, 본체(100)의 하부(BC)의 상단(BC1)에서 하부(BC)의 하단(BC2)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상, 본체(100)의 상부(TC)의 하단(TC2)에서 상부(TC)의 상단(TC1)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상, 본체(100)의 정단면의 형상이 육각 형상인 경우, 모서리 부분에 열이 불균일하게 전해져 휘발성 물질이 많이 응축될 수 있다. 그러므로, 본체 히터(250)는 본체(100)의 모서리 부분, 또는 굴곡진 부분에 집중적으로 배치하는 것이 바람직하다.Particularly, a shape in which the size of the flat area decreases from the upper end BC1 of the lower portion BC of the main body 100 to the lower end BC2 of the lower portion BC, When the top surface of the main body 100 has a hexagonal shape, heat is uniformly transmitted to the corner portion, and a large amount of volatile substances are condensed . Therefore, it is preferable that the main heater 250 be disposed concentrically at the corner portion or the bent portion of the main body 100. [

이 외에, 본체(100) 내측면 중에서 넓은 면적을 가져 휘발성 물질이 내벽에 응축될 가능성이 높은 상측면(100c), 하측면(100b) 부분에 본체 히터(250)를 추가로 배치할 수도 있다. 또한, 각 모서리 당 하나의 본체 발열부(250)를 배치할 수 있고, 복수의 본체 발열부(250)를 집중적으로 배치할 수도 있다.In addition, the main heater 250 may be further disposed on the upper side 100c and the lower side 100b, which have a large area in the inner surface of the main body 100 and are highly likely to contain volatile substances on the inner wall. In addition, one main body heat generating part 250 can be disposed for each corner, and a plurality of main body heat generating parts 250 can be arranged intensively.

본체 히터(250)는 히터(200)와 동일하게, 본체(100)의 일측면에서 타측면까지 연통되는 바(bar) 형상을 가지고, 석영관 내부에 발열 물질이 삽입된 형태일 수 있으며, 발열체(251) 및 단자(252)를 포함할 수 있다. 일 예로, 본 명세서에서는 본체 히터(250)가 기판(10)의 로딩/언로딩 방향과 수직한 방향[메인 히터(210)와 동일한 방향]으로 배치되는 것으로 도시하였으나, 반드시 이에 제한되는 것은 아니며, 모서리 부분에 배치되는 범위 내에서는 자유롭게 배치가 가능하다.The main heater 250 may have a bar shape communicating from one side to the other side of the main body 100 like the heater 200 and may have a shape in which a heating material is inserted into the quartz tube, (251) and a terminal (252). The main heater 250 is disposed in a direction perpendicular to the loading / unloading direction of the substrate 10 (the same direction as the main heater 210), but the present invention is not limited thereto, It is possible to freely arrange it within the range where it is disposed at the corner portion.

도 1 및 도 2를 다시 참조하면, 기판처리 장치는 가스 공급부(300) 및 가스 배출부(400)를 더 포함할 수 있다.Referring to FIGS. 1 and 2 again, the substrate processing apparatus may further include a gas supply unit 300 and a gas discharge unit 400.

가스 공급부(300)는 챔버(101)[또는 본체(100)]의 외부 일측면[일 예로, 좌측면]에 연결되고, 가스 배출부(400)는 챔버(101)[또는 본체(100)]의 외부 타측면[일 예로, 우측면]에 연결될 수 있다.The gas supply part 300 is connected to one external side (for example, the left side) of the chamber 101 (or the main body 100), and the gas discharge part 400 is connected to the chamber 101 (or the main body 100) (E.g., the right side) of the outer frame.

가스 공급부(300)는 챔버(101)의 내부로 기판처리 가스를 공급하는 통로를 제공할 수 있다. 가스 공급부(300)는 가스 저장부(미도시)와 연결되어 기판처리 가스를 공급받는 가스 공급관(320) 및 가스 공급관(320)에 수직으로 일정한 간격을 가지도록 복수개 형성된 가스 토출관(310)을 포함할 수 있다. 가스 토출관(310)은 본체(100)를 관통하여 챔버(101) 내부로 연결될 수 있으며, 가스 토출관(310)의 단부에 형성된 가스 토출공(311)을 통해 기판처리 가스가 챔버(101) 내부로 공급될 수 있다.The gas supply unit 300 may provide a passage for supplying substrate processing gas into the interior of the chamber 101. The gas supply unit 300 includes a gas supply pipe 320 connected to the gas storage unit (not shown) and supplied with the substrate process gas, and a plurality of gas discharge pipes 310 formed at regular intervals in the gas supply pipe 320 . The gas discharge pipe 310 can be connected to the inside of the chamber 101 through the main body 100 and the substrate processing gas can be supplied to the chamber 101 through the gas discharge hole 311 formed at the end of the gas discharge pipe 310, As shown in FIG.

가스 배출부(400)는 챔버(101) 내부의 기판처리 가스를 외부로 배출하는 통로를 제공할 수 있다. 가스 배출부(400)는 외부의 가스 배출시설(미도시)과 연결되어 기판처리 가스를 배출하는 가스 배출관(420) 및 가스 배출관(420)에 수직으로 일정한 간격을 가지도록 복수개 형성된 가스 배출관(410)을 포함할 수 있다. 가스 배출관(410)은 본체(100)를 관통하여 챔버(101) 내부로 연결될 수 있으며, 가스 배출관(410)의 단부에 형성된 가스 배출공(411)을 통해 가스가 챔버(101) 내부에서 외부로 배출될 수 있다.The gas discharge portion 400 may provide a passage for discharging the substrate processing gas inside the chamber 101 to the outside. The gas discharge unit 400 includes a gas discharge pipe 420 connected to an external gas discharging facility (not shown) for discharging substrate processing gas and a plurality of gas discharge pipes 410 ). The gas discharge pipe 410 may be connected to the inside of the chamber 101 through the main body 100 and may be connected to the outside of the chamber 101 through the gas discharge hole 411 formed at the end of the gas discharge pipe 410 Can be discharged.

가스 토출공(311)[또는 가스 토출관(310)] 및 가스 배출공(411)[또는 가스 배출관(410)]은, 복수개의 기판(10)이 챔버(101)에 수용되었을 때, 기판처리 가스를 기판으로 균일하게 공급하고, 기판처리 가스를 용이하게 흡입하여 외부로 배출할 수 있도록, 챔버(101) 내에 배치된 기판과 상부 또는 하부에 인접하는 기판 사이의 간격에 각각 위치되는 것이 바람직하다.When the plurality of substrates 10 are accommodated in the chamber 101, the gas discharge hole 311 (or the gas discharge pipe 310) and the gas discharge hole 411 (or the gas discharge pipe 410) It is preferable that the gas is uniformly supplied to the substrate and positioned at a distance between the substrate disposed in the chamber 101 and the substrate adjacent to the upper or lower portion so that the substrate processing gas can be easily sucked and discharged to the outside .

본 발명의 일 실시예에 따라, 기판처리 장치가 플렉서블 표시장치에 사용되는 플렉서블 기판을 처리하는 것을 설명하면 아래와 같다.In accordance with an embodiment of the present invention, the substrate processing apparatus processes a flexible substrate used in a flexible display device.

일반적으로 플렉서블 기판의 제조과정은, 논플렉서블 기판 상에 플렉서블 기판을 형성하는 공정, 플렉서블 기판에 패턴을 형성하는 공정 및 논플렉서블 기판에서 플렉서블 기판을 분리하는 공정으로 나누어 질 수 있다.Generally, the manufacturing process of the flexible substrate can be divided into a step of forming a flexible substrate on the non-flexible substrate, a step of forming the pattern on the flexible substrate, and a step of separating the flexible substrate from the non-flexible substrate.

플렉서블 기판은 유리, 플라스틱 등의 논플렉서블 기판 상에 폴리이미드(Polyimide) 등으로 구성되는 막을 형성하고 열처리를 하여 경화시킨 후, 논플렉서블 기판과 플렉서블 기판을 점착하는 물질에 솔벤트를 주입하여 점착력을 약화시키거나 점착 물질을 분해하여 플렉서블 기판을 논플렉서블 기판으로부터 분리하여 완성할 수 있다.The flexible substrate is formed by forming a film composed of polyimide or the like on a non-flexible substrate such as glass or plastic, curing the substrate by heat treatment, and then injecting the solvent into a substance that adheres to the non-flexible substrate and the flexible substrate, Or the adhesive material is decomposed to separate the flexible substrate from the non-flexible substrate.

이때, 주입하는 솔벤트 성분 또는 플렉서블 기판의 형성과정 중에 플렉서블 기판에 포함되어 있던 솔벤트 성분이 휘발되어 가스 배출부(400)를 통해 챔버(101) 외부로 배출될 수 있으나, 챔버(101) 외부와 챔버(101) 내부의 온도 및 압력 차이 때문에 챔버(101) 내벽의 소정의 부분은 위 물질이 휘발되지 못하고 응축될 정도로 챔버(101) 내벽의 온도가 낮게 형성되어 있을 수 있다. 결국, 챔버(101) 내벽에 응축된 솔벤트 성분은 챔버(101)를 오염시키거나, 후속 공정에서 기판(10)을 오염시키는 문제점이 발생할 수 있다. 일 예로, 기판(10)의 적어도 일부 표면에 존재하던 물질은 솔벤트와 같은 휘발성 물질로서, 50℃ 내지 250℃에서 기화되는 물질일 수 있다. 이러한 물질은 바람직하게는 NMP(n-methyl-2-pyrrolidone)일 수 있고, IPA, 아세톤(Acetone), PGMEA(Propylene Glycol Monomethyl Ether Acetate) 등의 휘발성 물질일 수도 있다.At this time, the solvent component to be injected or the solvent component contained in the flexible substrate during the process of forming the flexible substrate may be volatilized and may be discharged to the outside of the chamber 101 through the gas discharge unit 400. However, A predetermined portion of the inner wall of the chamber 101 may be formed with a low temperature on the inner wall of the chamber 101 so that the material can not volatilize and be condensed due to a difference in temperature and pressure inside the chamber 101. As a result, the solvent component condensed on the inner wall of the chamber 101 may cause a problem of contaminating the chamber 101 or contaminating the substrate 10 in a subsequent process. In one example, the material present on at least a portion of the surface of the substrate 10 may be a volatile material, such as a solvent, and may be a material that is vaporized at 50 ° C to 250 ° C. Such a material may preferably be N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), or may be a volatile substance such as IPA, Acetone, and PGMEA (Propylene Glycol Monomethyl Ether Acetate).

따라서, 본 발명의 기판처리 장치는 솔벤트를 포함한 챔버(101) 내의 가스가 챔버(101) 내벽에 응축된 경우, 응축된 액적이 챔버(101) 내벽[또는, 본체(100) 내벽]에 잔존하지 않고 흘러내리도록 하여 본체(100)의 하단에서 포집될 수 있도록, 본체(100)의 형상에 기울어진 각도(a, b)를 적용한 것을 특징으로 한다.Accordingly, when the gas in the chamber 101 including the solvent is condensed on the inner wall of the chamber 101, the condensed droplet does not remain on the inner wall of the chamber 101 (or on the inner wall of the main body 100) (A, b) inclined to the shape of the main body 100 so as to be collected at the lower end of the main body 100 in such a manner that the main body 100 is allowed to flow down.

본 발명은 본체(100)의 형상을 변경한 간단한 구성을 통해 응축된 물질이 외부로 흘러 내보낼 수 있고, 이로 인해 챔버 내벽을 오염되지 않게 유지함으로써, 제품의 신뢰성 및 수율을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, the condensed material can flow out to the outside through a simple configuration in which the shape of the main body 100 is changed, thereby keeping the chamber inner wall free from contamination, thereby improving the reliability and yield of the product have.

이에 더하여, 응축된 액적이 챔버(101)의 내벽에 보다 잔존시키지 않고 기체 상태로도 외부에 배출되도록, 본체(100) 내벽 온도를 가스가 응축되지 않을 정도로 유지하는 것을 특징으로 한다. 본체 히터부(250)를 응축된 액적이 보다 많이 집중되어 있는 본체(100)의 모서리 부분에 배치함에 따라서, 응축된 액적을 기체 상태로 휘발시키고, 이로 인해 챔버 내벽을 오염되지 않게 유지함으로써, 제품의 신뢰성 및 수율을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.In addition, the inner wall temperature of the main body 100 is maintained so that the gas does not condense so that the condensed liquid droplet is discharged to the outside even in a gaseous state without remaining in the inner wall of the chamber 101. By placing the main heater section 250 in the corner portion of the main body 100 where condensed droplets are more concentrated, the condensed droplets are volatilized into a gaseous state, thereby keeping the inner wall of the chamber uncontaminated, It is possible to increase the reliability and yield.

한편, 본 발명의 기판처리 장치는 필요에 따라, 기판처리 공정 완료 후 또는 기판처리 공정 중에 본체(100) 벽 또는 챔버(101) 내부의 온도를 제어하기 위한 온도 제어부(500)를 본체(100)의 외측면에 설치하고, 동작시킬 수도 있다.The substrate processing apparatus of the present invention may further include a temperature control unit 500 for controlling the temperature of the wall of the main body 100 or the inside of the chamber 101 after the substrate processing process or the substrate processing process, And can be operated.

온도 제어부(500)는 본체벽의 외측면에 인접하거나, 소정의 거리만큼 이격되어 배치될 수 있으며, 내부에 열매(熱媒) 또는 냉매(冷媒)가 흐를 수 있는 파이프 등을 지그재그로 휘어지게 배치하는 것이 바람직하다. 온도 제어부(500)는 기판처리 공정 중에 기판(10) 상에서 휘발되는 물질, 챔버(101)에 공급되고 배출되는 물질 등이 본체(100)의 내벽에 응축되지 않도록 본체(100)의 내벽 온도를 소정의 온도로 유지하는 역할을 할 수 있다. 바람직하게는, 본체(100)의 내벽 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있다.The temperature control unit 500 may be disposed adjacent to the outer surface of the main body wall or spaced apart from the outer surface of the main body wall by a predetermined distance and may be disposed in a zigzag fashion such as a pipe through which a heat medium or a refrigerant . The temperature control unit 500 controls the temperature of the inner wall of the main body 100 to a predetermined value so that the substance volatized on the substrate 10 during the substrate processing process and the substances supplied to and discharged from the chamber 101 are not condensed on the inner wall of the main body 100, Lt; RTI ID = 0.0 > temperature. ≪ / RTI > Preferably, the inner wall temperature of the main body 100 can be maintained at 50 캜 to 250 캜.

온도 제어부(500)는 본체(100) 모든 외측면 상에 배치될 수 있으나, 본체(100)의 내벽 온도를 소정의 온도로 유지하는 본 발명의 목적에 달성되는 범위 내에서, 본체(100)의 일부 외측면에는 온도 제어부(500)의 배치가 생략될 수도 있다.The temperature control unit 500 may be disposed on all the outer surfaces of the main body 100. The temperature control unit 500 may be disposed on the outer surface of the main body 100 such that the temperature of the inner wall of the main body 100 is maintained at a predetermined temperature, The arrangement of the temperature control unit 500 may be omitted on some outer surfaces.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 온도 제어부(500)의 동작을 나타내는 개략도이다.4 is a schematic diagram showing the operation of the temperature controller 500 according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 온도 제어부(500), 본체벽 가열 모듈(600) 및 본체벽 냉각 모듈(700) 중간에는 3 웨이 밸브(3 way valve; 3WV)가 설치될 수 있다. 본체벽 가열 모듈(600)은 냉각수(Process Cooling Water, PCW)의 온도를 순간적으로 올릴 수 있는 열 교환기를 포함하여, 냉각수를 가열하여 공급하는 장치로 이해될 수 있고, 본체벽 냉각 모듈(700)은 냉각수를 공급하는 장치로 이해될 수 있다.Referring to FIG. 4, a 3-way valve (3WV) may be installed between the temperature controller 500, the main body wall heating module 600 and the main body wall cooling module 700. The main body wall heating module 600 can be understood as an apparatus for heating and supplying the coolant including a heat exchanger capable of instantly raising the temperature of the process cooling water PCW, Can be understood as an apparatus for supplying cooling water.

일 예로, 기판처리 공정시에는 챔버(101)[또는 본체(100)] 내부의 기판 프로세싱 온도가 80℃에서 150℃, 150℃에서 250℃, 250℃에서 350℃ 등으로 단계적으로 상승할 수 있다. 기판 프로세싱 초기에는 챔버(101) 내부의 기판 프로세싱 온도가 80℃ 정도이기 때문에 본체(10) 내벽의 온도는 상대적으로 더 낮은 60 ~ 80℃ 미만일 수 있고, 증발대역을 80 ~ 150℃정도로 갖는 휘발성 물질 중 하나인 NMP는 본체(100) 내벽에 응축될 가능성이 높다. 따라서, 기판 프로세싱 초기에는 3 웨이 밸브(3WV)를 제어하여 본체벽 가열 모듈(600)로부터 온도 제어부(500)에 냉각수를 가열하여 공급함으로써(P1), 본체벽의 온도를 NMP의 최소 증발대역인 80℃ 이상으로 유지할 수 있다.As an example, in the substrate processing process, the substrate processing temperature inside the chamber 101 (or the main body 100) may rise step by step from 80 占 폚 to 150 占 폚, 150 占 폚 to 250 占 폚, 250 占 폚 to 350 占 폚, . At the beginning of the substrate processing, the substrate processing temperature inside the chamber 101 is about 80 DEG C, so that the temperature of the inner wall of the main body 10 may be lower than 60 to 80 DEG C and the volatile substance having the evaporation zone of about 80 to 150 DEG C The NMP is likely to be condensed on the inner wall of the main body 100. Accordingly, at the initial stage of the substrate processing, by controlling the three-way valve 3WV to supply the cooling water from the main body wall heating module 600 to the temperature control unit 500 (P1), the temperature of the main wall is reduced to the minimum evaporation zone of the NMP It can be maintained at 80 DEG C or higher.

본체 발열부(250)는 온도 제어부(500)를 사용하는 것보다 본체벽의 온도를 빠르게 제어할 수 있으므로, 본체(100) 내벽에 휘발성 물질이 응축되는 것을 보다 효과적으로 방지할 수 있다. 즉, 본체 발열부(250)를 제어하여 본체벽의 온도를 NMP의 최소 증발대역인 80℃ 이상으로 빠르게 유지할 수 있다. 물론, 본체 발열부(250) 및 온도 컨트롤러(500)를 조합하여 사용하는 것도 가능하다.The main body heat generating unit 250 can control the temperature of the main body wall more quickly than the temperature control unit 500 and can effectively prevent volatile substances from condensing on the inner wall of the main body 100. That is, the temperature of the main body wall can be maintained at 80 ° C or more, which is the minimum evaporation zone of NMP, by controlling the main body heat generating unit 250. Of course, it is also possible to use a combination of the main body heat generating unit 250 and the temperature controller 500.

챔버(101) 내부의 기판 프로세싱 온도가 300℃ 이하인 경우에는 본체벽 가열 모듈(600)을 작동시키고, 챔버(101) 내부의 기판처리 온도가 300℃를 초과하게 되면, 3웨이 밸브(3WV)를 제어하여 본체벽 냉각 모듈(700)로부터 온도 제어부(500)에 냉각수를 공급함으로써(P2), 본체벽의 온도를 NMP의 최소 증발대역인 80℃ 이상으로 유지할 수 있다. 물론, 챔버(101) 내부의 기판처리 온도가 300℃를 초과하게 되면 굳이 온도 제어부(500)에 냉각수를 공급하지 않더라도 본체벽의 온도가 80℃이상이 될 수 있으나, 본체벽의 온도가 너무 상승하여 휘발성 물질의 증발대역인 80 ~ 250℃를 넘어서게 되면 본체벽의 뒤틀림, 파손 문제가 발생할 수 있으므로, 본체벽 냉각 모듈(700)을 통해 온도 제어부(500)에 적절하게 냉각수를 공급하는 것이 필요하다. 다시 말해, 챔버(101) 내부의 기판처리 온도가 300℃ 이하이면 본체벽 가열 모듈(600)을 작동시키고, 챔버(101) 내부의 기판처리 온도가 300℃를 초과하면 본체벽 쿨링 모듈(700)을 작동시켜, 본체(100)의 내벽의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지할 수 있는 것이다.The main body wall heating module 600 is operated when the substrate processing temperature inside the chamber 101 is 300 DEG C or less and the 3-way valve 3WV is operated when the substrate processing temperature inside the chamber 101 exceeds 300 DEG C (P2) by supplying cooling water from the main body wall cooling module 700 to the temperature control unit 500. The temperature of the main wall can be maintained at 80 ° C or more, which is the minimum evaporation zone of NMP. Of course, if the substrate processing temperature in the chamber 101 exceeds 300 ° C, the temperature of the main body wall may be 80 ° C or more even if the cooling water is not supplied to the temperature control unit 500. However, It is necessary to properly supply the cooling water to the temperature control unit 500 through the main body wall cooling module 700 because the wall of the main body may be distorted or broken when the temperature exceeds 80 to 250 ° C . In other words, if the substrate processing temperature inside the chamber 101 is 300 ° C or lower, the main body wall heating module 600 is operated. If the substrate processing temperature inside the chamber 101 exceeds 300 ° C, The temperature of the inner wall of the main body 100 can be maintained at 50 ° C to 250 ° C.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 도어(110)와 출입구(115)의 부분 확대 사시도이다.5 is a partially enlarged perspective view of a door 110 and an entrance 115 according to an embodiment of the present invention.

도 5를 참조하면, 도어(110)에는 도어(110)의 온도를 조절하는 수단이 설치될 수 있다. 이하에서는 와이어 히터, 플레이트 히터인 도어 발열부(230)를 도어(110)의 온도 조절 수단으로 상정하여 설명하나, 이에 제한되는 것은 아니며, 도어(110)의 온도를 조절하는 공지의 기술을 적용 가능함을 밝혀둔다.Referring to FIG. 5, the door 110 may be provided with a means for controlling the temperature of the door 110. Hereinafter, the door heating unit 230, which is a wire heater and a plate heater, is assumed to be a temperature control unit of the door 110, but the present invention is not limited thereto, and a known technology for controlling the temperature of the door 110 may be applied .

도어(110)는 출입구(115)가 실링될 수 있도록 실링부재(116)를 개재하며, 본체(100)의 일면[즉, 출입구(115)가 형성된 면]에 설치될 수 있다. 도면(110)과 출입구(115)가 접하는 본체(100)의 부분(IC), 즉, 계면 부분(IC)은 챔버(101) 외부와 챔버(101) 내부의 온도차에 의해 보다 많은 양의 가스, 물질 등이 응축될 수 있다. 물론, 본체(100)의 내측면을 따라 응축된 액적을 흘러내리게 할 수 있으나, 많은 양으로 인해, 계면 부분(IC)에서 액적이 잔존할 가능성이 높다.The door 110 may be installed on one surface of the main body 100 (that is, the surface on which the entrance 115 is formed) through the sealing member 116 so that the entrance 115 can be sealed. The portion IC of the main body 100 in which the drawing 110 and the entrance 115 are in contact with each other, that is, the interfacial portion IC, is increased by a temperature difference between the outside of the chamber 101 and the inside of the chamber 101, Materials, etc. may condense. Of course, condensed droplets can flow down along the inner surface of the main body 100, but there is a high possibility that a droplet will remain in the interface portion IC due to a large amount.

따라서, 도어(110)에 도어(110)의 온도를 조절하는 수단, 즉, 도어 발열체(230)을 설치함으로써, 도어(110)와 출입구(115)가 접하는 본체(100)의 부분(IC)의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하도록 열을 발생시킬 수 있다. 50℃ 내지 250℃ 온도가 유지되므로, 챔버(101) 내벽에 가스, 물질이 응축되지 않고 기화될 수 있다. 그리하여, 액적이 잔존할 가능성이 높은 도어(110)와 출입구(115)가 접하는 본체(100)의 부분(IC)에서의 오염을 방지할 수 있는 효과가 있다.Therefore, by providing the door 110 with the means for regulating the temperature of the door 110, that is, the door heating body 230, the door 110 can be prevented from being in contact with the portion IC of the main body 100, Heat can be generated to maintain the temperature between 50 ° C and 250 ° C. Since the temperature of 50 to 250 占 폚 is maintained, gas and material can be vaporized on the inner wall of the chamber 101 without condensation. Thus, there is an effect that contaminants in the portion (IC) of the main body 100 where the door 110, which is likely to remain a droplet, and the entrance 115 are in contact with each other can be prevented.

한편, 본 발명의 기판처리 장치는 응축된 가스를 배출하기 위한 수단을 더 구비할 수 있다. 이하에서는 도 6 및 도 7을 참조하여 설명한다.Meanwhile, the substrate processing apparatus of the present invention may further comprise means for discharging the condensed gas. The following description will be made with reference to Figs. 6 and 7. Fig.

도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 가스 공급부(300) 및 가스 배출부(400)를 나타내는 단면도이다. 도 6의 (a)는 가스 공급부(300), 도 6의 (b)는 가스 배출부(400)를 나타낸다.6 is a cross-sectional view illustrating a gas supply unit 300 and a gas discharge unit 400 according to an embodiment of the present invention. 6 (a) shows a gas supply part 300, and FIG. 6 (b) shows a gas discharge part 400. FIG.

챔버(101)의 외부 일측면[일 예로, 좌측면] 및 외부 타측면[일 예로, 우측면]에 연결된 가스 공급부(300)와 가스 배출부(400)는 외부의 낮은 온도의 영향을 받아 가스가 쉽게 응축될 수 있다. 응축된 가스는 가스 공급부(300)의 관에 응축되어 있다가 기판처리 공정시에 기판처리 가스의 공급과 더불어 챔버(101) 내부로 토출되면서 기판의 오염을 발생할 수 있는 문제점이 있다.The gas supply part 300 and the gas discharge part 400 connected to the outer side surface (for example, the left side surface) and the outer side surface (for example, the right side surface) of the chamber 101 are affected by the low external temperature, Can easily be condensed. The condensed gas is condensed in the pipe of the gas supply unit 300 and is discharged into the chamber 101 together with the supply of the substrate processing gas during the substrate processing process, thereby causing contamination of the substrate.

따라서, 도 6의 (a)에 도시된 바와 같이, 가스 공급부(300)는 응축된 가스[또는, 응축된 휘발성 물질]을 배출할 수 있는 드레인 포트(drain port; 330)를 더 구비할 수 있다. 드레인 포트(330)는 단순히 응축된 액적을 흘러 내보내는 통로일 수도 있고, 펌프(미도시) 등과 연결되어 공기를 흡입할 수 있는 석션(suction) 기능을 갖출 수도 있다. 가스 공급관(320)을 통해서 가스를 공급(g)하고, 가스 공급부(300) 내부에서 응축된 가스 등은 드레인 포트(330)를 통해 배출(d)할 수 있다.6 (a), the gas supply unit 300 may further include a drain port 330 capable of discharging the condensed gas (or condensed volatile substance) . The drain port 330 may be a passage through which condensed droplets flow, or may be connected to a pump (not shown) to have a suction function to suck air. The gas may be supplied through the gas supply pipe 320 and the condensed gas may be discharged through the drain port 330 in the gas supply unit 300.

가스 배출부(400) 역시 가스 공급부(300)와 동일하게 가스 배출관(420)에 드레인 포트(미도시)가 연결된 구성을 가질 수 있다.The gas discharge unit 400 may also have a drain port (not shown) connected to the gas discharge pipe 420 in the same manner as the gas supply unit 300.

한편, 도 6의 (b)에 도시된 바와 같이, 가스 배출부(400)는 챔버(101) 내부의 가스를 외부로 배출(g)하는 역할을 하므로, 따로 드레인 포트(미도시)를 구비할 필요없이, 가스 배출관(420)의 단부(430)가 드레인 포트의 역할을 겸할 수 있도록, 챔버(101) 내부의 가스를 외부로 배출(g)함과 동시에 가스 배출부(400) 내부에서 응축된 가스 등을 외부로 같이 배출(d)할 수 있다.6 (b), since the gas discharging unit 400 serves to discharge the gas inside the chamber 101 to the outside, the gas discharging unit 400 is provided with a drain port (not shown) The gas inside the chamber 101 is discharged (g) to the outside so that the end portion 430 of the gas discharge pipe 420 can also serve as a drain port without condensation Gas (d) can be discharged to the outside.

도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 기판처리 장치에 배출공(140: 140a, 140b, 140c)이 형성된 형태를 나타내는 사시도이다.FIG. 7 is a perspective view showing a state where a discharge hole 140 (140a, 140b, 140c) is formed in a substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 챔버(101)의 적어도 하나의 측면, 구체적으로는 도 5를 참조하여 설명한 가스 공급부(300) 및 가스 배출부(400)가 배치되는 챔버(101)의 좌측면 및 우측면을 제외한 측면에 복수개의 배출공(140: 140a, 140b, 140c)이 형성될 수 있다. 배출공(140)은 외부에 배치된 펌핑 수단(미도시)에 연결되어 챔버(101) 내부의 응축된 물질을 효과적으로 배출할 수 있다.7, the left and right sides of the chamber 101 in which at least one side of the chamber 101, specifically the gas supply unit 300 and the gas discharge unit 400 described with reference to FIG. 5, A plurality of exhaust holes 140 (140a, 140b, 140c) may be formed on the side excluding the side surface. The discharge hole 140 may be connected to an externally disposed pumping means (not shown) to effectively discharge the condensed material inside the chamber 101.

본체(100)의 내측(100a, 100b, 100c)에서 응축된 액적이 중력에 의해서 내측(100a, 100b, 100c)을 따라 흘러내릴 수 있음에도 불구하고, 본체(100)의 내측면(100a, 100b, 100c) 상에 잔존하는 상황이 발생할 수 있다. 따라서, 내측면(100a, 100b, 100c) 상에 복수개의 배출공(140)을 형성하여, 가스가 응축되어 챔버(101)의 내벽에서 잔존하는 상황이 발생하더라도, 배출공(140)을 통해 외부로 방출함으로써, 챔버(101) 내벽의 오염을 더욱 효과적으로 방지하고, 제품의 신뢰성 및 수율을 보다 증대시킬 수 있는 이점이 있다.100b, and 100c of the main body 100, although the droplets condensed in the inside 100a, 100b, and 100c of the main body 100 may flow downward along the inside 100a, 100b, and 100c by gravity, Lt; RTI ID = 0.0 > 100c. ≪ / RTI > Accordingly, even if a plurality of discharge holes 140 are formed on the inner surfaces 100a, 100b and 100c so that the gas is condensed and remains on the inner wall of the chamber 101, The contamination of the inner wall of the chamber 101 can be prevented more effectively, and the reliability and yield of the product can be further increased.

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판처리 장치의 본체(100)의 형상을 나타내는 개략도이다.8 is a schematic view showing the shape of a main body 100 of a substrate processing apparatus according to another embodiment of the present invention.

본 발명의 기판처리 장치는 본체(100)의 하부(BC)는 하부 상단(BC1)에서 하부 하단(BC2)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지고, 본체(100)의 상부(TC)는 상부 하단(TC2)에서 상부 상단(TC1)으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 구비하여, 응축된 액적이 중력에 의해서 본체(100)의 내측을 따라 흘러내릴 수 있도록 한다면, 그 형상에 있어서 제한은 없다. 정단면이 육각형인 형상뿐만 아니라, 도 8과 같이 정단면이 팔각형 또는 그 이상의 다각형으로 구성될 수도 있다.The substrate processing apparatus of the present invention has a shape such that the bottom area BC of the main body 100 has a reduced area in the area from the lower end BC1 to the lower end BC2, If the condensed droplet is allowed to flow downward along the inner side of the main body 100 by the gravity, it is possible to reduce the size of the area There is no limitation. It may be configured not only as a hexagonal positive section but also as an octagonal or more polygonal section as shown in Fig.

그리고, 정단면이 육각형 이상의 다각형으로 구성되면, 본체(100)의 면과 면이 접하는 모서리 부분에 본체 히터(250: 250a, 250b, 250c, 250d)가 각각 배치될 수 있다.The main heater 250 (250a, 250b, 250c, 250d) may be disposed at an edge portion where the surface of the main body 100 is in contact with the surface.

본 발명은 상술한 바와 같이 바람직한 실시예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기 실시예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형과 변경이 가능하다. 그러한 변형예 및 변경예는 본 발명과 첨부된 특허청구범위의 범위 내에 속하는 것으로 보아야 한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken in conjunction with the present invention. Variations and changes are possible. Such variations and modifications are to be considered as falling within the scope of the invention and the appended claims.

100: 본체
101: 챔버
110: 도어
120: 보강리브
130: 배출 수단
140: 배출공
200: 발열부
210: 주 발열부
220: 보조 발열부
230: 도어 발열부
250: 본체 발열부
300: 가스 공급부
400: 가스 배출부
500: 냉각부
BC: 본체 하부
BC1: 본체 하부 상단
BC2: 본체 하부 하단
TC: 본체 상부
TC1: 본체 상부 상단
TC2: 본체 상부 하단
a, b: 각도
100:
101: chamber
110: Door
120: reinforcing rib
130: discharge means
140: Exhaust hole
200:
210: Main heating part
220: auxiliary heating part
230: Door heating part
250:
300: gas supply part
400: gas discharge portion
500: cooling section
BC: Lower part of main body
BC1: Lower part of main body
BC2: Lower part of main body lower part
TC: Body top
TC1: upper body top
TC2: Lower part of main body
a, b: angle

Claims (14)

기판 상의 물질을 기화시키거나 건조시키는 기판처리 장치로서,
기판처리 공간을 제공하는 챔버를 포함하는 본체;
상기 챔버 내부를 가열하는 발열부; 및
상기 본체의 내측면과 상기 본체의 상부면이 접하는 모서리, 또는 상기 본체의 내측면과 상기 본체의 하부면이 접하는 모서리 중 적어도 어느 하나에 배치되는 본체 발열부
를 포함하며,
상기 본체의 하부는 하부 상단에서 하부 하단으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지는, 기판처리 장치.
A substrate processing apparatus for vaporizing or drying a substance on a substrate,
A body including a chamber for providing a substrate processing space;
A heating unit for heating the inside of the chamber; And
Wherein the main body heat generating portion is disposed at an edge where the inner surface of the main body contacts the upper surface of the main body or at an edge where the inner surface of the main body and the lower surface of the main body come into contact with each other,
/ RTI >
Wherein the lower portion of the main body has a shape in which the size of the flat surface area decreases from the lower end to the lower end.
제1항에 있어서,
상기 본체의 상부는 상부 하단에서 상부 상단으로 갈수록 평단면적의 크기가 작아지는 형상을 가지는, 기판처리 장치.
The method according to claim 1,
Wherein an upper portion of the main body has a shape in which the size of a flat area decreases from an upper lower end to an upper upper end.
제2항에 있어서,
상기 본체의 최상단 모서리 또는 상기 본체의 최하단 모서리 중 적어도 어느 하나에 상기 본체 발열부가 더 배치되는, 기판처리 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the main body heat generating portion is further disposed on at least one of the uppermost edge of the main body or the lowermost edge of the main body.
제1항에 있어서,
상기 본체는 정단면의 형상이 육각형인, 기판처리 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the main body has a hexagonal shape in the front section.
제2항에 있어서,
상기 본체의 상부 또는 상기 본체의 하부는 각뿔(pyramid) 형상인, 기판처리 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein an upper portion of the main body or a lower portion of the main body has a pyramid shape.
제1항에 있어서,
상기 물질이 상기 본체 내측면에서 응집되고, 상기 내측면을 따라 흘러내림으로써, 상기 본체의 하단으로 포집되는, 기판처리 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the material is collected at the lower end of the body by being agglomerated at the inner side of the body and flowing down along the inner side.
제1항에 있어서,
상기 본체 발열부는, 상기 챔버 내에서 기화되거나 건조되는 기판 상의 물질이 상기 본체의 내측면에 응축되지 않도록, 상기 본체의 상기 내측면의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하는, 기판처리 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the main body heat generating portion maintains the temperature of the inner surface of the main body at 50 to 250 DEG C so that the material on the substrate to be vaporized or dried in the chamber is not condensed on the inner surface of the main body.
제1항에 있어서,
상기 본체의 외측면에 배치되며 상기 본체 내측면의 온도를 제어하는 온도 제어부를 더 포함하고,
상기 본체의 전면에는 상기 기판이 출입하는 출입구가 형성되고, 상기 출입구를 개폐하는 도어가 설치되며,
상기 도어에는 상기 도어의 온도를 조절하는 수단이 설치된, 기판처리 장치.
The method according to claim 1,
And a temperature control unit disposed on an outer surface of the main body and controlling the temperature of the inner surface of the main body,
A door for opening and closing the door is provided on the front surface of the main body,
Wherein the door is provided with a means for controlling the temperature of the door.
제8항에 있어서,
상기 온도 제어부는, 상기 챔버 내에서 기화되거나 건조되는 기판 상의 물질이 상기 본체의 내측면에 응축되지 않도록, 상기 본체의 상기 내측면의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하고,
상기 도어의 온도를 조절하는 수단은, 상기 도어와 상기 출입구가 접하는 상기 본체의 부분에 상기 물질이 응축되지 않도록, 상기 도어와 상기 출입구가 접하는 상기 본체의 부분의 온도를 50℃ 내지 250℃로 유지하는, 기판처리 장치.
9. The method of claim 8,
Wherein the temperature control unit maintains the temperature of the inner surface of the body at 50 DEG C to 250 DEG C so that the substance on the substrate that is vaporized or dried in the chamber is not condensed on the inner surface of the body,
The temperature of the door is controlled to maintain the temperature of the portion of the main body in contact with the door and the door at 50 to 250 DEG C so that the material is not condensed in the portion of the main body in contact with the door and the doorway The substrate processing apparatus.
제7항 또는 제9항에 있어서,
상기 물질은 휘발성 물질로서, 50℃ 내지 250℃에서 기화되는 물질인, 기판처리 장치.
10. The method according to claim 7 or 9,
Wherein the material is a volatile material that is vaporized at 50 占 폚 to 250 占 폚.
제1항에 있어서,
상기 발열부 및 상기 본체 발열부는 상기 챔버의 일측면에서 타측면까지 연통되는 바(bar) 형상의 발열체를 포함하는, 기판처리 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the heating unit and the main body heat generating unit include bar-shaped heating elements communicating from one side to the other side of the chamber.
제1항에 있어서,
상기 챔버의 외부 일측면에 연결되어 상기 챔버 내에 기판처리 가스를 공급하는 가스 공급부; 및
상기 챔버의 외부 타측면에 연결되어 상기 챔버 내의 기판처리 가스를 외부로 배출하는 가스 배출부
를 더 포함하는, 기판처리 장치.
The method according to claim 1,
A gas supply connected to one external side of the chamber to supply substrate processing gas into the chamber; And
A gas discharge port connected to the other outer side surface of the chamber for discharging the substrate processing gas in the chamber to the outside,
Wherein the substrate processing apparatus further comprises:
제12항에 있어서,
상기 가스 공급부 또는 상기 가스 배출부 중 적어도 하나는 상기 물질을 배출하는 드레인 포트(drain port)를 더 구비한, 기판처리 장치.
13. The method of claim 12,
Wherein at least one of the gas supply unit and the gas discharge unit further comprises a drain port for discharging the substance.
제1항에 있어서,
상기 챔버의 적어도 하나의 측면에는 복수개의 물질 배출공이 형성된, 기판처리 장치.
The method according to claim 1,
And a plurality of material discharge holes are formed on at least one side surface of the chamber.
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