KR102236205B1 - 플라즈마 상태 모니터링 방법 및 그 장치 - Google Patents
플라즈마 상태 모니터링 방법 및 그 장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102236205B1 KR102236205B1 KR1020190015505A KR20190015505A KR102236205B1 KR 102236205 B1 KR102236205 B1 KR 102236205B1 KR 1020190015505 A KR1020190015505 A KR 1020190015505A KR 20190015505 A KR20190015505 A KR 20190015505A KR 102236205 B1 KR102236205 B1 KR 102236205B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- plasma
- discharge gas
- discharge
- module
- main body
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 47
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 112
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 45
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims abstract description 45
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 45
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 28
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 30
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 24
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 17
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 6
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 5
- 210000002445 nipple Anatomy 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 3
- MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N Dioxygen Chemical compound O=O MYMOFIZGZYHOMD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001636 atomic emission spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 2
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001882 dioxygen Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N nitrogen Substances N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N nitrogen(.) Chemical compound [N] QJGQUHMNIGDVPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 239000012495 reaction gas Substances 0.000 description 2
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 2
- 238000004659 sterilization and disinfection Methods 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000004887 air purification Methods 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 230000009257 reactivity Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 230000001954 sterilising effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/0006—Investigating plasma, e.g. measuring the degree of ionisation or the electron temperature
- H05H1/0012—Investigating plasma, e.g. measuring the degree of ionisation or the electron temperature using electromagnetic or particle radiation, e.g. interferometry
- H05H1/0025—Investigating plasma, e.g. measuring the degree of ionisation or the electron temperature using electromagnetic or particle radiation, e.g. interferometry by using photoelectric means
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/0006—Investigating plasma, e.g. measuring the degree of ionisation or the electron temperature
- H05H1/0012—Investigating plasma, e.g. measuring the degree of ionisation or the electron temperature using electromagnetic or particle radiation, e.g. interferometry
- H05H1/0037—Investigating plasma, e.g. measuring the degree of ionisation or the electron temperature using electromagnetic or particle radiation, e.g. interferometry by spectrometry
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/26—Plasma torches
- H05H1/28—Cooling arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/26—Plasma torches
- H05H1/32—Plasma torches using an arc
- H05H1/34—Details, e.g. electrodes, nozzles
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
Abstract
본 발명에 의하면, 플라즈마의 특성 픽 중 산소와 관련된 성분을 IR 센서를 통해 검출 및 추출한 후 모니터링 해서 플라즈마 방전의 상태를 용이하고 정확하게 판단 가능한 효과가 있다.
Description
또한, 본 발명은 방전 기체가 공급된 상태에서 내부에 설치된 방전 전극에 전원을 공급하여 형성된 플라즈마를 피처리물 상에 조사하는 플라즈마 제트 모듈; 상기 플라즈마 제트 모듈에서 조사된 플라즈마에서 나오는 광을 감지하는 광 감지모듈; 상기 광 감지모듈을 통해 감지된 광 신호에 대한 플라즈마의 특성 픽을 확인할 수 있도록 계측하는 분광기; 및 상기 분광기에서 계측된 플라즈마에서 산소와 관련된 성분에 해당하는 픽을 분석한 후 실시간으로 출력하는 출력모듈;을 포함하며, 상기 플라즈마 제트 모듈은, 접지되는 본체; 상기 본체 내부로 방전 기체가 공급된 상태에서 상기 본체 내부에 설치된 방전 전극에 전원을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 플라즈마 방전부재; 및 상기 본체의 단부에 연결되어 상기 본체로 공급된 압축 방전 기체를 고온 기류와 저온 기류를 분리하는 과정을 통해 냉각시킨 후 방전 존으로 공급하는 방전 기체 냉각부재;를 포함하되, 상기 방전 기체 냉각부재는 고온 방전 기체 배출구에 배출되지 않은 나머지 공기가 경사면에 충돌 후 방향을 바꾸어 상기 저온 방전 기체 배출구 방향으로 역류하게 하도록 조절밸브를 포함하고, 몸체가 양측으로 분할되면서 분할된 이웃면에 회전부재에 의해 길이가 조절되며, 상기 본체의 단부와 상기 방전 기체 냉각 부재의 저온 방전 기체 배출구의 사이에 연결된 접속 부재의 외면에 공급 관로의 개폐량을 나선 구조에 의해 조절하는 개폐량 조절부를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명은 a) 플라즈마 제트 모듈 내에 방전 기체가 공급된 상태에서 방전 전극에 전원을 공급하여 형성된 플라즈마를 피처리물 상에 조사하는 단계; b) 상기 플라즈마 제트 모듈에서 조사된 플라즈마에서 나오는 광을 광 감지모듈을 통해 감지하는 단계; c) 상기 광 감지모듈을 통해 감지된 광 신호에 대한 플라즈마의 특성 픽을 분광기에서 계측하는 단계; 및 d) 상기 분광기에서 계측된 플라즈마에서 산소와 관련된 성분에 해당하는 픽을 분석한 후 출력모듈을 통해 실시간으로 출력하는 단계;를 포함하며, 상기 a) 단계 수행시 상기 플라즈마 제트 모듈은, 접지되는 본체; 상기 본체 내부로 방전 기체가 공급된 상태에서 상기 본체 내부에 설치된 방전 전극에 전원을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 플라즈마 방전부재; 및 상기 본체의 단부에 연결되어 상기 본체로 공급된 압축 방전 기체를 고온 기류와 저온 기류를 분리하는 과정을 통해 냉각시킨 후 방전 존으로 공급하는 방전 기체 냉각부재;를 포함하되, 상기 방전 기체 냉각부재에 구비된 조절밸브를 통해 고온 방전 기체 배출구에 배출되지 않은 나머지 공기가 경사면에 충돌 후 방향을 바꾸어 상기 저온 방전 기체 배출구 방향으로 역류하게 하도록 안내하고, 몸체가 양측으로 분할되면서 분할된 이웃면에 회전부재에 의해 길이가 조절되며, 상기 본체의 단부와 상기 방전 기체 냉각 부재의 저온 방전 기체 배출구의 사이에 연결된 접속 부재의 외면에 나선 구조로 결합된 개폐량 조절부가 구비되어 공급 관로의 개폐량을 조절할 수 있다.
도 2는 본 발명의 플라즈마 상태 모니터링 장치에서 플라즈마 제트 모듈을 도시한 분해사시도이다.
도 3은 본 발명의 플라즈마 상태 모니터링 장치에서 플라즈마 제트 모듈을 도시한 단면도이다.
도 4는 본 발명의 플라즈마 상태 모니터링 장치에서 플라즈마 제트 모듈의 방전 기체 냉각부재를 도시한 단면도이다.
도 5는 도 4의 방전 기체 냉각부재에서 몸체 길이 조절이 가능한 구조를 도시한 개략도이다.
도 6은 본 발명의 플라즈마 상태 모니터링 장치에서 출력모듈의 구성을 보다 상세하게 나타낸 블록도이다.
도 7은 본 발명의 플라즈마 상태 모니터링 방법을 도시한 블록도이다.
도 8은 본 발명의 플라즈마 상태 모니터링 방법을 설명하기 위해 발생된 플라즈마의 분광분석을 나타낸 그래프이다.
도 9는 본 발명의 플라즈마 상태 모니터링 방법을 설명하기 위해 플라즈마 세기가 정상인 경우의 노멀 존(Normal zone)과, 플라즈마 세기가 비정상인 경우 알람 존(Alarm zone)을 나타낸 그래프이다.
100: 플라즈마 제트 모듈 110: 본체
112: 그라운드 링 120: 유전체
130: 플라즈마 방전부재 132: 방전 전극
134: 팁 136: 스크류
140: 접속부재 150: 니플
160: 방전 기체 냉각부재 161: 몸체
162: 유입구 163: 와류 형성부
164: 고온 방전 기체 배출구 165: 조절밸브
166: 저온 방전 기체 배출구 170a, 170b: 커버
200: 광 감지모듈 300: 분광기
400: 출력모듈 A: 피처리물
P: 플라즈마
Claims (8)
- 방전 기체가 공급된 상태에서 내부에 설치된 방전 전극에 전원을 공급하여 형성된 플라즈마를 피처리물 상에 조사하는 플라즈마 제트 모듈;
상기 플라즈마 제트 모듈에서 조사된 플라즈마에서 나오는 광을 감지하는 광 감지모듈;
상기 광 감지모듈을 통해 감지된 광 신호에 대한 플라즈마의 특성 픽을 확인할 수 있도록 계측하는 분광기; 및
상기 분광기에서 계측된 플라즈마에서 산소와 관련된 성분에 해당하는 픽을 분석한 후 실시간으로 출력하는 출력모듈;을 포함하며,
상기 플라즈마 제트 모듈은, 접지되는 본체; 상기 본체 내부로 방전 기체가 공급된 상태에서 상기 본체 내부에 설치된 방전 전극에 전원을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 플라즈마 방전부재; 및 상기 본체의 단부에 연결되어 상기 본체로 공급된 압축 방전 기체를 고온 기류와 저온 기류를 분리하는 과정을 통해 냉각시킨 후 방전 존으로 공급하는 방전 기체 냉각부재;를 포함하되, 상기 방전 기체 냉각부재는 고온 방전 기체 배출구에 배출되지 않은 나머지 공기가 경사면에 충돌 후 방향을 바꾸어 저온 방전 기체 배출구 방향으로 역류하게 하도록 조절밸브를 포함하고, 몸체가 양측으로 분할되면서 분할된 이웃면에 회전부재에 의해 길이가 조절되며,
상기 본체의 단부와 상기 방전 기체 냉각 부재의 저온 방전 기체 배출구의 사이에 연결된 접속 부재의 외면에 공급 관로의 개폐량을 나선 구조에 의해 조절하는 개폐량 조절부를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 상태 모니터링 장치.
- 제1항에 있어서,
상기 광 감지모듈은 IR 센서, UV 센서 및 광 파이버(Optical Fiber) 중 어느 하나인 것을 특징으로 하는 플라즈마 상태 모니터링 장치.
- 삭제
- 제1항에 있어서, 상기 출력모듈은,
상기 플라즈마의 특성 픽 중 산소 픽의 세기를 분석하는 분석부; 및
상기 분석부에서 분석된 산소 픽 정보를 화면상에 표시하는 표시부를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 상태 모니터링 장치.
- a) 플라즈마 제트 모듈 내에 방전 기체가 공급된 상태에서 방전 전극에 전원을 공급하여 형성된 플라즈마를 피처리물 상에 조사하는 단계;
b) 상기 플라즈마 제트 모듈에서 조사된 플라즈마에서 나오는 광을 광 감지모듈을 통해 감지하는 단계;
c) 상기 광 감지모듈을 통해 감지된 광 신호에 대한 플라즈마의 특성 픽을 분광기에서 계측하는 단계; 및
d) 상기 분광기에서 계측된 플라즈마에서 산소와 관련된 성분에 해당하는 픽을 분석한 후 출력모듈을 통해 실시간으로 출력하는 단계;를 포함하며,
상기 a) 단계 수행시 상기 플라즈마 제트 모듈은, 접지되는 본체; 상기 본체 내부로 방전 기체가 공급된 상태에서 상기 본체 내부에 설치된 방전 전극에 전원을 공급하여 플라즈마를 발생시키는 플라즈마 방전부재; 및 상기 본체의 단부에 연결되어 상기 본체로 공급된 압축 방전 기체를 고온 기류와 저온 기류를 분리하는 과정을 통해 냉각시킨 후 방전 존으로 공급하는 방전 기체 냉각부재;를 포함하되, 상기 방전 기체 냉각부재에 구비된 조절밸브를 통해 고온 방전 기체 배출구에 배출되지 않은 나머지 공기가 경사면에 충돌 후 방향을 바꾸어 저온 방전 기체 배출구 방향으로 역류하게 하도록 안내하고, 몸체가 양측으로 분할되면서 분할된 이웃면에 회전부재에 의해 길이가 조절되며,
상기 본체의 단부와 상기 방전 기체 냉각 부재의 저온 방전 기체 배출구의 사이에 연결된 접속 부재의 외면에 나선 구조로 결합된 개폐량 조절부가 구비되어 공급 관로의 개폐량을 조절하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 상태 모니터링 방법.
- 제5항에 있어서,
상기 a) 단계 수행시 상기 플라즈마 제트 모듈 내부로 공급된 압축 방전 기체를 고온 기류와 저온 기류를 분리하는 과정을 통해 냉각시킨 후 방전 존(zone)으로 공급하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 상태 모니터링 방법.
- 제5항에 있어서,
상기 b) 단계 수행시 상기 플라즈마 제트 모듈에서 조사된 플라즈마에서 나오는 광은 IR 센서에 의한 IR 영역 또는 UV 센서에 의한 UV 영역에 대해 감지하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 상태 모니터링 방법.
- 제5항에 있어서,
상기 d) 단계 수행시 상기 출력모듈에서 플라즈마의 특성 중 산소 픽의 세기를 분석하여 산소 픽 세기에 따라 정상과 낮음을 구분하도록 알람 신호가 출력되는 것을 특징으로 하는 플라즈마 상태 모니터링 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190015505A KR102236205B1 (ko) | 2019-02-11 | 2019-02-11 | 플라즈마 상태 모니터링 방법 및 그 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020190015505A KR102236205B1 (ko) | 2019-02-11 | 2019-02-11 | 플라즈마 상태 모니터링 방법 및 그 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20200097986A KR20200097986A (ko) | 2020-08-20 |
KR102236205B1 true KR102236205B1 (ko) | 2021-04-05 |
Family
ID=72242819
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020190015505A KR102236205B1 (ko) | 2019-02-11 | 2019-02-11 | 플라즈마 상태 모니터링 방법 및 그 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102236205B1 (ko) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013152913A (ja) * | 2012-01-25 | 2013-08-08 | Osamu Ikeda | プラズマ発生装置用冷却器 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08111298A (ja) * | 1994-10-12 | 1996-04-30 | Jeol Ltd | 熱プラズマ装置 |
KR100715292B1 (ko) * | 2005-06-04 | 2007-05-08 | 재단법인서울대학교산학협력재단 | 소재용융 공정용 고출력 공동형 플라즈마 토치 |
KR20070048448A (ko) * | 2005-11-04 | 2007-05-09 | 삼성전자주식회사 | 플라즈마 공정을 모니터링하는 반도체 제조 장치 |
KR100891376B1 (ko) * | 2007-03-21 | 2009-04-02 | 차동호 | 셀프 플라즈마 챔버와 결합하여 플라즈마 공정장치에서공정진행상태를 실시간으로 모니터하고 이상 여부를검출하는 복합센서 |
KR101212460B1 (ko) | 2010-10-15 | 2012-12-18 | 한국과학기술원 | 플라즈마를 이용한 레이저 가공상태 모니터링 장치 및 방법 |
-
2019
- 2019-02-11 KR KR1020190015505A patent/KR102236205B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013152913A (ja) * | 2012-01-25 | 2013-08-08 | Osamu Ikeda | プラズマ発生装置用冷却器 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20200097986A (ko) | 2020-08-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4754757B2 (ja) | 基板のプラズマ処理を調節するための方法、プラズマ処理システム、及び、電極組体 | |
Pellerin et al. | A spectroscopic diagnostic method using UV OH band spectrum | |
KR102704030B1 (ko) | 플라즈마 반응을 모니터링하기 위한 광학 시스템 및 반응기 | |
US6012326A (en) | Detection of volatile substances | |
JP4963360B2 (ja) | 携帯型大気圧プラズマ発生装置 | |
WO2004032177A2 (en) | Apparatus and method for use of optical system with plasma proc essing system | |
US20160300699A1 (en) | Apparatus for optical emission spectroscopy and plasma treatment apparatus | |
JP5987968B2 (ja) | 放電イオン化電流検出器及びその調整方法 | |
CN101137267A (zh) | 等离子体发生装置及使用这种装置的工件处理装置 | |
JP2002503807A (ja) | マイクロ波誘導プラズマ元素センサ | |
Joh et al. | Electrical and optical characterization of atmospheric-pressure helium plasma jets generated with a pin electrode: Effects of the electrode material, ground ring electrode, and nozzle shape | |
KR101591961B1 (ko) | 플라즈마 처리 챔버의 플라즈마 상태 분석 장치 및 방법 | |
KR102236205B1 (ko) | 플라즈마 상태 모니터링 방법 및 그 장치 | |
Imran et al. | Spectroscopic investigation of atmospheric pressure cold plasma jet produced in dielectric barrier discharge | |
EP3467474B1 (en) | Detector protection in an optical emission spectrometer | |
US20130221972A1 (en) | Discharge ionization current detector | |
US20090103074A1 (en) | Methods for Performing Quality Control of Process to Treat a Surface | |
KR101663032B1 (ko) | 공정 모니터링 장치와 이를 구비한 반도체 공정 설비, 그리고 이를 이용한 공정 모니터링 방법 | |
JP2006501681A (ja) | プラズマ処理システム及び方法 | |
JP6795095B2 (ja) | プラズマ発生装置、これを備えた発光分析装置及び質量分析装置、並びに、装置状態判定方法 | |
JP2012011341A (ja) | 光照射装置 | |
RU2252412C2 (ru) | Способ эмиссионного спектрального анализа состава вещества и устройство для его осуществления | |
JP2010197080A (ja) | 誘導結合プラズマ分析装置 | |
US20160123912A1 (en) | Method For Evaluating Arc-Resistance Performance And Arc-Resistance Performance Evaluation Device | |
Iordanova | Spectroscopic temperature measurements in hydrogen inductively-driven plasmas at low pressures |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20190211 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20200514 Patent event code: PE09021S01D |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20210313 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20210330 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20210330 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration |