KR102224464B1 - Socket for Test - Google Patents

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KR102224464B1
KR102224464B1 KR1020200184106A KR20200184106A KR102224464B1 KR 102224464 B1 KR102224464 B1 KR 102224464B1 KR 1020200184106 A KR1020200184106 A KR 1020200184106A KR 20200184106 A KR20200184106 A KR 20200184106A KR 102224464 B1 KR102224464 B1 KR 102224464B1
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KR
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regulating
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pressing member
biasing
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KR1020200184106A
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Inventor
테츠야 오기우라
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가부시키가이샤 에스디케이
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Abstract

The present invention is to provide a measurement socket, which performs reliable conduction and optical axis alignment by accurately positioning an electro-optical component. According to one aspect of the present invention, the measurement socket which uses an electro-optical component as an object to be measured, comprises: a base having a recess for accommodating an electro-optical component; a pressing member for pushing the electro-optical component to a reference wall; a force applying means for applying the pressing member toward the reference wall; and a regulation member for applying a regulating force for enduring an applied force of the force applying means on the basis of an operation of a cover covered on the base. When the cover is opened, the regulating force is applied to the force applying means by the regulation member to move the pressing member in a direction away from the reference wall. Also, when the cover is closed, the regulating force is attenuated in accordance with the relative distance between the cover and the base, to move the pressing member in a direction closer to the reference wall by the applied force of the force applying means.

Description

측정용 소켓{Socket for Test}Socket for Test {Socket for Test}

본 발명은 전자 광학 부품의 도통 검사나 특성 측정 등을 할 때에 사용되는 측정용 소켓에 관한 것이다.[0001] The present invention relates to a socket for measurement used when performing a conduction test or a characteristic measurement of an electro-optical component.

종래, IC 등의 전자 부품의 전기적인 측정을 실시할 때에 사용되는 측정용 소켓(이하, 단순히 "소켓"이라고도 한다.)으로서, 전자 부품을 일방향으로 가압하여 위치결정하는 소켓이 개시되어 있다. 예를 들어, 특허문헌 1에는, IC 패키지의 표면을 가압하여 위치결정을 하는 반도체 장치용 소켓이 개시되어 있다.BACKGROUND ART Conventionally, as a socket for measuring (hereinafter, also referred to simply as a "socket") used for electrical measurement of an electronic component such as an IC, a socket for positioning an electronic component by pressing it in one direction has been disclosed. For example, Patent Document 1 discloses a socket for a semiconductor device for positioning by pressing the surface of an IC package.

또한, 특허문헌 2에는, 소켓 커버의 전기 부품을 가압하는 가압동작에 따라 조작되어, 수용부에 수용된 전기부품의 위치결정부와 반대측의 코너부에서 직교하는 측면에 각각 점접촉하고, 전기 부품을 위치결정부에 대해 한쪽으로 치우치게 하는 편중수단을 구비한 전기 부품용 소켓이 개시되어 있다.In addition, in Patent Document 2, the electrical components of the socket cover are operated in accordance with the pressing operation to pressurize the electrical components accommodated in the accommodating portion and each of the side surfaces orthogonal to the corner portions opposite to the positioning portions, respectively, and the electrical components are in contact with each other. A socket for an electrical component is disclosed having a biasing means for biasing to one side with respect to a positioning portion.

또한, 특허문헌 3에는, 소켓 본체에, 전기 부품이 가압부재로 가압되기 전에, 재치부(載置部)의 주연부 일부에 마련된 고정 가이드부에 맞닿는 전기 부품의 측면과 반대측의 측면을 고정 가이드부의 방향으로 눌러, 전기 부품을 고정 가이드부에 접촉시켜 소정의 올려두는 위치로 위치결정하는 수단을 구비한 전기 부품용 소켓이 개시되어 있다.In addition, in Patent Document 3, before the electrical component is pressed by the pressing member to the socket main body, the side surface of the electric component that abuts against the fixed guide portion provided on a part of the periphery of the mounting portion and the side opposite to the side surface of the fixing guide portion. A socket for an electrical component is disclosed having a means for pressing in a direction to bring the electrical component into contact with a fixed guide portion and positioning the electrical component to a predetermined mounting position.

특허문헌 1 : 일본 특허공개공보 제2011-023164호Patent Document 1: Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2011-023164 특허문헌 2 : 일본 특허공개공보 제2005-061948호Patent Document 2: Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2005-061948 특허문헌 3 : 일본 특허공개공보 제2004-296155호Patent Document 3: Japanese Patent Laid-Open Publication No. 2004-296155

그러나, 전자 광학 부품의 측정에서는 전기적인 측정과 함께 광학적인 측정도 수행할 필요가 있기 때문에, 측정용 소켓에는, 전자 광학 부품에 마련된 패드나 커넥터와의 정확한 콘택과, 광학축의 정확한 위치 정렬의 양립이 요구된다. 특히, 전자 광학 부품을 가압하여 기준 위치에 맞출 경우, 가압의 방법에 따라서는 광학축이 기울거나 위치이탈하는 일도 있어, 전자 광학 부품의 가압의 중요성이 높아지고 있다.However, in the measurement of an electro-optical component, it is necessary to perform an optical measurement as well as an electrical measurement. Therefore, in the measurement socket, the correct contact with the pad or connector provided on the electro-optical component and the correct alignment of the optical axis are both compatible. Is required. Particularly, when the electro-optical component is pressed to a reference position, the optical axis may be tilted or displaced depending on the method of pressing, and the importance of pressing the electro-optical component is increasing.

본 발명은 전자 광학 부품을 정확하게 위치결정하여 확실한 도통 및 광축 맞추기를 수행할 수 있는 측정용 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a measuring socket capable of accurately positioning an electro-optical component to perform reliable conduction and alignment of an optical axis.

상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명의 일 양태는, 전자 광학 부품을 측정 대상으로 하는 측정용 소켓으로서, 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스; 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재; 가압부재를 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단; 및 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 부세수단에 부여가능한 규제부재;를 구비하며, 커버가 열림으로써 규제부재에 의해 규제력이 부세수단에 부여되어 가압부재를 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고, 커버가 닫히는 동작에 따라 규제력이 감쇠되어, 부세수단의 부세력에 의해 가압부재를 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시킨다.In order to solve the above problems, an aspect of the present invention is a measurement socket for measuring an electro-optical component, comprising: a base having a recess for accommodating the electro-optical component; A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall; A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall; And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base, wherein the regulating force is imparted to the biasing means by the regulating member when the cover is opened. Is moved in a direction away from the reference wall, and the regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, thereby moving the pressing member in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means.

이러한 구성에 따르면, 가압부재를 기준벽의 방향으로 부세하는 부세수단의 부세력과, 커버의 동작에 기초하여 규제부재로부터 부세수단에 부여되는 규제력과의 밸런스에 의해 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이는 가압력을 설정할 수 있다. 커버가 닫힐수록 규제력은 감쇠되기 때문에, 커버를 닫은 상태에서는 우세(優勢)가 된 부세력에 의해 안정적으로 전자 광학 부품을 가압할 수 있다.According to this configuration, the electro-optical component is pushed against the reference wall by a balance between the biasing force of the biasing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall and the regulation force applied to the biasing means from the regulating member based on the operation of the cover. You can set the applied pressure. Since the regulating force is attenuated as the cover is closed, the electro-optical component can be stably pressurized by the dominant sub-force when the cover is closed.

상기 측정용 소켓에 있어서, 커버와 베이스의 상대거리와 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하는 것이 바람직하다. 이와 같이, 규제력 제어수단에 의해 규제력을 제어함으로써, 커버와 베이스의 상대거리와 부세력의 정도와의 관계를 임의로 설정할 수 있다. 전자 광학 부품은 정밀 부품이므로, 과도하게 가압되면 파손되어 버릴 우려도 있다. 부세력에 대해 항상 규제력을 작용시킴으로써, 부세력에 의한 가압의 정도를 적절하게 조정할 수 있다.In the above measuring socket, it is preferable to provide a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force. In this way, by controlling the regulating force by the regulating force control means, the relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the sub force can be arbitrarily set. Since the electro-optical component is a precision component, there is a fear that it will be damaged when excessively pressurized. By always exerting a regulating force on the auxiliary force, the degree of pressurization by the auxiliary force can be appropriately adjusted.

상기 측정용 소켓에 있어서, 규제력 제어수단은, 커버의 동작과 연동하여 규제부재를 구동하는 링크를 가지고 있을 수도 있다. 이로써, 링크의 작용에 의해 커버의 동작에 연동된 규제력을 설정할 수 있다.In the above measuring socket, the regulating force control means may have a link that drives the regulating member in conjunction with the operation of the cover. Thereby, it is possible to set the regulating force linked to the operation of the cover by the action of the link.

상기 측정용 소켓에 있어서, 커버가 열릴 때에 규제부재를 통해 규제력을 부세수단에 부여하기 위한 탄성부재를 가지며, 탄성부재의 탄성 변형이 적을 때일 수록 규제부재로부터 부세수단에 큰 규제력을 부여하도록 되어 있을 수도 있다. 이로써, 탄성부재가 보다 프리한 상태일 때에 규제력을 부여하고 있기 때문에, 규제력을 높이기 쉽다.The measuring socket has an elastic member for imparting a regulating force to the biasing means through the regulating member when the cover is opened, and the greater the amount of elastic deformation of the elastic member is, the greater the regulating force is imparted to the biasing means from the regulating member. May be. Thereby, since the regulating force is provided when the elastic member is in a more free state, it is easy to increase the regulating force.

상기 측정용 소켓에 있어서, 커버를 씌움으로써 커버의 베이스와의 대향면에 마련된 작용부에 의해 가압부재가 가압되도록 되어 있을 수도 있다. 작용부는 부세수단과, 규제부재와, 부세수단의 부세력을 가압부재에 구동력으로서 전달하는 전달수단을 구비하며, 가압부재는 전달수단으로부터 받은 구동력에 기초하여 전자 광학 부품을 가압한다. 이로써, 부세수단, 규제부재 및 전달수단을 포함하는 작용부에 의해 구성의 간소화를 도모할 수 있다.In the measuring socket, by covering the cover, the pressing member may be pressed by an acting portion provided on a surface opposite to the base of the cover. The acting portion includes a biasing means, a regulating member, and a transmission means for transmitting the biasing force of the biasing means to the pressing member as a driving force, and the pressing member presses the electro-optical component based on the driving force received from the transmission means. Thereby, the structure can be simplified by the acting part including the biasing means, the regulating member, and the transmission means.

상기 측정용 소켓에 있어서, 가압부재는 환형체를 구비하며, 환형체의 고리 내에 전자 광학 부품이 삽입통과되고, 전달수단은 환형체의 내부 둘레가 전자 광학 부품에 접근하는 방향의 구동력을 가압부재에 부여하도록 되어 있을 수도 있다. 이로써, 환형체의 내부 둘레를 전자 광학 부품에 밀어붙임으로써 2방향 동시에 안정적으로 가압할 수 있다.In the measuring socket, the pressing member has an annular body, and an electro-optical component is inserted through the ring of the annular body, and the transmission means applies a driving force in a direction in which the inner circumference of the annular body approaches the electro-optical component. It may be supposed to be given to. Thereby, by pushing the inner circumference of the annular body against the electro-optical component, it is possible to stably pressurize in two directions at the same time.

상기 측정용 소켓에 있어서, 작용부는 케이스를 추가로 구비하며, 규제부재와 전달수단의 접촉부가 케이스의 내부에 위치하도록 되어 있을 수도 있다. 또한, 상기 측정용 소켓에 있어서, 부세수단과 전달수단의 접촉부가 케이스의 내부에 위치하도록 되어 있을 수도 있으며, 부세수단이 상기 케이스의 내부에 위치하도록 되어 있을 수도 있다. 이와 같이, 가압부재를 동작시킴에 있어 키가 되는 부분을 케이스의 내부에 넣음으로써, 구성의 간소화 및 동작 안정성을 확보할 수 있다.In the measuring socket, the acting portion may further include a case, and the contact portion between the regulating member and the transmission means may be positioned inside the case. In addition, in the measuring socket, the contact portion between the biasing means and the transmission means may be positioned inside the case, or the biasing means may be positioned inside the case. In this way, when the pressing member is operated, the key portion is placed inside the case, thereby simplifying the configuration and ensuring operational stability.

상기 측정용 소켓에 있어서, 커버는 베이스에 대해 회동가능하게 지지되고, 가압부재 및 링크는 베이스에 마련되며, 커버의 회동 동작에 연동하여 링크가 진퇴동작하도록 마련되어 있을 수도 있다. 이로써, 링크의 작용에 의해 커버의 회동에 연동된 규제력을 설정할 수 있다.In the measuring socket, the cover is rotatably supported with respect to the base, the pressing member and the link are provided on the base, and may be provided to move the link forward and backward in association with the rotational motion of the cover. Thereby, it is possible to set the regulating force linked to the rotation of the cover by the action of the link.

상기 측정용 소켓에 있어서, 커버는 베이스에 대해 회동가능하게 지지되며, 규제력 제어수단은, 커버의 회동축에 마련된 편심 캠을 가지며, 커버의 동작과 동기하는 편심 캠의 동작에 의해 규제력을 변화시키도록 되어 있을 수도 있다. 이와 같이, 규제력 제어수단으로서 편심 캠을 사용함으로써, 장치 구성의 소형화를 도모할 수 있다.In the above measurement socket, the cover is rotatably supported with respect to the base, and the regulating force control means has an eccentric cam provided on the rotation shaft of the cover, and changes the regulating force by the operation of the eccentric cam in synchronization with the operation of the cover. It may be supposed to be. In this way, by using the eccentric cam as the regulating force control means, the device configuration can be downsized.

상기 측정용 소켓에 있어서, 베이스와 커버 사이에 마련되며, 베이스에 대해 회동가능하게 지지된 센터 커버를 추가로 구비하며, 규제력 제어수단은 센터 커버의 회동축에 마련된 편심 캠을 가지며, 센터 커버의 동작과 동기하는 편심 캠의 동작에 의해 규제력을 변화시키도록 되어 있을 수도 있다. 이로써, 센터 커버의 동작에 연동하여 편심 캠을 동작시켜 전자 광학 부품을 가압할 수 있다.In the measuring socket, a center cover provided between the base and the cover and supported rotatably with respect to the base is additionally provided, and the regulating force control means has an eccentric cam provided on the rotation shaft of the center cover. The regulating force may be changed by the operation of the eccentric cam in synchronization with the operation. Accordingly, it is possible to pressurize the electro-optical component by operating the eccentric cam in conjunction with the operation of the center cover.

본 발명에 따르면, 전자 광학 부품을 정확히 위치결정하여 확실한 도통 및 광축 맞추기를 수행할 수 있는 측정용 소켓이 제공된다.According to the present invention, there is provided a measuring socket capable of accurately positioning an electro-optical component to perform reliable conduction and alignment of an optical axis.

도 1은 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도(그 1).
도 2는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도(그 2).
도 3은 측정 대상인 전자 광학 부품을 예시하는 사시도.
도 4는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 평면도.
도 5는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 일부 생략 평면도.
도 6은 제 2 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도.
도 7은 가압부재의 확대 사시도.
도 8 (a) 내지 (c)는 제 2 실시예에 따른 측정용 소켓의 동작을 설명하는 모식 단면도.
도 9는 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도.
도 10은 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 베이스측을 예시하는 사시도.
도 11은 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 커버측을 예시하는 사시도.
도 12는 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 커버측을 예시하는 평면도.
도 13은 환형체를 예시하는 사시도.
도 14는 작용부를 예시하는 사시도.
도 15는 콘택트 장치를 예시하는 모식도.
1 is a perspective view (No. 1) illustrating a socket for measurement according to a first embodiment.
Fig. 2 is a perspective view (No. 2) illustrating the socket for measurement according to the first embodiment.
3 is a perspective view illustrating an electro-optical component as a measurement object.
4 is a plan view illustrating a socket for measurement according to the first embodiment.
5 is a partially omitted plan view illustrating the socket for measurement according to the first embodiment.
6 is a perspective view illustrating a socket for measurement according to a second embodiment.
7 is an enlarged perspective view of the pressing member.
8A to 8C are schematic cross-sectional views for explaining the operation of the socket for measurement according to the second embodiment.
9 is a perspective view illustrating a socket for measurement according to a third embodiment.
Fig. 10 is a perspective view illustrating a base side of a socket for measurement according to a third embodiment.
Fig. 11 is a perspective view illustrating a cover side of a measuring socket according to a third embodiment.
Fig. 12 is a plan view illustrating a cover side of a measuring socket according to a third embodiment.
13 is a perspective view illustrating an annular body.
14 is a perspective view illustrating a working portion.
15 is a schematic diagram illustrating a contact device.

이하, 본 발명의 실시예를 도면에 기초하여 설명한다. 또한, 이하의 설명에서는, 동일 부재에는 동일 부호를 붙이고, 한번 설명한 부재에 대해서는 적절히 그 설명을 생략한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described based on the drawings. In the following description, the same members are denoted by the same reference numerals, and the description of the members once described will be omitted as appropriate.

(제 1 실시예)(Example 1)

도 1은 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도(그 1)이다. Fig. 1 is a perspective view (No. 1) illustrating a socket for measurement according to a first embodiment.

도 2는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도(그 2)이다. Fig. 2 is a perspective view (No. 2) illustrating the socket for measurement according to the first embodiment.

도 1에는 전자 광학 부품이 올려놓여진 상태가 도시되며, 도 2에는 전자 광학 부품이 올려놓여져 있지 않은 상태가 도시된다.FIG. 1 shows a state in which the electro-optical component is placed, and FIG. 2 shows a state in which the electro-optical component is not placed.

도 3은 측정 대상인 전자 광학 부품을 예시하는 사시도이다.3 is a perspective view illustrating an electro-optical component as a measurement object.

도 4는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 평면도이다.4 is a plan view illustrating a socket for measurement according to the first embodiment.

도 5는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 일부 생략 평면도이다. 도 5에서는 베이스(10)의 가이드 플레이트(160)를 생략한 상태가 도시된다.5 is a partially omitted plan view illustrating the socket for measurement according to the first embodiment. 5 shows a state in which the guide plate 160 of the base 10 is omitted.

제 1 실시예에 따른 측정용 소켓(1A)은, 전자 광학 부품(100)의 전기적인 측정 및 광학적인 측정을 실시할 때에 사용되는 소켓이다. 측정용 소켓(1A)은 측정 대상이 되는 전자 광학 부품(100)을 탑재하여, 전자 광학 부품(100)과의 전기적인 접속 및 광축 맞추기를 수행한다.The measuring socket 1A according to the first embodiment is a socket used when electrical and optical measurements of the electro-optical component 100 are performed. The measurement socket 1A mounts the electro-optical component 100 to be measured, and performs electrical connection with the electro-optical component 100 and alignment of the optical axis.

본 실시예에 있어서, 측정 대상이 되는 전자 광학 부품(100)에서는, 케이스(1011)의 한쪽편에 광학 렌즈부(105)가 마련되고, 케이스(1011)의 다른쪽편에 전기적인 도통을 수행하는 패드(1012)가 마련되어 있다. 따라서, 본 실시예의 측정용 소켓(1A)에서는, 후술하는 베이스(10)의 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 올려놓고 가압함으로써, 오목부(11) 내에 마련된 단자(17)와 패드(1012)를 접촉시켜 전기적인 도통을 얻는다. 또한, 측정용 소켓(1A)에서는, 전자 광학 부품(100)을 가압함으로써 케이스(1011)를 기준벽(W)에 밀어붙여 위치결정하고, 광학 렌즈부(105) 등의 광학 요소의 광축 맞추기를 수행한다. 즉, 측정용 소켓(1A)은, 측정 대상이 되는 전자 광학 부품(100)에 대한 전기적인 도통과, 광학적인 위치 정렬(광축 맞추기)의 양립을 도모하는 것이다.In this embodiment, in the electro-optical component 100 to be measured, an optical lens unit 105 is provided on one side of the case 1011, and electrical conduction is performed on the other side of the case 1011. A pad 1012 is provided. Therefore, in the measurement socket 1A of this embodiment, by placing the electro-optical component 100 on the concave portion 11 of the base 10 to be described later and pressing it, the terminal 17 provided in the concave portion 11 and the Electrical conduction is obtained by contacting the pad 1012. Further, in the measurement socket 1A, by pressing the electro-optical component 100, the case 1011 is pushed against the reference wall W to position it, and the optical axis of the optical element such as the optical lens unit 105 is aligned. Carry out. That is, the measurement socket 1A achieves both electrical conduction to the electro-optical component 100 to be measured and optical alignment (optical axis alignment).

본 실시예에 따른 측정용 소켓(1A)은, 베이스(10)와, 가압부재(30)와, 부세수단(40)과, 규제부재(50)를 구비한다. 또한, 이하의 설명에 있어서, 베이스(10)에서의 전자 광학 부품(100)을 탑재하는 면과 직교하는 방향을 Z방향으로, Z방향과 직교하는 방향 중 하나를 X방향으로, Z방향 및 X방향과 직교하는 방향을 Y방향으로 하기로 한다.The measuring socket 1A according to the present embodiment includes a base 10, a pressing member 30, a biasing means 40, and a regulating member 50. In addition, in the following description, the direction orthogonal to the surface of the base 10 on which the electro-optical component 100 is mounted is the Z direction, one of the directions orthogonal to the Z direction is the X direction, the Z direction and the X The direction orthogonal to the direction is assumed to be the Y direction.

베이스(10)는 전자 광학 부품(100)을 탑재하는 오목부(11)를 갖는다. 예를 들어, 베이스(10)는 베이스 플레이트(150)와, 베이스 플레이트(150) 위에 장착된 가이드 플레이트(160)를 가지며, 오목부(11)는 가이드 플레이트(160)의 대략 중앙부에 마련된다. 오목부(11)는, 가이드 플레이트(160)에 마련된 관통공과, 베이스 플레이트(150)에 의한 바닥으로 구성된다. 오목부(11)는 전자 광학 부품(100)의 배치 위치를 결정하기 위한 가이드의 역할을 한다.The base 10 has a concave portion 11 on which the electro-optical component 100 is mounted. For example, the base 10 has a base plate 150 and a guide plate 160 mounted on the base plate 150, and the concave portion 11 is provided at an approximately central portion of the guide plate 160. The concave portion 11 is composed of a through hole provided in the guide plate 160 and a bottom formed by the base plate 150. The concave portion 11 serves as a guide for determining an arrangement position of the electro-optical component 100.

오목부(11)의 개구측에는 위로 확장되는 테이퍼부가 마련되고, 테이퍼부의 하방에는 스트레이트부가 마련되어 있다. 오목부(11)에 올려놓여진 전자 광학 부품(100)은 테이퍼에 의해 끌어들여져 스트레이트부에 수용된다.A tapered portion extending upward is provided on the opening side of the concave portion 11, and a straight portion is provided below the tapered portion. The electro-optical component 100 placed on the concave portion 11 is drawn in by a taper and accommodated in the straight portion.

오목부(11)의 바닥(베이스 플레이트(150) 위)에는 단자(17)가 마련된다. 이 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 수용하여 Z방향으로 가압함으로써, 케이스(1011)의 이면에 마련된 패드(1012)와 단자(17)가 접촉하는 상태가 된다. 이로써, 측정용 소켓(1A)은 전자 광학 부품(100)과의 전기적인 도통을 얻을 수 있다.A terminal 17 is provided at the bottom of the recess 11 (above the base plate 150). When the electro-optical component 100 is accommodated in the recessed portion 11 and pressed in the Z direction, the pad 1012 provided on the back surface of the case 1011 and the terminal 17 are brought into contact with each other. Thereby, the measurement socket 1A can obtain electrical conduction with the electro-optical component 100.

베이스(10)에는 커버(20)가 씌워진다. 측정용 소켓(1A)에 있어서, 커버(20)는 베이스(10)에 대해 회동가능하게 장착된다. 즉, 베이스(10)의 일단에 마련된 힌지(27)를 통해 커버(20)가 장착된다. 이로써, 커버(20)는 힌지(27)의 축(28)을 중심으로 하여 개폐동작가능하게 마련된다. The base 10 is covered with a cover 20. In the measuring socket 1A, the cover 20 is mounted rotatably with respect to the base 10. That is, the cover 20 is mounted through the hinge 27 provided at one end of the base 10. Accordingly, the cover 20 is provided to be opened and closed around the axis 28 of the hinge 27.

측정용 소켓(1A)의 예를 들면 베이스(10)에는 래치(15)가 마련된다. 커버(20)를 닫은 상태에서 래치(15)를 커버(20)의 클릭(25)에 걸음으로써, 커버(20)를 닫은 상태가 유지된다. 커버(20)는 힌지(27)의 축(28)에 장착된 스프링(29)에 의해 열리는 방향으로 부세되어 있다. 따라서, 래치(15)를 벗김으로써, 스프링(29)의 부세력에 의해 커버(20)는 열리게 된다.A latch 15 is provided on, for example, the base 10 of the measurement socket 1A. When the cover 20 is closed, the latch 15 is held against the click 25 of the cover 20 to maintain the closed state of the cover 20. The cover 20 is urged in an open direction by a spring 29 mounted on the shaft 28 of the hinge 27. Therefore, by removing the latch 15, the cover 20 is opened by the biasing force of the spring 29.

가압부재(30)는 베이스(10)의 오목부(11)에 수용된 전자 광학 부품(100)을 기준벽(W)에 밀어붙이기 위한 부재이다. 기준벽(W)은 예를 들면 오목부(11)의 내벽이다. 기준벽(W)으로서 오목부(11)의 내벽이 아니라 별도의 충돌용 벽(스탠딩 피스)을 마련할 수도 있다. 측정용 소켓(1A)에 있어서, 가압부재(30)는 가이드 플레이트(160)의 오목부(11)에 인접하여 마련된 가이드 홀(10h) 내에 배치된다. 가압부재(30)는 가이드 홀(10h) 내에서 슬라이딩가능하게 마련되고, 전자 광학 부품(10)의 케이스(1011)에 접촉하여 전자 광학 부품(100)을 소정 방향으로 가압한다.The pressing member 30 is a member for pressing the electro-optical component 100 accommodated in the concave portion 11 of the base 10 to the reference wall W. The reference wall W is, for example, an inner wall of the concave portion 11. As the reference wall W, a separate collision wall (standing piece) may be provided instead of the inner wall of the concave portion 11. In the measuring socket 1A, the pressing member 30 is disposed in a guide hole 10h provided adjacent to the concave portion 11 of the guide plate 160. The pressing member 30 is provided to be slidably within the guide hole 10h and contacts the case 1011 of the electro-optical component 10 to press the electro-optical component 100 in a predetermined direction.

가압부재(30)는 1개일 수도 있고, 복수개 마련되어 있을 수도 있다. 측정용 소켓(1A)에서는 2개의 가압부재(30A, 30B)가 마련된다. 각 가압부재(30A, 30B)는 서로 다른 2방향으로 케이스(1011)를 가압하여 케이스(1011)를 기준벽(W)에 밀어붙이도록 되어 있다. 즉, 가압부재(30A)는 상방에서 볼 때 직사각형의 케이스(1011)의 일측면을 Y방향으로 가압하며, 가압부재(30B)는 케이스(1011)의 일측면과 직교하는 타측면을 X방향으로 가압한다. 가압부재(30A, 30B)를 구별하지 않고 설명할 때는 가압부재(30)로 칭하기로 한다. 가압부재(30)는 예를 들면 한 쌍의 가이드 롤러(35) 사이에 마련되며, 가이드 롤러(35)에 의해 XY면 내에 따른 일방향으로 원활하게 슬라이딩될 수 있도록 되어 있다.The pressing member 30 may be one, or may be provided in plural. In the measuring socket 1A, two pressing members 30A and 30B are provided. Each of the pressing members 30A and 30B presses the case 1011 in two different directions to push the case 1011 against the reference wall W. That is, when viewed from above, the pressing member 30A presses one side of the rectangular case 1011 in the Y direction, and the pressing member 30B has the other side orthogonal to the side of the case 1011 in the X direction. Pressurize. When describing without distinguishing between the pressing members 30A and 30B, it will be referred to as the pressing member 30. The pressing member 30 is provided between, for example, a pair of guide rollers 35, and is designed to be smoothly slid in one direction along the XY plane by the guide rollers 35.

부세수단(40)은 가압부재(30)(기준벽(W))의 방향으로 부세한다. 부세수단(40)에는 예를 들면 코일 스프링이 사용된다. 부세수단(40)은 예를 들면 가압부재(30)의 선단(케이스(1011)와 접촉하는 측)과는 반대측인 후단과 가이드 플레이트(160) 사이에 마련되며, 가압부재(30)를 전자 광학 부품(100)의 방향으로 밀기 위한 부세력을 가압부재(30)에 부여한다.The biasing means 40 is biased in the direction of the pressing member 30 (reference wall W). For the biasing means 40, for example, a coil spring is used. The biasing means 40 is provided between the guide plate 160 and the rear end opposite to the front end of the pressing member 30 (the side in contact with the case 1011) and the pressing member 30 is electro-optical. An auxiliary force for pushing in the direction of the part 100 is applied to the pressing member 30.

예를 들면, 가압부재(30A)는 부세수단(40)에 의해 전자 광학 부품(100)으로 향하는 Y방향으로 부세력(F1a)이 부여되고, 가압부재(30B)는 부세수단(40)에 의해 전자 광학 부품(100)으로 향하는 X방향으로 부세력(F1b)이 부여된다.For example, the pressing member 30A is applied with a biasing force F1a in the Y direction toward the electro-optical component 100 by the biasing means 40, and the pressing member 30B is applied by the biasing means 40. A negative force F1b is applied in the X direction toward the electro-optical component 100.

규제부재(50)는, 베이스(10)에 씌워지는 커버(20)의 동작에 기초하여 부세수단(40)의 부세력을 이겨내는 규제력을 부세수단(40)에 부여하는 부재이다. 측정용 소켓(1A)에서는, 가압부재(30)에 연결하고 있는 규제핀(51)이 규제부재(50)이다. 측정용 소켓(1A)에서는, 2개의 가압부재(30A, 30B)의 각각에 대응하여 규제부재(50A, 50B)가 마련된다. 규제부재(50A, 50B)를 구별하지 않고 설명할 때는 규제부재(50)라고 칭하기로 한다.The regulating member 50 is a member that imparts a regulating force to the biasing means 40 to overcome the biasing force of the biasing means 40 based on the operation of the cover 20 covered on the base 10. In the measuring socket 1A, the regulating pin 51 connected to the pressing member 30 is the regulating member 50. In the measuring socket 1A, regulating members 50A and 50B are provided corresponding to each of the two pressing members 30A and 30B. When explaining without distinguishing between the regulating members 50A and 50B, it will be referred to as the regulating member 50.

규제부재(50)인 규제핀(51)은, 가압부재(30)의 이면측에 마련된 구멍부(30h)에 삽입된다. 규제핀(51)은 요동 링크(61)의 축(61a)에 대한 일단측에 세워 설치된다. 요동 링크(61)는 베이스(10)에 대해 축(61a)을 중심으로 요동가능하게 장착된다. 요동 링크(61)의 축(61a)에 대한 타단측에는 받침핀(62)이 세워 설치된다. 받침핀(62)은 후술하는 직동(直動) 링크(65)의 걸이핀(66)과 결합된다.The regulating pin 51, which is the regulating member 50, is inserted into the hole 30h provided on the back side of the pressing member 30. The regulation pin 51 is vertically installed at one end of the swing link 61 with respect to the shaft 61a. The swinging link 61 is mounted so as to be swingable about the axis 61a with respect to the base 10. A support pin 62 is erected and installed at the other end of the swing link 61 with respect to the shaft 61a. The support pin 62 is coupled with a hook pin 66 of a direct link 65 to be described later.

직동 링크(65)는 커버(20)의 동작과 연동하여 규제부재(50)인 규제핀(51)을 구동한다. 직동 링크(65)의 커버(20)측의 단부에는 커버(20)의 동작을 받는 수동부(68)가 마련되고, 커버(20)의 개폐동작을 받아 직동 링크(65)를 이동시킨다. 이 요동 링크(61), 받침핀(62), 직동 링크(65) 및 걸이핀(66)은 규제력 제어수단(60)의 구성요소가 된다. 규제력 제어수단(60)은 베이스(10)와 커버(20)의 상대거리와 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 것이다.The direct link 65 drives the regulating pin 51, which is the regulating member 50, in conjunction with the operation of the cover 20. A passive part 68 that receives the operation of the cover 20 is provided at an end of the linear link 65 on the cover 20 side, and moves the linear link 65 by receiving the opening/closing operation of the cover 20. The oscillating link 61, the support pin 62, the direct moving link 65, and the hook pin 66 are constituent elements of the regulating force control means 60. The regulating force control means 60 sets the relationship between the relative distance between the base 10 and the cover 20 and the degree of the regulating force.

이와 같은 구성을 구비하는 측정용 소켓(1A)에서는, 커버(20)가 열림으로써 규제부재(50)에 의해 규제력이 부세수단(40)에 부여되어 가압부재(30)를 기준벽(W)으로부터 멀어지는 방향으로 이동시킨다. 한편, 커버(20)가 닫힐 때에는 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리에 따라 규제력이 감쇠되어, 부세수단(40)의 부세력에 의해 가압부재(30)를 기준벽(W)에 접근하는 방향으로 이동시킨다. 즉, 커버(20)는 베이스(10)에 대해 회동가능하게 지지되며, 가압부재(30) 및 링크(직동 링크(65)는 베이스(10)에 마련되고, 커버(20)의 회동 동작에 연동하여 링크(직동 링크(65))가 진퇴동작하도록 마련되어 있다.In the measurement socket 1A having such a configuration, when the cover 20 is opened, a regulating force is applied to the biasing means 40 by the regulating member 50, and the pressing member 30 is moved from the reference wall W. Move it away from you. On the other hand, when the cover 20 is closed, the regulating force is attenuated according to the relative distance between the cover 20 and the base 10, and the pressing member 30 is attached to the reference wall W by the biasing force of the biasing means 40. Move in the approaching direction. That is, the cover 20 is rotatably supported with respect to the base 10, and the pressing member 30 and the link (direct link 65 is provided on the base 10, and interlocks with the rotational motion of the cover 20). Thus, the link (direct link 65) is provided so as to move forward and backward.

구체적으로는, 스프링(29)의 부세력에 의해 커버(20)가 열릴 때, 이 커버(20)의 열리는 동작에 의해 직동 링크(65)가 커버(20)측으로 이동한다. 그리고, 직동 링크(65)의 이동에 의해 걸이핀(66)이 받침핀(62)을 끌어당기고, 요동 링크(61)를 요동시킨다. 받침핀(62)이 끌어당겨짐으로써 요동 링크(61)를 통해 규제핀(51)은 전자 광학 부품(100)(오목부(11))으로부터 멀어지는 방향으로 이동한다. 이 규제핀(51)의 이동에 의해 가압부재(30)가 부세수단(40)의 부세력에 대향하여 끌어당겨지고, 전자 광학 부품(100)으로부터 멀어지는 방향으로 이동하게 된다. 즉, 규제핀(51)으로부터 부세수단(40)에 대하여 규제력이 부여되고, 부세력을 이겨내는 규제력에 의해 가압부재(30)가 부세력의 작용하는 방향과는 반대의 방향으로 이동하게 된다.Specifically, when the cover 20 is opened by the biasing force of the spring 29, the direct-acting link 65 moves toward the cover 20 by the opening operation of the cover 20. Then, by the movement of the linear link 65, the hook pin 66 pulls the support pin 62, and the swing link 61 swings. As the support pin 62 is pulled, the regulation pin 51 moves in a direction away from the electro-optical component 100 (recess 11) through the swinging link 61. By the movement of the regulation pin 51, the pressing member 30 is pulled against the biasing force of the biasing means 40, and moves in a direction away from the electro-optical component 100. That is, a regulating force is applied to the biasing means 40 from the regulating pin 51, and the pressing member 30 moves in a direction opposite to the direction in which the biasing force acts by the regulating force to overcome the biasing force.

예를 들면, 규제부재(50A)의 규제핀(51)은, 가압부재(30A)를 기준벽(W)의 방향으로 부세하는 부세력(F1a)을 이겨내는 규제력(F2a)을 부세수단(40)에 부여한다. 규제력(F2a)은, 스프링(29)에 의해 커버(20)를 여는 힘이 근원이 되며, 규제력 제어수단(60A)에 의해 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리에 의해 제어된다. 규제력(F2a)이 부세력(F1a)보다도 커짐으로써, 가압부재(30A)가 기준벽(W)으로부터 멀어지는 Y방향으로 이동한다.For example, the regulating pin 51 of the regulating member 50A applies the regulating force F2a to overcome the biasing force F1a that biases the pressing member 30A in the direction of the reference wall W. ). The regulating force F2a originates from the force that opens the cover 20 by the spring 29, and is controlled by the relative distance between the cover 20 and the base 10 by the regulating force control means 60A. When the regulating force F2a becomes larger than the auxiliary force F1a, the pressing member 30A moves in the Y direction away from the reference wall W.

또한, 규제부재(50B)의 규제핀(51)은, 가압부재(30B)를 기준벽(W)의 방향으로 부세하는 부세력(F1b)을 이겨내는 규제력(F2b)를 부세수단(40)에 부여한다. 규제력(F2b)은, 스프링(29)에 의해 커버(20)를 여는 힘이 근원이 되며, 규제력 제어수단(60B)에 의해 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리에 의해 제어된다. 규제력(F2b)이 부세력(F1b)보다도 커짐으로써, 가압부재(30B)가 기준벽(W)으로부터 멀어지는 X방향으로 이동한다.In addition, the regulating pin 51 of the regulating member 50B applies a regulating force F2b to the biasing means 40 to overcome the biasing force F1b that biases the pressing member 30B in the direction of the reference wall W. Grant. The regulating force F2b originates from the force opening the cover 20 by the spring 29, and is controlled by the relative distance between the cover 20 and the base 10 by the regulating force control means 60B. When the regulating force F2b becomes larger than the auxiliary force F1b, the pressing member 30B moves in the X direction away from the reference wall W.

한편, 커버(20)가 닫힐 때에는, 커버(20)의 닫히는 동작에 의해 직동 링크(65)가 힌지(27)로부터 멀어지는 X방향으로 이동한다. 이 직동 링크(65)의 이동에 의해 걸이핀으로부터 받침핀(62)에 부여되어 있던 힘이 약해져서, 부세수단(40)의 부세력에 대향하고 있던 규제력이 감쇠된다. 이로써, 가압부재(30)가 부세력에 의해 기준벽(W)에 접근하는 방향으로 이동한다. 이 가압부재(30)의 이동에 의해 전자 광학 부품(100)이 가압되어, 케이스(1011)가 기준벽(W)에 밀어붙여진다.On the other hand, when the cover 20 is closed, the linear link 65 moves in the X direction away from the hinge 27 by the closing operation of the cover 20. By the movement of the linear link 65, the force applied from the hook pin to the receiving pin 62 is weakened, and the regulating force opposed to the biasing force of the biasing means 40 is attenuated. As a result, the pressing member 30 moves in a direction approaching the reference wall W by the auxiliary force. The electro-optical component 100 is pressed by the movement of the pressing member 30, and the case 1011 is pressed against the reference wall W.

즉, 커버(20)가 닫히는 동작에 있어서, 규제부재(50A)의 규제핀(51)으로부터 가압부재(30A)를 통해 부세수단(40)에 부여되어 있던 규제력(F2a)은, 부세력(F1a)보다도 작아진다. 그리고, 부세력(F1a)이 규제력(F2a)을 이겨냄으로써, 가압부재(30A)가 기준벽(W)의 방향으로 이동하고, 전자 광학 부품(100)을 가압하게 된다. 이 가압부재(30A)의 이동에 따라, 규제력 제어수단(60A)의 요동 링크(61)가 요동하며, 받침핀(62)이 걸이핀(66)에 추종하도록 이동한다.That is, in the operation of closing the cover 20, the regulating force F2a applied from the regulating pin 51 of the regulating member 50A to the biasing means 40 through the pressing member 30A is the biasing force F1a ) Is smaller than that. And, as the sub-force F1a overcomes the regulating force F2a, the pressing member 30A moves in the direction of the reference wall W and presses the electro-optical component 100. In accordance with the movement of the pressing member 30A, the swinging link 61 of the regulating force control means 60A swings, and the support pin 62 moves to follow the hook pin 66.

또한, 규제부재(50B)의 규제핀(51)으로부터 가압부재(30B)를 통해 부세수단(40)에 부여되어 있던 규제력(F2b)은, 부세력(F1b)보다도 작아진다. 그리고, 부세력(F1b)이 규제력(F2b)을 이겨냄으로써, 가압부재(30B)가 기준벽(W)의 방향으로 이동하여, 전자 광학 부품(100)을 가압하게 된다. 이 가압부재(30B)의 이동에 따라, 규제력 제어수단(60B)의 요동 링크(61)가 요동하며, 받침핀(62)이 걸이핀(66)에 추종하도록 이동한다.Further, the regulating force F2b applied from the regulating pin 51 of the regulating member 50B to the biasing means 40 through the pressing member 30B becomes smaller than the biasing force F1b. Then, as the auxiliary force F1b overcomes the regulating force F2b, the pressing member 30B moves in the direction of the reference wall W, thereby pressing the electro-optical component 100. As the pressing member 30B moves, the swinging link 61 of the regulating force control means 60B swings, and the support pin 62 moves to follow the hook pin 66.

커버(20)의 동작과 연동된 규제력의 제어에 있어서, 커버(20)를 여는 방향으로 부세하는 스프링(29)은 탄성부재로서 규제부재(50)를 동작시킨다. 스프링(29)의 탄성 변형은, 커버(20)가 닫혀 있을 때에 비해 커버(20)가 열려 있을 때 쪽이 적다. 따라서, 커버(20)가 열리면서, 스프링(29)의 탄성 변형이 적어질수록 규제부재(50)로부터 부세수단(40)에는 커다른 규제력이 부여되게 된다. 이로써, 스프링(29)이 보다 프리한 상태일 때에 규제력을 부여할 수 있어, 규제력을 높이기 쉬워진다.In the control of the regulating force interlocked with the operation of the cover 20, the spring 29 urged in the direction of opening the cover 20 operates the regulating member 50 as an elastic member. The elastic deformation of the spring 29 is less when the cover 20 is open compared to when the cover 20 is closed. Accordingly, as the cover 20 is opened, as the elastic deformation of the spring 29 decreases, a greater regulating force is applied from the regulating member 50 to the biasing means 40. Thereby, when the spring 29 is in a more free state, a regulating force can be provided, and it becomes easy to increase the regulating force.

또한, 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리와 규제력의 정도와의 관련성은 규제력 제어수단(60)의 링크 구성에 의해 설정가능하다. 예를 들면, 요동 링크(61)의 축으로부터 규제핀(51)이나 받침핀(62)까지의 길이나, 받침핀(62)과 걸이핀(66)의 걸림시작 위치(링크의 길이 등)에 의해 설정된다. 이로써, 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리에 따른 규제력의 작용 타이밍 및 규제력의 변화를 설정하는 것이 가능하게 된다.Further, the relationship between the relative distance between the cover 20 and the base 10 and the degree of the regulating force can be set by the link configuration of the regulating force control means 60. For example, the length from the axis of the oscillating link 61 to the regulation pin 51 or the support pin 62, or the locking start position of the support pin 62 and the hook pin 66 (length of the link, etc.) Is set by Accordingly, it is possible to set the timing of the action of the regulating force and the change of the regulating force according to the relative distance between the cover 20 and the base 10.

또한, 규제력 제어수단(60)의 링크 구성에 의해, 커버(20)의 닫히는 동작에 따른 전자 광학 부품(100)의 Z방향으로의 가압(패드(1012)와 단자(17)의 접촉)의 타이밍과, 전자 광학 부품(100)의 케이스(1011)를 가압부재(30)에 의해 가압하여 기준벽(W)에 밀어붙이는 타이밍을 조정할 수 있다. 예를 들면, 커버(20)가 닫혀 전자 광학 부품(100)과 접촉하며, 전자 광학 부품(100)을 Z방향으로 가압하기 전에, 가압부재(30)에 의한 기준벽(W)으로의 밀어붙임을 완료해 두는 경우에는, 규제력 제어수단(60)의 링크 구성에 의해 커버(20)가 전자 광학 부품(100)에 접촉하기 전까지 규제력의 감쇠를 시작하고, 가압부재(30)에 의한 가압을 완료하도록 링크 구성을 설정하면 된다.In addition, timing of pressing of the electro-optical component 100 in the Z direction (contact of the pad 1012 and the terminal 17) according to the closing operation of the cover 20 by the link configuration of the regulating force control means 60 And, it is possible to adjust the timing of pressing the case 1011 of the electro-optical component 100 by the pressing member 30 and pressing it against the reference wall W. For example, the cover 20 is closed to contact the electro-optical component 100, and before pressing the electro-optical component 100 in the Z direction, the pressing member 30 is pressed against the reference wall W. In the case of completing, the attenuation of the regulating force is started until the cover 20 contacts the electro-optical component 100 by the link configuration of the regulating force control means 60, and the pressurization by the pressing member 30 is completed. You just need to set up the link configuration to do so.

이와 같은 측정용 소켓(1A)에 따르면, 가압부재(30)를 기준벽(W)의 방향으로 부세하는 부세수단(40)의 부세력과, 커버(20)의 동작에 기초하여 규제부재(50)로부터 부세수단(40)에 부여되는 규제력과의 밸런스에 의해 전자 광학 부품(100)을 기준벽(W)에 밀어붙이는 가압력을 설정할 수 있다. 그리고, 커버(20)가 닫힐수록 규제력은 감쇠되므로, 커버(20)를 닫은 상태에서는 우세가 된 부세력에 의해 안정적으로 전자 광학 부품(100)을 가압할 수 있다.According to such a measuring socket 1A, the regulating member 50 based on the biasing force of the biasing means 40 for biasing the pressing member 30 in the direction of the reference wall W and the operation of the cover 20 The pressing force for pushing the electro-optical component 100 against the reference wall W can be set by a balance with the regulating force applied to the biasing means 40 from ). Further, since the regulating force is attenuated as the cover 20 is closed, the electro-optical component 100 can be stably pressed by the prevailing sub-force in the state where the cover 20 is closed.

또한, 규제력 제어수단(60)에 의해 규제력을 제어함으로써, 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리와 부세력의 정도와의 관계나, 전자 광학 부품(100)의 기준벽(W)에 대한 가압 타이밍을 임의로 설정할 수 있다. 전자 광학 부품(100)은 정밀부품이므로, 과도하게 가압되면 파손되어 버릴 우려도 있다. 부세력에 대해 항상 규제력을 작용시킴으로써, 부세력에 의한 가압의 정도를 적절하게 조정할 수 있으며, 안정적인 가압과 전자 광학 부품(100)에 대한 과도한 가압력의 규제를 도모할 수 있다.In addition, by controlling the regulating force by the regulating force control means 60, the relationship between the relative distance between the cover 20 and the base 10 and the degree of the sub force, and the reference wall W of the electro-optical component 100 The pressurization timing can be set arbitrarily. Since the electro-optical component 100 is a precision component, there is a fear that it will be damaged if excessively pressed. By always acting the regulating force on the sub-force, the degree of pressurization by the sub-force can be appropriately adjusted, and it is possible to achieve stable pressurization and regulation of excessive pressing force on the electro-optical component 100.

(제 2 실시예)(Second Example)

도 6은 제 2 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도이다.6 is a perspective view illustrating a measuring socket according to a second embodiment.

도 7은 가압부재의 확대 사시도이다.7 is an enlarged perspective view of the pressing member.

도 8 (a) 내지 (c)는 제 2 실시예에 따른 측정용 소켓의 동작을 설명하는 모식 단면도이다.8A to 8C are schematic cross-sectional views illustrating the operation of the socket for measurement according to the second embodiment.

본 실시예에 따른 측정용 소켓(1B)에 있어서, 커버(20)는 베이스(10)에 대해 회동가능하게 장착된다. 규제력 제어수단(60)은, 커버(20)의 회동 축(28)에 마련된 편심 캠(70)과, 편심 캠(70)에 의해 이동가능하게 마련된 슬라이딩부(71)를 갖는다. 슬라이딩부(71)는 베이스 플레이트(150)와 가이드 플레이트(160) 사이에 마련된다.In the measuring socket 1B according to this embodiment, the cover 20 is mounted rotatably with respect to the base 10. The regulating force control means 60 has an eccentric cam 70 provided on the rotation shaft 28 of the cover 20 and a sliding portion 71 provided to be movable by the eccentric cam 70. The sliding part 71 is provided between the base plate 150 and the guide plate 160.

슬라이딩부(71)는 베이스 플레이트(150)와의 사이에 마련된 코일 스프링(탄성부재)(75)에 의해 기준벽(W)으로부터 멀어지는 방향으로 부세되어 있다. 슬라이디부(71)에는 규제핀(51)이 세워 설치되어 있으며, 슬라이딩부(71) 위에 배치된 가압부재(30)의 구멍부(30h)에 삽입된다. 슬라이딩부(71)에서의 편심 캠(70)측에는, 편심 캠(70)과 접촉가능한 롤러(72)가 마련된다.The sliding part 71 is pressed in a direction away from the reference wall W by a coil spring (elastic member) 75 provided between the base plate 150 and the base plate 150. A regulation pin 51 is erected in the slide portion 71 and is inserted into the hole portion 30h of the pressing member 30 disposed on the sliding portion 71. On the side of the eccentric cam 70 in the sliding portion 71, a roller 72 capable of contacting the eccentric cam 70 is provided.

가압부재(30)는, 가이드 플레이트(160)에 마련된 가이드 홀(10h) 내에 배치되어, 가이드 홀(10h)의 내측벽을 따라 진퇴가능하게 마련된다. 본 실시예에서는, 가이드 홀(10h) 및 가압부재(30)는 오목부(11)와 편심 캠(70) 사이에 배치된다. 가압부재(30)는 가이드 홀(10h)을 따라 X방향으로 진퇴가능하게 되어 있다.The pressing member 30 is disposed in the guide hole 10h provided in the guide plate 160 and is provided so as to advance and retreat along the inner wall of the guide hole 10h. In this embodiment, the guide hole 10h and the pressing member 30 are disposed between the concave portion 11 and the eccentric cam 70. The pressing member 30 is capable of advancing and retreating in the X direction along the guide hole 10h.

부세수단(40)은 가압부재(30)의 후단부와, 가압부재(30)의 후단과 대향하는 가이드 홀(10h)의 내벽과의 사이에 마련되며, 가압부재(30)를 기준벽(W)의 방향으로 부세하고 있다.The pressing means 40 is provided between the rear end of the pressing member 30 and the inner wall of the guide hole 10h facing the rear end of the pressing member 30, and the pressing member 30 is attached to the reference wall (W). ) In the direction of.

측정용 소켓(1B)에 의해 전자 광학 부품(100)을 측정하기 위해서는, 먼저, 도 8 (a)에 나타낸 바와 같이 커버(20)를 연 상태에서, 베이스(10)의 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 올려놓는다. 전자 광학 부품(100)의 케이스(1011)는 오목부(11)의 테이퍼부로 끌어 들여져 스트레이트부에 수용된다. 커버(20)가 열린 상태에서는, 슬라이딩부(71)의 롤러(72)는 편심 캠(70)과는 접촉하고 있지 않다. 이 상태에서는, 탄성부재인 코일 스프링(75)의 부세력에 의해 슬라이딩부(71)가 기준벽(W)으로부터 멀어지는 방향으로 부세되어 있으며, 규제핀(51)을 통해 가압부재(30)도 기준벽(W)으로부터 멀어지는 방향(힌지(27)측)으로 끌어당겨져 있다. 즉, 코일 스프링(75)의 부세력이 규제력이 되어 가압부재(30)에 부여되며, 부세수단(40)에 의한 부세력을 이겨내어 가압부재(30)를 힌지(27)측으로 이동시킨다. 이로써, 가압부재(30)는 전자 광학 부품(100)의 케이스(1011)로부터 떨어져 있다.In order to measure the electro-optical component 100 by the measurement socket 1B, first, as shown in Fig. 8 (a), with the cover 20 open, the recess 11 of the base 10 is The electronic optical component 100 is placed. The case 1011 of the electro-optical component 100 is drawn into the tapered portion of the concave portion 11 and accommodated in the straight portion. When the cover 20 is open, the roller 72 of the sliding portion 71 is not in contact with the eccentric cam 70. In this state, the sliding portion 71 is biased in a direction away from the reference wall W by the biasing force of the coil spring 75, which is an elastic member, and the pressing member 30 is also referenced through the regulation pin 51. It is pulled in the direction away from the wall W (the hinge 27 side). That is, the biasing force of the coil spring 75 becomes a regulating force and is applied to the pressing member 30, and overcomes the biasing force of the biasing means 40 to move the pressing member 30 toward the hinge 27 side. Thereby, the pressing member 30 is separated from the case 1011 of the electro-optical component 100.

이어, 도 8 (b)에 나타낸 바와 같이, 커버(20)를 닫는다. 커버(20)를 닫으면 편심 캠(70)이 롤러(72)와 접촉하여 슬라이딩부(71)를 가압한다. 슬라이딩부(71)가 가압됨으로써 규제핀(51)이 기준벽(W)의 방향으로 이동한다. 이로써, 규제핀(51)으로부터 가압부재(30)를 통해 부세수단(40)에 부여되어 있던 규제력이 감쇠되어, 부세수단(40)의 부세력에 의해 가압부재(30)가 기준벽(W)의 방향으로 이동하게 된다. 이로써, 가압부재(30)가 전자 부품(101)의 케이스(1011)를 가압하여, 케이스(1011)를 기준벽(W)에 밀어붙인다. 이로써 전자 광학 부품(100)의 위치 결정이 이루어진다.Next, as shown in Fig. 8(b), the cover 20 is closed. When the cover 20 is closed, the eccentric cam 70 contacts the roller 72 and presses the sliding part 71. When the sliding part 71 is pressed, the regulation pin 51 moves in the direction of the reference wall W. Thereby, the regulating force imparted to the biasing means 40 from the regulating pin 51 through the pressing member 30 is attenuated, and the pressing member 30 is moved by the biasing force of the biasing means 40. Will move in the direction of. Thereby, the pressing member 30 presses the case 1011 of the electronic component 101 and pushes the case 1011 against the reference wall W. As a result, the position of the electro-optical component 100 is determined.

또한, 도 8 (c)에 나타낸 바와 같이 커버(20)를 닫아가면, 규제핀(51)과 가압부재(30)의 걸림이 없어지게 되고, 규제력이 없어져서 부세수단(40)에 의한 부세력만으로 가압부재(30)에 의해 전자 광학 부품(100)의 위치 결정이 완료된다. 그리고, 커버(20)에 의해 전자 광학 부품(100)이 Z방향으로 가압된다. 이로써, 전자 광학 부품(100)의 이면에 마련된 패드(미도시)와 콘택트 핀(91)이 접촉하여, 전기적인 접속이 이루어진다.In addition, when the cover 20 is closed as shown in FIG. 8 (c), the locking pin 51 and the pressing member 30 are not caught, and the regulating force is eliminated, so that only the biasing force by the biasing means 40 is eliminated. Positioning of the electro-optical component 100 is completed by the pressing member 30. Then, the electro-optical component 100 is pressed in the Z direction by the cover 20. As a result, the pad (not shown) provided on the back surface of the electro-optical component 100 and the contact pin 91 come into contact, and electrical connection is made.

측정용 소켓(1B)에 마련된 편심 캠(70)을 사용함으로써, 편심 캠(70)의 프로파일의 변경에 의해 커버(20)를 닫는 동작과 가압부재(30)에 의한 전자 광학 부품(100)의 가압 타이밍, 가압력의 변화를 임의로 설정가능하게 된다. 또한, 규제력 제어수단(60)으로서 편심 캠(70)을 사용함으로써, 장치 구성의 소형화를 도모할 수 있다.By using the eccentric cam 70 provided in the measurement socket 1B, the operation of closing the cover 20 by changing the profile of the eccentric cam 70 and the electro-optical component 100 by the pressing member 30 The pressing timing and the change in the pressing force can be set arbitrarily. Further, by using the eccentric cam 70 as the regulating force control means 60, the device configuration can be downsized.

또한, 측정용 소켓(1B)에 있어서, 베이스(10)와 커버(20) 사이에서 센터 커버를 구비하고 있으며, 센터 커버의 회동축에 편심 캠(70)을 마련하도록 할 수도 있다. 이로써, 센터 커버의 동작에 연동하여 편심 캠(70)을 동작시켜 가압부재(30)에 의해 전자 광학 부품(100)을 가압할 수 있다.Further, in the measurement socket 1B, a center cover is provided between the base 10 and the cover 20, and an eccentric cam 70 may be provided on the pivoting shaft of the center cover. Accordingly, the eccentric cam 70 may be operated in conjunction with the operation of the center cover to press the electro-optical component 100 by the pressing member 30.

(제 3 실시예)(Third Example)

도 9는 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도이다.9 is a perspective view illustrating a socket for measurement according to a third embodiment.

도 10은 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 베이스측을 예시하는 사시도이다.Fig. 10 is a perspective view illustrating a base side of a socket for measurement according to a third embodiment.

도 11은 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 커버측을 예시하는 사시도이다.Fig. 11 is a perspective view illustrating a cover side of a measuring socket according to a third embodiment.

본 실시예에 따른 측정용 소켓(1C)은, 베이스(10)에 대해 커버(20)가 상하운동하도록 구성된다. 측정용 소켓(1C)에 있어서, 커버(20)에서의 베이스(10)와의 대향면에는 작용부(80)가 마련된다. 작용부(80)는 부세수단(40) 및 규제부재(50)를 케이스(81) 내에 포함하는 유닛 구성부재이다. 또한, 측정용 소켓(1C)에 있어서, 가압부재(30)는 환형체(37)를 구비한다.The measuring socket 1C according to the present embodiment is configured such that the cover 20 moves up and down with respect to the base 10. In the measurement socket 1C, an acting portion 80 is provided on a surface of the cover 20 facing the base 10. The acting portion 80 is a unit constituting member including the biasing means 40 and the regulating member 50 in the case 81. Further, in the measuring socket 1C, the pressing member 30 includes an annular body 37.

측정용 소켓(1C)에서 측정 대상이 되는 전자 광학 부품(100)은, 플렉시블 기판(102)에 전자 부품(101) 및 커넥터(103)가 접속된 것이다. 플렉시블 기판(102)에는 배선 패턴이 형성되며, 전자 부품(101)과 커넥터(103) 사이의 도통이 이루어진다. 베이스(10)에는, 전자 광학 부품(100)의 전자 부품(101)을 올려놓는 오목부(11)와, 플렉시블 기판(102)을 올려놓는 오목부(12)가 마련된다. 한편, 커버(20)에는 커넥터(103)를 가이드하는 가이드부(90)가 마련되며, 가이드부(90)의 내측에는 콘택트 핀(91)이 마련된다.The electro-optical component 100 to be measured by the measurement socket 1C is a flexible substrate 102 in which an electronic component 101 and a connector 103 are connected. A wiring pattern is formed on the flexible substrate 102, and conduction between the electronic component 101 and the connector 103 is formed. The base 10 is provided with a concave portion 11 on which the electronic component 101 of the electro-optical component 100 is placed, and a concave portion 12 on which the flexible substrate 102 is placed. Meanwhile, a guide portion 90 for guiding the connector 103 is provided in the cover 20, and a contact pin 91 is provided inside the guide portion 90.

측정용 소켓(1C)에 있어서, 베이스(10)의 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 올려놓은 상태에서 커버(20)를 씌움으로써, 커넥터(103)가 가이드부(90)에 끼워지고, 가이드부(90) 내의 콘택트 핀(91)이 커넥터(103)의 단자와 접촉하게 된다. 또한, 커버(20)를 씌움으로써, 커버(20)측에 마련된 환형체(37)의 고리 내에 전자 광학 부품(100)이 삽입통과된다. 그리고, 작용부(80)에 의해 환형체(37)를 이동시켜 환형체(37)의 내부 둘레를 전자 광학 부품(100)에 밀어붙이고, 전자 광학 부품(100)을 베이스(10)측의 기준벽(W)에 밀어붙이도록 동작한다. 환형체(37)의 내부 둘레를 전자 광학 부품(100)에 밀어붙일 때, 내부 둘레에 마련된 롤러(38)를 통해 밀어붙일 수도 있다.In the measurement socket 1C, by covering the cover 20 with the electro-optical component 100 placed on the concave portion 11 of the base 10, the connector 103 is attached to the guide portion 90. It is fitted, and the contact pin 91 in the guide part 90 comes into contact with the terminal of the connector 103. In addition, by covering the cover 20, the electro-optical component 100 is inserted into the ring of the annular body 37 provided on the cover 20 side. Then, by moving the annular body 37 by the acting portion 80, the inner circumference of the annular body 37 is pushed against the electro-optical component 100, and the electro-optical component 100 is referenced on the base 10 side. It works to push it against the wall (W). When pushing the inner circumference of the annular body 37 to the electro-optical component 100, it may be pushed through the roller 38 provided around the inner circumference.

측정용 소켓(1C)에서는, 환형체(37)에 의해 전자 광학 부품(100)을 2방향 동시에 가압할 수 있다. 여기서, 환형체(37)에 의해 전자 광학 부품(100)을 가압하는 방향을 가압방향(D1)으로 하고, 가압방향(D1)과 반대 방향으로서 가압을 해제하는 방향을 해제방향(D2)으로 하기로 한다.In the measurement socket 1C, the electro-optical component 100 can be pressed simultaneously in two directions by the annular body 37. Here, the direction in which the electro-optical component 100 is pressed by the annular body 37 is the pressing direction (D1), and the direction in which the pressurization is released as the opposite direction to the pressing direction (D1) is the release direction (D2). It should be.

도 12는 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 커버측을 예시하는 평면도이다.12 is a plan view illustrating a cover side of a measuring socket according to a third embodiment.

도 13은 환형체를 예시하는 사시도이다.13 is a perspective view illustrating an annular body.

도 14는 작용부를 예시하는 사시도이다.14 is a perspective view illustrating a working portion.

또한, 도 13에서는 작용부(80)에서의 케이스(81)의 일부를 생략한 상태가 도시되고, 도 14에서는 환형체(37)를 생략한 상태가 도시된다. 작용부(80)에는 전달수단(85)이 내장된다. 환형체(37)는 커버(20)의 베이스(10)와의 대향면에서 면방향으로 슬라이딩 가능하게 마련된다. 측정용 소켓(1C)에서는, 환형체(37)는 X방향 및 Y방향의 각각에 비평행(가압방향(D1) 및 해제방향(D2))으로 슬라이딩 가능하게 되어 있다.In addition, in FIG. 13, a state in which a part of the case 81 is omitted from the acting portion 80 is shown, and in FIG. 14, a state in which the annular body 37 is omitted is shown. The transmission means 85 is embedded in the acting part 80. The annular body 37 is provided to be slidable in a surface direction on a surface of the cover 20 opposite to the base 10. In the measurement socket 1C, the annular body 37 is slidable in non-parallel (pressing direction D1 and release direction D2) in each of the X and Y directions.

작용부(80)는 환형체(37)의 고리 내에 배치되고, 환형체(37)를 가압방향(D1) 및 해제방향(D2)으로 슬라이딩시키기 위한 구동력을 부여한다. 작용부(80)의 케이스(81) 내에는 가이드 홀(81h)이 마련되며, 가이드 홀(81h) 내에 전달수단(85)의 일부인 슬라이딩부(86)가 배치된다. 슬라이딩부(86)는 가이드 홀(81h)의 내측벽을 따라 진퇴가능하게 마련된다. 이 내측벽이 가압방향(D1) 및 해제방향(D2)을 따라 마련되기 때문에, 내측벽이 슬라이딩부(86)의 진퇴방향의 가이드로서 역할한다.The acting portion 80 is disposed within the ring of the annular body 37, and imparts a driving force for sliding the annular body 37 in the pressing direction D1 and the release direction D2. A guide hole 81h is provided in the case 81 of the acting part 80, and a sliding part 86 that is a part of the transmission means 85 is disposed in the guide hole 81h. The sliding part 86 is provided to be able to advance and retreat along the inner wall of the guide hole 81h. Since this inner wall is provided along the pressing direction D1 and the release direction D2, the inner wall serves as a guide in the advancing and retreating direction of the sliding portion 86.

슬라이딩부(86)의 단부와 가이드 홀(81h)의 내벽 사이에는 부세수단(40)이 마련되어, 슬라이딩부(86)로 가압방향(D1)의 부세력을 부여하고 있다. 슬라이딩부(86)에는 홀(86h)이 마련되고, 이 홀(86h)에 규제부재(50)인 규제핀(51)이 배치된다.An urging means 40 is provided between the end of the sliding portion 86 and the inner wall of the guide hole 81h, and an urging force in the pressing direction D1 is applied to the sliding portion 86. A hole 86h is provided in the sliding portion 86, and a regulating pin 51, which is a regulating member 50, is disposed in the hole 86h.

규제핀(51)은, 예를 들면 규제핀(51)의 내부에 내장된 코일 스프링(55)에 의해 돌출하는 방향으로 부세력이 부여된다. 이 코일 스프링(55)은 가압부재(30)인 환형체(37)에 규제력을 부여하는 탄성부재이다.The regulating pin 51 is applied with an auxiliary force in the protruding direction by, for example, a coil spring 55 built in the regulating pin 51. This coil spring 55 is an elastic member that imparts a regulating force to the annular body 37 which is the pressing member 30.

규제핀(51)과 슬라이딩부(86) 사이에는 롤러(87)가 마련된다. 롤러(87)는 규제핀(51)에 마련된 경사면(51a)과 접촉한다. 경사면(51a)은 규제핀(51)(규제부재(50)과 슬라이딩부(86)(전달수단(85))의 접촉부이며, 케이스(81)의 내부에 위치한다. 롤러(87)는 부세수단(40)에 의해 슬라이딩부(86)가 가압방향(D1)으로 부세됨으로써, 가압방향(D1)의 아래측에 위치하는 경사면(51a)과 접촉한다.A roller 87 is provided between the regulation pin 51 and the sliding part 86. The roller 87 is in contact with the inclined surface 51a provided on the regulation pin 51. The inclined surface 51a is a contact portion between the regulating pin 51 (the regulating member 50 and the sliding portion 86 (transmitting means 85)), and is located inside the case 81. The roller 87 is the biasing means The sliding portion 86 is urged in the pressing direction D1 by 40, so that it comes into contact with the inclined surface 51a located below the pressing direction D1.

롤러(87)가 경사면(51a)과 접촉하고 있음으로써, 규제핀(51)이 돌출되어 있는 상태에서는 롤러(87)를 통해 슬라이딩부(86)에 해제방향(D2)의 힘이 부여되고, 슬라이딩부(86)는 가이드 홀(81h) 내에서 해제방향(D2)으로 슬라이딩 이동한다. 한편, 규제핀(51)이 코일 스프링(55)의 부세력을 이겨내어 밀어넣어지면, 롤러(87)와 경사면(51a)의 접촉위치가 바뀌고, 부세수단(40)에 의한 가압방향(D1)의 부세력이 슬라이딩부(86)에 부여되어, 슬라이딩부(86)는 가이드 홀(81h) 내에서 가압방향(D1)으로 슬라이딩 이동한다. 경사면(51a)은 규제력 제어수단(60)으로서 역할한다.Since the roller 87 is in contact with the inclined surface 51a, when the regulation pin 51 protrudes, a force in the release direction D2 is applied to the sliding portion 86 through the roller 87, and the sliding The part 86 slides in the guide hole 81h in the release direction D2. On the other hand, when the regulation pin 51 is pushed in by overcoming the biasing force of the coil spring 55, the contact position between the roller 87 and the inclined surface 51a is changed, and the pressing direction D1 by the biasing means 40 The auxiliary force of is applied to the sliding portion 86, and the sliding portion 86 slides in the pressing direction D1 within the guide hole 81h. The inclined surface 51a serves as the regulating force control means 60.

슬라이딩부(86)는, 선단측에 마련된 핀(88)에 의해 환형체(37)와 결합되어 있다. 따라서, 슬라이딩부(86)의 이동에 연동하여 환형체(37)가 슬라이딩 이동하게 된다.The sliding portion 86 is coupled to the annular body 37 by a pin 88 provided on the tip side. Accordingly, the annular body 37 slides in association with the movement of the sliding part 86.

측정용 소켓(1C)에 의해 전자 광학 부품(100)을 측정하기 위해서는, 커버(20)를 연 상태에서 베이스(10)의 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 올려놓는다. 전자 부품(101)은 오목부(11)에 올려놓여지고, 플렉시블 기판(102)은 오목부(12)에 올려놓여진다.In order to measure the electro-optical part 100 by the measuring socket 1C, the electro-optical part 100 is put on the concave part 11 of the base 10 with the cover 20 open. The electronic component 101 is placed on the concave portion 11, and the flexible substrate 102 is placed on the concave portion 12.

이어, 커버(20)를 베이스(10)에 씌운다. 커버(20)가 베이스(10)에 씌워짐으로써 커버(20)에 마련된 가이드부(90)에 커넥터(103)가 맞물린다. 커버(20)를 씌움으로써, 가이드부(90) 내에 마련된 콘택트 핀(91)이 커넥터(103)의 단자와 접촉하는 상태가 된다.Then, the cover 20 is put on the base 10. The connector 103 is engaged with the guide portion 90 provided in the cover 20 by covering the cover 20 on the base 10. By covering the cover 20, the contact pin 91 provided in the guide portion 90 is brought into contact with the terminal of the connector 103.

또한, 커버(20)를 베이스(10)에 접근시키면, 커버(20)측에 마련된 환형체(37)의 고리 내에 전자 광학 부품(100)이 삽입통과되고, 이어, 베이스(10)가 규제핀(51)을 밀어넣게 된다. 규제핀(51)이 밀어넣어짐으로써 슬라이딩부(86)가 가압방향(D1)으로 이동하고, 이 이동에 따라 환형체(37)도 가압방향(D1)으로 이동하게 된다. 이로써, 환형체(37)의 고리 내에 삽입통과된 전자 광학 부품(100)이 환형체(37)의 내부 둘레에서 가압방향(D1)으로 가압되어, 기준벽(W)에 밀어붙여지게 된다.In addition, when the cover 20 approaches the base 10, the electro-optical component 100 is inserted into the ring of the annular body 37 provided on the cover 20 side, and then, the base 10 is a regulation pin. (51) will be pushed in. When the regulation pin 51 is pushed in, the sliding part 86 moves in the pressing direction D1, and according to this movement, the annular body 37 also moves in the pressing direction D1. As a result, the electro-optical component 100 inserted into the ring of the annular body 37 is pressed in the pressing direction D1 around the inner circumference of the annular body 37 and pressed against the reference wall W.

전자 광학 부품(100)이 환형체(37)에 의해 가압되는 단계에서는, 커넥터(103)는 가이드부(90)에 맞물려 있으며, 커넥터(103)의 단자와 콘택트 핀(91)의 접촉(전기적 도통)은 완료되어 있다. 이 후, 환형체(37)에 의해 전자 광학 부품(100)이 기준벽(W)에 밀어붙여짐으로써, 콘택트 핀(91)과 커넥터(103)의 단자와의 접촉을 유지한 상태에서 광축이 정확하게 맞춰진다. 전자 광학 부품(100)의 전기적 도통 및 광축의 정확한 맞추기가 이루어진 상태에서 커버(20)가 베이스(10)에 고정된다. 이 상태에서, 측정용 소켓(1C)을 이용하여 전자 광학 부품(100)의 전기적 및 광학적인 측정이 이루어진다.In the step in which the electro-optical component 100 is pressed by the annular body 37, the connector 103 is engaged with the guide portion 90, and the terminal of the connector 103 and the contact pin 91 contact (electrical conduction). ) Is complete. Thereafter, the electro-optical component 100 is pressed against the reference wall W by the annular body 37, so that the optical axis is kept in contact with the terminal of the contact pin 91 and the connector 103. It fits exactly. The cover 20 is fixed to the base 10 in a state in which electrical conduction of the electro-optical component 100 and correct alignment of the optical axis are made. In this state, electrical and optical measurements of the electro-optical component 100 are made using the measurement socket 1C.

측정이 완료된 후에는, 커버(20)를 베이스(10)로부터 떨어뜨린다. 이로써, 규제핀(51)이 돌출하고, 슬라이딩부(86)와 함께 환형체(37)가 해제방향(D2)으로 이동하여, 전자 광학 부품(100)의 기준벽(W)에 대한 가압이 해제된다.After the measurement is completed, the cover 20 is removed from the base 10. Thereby, the regulation pin 51 protrudes, and the annular body 37 together with the sliding part 86 moves in the release direction D2, so that the pressurization of the electro-optical component 100 against the reference wall W is released. do.

측정용 소켓(1C)에 따르면, 가압부재(30)를 동작시킴에 있어 키가 되는 부분을 작용부(80)의 케이스(81)의 내부에 넣음으로써, 구성의 간소화 및 동작 안정성을 확보할 수 있다. 또한, 규제부재(50)인 규제핀(51)의 높이나, 규제핀(51)과 베이스(10)의 접촉 관계를 조정함으로써, 커버(20)와 베이스(10)의 상대 거리에 따른 규제력의 작용 타이밍을 설정하는 것이 가능하게 된다.According to the measuring socket 1C, by putting the key part in the operation of the pressing member 30 into the case 81 of the acting part 80, it is possible to simplify the configuration and ensure the operation stability. have. In addition, by adjusting the height of the regulating pin 51, which is the regulating member 50, or the contact relationship between the regulating pin 51 and the base 10, the action of the regulating force according to the relative distance between the cover 20 and the base 10 It becomes possible to set the timing.

또한, 규제력 제어수단(60)이 되는 경사면(51a)의 경사각도나 형상을 조정함으로써 가압부재(30)인 환형체(37)에 대한 규제력의 크기 및 규제력의 인가 타이밍을 조정할 수 있으며, 안정된 가압, 및 전자 광학 부품(100)에 대한 과도한 가압력의 억제를 도모할 수 있다.In addition, by adjusting the inclination angle or shape of the inclined surface 51a serving as the regulating force control means 60, the magnitude of the regulating force and the timing of applying the regulating force to the annular body 37 as the pressing member 30 can be adjusted. And suppression of excessive pressing force on the electro-optical component 100.

(콘택트 장치)(Contact device)

도 15는 본 실시예에 따른 콘택트 장치를 예시하는 모식도이다.15 is a schematic diagram illustrating a contact device according to the present embodiment.

본 실시예에 따른 콘택트 장치(500)는, 먼저 설명한 측정용 소켓(1A 내지 1C)과 마찬가지로, 베이스(10), 커버(20), 가압부재(30), 부세수단(40) 및 규제부재(50)를 구비한다. 콘택트 장치에서는, 커버(20)가 베이스(10)에 대해 상하운동하도록 구성된다.The contact device 500 according to the present embodiment, similar to the measurement sockets 1A to 1C described above, the base 10, the cover 20, the pressing member 30, the biasing means 40, and the regulating member ( 50). In the contact device, the cover 20 is configured to move up and down with respect to the base 10.

베이스(10)에는, 전자 광학 부품(100)을 올려놓는 오목부(11)가 마련된다. 베이스(10)에는 예를 들면 4군데에 지주(515)가 마련되어 있다. 커버(20)는 이 지주(515)에 의해 지지되고, 지주(515)를 따라 상하운동가능하게 마련된다. 지주(515)에는 스프링(517)이 마련되어 있으며, 커버(20)를 상방으로 부세하고 있다. 커버(20)는 구동기구(미도시)에 의해 스프링(517)의 부세력을 초과한 힘으로 밀어넣어짐으로써, 베이스(10) 위에 씌워진다.The base 10 is provided with a recess 11 on which the electro-optical component 100 is placed. The base 10 is provided with pillars 515 in 4 places, for example. The cover 20 is supported by this post 515, and is provided to be able to move up and down along the post 515. The post 515 is provided with a spring 517, and the cover 20 is urged upward. The cover 20 is covered on the base 10 by being pushed in with a force exceeding the biasing force of the spring 517 by a driving mechanism (not shown).

커버(20)를 하강시킴으로써 가이드부(90)에 커넥터(103)가 맞물리며, 콘택트 핀(91)과 커넥터(103)의 단자가 접촉하게 된다. 이 커버(20)의 하강 동작에 연동하여 가압부재(30)가 동작하며, 가압부재(30)에 부세수단(40)으로부터 부세력을 부여하여 전자 부품(101)의 케이스(1011)를 기준벽(W)에 밀어붙인다. 이로써, 전자 광학 부품(100)의 전기적 접속과 광학적인 축 맞추기의 양립을 도모할 수 있다. 한편, 커버(20)를 상승시킴으로써 규제부재(50)에 의해 규제력이 부세수단(40)에 부여되고, 가압부재(30)에 의한 케이스(1011)의 가압이 해제된다.By lowering the cover 20, the connector 103 is engaged with the guide portion 90, and the contact pin 91 and the terminal of the connector 103 are brought into contact with each other. The pressurizing member 30 operates in conjunction with the lowering motion of the cover 20, and a pressurizing force is applied to the pressurizing member 30 from the biasing means 40 so that the case 1011 of the electronic component 101 is attached to the reference wall. Push on (W). Thereby, it is possible to achieve both electrical connection of the electro-optical component 100 and optical alignment. On the other hand, by raising the cover 20, the regulating force is applied to the biasing means 40 by the regulating member 50, and the pressing of the case 1011 by the pressing member 30 is released.

도 15에 나타낸 콘택트 장치(500)의 예에서는 커버(20)측에 가압부재(30), 부세수단(40) 및 규제부재(50)가 마련되어 있는데, 베이스(10)측에 마련할 수도 있다.In the example of the contact device 500 shown in FIG. 15, the pressing member 30, the biasing means 40, and the regulating member 50 are provided on the cover 20 side, but may be provided on the base 10 side.

이상 설명한 바와 같이, 실시예에 따른 측정용 소켓(1A 내지 1C)에 따르면, 전자 광학 부품(100)을 정확하게 위치결정하여 확실한 도통 및 광축 맞추기를 수행하는 것이 가능하게 된다.As described above, according to the measuring sockets 1A to 1C according to the embodiment, it is possible to accurately position the electro-optical component 100 to perform reliable conduction and alignment of the optical axis.

또한, 상기에 실시예 및 그 구체예를 설명하였는데, 본 발명은 이들 예에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 상술한 실시예 및 그 구체예에 대해, 당업자가 적절하게, 구성요소의 추가, 삭제, 설계 변경을 실시한 것이나, 실시예의 특징을 적절히 조합한 것도, 본 발명의 요지를 구비하고 있는 한, 본 발명의 범위에 포함된다.In addition, although the examples and specific examples thereof have been described above, the present invention is not limited to these examples. For example, with respect to the above-described embodiments and specific examples thereof, those skilled in the art appropriately add, delete, and change the design of components, and appropriate combinations of the features of the embodiments also have the gist of the present invention. As long as it is included in the scope of the present invention.

1A, 1B, 1C : 측정용 소켓
10 : 베이스
10h : 가이드 홀
11, 12 : 오목부
15 : 래치
17 : 단자
20 : 커버
25 : 클릭
27 : 힌지
28 : 축
29 : 스프링
30, 30A, 30B : 가압부재
30h : 구멍부
35 : 가이드 롤러
37 : 환형체
38 : 롤러
40 : 부세(付勢)수단
50, 50A, 50B : 규제부재
51 : 규제핀
51a : 경사면
55, 75 : 코일 스프링(탄성부재)
60, 60A, 60B : 규제력 제어수단
61 : 요동 링크
61a : 축
62 : 받침핀
65 : 직동(直動) 링크
66 : 걸이핀
68 : 수동부
70 : 편심 캠
71 : 슬라이딩부
72 : 롤러
80 : 작용부
81 : 케이스
81h : 가이드 홀
85 : 전달수단
86 : 슬라이딩부
86h : 홀
87 : 롤러
88 : 핀
90 : 가이드부
91 : 콘택트 핀
100 : 전자 광학 부품
101 : 전자 부품
102 : 플렉시블 기판
103 : 커넥터
105 : 광학 렌즈부
150 : 베이스 플레이트
160 : 가이드 플레이트
500 : 콘택트 장치
515 : 지주(支柱)
517 : 스프링
1011 : 케이스
1012 : 패드
D1 : 가압방향
D2 : 해제방향
F1a, F1b : 부세력
F2a, F2b : 규제력
W : 기준벽
1A, 1B, 1C: measuring socket
10: base
10h: guide hole
11, 12: concave
15: latch
17: terminal
20: cover
25: click
27: hinge
28: axis
29: spring
30, 30A, 30B: pressure member
30h: hole
35: guide roller
37: annular body
38: roller
40: Vending means
50, 50A, 50B: regulatory member
51: regulation pin
51a: slope
55, 75: coil spring (elastic member)
60, 60A, 60B: regulatory force control means
61: oscillating link
61a: axis
62: support pin
65: direct link
66: hook pin
68: passive part
70: eccentric cam
71: sliding part
72: roller
80: acting part
81: case
81h: guide hole
85: transmission means
86: sliding part
86h: Hall
87: roller
88: pin
90: guide part
91: contact pin
100: electronic optical component
101: electronic component
102: flexible substrate
103: connector
105: optical lens unit
150: base plate
160: guide plate
500: contact device
515: prop
517: spring
1011: case
1012: pad
D1: Pressurization direction
D2: Release direction
F1a, F1b: negative forces
F2a, F2b: regulatory power
W: reference wall

Claims (11)

전자 광학 부품을 측정 대상으로 하는 측정용 소켓으로서,
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버와 상기 베이스의 상대거리와 상기 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하고,
상기 규제력 제어수단은 상기 커버의 동작과 연동하여 상기 규제부재를 구동하는 링크를 갖는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.
As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, and the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
And a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force,
Wherein the regulating force control means has a link for driving the regulating member in conjunction with an operation of the cover.
제1항에 있어서,
상기 커버가 열릴 때에 상기 규제부재를 통해 상기 규제력을 상기 부세수단에 부여하기 위한 탄성부재를 가지며,
상기 탄성부재의 탄성 변형이 적을 때일 수록 상기 규제부재로부터 상기 부세수단에 큰 상기 규제력을 부여하는, 측정용 소켓.
The method of claim 1,
It has an elastic member for imparting the regulating force to the biasing means through the regulating member when the cover is opened,
The measuring socket, wherein as the elastic deformation of the elastic member is less, the greater the regulating force is applied from the regulating member to the biasing means.
전자 광학 부품을 측정 대상으로 하는 측정용 소켓으로서,
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버를 씌움으로써 상기 커버의 상기 베이스와의 대향면에 마련된 작용부에 의해 상기 가압부재가 가압되고,
상기 작용부는
상기 부세수단과,
상기 규제부재와,
상기 부세수단의 부세력을 상기 가압부재에 구동력으로서 전달하는 전달수단을 구비하며,
상기 가압부재는 상기 전달수단으로부터 받은 구동력에 기초하여 상기 전자 광학 부품을 가압하고,
상기 가압부재는 환형체를 구비하며, 상기 환형체의 고리 내에 상기 전자 광학 부품이 삽입통과되고,
상기 전달수단은, 상기 환형체의 내부 둘레가 상기 전자 광학 부품에 접근하는 방향의 구동력을 상기 가압부재에 부여하는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.
As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, and the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
By covering the cover, the pressing member is pressed by an acting portion provided on a surface opposite to the base of the cover,
The working part
The energizing means,
The regulating member,
And a transmission means for transmitting the biasing force of the biasing means to the pressing member as a driving force,
The pressing member presses the electro-optical component based on the driving force received from the transmission means,
The pressing member has an annular body, and the electronic optical component is inserted through the ring of the annular body,
The transmission means applies a driving force to the pressing member in a direction in which the inner circumference of the annular body approaches the electro-optical component.
전자 광학 부품을 측정 대상으로 하는 측정용 소켓으로서,
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버를 씌움으로써 상기 커버의 상기 베이스와의 대향면에 마련된 작용부에 의해 상기 가압부재가 가압되고,
상기 작용부는
상기 부세수단과,
상기 규제부재와,
상기 부세수단의 부세력을 상기 가압부재에 구동력으로서 전달하는 전달수단을 구비하며,
상기 가압부재는 상기 전달수단으로부터 받은 구동력에 기초하여 상기 전자 광학 부품을 가압하고,
상기 작용부는 케이스를 더 구비하고,
상기 규제부재와 상기 전달수단의 접촉부는 상기 케이스의 내부에 위치하는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.
As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, so that the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
By covering the cover, the pressing member is pressed by an acting portion provided on a surface opposite to the base of the cover,
The working part
The energizing means,
The regulating member,
And a transmission means for transmitting the biasing force of the biasing means to the pressing member as a driving force,
The pressing member presses the electro-optical component based on the driving force received from the transmission means,
The working portion further includes a case,
The measuring socket, characterized in that the contact portion between the regulating member and the transmission means is located inside the case.
제4항에 있어서,
상기 가압부재는 환형체를 구비하며, 상기 환형체의 고리 내에 상기 전자 광학 부품이 삽입통과되고,
상기 전달수단은, 상기 환형체의 내부 둘레가 상기 전자 광학 부품에 접근하는 방향의 구동력을 상기 가압부재에 부여하는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.
The method of claim 4,
The pressing member has an annular body, and the electronic optical component is inserted through the ring of the annular body,
The transmission means applies a driving force to the pressing member in a direction in which the inner circumference of the annular body approaches the electro-optical component.
제4항 또는 제5항에 있어서,
상기 부세수단과 상기 전달수단의 접촉부는 상기 케이스의 내부에 위치하는, 측정용 소켓.
The method according to claim 4 or 5,
The contact portion between the biasing means and the transmission means is located inside the case, the socket for measurement.
제4항 또는 제5항에 있어서,
상기 부세수단은 상기 케이스의 내부에 위치하는, 측정용 소켓.
The method according to claim 4 or 5,
The biasing means is located inside the case, the socket for measurement.
제4항 또는 제5항에 있어서,
상기 커버와 상기 베이스의 상대거리와 상기 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하는, 측정용 소켓.
The method according to claim 4 or 5,
And a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force.
제1항에 있어서,
상기 커버는 상기 베이스에 대해 회동가능하게 지지되며,
상기 가압부재 및 상기 링크는 상기 베이스에 마련되고,
상기 커버의 회동 동작에 연동하여 상기 링크는 진퇴동작하도록 마련된, 측정용 소켓.
The method of claim 1,
The cover is rotatably supported with respect to the base,
The pressing member and the link are provided on the base,
In conjunction with the rotation operation of the cover, the link is provided to move forward and backward, the measurement socket.
전자 광학 부품을 측정 대상으로 하는 측정용 소켓으로서,
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버와 상기 베이스의 상대 거리와 상기 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하고,
상기 커버는 상기 베이스에 대해 회동가능하게 지지되며,
상기 규제력 제어수단은, 상기 커버의 회동축에 마련된 편심 캠을 가지고,
상기 커버의 동작과 동기하는 상기 편심 캠의 동작에 의해 상기 규제력을 변화시키는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.
As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, and the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
And a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force,
The cover is rotatably supported with respect to the base,
The regulating force control means has an eccentric cam provided on the rotation shaft of the cover,
The measuring socket, characterized in that the regulating force is changed by an operation of the eccentric cam in synchronization with an operation of the cover.
전자 광학 부품을 측정 대상으로 하는 측정용 소켓으로서,
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버와 상기 베이스의 상대 거리와 상기 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하고,
상기 베이스와 상기 커버 사이에 마련되어 상기 베이스에 대해 회동가능하게 지지된 센터 커버를 추가로 구비하며,
상기 규제력 제어수단은, 상기 센터 커버의 회동축에 마련된 편심 캠을 가지고,
상기 센터 커버의 동작과 동기하는 상기 편심 캠의 동작에 의해 상기 규제력을 변화시키는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.
As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, and the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
And a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force,
An additional center cover provided between the base and the cover and supported so as to be rotatable with respect to the base is further provided,
The regulating force control means has an eccentric cam provided on the rotation shaft of the center cover,
The measuring socket, characterized in that the regulating force is changed by an operation of the eccentric cam in synchronization with an operation of the center cover.
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