KR102224464B1 - Socket for Test - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 전자 광학 부품의 도통 검사나 특성 측정 등을 할 때에 사용되는 측정용 소켓에 관한 것이다.[0001] The present invention relates to a socket for measurement used when performing a conduction test or a characteristic measurement of an electro-optical component.
종래, IC 등의 전자 부품의 전기적인 측정을 실시할 때에 사용되는 측정용 소켓(이하, 단순히 "소켓"이라고도 한다.)으로서, 전자 부품을 일방향으로 가압하여 위치결정하는 소켓이 개시되어 있다. 예를 들어, 특허문헌 1에는, IC 패키지의 표면을 가압하여 위치결정을 하는 반도체 장치용 소켓이 개시되어 있다.BACKGROUND ART Conventionally, as a socket for measuring (hereinafter, also referred to simply as a "socket") used for electrical measurement of an electronic component such as an IC, a socket for positioning an electronic component by pressing it in one direction has been disclosed. For example,
또한, 특허문헌 2에는, 소켓 커버의 전기 부품을 가압하는 가압동작에 따라 조작되어, 수용부에 수용된 전기부품의 위치결정부와 반대측의 코너부에서 직교하는 측면에 각각 점접촉하고, 전기 부품을 위치결정부에 대해 한쪽으로 치우치게 하는 편중수단을 구비한 전기 부품용 소켓이 개시되어 있다.In addition, in Patent Document 2, the electrical components of the socket cover are operated in accordance with the pressing operation to pressurize the electrical components accommodated in the accommodating portion and each of the side surfaces orthogonal to the corner portions opposite to the positioning portions, respectively, and the electrical components are in contact with each other. A socket for an electrical component is disclosed having a biasing means for biasing to one side with respect to a positioning portion.
또한, 특허문헌 3에는, 소켓 본체에, 전기 부품이 가압부재로 가압되기 전에, 재치부(載置部)의 주연부 일부에 마련된 고정 가이드부에 맞닿는 전기 부품의 측면과 반대측의 측면을 고정 가이드부의 방향으로 눌러, 전기 부품을 고정 가이드부에 접촉시켜 소정의 올려두는 위치로 위치결정하는 수단을 구비한 전기 부품용 소켓이 개시되어 있다.In addition, in Patent Document 3, before the electrical component is pressed by the pressing member to the socket main body, the side surface of the electric component that abuts against the fixed guide portion provided on a part of the periphery of the mounting portion and the side opposite to the side surface of the fixing guide portion. A socket for an electrical component is disclosed having a means for pressing in a direction to bring the electrical component into contact with a fixed guide portion and positioning the electrical component to a predetermined mounting position.
그러나, 전자 광학 부품의 측정에서는 전기적인 측정과 함께 광학적인 측정도 수행할 필요가 있기 때문에, 측정용 소켓에는, 전자 광학 부품에 마련된 패드나 커넥터와의 정확한 콘택과, 광학축의 정확한 위치 정렬의 양립이 요구된다. 특히, 전자 광학 부품을 가압하여 기준 위치에 맞출 경우, 가압의 방법에 따라서는 광학축이 기울거나 위치이탈하는 일도 있어, 전자 광학 부품의 가압의 중요성이 높아지고 있다.However, in the measurement of an electro-optical component, it is necessary to perform an optical measurement as well as an electrical measurement. Therefore, in the measurement socket, the correct contact with the pad or connector provided on the electro-optical component and the correct alignment of the optical axis are both compatible. Is required. Particularly, when the electro-optical component is pressed to a reference position, the optical axis may be tilted or displaced depending on the method of pressing, and the importance of pressing the electro-optical component is increasing.
본 발명은 전자 광학 부품을 정확하게 위치결정하여 확실한 도통 및 광축 맞추기를 수행할 수 있는 측정용 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a measuring socket capable of accurately positioning an electro-optical component to perform reliable conduction and alignment of an optical axis.
상기 과제를 해결하기 위해, 본 발명의 일 양태는, 전자 광학 부품을 측정 대상으로 하는 측정용 소켓으로서, 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스; 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재; 가압부재를 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단; 및 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 부세수단에 부여가능한 규제부재;를 구비하며, 커버가 열림으로써 규제부재에 의해 규제력이 부세수단에 부여되어 가압부재를 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고, 커버가 닫히는 동작에 따라 규제력이 감쇠되어, 부세수단의 부세력에 의해 가압부재를 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시킨다.In order to solve the above problems, an aspect of the present invention is a measurement socket for measuring an electro-optical component, comprising: a base having a recess for accommodating the electro-optical component; A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall; A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall; And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base, wherein the regulating force is imparted to the biasing means by the regulating member when the cover is opened. Is moved in a direction away from the reference wall, and the regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, thereby moving the pressing member in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means.
이러한 구성에 따르면, 가압부재를 기준벽의 방향으로 부세하는 부세수단의 부세력과, 커버의 동작에 기초하여 규제부재로부터 부세수단에 부여되는 규제력과의 밸런스에 의해 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이는 가압력을 설정할 수 있다. 커버가 닫힐수록 규제력은 감쇠되기 때문에, 커버를 닫은 상태에서는 우세(優勢)가 된 부세력에 의해 안정적으로 전자 광학 부품을 가압할 수 있다.According to this configuration, the electro-optical component is pushed against the reference wall by a balance between the biasing force of the biasing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall and the regulation force applied to the biasing means from the regulating member based on the operation of the cover. You can set the applied pressure. Since the regulating force is attenuated as the cover is closed, the electro-optical component can be stably pressurized by the dominant sub-force when the cover is closed.
상기 측정용 소켓에 있어서, 커버와 베이스의 상대거리와 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하는 것이 바람직하다. 이와 같이, 규제력 제어수단에 의해 규제력을 제어함으로써, 커버와 베이스의 상대거리와 부세력의 정도와의 관계를 임의로 설정할 수 있다. 전자 광학 부품은 정밀 부품이므로, 과도하게 가압되면 파손되어 버릴 우려도 있다. 부세력에 대해 항상 규제력을 작용시킴으로써, 부세력에 의한 가압의 정도를 적절하게 조정할 수 있다.In the above measuring socket, it is preferable to provide a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force. In this way, by controlling the regulating force by the regulating force control means, the relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the sub force can be arbitrarily set. Since the electro-optical component is a precision component, there is a fear that it will be damaged when excessively pressurized. By always exerting a regulating force on the auxiliary force, the degree of pressurization by the auxiliary force can be appropriately adjusted.
상기 측정용 소켓에 있어서, 규제력 제어수단은, 커버의 동작과 연동하여 규제부재를 구동하는 링크를 가지고 있을 수도 있다. 이로써, 링크의 작용에 의해 커버의 동작에 연동된 규제력을 설정할 수 있다.In the above measuring socket, the regulating force control means may have a link that drives the regulating member in conjunction with the operation of the cover. Thereby, it is possible to set the regulating force linked to the operation of the cover by the action of the link.
상기 측정용 소켓에 있어서, 커버가 열릴 때에 규제부재를 통해 규제력을 부세수단에 부여하기 위한 탄성부재를 가지며, 탄성부재의 탄성 변형이 적을 때일 수록 규제부재로부터 부세수단에 큰 규제력을 부여하도록 되어 있을 수도 있다. 이로써, 탄성부재가 보다 프리한 상태일 때에 규제력을 부여하고 있기 때문에, 규제력을 높이기 쉽다.The measuring socket has an elastic member for imparting a regulating force to the biasing means through the regulating member when the cover is opened, and the greater the amount of elastic deformation of the elastic member is, the greater the regulating force is imparted to the biasing means from the regulating member. May be. Thereby, since the regulating force is provided when the elastic member is in a more free state, it is easy to increase the regulating force.
상기 측정용 소켓에 있어서, 커버를 씌움으로써 커버의 베이스와의 대향면에 마련된 작용부에 의해 가압부재가 가압되도록 되어 있을 수도 있다. 작용부는 부세수단과, 규제부재와, 부세수단의 부세력을 가압부재에 구동력으로서 전달하는 전달수단을 구비하며, 가압부재는 전달수단으로부터 받은 구동력에 기초하여 전자 광학 부품을 가압한다. 이로써, 부세수단, 규제부재 및 전달수단을 포함하는 작용부에 의해 구성의 간소화를 도모할 수 있다.In the measuring socket, by covering the cover, the pressing member may be pressed by an acting portion provided on a surface opposite to the base of the cover. The acting portion includes a biasing means, a regulating member, and a transmission means for transmitting the biasing force of the biasing means to the pressing member as a driving force, and the pressing member presses the electro-optical component based on the driving force received from the transmission means. Thereby, the structure can be simplified by the acting part including the biasing means, the regulating member, and the transmission means.
상기 측정용 소켓에 있어서, 가압부재는 환형체를 구비하며, 환형체의 고리 내에 전자 광학 부품이 삽입통과되고, 전달수단은 환형체의 내부 둘레가 전자 광학 부품에 접근하는 방향의 구동력을 가압부재에 부여하도록 되어 있을 수도 있다. 이로써, 환형체의 내부 둘레를 전자 광학 부품에 밀어붙임으로써 2방향 동시에 안정적으로 가압할 수 있다.In the measuring socket, the pressing member has an annular body, and an electro-optical component is inserted through the ring of the annular body, and the transmission means applies a driving force in a direction in which the inner circumference of the annular body approaches the electro-optical component. It may be supposed to be given to. Thereby, by pushing the inner circumference of the annular body against the electro-optical component, it is possible to stably pressurize in two directions at the same time.
상기 측정용 소켓에 있어서, 작용부는 케이스를 추가로 구비하며, 규제부재와 전달수단의 접촉부가 케이스의 내부에 위치하도록 되어 있을 수도 있다. 또한, 상기 측정용 소켓에 있어서, 부세수단과 전달수단의 접촉부가 케이스의 내부에 위치하도록 되어 있을 수도 있으며, 부세수단이 상기 케이스의 내부에 위치하도록 되어 있을 수도 있다. 이와 같이, 가압부재를 동작시킴에 있어 키가 되는 부분을 케이스의 내부에 넣음으로써, 구성의 간소화 및 동작 안정성을 확보할 수 있다.In the measuring socket, the acting portion may further include a case, and the contact portion between the regulating member and the transmission means may be positioned inside the case. In addition, in the measuring socket, the contact portion between the biasing means and the transmission means may be positioned inside the case, or the biasing means may be positioned inside the case. In this way, when the pressing member is operated, the key portion is placed inside the case, thereby simplifying the configuration and ensuring operational stability.
상기 측정용 소켓에 있어서, 커버는 베이스에 대해 회동가능하게 지지되고, 가압부재 및 링크는 베이스에 마련되며, 커버의 회동 동작에 연동하여 링크가 진퇴동작하도록 마련되어 있을 수도 있다. 이로써, 링크의 작용에 의해 커버의 회동에 연동된 규제력을 설정할 수 있다.In the measuring socket, the cover is rotatably supported with respect to the base, the pressing member and the link are provided on the base, and may be provided to move the link forward and backward in association with the rotational motion of the cover. Thereby, it is possible to set the regulating force linked to the rotation of the cover by the action of the link.
상기 측정용 소켓에 있어서, 커버는 베이스에 대해 회동가능하게 지지되며, 규제력 제어수단은, 커버의 회동축에 마련된 편심 캠을 가지며, 커버의 동작과 동기하는 편심 캠의 동작에 의해 규제력을 변화시키도록 되어 있을 수도 있다. 이와 같이, 규제력 제어수단으로서 편심 캠을 사용함으로써, 장치 구성의 소형화를 도모할 수 있다.In the above measurement socket, the cover is rotatably supported with respect to the base, and the regulating force control means has an eccentric cam provided on the rotation shaft of the cover, and changes the regulating force by the operation of the eccentric cam in synchronization with the operation of the cover. It may be supposed to be. In this way, by using the eccentric cam as the regulating force control means, the device configuration can be downsized.
상기 측정용 소켓에 있어서, 베이스와 커버 사이에 마련되며, 베이스에 대해 회동가능하게 지지된 센터 커버를 추가로 구비하며, 규제력 제어수단은 센터 커버의 회동축에 마련된 편심 캠을 가지며, 센터 커버의 동작과 동기하는 편심 캠의 동작에 의해 규제력을 변화시키도록 되어 있을 수도 있다. 이로써, 센터 커버의 동작에 연동하여 편심 캠을 동작시켜 전자 광학 부품을 가압할 수 있다.In the measuring socket, a center cover provided between the base and the cover and supported rotatably with respect to the base is additionally provided, and the regulating force control means has an eccentric cam provided on the rotation shaft of the center cover. The regulating force may be changed by the operation of the eccentric cam in synchronization with the operation. Accordingly, it is possible to pressurize the electro-optical component by operating the eccentric cam in conjunction with the operation of the center cover.
본 발명에 따르면, 전자 광학 부품을 정확히 위치결정하여 확실한 도통 및 광축 맞추기를 수행할 수 있는 측정용 소켓이 제공된다.According to the present invention, there is provided a measuring socket capable of accurately positioning an electro-optical component to perform reliable conduction and alignment of an optical axis.
도 1은 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도(그 1).
도 2는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도(그 2).
도 3은 측정 대상인 전자 광학 부품을 예시하는 사시도.
도 4는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 평면도.
도 5는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 일부 생략 평면도.
도 6은 제 2 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도.
도 7은 가압부재의 확대 사시도.
도 8 (a) 내지 (c)는 제 2 실시예에 따른 측정용 소켓의 동작을 설명하는 모식 단면도.
도 9는 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도.
도 10은 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 베이스측을 예시하는 사시도.
도 11은 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 커버측을 예시하는 사시도.
도 12는 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 커버측을 예시하는 평면도.
도 13은 환형체를 예시하는 사시도.
도 14는 작용부를 예시하는 사시도.
도 15는 콘택트 장치를 예시하는 모식도.1 is a perspective view (No. 1) illustrating a socket for measurement according to a first embodiment.
Fig. 2 is a perspective view (No. 2) illustrating the socket for measurement according to the first embodiment.
3 is a perspective view illustrating an electro-optical component as a measurement object.
4 is a plan view illustrating a socket for measurement according to the first embodiment.
5 is a partially omitted plan view illustrating the socket for measurement according to the first embodiment.
6 is a perspective view illustrating a socket for measurement according to a second embodiment.
7 is an enlarged perspective view of the pressing member.
8A to 8C are schematic cross-sectional views for explaining the operation of the socket for measurement according to the second embodiment.
9 is a perspective view illustrating a socket for measurement according to a third embodiment.
Fig. 10 is a perspective view illustrating a base side of a socket for measurement according to a third embodiment.
Fig. 11 is a perspective view illustrating a cover side of a measuring socket according to a third embodiment.
Fig. 12 is a plan view illustrating a cover side of a measuring socket according to a third embodiment.
13 is a perspective view illustrating an annular body.
14 is a perspective view illustrating a working portion.
15 is a schematic diagram illustrating a contact device.
이하, 본 발명의 실시예를 도면에 기초하여 설명한다. 또한, 이하의 설명에서는, 동일 부재에는 동일 부호를 붙이고, 한번 설명한 부재에 대해서는 적절히 그 설명을 생략한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described based on the drawings. In the following description, the same members are denoted by the same reference numerals, and the description of the members once described will be omitted as appropriate.
(제 1 실시예)(Example 1)
도 1은 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도(그 1)이다. Fig. 1 is a perspective view (No. 1) illustrating a socket for measurement according to a first embodiment.
도 2는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도(그 2)이다. Fig. 2 is a perspective view (No. 2) illustrating the socket for measurement according to the first embodiment.
도 1에는 전자 광학 부품이 올려놓여진 상태가 도시되며, 도 2에는 전자 광학 부품이 올려놓여져 있지 않은 상태가 도시된다.FIG. 1 shows a state in which the electro-optical component is placed, and FIG. 2 shows a state in which the electro-optical component is not placed.
도 3은 측정 대상인 전자 광학 부품을 예시하는 사시도이다.3 is a perspective view illustrating an electro-optical component as a measurement object.
도 4는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 평면도이다.4 is a plan view illustrating a socket for measurement according to the first embodiment.
도 5는 제 1 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 일부 생략 평면도이다. 도 5에서는 베이스(10)의 가이드 플레이트(160)를 생략한 상태가 도시된다.5 is a partially omitted plan view illustrating the socket for measurement according to the first embodiment. 5 shows a state in which the
제 1 실시예에 따른 측정용 소켓(1A)은, 전자 광학 부품(100)의 전기적인 측정 및 광학적인 측정을 실시할 때에 사용되는 소켓이다. 측정용 소켓(1A)은 측정 대상이 되는 전자 광학 부품(100)을 탑재하여, 전자 광학 부품(100)과의 전기적인 접속 및 광축 맞추기를 수행한다.The measuring
본 실시예에 있어서, 측정 대상이 되는 전자 광학 부품(100)에서는, 케이스(1011)의 한쪽편에 광학 렌즈부(105)가 마련되고, 케이스(1011)의 다른쪽편에 전기적인 도통을 수행하는 패드(1012)가 마련되어 있다. 따라서, 본 실시예의 측정용 소켓(1A)에서는, 후술하는 베이스(10)의 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 올려놓고 가압함으로써, 오목부(11) 내에 마련된 단자(17)와 패드(1012)를 접촉시켜 전기적인 도통을 얻는다. 또한, 측정용 소켓(1A)에서는, 전자 광학 부품(100)을 가압함으로써 케이스(1011)를 기준벽(W)에 밀어붙여 위치결정하고, 광학 렌즈부(105) 등의 광학 요소의 광축 맞추기를 수행한다. 즉, 측정용 소켓(1A)은, 측정 대상이 되는 전자 광학 부품(100)에 대한 전기적인 도통과, 광학적인 위치 정렬(광축 맞추기)의 양립을 도모하는 것이다.In this embodiment, in the electro-
본 실시예에 따른 측정용 소켓(1A)은, 베이스(10)와, 가압부재(30)와, 부세수단(40)과, 규제부재(50)를 구비한다. 또한, 이하의 설명에 있어서, 베이스(10)에서의 전자 광학 부품(100)을 탑재하는 면과 직교하는 방향을 Z방향으로, Z방향과 직교하는 방향 중 하나를 X방향으로, Z방향 및 X방향과 직교하는 방향을 Y방향으로 하기로 한다.The measuring
베이스(10)는 전자 광학 부품(100)을 탑재하는 오목부(11)를 갖는다. 예를 들어, 베이스(10)는 베이스 플레이트(150)와, 베이스 플레이트(150) 위에 장착된 가이드 플레이트(160)를 가지며, 오목부(11)는 가이드 플레이트(160)의 대략 중앙부에 마련된다. 오목부(11)는, 가이드 플레이트(160)에 마련된 관통공과, 베이스 플레이트(150)에 의한 바닥으로 구성된다. 오목부(11)는 전자 광학 부품(100)의 배치 위치를 결정하기 위한 가이드의 역할을 한다.The
오목부(11)의 개구측에는 위로 확장되는 테이퍼부가 마련되고, 테이퍼부의 하방에는 스트레이트부가 마련되어 있다. 오목부(11)에 올려놓여진 전자 광학 부품(100)은 테이퍼에 의해 끌어들여져 스트레이트부에 수용된다.A tapered portion extending upward is provided on the opening side of the
오목부(11)의 바닥(베이스 플레이트(150) 위)에는 단자(17)가 마련된다. 이 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 수용하여 Z방향으로 가압함으로써, 케이스(1011)의 이면에 마련된 패드(1012)와 단자(17)가 접촉하는 상태가 된다. 이로써, 측정용 소켓(1A)은 전자 광학 부품(100)과의 전기적인 도통을 얻을 수 있다.A terminal 17 is provided at the bottom of the recess 11 (above the base plate 150). When the electro-
베이스(10)에는 커버(20)가 씌워진다. 측정용 소켓(1A)에 있어서, 커버(20)는 베이스(10)에 대해 회동가능하게 장착된다. 즉, 베이스(10)의 일단에 마련된 힌지(27)를 통해 커버(20)가 장착된다. 이로써, 커버(20)는 힌지(27)의 축(28)을 중심으로 하여 개폐동작가능하게 마련된다. The
측정용 소켓(1A)의 예를 들면 베이스(10)에는 래치(15)가 마련된다. 커버(20)를 닫은 상태에서 래치(15)를 커버(20)의 클릭(25)에 걸음으로써, 커버(20)를 닫은 상태가 유지된다. 커버(20)는 힌지(27)의 축(28)에 장착된 스프링(29)에 의해 열리는 방향으로 부세되어 있다. 따라서, 래치(15)를 벗김으로써, 스프링(29)의 부세력에 의해 커버(20)는 열리게 된다.A
가압부재(30)는 베이스(10)의 오목부(11)에 수용된 전자 광학 부품(100)을 기준벽(W)에 밀어붙이기 위한 부재이다. 기준벽(W)은 예를 들면 오목부(11)의 내벽이다. 기준벽(W)으로서 오목부(11)의 내벽이 아니라 별도의 충돌용 벽(스탠딩 피스)을 마련할 수도 있다. 측정용 소켓(1A)에 있어서, 가압부재(30)는 가이드 플레이트(160)의 오목부(11)에 인접하여 마련된 가이드 홀(10h) 내에 배치된다. 가압부재(30)는 가이드 홀(10h) 내에서 슬라이딩가능하게 마련되고, 전자 광학 부품(10)의 케이스(1011)에 접촉하여 전자 광학 부품(100)을 소정 방향으로 가압한다.The pressing
가압부재(30)는 1개일 수도 있고, 복수개 마련되어 있을 수도 있다. 측정용 소켓(1A)에서는 2개의 가압부재(30A, 30B)가 마련된다. 각 가압부재(30A, 30B)는 서로 다른 2방향으로 케이스(1011)를 가압하여 케이스(1011)를 기준벽(W)에 밀어붙이도록 되어 있다. 즉, 가압부재(30A)는 상방에서 볼 때 직사각형의 케이스(1011)의 일측면을 Y방향으로 가압하며, 가압부재(30B)는 케이스(1011)의 일측면과 직교하는 타측면을 X방향으로 가압한다. 가압부재(30A, 30B)를 구별하지 않고 설명할 때는 가압부재(30)로 칭하기로 한다. 가압부재(30)는 예를 들면 한 쌍의 가이드 롤러(35) 사이에 마련되며, 가이드 롤러(35)에 의해 XY면 내에 따른 일방향으로 원활하게 슬라이딩될 수 있도록 되어 있다.The pressing
부세수단(40)은 가압부재(30)(기준벽(W))의 방향으로 부세한다. 부세수단(40)에는 예를 들면 코일 스프링이 사용된다. 부세수단(40)은 예를 들면 가압부재(30)의 선단(케이스(1011)와 접촉하는 측)과는 반대측인 후단과 가이드 플레이트(160) 사이에 마련되며, 가압부재(30)를 전자 광학 부품(100)의 방향으로 밀기 위한 부세력을 가압부재(30)에 부여한다.The biasing means 40 is biased in the direction of the pressing member 30 (reference wall W). For the biasing means 40, for example, a coil spring is used. The biasing means 40 is provided between the
예를 들면, 가압부재(30A)는 부세수단(40)에 의해 전자 광학 부품(100)으로 향하는 Y방향으로 부세력(F1a)이 부여되고, 가압부재(30B)는 부세수단(40)에 의해 전자 광학 부품(100)으로 향하는 X방향으로 부세력(F1b)이 부여된다.For example, the pressing
규제부재(50)는, 베이스(10)에 씌워지는 커버(20)의 동작에 기초하여 부세수단(40)의 부세력을 이겨내는 규제력을 부세수단(40)에 부여하는 부재이다. 측정용 소켓(1A)에서는, 가압부재(30)에 연결하고 있는 규제핀(51)이 규제부재(50)이다. 측정용 소켓(1A)에서는, 2개의 가압부재(30A, 30B)의 각각에 대응하여 규제부재(50A, 50B)가 마련된다. 규제부재(50A, 50B)를 구별하지 않고 설명할 때는 규제부재(50)라고 칭하기로 한다.The regulating
규제부재(50)인 규제핀(51)은, 가압부재(30)의 이면측에 마련된 구멍부(30h)에 삽입된다. 규제핀(51)은 요동 링크(61)의 축(61a)에 대한 일단측에 세워 설치된다. 요동 링크(61)는 베이스(10)에 대해 축(61a)을 중심으로 요동가능하게 장착된다. 요동 링크(61)의 축(61a)에 대한 타단측에는 받침핀(62)이 세워 설치된다. 받침핀(62)은 후술하는 직동(直動) 링크(65)의 걸이핀(66)과 결합된다.The regulating
직동 링크(65)는 커버(20)의 동작과 연동하여 규제부재(50)인 규제핀(51)을 구동한다. 직동 링크(65)의 커버(20)측의 단부에는 커버(20)의 동작을 받는 수동부(68)가 마련되고, 커버(20)의 개폐동작을 받아 직동 링크(65)를 이동시킨다. 이 요동 링크(61), 받침핀(62), 직동 링크(65) 및 걸이핀(66)은 규제력 제어수단(60)의 구성요소가 된다. 규제력 제어수단(60)은 베이스(10)와 커버(20)의 상대거리와 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 것이다.The
이와 같은 구성을 구비하는 측정용 소켓(1A)에서는, 커버(20)가 열림으로써 규제부재(50)에 의해 규제력이 부세수단(40)에 부여되어 가압부재(30)를 기준벽(W)으로부터 멀어지는 방향으로 이동시킨다. 한편, 커버(20)가 닫힐 때에는 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리에 따라 규제력이 감쇠되어, 부세수단(40)의 부세력에 의해 가압부재(30)를 기준벽(W)에 접근하는 방향으로 이동시킨다. 즉, 커버(20)는 베이스(10)에 대해 회동가능하게 지지되며, 가압부재(30) 및 링크(직동 링크(65)는 베이스(10)에 마련되고, 커버(20)의 회동 동작에 연동하여 링크(직동 링크(65))가 진퇴동작하도록 마련되어 있다.In the
구체적으로는, 스프링(29)의 부세력에 의해 커버(20)가 열릴 때, 이 커버(20)의 열리는 동작에 의해 직동 링크(65)가 커버(20)측으로 이동한다. 그리고, 직동 링크(65)의 이동에 의해 걸이핀(66)이 받침핀(62)을 끌어당기고, 요동 링크(61)를 요동시킨다. 받침핀(62)이 끌어당겨짐으로써 요동 링크(61)를 통해 규제핀(51)은 전자 광학 부품(100)(오목부(11))으로부터 멀어지는 방향으로 이동한다. 이 규제핀(51)의 이동에 의해 가압부재(30)가 부세수단(40)의 부세력에 대향하여 끌어당겨지고, 전자 광학 부품(100)으로부터 멀어지는 방향으로 이동하게 된다. 즉, 규제핀(51)으로부터 부세수단(40)에 대하여 규제력이 부여되고, 부세력을 이겨내는 규제력에 의해 가압부재(30)가 부세력의 작용하는 방향과는 반대의 방향으로 이동하게 된다.Specifically, when the
예를 들면, 규제부재(50A)의 규제핀(51)은, 가압부재(30A)를 기준벽(W)의 방향으로 부세하는 부세력(F1a)을 이겨내는 규제력(F2a)을 부세수단(40)에 부여한다. 규제력(F2a)은, 스프링(29)에 의해 커버(20)를 여는 힘이 근원이 되며, 규제력 제어수단(60A)에 의해 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리에 의해 제어된다. 규제력(F2a)이 부세력(F1a)보다도 커짐으로써, 가압부재(30A)가 기준벽(W)으로부터 멀어지는 Y방향으로 이동한다.For example, the regulating
또한, 규제부재(50B)의 규제핀(51)은, 가압부재(30B)를 기준벽(W)의 방향으로 부세하는 부세력(F1b)을 이겨내는 규제력(F2b)를 부세수단(40)에 부여한다. 규제력(F2b)은, 스프링(29)에 의해 커버(20)를 여는 힘이 근원이 되며, 규제력 제어수단(60B)에 의해 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리에 의해 제어된다. 규제력(F2b)이 부세력(F1b)보다도 커짐으로써, 가압부재(30B)가 기준벽(W)으로부터 멀어지는 X방향으로 이동한다.In addition, the regulating
한편, 커버(20)가 닫힐 때에는, 커버(20)의 닫히는 동작에 의해 직동 링크(65)가 힌지(27)로부터 멀어지는 X방향으로 이동한다. 이 직동 링크(65)의 이동에 의해 걸이핀으로부터 받침핀(62)에 부여되어 있던 힘이 약해져서, 부세수단(40)의 부세력에 대향하고 있던 규제력이 감쇠된다. 이로써, 가압부재(30)가 부세력에 의해 기준벽(W)에 접근하는 방향으로 이동한다. 이 가압부재(30)의 이동에 의해 전자 광학 부품(100)이 가압되어, 케이스(1011)가 기준벽(W)에 밀어붙여진다.On the other hand, when the
즉, 커버(20)가 닫히는 동작에 있어서, 규제부재(50A)의 규제핀(51)으로부터 가압부재(30A)를 통해 부세수단(40)에 부여되어 있던 규제력(F2a)은, 부세력(F1a)보다도 작아진다. 그리고, 부세력(F1a)이 규제력(F2a)을 이겨냄으로써, 가압부재(30A)가 기준벽(W)의 방향으로 이동하고, 전자 광학 부품(100)을 가압하게 된다. 이 가압부재(30A)의 이동에 따라, 규제력 제어수단(60A)의 요동 링크(61)가 요동하며, 받침핀(62)이 걸이핀(66)에 추종하도록 이동한다.That is, in the operation of closing the
또한, 규제부재(50B)의 규제핀(51)으로부터 가압부재(30B)를 통해 부세수단(40)에 부여되어 있던 규제력(F2b)은, 부세력(F1b)보다도 작아진다. 그리고, 부세력(F1b)이 규제력(F2b)을 이겨냄으로써, 가압부재(30B)가 기준벽(W)의 방향으로 이동하여, 전자 광학 부품(100)을 가압하게 된다. 이 가압부재(30B)의 이동에 따라, 규제력 제어수단(60B)의 요동 링크(61)가 요동하며, 받침핀(62)이 걸이핀(66)에 추종하도록 이동한다.Further, the regulating force F2b applied from the regulating
커버(20)의 동작과 연동된 규제력의 제어에 있어서, 커버(20)를 여는 방향으로 부세하는 스프링(29)은 탄성부재로서 규제부재(50)를 동작시킨다. 스프링(29)의 탄성 변형은, 커버(20)가 닫혀 있을 때에 비해 커버(20)가 열려 있을 때 쪽이 적다. 따라서, 커버(20)가 열리면서, 스프링(29)의 탄성 변형이 적어질수록 규제부재(50)로부터 부세수단(40)에는 커다른 규제력이 부여되게 된다. 이로써, 스프링(29)이 보다 프리한 상태일 때에 규제력을 부여할 수 있어, 규제력을 높이기 쉬워진다.In the control of the regulating force interlocked with the operation of the
또한, 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리와 규제력의 정도와의 관련성은 규제력 제어수단(60)의 링크 구성에 의해 설정가능하다. 예를 들면, 요동 링크(61)의 축으로부터 규제핀(51)이나 받침핀(62)까지의 길이나, 받침핀(62)과 걸이핀(66)의 걸림시작 위치(링크의 길이 등)에 의해 설정된다. 이로써, 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리에 따른 규제력의 작용 타이밍 및 규제력의 변화를 설정하는 것이 가능하게 된다.Further, the relationship between the relative distance between the
또한, 규제력 제어수단(60)의 링크 구성에 의해, 커버(20)의 닫히는 동작에 따른 전자 광학 부품(100)의 Z방향으로의 가압(패드(1012)와 단자(17)의 접촉)의 타이밍과, 전자 광학 부품(100)의 케이스(1011)를 가압부재(30)에 의해 가압하여 기준벽(W)에 밀어붙이는 타이밍을 조정할 수 있다. 예를 들면, 커버(20)가 닫혀 전자 광학 부품(100)과 접촉하며, 전자 광학 부품(100)을 Z방향으로 가압하기 전에, 가압부재(30)에 의한 기준벽(W)으로의 밀어붙임을 완료해 두는 경우에는, 규제력 제어수단(60)의 링크 구성에 의해 커버(20)가 전자 광학 부품(100)에 접촉하기 전까지 규제력의 감쇠를 시작하고, 가압부재(30)에 의한 가압을 완료하도록 링크 구성을 설정하면 된다.In addition, timing of pressing of the electro-
이와 같은 측정용 소켓(1A)에 따르면, 가압부재(30)를 기준벽(W)의 방향으로 부세하는 부세수단(40)의 부세력과, 커버(20)의 동작에 기초하여 규제부재(50)로부터 부세수단(40)에 부여되는 규제력과의 밸런스에 의해 전자 광학 부품(100)을 기준벽(W)에 밀어붙이는 가압력을 설정할 수 있다. 그리고, 커버(20)가 닫힐수록 규제력은 감쇠되므로, 커버(20)를 닫은 상태에서는 우세가 된 부세력에 의해 안정적으로 전자 광학 부품(100)을 가압할 수 있다.According to such a
또한, 규제력 제어수단(60)에 의해 규제력을 제어함으로써, 커버(20)와 베이스(10)의 상대거리와 부세력의 정도와의 관계나, 전자 광학 부품(100)의 기준벽(W)에 대한 가압 타이밍을 임의로 설정할 수 있다. 전자 광학 부품(100)은 정밀부품이므로, 과도하게 가압되면 파손되어 버릴 우려도 있다. 부세력에 대해 항상 규제력을 작용시킴으로써, 부세력에 의한 가압의 정도를 적절하게 조정할 수 있으며, 안정적인 가압과 전자 광학 부품(100)에 대한 과도한 가압력의 규제를 도모할 수 있다.In addition, by controlling the regulating force by the regulating force control means 60, the relationship between the relative distance between the
(제 2 실시예)(Second Example)
도 6은 제 2 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도이다.6 is a perspective view illustrating a measuring socket according to a second embodiment.
도 7은 가압부재의 확대 사시도이다.7 is an enlarged perspective view of the pressing member.
도 8 (a) 내지 (c)는 제 2 실시예에 따른 측정용 소켓의 동작을 설명하는 모식 단면도이다.8A to 8C are schematic cross-sectional views illustrating the operation of the socket for measurement according to the second embodiment.
본 실시예에 따른 측정용 소켓(1B)에 있어서, 커버(20)는 베이스(10)에 대해 회동가능하게 장착된다. 규제력 제어수단(60)은, 커버(20)의 회동 축(28)에 마련된 편심 캠(70)과, 편심 캠(70)에 의해 이동가능하게 마련된 슬라이딩부(71)를 갖는다. 슬라이딩부(71)는 베이스 플레이트(150)와 가이드 플레이트(160) 사이에 마련된다.In the measuring
슬라이딩부(71)는 베이스 플레이트(150)와의 사이에 마련된 코일 스프링(탄성부재)(75)에 의해 기준벽(W)으로부터 멀어지는 방향으로 부세되어 있다. 슬라이디부(71)에는 규제핀(51)이 세워 설치되어 있으며, 슬라이딩부(71) 위에 배치된 가압부재(30)의 구멍부(30h)에 삽입된다. 슬라이딩부(71)에서의 편심 캠(70)측에는, 편심 캠(70)과 접촉가능한 롤러(72)가 마련된다.The sliding
가압부재(30)는, 가이드 플레이트(160)에 마련된 가이드 홀(10h) 내에 배치되어, 가이드 홀(10h)의 내측벽을 따라 진퇴가능하게 마련된다. 본 실시예에서는, 가이드 홀(10h) 및 가압부재(30)는 오목부(11)와 편심 캠(70) 사이에 배치된다. 가압부재(30)는 가이드 홀(10h)을 따라 X방향으로 진퇴가능하게 되어 있다.The pressing
부세수단(40)은 가압부재(30)의 후단부와, 가압부재(30)의 후단과 대향하는 가이드 홀(10h)의 내벽과의 사이에 마련되며, 가압부재(30)를 기준벽(W)의 방향으로 부세하고 있다.The pressing means 40 is provided between the rear end of the pressing
측정용 소켓(1B)에 의해 전자 광학 부품(100)을 측정하기 위해서는, 먼저, 도 8 (a)에 나타낸 바와 같이 커버(20)를 연 상태에서, 베이스(10)의 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 올려놓는다. 전자 광학 부품(100)의 케이스(1011)는 오목부(11)의 테이퍼부로 끌어 들여져 스트레이트부에 수용된다. 커버(20)가 열린 상태에서는, 슬라이딩부(71)의 롤러(72)는 편심 캠(70)과는 접촉하고 있지 않다. 이 상태에서는, 탄성부재인 코일 스프링(75)의 부세력에 의해 슬라이딩부(71)가 기준벽(W)으로부터 멀어지는 방향으로 부세되어 있으며, 규제핀(51)을 통해 가압부재(30)도 기준벽(W)으로부터 멀어지는 방향(힌지(27)측)으로 끌어당겨져 있다. 즉, 코일 스프링(75)의 부세력이 규제력이 되어 가압부재(30)에 부여되며, 부세수단(40)에 의한 부세력을 이겨내어 가압부재(30)를 힌지(27)측으로 이동시킨다. 이로써, 가압부재(30)는 전자 광학 부품(100)의 케이스(1011)로부터 떨어져 있다.In order to measure the electro-
이어, 도 8 (b)에 나타낸 바와 같이, 커버(20)를 닫는다. 커버(20)를 닫으면 편심 캠(70)이 롤러(72)와 접촉하여 슬라이딩부(71)를 가압한다. 슬라이딩부(71)가 가압됨으로써 규제핀(51)이 기준벽(W)의 방향으로 이동한다. 이로써, 규제핀(51)으로부터 가압부재(30)를 통해 부세수단(40)에 부여되어 있던 규제력이 감쇠되어, 부세수단(40)의 부세력에 의해 가압부재(30)가 기준벽(W)의 방향으로 이동하게 된다. 이로써, 가압부재(30)가 전자 부품(101)의 케이스(1011)를 가압하여, 케이스(1011)를 기준벽(W)에 밀어붙인다. 이로써 전자 광학 부품(100)의 위치 결정이 이루어진다.Next, as shown in Fig. 8(b), the
또한, 도 8 (c)에 나타낸 바와 같이 커버(20)를 닫아가면, 규제핀(51)과 가압부재(30)의 걸림이 없어지게 되고, 규제력이 없어져서 부세수단(40)에 의한 부세력만으로 가압부재(30)에 의해 전자 광학 부품(100)의 위치 결정이 완료된다. 그리고, 커버(20)에 의해 전자 광학 부품(100)이 Z방향으로 가압된다. 이로써, 전자 광학 부품(100)의 이면에 마련된 패드(미도시)와 콘택트 핀(91)이 접촉하여, 전기적인 접속이 이루어진다.In addition, when the
측정용 소켓(1B)에 마련된 편심 캠(70)을 사용함으로써, 편심 캠(70)의 프로파일의 변경에 의해 커버(20)를 닫는 동작과 가압부재(30)에 의한 전자 광학 부품(100)의 가압 타이밍, 가압력의 변화를 임의로 설정가능하게 된다. 또한, 규제력 제어수단(60)으로서 편심 캠(70)을 사용함으로써, 장치 구성의 소형화를 도모할 수 있다.By using the
또한, 측정용 소켓(1B)에 있어서, 베이스(10)와 커버(20) 사이에서 센터 커버를 구비하고 있으며, 센터 커버의 회동축에 편심 캠(70)을 마련하도록 할 수도 있다. 이로써, 센터 커버의 동작에 연동하여 편심 캠(70)을 동작시켜 가압부재(30)에 의해 전자 광학 부품(100)을 가압할 수 있다.Further, in the
(제 3 실시예)(Third Example)
도 9는 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓을 예시하는 사시도이다.9 is a perspective view illustrating a socket for measurement according to a third embodiment.
도 10은 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 베이스측을 예시하는 사시도이다.Fig. 10 is a perspective view illustrating a base side of a socket for measurement according to a third embodiment.
도 11은 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 커버측을 예시하는 사시도이다.Fig. 11 is a perspective view illustrating a cover side of a measuring socket according to a third embodiment.
본 실시예에 따른 측정용 소켓(1C)은, 베이스(10)에 대해 커버(20)가 상하운동하도록 구성된다. 측정용 소켓(1C)에 있어서, 커버(20)에서의 베이스(10)와의 대향면에는 작용부(80)가 마련된다. 작용부(80)는 부세수단(40) 및 규제부재(50)를 케이스(81) 내에 포함하는 유닛 구성부재이다. 또한, 측정용 소켓(1C)에 있어서, 가압부재(30)는 환형체(37)를 구비한다.The measuring
측정용 소켓(1C)에서 측정 대상이 되는 전자 광학 부품(100)은, 플렉시블 기판(102)에 전자 부품(101) 및 커넥터(103)가 접속된 것이다. 플렉시블 기판(102)에는 배선 패턴이 형성되며, 전자 부품(101)과 커넥터(103) 사이의 도통이 이루어진다. 베이스(10)에는, 전자 광학 부품(100)의 전자 부품(101)을 올려놓는 오목부(11)와, 플렉시블 기판(102)을 올려놓는 오목부(12)가 마련된다. 한편, 커버(20)에는 커넥터(103)를 가이드하는 가이드부(90)가 마련되며, 가이드부(90)의 내측에는 콘택트 핀(91)이 마련된다.The electro-
측정용 소켓(1C)에 있어서, 베이스(10)의 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 올려놓은 상태에서 커버(20)를 씌움으로써, 커넥터(103)가 가이드부(90)에 끼워지고, 가이드부(90) 내의 콘택트 핀(91)이 커넥터(103)의 단자와 접촉하게 된다. 또한, 커버(20)를 씌움으로써, 커버(20)측에 마련된 환형체(37)의 고리 내에 전자 광학 부품(100)이 삽입통과된다. 그리고, 작용부(80)에 의해 환형체(37)를 이동시켜 환형체(37)의 내부 둘레를 전자 광학 부품(100)에 밀어붙이고, 전자 광학 부품(100)을 베이스(10)측의 기준벽(W)에 밀어붙이도록 동작한다. 환형체(37)의 내부 둘레를 전자 광학 부품(100)에 밀어붙일 때, 내부 둘레에 마련된 롤러(38)를 통해 밀어붙일 수도 있다.In the
측정용 소켓(1C)에서는, 환형체(37)에 의해 전자 광학 부품(100)을 2방향 동시에 가압할 수 있다. 여기서, 환형체(37)에 의해 전자 광학 부품(100)을 가압하는 방향을 가압방향(D1)으로 하고, 가압방향(D1)과 반대 방향으로서 가압을 해제하는 방향을 해제방향(D2)으로 하기로 한다.In the
도 12는 제 3 실시예에 따른 측정용 소켓의 커버측을 예시하는 평면도이다.12 is a plan view illustrating a cover side of a measuring socket according to a third embodiment.
도 13은 환형체를 예시하는 사시도이다.13 is a perspective view illustrating an annular body.
도 14는 작용부를 예시하는 사시도이다.14 is a perspective view illustrating a working portion.
또한, 도 13에서는 작용부(80)에서의 케이스(81)의 일부를 생략한 상태가 도시되고, 도 14에서는 환형체(37)를 생략한 상태가 도시된다. 작용부(80)에는 전달수단(85)이 내장된다. 환형체(37)는 커버(20)의 베이스(10)와의 대향면에서 면방향으로 슬라이딩 가능하게 마련된다. 측정용 소켓(1C)에서는, 환형체(37)는 X방향 및 Y방향의 각각에 비평행(가압방향(D1) 및 해제방향(D2))으로 슬라이딩 가능하게 되어 있다.In addition, in FIG. 13, a state in which a part of the
작용부(80)는 환형체(37)의 고리 내에 배치되고, 환형체(37)를 가압방향(D1) 및 해제방향(D2)으로 슬라이딩시키기 위한 구동력을 부여한다. 작용부(80)의 케이스(81) 내에는 가이드 홀(81h)이 마련되며, 가이드 홀(81h) 내에 전달수단(85)의 일부인 슬라이딩부(86)가 배치된다. 슬라이딩부(86)는 가이드 홀(81h)의 내측벽을 따라 진퇴가능하게 마련된다. 이 내측벽이 가압방향(D1) 및 해제방향(D2)을 따라 마련되기 때문에, 내측벽이 슬라이딩부(86)의 진퇴방향의 가이드로서 역할한다.The acting
슬라이딩부(86)의 단부와 가이드 홀(81h)의 내벽 사이에는 부세수단(40)이 마련되어, 슬라이딩부(86)로 가압방향(D1)의 부세력을 부여하고 있다. 슬라이딩부(86)에는 홀(86h)이 마련되고, 이 홀(86h)에 규제부재(50)인 규제핀(51)이 배치된다.An urging means 40 is provided between the end of the sliding
규제핀(51)은, 예를 들면 규제핀(51)의 내부에 내장된 코일 스프링(55)에 의해 돌출하는 방향으로 부세력이 부여된다. 이 코일 스프링(55)은 가압부재(30)인 환형체(37)에 규제력을 부여하는 탄성부재이다.The regulating
규제핀(51)과 슬라이딩부(86) 사이에는 롤러(87)가 마련된다. 롤러(87)는 규제핀(51)에 마련된 경사면(51a)과 접촉한다. 경사면(51a)은 규제핀(51)(규제부재(50)과 슬라이딩부(86)(전달수단(85))의 접촉부이며, 케이스(81)의 내부에 위치한다. 롤러(87)는 부세수단(40)에 의해 슬라이딩부(86)가 가압방향(D1)으로 부세됨으로써, 가압방향(D1)의 아래측에 위치하는 경사면(51a)과 접촉한다.A
롤러(87)가 경사면(51a)과 접촉하고 있음으로써, 규제핀(51)이 돌출되어 있는 상태에서는 롤러(87)를 통해 슬라이딩부(86)에 해제방향(D2)의 힘이 부여되고, 슬라이딩부(86)는 가이드 홀(81h) 내에서 해제방향(D2)으로 슬라이딩 이동한다. 한편, 규제핀(51)이 코일 스프링(55)의 부세력을 이겨내어 밀어넣어지면, 롤러(87)와 경사면(51a)의 접촉위치가 바뀌고, 부세수단(40)에 의한 가압방향(D1)의 부세력이 슬라이딩부(86)에 부여되어, 슬라이딩부(86)는 가이드 홀(81h) 내에서 가압방향(D1)으로 슬라이딩 이동한다. 경사면(51a)은 규제력 제어수단(60)으로서 역할한다.Since the
슬라이딩부(86)는, 선단측에 마련된 핀(88)에 의해 환형체(37)와 결합되어 있다. 따라서, 슬라이딩부(86)의 이동에 연동하여 환형체(37)가 슬라이딩 이동하게 된다.The sliding
측정용 소켓(1C)에 의해 전자 광학 부품(100)을 측정하기 위해서는, 커버(20)를 연 상태에서 베이스(10)의 오목부(11)에 전자 광학 부품(100)을 올려놓는다. 전자 부품(101)은 오목부(11)에 올려놓여지고, 플렉시블 기판(102)은 오목부(12)에 올려놓여진다.In order to measure the electro-
이어, 커버(20)를 베이스(10)에 씌운다. 커버(20)가 베이스(10)에 씌워짐으로써 커버(20)에 마련된 가이드부(90)에 커넥터(103)가 맞물린다. 커버(20)를 씌움으로써, 가이드부(90) 내에 마련된 콘택트 핀(91)이 커넥터(103)의 단자와 접촉하는 상태가 된다.Then, the
또한, 커버(20)를 베이스(10)에 접근시키면, 커버(20)측에 마련된 환형체(37)의 고리 내에 전자 광학 부품(100)이 삽입통과되고, 이어, 베이스(10)가 규제핀(51)을 밀어넣게 된다. 규제핀(51)이 밀어넣어짐으로써 슬라이딩부(86)가 가압방향(D1)으로 이동하고, 이 이동에 따라 환형체(37)도 가압방향(D1)으로 이동하게 된다. 이로써, 환형체(37)의 고리 내에 삽입통과된 전자 광학 부품(100)이 환형체(37)의 내부 둘레에서 가압방향(D1)으로 가압되어, 기준벽(W)에 밀어붙여지게 된다.In addition, when the
전자 광학 부품(100)이 환형체(37)에 의해 가압되는 단계에서는, 커넥터(103)는 가이드부(90)에 맞물려 있으며, 커넥터(103)의 단자와 콘택트 핀(91)의 접촉(전기적 도통)은 완료되어 있다. 이 후, 환형체(37)에 의해 전자 광학 부품(100)이 기준벽(W)에 밀어붙여짐으로써, 콘택트 핀(91)과 커넥터(103)의 단자와의 접촉을 유지한 상태에서 광축이 정확하게 맞춰진다. 전자 광학 부품(100)의 전기적 도통 및 광축의 정확한 맞추기가 이루어진 상태에서 커버(20)가 베이스(10)에 고정된다. 이 상태에서, 측정용 소켓(1C)을 이용하여 전자 광학 부품(100)의 전기적 및 광학적인 측정이 이루어진다.In the step in which the electro-
측정이 완료된 후에는, 커버(20)를 베이스(10)로부터 떨어뜨린다. 이로써, 규제핀(51)이 돌출하고, 슬라이딩부(86)와 함께 환형체(37)가 해제방향(D2)으로 이동하여, 전자 광학 부품(100)의 기준벽(W)에 대한 가압이 해제된다.After the measurement is completed, the
측정용 소켓(1C)에 따르면, 가압부재(30)를 동작시킴에 있어 키가 되는 부분을 작용부(80)의 케이스(81)의 내부에 넣음으로써, 구성의 간소화 및 동작 안정성을 확보할 수 있다. 또한, 규제부재(50)인 규제핀(51)의 높이나, 규제핀(51)과 베이스(10)의 접촉 관계를 조정함으로써, 커버(20)와 베이스(10)의 상대 거리에 따른 규제력의 작용 타이밍을 설정하는 것이 가능하게 된다.According to the measuring
또한, 규제력 제어수단(60)이 되는 경사면(51a)의 경사각도나 형상을 조정함으로써 가압부재(30)인 환형체(37)에 대한 규제력의 크기 및 규제력의 인가 타이밍을 조정할 수 있으며, 안정된 가압, 및 전자 광학 부품(100)에 대한 과도한 가압력의 억제를 도모할 수 있다.In addition, by adjusting the inclination angle or shape of the
(콘택트 장치)(Contact device)
도 15는 본 실시예에 따른 콘택트 장치를 예시하는 모식도이다.15 is a schematic diagram illustrating a contact device according to the present embodiment.
본 실시예에 따른 콘택트 장치(500)는, 먼저 설명한 측정용 소켓(1A 내지 1C)과 마찬가지로, 베이스(10), 커버(20), 가압부재(30), 부세수단(40) 및 규제부재(50)를 구비한다. 콘택트 장치에서는, 커버(20)가 베이스(10)에 대해 상하운동하도록 구성된다.The
베이스(10)에는, 전자 광학 부품(100)을 올려놓는 오목부(11)가 마련된다. 베이스(10)에는 예를 들면 4군데에 지주(515)가 마련되어 있다. 커버(20)는 이 지주(515)에 의해 지지되고, 지주(515)를 따라 상하운동가능하게 마련된다. 지주(515)에는 스프링(517)이 마련되어 있으며, 커버(20)를 상방으로 부세하고 있다. 커버(20)는 구동기구(미도시)에 의해 스프링(517)의 부세력을 초과한 힘으로 밀어넣어짐으로써, 베이스(10) 위에 씌워진다.The
커버(20)를 하강시킴으로써 가이드부(90)에 커넥터(103)가 맞물리며, 콘택트 핀(91)과 커넥터(103)의 단자가 접촉하게 된다. 이 커버(20)의 하강 동작에 연동하여 가압부재(30)가 동작하며, 가압부재(30)에 부세수단(40)으로부터 부세력을 부여하여 전자 부품(101)의 케이스(1011)를 기준벽(W)에 밀어붙인다. 이로써, 전자 광학 부품(100)의 전기적 접속과 광학적인 축 맞추기의 양립을 도모할 수 있다. 한편, 커버(20)를 상승시킴으로써 규제부재(50)에 의해 규제력이 부세수단(40)에 부여되고, 가압부재(30)에 의한 케이스(1011)의 가압이 해제된다.By lowering the
도 15에 나타낸 콘택트 장치(500)의 예에서는 커버(20)측에 가압부재(30), 부세수단(40) 및 규제부재(50)가 마련되어 있는데, 베이스(10)측에 마련할 수도 있다.In the example of the
이상 설명한 바와 같이, 실시예에 따른 측정용 소켓(1A 내지 1C)에 따르면, 전자 광학 부품(100)을 정확하게 위치결정하여 확실한 도통 및 광축 맞추기를 수행하는 것이 가능하게 된다.As described above, according to the measuring
또한, 상기에 실시예 및 그 구체예를 설명하였는데, 본 발명은 이들 예에 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 상술한 실시예 및 그 구체예에 대해, 당업자가 적절하게, 구성요소의 추가, 삭제, 설계 변경을 실시한 것이나, 실시예의 특징을 적절히 조합한 것도, 본 발명의 요지를 구비하고 있는 한, 본 발명의 범위에 포함된다.In addition, although the examples and specific examples thereof have been described above, the present invention is not limited to these examples. For example, with respect to the above-described embodiments and specific examples thereof, those skilled in the art appropriately add, delete, and change the design of components, and appropriate combinations of the features of the embodiments also have the gist of the present invention. As long as it is included in the scope of the present invention.
1A, 1B, 1C : 측정용 소켓
10 : 베이스
10h : 가이드 홀
11, 12 : 오목부
15 : 래치
17 : 단자
20 : 커버
25 : 클릭
27 : 힌지
28 : 축
29 : 스프링
30, 30A, 30B : 가압부재
30h : 구멍부
35 : 가이드 롤러
37 : 환형체
38 : 롤러
40 : 부세(付勢)수단
50, 50A, 50B : 규제부재
51 : 규제핀
51a : 경사면
55, 75 : 코일 스프링(탄성부재)
60, 60A, 60B : 규제력 제어수단
61 : 요동 링크
61a : 축
62 : 받침핀
65 : 직동(直動) 링크
66 : 걸이핀
68 : 수동부
70 : 편심 캠
71 : 슬라이딩부
72 : 롤러
80 : 작용부
81 : 케이스
81h : 가이드 홀
85 : 전달수단
86 : 슬라이딩부
86h : 홀
87 : 롤러
88 : 핀
90 : 가이드부
91 : 콘택트 핀
100 : 전자 광학 부품
101 : 전자 부품
102 : 플렉시블 기판
103 : 커넥터
105 : 광학 렌즈부
150 : 베이스 플레이트
160 : 가이드 플레이트
500 : 콘택트 장치
515 : 지주(支柱)
517 : 스프링
1011 : 케이스
1012 : 패드
D1 : 가압방향
D2 : 해제방향
F1a, F1b : 부세력
F2a, F2b : 규제력
W : 기준벽1A, 1B, 1C: measuring socket
10: base
10h: guide hole
11, 12: concave
15: latch
17: terminal
20: cover
25: click
27: hinge
28: axis
29: spring
30, 30A, 30B: pressure member
30h: hole
35: guide roller
37: annular body
38: roller
40: Vending means
50, 50A, 50B: regulatory member
51: regulation pin
51a: slope
55, 75: coil spring (elastic member)
60, 60A, 60B: regulatory force control means
61: oscillating link
61a: axis
62: support pin
65: direct link
66: hook pin
68: passive part
70: eccentric cam
71: sliding part
72: roller
80: acting part
81: case
81h: guide hole
85: transmission means
86: sliding part
86h: Hall
87: roller
88: pin
90: guide part
91: contact pin
100: electronic optical component
101: electronic component
102: flexible substrate
103: connector
105: optical lens unit
150: base plate
160: guide plate
500: contact device
515: prop
517: spring
1011: case
1012: pad
D1: Pressurization direction
D2: Release direction
F1a, F1b: negative forces
F2a, F2b: regulatory power
W: reference wall
Claims (11)
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버와 상기 베이스의 상대거리와 상기 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하고,
상기 규제력 제어수단은 상기 커버의 동작과 연동하여 상기 규제부재를 구동하는 링크를 갖는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, and the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
And a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force,
Wherein the regulating force control means has a link for driving the regulating member in conjunction with an operation of the cover.
상기 커버가 열릴 때에 상기 규제부재를 통해 상기 규제력을 상기 부세수단에 부여하기 위한 탄성부재를 가지며,
상기 탄성부재의 탄성 변형이 적을 때일 수록 상기 규제부재로부터 상기 부세수단에 큰 상기 규제력을 부여하는, 측정용 소켓.The method of claim 1,
It has an elastic member for imparting the regulating force to the biasing means through the regulating member when the cover is opened,
The measuring socket, wherein as the elastic deformation of the elastic member is less, the greater the regulating force is applied from the regulating member to the biasing means.
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버를 씌움으로써 상기 커버의 상기 베이스와의 대향면에 마련된 작용부에 의해 상기 가압부재가 가압되고,
상기 작용부는
상기 부세수단과,
상기 규제부재와,
상기 부세수단의 부세력을 상기 가압부재에 구동력으로서 전달하는 전달수단을 구비하며,
상기 가압부재는 상기 전달수단으로부터 받은 구동력에 기초하여 상기 전자 광학 부품을 가압하고,
상기 가압부재는 환형체를 구비하며, 상기 환형체의 고리 내에 상기 전자 광학 부품이 삽입통과되고,
상기 전달수단은, 상기 환형체의 내부 둘레가 상기 전자 광학 부품에 접근하는 방향의 구동력을 상기 가압부재에 부여하는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, and the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
By covering the cover, the pressing member is pressed by an acting portion provided on a surface opposite to the base of the cover,
The working part
The energizing means,
The regulating member,
And a transmission means for transmitting the biasing force of the biasing means to the pressing member as a driving force,
The pressing member presses the electro-optical component based on the driving force received from the transmission means,
The pressing member has an annular body, and the electronic optical component is inserted through the ring of the annular body,
The transmission means applies a driving force to the pressing member in a direction in which the inner circumference of the annular body approaches the electro-optical component.
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버를 씌움으로써 상기 커버의 상기 베이스와의 대향면에 마련된 작용부에 의해 상기 가압부재가 가압되고,
상기 작용부는
상기 부세수단과,
상기 규제부재와,
상기 부세수단의 부세력을 상기 가압부재에 구동력으로서 전달하는 전달수단을 구비하며,
상기 가압부재는 상기 전달수단으로부터 받은 구동력에 기초하여 상기 전자 광학 부품을 가압하고,
상기 작용부는 케이스를 더 구비하고,
상기 규제부재와 상기 전달수단의 접촉부는 상기 케이스의 내부에 위치하는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, so that the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
By covering the cover, the pressing member is pressed by an acting portion provided on a surface opposite to the base of the cover,
The working part
The energizing means,
The regulating member,
And a transmission means for transmitting the biasing force of the biasing means to the pressing member as a driving force,
The pressing member presses the electro-optical component based on the driving force received from the transmission means,
The working portion further includes a case,
The measuring socket, characterized in that the contact portion between the regulating member and the transmission means is located inside the case.
상기 가압부재는 환형체를 구비하며, 상기 환형체의 고리 내에 상기 전자 광학 부품이 삽입통과되고,
상기 전달수단은, 상기 환형체의 내부 둘레가 상기 전자 광학 부품에 접근하는 방향의 구동력을 상기 가압부재에 부여하는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.The method of claim 4,
The pressing member has an annular body, and the electronic optical component is inserted through the ring of the annular body,
The transmission means applies a driving force to the pressing member in a direction in which the inner circumference of the annular body approaches the electro-optical component.
상기 부세수단과 상기 전달수단의 접촉부는 상기 케이스의 내부에 위치하는, 측정용 소켓.The method according to claim 4 or 5,
The contact portion between the biasing means and the transmission means is located inside the case, the socket for measurement.
상기 부세수단은 상기 케이스의 내부에 위치하는, 측정용 소켓.The method according to claim 4 or 5,
The biasing means is located inside the case, the socket for measurement.
상기 커버와 상기 베이스의 상대거리와 상기 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하는, 측정용 소켓.The method according to claim 4 or 5,
And a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force.
상기 커버는 상기 베이스에 대해 회동가능하게 지지되며,
상기 가압부재 및 상기 링크는 상기 베이스에 마련되고,
상기 커버의 회동 동작에 연동하여 상기 링크는 진퇴동작하도록 마련된, 측정용 소켓.The method of claim 1,
The cover is rotatably supported with respect to the base,
The pressing member and the link are provided on the base,
In conjunction with the rotation operation of the cover, the link is provided to move forward and backward, the measurement socket.
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버와 상기 베이스의 상대 거리와 상기 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하고,
상기 커버는 상기 베이스에 대해 회동가능하게 지지되며,
상기 규제력 제어수단은, 상기 커버의 회동축에 마련된 편심 캠을 가지고,
상기 커버의 동작과 동기하는 상기 편심 캠의 동작에 의해 상기 규제력을 변화시키는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, and the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
And a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force,
The cover is rotatably supported with respect to the base,
The regulating force control means has an eccentric cam provided on the rotation shaft of the cover,
The measuring socket, characterized in that the regulating force is changed by an operation of the eccentric cam in synchronization with an operation of the cover.
상기 전자 광학 부품을 수용하는 오목부를 갖는 베이스,
상기 전자 광학 부품을 기준벽에 밀어붙이기 위한 가압부재,
상기 가압부재를 상기 기준벽의 방향으로 부세(付勢)하는 부세수단, 및
상기 베이스에 씌워지는 커버의 동작에 기초하여 상기 부세수단의 부세력을 이겨내는 규제력을 상기 부세수단에 부여가능한 규제부재를 구비하며,
상기 커버가 열림으로써 상기 규제부재에 의해 상기 규제력이 상기 부세수단에 부여되어 상기 가압부재를 상기 기준벽으로부터 멀어지는 방향으로 이동시키고,
상기 커버가 닫히는 동작에 따라 상기 규제력이 감쇠되어, 상기 부세수단의 부세력에 의해 상기 가압부재를 상기 기준벽에 접근하는 방향으로 이동시키며,
상기 커버와 상기 베이스의 상대 거리와 상기 규제력의 정도와의 관련성을 설정하는 규제력 제어수단을 구비하고,
상기 베이스와 상기 커버 사이에 마련되어 상기 베이스에 대해 회동가능하게 지지된 센터 커버를 추가로 구비하며,
상기 규제력 제어수단은, 상기 센터 커버의 회동축에 마련된 편심 캠을 가지고,
상기 센터 커버의 동작과 동기하는 상기 편심 캠의 동작에 의해 상기 규제력을 변화시키는 것을 특징으로 하는 측정용 소켓.As a measurement socket for measuring electronic optical components,
A base having a concave portion for accommodating the electro-optical component,
A pressing member for pushing the electro-optical component onto the reference wall,
A pressing means for biasing the pressing member in the direction of the reference wall, and
And a regulating member capable of imparting a regulating force to the biasing means to overcome the biasing force of the biasing means based on the operation of the cover covered on the base,
When the cover is opened, the regulating force is applied to the biasing means by the regulating member to move the pressing member in a direction away from the reference wall,
The regulating force is attenuated according to the operation of closing the cover, and the pressing member is moved in a direction approaching the reference wall by the biasing force of the biasing means,
And a regulating force control means for setting a relationship between the relative distance between the cover and the base and the degree of the regulating force,
An additional center cover provided between the base and the cover and supported so as to be rotatable with respect to the base is further provided,
The regulating force control means has an eccentric cam provided on the rotation shaft of the center cover,
The measuring socket, characterized in that the regulating force is changed by an operation of the eccentric cam in synchronization with an operation of the center cover.
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