KR102200637B1 - Cured body, method of manufacturing cured body, laminated body, printed wiring board and semiconductor device - Google Patents

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Abstract

[과제] 프린트 배선판의 제조에 있어서, 층의 박형화를 위하여 얇은 수지 조성물층을 사용하는 경우라도, 충분한 드라이 필름 밀착성을 가져오는 표면의 기복이 작은 경화체를 실현할 수 있는 동시에, 조도 불균일의 발생을 억제할 수 있는 기술을 제공한다.
[해결 수단] 회로 기판에 수지 조성물층을 적층하고 당해 수지 조성물층을 열경화시켜서 수득되는, 회로 기판 위에 형성된 경화체에 있어서, 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도를 Tv(℃)라고 했을 때, 수지 조성물층의 적층 온도가 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃이고, 수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15인, 경화체.
[Problem] In the manufacture of printed wiring boards, even when a thin resin composition layer is used for thinning of the layer, it is possible to realize a cured body with small undulations on the surface that provides sufficient dry film adhesion, while suppressing the occurrence of uneven roughness. Provide the skills to do.
[Solution means] In a cured product formed on a circuit board obtained by laminating a resin composition layer on a circuit board and thermally curing the resin composition layer, when the lowest melt viscosity temperature of the resin composition layer is Tv (° C.), the resin When the lamination temperature of the composition layer is Tv-35°C to Tv + 35°C, the thickness of the resin composition layer is x (㎛), and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (㎛), 0.3 <y /x ≤ 1 and y ≤ 15, the cured body.

Description

경화체, 경화체의 제조 방법, 적층체, 프린트 배선판 및 반도체 장치{CURED BODY, METHOD OF MANUFACTURING CURED BODY, LAMINATED BODY, PRINTED WIRING BOARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE}Hardened body, method of manufacturing hardened body, laminated body, printed wiring board and semiconductor device {CURED BODY, METHOD OF MANUFACTURING CURED BODY, LAMINATED BODY, PRINTED WIRING BOARD AND SEMICONDUCTOR DEVICE}

본 발명은, 경화체, 경화체의 제조 방법, 적층체, 프린트 배선판 및 반도체 장치에 관한 것이다.
The present invention relates to a cured product, a method for producing a cured product, a laminate, a printed wiring board, and a semiconductor device.

각종 전자 기기에 널리 사용되고 있는 다층 프린트 배선판, 플렉시블 프린트 배선판 등의 프린트 배선판은, 전자 기기의 소형화, 고기능화를 위하여, 층의 박형화나 회로의 미세 배선화가 요구되고 있다.BACKGROUND ART Printed wiring boards such as multilayer printed wiring boards and flexible printed wiring boards, which are widely used in various electronic devices, are required to be thinner in layers and fine wiring in circuits for miniaturization and high functionality of electronic devices.

프린트 배선판의 제조 기술로는, 절연층과 도체층을 교대로 적층하는 빌드업 방식에 의한 제조 방법이 알려져 있다. 빌드업 방식에 의한 제조 방법에 있어서, 일반적으로 절연층은 수지 조성물을 열경화시켜서 형성된다. 예를 들어, 특허문헌 1에는, 수지 조성물층을 포함하는 접착 시트를 사용하여 회로 기판에 수지 조성물층을 적층하고, 당해 수지 조성물층을 열경화시켜서 경화체를 수득한 후, 당해 경화체를 조화(粗化) 처리하여 절연층을 형성하는 기술이 개시되어 있다.
As a manufacturing technique of a printed wiring board, a manufacturing method using a build-up method in which an insulating layer and a conductor layer are alternately stacked is known. In the manufacturing method by the build-up method, generally, the insulating layer is formed by thermosetting a resin composition. For example, in Patent Document 1, after laminating a resin composition layer on a circuit board using an adhesive sheet containing a resin composition layer, and thermosetting the resin composition layer to obtain a cured product, the cured product is roughened. A technique of forming an insulating layer by processing is disclosed.

일본 공개특허공보 특개2008-37957호Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2008-37957

절연층의 형성 후, 세미 어디티브법이나 풀 어디티브법 등의 기술에 의해 원하는 패턴을 갖는 도체층(배선층)을 형성할 수 있다. 일반적으로, 절연층 위에 패턴 형성용 드라이 필름을 배치하여 원하는 패턴을 현상한 후, 도금함으로써 원하는 패턴을 갖는 도체층을 형성한다. 이때, 미세 배선 형성성의 관점에서, 패턴 형성 드라이 필름은 절연층 위에 충분히 밀착되어 있는 것이 바람직하다.After the formation of the insulating layer, a conductor layer (wiring layer) having a desired pattern can be formed by a technique such as a semi-positive method or a full-positive method. In general, a dry film for pattern formation is disposed on an insulating layer to develop a desired pattern and then plated to form a conductor layer having a desired pattern. At this time, from the viewpoint of fine wiring formability, it is preferable that the patterned dry film is sufficiently adhered to the insulating layer.

하지만, 층의 박형화를 위해 얇은 수지 조성물층을 사용하여 절연층을 형성하는 경우, 수지 조성물층의 경화에 의해 형성되는 경화체의 표면은, 하지(下地)인 회로 기판의 표면 기복(회로 배선의 유무에 기인)에 대응한 기복을 갖게 되는 경향이 있으며, 이러한 기복에 기인하여 패턴 형성용 드라이 필름의 밀착성이 저하되는 경우가 있음을 본 발명자들은 발견하였다. 이러한 경화체의 표면의 기복은, 수지 조성물층의 적층 조건 등을 조작함으로써 어느 정도 작게 하는 것은 가능하지만, 그 경우에는 기복의 볼록부(즉, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 절연층의 표면)와 오목부(즉, 회로 기판의 회로 배선이 없는 부분 위에 있는 절연층의 표면)가 조화 처리 후에 크게 다른 표면 거칠기를 나타내게 되는 경우가 있음을 본 발명자들은 발견하였다(이하, 이러한 현상을 「조도(粗度) 불균일」이라고도 함). 이러한 조도 불균일, 절연층 표면에서의 국소적인 미세 배선 형성 불량으로 귀착하는 경우가 있다.However, in the case of forming an insulating layer using a thin resin composition layer for thinning of the layer, the surface of the cured body formed by curing the resin composition layer is the surface undulation of the circuit board (the presence or absence of circuit wiring). The present inventors have found that there is a tendency to have undulations corresponding to ), and that the adhesion of the dry film for pattern formation may decrease due to such undulations. Although it is possible to reduce the undulations of the surface of the cured product to some extent by manipulating the lamination conditions of the resin composition layer, etc., in that case, the undulations (that is, the surface of the insulating layer on the circuit wiring of the circuit board) and concave The present inventors have found that there are cases where parts (that is, the surface of the insulating layer on the part of the circuit board where there is no circuit wiring) exhibit significantly different surface roughness after the roughening treatment (hereinafter, this phenomenon is referred to as "roughness. ) Also called non-uniformity). This may result in uneven roughness and poor local fine wiring on the surface of the insulating layer.

이와 같이, 프린트 배선판의 제조에 있어서, 층의 박형화와 회로의 미세 배선화를 양립함에 있어서는 개선의 여지가 있었다.As described above, in the manufacture of a printed wiring board, there is room for improvement in achieving both thinning of layers and fine wiring of circuits.

본 발명은, 프린트 배선판의 제조에 있어서, 층의 박형화를 위해 얇은 수지 조성물층을 사용하는 경우라도, 충분한 드라이 필름 밀착성을 가져오는 표면의 기복이 작은 경화체를 실현할 수 있는 동시에, 조도 불균일의 발생을 억제할 수 있는 기술을 제공하는 것을 과제로 한다.
In the manufacture of a printed wiring board, even when a thin resin composition layer is used for thinning of the layer, it is possible to realize a cured body with small undulations on the surface that provides sufficient dry film adhesion, while preventing the occurrence of irregularities in roughness. The challenge is to provide technology that can be suppressed.

본 발명자들은, 상기 과제에 대하여 예의 검토한 결과, 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도를 Tv(℃)라고 했을 때, 수지 조성물층의 적층 온도를 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃의 범위로 하는 동시에, 수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, x와 y가 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15의 관계를 만족시키도록 함으로써 상기 과제를 해결할 수 있음을 알아내어, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.The present inventors, as a result of earnestly examining the above problems, set the lamination temperature of the resin composition layer in the range of Tv-35°C to Tv + 35°C when the lowest melt viscosity temperature of the resin composition layer is Tv (°C). At the same time, when the thickness of the resin composition layer is x (㎛) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (㎛), the relationship between x and y is 0.3 <y/x ≤ 1 and y ≤ 15 It was found that the above problems could be solved by making them satisfied, and the present invention was completed.

즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.

[1] 회로 기판에 수지 조성물층을 적층하고 당해 수지 조성물층을 열경화시켜서 수득되는, 회로 기판 위에 형성된 경화체로서, [1] As a cured body formed on a circuit board obtained by laminating a resin composition layer on a circuit board and thermosetting the resin composition layer,

수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도를 Tv(℃)라고 했을 때, 수지 조성물층의 적층 온도가 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃이고, When the lowest melt viscosity temperature of the resin composition layer is Tv (°C), the lamination temperature of the resin composition layer is Tv-35°C to Tv + 35°C,

수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15인, 경화체.When the thickness of the resin composition layer is x (µm) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm), 0.3 <y/x ≤ 1 and y ≤ 15.

[2] [1]에 있어서, x≤25인, 경화체.[2] The cured product according to [1], wherein x≤25.

[3] [1] 또는 [2]에 있어서, 경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt가 3.5㎛ 이하인, 경화체.[3] The cured product according to [1] or [2], wherein the maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured product is 3.5 µm or less.

[4] [1] 내지 [3] 중 어느 하나에 있어서, 수지 조성물층을 Tv 미만의 온도로 10분간 이상 유지한 후, Tv 이상의 온도로 10분간 이상 유지하여 열경화시켜 수득되는, 경화체.[4] The cured product according to any one of [1] to [3], which is obtained by holding the resin composition layer at a temperature less than Tv for 10 minutes or more, and then holding the resin composition layer at a temperature of Tv or more for 10 minutes or more to heat cure.

[5] [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 경화체를 조화 처리하여 수득되는, 조화 경화체.[5] A roughened cured product obtained by subjecting the cured product according to any one of [1] to [4] to a roughening treatment.

[6] [5]에 있어서, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기와, 회로 기판의 회로 배선이 없는 부분의 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기와의 차이가 160nm 이하인, 조화 경화체.[6] In [5], the difference between the arithmetic average roughness of the surface of the roughened hardened body on the circuit wiring of the circuit board and the arithmetic average roughness of the surface of the roughened hardened body on the part of the circuit board without circuit wiring is 160 nm. The following roughened hardened body.

[7] [5] 또는 [6]에 기재된 조화 경화체와, 당해 조화 경화체의 표면에 형성된 도체층을 구비하는 적층체.[7] A laminate comprising the roughened hardened body according to [5] or [6], and a conductor layer formed on the surface of the roughened hardened body.

[8] (A) 회로 기판에 수지 조성물층을 적층하는 공정 및[8] (A) Step of laminating a resin composition layer on a circuit board, and

(B) 수지 조성물층을 열경화시켜 회로 기판 위에 경화체를 형성하는 공정(B) Step of forming a cured body on a circuit board by thermosetting the resin composition layer

을 포함하고, Including,

수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도를 Tv(℃)라고 했을 때, 수지 조성물층의 적층 온도가 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃이며, When the lowest melt viscosity temperature of the resin composition layer is Tv (°C), the lamination temperature of the resin composition layer is Tv-35°C to Tv + 35°C,

수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15인, 경화체의 제조 방법.When the thickness of the resin composition layer is x (µm) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm), 0.3 <y/x ≤ 1 and y ≤ 15, wherein the method for producing a cured body.

[9] [8]에 있어서, x≤25인, 경화체의 제조 방법.[9] The method for producing a cured product according to [8], wherein x≤25.

[10] [8] 또는 [9]에 있어서, 경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt가 3.5㎛ 이하인, 경화체의 제조 방법.[10] The method for producing a cured product according to [8] or [9], wherein the maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured product is 3.5 µm or less.

[11] [8] 내지 [10] 중 어느 하나에 있어서, 공정 (B)에 있어서, 수지 조성물층을 Tv 미만의 온도로 10분간 이상 유지한 후, Tv 이상의 온도로 10분간 이상 유지하여 열경화시키는, 경화체의 제조 방법.[11] In any one of [8] to [10], in step (B), after maintaining the resin composition layer at a temperature less than Tv for 10 minutes or more, heat curing by maintaining at a temperature of Tv or more for 10 minutes or more. , Method for producing a cured product.

[12] [1] 내지 [4] 중 어느 하나에 기재된 경화체에 의해 절연층이 형성된 프린트 배선판.[12] A printed wiring board in which an insulating layer is formed by the cured body according to any one of [1] to [4].

[13] [12]에 기재된 프린트 배선판을 포함하는 반도체 장치.
[13] A semiconductor device comprising the printed wiring board according to [12].

본 발명에 의하면, 프린트 배선판의 제조에 있어서, 층의 박형화를 위해서 얇은 수지 조성물층을 사용하는 경우라도, 충분한 드라이 필름 밀착성을 가져오는 표면의 기복이 작은 경화체를 실현할 수 있는 동시에, 조도 불균일의 발생을 억제할 수 있다.
According to the present invention, in the manufacture of a printed wiring board, even when a thin resin composition layer is used for thinning of the layer, it is possible to realize a cured product with small undulations on the surface that provides sufficient dry film adhesion, and at the same time, uneven roughness occurs. Can be suppressed.

도 1은, 수지 조성물층의 단면을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는, 본 발명의 일 실시형태에서의, 회로 기판 위에 설치된 경화체의 단면을 개략적으로 도시한 도면이다.
1 is a diagram schematically showing a cross section of a resin composition layer.
2 is a diagram schematically showing a cross section of a cured body provided on a circuit board in an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명을 그 적합한 실시형태에 입각해서 상세하게 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail based on its preferred embodiment.

[경화체][Hardened body]

본 발명의 경화체는, 회로 기판에 수지 조성물층을 적층하여 당해 수지 조성물층을 열경화시켜서 수득되는, 회로 기판 위에 설치된 경화체에 있어서, 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도를 Tv(℃)라고 했을 때, 수지 조성물층의 적층 온도가 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃이고, 수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15인 것을 특징으로 한다.The cured product of the present invention is obtained by laminating a resin composition layer on a circuit board and thermally curing the resin composition layer. In the cured product provided on a circuit board, when the lowest melt viscosity temperature of the resin composition layer is Tv (° C.) , When the lamination temperature of the resin composition layer is Tv-35°C to Tv + 35°C, the thickness of the resin composition layer is x (µm), and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm), 0.3 It is characterized in that <y/x ≤ 1 and y ≤ 15.

본 발명의 경화체가 그 위에 형성되는 「회로 기판」이란, 한쪽 면 또는 양면에 패턴 가공된 회로 배선을 갖는 기판을 말한다. 회로 기판에 사용되는 기판으로는, 예를 들어, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한 프린트 배선판을 제조할 때에, 추가로 절연층 및/또는 도체층이 형성되어야 할 중간제조물의 내층 회로 기판도 본 발명에서 말하는 「회로 기판」에 포함된다.The "circuit board" on which the cured product of the present invention is formed refers to a board having circuit wiring patterned on one side or both sides. As a substrate used for a circuit board, a glass epoxy substrate, a metal substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, etc. are mentioned, for example. Further, when manufacturing a printed wiring board, an inner-layer circuit board of an intermediate product on which an insulating layer and/or a conductor layer should be further formed is also included in the "circuit board" referred to in the present invention.

기판의 한쪽 면 또는 양면에 패턴 가공된 회로 배선의 두께는 특별히 제한되지 않지만, 층의 박형화의 관점에서, 바람직하게는 70㎛ 이하이며, 보다 바람직하게는 30㎛ 이하이고, 더 바람직하게는 20㎛ 이하이다. 회로 배선의 두께의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 1㎛ 이상이며, 보다 바람직하게는 3㎛ 이상이고, 더 바람직하게는 5㎛ 이상이다.The thickness of the circuit wiring patterned on one or both sides of the substrate is not particularly limited, but from the viewpoint of thinning the layer, it is preferably 70 µm or less, more preferably 30 µm or less, and even more preferably 20 µm. Below. The lower limit of the thickness of the circuit wiring is not particularly limited, but is preferably 1 µm or more, more preferably 3 µm or more, and still more preferably 5 µm or more.

기판의 한쪽 면 또는 양면에 패턴 가공된 회로 배선의 라인/스페이스 비는 특별히 제한되지 않지만, 경화체 표면의 기복을 억제하기 위해서, 바람직하게는 200/200㎛ 이하, 보다 바람직하게는 100/100㎛ 이하, 더 바람직하게는 40/40㎛ 이하, 보다 더 바람직하게는 20/20㎛ 이하, 특히 바람직하게는 8/8㎛이다. 회로 배선의 라인/스페이스 비의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 스페이스 사이로의 수지의 매립을 양호하게 하기 위하여, 바람직하게는 0.5/0.5㎛ 이상, 보다 바람직하게는 1/1㎛ 이상이다.The line/space ratio of the circuit wiring patterned on one or both sides of the substrate is not particularly limited, but in order to suppress the undulations of the cured body surface, it is preferably 200/200 μm or less, more preferably 100/100 μm or less. , More preferably 40/40 µm or less, even more preferably 20/20 µm or less, particularly preferably 8/8 µm. The lower limit of the line/space ratio of the circuit wiring is not particularly limited, but it is preferably 0.5/0.5 µm or more, more preferably 1/1 µm or more, in order to improve the embedding of the resin between the spaces.

본 발명의 경화체는 이러한 회로 기판에 수지 조성물층을 적층하고, 당해 수지 조성물층을 열경화시켜서 수득된다.The cured product of the present invention is obtained by laminating a resin composition layer on such a circuit board and thermally curing the resin composition layer.

프린트 배선판의 층의 박형화의 관점에서는, 얇은 수지 조성물층을 사용하는 것이 바람직하다. 그러나, 얇은 수지 조성물층을 사용하면, 형성되는 경화체의 표면이, 하지(下地)인 회로 기판의 회로 배선 패턴에 대응한 커다란 기복을 갖게 되는 경향이 있다. 이러한 경화체 표면의 커다란 기복은, 패턴 형성용 드라이 필름의 밀착성을 저하시켜 미세 배선 형성성의 악화로 귀착한다.From the viewpoint of thinning the layer of the printed wiring board, it is preferable to use a thin resin composition layer. However, when a thin resin composition layer is used, the surface of the cured body to be formed tends to have large undulations corresponding to the circuit wiring pattern of the circuit board as the base. Such large undulations on the surface of the cured body lower the adhesiveness of the dry film for pattern formation, resulting in deterioration of fine wiring formability.

이러한 경화체 표면의 기복을 억제하는 관점에서, 회로 기판에 수지 조성물층을 적층할 때의 온도(이하, 「적층 온도」라고도 함)는, 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도를 Tv(℃)라고 했을 때, Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃의 범위이며, 바람직하게는 Tv - 30℃ 내지 Tv + 30℃의 범위, 보다 바람직하게는 Tv - 25℃ 내지 Tv + 25℃의 범위, 더 바람직하게는 Tv - 20℃내지 Tv + 20℃의 범위, 특히 바람직하게는 Tv - 15℃ 내지 Tv + 15℃의 범위이다.From the viewpoint of suppressing undulations on the surface of the cured body, the temperature at the time of laminating the resin composition layer on the circuit board (hereinafter, also referred to as ``lamination temperature'') is the lowest melt viscosity temperature of the resin composition layer as Tv (°C). When, in the range of Tv-35 ℃ to Tv + 35 ℃, preferably in the range of Tv-30 ℃ to Tv + 30 ℃, more preferably in the range of Tv-25 ℃ to Tv + 25 ℃, more preferably It is in the range of Tv-20°C to Tv + 20°C, particularly preferably in the range of Tv-15°C to Tv + 15°C.

여기에서, 수지 조성물층의 「최저 용융 점도 온도」란, 수지 조성물층이 최저 용융 점도를 나타낼 때의 온도를 말한다. 또한, 수지 조성물층의 「최저 용융 점도」란, 수지 조성물층의 수지가 용융했을 때에 수지 조성물층이 나타내는 최저의 점도를 말한다. 상세하게는, 일정한 승온 속도로 수지 조성물층을 가열하여 수지를 용융시키면, 초기의 단계는 용융 점도가 온도 상승과 함께 저하되고, 그 후, 어느 온도를 초월하면 온도 상승과 함께 용융 점도가 상승하지만, 「최저 용융 점도」란 이러한 극소점의 용융 점도를 말한다. 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도는, 동적 점탄성법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는, 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도는, 측정 개시 온도 60℃, 승온 속도 5℃/분 및 진동수 1Hz, 변형율 1deg의 조건으로 동적 점탄성 측정을 실시함으로써 얻을 수 있다. 동적 점탄성 측정 장치로는, 예를 들어, 가부시키가이샤 유비엠사 제조의 「Rheosol-G3000」을 들 수 있다.Here, the "lowest melt viscosity temperature" of the resin composition layer refers to the temperature at which the resin composition layer exhibits the lowest melt viscosity. In addition, the "lowest melt viscosity" of a resin composition layer means the lowest viscosity exhibited by a resin composition layer when the resin of a resin composition layer melts. Specifically, when the resin composition layer is heated at a constant temperature increase rate to melt the resin, the melt viscosity in the initial stage decreases with the increase in temperature, and after that, when the temperature exceeds a certain temperature, the melt viscosity increases with the temperature increase. , "Lowest melt viscosity" refers to the melt viscosity of such a minimum point. The minimum melt viscosity temperature of the resin composition layer can be measured by a dynamic viscoelastic method. Specifically, the minimum melt viscosity temperature of the resin composition layer can be obtained by performing dynamic viscoelasticity measurement under the conditions of a measurement start temperature of 60°C, a temperature increase rate of 5°C/minute, a frequency of 1 Hz, and a strain rate of 1 deg. As a dynamic viscoelasticity measuring device, "Rheosol-G3000" manufactured by UBM Co., Ltd. is mentioned, for example.

경화체의 표면의 기복은 경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt에 의해 평가할 수 있다. 경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt가 4㎛를 초과하면, 패턴 형성용 드라이 필름의 밀착성이 현저히 저하되는 경향이 있다. 패턴 형성용 드라이 필름의 충분한 밀착성을 실현하는 관점에서, 본 발명의 경화체는 표면의 최대 단면 높이 Rt가 3.5㎛ 이하인 것이 바람직하고, 3.3㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 3.1㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하고, 2.9㎛ 이하, 2.7㎛ 이하, 2.5㎛ 이하, 2.3㎛ 이하, 2.1㎛ 이하, 또는 1.9㎛ 이하인 것이 보다 더 바람직하다.The undulations of the surface of the cured product can be evaluated by the maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured product. When the maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured product exceeds 4 μm, there is a tendency that the adhesiveness of the dry film for pattern formation is significantly lowered. From the viewpoint of realizing sufficient adhesion of the dry film for pattern formation, the cured product of the present invention preferably has a maximum cross-sectional height Rt of 3.5 µm or less, more preferably 3.3 µm or less, further preferably 3.1 µm or less, and 2.9 It is even more preferable that it is less than or equal to 2.7 μm, less than 2.5 μm, less than 2.3 μm, less than 2.1 μm, or less than 1.9 μm.

경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt는, 비접촉형 표면 조도계를 이용하여 측정할 수 있다. 비접촉형 표면 조도계의 구체적인 예로는, 비코 인스트루멘츠 제조의 「WYKO NT3300」을 들 수 있다.The maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured product can be measured using a non-contact type surface roughness meter. As a specific example of the non-contact type surface roughness meter, "WYKO NT3300" by Vico Instruments is mentioned.

경화체 표면의 기복을 억제함으로써 패턴 형성용 드라이 필름의 밀착성은 향상된다. 하지만, 얇은 수지 조성물층을 사용하여 경화체를 형성하는 경우에는 조도 불균일의 발생에 주의를 요한다. 즉, 얇은 수지 조성물층을 사용하여 표면의 기복이 작은 경화체를 회로 기판 위에 형성하려고 하면, 기복의 볼록부(즉, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 표면)과 오목부(즉, 회로 기판의 회로 배선이 없는 부분의 위에 있는 경화체의 표면)가 조화 처리 후에 크게 다른 표면 조도를 나타내게 되는 경우가 있다. 이러한 조도 불균일은, 조화 처리 후의 경화체의 표면에서의, 기복의 볼록부의 산술 평균 거칠기(Ra1)와 기복의 오목부의 산술 평균 거칠기(Ra2)의 차(│Ral-Ra2│)에 의해 평가할 수 있다. │Ral-Ra2│의 값이 160nm를 초과하여 높아지면, 도체층(회로 배선)을 형성할 때에 국소적인 미세 배선 형성 불량으로 귀착하는 경향이 있다. 이러한 조도 불균일은, 얇은 수지 조성물층을 사용하여 표면의 기복이 작은 경화체를 회로 기판 위에 설치하려고 하는 경우에 발생하기 쉽고, 그 중에서도, ⅰ)무기 충전재 함유량이 높은 수지 조성물층을 사용하는 경우, ⅱ) 수지 조성물층/지지체의 층 구성을 갖는 접착 시트를 사용하여 경화체를 형성할 때에, 지지체를 붙인 채 수지 조성물층을 열경화시키는 경우 등에 특히 일어나기 쉬움을 본 발명자들은 알아내었다.By suppressing undulations on the surface of the cured body, the adhesion of the dry film for pattern formation is improved. However, in the case of forming a cured product using a thin resin composition layer, attention should be paid to the occurrence of uneven roughness. In other words, if a cured body with small undulations on the circuit board is to be formed using a thin resin composition layer, the undulations (that is, the surface of the cured body on the circuit wiring of the circuit board) and concave parts (i.e. There are cases where the surface of the cured body on top of the part without circuit wiring) exhibits significantly different surface roughness after the roughening treatment. This roughness unevenness is caused by the difference (│Ra l -Ra 2 │) between the arithmetic mean roughness (Ra 1 ) of the convex portion of the undulation and the arithmetic mean roughness (Ra 2 ) of the concave portion of the undulation on the surface of the cured body after the roughening treatment. Can be evaluated. When the value of │Ra l -Ra 2 │ exceeds 160 nm, it tends to result in local fine wiring defects when forming the conductor layer (circuit wiring). Such irregularity in roughness is likely to occur when a thin resin composition layer is used to install a cured product having a small surface undulation on a circuit board. Among them, i) a resin composition layer having a high inorganic filler content is used, ii. ) When forming a cured product using an adhesive sheet having a layer structure of a resin composition layer/support, the present inventors have found that it is particularly likely to occur in the case of thermosetting the resin composition layer while the support is attached.

또한, 경화체 표면의 산술 평균 거칠기 Ra는, 비접촉형 표면 조도계를 이용해서 측정할 수 있다. 비접촉형 표면 조도계의 구체적인 예로는, 비코 인스트루멘츠사 제조의 「WYKO NT3300」을 들 수 있다.In addition, the arithmetic mean roughness Ra of the surface of a cured product can be measured using a non-contact type surface roughness meter. As a specific example of the non-contact type surface roughness meter, "WYKO NT3300" by Vico Instruments Inc. is mentioned.

층의 박형화를 실현하면서 조도 불균일의 발생을 억제하는 관점에서, 수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, x 및 y가 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15를 만족시키도록, 수지 조성물층의 적층 및 열경화를 실시하는 것이 중요하다. 또한, 수지 조성물층의 두께 x란, 회로 기판에 적층하기 전의 수지 조성물층의 두께를 말하고, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께 y란, 회로 기판의 회로 배선의 바로 위에 있는 경화체의 두께를 말한다.From the viewpoint of reducing the occurrence of irregularities in roughness while realizing the thinning of the layer, when the thickness of the resin composition layer is x (µm) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm), x and y are It is important to perform lamination and thermal curing of the resin composition layer so as to satisfy 0.3<y/x≦1 and y≦15. In addition, the thickness x of the resin composition layer refers to the thickness of the resin composition layer before lamination on the circuit board, and the thickness y of the cured body on the circuit wiring of the circuit board refers to the thickness of the cured body immediately above the circuit wiring of the circuit board. Say.

x 및 y가 상기의 관계를 만족하는 경우, 얇은 수지 조성물층을 사용하여 경화체를 형성하는 경우라도, 조도 불균일의 발생을 유리하게 억제할 수 있다. 예를 들어, 수지 조성물층의 두께 x는 50㎛ 미만으로 할 수 있다. 또한 40㎛ 이하, 35㎛ 이하, 30㎛ 이하, 또는 25㎛ 이하의 두께 x를 갖는 수지 조성물층을 사용하는 경우라도, 조도 불균일의 발생을 유리하게 억제할 수 있다. 수지 조성물층의 두께 x의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 1㎛ 이상, 보다 바람직하게는 2㎛ 이상, 더 바람직하게는 5㎛ 이상이다.When x and y satisfy the above relationship, even when a cured body is formed using a thin resin composition layer, occurrence of uneven roughness can be advantageously suppressed. For example, the thickness x of the resin composition layer can be less than 50 μm. Further, even when a resin composition layer having a thickness x of 40 µm or less, 35 µm or less, 30 µm or less, or 25 µm or less is used, occurrence of uneven roughness can be advantageously suppressed. The lower limit of the thickness x of the resin composition layer is not particularly limited, but is preferably 1 µm or more, more preferably 2 µm or more, and still more preferably 5 µm or more.

층의 박형화를 실현하면서 조도 불균일의 발생을 더 억제하는 관점에서, y ≤ 15일 때, 바람직하게는 0.35 ≤ y/x ≤ 1, 보다 바람직하게는 0.4 ≤ y/x ≤ 1, 더 바람직하게는 0.5 ≤ y/x ≤ 1, 특히 바람직하게는 0.6 ≤ y/x ≤ 1이다.From the viewpoint of further suppressing the occurrence of roughness unevenness while realizing the thinning of the layer, when y ≤ 15, preferably 0.35 ≤ y/x ≤ 1, more preferably 0.4 ≤ y/x ≤ 1, more preferably 0.5≦y/x≦1, particularly preferably 0.6≦y/x≦1.

층의 박형화의 관점에서는, y ≤ 14인 것이 바람직하고, y ≤ 12인 것이 보다 바람직하고, y ≤ 10인 것이 더욱 바람직하고, y≤9, y≤8, y≤7 또는 y≤6인 것이 특히 바람직하다. y가 이러한 범위인 경우에도, y/x 비가 상기의 범위에 있는 경우에는 조도 불균일의 발생을 유리하게 억제할 수 있다. y의 하한은 본 발명의 경화체가 절연층으로서의 기능을 다하는 한 특별히 제한되지 않지만, 통상 0.5≤y이며, 바람직하게는 1≤y이다. 또한, y/x 비의 상한은 1 미만이라도 좋다.From the viewpoint of thinning of the layer, it is preferable that y≦14, more preferably y≦12, even more preferably y≦10, and y≦9, y≦8, y≦7, or y≦6. It is particularly preferred. Even when y is in such a range, when the y/x ratio is in the above range, occurrence of irregularity in illuminance can be advantageously suppressed. The lower limit of y is not particularly limited as long as the cured product of the present invention fulfills its function as an insulating layer, but is usually 0.5≦y, and preferably 1≦y. In addition, the upper limit of the y/x ratio may be less than 1.

경화체 표면의 기복을 작게 하는 동시에 조도 불균일의 발생을 억제하는 관점에서, 회로 기판에 적층한 수지 조성물층은, 당해 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도 Tv 미만의 온도로 10분간 유지한 후, Tv 이상의 온도로 10분간 유지하여 열경화시키는 것이 바람직하다. 수지 조성물층의 열경화의 상세에 대해서는 후술한다.From the viewpoint of reducing undulations on the surface of the cured body and suppressing the occurrence of uneven roughness, the resin composition layer laminated on the circuit board is maintained at a temperature less than the minimum melt viscosity temperature Tv of the resin composition layer for 10 minutes, and then Tv or more. It is preferable to heat cure by maintaining the temperature for 10 minutes. Details of the thermosetting of the resin composition layer will be described later.

본 발명의 경화체는 상기한 바와 같이, 회로 배선 위에서의 두께가 15㎛ 이하로 얇아 층의 박형화에 기여하는 동시에, 기복이 작은 표면을 가져 조도 불균일의 발생도 억제할 수 있는 것으로부터 회로의 미세 배선화에도 기여한다. 이와 같이, 본 발명의 경화체는 프린트 배선판의 제조에 있어서, 층의 박형화와 회로의 미세 배선화의 쌍방에 현저히 기여하는 것이다.As described above, the cured product of the present invention has a thickness of 15 μm or less on the circuit wiring, contributing to the thinning of the layer, and at the same time, it has a surface with small undulations so that the occurrence of irregularities in roughness can be suppressed. Also contributes to. As described above, the cured product of the present invention remarkably contributes to both the thinning of the layer and the fine wiring of the circuit in the manufacture of a printed wiring board.

또한, 도 1에는, 본 발명의 경화체를 형성하기 위하여 사용되는 수지 조성물층의 단면을 개략적으로 도시한다. 상기 x는, 회로 기판에 적층하기 전의 수지 조성물층(1)의 두께를 말한다.In addition, Fig. 1 schematically shows a cross section of a resin composition layer used to form the cured body of the present invention. The x refers to the thickness of the resin composition layer 1 before lamination on the circuit board.

또한, 도 2에는, 본 발명의 일 실시형태에서의, 회로 기판 위에 형성된 경화체의 단면을 개략적으로 도시한다. 도 2에 있어서, 회로 기판(3)은, 기판(5) 위에 패턴 가공된 배선 회로(4)를 구비하고 있고, 경화체(2)는 당해 회로 기판(3) 위에 설치된다. 상기 y는, 회로 기판의 회로 배선(4) 위에 있는 경화체(2)의 두께를 말한다.In addition, Fig. 2 schematically shows a cross section of a cured body formed on a circuit board in an embodiment of the present invention. In FIG. 2, the circuit board 3 includes the wiring circuit 4 patterned on the board 5, and the cured body 2 is provided on the circuit board 3. The y refers to the thickness of the cured body 2 on the circuit wiring 4 of the circuit board.

이하, 본 발명의 경화체를 형성하기 위하여 사용하는 수지 조성물층에 대하여 설명한다.Hereinafter, the resin composition layer used to form the cured product of the present invention will be described.

<수지 조성물층><Resin composition layer>

수지 조성물층에 사용하는 수지 조성물은 특별히 한정되지 않고, 형성되는 경화체가 충분한 경도와 절연성을 갖는 것이라면 좋다. 수득되는 경화체(절연층)의 열팽창율을 저하시켜서, 절연층과 도체층과의 열팽창의 차에 의한 크랙이나 회로 변형의 발생을 방지하는 관점에서, 수지 조성물층에 사용하는 수지 조성물은 무기 충전재를 포함하는 것이 바람직하다.The resin composition used for the resin composition layer is not particularly limited, and the cured product to be formed may be one having sufficient hardness and insulation. From the viewpoint of reducing the coefficient of thermal expansion of the obtained cured product (insulating layer) and preventing the occurrence of cracks or circuit deformation due to the difference in thermal expansion between the insulating layer and the conductor layer, the resin composition used for the resin composition layer is an inorganic filler. It is preferable to include.

상기한 바와 같이, 본 발명자들은, 무기 충전재 함유량이 높은 수지 조성물층을 사용하여 경화체를 형성하는 경우에 조도 불균일이 특히 일어나 쉬운 것을 알아냈지만, 본 발명에 의하면, 무기 충전재 함유량이 높은 수지 조성물을 사용하는 경우에도 조도 불균일의 발생을 유리하게 억제할 수 있다.As described above, the present inventors have found that when a cured product is formed using a resin composition layer having a high inorganic filler content, uneven roughness is particularly likely to occur, but according to the present invention, a resin composition having a high inorganic filler content is used. Even in the case of doing so, it is possible to advantageously suppress the occurrence of uneven illumination.

수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량은, 수득되는 경화체의 열팽창율을 충분히 저하시키는 관점에서, 바람직하게는 50질량% 이상, 보다 바람직하게는 60질량% 이상, 더 바람직하게는 65질량% 이상이다.The content of the inorganic filler in the resin composition is preferably 50% by mass or more, more preferably 60% by mass or more, and still more preferably 65% by mass or more, from the viewpoint of sufficiently lowering the thermal expansion coefficient of the resulting cured product.

또한, 본 발명에 있어서, 수지 조성물 중의 각 성분의 함유량은, 수지 조성물 중의 불휘발 성분의 합계를 100질량%로 했을 때의 값이다.In addition, in the present invention, the content of each component in the resin composition is a value when the total amount of nonvolatile components in the resin composition is 100% by mass.

본 발명에 있어서는, 조도 불균일의 발생을 억제하면서, 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량을 더욱 높일 수 있다. 예를 들어, 수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량은 66질량% 이상, 68질량% 이상, 또는 70질량% 이상까지 높여도 좋다.In the present invention, it is possible to further increase the content of the inorganic filler in the resin composition while suppressing the occurrence of uneven roughness. For example, the content of the inorganic filler in the resin composition may be increased to 66% by mass or more, 68% by mass or more, or 70% by mass or more.

수지 조성물 중의 무기 충전재의 함유량의 상한은, 수지 조성물층의 열경화에 의해 수득되는 경화체의 기계 강도의 관점에서, 바람직하게는 95질량% 이하, 보다 바람직하게는 90질량% 이하이다.The upper limit of the content of the inorganic filler in the resin composition is preferably 95% by mass or less, more preferably 90% by mass or less from the viewpoint of the mechanical strength of the cured product obtained by thermosetting the resin composition layer.

무기 충전재로는, 예를 들어, 실리카, 알루미나, 황산바륨, 활석, 클레이, 운모분, 수산화알루미늄, 수산화마그네슘, 탄산칼슘, 탄산마그네슘, 산화마그네슘, 질화붕소, 붕산알루미늄, 티탄산바륨, 티탄산스트론튬, 티탄산칼슘, 티탄산마그네슘, 티탄산비스무스, 산화티탄, 지르콘산바륨, 및 지르콘산칼슘 등을 들 수 있다. 이들 중에서도 무정형 실리카, 용융 실리카, 결정 실리카, 합성 실리카, 중공 실리카 등의 실리카가 특히 적합하다. 또한 실리카로는 구상 실리카가 바람직하다. 무기 충전재는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 시판되고 있는 구상 용융 실리카로서, 가부시키가이샤 아도마텍스 제조 「SOC2」, 「SOC1」을 들 수 있다.As an inorganic filler, for example, silica, alumina, barium sulfate, talc, clay, mica powder, aluminum hydroxide, magnesium hydroxide, calcium carbonate, magnesium carbonate, magnesium oxide, boron nitride, aluminum borate, barium titanate, strontium titanate, Calcium titanate, magnesium titanate, bismuth titanate, titanium oxide, barium zirconate, calcium zirconate, and the like. Among these, silicas such as amorphous silica, fused silica, crystalline silica, synthetic silica and hollow silica are particularly suitable. Moreover, spherical silica is preferable as silica. The inorganic filler may be used alone or in combination of two or more. As commercially available spherical fused silica, "SOC2" and "SOC1" manufactured by Adomatex Co., Ltd. are mentioned.

무기 충전재의 평균 입자 직경은 0.01㎛ 내지 2㎛의 범위가 바람직하고, 0.05㎛ 내지 1.5㎛의 범위가 보다 바람직하고, 0.07㎛ 내지 1㎛의 범위가 더욱 바람직하고, 0.1㎛ 내지 0.8㎛가 보다 더 바람직하다. 무기 충전재의 평균 입자 직경은 미(Mie) 산란 이론에 기초하는 레이저 회절·산란법에 의해 측정할 수 있다. 구체적으로는 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치에 의해, 무기 충전재의 입도 분포를 체적 기준으로 작성하고, 그 미디언 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 측정 샘플은, 무기 충전재를 초음파에 의해 수중으로 분산시킨 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 레이저 회절 산란식 입도 분포 측정 장치로는, 가부시키가이샤 호리바 세사쿠쇼 제조 LA-500 등을 사용할 수 있다.The average particle diameter of the inorganic filler is preferably in the range of 0.01 µm to 2 µm, more preferably in the range of 0.05 µm to 1.5 µm, even more preferably in the range of 0.07 µm to 1 µm, and even more in the range of 0.1 µm to 0.8 µm. desirable. The average particle diameter of the inorganic filler can be measured by a laser diffraction/scattering method based on the Mie scattering theory. Specifically, it can be measured by creating a particle size distribution of an inorganic filler on a volume basis with a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device and making the median diameter an average particle diameter. The measurement sample can be preferably used in which the inorganic filler is dispersed in water by ultrasonic waves. As a laser diffraction scattering type particle size distribution measuring device, LA-500 manufactured by Horiba Sesakusho Co., Ltd. can be used.

무기 충전재는, 내습성 향상을 위하여, 아미노실란계 커플링제, 에폭시실란계 커플링제, 머캅토실란계 커플링제, 실란계 커플링제, 오가노실라잔 화합물, 티타네이트계 커플링제 등의 1종 이상의 표면 처리제로 처리되어 있는 것이 바람직하다. 표면 처리제의 시판품으로는, 예를 들어, 신에츠 카가쿠코교 가부시키가이샤 제조 「KBM403」(3-글리시독시프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교 가부시키가이샤 제조 「KBM803」(3-머캅토프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교 가부시키가이샤 제조 「KBE903」(3-아미노프로필트리에톡시실란), 신에츠 카가쿠코교 가부시키가이샤 제조 「KBM573」(N-페닐-3-아미노프로필트리메톡시실란), 신에츠 카가쿠코교 가부시키가이샤 제조 「SZ-31」(헥사메틸디실라잔) 등을 들 수 있다.Inorganic fillers have one or more surfaces such as aminosilane coupling agents, epoxy silane coupling agents, mercaptosilane coupling agents, silane coupling agents, organosilazane compounds, titanate coupling agents, etc. to improve moisture resistance. It is preferable to be treated with a treatment agent. As a commercial product of the surface treatment agent, for example, Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM403" (3-glycidoxypropyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "KBM803" (3-mer Captopropyltrimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. ``KBE903'' (3-aminopropyltriethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. ``KBM573'' (N-phenyl-3-aminopropyl) Trimethoxysilane), Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. "SZ-31" (hexamethyldisilazane), etc. are mentioned.

또한, 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재는, 용제(예를 들어, 메틸에틸케톤(MEK))에 의해 세정 처리한 후에, 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량을 측정할 수 있다. 구체적으로는, 용제로서 충분한 양의 MEK를 표면 처리제로 표면 처리된 무기 충전재에 가하여, 25℃에서 5분간 초음파 세정한다. 상청액을 제거하고, 고형분을 건조시킨 후, 카본 분석계를 이용해서 무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량을 측정할 수 있다. 카본 분석계로는 호리바 세사쿠쇼 제조 「EMIA-320V」 등을 사용할 수 있다.In addition, after the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent is washed with a solvent (eg, methyl ethyl ketone (MEK)), the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured. Specifically, a sufficient amount of MEK as a solvent is added to the inorganic filler surface-treated with a surface treatment agent, and ultrasonic cleaning is performed at 25°C for 5 minutes. After removing the supernatant and drying the solid, the amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler can be measured using a carbon analyzer. As a carbon analyzer, "EMIA-320V" manufactured by Horiba Sesakusho can be used.

무기 충전재의 단위 표면적당의 카본량은 무기 충전재의 분산성 향상의 관점에서, 0.02mg/㎡ 이상이 바람직하고, 0.1mg/㎡ 이상이 보다 바람직하고, 0.2mg/㎡ 이상이 더욱 바람직하다. 한편, 수지 와니스의 용융 점도나 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 방지하는 관점에서, 1mg/㎡ 이하가 바람직하고, 0.8mg/㎡ 이하가 보다 바람직하고, 0.5mg/㎡ 이하가 더욱 바람직하다.The amount of carbon per unit surface area of the inorganic filler is preferably 0.02 mg/m 2 or more, more preferably 0.1 mg/m 2 or more, and even more preferably 0.2 mg/m 2 or more, from the viewpoint of improving the dispersibility of the inorganic filler. On the other hand, from the viewpoint of preventing an increase in the melt viscosity of the resin varnish or the melt viscosity in the form of a sheet, 1 mg/m 2 or less is preferable, 0.8 mg/m 2 or less is more preferable, and 0.5 mg/m 2 or less is still more preferable.

수지 조성물층에 사용하는 수지 조성물은 수지로서 열경화성 수지를 포함한다. 열경화성 수지로는, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 사용되는 종래 공지의 열경화성 수지를 사용할 수 있고, 그 중에서도 에폭시 수지가 바람직하다. 수지 조성물은 또한, 필요에 따라, 경화제를 포함하고 있어도 좋다. 일 실시형태에 있어서, 무기 충전재, 에폭시 수지, 및 경화제를 포함하는 수지 조성물을 사용할 수 있다. 수지 조성물층에 사용하는 수지 조성물은, 추가로 열가소성 수지, 경화 촉진제, 난연제 및 고무 입자 등의 첨가제를 포함하고 있어도 좋다.The resin composition used for the resin composition layer contains a thermosetting resin as a resin. As the thermosetting resin, a conventionally known thermosetting resin used when forming the insulating layer of a printed wiring board can be used, and among them, an epoxy resin is preferable. The resin composition may further contain a curing agent as necessary. In one embodiment, a resin composition containing an inorganic filler, an epoxy resin, and a curing agent can be used. The resin composition used for the resin composition layer may further contain additives such as a thermoplastic resin, a curing accelerator, a flame retardant, and rubber particles.

이하, 수지 조성물의 재료로서 사용할 수 있는 에폭시 수지, 경화제, 및 첨가제에 대하여 설명한다.Hereinafter, an epoxy resin, a curing agent, and an additive that can be used as a material of the resin composition will be described.

(에폭시 수지)(Epoxy resin)

에폭시 수지로는, 예를 들어, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀F형 에폭시 수지, 비스페놀S형 에폭시 수지, 비스페놀AF형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀에폭시 수지, 나프톨노볼락에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 3급-부틸-카테콜형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프톨형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 글리시딜아민형 에폭시 수지, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 선형 지방족 에폭시 수지, 부타디엔 구조를 갖는 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 복소환식 에폭시 수지, 스피로환 함유 에폭시 수지, 사이클로헥산디메탄올형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지 및 트리메티롤형 에폭시 수지 등을 들 수 있다. 에폭시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.As an epoxy resin, for example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol AF type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol epoxy resin, naphthol novolac epoxy resin Resin, phenol novolak type epoxy resin, tertiary-butyl-catechol type epoxy resin, naphthalene type epoxy resin, naphthol type epoxy resin, anthracene type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, Cresol novolak type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, linear aliphatic epoxy resin, butadiene structure epoxy resin, alicyclic epoxy resin, heterocyclic epoxy resin, spiro ring containing epoxy resin, cyclohexanedimethanol type epoxy resin, naph And a styrene ether type epoxy resin and a trimethylol type epoxy resin. Epoxy resin may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

에폭시 수지는, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지를 포함하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지의 불휘발 성분을 100질량%로 한 경우에, 적어도 50질량% 이상은 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖는 에폭시 수지인 것이 바람직하다. 그 중에서도, 1분자 중에 2개 이상의 에폭시기를 갖고, 온도 20℃에서 액상의 에폭시 수지(이하, 「액상 에폭시 수지」라고 함)와, 1분자 중에 3개 이상의 에폭시기를 갖고, 온도 20℃에서 고체상의 에폭시 수지(이하, 「고체상 에폭시 수지」라고 함)를 포함하는 것이 바람직하다. 에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용함으로써, 뛰어난 가요성을 갖는 수지 조성물을 수득할 수 있다. 또한, 수지 조성물을 경화하여 형성되는 경화체의 파단 강도도 향상된다.It is preferable that the epoxy resin contains an epoxy resin having two or more epoxy groups in one molecule. When the nonvolatile component of the epoxy resin is 100% by mass, at least 50% by mass or more is preferably an epoxy resin having two or more epoxy groups per molecule. Among them, it has two or more epoxy groups per molecule, a liquid epoxy resin (hereinafter referred to as "liquid epoxy resin") at a temperature of 20°C, and three or more epoxy groups per molecule, and a solid phase at a temperature of 20°C. It is preferable to contain an epoxy resin (hereinafter referred to as "solid epoxy resin"). As the epoxy resin, a resin composition having excellent flexibility can be obtained by using a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin together. In addition, the breaking strength of the cured product formed by curing the resin composition is also improved.

액상 에폭시 수지로는, 비스페놀A형 에폭시 수지, 비스페놀F형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 또는 나프탈렌형 에폭시 수지가 바람직하고, 비스페놀A형 에폭시 수지 또는 나프탈렌형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 액상 에폭시 수지의 구체적인 예로는, DIC 가부시키가이샤 제조의 「HP4032」, 「HP4032D」, 「EXA4032SS」, 「HP4032SS」(나프탈렌형 에폭시 수지), 미츠비시 카가쿠 가부시키가이샤 제조의 「jER828EL」(비스페놀A형 에폭시 수지), 「jER807」(비스페놀F형 에폭시 수지), 「jER152」(페놀노볼락형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다. 이것들은 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.As the liquid epoxy resin, a bisphenol A type epoxy resin, a bisphenol F type epoxy resin, a phenol novolak type epoxy resin, or a naphthalene type epoxy resin is preferable, and a bisphenol A type epoxy resin or a naphthalene type epoxy resin is more preferable. Specific examples of liquid epoxy resins include "HP4032", "HP4032D", "EXA4032SS", "HP4032SS" (naphthalene-type epoxy resin) manufactured by DIC Corporation, and "jER828EL" (bisphenol A) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. Type epoxy resin), “jER807” (bisphenol F type epoxy resin), “jER152” (phenol novolac type epoxy resin), and the like. These may be used individually by 1 type, or may use 2 or more types together.

고체상 에폭시 수지로는, 4관능 나프탈렌형 에폭시 수지, 크레졸노볼락형 에폭시 수지, 디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지, 트리스페놀형 에폭시 수지, 나프톨노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 또는 나프틸렌에테르형 에폭시 수지가 바람직하고, 4관능 나프탈렌형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 또는 나프틸렌에테르형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 고체상 에폭시 수지의 구체적인 예로는, DIC 가부시키가이샤 제조의 「HP-4700」, 「HP-4710」(4관능 나프탈렌형 에폭시 수지), 「N-690」(크레졸노볼락형 에폭시 수지), 「N-695」(크레졸노볼락형 에폭시 수지), 「HP-7200」(디사이클로펜타디엔형 에폭시 수지), 「EXA7311」, 「EXA7311-G3」, 「EXA7311-G4」, 「EXA7311-G4S」, 「HP6000」(나프틸렌에테르형 에폭시 수지), 니혼 카야쿠 가부시키가이샤 제조의 「EPPN-502H」(트리스페놀에폭시 수지), 「NC7000L」(나프톨노볼락에폭시 수지), 「NC3000H」, 「NC3000」, 「NC3000L」, 「NC3100」(비페닐형 에폭시 수지), 신닛테츠 카가쿠 가부시키가이샤 제조의 「ESN475V」(나프톨노볼락형 에폭시 수지), 「ESN485」(나프톨노볼락형 에폭시 수지), 미츠비시 카가쿠 가부시키가이샤 제조의 「YX4000H」, 「YX4000HK」, 「YL6121」(비페닐형 에폭시 수지), 오사카 가스 케미카루 가부시키가이샤 제조의 「PG-100」, 「CG-500」, 미츠비시 카가쿠 가부시키가이샤 제조의 「YL7800」(플루오렌형 에폭시 수지) 등을 들 수 있다.As a solid epoxy resin, tetrafunctional naphthalene type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, dicyclopentadiene type epoxy resin, trisphenol type epoxy resin, naphthol novolak type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, or naphthylene An ether type epoxy resin is preferable, and a tetrafunctional naphthalene type epoxy resin, a biphenyl type epoxy resin, or a naphthylene ether type epoxy resin is more preferable. Specific examples of solid epoxy resins include "HP-4700", "HP-4710" (4-functional naphthalene-type epoxy resin), "N-690" (cresol novolac-type epoxy resin), and "N" manufactured by DIC Corporation. -695" (cresol novolak type epoxy resin), "HP-7200" (dicyclopentadiene type epoxy resin), "EXA7311", "EXA7311-G3", "EXA7311-G4", "EXA7311-G4S", " HP6000" (naphthylene ether type epoxy resin), "EPPN-502H" manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. (trisphenol epoxy resin), "NC7000L" (naphthol novolac epoxy resin), "NC3000H", "NC3000", "NC3000L", "NC3100" (biphenyl-type epoxy resin), "ESN475V" (naphthol novolac-type epoxy resin) manufactured by Shinnittetsu Chemical Co., Ltd., "ESN485" (naphthol novolac-type epoxy resin), Mitsubishi Ka. "YX4000H", "YX4000HK", "YL6121" (biphenyl-type epoxy resin) manufactured by Gaku Corporation, "PG-100", "CG-500" manufactured by Osaka Gas Chemical Co., Ltd., and Mitsubishi Kagaku Corporation "YL7800" (fluorene-type epoxy resin) manufactured by Shikig. Co., Ltd. is mentioned.

에폭시 수지로서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지를 병용하는 경우, 그들의 양 비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 1:0.1 내지 1:4의 범위가 바람직하다. 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양 비를 이러한 범위로 함으로써, ⅰ) 후술하는 접착 시트의 형태로 사용할 경우에 적당한 점착성을 가져올 수 있고, ⅱ) 접착 시트의 형태로 사용할 경우에 충분한 가요성을 얻을 수 있고, 취급성이 향상되며, ⅲ) 충분한 파단 강도를 갖는 경화체를 수득할 수 있는 등의 효과를 얻을 수 있다. 상기 ⅰ) 내지 ⅲ)의 효과의 관점에서, 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 양 비(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지)는, 질량비로, 1:0.3 내지 1:3.5의 범위가 보다 바람직하고, 1:0.6 내지 1:3의 범위가 더욱 바람직하고, 1:0.8 내지 1:2.8의 범위가 특히 바람직하다.When a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin are used in combination as the epoxy resin, the amount ratio (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is preferably in the range of 1:0.1 to 1:4 by mass ratio. By setting the ratio of the amount of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin in this range, ⅰ) suitable adhesion can be obtained when used in the form of an adhesive sheet described later, and ii) sufficient flexibility can be obtained when used in the form of an adhesive sheet. It can be used, the handling property is improved, and effects such as iii) being able to obtain a cured product having sufficient breaking strength can be obtained. From the viewpoint of the effects of the above i) to iii), the ratio of the amount of the liquid epoxy resin to the solid epoxy resin (liquid epoxy resin: solid epoxy resin) is in the range of 1:0.3 to 1:3.5 by mass ratio, more preferably, The range of 1:0.6 to 1:3 is more preferred, and the range of 1:0.8 to 1:2.8 is particularly preferred.

수지 조성물 중의 에폭시 수지의 함유량은, 3질량% 내지 50질량%가 바람직하고, 5질량% 내지 45질량%가 보다 바람직하고, 5질량% 내지 40질량%가 더욱 바람직하고, 7질량% 내지 35질량%가 특히 바람직하다.The content of the epoxy resin in the resin composition is preferably 3% by mass to 50% by mass, more preferably 5% by mass to 45% by mass, still more preferably 5% by mass to 40% by mass, and 7% by mass to 35% by mass % Is particularly preferred.

에폭시 수지의 에폭시 당량은, 바람직하게는 50 내지 3000, 보다 바람직하게는 80 내지 2000, 더 바람직하게는 110 내지 1000이다. 이 범위가 됨으로써, 경화물의 가교 밀도가 충분해져서 표면 조도가 낮은 절연층을 가져온다. 또한, 에폭시 당량은, JIS K7236에 따라서 측정할 수 있고, 1당량의 에폭시기를 포함하는 수지의 질량이다.The epoxy equivalent of the epoxy resin is preferably 50 to 3000, more preferably 80 to 2000, and still more preferably 110 to 1000. By being in this range, the crosslinking density of a cured product becomes sufficient, and an insulating layer with low surface roughness is obtained. In addition, the epoxy equivalent can be measured according to JIS K7236, and is the mass of the resin containing 1 equivalent of an epoxy group.

(경화제)(Hardener)

경화제로는, 에폭시 수지를 경화하는 기능을 갖는 한 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제, 벤조 옥사진계 경화제, 및 시아네이트 에스테르계 경화제를 들 수 있다. 경화제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.The curing agent is not particularly limited as long as it has a function of curing the epoxy resin, and examples thereof include a phenol curing agent, a naphthol curing agent, an active ester curing agent, a benzoxazine curing agent, and a cyanate ester curing agent. . The curing agent may be used alone or in combination of two or more.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제로는, 내열성 및 내수성의 관점에서, 노볼락 구조를 갖는 페놀계 경화제, 또는 노볼락 구조를 갖는 나프톨계 경화제가 바람직하다. 또한, 도체층과의 밀착성(박리 강도)의 관점에서, 질소 함유 페놀계 경화제가 바람직하고, 트리아진 골격 함유 페놀계 경화제가 보다 바람직하다. 그 중에서도, 내열성, 내수성, 및 도체층과의 밀착성(박리 강도)을 고도로 만족시키는 관점에서, 트리아진 골격 함유 페놀노볼락 수지를 경화제로서 사용하는 것이 바람직하다.As the phenolic curing agent and the naphthol curing agent, from the viewpoint of heat resistance and water resistance, a phenolic curing agent having a novolac structure or a naphthol curing agent having a novolac structure is preferable. Further, from the viewpoint of adhesion (peel strength) to the conductor layer, a nitrogen-containing phenolic curing agent is preferable, and a triazine skeleton-containing phenolic curing agent is more preferable. Among them, it is preferable to use a triazine skeleton-containing phenol novolac resin as a curing agent from the viewpoint of highly satisfying heat resistance, water resistance, and adhesion (peel strength) with the conductor layer.

페놀계 경화제 및 나프톨계 경화제의 구체적인 예로는, 예를 들어, 메이와 카세이 가부시키가이샤 제조의 「MEH-7700」, 「MEH-7810」, 「MEH-7851」, 니혼 카야쿠 가부시키가이샤 제조의 「NHN」, 「CBN」, 「GPH」, 토토 카세이 가부시키가이샤 제조의 「SN170」, 「SN180」, 「SN190」, 「SN475」, 「SN485」, 「SN495」, 「SN375」, 「SN395」, DIC 가부시키가이샤 제조의 「LA7052」, 「LA7054」, 「LA3018」등을 들 수 있다.Specific examples of the phenolic curing agent and the naphthol curing agent include, for example, ``MEH-7700'', ``MEH-7810'', ``MEH-7851'' manufactured by Meiwa Kasei Co., Ltd., and manufactured by Nihon Kayaku Co., Ltd. "NHN", "CBN", "GPH", "SN170", "SN180", "SN190", "SN475", "SN485", "SN495", "SN375", "SN395" manufactured by Toto Kasei Co., Ltd. , "LA7052", "LA7054", and "LA3018" manufactured by DIC Corporation are mentioned.

도체층과의 밀착성(박리 강도)의 관점에서, 활성 에스테르계 경화제도 바람직하다. 활성 에스테르계 경화제로는 특별히 제한은 없지만, 일반적으로 페놀에스테르류, 티오페놀에스테르류, N-하이드록시아민에스테르류, 복소환 하이드록시 화합물의 에스테르류 등의 반응 활성이 높은 에스테르기를 1분자 중에 2개 이상 갖는 화합물이 바람직하게 사용된다. 당해 활성 에스테르계 경화제는, 카복실산 화합물 및/또는 티오카복실산 화합물과 하이드록시 화합물 및/또는 티올 화합물의 축합 반응에 의해 수득되는 것이 바람직하다. 특히 내열성 향상의 관점에서, 카복실산 화합물과 하이드록시 화합물로부터 수득되는 활성 에스테르계 경화제가 바람직하고, 카복실산 화합물과 페놀 화합물 및/또는 나프톨 화합물로부터 수득되는 활성 에스테르계 경화제가 보다 바람직하다. 카복실산 화합물로는, 예를 들어, 벤조산, 아세트산, 석신산, 말레산, 이타콘산, 프탈산, 이소프탈산, 테레프탈산, 피로멜리트산 등을 들 수 있다. 페놀 화합물 또는 나프톨 화합물로는, 예를 들어, 하이드로퀴논, 레조르신, 비스페놀A, 비스페놀F, 비스페놀S, 페놀프탈린, 메틸화 비스페놀A, 메틸화 비스페놀F, 메틸화 비스페놀S, 페놀, o-크레졸, m-크레졸, p-크레졸, 카테콜, α-나프톨, β-나프톨, 1,5-디하이드록시나프탈렌, 1,6-디하이드록시 나프탈렌, 2,6-디하이드록시나프탈렌, 디하이드록시벤조페논, 트리하이드록시벤조페논, 테트라하이드록시벤조페논, 플로로글루신, 벤젠트리올, 디사이클로펜타디에닐디페놀 화합물, 페놀노볼락 등을 들 수 있다. 여기에서, 「디사이클로펜타디에닐디페놀 화합물」이란, 디사이클로펜타디엔 1분자에 페놀 2분자가 축합하여 수득되는 디페놀 화합물을 말한다.From the viewpoint of adhesion (peel strength) with the conductor layer, an active ester curing agent is also preferable. The active ester-based curing agent is not particularly limited, but generally, an ester group having high reactive activity such as phenol esters, thiophenol esters, N-hydroxyamine esters, and esters of heterocyclic hydroxy compounds is 2 per molecule. Compounds having two or more are preferably used. The active ester curing agent is preferably obtained by a condensation reaction of a carboxylic acid compound and/or a thiocarboxylate compound and a hydroxy compound and/or a thiol compound. In particular, from the viewpoint of improving heat resistance, an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a hydroxy compound is preferable, and an active ester curing agent obtained from a carboxylic acid compound and a phenol compound and/or a naphthol compound is more preferable. Examples of the carboxylic acid compound include benzoic acid, acetic acid, succinic acid, maleic acid, itaconic acid, phthalic acid, isophthalic acid, terephthalic acid, and pyromellitic acid. As a phenolic compound or a naphthol compound, for example, hydroquinone, resorcin, bisphenol A, bisphenol F, bisphenol S, phenolphthalin, methylated bisphenol A, methylated bisphenol F, methylated bisphenol S, phenol, o-cresol, m -Cresol, p-cresol, catechol, α-naphthol, β-naphthol, 1,5-dihydroxynaphthalene, 1,6-dihydroxy naphthalene, 2,6-dihydroxynaphthalene, dihydroxybenzophenone , Trihydroxybenzophenone, tetrahydroxybenzophenone, fluoroglucine, benzenetriol, dicyclopentadienyldiphenol compound, phenol novolac, and the like. Here, the "dicyclopentadienyldiphenol compound" refers to a diphenol compound obtained by condensation of two molecules of phenol to one molecule of dicyclopentadiene.

구체적으로는, 디사이클로펜타디에닐디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물, 페놀노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물이 바람직하고, 그 중에서도 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물, 디사이클로펜타디에닐디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물이 보다 바람직하다.Specifically, an active ester compound containing a dicyclopentadienyldiphenol structure, an active ester compound containing a naphthalene structure, an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, an activity containing a benzoylated phenol novolac Ester compounds are preferable, and among them, an active ester compound containing a naphthalene structure and an active ester compound containing a dicyclopentadienyldiphenol structure are more preferable.

활성 에스테르계 경화제의 시판품으로는, 디사이클로펜타디에닐디페놀 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서, 「EXB9451」, 「EXB9460」, 「EXB9460S」, 「HPC-8000-65T」(DIC 가부시키가이샤 제조), 나프탈렌 구조를 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「EXB9416-70BK」(DIC 가부시키가이샤 제조), 페놀노볼락의 아세틸화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「DC808」(미츠비시 카가쿠 가부시키가이샤 제조), 페놀노볼락의 벤조일화물을 포함하는 활성 에스테르 화합물로서 「YLH1026」(미츠비시 카가쿠 가부시키가이샤 제조) 등을 들 수 있다.Commercially available active ester-based curing agents are active ester compounds containing dicyclopentadienyldiphenol structures, such as "EXB9451", "EXB9460", "EXB9460S", and "HPC-8000-65T" (manufactured by DIC Corporation). , ``EXB9416-70BK'' (manufactured by DIC Corporation) as an active ester compound containing a naphthalene structure, ``DC808'' (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) as an active ester compound containing an acetylated product of phenol novolac, phenol "YLH1026" (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) etc. are mentioned as an active ester compound containing a benzoylated product of novolac.

벤조옥사진계 경화제의 구체적인 예로는, 쇼와 코분시 가부시키가이샤 제조의 「HFB2006M」, 시코쿠 카세이코교 가부시키가이샤 제조의 「P-d」, 「F-a」를 들 수 있다.Specific examples of the benzoxazine-based curing agent include "HFB2006M" manufactured by Showa Co., Ltd., "P-d" and "F-a" manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Corporation.

시아네이트 에스테르계 경화제로는, 예를 들어, 비스페놀A디시아네이트, 폴리페놀시아네이트(올리고(3-메틸렌-1,5-페닐렌시아네이트), 4,4'-메틸렌비스(2,6-디메틸페닐시아네이트), 4,4'-에틸리덴디페닐디시아네이트, 헥사플루오로비스페놀A디시아네이트, 2,2-비스(4-시아네이트)페닐프로판, 1,1-비스(4-시아네이트페닐메탄), 비스(4-시아네이트-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,3-비스(4-시아네이트페닐-1-(메틸에틸리덴))벤젠, 비스(4-시아네이트페닐)티오에테르, 및 비스(4-시아네이트페닐)에테르 등의 2관능 시아네이트 수지, 페놀노볼락 및 크레졸노볼락 등으로부터 유도되는 다관능 시아네이트 수지, 이들 시아네이트 수지가 일부 트리아진화한 프레폴리머 등을 들 수 있다. 시아네이트 에스테르계 경화제의 구체적인 예로는, 롱자 쟈판 가부시키가이샤 제조의 「PT30」 및 「PT60」(모두 페놀노볼락형 다관능 시아네이트 에스테르 수지), 「BA230」(비스페놀A디시아네이트의 일부 또는 전부가 트리아진화되어 3량체가 된 프레폴리머) 등을 들 수 있다.As the cyanate ester curing agent, for example, bisphenol A dicyanate, polyphenol cyanate (oligo (3-methylene-1,5-phenylene cyanate), 4,4'-methylenebis (2,6 -Dimethylphenyl cyanate), 4,4'-ethylidenediphenyldicyanate, hexafluorobisphenol A dicyanate, 2,2-bis(4-cyanate)phenylpropane, 1,1-bis(4 -Cyanatephenylmethane), bis(4-cyanate-3,5-dimethylphenyl)methane, 1,3-bis(4-cyanatephenyl-1-(methylethylidene))benzene, bis(4- Difunctional cyanate resins such as cyanate phenyl) thioether and bis (4-cyanate phenyl) ether, polyfunctional cyanate resins derived from phenol novolacs and cresol novolacs, and some of these cyanate resins are triazineized One prepolymer, etc. Specific examples of the cyanate ester curing agent are "PT30" and "PT60" manufactured by Longza Japan Co., Ltd. (both are phenol novolak-type polyfunctional cyanate ester resins), and "BA230". (Prepolymer in which part or all of the bisphenol A dicyanate is triazineized to become a trimer), etc. are mentioned.

에폭시 수지와 경화제와의 양 비는, [에폭시 수지의 에폭시기의 합계수(合計數)]:[경화제의 반응기의 합계수]의 비율로, 1:0.2 내지 1:2의 범위가 바람직하고, 1:0.3 내지 1:1.5가 보다 바람직하고, 1:0.4 내지 1:1이 더욱 바람직하다. 여기에서, 경화제의 반응기란, 활성 수산기, 활성 에스테르기 등이며, 경화제의 종류에 따라 다르다. 또한, 에폭시 수지의 에폭시기의 합계수란, 각 에폭시 수지의 고형분 질량을 에폭시 당량으로 나눈 값을 모든 에폭시 수지에 대해서 합계한 값이며, 경화제의 반응기의 합계수란, 각 경화제의 고형분 질량을 반응기 당량으로 나눈 값을 모든 경화제에 대해서 합계한 값이다. 에폭시 수지와 경화제의 양 비를 이러한 범위로 함으로써, 수지 조성물의 경화물의 내열성이 보다 향상된다.The ratio of the amount of the epoxy resin and the curing agent is a ratio of [the total number of epoxy groups of the epoxy resin]: [the total number of reactors of the curing agent], and is preferably in the range of 1:0.2 to 1:2, and 1 :0.3 to 1:1.5 are more preferable, and 1:0.4 to 1:1 are more preferable. Here, the reactive group of the curing agent is an active hydroxyl group, an active ester group, or the like, and varies depending on the type of curing agent. In addition, the total number of epoxy groups in the epoxy resin is a value obtained by dividing the solid content mass of each epoxy resin by the epoxy equivalent weight for all epoxy resins, and the total number of reactors of the curing agent refers to the solid content mass of each curing agent. The value divided by is the sum of all curing agents. By setting the ratio of the amount of the epoxy resin to the curing agent in such a range, the heat resistance of the cured product of the resin composition is further improved.

일 실시형태에 있어서, 본 발명의 경화체를 형성하기 위해서 사용하는 수지 조성물은, 상기의 무기 충전재, 에폭시 수지, 및 경화제를 포함한다. 수지 조성물은, 무기 충전재로서 실리카를, 에폭시 수지로서 액상 에폭시 수지와 고체상 에폭시 수지의 혼합물(액상 에폭시 수지:고체상 에폭시 수지의 질량비는 1:0.1 내지 1:4의 범위가 바람직하고, 1:0.3 내지 1:3.5의 범위가 보다 바람직하고, 1:0.6 내지 1:3의 범위가 더욱 바람직하고, 1:0.8 내지 1:2.8의 범위가 특히 바람직하다)을, 경화제로서 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제 및 시아네이트 에스테르계 경화제로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상을 각각 포함하는 것이 바람직하다. 이러한 특정한 성분을 조합하여 포함하는 수지 조성물층에 관해서도, 무기 충전재, 에폭시 수지, 및 경화제의 적합한 함유량은 상기한 바와 같지만, 그 중에서도, 무기 충전재의 함유량이 50질량% 내지 95질량%, 에폭시 수지의 함유량이 3질량% 내지 50질량%인 것이 바람직하고, 무기 충전재의 함유량이 50질량% 내지 90질량%, 에폭시 수지의 함유량이 5질량% 내지 45질량%인 것이 보다 바람직하다. 경화제의 함유량에 관해서는, 에폭시 수지의 에폭시기의 합계수와, 경화제의 반응기의 합계수의 비가, 바람직하게는 1:0.2 내지 1:2의 범위, 보다 바람직하게는 1:0.3 내지 1:1.5의 범위, 더 바람직하게는 1:0.4 내지 1:1의 범위가 되도록 함유시킨다.In one embodiment, the resin composition used to form the cured product of the present invention contains the above inorganic filler, epoxy resin, and curing agent. The resin composition includes silica as an inorganic filler, and a mixture of a liquid epoxy resin and a solid epoxy resin as an epoxy resin (the mass ratio of the liquid epoxy resin: the solid epoxy resin is preferably in the range of 1:0.1 to 1:4, and 1:0.3 to The range of 1:3.5 is more preferable, the range of 1:0.6 to 1:3 is more preferable, and the range of 1:0.8 to 1:2.8 is particularly preferable), as a curing agent, a phenolic curing agent, a naphthol curing agent, It is preferable to each contain at least one selected from the group consisting of an active ester curing agent and a cyanate ester curing agent. Regarding the resin composition layer including these specific components in combination, the appropriate content of the inorganic filler, the epoxy resin, and the curing agent is as described above, but among them, the content of the inorganic filler is 50% by mass to 95% by mass, and the epoxy resin It is preferable that the content is 3% by mass to 50% by mass, and the content of the inorganic filler is 50% by mass to 90% by mass, and the content of the epoxy resin is more preferably 5% by mass to 45% by mass. Regarding the content of the curing agent, the ratio of the total number of epoxy groups of the epoxy resin to the total number of the reactors of the curing agent is in the range of 1:0.2 to 1:2, more preferably 1:0.3 to 1:1.5. It is contained so as to be in the range, more preferably in the range of 1:0.4 to 1:1.

수지 조성물은, 필요에 따라, 추가로 열가소성 수지, 경화 촉진제, 난연제 및 고무 입자 등의 첨가제를 포함하고 있어도 좋다.The resin composition may further contain additives such as a thermoplastic resin, a curing accelerator, a flame retardant, and rubber particles, if necessary.

(열가소성 수지)(Thermoplastic resin)

열가소성 수지로는, 예를 들어, 페녹시 수지, 폴리비닐아세탈 수지, 폴리 올레핀 수지, 폴리부타디엔 수지, 폴리이미드 수지, 폴리아미드이미드 수지, 폴리에테르설폰 수지, 폴리페닐렌에테르 수지 및 폴리설폰 수지 등을 들 수 있다. 열가소성 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.Examples of thermoplastic resins include phenoxy resins, polyvinyl acetal resins, polyolefin resins, polybutadiene resins, polyimide resins, polyamideimide resins, polyethersulfone resins, polyphenylene ether resins and polysulfone resins, etc. Can be mentioned. Thermoplastic resins may be used alone or in combination of two or more.

열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은 8,000 내지 70,000의 범위가 바람직하고, 10,000 내지 60,000의 범위가 보다 바람직하고, 20,000 내지 60,000의 범위가 더욱 바람직하다. 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은 겔 침투 크로마토그래피(GPC)법으로 측정된다. 구체적으로는, 열가소성 수지의 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량은, 측정 장치로서 가부시키가이샤 시마즈 세사쿠쇼 제조 LC-9A/RID-6A를, 컬럼으로서 쇼와 덴코 가부시키가이샤 제조 Shodex K-800P/K-804L/K-804L을, 이동상으로서 클로로포름 등을 사용하여, 컬럼 온도 40℃로 측정하고, 표준 폴리스티렌의 검량선을 사용하여 산출할 수 있다.The weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene is preferably in the range of 8,000 to 70,000, more preferably in the range of 10,000 to 60,000, and even more preferably in the range of 20,000 to 60,000. The weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene is measured by gel permeation chromatography (GPC). Specifically, the weight average molecular weight of the thermoplastic resin in terms of polystyrene is LC-9A/RID-6A manufactured by Shimadzu Corporation as a measuring device, and Shodex K-800P/K manufactured by Showa Denko Corporation as a column. -804L/K-804L can be measured at a column temperature of 40°C using chloroform or the like as a mobile phase, and calculated using a calibration curve of standard polystyrene.

페녹시 수지로는, 예를 들어, 비스페놀A 골격, 비스페놀F 골격, 비스페놀S 골격, 비스페놀아세토페논 골격, 노볼락 골격, 비페닐 골격, 플루오렌 골격, 디사이클로펜타디엔 골격, 노르보르넨 골격, 나프탈렌 골격, 안트라센 골격, 아다만탄 골격, 테르펜 골격, 및 트리메틸사이클로헥산 골격으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 골격을 갖는 페녹시 수지를 들 수 있다. 페녹시 수지의 말단은, 페놀성 수산기, 에폭시기 등의 어느 관능기라도 좋다. 페녹시 수지는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. 페녹시 수지의 구체적인 예로는, 미츠비시 카가쿠 가부시키가이샤 제조의 「1256」 및 「4250」(모두 비스페놀A 골격 함유 페녹시 수지), 「YX8100」(비스페놀S 골격 함유 페녹시 수지), 및 「YX6954」(비스페놀아세토페논 골격 함유 페녹시 수지)를 들 수 있고, 그 밖에도, 토토 카세이 가부시키가이샤 제조의 「FX280」 및 「FX293」, 미츠비시 카가쿠 가부시키가이샤 제조의 「YL7553」, 「YL6794」, 「YL7213」, 「YL7290」 및 「YL7482」 등을 들 수 있다.As a phenoxy resin, for example, a bisphenol A skeleton, a bisphenol F skeleton, a bisphenol S skeleton, a bisphenol acetophenone skeleton, a novolac skeleton, a biphenyl skeleton, a fluorene skeleton, a dicyclopentadiene skeleton, a norbornene skeleton, And a phenoxy resin having at least one skeleton selected from the group consisting of a naphthalene skeleton, an anthracene skeleton, an adamantane skeleton, a terpene skeleton, and a trimethylcyclohexane skeleton. The terminal of the phenoxy resin may be any functional group such as a phenolic hydroxyl group or an epoxy group. Phenoxy resins may be used alone or in combination of two or more. Specific examples of the phenoxy resin include ``1256'' and ``4250'' (both bisphenol A skeleton-containing phenoxy resin), ``YX8100'' (bisphenol S skeleton-containing phenoxy resin) manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd., and ``YX6954''. '' (bisphenolacetophenone skeleton-containing phenoxy resin), and in addition, ``FX280'' and ``FX293'' manufactured by Toto Chemicals Co., Ltd., ``YL7553'' and ``YL6794'' manufactured by Mitsubishi Chemicals Corporation, "YL7213", "YL7290", and "YL7482", etc. are mentioned.

폴리비닐아세탈 수지의 구체적인 예로는, 덴키 카가쿠코교 가부시키가이샤 제조의 전화(電化) 부티랄 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP, 세키스이 카가쿠코교 가부시키가이샤 제조의 에스렉 BH 시리즈, BX 시리즈, KS 시리즈, BL 시리즈, BM 시리즈 등을 들 수 있다.Specific examples of the polyvinyl acetal resin include Denki Chemical Co., Ltd. manufactured butyral butyral 4000-2, 5000-A, 6000-C, 6000-EP, and Sekisui Chemical Co., Ltd. Elec BH series, BX series, KS series, BL series, BM series, etc. are mentioned.

폴리이미드 수지의 구체적인 예로는, 신닛뽄 리카 가부시키가이샤 제조의 「리카 코트 SN20」 및 「리카 코트 PN20」을 들 수 있다. 폴리이미드 수지의 구체적인 예로는 또한, 2관능성 수산기 말단 폴리부타디엔, 디이소시아네이트 화합물 및 4염기산 무수물을 반응시켜 수득되는 선형 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2006-37083호 기재의 것), 폴리실록산 골격 함유 폴리이미드(일본 공개특허공보 특개2002-12667호 및 일본 공개특허공보 특개2000-319386호 등에 기재된 것) 등의 변성 폴리이미드를 들 수 있다.As a specific example of a polyimide resin, "Lica Coat SN20" and "Lica Coat PN20" manufactured by Shin-Nippon Rica Co., Ltd. are mentioned. Specific examples of the polyimide resin include a linear polyimide obtained by reacting a difunctional hydroxyl-terminated polybutadiene, a diisocyanate compound, and a tetrabasic acid anhydride (described in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 2006-37083), a polysiloxane skeleton. Modified polyimides, such as containing polyimides (described in JP 2002-12667 A and JP 2000-319386 A, etc.) can be mentioned.

폴리아미드이미드 수지의 구체적인 예로는, 토요 보세키 가부시키가이샤 제조의 「바이로막스 HR11NN」 및 「바이로막스 HR16NN」을 들 수 있다. 폴리아미드이미드 수지의 구체적인 예로는 또한, 히타치 카세이코교 가부시키가이샤 제조의 폴리실록산 골격 함유 폴리아미드이미드 「KS9100」, 「KS9300」 등의 변성 폴리아미드이미드를 들 수 있다.As a specific example of a polyamide-imide resin, "Viromax HR11NN" and "Viromax HR16NN" manufactured by Toyo Boseki Co., Ltd. are mentioned. Further examples of the polyamideimide resin include modified polyamideimide such as polysiloxane skeleton-containing polyamideimide "KS9100" and "KS9300" manufactured by Hitachi Kasei Kogyo Co., Ltd.

폴리에테르설폰 수지의 구체적인 예로는, 쓰미토모 카가쿠 가부시키가이샤 제조의 「PES5003P」 등을 들 수 있다.As a specific example of a polyether sulfone resin, "PES5003P" etc. manufactured by Tsumitomo Chemical Co., Ltd. can be mentioned.

폴리설폰 수지의 구체적인 예로는, 솔베이 어드밴스트 폴리머즈 가부시키가이샤 제조의 폴리설폰 「P1700」, 「P3500」 등을 들 수 있다.Specific examples of the polysulfone resin include polysulfones "P1700" and "P3500" manufactured by Solvay Advanced Polymers.

수지 조성물 중의 열가소성 수지의 함유량은, 0.1질량% 내지 20질량%인 것이 바람직하다. 열가소성 수지의 함유량을 이러한 범위로 함으로써, 수지 조성물의 점도가 적당하게 되어, 두께나 벌크 성상이 균일한 수지 조성물을 형성할 수 있다. 수지 조성물 중의 열가소성 수지의 함유량은 0.5질량% 내지 10질량%인 것이 보다 바람직하다.The content of the thermoplastic resin in the resin composition is preferably 0.1% by mass to 20% by mass. By setting the content of the thermoplastic resin in such a range, the viscosity of the resin composition becomes appropriate, and a resin composition having a uniform thickness and bulk properties can be formed. The content of the thermoplastic resin in the resin composition is more preferably 0.5% by mass to 10% by mass.

경화 촉진제로는, 예를 들어, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제, 구아니딘계 경화 촉진제 등을 들 수 있고, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제가 바람직하고, 아민계 경화 촉진제, 이미다졸계 경화 촉진제가 보다 바람직하다.Examples of the curing accelerator include phosphorus curing accelerators, amine curing accelerators, imidazole curing accelerators, guanidine curing accelerators, and the like, and phosphorus curing accelerators, amine curing accelerators, and imidazole curing accelerators are preferred. And an amine-based curing accelerator and an imidazole-based curing accelerator are more preferable.

인계 경화 촉진제로는, 예를 들어, 트리페닐포스핀, 포스포늄보레이트 화합물, 테트라페닐포스포늄테트라페닐보레이트, n-부틸포스포늄테트라페닐보레이트, 테트라부틸포스포늄데칸산염, (4-메틸페닐)트리페닐포스포늄티오시아네이트, 테트라페닐포스포늄티오시아네이트, 부틸트리페닐포스포늄티오시아네이트 등을 들 수 있고, 트리페닐포스핀, 테트라부틸포스포늄데칸산염이 바람직하다.Examples of phosphorus-based curing accelerators include triphenylphosphine, phosphonium borate compounds, tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, n-butylphosphonium tetraphenylborate, tetrabutylphosphonium decanoate, (4-methylphenyl)tri Phenylphosphonium thiocyanate, tetraphenylphosphonium thiocyanate, butyl triphenylphosphonium thiocyanate, etc. are mentioned, and triphenylphosphine and tetrabutylphosphonium decanoate are preferable.

아민계 경화 촉진제로는, 예를 들어, 트리에틸아민, 트리부틸아민 등의 트리알킬아민, 4-디메틸아미노피리딘, 벤질디메틸아민, 2,4,6-트리스(디메틸아미노 메틸)페놀, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센 등을 들 수 있고, 4-디메틸아미노 피리딘, 1,8-디아자비사이클로(5,4,0)-운데센이 바람직하다.Examples of the amine-based curing accelerator include trialkylamines such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris(dimethylaminomethyl)phenol, 1, 8-diazabicyclo(5,4,0)-undecene, etc. are mentioned, and 4-dimethylamino pyridine and 1,8-diazabicyclo(5,4,0)-undecene are preferable.

이미다졸계 경화 촉진제로는, 예를 들어, 2-메틸이미다졸, 2-운데실이미다졸, 2-헵타데실이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 2-페닐이미다졸, 2-페닐-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸, 1-시아노에틸-2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-운데실이미다졸륨트리메리테이트, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨트리메리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-운데실이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-에틸-4'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물, 2-페닐이미다졸이소시아누르산 부가물, 2-페닐-4,5-디하이드록시메틸이미다졸, 2-페닐-4-메틸-5하이드록시메틸이미다졸, 2,3-디하이드로-1H-피롤로[1,2-a]벤즈이미다졸, 1-도데실-2-메틸-3-벤질이미다졸륨클로라이드, 2-메틸이미다졸린, 2-페닐이미다졸린 등의 이미다졸 화합물 및 이미다졸 화합물과 에폭시 수지와의 어덕트체를 들 수 있고, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸이 바람직하다.Examples of the imidazole-based curing accelerator include 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and 2-ethyl-4- Methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methyl Imidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2- Ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimeritate, 1-cyanoethyl-2-phenylimida Zolium trimeritate, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-one Silimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6-[2'-ethyl-4'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s -Triazine, 2,4-diamino-6-[2'-methylimidazolyl-(1')]-ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid Adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5hydroxymethylimidazole, 2,3-dihydro-1H-pyrrolo[1,2 -a] imidazole compounds such as benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methylimidazoline, and 2-phenylimidazoline, imidazole compounds, and epoxy resins And the adduct body of, and 2-ethyl-4-methylimidazole and 1-benzyl-2-phenylimidazole are preferable.

구아니딘계 경화 촉진제로는, 예를 들어, 디시안디아미드, 1-메틸구아니딘, 1-에틸구아니딘, 1-사이클로헥실구아니딘, 1-페닐구아니딘, 1-(o-트릴)구아니딘, 디메틸구아니딘, 디페닐구아니딘, 트리메틸구아니딘, 테트라메틸구아니딘, 펜타메틸구아니딘, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 7-메틸-1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔, 1-메틸비구아니드, 1-에틸비구아니드, 1-n-부틸비구아니드, 1-n-옥타데실비구아니드, 1,1-디메틸비구아니드, 1,1-디에틸비구아니드, 1-사이클로헥실비구아니드, 1-알릴비구아니드, 1-페닐비구아니드, 1-(o-트릴)비구아니드 등을 들 수 있고, 디시안디아미드, 1,5,7-트리아자비사이클로[4.4.0]데카-5-엔이 바람직하다.As a guanidine-based hardening accelerator, for example, dicyandiamide, 1-methylguanidine, 1-ethylguanidine, 1-cyclohexylguanidine, 1-phenylguanidine, 1-(o-thryl)guanidine, dimethylguanidine, diphenyl Guanidine, trimethylguanidine, tetramethylguanidine, pentamethylguanidine, 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene, 7-methyl-1,5,7-triazabicyclo[4.4.0 ]Deca-5-ene, 1-methyl biguanide, 1-ethyl biguanide, 1-n-butyl biguanide, 1-n-octadecyl biguanide, 1,1-dimethyl biguanide, 1 ,1-diethyl biguanide, 1-cyclohexyl biguanide, 1-allyl biguanide, 1-phenyl biguanide, 1-(o-tril) biguanide, etc. are mentioned, and dicyandiamide , 1,5,7-triazabicyclo[4.4.0]deca-5-ene is preferred.

경화 촉진제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 2종 이상을 조합하여 사용해도 좋다. 적합한 일 실시형태에 있어서, 수지 조성물에 함유되는 경화 촉진제는, 인계 경화 촉진제, 아민계 경화 촉진제, 및 이미다졸계 경화 촉진제로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상이다. 수지 조성물 중의 경화 촉진제의 함유량은, 에폭시 수지와 경화제의 불휘발 성분 합계량을 100질량%로 했을 때, 0.05질량% 내지 3질량%의 범위에서 사용하는 것이 바람직하다.Curing accelerators may be used alone or in combination of two or more. In one suitable embodiment, the curing accelerator contained in the resin composition is at least one selected from the group consisting of a phosphorus curing accelerator, an amine curing accelerator, and an imidazole curing accelerator. The content of the curing accelerator in the resin composition is preferably used in the range of 0.05% by mass to 3% by mass, when the total amount of nonvolatile components of the epoxy resin and the curing agent is 100% by mass.

난연제로는, 예를 들어, 유기 인계 난연제, 유기계 질소 함유 인 화합물, 질소 화합물, 실리콘계 난연제, 금속 수산화물 등을 들 수 있다. 난연제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다. 수지 조성물층 중의 난연제의 함유량은 특별히 한정되지는 않지만, 0.5질량% 내지 10질량%가 바람직하고, 1질량% 내지 9질량%가 보다 바람직하고, 1.5질량% 내지 8질량%가 더욱 바람직하다.Examples of the flame retardant include an organic phosphorus flame retardant, an organic nitrogen-containing phosphorus compound, a nitrogen compound, a silicon flame retardant, and a metal hydroxide. Flame retardants may be used alone or in combination of two or more. The content of the flame retardant in the resin composition layer is not particularly limited, but is preferably 0.5% by mass to 10% by mass, more preferably 1% by mass to 9% by mass, and still more preferably 1.5% by mass to 8% by mass.

고무 입자로는, 예를 들어, 후술하는 유기 용제에 용해되지 않고, 상기의 에폭시 수지, 경화제, 및 열가소성 수지 등과도 상용되지 않는 것이 사용된다. 이러한 고무 입자는 일반적으로는, 고무 성분의 분자량을 유기 용제나 수지에 용해되지 않는 레벨까지 크게 하여, 입자상으로 함으로써 조제된다.As the rubber particles, for example, those that are not soluble in an organic solvent described later and are not compatible with the above-described epoxy resin, curing agent, and thermoplastic resin are used. In general, such rubber particles are prepared by increasing the molecular weight of the rubber component to a level in which it is not dissolved in an organic solvent or a resin, and forming a particle shape.

고무 입자로는, 예를 들어, 코어쉘형 고무 입자, 가교 아크릴로니트릴부타디엔 고무 입자, 가교 스티렌부타디엔 고무 입자, 아크릴 고무 입자 등을 들 수 있다. 코어쉘형 고무 입자는 코어층과 쉘을 갖는 고무 입자이며, 예를 들어, 외층의 쉘층이 유리상 중합체로 구성되고, 내층의 코어층이 고무상 중합체로 구성되는 2층구조, 또는 외층의 쉘층이 유리상 중합체로 구성되고, 중간층이 고무상 중합체로 구성되고, 코어층이 유리상 중합체로 구성되는 3층 구조의 것 등을 들 수 있다. 유리상 중합체층은, 예를 들어, 메틸메타크릴레이트 중합물 등으로 구성되고, 고무상 중합체층은, 예를 들어, 부틸아크릴레이트 중합물(부틸 고무) 등으로 구성된다. 고무 입자는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.Examples of the rubber particles include core-shell rubber particles, cross-linked acrylonitrile butadiene rubber particles, cross-linked styrene butadiene rubber particles, and acrylic rubber particles. Core-shell type rubber particles are rubber particles having a core layer and a shell, for example, a two-layer structure in which the shell layer of the outer layer is composed of a glassy polymer, and the core layer of the inner layer is composed of a rubbery polymer, or the shell layer of the outer layer is glassy. And a three-layer structure composed of a polymer, an intermediate layer composed of a rubber-like polymer, and a core layer composed of a glass-like polymer. The glassy polymer layer is composed of, for example, a methyl methacrylate polymer or the like, and the rubbery polymer layer is composed of, for example, a butyl acrylate polymer (butyl rubber) or the like. The rubber particles may be used alone or in combination of two or more.

고무 입자의 평균 입자 직경은, 바람직하게는 0.005㎛ 내지 1㎛의 범위이고, 보다 바람직하게는 0.2㎛ 내지 0.6㎛의 범위이다. 고무 입자의 평균 입자 직경은 동적 광 산란법을 사용하여 측정할 수 있다. 예를 들어, 적당한 유기 용제에 고무 입자를 초음파 등에 의해 균일하게 분산시키고, 농후계 입자 직경 애널라이저(FPAR-1000; 오츠카 덴시 가부시키가이샤 제조)를 사용하여, 고무 입자의 입도 분포를 질량 기준으로 작성하고, 그 미디언 직경을 평균 입자 직경으로 함으로써 측정할 수 있다. 수지 조성물 중의 고무 입자의 함유량은, 바람직하게는 1질량% 내지 10질량%이고, 보다 바람직하게는 2질량% 내지 5질량%이다.The average particle diameter of the rubber particles is preferably in the range of 0.005 µm to 1 µm, more preferably in the range of 0.2 µm to 0.6 µm. The average particle diameter of the rubber particles can be measured using a dynamic light scattering method. For example, rubber particles are uniformly dispersed in a suitable organic solvent by ultrasonic or the like, and the particle size distribution of rubber particles is prepared on a mass basis using a thick particle diameter analyzer (FPAR-1000; manufactured by Otsuka Corporation). And it can measure by making the median diameter into an average particle diameter. The content of the rubber particles in the resin composition is preferably 1% by mass to 10% by mass, more preferably 2% by mass to 5% by mass.

본 발명의 경화체를 형성하기 위하여 사용하는 수지 조성물은, 필요에 따라, 기타 첨가제를 포함해도 좋고, 이러한 기타 첨가제로는, 예를 들어, 유기 동(銅) 화합물, 유기 아연 화합물 및 유기 코발트 화합물 등의 유기 금속 화합물, 및 유기 필러, 증점제, 소포제, 레벨링(levelling)제, 밀착성 부여제, 착색제 및 경화성 수지 등의 수지 첨가제 등을 들 수 있다.The resin composition used to form the cured product of the present invention may contain other additives as necessary, and such other additives include, for example, organic copper compounds, organic zinc compounds, and organic cobalt compounds. And resin additives such as organic fillers, thickeners, defoaming agents, leveling agents, adhesion imparting agents, coloring agents and curable resins.

본 발명의 경화체는, 프린트 배선판의 절연층을 형성하기 위한 경화체(프린트 배선판의 절연층용 경화체)로서 사용할 수 있다. 그 중에서도, 빌드업 방식에 의한 프린트 배선판의 제조에 있어서, 절연층을 형성하기 위한 경화체(프린트 배선판의 빌드업 절연층용 경화체)로서 적합하게 사용할 수 있고, 패턴 형성용 드라이 필름을 사용하여 패턴 가공된 도체층을 형성하기 위한 경화체(패턴 형성용 드라이 필름을 사용하여 패턴 가공된 도체층을 형성하는 프린트 배선판의 빌드업 절연층용 경화체)로서 한층 더 적합하게 사용할 수 있다.The cured body of the present invention can be used as a cured body (cured body for an insulating layer of a printed wiring board) for forming an insulating layer of a printed wiring board. Among them, in the manufacture of a printed wiring board by the build-up method, it can be suitably used as a cured body for forming an insulating layer (a cured body for a build-up insulating layer of a printed wiring board), and pattern processed using a dry film for pattern formation. It can be used more suitably as a cured body for forming a conductor layer (a cured body for a build-up insulating layer of a printed wiring board forming a pattern-processed conductor layer using a pattern-forming dry film).

본 발명의 경화체를 형성하기 위하여 사용하는 수지 조성물층은, 회로 기판으로의 적층을 간편하게 또한 효율적으로 실시할 수 있는 관점에서, 당해 수지 조성물층을 포함하는 접착 시트의 형태로 사용하는 것이 적합하다.The resin composition layer used to form the cured product of the present invention is preferably used in the form of an adhesive sheet containing the resin composition layer from the viewpoint of being able to easily and efficiently lamination onto a circuit board.

일 실시형태에 있어서, 접착 시트는 지지체와, 당해 지지체와 접합하고 있는 수지 조성물층(접착층)을 포함하여 이루어진다.In one embodiment, the adhesive sheet comprises a support and a resin composition layer (adhesive layer) bonded to the support.

지지체로는, 플라스틱 재료로 이루어진 필름이 적합하게 사용된다. 플라스틱 재료로는, 예를 들어, 폴리에틸렌테레프탈레이트(이하, 「PET」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리에틸렌나프탈레이트(이하, 「PEN」이라고 약칭하는 경우가 있음) 등의 폴리에스테르, 폴리카보네이트(이하, 「PC」라고 약칭하는 경우가 있음), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA) 등의 아크릴, 환상 폴리올레핀, 트리아세틸셀룰로스(TAC), 폴리에테르술피드(PES), 폴리에테르케톤, 폴리이미드 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트가 바람직하고, 저렴한 폴리에틸렌테레프탈레이트가 특히 바람직하다. 적합한 일 실시형태에 있어서, 지지체는 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름이다.As the support, a film made of a plastic material is suitably used. Examples of plastic materials include polyesters such as polyethylene terephthalate (hereinafter sometimes abbreviated as ``PET''), polyethylene naphthalate (hereinafter sometimes abbreviated as ``PEN''), polycarbonate ( Hereinafter, it may be abbreviated as "PC"), acrylics such as polymethyl methacrylate (PMMA), cyclic polyolefins, triacetylcellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether ketone, polyimide, etc. Can be mentioned. Among them, polyethylene terephthalate and polyethylene naphthalate are preferable, and inexpensive polyethylene terephthalate is particularly preferable. In one suitable embodiment, the support is a polyethylene terephthalate film.

지지체는, 수지 조성물층과 접합하는 측의 표면에 매트 처리, 코로나 처리를 실시해도 좋다. 또한, 지지체로는, 수지 조성물층과 접합하는 측의 표면에 이형층을 갖는 이형층 부착 지지체를 사용해도 좋다.The support may be subjected to a mat treatment and a corona treatment on the surface of the resin composition layer and the side to be joined. In addition, as a support, you may use a support with a release layer which has a release layer on the surface of the side to be joined with the resin composition layer.

지지체의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 5㎛ 내지 75㎛의 범위가 바람직하고, 10㎛ 내지 60㎛의 범위가 보다 바람직하다. 또한, 지지체가 이형층 부착 지지체인 경우, 이형층 부착 지지체 전체의 두께가 상기 범위인 것이 바람직하다.Although the thickness of the support is not particularly limited, the range of 5 µm to 75 µm is preferable, and the range of 10 µm to 60 µm is more preferable. Further, when the support is a support with a release layer, it is preferable that the thickness of the entire support with a release layer is within the above range.

접착 시트는, 예를 들어, 유기 용제에 수지 조성물을 용해한 수지 와니스를 조제하고, 이 수지 와니스를, 다이 코터 등을 사용하여 지지체 위에 도포하고, 더욱 가열, 또는 열풍 분사 등에 의해 유기 용제를 건조시켜서 수지 조성물층을 형성 시킴으로써 제조할 수 있다.For the adhesive sheet, for example, a resin varnish in which a resin composition is dissolved in an organic solvent is prepared, the resin varnish is applied on a support body using a die coater, etc., and the organic solvent is further dried by heating or hot air spraying. It can be manufactured by forming a resin composition layer.

유기 용제로는, 예를 들어, 아세톤, 메틸에틸케톤 및 사이클로헥사논 등의 케톤류, 아세트산에틸, 아세트산부틸, 셀로솔브아세테이트, 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 및 카비톨아세테이트 등의 아세트산 에스테르류, 셀로솔브 및 부틸카비톨 등의 카비톨류, 톨루엔 및 크실렌 등의 방향족 탄화수소류, 디메틸포름아미드, 디메틸아세트아미드 및 N-메틸피롤리돈 등의 아미드계 용매 등을 들 수 있다. 유기 용제는 1종 단독으로 사용해도 좋고, 또는 2종 이상을 병용해도 좋다.Examples of the organic solvent include ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and cyclohexanone, ethyl acetate, butyl acetate, cellosolve acetate, acetic acid esters such as propylene glycol monomethyl ether acetate and carbitol acetate, cellosolve And carbitols such as butyl carbitol, aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene, and amide solvents such as dimethylformamide, dimethylacetamide and N-methylpyrrolidone. Organic solvents may be used alone or in combination of two or more.

건조 조건은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층 중의 유기 용제의 함유량(잔류 용제량)이 10질량% 이하, 바람직하게는 5질량% 이하가 되도록 건조시킨다. 잔류 용제량의 하한은 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물층의 취급성이나 시트 형태에서의 용융 점도의 상승을 방지하는 관점에서, 0.5질량% 이상이 바람직하고, 1질량% 이상이 보다 바람직하다. 수지 와니스 중의 유기 용제의 비점에 의해서도 다르지만, 예를 들어, 30질량% 내지 60질량%의 유기 용제를 포함하는 수지 와니스를 사용하는 경우, 50℃ 내지 150℃에서 3 내지 10분 건조시킴으로써, 수지 조성물층을 형성할 수 있다.Although drying conditions are not specifically limited, It is dried so that content (remaining solvent amount) in a resin composition layer may become 10 mass% or less, preferably 5 mass% or less. The lower limit of the residual solvent amount is not particularly limited, but from the viewpoint of preventing an increase in the melt viscosity in the form of a sheet or handleability of the resin composition layer, it is preferably 0.5% by mass or more, and more preferably 1% by mass or more. Although also different depending on the boiling point of the organic solvent in the resin varnish, for example, when using a resin varnish containing 30% by mass to 60% by mass of an organic solvent, by drying at 50°C to 150°C for 3 to 10 minutes, the resin composition Layers can be formed.

접착 시트에 있어서, 수지 조성물층의 지지체와 접합하고 있지 않는 면(즉, 지지체와는 반대측의 면)에는, 지지체에 준한 보호 필름을 추가로 적층할 수 있다. 보호 필름의 두께는 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 1㎛ 내지 40㎛이다. 보호 필름을 적층함으로써, 수지 조성물층의 표면으로의 먼지 등의 부착이나 상처를 방지할 수 있다. 접착 시트는, 롤 형상으로 권취하여 보존하는 것이 가능해서, 본 발명의 경화체를 제조할 때에는 보호 필름을 벗김으로써 사용 가능해진다.In the adhesive sheet, a protective film conforming to the support can be further laminated on the surface of the resin composition layer that is not bonded to the support body (that is, the surface opposite to the support body). The thickness of the protective film is not particularly limited, but is, for example, 1 µm to 40 µm. By laminating the protective film, it is possible to prevent adhesion of dust or the like to the surface of the resin composition layer and scratches. The adhesive sheet can be wound up and stored in a roll shape, and can be used by peeling off the protective film when producing the cured product of the present invention.

[경화체의 제조 방법][Method of manufacturing cured body]

본 발명의 경화체의 제조 방법은, The method for producing a cured product of the present invention,

(A) 회로 기판에 수지 조성물층을 적층하는 공정, 및(A) a step of laminating a resin composition layer on a circuit board, and

(B) 수지 조성물층을 열경화시켜 회로 기판 위에 경화체를 형성하는 공정(B) Step of forming a cured body on a circuit board by thermosetting the resin composition layer

을 포함하고, Including,

수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도를 Tv(℃)라고 했을 때, 수지 조성물층의 적층 온도가 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃이고, When the lowest melt viscosity temperature of the resin composition layer is Tv (°C), the lamination temperature of the resin composition layer is Tv-35°C to Tv + 35°C,

수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15인 것을 특징으로 한다.When the thickness of the resin composition layer is x (µm) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm), it is characterized in that 0.3 <y/x ≤ 1 and y ≤ 15.

공정 (A)에 있어서, 회로 기판에 수지 조성물층을 적층한다. 공정 (A)에서 사용하는 회로 기판 및 수지 조성물층의 구성은 상기한 바와 같다.In step (A), a resin composition layer is laminated on a circuit board. The configuration of the circuit board and the resin composition layer used in step (A) is as described above.

본 발명의 경화체의 제조 방법에 있어서는, 회로 기판 위에 형성되는 경화체의 표면의 기복을 억제하는 관점에서, Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃의 온도 범위로 회로 기판에 수지 조성물층을 적층한다. 회로 기판 위에 형성되는 경화체의 표면의 기복을 억제하는 관점에서, 공정 (A)에서의 수지 조성물층의 적층 온도는 바람직하게는 Tv - 30℃ 내지 Tv + 30℃의 범위, 보다 바람직하게는 Tv - 25℃ 내지 Tv + 25℃의 범위, 더 바람직하게는 Tv - 20℃ 내지 Tv + 20℃의 범위, 특히 바람직하게는 Tv - 15℃ 내지 Tv + 15℃의 범위이다.In the method for producing a cured product of the present invention, a resin composition layer is laminated on a circuit board at a temperature range of Tv-35°C to Tv + 35°C from the viewpoint of suppressing undulations on the surface of the cured product formed on the circuit board. From the viewpoint of suppressing undulations on the surface of the cured body formed on the circuit board, the lamination temperature of the resin composition layer in the step (A) is preferably in the range of Tv-30°C to Tv + 30°C, more preferably Tv- It is in the range of 25°C to Tv + 25°C, more preferably in the range of Tv-20°C to Tv + 20°C, particularly preferably in the range of Tv-15°C to Tv + 15°C.

회로 기판으로의 수지 조성물층의 적층은, 상기 적층 온도 조건 하, 롤 압착이나 프레스 압착 등으로, 수지 조성물층이 회로 기판과 접합하도록 라미네이트 처리하는 것이 바람직하다. 그 중에서도, 감압 하에서 라미네이트하는 진공 라미네이트법이 보다 바람직하다.The lamination of the resin composition layer onto the circuit board is preferably performed by laminating treatment such that the resin composition layer is bonded to the circuit board by roll pressing or press pressing under the above lamination temperature conditions. Among them, the vacuum lamination method of laminating under reduced pressure is more preferable.

적합한 일 실시형태에 있어서, 회로 기판으로의 수지 조성물층의 적층은, 상기의 접착 시트를 사용하여 실시할 수 있다. 상세하게는, 접착 시트의 수지 조성물층이 회로 기판과 접합하도록 라미네이트 처리할 수 있다. 접착 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 제거한 후에 공정 (A)에 제공할 수 있다. 또한, 지지체의 박리는, 공정 (A)와 공정 (B) 사이에 실시해도 좋고, 공정 (B) 뒤에 실시해도 좋지만, 조도 불균일의 발생을 억제하는 관점에서, 공정 (A)와 공정 (B) 사이에 실시하는 것이 바람직하다.In one suitable embodiment, the lamination of the resin composition layer onto the circuit board can be performed using the above adhesive sheet. Specifically, a lamination treatment can be performed so that the resin composition layer of the adhesive sheet is bonded to the circuit board. When the adhesive sheet has a protective film, it can be provided to the step (A) after removing the protective film. In addition, the peeling of the support may be performed between the step (A) and the step (B), or may be performed after the step (B), but from the viewpoint of suppressing the occurrence of uneven roughness, the steps (A) and (B) It is preferable to carry out between.

라미네이트 처리는, 상기의 x 및 y의 관계를 고려하면서, 압착 압력을 1kgf/c㎡ 내지 11kgf/c㎡(0.098MPa 내지 1.078MPa)의 범위로 하고, 압착 시간을 5초간 내지 180초간의 범위로 하고, 공기압이 20mmHg(26.7hPa) 이하의 감압 하에서 실시하는 것이 바람직하다.In the lamination treatment, considering the relationship between x and y above, the compression pressure is in the range of 1 kgf/cm 2 to 11 kgf/cm 2 (0.098 MPa to 1.078 MPa), and the compression time is in the range of 5 seconds to 180 seconds. And the air pressure is preferably carried out under reduced pressure of 20 mmHg (26.7 hPa) or less.

라미네이트 처리 후에, 금속판에 의한 열 프레스에 의해, 라미네이트 처리된 접착 시트의 평활화 처리를 실시해도 좋다. 당해 평활화 처리는, 상압 하(대기압 하)에서, 가열된 SUS 경판 등의 금속판에 의해, 접착 시트를 가열 및 가압함으로써 실시할 수 있다. 가열 및 가압 조건은 상기 라미네이트 처리와 동일한 조건으로 할 수 있다.After the lamination treatment, the laminated adhesive sheet may be smoothed by hot pressing with a metal plate. The smoothing treatment can be performed by heating and pressing the adhesive sheet with a metal plate such as a heated SUS hard plate under normal pressure (under atmospheric pressure). Heating and pressurizing conditions can be the same as those for the lamination treatment.

라미네이트 처리(및 평활화 처리)는 시판되고 있는 진공 라미네이터를 사용하여 실시할 수 있다. 시판되고 있는 진공 라미네이터로는, 예를 들어, 가부시키가이샤 메이키 세사쿠쇼 제조의 진공 가압식 라미네이터, 니치고 모톤 가부시키가이샤 제조의 배큠 어플리케이터 등을 들 수 있다.The lamination treatment (and smoothing treatment) can be performed using a commercially available vacuum laminator. As a commercially available vacuum laminator, a vacuum pressurized laminator manufactured by Meiki Sesakusho Co., Ltd., a vacuum applicator manufactured by Nichigo Morton Corporation, etc. are mentioned, for example.

공정 (B)에 있어서, 수지 조성물층을 열경화시켜 회로 기판 위에 경화체를 형성한다.In step (B), the resin composition layer is thermally cured to form a cured body on the circuit board.

형성되는 경화체의 표면의 기복을 작게 하는 동시에 조도 불균일의 발생을 억제하는 관점에서, 공정 (B)에서는 수지 조성물층을 온도 T1로 일정 시간 유지한 후, 온도 T1보다도 높은 온도 T2로 일정 시간 유지하여 열경화시키는 것이 바람직하다.From the viewpoint of reducing the undulations of the surface of the formed cured body and suppressing the occurrence of uneven roughness, in step (B), after maintaining the resin composition layer at a temperature T 1 for a certain time, a temperature T 2 higher than the temperature T 1 is constant. It is preferable to heat cure by holding time.

온도 T1은 Tv 미만의 온도(℃)인 것이 바람직하고, Tv - 10℃ 이하인 것이 보다 바람직하고, Tv - 20℃ 이하인 것이 더욱 바람직하고, Tv - 25℃ 이하인 것이 특히 바람직하다. 온도 T1의 하한은 바람직하게는 Tv - 60℃ 이상, 보다 바람직하게는 Tv - 50℃ 이상, 더 바람직하게는 Tv - 40℃ 이상이다.The temperature T 1 is preferably a temperature (°C) below Tv, more preferably Tv-10°C or less, still more preferably Tv-20°C or less, and particularly preferably Tv-25°C or less. The lower limit of the temperature T 1 is preferably Tv-60°C or higher, more preferably Tv-50°C or higher, and still more preferably Tv-40°C or higher.

온도 T1로 유지하는 시간은 온도 Tl의 값에도 따르지만, 바람직하게는 10분간 이상이고, 보다 바람직하게는 10분간 내지 150분간, 더 바람직하게는 15분간 내지 120분간이다.The time to maintain at the temperature T 1 also depends on the value of the temperature T 1 , but is preferably 10 minutes or longer, more preferably 10 minutes to 150 minutes, and still more preferably 15 minutes to 120 minutes.

온도 T2는 Tv 이상의 온도(℃)인 것이 바람직하고, Tv + 10℃ 이상인 것이 보다 바람직하고, Tv + 20℃ 이상인 것이 더욱 바람직하고, Tv + 30℃인 것이 보다 더 바람직하고, Tv + 40℃ 이상인 것이 특히 바람직하다. 온도 T2의 상한은 바람직하게는 Tv + 100℃ 이하, 보다 바람직하게는 Tv + 90℃ 이하, 더 바람직하게는 Tv + 80℃ 이하, 보다 더 바람직하게는 Tv + 70℃ 이하, 특히 바람직하게는 Tv + 60℃ 이하이다.The temperature T 2 is preferably a temperature of Tv or higher (°C), more preferably Tv + 10°C or higher, still more preferably Tv + 20°C or higher, even more preferably Tv + 30°C, and Tv + 40°C It is particularly preferable that it is above. The upper limit of the temperature T 2 is preferably Tv + 100°C or less, more preferably Tv + 90°C or less, more preferably Tv + 80°C or less, even more preferably Tv + 70°C or less, particularly preferably Tv + 60 ℃ or less.

온도 T2로 유지하는 시간은 온도 T2의 값에도 따르지만, 바람직하게는 10분간 이상이고, 보다 바람직하게는 10분간 내지 100분간, 더 바람직하게는 10분간 내지 80분간이다.Time T 2 is maintained at a temperature that conforms to the value of temperature T 2, and preferably at least 10 minutes, more preferably from 10 minutes to 100 minutes, more preferably from 10 minutes to 80 minutes.

형성되는 경화체의 표면의 기복을 작게 하는 동시에 조도 불균일의 발생을 억제하는 관점에서, 공정 (B)에서의 수지 조성물층의 열경화는, Tv 미만의 온도로 10분간 이상 유지한 후, Tv 이상의 온도로 10분간 이상 유지하여 실시되는 것이 바람직하고, Tv - 60℃ 이상 Tv 미만의 온도로 10분간 이상 유지한 후, Tv 이상 Tv + 100℃ 이하의 온도로 10분간 유지하여 실시되는 것이 보다 바람직하고, Tv - 60℃ 이상 Tv 미만의 온도로 10분간 이상 유지한 후, Tv + 10℃ 이상 Tv + 100℃ 이하의 온도로 10분간 유지하여 실시되는 것이 보다 바람직하고, Tv - 50℃ 이상 Tv - 10℃ 이하의 온도로 10분간 이상 유지한 후, Tv + 10℃ 이상 Tv + 90℃ 이하의 온도로 10분간 유지하여 실시되는 것이 더욱 바람직하고, Tv - 40℃ 이상 Tv - 20℃ 이하의 온도로 10분간 이상 유지한 후, Tv + 20℃ 이상 Tv + 80℃ 이하의 온도로 10분간 유지하여 실시되는 것이 보다 더 바람직하다.From the viewpoint of reducing the undulations of the surface of the formed cured body and suppressing the occurrence of uneven roughness, the thermosetting of the resin composition layer in step (B) is maintained at a temperature less than Tv for 10 minutes or more, and then at a temperature of Tv or more. It is preferable that the temperature be maintained at a temperature of Tv-60°C or higher and lower than Tv for 10 minutes or longer, and then held at a temperature of Tv or higher and Tv + 100°C or lower for 10 minutes. Tv-It is more preferable to maintain the temperature for 10 minutes or more at a temperature of not less than 60℃ and less than Tv, and then Tv + 10℃ or more and Tv + 100℃ or less for 10 minutes. Tv-50℃ or more Tv-10℃ It is more preferable to hold the temperature for 10 minutes or more at the following temperature, and then Tv + 10°C or more and Tv + 90°C or less for 10 minutes, and more preferably, Tv-40°C or more Tv-20°C or less for 10 minutes After maintaining the above, it is more preferable to carry out by holding for 10 minutes at a temperature of Tv + 20°C or higher and Tv + 80°C or lower.

공정 (B)는 가압 하에서 실시해도 상압 하에서 실시해도 감압 하에서 실시해도 좋지만, 형성되는 경화체의 표면의 기복을 작게 하는 동시에 조도 불균일의 발생을 억제하는 관점에서, 바람직하게는 0.075mmHg 내지 3751mmHg(0.1hPa 내지 5000hPa)의 범위, 보다 바람직하게는 1mmHg 내지 1875mmHg(1.3hPa 내지 2500hPa)의 범위의 공기압으로 실시하는 것이 바람직하다. 그 중에서도, 공정 (B)는 상압 하에서 실시하는 것이 바람직하다.Step (B) may be carried out under pressure, under normal pressure, or under reduced pressure, but from the viewpoint of reducing the undulation of the surface of the formed cured body and suppressing the occurrence of uneven roughness, preferably 0.075 mmHg to 3751 mmHg (0.1 hPa) To 5000 hPa), more preferably 1 mmHg to 1875 mmHg (1.3 hPa to 2500 hPa). Especially, it is preferable to perform process (B) under normal pressure.

온도 T1로부터 온도 T2로의 승온 속도는 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 1.5℃/분 내지 30℃/분, 보다 바람직하게는 2℃/분 내지 30℃/분, 더 바람직하게는 4℃/분 내지 20℃/분, 보다 더 바람직하게는 4℃/분 내지 10℃/분이다.The rate of temperature increase from the temperature T 1 to the temperature T 2 is not particularly limited, but is preferably 1.5° C./min to 30° C./min, more preferably 2° C./min to 30° C./min, and more preferably 4° C./ It is from minute to 20°C/min, even more preferably from 4°C/min to 10°C/min.

상기한 바와 같이, 층의 박형화를 실현하면서 조도 불균일의 발생을 억제하는 관점에서, 수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, x 및 y가 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15를 만족시키도록, 수지 조성물층의 적층 및 열경화를 실시하는 것이 중요하다. x, y, 및 y/x 비의 바람직한 범위는 상기한 바와 같다.As described above, when the thickness of the resin composition layer is x (µm) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm) from the viewpoint of suppressing the occurrence of uneven illumination while achieving a thin layer. It is important to perform lamination and thermal curing of the resin composition layer so that, x and y satisfy 0.3 <y/x ≤ 1 and y ≤ 15. Preferred ranges of the x, y, and y/x ratios are as described above.

[조화 경화체][Harmonic hardened body]

본 발명의 조화 경화체는, 본 발명의 경화체를 조화 처리하여 형성할 수 있다.The roughened hardened body of the present invention can be formed by roughening the hardened body of the present invention.

조화 처리의 순서, 조건은 특별히 한정되지 않고, 프린트 배선판의 절연층을 형성할 때에 통상 사용되는 공지의 순서, 조건을 채용할 수 있다. 예를 들어, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리, 중화액에 의한 중화 처리를 이 순서대로 실시하여 경화체 표면을 조화 처리할 수 있다. 팽윤액으로는 특별히 한정되지 않지만, 알칼리 용액, 계면 활성제 용액 등을 들 수 있고, 바람직하게는 알칼리 용액이며, 당해 알칼리 용액으로는, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액이 보다 바람직하다. 시판되고 있는 팽윤액으로는, 예를 들어, 아토텍쟈판 가부시키가이샤 제조의 스웰링 딥 시큐리간스 P(Swelling Dip Securiganth P), 스웰링 딥 시큐리간스 SBU(Swelling Dip Securiganth SBU) 등을 들 수 있다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 30 내지 90℃의 팽윤액에 경화체를 1분간 내지 20분간 침지시킴으로써 실시할 수 있다. 경화체의 수지의 팽윤을 적당한 레벨로 억제하는 관점에서, 40 내지 80℃의 팽윤액에 경화체를 5초간 내지 15분간 침지시키는 것이 바람직하다. 산화제로는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해한 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 알카리성 과망간산 용액 등의 산화제에 의한 조화 처리는, 60℃ 내지 80℃로 가열한 산화제 용액에 경화체를 10분간 내지 30분간 침지시켜 실시하는 것이 바람직하다. 또한, 알카리성 과망간산 용액에서의 과망간산염의 농도는 5질량% 내지 10질량%가 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로는, 예를 들어, 아토텍쟈판 가부시키가이샤 제조의 콘센트레이트 컴팩트 CP, 도징 솔루션 시큐리간스 P 등의 알카리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 또한, 중화액으로는 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로는, 예를 들어, 아토텍쟈판 가부시키가이샤 제조의 리덕션 솔루션 시큐리간스 P를 들 수 있다. 중화액에 의한 처리는 산화제 용액에 의한 조화 처리가 된 처리면을 30 내지 80℃의 중화액에 5분간 내지 30분간 침지시킴으로써 실시할 수 있다. 작업성 등의 점에서, 산화제 용액에 의한 조화 처리가 된 대상물을, 40 내지 70℃의 중화액에 5분간 내지 20분간 침지하는 방법이 바람직하다.The order and conditions of the roughening treatment are not particularly limited, and known procedures and conditions commonly used when forming the insulating layer of the printed wiring board can be adopted. For example, a swelling treatment with a swelling liquid, a roughening treatment with an oxidizing agent, and a neutralization treatment with a neutralizing liquid can be performed in this order to roughen the surface of the cured body. Although it does not specifically limit as a swelling liquid, An alkali solution, a surfactant solution, etc. are mentioned, Preferably it is an alkali solution, As the said alkali solution, a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution are more preferable. As a commercially available swelling liquid, Swelling Dip Securiganth P (Swelling Dip Securiganth P), Swelling Dip Securiganth SBU (Swelling Dip Securiganth SBU) manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. are mentioned, for example. . Although the swelling treatment by the swelling liquid is not particularly limited, it can be carried out, for example, by immersing the cured product in the swelling liquid at 30 to 90°C for 1 minute to 20 minutes. From the viewpoint of suppressing the swelling of the resin of the cured product to an appropriate level, it is preferable to immerse the cured product in a swelling liquid of 40 to 80°C for 5 seconds to 15 minutes. Although it does not specifically limit as an oxidizing agent, For example, an alkaline permanganic acid solution in which potassium permanganate or sodium permanganate is dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide is mentioned. The roughening treatment with an oxidizing agent such as an alkaline permanganic acid solution is preferably performed by immersing the cured product in an oxidizing agent solution heated to 60°C to 80°C for 10 to 30 minutes. In addition, the concentration of permanganate in the alkaline permanganic acid solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Examples of commercially available oxidizing agents include alkaline permanganic acid solutions such as Concentrated Compact CP manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. and Dosing Solution Securigans P. Moreover, an acidic aqueous solution is preferable as a neutralization liquid, As a commercial item, the reduction solution Securigans P manufactured by Atotech Japan Co., Ltd. is mentioned, for example. The treatment with the neutralizing liquid can be performed by immersing the treated surface subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent solution in the neutralizing liquid at 30 to 80°C for 5 minutes to 30 minutes. From the standpoint of workability and the like, a method of immersing the object subjected to the roughening treatment with the oxidizing agent solution in a neutralization solution of 40 to 70°C for 5 to 20 minutes is preferable.

종래, 얇은 수지 조성물층을 사용하여 표면의 기복이 작은 경화체를 회로 기판 위에 형성하려고 하면, 기복의 볼록부(즉, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 표면)과 오목부(즉, 회로 기판의 회로 배선이 없는 부분의 위에 있는 경화체의 표면)가 조화 처리 후에 크게 다른 표면 조도를 나타내게 되는 조도 불균일의 문제가 발생하는 경우가 있었다. 이에 대하여, 본 발명의 경화체를 조화 처리하여 수득되는 본 발명의 조화 경화체에 있어서는, 조도 불균일의 발생이 억제된다. 즉, 본 발명의 조화 경화체는, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기(Ral)와, 회로 기판의 회로 배선이 없는 부분의 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기(Ra2)의 차(│Ral-Ra2│)가 작은 것을 특징으로 한다. 본 발명의 조화 경화체에 있어서, │Ral-Ra2│의 값은, 미세 배선 형성성의 관점에서, 160nm 이하인 것이 바람직하고, 140nm 이하인 것이 보다 바람직하고, 120nm 이하인 것이 더욱 바람직하고, 100nm 이하, 90nm 이하, 80nm 이하, 70nm 이하, 60nm 이하, 또는 50nm 이하인 것이 특히 바람직하다. │Ral-Ra2│의 값은 낮을 수록 바람직하고, 그 하한은 0nm라도 좋다.Conventionally, when a thin resin composition layer is used to form a cured body with small undulations on a circuit board, the undulations (that is, the surface of the cured body on the circuit wiring of the circuit board) and recesses (i.e., There was a case where a problem of unevenness of roughness occurred in which the surface of the cured body on the portion without circuit wiring) showed significantly different surface roughness after the roughening treatment. On the other hand, in the roughened cured product of the present invention obtained by roughening the cured product of the present invention, occurrence of uneven roughness is suppressed. That is, the roughened hardened body of the present invention has the arithmetic mean roughness (Ra l ) of the surface of the roughened hardened body on the circuit wiring of the circuit board, and the arithmetic average roughness of the surface of the roughened hardened body on the part of the circuit board without circuit wiring ( It is characterized in that the difference of Ra 2 ) (│Ra l -Ra 2 │) is small. In the roughened cured product of the present invention, the value of │Ra 1 -Ra 2 │ is preferably 160 nm or less, more preferably 140 nm or less, further preferably 120 nm or less, and 100 nm or less, 90 nm from the viewpoint of fine wiring formability. It is particularly preferably 80 nm or less, 70 nm or less, 60 nm or less, or 50 nm or less. The lower the value of │Ra l -Ra 2 │, the more preferable, and the lower limit may be 0 nm.

얇은 수지 조성물층을 사용하여 표면의 기복이 작은 경화체를 회로 기판 위에 형성하는 경우, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기(Ra1)는, 회로 기판의 회로 배선이 없는 부분의 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기(Ra2)보다도 높아지는 경향이 있다. 미세 배선 형성성의 관점에서, 본 발명의 조화 경화체에 있어서는, Ra1은 300nm 이하인 것이 바람직하고, 270nm 이하인 것이 보다 바람직하고, 240nm 이하인 것이 더욱 바람직하고, 210nm 이하, 200nm 이하, 190nm 이하, 180nm 이하, 170nm 이하, 또는 160nm 이하인 것이 특히 바람직하다. 본 발명의 조화 경화체에 있어서, Ra2는, Ra1과의 관계에 있어서, │Ral-Ra2│의 값이 상기 범위가 되는 값인 것이 바람직하다. 또한, 본 발명의 조화 경화체에 있어서, Ra1 및 Ra2의 하한은 특별히 제한되지 않지만, 당해 조화 경화체와 그 위에 형성되는 도체층과의 박리 강도를 안정시키기 위해서, 10nm 이상, 30nm 이상 등이 된다.When using a thin resin composition layer to form a cured body with small undulations on a circuit board, the arithmetic mean roughness (Ra 1 ) of the surface of the roughened hardened body on the circuit board of the circuit board is the part of the circuit board without circuit wiring. It tends to be higher than the arithmetic mean roughness (Ra 2 ) of the surface of the roughened hardened body above. From the viewpoint of fine wiring formability, in the roughened cured body of the present invention, Ra 1 is preferably 300 nm or less, more preferably 270 nm or less, further preferably 240 nm or less, 210 nm or less, 200 nm or less, 190 nm or less, 180 nm or less, It is particularly preferably 170 nm or less, or 160 nm or less. In the cured resin blend of the present invention, Ra 2, in the relationship between Ra and 1, preferably a value, the value of │Ra l -Ra 2 │ which the above-mentioned range. In addition, in the roughened cured product of the present invention, the lower limit of Ra 1 and Ra 2 is not particularly limited, but in order to stabilize the peel strength between the roughened cured product and the conductor layer formed thereon, it is 10 nm or more, 30 nm or more, etc. .

본 발명의 조화 경화체는, 본 발명의 경화체를 조화 처리하여 수득되고, 그 표면의 최대 단면 높이 Rt나 두께 등의 물성값은 본 발명의 경화체의 그것들에 준한다. 예를 들어, 본 발명의 조화 경화체는, 표면의 최대 단면 높이 Rt가 3.5㎛ 이하이며, 표면의 기복이 작은 것을 특징으로 한다. 본 발명의 조화 경화체는, 표면의 최대 단면 높이 Rt가 3.3㎛ 이하인 것이 바람직하고, 3.1㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 2.9㎛ 이하, 2.7㎛ 이하, 2.5㎛ 이하, 2.3㎛ 이하, 2.1㎛ 이하, 또는 1.9㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하다. 또한 본 발명의 조화 경화체에 있어서, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 조화 경화체의 두께는 15㎛ 이하이고, 14㎛ 이하인 것이 바람직하고, 12㎛ 이하인 것이 보다 바람직하고, 10㎛ 이하인 것이 더욱 바람직하고, 9㎛ 이하, 8㎛ 이하, 7㎛ 이하 또는 6㎛ 이하인 것이 보다 더 바람직하다. 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 조화 경화체의 두께의 하한은 통상, 0.5㎛ 이상이고, 바람직하게는 1㎛ 이상이다.The roughened cured product of the present invention is obtained by subjecting the cured product of the present invention to a roughening treatment, and the physical property values such as the maximum cross-sectional height Rt and the thickness of the surface correspond to those of the cured product of the present invention. For example, the roughened cured product of the present invention is characterized in that the maximum cross-sectional height Rt of the surface is 3.5 µm or less, and the surface undulations are small. The roughened cured product of the present invention preferably has a maximum cross-sectional height Rt of 3.3 μm or less, more preferably 3.1 μm or less, and 2.9 μm or less, 2.7 μm or less, 2.5 μm or less, 2.3 μm or less, 2.1 μm or less, or More preferably, it is 1.9 μm or less. Further, in the roughened cured body of the present invention, the thickness of the roughened cured body on the circuit wiring of the circuit board is 15 µm or less, preferably 14 µm or less, more preferably 12 µm or less, further preferably 10 µm or less, and 9 It is even more preferable that it is less than or equal to 8 μm, less than or equal to 7 μm, or less than or equal to 6 μm. The lower limit of the thickness of the roughened cured body on the circuit wiring of the circuit board is usually 0.5 µm or more, and preferably 1 µm or more.

[적층체][Laminate]

본 발명의 적층체는, 본 발명의 조화 경화체와, 당해 조화 경화체의 표면에 형성된 도체층을 구비한다.The laminate of the present invention includes a roughened hardened body of the present invention and a conductor layer formed on the surface of the roughened hardened body.

도체층은 금속층으로 이루어지고, 도체층에 사용하는 금속은 특별히 한정되지 않지만, 적합한 일 실시형태에서는 도체층은, 금, 백금, 은, 동, 알루미늄, 코발트, 크롬, 아연, 니켈, 티타늄, 텅스텐, 철, 주석 및 인듐으로 이루어진 그룹으로부터 선택되는 1종 이상의 금속을 포함한다. 도체층은 단(單)금속층이라도 합금층이라도 좋고, 합금층으로는, 예를 들어, 상기의 그룹으로부터 선택되는 2종 이상의 금속의 합금(예를 들어, 니켈·크롬 합금, 동·니켈 합금 및 동·티타늄 합금)으로부터 형성된 층을 들 수 있다. 그 중에서도, 금속층 형성의 범용성, 비용, 에칭에 의한 제거의 용이성 등의 관점에서, 크롬, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 은 또는 동의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금, 동·니켈 합금, 동·티타늄 합금의 합금층이 바람직하고, 크롬, 니켈, 티타늄, 알루미늄, 아연, 금, 은 또는 동의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층이 보다 바람직하고, 동의 단금속층이 더욱 바람직하다.The conductor layer is made of a metal layer, and the metal used for the conductor layer is not particularly limited, but in one suitable embodiment, the conductor layer is gold, platinum, silver, copper, aluminum, cobalt, chromium, zinc, nickel, titanium, tungsten. , At least one metal selected from the group consisting of iron, tin and indium. The conductor layer may be a monometallic layer or an alloy layer, and as the alloy layer, for example, an alloy of two or more metals selected from the above group (e.g., nickel-chromium alloy, copper-nickel alloy, and A layer formed from a copper-titanium alloy). Among them, from the viewpoint of versatility, cost, and ease of removal by etching, a single metal layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, silver or copper, or a nickel-chromium alloy, a copper-nickel alloy, An alloy layer of a copper-titanium alloy is preferable, a monometallic layer of chromium, nickel, titanium, aluminum, zinc, gold, silver or copper, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy is more preferable, and a monometallic layer of copper is still more preferable.

도체층은 단층 구조라도, 다른 종류의 금속 또는 합금으로 이루어진 단금속층 또는 합금층이 2층 이상 적층한 복층 구조라도 좋다. 도체층이 복층 구조인 경우, 조화 경화체와 접하는 층은 크롬, 아연 또는 티타늄의 단금속층, 또는 니켈·크롬 합금의 합금층인 것이 바람직하다.The conductor layer may have a single-layer structure or a multi-layer structure in which two or more layers of a single metal layer or an alloy layer made of different types of metals or alloys are stacked. When the conductor layer has a multilayer structure, the layer in contact with the roughened hardened body is preferably a single metal layer of chromium, zinc, or titanium, or an alloy layer of a nickel-chromium alloy.

도체층의 두께는, 프린트 배선판의 미세 배선화의 관점에서, 40㎛ 이하가 바람직하고, 1 내지 35㎛가 보다 바람직하고, 3 내지 20㎛가 더욱 바람직하다. 금속층이 복층 구조인 경우도, 금속층 전체의 두께는 상기 범위인 것이 바람직하다.The thickness of the conductor layer is preferably 40 µm or less, more preferably 1 to 35 µm, and still more preferably 3 to 20 µm, from the viewpoint of fine wiring of the printed wiring board. Even when the metal layer has a multilayer structure, it is preferable that the thickness of the entire metal layer is within the above range.

도체층은 세미 어디티브법, 풀 어디티브법 등의 공지의 기술에 의해 원하는 배선 패턴으로 형성할 수 있다. 일반적으로, 조화 경화체(절연층) 위에 패턴 형성용 드라이 필름을 배치하여 원하는 패턴을 현상한 후, 도금함으로써 원하는 패턴을 갖는 도체층을 형성할 수 있다.The conductor layer can be formed into a desired wiring pattern by a known technique such as a semi-positive method and a full-positive method. In general, by disposing a dry film for pattern formation on the roughened cured body (insulation layer), developing a desired pattern, and then plating, a conductor layer having a desired pattern can be formed.

종래의 기술에 있어서는, 얇은 수지 조성물층을 사용하여 회로 기판 위에 경화체를 형성하면, 수득되는 경화체의 표면이, 하지인 회로 기판의 회로 배선 패턴에 대응한 큰 기복을 갖게 되는 경향이 있어, 패턴 형성용 드라이 필름의 밀착성의 저하의 문제를 초래하였다. 또한 종래의 기술에 있어서는, 얇은 수지 조성물층을 사용하여 표면의 기복이 작은 경화체를 회로 기판 위에 형성하려고 하면, 조도 불균일의 문제가 발생하는 경우가 있었다. 이에 대하여, 본 발명의 기술에 있어서는, 상기한 바와 같이, 패턴 형성용 드라이 필름의 밀착성의 저하의 문제도 조도 불균일의 문제도 생기지 않는 것으로부터, 조화 경화체의 표면에 미세한 배선 패턴을 갖는 도체층을 유리하게 형성하는 것이 가능하다.In the conventional technique, when a cured product is formed on a circuit board using a thin resin composition layer, the surface of the obtained cured product tends to have large undulations corresponding to the circuit wiring pattern of the circuit board as the base, and thus pattern formation. A problem of a decrease in the adhesion of the dry film was caused. Further, in the conventional technique, when a cured product having a small surface undulations is formed on a circuit board using a thin resin composition layer, a problem of uneven roughness may occur. On the other hand, in the technique of the present invention, as described above, since the problem of lowering the adhesion of the dry film for pattern formation or the problem of uneven roughness does not occur, a conductor layer having a fine wiring pattern on the surface of the roughened cured body is provided. It is possible to form advantageously.

본 발명의 적층체에 있어서, 조화 경화체의 표면에 형성되는 도체층의 라인/스페이스 비는, 바람직하게는 20/20㎛ 이하, 보다 바람직하게는 15/15㎛ 이하, 더 바람직하게는 10/10㎛ 이하, 특히 바람직하게는 8/8㎛ 이하이다.In the laminate of the present invention, the line/space ratio of the conductor layer formed on the surface of the roughened cured product is preferably 20/20 μm or less, more preferably 15/15 μm or less, further preferably 10/10. It is µm or less, particularly preferably 8/8 µm or less.

[프린트 배선판][Printed wiring board]

본 발명의 프린트 배선판은 본 발명의 경화체에 의해 절연층이 형성되는 것을 특징으로 한다.The printed wiring board of the present invention is characterized in that an insulating layer is formed by the cured body of the present invention.

일 실시형태에 있어서, 본 발명의 프린트 배선판은 상기의 접착 시트를 사용하여 제조할 수 있다. 이러한 실시형태에 있어서는, 접착 시트의 수지 조성물층이 회로 기판과 접합하도록 상기의 「공정 (A)」 및 「공정 (B)」를 실시하여 본 발명의 경화체를 회로 기판 위에 형성할 수 있다. 또한, 접착 시트가 보호 필름을 갖는 경우, 보호 필름을 제거한 후에 제조에 이용할 수 있다.In one embodiment, the printed wiring board of this invention can be manufactured using the said adhesive sheet. In such an embodiment, the above-described "step (A)" and "step (B)" are performed so that the resin composition layer of the adhesive sheet is bonded to the circuit board, so that the cured body of the present invention can be formed on the circuit board. Moreover, when the adhesive sheet has a protective film, it can be used for manufacture after removing a protective film.

이어서, 회로 기판 위에 형성된 경화체에 대하여, 상기의 「조화 처리」를 실시해서 조화 경화체를 형성한 후, 당해 조화 경화체의 표면에 도체층을 형성한다. 또한, 프린트 배선판의 제조에 있어서는, 절연층에 비아(via)를 형성하는 공정, 비아 내부의 수지 잔사(스미어)를 제거하는 공정 등을 추가로 포함해도 좋다. 이들 공정은 당업자에게 공지된, 프린트 배선판의 제조에 사용되고 있는 각종 방법에 따라 실시할 수 있다.Subsequently, the hardened body formed on the circuit board is subjected to the above "harmonization treatment" to form a roughened hardened body, and then a conductor layer is formed on the surface of the roughened hardened body. Further, in the manufacture of a printed wiring board, a step of forming a via in the insulating layer, a step of removing resin residue (smear) inside the via, and the like may be further included. These steps can be carried out according to various methods known to those skilled in the art and used for manufacturing a printed wiring board.

본 발명의 프린트 배선판은, 층의 박형화와 회로의 미세 배선화를 고도로 양립하는 것이다.The printed wiring board of the present invention is highly compatible with thinning of layers and fine wiring of circuits.

[반도체 장치][Semiconductor device]

상기의 프린트 배선판을 사용하여 반도체 장치를 제조할 수 있다.A semiconductor device can be manufactured using the above printed wiring board.

이러한 반도체 장치로는, 전기 제품(예를 들어, 컴퓨터, 휴대 전화, 디지털 카메라 및 텔레비전 등) 및 탈것(예를 들어, 자동 이륜차, 자동차, 전차, 선박 및 항공기 등) 등에 제공되는 각종 반도체 장치를 들 수 있다.As such semiconductor devices, various semiconductor devices provided in electric appliances (for example, computers, mobile phones, digital cameras, televisions, etc.) and vehicles (for example, motorcycles, automobiles, tanks, ships and aircraft, etc.) Can be lifted.

[실시예][Example]

이하, 본 발명을 실시예에 의해 구체적으로 설명하겠지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 또한, 이하의 기재에 있어서, 「부」 및 「%」는 별도 명시가 없는 한, 각각 「질량부」 및 「질량%」를 의미한다.Hereinafter, the present invention will be specifically described by way of examples, but the present invention is not limited to these examples. In addition, in the following description, "part" and "%" mean "part by mass" and "% by mass", respectively, unless otherwise specified.

우선 각종 측정 방법·평가 방법에 대하여 설명한다.First, various measurement methods and evaluation methods will be described.

[측정·평가용 샘플의 조제][Preparation of samples for measurement and evaluation]

(1) 회로 기판의 하지 처리(1) substrate treatment of circuit board

유리포(布) 기재(基材) 에폭시 수지 양면 동장(銅張) 적층판(동박(銅箔)의 두께 18㎛, 기판 두께 0.3mm, 마츠시타 덴코 가부시키가이샤 제조 「R5715ES」)의 양면에, IPC MULTI-PURPOSE TEST BOARD NO. IPC B-25의 패턴(라인/스페이스 비=175/175㎛의 빗살 패턴(잔동율(殘銅率) 50%))으로 회로를 형성하였다. 수득된 회로 기판의 양면을 맥크 가부시키가이샤 제조 「CZ8100」에 침지하여 동 표면의 조화 처리를 실시하였다.On both sides of a glass cloth, epoxy resin double-sided copper clad laminate (copper foil thickness of 18 µm, substrate thickness of 0.3 mm, Matsushita Denko Corporation ``R5715ES''), IPC MULTI-PURPOSE TEST BOARD NO. A circuit was formed with the pattern of IPC B-25 (line/space ratio = 175/175 µm comb pattern (remaining rate 50%)). Both surfaces of the obtained circuit board were immersed in "CZ8100" manufactured by McC. Co., Ltd., and the surface was subjected to roughening treatment.

(2) 수지 조성물층의 적층(2) Lamination of the resin composition layer

실시예 및 비교예에서 제작한 접착 시트를, 뱃치식 진공 가압 라미네이터(가부시키가이샤 메이키 세사쿠쇼 제조 「MVLP-500」)를 사용하여, 수지 조성물층이 회로 기판과 접하도록, 회로 기판의 양면에 적층하였다. 수지 조성물층의 적층은, 실시예 1 내지 3 및 비교예 2에 관해서는, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 120℃, 압력 0.74MPa로 30초간 라미네이트 처리함으로써 실시하였다. 이어서, 120℃, 압력 0.5MPa로 60초간 핫 프레스함으로써 평활화 처리를 실시하였다.The adhesive sheets produced in Examples and Comparative Examples were used in a batch-type vacuum pressurized laminator (MVLP-500 manufactured by Meiki Sesakusho Co., Ltd.), so that the resin composition layer was in contact with the circuit board. Laminated on both sides. Lamination of the resin composition layers was carried out by performing a lamination treatment at 120°C and a pressure of 0.74 MPa for 30 seconds after reducing the pressure for 30 seconds to reduce the pressure to 13 hPa or less for Examples 1 to 3 and Comparative Example 2. Subsequently, smoothing treatment was performed by hot pressing at 120°C and a pressure of 0.5 MPa for 60 seconds.

비교예 1에 관해서는, 라미네이트 처리 및 평활화 처리의 온도를 90℃로 변경한 것 이외는, 실시예 1 내지 3 및 비교예 2와 동일한 조건으로 라미네이트 처리 및 평활화 처리를 실시하였다.Regarding Comparative Example 1, a lamination treatment and a smoothing treatment were performed under the same conditions as in Examples 1 to 3 and Comparative Example 2, except that the temperature of the lamination treatment and the smoothing treatment were changed to 90°C.

(3) 수지 조성물층의 열경화(3) Thermal curing of the resin composition layer

수지 조성물층의 적층 후, 지지체인 PET 필름을 박리하였다. 그 후, 수지 조성물층을 100℃로 30분간 유지한 후, 180℃로 30분간 유지하여 열경화시켜, 회로 기판 위에 경화체를 형성하였다.After lamination of the resin composition layer, the PET film as a support was peeled off. Thereafter, the resin composition layer was held at 100° C. for 30 minutes, and then held at 180° C. for 30 minutes to be thermally cured to form a cured body on the circuit board.

수득된 경화체에 대하여, 경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt, 회로 배선 위의 경화체 두께, 및 수지의 매립성에 대하여 평가했다.With respect to the obtained cured product, the maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured product, the thickness of the cured product on the circuit wiring, and the embedding property of the resin were evaluated.

(4) 비아홀의 형성(4) formation of via holes

히타치 비아메카니쿠스 가부시키가이샤 제조 CO2 레이저 가공기 「LC-2E21B/1C」를 사용하여 경화체를 천공 가공하여 비아홀을 형성하였다. 경화체 표면에서의 비아홀의 탑(top) 직경은 50㎛이었다. 또한, 천공 가공의 조건은, 마스크 직경 1.60mm, 포커스 오프셋값 0.050, 펄스폭 25μs, 에너지 0.33mJ/쇼트(shot)(출력 0.66W, 주파수 2000Hz), 애퍼처(aperture) 13, 쇼트 수 2, 버스트 모드(burst mode)였다.A via hole was formed by drilling the cured body using a CO 2 laser processing machine "LC-2E21B/1C" manufactured by Hitachi Via Mecanicus Co., Ltd. The top diameter of the via hole on the surface of the cured body was 50 µm. In addition, the drilling conditions were: mask diameter 1.60 mm, focus offset value 0.050, pulse width 25 μs, energy 0.33 mJ/shot (output 0.66 W, frequency 2000 Hz), aperture 13, shot number 2, It was a burst mode.

(5) 조화 처리(5) Harmonization treatment

비아홀의 형성 후, 경화체를 형성한 회로 기판을, 하기 순서에 따라서 조화 처리하여 조화 경화체를 수득하였다. 즉, 경화체를 형성한 회로 기판을, 팽윤액(아토텍쟈판 가부시키가이샤 제조 「스웰링 딥 시큐리간스 P」, 디에틸렌글리콜모노부틸에테르 및 수산화나트륨의 수용액)에 60℃에서 5분간, 이어서 산화제 용액(아토텍쟈판 가부시키가이샤 제조 「콘센트레이트 컴팩트 P」, 과망간산칼륨 농도 약 6%, 수산화나트륨 농도 약 4%의 수용액)에 80℃에서 15분간, 마지막으로 중화액(아토텍쟈판 가부시키가이샤 제조 「리덕션 솔루션 시큐리간스 P」, 황산 수용액)에 40℃에서 5분간 침지한 후, 130℃에서 15분 건조하였다.After formation of the via hole, the circuit board on which the cured product was formed was subjected to roughening treatment in accordance with the following procedure to obtain a roughened cured product. That is, the circuit board on which the cured product was formed was added to a swelling liquid ("Swelling Deep Security P" manufactured by Atotech Japan, an aqueous solution of diethylene glycol monobutyl ether and sodium hydroxide) at 60° C. for 5 minutes, followed by an oxidizing agent. Solution ("Concentrate Compact P" manufactured by Atotech Japan Co., Ltd., an aqueous solution of approximately 6% potassium permanganate and approximately 4% sodium hydroxide) at 80°C for 15 minutes, and finally a neutralization solution (Atotech Japan Co., Ltd.) After immersing in the production "Reduction Solution Securigans P", sulfuric acid aqueous solution) at 40°C for 5 minutes, it was dried at 130°C for 15 minutes.

수득된 조화 경화체에 대하여, 조도 불균일을 평가하였다.About the obtained roughened hardened|cured material, the roughness nonuniformity was evaluated.

(6) 도체층의 형성(6) Formation of conductor layer

세미 어디티브법에 따라, 조화 경화체의 표면에 도체층을 형성하였다.A conductor layer was formed on the surface of the roughened hardened body according to the semi-positive method.

즉, 조화 경화체를 형성한 회로 기판을, PdCl2를 포함하는 무전해 동 도금 액에 침지한 후, 150℃에서 30분간 가열하여 어닐 처리를 실시하였다. 이것에 의해, 조화 경화체의 표면에 도금 시드층을 형성하였다.That is, the circuit board on which the roughened hardened body was formed was immersed in an electroless copper plating liquid containing PdCl 2 , and then heated at 150° C. for 30 minutes to perform annealing treatment. As a result, a plating seed layer was formed on the surface of the roughened hardened body.

수득된 도금 시드층의 표면을 5% 황산 수용액으로 30초 처리한 후, 패턴 형성용 드라이 필름(니치고 모톤 가부시키가이샤 제조 「ALPHO 20A263」, 두께 20㎛)을 도금 시드층에 적층하였다. 패턴 형성용 드라이 필름의 적층은, 뱃치식 진공 가압 라미네이터(가부시키가이샤 메이키 세사쿠쇼 제조 「MVLP-500」)을 사용하여, 30초간 감압하여 기압을 13hPa 이하로 한 후, 70℃, 압력 0.1MPa로 20초간 라미네이트 처리함으로써 실시하였다. 이어서, L(드라이 필름 라인)/S(스페이스)=8/8㎛의 16㎛ 피치의 빗살 패턴(배선 길이 15mm, 16라인)을 형성한 유리 마스크를, 드라이 필름의 보호층인 PET 필름 위에 배치하고, UV 램프에 의해 조사 강도 150mJ/c㎡로 UV 조사하였다. UV 조사 후, 30℃의 1% 탄산나트륨 수용액을 사용하여 분사압 0.15MPa로 30초간 스프레이 처리하였다. 그 후, 수세하여, 드라이 필름의 현상(패턴 형성)을 실시하였다. 드라이 필름의 현상 후, 드라이 필름의 밀착성을 평가하였다.The surface of the obtained plating seed layer was treated with a 5% sulfuric acid aqueous solution for 30 seconds, and then a dry film for pattern formation ("ALPHO 20A263", manufactured by Nichigo Morton Co., Ltd., a thickness of 20 μm) was laminated on the plating seed layer. Lamination of the dry film for pattern formation was carried out using a batch-type vacuum pressurized laminator ("MVLP-500" manufactured by Meiki Sesakusho Co., Ltd.) and reduced pressure for 30 seconds to reduce the atmospheric pressure to 13 hPa or less, and then 70°C and pressure. It was carried out by laminating treatment at 0.1 MPa for 20 seconds. Next, a glass mask formed with a comb pattern (wire length of 15 mm, 16 lines) with a 16 μm pitch of L (dry film line)/S (space) = 8/8 μm was placed on the PET film as a protective layer of the dry film. Then, UV irradiation was performed with a UV lamp at an irradiation intensity of 150 mJ/cm 2. After UV irradiation, spray treatment was performed for 30 seconds at an injection pressure of 0.15 MPa using a 1% sodium carbonate aqueous solution at 30°C. Then, it washed with water and developed (pattern formation) of a dry film. After development of the dry film, the adhesiveness of the dry film was evaluated.

드라이 필름 밀착성이 양호한 기판에 대하여, 전해 동 도금을 실시하고, 두께 15㎛의 도체층을 형성하였다. 이어서, 50℃의 3% 수산화나트륨 용액을 사용하여 분사압 0.2MPa로 스프레이 처리하고, 드라이 필름을 박리시켰다. 그 후, 가부시키가이샤 에바라덴산 제조의 SAC 프로세스로 여분의 도금 시드층을 제거하여 프린트 배선판을 형성하였다.The substrate having good dry film adhesion was subjected to electrolytic copper plating to form a 15 µm-thick conductor layer. Subsequently, a spray treatment was performed at an injection pressure of 0.2 MPa using a 3% sodium hydroxide solution at 50° C., and the dry film was peeled off. After that, the excess plating seed layer was removed by the SAC process manufactured by Evaradenic Acid Co., Ltd. to form a printed wiring board.

수득된 프린트 배선판에 대하여, 미세 배선 형성성을 평가하였다.About the obtained printed wiring board, the fine wiring formability was evaluated.

<수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도 Tv의 측정><Measurement of the lowest melt viscosity temperature Tv of the resin composition layer>

실시예 및 비교예에서 제작한 접착 시트에서의 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도 Tv는, 동적 점탄성 측정 장치(가부시키가이샤 유비엠 제조 「Rheosol-G3000」)을 사용하여 측정하였다. 시료 수지 조성물량 1g에 대하여, 직경 18mm의 패럴렐 플레이트(parallel plate)를 사용하고, 개시 온도 60℃부터 200℃까지 승온 속도 5℃/분으로 승온하고, 측정 온도 간격 2.5℃, 진동수 1Hz, 변형율 1deg의 조건으로 최저 용융 점도시의 온도를 측정하였다.The minimum melt viscosity temperature Tv of the resin composition layer in the adhesive sheet prepared in Examples and Comparative Examples was measured using a dynamic viscoelasticity measuring device ("Rheosol-G3000" manufactured by UBM). For 1 g of the sample resin composition, a parallel plate with a diameter of 18 mm was used, and the temperature was raised from the starting temperature of 60°C to 200°C at a heating rate of 5°C/min, the measurement temperature interval 2.5°C, the frequency of 1Hz, the strain rate 1deg The temperature at the lowest melt viscosity was measured under the conditions of.

<경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt의 측정><Measurement of the maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured body>

회로 기판 위의 경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt는, 비접촉형 표면 조도계(비코 인스트루멘츠사 제조 「WYKO NT3300」)를 사용하여, VSI 콘택트 모드, 10배 렌즈에 의해 측정 범위를 0.82mm×1.1mm로 하여 수득되는 수치에 의해 구하였다. 또한, 측정은, 라인/스페이스 비=175/175㎛의 빗살 패턴(잔동율 50%)의 회로 배선이 형성된 영역에 대하여, 회로 배선이 있는 부분과 회로 배선이 없는 부분을 걸치도록 하여, 3개소의 평균값을 구함으로써 실시하였다.The maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured body on the circuit board is 0.82 mm × 1.1 mm using a non-contact type surface roughness meter ("WYKO NT3300" manufactured by Vico Instruments) in a VSI contact mode and a 10x lens. It was calculated|required by the numerical value obtained by. In addition, the measurement was carried out so that the area with the circuit wiring and the portion without the circuit wiring was applied to the area where the circuit wiring of the comb pattern (remaining rate 50%) with a line/space ratio = 175/175 μm was formed. It implemented by obtaining the average value of.

또한, 표 1에 있어서는, 최대 단면 높이 Rt가 3.5㎛ 이하의 경우를 「○」로 하고, 3.5㎛를 넘는 경우를 「×」라고 했다.In addition, in Table 1, the case where the maximum cross-sectional height Rt is 3.5 micrometers or less was set as "○", and the case where it exceeded 3.5 micrometers was set as "x".

<회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께의 측정><Measurement of the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board>

회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께 (y)는, 라인/스페이스 비=175/175㎛의 빗살 패턴의 회로 배선이 설치된 영역을 1cm각(角)으로 절단하고, 투명 밀봉 수지(마루모토 스토루아스 가부시키가이샤 제조의 불포화 폴리에스테르 수지)로 밀봉하고, 단면을 연마한 후, 주사형 전자 현미경(가부시키가이샤 히타치 하이테크노로지즈 제조 「S4800」)으로 관찰함으로써 측정하였다. 측정은, 5점의 평균값을 구함으로써 실시하였다.For the thickness (y) of the cured body on the circuit wiring of the circuit board, the area where the circuit wiring of the comb-tooth pattern with a line/space ratio = 175/175 μm is installed is cut into 1 cm squares, and a transparent sealing resin (Marumoto It was sealed with an unsaturated polyester resin manufactured by Ruas Co., Ltd.), the cross section was polished, and then measured by observing with a scanning electron microscope ("S4800" manufactured by Hitachi High-Technology Co., Ltd.). The measurement was performed by obtaining the average value of five points.

<수지의 매립성의 평가><Evaluation of resin landfill property>

수지의 매립성은, 경화체의 표면을 주사형 전자 현미경(가부시키가이샤 히타치 하이테크노로지즈 제조 「S4800」)으로 관찰함으로써 평가하였다.The embedding property of the resin was evaluated by observing the surface of the cured body with a scanning electron microscope ("S4800" manufactured by Hitachi High-Technology Co., Ltd.).

또한, 표 1에 있어서는, 보이드의 발생이 없고 수지가 스며 나오지 않고 확실히 매립되어 있는 것을 「○」라고 하고, 보이드가 발생하거나 수지가 스며 나온 것을 「×」라고 했다.In addition, in Table 1, the occurrence of voids and no bleeding out of the resin and being firmly buried were referred to as "o", and the occurrence of voids or oozing out of the resin was denoted as "x".

<조도 불균일의 평가><Evaluation of illumination unevenness>

조화 경화체의 표면의 조도 불균일은, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기(Ral)와, 회로 기판의 회로 배선이 없는 부분의 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기(Ra2)를 측정하고, │Ra1-Ra2│의 값을 구함으로써 실시하였다. 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기(Ra1 및 Ra2)는, 비접촉형 표면 조도계(비코 인스트루멘츠사 제조 「WYKO NT3300」을 사용하여, VSI 콘택트 모드, 50배 렌즈에 의해 측정 범위를 92×123㎛로 하여 수득되는 수치에 의해 구하였다. Ra1 및 Ra2의 각각에 대하여, 3점의 평균치를 구하였다.The roughness unevenness of the surface of the roughened hardened body is the arithmetic mean roughness of the surface of the roughened hardened body on the circuit wiring of the circuit board (Ra l ) and the arithmetic average roughness of the surface of the roughened hardened body on the part of the circuit board without circuit wiring ( It was carried out by measuring Ra 2 ) and determining the value of |Ra 1 -Ra 2 |. The arithmetic mean roughness (Ra 1 and Ra 2 ) of the surface of the roughened hardened body was measured using a non-contact type surface roughness meter ("WYKO NT3300" manufactured by Vico Instruments Co., Ltd.) by a VSI contact mode and a 50x lens. It was calculated by the numerical value obtained by setting it as 123 µm, and for each of Ra 1 and Ra 2 , the average value of three points was calculated.

또한, 표 1에 있어서는, │Ra1-Ra2│의 값이 160nm 이하의 경우를 「○」로 하고, 160nm를 넘는 경우를 「×」라고 했다.In addition, in Table 1, the case where the value of |Ra 1 -Ra 2 | was 160 nm or less was set to "o", and the case exceeded 160 nm was set to "×".

<패턴 형성용 드라이 필름의 밀착성의 평가><Evaluation of adhesion of dry film for pattern formation>

패턴 형성용 드라이 필름의 밀착성은, 라인/스페이스 비=175/175㎛의 빗살 패턴의 회로 배선이 형성된 영역에 대하여, 조화 경화체(도금 시드층)와 드라이 필름의 밀착 상태를 주사형 전자 현미경(가부시키가이샤 히타치 하이테크노로지즈 제조「S4800」)으로 관찰함으로써 평가하였다.The adhesion of the dry film for pattern formation is a scanning electron microscope (with respect to the area where the circuit wiring of the comb pattern of the line/space ratio = 175/175 µm is formed) and the adhesion state between the roughened cured body (plating seed layer) and the dry film. It evaluated by observing with "S4800" manufactured by Hitachi Hi-Technology Co., Ltd.).

또한, 표 1에 있어서는, 드라이 필름에 박리·부풀음이 없는 경우를 「○」라고 하고, 박리·부풀음이 있는 경우를 「×」라고 했다.In addition, in Table 1, the case where there is no peeling or swelling in the dry film was designated as "○", and the case where there was peeling and swelling was designated as "x".

<미세 배선 형성성의 평가><Evaluation of fine wiring formability>

미세 배선 형성성은, 도체층의 박리의 유무를 광학 현미경으로 확인하는 동시에, 불필요한 도금 시드층의 잔류 유무를 빗살 패턴의 절연 저항을 측정함으로써 확인하였다.The fine wiring formability was confirmed by confirming the presence or absence of peeling of the conductor layer with an optical microscope and measuring the insulation resistance of the comb pattern to determine the presence or absence of unnecessary plating seed layers.

표 1에 있어서는, 도체층의 박리가 없고 도금 시드층의 잔류가 없는 것을 「○」라고 하고, 도체층의 박리 및/또는 도금 시드층의 잔류가 있는 것을 「×」라고 했다.In Table 1, when there was no peeling of the conductor layer and no residual plating seed layer, it was referred to as "○", and that there was peeling of the conductor layer and/or residual plating seed layer was indicated as "x".

[제작예 1][Production Example 1]

(1) 수지 와니스의 조제(1) Preparation of resin varnish

액상 비스페놀A형 에폭시 수지(에폭시 당량 180, 미츠비시 카가쿠 가부시키가이샤 제조 「jER828EL」) 10부, 비페닐형 에폭시 수지(에폭시 당량 269, 니혼 카야쿠 가부시키가이샤 제조 「NC3000L」) 20부, 4관능 나프탈렌형 에폭시 수지(에폭시 당량 163, DIC 가부시키가이샤 제조 「HP4700」) 6부, 및 페녹시 수지(미츠비시 카가쿠 가부시키가이샤 제조 「YL7553BH30」, 고형분 30질량%의 MEK와 사이클로헥사논의 1:1 용액) 10부를, MEK 5부, 사이클로헥사논 5부 및 솔벤트나프타 15부의 혼합 용매에 교반하면서 가열 용해시켰다. 실온까지 냉각한 후, 거기에, 트리아진 함유 페놀노볼락계 경화제(수산기 당량 125, DIC 가부시키가이샤 제조 「LA7054」, 고형분 60질량%의 MEK 용액) 15부, 나프톨계 경화제(수산기 당량 215, 토토 카세이 가부시키가이샤 제조 「SN-485」, 고형분 60%의 MEK 용액) 15부, 아민계 경화 촉진제(4-디메틸아미노피리딘(DMAP), 고형분 5질량%의 MEK 용액) 1부, 이미다졸계 경화 촉진제(1-벤질-2-페닐이미다졸, 시코쿠 카세이코교 가부시키가이샤 제조 「1B2PZ」, 고형분 5질량%의 MEK 용액) 0.3부, 난연제(산코 가부시키가이샤 제조 「HCA-HQ」, 10-(2,5-디하이드록시페닐)-10-하이드로-9-옥사-10-포스파페난트렌-10-옥사이드, 평균 입자 직경 2㎛) 5부, 아미노실란계 커플링제(신에츠 카가쿠코교 가부시키가이샤 제조 「KBM573」)로 표면 처리된 구형 실리카(평균 입자 직경 0.5㎛, 가부시키가이샤 아도마텍스 제조 「SOC2」, 단위 면적당의 카본량 0.39mg/㎡) 140부, 폴리비닐부티랄 수지(세키스이 카가쿠코교 가부시키가이샤 제조 「KS-1」, 고형분 15중량%의 에탄올과 톨루엔의 1:1 용액) 15부를 혼합하고, 고속 회전 믹서로 균일하게 분산시켜서 수지 와니스를 조제하였다.Liquid bisphenol A epoxy resin (epoxy equivalent 180, manufactured by Mitsubishi Chemical Co., Ltd. ``jER828EL'') 10 parts, biphenyl type epoxy resin (epoxy equivalent 269, manufactured by Nihon Kayaku Co., Ltd. ``NC3000L'') 20 parts, 4 Functional naphthalene-type epoxy resin (epoxy equivalent 163, DIC Corporation ``HP4700'') 6 parts, and phenoxy resin (Mitsubishi Chemical Corporation ``YL7553BH30'', solid content 30 mass% MEK and cyclohexanone 1: 1 solution) 10 parts were heated and dissolved in a mixed solvent of 5 parts of MEK, 5 parts of cyclohexanone and 15 parts of solvent naphtha while stirring. After cooling to room temperature, 15 parts of a triazine-containing phenol novolak-based curing agent (hydroxyl equivalent 125, DIC Corporation ``LA7054'', solid content 60 mass% MEK solution) 15 parts, naphthol-based curing agent (hydroxyl equivalent 215, Toto Kasei Co., Ltd. ``SN-485'', a solid 60% MEK solution) 15 parts, an amine-based hardening accelerator (4-dimethylaminopyridine (DMAP), a solid 5% by mass MEK solution) 1 part, imidazole type Hardening accelerator (1-benzyl-2-phenylimidazole, Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. ``1B2PZ'', solid content 5 mass% MEK solution) 0.3 parts, flame retardant (Sanko Corporation ``HCA-HQ''), 10-(2,5-dihydroxyphenyl)-10-hydro-9-oxa-10-phosphaphenanthrene-10-oxide, average particle diameter 2㎛) 5 parts, aminosilane coupling agent (Shin-Etsu Chemical 140 parts of spherical silica (average particle diameter 0.5㎛, "SOC2" manufactured by Adomatex, 0.39mg/m2 of carbon per unit area) surface-treated with Kogyo Corporation (“KBM573”), polyvinyl butyral 15 parts of a resin ("KS-1" manufactured by Sekisui Chemical Co., Ltd., a 1:1 solution of ethanol and toluene having a solid content of 15% by weight) was mixed and uniformly dispersed with a high-speed rotary mixer to prepare a resin varnish.

(2) 접착 시트 1의 조제(2) Preparation of adhesive sheet 1

지지체로서, 이형층 부착 PET 필름(린텍 가부시키가이샤 제조, 알키드형 이형제(AL-5) 부착 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름」)을 준비하였다. 당해 지지체의 이형면에, 상기 (1)에서 수득된 수지 와니스를, 건조 후의 수지 조성물층의 두께가 15㎛가 되도록 다이 코터로 균일하게 도포하고, 80 내지 110℃(평균 100℃)로 2 내지 4분간 건조함으로써 접착 시트 1을 형성하였다. 접착 시트 1에서의 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도 Tv는 130℃였다.
As a support, a PET film with a release layer (manufactured by Lintec Co., Ltd., a polyethylene terephthalate film with an alkyd release agent (AL-5)) was prepared. On the release surface of the support, the resin varnish obtained in (1) was uniformly applied with a die coater so that the thickness of the dried resin composition layer became 15 µm, and 2 to 80°C (100°C on average) The adhesive sheet 1 was formed by drying for 4 minutes. The lowest melt viscosity temperature Tv of the resin composition layer in the adhesive sheet 1 was 130°C.

[제작예 2][Production Example 2]

건조 후의 수지 조성물층의 두께가 20㎛가 되도록 수지 와니스를 다이 코터로 균일하게 도포한 것 이외는, 제작예 1과 동일하게 하여 접착 시트 2를 제작하였다. 접착 시트 2에서의 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도 Tv는 127℃였다.
The adhesive sheet 2 was produced in the same manner as in Production Example 1 except that the resin varnish was uniformly applied with a die coater so that the thickness of the dried resin composition layer became 20 µm. The lowest melt viscosity temperature Tv of the resin composition layer in the adhesive sheet 2 was 127°C.

[제작예 3][Production Example 3]

건조 후의 수지 조성물층의 두께가 25㎛가 되도록 수지 와니스를 다이 코터로 균일하게 도포한 것 이외는, 제작예 1과 동일하게 하여 접착 시트 3을 제작하였다. 접착 시트 3에서의 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도 Tv는 127℃였다.
The adhesive sheet 3 was produced in the same manner as in Production Example 1 except that the resin varnish was uniformly applied with a die coater so that the thickness of the dried resin composition layer became 25 µm. The lowest melt viscosity temperature Tv of the resin composition layer in the adhesive sheet 3 was 127°C.

[제작예 4][Production Example 4]

건조 후의 수지 조성물층의 두께가 15㎛가 되도록 수지 와니스를 다이 코터로 균일하게 도포한 것 이외는, 제작예 1과 동일하게 하여 접착 시트 4를 제작하였다. 접착 시트 4에서의 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도 Tv는 130℃였다.
The adhesive sheet 4 was produced in the same manner as in Production Example 1, except that the resin varnish was uniformly applied with a die coater so that the thickness of the dried resin composition layer became 15 µm. The lowest melt viscosity temperature Tv of the resin composition layer in the adhesive sheet 4 was 130°C.

[제작예 5][Production Example 5]

건조 후의 수지 조성물층의 두께가 1O㎛가 되도록 수지 와니스를 다이 코터로 균일하게 도포한 것 이외는, 제작예 1과 동일하게 하여 접착 시트 5를 제작하였다. 접착 시트 5에서의 수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도 Tv는 140℃였다.
The adhesive sheet 5 was produced in the same manner as in Production Example 1, except that the resin varnish was uniformly applied with a die coater so that the thickness of the dried resin composition layer became 10 µm. The lowest melt viscosity temperature Tv of the resin composition layer in the adhesive sheet 5 was 140°C.

<실시예 1><Example 1>

접착 시트 1을 사용하고, 상기 [측정·평가용 샘플의 조제]의 순서에 따라 프린트 배선판을 제조하였다. 각 평가 결과를 표 1에 기재한다.
Using the adhesive sheet 1, a printed wiring board was manufactured in accordance with the procedure of [Preparation of a sample for measurement and evaluation]. Table 1 shows each evaluation result.

<실시예 2><Example 2>

접착 시트 2를 사용하고, 상기 [측정·평가용 샘플의 조제]의 순서에 따라 프린트 배선판을 제조하였다. 각 평가 결과를 표 1에 기재한다.
Using the adhesive sheet 2, a printed wiring board was manufactured in accordance with the procedure of [Preparation of a sample for measurement and evaluation]. Table 1 shows each evaluation result.

<실시예 3><Example 3>

접착 시트 3을 사용하고, 상기 [측정·평가용 샘플의 조제]의 순서에 따라 프린트 배선판을 제조하였다. Using the adhesive sheet 3, a printed wiring board was produced in accordance with the procedure of [Preparation of a sample for measurement and evaluation].

각 평가 결과를 표 1에 기재한다.
Table 1 shows each evaluation result.

<비교예 1><Comparative Example 1>

접착 시트 4를 사용하고, 상기 [측정·평가용 샘플의 조제]의 순서에 따라 프린트 배선판을 제조하였다. 또한, 상기 [측정·평가용 샘플의 조제]에 나타낸 바와 같이, 비교예 1에서는 수지 조성물층의 적층 온도는 90℃였다. 각 평가 결과를 표 1에 기재한다.
Using the adhesive sheet 4, a printed wiring board was manufactured in accordance with the procedure of [Preparation of a sample for measurement and evaluation]. In addition, as shown in [Preparation of a sample for measurement and evaluation], in Comparative Example 1, the lamination temperature of the resin composition layer was 90°C. Table 1 shows each evaluation result.

<비교예 2><Comparative Example 2>

접착 시트 5를 사용하고, 상기 [측정·평가용 샘플의 조제]의 순서에 따라서 프린트 배선판을 제조하였다. 각 평가 결과를 표 1에 기재한다.Using the adhesive sheet 5, a printed wiring board was manufactured in accordance with the procedure of [Preparation of a sample for measurement and evaluation]. Table 1 shows each evaluation result.

Figure 112013118540973-pat00001
Figure 112013118540973-pat00001

층의 박형화를 위하여 얇은 수지 조성물층을 사용하는 경우, 수지 조성물층의 적층 온도를 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃의 범위로 실시하지 않으면, 표면의 기복이 큰 경화체로 귀착하고, 드라이 필름 밀착성이 떨어지는 것이 확인되었다(비교예 1). 또한, 수지 조성물층의 적층 온도를 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃의 범위로 함으로써 경화체 표면의 기복을 억제할 수는 있지만, x와 y가 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15의 관계를 만족시키지 않으면 조도 불균일이 현저히 발생하는 것이 확인되었다(비교예 2).In the case of using a thin resin composition layer for thinning of the layer, if the lamination temperature of the resin composition layer is not in the range of Tv-35°C to Tv + 35°C, it results in a cured body with large undulations on the surface, and dry film adhesion This drop was confirmed (Comparative Example 1). In addition, by setting the lamination temperature of the resin composition layer in the range of Tv-35°C to Tv + 35°C, it is possible to suppress undulations on the surface of the cured body, but the relationship between x and y is 0.3 <y/x ≤ 1 and y ≤ 15 If not satisfied, it was confirmed that unevenness of illuminance occurs remarkably (Comparative Example 2).

한편, 수지 조성물층의 적층 온도를 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃의 범위로 하는 동시에, x와 y가 0.3 < y/x ≤ 1 및 y ≤ 15의 관계를 만족시키는 실시예 1 내지 3에 있어서는, 층의 박형화를 위해 얇은 수지 조성물층을 사용하는 경우라도, 충분한 드라이 필름 밀착성을 가져오는 표면의 기복이 작은 경화체를 실현할 수 있는 동시에, 조도 불균일의 발생을 억제할 수 있었다.On the other hand, in Examples 1 to 3 in which the lamination temperature of the resin composition layer is in the range of Tv-35°C to Tv + 35°C, and at the same time, x and y satisfy the relationship of 0.3 <y/x ≤ 1 and y ≤ 15 In this case, even in the case of using a thin resin composition layer for thinning of the layer, it was possible to realize a cured product with small undulations on the surface that provides sufficient dry film adhesion, and at the same time, it was possible to suppress the occurrence of uneven roughness.

1: 수지 조성물층
2: 경화체
3: 회로 기판
4: 회로 배선
5: 기판
1: resin composition layer
2: hardened body
3: circuit board
4: circuit wiring
5: substrate

Claims (17)

회로 기판에 수지 조성물층을 적층하고 당해 수지 조성물층을 열경화시켜서 수득되는, 회로 기판 위에 형성된 경화체로서,
수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도를 Tv(℃)라고 했을 때, 수지 조성물층의 적층 온도가 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃이고,
수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, 0.4 ≤ y/x ≤ 1 또한 y ≤ 15인, 경화체.
As a cured body formed on a circuit board obtained by laminating a resin composition layer on a circuit board and thermosetting the resin composition layer,
When the lowest melt viscosity temperature of the resin composition layer is Tv (°C), the lamination temperature of the resin composition layer is Tv-35°C to Tv + 35°C,
When the thickness of the resin composition layer is x (µm) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm), 0.4 ≤ y/x ≤ 1 and y ≤ 15.
제1항에 있어서, x≤25인, 경화체. The cured product according to claim 1, wherein x≤25. 제1항에 있어서, 경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt가 3.5㎛ 이하인, 경화체.The cured product according to claim 1, wherein the maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured product is 3.5 μm or less. 제1항에 있어서, 수지 조성물층을 Tv 미만의 온도로 10분간 이상 유지한 후, Tv 이상의 온도로 10분간 이상 유지하여 열경화시켜서 수득되는, 경화체.The cured product according to claim 1, obtained by holding the resin composition layer at a temperature less than Tv for 10 minutes or more, and then holding the resin composition layer at a temperature of Tv or more for 10 minutes or more to heat cure. 제1항에 있어서, 수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, 0.5 ≤ y/x ≤ 1 또한 y ≤ 15인, 경화체.The cured body according to claim 1, wherein 0.5 ≤ y/x ≤ 1 and y ≤ 15 when the thickness of the resin composition layer is x (µm) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm). . 제1항에 있어서, 수지 조성물층이 에폭시 수지와, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제 및 벤조 옥사진계 경화제로부터 선택되는 경화제를 포함하는 수지 조성물에 의해 형성되는, 경화체.The cured product according to claim 1, wherein the resin composition layer is formed of a resin composition comprising an epoxy resin and a curing agent selected from a phenol curing agent, a naphthol curing agent, an active ester curing agent and a benzoxazine curing agent. 제1항에 기재된 경화체를 조화(粗化) 처리하여 수득되는, 조화 경화체.A roughened cured product obtained by subjecting the cured product according to claim 1 to a roughening treatment. 제7항에 있어서, 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기와, 회로 기판의 회로 배선이 없는 부분의 위에 있는 조화 경화체의 표면의 산술 평균 거칠기와의 차가 160nm 이하인, 조화 경화체.The roughened hardened body according to claim 7, wherein the difference between the arithmetic average roughness of the surface of the roughened hardened body on the circuit wiring of the circuit board and the arithmetic average roughness of the surface of the roughened hardened body on the part of the circuit board without circuit wiring is 160 nm or less. . 제7항 또는 제8항에 기재된 조화 경화체와, 당해 조화 경화체의 표면에 형성된 도체층을 구비하는 적층체.A laminate comprising the roughened hardened body according to claim 7 or 8 and a conductor layer formed on the surface of the roughened hardened body. (A) 회로 기판에 수지 조성물층을 적층하는 공정 및
(B) 수지 조성물층을 열경화시켜 회로 기판 위에 경화체를 형성하는 공정
을 포함하고,
수지 조성물층의 최저 용융 점도 온도를 Tv(℃)라고 했을 때, 수지 조성물층의 적층 온도가 Tv - 35℃ 내지 Tv + 35℃이고,
수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, 0.4 ≤ y/x ≤ 1 또한 y ≤ 15인, 경화체의 제조 방법.
(A) a step of laminating a resin composition layer on a circuit board, and
(B) Step of forming a cured body on a circuit board by thermosetting the resin composition layer
Including,
When the lowest melt viscosity temperature of the resin composition layer is Tv (°C), the lamination temperature of the resin composition layer is Tv-35°C to Tv + 35°C,
When the thickness of the resin composition layer is x (µm) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm), 0.4 ≤ y/x ≤ 1 and y ≤ 15.
제10항에 있어서, x≤25인, 경화체의 제조 방법. The method for producing a cured product according to claim 10, wherein x≦25. 제10항에 있어서, 경화체 표면의 최대 단면 높이 Rt가 3.5㎛ 이하인, 경화체의 제조 방법.The method for producing a cured product according to claim 10, wherein the maximum cross-sectional height Rt of the surface of the cured product is 3.5 μm or less. 제10항에 있어서, 공정(B)에 있어서, 수지 조성물층을 Tv 미만의 온도로 10분간 이상 유지한 후, Tv 이상의 온도로 10분간 이상 유지하여 열경화시키는, 경화체의 제조 방법.The method for producing a cured product according to claim 10, wherein in step (B), the resin composition layer is maintained at a temperature lower than Tv for 10 minutes or longer, and then maintained at a temperature of Tv or higher for 10 minutes or more to heat cure. 제10항에 있어서, 수지 조성물층의 두께를 x(㎛), 회로 기판의 회로 배선 위에 있는 경화체의 두께를 y(㎛)라고 했을 때, 0.5 ≤ y/x ≤ 1 또한 y ≤ 15인, 경화체의 제조 방법.The cured product according to claim 10, wherein when the thickness of the resin composition layer is x (µm) and the thickness of the cured body on the circuit wiring of the circuit board is y (µm), 0.5 ≤ y/x ≤ 1 and y ≤ 15. Manufacturing method. 제10항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 수지 조성물층이 에폭시 수지와, 페놀계 경화제, 나프톨계 경화제, 활성 에스테르계 경화제 및 벤조 옥사진계 경화제로부터 선택되는 경화제를 포함하는 수지 조성물에 의해 형성되는, 경화체의 제조 방법.The resin composition according to any one of claims 10 to 14, wherein the resin composition layer comprises an epoxy resin and a curing agent selected from a phenol curing agent, a naphthol curing agent, an active ester curing agent and a benzoxazine curing agent. Formed, a method for producing a cured product. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 기재된 경화체에 의해 절연층이 형성된 프린트 배선판. A printed wiring board in which an insulating layer is formed by the cured body according to any one of claims 1 to 6. 제16항에 기재된 프린트 배선판을 포함하는 반도체 장치.A semiconductor device comprising the printed wiring board according to claim 16.
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