KR102176702B1 - Power semiconductor device - Google Patents

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이주환
강민기
김신아
김영준
김태엽
박태영
우혁
윤성환
조선형
하정목
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현대오트론 주식회사
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Abstract

According to one aspect of the present invention, a power semiconductor device capable of improving the electrostatic characteristics in a sensor area comprises: a semiconductor layer including a main cell area, a sensor area, and an insulating area between the main cell area and the sensor area; a plurality of power semiconductor transistors formed in the main cell area; and a plurality of current sensor transistors formed in the sensor area. At least part of the plurality of power semiconductor transistors and at least part of the plurality of power sensor transistors are connected by interposing a protection resistor formed in a portion of the semiconductor layer in the insulating area therebetween.

Description

전력 반도체 소자{Power semiconductor device}Power semiconductor device

본 발명은 반도체 장치에 관한 것으로서, 더 상세하게는 전력 전달을 스위칭하기 위한 전력 반도체 소자에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor device, and more particularly, to a power semiconductor device for switching power transmission.

전력 반도체 소자는 고전압과 고전류 환경에서 동작하는 반도체 소자이다. 이러한 전력 반도체 소자는 고전력 스위칭이 필요한 분야, 예컨대 인버터 소자에 이용되고 있다. 예를 들어, 전력 반도체 소자로는 절연 게이트 양극성 트랜지스터(IGBT, Insulated Gate Bipolar Transistor), 전력 모스펫(Power MOSFET) 등을 들 수 있다. 이러한 전력 반도체 소자는 고전압에 대한 내압 특성이 기본적으로 요구되며, 최근에는 부가적으로 고속 스위칭 동작을 요하고 있다. 하지만, 고속 스위칭 동작을 위해서는 온 저항을 낮춰야 하지만 이 경우 내압 특성을 저하시키고 있어서 문제가 되고 있다.Power semiconductor devices are semiconductor devices that operate in high voltage and high current environments. Such power semiconductor devices are used in fields requiring high power switching, for example, inverter devices. For example, the power semiconductor device may include an insulated gate bipolar transistor (IGBT), a power MOSFET, and the like. These power semiconductor devices are basically required to withstand voltage characteristics for a high voltage, and recently, additionally, a high-speed switching operation is required. However, for high-speed switching operation, the on-resistance must be lowered, but in this case, the withstand voltage characteristic is deteriorated, which is a problem.

이러한 전력 반도체 소자는 동작 전류를 모니터링 하기 위하여 메인 동작 셀에 비해서 소정 미러링(mirroring) 비로 센서 영역에 전류 센서 셀을 형성하여 메인 동작 셀의 전류를 모니터링하고 있다. 하지만, 이러한 전류 센서 셀의 면적은 메인 동작 셀에 비해서 매우 작기 때문에 센서 영역에서 적정 규모의 ESD 정전 용량을 확보하기 어려운 문제가 있다.In order to monitor the operating current, the power semiconductor device monitors the current of the main operating cell by forming a current sensor cell in the sensor region at a predetermined mirroring ratio compared to the main operating cell. However, since the area of the current sensor cell is very small compared to the main operation cell, it is difficult to secure an appropriate scale ESD capacitance in the sensor area.

대한민국 공개공보 제20140057630호(2014.05.13. 공개)Republic of Korea Publication No. 20140057630 (released on May 13, 2014)

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 센서 영역의 정전 특성을 개선할 수 있는 전력 반도체 소자를 제공하는 것을 목적으로 한다. 그러나 이러한 과제는 예시적인 것으로, 이에 의해 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.An object of the present invention is to solve the above-described problem, and an object thereof is to provide a power semiconductor device capable of improving electrostatic characteristics in a sensor region. However, these problems are exemplary, and the scope of the present invention is not limited thereby.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 관점에 의한 전력 반도체 소자는, 메인 셀 영역, 센서 영역, 및 상기 메인 셀 영역 및 상기 센서 영역 사이의 절연 영역을 포함하는 반도체층과, 상기 메인 셀 영역에 형성된 복수의 전력 반도체 트랜지스터들과, 상기 센서 영역에 형성된 복수의 전류 센서 트랜지스터들을 포함하고, 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 상기 절연 영역의 상기 반도체층의 일부에 형성된 보호 저항을 개재해서 연결된다.A power semiconductor device according to an aspect of the present invention for solving the above problem includes a semiconductor layer including a main cell region, a sensor region, and an insulating region between the main cell region and the sensor region, and the main cell region A plurality of power semiconductor transistors formed and a plurality of current sensor transistors formed in the sensor region, wherein at least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors are the semiconductor layer in the insulating region It is connected through a protective resistor formed in a part of.

상기 전력 반도체 소자에 있어서, 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 상기 절연 영역의 상기 반도체층 내 웰 영역에 형성된 상기 보호 저항을 개재하여 서로 연결될 수 있다.In the power semiconductor device, at least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors may be connected to each other through the protection resistor formed in a well region of the semiconductor layer of the insulating region.

상기 전력 반도체 소자에 있어서, 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 게이트 커패시턴스를 공유할 수 있다.In the power semiconductor device, at least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors may share a gate capacitance.

상기 전력 반도체 소자에 있어서, 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 서로 게이트 전극을 공유할 수 있다.In the power semiconductor device, at least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors may share a gate electrode with each other.

상기 전력 반도체 소자에 있어서, 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 게이트 전극 및 상기 복수의 전류은 센서 트랜지스터들의 게이트 전극은 스트라이프 타입으로 배치되고, 동일 라인에 배치된 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 게이트 전극 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 게이트 전극은 상기 절연 영역을 가로질러서 서로 연결될 수 있다.In the power semiconductor device, the gate electrodes of the plurality of power semiconductor transistors and the gate electrodes of the plurality of current sensor transistors are disposed in a stripe type, and the gate electrodes of the plurality of power semiconductor transistors disposed on the same line and the plurality of Gate electrodes of the current sensor transistors of may be connected to each other across the insulating region.

상기 전력 반도체 소자에 있어서, 상기 메인 셀 영역 및 상기 센서 영역의 웰 영역에는 에미터 영역 또는 소오스 영역이 형성되고, 상기 절연 영역의 웰 영역에는 에미터 영역 또는 소오스 영역이 형성되지 않을 수 있다.In the power semiconductor device, an emitter region or a source region may be formed in a well region of the main cell region and the sensor region, and an emitter region or a source region may not be formed in the well region of the insulating region.

상기 전력 반도체 소자는, 상기 메인 셀 영역의 상기 에미터 영역 또는 소오스 영역 상의 셀 콘택 전극과, 상기 센서 영역의 상기 에미터 영역 또는 소오스 영역 상의 센서 콘택 전극을 더 포함할 수 있다.The power semiconductor device may further include a cell contact electrode on the emitter region or source region of the main cell region, and a sensor contact electrode on the emitter region or source region of the sensor region.

상기 전력 반도체 소자에 있어서, 상기 메인 셀 영역 및 상기 센서 영역 외측의 상기 반도체층에 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 출력 단자로 기능하는 전류 센서 단자가 형성될 수 있다.In the power semiconductor device, a current sensor terminal serving as an output terminal of the plurality of current sensor transistors may be formed in the main cell region and the semiconductor layer outside the sensor region.

본 발명의 다른 관점에 의한 전력 반도체 소자는, 메인 셀 영역에 형성된 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 에미터 전극과 연결되는 에미터 단자 및 켈빈 에미터 단자와, 상기 전력 반도체 트랜지스터들의 게이트 전극과 연결되는 게이트 단자와, 상기 전력 반도체 트랜지스터들의 전류를 모니터링하기 위해 센서 영역에 형성된 전류 센서와 연결되는 전류 센서 단자를 포함하고, 상기 에미터 단자 및 상기 전류 센서 단자는 상기 메인 셀 영역 및 상기 센서 영역 사이의 절연 영역의 반도체층의 일부에 형성된 보호 저항을 개재해서 연결된다.A power semiconductor device according to another aspect of the present invention includes an emitter terminal and a Kelvin emitter terminal connected to the emitter electrodes of a plurality of power semiconductor transistors formed in a main cell region, and a gate connected to the gate electrode of the power semiconductor transistors. A terminal and a current sensor terminal connected to a current sensor formed in a sensor area to monitor current of the power semiconductor transistors, wherein the emitter terminal and the current sensor terminal are insulated between the main cell area and the sensor area It is connected via a protective resistor formed in a part of the semiconductor layer in the region.

상기 전력 반도체 소자에 있어서, 상기 게이트 커패시턴스를 공유하는 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 상기 메인 셀 영역 및 상기 센서 영역 사이의 절연 영역의 반도체층의 일부에 형성된 상기 보호 저항을 개재해서 연결될 수 있다.In the power semiconductor device, at least a portion of the plurality of power semiconductor transistors sharing the gate capacitance and at least a portion of the plurality of current sensor transistors are part of a semiconductor layer in an insulating region between the main cell region and the sensor region It may be connected through the protective resistor formed in.

상기 전력 반도체 소자에 있어서, 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 게이트 커패시턴스를 공유할 수 있다.In the power semiconductor device, at least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors may share a gate capacitance.

상기 전력 반도체 소자에 있어서, 상기 게이트 커패시턴스를 공유하는 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 상기 절연 영역의 상기 반도체층의 일부에 형성된 상기 보호 저항을 개재해서 연결될 수 있다.In the power semiconductor device, at least a part of the plurality of power semiconductor transistors sharing the gate capacitance and at least a part of the plurality of current sensor transistors are interposed by the protection resistor formed in a part of the semiconductor layer of the insulating region. Can be connected.

상기한 바와 같이 이루어진 본 발명의 일 실시예에 따른 전력 반도체 소자에 의하면, 센서 영역과 메인 셀 영역을 보호 저항을 개재하여 연결함으로써 센서 영역의 정전 특성을 향상시킬 수 있다. 물론 이러한 효과는 예시적인 것이고, 이러한 효과에 의해서 본 발명의 범위가 한정되는 것은 아니다.According to the power semiconductor device according to the embodiment of the present invention made as described above, the electrostatic characteristics of the sensor region can be improved by connecting the sensor region and the main cell region through a protective resistor. Of course, these effects are exemplary, and the scope of the present invention is not limited by these effects.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전력 반도체 소자를 보여주는 개략적인평면도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전력 반도체 소자를 보여주는 회로도이다.
도 3은 도 2의 전력 반도체 소자의 일부를 보여주는 회로도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전력 반도체 소자의 일부 영역을 보여주는 개략적인 평면도이다.
도 5는 도 4의 메인 셀 영역 및 센서 영역의 일부를 보여주는 개략적인 평면도이다.
도 6은 도 5의 VI-VI선에 절취한 단면도이다.
도 7은 도 5의 VII-VII선에 절취한 단면도이다.1 is a schematic plan view showing a power semiconductor device according to an embodiment of the present invention.
2 is a circuit diagram showing a power semiconductor device according to an embodiment of the present invention.
3 is a circuit diagram illustrating a part of the power semiconductor device of FIG. 2.
4 is a schematic plan view showing a partial region of a power semiconductor device according to an exemplary embodiment of the present invention.
5 is a schematic plan view showing a part of a main cell area and a sensor area of FIG. 4.
6 is a cross-sectional view taken along line VI-VI of FIG. 5.
7 is a cross-sectional view taken along line VII-VII of FIG. 5.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있는 것으로, 이하의 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 또한 설명의 편의를 위하여 도면에서는 적어도 일부의 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다. 도면에서 동일한 부호는 동일한 요소를 지칭한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments disclosed below, but may be implemented in various different forms, and the following embodiments make the disclosure of the present invention complete, and the scope of the invention to those of ordinary skill in the art. It is provided to fully inform you. In addition, in the drawings for convenience of description, at least some of the constituent elements may be exaggerated or reduced in size. In the drawings, the same reference numerals refer to the same elements.

다르게 정의되지 않는 한, 여기에 사용된 모든 용어들은 해당기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해서 통상적으로 이해되는 것과 같은 의미로 사용된다. 도면에서, 층 및 영역의 크기는 설명을 위해 과장되었고, 따라서 본 발명의 일반적인 구조들을 설명하기 위해 제공된다. 동일한 참조 부호들은 동일한 구성 요소를 나타낸다. 층, 영역, 또는 기판과 같은 한 구성이 다른 구성 상(on)에 있다고 지칭할 때, 그것은 다른 구성의 바로 상부에 있거나 또는 그 사이에 다른 개재된 구성이 또한 존재할 수 있는 것으로 이해될 것이다. 반면에, 한 구성이 다른 구성의 “바로 위에(directly on)” 있다라고 지칭할 때는 중간 개재 구성들이 존재하지 않는다고 이해된다.Unless otherwise defined, all terms used herein have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art. In the drawings, the sizes of layers and regions have been exaggerated for the sake of explanation, and thus are provided to explain the general structures of the present invention. The same reference numerals indicate the same elements. When referring to a configuration such as a layer, region, or substrate as being on another configuration, it will be understood that it is directly on top of the other configuration or that there may also be other intervening configurations in between. On the other hand, when it is referred to as being "directly on" of another configuration, it is understood that there are no intervening configurations.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전력 반도체 소자(100)를 보여주는 개략적인 평면도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전력 반도체 소자(100)를 보여주는 회로도이고, 도 3은 도 2의 전력 반도체 소자(100)의 일부를 보여주는 회로도이다.1 is a schematic plan view showing a power semiconductor device 100 according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram showing a power semiconductor device 100 according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is 2 is a circuit diagram showing a part of the power semiconductor device 100.

도 1을 참조하면, 전력 반도체 소자(100)는 메인 셀 영역(MC) 및 센서 영역(SA)을 포함하는 반도체층(105)을 이용하여 구현될 수 있다. 이러한 전력 반도체 소자(100)는 웨이퍼(wafer), 칩(chip) 또는 다이(die) 구조를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, the power semiconductor device 100 may be implemented using a semiconductor layer 105 including a main cell area MC and a sensor area SA. The power semiconductor device 100 may include a wafer, chip, or die structure.

예를 들어, 메인 셀 영역(MC)에는 복수의 전력 반도체 트랜지스터들(power semiconductor transistors, 도 3의 PT)이 형성될 수 있다. 예를 들어, 전력 반도체 트랜지스터(PT)는 절연 게이트 바이폴라 트랜지스터(Insulated Gate Bipolar Transistor, IGBT) 또는 전력 모스펫(power MOSFET)을 포함할 수 있다. IGBT는 게이트 전극, 에미터 전극 및 컬렉터 전극을 포함할 수 있다. 도 2 내지 도 3에서는 전력 반도체 소자(100)로 IGBT를 예로 설명한다.For example, a plurality of power semiconductor transistors (PT of FIG. 3) may be formed in the main cell area MC. For example, the power semiconductor transistor PT may include an insulated gate bipolar transistor (IGBT) or a power MOSFET. The IGBT may include a gate electrode, an emitter electrode, and a collector electrode. In FIGS. 2 to 3, an IGBT is described as an example as the power semiconductor device 100.

도 1 내지 도 3을 같이 참조하면, 전력 반도체 소자(100)는 외부와 연결을 위한 복수의 단자들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전력 반도체 소자(100)는 전력 반도체 트랜지스터들(PT)의 에미터 전극에 연결되는 에미터 단자(69) 및 켈빈 에미터 단자(66), 전력 반도체 트랜지스터들(PT)의 게이트 전극과 연결되는 게이트 단자(62), 전류를 모니터링하기 위한 전류 센서 트랜지스터들(ST)과 연결되는 전류 센서 단자(64), 온도를 모니터링하기 위한 온도 센서(TC)와 연결되는 온도 센서 단자들(67, 68) 및/또는 전력 반도체 트랜지스터들(PT) 및 전류 센서 트랜지스터들(ST)의 컬렉터 전극과 연결되는 컬렉터 단자(61)를 포함할 수 있다. 도 2에서 컬렉터 단자(61)는 도 1에서 전력 반도체 소자(100)의 후면 상에 있다.1 to 3, the power semiconductor device 100 may include a plurality of terminals for connection with the outside. For example, the power semiconductor device 100 includes an emitter terminal 69 and a Kelvin emitter terminal 66 connected to the emitter electrodes of the power semiconductor transistors PT, and the gate electrode of the power semiconductor transistors PT. A gate terminal 62 connected to the current sensor, current sensor terminals 64 connected to the current sensor transistors ST for monitoring current, and temperature sensor terminals 67 connected to the temperature sensor TC for monitoring the temperature. , 68) and/or a collector terminal 61 connected to the collector electrodes of the power semiconductor transistors PT and the current sensor transistors ST. In FIG. 2, the collector terminal 61 is on the rear surface of the power semiconductor device 100 in FIG. 1.

온도 센서(TC)는 온도 센서 단자들(67, 68)과 연결된 정션 다이오드(junction diode)를 포함할 수 있다. 정션 다이오드는 적어도 하나의 n형 불순물 영역과 적어도 하나의 p형 불순물 영역의 접합 구조, 예컨대 P-N 접합 구조, P-N-P 접합 구조, N-P-N 접합 구조 등을 포함할 수 있다. 본 구조는 전력 반도체 소자(100) 내에 온도 센서(TC)가 내장된 구조를 예시적으로 설명하고 있으나, 이 실시예의 변형된 예에서 온도 센서(TC)가 생략될 수도 있다.The temperature sensor TC may include a junction diode connected to the temperature sensor terminals 67 and 68. The junction diode may include a junction structure between at least one n-type impurity region and at least one p-type impurity region, such as a P-N junction structure, a P-N-P junction structure, an N-P-N junction structure, and the like. This structure exemplarily describes a structure in which the temperature sensor TC is embedded in the power semiconductor device 100, but the temperature sensor TC may be omitted in a modified example of this embodiment.

전력 반도체 트랜지스터(PT)는 에미터 단자(69)와 컬렉터 단자(61) 사이에 접속되고, 전류 센서 트랜지스터(ST)는 전류 센서 단자(64)와 컬렉터 단자(61) 사이에 전력 반도체 트랜지스터(PT)와 일부 병렬적으로 접속된다. 전류 센서 트랜지스터(ST)의 게이트 전극과 전력 반도체 트랜지스터(PT)의 게이트 전극은 소정의 저항을 개재하여 게이트 단자(62)에 공유로 연결된다.The power semiconductor transistor PT is connected between the emitter terminal 69 and the collector terminal 61, and the current sensor transistor ST is the power semiconductor transistor PT between the current sensor terminal 64 and the collector terminal 61. ) And partially connected in parallel. The gate electrode of the current sensor transistor ST and the gate electrode of the power semiconductor transistor PT are sharedly connected to the gate terminal 62 through a predetermined resistance.

전류 센서 트랜지스터(ST)는 전력 반도체 트랜지스터(PT)와 실질적으로 같은 구조로 형성되며, 다만 소정의 비로 축소되어 형성될 수 있다. 이에 따라, 전류 센서 트랜지스터(ST)의 출력 전류를 모니터링함으로써 전력 반도체 트랜지스터(PT)의 출력 전류를 간접적으로 모니터링할 수 있게 된다.The current sensor transistor ST has substantially the same structure as the power semiconductor transistor PT, but may be reduced to a predetermined ratio. Accordingly, it is possible to indirectly monitor the output current of the power semiconductor transistor PT by monitoring the output current of the current sensor transistor ST.

이 실시예에서, 에미터 단자(69) 및 전류 센서 단자(64)는 소정의 보호 저항(Re)을 통해서 연결될 수 있다. 보호 저항(Re)은 전력 반도체 소자(100)의 정상적인 동작 시에는 에미터 단자(69)와 전류 센서 단자(64) 사이를 절연시켜 실질적으로 전류의 흐름을 허용하지 않도록 충분히 큰 절연 저항일 수 있다. 다만, 에미터 단자(69) 및 전류 센서 단자(64)가 보호 저항(Re)을 통해서 연결된다는 의미는, 비정상적인 동작 상황, 예컨대 ESD(electro static discharge) 상황 같은 경우에는 전류의 흐름을 허용할 수 있다. In this embodiment, the emitter terminal 69 and the current sensor terminal 64 may be connected through a predetermined protection resistor Re. The protection resistance Re may be a sufficiently large insulation resistance so as to insulate between the emitter terminal 69 and the current sensor terminal 64 during normal operation of the power semiconductor device 100 so as not to substantially allow the flow of current. . However, the meaning that the emitter terminal 69 and the current sensor terminal 64 are connected through the protection resistor Re means that the flow of current can be allowed in the case of an abnormal operation situation, for example, an electro static discharge (ESD) situation. have.

따라서, 정상적인 동작 상황에서는 전력 반도체 트랜지스터(PT)의 에미터 단자(69)를 통한 전류 또는 전자 흐름과 전류 센서 트랜지스터(ST)의 전류 센서 단자(64)를 통한 전류 또는 전자의 흐름은 구분된다. 다만, 비정상적인 동작 상황, 예컨대 ESD 상황에서는 매우 큰 전압이 걸리거나 매우 큰 전류가 유입되어, 전류 센서 트랜지스터(ST)의 전류 또는 전자 흐름이 보호 저항(Re)을 통해서 전력 반도체 트랜지스터(PT) 방향으로 분배될 수 있다. 이에 따라, 메인 셀 영역(MC)에 비해서 상대적으로 크기가 작은 센서 영역(SA)에서도 정전 용량을 늘리고 정전 특성을 향상시킬 수 있게 된다. 즉, 보호 저항(Re)을 통한 전류 분배를 이용하여, 센서 영역(SA)이 ESD 충격으로부터 보호될 수 있다.Accordingly, in a normal operation situation, a current or electron flow through the emitter terminal 69 of the power semiconductor transistor PT and a current or electron flow through the current sensor terminal 64 of the current sensor transistor ST are divided. However, in an abnormal operation situation, such as an ESD situation, a very large voltage is applied or a very large current is introduced, so that the current or electron flow of the current sensor transistor ST is transferred to the power semiconductor transistor PT through the protection resistor Re. Can be distributed. Accordingly, even in the sensor area SA having a relatively small size compared to the main cell area MC, it is possible to increase the capacitance and improve the electrostatic characteristics. That is, by using the current distribution through the protection resistor Re, the sensor area SA may be protected from an ESD impact.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 전력 반도체 소자의 일부 영역을 보여주는 개략적인 평면도이다.4 is a schematic plan view showing a partial region of a power semiconductor device according to an exemplary embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 반도체층(105)은 메인 셀 영역(MC), 센서 영역(SA) 및 메인 셀 영역(MC)와 센서 영역(SA) 사이의 절연 영역(IA)을 포함할 수 있다. 나아가, 반도체층(105)은 그 외 외부 출력 단자로 기능하는 단자들을 형성하기 위한 단자 영역을 더 포함할 수 있다.Referring to FIG. 4, the semiconductor layer 105 may include a main cell area MC, a sensor area SA, and an insulating area IA between the main cell area MC and the sensor area SA. Furthermore, the semiconductor layer 105 may further include a terminal region for forming other terminals that function as external output terminals.

이 실시예에서, 전력 반도체 트랜지스터들(PT)은 메인 셀 영역(MC)에 형성되고, 전류 센서 트랜지스터(ST)는 센서 영역(SA)에 각각 형성될 수 있다. 센서 영역(SA)은 전류 센서 단자(64) 하부에 있지 않고, 센서 영역(SA) 외측의 반도체층(105)에 형성될 수 있다. 따라서, 전류 센서 트랜지스터들(ST)의 출력 단자로 기능하는 전류 센서 단자(64)는 통상적인 경우와 달리 별도의 단자 영역, 예컨대 메인 셀 영역(MC) 및 센서 영역(SA) 외측의 반도체층(105)에 형성될 수 있다. 이 경우, 전류 센서 단자(64)의 크기는 센서 영역(SA)의 크기와 상관 없이 조절할 수 있다.In this embodiment, the power semiconductor transistors PT may be formed in the main cell region MC, and the current sensor transistor ST may be formed in the sensor region SA, respectively. The sensor area SA is not under the current sensor terminal 64 and may be formed on the semiconductor layer 105 outside the sensor area SA. Accordingly, the current sensor terminal 64 functioning as an output terminal of the current sensor transistors ST is a separate terminal area, for example, a semiconductor layer outside the main cell area MC and the sensor area SA. 105) can be formed. In this case, the size of the current sensor terminal 64 can be adjusted regardless of the size of the sensor area SA.

일부 실시예에서, 센서 영역(SA)은 메인 셀 영역(MC)의 일부 영역을 개조하여 형성할 수 있고, 이 경우 절연 영역(IA)은 메인 셀 영역(MC)과 센서 영역(SA)을 정상 동작 시 전기적으로 절연하도록 메인 셀 영역(MC)과 센서 영역(SA) 사이에 배치될 수 있다. 따라서, 절연 영역(IA)은 센서 영역(SA)의 적어도 일부를 둘러싸는 형태로 배치될 수 있다. 전술한 바와 같이, 절연 영역(IA)에는 보호 저항(Re)이 형성될 수 있다.In some embodiments, the sensor area SA may be formed by remodeling a partial area of the main cell area MC. In this case, the insulating area IA is the main cell area MC and the sensor area SA. It may be disposed between the main cell area MC and the sensor area SA to be electrically insulated during operation. Accordingly, the insulating area IA may be disposed to surround at least a portion of the sensor area SA. As described above, a protection resistor Re may be formed in the insulating region IA.

도 5는 도 4의 메인 셀 영역 및 센서 영역의 일부를 보여주는 개략적인 평면도이다. 도 6은 도 5의 VI-VI선에 절취한 단면도이고, 도 7은 도 5의 VII-VII선에 절취한 단면도이다.5 is a schematic plan view showing a part of a main cell area and a sensor area of FIG. 4. 6 is a cross-sectional view taken along line VI-VI of FIG. 5, and FIG. 7 is a cross-sectional view taken along line VII-VII of FIG. 5.

도 5 내지 도 7을 참조하면, 반도체층(105)에 전력 반도체 트랜지스터들(PT) 및 전류 센서 트랜지스터들(ST)이 형성될 수 있다.5 to 7, power semiconductor transistors PT and current sensor transistors ST may be formed on the semiconductor layer 105.

반도체층(105)은 하나 또는 복수의 반도체 물질층을 지칭할 수 있으며, 예를 들어, 반도체 기판의 일부 및/또는 하나 또는 다층의 에피택셜층(epitaxial layer)을 지칭할 수도 있다. 예컨대, 반도체층(105)은 드리프트 영역(107) 및 웰 영역(110)을 포함할 수 있다. The semiconductor layer 105 may refer to one or a plurality of layers of semiconductor material, and for example, may refer to a part of a semiconductor substrate and/or an epitaxial layer of one or multiple layers. For example, the semiconductor layer 105 may include a drift region 107 and a well region 110.

메인 셀 영역(MC)에서, 반도체층(105)은 웰 영역(110) 내 소오스 영역(112)을 더 포함할 수 있다. 여기에서 소오스 영역(112)은 에미터 영역으로 불릴 수도 있다. 이하에서 소오스 영역(112)은 소오스 영역 또는 에미터 영역을 지칭할 수 있다.In the main cell region MC, the semiconductor layer 105 may further include a source region 112 in the well region 110. Here, the source region 112 may also be referred to as an emitter region. Hereinafter, the source region 112 may refer to a source region or an emitter region.

나아가, 반도체층(105)은 게이트 전극(120) 사이에서 게이트 전극(120) 하부로 이어지는 부분에 플로팅 영역(125)을 더 포함할 수 있다.Furthermore, the semiconductor layer 105 may further include a floating region 125 in a portion between the gate electrodes 120 and connected to the lower portion of the gate electrode 120.

드리프트 영역(107) 및 소오스 영역(112)은 제 1 도전형을 갖고, 웰 영역(110) 및 플로팅 영역(125)은 제 2 도전형을 가질 수 있다. 제 1 도전형 및 제 2 도전형은 서로 반대의 도전형을 가지 되 n형 및 p형 중 각각 어느 하나일 수 있다. 예를 들어, 제 1 도전형은 n형이면 제 2 도전형이 p형이고, 그 반대일 수도 있다.The drift region 107 and the source region 112 may have a first conductivity type, and the well region 110 and the floating region 125 may have a second conductivity type. The first conductivity type and the second conductivity type have opposite conductivity types, but may be any one of n-type and p-type, respectively. For example, if the first conductivity type is n-type, the second conductivity type is p-type, and vice versa.

드리프트 영역(107)은 제 1 도전형의 에피택셜층으로 제공될 수 있고, 웰 영역(110)은 이러한 에피택셜층에 제 2 도전형의 불순물을 도핑하거나 또는 제 2 도전형의 에피택셜층으로 형성할 수 있다. 소오스 영역(112)은 웰 영역(110) 내에 제 1 도전형의 불순물을 도핑하거나 또는 제 1 도전형의 에피택셜층을 부가적으로 형성하여 형성할 수 있다.The drift region 107 may be provided as an epitaxial layer of a first conductivity type, and the well region 110 may be doped with impurities of a second conductivity type to the epitaxial layer or formed as an epitaxial layer of a second conductivity type. Can be formed. The source region 112 may be formed by doping an impurity of the first conductivity type in the well region 110 or by additionally forming an epitaxial layer of the first conductivity type.

컬렉터 영역(128)은 드리프트 영역(107) 아래에 제공되고, 컬렉터 전극(155)은 컬렉터 영역(128)에 연결되도록 컬렉터 영역(128) 아래에 제공될 수 있다. 예를 들어, 드리프트 영역(107)은 반도체 기판(미도시) 상에 제공될 수 있고, 반도체 기판은 제 2 도전형을 갖는 컬렉터 영역(128)의 적어도 일부 또는 전부를 한정하고, 컬렉터 전극(155)은 반도체 기판의 하면 상에 제공될 수 있다. 다른 예로, 컬렉터 영역(128)은 드리프트 영역(107) 아래에 제 2 도전형을 갖는 에피택셜층으로 제공될 수도 있다.The collector region 128 may be provided under the drift region 107, and the collector electrode 155 may be provided under the collector region 128 to be connected to the collector region 128. For example, the drift region 107 may be provided on a semiconductor substrate (not shown), the semiconductor substrate defines at least a part or all of the collector region 128 having the second conductivity type, and the collector electrode 155 ) May be provided on the lower surface of the semiconductor substrate. As another example, the collector region 128 may be provided as an epitaxial layer having a second conductivity type under the drift region 107.

게이트 전극(120)은 반도체층(105)에 형성된 적어도 하나의 트렌치를 매립하도록 반도체층(105) 내로 리세스되어 형성될 수 있다. 트렌치는 반도체층(105)의 표면으로부터 소정 깊이로 형성될 수 있고, 예컨대 소오스 영역(112)과 웰 영역(110)을 뚫고 드리프트 영역(107)의 일부까지 신장되도록 형성될 수 있다. 트렌치는 전계가 집중되는 것을 억제하기 위하여 그 모서리, 예컨대 하단 모서리가 라운딩 처리될 수 있다.The gate electrode 120 may be formed by being recessed into the semiconductor layer 105 to fill at least one trench formed in the semiconductor layer 105. The trench may be formed to a predetermined depth from the surface of the semiconductor layer 105, for example, may be formed to penetrate the source region 112 and the well region 110 and extend to a part of the drift region 107. The trench may be rounded at its edge, such as a lower edge, to suppress the concentration of the electric field.

게이트 절연층(118)은 게이트 전극(120) 및 트렌치 내 반도체층(105) 사이에 개재될 수 있다. 게이트 전극(120) 상에는 절연층(130)이 형성될 수 있다. 게이트 전극(120)의 수는 하나 또는 다수로 요구되는 동작 사양에 따라서 적절하게 선택될 수 있고 이 실시예의 범위를 제한하지 않는다.The gate insulating layer 118 may be interposed between the gate electrode 120 and the semiconductor layer 105 in the trench. An insulating layer 130 may be formed on the gate electrode 120. The number of gate electrodes 120 may be appropriately selected according to an operation specification required by one or more, and does not limit the scope of this embodiment.

나아가, 셀 콘택 전극(142)이 에미터 영역 또는 소오스 영역(112) 상에 형성될 수 있다. 한 층 또는 다층의 배선 전극(145)은 셀 콘택 전극(142) 상에 형성될 수 있다. 반도체층(105) 및 배선 전극(145) 사이에는 층간 절연층(미도시)이 더 부가될 수 있다.Furthermore, the cell contact electrode 142 may be formed on the emitter region or the source region 112. One or multiple layers of the wiring electrode 145 may be formed on the cell contact electrode 142. An interlayer insulating layer (not shown) may be further added between the semiconductor layer 105 and the wiring electrode 145.

센서 영역(SA)에서 하나의 센서 전류 트랜지스터(ST)의 구조는 메인 셀 영역(MC)의 하나의 전력 반도체 트랜지스터(PT)의 구조와 실질적으로 동일할 수 있다. 예를 들어, 센서 영역(SA) 및 메인 셀 영역(MC)에서, 드리프트 영역(107), 플로팅 영역(125), 웰 영역(110), 게이트 전극(120)은 구분되지 않고 연속적으로 형성될 수 있다. 다만, 센서 영역(SA)에서 에미터 영역 또는 소오스 영역(112a)은 메인 셀 영역(MC)에서 에미터 영역 또는 소오스 영역(112)과 분리되게 웰 영역(110)에 형성될 수 있다. 나아가, 셀 콘택 전극(142a)은 에미터 영역 또는 소오스 영역(112a) 상에 형성되고, 한 층 또는 다층의 배선 전극(145a)은 셀 콘택 전극(142a) 상에 형성될 수 있다.The structure of one sensor current transistor ST in the sensor area SA may be substantially the same as the structure of one power semiconductor transistor PT in the main cell area MC. For example, in the sensor area SA and the main cell area MC, the drift area 107, the floating area 125, the well area 110, and the gate electrode 120 may be continuously formed without being distinguished. have. However, the emitter region or the source region 112a in the sensor region SA may be formed in the well region 110 to be separated from the emitter region or the source region 112 in the main cell region MC. Further, the cell contact electrode 142a may be formed on the emitter region or the source region 112a, and a single or multilayered wiring electrode 145a may be formed on the cell contact electrode 142a.

이 실시예에서, 전력 반도체 트랜지스터들(PT)의 적어도 일부 및 전류 센서 트랜지스터들(ST)의 적어도 일부는 절연 영역(IA)의 반도체층(105) 내 웰 영역(110b)에 형성된 보호 저항(Re)을 개재하여 서로 연결될 수 있다. 이 경우, 보호 저항(Re)은 웰 영역(110b)의 저항이 될 수 있다. 소오스 영역(112)에 비해서 웰 영역(110)의 비저항은 매우 높은 편이기 때문에, 절연 영역(IA)의 폭이 어느 정도 확보되면, 보호 저항(Re)이 매우 높아 정상 동작 상황에서 보호 저항(Re)을 통한 전류의 흐름은 무시할 만하게 된다.In this embodiment, at least a portion of the power semiconductor transistors PT and at least a portion of the current sensor transistors ST are formed in the well region 110b in the semiconductor layer 105 of the insulating region IA. ) Can be connected to each other. In this case, the protection resistance Re may be the resistance of the well region 110b. Since the specific resistance of the well region 110 is very high compared to the source region 112, if the width of the insulating region IA is secured to a certain extent, the protective resistance Re is very high and the protective resistance Re is The flow of current through) becomes negligible.

일부 실시예에서, 전력 반도체 트랜지스터들(PT)의 적어도 일부 및 전류 센서 트랜지스터들(ST)의 적어도 일부는 게이트 커패시턴스를 공유할 수 있다. 예를 들어, 전력 반도체 트랜지스터들(PT)의 적어도 일부 및 전류 센서 트랜지스터들(ST)의 적어도 일부는 서로 게이트 전극(120)을 공유할 수 있다. In some embodiments, at least a portion of the power semiconductor transistors PT and at least a portion of the current sensor transistors ST may share a gate capacitance. For example, at least a portion of the power semiconductor transistors PT and at least a portion of the current sensor transistors ST may share the gate electrode 120 with each other.

보다 구체적으로 보면, 전력 반도체 트랜지스터들(PT)의 게이트 전극(120) 및 전류 센서 트랜지스터들(ST)의 게이트 전극(120)은 도 5에 도시된 바와 같이, 스트라이프 타입으로 배치될 수 있다. 이 경우, 동일 라인에 배치된 전력 반도체 트랜지스터들(PT)의 게이트 전극(120) 및 전류 센서 트랜지스터들(ST)의 게이트 전극(120)은 절연 영역(IA)을 가로질러서 서로 연결될 수 있다. 이 경우, 메인 셀 영역(MC)의 전력 반도체 트랜지스터들(PT)와 센서 영역(SA)의 전류 센서 트랜지스터들(ST)의 게이트 커패시턴스가 공유될 수 있다. 이에 따라, 센서 영역(SA)의 정전 용량이 실질적으로 커지는 효과가 생길 수 있다.In more detail, the gate electrode 120 of the power semiconductor transistors PT and the gate electrode 120 of the current sensor transistors ST may be arranged in a stripe type as shown in FIG. 5. In this case, the gate electrode 120 of the power semiconductor transistors PT and the gate electrode 120 of the current sensor transistors ST disposed on the same line may be connected to each other across the insulating region IA. In this case, the gate capacitances of the power semiconductor transistors PT of the main cell region MC and the current sensor transistors ST of the sensor region SA may be shared. Accordingly, an effect of substantially increasing the capacitance of the sensor area SA may occur.

한편 이 실시예의 변형된 예에서, 센서 영역(SA) 및 메인 셀 영역(MC)에서 게이트 전극(120)이 공유되지 않고 서로 분리될 수도 있다. 이 경우, 센서 영역(SA) 및 메인 셀 영역(MC)에서 게이트 커패시턴스는 공유되지 않지만, ESD 상황에서 보호 저항(Re)을 통한 전류 분배는 여전히 가능하다.Meanwhile, in a modified example of this embodiment, the gate electrodes 120 are not shared in the sensor area SA and the main cell area MC, but may be separated from each other. In this case, the gate capacitance is not shared in the sensor area SA and the main cell area MC, but current distribution through the protection resistor Re is still possible in an ESD situation.

이 실시예에 따르면, 통상적인 메인 셀 영역(MC)의 일부 영역을 센서 영역(SA)으로 할당함으로써 구조를 단순화 할 수 있다. 이 경우, 메인 셀 영역(MC), 센서 영역(SA) 및 절연 영역(IA)은 웰 영역(110), 드리프트 영역(107), 게이트 전극(120) 등을 일관 공정으로 제조할 수 있게 된다. According to this embodiment, the structure can be simplified by allocating a partial area of the typical main cell area MC as the sensor area SA. In this case, the well region 110, the drift region 107, the gate electrode 120, and the like can be manufactured through a consistent process in the main cell region MC, the sensor region SA, and the insulating region IA.

전술한 설명은 전력 반도체 소자가 IGBT인 경우를 상정하여 설명하였지만, 전력 모스펫에도 그대로 적용될 수 있다. 예를 들어, 전력 모스펫에서는 컬렉터 영역(128)이 없고 컬렉터 전극 대신에 드레인 전극이 배치될 수 있다.The above description has been described on the assumption that the power semiconductor device is an IGBT, but may be applied to a power MOSFET as it is. For example, in the power MOSFET, there is no collector region 128 and a drain electrode may be disposed instead of the collector electrode.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.The present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, but these are merely exemplary, and those of ordinary skill in the art will appreciate that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the true technical protection scope of the present invention should be determined by the technical spirit of the appended claims.

61: 컬렉터 단자
62: 게이트 단자
64: 전류 센서 단자
66: 켈빈 에미터 단자
67, 68: 온도 센서 단자
69: 에미터 단자
100: 전력 반도체 소자
105: 반도체층
120: 게이트 전극
125: 플로팅 영역
PT: 전력 반도체 트랜지스터
ST: 전류 센서 트랜지스터61: collector terminal
62: gate terminal
64: current sensor terminal
66: Kelvin emitter terminal
67, 68: temperature sensor terminal
69: emitter terminal
100: power semiconductor device
105: semiconductor layer
120: gate electrode
125: floating area
PT: Power semiconductor transistor
ST: current sensor transistor

Claims (12)

메인 셀 영역, 센서 영역, 및 상기 메인 셀 영역 및 상기 센서 영역 사이의 절연 영역을 포함하는 반도체층;
상기 메인 셀 영역에 형성된 복수의 전력 반도체 트랜지스터들; 및
상기 센서 영역에 형성된 복수의 전류 센서 트랜지스터들;을 포함하고,
상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 상기 절연 영역의 상기 반도체층의 일부에 형성된 보호 저항을 개재해서 연결되며,
상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 상기 절연 영역의 상기 반도체층 내 웰 영역에 형성된 상기 보호 저항을 개재하여 서로 연결되고,
상기 보호 저항을 통해 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 전류 또는 전자의 흐름이 상기 전력 반도체 트랜지스터 방향으로 분배되어 상기 센서 영역의 정전 용량을 늘릴 수 있으며,
상기 보호 저항은 상기 웰 영역의 저항으로서, 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들 사이에서 정상 동작 시에는 전류의 흐름을 허용하지 않고, 비정상적인 동작 상황에서는 전류의 흐름을 허용하는,
전력 반도체 소자.A semiconductor layer including a main cell region, a sensor region, and an insulating region between the main cell region and the sensor region;
A plurality of power semiconductor transistors formed in the main cell region; And
Including; a plurality of current sensor transistors formed in the sensor area,
At least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors are connected via a protection resistor formed in a portion of the semiconductor layer of the insulating region,
At least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors are connected to each other via the protection resistor formed in the well region of the semiconductor layer of the insulating region,
The current or electron flow of the plurality of current sensor transistors is distributed in the direction of the power semiconductor transistor through the protection resistor to increase the capacitance of the sensor region,
The protection resistor is a resistance of the well region, which does not allow the flow of current between the plurality of power semiconductor transistors and the plurality of current sensor transistors during normal operation, and allows the flow of current in an abnormal operation situation. ,
Power semiconductor device. 삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 게이트 커패시턴스를 공유하는,
전력 반도체 소자.The method of claim 1,
At least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors share a gate capacitance,
Power semiconductor device. 제 3 항에 있어서,
상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 서로 게이트 전극을 공유하는,
전력 반도체 소자.The method of claim 3,
At least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors share a gate electrode with each other,
Power semiconductor device. 제 1 항에 있어서,
상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 게이트 전극 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 게이트 전극은 스트라이프 타입으로 배치되고,
동일 라인에 배치된 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 게이트 전극 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 게이트 전극은 상기 절연 영역을 가로질러서 서로 연결된,
전력 반도체 소자.The method of claim 1,
Gate electrodes of the plurality of power semiconductor transistors and gate electrodes of the plurality of current sensor transistors are disposed in a stripe type,
The gate electrodes of the plurality of power semiconductor transistors and the gate electrodes of the plurality of current sensor transistors disposed on the same line are connected to each other across the insulating region,
Power semiconductor device. 제 1 항에 있어서,
상기 메인 셀 영역 및 상기 센서 영역의 웰 영역에는 에미터 영역 또는 소오스 영역이 형성되고,
상기 절연 영역의 웰 영역에는 에미터 영역 또는 소오스 영역이 형성되지 않는,
전력 반도체 소자.The method of claim 1,
An emitter region or a source region is formed in the main cell region and the well region of the sensor region,
An emitter region or a source region is not formed in the well region of the insulating region,
Power semiconductor device. 제 6 항에 있어서,
상기 메인 셀 영역의 상기 에미터 영역 또는 소오스 영역 상의 셀 콘택 전극; 및
상기 센서 영역의 상기 에미터 영역 또는 소오스 영역 상의 센서 콘택 전극을 더 포함하는,
전력 반도체 소자.The method of claim 6,
A cell contact electrode on the emitter region or the source region of the main cell region; And
Further comprising a sensor contact electrode on the emitter region or the source region of the sensor region,
Power semiconductor device. 제 1 항에 있어서,
상기 메인 셀 영역 및 상기 센서 영역 외측의 상기 반도체층에 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 출력 단자로 기능하는 전류 센서 단자가 형성되는,
전력 반도체 소자.The method of claim 1,
A current sensor terminal serving as an output terminal of the plurality of current sensor transistors is formed on the semiconductor layer outside the main cell region and the sensor region,
Power semiconductor device. 메인 셀 영역에 형성된 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 에미터 전극과 연결되는 에미터 단자 및 켈빈 에미터 단자;
상기 전력 반도체 트랜지스터들의 게이트 전극과 연결되는 게이트 단자; 및
상기 전력 반도체 트랜지스터들의 전류를 모니터링하기 위해 센서 영역에 형성된 복수의 전류 센서 트랜지스터들과 연결되는 전류 센서 단자;를 포함하고,
상기 에미터 단자 및 상기 전류 센서 단자는 상기 메인 셀 영역 및 상기 센서 영역 사이의 절연 영역의 반도체층의 일부에 형성된 보호 저항을 개재해서 연결되며,
상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 상기 절연 영역의 상기 반도체층 내 웰 영역에 형성된 상기 보호 저항을 개재하여 서로 연결되고,
상기 보호 저항을 통해 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 전류 또는 전자의 흐름이 상기 전력 반도체 트랜지스터 방향으로 분배되어 상기 센서 영역의 정전 용량을 늘릴 수 있으며,
상기 보호 저항은 상기 웰 영역의 저항으로서, 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들 사이에서 정상 동작 시에는 전류의 흐름을 허용하지 않고, 비정상적인 동작 상황에서는 전류의 흐름을 허용하는,
전력 반도체 소자.An emitter terminal and a Kelvin emitter terminal connected to emitter electrodes of a plurality of power semiconductor transistors formed in the main cell region;
A gate terminal connected to the gate electrodes of the power semiconductor transistors; And
Including; a current sensor terminal connected to a plurality of current sensor transistors formed in the sensor area to monitor the current of the power semiconductor transistors,
The emitter terminal and the current sensor terminal are connected via a protective resistor formed in a part of the semiconductor layer of the insulating region between the main cell region and the sensor region,
At least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors are connected to each other via the protection resistor formed in the well region of the semiconductor layer of the insulating region,
The current or electron flow of the plurality of current sensor transistors is distributed in the direction of the power semiconductor transistor through the protection resistor to increase the capacitance of the sensor region,
The protection resistor is a resistance of the well region, which does not allow the flow of current between the plurality of power semiconductor transistors and the plurality of current sensor transistors during normal operation, and allows the flow of current in an abnormal operation situation. ,
Power semiconductor device. 삭제delete 제 9 항에 있어서,
상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 게이트 커패시턴스를 공유하는,
전력 반도체 소자.The method of claim 9,
At least a portion of the plurality of power semiconductor transistors and at least a portion of the plurality of current sensor transistors share a gate capacitance,
Power semiconductor device. 제 11 항에 있어서,
상기 게이트 커패시턴스를 공유하는 상기 복수의 전력 반도체 트랜지스터들의 적어도 일부 및 상기 복수의 전류 센서 트랜지스터들의 적어도 일부는 상기 절연 영역의 상기 반도체층의 일부에 형성된 상기 보호 저항을 개재해서 연결된,
전력 반도체 소자.The method of claim 11,
At least a part of the plurality of power semiconductor transistors sharing the gate capacitance and at least a part of the plurality of current sensor transistors are connected via the protection resistor formed in a part of the semiconductor layer of the insulating region,
Power semiconductor device.
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