KR102172724B1 - 비전 검사 시스템 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 56
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 18
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000013016 damping Methods 0.000 claims description 10
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 10
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 3
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 2
- 239000003570 air Substances 0.000 claims 18
- 239000012080 ambient air Substances 0.000 claims 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 claims 1
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 abstract description 12
- 238000011109 contamination Methods 0.000 abstract description 5
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 4
- 239000003344 environmental pollutant Substances 0.000 abstract description 3
- 231100000719 pollutant Toxicity 0.000 abstract description 3
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 description 2
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B25J9/00—Programme-controlled manipulators
- B25J9/10—Programme-controlled manipulators characterised by positioning means for manipulator elements
- B25J9/1005—Programme-controlled manipulators characterised by positioning means for manipulator elements comprising adjusting means
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B65—CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
- B65G—TRANSPORT OR STORAGE DEVICES, e.g. CONVEYORS FOR LOADING OR TIPPING, SHOP CONVEYOR SYSTEMS OR PNEUMATIC TUBE CONVEYORS
- B65G47/00—Article or material-handling devices associated with conveyors; Methods employing such devices
- B65G47/74—Feeding, transfer, or discharging devices of particular kinds or types
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- G—PHYSICS
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- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- Immunology (AREA)
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Abstract
Description
도 2는 본 발명에 따른 비전 검사 시스템을 나타낸 측면도이다.
도 3은 본 발명에 따른 비전 검사 시스템에서 로터리 테이블 장치를 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명에 따른 비전 검사 시스템에서 로터리 테이블 장치를 나타낸 평면도이다.
도 5는 본 발명에 따른 비전 검사 시스템에서 로터리 테이블 장치를 분리하여 나타낸 사시도이다.
도 6은 도 5에서 중공 고정축, 중공 회전축, 슬립 링, 로터리 커플링을 분리하여 나타낸 사시도이다.
도 7은 본 발명에 따른 비전 검사 시스템에서 로터리 테이블 장치를 나타낸 단면도이다.
도 8은 도 7에서 중공 고정축, 중공 회전축, 슬립 링, 로터리 커플링을 나타낸 단면도이다.
도 9는 본 발명에 따른 비전 검사 시스템에서 워크피스, 제1 내지 제4 포지셔너와 제1 내지 제4 얼라인먼트 장치를 나타낸 사시도이다.
도 10은 본 발명에 따른 비전 검사 시스템에서 워크피스, 제1 내지 제4 포지셔너와 제1 내지 제4 얼라인먼트 장치를 나타낸 평면도이다.
도 11은 도 10에서 제1 내지 제4 얼라인먼트 장치의 작동을 설명하기 위하여 나타낸 평면도이다.
도 12는 도 11에서 제1 포지셔너를 부분적으로 나타낸 평면도이다.
도 13은 본 발명에 따른 비전 검사 시스템에서 이미지 획득 장치, 디텍터, 빔 스플리터, 렌즈를 나타낸 측면도이다.
도 14는 본 발명에 따른 비전 검사 시스템의 제어를 설명하기 위하여 나타낸 블록도이다.
100: 비전 검사 시스템 110: 프레임
120: X-Y 스테이지 130: 로터리 테이블 장치
140: 베이스 플레이트 160: 구동 모터
164: 중공 회전자 170: 중공 고정축
190: 슬립 링 200: 중공 회전축
210: 로터리 테이블 214: 공간
230: 공기 배출 장치 232: 진공 펌프
240: 제1 공기 배출 라인 244: 로터리 조인트
248: 공기 유입 피팅 250: 제2 공기 배출 라인
252: 공기 유입 피팅 270-1~270-4: 제1 내지 제4 포지셔너
280-1~280-4: 제1 내지 제4 얼라인먼트 장치
282: 전기 액추에이터 290: 댐핑 실린더
300: 이미지 획득 장치 302: Z 스테이지
306: 광원 308: 카메라
310: 디텍터 320: 컴퓨터
330: 컨트롤러 332: 센서
Claims (12)
- X축과, 상기 X축에 대해 직교하는 Y축과, 상기 X축과 상기 Y축에 대해 수직하게 직교하는 Z축을 가지며, 제1 내지 제4 변과 제1 내지 제4 코너를 갖는 워크피스의 검사 스테이션을 제공하는 프레임과;
상기 X축과 Y축 방향을 따라 직교좌표 운동할 수 있도록 상기 프레임에 설치되어 있는 X-Y 스테이지와;
상기 X-Y 스테이지의 작동에 의해 직교좌표 운동할 수 있도록 설치되어 있으며, 상기 Y축을 중심으로 회전할 수 있는 로터리 테이블을 갖는 로터리 테이블 장치와;
상기 제1 내지 제4 코너 각각과 이웃하도록 상기 로터리 테이블의 윗면에 장착되어 있으며, 상기 제1 내지 제4 코너 각각과 이웃하는 상기 워크피스의 아랫면을 지지하도록 윗면에 돌출되어 있는 자리와, 상기 제1 내지 제4 변 중 상기 제1 내지 제4 코너 각각과 이웃하는 두 개의 변과 접촉하여 상기 워크피스의 이탈을 방지할 수 있도록 상기 두 개의 변과 간격을 두고 윗면에 돌출되어 있는 한 쌍의 스톱 범프를 갖는 제1 내지 제4 포지셔너와;
상기 제1 내지 제4 변 각각을 2점 지지에 의해 밀어 상기 워크피스를 붙잡아줄 수 있도록 상기 로터리 테이블에 설치되어 있는 제1 내지 제4 얼라인먼트 장치와;
상기 워크피스의 이미지를 획득할 수 있도록 상기 프레임에 설치되어 있는 이미지 획득 수단과;
상기 이미지 획득 수단으로부터 획득되는 상기 워크피스의 이미지를 프로세싱하는 컴퓨터를 포함하는 비전 검사 시스템. - 삭제
- 제1항에 있어서,
상기 제1 내지 제4 얼라인먼트 장치 각각은,
상기 로터리 테이블 안에 장착되어 있는 전기 액추에이터와;
상기 로터리 테이블의 윗면을 관통하여 상기 전기 액추에이터에 연결되어 있으며, 상기 전기 액추에이터의 작동에 의해 상기 워크피스에 대해 접근 및 이격되도록 직선 운동하는 슬라이더와;
상기 제1 내지 제4 변 각각과 서로 나란하도록 상기 로터리 테이블의 위쪽에 배치되어 있으며, 상기 로터리 테이블의 윗면을 관통하여 상기 슬라이더에 연결되어 있는 암과;
상기 제1 내지 제4 변 각각의 양쪽을 2점 지지할 수 있도록 상기 암의 양단에 결합되어 있는 한 쌍의 얼라인먼트 핀으로 이루어지는 비전 검사 시스템. - 제3항에 있어서,
상기 제1 내지 제4 얼라인먼트 장치 중 서로 직교하도록 배치되어 있는 두 개의 얼라인먼트 장치 각각은 댐핑 로드를 갖는 한 쌍의 스프링 댐퍼를 더 포함하고, 상기 한 쌍의 스프링 댐퍼 각각은 상기 두 개의 얼라인먼트 장치 각각의 암의 양단에 장착되어 있으며, 상기 두 개의 얼라인먼트 장치 각각의 한 쌍의 얼라인먼트 핀은 충격의 완충을 위해 상기 한 쌍의 스프링 댐퍼 각각의 댐핑 로드에 결합되어 있는 비전 검사 시스템. - 제1항 또는 제3항에 있어서,
상기 이미지 획득 장치는,
상기 워크피스에 대해 상기 Z축 방향을 따라 직선 운동할 수 있도록 상기 프레임에 설치되어 있는 Z 스테이지와;
상기 Z 스테이지에 장착되어 있는 리프팅 프레임과;
상기 워크피스에 대해 레이저 빔을 주사하도록 상기 리프팅 프레임에 장착되어 있는 레이저 조명과;
상기 레이저 조명에 의해 투사되는 상기 워크피스의 이미지를 획득하여 상기 컴퓨터에 입력하는 카메라로 이루어지는 비전 검사 시스템. - 제5항에 있어서,
상기 레이저 빔의 일부를 상기 카메라 쪽으로 분할하여 주사하고 나머지 레이저 빔을 상기 카메라와 반대쪽으로 주사하도록 상기 로터리 테이블의 윗면에 장착되어 있는 빔 스플리터와;
상기 나머지 레이저 빔을 집광하여 주사하는 렌즈와;
상기 렌즈로부터 주사되는 상기 나머지 레이저 빔을 검출한 신호를 상기 컴퓨터에 입력하는 디텍터를 더 포함하고,
상기 컴퓨터는 상기 디텍터로부터의 신호를 처리하여 상기 레이저 조명의 이상 여부를 판별하도록 구성되어 있는 비전 검사 시스템. - 제1항 또는 제3항에 있어서,
상기 로터리 테이블은 안쪽에 형성되어 있는 공간과, 상기 공간과 연결되도록 아랫면에 형성되어 있는 축 구멍을 구비하며,
상기 로터리 테이블 장치는,
상기 X-Y 스테이지의 작동에 의해 직교좌표 운동하며, 윗면에 홈이 형성되어 있는 베이스 플레이트와;
상기 홈을 덮어 파이프 통로를 형성하도록 상기 베이스 플레이트의 윗면에 장착되어 있고, 상기 파이프 통로와 연결되도록 중앙에 보어가 형성되어 있으며, 상기 보어에 회전할 수 있도록 장착되어 있고 보어가 형성되어 있는 중공 회전자를 갖는 구동 모터와;
상기 중공 회전자의 보어 안에 배치되도록 상기 홈에 장착되어 있으며, 상단부가 상기 축 구멍을 통하여 상기 공간 안에 배치되어 있고, 중앙에 형성되어 있는 보어와 외면에 형성되어 있는 복수의 측면 구멍을 구비하는 중공 고정축과;
상기 중공 고정축의 상단에 전선의 배선을 위해 장착되어 있으며, 중앙에 보어가 형성되어 있는 슬립 링과;
상기 중공 회전자와 함께 회전할 수 있도록 상기 중공 회전자의 보어에 결합되어 있고, 중앙에 보어가 형성되어 있는 중공 회전축을 구비하는 비전 검사 시스템. - 제7항에 있어서,
상기 프레임과 이웃하도록 배치되어 있으며 공기의 흡입력을 발생하는 진공 펌프와, 상기 진공 펌프의 작동에 의해 상기 중공 회전축의 보어를 통하여 상기 공간으로부터 공기를 배출하는 제1 공기 배출 라인을 구비하여 상기 로터리 테이블 주위의 공기를 외부로 배출하는 공기 배출 장치를 더 포함하는 비전 검사 시스템. - 제8항에 있어서,
상기 중공 회전축의 상단은 상기 축 구멍을 통하여 상기 공간의 위쪽에 배출되어 있으며,
상기 제1 공기 배출 라인은,
상기 파이프 통로와 연결되도록 상기 베이스 플레이트에 결합되어 있는 튜브 피팅과;
상기 튜브 피팅과 상기 진공 펌프 사이에 연결되어 있는 제1 에어 튜브와;
상기 중공 회전축에 하단에 결합되어 있으며, 상기 중공 회전축의 보어와 연결되어 있는 보어를 갖는 로터리 조인트와;
상기 튜브 피팅과 상기 로터리 조인트 사이에 연결되어 있는 제2 에어 튜브를 포함하는 비전 검사 시스템. - 제9항에 있어서,
상기 제1 공기 배출 라인은 상기 중공 회전축의 상단에 결합되어 있고 상기 중공 회전축의 보어와 연결되도록 원주 방향을 따라 형성되어 있는 복수의 포트를 갖는 공기 유입 피팅을 더 포함하는 비전 검사 시스템. - 제8항에 있어서,
상기 중공 고정축의 상단은 상기 축구멍을 통하여 상기 공간의 아랫쪽에 배치되어 있으며, 상기 중공 고정축의 상단에 그 외면과 아랫면을 관통하도록 원주 방향을 따라 형성되어 있는 복수의 구멍을 갖는 플랜지가 더 형성되어 있고,
상기 공기 배출 장치는 상기 공간의 아래쪽으로부터 공기를 배출할 수 있도록 상기 플랜지의 아래쪽에 배치되도록 상기 복수의 구멍 각각에 결합되어 있는 복수의 공기 유입 피팅과, 상기 진공 펌프와 복수의 공기 유입 피팅 사이에 연결되어 있는 복수의 제3 에어 튜브를 갖는 제2 공기 배출 라인을 더 포함하는 비전 검사 시스템. - 제8항에 있어서,
상기 공기 배출 장치는 상기 진공 펌프의 작동에 의해 상기 공간으로부터 상기 중공 회전자의 보어와 상기 파이프 통로를 통하여 공기를 배출할 수 있도록 상기 파이프 통로와 상기 진공 펌프 사이에 연결되어 있는 제4 에어 튜브를 더 포함하는 비전 검사 시스템.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180169415A KR102172724B1 (ko) | 2018-12-26 | 2018-12-26 | 비전 검사 시스템 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180169415A KR102172724B1 (ko) | 2018-12-26 | 2018-12-26 | 비전 검사 시스템 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20200079825A KR20200079825A (ko) | 2020-07-06 |
KR102172724B1 true KR102172724B1 (ko) | 2020-11-02 |
Family
ID=71571144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020180169415A KR102172724B1 (ko) | 2018-12-26 | 2018-12-26 | 비전 검사 시스템 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102172724B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20230102433A (ko) * | 2021-12-30 | 2023-07-07 | 주식회사 선익시스템 | 인라인 증착 시스템 및 인라인 증착 시스템의 기판 얼라인 방법 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111812832A (zh) * | 2020-07-31 | 2020-10-23 | 北京兆维电子(集团)有限责任公司 | 物镜调节组件及其oled显示器件缺陷检查装置 |
CN112919078A (zh) * | 2021-02-25 | 2021-06-08 | 凌云工业股份有限公司 | 一种夹紧旋转送料装置 |
CN112875300B (zh) * | 2021-03-31 | 2024-12-17 | 谭学卫 | 一种玻璃片高精度高效率转移设备 |
CN113281339A (zh) * | 2021-06-22 | 2021-08-20 | 湖南腾远智能设备有限公司 | 一种检测装置 |
CN114646260B (zh) * | 2021-12-25 | 2024-03-22 | 力邦测控设备(洛阳)有限公司 | 一种滑靴视觉检测机 |
CN114234812B (zh) * | 2021-12-25 | 2024-03-22 | 力邦测控设备(洛阳)有限公司 | 一种应用于滑靴视觉检测机的多工位工作台 |
CN114354646A (zh) * | 2021-12-27 | 2022-04-15 | 昆山科欣达电子科技有限公司 | 一站式键盘外观检测机 |
CN116297516A (zh) * | 2023-03-16 | 2023-06-23 | 广德众泰科技有限公司 | 一种全自动化aoi组合光学检测系统 |
CN118205860B (zh) * | 2024-01-31 | 2024-10-01 | 江苏芯研智能数字技术有限公司 | 一种方便上下料的视觉检测设备 |
CN118301445B (zh) * | 2024-06-03 | 2024-08-20 | 晟鼎智能科技(西安)有限公司 | 一种基于计算机视觉的检测装置 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20060067280A (ko) * | 2004-12-14 | 2006-06-19 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 마스크 정렬 장치 및 방법 |
KR20150068630A (ko) * | 2013-12-12 | 2015-06-22 | 삼성전자주식회사 | 기판 정렬 장치 |
KR101659587B1 (ko) * | 2015-11-18 | 2016-09-23 | (주)오로스테크놀로지 | 표면 결함 검사 장치 |
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- 2018-12-26 KR KR1020180169415A patent/KR102172724B1/ko active IP Right Grant
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20230102433A (ko) * | 2021-12-30 | 2023-07-07 | 주식회사 선익시스템 | 인라인 증착 시스템 및 인라인 증착 시스템의 기판 얼라인 방법 |
KR102751571B1 (ko) | 2021-12-30 | 2025-01-09 | 주식회사 선익시스템 | 인라인 증착 시스템 및 인라인 증착 시스템의 기판 얼라인 방법 |
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---|---|
KR20200079825A (ko) | 2020-07-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20181226 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20200316 Patent event code: PE09021S01D |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20201012 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20201027 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20201027 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20241028 Start annual number: 5 End annual number: 5 |