KR102166017B1 - Pattern film for transferring display pixel and method for manufacturing display using the same - Google Patents

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Abstract

본 출원의 일 실시상태에 따른 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름은, 기재; 및 상기 기재 상에 구비되고, 표면에 돌기 패턴을 포함하는 폴리디메틸실록산계 필름을 포함하고, 상기 돌기 패턴을 구성하는 돌기의 형태는 다각기둥 또는 원기둥 형태이고, 상기 돌기의 상부 표면은 플랫(flat)한 형태이며, 상기 돌기 패턴의 높이는 20 내지 50㎛ 이고, 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 상부면을 기준으로, 상기 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율은 5% 이하이다.The pattern film for display pixel transfer according to an exemplary embodiment of the present application includes: a substrate; And a polydimethylsiloxane-based film provided on the substrate and including a protrusion pattern on a surface, the shape of the protrusion constituting the protrusion pattern is a polygonal column or a cylindrical shape, and the upper surface of the protrusion is flat. ), the height of the protrusion pattern is 20 to 50 μm, and the area ratio occupied by the protrusion pattern is 5% or less based on the upper surface of the polydimethylsiloxane-based film.

Description

디스플레이 화소 전사용 패턴 필름 및 이를 이용한 디스플레이의 제조방법{PATTERN FILM FOR TRANSFERRING DISPLAY PIXEL AND METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY USING THE SAME}Pattern film for display pixel transfer and manufacturing method of display using the same {PATTERN FILM FOR TRANSFERRING DISPLAY PIXEL AND METHOD FOR MANUFACTURING DISPLAY USING THE SAME}

본 출원은 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름 및 이를 이용한 디스플레이의 제조방법에 관한 것이다.The present application relates to a pattern film for display pixel transfer and a method of manufacturing a display using the same.

최근 LED(Light Emitting Diode: 발광소자)로 구성된 조명기구 등은 기존의 백열등 또는 형광등에 비해 수명이 길고 상대적으로 저전력을 소비하며 제조공정에서 오염물질을 배출하지 않는 장점 등으로 인하여 수요가 폭발적으로 증가하고 있으며, LED는 발광을 이용한 표시 장치는 물론이고 조명장치나 LCD 표시장치의 백라이트 소자에도 응용되는 등 적용 영역이 점차 다양해지고 있다.Recently, luminaires made of LED (Light Emitting Diode) have a longer lifespan than conventional incandescent or fluorescent lamps, consume relatively low power, and have an explosive increase in demand due to the advantages of not emitting pollutants in the manufacturing process. In addition, LEDs are applied not only to display devices using light emission, but also to backlight devices of lighting devices or LCD display devices.

특히, LED는 비교적 낮은 전압으로 구동이 가능하면서도 높은 에너지 효율로 인해 발열이 낮고 수명이 긴 장점이 있으며, 종래에는 구현이 어려웠던 백색광을 고휘도로 제공할 수 있는 기술이 개발됨에 따라 현재 사용되고 있는 대부분의 광원 장치를 대체할 수 있을 것으로 기대하고 있다.In particular, LEDs can be driven with a relatively low voltage, but have low heat generation and long lifespan due to high energy efficiency. As a technology that can provide white light, which was difficult to implement in the past, has been developed, most of the currently used It is expected to be able to replace the light source device.

대한민국 특허공개공보 제10-2015-0033169호Korean Patent Publication No. 10-2015-0033169

본 출원은 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름 및 이를 이용한 디스플레이의 제조방법을 제공하고자 한다.The present application is to provide a pattern film for transfer of display pixels and a method of manufacturing a display using the same.

본 출원의 일 실시상태는,An exemplary embodiment of the present application,

기재; 및materials; And

상기 기재 상에 구비되고, 표면에 돌기 패턴을 포함하는 폴리디메틸실록산계 필름을 포함하고,It is provided on the substrate and includes a polydimethylsiloxane-based film including a protrusion pattern on the surface,

상기 돌기 패턴을 구성하는 돌기의 형태는 다각기둥 또는 원기둥 형태이고, 상기 돌기의 상부 표면은 플랫(flat)한 형태이며,The shape of the protrusion constituting the protrusion pattern is a polygonal column or a cylindrical shape, and the upper surface of the protrusion is a flat shape,

상기 돌기 패턴의 높이는 20 내지 50㎛ 이고,The height of the protrusion pattern is 20 to 50 μm,

상기 폴리디메틸실록산계 필름의 상부면을 기준으로, 상기 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율은 5% 이하인 것인 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 제공한다.A display pixel transfer pattern film is provided in which the area ratio occupied by the protrusion pattern is 5% or less based on the upper surface of the polydimethylsiloxane-based film.

또한, 본 출원의 다른 실시상태는,In addition, another exemplary embodiment of the present application,

상기 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 준비하는 단계;Preparing the display pixel transfer pattern film;

상기 돌기 패턴의 표면 상에 디스플레이 화소를 구비시키는 단계; 및Providing a display pixel on the surface of the protruding pattern; And

상기 디스플레이 화소를 디스플레이용 전극 기판에 전사하는 단계Transferring the display pixel to an electrode substrate for a display

를 포함하는 디스플레이의 제조방법을 제공한다.It provides a method of manufacturing a display comprising a.

본 출원의 일 실시상태에 따르면, 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 표면에 돌기 패턴이 형성되어 있으므로, 디스플레이 화소의 전사시 전극 표면과 폴리디메틸실록산계 필름의 접촉면을 줄일 수 있고, 상기 디스플레이 화소의 전사 이후에 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 이형 특성이 우수하다.According to an exemplary embodiment of the present application, since the protrusion pattern is formed on the surface of the polydimethylsiloxane-based film, the contact surface between the electrode surface and the polydimethylsiloxane-based film can be reduced when transferring the display pixel, and transfer of the display pixel After that, the polydimethylsiloxane-based film has excellent release properties.

또한, 본 출원의 일 실시상태에 따르면, 상기 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 이용하는 경우에는, 웨이퍼 상에 형성된 발광소자 칩들 중에서 특정 간격의 발광소자 칩만이 선택적으로 접촉되므로, 상기 웨이퍼의 오염을 방지할 수 있는 특징이 있다.In addition, according to an exemplary embodiment of the present application, in the case of using the display pixel transfer pattern film, only light emitting device chips having a specific interval are selectively contacted among the light emitting device chips formed on the wafer, thereby preventing contamination of the wafer. There are features that can be.

도 1 및 도 2는 본 출원의 일 실시상태에 따른 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 개략적으로 나타낸 도이다.
도 3은 본 출원의 일 실시상태로서, 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율을 계산하는 방법을 개략적으로 나타낸 도이다.
1 and 2 are diagrams schematically illustrating a pattern film for transferring a display pixel according to an exemplary embodiment of the present application.
3 is a diagram schematically illustrating a method of calculating an area ratio occupied by a protruding pattern as an exemplary embodiment of the present application.

이하 본 출원에 대하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the present application will be described in detail.

전사(transfer)란 단일 또는 다수의 마이크로 LED를 상대기판에 이송하는 일련의 행위이다. 기존 LED 단일 칩을 이송하는 방법으로는 Pick & Place 장비를 활용하여 패키징 공정에서 적용하여 왔으나, LED 크기가 수 마이크로까지 작아짐에 따라 고정밀도로 이송하는 기술이 필요하다. 이를 위해 현재까지는 직접전사와 인쇄전사 2가지 방법으로 기술 개발이 이루어지고 있다. 직접전사는 이송하고자 하는 재료 또는 박막을 목표기판에 직접 접합하는 기술이며, 인쇄전사는 정전 또는 접합 스탬프(stamp)와 같은 중간 매개체를 활용하는 기술로 정의할 수 있다. 직접전사와 인쇄전사 방식의 대표적인 기술은 다음과 같다.Transfer is a series of actions that transfer single or multiple micro LEDs to a counter substrate. As a method of transferring a single chip of an existing LED, it has been applied in the packaging process using Pick & Place equipment, but as the size of the LED is reduced to several microns, a technology to transfer it with high precision is required. To this end, technology has been developed in two ways, direct transfer and print transfer. Direct transfer is a technology in which a material or thin film to be transferred is directly bonded to a target substrate, and print transfer can be defined as a technique that utilizes an intermediate medium such as electrostatic or bonding stamp. Representative technologies of direct transfer and print transfer are as follows.

직접전사 방식은 p-type의 GaN를 식각 공정으로 수 마이크로 크기로 분리시킨 후에 CMOS와 같은 미세 스위칭 소자가 형성된 기판에 직접 접합하는 방식이다. 필요에 따라 성장기판으로 사용한 실리콘 또는 사파이어 기판이 제거될 수 있으며, 단일 크기로 분리된 수 마이크로 크기의 GaN 개별 소자는 스위칭 미세전자소자와 결합하여 동작 전류 조절이 용이하도록 제작할 수 있다. 이 방법의 경우 LED 제조 및 전사방법이 용이하다는 장점이 있으나 각 소자의 품질 관리가 매우 중요한 요소가 된다.The direct transfer method is a method in which p-type GaN is separated into several microns by an etching process and then directly bonded to a substrate on which a fine switching device such as CMOS is formed. If necessary, the silicon or sapphire substrate used as the growth substrate may be removed, and individual GaN devices of a size of several microns separated into a single size may be combined with a switching microelectronic device to facilitate operation current control. This method has the advantage of easy LED manufacturing and transfer, but quality control of each device becomes a very important factor.

인쇄형 전사방법으로 현재까지 두 가지 방법이 있는 것으로 알려져 있다. 첫 번째 방법으로 미국의 Luxvue 사가 정전헤드(electrostatic head)를 이용하는 방법을 제안하였다. 실리콘 재질로 만들어진 헤드 부분에 전압을 인가함으로써 대전현상에 의해 마이크로 LED와 밀착력이 발생하게 하는 원리이다. 이 방법의 경우 원하는 영역 또는 단일 소자를 선택적으로 이송할 수 있는 장점이 있으나, 정전 유도시 헤드에 인가된 전압에 의해 대전 현상에 의한 마이크로 LED 손상에 대한 문제가 발생할 수 있다. 두 번째 방법으로 미국의 X-Celeprint 사가 개발한 방법으로서 전사 헤드를 탄성이 있는 고분자 물질로 적용하여 웨이퍼 상의 LED를 원하는 기판에 이송시키는 방법이다. 정전헤드 방식에 비해 LED 손상에 대한 문제점은 없으나, 전사 과정에서 목표기판의 접착력 대비 탄성전사 헤드의 접착력이 더 커야 안정적으로 마이크로 LED를 이송시킬 수 있으며, 전극 형성을 위한 추가 공정이 필요한 단점이 있다. 또한, 탄성 고분자 물질의 접착력을 지속적으로 유지하는 것도 매우 중요한 요소로 작용하게 된다.It is known that there are two methods of printing type transfer until now. As the first method, Luxvue of the United States proposed a method using an electrostatic head. It is a principle that the contact force with the micro LED is generated by the charging phenomenon by applying voltage to the head made of silicon material. This method has the advantage of being able to selectively transfer a desired area or a single element, but there may be a problem of damage to the micro LED due to charging due to a voltage applied to the head during induction of a power failure. The second method, developed by X-Celeprint of the United States, is a method of transferring the LED on the wafer to a desired substrate by applying a transfer head with an elastic polymer material. Compared to the electrostatic head method, there is no problem for damage to the LED, but in the transfer process, the micro LED can be stably transferred only when the adhesive force of the elastic transfer head is greater than that of the target substrate, and there is a disadvantage that an additional process for electrode formation is required. . In addition, maintaining the adhesive strength of the elastic polymer material continuously acts as a very important factor.

이에 본 출원에서는, 전사 특성이 우수한 디스플레이 화소 형성을 위한 전사용 패턴 필름을 제공하고자 한다.Accordingly, in the present application, it is intended to provide a transfer pattern film for forming a display pixel having excellent transfer characteristics.

본 출원의 일 실시상태에 따른 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름은, 기재; 및 상기 기재 상에 구비되고, 표면에 돌기 패턴을 포함하는 폴리디메틸실록산계 필름을 포함하고, 상기 돌기 패턴을 구성하는 돌기의 형태는 다각기둥 또는 원기둥 형태이고, 상기 돌기의 상부 표면은 플랫(flat)한 형태이며, 상기 돌기 패턴의 높이는 20 내지 50㎛ 이고, 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 상부면을 기준으로, 상기 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율은 5% 이하이다.The pattern film for display pixel transfer according to an exemplary embodiment of the present application includes: a substrate; And a polydimethylsiloxane-based film provided on the substrate and including a protrusion pattern on a surface, the shape of the protrusion constituting the protrusion pattern is a polygonal column or a cylindrical shape, and the upper surface of the protrusion is flat. ), the height of the protrusion pattern is 20 to 50 μm, and the area ratio occupied by the protrusion pattern is 5% or less based on the upper surface of the polydimethylsiloxane-based film.

본 출원에 있어서, 상기 디스플레이 화소는 발광소자 칩(LED CHIP) 일 수 있다. 상기 발광소자 칩의 크기는 가로, 세로의 크기가 각각 10 내지 100㎛ 일 수 있고, 25 내지 50㎛ 일 수 있다.In the present application, the display pixel may be a light emitting device chip (LED CHIP). The size of the light emitting device chip may be 10 to 100 μm in width and length, respectively, and may be 25 to 50 μm.

본 출원에 있어서, 상기 기재는 투명성, 표면평활성, 취급용이성 및 방수성이 우수한 유리 기재 또는 투명 플라스틱 기재가 될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며, 전자 소자에 통상적으로 사용되는 투명 기재이면 제한되지 않는다. 구체적으로, 상기 투명 기재로는 유리; 폴리카보네이트계 수지; 우레탄 수지; 폴리이미드 수지; 폴리에스테르수지; (메타)아크릴레이트계 고분자 수지; 폴리에틸렌 또는 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀계 수지 등으로 이루어진 것이 될 수 있다.In the present application, the substrate may be a glass substrate or a transparent plastic substrate having excellent transparency, surface smoothness, ease of handling and waterproofness, but is not limited thereto, and any transparent substrate commonly used in electronic devices is not limited. Specifically, as the transparent substrate, glass; Polycarbonate resin; Urethane resin; Polyimide resin; Polyester resin; (Meth)acrylate polymer resin; It may be made of a polyolefin resin such as polyethylene or polypropylene.

상기 기재의 두께는 100 내지 1,000㎛ 일 수 있고, 300 내지 700㎛ 일 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다.The thickness of the substrate may be 100 to 1,000 μm, and may be 300 to 700 μm, but is not limited thereto.

본 출원에 있어서, 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 상부면을 기준으로, 상기 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율은 5% 이하일 수 있고, 1 내지 5% 일 수 있으며, 1 내지 3.5% 일 수 있다. 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 상부면을 기준으로, 상기 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율이 5%를 초과하는 경우에는 전사 공정 중 전극 기판과의 탈착이 어려워질 수 있고, 1% 미만인 경우에는 돌기 상면에 발광소자 칩이 정위치에 안착할 수 있는 여유 공간이 부족하여 위치 얼라인 불량이 발생할 수 있다.In the present application, based on the upper surface of the polydimethylsiloxane-based film, the area ratio occupied by the protrusion pattern may be 5% or less, 1 to 5%, and 1 to 3.5%. Based on the upper surface of the polydimethylsiloxane-based film, if the area ratio occupied by the protrusion pattern exceeds 5%, it may become difficult to detach from the electrode substrate during the transfer process, and if less than 1%, the upper surface of the protrusion A positional alignment defect may occur due to insufficient free space in which the light emitting device chip can be seated in the correct position.

상기 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율은 하기 도 3 및 수학식 1로 계산될 수 있다.The area ratio occupied by the protrusion pattern may be calculated by the following FIG. 3 and Equation 1.

[수학식 1][Equation 1]

돌기 패턴이 차지하는 면적 비율(%) = [(a × b) / Pitch2] × 100The percentage of the area occupied by the protrusion pattern (%) = [(a × b) / Pitch 2 ] × 100

상기 수학식 1에서,In Equation 1,

(a × b)는 돌기의 상부면적이고, Pitch는 돌기 패턴의 피치이다.(a × b) is the upper area of the protrusion, and Pitch is the pitch of the protrusion pattern.

본 출원에 있어서, 상기 돌기 패턴을 구성하는 돌기의 형태는 다각기둥 또는 원기둥 형태이고, 상기 돌기의 상부 표면은 플랫(flat)한 형태인 것을 특징으로 한다. 보다 구체적으로, 상기 돌기 패턴을 구성하는 돌기의 형태는 사각기둥, 원기둥 등의 기둥 형태일 수 있으며, 상기 돌기의 표면은 플랫(flat)한 형태라야 발광소자 칩의 파손 등의 위험을 줄일 수 있다. 본 출원에 있어서, 상기 "플랫한 형태"는 10점 표면 거칠기, Rz 기준으로 0.5㎛ 이하인 것을 의미하기로 한다. 상기 Rz는 Mitutoyo SJ301 측정장비로 측정할 수 있다.In the present application, the shape of the protrusion constituting the protrusion pattern is a polygonal column or a cylindrical shape, and the upper surface of the protrusion is characterized in that it has a flat shape. More specifically, the shape of the protrusion constituting the protrusion pattern may be a pillar shape such as a square pillar or a cylinder, and the surface of the protrusion has a flat shape to reduce the risk of damage to the light emitting device chip. . In the present application, the "flat shape" shall mean that the surface roughness of 10 points is 0.5 μm or less based on Rz. The Rz can be measured with a Mitutoyo SJ301 measuring device.

상기 돌기의 상부면적은 디스플레이 해상도 및 설계구조에 따라 상이할 수 있고, 보다 구체적으로 디스플레이 화소의 크기의 10 내지 20배일 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다. 또한, 상기 돌기 패턴을 구성하는 돌기의 형태는 사각기둥일 수 있고, 이 때 상기 사각기둥의 상부면적은 100㎛ × 200㎛, 100㎛ × 150㎛ 등일 수 있다.The upper area of the protrusion may vary depending on the display resolution and design structure, and more specifically, may be 10 to 20 times the size of the display pixel, but is not limited thereto. In addition, the shape of the protrusion constituting the protrusion pattern may be a square pillar, and in this case, the upper area of the square pillar may be 100 μm × 200 μm, 100 μm × 150 μm, or the like.

본 출원에 있어서, 상기 돌기 패턴의 높이는 20 내지 50㎛ 일 수 있다. 상기 돌기 패턴의 높이가 20㎛ 미만인 경우에는, 높이 단차가 충분하지 못하기 때문에 아주 약한 전사압력에 의해서도 폴리디메틸실록산계 필름의 변형을 유발시켜 전면적으로 접촉하게 되며, 50㎛를 초과하는 경우에는 패턴 복제 및 마스터몰드 수급 등이 어려워지는 단점이 있다.In the present application, the height of the protrusion pattern may be 20 to 50 μm. If the height of the protrusion pattern is less than 20 μm, the height level difference is not sufficient, so even a very weak transfer pressure causes the polydimethylsiloxane film to be deformed and is in full contact. If it exceeds 50 μm, the pattern There is a disadvantage that it becomes difficult to duplicate and supply and demand a master mold.

또한, 상기 돌기 패턴 간의 간격, 즉 돌기 패턴의 피치는 디스플레이 해상도에 의해 결정될 수 있고, 수율 등을 고려한 서브픽셀의 반복 형태도 포함될 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 돌기 패턴의 피치는 700 내지 900㎛ 일 수 있고, 약 800㎛ 일 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다.In addition, the spacing between the protruding patterns, that is, the pitch of the protruding patterns, may be determined by the display resolution, and a repetition type of sub-pixels in consideration of a yield and the like may be included. More specifically, the pitch of the protrusion pattern may be 700 to 900 μm, and may be about 800 μm, but is not limited thereto.

상기 돌기 패턴의 피치는 디스플레이 해상도에 따라 임의로 변경될 수 있으나, 돌기 피치가 일정 이하일 경우에는 전사시 접촉하는 면적이 상대적으로 많아질 수 있기 때문에 탈착에는 불리하게 된다. 따라서, 본 출원에 있어서, 발광소자 칩의 선택적인 전사를 위한 돌기 패턴의 피치는 700 내지 900㎛인 것이 바람직하다. 상기 돌기 패턴의 피치가 700㎛ 미만인 경우에는 전사하고자 하는 화소(픽셀)의 크기가 너무 작게 설계되는 등 적용이 어려운 단점이 있다.The pitch of the protrusion pattern can be arbitrarily changed according to the display resolution, but if the protrusion pitch is less than a certain amount, the contact area during transfer may be relatively increased, which is disadvantageous for detachment. Therefore, in the present application, it is preferable that the pitch of the protrusion pattern for selective transfer of the light emitting device chip is 700 to 900 μm. If the pitch of the protrusion pattern is less than 700 μm, there is a disadvantage that it is difficult to apply, such as the size of the pixel (pixel) to be transferred is designed too small.

본 출원에 있어서, 상기 돌기 패턴은 웨이퍼 상의 발광소자 칩(LED CHIP)을 특정 픽셀 피치만큼 떨어진 칩만을 선택적으로 전사하기 위한 것으로서, 특정 화소 칩들에 한해 선택적으로 접촉시켜 전사시킴으로써 불필요한 접촉, 오염 등을 방지할 수 있고, 발광소자 칩의 탈착이 용이할 수 있다.In the present application, the protrusion pattern is for selectively transferring the LED chip on the wafer by a specific pixel pitch, and by selectively contacting and transferring only specific pixel chips, unnecessary contact, contamination, etc. Can be prevented, and the light emitting device chip can be easily detached.

본 출원에 있어서, 상기 표면에 돌기 패턴을 포함하는 폴리디메틸실록산계 필름은 상기 돌기 패턴에 대응되는 홈부 패턴을 포함하는 마스터 몰드로부터 제조될 수 있다. 상기 홈부 패턴을 포함하는 마스터 몰드는 당 기술분야에 알려진 방법을 이용하여 제조할 수 있으며, 보다 구체적으로 포토리소그래피법을 이용하여 제조할 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다.In the present application, the polydimethylsiloxane-based film including a protrusion pattern on the surface may be manufactured from a master mold including a groove pattern corresponding to the protrusion pattern. The master mold including the groove pattern may be manufactured using a method known in the art, and more specifically, may be manufactured using a photolithography method, but is not limited thereto.

상기 폴리디메틸실록산계 필름은 몰드 복제 및 이형성이 우수하므로, 본 출원에 따른 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름에 보다 효과적으로 적용될 수 있다. 종래의 복제 용도로 주로 이용되는 UV 경화형 폴리우레탄계 수지(PUA, Poly Urethane Acrylate)는 전사특성에 영향을 주는 적절한 경도 및 점착력 부여가 힘들다는 단점이 있다.Since the polydimethylsiloxane-based film has excellent mold reproduction and releasability, it can be more effectively applied to the pattern film for display pixel transfer according to the present application. The conventional UV-curable polyurethane-based resin (PUA, Poly Urethane Acrylate), which is mainly used for replication, has a disadvantage in that it is difficult to impart proper hardness and adhesion that affect the transfer characteristics.

종래에는 폴리디메틸실록산계 필름 표면의 자기점착 특성 때문에, 원하는 전극 기판에 디스플레이 화소를 전사한 후 상기 폴리디메틸실록산계 필름을 이형시키는 것이 매우 어려웠다. 그러나, 본 출원에서는 폴리디메틸실록산계 필름의 표면에 특정 면적비율과 높이를 가지는 돌기 패턴을 형성함으로써, 디스플레이 화소의 전사시 전극 표면과 폴리디메틸실록산계 필름의 접촉면을 줄일 수 있고, 상기 디스플레이 화소의 전사 이후에 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 이형 특성이 우수한 장점이 있다.Conventionally, due to the self-adhesive property of the surface of the polydimethylsiloxane-based film, it has been very difficult to release the polydimethylsiloxane-based film after transferring a display pixel to a desired electrode substrate. However, in the present application, by forming a protrusion pattern having a specific area ratio and height on the surface of the polydimethylsiloxane-based film, the contact surface between the electrode surface and the polydimethylsiloxane-based film can be reduced when the display pixel is transferred, and After transfer, the polydimethylsiloxane-based film has an advantage of excellent release characteristics.

상기 폴리디메틸실록산계 필름의 두께는 200 내지 800㎛ 일 수 있고, 치수변형 등을 고려할 때 300 내지 600㎛ 일 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다.The thickness of the polydimethylsiloxane-based film may be 200 to 800 μm, and may be 300 to 600 μm in consideration of dimensional change, but is not limited thereto.

본 출원에 있어서, 상기 돌기 패턴 표면의 점착력은 600 gf/cm2 이하일 수 있다. 상기 돌기 패턴 표면의 점착력은 상기 돌기 패턴 표면에 대해 1cm × 1cm 면적의 유리 기판을 1,000gf 하중으로 30초간 접촉시킨 후, 이형시킬 때 걸리는 최대 하중값이다. 또한, 상기 돌기 패턴 표면의 점착력은 300 gf/cm2 이상일 수 있다. 상기 돌기 패턴 표면의 점착력이 300 gf/cm2 미만인 경우에는 공정간 핸들링 시 충분하지 않은 점착력으로 인해 발광 소자 칩이 떨어져 소실되거나 불필요한 회전이 발생할 수 있다.In the present application, the adhesive force of the protrusion pattern surface may be 600 gf/cm 2 or less. The adhesive force of the protrusion pattern surface is the maximum load applied when the glass substrate having an area of 1 cm × 1 cm is brought into contact with the protrusion pattern surface for 30 seconds under a load of 1,000 gf for 30 seconds and then released. In addition, the adhesive force of the protrusion pattern surface may be 300 gf/cm 2 or more. If the adhesive force of the protrusion pattern surface is less than 300 gf/cm 2 , the light emitting device chip may fall off due to insufficient adhesive force during inter-process handling, or unnecessary rotation may occur.

본 출원에 있어서, 상기 기재와 폴리디메틸실록산계 필름 사이에 접착층을 추가로 포함할 수 있다.In the present application, an adhesive layer may be additionally included between the substrate and the polydimethylsiloxane-based film.

상기 접착층은 당 기술분야에 알려진 재료를 이용할 수 있고, 보다 구체적으로 감압 접착제(PSA)를 이용할 수 있고, 아크릴계 접착제, 합성고무 접착제 등을 이용할 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 출원의 일 실시상태에 있어서, 상기 접착층은 양면 PSA를 이용할 수 있고, 이 때 상기 양면 PSA의 한 쪽 면에는 실리콘계 접착제를 포함하고, 다른 한 쪽 면에는 아크릴계 접착제를 포함할 수 있으며, 이에 의하여 이종물질에 대한 접착이 우수할 수 있다.The adhesive layer may use a material known in the art, more specifically a pressure-sensitive adhesive (PSA), an acrylic adhesive, a synthetic rubber adhesive, etc., but is not limited thereto. In addition, in the exemplary embodiment of the present application, the adhesive layer may use a double-sided PSA, and in this case, one side of the double-sided PSA may include a silicone-based adhesive, and the other side may include an acrylic adhesive, Accordingly, adhesion to different materials may be excellent.

상기 접착층의 두께는 30 내지 300㎛ 일 수 있고, 50 내지 150㎛ 일 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다.The thickness of the adhesive layer may be 30 to 300 μm, and may be 50 to 150 μm, but is not limited thereto.

본 출원의 일 실시상태에 따른 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 하기 도 1 및 도 2에 개략적으로 나타내었다.A pattern film for transferring a display pixel according to an exemplary embodiment of the present application is schematically illustrated in FIGS. 1 and 2 below.

또한, 본 출원의 일 실시상태에 따른 디스플레이의 제조방법은, 상기 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 준비하는 단계; 상기 돌기 패턴의 표면 상에 디스플레이 화소를 구비시키는 단계; 및 상기 디스플레이 화소를 디스플레이용 전극 기판에 전사하는 단계를 포함한다.In addition, a method of manufacturing a display according to an exemplary embodiment of the present application may include preparing a pattern film for transferring the display pixels; Providing a display pixel on the surface of the protruding pattern; And transferring the display pixel to an electrode substrate for a display.

상기 돌기 패턴의 표면 상에 디스플레이 화소를 구비시키는 단계는, 레이저를 이용한 리프트-오프(lift-off) 기술로 수행될 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다.The step of providing the display pixel on the surface of the protrusion pattern may be performed by a lift-off technique using a laser, but is not limited thereto.

상기 디스플레이 화소를 디스플레이용 전극 기판에 전사하는 단계는, 적절한 전사 압력에 의해 점착기능이 부여된 전극 기판에 부착시키는 방법을 이용할 수 있다.In the step of transferring the display pixels to the electrode substrate for display, a method of attaching the display pixels to the electrode substrate to which the adhesive function has been imparted by an appropriate transfer pressure may be used.

또한, 본 출원의 일 실시상태에 따르면, 상기 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 이용하는 경우에는, 웨이퍼 상에 형성된 발광소자 칩들 중에서 특정 간격의 발광소자 칩만이 선택적으로 접촉되므로, 상기 웨이퍼의 오염을 방지할 수 있는 특징이 있다.In addition, according to an exemplary embodiment of the present application, in the case of using the display pixel transfer pattern film, only light emitting device chips having a specific interval are selectively contacted among the light emitting device chips formed on the wafer, thereby preventing contamination of the wafer. There are features that can be.

이하, 실시예를 통하여 본 명세서에 기재된 실시상태를 예시한다. 그러나, 이하의 실시예에 의하여 상기 실시상태들의 범위가 한정되는 것을 의도하는 것은 아니다.Hereinafter, exemplary embodiments described in the present specification are illustrated through examples. However, it is not intended to limit the scope of the embodiments by the following embodiments.

<< 실시예Example >>

<< 실시예Example 1> 1>

평탄도가 10㎛ 이하인 석정반 위에 돌기 패턴(깊이 20㎛)이 음각으로 형성된 마스터 몰드를 이용하여 갭어플리케이터로 폴리디메틸실록산(PDMS, Dow社 몰드용 제품)을 약 400㎛ 수준으로 코팅하여 상온에서 24시간 경화시켰다. 마스터 몰드의 제작은 포토리소그래피 공정을 이용하고 실리콘이나 유리의 식각 또는 광반응성 수지 등을 이용하여 제작하였다.Using a master mold in which a protrusion pattern (20 µm in depth) was formed in an intaglio on a stone table with a flatness of 10 µm or less, polydimethylsiloxane (PDMS, Dow’s mold product) was coated with a gap applicator at a level of about 400 µm at room temperature. Cured for 24 hours. The master mold was fabricated using a photolithography process, etching of silicon or glass, or photoreactive resin.

상기 경화된 상태의 PDMS 위에 코팅이나 합지방법으로 실리콘계 PSA를 덮고, 그 상태에서 폴리카보네이트 기판을 합지하고 한쪽에서부터 서서히 복제/이형시킴으로써, 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 제조하였다. 상기 제조된 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름의 돌기 패턴의 높이는 20㎛ 이고, 피치는 800㎛ 이며, 상부면적은 (100㎛ × 200㎛) 였다. 상기 수학식 1로 계산한 돌기 패턴이 차지하는 면적비율은 3.1% 였다.A silicon-based PSA was covered on the cured PDMS by a coating or laminating method, and a polycarbonate substrate was laminated in that state and gradually duplicated/released from one side to prepare a pattern film for display pixel transfer. The height of the projection pattern of the prepared display pixel transfer pattern film was 20 μm, the pitch was 800 μm, and the top area was (100 μm×200 μm). The area ratio occupied by the protrusion pattern calculated by Equation 1 was 3.1%.

<< 실시예Example 2> 2>

상기 실시예 1에서, 상기 마스터 몰드의 음각으로 형성된 돌기 패턴의 깊이를 50㎛로 조절한 것 이외에는 상기 실시예 1과 동일하게 수행하였다. 상기 제조된 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름의 돌기 패턴의 높이는 50㎛ 이고, 피치는 800㎛ 이며, 상부면적은 (100㎛ × 200㎛) 였다. 상기 수학식 1로 계산한 돌기 패턴이 차지하는 면적비율은 3.1% 였다.In Example 1, it was carried out in the same manner as in Example 1, except that the depth of the protrusion pattern formed by engraving the master mold was adjusted to 50 μm. The height of the protrusion pattern of the prepared display pixel transfer pattern film was 50 μm, the pitch was 800 μm, and the top area was (100 μm×200 μm). The area ratio occupied by the protrusion pattern calculated by Equation 1 was 3.1%.

<< 비교예Comparative example 1> 1>

상기 실시예 1에서, 상기 마스터 몰드로서 돌기 패턴이 없는 것을 이용한 것 이외에는 상기 실시예 1과 동일하게 수행하였다.In Example 1, it was carried out in the same manner as in Example 1, except that the master mold having no protrusion pattern was used.

<< 비교예Comparative example 2> 2>

상기 실시예 1에서, 상기 마스터 몰드의 음각으로 형성된 돌기 패턴의 깊이를 6㎛로 조절한 것 이외에는 상기 실시예 1과 동일하게 수행하였다. 상기 제조된 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름의 돌기 패턴의 높이는 6㎛ 이고, 피치는 800㎛ 이며, 상부면적은 (100㎛ × 200㎛) 였다. 상기 수학식 1로 계산한 돌기 패턴이 차지하는 면적비율은 3.1% 였다.In Example 1, it was carried out in the same manner as in Example 1, except that the depth of the protrusion pattern formed by engraving of the master mold was adjusted to 6 μm. The height of the protrusion pattern of the prepared display pixel transfer pattern film was 6 μm, the pitch was 800 μm, and the top area was (100 μm×200 μm). The area ratio occupied by the protrusion pattern calculated by Equation 1 was 3.1%.

<< 비교예Comparative example 3> 3>

상기 실시예 1에서, 상기 마스터 몰드의 음각으로 형성된 돌기 패턴의 깊이를 9㎛로 조절한 것 이외에는 상기 실시예 1과 동일하게 수행하였다. 상기 제조된 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름의 돌기 패턴의 높이는 9㎛ 이고, 피치는 800㎛ 이며, 상부면적은 (100㎛ × 200㎛) 였다. 상기 수학식 1로 계산한 돌기 패턴이 차지하는 면적비율은 3.1% 였다.In Example 1, it was carried out in the same manner as in Example 1, except that the depth of the protrusion pattern formed by engraving of the master mold was adjusted to 9 μm. The height of the protrusion pattern of the prepared display pixel transfer pattern film was 9 μm, the pitch was 800 μm, and the top area was (100 μm×200 μm). The area ratio occupied by the protrusion pattern calculated by Equation 1 was 3.1%.

<< 실험예Experimental example >>

상기 실시예 1 ~ 2 및 비교예 1 ~ 3의 필름의 점착력 및 전사평가를 수행하여 하기 표 1에 나타내었다.The adhesion and transfer evaluation of the films of Examples 1 to 2 and Comparative Examples 1 to 3 were performed, and are shown in Table 1 below.

하기 점착력은 상기 돌기 패턴 표면에 대해 1cm × 1cm 면적의 유리 기판을 1,000gf 하중으로 30초간 접촉시킨 후, 이형시킬 때 걸리는 최대 하중값을 측정하였다.The following adhesive strength was measured for the maximum load applied when the glass substrate having an area of 1 cm x 1 cm was contacted with a 1,000 gf load for 30 seconds with respect to the protrusion pattern surface, and then released.

하기 전사평가는 전사장비에 의해 평가하였다. 보다 구체적으로, 하부의 전극 기판과 상부의 돌기 패턴(w/chip)간 위치를 얼라인한 후, 압력에 의해 서로 접촉시켜 전사공정을 수행하였다. 이후 상하부의 기판과 패턴 전사 필름(100 × 100mm)이 분리(10㎛/sec)될 때 진공흡착상태가 해제되어 분리할 수 없는 경우가 발생할 경우 불량으로 판단하였다.The following transcription evaluation was evaluated by the transfer equipment. More specifically, after aligning the positions between the lower electrode substrate and the upper protrusion pattern (w/chip), the transfer process was performed by making contact with each other by pressure. Thereafter, when the upper and lower substrates and the pattern transfer film (100 × 100 mm) were separated (10 μm/sec), the vacuum adsorption state was released and a case in which separation was not possible was judged as a failure.

[표 1][Table 1]

Figure 112017093962810-pat00001
Figure 112017093962810-pat00001

상기 결과와 같이, 본 출원의 일 실시상태에 따르면, 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 표면에 돌기 패턴이 형성되어 있으므로, 디스플레이 화소의 전사시 전극 표면과 폴리디메틸실록산계 필름의 접촉면을 줄일 수 있고, 상기 디스플레이 화소의 전사 이후에 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 이형 특성이 우수하다.As described above, according to the exemplary embodiment of the present application, since the protrusion pattern is formed on the surface of the polydimethylsiloxane-based film, the contact surface between the electrode surface and the polydimethylsiloxane-based film can be reduced when transferring the display pixel, After transfer of the display pixel, the polydimethylsiloxane-based film has excellent release characteristics.

또한, 본 출원의 일 실시상태에 따르면, 상기 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 이용하는 경우에는, 웨이퍼 상에 형성된 발광소자 칩들 중에서 특정 간격의 발광소자 칩만이 선택적으로 접촉되므로, 상기 웨이퍼의 오염을 방지할 수 있는 특징이 있다.In addition, according to an exemplary embodiment of the present application, in the case of using the display pixel transfer pattern film, only light emitting device chips having a specific interval are selectively contacted among the light emitting device chips formed on the wafer, thereby preventing contamination of the wafer. There are features that can be.

10: 기재
20: 돌기 패턴
30: 폴리디메틸실록산계 필름
40: 접착층
10: description
20: protrusion pattern
30: polydimethylsiloxane-based film
40: adhesive layer

Claims (9)

기재; 및
상기 기재 상에 구비되고, 표면에 돌기 패턴을 포함하는 폴리디메틸실록산계 필름을 포함하고,
상기 돌기 패턴을 구성하는 돌기의 형태는 다각기둥 또는 원기둥 형태이고, 상기 돌기의 상부 표면은 플랫(flat)한 형태이며,
상기 돌기 패턴의 높이는 20 내지 50㎛ 이고,
상기 폴리디메틸실록산계 필름의 상부면을 기준으로, 상기 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율은 5% 이하이며,
상기 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율은 하기 수학식 1로 계산되고,
상기 돌기 패턴 표면의 점착력은 600 gf/cm2 이하인 것인 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름:
[수학식 1]
돌기 패턴이 차지하는 면적 비율(%) = [(a × b) / Pitch2] × 100
상기 수학식 1에서,
(a × b)는 돌기의 상부면적이고, Pitch는 돌기 패턴의 피치이다.
materials; And
It is provided on the substrate and includes a polydimethylsiloxane-based film including a protrusion pattern on the surface,
The shape of the protrusion constituting the protrusion pattern is a polygonal column or a cylindrical shape, and the upper surface of the protrusion is a flat shape,
The height of the protrusion pattern is 20 to 50 μm,
Based on the upper surface of the polydimethylsiloxane-based film, the ratio of the area occupied by the protrusion pattern is 5% or less,
The area ratio occupied by the protrusion pattern is calculated by Equation 1 below,
The adhesive force of the protrusion pattern surface is 600 gf/cm 2 or less for display pixel transfer pattern film:
[Equation 1]
The percentage of the area occupied by the protrusion pattern (%) = [(a × b) / Pitch 2 ] × 100
In Equation 1,
(a × b) is the upper area of the protrusion, and Pitch is the pitch of the protrusion pattern.
청구항 1에 있어서, 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 상부면을 기준으로, 상기 돌기 패턴이 차지하는 면적 비율은 1 내지 3.5%인 것인 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름.The pattern film for display pixel transfer according to claim 1, wherein an area ratio occupied by the protrusion pattern is 1 to 3.5% based on an upper surface of the polydimethylsiloxane-based film. 삭제delete 청구항 1에 있어서, 상기 돌기 패턴의 피치는 700 내지 900㎛인 것인 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름.The pattern film for display pixel transfer according to claim 1, wherein a pitch of the protrusion pattern is 700 to 900 μm. 청구항 1에 있어서, 상기 폴리디메틸실록산계 필름의 두께는 200 내지 800㎛ 인 것인 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름.The pattern film of claim 1, wherein the polydimethylsiloxane-based film has a thickness of 200 to 800 μm. 청구항 1에 있어서, 상기 디스플레이 화소는 발광소자 칩(LED CHIP)인 것인 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름.The pattern film as set forth in claim 1, wherein the display pixel is a light emitting device chip (LED CHIP). 청구항 1에 있어서, 상기 기재와 폴리디메틸실록산계 필름 사이에 접착층을 추가로 포함하는 것인 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름.The pattern film for display pixel transfer according to claim 1, further comprising an adhesive layer between the substrate and the polydimethylsiloxane-based film. 청구항 1, 2, 및 4 내지 7 중 어느 한 항의 디스플레이 화소 전사용 패턴 필름을 준비하는 단계;
상기 돌기 패턴의 표면 상에 디스플레이 화소를 구비시키는 단계; 및
상기 디스플레이 화소를 디스플레이용 전극 기판에 전사하는 단계
를 포함하는 디스플레이의 제조방법.
Preparing a pattern film for display pixel transfer according to any one of claims 1, 2, and 4 to 7;
Providing a display pixel on the surface of the protruding pattern; And
Transferring the display pixel to an electrode substrate for a display
Method of manufacturing a display comprising a.
청구항 8에 있어서, 상기 디스플레이는 투명 발광소자 디스플레이인 것인 디스플레이의 제조방법.The method of claim 8, wherein the display is a transparent light emitting device display.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100709221B1 (en) 2005-08-18 2007-04-18 삼성에스디아이 주식회사 Flexible Display Device
KR101754528B1 (en) * 2016-03-23 2017-07-06 한국광기술원 Transfer assembly with dry adhesion structure and method for transferring led structure assembly using the same and led structure assembly

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060089838A (en) * 2005-02-04 2006-08-09 삼성에스디아이 주식회사 Donor film for thin film transfer
KR20150033169A (en) 2013-09-23 2015-04-01 엘지디스플레이 주식회사 Light emitting diode package and liquid crystal display device using the same
KR101757027B1 (en) * 2014-11-11 2017-07-11 주식회사 엘지화학 Method of manufacturing Privacy film and Privacy film

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100709221B1 (en) 2005-08-18 2007-04-18 삼성에스디아이 주식회사 Flexible Display Device
KR101754528B1 (en) * 2016-03-23 2017-07-06 한국광기술원 Transfer assembly with dry adhesion structure and method for transferring led structure assembly using the same and led structure assembly

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