KR102162589B1 - Display device - Google Patents

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KR102162589B1
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이준형
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엘지디스플레이 주식회사
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    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

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Abstract

본 발명은 패턴 검사 공정이 용이하게 수행될 수 있는 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치를 제공하는 것으로, 본 발명에 따른 디스플레이 장치는 기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부; 상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및 상기 표시 라인의 일측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키를 포함할 수 있다.The present invention provides a display device having a non-rectangular display unit in which a pattern inspection process can be easily performed. The display device according to the present invention includes a display unit defined in a non-square shape on a substrate; A plurality of display pixels formed for each display line of a display area defined on the display unit; And a first flag key formed on an outer portion of the display area adjacent to one side of the display line.

Description

디스플레이 장치{DISPLAY DEVICE}Display device {DISPLAY DEVICE}

본 발명은 디스플레이 장치에 관한 것으로, 보다 구체적으로는, 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a display device, and more specifically, to a display device having a non-rectangular display.

일반적으로, 디스플레이 장치는 이동 통신 단말기, 전자 수첩, 전자 책, PMP(Portable Multimedia Player), 네비게이션, UMPC(Ultra Mobile PC), 모바일 폰, 스마트 폰, 태블릿 PC(Personal Computer), 및 와치 폰(watch phone) 등과 같은 휴대용 전자 기기뿐만 아니라 텔레비전, 노트북, 및 모니터 등의 다양한 제품의 표시 화면으로 널리 사용되고 있다.In general, display devices include mobile communication terminals, electronic notebooks, e-books, portable multimedia players (PMPs), navigation, ultra mobile PCs (UMPCs), mobile phones, smart phones, personal computers (tablets), and watch phones. It is widely used as a display screen of various products such as televisions, notebook computers, and monitors as well as portable electronic devices such as phones).

디스플레이 장치 중에서 액정 표시 장치, 유기 발광 표시 장치 및 전기 영동 표시 장치는 박형화가 가능하므로, 이들을 플렉서블 디스플레이 장치로 구현하기 위한 연구 개발이 진행되고 있다.Among the display devices, since a liquid crystal display device, an organic light emitting display device, and an electrophoretic display device can be made thinner, research and development for implementing them as a flexible display device is in progress.

유기 발광 소자를 이용한 플렉서블 디스플레이 장치는 데이터 신호에 따라 화소 전원 라인으로부터 유기 발광 소자에 흐르는 전류를 제어하여 원하는 화상을 표시한다. 이와 같은 유기 발광 소자를 이용한 플렉서블 디스플레이 장치는 신호 배선의 배치 구조와 화소 구동 전원 배선의 배치 구조, 및 구동 회로의 배치 구조로 인하여 평면적으로 직사각 형태의 표시부를 갖는다.A flexible display device using an organic light-emitting device displays a desired image by controlling a current flowing from a pixel power line to an organic light-emitting device according to a data signal. A flexible display device using such an organic light-emitting device has a rectangular display unit in plan view due to the arrangement structure of the signal line, the arrangement structure of the pixel driving power line, and the arrangement structure of the driving circuit.

최근에는 디스플레이 장치의 외관 및 디자인이 중시되고, 와치 폰 등과 같은 웨어러블(wearable) 기기에 대한 소비자의 관심이 높아지면서, 직사각 형태가 아닌 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치에 대한 연구 개발이 진행되고 있다.In recent years, as the appearance and design of a display device is emphasized, and consumers' interest in wearable devices such as a watch phone is increasing, research and development on a display device having a non-rectangular display unit instead of a rectangular shape is in progress.

한편, 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치의 제조 공정은 비사각 표시부에 배열된 복수의 화소를 검사하는 화소 패턴 검사 공정을 포함하여 이루어질 수 있다.Meanwhile, a manufacturing process of a display device having a non-rectangular display may include a pixel pattern inspection process of inspecting a plurality of pixels arranged on the non-square display.

화소 패턴 검사 공정에서는 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 패널을 스테이지에 안착시킨 후, 스테이지(또는 카메라)를 이동시키면서 비사각 표시부에 형성된 화소를 순차적으로 촬상하면서 촬상된 화소 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단하게 된다. 이때, 스테이지는 하나의 화소만큼 이동하며, 하나의 표시 라인에 형성된 모든 화소의 검사가 완료되면, 다음 표시 라인으로 이동하게 된다. 그리고, 화소 패턴 검사 공정에서는 화소 대 화소 검사 방식에 기초하여, 하나의 화소 주변에 배치된 8개 화소를 비교하여 화소의 불량 여부를 판단하게 된다.In the pixel pattern inspection process, after mounting a display panel having a non-rectangular display on a stage, while moving the stage (or camera) to sequentially capture the pixels formed on the non-square display, the captured pixel image is analyzed in real time and the pixel is defective. It will be judged whether or not. At this time, the stage moves by one pixel, and when inspection of all the pixels formed on one display line is completed, the stage moves to the next display line. In the pixel pattern inspection process, based on a pixel-to-pixel inspection method, eight pixels disposed around one pixel are compared to determine whether a pixel is defective.

화소 패턴 검사 공정에서, 스테이지는, 도 1에 도시된 바와 같이, 비사각 표시부(10)의 각 표시 라인마다 동일한 거리로 이동하기 때문에 비사각 표시부(10) 이외의 주변 영역에 대한 스테이지의 불필요한 이동 거리에 따른 검사 공정 시간의 증가로 인해 생산성이 저하되는 문제점이 있다.In the pixel pattern inspection process, the stage moves at the same distance for each display line of the non-rectangular display unit 10, as shown in FIG. 1, and thus unnecessary movement of the stage to a peripheral area other than the non-rectangular display unit 10 There is a problem in that productivity decreases due to an increase in inspection process time according to distance.

또한, 도 2에 도시된 바와 같이, 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치에서, 비사각 표시부(10)는 영상을 표시하는 복수의 화소(P)가 매트릭스 형태로 배치된 표시 영역(AA)을 포함한다.In addition, as shown in FIG. 2, in a display device having a non-rectangular display, the non-rectangular display 10 includes a display area AA in which a plurality of pixels P displaying an image are arranged in a matrix form. .

표시 영역(AA)의 외곽부(또는 가장자리 부분)는 비사각 표시부(10)의 곡률에 따라 계단 형태(11)로 형성되게 된다. 즉, 사각 형태의 화소를 비사각 표시부(10)에 배치할 경우, 비사각 표시부의 곡률에 따라 각 표시 라인마다 화소의 개수가 상이하기 때문에 비사각 표시부(10)의 가장자리 부분(11)은 불규칙적인 화소 배치 구조를 갖게 된다. 이에 따라, 화소 대 화소 검사 방식에 기초한 화소 패턴 검사 공정에서는 화소(P) 이외의 부분을 결함(Defect)으로 인식하기 때문에 비사각 표시부(10)의 가장자리 부분(11)에 형성된 화소가 모두 결함(Defect) 화소로 인식되는 문제점이 있다. 특히, 화소 대 화소 검사 방식에 기초한 화소 패턴 검사 공정은 검사 공정 중 결함 화소가 인식되면, 결함 화소의 위치에서 검사 공정을 일시 중단함과 동시에 화소 결함에 대한 경보음을 발생하게 된다. 그리고, 경보음이 발생되게 되면, 작업자는 화소 결함 위치가 비사각 표시부(10)의 가장자리 부분일 경우, 화소 결함을 정상으로 처리하여 일시 중단된 검사 공정이 다시 수행되도록 한다. 이와 같은, 화소 패턴 검사 공정에서는 검사 공정의 일시 중단과 작업자의 확인 과정에 따른 검사 공정 시간의 증가로 인해 생산성이 저하되는 문제점이 있다.The outer portion (or edge portion) of the display area AA is formed in a step shape 11 according to the curvature of the non-rectangular display portion 10. That is, when the square-shaped pixels are arranged on the non-rectangular display unit 10, the number of pixels is different for each display line according to the curvature of the non-square display unit, so that the edge portion 11 of the non-square display unit 10 is irregular. It has a phosphorus pixel arrangement structure. Accordingly, in the pixel pattern inspection process based on the pixel-to-pixel inspection method, since portions other than the pixel P are recognized as defects, all pixels formed on the edge portions 11 of the non-square display unit 10 are defective ( Defect) There is a problem of being recognized as a pixel. In particular, in the pixel pattern inspection process based on the pixel-to-pixel inspection method, when a defective pixel is recognized during the inspection process, the inspection process is temporarily suspended at the location of the defective pixel and an alarm sound for the pixel defect is generated. In addition, when the alarm sound is generated, the operator treats the pixel defect as normal when the pixel defect location is at the edge of the non-rectangular display unit 10 so that the temporarily suspended inspection process is performed again. In such a pixel pattern inspection process, there is a problem in that productivity is deteriorated due to a temporary suspension of the inspection process and an increase in inspection process time according to the operator's confirmation process.

이상 설명한 배경기술의 내용은 본 출원의 발명자가 본 발명의 도출을 위해 보유하고 있었거나, 본 발명의 도출 과정에서 습득한 기술 정보로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에게 공개된 공지기술이라 할 수는 없다.The contents of the background technology described above are technical information that the inventor of the present application possessed for derivation of the present invention or acquired during the derivation process of the present invention, and must be referred to as known technology disclosed to the general public prior to filing the present invention. I can't.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 패턴 검사 공정이 용이하게 수행될 수 있는 비사각 표시부를 갖는 디스플레이 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.The present invention has been conceived to solve the above-described problems, and it is an object of the present invention to provide a display device having a non-rectangular display unit in which a pattern inspection process can be easily performed.

전술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이 장치는 기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부; 상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및 상기 표시 라인의 일측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키를 포함할 수 있다.A display device according to the present invention for achieving the above-described technical problem includes a display unit defined in a non-rectangular shape on a substrate; A plurality of display pixels formed for each display line of a display area defined on the display unit; And a first flag key formed on an outer portion of the display area adjacent to one side of the display line.

전술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 디스플레이 장치는 기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부; 상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 표시 화소들을 둘러싸는 복수의 더미 화소를 포함하고, 상기 표시부는 상기 표시 라인의 길이 방향과 교차하는 방향으로 인접한 N개(단, N은 3 이상의 자연수)의 라인 단위로 이루어진 복수의 라인 그룹을 가지며, 상기 복수의 라인 그룹 단위로 상기 N개의 라인은 동일한 화소 수를 가질 수 있다.A display device according to the present invention for achieving the above-described technical problem includes a display unit defined in a non-rectangular shape on a substrate; A plurality of display pixels formed for each display line of a display area defined on the display unit; And a plurality of dummy pixels surrounding display pixels formed on an outer portion of the display area, wherein the display unit includes N adjacent lines (wherein N is a natural number of 3 or more) in a direction crossing a length direction of the display line A plurality of line groups may be formed in units, and the N lines may have the same number of pixels in units of the plurality of line groups.

상기 과제의 해결 수단에 의하면, 본 발명은 스테이지(또는 카메라)의 불필요한 이동 거리를 줄일 수 있으며, 비사각 형태의 표시부를 갖는 디스플레이 장치의 패턴 검사 공정을 용이하게 할 수 있고, 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다. 또한, 본 발명은 표시부의 외곽부에 배치된 표시 화소가 화소 결함으로 인식되는 것을 방지하고, 이를 통해 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다.According to the means for solving the above problems, the present invention can reduce the unnecessary moving distance of the stage (or camera), facilitate the pattern inspection process of a display device having a non-rectangular type display, and reduce the pattern inspection process time. It can be reduced to improve productivity. In addition, according to the present invention, it is possible to prevent a display pixel disposed on an outer portion of the display from being recognized as a pixel defect, thereby reducing a pattern inspection process time, thereby improving productivity.

위에서 언급된 본 발명의 기술적 과제 외에도, 본 발명의 다른 특징 및 이점들이 이하에서 기술되거나, 그러한 기술 및 설명으로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.In addition to the technical problems of the present invention mentioned above, other features and advantages of the present invention will be described below or will be clearly understood by those of ordinary skill in the art from such technology and description.

도 1은 종래의 원형 표시부를 갖는 디스플레이 장치의 화소 패턴 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 종래의 원형 표시부를 갖는 디스플레이 장치에서 표시부의 외곽부에 형성된 화소 배치 구조를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치를 간략하게 나타내는 평면도이다.
도 4는 도 3에 도시된 표시부에 형성되어 있는 화소를 설명하기 위한 회로도이다.
도 5는 도 3에 도시된 A 부분의 확대도이다.
도 6은 도 3에 도시된 B 부분의 확대도이다.
도 7은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 장치를 간략하게 나타내는 도면이다.
도 8은 본 발명에 따른 화소 패턴 검사 장치의 검사 진행 방향을 나타내는 도면이다.
도 9는 도 3에 도시된 A 부분의 다른 확대도로서, 본 발명의 제 2 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 도 3에 도시된 B 부분의 다른 확대도로서, 본 발명의 제 2 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 11은 도 3에 도시된 A 부분의 또 다른 확대도로서, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다.
도 12는 도 3에 도시된 B 부분의 또 다른 확대도로서, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면이다.
1 is a diagram illustrating a method of inspecting a pixel pattern of a display device having a circular display in the related art.
2 is a diagram illustrating a pixel arrangement structure formed on an outer portion of a display portion in a conventional display device having a circular display portion.
3 is a schematic plan view of a display device according to a first example of the present invention.
FIG. 4 is a circuit diagram illustrating a pixel formed in the display portion of FIG. 3.
5 is an enlarged view of portion A shown in FIG. 3.
6 is an enlarged view of part B shown in FIG. 3.
7 is a diagram schematically illustrating a pixel pattern inspection apparatus for a display device according to a first example of the present invention.
8 is a diagram illustrating an inspection progress direction of the pixel pattern inspection apparatus according to the present invention.
9 is another enlarged view of portion A shown in FIG. 3, and is a diagram illustrating a display device according to a second example of the present invention.
FIG. 10 is another enlarged view of part B shown in FIG. 3, and is a diagram illustrating a display device according to a second example of the present invention.
FIG. 11 is another enlarged view of portion A shown in FIG. 3, and is a diagram illustrating a display device according to a third example of the present invention.
FIG. 12 is another enlarged view of part B shown in FIG. 3, and is a diagram illustrating a display device according to a third example of the present invention.

본 명세서에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다. The meaning of the terms described in this specification should be understood as follows.

단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 정의하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "제 1", "제 2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다. "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. "상에"라는 용어는 어떤 구성이 다른 구성의 바로 상면에 형성되는 경우 뿐만 아니라 이들 구성들 사이에 제3의 구성이 개재되는 경우까지 포함하는 것을 의미한다.Singular expressions should be understood as including plural expressions unless clearly defined differently in context, and terms such as "first" and "second" are used to distinguish one element from other elements, The scope of rights should not be limited by these terms. It is to be understood that terms such as "comprise" or "have" do not preclude the presence or addition of one or more other features or numbers, steps, actions, components, parts, or combinations thereof. The term "on" is meant to include not only a case where a certain structure is formed directly on the top surface of another structure, but also a case where a third structure is interposed between these elements.

이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 바람직한 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.Hereinafter, a preferred example of a display device according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In adding reference numerals to elements of each drawing, the same elements may have the same numerals as possible even if they are indicated on different drawings. In addition, in describing the present invention, when it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the subject matter of the present invention, a detailed description thereof may be omitted.

도 3은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치를 간략하게 나타내는 평면도이고, 도 4는 도 3에 도시된 표시부에 형성되어 있는 화소를 설명하기 위한 회로도이고, 도 5는 도 3에 도시된 A 부분의 확대도이며, 도 6은 도 3에 도시된 B 부분의 확대도이다.3 is a schematic plan view illustrating a display device according to a first example of the present invention, FIG. 4 is a circuit diagram for explaining a pixel formed in the display unit shown in FIG. 3, and FIG. 5 is a It is an enlarged view of a part, and FIG. 6 is an enlarged view of part B shown in FIG. 3.

도 3 내지 도 6을 참조하면, 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치는 기판(110), 표시부(120), 복수의 표시 화소(P), 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함한다.3 to 6, the display device according to the first example of the present invention includes a substrate 110, a display unit 120, a plurality of display pixels P, and first and second flag keys FK1 and FK2. Includes.

먼저, 상기 표시부(120)는 기판(110) 상에 비사각 형태로 정의될 수 있으며, 이하의 설명에서는 원 형태로 정의되는 것으로 가정하기로 한다.First, the display unit 120 may be defined in a non-rectangular shape on the substrate 110, and in the following description, it is assumed that it is defined in a circular shape.

상기 기판(110)은 플렉서블 기판, 예를 들어, 플라스틱 기판으로 이루어질 수 있다. 이러한, 기판(110)은 원호부(111) 및 구동 회로 접속부(113)를 포함하여 이루어질 수 있다.The substrate 110 may be formed of a flexible substrate, for example, a plastic substrate. The substrate 110 may include an arc portion 111 and a driving circuit connection portion 113.

상기 원호부(111)는 표시부(120)의 중심부를 기준으로 동일한 제 1 반지름을 갖는 원호 형태를 형성된다.The arc part 111 has an arc shape having the same first radius with respect to the center of the display part 120.

상기 구동 회로 접속부(113)는 원호부(111)의 일측부(예를 들어, 상측부)로부터 일정한 크기를 갖도록 돌출(또는 연장)된다. 상기 구동 회로 접속부(113)에는 표시부(120)에 연결되는 구동 회로부(130), 각종 링크 라인, 및 구동 패드부(113a) 등이 형성된다. 이러한, 구동 회로 접속부(113)는 구동 패드부(113a)를 통해 디스플레이 장치의 디스플레이 구동부(미도시)에 연결된다. 상기 구동 패드부(113a)는 디스플레이 구동부로부터 표시부(120)에 영상을 표시하기 위한 영상 데이터가 공급되는 복수의 데이터용 패드, 화소의 구동에 필요한 전원이 공급되는 복수의 전원용 패드, 및 제어 신호가 공급되는 복수의 제어 신호용 패드를 포함하여 이루어질 수 있다.The driving circuit connection part 113 protrudes (or extends) to have a predetermined size from one side (eg, an upper part) of the arc part 111. The driving circuit connecting part 113 is formed with a driving circuit part 130 connected to the display part 120, various link lines, and a driving pad part 113a. The driving circuit connection unit 113 is connected to the display driving unit (not shown) of the display device through the driving pad unit 113a. The driving pad unit 113a includes a plurality of data pads to which image data for displaying an image is supplied from the display driver to the display unit 120, a plurality of power pads to which power required for driving a pixel is supplied, and a control signal. It may include a plurality of control signal pads supplied.

상기 기판(110)은 터치 회로 접속부(115)를 더 포함할 수 있다. 상기 터치 회로 접속부(115)는 원호부(111)의 타측부로부터 일정한 크기를 갖도록 돌출(또는 연장)된다. 상기 터치 회로 접속부(115)에는 표시부(120) 상에 배치되는 터치 패널(미도시)의 터치 구동 라인과 터치 센싱 라인에 연결되는 라우팅 라인과 터치용 패드부(115a) 등이 형성된다. 이러한, 터치 회로 접속부(115)는 터치용 패드부(115a)를 통해 디스플레이 장치의 터치 구동부(미도시)에 연결된다. 상기 터치용 패드부(115a)는 터치 구동 라인에 연결된 복수의 구동 라인 패드, 및 터치 센싱 라인에 연결된 복수의 센싱 라인 패드를 포함하여 이루어질 수 있다.The substrate 110 may further include a touch circuit connection part 115. The touch circuit connection part 115 protrudes (or extends) from the other side of the arc part 111 to have a certain size. The touch circuit connection unit 115 includes a touch driving line of a touch panel (not shown) disposed on the display unit 120, a routing line connected to the touch sensing line, and a touch pad unit 115a. The touch circuit connection unit 115 is connected to a touch driver (not shown) of the display device through the touch pad unit 115a. The touch pad unit 115a may include a plurality of driving line pads connected to a touch driving line and a plurality of sensing line pads connected to a touch sensing line.

이와 같은, 상기 기판(110)은 지지 기판(100) 상에 부착될 수 있다. 즉, 지지 기판(100)은 기판(110)과 동일한 형상으로 형성되어 유연한 재질로 이루어진 기판(110)을 평면 상태로 유지시킨다. 여기서, 상기 기판(100)이 유연하지 않은 재질로 이루어진 경우, 상기 지지 기판(100)은 디스플레이 장치의 슬림화를 위해 생략되는 것이 바람직하다.As such, the substrate 110 may be attached on the support substrate 100. That is, the support substrate 100 is formed in the same shape as the substrate 110 to maintain the substrate 110 made of a flexible material in a flat state. Here, when the substrate 100 is made of a non-flexible material, it is preferable that the support substrate 100 be omitted for slimming of the display device.

상기 표시부(120)는 중심부를 기준으로 원호부(111)의 반지름보다 작은 제 2 반지름를 갖는 원 형태로 형성될 수 있다. 이때, 상기 원호부(111)와 표시부(120)는 실질적으로 동심원 형태로 형성된다.The display unit 120 may be formed in a circular shape having a second radius smaller than the radius of the arc portion 111 with respect to the center. At this time, the arc portion 111 and the display portion 120 are formed in a substantially concentric circle shape.

상기 복수의 표시 화소(P)는 표시부(120)에 정의된 표시 영역(AA)의 표시 라인마다 형성되어 영상을 표시한다. 이때, 표시 라인마다 형성되는 표시 화소(P)의 개수는 표시부(120)의 곡률에 따라 상이하게 된다. 즉, 표시부(120)는 원 형태로 정의되는 반면에 표시 화소(P)는 사각 형태를 가지므로, 표시 영역(AA)의 외곽부는 표시부(120)의 곡률에 따라 계단 형태를 갖게 된다.The plurality of display pixels P are formed for each display line of the display area AA defined on the display unit 120 to display an image. In this case, the number of display pixels P formed for each display line varies according to the curvature of the display unit 120. That is, since the display unit 120 is defined in a circular shape, while the display pixel P has a rectangular shape, the outer portion of the display area AA has a step shape according to the curvature of the display unit 120.

일 예에 따른 복수의 표시 화소(P) 각각은 상기 표시부(120)에 일정한 간격으로 형성된 복수의 스캔 라인(SL)과 복수의 화소 전원 라인(PL) 및 복수의 데이터 라인(DL)에 의해 정의되는 화소 영역에 형성된다. 여기서, 상기 복수의 화소 전원 라인(PL)과 복수의 데이터 라인(DL)은 상기 복수의 스캔 라인(SL)과 교차하도록 일정한 간격으로 형성된다.Each of the plurality of display pixels P according to an example is defined by a plurality of scan lines SL, a plurality of pixel power lines PL, and a plurality of data lines DL formed at regular intervals on the display unit 120 It is formed in the pixel area to be. Here, the plurality of pixel power lines PL and the plurality of data lines DL are formed at regular intervals so as to cross the plurality of scan lines SL.

상기 복수의 표시 화소(P) 각각은 화소 회로(PC) 및 유기 발광 소자(OLED)를 포함하여 이루어질 수 있다.Each of the plurality of display pixels P may include a pixel circuit PC and an organic light emitting diode OLED.

상기 화소 회로(PC)는 인접한 스캔 라인(SL)과 데이터 라인(DL) 및 화소 전원 라인(PL)에 연결되고, 화소 전원 라인(PL)에 공급되는 화소 구동 전원을 기반으로, 스캔 라인(SL)으로부터의 스캔 펄스에 응답하여 데이터 라인(DL)으로부터의 데이터 신호에 따라 유기 발광 소자(OLED)에 흐르는 전류를 제어한다. 일 예에 따른 화소 회로(PC)는 스위칭 트랜지스터(Tsw), 구동 트랜지스터(Tdr), 및 커패시터(Cst)를 포함하여 이루어질 수 있다. 상기 스위칭 트랜지스터(Tsw)는 스캔 라인(SL)에 공급되는 스캔 펄스에 따라 스위칭되어 데이터 라인(DL)에 공급되는 데이터 신호를 구동 트랜지스터(Tdr)에 공급한다. 상기 구동 트랜지스터(Tdr)는 스위칭 트랜지스터(Tsw)로부터 공급되는 데이터 신호에 따라 스위칭되어 화소 전원 라인(PL)으로부터 유기 발광 소자(OLED)로 흐르는 데이터 전류를 제어한다. 상기 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 단자와 소스 단자 사이에 접속되어 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 단자에 공급되는 데이터 신호에 대응되는 전압을 저장하고, 저장된 전압으로 구동 트랜지스터(Tdr)의 턴-온시킨다.The pixel circuit PC is connected to an adjacent scan line SL, a data line DL, and a pixel power line PL, and based on the pixel driving power supplied to the pixel power line PL, the scan line SL In response to the scan pulse from ), the current flowing through the organic light emitting diode OLED is controlled according to the data signal from the data line DL. The pixel circuit PC according to an example may include a switching transistor Tsw, a driving transistor Tdr, and a capacitor Cst. The switching transistor Tsw is switched according to a scan pulse supplied to the scan line SL to supply a data signal supplied to the data line DL to the driving transistor Tdr. The driving transistor Tdr is switched according to a data signal supplied from the switching transistor Tsw to control a data current flowing from the pixel power line PL to the organic light emitting diode OLED. The capacitor Cst is connected between the gate terminal and the source terminal of the driving transistor Tdr to store a voltage corresponding to the data signal supplied to the gate terminal of the driving transistor Tdr, and the driving transistor Tdr Turn on.

상기 유기 발광 소자(OLED)는 구동 트랜지스터(Tdr)의 소스 단자에 연결되는 애노드 전극(또는 화소 전극), 및 애노드 전극과 캐소드 전극층(CE) 사이에 형성된 유기 발광층을 포함하여 이루어질 수 있다. 이러한, 상기 유기 발광 소자(OLED)는 구동 트랜지스터(Tdr)의 스위칭에 따라 화소 전원 라인(PL)으로부터 캐소드 전극층(CE)으로 흐르는 데이터 전류에 의해 발광함으로써 소정의 영상을 표시한다.The organic light emitting diode OLED may include an anode electrode (or a pixel electrode) connected to a source terminal of the driving transistor Tdr, and an organic emission layer formed between the anode electrode and the cathode electrode layer CE. The organic light-emitting device OLED displays a predetermined image by emitting light by a data current flowing from the pixel power line PL to the cathode electrode layer CE according to the switching of the driving transistor Tdr.

상기 캐소드 전극층(CE)은 표시부(120)를 덮도록 형성되어 각 표시 화소(P)에 형성된 유기 발광 소자(OLED)의 유기 발광층에 공통적으로 연결된다.The cathode electrode layer CE is formed to cover the display unit 120 and is commonly connected to the organic emission layer of the organic light emitting diode OLED formed in each display pixel P.

상기 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)는 표시 화소(P)로 이루어진 각 표시 라인의 양 끝단에 형성되는 것으로, 이는 화소 패턴 검사 공정시 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)의 위치를 제공하기 위한 것이다.The first and second flag keys FK1 and FK2 are formed at both ends of each display line made of the display pixel P, which is a display pixel formed on the outer portion of the display area AA during the pixel pattern inspection process. It is intended to provide the location of (P).

상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 표시 라인마다 첫번째 표시 화소(P)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 상기 제 1 플래그 키(FK1)는 표시 화소(P)의 형성 공정과 함께 형성되는 것으로, "+" , "*", 또는 "×", 등의 기호 형태를 갖도록 형성될 수 있다. 이러한, 상기 제 1 플래그 키(FK1)는 화소 패턴 검사 공정시 각 표시 라인에 있어서, 표시 화소(P)의 시작 위치 또는 표시 화소(P)의 끝 위치를 제공하는 역할을 한다. 예를 들어, 표시부(120)에 형성된 홀수번째 표시 라인의 제 1 플래그 키(FK1)는 표시 화소(P)의 시작 플래그일 수 있고, 표시부(120)에 형성된 짝수번째 표시 라인의 제 1 플래그 키(FK1)는 표시 화소(P)의 끝 플래그일 수 있다.The first flag key FK1 is formed in the outer portion of the display area AA so as to be adjacent to the first display pixel P for each display line. The first flag key FK1 is formed together with the formation process of the display pixel P, and may be formed to have a symbol shape such as " + ", " * ", or " x ". The first flag key FK1 serves to provide the start position of the display pixel P or the end position of the display pixel P in each display line during the pixel pattern inspection process. For example, the first flag key FK1 of the odd-numbered display line formed on the display unit 120 may be a start flag of the display pixel P, and the first flag key of the even-numbered display line formed on the display unit 120 (FK1) may be an end flag of the display pixel P.

상기 제 2 플래그 키(FK1)는 각 표시 라인마다 마지막 표시 화소(P)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 상기 제 2 플래그 키(FK2)는 상기 제 1 플래그 키(FK1)와 동일한 형태로 형성될 수 있다. 이러한, 상기 제 2 플래그 키(FK2)는 화소 패턴 검사 공정시 각 표시 라인에 있어서, 표시 화소(P)의 시작 위치 또는 표시 화소(P)의 끝 위치를 제공하는 역할을 한다. 예를 들어, 표시부(120)에 형성된 홀수번째 표시 라인의 제 2 플래그 키(FK2)는 표시 화소(P)의 끝 플래그일 수 있고, 표시부(120)에 형성된 짝수번째 표시 라인의 제 2 플래그 키(FK1)는 표시 화소(P)의 시작 플래그일 수 있다.The second flag key FK1 is formed in the outer portion of the display area AA so as to be adjacent to the last display pixel P for each display line. The second flag key FK2 may be formed in the same shape as the first flag key FK1. The second flag key FK2 serves to provide a start position of the display pixel P or an end position of the display pixel P in each display line during the pixel pattern inspection process. For example, the second flag key FK2 of the odd-numbered display line formed on the display unit 120 may be the end flag of the display pixel P, and the second flag key of the even-numbered display line formed on the display unit 120 (FK1) may be a start flag of the display pixel P.

본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치는, 도 3에 도시된 바와 같이, 구동 회로부(130), 구동 전원 공급 라인(150), 및 캐소드 전원 공급 라인(160)을 더 포함할 수 있다.The display device according to the first example of the present invention may further include a driving circuit unit 130, a driving power supply line 150, and a cathode power supply line 160, as shown in FIG. 3.

제 1 예에 따른 구동 회로부(130)는 구동 패드부(113a)를 통해 디스플레이 구동부로부터 공급되는 영상 데이터, 제어 신호, 및 구동 전압을 이용하여 표시부(120)의 표시 영역(AA)에 형성된 복수의 표시 화소(P)를 구동함으로써 표시부(120)의 표시 영역(AA)에 소정의 영상을 표시한다. 이러한, 제 1 예에 따른 구동 회로부(130)는 집적 회로로 이루어져 구동 회로 접속부(113)에 마련된 칩 실장 영역에 실장되고, 칩 실장 영역과 표시부(120) 사이에 형성된 링크 라인들을 통해 복수의 스캔 라인(SL)과 복수의 데이터 라인(DL)에 연결됨으로써 복수의 스캔 라인(SL)에 스캔 펄스를 공급함과 동기되도록 복수의 데이터 라인(DL)에 데이터 신호를 공급한다.The driving circuit unit 130 according to the first example uses an image data, a control signal, and a driving voltage supplied from the display driver through the driving pad unit 113a to form a plurality of devices formed in the display area AA of the display unit 120. By driving the display pixel P, a predetermined image is displayed on the display area AA of the display unit 120. The driving circuit unit 130 according to the first example is made of an integrated circuit and is mounted on a chip mounting area provided on the driving circuit connection unit 113, and a plurality of scans are performed through the link lines formed between the chip mounting area and the display unit 120. By being connected to the line SL and the plurality of data lines DL, a data signal is supplied to the plurality of data lines DL in synchronization with supplying a scan pulse to the plurality of scan lines SL.

제 2 예에 따른 구동 회로부(130)는 구동 패드부(113a)를 통해 디스플레이 구동부로부터 공급되는 영상 데이터, 제어 신호, 및 구동 전압을 이용하여 표시부(120)에 형성된 복수의 데이터 라인(DL)에 데이터 신호를 공급한다. 이러한, 제 2 예에 따른 구동 회로부(130)는 집적 회로로 이루어져 구동 회로 접속부(113)에 마련된 칩 실장 영역에 실장되고, 칩 실장 영역과 표시부(120) 사이에 형성된 데이터 링크 라인들을 통해 복수의 데이터 라인에 연결됨으로써 복수의 데이터 라인(DL)에 데이터 신호를 공급한다.The driving circuit unit 130 according to the second example uses image data, a control signal, and a driving voltage supplied from the display driver through the driving pad unit 113a to connect a plurality of data lines DL formed on the display unit 120. Supply a data signal. The driving circuit unit 130 according to the second example is composed of an integrated circuit and is mounted on a chip mounting area provided on the driving circuit connection unit 113, and a plurality of data link lines formed between the chip mounting area and the display unit 120 By being connected to the data line, a data signal is supplied to the plurality of data lines DL.

본 발명에 따른 디스플레이 장치가 상기 제 2 예에 따른 구동 회로부(130)를 포함하여 이루어지는 경우, 본 발명은 구동 회로부(130)의 스캔 채널과 복수의 스캔 라인(SL)을 일대일로 연결하기 위하여 구동 회로 접속부(113)에 형성되는 복수의 스캔 링크 라인을 생략하는 대신에, 상기 표시부(120)의 둘레를 따라 기판(110)의 원호부(111) 상에 형성된 스캔 구동 회로(140)를 더 포함한다.When the display device according to the present invention includes the driving circuit unit 130 according to the second example, the present invention is driven to connect a scan channel of the driving circuit unit 130 and a plurality of scan lines SL in a one-to-one manner. Instead of omitting the plurality of scan link lines formed on the circuit connection part 113, a scan driving circuit 140 formed on the arc part 111 of the substrate 110 along the periphery of the display part 120 is further included. do.

상기 스캔 구동 회로(140)는 표시부(120)의 둘레를 따라 원호 형태로 형성되어 복수의 스캔 라인(SL)에 연결된다. 이러한, 상기 스캔 구동 회로(140)는 구동 패드부(113a)와 스캔 제어 링크 라인들을 통해 디스플레이 구동부로부터 공급되는 스캔 제어 신호에 응답하여 스캔 펄스를 생성해 복수의 스캔 라인(SL)에 순차적으로 공급한다. 일 예로서, 상기 스캔 구동 회로(140)는 표시부(120)의 좌측 둘레 및/또는 우측 둘레를 따라 형성되어 복수의 스캔 라인(SL) 각각의 일단 및/또는 타단에 스캔 펄스를 공급한다.The scan driving circuit 140 is formed in an arc shape along the circumference of the display unit 120 and is connected to a plurality of scan lines SL. The scan driving circuit 140 generates a scan pulse in response to a scan control signal supplied from the display driver through the driving pad unit 113a and the scan control link lines and sequentially supplies it to the plurality of scan lines SL. do. As an example, the scan driving circuit 140 is formed along a left circumference and/or a right circumference of the display unit 120 to supply a scan pulse to one end and/or the other end of each of the plurality of scan lines SL.

본 발명에 따른 디스플레이 장치가 상기 스캔 구동 회로(140)를 포함하여 구성되는 경우, 본 발명은 상기 복수의 스캔 링크 라인의 생략에 따라 구동 회로 접속부(113)의 크기를 감소시키거나 구동 회로 접속부(113)의 길이를 감소시킴으로써 디스플레이 장치의 베젤 폭을 더욱 감소시킬 수 있으며, 상기 원호부(111)를 표시부(120)와 동심원 형태로 형성할 수 있다. 또는, 본 발명은 디스플레이 장치의 베젤 폭을 감소시키는 대신에, 생략된 복수의 스캔 링크 라인이 차지하는 공간만큼 데이터 링크 라인을 형성하기 위한 공간을 확보함으로써 복수의 데이터 링크 라인을 보다 여유롭게 구동 회로 접속부(113)에 배치하거나 형성할 수 있다.When the display device according to the present invention is configured to include the scan driving circuit 140, the present invention reduces the size of the driving circuit connection unit 113 or reduces the size of the driving circuit connection unit ( By reducing the length of 113, the width of the bezel of the display device may be further reduced, and the arc part 111 may be formed in a concentric circle shape with the display part 120. Alternatively, in the present invention, instead of reducing the width of the bezel of the display device, the plurality of data link lines are more spared by securing a space for forming the data link lines as much as the space occupied by the plurality of omitted scan link lines. 113) can be arranged or formed.

상기 구동 전원 공급 라인(150)은 표시부(120)에 형성된 복수의 화소 전원 라인(PL)에 공급하는 메인 전원선의 역할을 하는 것으로, 일정한 폭과 두께를 가지도록 표시부(120)의 둘레를 따라 기판(110) 상에 형성되고, 그 양 끝단이 구동 회로 접속부(113)에 형성된 구동 패드부(113a)의 구동 전원 패드에 연결된다. 이러한, 구동 전원 공급 라인(150)은 복수의 구동 전원 링크 라인 각각을 통해 표시 영역(AA)의 중심부를 기준으로 복수의 화소 전원 라인(PL) 각각의 하측 끝단에 연결된다.The driving power supply line 150 serves as a main power line supplied to the plurality of pixel power lines PL formed on the display unit 120, and the substrate along the periphery of the display unit 120 to have a predetermined width and thickness. It is formed on 110, and both ends thereof are connected to the driving power pad of the driving pad part 113a formed on the driving circuit connection part 113. The driving power supply line 150 is connected to the lower end of each of the plurality of pixel power lines PL with respect to the center of the display area AA through each of the plurality of driving power link lines.

상기 복수의 구동 전원 링크 라인 각각은 상기 화소 전원 라인(PL)과 교차하는 방향(예를 들어, 스캔 라인(SL)의 길이 방향)을 따라 상기 구동 전원 공급 라인(150)으로부터 일정한 폭을 가지도록 연장되거나 돌출되어 해당하는 화소 전원 라인(PL)의 하측 끝단에 연결된다. 또한, 상기 복수의 구동 전원 링크 라인 각각은 데이터 라인(DL)과 교차하지 않도록 표시부(120)의 중심부와 표시부(120)의 하측부 사이에 형성된다. 이 경우, 본 발명은 데이터 신호와 화소 구동 전원 간의 신호 간섭으로 인하여 화질 불량을 방지할 수 있다.Each of the plurality of driving power link lines may have a constant width from the driving power supply line 150 along a direction crossing the pixel power line PL (eg, a length direction of the scan line SL). It extends or protrudes and is connected to the lower end of the corresponding pixel power line PL. In addition, each of the plurality of driving power link lines is formed between the central portion of the display unit 120 and a lower portion of the display unit 120 so as not to cross the data line DL. In this case, the present invention can prevent image quality defects due to signal interference between a data signal and a pixel driving power source.

상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 일정한 폭과 두께를 가지도록 표시부(120)의 둘레를 따라 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 표시부(120) 사이의 기판(110) 상에 형성되고, 양 끝단이 구동 회로 접속부(113)에 형성된 구동 패드부(113a)의 캐소드 전원 패드에 연결된다. 일 예에 따른 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 동일한 구조를 가지면서 나란하게 형성될 수 있다. 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 표시부(120)를 덮도록 상기 원호부(111) 상에 형성되는 캐소드 전극층(CE)과 전기적으로 연결된다. 이러한, 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 캐소드 전원 패드를 통해 디스플레이 구동부로부터 공급되는 캐소드 전원을 상기 캐소드 전극층(CE)에 공급함으로써 상기 캐소드 전극층(CE)을 통해 상기 표시부(120)에 형성된 모든 표시 화소(P)의 유기 발광 소자(OLED)에 캐소드 전원이 공급되도록 한다.The cathode power supply line 160 is formed on the substrate 110 between the driving power supply line 150 and the display unit 120 along the circumference of the display unit 120 to have a predetermined width and thickness, and both ends It is connected to the cathode power pad of the driving pad part 113a formed in the driving circuit connection part 113. The cathode power supply line 160 according to an example may have the same structure as the driving power supply line 150 and may be formed in parallel. The cathode power supply line 160 is electrically connected to a cathode electrode layer CE formed on the arc portion 111 to cover the display portion 120. The cathode power supply line 160 supplies cathode power supplied from the display driver through the cathode power pad to the cathode electrode layer CE, thereby providing all displays formed on the display unit 120 through the cathode electrode layer CE. Cathode power is supplied to the organic light emitting device OLED of the pixel P.

이와 같은, 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 표시부(120) 사이에 형성됨으로써 본 발명은 디스플레이 장치의 베젤 폭을 감소시킬 수 있다. 구체적으로, 각 표시 화소(P)의 트랜지스터는 수분 전달이 원활한 유기물질로 이루어진 보호층(미도시)에 의해 덮이기 때문에 보호층으로 침투하는 수분으로 인한 유기 발광 소자(OLED)의 손상을 방지하기 위해, 보호층은 기판(110)의 외측벽으로부터 일정한 거리만큼 이격되어야 한다. 이에 따라, 본 발명은 보호층을 둘러싸는 캐소드 전극층(CE)에 연결되는 캐소드 전원 공급 라인(160)이 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 표시부(120) 사이에 형성됨으로써 보호층이 기판(110)의 외측벽으로부터 일정한 거리만큼 이격됨에 따라 기판(110)의 외측벽과 표시부(120) 사이의 폭으로 정의되는 디스플레이 장치의 베젤 폭을 감소시킬 수 있다.As such, the cathode power supply line 160 is formed between the driving power supply line 150 and the display unit 120, so that the width of the bezel of the display device may be reduced. Specifically, since the transistor of each display pixel P is covered by a protective layer (not shown) made of an organic material that transfers moisture, damage to the organic light-emitting device (OLED) due to moisture penetrating into the protective layer is prevented. For this purpose, the protective layer must be spaced apart from the outer wall of the substrate 110 by a predetermined distance. Accordingly, according to the present invention, the cathode power supply line 160 connected to the cathode electrode layer CE surrounding the protective layer is formed between the driving power supply line 150 and the display unit 120 so that the protective layer is formed on the substrate 110. ), the width of the bezel of the display device, which is defined as the width between the outer wall of the substrate 110 and the display unit 120, may be reduced.

한편, 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 구동 전원 공급 라인(150)보다 기판(110)의 외측벽에 인접하도록 형성될 수도 있다. 하지만, 이 경우에는 보호층을 기판(110)의 외측벽으로부터 일정한 거리만큼 이격시키기 위해, 기판(110)의 가장자리 부분이 외곽 쪽으로 더 연장되어야 하기 때문에 상기 디스플레이 장치의 베젤 폭이 증가하는 단점이 있다. 따라서, 상기 캐소드 전원 공급 라인(160)은 상기 구동 전원 공급 라인(150)과 표시부(120) 사이에 형성되는 것이 바람직하다.Meanwhile, the cathode power supply line 160 may be formed to be closer to the outer wall of the substrate 110 than the driving power supply line 150. However, in this case, in order to separate the protective layer from the outer wall of the substrate 110 by a predetermined distance, the edge portion of the substrate 110 needs to be further extended toward the outer side, thereby increasing the width of the bezel of the display device. Accordingly, the cathode power supply line 160 is preferably formed between the driving power supply line 150 and the display unit 120.

도 7은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 장치를 간략하게 나타내는 도면이며, 도 8은 본 발명에 따른 화소 패턴 검사 장치의 검사 진행 방향을 나타내는 도면이다.7 is a diagram schematically illustrating a pixel pattern inspection apparatus for a display device according to a first example of the present invention, and FIG. 8 is a diagram illustrating an inspection progress direction of the pixel pattern inspection apparatus according to the present invention.

도 7 및 도 8을 참조하여 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치의 화소 패턴 검사 방법을 설명하면 다음과 같다.A method of inspecting a pixel pattern of a display device according to a first example of the present invention will be described with reference to FIGS. 7 and 8.

먼저, 화소 패턴 검사 방법은 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치(100)를 스테이지(200)에 안착시킨 후, 스테이지(200)(또는 카메라(300))를 표시 라인의 길이 방향(X)으로 이동시키면서 카메라(300)를 이용하여 하나의 표시 화소(P)를 순차적으로 촬상하고, 촬상된 화소 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단하게 된다.First, in the pixel pattern inspection method, after mounting the display device 100 according to the first example of the present invention on the stage 200, the stage 200 (or the camera 300) is placed in the longitudinal direction (X) of the display line. While moving to, one display pixel P is sequentially captured using the camera 300, and the captured pixel image is analyzed in real time to determine whether a pixel is defective.

구체적으로, 패턴 검사 제어부(미도시)는 카메라(300)가 제 1 표시 라인 상에 위치하도록 스테이지(200)의 위치를 정렬한다.Specifically, the pattern inspection control unit (not shown) arranges the position of the stage 200 so that the camera 300 is positioned on the first display line.

이어서, 패턴 검사 제어부는 스테이지(200)를 제 1 표시 라인의 길이 방향에 대응되는 제 1 방향(X)으로 이동시킴과 동시에 카메라(300)로부터 제공되는 제 1 표시 라인의 화소 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단한다. 이때, 패턴 검사 제어부는 제 1 표시 라인의 화소 이미지에서 제 1 플래그 키(FK1)가 검출되기 전까지는 화소의 불량 여부를 판단하지 않고, 제 1 플래그 키(FK1)가 검출되면 검출된 제 1 플래그 키(FK1)를 제 1 표시 라인의 화소 시작 플래그로 인식하고, 검출된 제 1 플래그 키(FK1) 이후의 화소 이미지부터 표시 화소(P)에 대한 화소의 불량 여부를 판단하게 된다. 또한, 패턴 검사 제어부는 제 1 표시 라인의 화소 이미지에서 제 2 플래그 키(FK2)가 검출되면, 검출된 제 2 플래그 키(FK2)를 제 1 표시 라인의 화소 끝 플래그로 인식하여 제 1 표시 라인에 대한 화소 패턴 검사를 중단하고, 카메라(300)로부터 제공되는 화소 이미지에서 제 2 표시 라인의 제 2 플래그 키(FK2)가 검출될 때까지 스테이지를 설정된 길이만큼 제 1 방향(X)으로 더 이동시킨다.Subsequently, the pattern inspection control unit moves the stage 200 in the first direction X corresponding to the length direction of the first display line and analyzes the pixel image of the first display line provided from the camera 300 in real time. Thus, it is determined whether or not the pixel is defective. At this time, the pattern inspection control unit does not determine whether the pixel is defective until the first flag key FK1 is detected in the pixel image of the first display line, and when the first flag key FK1 is detected, the detected first flag The key FK1 is recognized as a pixel start flag of the first display line, and it is determined whether a pixel for the display pixel P is defective from the detected pixel image after the first flag key FK1. Also, when the second flag key FK2 is detected in the pixel image of the first display line, the pattern inspection control unit recognizes the detected second flag key FK2 as a pixel end flag of the first display line, Stop checking the pixel pattern for, and move the stage further in the first direction X by a set length until the second flag key FK2 of the second display line is detected in the pixel image provided from the camera 300 Let it.

이어서, 패턴 검사 제어부는 제 2 표시 라인의 제 2 플래그 키(FK2)가 검출되면, 스테이지(200)의 제 1 방향(X)의 이동을 중단시키고, 카메라(300)가 제 2 표시 라인 상에 위치하도록 상기 스테이지를 제 1 방향(X)과 교차하는 제 2 방향(Y)으로 이동시킨다.Subsequently, when the second flag key FK2 of the second display line is detected, the pattern inspection control unit stops the movement of the stage 200 in the first direction X, and the camera 300 is on the second display line. The stage is moved in a second direction Y crossing the first direction X to be positioned.

이어서, 패턴 검사 제어부는 스테이지(200)를 제 1 방향(X)으로 이동시킴과 동시에 카메라(300)로부터 제공되는 제 2 표시 라인의 화소 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단한다. 이때, 패턴 검사 제어부는 제 2 표시 라인의 화소 이미지에서 제 2 플래그 키(FK2)가 검출되기 전까지는 화소의 불량 여부를 판단하지 않고, 제 2 플래그 키(FK2)가 검출되면 검출된 제 2 플래그 키(FK2)를 제 2 표시 라인의 화소 시작 플래그로 인식하고, 검출된 제 2 플래그 키(FK2) 이후의 화소 이미지부터 표시 화소(P)에 대한 화소의 불량 여부를 판단하게 된다. 또한, 패턴 검사 제어부는 제 2 표시 라인의 화소 이미지에서 제 1 플래그 키(FK1)가 검출되면, 검출된 제 1 플래그 키(FK1)를 제 2 표시 라인의 화소 끝 플래그로 인식하여 제 2 표시 라인에 대한 화소 패턴 검사를 중단하고, 카메라(300)로부터 제공되는 화소 이미지에서 제 3 표시 라인의 제 1 플래그 키(FK1)가 검출될 때까지 스테이지(200)를 설정된 길이만큼 제 1 방향(X)으로 더 이동시킨다.Subsequently, the pattern inspection control unit moves the stage 200 in the first direction X and analyzes the pixel image of the second display line provided from the camera 300 in real time to determine whether a pixel is defective. At this time, the pattern inspection control unit does not determine whether the pixel is defective until the second flag key FK2 is detected in the pixel image of the second display line, and when the second flag key FK2 is detected, the detected second flag The key FK2 is recognized as a pixel start flag of the second display line, and it is determined whether or not a pixel for the display pixel P is defective from the detected pixel image after the second flag key FK2. Also, when the first flag key FK1 is detected in the pixel image of the second display line, the pattern inspection control unit recognizes the detected first flag key FK1 as a pixel end flag of the second display line, Stops the pixel pattern inspection for and moves the stage 200 in the first direction X by a set length until the first flag key FK1 of the third display line is detected in the pixel image provided from the camera 300. Move further.

이어서, 패턴 검사 제어부는 제 3 표시 라인의 제 1 플래그 키(FK1)가 검출되면, 스테이지(200)의 제 1 방향(X)의 이동을 중단시키고, 카메라(300)가 제 3 표시 라인 상에 위치하도록 상기 스테이지(200)를 제 2 방향(Y)으로 이동시킨다.Subsequently, when the first flag key FK1 of the third display line is detected, the pattern inspection control unit stops the movement of the stage 200 in the first direction X, and the camera 300 is on the third display line. The stage 200 is moved in the second direction Y to be positioned.

그런 다음, 패턴 검사 제어부는 제 3 표시 라인부터 마지막 표시 라인까지 전술한 제 1 및 제 2 표시 라인의 화소 패턴 검사 방법과 동일하게 스테이지(200)를 이동시키면서 화소 패턴 검사를 수행함으로써 표시부(120)에 형성된 모든 표시 화소(P)에 대한 화소 패턴 검사를 수행한다.Then, the pattern inspection control unit performs a pixel pattern inspection while moving the stage 200 in the same manner as the pixel pattern inspection method of the first and second display lines from the third display line to the last display line. Pixel pattern inspection is performed on all the display pixels P formed in

이와 같은, 본 발명의 제 1 예는 표시 화소(P)로 이루어진 각 표시 라인의 양 끝단에 형성된 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함함으로써 화소 패턴 검사 공정시 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 통해 표시부(120)의 화소 형성 영역만을 검사하므로 스테이지(또는 카메라)의 불필요한 이동 거리를 줄일 수 있으며, 비사각 형태의 표시부(120)를 갖는 디스플레이 장치의 패턴 검사 공정을 용이하게 할 수 있고, 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다.As described above, the first example of the present invention includes first and second flag keys FK1 and FK2 formed at both ends of each display line made of the display pixels P, so that the first and second flag keys are formed during the pixel pattern inspection process. Since only the pixel formation area of the display unit 120 is inspected through the flag keys FK1 and FK2, unnecessary moving distance of the stage (or camera) can be reduced, and a pattern inspection process of a display device having a non-rectangular type display unit 120 Can be facilitated, and productivity can be improved by reducing the pattern inspection process time.

한편, 전술한 설명에서는, 각 표시 라인의 양 끝단에 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)가 형성되는 것으로 설명하였지만, 이에 한정되지 않고, 플래그 키는 표시부(120)의 일측 외곽부 또는 타측 외곽부에 형성되거나, 표시부(120)의 일측 외곽부와 타측 외곽부에 번갈아가며 형성될 수 있다. 이 경우, 본 발명은 각 표시 라인마다 화소 패턴 검사의 시작 전 스테이지(또는 카메라)의 이동 거리 또는 화소 패턴 검사의 종료 이후 스테이지(또는 카메라)의 이동 거리를 줄일 수 있다.Meanwhile, in the above description, it has been described that the first and second flag keys FK1 and FK2 are formed at both ends of each display line, but the present invention is not limited thereto, and the flag key is an outer portion of the display unit 120 or It may be formed on the other outer portion, or may be formed alternately on one outer portion and the other outer portion of the display unit 120. In this case, the present invention can reduce the moving distance of the stage (or camera) before the start of the pixel pattern inspection for each display line or the moving distance of the stage (or camera) after the end of the pixel pattern inspection.

도 9 및 도 10은 본 발명의 제 2 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면들로서, 도 9는 도 3에 도시된 A 부분의 다른 확대도이며, 도 10은 도 3에 도시된 B 부분의 다른 확대도이다. 이러한, 본 발명의 제 2 예에 따른 디스플레이 장치는 본 발명의 제 1 예에 따른 디스플레이 장치에서 표시 영역의 외곽부에 복수의 더미 화소를 추가로 구성하고, 제 1 및 제 2 플래그 키의 위치를 변경한 것이다. 이에 따라, 이하의 설명에서는 복수의 더미 화소와 제 1 및 제 2 플래그 키에 대해서는 설명하기로 한다.9 and 10 are diagrams for explaining a display device according to a second example of the present invention, and FIG. 9 is another enlarged view of portion A shown in FIG. 3, and FIG. 10 is Another enlarged view. In the display device according to the second example of the present invention, in the display device according to the first example of the present invention, a plurality of dummy pixels are additionally configured on the outer portion of the display area, and the positions of the first and second flag keys are I changed it. Accordingly, in the following description, a plurality of dummy pixels and first and second flag keys will be described.

도 9 및 도 10을 참조하면, 복수의 더미 화소(DP)는 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)들 각각에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 즉, 복수의 더미 화소(DP)는 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)들을 둘러싸도록 표시 영역(AA)의 외곽부 둘레를 따라 형성된다. 이러한, 복수의 더미 화소(DP)는 표시 영역(AA)에 형성된 표시 화소(P)와 달리 영상을 표시하지 않는 대신에 외부의 정전기가 표시 영역(AA)의 표시 화소(P)로 전달되는 것을 방지하는 정전기 방지 회로의 역할을 한다.9 and 10, a plurality of dummy pixels DP are formed in the outer portion of the display area AA to be adjacent to each of the display pixels P formed in the outer portion of the display area AA. That is, the plurality of dummy pixels DP are formed along the periphery of the outer portion of the display area AA to surround the display pixels P formed on the outer portion of the display area AA. Unlike the display pixels P formed in the display area AA, the plurality of dummy pixels DP do not display an image, but prevent external static electricity from being transferred to the display pixels P in the display area AA. It acts as an antistatic circuit to prevent it.

상기 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)는 표시 라인의 길이 방향에 대응되는 표시부(120)의 각 라인의 양 끝단에 형성되는 것으로, 이는 화소 패턴 검사 공정시 표시부(120)에 형성된 화소(P, DP)의 위치를 제공하기 위한 것이다.The first and second flag keys FK1 and FK2 are formed at both ends of each line of the display unit 120 corresponding to the length direction of the display line, and this is a pixel formed on the display unit 120 during the pixel pattern inspection process. It is to provide the location of (P, DP).

상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 라인마다 첫번째 더미 화소(DP)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성되는 것을 제외하고는 전술한 바와 동일하므로, 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.Since the first flag key FK1 is the same as described above, except that the first flag key FK1 is formed on the outer portion of the display area AA so as to be adjacent to the first dummy pixel DP for each line, a redundant description thereof will be omitted. do.

상기 제 2 플래그 키(FK2)는 각 라인마다 마지막 더미 화소(DP)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성되는 것을 제외하고는 전술한 바와 동일하므로, 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.The second flag key FK2 is the same as described above, except that the second flag key FK2 is formed in the outer portion of the display area AA so as to be adjacent to the last dummy pixel DP for each line, and thus a redundant description thereof will be omitted. do.

한편, 상기 복수의 더미 화소(DP)와 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함하는 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 방법은 각 라인에 형성된 더미 화소(DP)와 표시 화소(P)의 화소 패턴 검사를 수행하는 것을 제외하고는 도 8과 동일한 패턴 검사 과정을 통해 수행되므로, 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.Meanwhile, the method of inspecting a pixel pattern for a display device including the plurality of dummy pixels DP and first and second flag keys FK1 and FK2 is a method of inspecting a dummy pixel DP and a display pixel P formed on each line. Except for performing the pixel pattern inspection of, it is performed through the same pattern inspection process as in FIG. 8, so a description thereof will be omitted.

따라서, 본 발명의 제 2 예는 비사각 형태의 표시부(120)를 갖는 디스플레이 장치의 패턴 검사 공정을 용이하게 할 수 있고, 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있으며, 더미 화소(DP)를 이용해 정전기로 인한 표시 화소(P)의 손상을 방지할 수 있다.Accordingly, in the second example of the present invention, the pattern inspection process of the display device having the non-rectangular shape display unit 120 can be facilitated, the pattern inspection process time can be reduced to improve productivity, and the dummy pixel DP By using, it is possible to prevent damage to the display pixel P due to static electricity.

도 11 및 도 12는 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치를 설명하기 위한 도면들로서, 도 11은 도 3에 도시된 A 부분의 또 다른 확대도이며, 도 12는 도 3에 도시된 B 부분의 또 다른 확대도이다. 이러한, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치는 화소 대 화소 검사 방식에 기초하여, 하나의 화소 주변에 배치된 화소들을 비교하여 화소의 불량 여부를 판단하는 화소 패턴 검사 공정을 위한 것이다. 이에 따라, 이하의 설명에서는 표시부(120)에 형성되는 화소 배치 구조에 대해서만 설명하기로 한다.11 and 12 are diagrams for explaining a display device according to a third example of the present invention, and FIG. 11 is another enlarged view of part A shown in FIG. 3, and FIG. 12 is a part B shown in FIG. 3. Is another enlarged view of. The display device according to the third example of the present invention is for a pixel pattern inspection process of determining whether a pixel is defective by comparing pixels disposed around one pixel based on a pixel-to-pixel inspection method. Accordingly, in the following description, only the pixel arrangement structure formed on the display unit 120 will be described.

먼저, 표시부(120)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)는 화소 패턴 검사 공정시 결함 화소로 인식되는 문제점이 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치의 표시부(120)는 표시 영역(AA)의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소(P), 및 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)들을 둘러싸는 복수의 더미 화소(DP)를 포함한다.First, there is a problem in that the display pixel P formed on the outer portion of the display unit 120 is recognized as a defective pixel during the pixel pattern inspection process. In order to solve this problem, the display unit 120 of the display device according to the third example of the present invention includes a plurality of display pixels P formed for each display line of the display area AA, and an outer portion of the display area AA. And a plurality of dummy pixels DP surrounding the display pixels P formed in

상기 표시부(120)는 표시 라인의 길이 방향에 대응되는 제 1 방향(X)과 교차하는 제 2 방향(Y)으로 인접한 N개(단, N은 3 이상의 자연수)의 라인 단위로 이루어진 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)을 갖는다. 여기서, 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)에 포함되는 N개의 라인은 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 공정에 설정된 N×N 형태의 검사 블록(IB)의 라인 수에 대응되도록 설정된다.The display unit 120 includes a plurality of lines consisting of N line units (wherein N is a natural number of 3 or more) adjacent to the second direction Y crossing the first direction X corresponding to the length direction of the display line. It has a group (LG1, LG2, LG3, ...). Here, the N lines included in the line group (LG1, LG2, LG3, ...) are set to correspond to the number of lines of the N×N type inspection block IB set in the pixel pattern inspection process for the display device. .

상기 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 각각에 포함된 N개의 라인 각각의 화소(P, DP)의 개수는 동일하게 설정된다. 즉, 표시부(120)의 곡률에 따라 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)에 포함된 N개의 라인 각각은 상이한 개수의 표시 화소(P)를 가지므로, 화소 패턴 검사 공정시 결함 화소로 인식되는 문제점이 있다. 이러한 문제점을 해결하기 위해, 본 발명은 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 단위로 상기 N개의 라인 각각의 양 끝단에 더미 화소(DP)를 추가로 형성함으로써 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)별로 상기 N개의 라인 모두가 동일한 화소 수로 이루어지도록 한다. 여기서, 상기 더미 화소(DP)에는 화소 패턴 검사 공정시 화소 인식율을 높이기 위해 컨택 홀이 형성되지 않을 수 있다.The number of pixels P and DP of each of the N lines included in each of the plurality of line groups LG1, LG2, LG3, ... is set equally. That is, since each of the N lines included in the line group LG1, LG2, LG3, ... has a different number of display pixels P according to the curvature of the display unit 120, defective pixels during the pixel pattern inspection process There is a problem recognized as. In order to solve this problem, the present invention further forms dummy pixels DP at both ends of each of the N lines in units of line groups (LG1, LG2, LG3, ...), thereby forming line groups LG1, LG2. , LG3, ...), all of the N lines are formed with the same number of pixels. Here, a contact hole may not be formed in the dummy pixel DP to increase a pixel recognition rate during a pixel pattern inspection process.

예를 들어, 제 1 라인 그룹(LG1)은 표시부(120)에 형성된 제 1 내지 제 3 라인으로 이루어지고, 상기 제 1 내지 제 3 라인 각각은 모두 i(단, i는 자연수)개의 화소(P, DP)로 이루어질 수 있다. 이때, 상기 제 1 라인은 i개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있고, 제 2 라인은 j(단, j는 i보다 작은 자연수)개의 표시 화소(P)와 i-j개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있으며, 및 제 3 라인은 k(단, k는 i보다 작은 자연수)개의 표시 화소(P)와 i-k개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있다. 이에 따라, 제 1 라인 그룹(LG1)의 제 1 내지 제 3 라인이 모두 동일한 화소(P. DP) 수로 이루어짐으로써 표시부(120)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)와 그 주변에 형성된 더미 화소(DP)는 3×3 형태의 화소 배치 구조를 갖게 된다.For example, the first line group LG1 includes first to third lines formed on the display unit 120, and each of the first to third lines is i (where i is a natural number) pixels P , DP). In this case, the first line may be formed of i dummy pixels DP, and the second line may include j (where j is a natural number less than i) number of display pixels P and ij number of dummy pixels DP. And, the third line may include k (where k is a natural number less than i) number of display pixels P and ik number of dummy pixels DP. Accordingly, since the first to third lines of the first line group LG1 are all formed with the same number of pixels P. DP, the display pixels P formed on the outer portion of the display unit 120 and the dummy pixels formed around the display unit 120 (DP) has a 3x3 pixel arrangement structure.

예를 들어, 제 2 라인 그룹(LG2)은 표시부(120)에 형성된 제 4 내지 제 6 라인으로 이루어지고, 상기 제 4 내지 제 6 라인 각각은 모두 i+a(단, a는 자연수)개의 화소(P, DP)로 이루어질 수 있다. 이때, 상기 제 4 라인은 i-2개의 표시 화소(P)와 a개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있으며, 제 5 라인은 i+b(단, b는 a보다 작은 자연수)개의 표시 화소(P)와 a-b개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있으며, 및 제 6 라인은 i+c(단, c는 b보다 작은 자연수)개의 표시 화소(P)와 a-c개의 더미 화소(DP)로 이루어질 수 있다. 이와 같이, 제 2 라인 그룹(LG2)의 제 4 내지 제 6 라인이 모두 동일한 화소(P. DP) 수로 이루어짐으로써 표시부(120)의 외곽부에 형성된 표시 화소(P)와 그 주변에 형성된 더미 화소(DP)는 3×3 형태의 화소 배치 구조를 갖게 된다.For example, the second line group LG2 includes fourth to sixth lines formed on the display unit 120, and each of the fourth to sixth lines is i+a (where a is a natural number) pixels. It can be made of (P, DP). In this case, the fourth line may include i-2 display pixels P and a dummy pixels DP, and the fifth line includes i+b (where b is a natural number less than a) number of display pixels ( P) and ab dummy pixels DP, and the sixth line may include i+c (where c is a natural number less than b) display pixels P and ac dummy pixels DP. have. In this way, since the fourth to sixth lines of the second line group LG2 are all formed with the same number of pixels P. DP, the display pixels P formed on the outer portion of the display unit 120 and the dummy pixels formed around them (DP) has a 3x3 pixel arrangement structure.

한편, 화소 패턴 검사 공정이 하나의 화소씩 이동하면서 3×3 형태의 검사 블록(IB)마다 수행될 경우, 검사 진행 방향을 기준으로 제 1 라인 그룹(LG1)의 화소 배치 구조가 검사 블록(IB)과 매칭되는 3×3 형태를 이루어짐으로써 화소 패턴 검사 공정시 표시부(120)의 외곽부에 배치된 표시 화소(P)가 화소 결함으로 인식되지 않게 된다.On the other hand, when the pixel pattern inspection process is performed for each 3×3 type inspection block IB while moving one pixel at a time, the pixel arrangement structure of the first line group LG1 is determined based on the inspection progress direction. ), the display pixel P disposed on the outer portion of the display unit 120 is not recognized as a pixel defect during the pixel pattern inspection process.

구체적으로, 도 11 및 도 12를 도 6과 결부하면, 화소 패턴 검사 공정은 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치(100)를 스테이지(200)에 안착시킨 후, 스테이지(200)(또는 카메라(300))를 표시 라인의 길이 방향(X)으로 이동시키면서 카메라(300)를 이용하여 하나의 검사 블록(IB)을 순차적으로 촬상하고, 촬상된 블록 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단하게 된다.Specifically, referring to FIGS. 11 and 12 with FIG. 6, the pixel pattern inspection process is performed after mounting the display device 100 according to the third example of the present invention on the stage 200, and then the stage 200 (or the camera). While moving (300)) in the longitudinal direction (X) of the display line, one inspection block (IB) is sequentially captured using the camera 300, and the captured block image is analyzed in real time to determine whether a pixel is defective. Judge.

구체적으로, 패턴 검사 제어부(미도시)는 카메라(300)가 제 1 라인 그룹 상에 위치하도록 스테이지(200)의 위치를 정렬한다.Specifically, the pattern inspection control unit (not shown) arranges the position of the stage 200 so that the camera 300 is positioned on the first line group.

이어서, 패턴 검사 제어부는 스테이지(200)를 제 1 라인 그룹의 길이 방향에 대응되는 제 1 방향(X)으로 이동시킴과 동시에 카메라(300)로부터 제공되는 제 1 라인 그룹의 블록 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단한다. 이때, 제 1 라인 그룹(LG1)의 화소 배치 구조가 검사 블록(IB)과 매칭되는 3×3 형태를 이루어짐으로써 제 1 라인 그룹(LG1)의 외곽부에 배치된 표시 화소(P)가 화소 결함으로 인식되지 않고 검사 공정이 수행되게 된다.Subsequently, the pattern inspection control unit moves the stage 200 in the first direction X corresponding to the length direction of the first line group and analyzes the block image of the first line group provided from the camera 300 in real time. Thus, it is determined whether or not the pixel is defective. At this time, since the pixel arrangement structure of the first line group LG1 has a 3×3 shape that matches the inspection block IB, the display pixel P disposed at the outer portion of the first line group LG1 is a pixel defect. Is not recognized and the inspection process is performed.

이어서, 패턴 검사 제어부는 제 1 라인 그룹(LG1)의 검사 공정이 완료되면, 카메라(300)가 제 2 라인 그룹(LG2) 상에 위치하도록 상기 스테이지를 제 1 방향(X)과 교차하는 제 2 방향(Y)으로 이동시킨다.Subsequently, when the inspection process of the first line group LG1 is completed, the pattern inspection control unit moves the stage to the second line group LG2 so that the camera 300 is positioned on the second line group LG2. Move in the direction (Y).

이어서, 패턴 검사 제어부는 스테이지(200)를 제 1 방향(X)으로 이동시킴과 동시에 카메라(300)로부터 제공되는 제 2 라인 그룹(LG2)의 블록 이미지를 실시간으로 분석하여 화소의 불량 여부를 판단한다. 이때, 제 2 라인 그룹(LG2)의 화소 배치 구조가 검사 블록(IB)과 매칭되는 3×3 형태를 이루어짐으로써 제 2 라인 그룹(LG2)의 외곽부에 배치된 표시 화소(P)가 화소 결함으로 인식되지 않고 검사 공정이 수행되게 된다.Subsequently, the pattern inspection control unit moves the stage 200 in the first direction X and analyzes the block image of the second line group LG2 provided from the camera 300 in real time to determine whether a pixel is defective. do. At this time, since the pixel arrangement structure of the second line group LG2 has a 3×3 shape that matches the inspection block IB, the display pixel P disposed at the outer portion of the second line group LG2 is a pixel defect. Is not recognized and the inspection process is performed.

이어서, 패턴 검사 제어부는 제 2 라인 그룹(LG2)의 검사 공정이 완료되면, 카메라(300)가 제 3 라인 그룹(LG3) 상에 위치하도록 상기 스테이지를 제 1 방향(X)과 교차하는 제 2 방향(Y)으로 이동시킨다.Subsequently, when the inspection process of the second line group LG2 is completed, the pattern inspection control unit moves the stage to the second direction X so that the camera 300 is positioned on the third line group LG3. Move in the direction (Y).

그런 다음, 패턴 검사 제어부는 제 3 라인 그룹(LG3)부터 마지막 라인 그룹까지 전술한 제 1 및 제 2 라인 그룹의 화소 패턴 검사 방법과 동일하게 스테이지(200)를 이동시키면서 화소 패턴 검사를 수행함으로써 표시부(120)에 형성된 모든 표시 화소(P)에 대한 화소 패턴 검사를 수행한다.Then, the pattern inspection control unit performs pixel pattern inspection while moving the stage 200 in the same manner as the pixel pattern inspection method of the first and second line groups from the third line group LG3 to the last line group. Pixel pattern inspection is performed on all the display pixels P formed in 120.

이와 같은, 본 발명의 제 3 예는 더미 화소(DP)를 이용하여 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 각각에 포함된 N개의 라인 각각의 화소 수를 동일하게 함으로써 표시부(120)의 외곽부에 배치된 표시 화소(P)가 화소 결함으로 인식되는 것을 방지하고, 이를 통해 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다.As such, the third example of the present invention uses the dummy pixel DP to equalize the number of pixels of each of the N lines included in each of the plurality of line groups LG1, LG2, LG3, ... It is possible to prevent the display pixel P disposed on the outer portion of the 120) from being recognized as a pixel defect, thereby reducing a pattern inspection process time, thereby improving productivity.

한편, 본 발명의 제 3 예에 따른 디스플레이 장치는 상기 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 각각의 일측 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키(FK1), 및 상기 복수의 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...) 각각의 타측 외곽부에 형성된 제 2 플래그 키(FK2)를 더 포함할 수 있다.On the other hand, the display device according to the third example of the present invention includes a first flag key FK1 formed on an outer portion of each of the plurality of line groups LG1, LG2, LG3, ..., and the plurality of line groups. (LG1, LG2, LG3, ...) It may further include a second flag key (FK2) formed in the outer portion of each of the other side.

상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)마다 첫번째 더미 화소(DP)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 여기서, 상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)에 포함된 N개의 라인 중 어느 하나에 형성된 첫번째 더미 화소(DP)에 인접하도록 형성될 수 있다. 이러한, 상기 제 1 플래그 키(FK1)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)의 일측 외곽부에 형성되는 것을 제외하고는 전술한 바와 동일하므로, 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.The first flag key FK1 is formed in the outer portion of the display area AA so as to be adjacent to the first dummy pixel DP for each line group LG1, LG2, LG3, ...). Here, the first flag key FK1 may be formed to be adjacent to the first dummy pixel DP formed on any one of N lines included in each line group LG1, LG2, LG3, .... Since the first flag key FK1 is the same as described above, except that it is formed on one outer edge of each line group LG1, LG2, LG3, ...), a redundant description thereof will be omitted. do.

상기 제 2 플래그 키(FK2)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)마다 마지막 더미 화소(DP)에 인접하도록 표시 영역(AA)의 외곽부에 형성된다. 여기서, 상기 제 2 플래그 키(FK2)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)에 포함된 N개의 라인 중 어느 하나에 형성된 마지막 더미 화소(DP)에 인접하도록 형성될 수 있다. 이러한, 상기 제 2 플래그 키(FK1)는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)의 타측 외곽부에 형성되는 것을 제외하고는 전술한 바와 동일하므로, 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.The second flag key FK2 is formed in the outer portion of the display area AA so as to be adjacent to the last dummy pixel DP for each line group LG1, LG2, LG3, .... Here, the second flag key FK2 may be formed to be adjacent to the last dummy pixel DP formed on any one of N lines included in each line group LG1, LG2, LG3, .... The second flag key FK1 is the same as described above, except that the second flag key FK1 is formed on the other outer portion of each line group LG1, LG2, LG3, ..., so a redundant description thereof will be omitted. do.

이와 같은, 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함하는 디스플레이 장치에 대한 화소 패턴 검사 방법은 스테이지의 이동 방향에 따라 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 라인 그룹의 화소 시작 플래그 또는 라인 그룹의 화소 끝 플래그로 인식하는 것을 제외하고는 도 8과 동일한 패턴 검사 과정을 통해 수행되므로, 이에 대한 설명은 생략하기로 한다.In such a method of inspecting a pixel pattern for a display device including the first and second flag keys FK1 and FK2, the first and second flag keys FK1 and FK2 are applied to the pixels of the line group according to the moving direction of the stage. Since it is performed through the same pattern inspection process as in FIG. 8 except that the start flag or the end flag of the pixel of the line group is recognized, a description thereof will be omitted.

따라서, 본 발명의 제 3 예는 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)의 양 끝단에 형성된 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 포함함으로써 화소 패턴 검사 공정시 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)를 통해 표시부(120)의 화소 형성 영역만을 검사하므로 스테이지(또는 카메라)의 불필요한 이동 거리를 줄이고, 이를 통해 패턴 검사 공정 시간을 줄여 생산성을 향상시킬 수 있다.Accordingly, the third example of the present invention includes first and second flag keys FK1, FK2 formed at both ends of each line group (LG1, LG2, LG3, ...). And since only the pixel formation area of the display unit 120 is inspected through the second flag keys FK1 and FK2, the unnecessary moving distance of the stage (or the camera) is reduced, thereby reducing the pattern inspection process time, thereby improving productivity.

한편, 전술한 설명에서는, 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)의 양 끝단에 제 1 및 제 2 플래그 키(FK1, FK2)가 형성되는 것으로 설명하였지만, 이에 한정되지 않고, 상기 플래그 키(FK1, FK2)는 표시부(120)의 일측 외곽부 또는 타측 외곽부에 형성되거나, 표시부(120)의 일측 외곽부와 타측 외곽부에 번갈아가며 형성될 수 있다. 이 경우, 본 발명은 각 라인 그룹(LG1, LG2, LG3, ...)마다 화소 패턴 검사의 시작 전 스테이지(또는 카메라)의 이동 거리 또는 화소 패턴 검사의 종료 이후 스테이지(또는 카메라)의 이동 거리를 줄일 수 있다.Meanwhile, in the above description, it has been described that the first and second flag keys FK1 and FK2 are formed at both ends of each line group (LG1, LG2, LG3, ...), but the present invention is not limited thereto. The flag keys FK1 and FK2 may be formed on one outer portion or the other outer portion of the display unit 120, or may be alternately formed on one outer portion and the other outer portion of the display unit 120. In this case, the present invention relates to the moving distance of the stage (or camera) before the start of the pixel pattern inspection for each line group (LG1, LG2, LG3, ...) or the moving distance of the stage (or camera) after the end of the pixel pattern inspection. Can be reduced.

이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사항을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and that various substitutions, modifications, and changes are possible within the scope of the technical matters of the present invention. It will be obvious to those who have the knowledge of. Therefore, the scope of the present invention is indicated by the claims to be described later, and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be interpreted as being included in the scope of the present invention.

100: 지지 기판 110: 기판
111: 원호부 113: 구동 회로 접속부
115: 터치 회로 접속부 120: 표시부
130: 구동 회로부 140: 스캔 구동 회로
150: 구동 전원 공급 라인 160: 캐소드 전원 공급 라인
200: 스테이지 300: 카메라
100: support substrate 110: substrate
111: arc part 113: drive circuit connection part
115: touch circuit connection portion 120: display portion
130: driving circuit unit 140: scan driving circuit
150: driving power supply line 160: cathode power supply line
200: stage 300: camera

Claims (8)

기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부;
상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및
상기 표시 라인의 일측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키를 포함하는, 디스플레이 장치.
A display unit defined in a non-rectangular shape on the substrate;
A plurality of display pixels formed for each display line of a display area defined on the display unit; And
And a first flag key formed on an outer portion of the display area adjacent to one side of the display line.
제 1 항에 있어서,
상기 표시 라인의 타측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 2 플래그 키를 더 포함하는, 디스플레이 장치.
The method of claim 1,
The display device further comprising a second flag key formed on an outer portion of the display area adjacent to the other side of the display line.
제 2 항에 있어서,
상기 제 1 플래그 키는 상기 표시 라인의 첫번째 표시 화소에 인접하게 형성되고,
상기 제 2 플래그 키는 상기 표시 라인의 마지막 표시 화소에 인접하게 형성된, 디스플레이 장치.
The method of claim 2,
The first flag key is formed adjacent to a first display pixel of the display line,
The second flag key is formed adjacent to a last display pixel of the display line.
제 1 항에 있어서,
상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 표시 화소들을 둘러싸는 복수의 더미 화소를 더 포함하고,
상기 제 1 플래그 키는 상기 표시 라인의 첫번째 더미 화소에 인접하도록 형성된, 디스플레이 장치.
The method of claim 1,
Further comprising a plurality of dummy pixels surrounding display pixels formed on an outer portion of the display area,
The first flag key is formed to be adjacent to a first dummy pixel of the display line.
제 4 항에 있어서,
상기 표시 라인의 마지막 더미 화소에 인접하도록 형성된 제 2 플래그 키를 더 포함하는, 디스플레이 장치.
The method of claim 4,
The display device further comprising a second flag key formed to be adjacent to the last dummy pixel of the display line.
기판 상에 비사각 형태로 정의된 표시부;
상기 표시부에 정의된 표시 영역의 표시 라인마다 형성된 복수의 표시 화소; 및
상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 표시 화소들을 둘러싸는 복수의 더미 화소를 포함하고,
상기 표시부는 상기 표시 라인의 길이 방향과 교차하는 방향으로 인접한 N개(단, N은 3 이상의 자연수)의 라인 단위로 이루어진 복수의 라인 그룹을 가지며,
상기 복수의 라인 그룹 단위로 상기 N개의 라인은 동일한 화소 수를 갖는, 디스플레이 장치.
A display unit defined in a non-rectangular shape on the substrate;
A plurality of display pixels formed for each display line of a display area defined on the display unit; And
A plurality of dummy pixels surrounding display pixels formed on an outer portion of the display area,
The display unit has a plurality of line groups consisting of N line units (wherein N is a natural number of 3 or more) adjacent in a direction crossing the length direction of the display line,
The display device, wherein the N lines have the same number of pixels in units of the plurality of line groups.
제 6 항에 있어서,
상기 라인 그룹의 일측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 1 플래그 키를 더 포함하는, 디스플레이 장치.
The method of claim 6,
The display device further comprising a first flag key formed on an outer portion of the display area adjacent to one side of the line group.
제 7 항에 있어서,
상기 라인 그룹의 타측에 인접한 상기 표시 영역의 외곽부에 형성된 제 2 플래그 키를 더 포함하는, 디스플레이 장치.
The method of claim 7,
The display device further comprising a second flag key formed on an outer portion of the display area adjacent to the other side of the line group.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009069768A (en) 2007-09-18 2009-04-02 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd Liquid crystal display device
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