KR102139670B1 - Laser dazzling effectiveness measuring apparatus and method - Google Patents
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Abstract
Description
이하의 설명은 레이저 대즐링 효과도 측정 장치에 관한 것이다.The following description relates to a laser dazzling effect degree measuring device.
레이저 대즐링 효과는 레이저를 영상 센서에 조사하여 의도적으로 영상 센서의 획득 영상을 왜곡시키는 효과이다. 레이저 대즐러는 영상 센서의 영상을 왜곡시킴으로써 대상 물체의 위치 정보, 이동 정보, 형상 왜곡 등 영상을 교란시키는 목적으로 사용된다. 레이저 대즐링 효과는 빛을 이용한 효과로서 주변 조도에 따른 영상 센서의 반응이 중요한 요소이다. 일반적으로 영상 센서는 획득 가능한 빛의 최소 값과 최대 값의 비율인 다이나믹 레인지(Dynamic range) 값을 가지고 있다. 영상 센서를 통해 획득되는 영상은 일광, 무광, 월광 조건에 따라 다르다. 레이저 대즐링 효과 측면에서도 주변 조도에 따라 영상 센서 수광부의 포화를 유도하기 위하여 요구되는 빛의 세기가 달라진다.The laser dazzling effect is an effect of intentionally distorting an acquired image of an image sensor by irradiating a laser to the image sensor. The laser dazzle is used for the purpose of disturbing an image such as location information, movement information, and shape distortion of an object by distorting the image of the image sensor. The laser dazzling effect is an effect using light, and the response of the image sensor according to ambient light is an important factor. In general, an image sensor has a dynamic range value that is a ratio of a minimum value and a maximum value of light that can be obtained. The image acquired by the image sensor depends on the daylight, matte, and moonlight conditions. In terms of the laser dazzling effect, the intensity of light required to induce saturation of the image sensor light-receiving unit varies depending on the ambient illumination.
영상 센서는 영상 정보를 획득하기 위하여 광학계 구조가 수반되며 이러한 광학계는 영상 센서의 성능 및 규격, 활용 목적에 따라 다양하게 설계된다. 따라서 광원의 입사각이 동일하다 하더라도 빛에 노출되는 영상 센서의 수광부 면적은 상이하다. 이는 레이저 대즐링 효과와 직접적으로 관계되어 있다. 또한, 영상 센서의 물리적 구조뿐만 아니라 소프트웨어 상 영상 센서의 영상 획득 조건도 레이저 대즐링 효과에 영향을 준다. 영상 획득 조건 중 영상 획득에 있어서 상대적으로 비중 있는 요소로는 이득 계수, 노출 시간, 해상도이다. 대즐링 효과도 분석에 있어서 영상 센서와 관련된 광학적 및 물리적 구조, 영상 획득 조건들만 고려하더라도 상당한 조건이 도출되며 변위를 통제하더라도 수많은 조건이 레이저 대즐링 효과와 관계되어 있다.The image sensor is accompanied by an optical system structure to acquire image information, and the optical system is variously designed according to the performance, specifications, and purpose of use of the image sensor. Therefore, even if the incident angle of the light source is the same, the area of the light receiving portion of the image sensor exposed to the light is different. This is directly related to the laser dazzling effect. In addition, the physical structure of the image sensor as well as the image acquisition conditions of the image sensor on the software affect the laser dazzling effect. Among the image acquisition conditions, relatively important factors in image acquisition are gain factor, exposure time, and resolution. In the analysis of the dazzling effect, even considering the optical and physical structures related to the image sensor and image acquisition conditions, considerable conditions are derived, and even if the displacement is controlled, numerous conditions are related to the laser dazzling effect.
일반적으로 기존 보고된 레이저 대즐링 효과 자료와 해외에서 상용으로 판매되고 있는 레이저 대즐러는 가시광 레이저가 주로 활용되고 있다. 실제적으로 레이저 대즐링 효과를 극대화하기 위해서는 다양한 광원에 대한 연구가 수반되어야 한다. 그러한 이유는 앞서 언급된 바와 같이 영상 센서의 특성이 다양하기 때문이다. 반도체 기반인 영상 센서는 활용 용도에 따라 다양한 흡수 대역을 가지고 있으며 이러한 특성은 최대 흡수 파장대역이 항상 가시광 영역에 국한된다고는 할 수 없다.In general, visible lasers are mainly used for laser dazzling effects reported previously and laser dazzlers sold commercially abroad. In order to maximize the laser dazzling effect, research on various light sources must be carried out. The reason for this is that the characteristics of the image sensor vary as mentioned above. The semiconductor-based image sensor has various absorption bands depending on the purpose of use, and this characteristic cannot be said that the maximum absorption wavelength band is always limited to the visible light region.
따라서, 레이저 대즐링 효과를 분석하기 위해서는 광원에 의한 영상 센서의 수광 조건 및 수광부 포화에 요구되는 광원의 특성을 분석하는 것이 요구되며, 더불어 다양한 파장 대역에 대한 대즐링 효과도의 분석도 이루어져야 할 필요성이 증대되고 있는 실정이다.Therefore, in order to analyze the laser dazzling effect, it is required to analyze the light receiving conditions of the image sensor by the light source and the characteristics of the light source required for saturation of the light receiving unit, and it is also necessary to analyze the dazzling effect diagram for various wavelength bands This is an increasing situation.
전술한 배경기술은 발명자가 본 발명의 도출과정에서 보유하거나 습득한 것으로서, 반드시 본 발명의 출원 전에 일반 공중에 공개된 공지기술이라고 할 수는 없다.The above-described background technology is possessed or acquired by the inventor during the derivation process of the present invention, and is not necessarily a known technology disclosed to the general public prior to the filing of the present invention.
일 실시 예의 목적은 레이저 대즐링 효과도 측정 장치 및 방법을 제공하는 것이다.An object of one embodiment is to provide an apparatus and method for measuring laser dazzling effectiveness.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 광원으로부터 영상 센서까지의 거리 변화에 따른 대즐링 효과를 측정하기 위한 대즐링 효과 측정 장치에 있어서,대즐링 효과를 측정하기 위하여 광선을 조사하는 광원;상기 광원으로부터 조사된 광선을 수광하는 영상 센서; 및 상기 광원 및 상기 영상 센서 사이에 위치하며, 상기 광원으로부터 입사된 광선의 발산 각도를 조절함으로써, 상기 광원으로부터 상기 영상 센서까지의 거리가 변화된 효과를 모사하기 위한 광 조절 광학계를 포함할 수 있다.The apparatus for measuring laser dazzling effect according to an embodiment of the present invention includes a dazzling effect measuring apparatus for measuring a dazzling effect according to a change in a distance from a light source to an image sensor, irradiating a light beam to measure the dazzling effect A light source; an image sensor that receives light emitted from the light source; And it is located between the light source and the image sensor, by adjusting the divergence angle of the light incident from the light source, it may include a light control optical system for simulating the effect of changing the distance from the light source to the image sensor.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 광원 및 상기 광 조절 광학계 사이에 위치하고, 광선의 적어도 일부분을 반사시키는 제 1 빔 샘플러; 상기 제 1 빔 샘플러에서 반사되는 광선을 수광하는 제 1 빔 프로파일러;상기 광 조절 광학계 및 상기 영상 센서 사이에 위치하고, 광선의 적어도 일부분을 반사시키는 제 2 빔 샘플러; 상기 제 2 빔 샘플러에서 반사되는 광선을 수광하는 제 2 빔 프로파일러; 및 상기 광원 및 광 조절 광학계를 제어하여 광선의 출력 및 광선의 발산 각도를 조절할 수 있고, 상기 제 1 빔 프로파일러 및 제 2 빔 프로파일러에서 수광되는 광선의 면적에 기초하여 광선의 발산 각도를 측정하는 제어부를 더 포함할 수 있다.The apparatus for measuring laser dazzling effect according to an embodiment includes: a first beam sampler positioned between the light source and the light control optical system and reflecting at least a portion of a light beam; A first beam profiler for receiving light reflected from the first beam sampler; a second beam sampler positioned between the light conditioning optical system and the image sensor and reflecting at least a portion of the light beam; A second beam profiler for receiving light reflected from the second beam sampler; And it is possible to control the light source and the light control optical system to adjust the light output and the divergence angle of the light beam, and measure the divergence angle of the light beam based on the area of the light beams received by the first and second beam profilers It may further include a control unit.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 광 조절 광학계 및 상기 영상 센서 사이에 위치하고, 광선의 적어도 일부분을 반사시키는 제 3 빔 샘플러; 상기 제 3 빔 샘플러에서 반사되는 광선의 출력 크기를 측정하는 출력 측정부를 더 포함할 수 있다.An apparatus for measuring laser dazzling effectiveness according to an embodiment may include a third beam sampler positioned between the light control optical system and the image sensor and reflecting at least a portion of light rays; The third beam sampler may further include an output measuring unit for measuring the output size of the light reflected from the third beam sampler.
상기 광원을 포함하는 복수 개의 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 영상 센서를 지향 가능하도록 회전 가능하게 설치되는 회전판을 더 포함할 수 있다.It may further include a rotating plate that supports a plurality of light sources including the light source and is rotatably installed so that any one light source among the plurality of light sources can selectively direct the image sensor.
상기 회전판은 상기 영상 센서를 중심으로 원둘레 방향으로 회전 가능한 것을 특징으로 할 수 있다.The rotating plate may be rotatable in a circumferential direction around the image sensor.
상기 제어부는, 상기 영상 센서를 중심으로 상기 회전판에 방사상으로 설치된 복수 개의 광원을 선택적으로 구동하여 주변 조도 환경을 모사할 수 있다.The control unit may simulate a peripheral illumination environment by selectively driving a plurality of light sources radially installed on the rotating plate around the image sensor.
상기 영상 센서를 회전 가능하게 지지하는 회전 스테이지를 더 포함하고,상기 제어부는 상기 회전 스테이지를 회전시켜 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 각도를 조절할 수 있다.Further comprising a rotation stage for rotatably supporting the image sensor, the control unit may rotate the rotation stage to adjust the angle of the light emitted to the image sensor.
상기 회전 스테이지는 상기 영상 센서에 광선이 조사되는 광축에 수직한 2 개의 회전 축을 기준으로 상기 영상 센서를 회전시킬 수 있다.The rotation stage may rotate the image sensor based on two rotation axes perpendicular to an optical axis to which light is irradiated to the image sensor.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 광원 및 상기 광 조절 광학계 사이에 위치하고, 상기 광원으로부터 출력되는 광선의 편광 상태 또는 투과 정도를 변형시키는 파장판; 및 상기 파장판을 회전시켜 상기 파장판을 통과하는 광선의 편광 상태 또는 투과 정도를 조절하는 파장판 회전 장치를 더 포함할수 있다.The apparatus for measuring laser dazzling effectiveness according to an embodiment includes: a wavelength plate positioned between the light source and the light control optical system and changing a polarization state or a transmission degree of light output from the light source; And a wavelength plate rotating device that rotates the wavelength plate to adjust a polarization state or a transmission degree of light passing through the wavelength plate.
광원과, 상기 광원으로부터 조사된 광선을 수광하는 영상 센서와, 상기 광원의 특성에 대한 정보를 감지하기 위한 빔 프로파일러와, 상기 광원으로부터 조사된 광선의 일부는 상기 영상 센서로 안내하고 상기 조사된 광선의 나머지는 상기 빔 프로파일러로 안내하는 빔 샘플러를 포함하는 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 제어 방법은, 상기 광원의 종류, 상기 광원의 특성 또는 광원의 조사 조건을 포함하는 측정 조건 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경하는 단계; 상기 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 상기 빔 프로파일러에서 감지된 광원 특성 정보를 저장하는 단계; 상기 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 상기 영상 센서에서 나타난 대즐링 효과도를 저장하는 단계; 및 상기 광원 특성 정보 및 상기 대즐링 효과도를 통해 상기 적어도 하나 이상의 측정 인자에 대한 대즐링 특성을 저장하는 단계를 포함할 수 있다.A light source, an image sensor for receiving light emitted from the light source, a beam profiler for sensing information on the characteristics of the light source, and a part of the light emitted from the light source is guided to the image sensor and irradiated The rest of the light beam, the control method of the laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment including a beam sampler that guides the beam profiler, includes a type of the light source, characteristics of the light source, or irradiation conditions of the light source Changing at least one measurement factor among measurement conditions; Storing light source characteristic information sensed by the beam profiler while the at least one measurement factor is changed; Storing the dazzling effect diagram displayed by the image sensor in a state in which the at least one measurement factor is changed; And storing the dazzling characteristic for the at least one measurement factor through the light source characteristic information and the dazzling effect diagram.
상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 광원을 포함하는 복수 개의 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 영상 센서를 지향 가능하도록 회전 가능하게 설치되는 회전판을 더 포함할 수 있고, 상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 회전판을 회전시켜 상기 영상 센서에 시준되는 광원의 종류를 변경하는 단계를 포함할 수 있다.The dazzling effect measurement apparatus may further include a rotating plate that supports a plurality of light sources including the light source and is rotatably installed so that any one light source among the plurality of light sources can selectively direct the image sensor. The step of changing the measurement factor may include changing the type of light source collimated to the image sensor by rotating the rotating plate.
상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 영상 센서를 중심으로 상기 회전판에 방사상으로 설치된 복수 개의 광원을 선택적으로 구동하여 주변 조도 조건을 변경하는 단계를 더 포함할 수 있다.The step of changing the measurement factor may further include changing a peripheral illumination condition by selectively driving a plurality of light sources radially installed on the rotating plate around the image sensor.
상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 영상 센서에 광선이 조사되는 광축에 수직한 2 개의 회전 축을 기준으로 상기 영상 센서를 회전 가능하게 지지하는 회전 스테이지를 더 포함할 수 있고, 상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 회전 스테이지를 회전하여 광선의 조사 각도를 변경하는 단계를 포함할 수 있다.The dazzling effect measurement apparatus may further include a rotation stage rotatably supporting the image sensor based on two rotation axes perpendicular to an optical axis to which the light is irradiated to the image sensor, and changing the measurement factor The step may include rotating the rotating stage to change the irradiation angle of the light beam.
상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 광원으로부터 출력되는 광선의 경로 상에 설치되어 상기 광선의 편광 상태를 변형시키는 파장판을 더 포함할 수 있고, 상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 파장판을 회전시켜 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 편광 상태를 변경하는 단계를 포함할 수 있다.The dazzling effect measuring apparatus may further include a wavelength plate installed on a path of a light beam output from the light source to modify the polarization state of the light beam, and changing the measurement factor may include changing the wavelength plate. And rotating to change the polarization state of the light beam irradiated to the image sensor.
상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 광원 및 상기 영상 센서 사이에 위치하며, 상기 광원으로부터 입사된 광선의 발산 각도를 조절하는 광 조절 광학계를 더 포함할 수 있고, 상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 광원의 출력 및 광선의 발산 각도를 포함하는 광원의 특성을 변경하는 단계를 포함할 수 있다.The dazzling effect measuring device may further include a light control optical system positioned between the light source and the image sensor and adjusting a divergence angle of light incident from the light source, wherein changing the measurement factor comprises: And changing characteristics of the light source including the output of the light source and the divergence angle of the light beam.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 대즐링 효과를 측정하기 위해 제 1 광선을 조사하는 제 1 광원; 상기 제 1 광원으로부터 조사되는 광선을 수광하는 영상 센서; 상기 제 1 광원에서 출력되는 광선의 경로상에 제 2 광선을 조사하는 제 2 광원; 상기 제 1 광선 및 제 2 광선이 교차하는 부분에 설치되어 상기 제 1 광선 및 제 2 광선을 결합하는 광 결합부; 및 상기 제 1 광원 및 상기 제 2 광원 중 적어도 하나 이상의 광원으로부터 조사되는 광선의 적어도 일부를 차단 가능한 차단 요소를 포함할 수 있다.The apparatus for measuring laser dazzling effect according to an embodiment includes: a first light source irradiating a first light beam to measure the dazzling effect; An image sensor that receives light emitted from the first light source; A second light source that irradiates a second light beam on a path of light beams output from the first light source; A light coupling unit installed at a portion where the first light beam and the second light beam intersect to couple the first light beam and the second light beam; And a blocking element capable of blocking at least a portion of the light beam emitted from at least one of the first light source and the second light source.
상기 차단 요소는, 상기 제 1 광원으로부터 조사되는 광선의 경로에 설치되어 제 1 광선의 편광 상태를 변형시키는 제 1 파장판; 상기 제 2 광원으로부터 조사되는 광선의 경로에 설치되어 제 2 광선의 편광 상태를 변형시키는 제 2 파장판; 및 상기 제 1 파장판 또는 제 2 파장판을 회전시켜 상기 제 1 파장판 또는 제 2파장판을 통과하는 광선의 편광 상태를 조절하는 파장판 회전 장치를 포함할 수 있다.The blocking element may include: a first wave plate installed in a path of the light beam emitted from the first light source to modify a polarization state of the first light beam; A second wave plate installed in a path of the light beam irradiated from the second light source to modify a polarization state of the second light beam; And a wavelength plate rotating device that rotates the first or second wavelength plate to adjust a polarization state of light rays passing through the first or second wavelength plate.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 광 결합부 및 상기 영상 센서 사이의 광 경로에 설치되는 편광 빔 스플리터; 상기 편광 빔 스플리터에서 반사되는 광선을 수광하는 빔 특성 측정부; 및 상기 제 1 광원 및 제 2 광원과 상기 파장판 회전 장치를 제어하여 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 파장 특성을 조절하고, 상기 빔 특성 측정부에서 계측되는 정보에 기초하여 광선의 특성을 측정하는 제어부를 더 포함할 수 있다.The apparatus for measuring laser dazzling effect according to an embodiment includes a polarization beam splitter installed in an optical path between the light coupling unit and the image sensor; A beam characteristic measuring unit that receives light reflected from the polarizing beam splitter; And controlling the first light source, the second light source, and the wavelength plate rotating device to adjust the wavelength characteristics of the light beam irradiated to the image sensor, and to measure the light beam characteristics based on information measured by the beam property measurement unit. It may further include a control unit.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 제 1 광원을 포함하는 복수 개의 제 1 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 제 1 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 영상 센서를 지향 가능하도록 회전 가능하게 설치되는 제 1 회전판을 더 포함할 수 있다.The apparatus for measuring laser dazzling effectiveness according to an embodiment supports a plurality of first light sources including the first light source, and any one of the plurality of first light sources can selectively direct the image sensor It may further include a first rotating plate that is rotatably installed.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 제 2 광원을 포함하는 복수 개의 제 2 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 제 2 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 광 결합부를 지향 가능하도록 회전 가능하게 설치되는 제2 회전판을 더 포함할 수 있다.The apparatus for measuring laser dazzling effect according to an embodiment supports a plurality of second light sources including the second light source, and any one of the plurality of second light sources can selectively direct the light coupling unit It may further include a second rotating plate that is rotatably installed.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 광 결합부 및 상기 영상 센서 사이에 위치하며, 상기 제 1 광선 또는 제 2 광선의 발산 각도를 조절함으로써, 상기 제 1 광원 또는 제 2 광원으로부터 상기 영상 센서까지의 거리가 변화된 효과를 모사하기 위한 광 조절 광학계를 더 포함할수 있다.The apparatus for measuring laser dazzling effectiveness according to an embodiment is located between the light coupling unit and the image sensor, and by adjusting the divergence angle of the first light beam or the second light beam, the first light source or the second light source It may further include a light control optical system for simulating the effect that the distance from to the image sensor is changed.
상기 광 결합부는 다이크로익 미러를 포함할 수 있고, 상기 제 1 광선 및 제 2 광선은 상기 다이크로익 미러를 통과하면서 인코히런스 결합될 수 있다.The light coupling unit may include a dichroic mirror, and the first light beam and the second light beam may be incoherently coupled while passing through the dichroic mirror.
상기 제어부는, 상기 제 1 광원 및 제 2 광원을 제어하여 상기 광 결합부에서 결합하는 상기 제 1 광선 및 제 2 광선의 모드를 불일치시킬 수 있다.The control unit may control the first light source and the second light source to mismatch the modes of the first light beam and the second light beam coupled by the light coupling unit.
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치는, 상기 영상 센서를 회전 가능하게 지지하는 회전 스테이지를 더 포함할 수 있고, 상기 제어부는 상기 회전 스테이지를 회전시켜 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 각도를 조절할 수 있다.The apparatus for measuring laser dazzling effect according to an embodiment may further include a rotation stage rotatably supporting the image sensor, and the controller rotates the rotation stage to angle the light beam irradiated to the image sensor Can be adjusted.
일 실시 예의 레이저 대즐링 효과도 측정 장치 및 방법에 의하면, 광원의 종류, 2 중 광원의 사용 여부, 광원의 출력 크기와, 광선의 편광 상태, 발산 각도, 영상 센서에 수광되는 광선의 면적, 영상 센서의 수광 특성, 광원의 조사 각도 또는 주변 조도의 영향 등을 포함하는 다양한 측정 조건의 변화에 따라 영상 센서에서 발생하는 대즐링 효과의 정도를 측정할 수 있다.According to the laser dazzling effect measurement apparatus and method of an embodiment, the type of light source, whether a dual light source is used, the output size of the light source, the polarization state of the light beam, the divergence angle, the area of the light beam received by the image sensor, and the image The degree of dazzling effect occurring in the image sensor can be measured according to changes in various measurement conditions including the light-receiving characteristics of the sensor, the irradiation angle of the light source, or the influence of ambient illumination.
도 1은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이다.
도 2는 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다
도 3은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이다.
도 4는 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 5는 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이다.
도 6은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 7은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.
도 8은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 방법의 순서도이다.
도 9는 일 실시 예에 따른 측정 인자를 변경하는 단계의 순서도이다.1 is a block diagram of an apparatus for measuring a laser dazzling effect according to an embodiment.
2 is a view schematically showing the configuration of a laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment
3 is a block diagram of an apparatus for measuring laser dazzling effects according to an embodiment.
4 is a view schematically showing the configuration of a laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment.
5 is a block diagram of an apparatus for measuring a laser dazzling effect according to an embodiment.
6 is a view schematically showing the configuration of a laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment.
7 is a view schematically showing the configuration of a laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment.
8 is a flowchart of a method for measuring a laser dazzling effect according to an embodiment.
9 is a flowchart of a step of changing a measurement factor according to an embodiment.
이하, 실시 예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 실시 예를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 실시 예에 대한 이해를 방해한다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, embodiments will be described in detail through exemplary drawings. It should be noted that in adding reference numerals to the components of each drawing, the same components have the same reference numerals as possible, even if they are displayed on different drawings. In addition, in describing an embodiment, when it is determined that a detailed description of a related known configuration or function interferes with understanding of the embodiment, the detailed description is omitted.
또한, 실시 예의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the components of the embodiment, terms such as first, second, A, B, (a), (b), and the like can be used. These terms are only for distinguishing the component from other components, and the nature, order, or order of the component is not limited by the term. When a component is described as being "connected", "coupled" or "connected" to another component, the component may be directly connected to or connected to the other component, but another component between each component It should be understood that may be "connected", "coupled" or "connected".
어느 하나의 실시 예에 포함된 구성요소와, 공통적인 기능을 포함하는 구성요소는, 다른 실시 예에서 동일한 명칭을 사용하여 설명하기로 한다. 반대되는 기재가 없는 이상, 어느 하나의 실시 예에 기재한 설명은 다른 실시 예에도 적용될 수 있으며, 중복되는 범위에서 구체적인 설명은 생략하기로 한다.Components included in any one embodiment and components including common functions will be described using the same name in other embodiments. Unless there is an objection to the contrary, the description described in any one embodiment may be applied to other embodiments, and a detailed description will be omitted in the overlapped range.
도 1은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이고, 도 2는 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.1 is a block diagram of an apparatus for measuring laser dazzling effect according to an embodiment, and FIG. 2 is a diagram schematically showing a configuration of a laser dazzling effect diagram measuring apparatus according to an embodiment.
도 1 및 도 2를 참조하면, 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(1)는, 광원(11)으로부터 영상 센서(15)까지의 거리 변화에 따른 대즐링 효과를 측정할 수 있다.1 and 2, the
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(1)는 광원(11), 영상 센서(15), 광 조절 광학계(12), ND 필터(ND), 제 1 빔 샘플러(BS1), 제 1 빔 프로파일러(13), 제 2 빔 샘플러(BS2), 제 2 빔 프로파일러(14), 제 3 빔 샘플러(BS3), 출력 측정부(16) 및 제어부(C)를 포함할 수 있다.The laser dazzling
광원(11)은, 영상 센서(15)를 향해 광선(L)을 조사할 수 있다. 예를 들어, 광원(11)은 레이저 빔을 출력할 수 있는 레이저 발진기를 포함할 수 있다. 예를 들어, 광원(11)은 자외선, 가시 광선 또는 적외선 파장 대역 등 다양한 파장 대역의 광선(L)을 출력할 수 있다.The
영상 센서(15)는, 광원(11)으로부터 조사된 광선을 수광할 수 있다. 예를 들어, 영상 센서(15)는 복수개의 영상 센서를 포함하는 카메라일 수 있다.The
ND 필터(ND, neutral density filter)는, 광선(L)의 경로에 설치되어 투과되는 광선(L)의 광량을 감소시킬 수 있다.A neutral density filter (ND) can be installed in the path of the light ray L to reduce the amount of light transmitted through the light ray L.
광 조절 광학계(12)는, 광원(11)에서 발생된 광선(L)을 입력받아 광선의 광속 또는 발산 각도를 조절할 수 있다. 광 조절 광학계(12)는, 광원(11)으로부터 입사되는 광선(L)의 세기 및 발산 각도를 조절함으로써 광원(11)으로부터 영상 센서(15)까지의 거리가 변화된 효과를 모사할 수 있다.The light adjustment
예를 들어, 광 조절 광학계(12)는, 광원(11) 및 영상 센서(15) 사이의 광선(L)의 광축에 설치될 수 있다.For example, the light adjustment
제 1 빔 샘플러(BS1)는, 광원(11) 및 광 조절 광학계(12) 사이에 위치하고 광선(L)의 적어도 일부분은 광 조절 광학계(12)로 통과시키고 나머지 일부분은 제 1 빔 프로파일러(13)를 향해 반사시킬 수 있다.The first beam sampler BS1 is located between the
제 1 빔 프로파일러(13)는, 제 1 빔 샘플러(BS1)에서 반사된 광선(L)을 수광하여, 입력된 광선(L)의 특성(프로파일)을 측정할 수 있다.The
예를 들어, 제 1 빔 샘플러(BS1)는 광원(11)으로부터 조사되는 광선(L)의 진행 방향을 기준으로, 광 조절 광학계(12)의 직전에 설치될 수 있다. 이와 달리, 제 1 빔 샘플러(BS1)가 광 조절 광학계(32)에 일체로 통합된 구조로 가질수도 있다는 점을 밝혀둔다.For example, the first beam sampler BS1 may be installed immediately before the light adjustment
제 2 빔 샘플러(BS2)는, 광 조절 광학계(12) 및 영상 센서(15) 사이에 위치하고 광선(L)의 적어도 일부분은 영상 센서(15)로 통과시키고 나머지 일부분은 제 2 빔 프로파일러(14)를 향해 반사시킬 수 있다.The second beam sampler BS2 is located between the light conditioning
제 2 빔 프로파일러(14)는, 제 2 빔 샘플러(BS2)에서 반사된 광선(L)을 수광하여, 입력된 광선(L)의 특성(프로파일)을 측정할 수 있다.The
예를 들어, 빔 프로파일러(13, 14)는 입사되는 광선(L)의 파장 대역별로 형성되는 광도(luminous intensity)를 측정할 수 있다.For example, the
제 3 빔 샘플러(BS3)는, 광 조절 광학계(12) 및 영상 센서(15) 사이에 위치하고 광선(L)의 적어도 일부분은 영상 센서(15)로 통과시키고 나머지 일부분은 출력 측정부(16)를 향해 반사시킬 수 있다.The third beam sampler BS3 is located between the light adjustment
출력 측정부(16)는, 제 2 빔 샘플러(BS2)에서 반사된 광선(L)을 수광하여, 수광된 광선(L)의 세기를 측정할 수 있다.The
제어부(C)는, 광원(11) 및 광 조절 광학계(12)를 제어하여 광선(L)의 출력 및 광선(L)의 발산 각도를 조절할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 제 1 빔 프로파일러(13) 및 제 2 빔 프로파일러(14)에서 계측되는 광선(L)의 프로파일에 기초하여 영상 센서(15)에 입력되는 광선(L)의 특성을 측정할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 출력 측정부(16)에서 계측되는 정보에 기초하여 광선(L)의 세기, 즉 광선(L)의 출력의 크기를 측정할 수 있다.The control unit C may control the
예를 들어, 제어부(C)는 영상 센서(15)에서 촬영되는 영상에 기초하여, 광원(11)으로부터 수광된 광선(L)을 통해 발생된 대즐링 효과를 측정할 수 있고, 상기 대즐링 효과의 정도를 측정할 수 있다.For example, the control unit C may measure the dazzling effect generated through the light beam L received from the
예를 들어, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)이 제 1 빔 프로파일러(13)까지 이동하는 광 경로의 길이는 광원(11)으로부터 제 2 빔 프로파일러(14)까지 이동하는 광 경로의 길이와 동일할 수 있다.For example, the length of the light path from which the light beam L output from the
이상의 구조에 의하면, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L) 중 광 조절 광학계(12)를 통과한 광선(L)과 통과하지 않은 광선(L)이 각각 제 1 빔 프로파일러(13) 및 제 2 빔 프로파일러(14)에 수광되는 면적의 크기의 비교를 통해서, 광 조절 광학계(12)에 의한 광선(L)의 발산 각도를 측정할 수 있다.According to the above structure, among the light beams L output from the
예를 들어, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)이 제 2 빔 프로파일러(14)까지 이동하는 광 경로의 길이는, 광원(11)으로부터 광선(L)이 출력 측정부(16)까지 이동하는 광 경로의 길이와 동일할 수 있다.For example, the length of the light path from which the light beam L output from the
이상의 구조에 의하면, 제어부(C)는 출력 측정부(16)에서 계측되는 광선(L)의 세기를 측정함으로써, 제 2 빔 프로파일러(14)에 수광되는 광선(L)의 면적 및 크기를 정확하게 측정하는 것이 가능해진다.According to the above structure, the control unit C accurately measures the area and size of the light beam L received by the
더불어, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)이 영상 센서(15)까지 이동하는 광 경로의 길이는, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)이 각각 제 1 빔 프로파일러(13), 제 2 빔 프로파일러(14) 및 출력 측정부(16) 각각으로 이동하는 광 경로의 길이와 모두 동일할 수 있다.In addition, as for the length of the light path from which the light beam L output from the
예를 들어, 제어부(C)는 광원(11)을 제어하여, 광원(11)으로부터 출력되는 광선(L)의 파장 대역, 레이저 모드 또는 출력 크기 등을 조절할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 광 조절 광학계(12)를 제어하여, 이를 통과하는 광선(L)의 광속 또는 발산 각도를 조절할 수 있어서 광원(11)으로부터 영상 센서(15)까지의 거리가 변화된 효과를 모사할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 영상 센서(15)의 이득 계수, 노출 시간 또는 해상도 등과 같은 특성을 조절할 수 있다.For example, the control unit C may control the
예를 들어, 제어부(C)는 광원(11)의 종류, 광원(11)의 출력 크기, 발산 각도, 영상 센서(15)에 수광되는 광선(L)의 면적 또는 영상 센서(15)의 특성 등을 포함하는 측정 조건 들 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경할 수 있고, 그에 따라 영상 센서(15)에서 촬영되는 영상 또는 영상에 기초하여, 측정 인자의 변화에 따라 형성되는 대즐링 효과의 정도를 측정할 수 있다.For example, the controller C may include the type of the
도 3은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이고, 도 4는 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.3 is a block diagram of an apparatus for measuring laser dazzling effect according to an embodiment, and FIG. 4 is a diagram schematically showing a configuration of a laser dazzling effect diagram measuring apparatus according to an embodiment.
도 3 및 도 4를 참조하면, 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(2)는, 광원(21), 회전판(27), 영상 센서(25), 회전 스테이지(28), 광 조절 광학계(22), ND 필터(ND), 제 1 빔 샘플러(BS1), 제 1 빔 프로파일러(23), 제 2 빔 샘플러(BS2), 제 2 빔 프로파일러(24), 제 3 빔 샘플러(BS3), 출력 측정부(26) 및 제어부(C)를 포함할 수 있다.3 and 4, the laser dazzling
도 1 및 도 2에 도시된 실시 예와 달리, 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(2)는 복수개의 광원(21)을 포함할 수 있고, 복수개의 광원(21)은 회전판(27)을 따라서 방사상으로 이격되어 설치될 수 있다.Unlike the embodiments shown in FIGS. 1 and 2, the laser dazzling
회전판(27)은 도 4와 같이 복수개의 광원(21)을 지지하는 상태로, 복수개의 광원(21) 중 어느 하나의 광원(21)이 선택적으로 상기 영상 센서(25)를 지향 가능하도록 회전할 수 있다.The rotating
예를 들어, 회전판(27)은 영상 센서(25)를 중심으로 원둘레 방향으로 회전할 수 있어서, 회전판(27)에 설치된 복수개의 광원(21)은 모두 영상 센서(25)를 지향하는 상태를 유지할 수 있다. 예를 들어, 회전판(27)은, 영상 센서(25)를 중심으로 하는 도넛 형상을 가질 수 있다. 한편, 도시한 바와 달리, 회전판(27)은 원의 일부인 호(arc) 형상을 가질 수도 있으며, 이와 같은 구조를 통하여 전체 시스템의 부피를 감소시킬 수 있다. For example, the rotating
예를 들어, 회전판(27)에 설치되는 복수개의 광원(21)의 적어도 일부는 파장 대역, 출력 크기 또는 출력 모드 등이 다른 광원(21)들과 상이하게 형성될 수 있어서, 다양한 광원(21)의 종류에 따른 대즐링 효과도를 측정할 수 있다. 예를 들어, 복수 개의 광원(21)은, 회전판(27)의 중심을 향하여 광선(L)을 조사할 수 있다. For example, at least a portion of the plurality of
예를 들어, 회전판(27)에 설치되는 복수개의 광원(21) 중 광 조절 광학계(22)에 정렬된 광원(21)을 제외한 나머지 광원(21)들 중 일부는 가시 광선 대역의 광선을 조사하는 광원일 수 있다. 이상의 구조에 의하면, 가시광으로 인한 주변 조도의 영향을 모사할 수 있다.For example, among the plurality of
회전 스테이지(28)는, 영상 센서(25)를 회전 가능하게 지지할 수 있다. 예를 들어, 회전 스테이지(28)는, 영상 센서(25)에 광선이 조사되는 광축에 수직한 2 개의 회전 축을 중심으로 회전 구동될 수 있다. 예를 들어, 회전 스테이지(28)는, 도 4 상에서 상하 방향으로 길게 배치되는 회전 축을 기준으로 영상 센서(25)를 회전시킬 수 있다. 다시 말하면, 회전 스테이지(28)는, 회전판(27)의 회전 축에 수직하고, 지면에 평행하게 배치되는 회전 축을 중심으로 영상 센서(25)를 회전시킬 수 있다.The
이상의 구조에 의하면, 광원(21)에서 출력되는 광선(L)이 영상 센서(25)의 표면에 경사를 이루면서 조사되는 조건을 모사할 수 있다. 다시 말하면, 영상 센서(25)의 고도와 다른 고도에 위치하는 광원(21)으로부터 출력되는 광선(L)이 영상 센서(25)에 조사되는 조건을 모사할 수 있다. According to the above structure, it is possible to simulate the conditions under which the light beam L output from the
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(2)에 의하면, 제어부(C)는 회전판(27)의 회전을 통해 측정하고자 하는 광원(21)을 선택하여 영상 센서(25)를 향해 조사할 수 있다. 제어부(C)는, 회전 스테이지(28)의 조절을 통해 영상 센서(25)에 조사되는 광선(L)의 각도를 조절할 수 있다.According to the laser dazzling
예를 들어, 제어부(C)는 광원(21)의 종류, 광원(21)의 출력 크기, 영상 센서(25)에 수광되는 광선(L)의 면적, 영상 센서(25)의 특성, 광원(21)의 조사 각도 또는 주변 조도의 영향 등을 포함하는 측정 조건 들 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경할 수 있고, 그에 따라 영상 센서(25)에서 촬영되는 영상 또는 영상에 기초하여, 측정 인자의 변화에 따라 형성되는 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.For example, the control unit C includes the type of the
도 5는 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 블록도이고, 도 6은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.5 is a block diagram of an apparatus for measuring laser dazzling effect according to an embodiment, and FIG. 6 is a diagram schematically showing a configuration of a laser dazzling effect diagram measuring apparatus according to an embodiment.
도 5 및 도 6을 참조하면, 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(3)는, 제 1 광원(31a), 제 2 광원(32b), 차단 요소(391, 392), 영상 센서(35), 회전 스테이지(38), 광 결합부(37), 광 조절 광학계(32), ND 필터(ND), 제 1 빔 샘플러(BS1), 제 1 빔 프로파일러(33), 제 2 빔 샘플러(PBS), 제 2 빔 프로파일러(34), 제 3 빔 샘플러(BS3), 출력 측정부(36) 및 제어부(C)를 포함할 수 있다.5 and 6, the
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(3)는, 도 1 내지 도4에 도시된 실시 예의 구성과 달리 2 개의 광원(31a, 31b)을 동시에 사용하여 2 중의 광원(31a, 31b)으로부터 출력되는 광선에 의해 발생하는 대즐링 효과도를 측정할 수 있는 구조를 갖는다.The laser dazzling
예를 들어, 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(32b) 중 제 1 광원(31a)은 영상 센서(35)를 지향하는 상태로 제 1 광선(L1)을 조사할 수 있고, 제 2 광원(32b)은 제 1 광선(L1)의 경로 상에 교차되는 방향을 제 2 광선(L2)을 조사할 수 있다.For example, of the first
예를 들어, 도 6과 같이 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)은 서로 수직하게 교차되는 구성을 가질 수 있지만, 광학계의 구성에 따라 서로 다른 각도 및 배치를 가질 수 있다는 점을 통상의 기술자라면 쉽게 이해할 수 있을 것이다. For example, as illustrated in FIG. 6, the first light beam L1 and the second light beam L2 may have a configuration that intersects each other perpendicularly, but may have different angles and arrangements depending on the configuration of the optical system. It's easy to understand if you are an engineer.
예를 들어, 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(32b)은, 서로 다른 파장 대역, 출력 크기 또는 출력 모드를 갖는 광선(L1, L2)을 출력할 수 있다.For example, the first
차단 요소(391, 392)는, 제 1 광원(31a)으로부터 조사되는 제 1 광선(L1)의 경로에 설치되어 제 1 광선(L1)의 편광 상태 또는 투과 정도를 변형시키는 제 1 파장판(391a)과, 제 2 광원(32b)으로부터 조사되는 제 2 광선(L2)의 경로에 설치되어 제 2 광선(L2)의 편광 상태 또는 투과 정도를 변형시키는 제 2 파장판(391b)과, 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 회전시켜 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 통과하는 광선의 편광 상태 또는 투과 정도를 조절하는 파장판 회전 장치(392)를 포함할 수 있다.The blocking
예를 들어, 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)은 편광 방향을 바꾸는데 사용하는 반파장판일 수 있다. 따라서, 제어부(C)가 파장판 회전 장치(392)를 통해 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 회전시킬 경우, 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 통과하는 제 1 광선(L1) 또는 제 2 광선(L2)의 편광 방향이 조절될 수 있다.For example, the
예를 들어, 제어부(C)는 파장판 회전 장치(392)를 제어하여, 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)이 서로 다른 편광 상태 또는 차단 정도를 가지도록 할 수 있다.For example, the control unit C may control the wave
한편, 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(32b)은 동일한 종류의 광선(L1, L2)을 출력할 수 있고, 이 경우, 2개의 파장판(391)의 편광 특성 또는 투과 정도는 서로 상이하게 설정될 수 있다.On the other hand, the first light source (31a) and the second light source (32b) can output the same type of light (L1, L2), in this case, the polarization characteristics or transmission degree of the two
광 결합부(37)는, 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)이 교차하는 부분에 설치되어 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)을 결합하여, 결합된 광선(L)을 광 조절 광학계(32)로 전달할 수 있다.The
예를 들어, 광 결합부(37)는 광의 일부는 투과시키고, 나머지 일부는 반사할 수 있는 빔 스플리터일 수 있다.For example, the
예를 들어, 광 결합부(37)는, 통과하는 광선(L)의 파장 대역에 따라 선택적으로 반사 또는 투과시킬 수 있는 다이크로익 미러(dichroic mirror)일 수 있다.For example, the
따라서, 서로 다른 파장 대역을 갖는 제 1 광선(L1) 및 제 2 광선(L2)이 서로 결합될 경우, 다이크로익 미러에 의해 파장 대역별로 간섭되지 않는 비간섭성(incoherence) 광선 결합이 이루어질 수 있다.Accordingly, when the first light beam L1 and the second light beam L2 having different wavelength bands are combined with each other, incoherence light beams that do not interfere with each wavelength band by the dichroic mirror may be formed. have.
예를 들어, 제 2 빔 샘플러(PBS)는 통과하는 광선(L)의 편광 상태에 따라서 광선(L)을 선택적으로 투과 또는 통과시키는 편광 빔 스플리터(Polarization beam splitter)일 수 있다. For example, the second beam sampler (PBS) may be a polarization beam splitter that selectively transmits or passes the light beam L according to the polarization state of the light beam L passing therethrough.
이상의 구조에 의하면, 영상 센서(35)에 입사되는 광선(L)의 편광 상태를 선택적으로 조절하는 것이 가능해지므로, 광선(L)의 다양한 편광 특성에 따른 대즐링 효과도를 측정하는 것이 가능하다. 또한, 2 개의 광선(L1, L2) 중 대즐링 효과도를 분석하고자 하는 광선을 선택하기 위해 나머지 광선을 차단하는 용도로 사용할 수 있다.According to the above structure, since it is possible to selectively adjust the polarization state of the light beam L incident on the
더불어, 광선(L)이 파장판(391)과, 편광 빔 스플리터(PBS)를 통과한 이후, 제 2 빔 프로파일러(34), 출력 측정부(36) 및 영상 센서(35) 각각에 조사되는 구조적 특징에 기인하여, 복수 개의 광원(31a, 31b)이 각각의 요소(34, 36, 35)에 조사되는 정도를 독립적으로 조절할 수 있다. 예를 들면, 편광 상태에 따라서, 복수 개의 광원(31a, 31b)이 모두 제 2 빔 프로파일러(34) 및 출력 측정부(36)로만 조사되고, 영상 센서(35)로는 조사되지 않도록 할 수 있다. 또한 반대로, 복수 개의 광원(31a, 31b)이 모두 영상 센서(35)로만 조사되고, 제 2 빔 프로파일러(34) 및 출력 측정부(36)로는 조사되지 않도록 할 수도 있다. 물론, 이상의 조사 대상을 복수 개의 광원(31a, 31b) 각각에 대하여 조절하는 것도 가능하다. 이와 같은 특징에 의하면, 측정하고자 하는 대상에 따라서, 각각의 요소(34, 35, 36)에 조사되는 광량을 조절하는 것이 가능하므로, 효율적인 측정에 도움이 된다.In addition, after the light beam L passes through the
예를 들어, 제 3 빔 샘플러(BS3)는 광선(L)이 제 2 빔 샘플러(PBS)에서 반사되어 제 2 빔 프로파일러(34)로 조사되는 경로 사이에 설치되어, 통과하는 광선(L)의 일부를 출력 측정부(36)로 반사시킬 수 있다.For example, the third beam sampler BS3 is installed between paths in which the light beam L is reflected from the second beam sampler PBS and irradiated to the
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(3)에 의하면, 제어부(C)는, 파장판 회전 장치(392)를 통해 2 개의 광원(31a, 31b)별로 편광 상태 또는 투과 정도를 개별적으로 조절할 수 있게되고, 이에 따라 광원(31a, 31b)에서 출력되는 광선(L)의 성분 중, 특정 종류 또는 특정 편광 방향의 성분만을 선택적으로 분석하는 것이 가능할 수 있다.According to the laser dazzling effect
예를 들어, 제어부(C)는 2 개의 광원(31a, 31b) 각각의 종류, 출력 크기와, 광선(L)의 편광 상태, 발산 각도, 영상 센서(35)에 수광되는 광선(L)의 면적, 영상 센서(35)의 수광 특성, 광원(31)의 조사 각도 또는 주변 조도의 영향 등을 포함하는 측정 조건 들 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경할 수 있고, 그에 따라 영상 센서(35)에서 촬영되는 영상 또는 영상에 기초하여, 측정 인자의 변화에 따라 형성되는 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.For example, the control unit C is the type of each of the two
도 7은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치의 구성을 개략적으로 나타내는 도면이다.7 is a view schematically showing the configuration of a laser dazzling effect measurement apparatus according to an embodiment.
도 7을 참조하면, 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(4)는 제 1 광원(31a), 제 1 회전판(41), 제 2 광원(32b), 제 2 회전판(42), 차단 요소(391, 392), 영상 센서(35), 회전 스테이지(38), 광 결합부(37), 광 조절 광학계(32), ND 필터(ND), 제 1 빔 샘플러(BS1), 제 1 빔 프로파일러(33), 제 2 빔 샘플러(PBS), 제 2 빔 프로파일러(34), 제 3 빔 샘플러(BS3), 출력 측정부(36) 및 제어부(C)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7, the
예를 들어, 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(31b)은 복수개로 형성될 수 있다. 예를 들어, 복수개의 제 1 광원(31a)은 제 1 회전판(41)을 따라서 방사상으로 이격되어 설치될 수 있다. 예를 들어, 복수개의 제 2 광원(31b)은 제 2 회전판(42)을 따라서 방사상으로 이격되어 설치될 수 있다. For example, a plurality of
도 7과 같이 제 1 회전판(41) 및 제 2 회전판(42) 각각은, 복수개의 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(31b)을 회전 가능하게 지지하며, 복수개의 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(31b) 중 영상 센서(35)에 조사할 광원(31a, 31b)을 선택적으로 정렬시킬 수 있다. 예를 들어, 회전판(41, 42)에 각각 설치되는 광원(31a, 31b)은 회전판(41, 42)의 중심으로부터 멀어지는 외측 방향을 향하여 광선(L)을 조사할 수 있다. 7, each of the first
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(4)에 의하면, 제어부(C)는 제 1 회전판(41) 또는 제 2 회전판(42)의 회전을 통해 측정하고자 하는 개별 광원의 종류와 그 조합을 자유롭게 설정할 수 있기 때문에, 보다 다양한 광원의 조합별로 형성되는 대즐링 효과도를 보다 쉽게 측정할 수 있다. According to the laser dazzling effect
도 8은 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 방법의 순서도이고, 도 9는 일 실시 예에 따른 측정 인자를 변경하는 단계의 순서도이다.8 is a flowchart of a method for measuring a laser dazzling effect according to an embodiment, and FIG. 9 is a flowchart of a step of changing a measurement factor according to an embodiment.
도 8 및 도 9를 참조하면, 일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 방법은, 도 1 내지 도 7에 도시된 레이저 대즐링 효과도 측정 장치를 이용하여 광원의 특성, 광선의 조사 환경 또는 영상 센서의 수광 조건 등의 변화에 따라 영상 센서에서 측정되는 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.8 and 9, the method for measuring the laser dazzling effect according to an embodiment of the present invention uses the laser dazzling effect diagram measuring apparatus shown in FIGS. The degree of dazzling effect measured by the image sensor may be measured according to changes in the light receiving conditions of the image sensor.
이해 및 설명 상의 편의를 위해, 도 4 내지 도 7에 도시된 레이저 대즐링 효과도 측정 장치(2, 3, 4)를 참조하여, 레이저 대즐링 효과도 측정 방법을 후술할 것이지만, 본원에 청구 범위 또는 발명의 설명의 기재로부터 다양한 수정, 변형 또는 조합을 통한 측정 장치의 구성으로도 적절한 결과가 달성될 수 있다는 점을 통상의 기술자라면 쉽게 이해할 수 있을 것이다.For convenience of understanding and explanation, a method for measuring the laser dazzling effect degree will be described later with reference to the laser dazzling effect
일 실시 예에 따른 레이저 대즐링 효과도 측정 방법은, 광원의 특성 또는 광원의 조사 조건을 포함하는 측정 조건 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경하는 단계(61)와, 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 빔 프로파일러에서 감지된 광원 특성 정보를 저장하는 단계(62)와, 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 영상 센서에서 나타난 대즐링 효과도를 저장하는 단계(63)와, 광원 특성 정보 및 대즐링 효과도를 통해 적어도 하나 이상의 측정 인자에 대한 대즐링 특성을 저장하는 단계(64)를 포함할 수 있다.The method for measuring the laser dazzling effect according to an embodiment includes the steps of changing at least one or more measurement factors among measurement conditions including characteristics of a light source or irradiation conditions of a light source, and a state in which at least one measurement factor is changed In step, storing the light source characteristic information detected by the beam profiler (62), and storing at least one measurement factor, in the state of storing the dazzling effect diagram displayed in the image sensor (63), and light source characteristic information And storing the dazzling characteristic for at least one or more measurement factors through the dazzling effect diagram (64).
측정 인자를 변경하는 단계(61)는, 제어부(C)가 광원(31a, 31b)의 종류, 2 중 광원(31a, 31b)의 사용 여부, 광원(31)의 출력 크기와, 광선(L)의 편광 상태, 발산 각도, 영상 센서(35)에 수광되는 광선(L)의 면적, 영상 센서(35)의 수광 특성, 광원(31)의 조사 각도 또는 주변 조도의 영향 등을 포함하는 측정 조건을 변경하는 단계일 수 있다.In the step of changing the measurement factor (61), the control unit (C) is the type of the light sources (31a, 31b), whether the use of the dual light sources (31a, 31b), the output size of the
예를 들어, 측정 인자를 변경하는 단계(61)는, 광원의 특성을 변경하는 단계(611), 광원의 종류를 변경하는 단계(612)와, 광선의 조사 각도를 변경하는 단계(613)와, 광선의 편광 상태를 변경하는 단계(614)와, 주변 조도 조건을 변경하는 단계(615)와, 촬영 조건을 변경하는 단계(616)를 포함할 수 있다.For example, the step of changing the measurement factor (61) includes: changing the characteristics of the light source (611), changing the type of light source (612), and changing the irradiation angle of the light beam (613) and , A
광원의 특성을 변경하는 단계(611)에서, 제어부(C)는 광원(31)을 제어하여 출력 크기 또는 출력 모드를 조절할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 광 조절 광학계(32)를 조절하여 영상 센서(35)로 조사되는 광선(L)의 발산 각도를 조절할 수 있다.In
광원의 종류를 변경하는 단계(612)에서, 도 4와 같이 제어부(C)는 회전판(27)을 회전시켜 복수개의 광원(21) 중 측정하고자 하는 광원(21)을 선택적으로 영상 센서(25)에 조사할 수 있다.In
예를 들어, 도 7에 도시된 실시 예와 같이 2 개의 광원(31)을 동시에 사용하는 경우 제어부(C)는 제 1 회전판(41) 또는 제 2 회전판(42)을 개별적으로 조절하여 제 1 광원(31a) 및 제 2 광원(31b)의 종류를 개별적으로 선택할 수 있다.For example, when the two
광선의 조사 각도를 변경하는 단계(613)에서, 제어부(C)는 영상 센서(35)를 지지하는 회전 스테이지(38)를 회전시켜 영상 센서(35)의 수광면에 조사되는 광선(L)의 조사 각도를 조절할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 영상 센서(35)로 조사되는 광선(L)의 광축을 기준으로 틸팅 되도록 회전시킬 수 있어서, 실제의 광원과 영상 센서 사이의 고저 각도 또는 수평 각도가 형성되는 조건을 모사할 수 있다.In the step (613) of changing the irradiation angle of the light beam, the control unit (C) rotates the rotating stage (38) supporting the image sensor (35) so that the light beam (L) irradiated to the light-receiving surface of the image sensor (35). The irradiation angle can be adjusted. For example, the control unit C can be rotated to be tilted based on the optical axis of the light beam L emitted by the
광선의 편광 상태를 변경하는 단계(614)에서, 제어부(C)는 파장판 회전 장치(392)를 제어하여 파장판(391)을 통과하는 광선(L)의 편광 상태를 조절할 수 있다.In the
예를 들어, 도 7에 도시된 실시 예와 같이 2 개의 광원(31)을 동시에 사용하는 경우, 제어부(C)는 제 1 파장판(391a) 또는 제 2 파장판(391b)을 개별적으로 회전시킴으로써, 서로 상이한 편광 상태를 갖는 2 개의 광선(L1, L2)의 조합에 따른 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.For example, when the two
주변 조도 조건을 변경하는 단계(615)는에서, 제어부(C)는 도 4에 도시된 실시 예의 구성과 같이 영상 센서(35)를 중심으로 회전판(41, 42)에 방사상으로 배열된 복수개의 광원(31)들 중 일부를 구동하여, 가시광으로 인한 주변 조도의 영향을 모사할 수 있다.In the step (615) of changing the ambient light condition, the control unit (C) has a plurality of light sources arranged radially on the rotating plates (41, 42) around the
다른 예로, 도 6 및 도 7에 도시된 측정 장치(3, 4)의 구성과 같이 2 개의 광원(31a, 31b) 중 하나의 광원이 가시 광선을 조사하도록 설정함으로써, 가시광으로 인한 주변 조도의 영향을 모사할 수 있다. 나아가, 도 7에 도시된 실시 예의 장치(4)와 같이 제 2 광원(31b)을 통해 가시 광선을 조사할 수 있도록 하고, 제 2 회전판(42)의 회전을 조절함으로써 영상 센서(35)에 가시 광선이 경사를 가지며 조사되는 조건을 모사할 수도 있다.As another example, by setting the light source of one of the two
촬영 조건을 변경하는 단계(616)에서, 제어부(C)는 영상 센서(35)의 노출도, 내장 필터, 해상도 또는 이득 계수(gain factor) 등의 조건을 변경할 수 있다.In
광원 특성 정보를 저장하는 단계(62)는, 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 제어부(C)가 빔 프로파일러(33, 34) 또는 출력 측정부(36)에서 감지된 광원 특성 정보를 저장하는 단계일 수 있다.In the step of storing the light source characteristic information (62), while at least one or more measurement factors are changed, the control unit (C) stores the light source characteristic information sensed by the beam profilers (33, 34) or the output measurement unit (36). It may be a step.
광원 특성 정보를 저장하는 단계(62)에서, 제어부(C)는 빔 프로파일러(33, 34) 또는 출력 측정부(36)에서 계측되는 정보에 기초하여, 측정하고자 했던 광선(L)의 특성을 정량적으로 측정할 수 있다.In the step (62) of storing the light source characteristic information, the control unit (C) is based on the information measured by the beam profiler (33, 34) or the
예를 들어, 제어부(C)는, 제 1 빔 프로파일러(33) 및 제 2 빔 프로파일러(34)에서 계측되는 데이터의 차이에 기초하여 광 조절 광학계(32)를 통해 영상 센서(35)에 조사되는 광선(L)의 발산 각도를 측정할 수 있고, 출력 측정부(36)에서 계측되는 데이터에 기초하여 광선(L)의 출력의 크기를 측정할 수 있다.For example, the control unit C is connected to the
예를 들어, 제어부(C)는 빔 프로파일러(33, 34)에서 계측된 데이터에 기초하여, 광선(L)의 파장 대역 또는 편광 상태를 측정할 수 있다.For example, the control unit C may measure the wavelength band or polarization state of the light ray L based on the data measured by the
따라서, 제어부(C)는 광원(31), 광 조절 광학계(32) 또는 파장판 회전 장치(392)를 제어하여, 영상 센서(35)에 조사되는 광선(L)이 측정하고자 의도한 특성을 만족하는지 여부를 판단할 수 있고, 해당 특성을 만족시키도록, 전술한 광원의 종류를 변경하는 단계(612)를 수행할 수 있다.Accordingly, the control unit C controls the
대즐링 효과도를 저장하는 단계(63)에서, 제어부(C)는 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 영상 센서(35)에서 촬영된 영상을 분석하여 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.In the
예를 들어, 제어부(C)는 영상 센서(35)에서 촬영된 영상의 이미지 분석을 통해 대즐링 효과도를 측정할 수 있다. 예를 들어, 제어부(C)는 제 2 빔 프로파일러(34) 또는 출력 측정부(36)에서 계측되는 정보에 기초하여 광선(L)의 파장 대역 또는 편광 상태의 변화에 따른 대즐링 효과도를 측정할 수 있다.For example, the controller C may measure the degree of dazzling effect through image analysis of an image captured by the
대즐링 특성을 저장하는 단계(64)에서, 제어부(C)는 전술한 단계에서 얻은 광원 특성 정보 및 대즐링 효과도를 통해 적어도 하나 이상의 측정 인자에 대한 대즐링 특성의 영향도를 측정할 수 있다.In the step (64) of storing the dazzling characteristic, the control unit (C) may measure the influence of the dazzling characteristic on at least one measurement factor through the light source characteristic information and the dazzling effect diagram obtained in the above-described step. .
예를 들어, 제어부(C)는 적어도 하나 이상의 측정 인자의 변화에 따라 측정되는 광원 특성 정보 및 대즐링 효과도를 상호 매칭하여 저장할 수 있고, 해당 데이터들의 연관 관계를 계산함으로써, 측정 인자에 따른 대즐링 특성의 영향도를 측정할 수 있다.For example, the control unit C may store and match light source characteristic information and dazzling effect diagrams measured according to changes in at least one measurement factor, and calculate correlations between the corresponding data, so that The degree of influence of the sling characteristics can be measured.
이상과 같이 비록 한정된 도면에 의해 실시 예들이 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 구조, 장치 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.Although the embodiments have been described by the limited drawings as described above, a person skilled in the art can make various modifications and variations from the above description. For example, the described techniques may be performed in a different order than the described method, and/or components such as the structure, device, etc. described may be combined or combined in a different form from the described method, or may be applied to other components or equivalents. Even if replaced or substituted by, appropriate results can be achieved.
Claims (15)
대즐링 효과를 측정하기 위하여 광선을 조사하는 광원;
상기 광원으로부터 조사된 광선을 수광하는 영상 센서;
상기 광원 및 상기 영상 센서 사이에 위치하며, 상기 광원으로부터 입사된 광선의 발산 각도를 조절함으로써, 상기 광원으로부터 상기 영상 센서까지의 거리가 변화된 효과를 모사하기 위한 광 조절 광학계;
상기 광원 및 상기 광 조절 광학계 사이에 위치하고, 광선의 적어도 일부분을 반사시키는 제 1 빔 샘플러;
상기 제 1 빔 샘플러에서 반사되는 광선을 수광하는 제 1 빔 프로파일러;
상기 광 조절 광학계 및 상기 영상 센서 사이에 위치하고, 광선의 적어도 일부분을 반사시키는 제 2 빔 샘플러;
상기 제 2 빔 샘플러에서 반사되는 광선을 수광하는 제 2 빔 프로파일러; 및
상기 광원 및 광 조절 광학계를 제어하여 광선의 출력 및 광선의 발산 각도를 조절할 수 있고, 상기 제 1 빔 프로파일러 및 제 2 빔 프로파일러에서 수광되는 광선의 면적에 기초하여 광선의 발산 각도를 측정하는 제어부를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치.
In the dazzling effect measuring apparatus for measuring the dazzling effect according to the change in distance from the light source to the image sensor,
A light source irradiating light to measure the dazzling effect;
An image sensor that receives light emitted from the light source;
A light control optical system positioned between the light source and the image sensor and simulating an effect of changing a distance from the light source to the image sensor by adjusting a divergence angle of light incident from the light source;
A first beam sampler positioned between the light source and the light conditioning optical system and reflecting at least a portion of the light beam;
A first beam profiler that receives light reflected from the first beam sampler;
A second beam sampler positioned between the light conditioning optical system and the image sensor and reflecting at least a portion of the light beam;
A second beam profiler for receiving light reflected from the second beam sampler; And
By controlling the light source and the light control optical system, the light output and the divergence angle of the light beam can be adjusted, and the divergence angle of the light beam is measured based on the area of the light beams received by the first and second beam profilers. Dazzling effect measuring device comprising a control unit.
상기 광 조절 광학계 및 상기 영상 센서 사이에 위치하고, 광선의 적어도 일부분을 반사시키는 제 3 빔 샘플러;
상기 제 3 빔 샘플러에서 반사되는 광선의 출력 크기를 측정하는 출력 측정부를 더 포함하는 대즐링 효과 측정 장치.
According to claim 1,
A third beam sampler positioned between the light conditioning optical system and the image sensor and reflecting at least a portion of the light beam;
The dazzling effect measuring apparatus further comprises an output measuring unit for measuring the output size of the light beam reflected from the third beam sampler.
상기 광원을 포함하는 복수 개의 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 영상 센서를 지향 가능하도록 회전 가능하게 설치되는 회전판을 더 포함하는 대즐링 효과 측정 장치.
According to claim 1,
A dazzling effect measuring apparatus further comprising a rotating plate that supports a plurality of light sources including the light source and is rotatably installed so that any one of the plurality of light sources can selectively direct the image sensor.
상기 회전판은 상기 영상 센서를 중심으로 원둘레 방향으로 회전 가능한 것을 특징으로 하는 대즐링 효과 측정 장치.
The method of claim 4,
The rotating plate is a dazzling effect measuring device characterized in that it can be rotated in a circumferential direction around the image sensor.
상기 제어부는, 상기 영상 센서를 중심으로 상기 회전판에 방사상으로 설치된 복수 개의 광원을 선택적으로 구동하여 주변 조도 환경을 모사하는 것을 특징으로 하는 대즐링 효과 측정 장치.
The method of claim 5,
The control unit is a dazzling effect measuring apparatus, characterized in that by simulating the ambient light environment by selectively driving a plurality of light sources radially installed on the rotating plate around the image sensor.
상기 영상 센서를 회전 가능하게 지지하는 회전 스테이지를 더 포함하고,
상기 제어부는 상기 회전 스테이지를 회전시켜 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 각도를 조절하는 대즐링 효과 측정 장치.
According to claim 1,
Further comprising a rotating stage for rotatably supporting the image sensor,
The control unit rotates the rotating stage to adjust the angle of the light emitted to the image sensor Dazzling effect measuring device.
상기 회전 스테이지는 상기 영상 센서에 광선이 조사되는 광축에 수직한 2 개의 회전 축을 기준으로 상기 영상 센서를 회전시키는 대즐링 효과 측정 장치.
The method of claim 7,
The rotating stage is a dazzling effect measuring apparatus for rotating the image sensor based on two rotation axes perpendicular to the optical axis to which the image sensor is irradiated.
상기 광원 및 상기 광 조절 광학계 사이에 위치하고, 상기 광원으로부터 출력되는 광선의 편광 상태 또는 투과 정도를 변형시키는 파장판; 및
상기 파장판을 회전시켜 상기 파장판을 통과하는 광선의 편광 상태 또는 투과 정도를 조절하는 파장판 회전 장치를 더 포함하는 대즐링 효과 측정 장치.
The method of claim 8,
A wavelength plate positioned between the light source and the light control optical system and changing a polarization state or transmission degree of light rays output from the light source; And
A device for measuring the dazzling effect further comprising a rotating device for rotating the wave plate to adjust a polarization state or a transmission degree of light passing through the wave plate.
상기 광원의 종류, 상기 광원의 특성 또는 광원의 조사 조건을 포함하는 측정 조건 중 적어도 하나 이상의 측정 인자를 변경하는 단계;
상기 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 상기 빔 프로파일러에서 감지된 광원 특성 정보를 저장하는 단계;
상기 적어도 하나 이상의 측정 인자가 변경된 상태에서, 상기 영상 센서에서 나타난 대즐링 효과도를 저장하는 단계; 및
상기 광원 특성 정보 및 상기 대즐링 효과도를 통해 상기 적어도 하나 이상의 측정 인자에 대한 대즐링 특성을 저장하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법.
A light source, an image sensor for receiving light emitted from the light source, a beam profiler for sensing information on the characteristics of the light source, and a part of the light emitted from the light source is guided to the image sensor and irradiated In the control method of the dazzling effect measuring apparatus comprising a beam sampler to guide the rest of the light beam to the beam profiler,
Changing at least one measurement factor among the measurement conditions including the type of the light source, characteristics of the light source, or irradiation conditions of the light source;
Storing light source characteristic information sensed by the beam profiler while the at least one measurement factor is changed;
Storing the dazzling effect diagram displayed by the image sensor in a state in which the at least one measurement factor is changed; And
And storing the dazzling characteristic for the at least one measurement factor through the light source characteristic information and the dazzling effect diagram.
상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 광원을 포함하는 복수 개의 광원을 지지하고, 상기 복수 개의 광원 중 어느 하나의 광원이 선택적으로 상기 영상 센서를 지향 가능하도록 회전 가능하게 설치되는 회전판을 더 포함하고,
상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 회전판을 회전시켜 상기 영상 센서에 시준되는 광원의 종류를 변경하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법.
The method of claim 10,
The dazzling effect measuring apparatus further includes a rotating plate that supports a plurality of light sources including the light source and is rotatably installed so that any one light source among the plurality of light sources can selectively direct the image sensor,
The changing of the measurement factor may include rotating the rotating plate to change the type of light source collimated to the image sensor.
상기 측정 인자를 변경하는 단계는,
상기 영상 센서를 중심으로 상기 회전판에 방사상으로 설치된 복수 개의 광원을 선택적으로 구동하여 주변 조도 조건을 변경하는 단계를 더 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법.
The method of claim 11,
The step of changing the measurement factor,
The method of controlling the dazzling effect measuring apparatus further comprising the step of selectively driving a plurality of light sources radially installed on the rotating plate around the image sensor to change the ambient light conditions.
상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 영상 센서에 광선이 조사되는 광축에 수직한 2 개의 회전 축을 기준으로 상기 영상 센서를 회전 가능하게 지지하는 회전 스테이지를 더 포함하고
상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 회전 스테이지를 회전하여 광선의 조사 각도를 변경하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법.
The method of claim 10,
The dazzling effect measuring apparatus further includes a rotating stage rotatably supporting the image sensor based on two rotation axes perpendicular to an optical axis to which the image sensor is irradiated with light.
The changing of the measurement factor may include rotating the rotating stage to change the irradiation angle of the light beam.
상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 광원으로부터 출력되는 광선의 경로 상에 설치되어 상기 광선의 편광 상태를 변형시키는 파장판을 더 포함하고,
상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 파장판을 회전시켜 상기 영상 센서에 조사되는 광선의 편광 상태를 변경하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법.
The method of claim 13,
The dazzling effect measuring device further includes a wavelength plate installed on a path of the light beam output from the light source to modify the polarization state of the light beam,
The changing of the measurement factor may include rotating the wavelength plate to change a polarization state of light rays radiated to the image sensor.
상기 대즐링 효과 측정 장치는, 상기 광원 및 상기 영상 센서 사이에 위치하며, 상기 광원으로부터 입사된 광선의 발산 각도를 조절하는 광 조절 광학계를 더 포함하고,
상기 측정 인자를 변경하는 단계는, 상기 광원의 출력 및 광선의 발산 각도를 포함하는 광원의 특성을 변경하는 단계를 포함하는 대즐링 효과 측정 장치의 제어 방법.The method of claim 10,
The dazzling effect measuring device further comprises a light control optical system located between the light source and the image sensor, and adjusting the divergence angle of the light incident from the light source,
The changing of the measurement factor may include changing the characteristics of the light source including the output of the light source and the divergence angle of the light beam.
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