KR102122820B1

KR102122820B1 - Self-aligning device for pin block connected with terminal

Info

Publication number: KR102122820B1
Application number: KR1020190046133A
Authority: KR
Inventors: 주형기; 윤상훈; 장현진; 유병운
Original assignee: 디플러스(주)
Priority date: 2019-04-19
Filing date: 2019-04-19
Publication date: 2020-06-15

Abstract

Provided is a pin block self-aligning device, which comprises: a pin block including a test pin coupled to a terminal, a housing accommodating the test pin, and a guide portion formed on the housing and having an inclined surface for guiding the test pin to the terminal while sliding in contact with the terminal and the upper surface; a circuit board coupled to and fixed to the pin block and electrically connected to the test pin; a cover plate having a protrusion formed therethrough and coupled to the pin block through the circuit board; and a pin block return unit including a return plate disposed on an upper part of the cover plate and forming an opening larger than a planar area of the protrusion at a location corresponding to the protrusion, a plurality of protrusion supporting members disposed inside the opening and in contact with the protrusion, and an elastic member disposed between the protrusion supporting member and the return plate.

Description

SELF-ALIGNING DEVICE FOR PIN BLOCK CONNECTED WITH TERMINAL}

본 발명은 단자에 결합 되는 핀 블럭 자가 정렬 장치에 관한 것으로, 특히 단자가 지정된 위치로부터 벗어나더라도 제품에 연결된 단자에 테스트 신호를 인가하는 핀 블럭(pin-block)이 정확하게 결합 될 수 있도록 함으로써 테스트 불량 및 테스트 장비 손상을 방지한 핀 블럭 자가 정렬 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a pin block self-alignment device coupled to a terminal, in particular, a test failure by allowing a pin-block that applies a test signal to a terminal connected to a product to be accurately coupled even if the terminal deviates from a specified position. And a pin block self-aligning device that prevents damage to test equipment.

일반적으로 소형 카메라 모듈은 스마트폰, 게임기, 차량용 블랙박스, 차량용 전후방감시장치 등에 널리 사용되고 있다.In general, small camera modules are widely used in smartphones, game machines, vehicle black boxes, and front and rear monitoring devices for vehicles.

소형 카메라 모듈은 매우 작은 사이즈로 제작되지만 내부에 매우 정밀한 부품이 많이 배치되어 있어 소형 카메라 모듈이 생산된 후에는 다수 성능 검사가 수행된 후 불량없는 카메라 모듈만이 포장되어 판매된다.The small camera module is manufactured in a very small size, but since many very precise parts are placed inside, after a small camera module is produced, after a number of performance tests are performed, only the defective camera module is packaged and sold.

이와 같은 이유로 소형 카메라 모듈을 테스트하기 위한 테스트 소켓이 개발된 바 있다.For this reason, test sockets have been developed for testing small camera modules.

일반적인 소형 카메라 모듈은 카메라 본체 및 카메라 본체와 연결된 연성 회로기판 및 연성 회로기판에 연결된 단자를 포함한다.A typical small camera module includes a camera body and a flexible circuit board connected to the camera body and terminals connected to the flexible circuit board.

이와 같은 소형 카메라 모듈을 테스트하는 테스트 소켓은 등록특허 제10-1689521호의 테스트 소켓과 같이 카메라 모듈(10)의 몸체(1) 및 접속 단자(7)를 고정한 상태에서 접속 단자(7)에는 핀 블럭(220)이 결합 되어 카메라 모듈(10)에 테스트 신호를 인가하여 카메라 모듈(10)을 테스트한다.The test socket for testing such a small camera module is a pin block in the connection terminal 7 while the body 1 and the connection terminal 7 of the camera module 10 are fixed like the test socket of Patent No. 10-1689521. (220) is coupled to test the camera module 10 by applying a test signal to the camera module (10).

그러나 다양한 원인, 예를 들어, 연성 회로기판의 길이 편차, 접속 단자의 위치 편차, 접속 단자의 크기 편차 등에 의하여 접속 단자가 지정된 위치로부터 벗어난 위치에 배치될 경우 핀 블럭과 접속 단자가 정확하게 접속되지 못하여 테스트 불량이 발생 되고 이에 더하여 핀 블럭의 핀들이 손상되는 심각한 문제가 발생 될 수 있다.However, the pin block and the connection terminal may not be correctly connected if the connection terminal is disposed at a position outside the designated position due to various causes, for example, length deviation of the flexible circuit board, position deviation of the connection terminal, size deviation of the connection terminal, and the like. A bad test may occur, and in addition, a serious problem may occur in which pins of the pin block are damaged.

등록특허 제10-1689521호, 테스트 소켓, (등록일 : 2016. 12.20)Registered Patent No. 10-1689521, Test Socket, (Registration Date: 2016. 12.20)

본 발명은 제품에 연결된 단자의 위치가 다양한 원인에 의하여 지정된 위치로부터 벗어난 위치에 배치되더라도 정확하게 핀 블럭과 결합 되어 단자로 테스트 신호를 제공할 수 있으며, 이로 인해 핀 블럭의 손상을 방지한 핀 블럭 자가 정렬 장치를 제공한다.According to the present invention, even if the position of the terminal connected to the product is disposed at a position deviating from a specified position due to various reasons, it can be accurately combined with a pin block to provide a test signal to the terminal, thereby preventing the pin block from being damaged. An alignment device is provided.

일실시예로서, 핀 블럭 자가 정렬 장치는 단자와 결합 되는 테스트 핀, 상기 테스트 핀을 수납하는 하우징, 상기 하우징에 형성되어 단자와 상면과 접촉되어 슬라이드 되면서 상기 테스트 핀을 상기 단자로 가이드 하는 경사면이 형성된 가이드부를 포함하는 핀 블럭; 상기 핀 블럭에 결합 되어 고정되며 상기 테스트 핀과 전기적으로 접속된 회로기판; 상기 회로기판을 관통해 상기 핀 블럭에 결합되며 돌기가 형성된 커버판; 및 상기 커버판의 상부에 배치되며 상기 돌기와 대응하는 위치에 상기 돌기의 평면적보다 큰 개구 면적을 갖는 개구가 형성된 복귀 플레이트, 상기 개구의 내부에 배치되며 상기 돌기와 접촉되는 복수개의 돌기 지지부재 및 상기 돌기 지지부재와 상기 복귀 플레이트 사이에 배치된 탄성 부재를 포함하는 핀 블럭 복귀 유닛을 포함한다.In one embodiment, the pin block self-aligning device includes a test pin coupled to a terminal, a housing accommodating the test pin, and an inclined surface guiding the test pin to the terminal while being formed in the housing and sliding in contact with the terminal. A pin block including a formed guide portion; A circuit board coupled to and fixed to the pin block and electrically connected to the test pin; A cover plate penetrating through the circuit board and being coupled to the pin block and having protrusions formed thereon; And a return plate disposed on an upper portion of the cover plate and having an opening having a larger opening area than the planar area of the projection at a position corresponding to the projection, a plurality of projection supporting members disposed in the opening and contacting the projection and the projection. And a pin block return unit including an elastic member disposed between the support member and the return plate.

핀 블럭 자가 정렬 장치는 상기 핀 블럭의 하부에 배치되는 베이스 부재 및 상기 베이스 부재로부터 돌출되며 상면에 상기 단자가 배치되는 단자 지지대를 포함하는 단자 지지 유닛을 더 포함한다.The pin block self-aligning device further includes a terminal support unit including a base member disposed under the pin block and a terminal support protruding from the base member and having the terminal disposed on an upper surface.

핀 블럭 자가 정렬 장치의 상기 복귀 플레이트는 움직이지 않게 고정되며 상기 커버판, 상기 회로기판 및 상기 핀 블럭은 상기 복귀 플레이트에 대하여 상대적으로 이동된다.The return plate of the pin block self-aligning device is fixed immovably and the cover plate, the circuit board and the pin block are moved relative to the return plate.

핀 블럭 자가 정렬 장치의 상기 돌기는 4개의 측면을 갖는 사각 블럭 형상으로 형성되며, 상기 복귀 플레이트에는 상기 개구와 연결된 확장홈이 형성되며, 상기 확장홈 내부에는 상기 상기 돌기의 4개의 측면과 접촉되게 수납되며, 상기 탄성 부재는 상기 돌기 지지부재를 탄력적으로 지지하는 코일 스프링을 포함한다.The protrusion of the pin block self-aligning device is formed in a quadrangular block shape having four sides, an extension groove connected to the opening is formed in the return plate, and an inside of the extension groove is brought into contact with the four sides of the protrusion. It is received, and the elastic member includes a coil spring that elastically supports the projection support member.

본 발명에 따른 핀 블럭 자가 정렬 장치는 제품에 연결된 단자의 위치가 다양한 원인에 의하여 지정된 위치로부터 벗어난 위치에 배치되더라도 정확하게 핀 블럭과 결합 되어 단자로 테스트 신호를 제공할 수 있으며, 이로 인해 핀 블럭의 손상을 방지할 수 있는 효과를 갖는다.The pin block self-aligning device according to the present invention can be accurately coupled with the pin block to provide a test signal to the terminal even if the position of the terminal connected to the product is disposed at a position deviating from the designated position due to various reasons, thereby providing a test signal to the terminal. It has the effect of preventing damage.

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 듀얼 카메라 모듈을 테스트하는 테스트 소켓의 일부분인 핀 블럭 자가 정렬 장치의 외관 사시도이다.
도 2는 도 1의 핀 블럭 자가 정렬 장치의 분해 사시도이다.
도 3은 도 2의 다른 방향에서 바라본 핀 블럭 자가 정렬 장치의 분해 사시도이다.
도 4는 도 2의 핀 블럭 자가 정렬 유닛의 분해 사시도이다.
도 5 내지 도 7을 참조하여 핀 블럭 자가 정렬 장치의 작동을 도시한 단면도들이다.1 is an external perspective view of a pin block self-aligning device that is a part of a test socket for testing a dual camera module according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an exploded perspective view of the pin block self-aligning device of FIG. 1.
3 is an exploded perspective view of the pin block self-aligning device viewed from the other direction in FIG. 2.
4 is an exploded perspective view of the pin block self-aligning unit of FIG. 2.
5 to 7 are cross-sectional views showing the operation of the pin block self-aligning device.

이하 설명되는 본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고, 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에서 상세하게 설명하고자 한다.The present invention, which will be described below, can apply various transformations and can have various embodiments, and specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description.

그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and should be understood to include all conversions, equivalents, and substitutes included in the spirit and scope of the present invention. In the description of the present invention, if it is determined that a detailed description of known technologies related to the present invention may obscure the subject matter of the present invention, the detailed description will be omitted.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terms used in the present application are only used to describe specific embodiments, and are not intended to limit the present invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly indicates otherwise. In this application, terms such as “include” or “have” are intended to indicate that a feature, number, step, operation, component, part, or combination thereof described in the specification exists, one or more other features. It should be understood that the existence or addition possibilities of fields or numbers, steps, operations, components, parts or combinations thereof are not excluded in advance.

또한 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 구분하여 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.Further, terms such as first and second may be used to separately describe various components, but the components should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from other components.

또한 본 출원에서 적어도 2개의 상이한 실시예들이 각각 기재되어 있을 경우, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 별다른 기재가 없더라도 각 실시예들은 구성요소의 전부 또는 일부를 상호 병합 및 조합하여 사용할 수 있다.In addition, when at least two different embodiments are described in the present application, each embodiment may be used by merging and combining all or part of components with each other even if there is no specific description without departing from the spirit of the present invention. .

도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 듀얼 카메라 모듈을 테스트하는 테스트 소켓의 일부분인 핀 블럭 자가 정렬 장치의 외관 사시도이다. 도 2는 도 1의 핀 블럭 자가 정렬 장치의 분해 사시도이다. 도 3은 도 2의 다른 방향에서 바라본 핀 블럭 자가 정렬 장치의 분해 사시도이다. 도 4는 도 2의 핀 블럭 자가 정렬 유닛의 분해 사시도이다.1 is an external perspective view of a pin block self-aligning device that is a part of a test socket for testing a dual camera module according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an exploded perspective view of the pin block self-aligning device of FIG. 1. 3 is an exploded perspective view of the pin block self-aligning device viewed from the other direction in FIG. 2. 4 is an exploded perspective view of the pin block self-aligning unit of FIG. 2.

도 1 내지 도 4를 참조하면, 핀 블럭 자가 정렬 유닛(700)은 핀 블럭(100), 회로기판(200), 커버판(300) 및 핀 블럭 복귀 유닛(400)을 포함한다. 이에 더하여 핀 블럭 복귀 유닛(700)은 단자 지지 유닛(500)을 더 포함할 수 있다.1 to 4, the pin block self-aligning unit 700 includes a pin block 100, a circuit board 200, a cover plate 300, and a pin block return unit 400. In addition, the pin block return unit 700 may further include a terminal support unit 500.

핀 블럭(100)은 카메라 모듈에 결합된 단자와 결합되는 부분으로써 핀 블럭(100)과 카메라 모듈의 단자는 전기적으로 연결된다.The pin block 100 is a portion that is coupled to a terminal coupled to the camera module, and the pin block 100 and the terminal of the camera module are electrically connected.

도 3을 참조하면, 핀 블럭(100)은 테스트 핀(110), 하우징(120) 및 가이드부(130)를 포함한다.Referring to FIG. 3, the pin block 100 includes a test pin 110, a housing 120, and a guide unit 130.

테스트 핀(110)은 단자와 전기적으로 접속되는 부분으로 테스트 핀(110)은 다수개가 매트릭스 형태로 배치된 도전성 핀(conductive pin)을 포함한다.The test pin 110 is a part electrically connected to a terminal, and the test pin 110 includes a conductive pin in which a plurality of test pins are arranged in a matrix form.

하우징(120)은 테스트 핀(110)을 수납 및 테스트 핀(110)을 감싸는 역할을 한다. 본 발명의 일실시예에서, 하우징(120)은 합성수지 소재로 제작될 수 있다.The housing 120 serves to receive the test pin 110 and wrap the test pin 110. In one embodiment of the present invention, the housing 120 may be made of a synthetic resin material.

본 발명의 일실시예에서, 하우징(120)은 상면이 개방된 형태로 제작되며 개방된 하우징(120)의 상면에는 후술 될 회로 기판(200)이 결합된다.In one embodiment of the present invention, the housing 120 is made of an open top surface and a circuit board 200 to be described later is coupled to the top surface of the open housing 120.

가이드부(130)는 하우징(120)의 하면에 단자와 마주하게 형성될 수 있다. 하우징(120)의 하부에 배치된 단자가 테스트 핀(110)에 대하여 어긋나게 배치된 경우 가이드부(130)는 테스트 핀(110)을 단자의 위치로 강제로 이동시켜 테스트 핀(110)과 단자가 전기적으로 접속될 수 있도록 한다. 만일 단자가 테스트 핀(110)에 대하여 어긋나지 않게 배치된 경우 가이드부(130) 및 단자와 상호 접속되지 않는다.The guide unit 130 may be formed to face the terminal on the lower surface of the housing 120. When the terminal disposed in the lower portion of the housing 120 is disposed misaligned with respect to the test pin 110, the guide unit 130 forcibly moves the test pin 110 to the position of the terminal so that the test pin 110 and the terminal Make it electrically connected. If the terminal is disposed not to be misaligned with respect to the test pin 110, the guide unit 130 and the terminal are not interconnected.

이를 구현하기 위해 가이드부(130)에는 고정된 단자의 상면과 접촉될 경우 가이드부(130)가 고정된 단자의 상면을 따라 슬라이드 되면서 테스트 핀(110)을 단자를 향해 가이드 하는 경사면(135)이 형성된다.In order to implement this, the guide portion 130 has an inclined surface 135 which guides the test pin 110 toward the terminal while sliding along the upper surface of the fixed terminal when the guide portion 130 contacts the upper surface of the fixed terminal. Is formed.

본 발명의 일실시예에서, 경사면(135) 및 단자의 측벽이 이루는 각도는 약 30° 내지 약 45°인 것이 바람직하다. 만일 경사면(135)의 상기 각도가 지나치게 크면 단자에 무리한 힘이 인가될 수 있고, 경사면(135)의 상기 각도가 지나치게 작으면 가이드부(130)와 단자가 충돌할 수 있기 때문에 경사면(135) 및 단자의 측벽이 이루는 각도는 약 30°내지 약 45°인 것이 바람직하다.In one embodiment of the present invention, the angle between the inclined surface 135 and the sidewall of the terminal is preferably about 30° to about 45°. If the angle of the inclined surface 135 is too large, an excessive force may be applied to the terminal, and if the angle of the inclined surface 135 is too small, the guide unit 130 and the terminal may collide with the inclined surface 135 and It is preferable that the angle formed by the side wall of the terminal is about 30° to about 45°.

본 발명의 일실시예에서, 경사면(135)에는 단자의 상면과 접촉된 후 경사면(135)이 신속히 슬라이드 되도록 국부적으로 작은 마찰력을 갖는 테프론과 같은 소재를 배치하여도 무방하다.In one embodiment of the present invention, it is also possible to arrange a material such as Teflon having a small friction force locally so that the inclined surface 135 slides quickly after contacting the upper surface of the terminal.

한편, 본 발명의 일실시예에서는 가이드부(130)가 하우징(120)의 일측에만 형성된 것이 도시되어 있으나, 가이드부(130)는 단자의 형상에 따라 적어도 2개가 단자의 주변에 배치될 수 있다.On the other hand, in one embodiment of the present invention is shown that the guide portion 130 is formed only on one side of the housing 120, but at least two guide portions 130 may be disposed around the terminal according to the shape of the terminal. .

이와 같은 구성을 갖는 핀 블럭(100)에는 회로 기판(200)이 결합 되는데, 본 발명의 일실시예에서, 회로 기판(200)은 연성회로기판 또는 딱딱한 리지드(rigid) 회로기판 중 어느 하나가 사용될 수 있다.The circuit board 200 is coupled to the pin block 100 having such a configuration. In one embodiment of the present invention, the circuit board 200 may be either a flexible circuit board or a rigid rigid circuit board. Can be.

회로 기판(200)은 핀 블럭(100)에 결합 되며, 회로 기판(200)은 핀 블럭(100)의 구성 요소인 테스트 핀(110)과 전기적으로 연결되며, 회로 기판(200)은 핀 블럭(100)의 하우징(120) 중 테스트 핀(110)과 대향하는 하우징(120)의 개방된 상단에 결합 된다.The circuit board 200 is coupled to the pin block 100, the circuit board 200 is electrically connected to the test pin 110 that is a component of the pin block 100, the circuit board 200 is a pin block ( It is coupled to the open top of the housing 120 facing the test pin 110 among the housing 120 of 100).

커버판(300)은 회로 기판(200)의 상면에 배치되며, 커버판(300)은 회로기판(200)을 통과하여 핀 블럭(100)의 하우징(120)에 체결 나사 등을 통해 결합 되며, 이로 인해 커버판(300), 회로 기판(200) 및 핀 블럭(100)은 일체로 결합 된다.The cover plate 300 is disposed on the upper surface of the circuit board 200, the cover plate 300 passes through the circuit board 200 and is coupled to the housing 120 of the pin block 100 through fastening screws or the like, Due to this, the cover plate 300, the circuit board 200 and the pin block 100 are integrally combined.

커버판(300)의 상면에는 돌기(310)가 형성되는데, 돌기(310)는 커버판(300)의 상면 중앙부에 배치된다. 본 발명의 일실시예에서, 돌기(310)는, 예를 들어, 4개의 측면을 갖는 사각 블럭 형상으로 형성된다.The projection 310 is formed on the upper surface of the cover plate 300, and the projection 310 is disposed in the center of the upper surface of the cover plate 300. In one embodiment of the present invention, the projection 310 is formed, for example, in a quadrangular block shape having four sides.

커버판(300)의 상부에는 핀 블럭 복귀 유닛(400)이 배치되는데, 핀 블럭 복귀 유닛(400)은 단자의 위치에 의하여 일측으로 강제로 이동된 핀 블럭(100)이 테스트가 종료되어 단자로부터 분리된 후 핀 블럭(100)을 지정된 위치로 복귀시키는 역할을 한다.A pin block return unit 400 is disposed on an upper portion of the cover plate 300, and the pin block return unit 400 is a pin block 100 that is forcibly moved to one side by the position of the terminal, and the test is ended. After separation, it serves to return the pin block 100 to a designated position.

핀 블럭 복귀 유닛(400)은 복귀 플레이트(410), 돌기 지지부재(420) 및 탄성 부재(430)를 포함한다.The pin block return unit 400 includes a return plate 410, a projection support member 420 and an elastic member 430.

복귀 플레이트(410)는, 예를 들어, 사각 플레이트 형상으로 형성되며, 복귀 플레이트(410)는 커버판(300)의 상부에 배치된다. 본 발명의 일실시예에서, 복귀 플레이트(410)는 움직이지 못하게 고정되는 반면 커버판(300)은 복귀 플레이트(410)에 대하여 상대적으로 이동될 수 있다.The return plate 410 is, for example, formed in a square plate shape, and the return plate 410 is disposed on the top of the cover plate 300. In one embodiment of the present invention, the return plate 410 is fixed immovably while the cover plate 300 can be moved relative to the return plate 410.

복귀 플레이트(410) 중 커버판(300)의 돌기(310)와 대응하는 위치에는 개구(415)가 형성되는데, 개구(415)의 평면적은 돌기(310)의 평면적보다 크게 형성되며, 이로 인해 돌기(310)는 복귀 플레이트(410)의 개구(415)의 내부에서 자유롭게 움직일 수 있다.An opening 415 is formed at a position corresponding to the protrusion 310 of the cover plate 300 among the return plates 410, and the planar area of the opening 415 is formed larger than the planar area of the protrusion 310, thereby causing the protrusion 310 can freely move inside the opening 415 of the return plate 410.

복귀 플레이트(410)의 개구(415)로부터는 4개의 확장홈(417)이 형성되는데, 확장홈(417)들은 돌기(310)의 각각의 측면들과 대응하는 방향으로 홈 형상으로 형성된다. 확장홈(417)은 입구는 좁고 안쪽으로 들어감에 따라 면적이 확장되는 홈 형상으로 형성된다. 이와 같이 형성된 각각의 확장홈(417)의 내부에는 돌기 지지부재(420)가 수납된다.Four expansion grooves 417 are formed from the opening 415 of the return plate 410, and the expansion grooves 417 are formed in a groove shape in a direction corresponding to respective side surfaces of the protrusion 310. The expansion groove 417 is formed in a groove shape in which the entrance is narrow and the area expands as it enters inward. The protrusion support member 420 is accommodated in each of the expansion grooves 417 formed as described above.

돌기 지지부재(420)는 돌기(310)의 측면에 접촉된 상태에서 확장홈(417)의 내부에서 움직일 수 있는 형상 및 사이즈로 형성된다. 예를 들어, 돌기 지지부재(420)는 돌기(310)의 측면에 접촉되는 돌기 접촉부(422) 및 돌기 접촉부(422)와 연결되며 면적이 확장되는 지지부(324)를 포함한다. 지지부(324)는 확장홈(417)에 걸려 돌기 지지부재(420)가 외부로 이탈되는 것을 방지한다.The protrusion support member 420 is formed in a shape and size that can move inside the expansion groove 417 in a state in contact with the side surface of the protrusion 310. For example, the protrusion support member 420 includes a protrusion contact part 422 contacting a side surface of the protrusion 310 and a support part 324 connected to the protrusion contact part 422 and expanding an area. The support part 324 is caught in the expansion groove 417 and prevents the protrusion support member 420 from escaping to the outside.

한편, 돌기(310)가 이동되어 돌기 지지부재(420)에 외력이 가해질 경우 돌기 지지부재(420)를 탄력적으로 지지하고 외력이 제거될 경우 돌기(310)를 지정된 위치로 복귀시키기 위해 돌기 지지부재(420) 및 복귀 플레이트(410)의 사이에는 탄성 부재(430)가 배치될 수 있다. 본 발명의 일실시예에서 탄성 부재(430)는, 예를 들어, 코일 스프링을 포함할 수 있다.On the other hand, when the projection 310 is moved and an external force is applied to the projection supporting member 420, the projection supporting member 420 is elastically supported, and when the external force is removed, the projection supporting member to return the projection 310 to the designated position. An elastic member 430 may be disposed between 420 and the return plate 410. In one embodiment of the present invention, the elastic member 430 may include, for example, a coil spring.

한편, 단자를 지정된 위치에 안착시키기 위해서 본 발명의 일실시예에서 핀 블럭 자가 정렬 장치(700)는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이 단자 지지 유닛(500)을 더 포함할 수 있다.On the other hand, in order to seat the terminal in a specified position, in one embodiment of the present invention, the pin block self-aligning device 700 may further include a terminal support unit 500 as shown in FIGS. 1 and 2.

단자 지지 유닛(500)은 베이스 부재(510) 및 단자 지지대(520)를 포함한다.The terminal support unit 500 includes a base member 510 and a terminal support 520.

베이스 부재(510)는 평탄한 상면을 갖는 플레이트 형상을 가지며, 베이스 부재(510)는 핀 블럭(100)의 하부에 배치된다.The base member 510 has a plate shape having a flat top surface, and the base member 510 is disposed under the pin block 100.

단자 지지대(520)는 베이스 부재(510)의 상면으로부터 일정 높이로 돌출되는데 이로 인해 핀 블럭(100)의 하우징(120)에 형성된 가이드부(130)가 단자에 의하여 가이드 되면서 가이드부(130)가 베이스 부재(510)의 표면과 충돌되는 것을 방지할 수 있다. 비록 본 발명의 일실시예에서는 단자 지지대(520)를 베이스 부재(510)에 대하여 돌출시켜 가이드부(130)가 베이스 부재(510)와 충돌하는 것을 방지하고 있지만 이와 다르게 베이스 부재(510)의 표면에 단자를 배치하고 단자 주변과 대응하는 베이스 부재(510)에 가이드부(130)의 일부를 수납할 수 있는 오목한 그루브(groove)를 형성하여도 무방하다.The terminal support 520 protrudes to a predetermined height from the upper surface of the base member 510. As a result, the guide portion 130 formed in the housing 120 of the pin block 100 is guided by the terminal. It is possible to prevent the base member 510 from colliding with the surface. Although the embodiment of the present invention prevents the guide portion 130 from colliding with the base member 510 by protruding the terminal support 520 against the base member 510, the surface of the base member 510 is different from this. It is also possible to form a concave groove in which the terminal is disposed and a portion of the guide portion 130 can be accommodated in the base member 510 corresponding to the periphery of the terminal.

이하 첨부된 도 5 내지 도 7을 참조하여 핀 블럭 자가 정렬 장치의 작동을 설명하기로 한다.Hereinafter, the operation of the pin block self-aligning device will be described with reference to FIGS. 5 to 7.

먼저 도 5에 도시된 바와 같이 단자 지지 유닛(500)의 단자 지지대(520)에 단자(1)가 배치되면 핀 블럭(100), 회로 기판(200), 커버판(300) 및 핀 블럭 복귀 유닛(400)은 하부로 하강된다.First, when the terminal 1 is disposed on the terminal support 520 of the terminal support unit 500 as shown in FIG. 5, the pin block 100, the circuit board 200, the cover plate 300, and the pin block return unit 400 is lowered to the bottom.

이때, 단자 지지 유닛(500) 상에 배치된 단자는 지정된 위치에 배치될 수 있지만 다양한 원인, 예를 들어, 연성회로기판의 길이 편차 등에 의하여 지정된 위치로부터 벗어난 위치에 배치될 수 있다.At this time, the terminal disposed on the terminal support unit 500 may be disposed at a designated location, but may be disposed at a location deviating from a specified location due to various causes, for example, a length deviation of the flexible circuit board.

이와 같이 단자 지지 유닛(500) 상에 배치된 단자가 지정된 위치로부터 벗어난 위치에 배치된 상태에서 핀 블럭(100)이 하강 되면 도 6에 도시된 바와 같이 핀 블럭(100)의 가이드부(130)에 단자(1)의 상면이 접촉되고, 이 과정에서 단자(1)가 고정된 상태에서 핀 블럭(100), 회로기판(200), 커버판(300)의 돌기(310)가 좌측으로 이동되고, 이 과정에서 상호 어긋나게 배치된 단자(1) 및 테스트 핀(110)은 상호 정렬되다, 도 7에 도시된 바와 같이 테스트 핀(110)은 단자(1)에 정확하게 삽입되고 이 상태에서 테스트가 수행된다.When the pin block 100 is lowered in a state in which the terminal disposed on the terminal support unit 500 is disposed at a position deviating from the designated position, the guide portion 130 of the pin block 100 as shown in FIG. 6. The upper surface of the terminal 1 is in contact with the pin block 100, the circuit board 200, and the projection 310 of the cover plate 300 is moved to the left in the process while the terminal 1 is fixed. , In this process, the terminals 1 and the test pins 110 which are arranged to be mutually misaligned are aligned with each other. As shown in FIG. 7, the test pins 110 are accurately inserted into the terminal 1 and the test is performed in this state. do.

이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 카메라 모듈과 같이 제품에 연결된 단자의 위치가 다양한 원인에 의하여 지정된 위치로부터 벗어난 위치에 배치되더라도 정확하게 핀 블럭과 결합 되어 단자로 테스트 신호를 제공할 수 있으며, 이로 인해 핀 블럭의 손상을 방지할 수 있는 효과를 갖는다.As described in detail above, even if the position of the terminal connected to the product, such as a camera module, is disposed at a position deviating from a specified position due to various reasons, it can be accurately combined with a pin block to provide a test signal to the terminal. It has the effect of preventing damage to the block.

한편, 본 도면에 개시된 실시예는 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명한 것이다.On the other hand, the embodiments disclosed in the drawings are merely presented as specific examples for ease of understanding, and are not intended to limit the scope of the present invention. It is apparent to those skilled in the art to which the present invention pertains that other modifications based on the technical idea of the present invention can be implemented in addition to the embodiments disclosed herein.

100...핀 블럭 200...회로 기판
300...커버판 400...핀 블럭 복귀 유닛
500...단자 지지 유닛100...pin block 200...circuit board
300...cover plate 400...pin block return unit
500...terminal support unit

Claims

A pin block including a test pin coupled to a terminal, a housing accommodating the test pin, and a guide portion formed on the housing and having an inclined surface for guiding the test pin to the terminal while sliding in contact with the terminal and an upper surface;
A circuit board coupled to and fixed to the pin block and electrically connected to the test pin;
A cover plate that penetrates the circuit board and is coupled to the pin block and has protrusions formed thereon; And
A return plate disposed on an upper portion of the cover plate and having an opening having a larger opening area than the planar area of the projection at a position corresponding to the projection, a plurality of projection supporting members disposed inside the opening and contacting the projection and the projection support A pin block self aligning device comprising a pin block return unit comprising an elastic member disposed between a member and the return plate.

According to claim 1,
A pin block self-alignment device further comprising a terminal support unit including a base member disposed under the pin block and a terminal support protruding from the base member and having the terminal disposed on an upper surface.

According to claim 1,
The return plate is fixed immovably, and the cover plate, the circuit board and the pin block are self-aligned with a pin block that is moved relative to the return plate.

According to claim 1,
The protrusion is formed in a square block shape having four sides,
An expansion groove connected to the opening is formed in the return plate, and the expansion groove is accommodated in contact with four sides of the protrusion,
The elastic member is a pin block self-aligning device including a coil spring that elastically supports the projection support member.