KR101689521B1 - Test socket - Google Patents
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Abstract
본 발명은 영구자석 등을 포함하는 테스트 될 제품을 자력없이 맞물림 결합 방식으로 임시 고정한 후 제품의 테스트를 수행함으로써 상기 자력에 의하여 테스트 되는 제품의 테스트 불량을 방지 또는 제품의 테스트 정밀도 감소를 방지하는 테스트 소켓을 제공하며, 테스트 소켓은 제1 힌지부가 형성되며 테스트 제품이 탑재되는 제품 안착부를 포함하는 제1 플레이트; 제2 힌지부가 형성되며 상기 테스트 제품의 접속 단자와 접속되는 핀 블럭을 포함하는 제2 플레이트; 상기 제1 및 제2 힌지부들에 결합되어 상기 제1 플레이트 및 상기 제2 플레이트들을 회동시키는 힌지 핀; 상기 제1 및 제2 플레이트들 사이에 개재되고, 상기 힌지 핀에 결합되는 제3 힌지부를 포함하며, 상기 테스트 제품의 적어도 일부를 덮는 중간 플레이트; 및 상기 중간 플레이트를 상기 제1 플레이트에 맞물림 결합시키는 맞물림 결합부를 포함한다.The present invention relates to a test method for preventing a test failure of a product to be tested by the magnetic force or preventing a decrease in the test precision of a product by temporarily testing the product to be tested including a permanent magnet, The test socket comprising: a first plate having a first hinge portion and a product seating portion on which the test product is mounted; A second plate having a second hinge portion and including a pin block connected to a connection terminal of the test product; A hinge pin coupled to the first and second hinge portions to rotate the first plate and the second plate; An intermediate plate interposed between the first and second plates and including a third hinge portion coupled to the hinge pin, the intermediate plate covering at least a portion of the test article; And an engaging portion for engaging the intermediate plate with the first plate.
Description
본 발명은 테스트 소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a test socket.
일반적으로 스마트 폰과 같은 휴대용 통신 장비, 태블릿 PC, 게임기 등에는 사진 또는 동영상을 촬영하기 위한 초소형 카메라 모듈이 장착되고 있다.In general, portable communication devices such as a smart phone, a tablet PC, and a game machine are equipped with an ultra-small camera module for taking a picture or a moving picture.
최근 개발되는 초소형 카메라 모듈은 입사된 외부광을 이미지 또는 동영상으로 변환하는 이미지 센서 및 이미지 센서에 장착되어 오토 포커싱 기능 및 손떨림 방지 기능 등을 수행하는 보이스 코일 모터(VCM)를 포함한다. The recently developed ultra-small camera module includes a voice coil motor (VCM) mounted on an image sensor and an image sensor for converting external incident light into an image or a moving image and performing an auto focusing function and an anti-shake function.
특히 보이스 코일 모터(VCM)는 렌즈 및 렌즈를 가동하여 포커싱 동작을 수행하는 렌즈 엑츄에이터 등을 포함하며, 렌즈 엑츄에이터는 렌즈가 장착된 보빈, 보빈에 권선되어 전자기력을 발생시키는 코일, 코일 주변에 배치된 영구자석 및 보빈을 탄력적으로 지지하는 판 스프링 등을 포함한다.In particular, the voice coil motor (VCM) includes a lens actuator that performs a focusing operation by operating a lens and a lens, and the lens actuator includes a bobbin having a lens mounted thereon, a coil wound around the bobbin to generate an electromagnetic force, A permanent magnet and a leaf spring for elastically supporting the bobbin.
매우 작은 사이즈를 갖는 초소형 카메라 모듈은 다수의 부품을 조립한 후 테스트가 수행된다.In a very small camera module having a very small size, a test is performed after assembling a plurality of parts.
일반적으로 초소형 카메라 모듈을 테스트 하기 위해서는 대한민국 등록특허 제10-1199018호, 카메라 모듈용 테스트 소켓(등록일:2012년 11월 1일)과 같은 테스트 소켓이 사용된다.Generally, in order to test an ultra-small camera module, a test socket such as Korean Registered Patent No. 10-1199018 and a test socket for a camera module (registered on Nov. 1, 2012) is used.
대한민국 등록특허 제10-1199018호에 개시된 카메라 모듈용 테스트 소켓은 베이스 프레임 및 커버 프레임 사이에 중간 커버가 더 포함된 기술이 개시되어 있다.A test socket for a camera module disclosed in Korean Patent No. 10-1199018 discloses a technique in which an intermediate cover is further included between a base frame and a cover frame.
대한민국 등록특허 제10-1199018호에 개시된 카메라 모듈용 테스트 소켓은 커버 프레임에 테스트될 제품이 고정되고, 중간 커버가 커버 프레임에 장착된 자석에 고정되어 테스트될 제품을 커버 프레임에 고정한 후 커버 프레임이 베이스 프레임으로 회동된 후 테스트가 수행된다.A test socket for a camera module disclosed in Korean Patent No. 10-1199018 is a test socket for a camera module in which a product to be tested is fixed to a cover frame, a middle cover is fixed to a magnet mounted on the cover frame, The test is performed after being rotated by the base frame.
그러나, 대한민국 등록특허 제10-1199018호에 개시된 카메라 모듈용 테스트 소켓은 중간 커버 및 커버 프레임을 자석에 의한 자력으로 고정한다.However, in the test socket for camera module disclosed in Korean Patent No. 10-1199018, the intermediate cover and the cover frame are fixed by the magnetic force by the magnet.
자석으로 중간 커버 및 커버 프레임을 고정할 경우 테스트되는 초소형 카메라 모듈에 내장된 보이스 코일 모터(VCM)의 영구 자석이 중간 커버 및 커버 프레임에 장착된 자석의 자기장에 반응하여 보이스 코일 모터(VCM)의 렌즈가 지정된 위치로부터 틸팅될 수 있고, 이로 인해 초소형 카메라 모듈의 테스트 불량이 발생될 수 있다.When fixing the middle cover and the cover frame with magnets, the permanent magnet of the voice coil motor (VCM) built in the ultra-small camera module to be tested is placed in contact with the voice coil motor (VCM) The lens can be tilted from a designated position, which may cause a test failure of the ultra-small camera module.
또한, 대한민국 등록특허 제10-1199018호에 개시된 카메라 모듈용 테스트 소켓은 초소형 카메라 모듈의 렌즈가 커버 프레임의 내측면과 마주하게 배치되고 카메라 모듈에 연결된 접속 단자 역시 커버 프레임의 내측면과 마주하게 배치된다.In the test socket for a camera module disclosed in Korean Patent No. 10-1199018, the lens of the ultra-small camera module is arranged to face the inner side of the cover frame, and the connection terminal connected to the camera module is also placed facing the inner side of the cover frame do.
이와 같이 카메라 모듈에 연결된 접속 단자가 커버 프레임의 내측면과 마주하게 배치될 경우 대한민국 등록특허 제10-1199018호에 개시된 카메라 모듈용 테스트 소켓은 커버 프레임에 회로 기판 및 베이스 프레임에 회로 기판이 포함되어야만 하고 이로 2 개의 회로 기판들을 사용해야 하기 때문에 테스트 소켓의 구성이 복잡해지며, 테스트 소켓의 제조 비용이 상승되는 문제점을 갖는다.When the connection terminal connected to the camera module is arranged to face the inner surface of the cover frame, the test socket for the camera module disclosed in Korean Patent No. 10-1199018 requires that the circuit board and the circuit board are included in the cover frame And it is necessary to use two circuit boards, so that the configuration of the test socket becomes complicated and the manufacturing cost of the test socket increases.
또한, 테스트를 위해서 작업자가 카메라 모듈의 렌즈 부분을 커버 프레임에 형성된 수납홈에 수작업으로 삽입하기 때문에 작업자의 실수에 의해 카메라 모듈의 렌즈가 커버 프레임에 접촉될 경우, 조립이 완료된 고가의 카메라 모듈의 렌즈 부분에 스크래치가 발생되어 양품 카메라 모듈에 외관 불량이 발생되는 문제점을 갖는다.In addition, when the operator manually inserts the lens portion of the camera module into the receiving groove formed in the cover frame for testing, when the lens of the camera module touches the cover frame due to the operator's mistake, Scratches are generated on the lens portion, thereby causing defective appearance of the good camera module.
본 발명은 영구자석 등을 포함하는 테스트 될 제품을 자력없이 맞물림 결합 방식으로 임시 고정한 후 제품의 테스트를 수행함으로써 상기 자력에 의하여 테스트 되는 제품의 테스트 불량을 방지 또는 제품의 테스트 정밀도 감소를 방지하는 테스트 소켓을 제공한다.The present invention relates to a test method for preventing a test failure of a product to be tested by the magnetic force or preventing a decrease in the test precision of a product by temporarily testing the product to be tested including a permanent magnet, Socket.
본 발명은 테스트 되는 제품 중 스크래치가 발생하기 쉬운 부분이 테스트되는 도중 테스트를 수행하는 부품과 접촉되는 것을 방지 함으로써 제품에 스크래치가 발생되는 것을 방지하여 테스트에 의한 제품의 외관 불량을 방지하는 테스트 소켓을 제공한다.The present invention relates to a test socket for preventing scratches from being generated in a product by preventing a part which is likely to be scratched from being brought into contact with a test performing part during testing, to provide.
본 발명은 테스트 되는 부품의 단자 배치를 개선하여 2 개의 회로 기판을 사용하지 않고 단지 1 개의 회로 기판을 이용하여 테스트를 수행할 수 있도록 하여 부품수 감소에 따른 제조 코스트를 낮춘 테스트 소켓을 제공한다.The present invention provides a test socket which improves the terminal arrangement of the parts to be tested so that the test can be performed using only one circuit board without using two circuit boards, thereby lowering the manufacturing cost due to the reduction in the number of parts.
일실시예로서, 테스트 소켓은 제1 힌지부가 형성되며 테스트 제품이 탑재되는 제품 안착부를 포함하는 제1 플레이트; 제2 힌지부가 형성되며 상기 테스트 제품의 접속 단자와 접속되는 핀 블럭을 포함하는 제2 플레이트; 상기 제1 및 제2 힌지부들에 결합되어 상기 제1 플레이트 및 상기 제2 플레이트들을 회동시키는 힌지 핀; 상기 제1 및 제2 플레이트들 사이에 개재되고, 상기 힌지 핀에 결합되는 제3 힌지부를 포함하며, 상기 테스트 제품의 적어도 일부를 덮는 중간 플레이트; 및 상기 중간 플레이트를 상기 제1 플레이트에 맞물림 결합시키는 맞물림 결합부를 포함한다.In one embodiment, the test socket includes a first plate having a first hinge portion and a product seating portion on which the test product is mounted; A second plate having a second hinge portion and including a pin block connected to a connection terminal of the test product; A hinge pin coupled to the first and second hinge portions to rotate the first plate and the second plate; An intermediate plate interposed between the first and second plates and including a third hinge portion coupled to the hinge pin, the intermediate plate covering at least a portion of the test article; And an engaging portion for engaging the intermediate plate with the first plate.
테스트 소켓의 상기 맞물림 결합부는 상기 제1 플레이트의 측면에 결합된 탄성부재 및 상기 탄성부재에 결합되며 일부가 상기 측면으로부터 돌출된 걸림돌기를 포함하는 제1 결합부; 및 상기 걸림돌기가 걸리도록 상기 중간 플레이트에 오목하게 형성된 걸림홈을 포함하는 제2 결합부를 포함한다.The engaging portion of the test socket includes a first engaging portion including an elastic member coupled to a side surface of the first plate and a latch protrusion coupled to the elastic member and partially protruding from the side surface; And a second engaging portion including an engaging groove recessed in the intermediate plate so that the engaging protrusion is caught.
테스트소켓의 상기 맞물림 결합부는 상기 중간 플레이트의 측면에 수납된 탄성부재 및 상기 탄성부재에 결합되며 일부가 상기 측면으로부터 돌출된 걸림돌기를 포함하는 제1 결합부; 및 상기 걸림돌기가 걸리도록 상기 제1 플레이트에 오목하게 형성된 걸림홈을 포함하는 제2 결합부를 포함한다.Wherein the engaging portion of the test socket has a first engaging portion including an elastic member accommodated in a side surface of the intermediate plate and a locking protrusion coupled to the elastic member and protruding from the side surface partly; And a second engaging portion including an engaging groove recessed in the first plate so that the engaging protrusion is caught.
테스트 소켓의 상기 제1 플레이트의 내측면에는 상기 중간 플레이트를 수납하는 수납홈이 형성된다.On the inner surface of the first plate of the test socket, a receiving groove for receiving the intermediate plate is formed.
테스트 소켓의 상기 중간 플레이트는 상기 제1 플레이트의 내측면과 접촉되는 면에 배치된 시트 형상의 완충부재를 포함한다.The intermediate plate of the test socket includes a cushioning member in the form of a sheet disposed on a surface that is in contact with the inner surface of the first plate.
테스트 소켓의 상기 제2 플레이트는 상기 핀 블록과 전기적으로 접속된 단일 회로 기판 및 상기 테스트 제품 중 상기 제2 플레이트와 마주하게 배치된 렌즈를 노출하는 개구를 포함한다.The second plate of the test socket includes a single circuit board electrically connected to the pin block and an opening exposing a lens of the test product facing the second plate.
테스트 소켓의 상기 중간 플레이트는 상기 제1 및 제2 플레이트들 사이에 배치된 제1 중간 플레이트부 및 상기 제1 중간 플레이트로부터 상기 제1 플레이트의 측면과 마주하게 돌출된 제2 중간 플레이트부를 포함한다.The intermediate plate of the test socket includes a first intermediate plate portion disposed between the first and second plates and a second intermediate plate portion protruding from the first intermediate plate to face the side surface of the first plate.
테스트 소켓의 상기 제2 중간 플레이트부를 작업자가 조작하기 위한 공간을 확보하기 위해 상기 제1 및 제2 플레이트들의 일부에는 절개된 절개부가 형성된다.An incision section is formed in a part of the first and second plates to secure a space for the operator to operate the second intermediate plate portion of the test socket.
본 발명에 따른 테스트 소켓은 영구자석 등을 포함하는 테스트 될 카메라 모듈과 같은 제품을 자력없이 맞물림 결합 방식으로 임시 고정한 후 제품의 테스트를 수행함으로써 상기 자력에 의하여 테스트 되는 제품의 테스트 불량을 방지 또는 제품의 테스트 정밀도 감소를 방지할 수 있다.The test socket according to the present invention is a test socket which temporarily fixes a product such as a camera module to be tested including a permanent magnet in a meshing manner without magnetic force and then tests the product to prevent the test failure of the product to be tested by the magnetic force, It is possible to prevent a reduction in the test precision of the test apparatus.
또한 테스트 되는 제품 중 스크래치가 발생하기 쉬운 부분이 테스트되는 도중 테스트를 수행하는 부품과 접촉되는 것을 방지 함으로써 제품에 스크래치가 발생되는 것을 방지하여 테스트에 의한 제품의 외관 불량을 방지할 수 있다.In addition, it is possible to prevent scratches from being generated in the product by preventing the scratch-prone part from being in contact with the part to be tested during the test, thereby preventing the defective appearance of the product due to the test.
또한 테스트 되는 부품의 단자 배치를 개선하여 2 개의 회로 기판을 사용하지 않고 단지 1 개의 회로 기판을 이용하여 테스트를 수행할 수 있도록 하여 부품수 감소에 따른 제조 코스트를 낮출 수 있다.Further, the terminal arrangement of the parts to be tested is improved, so that the test can be performed using only one circuit board without using two circuit boards, thereby reducing the manufacturing cost due to the reduction in the number of components.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 외관 사시도이다.
도 2는 도 1의 맞물림 결합부의 단면도이다.
도 3 내지 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 테스트 과정을 도시한 사시도이다.1 is an external perspective view of a test socket according to an embodiment of the present invention.
2 is a sectional view of the engaging portion of Fig.
3 to 5 are perspective views illustrating a test process of a test socket according to an embodiment of the present invention.
하기의 설명에서는 본 발명의 실시 예를 이해하는데 필요한 부분만이 설명되며, 그 이외 부분의 설명은 본 발명의 요지를 흩트리지 않도록 생략될 것이라는 것을 유의하여야 한다.In the following description, only parts necessary for understanding the embodiments of the present invention will be described, and the description of other parts will be omitted so as not to obscure the gist of the present invention.
이하에서 설명되는 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념으로 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.The terms and words used in the present specification and claims should not be construed as limited to ordinary or dictionary meanings and the inventor is not limited to the meaning of the terms in order to describe his invention in the best way. It should be interpreted as meaning and concept consistent with the technical idea of the present invention. Therefore, the embodiments described in the present specification and the configurations shown in the drawings are merely preferred embodiments of the present invention, and are not intended to represent all of the technical ideas of the present invention, so that various equivalents And variations are possible.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 외관 사시도이다.1 is an external perspective view of a test socket according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 테스트 소켓(700)은 제1 플레이트(100), 제2 플레이트(200), 힌지핀(300), 중간 플레이트(400)) 및 맞물림 결합부(500)를 포함한다.Referring to FIG. 1, a
제1 플레이트(100)는, 예를 들어, 플레이트 형상으로 형성되며, 제1 플레이트(100)의 단부에는 힌지홀이 각각 형성된 한 쌍의 제1 힌지부(110)가 형성된다.The
제1 플레이트(100) 중 후술 될 제2 플레이트(200)와 마주하는 내측면(105)에는 테스트 될 제품이 안착되는 제품 안착부(120)가 형성된다.The
제품 안착부(120)는, 예를 들어, 테스트 될 제품이 수납되는 수납홈(125)이 형성되며, 수납홈(125)은 테스트 될 제품이 수납된 후 유동되지 않는 사이즈로 형성된다.The
본 발명의 일실시예에서 수납홈(125)에 수납되는 테스트 제품은, 예를 들어, 스마트 폰, 태블릿 PC 및 게임기 등에 장착되는 초소형 카메라 모듈(10)이다.In one embodiment of the present invention, the test product stored in the
초소형 카메라 모듈(10)은 카메라 모듈 몸체(1), 외부 렌즈(2), 플랙시블 회로기판(5) 및 접속 단자(7)를 포함한다.The
카메라 모듈 몸체(1)는, 예를 들어, 이미지 센서(미도시) 및 이미지 센서에 결합된 보이스 코일 모터(VCM)를 포함할 수 있다.The
보이스 코일 모터(VCM)은, 예를 들어, 고정자 및 고정자에 대하여 구동되는 가동자를 포함한다.The voice coil motor VCM includes, for example, a stator and a mover that is driven with respect to the stator.
고정자는 커버 및 커버의 내측면에 장착된 영구 자석을 포함한다.The stator includes a cover and a permanent magnet mounted on an inner surface of the cover.
가동자는 영구 자석의 내측에 배치되며 중공이 형성된 보빈(bobbin), 보빈의 중공에 결합된 포커싱 렌즈, 보빈의 외주면에 권선된 코일을 포함한다.The mover includes a hollow bobbin disposed inside the permanent magnet, a focusing lens coupled to the hollow of the bobbin, and a coil wound around the outer periphery of the bobbin.
보빈은 판 형상의 스프링에 의하여 고정자에 탄력적으로 결합되며, 코일에 전류가 인가됨에 따라 발생된 전자기력에 의하여 보빈은 고정자에 대하여 승강 또는 하강되고, 이로 인해 보빈의 내부에 배치된 포커싱 렌즈 및 이미지 센서 사이의 간격이 조절된다.The bobbin is elastically coupled to the stator by a plate-shaped spring, and the bobbin is lifted or lowered with respect to the stator by the electromagnetic force generated as a current is applied to the coil. Thus, the focusing lens and the image sensor Is adjusted.
외부 렌즈(2)는 카메라 모듈 몸체(1)에 결합되며, 플랙시블 회로 기판(5)은 보빈에 권선된 코일 및 이미지 센서와 전기적으로 결합되며, 접속 단자(7)는 플랙시블 회로 기판(5)에 전기적으로 접속된다. 접속 단자(7)로 인가된 테스트 신호는 플랙시블 회로 기판(5)을 통해 이미지 센서 및 코일로 제공된다.The external lens 2 is coupled to the
본 발명의 일실시예에서, 카메라 모듈 몸체(1)는 외부 렌즈(2)가 노출되도록 제품 안착부(120)의 수납홈(125)에 고정된다. 또한 플랙시블 회로 기판(5)은 제품 안착부(120) 상에 배치되며, 플랙시블 회로 기판(5)에 장착된 접속 단자(7)는 외부에 대하여 노출된 상태로 배치된다.In one embodiment of the present invention, the
본 발명의 일실시에에서, 외부 렌즈(2)가 노출되도록 카메라 모듈 몸체(1)를 제품 안착부(120)의 수납홈(125)에 수납할 경우, 외부 렌즈(2)가 테스트 되는 도중 후술 될 제2 플레이트(200)의 일부와 접촉되어 외부 렌즈(2)에 스크래치 등이 발생되는 것을 방지할 수 있다.When the
또한, 접속 단자(7)가 외부에 대하여 노출된 상태로 제품 안착부(120)에 배치됨에 따라 제1 플레이트(100)에는 별도의 회로 기판이 배치되지 않고 제2 플레이트(200)에만 회로 기판이 배치되어 테스트 소켓(700)의 제조 코스트를 크게 감소시킬 수 있다.In addition, since the
제2 플레이트(200)는, 예를 들어, 플레이트 형상으로 형성된다. 제2 플레이트(200)는 힌지홀이 형성된 한 쌍의 제2 힌지부(210)들을 포함한다.The
본 발명의 일실시예에서, 제1 플레이트(100)에 형성된 제1 힌지부(110)들은, 예를 들어, 제2 플레이트(200)의 제2 힌지부(210)들의 안쪽에 배치된다.The
제2 플레이트(200)에는 핀 블럭(220)이 형성되며, 핀 블럭(220)에는 복수개의 핀(pin, 225)들이 배치되는데 핀(225)들은 핀 블럭(220)으로부터 소정 높이로 돌출되며, 핀(225)들은 초소형 카메라 모듈(10)의 각 접속 단자(7)들과 대응하는 위치에 형성되며, 각 핀(225)들은 각 접속 단자(7)에 전기적으로 접속된다.A
제2 플레이트(200)의 후면에는 핀 플럭(220)의 핀(225)들과 전기적으로 접속되는 회로 기판이 배치되며, 회로 기판으로는 초소형 카메라 모듈(10)을 테스트 하기 위한 테스트 신호들이 인가된다.A circuit board electrically connected to the
제2 플레이트(200)에는 초소형 카메라 모듈(10)의 외부 렌즈(3)를 노출하기 위한 개구(230)가 형성되며, 개구(230)를 형성되는 제2 플레이트(200)에는 외부 렌즈(3)와 제2 플레이트(200)의 접촉을 방지하기 위한 모따기부(235)가 형성될 수 있다.The
본 발명의 일실시예에서, 초소형 카메라 모듈(10)이 탑재된 제1 플레이트(100)는 회동되어 제2 플레이트(200)와 평행하게 배치되고, 이로 인해 초소형 카메라 모듈(10)의 접속 단자(7)는 제2 플레이트(200)에 배치된 핀 블럭(220)의 핀(225)들과 전기적으로 접속된다.The
제1 플레이트(100)를 제2 플레이트(200)에 대하여 시계 방향 또는 반시계 방향으로 회동시키기 위하여 제1 플레이트(100)의 제1 힌지부(110) 및 제2 플레이트(200)의 제2 힌지부(210)는 하나의 힌지 핀(300)에 의하여 결합된다.The
또한 제1 플레이트(100)를 제2 플레이트(200)에 대하여 회동시키기 위하여 힌지 핀(300)에는 힌지 스프링(미도시)이 결합되고, 힌지 스프링에 의하여 제1 플레이트(100)는 제2 플레이트(200)에 대하여 시계 방향으로 회동된다.A hinge spring (not shown) is coupled to the
제2 플레이트(200)에는 제1 플레이트(100)를 반시계 방향으로 회동된 후 제1 플레이트(100) 및 제2 플레이트(200)가 상호 평행한 상태를 유지할 수 있도록 클램프(240)가 결합된다.The
한편, 제1 플레이트(100)의 제품 안착부(120)에 초소형 카메라 모듈(10)이 장착된 후 초소형 카메라 모듈(10)을 고정하지 않은 상태에서 제1 플레이트(100)를 제2 플레이트(200)를 향하는 방향으로 회동 시킬 경우, 제품 안착부(120)에 탑재된 초소형 카메라 모듈(10)은 중력에 의하여 제품 안착부(120)로부터 이탈되어 제2 플레이트(200)로 낙하할 수 있고, 이로 인해 초소형 카메라 모듈(10)의 손상, 스크래치가 발생되거나 초소형 카메라 모듈의 테스트에 많은 시간이 소요된다.After the
중간 플레이트(400)는 제1 플레이트(100)의 제품 안착부(120)에 수납된 초소형 카메라 모듈(10)을 임시적으로 고정하여 제1 플레이트(100)의 회동에 의해 제품 안착부(120)로부터 이탈되는 것을 방지하는 역할을 한다.The
중간 플레이트(400)는 제1 플레이트(100) 및 제2 플레이트(200)의 사이에 배치된다. 중간 플레이트(400)는 힌지홀이 형성된 한 쌍의 제3 힌지부(410)를 포함하며, 중간 플레이트(410)의 제3 힌지부(410)는 힌지핀(300)에 결합된다. 따라서 중간 플레이트(400)는 힌지핀(300)에 의하여 제1 플레이트(100)와 함께 제2 플레이트(200)를 향해 회동될 수 있다.The
한편, 중간 플레이트(400)가 제1 플레이트(100) 및 제2 플레이트(200)의 사이에 배치될 경우 중간 플레이트(400)가 제1 플레이트(100) 및 제2 플레이트(200)와 간섭될 수 있기 때문에 제1 플레이트(100) 및 제2 플레이트(200), 제1 플레ㅣ트(100) 또는 제2 플레이트(200)에는 중간 플레이트(100)와 제1 및 제2 플레이트(100,200)들의 간섭을 방지하는 수납홈이 형성될 수 있다.When the
제1 플레이트(100)와 함께 회동되는 중간 플레이트(400)의 일부는 초소형 카메라 모듈(10)의 적어도 일부와 접촉되어 초소형 카메라 모듈(10)을 제1 플레이트(100)에 고정시킨다.A portion of the
본 발명의 일실시예에서, 중간 플레이트(400)는, 예를 들어, 초소형 카메라 모듈(10)의 플랙시블 회로기판(5)의 상면을 가압하여 초소형 카메라 모듈(10)을 제1 플레이트(100)에 고정한다.In one embodiment of the present invention, the
초소형 카메라 모듈(10)의 카메라 모듈 몸체(1)는 제품 안착부(120)의 수납홈(125)에 수납되어 있기 때문에 중간 플레이트(400)가 초소형 카메라 모듈(10)의 플랙시블 회로기판(5)의 상면만을 가압하더라도 초소형 카메라 모듈(10)은 제품 안착부(120)로부터 이탈되지 않게 된다.Since the
중간 플레이트(400)가 초소형 카메라 모듈(10)의 플랙시블 회로기판(5)을 가압할 때 초소형 카메라 모듈(10)의 플랙시블 회로기판(5)에 스크래치 또는 손상을 발생시키는 것을 방지하기 위해 중간 플레이트(400) 중 플랙시블 회로기판(5)과 접촉되는 부분에는 완충부재(420)가 배치될 수 있다.In order to prevent the
완충부재(420)는, 예를 들어, 탄성을 갖는 실리콘 소재, 탄성을 갖는 합성 수지 소재 및 탄성을 갖는 고무 소재 중 어느 하나의 소재가 사용될 수 있다.As the
중간 플레이트(400)는 제1 중간 플레이트부(415) 및 제2 중간 플레이트부(417)를 포함한다.The
제1 중간 플레이트부(415)는 제1 플레이트(100) 및 제2 플레이트(200)의 사이에 배치되며, 제1 중간 플레이트부(415)는 초소형 카메라 모듈(10)의 플랙시블 회로기판(5)을 가압한다.The first
제2 중간 플레이트부(417)의 일측은 제3 힌지부(410)와 연결되며, 제2 중간 플레이트부(417)의 타측은 제1 중간 플레이트부(415)와 연결되고, 제2 중간 플레이트부(417)의 일부는 제1 플레이트(100)의 측면과 마주하게 연장된다. 즉, 제2 중간 플레이트부(417)는 제1 플레이트(100)의 바깥쪽으로 돌출된다.One side of the second
제2 중간 플레이트부(417)는 작업자가 작업할 수 있는 손잡이 기능을 수행하기 때문에 제2 중간 플레이트부(417)를 작업자가 잡고 조작하기 위한 공간을 확보하기 위하여 제2 중간 플레이트부(417)와 대응하는 제1 플레이트(100) 및 제2 플레이트(200)에는 제1 및 제2 플레이트(100,200)의 일부를 절개한 절개부(150,250)가 형성된다.Since the second
제1 및 제2 플레이트(100,200)에 절개부(150,250)를 형성함에 따라 제2 중간 플레이트부(417)는 제1 및 제2 플레이트(100,200)로부터 노출되고, 작업자는 노출된 제2 중간 플레이트부(417)를 제1 플레이트(100)를 향해 회동시킬 수 있다.As the
한편, 중간 플레이트(400)를 이용하여 초소형 카메라 모듈(10)을 제1 플레이트(100)에 고정한 상태에서 중간 플레이트(400)가 임의로 제1 플레이트(100)로부터 이탈되는 것을 방지하기 위해 중간 플레이트(400) 및 제1 플레이트(100)에는 맞물림 결합부(500)가 형성된다.In order to prevent the
본 발명의 일실시예에서, 맞물림 결합부(500)는 테스트되는 제품인 초소형 카메라 모듈(10)의 테스트에 영향을 미치지 않기에 적합한 구성을 갖는다.In one embodiment of the present invention, the engaging
본 발명의 일실시예에서, 맞물림 결합부(500)는 자력을 발생시키는 자석 등을 사용하지 않으며, 중간 플레이트(400)가 기계적으로 제1 플레이트(100)에 결합될 수 있도록 한다.In an embodiment of the present invention, the engaging
만일 자력을 발생시키는 자석 등을 이용하여 중간 플레이트(400)를 제1 플레이트(100)에 결합시킬 경우, 자석에서 발생된 자력은 초소형 카메라 모듈(10)의 카메라 모듈 몸체(1)의 보이스 코일 모터의 코일 등에 영향을 미쳐 보이스 코일 모터의 가동자가 지정된 위치로부터 임의로 틸트 됨에 따라 초소형 카메라 모듈(10)의 테스트가 정확하게 진행되지 못하게 된다.When the
도 2는 도 1의 맞물림 결합부의 단면도이다.2 is a sectional view of the engaging portion of Fig.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일실시예에서, 맞물림 결합부(500)는 제1 플레이트(100)에 형성된 제1 결합부(540) 및 중간 플레이트(400)에 형성된 제2 결합부(550)를 포함한다.Referring to FIGS. 1 and 2, in an embodiment of the present invention, the engaging
제1 결합부(540)는 탄성 부재(510) 및 걸림 돌기(520)를 포함한다.The first
탄성 부재(510)는, 예를 들어, 중간 플레이트(400)의 제2 중간 플레이트부(417)와 마주하는 제1 플레이트(100)의 측면으로부터 소정 깊이로 형성된 수납홈 내에 배치되며, 탄성 부재(510)의 일측단은 수납홈 내에 고정된다. 탄성 부재(510)는, 예를 들어, 코일 스프링을 포함할 수 있다.The
비록 본 발명의 일실시예에서는 탄성 부재(510)가 코일 스프링인 것이 도시 및 설명되고 있지만, 탄성 부재(510)는 탄성을 발생시키는 탄성 판, 판 스프링, 탄성 고무 등 다양한 부재들이 사용될 수 있다.Although it is shown and described that the
또한 본 발명의 일실시예에서, 탄성 부재(510)가 제1 플레이트(100)의 측면으로부터 소정 깊이로 형성된 수납홈 내에 배치된 것이 도시 및 설명되고 있지만 이와 다르게 제1 플레이트(100)의 측면에는 수납홈을 형성하지 않아도 무방하다.Also, in one embodiment of the present invention, it is shown and described that the
걸림 돌기(520)는 탄성 부재(510)의 상기 일측단과 대향하는 타측단에 고정된다. 걸림돌기(520)는 제1 플레이트(100)의 측면으로부터 일부가 돌출된다.The latching
걸림 돌기(520)는, 예를 들어, 구 형상으로 형성될 수 있다. 본 발명의 일실시예에서 걸림 돌기(520)는 구 형상인 것이 도시 및 설명되고 있지만, 걸림 돌기(520)는 구 형상 이외에 반구 형상, 타원 형상 등 다양한 형상으로 형성될 수 있다.The latching
제2 결합부(550)는 중간 플레이트(400)의 제2 중간 플레이트부(517)에 형성되며, 제2 결합부(550)는 중간 플레이트(400)가 제1 플레이트(100)로 회동되면서 걸림 돌기(520)와 대응하는 위치에 형성된다.The second
제2 결합부(550)는, 예를 들어, 걸림 돌기(520)와 맞물림 결합이 가능하게 제2 중간 플레이트부(517)로부터 오목하게 형성된 홈 또는 홀일 수 있다.The second
중간 플레이트(400)가 제1 플레이트(100)로 회전되면서 제2 결합부(550)의 걸림 돌기(520)의 일부는 제2 중간 플레이트부(517)와 접촉하게 되고, 이로 인해 걸림 돌기(520)는 탄성 부재(510)를 가압하면서 수납홈 내부로 후퇴하다 걸림 돌기(520)가 제2 결합부(550)에 도달하면서 제2 결합부(550)에 결합된다. 이와 같이 제1 결합부(540)가 제2 결합부(550)에 맞물림 결합됨에 따라 중간 플레이트(400)가 제1 플레이트(100)로부터 임의로 이탈되는 것이 방지된다.The
본 발명의 일실시예에서는 제1 결합부(540)가 제1 플레이트(100)의 측면에 형성되고, 제2 결합부(550)가 중간 플레이트(400)에 형성된 것이 도시 및 설명되고 있지만, 이와 다르게, 제1 결합부(540)가 중간 플레이트(400)에 형성되고, 제2 결합부(550)가 제1 플레이트(100)에 형성되어도 무방하다.Although the
비록 본 발명의 일실시예에서 제1 결합부(540)는 탄성부재(510) 및 걸림 돌기(520)가 형성되고, 제2 결합부(550)는 홈 또는 홀인 것이 도시 및 설명되고 있지만, 이와 다르게 제1 결합부(540) 및 제2 결합부(550)는 상호 밀착되어 마찰력에 의하여 임시적으로 고정되어도 무방하다.Although the first engaging
비록 본 발명의 일실시예에서 제1 결합부(540)는 탄성부재(510) 및 걸림 돌기(520)가 형성되고, 제2 결합부(550)는 홈 또는 홀인 것이 도시 및 설명되고 있지만, 이와 다르게 중간 플레이트(400)에 제1 플레이트(100)와 맞물리는 클램프를 형성하여 중간 플레이트(400) 및 제1 플레이트(100)를 상호 결합하여도 무방하다.Although the first engaging
이하, 도 3 내지 도 5를 참조하여, 초소형 카메라 모듈(10)을 테스트하는 과정을 설명하기로 한다.Hereinafter, a process of testing the
도 3 내지 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓의 테스트 과정을 도시한 사시도이다.3 to 5 are perspective views illustrating a test process of a test socket according to an embodiment of the present invention.
먼저, 도 3을 참조하면, 초소형 카메라 모듈(10)을 테스트하기 위해서 제1 플레이트(100)는 제2 플레이트(200)에 대하여 시계 방향으로 약 170°로 회동된다. 본 발명의 일실시예에서는 비록 제1 플레이트(100)가 제2 플레이트(200)에 대하여 약 170°의 각도로 회동되는 것이 도시 및 설명되고 있지만, 제1 플레이트(100)는 제2 플레이트(200)에 대하여 시계 방향으로 약 170°보다 큰 각도 또는 약 약 170°보다 작은 각도로 회동되어도 무방하다.Referring to FIG. 3, in order to test the
제1 플레이트(100)가 제2 플레이트(200)에 대하여 시계 방향으로 약 170°로 회동된 후 작업자는 테스트될 초소형 카메라 모듈(10)을 제1 플레이트(100)에 형성된 제품 안착부(120)의 수납홈(125) 내부에 장착한다.After the
이때 초소형 카메라 모듈(10)의 카메라 모듈 몸체(1)는 수납부(125) 내부에 장착되고, 초소형 카메라 모듈(10)의 외부 렌즈(3)는 제1 플레이트(100)의 내측면을 기준으로 상부를 향하는 방향으로 배치된다.At this time, the
외부 렌즈(3)가 제1 플레이트(100)의 내측면을 기준으로 상부를 향하는 방향으로 배치됨에 따라 접속 단자(7) 역시 제1 플레이트(100)의 내측면을 기준으로 상부를 향하는 방향으로 배치된다.Since the
본 발명의 일실시예에서, 외부 렌즈(3)가 제1 플레이트(100)의 내측면을 기준으로 상부를 향하는 방향으로 배치될 경우, 외부 렌즈(3)가 제1 플레이트(100) 또는 제2 플레이트(200)와 접촉되어 외부 렌즈(3)에 스크래치가 발생되는 것을 방지할 수 있고, 제1 플레이트(100)에 회로 기판을 장착하지 않아도 된다.In an embodiment of the present invention, when the
도 4를 참조하면, 제1 플레이트(100)의 제품 안착부(120)에 초소형 카메라 모듈(10)이 안착되면, 작업자는 중간 플레이트(400)를 시계 방향으로 회동시키고, 도 5에 도시된 바와 같이 중간 플레이트(400)는 제1 플레이트(100)의 내측면과 평행하게 회동되면서 제1 플레이트(100)에 형성된 제1 결합부(540) 및 중간 플레이트(400)에 형성된 제2 결합부(550)는 상호 맞물림 결합되고 이로 인해 중간 플레이트(400)는 제1 플레이트(100)로부터 임의로 이탈되지 않게 된다.4, when the
도 5를 참조하면, 중간 플레이트(400)가 맞물림 결합부(500)에 의하여 상호 맞물림 결합되면, 제1 플레이트(100)는 반시계 방향으로 회동되는데 이때 초소형 카메라 모듈(10)은 중간 플레이트(400)에 의하여 낙하 없이 제1 플레이트(100)와 함께 회동된다.Referring to FIG. 5, when the
이후, 제1 플레이트(100)는 제2 플레이트(200)와 평행할 때까지 회동되고, 이후 초소형 카메라 모듈(10)의 접속 단자(7)는 제2 플레이트(200)의 핀 블록(220)의 핀(225)과 전기적으로 접속되고 테스트 신호에 의하여 초소형 카메라 모듈(10)은 테스트 된다.Thereafter, the
초소형 카메라 모듈(10)의 테스트가 완료되면, 작업자는 제1 플레이트(100)를 회동시키고, 중간 플레이트(400)를 제1 플레이트(100)로부터 회동시킨 후 테스트 된 초소형 카메라 모듈(10)을 제1 플레이트(100)로부터 분리한 후 다시 테스트 될 초소형 카메라 모듈(10)을 제1 플레이트(100)의 제품 안착부(120)에 안착시킨다.When the test of the
이상에서 상세하게 설명한 바에 의하면, 영구자석 등을 포함하는 테스트 될 카메라 모듈과 같은 제품을 자력없이 맞물림 결합 방식으로 임시 고정한 후 제품의 테스트를 수행함으로써 상기 자력에 의하여 테스트 되는 제품의 테스트 불량을 방지 또는 제품의 테스트 정밀도 감소를 방지할 수 있다.As described above in detail, a product such as a camera module to be tested including a permanent magnet or the like is temporarily fixed in a meshing manner without magnetism, and then the product is tested to prevent or prevent the test failure of the product to be tested by the magnetic force. It is possible to prevent the reduction of the test precision of the product.
또한 테스트 되는 제품 중 스크래치가 발생하기 쉬운 부분이 테스트되는 도중 테스트를 수행하는 부품과 접촉되는 것을 방지 함으로써 제품에 스크래치가 발생되는 것을 방지하여 테스트에 의한 제품의 외관 불량을 방지할 수 있다.In addition, it is possible to prevent scratches from being generated in the product by preventing the scratch-prone part from being in contact with the part to be tested during the test, thereby preventing the defective appearance of the product due to the test.
또한 테스트 되는 부품의 단자 배치를 개선하여 2 개의 회로 기판을 사용하지 않고 단지 1 개의 회로 기판을 이용하여 테스트를 수행할 수 있도록 하여 부품수 감소에 따른 제조 코스트를 낮출 수 있다.Further, the terminal arrangement of the parts to be tested is improved, so that the test can be performed using only one circuit board without using two circuit boards, thereby reducing the manufacturing cost due to the reduction in the number of components.
한편, 본 도면에 개시된 실시예는 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시예 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명한 것이다.It should be noted that the embodiments disclosed in the drawings are merely examples of specific examples for the purpose of understanding, and are not intended to limit the scope of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art that other modifications based on the technical idea of the present invention are possible in addition to the embodiments disclosed herein.
100...제1 플레이트 200...제2 플레이트
300...힌지 핀 400...중간 플레이트
700...테스트 소켓100 ...
300 ...
700 ... test socket
Claims (8)
제2 힌지부가 형성되며 상기 테스트 제품의 접속 단자와 접속되는 핀 블럭을 포함하는 제2 플레이트;
상기 제1 및 제2 힌지부들에 결합되어 상기 제1 플레이트 및 상기 제2 플레이트들을 회동시키는 힌지 핀;
상기 제1 및 제2 플레이트들 사이에 개재되고, 상기 힌지 핀에 결합되는 제3 힌지부를 포함하며, 상기 테스트 제품의 적어도 일부를 덮는 중간 플레이트; 및
상기 중간 플레이트를 상기 제1 플레이트에 맞물림 결합시키는 맞물림 결합부를 포함하는 테스트 소켓.A first plate including a product seating portion on which a first hinge portion is formed and on which a test product is mounted;
A second plate having a second hinge portion and including a pin block connected to a connection terminal of the test product;
A hinge pin coupled to the first and second hinge portions to rotate the first plate and the second plate;
An intermediate plate interposed between the first and second plates and including a third hinge portion coupled to the hinge pin, the intermediate plate covering at least a portion of the test article; And
And an engaging portion for engaging the intermediate plate with the first plate.
상기 맞물림 결합부는 상기 제1 플레이트의 측면에 결합된 탄성부재 및 상기 탄성부재에 결합되며 일부가 상기 측면으로부터 돌출된 걸림돌기를 포함하는 제1 결합부; 및
상기 걸림돌기가 걸리도록 상기 중간 플레이트에 오목하게 형성된 걸림홈을 포함하는 제2 결합부를 포함하는 테스트 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the engaging portion includes an elastic member coupled to a side surface of the first plate and a locking protrusion coupled to the elastic member and partially protruding from the side surface; And
And a second engaging portion including an engaging groove recessed in the intermediate plate so that the engaging protrusion is caught.
상기 맞물림 결합부는 상기 중간 플레이트의 측면에 수납된 탄성부재 및 상기 탄성부재에 결합되며 일부가 상기 측면으로부터 돌출된 걸림돌기를 포함하는 제1 결합부; 및
상기 걸림돌기가 걸리도록 상기 제1 플레이트에 오목하게 형성된 걸림홈을 포함하는 제2 결합부를 포함하는 테스트 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the engaging portion includes a first engaging portion including an elastic member accommodated in a side surface of the intermediate plate and a locking protrusion coupled to the elastic member and partially protruding from the side surface; And
And a second engaging portion including an engaging groove recessed in the first plate so that the engaging protrusion is caught.
상기 제1 플레이트의 내측면에는 상기 중간 플레이트를 수납하는 수납홈이 형성된 테스트 소켓.The method according to claim 1,
And a receiving groove for receiving the intermediate plate is formed on an inner surface of the first plate.
상기 중간 플레이트는 상기 제1 플레이트의 내측면과 접촉되는 면에 배치된 시트 형상의 완충부재를 포함하는 테스트 소켓.The method according to claim 1,
And the intermediate plate includes a cushioning member in a sheet shape disposed on a surface that contacts the inner surface of the first plate.
상기 제2 플레이트는 상기 핀 블럭과 전기적으로 접속된 단일 회로 기판 및 상기 테스트 제품 중 상기 제2 플레이트와 마주하게 배치된 렌즈를 노출하는 개구를 포함하는 테스트 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the second plate includes a single circuit substrate electrically connected to the pin block and an opening exposing a lens of the test product facing the second plate.
상기 중간 플레이트는 상기 제1 및 제2 플레이트들 사이에 배치된 제1 중간 플레이트부 및 상기 제1 중간 플레이트부로부터 상기 제1 플레이트의 측면과 마주하게 돌출된 제2 중간 플레이트부를 포함하는 테스트 소켓.The method according to claim 1,
Wherein the intermediate plate includes a first intermediate plate portion disposed between the first and second plates and a second intermediate plate portion protruding from the first intermediate plate portion to face the side surface of the first plate.
상기 제2 중간 플레이트부를 작업자가 조작하기 위한 공간을 확보하기 위해 상기 제1 및 제2 플레이트들의 일부에는 절개된 절개부가 형성된 테스트 소켓.8. The method of claim 7,
And a cut-out portion is formed in a part of the first and second plates to secure a space for the operator to operate the second intermediate plate portion.
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