KR102117718B1 - Sapphire substrate processing method - Google Patents
Sapphire substrate processing method Download PDFInfo
- Publication number
- KR102117718B1 KR102117718B1 KR1020140061431A KR20140061431A KR102117718B1 KR 102117718 B1 KR102117718 B1 KR 102117718B1 KR 1020140061431 A KR1020140061431 A KR 1020140061431A KR 20140061431 A KR20140061431 A KR 20140061431A KR 102117718 B1 KR102117718 B1 KR 102117718B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- grinding
- sapphire substrate
- wheel
- chuck table
- sapphire
- Prior art date
Links
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 95
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 title claims abstract description 95
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 92
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 27
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims abstract description 21
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims abstract description 21
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 18
- 239000002002 slurry Substances 0.000 claims abstract description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 10
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 21
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 claims description 2
- 239000004575 stone Substances 0.000 claims 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 abstract description 6
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 abstract description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 5
- -1 gallium nitride compound Chemical class 0.000 abstract description 4
- 230000004927 fusion Effects 0.000 abstract description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 11
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 10
- 239000006061 abrasive grain Substances 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 5
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 3
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 3
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 3
- 238000004898 kneading Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 239000007767 bonding agent Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 230000002195 synergetic effect Effects 0.000 description 2
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 238000004439 roughness measurement Methods 0.000 description 1
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B7/00—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor
- B24B7/20—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground
- B24B7/22—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain
- B24B7/228—Machines or devices designed for grinding plane surfaces on work, including polishing plane glass surfaces; Accessories therefor characterised by a special design with respect to properties of the material of non-metallic articles to be ground for grinding inorganic material, e.g. stone, ceramics, porcelain for grinding thin, brittle parts, e.g. semiconductors, wafers
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
- B24B37/042—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces operating processes therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B37/00—Lapping machines or devices; Accessories
- B24B37/04—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces
- B24B37/042—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces operating processes therefor
- B24B37/044—Lapping machines or devices; Accessories designed for working plane surfaces operating processes therefor characterised by the composition of the lapping agent
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0062—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds
- H01L33/0066—Processes for devices with an active region comprising only III-V compounds with a substrate not being a III-V compound
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
Abstract
본 발명은 사파이어 잉곳으로부터의 쓸데없는 절취가 적고, 질화갈륨계 화합물 반도체로 이루어진 발광층과의 융합이 양호한, A면을 표리면으로 하는 사파이어 기판의 면정밀도를 확보할 수 있는, 사파이어 기판의 가공 방법을 제공하는 것을 과제로 한다.
사파이어의 잉곳으로부터 절취되고 A면에 의해 표면과 이면이 형성된 사파이어 기판을 연삭 가공하는, 사파이어 기판의 가공 방법으로서, 피가공물을 유지하여 회전 가능한 척테이블에 사파이어 기판의 한쪽 면을 유지하는 유지 공정과, 사파이어 기판을 유지한 척테이블을 회전시키고, 연삭 지석이 고리형으로 배치된 연삭 휠을 회전시키면서 연삭 지석을 사파이어 기판의 다른쪽 면에 접촉시켜 사파이어 기판의 다른쪽 면을 연삭하는 연삭 공정을 포함하며, 연삭 공정에서는, 연삭 지석에 의한 연삭부에 다이아몬드 연마입자가 혼입된 슬러리를 연삭액으로서 공급한다. The present invention is a method for processing a sapphire substrate that can secure surface accuracy of a sapphire substrate having an A surface as a front and back surface, which has little useless cutting from a sapphire ingot, and has good fusion with a light emitting layer made of a gallium nitride compound semiconductor. The task is to provide.
A sapphire substrate processing method of grinding a sapphire substrate cut from an ingot of a sapphire and having a surface and a back surface formed by the A surface, and a holding process for holding a workpiece and holding one surface of the sapphire substrate on a rotatable chuck table. Including the grinding process of rotating the chuck table holding the sapphire substrate, and grinding the other surface of the sapphire substrate by contacting the grinding wheel with the other surface of the sapphire substrate while rotating the grinding wheel in which the grinding wheel is arranged in an annular shape. In the grinding step, a slurry in which diamond abrasive particles are mixed into a grinding portion by a grinding wheel is supplied as a grinding liquid.
Description
본 발명은, 사파이어 기판, 더욱 상세하게는 사파이어의 잉곳으로부터 절취되고 A면에 의해 표면과 이면이 형성된 사파이어 기판을 연삭하는, 사파이어 기판의 가공 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a method for processing a sapphire substrate, more specifically, to cut a sapphire substrate cut from an ingot of sapphire and having a surface and a back surface formed by the A surface.
광디바이스 제조 공정에서는, 사파이어 기판의 표면에 질화갈륨계 화합물 반도체로 이루어진 발광층이 적층되고, 격자형으로 형성된 복수의 스트리트에 의해 구획된 복수의 영역에 발광 다이오드, 레이저 다이오드 등의 광디바이스를 형성하여, 광디바이스 웨이퍼를 구성한다. 그리고, 광디바이스 웨이퍼를 스트리트를 따라서 절단함으로써, 광디바이스가 형성된 영역을 분할하여 개개의 광디바이스를 제조하고 있다. In the optical device manufacturing process, a light emitting layer made of a gallium nitride compound semiconductor is stacked on the surface of a sapphire substrate, and optical devices such as light emitting diodes and laser diodes are formed in a plurality of regions partitioned by a plurality of streets formed in a lattice shape. , An optical device wafer. Then, by cutting the optical device wafer along the street, an area in which the optical device is formed is divided to manufacture individual optical devices.
사파이어는 A면, C면, R면으로 칭해지는 결정면을 가진 결정 구조를 이루고 있고, 사파이어 잉곳의 절취 방법으로 A면, C면, R면을 표리면으로 하는 사파이어 기판이 형성된다. 즉, 사파이어 잉곳은 원기둥에 가까운 원뿔대형을 띠고 있고, 원뿔대형의 저면 및 상면이 A면, A면과 직교하는 면이 C면, C면에 대하여 경사진 면이 R면으로 되어 있고, 상면으로부터 저면을 향하여 코어를 도려내어 슬라이스하면 A면을 표리면으로 하는 사파이어 기판이 형성되고, 원뿔대형의 측면으로부터 A면과 평행한 방향으로 도려내어 슬라이스하면 C면을 표리면으로 하는 사파이어 기판이 형성되고, R면과 직교하는 방향으로부터 코어를 도려내어 슬라이스하면 R면을 표리면으로 하는 사파이어 기판이 형성된다. A면, C면, R면은 결정 구조가 상이하기 때문에 적층되는 발광층의 결정 구조에 대응한 사파이어 기판이 적절하게 선택되는 것이 바람직하다. The sapphire has a crystal structure having a crystal plane called an A plane, a C plane, and a R plane, and a sapphire substrate having an A plane, a C plane, and an R plane as front and rear surfaces is formed by a sapphire ingot cutting method. That is, the sapphire ingot has a conical shape close to a cylinder, and the bottom and top surfaces of the conical shape are A plane, the plane orthogonal to the A plane is C plane, and the plane inclined with respect to the C plane is R plane. When the core is cut toward the bottom and sliced, a sapphire substrate having an A surface as a front and back surface is formed, and when it is sliced by cutting away from the side of the truncated cone in a direction parallel to the A surface, a sapphire substrate having a C surface as a front and back surface is formed. , When the core is cut out from the direction orthogonal to the R surface, a sapphire substrate having the R surface as the front and back surfaces is formed. Since the A, C, and R surfaces have different crystal structures, it is preferable that a sapphire substrate corresponding to the crystal structure of the light-emitting layer to be stacked is appropriately selected.
광디바이스 웨이퍼를 제조하기 위해서는 사파이어 기판의 표면에 발광층을 적층하여 형성하지만, 발광층을 적층하기 전에 절취된 사파이어 기판도 표면 및 이면은 연삭 장치에 의해 연삭되어 평탄화된다(예컨대 특허문헌 1 참조). In order to manufacture an optical device wafer, a light emitting layer is formed by laminating a surface of a sapphire substrate, but the sapphire substrate cut before laminating the light emitting layer is also flattened by grinding and grinding the surface and back surface by a grinding device (see, for example, Patent Document 1).
사파이어의 상기 C면은 연삭 장치에 의한 연삭이 양호하기 때문에, 광디바이스 웨이퍼의 기판으로는 C면을 표리면으로 하는 사파이어 기판이 일반적으로 이용되고 있다. Since the C-side of the sapphire has good grinding by a grinding device, a sapphire substrate having a C-side as a front and back surface is generally used as a substrate for an optical device wafer.
그런데, C면을 표리면으로 하는 사파이어 기판은, 전술한 바와 같이 원뿔대형의 사파이어 잉곳을 측면으로부터 A면과 평행한 방향으로 도려내어 슬라이스하기 때문에, 사파이어 잉곳의 낭비가 많아 생산성이 나쁘다고 하는 문제가 있다. However, since the sapphire substrate having the C surface as the front and rear surfaces is sliced by cutting the conical sapphire ingot in a direction parallel to the A surface from the side surface, there is a problem that productivity is poor due to a lot of waste of the sapphire ingot. have.
한편, A면을 표리면으로 하는 사파이어 기판은, 전술한 바와 같이 원뿔대형의 사파이어 잉곳의 상면으로부터 저면을 향하여 코어를 도려내어 슬라이스하기 때문에 사파이어 잉곳의 낭비가 적고, 질화갈륨계 화합물 반도체로 이루어진 발광층과의 융합이 양호하다는 이점을 갖고 있지만, 연삭 장치로 A면을 연삭하면 결함이 생겨 표면 정밀도를 확보할 수 없다고 하는 문제가 있다. On the other hand, since the sapphire substrate having the A surface as the front and back surfaces is sliced by cutting the core toward the bottom from the top surface of the conical sapphire ingot, as described above, there is little waste of the sapphire ingot and a light emitting layer made of a gallium nitride compound semiconductor Although it has the advantage of good fusion with, there is a problem in that surface precision cannot be secured due to defects when grinding the A surface with a grinding device.
본 발명은 상기 사실을 감안하여 이루어진 것으로, 그 주요 기술 과제는, 사파이어 잉곳으로부터의 쓸데없는 절취가 적고, 질화갈륨계 화합물 반도체로 이루어진 발광층과의 융합이 양호한 A면을 표리면으로 하는 사파이어 기판의 면정밀도를 확보할 수 있는 사파이어 기판의 가공 방법을 제공하는 것에 있다. The present invention has been made in view of the above facts, and the main technical problem of the sapphire substrate is a sapphire substrate, which has a small useless cut from the sapphire ingot, and has good A fusion with a light emitting layer made of a gallium nitride-based compound semiconductor. It is to provide a method for processing a sapphire substrate capable of securing surface precision.
상기 주요 기술 과제를 해결하기 위해, 본 발명에 의하면, 사파이어의 잉곳으로부터 절취되고 A면에 의해 표면과 이면이 형성된 사파이어 기판을 연삭 가공하는 사파이어 기판의 가공 방법으로서, In order to solve the above main technical problem, according to the present invention, as a processing method of a sapphire substrate that is cut from an ingot of sapphire and grinding a sapphire substrate having a surface and a back surface formed by the A surface,
피가공물을 유지하여 회전 가능한 척테이블에 사파이어 기판의 한쪽 면을 유지하는 유지 공정과, A holding process for holding a workpiece and holding one surface of the sapphire substrate on a rotatable chuck table;
사파이어 기판을 유지한 척테이블을 회전시키고, 연삭 지석이 고리형으로 배치된 연삭 휠을 회전시키면서 연삭 지석을 사파이어 기판의 다른쪽 면에 접촉시켜 사파이어 기판의 다른쪽 면을 연삭하는 연삭 공정을 포함하고, It includes a grinding process for rotating the chuck table holding the sapphire substrate, and grinding the other surface of the sapphire substrate by contacting the grinding wheel with the other surface of the sapphire substrate while rotating the grinding wheel in which the grinding wheel is arranged in an annular shape. ,
그 연삭 공정에서는, 연삭 지석에 의한 연삭부에 다이아몬드 연마입자가 혼입된 슬러리를 연삭액으로서 공급하는 것을 특징으로 하는 사파이어 기판의 가공 방법이 제공된다. In the grinding step, there is provided a method for processing a sapphire substrate, characterized in that a slurry in which diamond abrasive grains are mixed is supplied as a grinding liquid to a grinding part by a grinding wheel.
상기 연삭 지석은 입경이 1∼2 ㎛인 다이아몬드 연마입자를 본드제에 혼입하여 구성되고, 상기 연삭액은 입경이 3∼9 ㎛인 다이아몬드 연마입자를 순수에 혼입한 슬러리로 이루어져 있다. The grinding wheel is composed of diamond abrasive particles having a particle diameter of 1 to 2 µm mixed with a bond agent, and the grinding liquid is composed of a slurry in which diamond abrasive particles having a particle diameter of 3 to 9 µm are mixed with pure water.
본 발명에 의한 사파이어 기판의 가공 방법에서는, A면에 의해 표면과 이면이 형성된 사파이어 기판의 한쪽 면을 유지한 척테이블을 회전시키고, 연삭 지석이 고리형으로 배치된 연삭 휠을 회전시키면서 연삭 지석을 사파이어 기판의 다른쪽 면에 접촉시켜 사파이어 기판의 다른쪽 면을 연삭하는 연삭 공정은, 연삭 지석에 의한 연삭부에 다이아몬드 연마입자가 혼입된 슬러리를 연삭액으로서 공급하기 때문에, 연삭 지석에 의한 연삭과 다이아몬드 연마입자를 순수에 혼입한 슬러리를 연삭 지석에 의한 연삭부에 공급하는 것에 의한 폴리싱의 상승 효과에 의해, 사파이어 기판의 A면인 피연삭면에 결함이 생기지 않고 양호한 면정밀도를 얻을 수 있다.In the method for processing a sapphire substrate according to the present invention, the grinding wheel is rotated while rotating a chuck table holding one surface of the sapphire substrate having a surface and a back surface formed by the A surface, and rotating the grinding wheel in which the grinding wheels are arranged in an annular shape. In the grinding step of grinding the other side of the sapphire substrate by contacting the other side of the sapphire substrate, since the slurry containing diamond abrasive grains is supplied as a grinding liquid to the grinding portion by the grinding wheel, By the synergistic effect of polishing by supplying the slurry in which diamond abrasive grains are mixed with pure water to a grinding part by a grinding wheel, good surface precision can be obtained without generating defects on the surface to be polished, which is the A surface of the sapphire substrate.
도 1은 본 발명에 의한 사파이어 기판의 연삭 방법을 실시하기 위한 연삭 장치의 사시도.
도 2는 도 1에 나타내는 연삭 장치에 장비되는 연삭 수단을 구성하는 휠 마운트의 하측으로부터 본 사시도.
도 3은 도 2에 나타내는 휠 마운트에 장착하는 연삭 휠의 사시도.
도 4는 도 2에 나타내는 휠 마운트에 도 3에 나타내는 연삭 휠을 장착한 상태를 나타내는 단면도.
도 5는 본 발명에 의한 사파이어 기판의 연삭 방법에 의해 연삭 가공되는 사파이어 기판의 사시도.
도 6은 도 5에 나타내는 사파이어 기판의 이면에 서브스트레이트를 부착한 상태를 나타내는 사시도.
도 7은 도 1에 나타내는 연삭 장치에 의해 실시되는 연삭 공정을 나타내는 설명도.
도 8은 본 발명에 의한 사파이어 기판의 연삭 방법에 의해 연삭된 사파이어 기판의 면거칠기 측정 영역을 나타내는 설명도. 1 is a perspective view of a grinding device for performing a grinding method for a sapphire substrate according to the present invention.
Fig. 2 is a perspective view seen from the lower side of a wheel mount constituting a grinding means provided in the grinding device shown in Fig. 1;
Fig. 3 is a perspective view of a grinding wheel mounted on the wheel mount shown in Fig. 2;
Fig. 4 is a sectional view showing a state in which the grinding wheel shown in Fig. 3 is attached to the wheel mount shown in Fig. 2;
5 is a perspective view of a sapphire substrate that is ground by the sapphire substrate grinding method according to the present invention.
Fig. 6 is a perspective view showing a state in which a substrate is attached to the back surface of the sapphire substrate shown in Fig. 5;
Fig. 7 is an explanatory view showing a grinding step performed by the grinding device shown in Fig. 1;
8 is an explanatory view showing a surface roughness measurement area of a sapphire substrate ground by the sapphire substrate grinding method according to the present invention.
이하, 본 발명에 의한 사파이어 기판의 가공 방법의 바람직한 실시형태에 관해, 첨부 도면을 참조하여 더욱 상세히 설명한다. Hereinafter, preferred embodiments of the method for processing a sapphire substrate according to the present invention will be described in more detail with reference to the accompanying drawings.
도 1에는, 본 발명에 의한 사파이어 기판의 가공 방법을 실시하기 위한 연삭 장치의 사시도가 나타나 있다. 도 1에 나타내는 연삭 장치(1)는, 전체를 번호 2로 나타내는 장치 하우징을 구비하고 있다. 이 장치 하우징(2)은, 가늘고 길게 연장되는 직방체 형상의 메인부(21)와, 그 메인부(21)의 후단부(도 1에서 우측 상단)에 설치되며 상측으로 연장되는 직립벽(22)을 갖고 있다. 직립벽(22)의 전면(前面)에는, 상하방향으로 연장되는 한 쌍의 안내 레일(221, 221)이 설치되어 있다. 이 한 쌍의 안내 레일(221, 221)에 이동 베이스(3)가 슬라이딩 가능하게 장착되어 있다. 이동 베이스(3)는, 후면 양측에 상하방향으로 연장되는 한 쌍의 레그부(31, 31)가 설치되어 있고, 이 한 쌍의 레그부(31, 31)에 상기 한 쌍의 안내 레일(221, 221)과 슬라이딩 가능하게 결합하는 피안내홈(311, 311)이 형성되어 있다. 이와 같이 직립벽(22)에 설치된 한 쌍의 안내 레일(221, 221)에 슬라이딩 가능하게 장착된 이동 베이스(3)의 전면(前面)에는 전방으로 돌출된 지지부(32)가 설치되어 있다. 이 지지부(32)에 연삭 수단으로서의 스핀들 유닛(4)이 부착된다. 1 shows a perspective view of a grinding device for carrying out the method for processing a sapphire substrate according to the present invention. The
스핀들 유닛(4)은, 지지부(32)에 장착된 원통형의 스핀들 하우징(41)과, 그 스핀들 하우징(41)에 회전 가능하게 배치된 회전 스핀들(42)과, 그 회전 스핀들(42)을 회전 구동시키기 위한 구동원으로서의 서보 모터(43)를 구비하고 있다. 스핀들 하우징(41)에 회전 가능하게 지지된 회전 스핀들(42)은, 일단부(도 1에서 하단부)가 스핀들 하우징(41)의 하단으로부터 돌출되어 배치되어 있고, 그 일단(도 1에서 하단)에 휠 마운트(44)가 설치되어 있다. 그리고, 이 휠 마운트(44)의 하면에 연삭 휠(5)이 부착된다. The
상기 휠 마운트(44) 및 연삭 휠(5)에 관해, 도 2 내지 도 4를 참조하여 설명한다. The
도 2에는 회전 스핀들(42)의 하단에 설치된 휠 마운트(44)의 사시도가 나타나 있고, 도 3에는 휠 마운트(44)의 하면에 장착되는 연삭 휠(5)의 사시도가 나타나 있고, 도 4에는 도 2에 나타내는 휠 마운트(44)의 하면에 도 3에 나타내는 연삭 휠(5)이 장착된 단면도가 나타나 있다. 도 2 및 도 4에 나타내는 휠 마운트(44)는 원형으로 형성되며, 회전 스핀들(42)의 하단에 일체적으로 설치되어 있다. 이 휠 마운트(44)에는, 도 2에 나타낸 바와 같이, 둘레 방향으로 정해진 간격을 두고 4개의 볼트 삽입 관통 구멍(441)이 형성되어 있다. 또한, 휠 마운트(44)에는, 도 4에 나타낸 바와 같이, 회전 스핀들(42)의 축심에 형성된 연삭액 공급 통로(421)와 연통하는 복수(도시한 실시형태에서는 8개)의 연통로(422)가 형성되어 있다, 이 연통로(422)는, 도 2 및 도 4에 나타낸 바와 같이, 하면으로 개구되어 있다. 또, 회전 스핀들(42)의 축심에 형성된 연삭액 공급 통로(421)는, 도 1에 나타낸 바와 같이 연삭액 공급 수단(40)에 접속되어 있다. 이 연삭액 공급 수단(40)은, 다이아몬드 연마입자를 순수에 혼입한 슬러리로 이루어진 연삭액을 공급하도록 되어 있다. 2 shows a perspective view of the
전술한 바와 같이 구성된 휠 마운트(44)에 장착되는 연삭 휠(5)에 관해, 도 3 및 도 4를 참조하여 설명한다. The
도 3 및 도 4에 나타내는 연삭 휠(5)은, 고리형의 휠 베이스(51)와, 그 휠 베이스(51)의 하면에서의 외주부의 지석 장착부에 장착된 복수의 연삭 지석(52)을 포함하고 있다. 휠 베이스(51)에는, 상기 휠 마운트(44)에 형성된 복수의 볼트 삽입 관통 구멍(441)과 대응하는 위치에 상면으로부터 형성된 4개의 암나사 구멍(511)이 형성되어 있다. 또, 연삭 지석(52)은, 입경이 1∼2 ㎛인 다이아몬드 연마입자를을 본드제에 혼입하여 혼련(混練)하고, 정해진 형상으로 성형하여 소성함으로써 구성되어 있다. The
이상과 같이 구성된 연삭 휠(5)을 휠 마운트(44)에 장착하기 위해서는, 도 4에 나타낸 바와 같이 연삭 휠(5)의 휠 베이스(51)의 상면을 휠 마운트(44)의 하면에 눌러서 대고, 휠 마운트(44)에 형성된 복수의 볼트 삽입 관통 구멍(441)(도 2 참조)을 통해 체결 볼트(55)를 삽입하여 휠 베이스(51)에 형성된 복수의 암나사 구멍(511)(도 3 참조)에 나사 결합함으로써, 휠 마운트(44)의 하면에 연삭 휠(5)을 부착할 수 있다. 이와 같이 하여 휠 마운트(44)의 하면에 부착된 연삭 휠(5)의 연삭 지석(52)에 의한 연삭부에는, 상기 연삭액 공급 수단(40)이 작동함으로써, 다이아몬드 연마입자를 순수에 혼입한 슬러리로 이루어진 연삭액이 회전 스핀들(42)에 형성된 연삭액 공급 통로(421) 및 휠 마운트(44)에 형성된 복수의 연통로(422)를 통해 공급된다. In order to attach the
도 1로 되돌아가 설명을 계속하면, 도시한 실시형태에서의 연삭 장치(1)는, 상기 스핀들 유닛(4)을 상기 한 쌍의 안내 레일(221, 221)을 따라서 상하방향(후술하는 척테이블의 유지면에 대하여 수직인 방향)으로 이동시키는 연삭 이송 수단(6)을 구비하고 있다. 이 연삭 이송 수단(6)은, 직립벽(22)의 전방측에 배치되며 상하방향으로 연장되는 수나사 로드(61)를 구비하고 있다. 이 수나사 로드(61)는, 그 상단부 및 하단부가 직립벽(22)에 부착된 베어링 부재(62 및 63)에 의해 회전 가능하게 지지되어 있다. 상측의 베어링 부재(62)에는 수나사 로드(61)를 회전 구동시키기 위한 구동원으로서의 펄스 모터(64)가 배치되어 있고, 이 펄스 모터(64)의 출력축이 수나사 로드(61)에 전동 연결되어 있다. 상기 이동 베이스(3)의 후면에는 그 폭방향 중앙부로부터 후방으로 돌출된 연결부(도시하지 않음)도 형성되어 있고, 이 연결부에는 관통 암나사 구멍(도시하지 않음)이 형성되어 있으며, 이 암나사 구멍에 상기 수나사 로드(61)가 나사 결합되어 있다. 따라서, 펄스 모터(64)가 정회전하면 이동 베이스(3) 및 스핀들 유닛(4)이 하강, 즉 전진하고, 펄스 모터(64)가 역회전하면 이동 베이스(3) 및 스핀들 유닛(4)이 상승, 즉 후퇴한다. Returning to FIG. 1 and continuing the explanation, the
도 1을 참조하여 설명을 계속하면, 하우징(2)의 메인부(21)에는 척테이블 기구(7)가 배치되어 있다. 척테이블 기구(7)는, 피가공물 유지 수단으로서의 척테이블(71)과, 그 척테이블(71)의 주위를 덮는 커버 부재(72)와, 그 커버 부재(72)의 전후로 배치된 벨로즈 수단(73 및 74)을 구비하고 있다. 척테이블(71)은, 도시하지 않은 회전 구동 기구에 의해 회전되도록 되어 있고, 그 상면에 피가공물인 웨이퍼를 도시하지 않은 흡인 수단을 작동시킴으로써 흡인 유지하도록 구성되어 있다. 또한, 척테이블(71)은, 도시하지 않은 척테이블 이동 수단에 의해 도 1에 나타내는 피가공물 배치 영역(24)과 상기 연삭 유닛(4)을 구성하는 연삭 휠(5)과 대향하는 연삭 영역(25) 사이에서 이동된다. 벨로즈 수단(73 및 74)은 캠버스 직물과 같은 적절한 재료로 형성할 수 있다. 벨로즈 수단(73)의 전단은 메인부(21)의 전면벽에 고정되고, 후단은 커버 부재(72)의 전단면에 고정되어 있다. 또한, 벨로즈 수단(74)의 전단은 커버 부재(72)의 후단면에 고정되고, 후단은 장치 하우징(2)의 직립벽(22)의 전면에 고정되어 있다. 척테이블(71)이 화살표(23a)로 나타내는 방향으로 이동할 때에는 벨로즈 수단(73)이 신장되고 벨로즈 수단(74)이 수축되며, 척테이블(71)이 화살표(23b)로 나타내는 방향으로 이동할 때에는 벨로즈 수단(73)이 수축되고 벨로즈 수단(74)이 신장된다. If the description continues with reference to FIG. 1, a
도 1 내지 도 4에 나타내는 연삭 장치(1)는 이상과 같이 구성되어 있고, 후술하는 마무리 연삭 가공을 실시할 때에 사용된다. The grinding
도 5에는, 본 발명에 의한 가공 방법에 의해 가공되는 사파이어 기판이 나타나 있다. 도 5에 나타내는 사파이어 기판(10)은, 표면(10a) 및 이면(10b)을 A면으로 하는 사파이어 기판으로 이루어져 있고, 직경이 150 mm, 두께가 300 ㎛로 형성되어 있다. 이와 같이 형성된 사파이어 기판(10)은, 도 6에 나타낸 바와 같이 한쪽 면(도시한 실시형태에서는 이면(10b))이 유리판 등으로 이루어진 서브스트레이트(11)에 왁스를 통해 부착된다. 5 shows a sapphire substrate processed by the processing method according to the present invention. The
전술한 사파이어 기판(10)을 정해진 두께로 가공하기 위해서는, 우선 거친연삭 가공을 실시한다. 이 거친연삭 가공은, 상기 도 1 내지 도 4에 나타내는 연삭 장치(1)에서의 연삭액 공급 수단(40) 및 연삭 휠(5)의 연삭 지석(52)이 상이하지만 다른 구성은 실질적으로 동일하면 되기 때문에, 도 1 내지 도 4에 나타내는 연삭 장치(1)에 이용한 부호를 이용하여 설명한다. 또, 거친연삭 가공을 실시할 때에는, 연삭액 공급 수단(40)은 종래와 같이 순수로 이루어진 연삭수를 공급한다. 또한, 연삭 휠(5)의 연삭 지석(52)은, 입경이 10∼15 ㎛인 다이아몬드 연마입자를 레진 본드에 혼입하여 혼련하고, 정해진 형상으로 성형하여 소성함으로써 구성한 것이 이용된다. In order to process the above-described
사파이어 기판(10)의 거친연삭 가공을 실시하기 위해서는, 전술한 바와 같이 서브스트레이트(11)에 접착된 사파이어 기판(10)을, 도 1에 나타내는 연삭 장치(1)와 동일한 거친연삭 장치에서의 피가공물 배치 영역(24)에 위치 부여되어 있는 척테이블(71)의 상면인 유지면 상에 서브스트레이트(11) 측을 배치한다. 그리고, 도시하지 않은 흡인 수단을 작동시킴으로써 척테이블(71) 상에 서브스트레이트(11)를 통해 사파이어 기판(10)을 흡인 유지한다. 이와 같이 하여, 척테이블(71) 상에 서브스트레이트(11)를 통해 사파이어 기판(10)을 흡인 유지했다면, 도시하지 않은 척테이블 이동 수단을 작동시켜 척테이블(71)을 화살표(23a)로 나타내는 방향으로 이동시켜 연삭 영역(25)에 위치 부여한다. In order to perform rough grinding of the
이와 같이 하여 척테이블(71)이 연삭 영역(25)에 위치 부여되면, 도 7에 나타낸 바와 같이 척테이블(71)을 정해진 방향으로 200 rpm의 회전 속도로 회전시키고, 연삭 휠(5)을 800 rpm의 회전 속도로 회전시키면서 연삭 이송 수단(6)의 펄스 모터(64)를 정회전 구동시켜 연삭 유닛(4)을 0.1 ㎛/초의 속도로 하강시켜, 연삭 휠(5)의 복수의 연삭 지석(52)의 연삭면을 척테이블(71)에 유지된 사파이어 기판(10)의 표면(10a)(상면)에 접촉시켜 정해진 양만큼(100 ㎛) 연삭 이송한다. 그 결과, 척테이블(71)에 유지된 사파이어 기판(10)은 100 ㎛ 연삭된다(거친연삭 공정). When the chuck table 71 is positioned in the grinding
이 거친연삭 공정에서는, 회전 스핀들(42)에 형성된 연삭수 공급 통로(421), 휠 마운트(44)에 형성된 연통로(422)를 통해 연삭 휠(5)의 연삭 지석(52)에 의한 연삭부에 순수로 이루어진 연삭수가 공급된다. In this coarse grinding process, the grinding part by the grinding
전술한 거친연삭 가공이 실시된 사파이어 기판(10)의 표면(10a)을 마무리 연삭 가공하여 면정밀도를 높인다. 이 마무리 연삭 가공은, 도 1 내지 도 4에 나타내는 연삭 장치(1)를 이용하여 실시한다. 즉, 연삭액 공급 수단(40)은, 다이아몬드 연마입자를 순수에 혼입한 슬러리로 이루어진 연삭액을 공급하고, 또한 연삭 휠(5)의 연삭 지석(52)은 입경이 1∼2 ㎛인 다이아몬드 연마입자를 본드제에 혼입하여 혼련하고, 정해진 형상으로 성형하여 소성함으로써 구성되어 있다. 이하, 본 발명자에 의한 실험예에 관해 설명한다. The
[실험 1][Experiment 1]
전술한 바와 같이 거친연삭 가공이 실시된 사파이어 기판(10)을, 도 1에 나타내는 연삭 장치(1)의 피가공물 배치 영역(24)에 위치 부여되어 있는 척테이블(71)의 상면인 유지면 상에 서브스트레이트(11) 측을 배치한다. 그리고, 도시하지 않은 흡인 수단을 작동시킴으로써 척테이블(71) 상에 서브스트레이트(11)를 통해 사파이어 기판(10)을 흡인 유지한다. 이와 같이 하여, 척테이블(71) 상에 서브스트레이트(11)를 통해 사파이어 기판(10)을 흡인 유지했다면, 도시하지 않은 척테이블 이동 수단을 작동시켜 척테이블(71)을 화살표(23a)로 나타내는 방향으로 이동시켜 연삭 영역(25)에 위치 부여한다. As described above, the
이와 같이 하여 척테이블(71)이 연삭 영역(25)에 위치 부여되면, 도 7에 나타낸 바와 같이 척테이블(71)을 화살표(71a)로 나타내는 방향으로 200 rpm의 회전 속도로 회전시키고, 연삭 휠(5)을 화살표(5a)로 나타내는 방향으로 800 rpm의 회전 속도로 회전시키면서 연삭 이송 수단(6)의 펄스 모터(64)를 정회전 구동시켜 연삭 유닛(4)을 0.1 ㎛/초의 속도로 하강시키고, 연삭 휠(5)의 복수의 연삭 지석(52)의 연삭면을 척테이블(71)에 유지된 사파이어 기판(10)의 표면(10a)(상면)에 접촉시켜 정해진 양만큼(30 ㎛) 연삭 이송한다. 그 결과, 척테이블(71)에 유지된 사파이어 기판(10)은, 30 ㎛ 연삭된다(마무리 연삭 공정). 이 마무리 연삭 공정에서는, 회전 스핀들(42)에 형성된 연삭수 공급 통로(421), 휠 마운트(44)에 형성된 연통로(422)를 통해 연삭 휠(5)의 연삭 지석(52)에 의한 연삭부에 입경이 9 ㎛ 전후인 다이아몬드 연마입자를 순수 1 리터에 대하여 5 g 혼입한 슬러리를 연삭액으로서 1분간 5리터(5리터/분)의 비율로 공급된다. When the chuck table 71 is positioned in the grinding
[실험 2(비교예)][Experiment 2 (Comparative Example)]
전술한 바와 같이 거친연삭 가공이 실시된 사파이어 기판(10)을, 상기 실험 1과 동일하게 척테이블(71)의 상면인 유지면 상에 서브스트레이트(11)를 통해 유지한 후, 전술한 것과 동일하게(연삭액만 상이함) 마무리 연삭 가공을 실시한다. 즉, 연삭 영역(25)에 위치 부여된 척테이블(71)을 정해진 방향으로 200 rpm의 회전 속도로 회전시키고, 연삭 휠(5)을 800 rpm의 회전 속도로 회전시키면서 연삭 이송 수단(6)의 펄스 모터(64)를 정회전 구동시켜 연삭 유닛(4)을 0.1 ㎛/초의 속도로 하강시키고, 연삭 휠(5)의 복수의 연삭 지석(52)의 연삭면을 척테이블(71)에 유지된 사파이어 기판(10)의 표면(10a)(상면)에 접촉시켜 정해진 양만큼(30 ㎛) 연삭 이송한다. 그 결과, 척테이블(71)에 유지된 사파이어 기판(10)은 30 ㎛ 연삭된다(마무리 연삭 공정). 이 마무리 연삭 공정에서는, 회전 스핀들(42)에 형성된 연삭수 공급 통로(421), 휠 마운트(44)에 형성된 연통로(422)를 통해 연삭 휠(5)의 연삭 지석(52)에 의한 연삭부에 순수로 이루어진 연삭수가 공급된다. After the
전술한 실험 1과 실험 2(비교예)의 마무리 연삭 공정이 실시된 사파이어 기판(10)의 표면(10a)(상면)을 도 8에 나타내는 I, II, III, IV, V의 영역에서 면거칠기를 측정한 바, 하기의 결과를 얻을 수 있었다. The
측정 영역 I II III IV V Measurement area I II III IV V
실험 1의 면거칠기(Ra) 0.031 0.017 0.044 0.038 0.019Surface roughness (Ra) of
실험 2의 면거칠기(Ra) 0.283 0.257 0.284 0.142 0.157Surface roughness of experiment 2 (Ra) 0.283 0.257 0.284 0.142 0.157
상기 실험 결과로부터, 실험 1과 같이 다이아몬드 연마입자를 순수에 혼입한 슬러리를 연삭액으로서 사용하면, 실험 2(비교예)와 같이 순수로 이루어진 연삭수를 사용한 경우와 비교하여, 사파이어 기판의 A면의 면거칠기(Ra)가 1/10로 격감하는 것을 알 수 있다. 이것은 연삭 지석(52)에 의한 연삭과 다이아몬드 연마입자를 순수에 혼입한 슬러리를 연삭 지석(52)에 의한 연삭부에 공급하는 것에 의한 폴리싱의 상승 효과에 의한 것이다. 따라서, 다이아몬드 연마입자를 순수에 혼입한 슬러리를 연삭액으로서 사용함으로써, A면을 표리면으로 하는 사파이어 기판의 면정밀도를 확보할 수 있기 때문에, 사파이어 기판의 A면을 발광층의 적층면으로서 사용할 수 있다. 또, 연삭 휠(5)의 연삭 지석(52)에 의한 연삭부에 공급하는 슬러리에 혼입하는 다이아몬드 연마입자는, 입경이 10 ㎛ 이상인 것을 이용하면 연삭 손상이 발생하기 쉬운 것을 알 수 있다. 따라서, 연삭 지석(52)에 의한 연삭부에 공급하는 슬러리에 혼입하는 다이아몬드 연마입자는, 연삭 지석(52)을 구성하는 다이아몬드 연마입자의 입경(1∼2 ㎛)보다 크고 연삭 손상이 발생하기 쉬운 입경(10 ㎛)보다 작은 3∼9 ㎛로 설정하는 것이 바람직하다. From the above experiment results, when using a slurry in which diamond abrasive particles are mixed with pure water as a grinding liquid as in
이와 같이 본 발명에 의한 사파이어 기판의 가공 방법을 실시함으로써, 광디바이스 웨이퍼의 기판으로서 A면을 표리면으로 하는 사파이어 기판을 이용하는 것이 가능해지기 때문에, 사파이어 잉곳을 효율적으로 절취할 수 있어, 사파이어 기판의 단가가 내려가 LED 등의 광디바이스를 저가로 제조할 수 있다. 또한, 사파이어 기판의 A면은, 질화갈륨계 화합물 반도체로 이루어진 발광층의 성장에 양호한 결정 방위이므로, LED 등의 광디바이스의 품질이 향상된다. By carrying out the processing method of the sapphire substrate according to the present invention as described above, it becomes possible to use a sapphire substrate having an A surface as a front and back surface as a substrate for an optical device wafer, so that the sapphire ingot can be efficiently cut out. As the unit price goes down, optical devices such as LEDs can be manufactured at low cost. In addition, since the A-side of the sapphire substrate is a good crystal orientation for the growth of the light-emitting layer made of a gallium nitride compound semiconductor, the quality of optical devices such as LEDs is improved.
2 : 장치 하우징 3 : 이동 베이스
4 : 스핀들 유닛 40 : 연삭액 공급 수단
41 : 스핀들 하우징 42 : 회전 스핀들
44 : 휠 마운트 5 : 연삭 휠
51 : 휠 베이스 52 : 연삭 지석
6 : 연삭 이송 수단 7 : 척테이블 기구
71 : 척테이블 10 : 사파이어 기판2: Device housing 3: Mobile base
4: Spindle unit 40: Grinding fluid supply means
41: spindle housing 42: rotating spindle
44: wheel mount 5: grinding wheel
51: wheel base 52: grinding wheel
6: Grinding conveying means 7: Chuck table mechanism
71: chuck table 10: sapphire substrate
Claims (2)
피가공물을 유지하여 회전 가능한 척테이블에 사파이어 기판의 한쪽 면을 유지하는 유지 공정과,
사파이어 기판을 유지한 상기 척테이블을 회전시키고, 복수의 연삭 지석이 고리형으로 배치된 연삭 휠을 회전시키면서 연삭 지석을 사파이어 기판의 다른쪽 면에 접촉시켜 사파이어 기판의 다른쪽 면을 연삭하는 연삭 공정
을 포함하며,
상기 연삭 공정은, 거친 연삭 가공 및 상기 거친 연삭 가공 후에 실시하는 마무리 연삭 가공을 포함하고,
상기 거친 연삭 가공은 연마입자를 포함하지 않는 순수로 이루어진 연삭수를 공급하면서 실시하고,
상기 마무리 연삭 가공은, 입경이 1∼2 ㎛인 다이아몬드 연마입자를 본드제에 혼입하여 구성된 연삭 지석을 사용하여, 입경이 3∼9 ㎛인 다이아몬드 연마입자를 순수에 혼입한 슬러리로 이루어진 연삭액을 공급하면서 실시하는 것을 특징으로 하는, 사파이어 기판의 가공 방법.A method for processing a sapphire substrate, wherein the sapphire substrate is cut from the ingot of the sapphire and the surface and the back surface are formed by the A surface,
A holding process for holding a workpiece and holding one surface of the sapphire substrate on a rotatable chuck table,
The grinding process of rotating the chuck table holding the sapphire substrate, and grinding the other surface of the sapphire substrate by contacting the grinding wheel with the other surface of the sapphire substrate while rotating the grinding wheel in which a plurality of grinding wheels are arranged in an annular shape.
It includes,
The grinding process includes a rough grinding process and a finish grinding process performed after the rough grinding process,
The coarse grinding processing is performed while supplying grinding water made of pure water that does not contain abrasive particles,
The finishing grinding process uses a grinding stone composed of diamond abrasive particles having a particle diameter of 1 to 2 µm mixed with a bond agent, and a grinding liquid composed of a slurry in which diamond abrasive particles having a particle diameter of 3 to 9 µm are mixed with pure water. A method for processing a sapphire substrate, characterized in that it is carried out while being supplied.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013125151A JP6166106B2 (en) | 2013-06-14 | 2013-06-14 | Processing method of sapphire substrate |
JPJP-P-2013-125151 | 2013-06-14 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20140145979A KR20140145979A (en) | 2014-12-24 |
KR102117718B1 true KR102117718B1 (en) | 2020-06-01 |
Family
ID=52216909
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140061431A KR102117718B1 (en) | 2013-06-14 | 2014-05-22 | Sapphire substrate processing method |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6166106B2 (en) |
KR (1) | KR102117718B1 (en) |
CN (1) | CN104227547B (en) |
TW (1) | TWI621165B (en) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106313345A (en) * | 2016-09-23 | 2017-01-11 | 江苏吉星新材料有限公司 | Processing method for 7.2-inch nanoscale sapphire scanner diaphragm |
CN107413690A (en) * | 2017-06-15 | 2017-12-01 | 江苏吉星新材料有限公司 | A kind of Sapphire wafer surface cleaning device and method for different roughness and size |
US11817337B2 (en) * | 2018-08-23 | 2023-11-14 | Tokyo Electron Limited | Substrate processing system and substrate processing method |
JP7270373B2 (en) * | 2018-12-20 | 2023-05-10 | 株式会社岡本工作機械製作所 | Grinding method and grinding apparatus for composite substrate containing resin |
CN110000692B (en) * | 2019-04-29 | 2024-01-09 | 青岛高测科技股份有限公司 | Loading and unloading device for grinding process of semiconductor crystal bar and using method |
CN113635225A (en) * | 2021-07-29 | 2021-11-12 | 青岛新韩金刚石工业有限公司 | Grinding wheel for chamfering sapphire substrate and preparation method thereof |
CN113770823A (en) * | 2021-09-28 | 2021-12-10 | 湖南圣高机械科技有限公司 | Plane grinding machine |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012148390A (en) * | 2011-01-21 | 2012-08-09 | Disco Corp | Method for grinding hard substrate |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001007064A (en) * | 1999-06-17 | 2001-01-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Grinding method of semiconductor wafer |
JP2004330338A (en) * | 2003-05-06 | 2004-11-25 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Workpiece polishing device and workpiece polishing method |
CN1289261C (en) * | 2003-07-16 | 2006-12-13 | 上海新华霞实业有限公司 | Grind process for optical sapphire crystal substrate |
JP4874597B2 (en) | 2005-08-04 | 2012-02-15 | 株式会社ディスコ | Manufacturing method of grinding wheel |
KR101715024B1 (en) * | 2006-12-28 | 2017-03-10 | 생-고뱅 세라믹스 앤드 플라스틱스, 인코포레이티드 | A sapphire substrate |
TWM421860U (en) * | 2011-02-18 | 2012-02-01 | Green Energy Technology Inc | Position adjusting mechanism for grinding wheel |
JP5856433B2 (en) * | 2011-10-21 | 2016-02-09 | 株式会社ディスコ | Grinding method of sapphire substrate |
-
2013
- 2013-06-14 JP JP2013125151A patent/JP6166106B2/en active Active
-
2014
- 2014-04-25 TW TW103114975A patent/TWI621165B/en active
- 2014-05-22 KR KR1020140061431A patent/KR102117718B1/en active IP Right Grant
- 2014-06-12 CN CN201410259519.1A patent/CN104227547B/en active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012148390A (en) * | 2011-01-21 | 2012-08-09 | Disco Corp | Method for grinding hard substrate |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI621165B (en) | 2018-04-11 |
TW201501188A (en) | 2015-01-01 |
KR20140145979A (en) | 2014-12-24 |
CN104227547B (en) | 2018-02-13 |
JP2015000441A (en) | 2015-01-05 |
JP6166106B2 (en) | 2017-07-19 |
CN104227547A (en) | 2014-12-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102117718B1 (en) | Sapphire substrate processing method | |
US10910241B2 (en) | Wafer producing apparatus and carrying tray | |
US10755946B2 (en) | Method for producing a wafer from a hexagonal single crystal ingot by applying a laser beam to form a first production history, an exfoliation layer, and a second production history | |
TWI710427B (en) | Grinding wheel and grinding method of workpiece | |
JP5632215B2 (en) | Grinding tool | |
CN102398228A (en) | Cutting Grinding Wheel | |
JP4833629B2 (en) | Wafer processing method and grinding apparatus | |
KR101893616B1 (en) | Method for grinding sapphire substrate | |
CN110828361B (en) | Processing method of optical device wafer | |
CN105609414B (en) | Method for grinding workpiece | |
JP5947605B2 (en) | Nozzle adjustment jig | |
JP2012016770A (en) | Method and device for grinding | |
JP5735217B2 (en) | Method and apparatus for grinding hard substrate | |
JP2012169487A (en) | Grinding apparatus | |
JP5508120B2 (en) | Hard substrate processing method | |
JP6345981B2 (en) | Support jig | |
JP2007290046A (en) | Cutting tool | |
JP6850569B2 (en) | Polishing method | |
JP5934491B2 (en) | Grinding method of sapphire substrate | |
JP6008548B2 (en) | Nozzle adjustment jig | |
JP5653234B2 (en) | Hard substrate grinding method | |
JP2008155312A (en) | Grinding wheel | |
JP5939792B2 (en) | Sapphire substrate | |
JP2014117763A (en) | Grinding wheel |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |