KR102095516B1 - Apparatus for holding sample of microscope - Google Patents

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KR102095516B1
KR102095516B1 KR1020180149886A KR20180149886A KR102095516B1 KR 102095516 B1 KR102095516 B1 KR 102095516B1 KR 1020180149886 A KR1020180149886 A KR 1020180149886A KR 20180149886 A KR20180149886 A KR 20180149886A KR 102095516 B1 KR102095516 B1 KR 102095516B1
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하창만
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재단법인대구경북과학기술원
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Abstract

Disclosed is an apparatus for fixing a sample of a microscope. The present apparatus includes: a first coupling unit in which a head, a body wherein a screw is formed, and a tail are integrally coupled; a second coupling unit which includes equal to or more than one support unit, wherein a support unit is fixed to the wall surface of an imaging dish so that the first coupling unit moves in the vertical direction, and which includes a through hole wherein the first coupling unit is bolted to a predetermined region where the support unit converges; and a sample fixing plate which includes one surface in contact with the sample, and the other surface on which an engagement unit engaged with the tail of the first coupling unit is disposed. Accordingly, the sample can be effectively fixed.

Description

현미경의 샘플을 고정하는 장치{APPARATUS FOR HOLDING SAMPLE OF MICROSCOPE}A device for fixing a sample of a microscope {APPARATUS FOR HOLDING SAMPLE OF MICROSCOPE}

본 발명은 현미경의 샘플을 고정하는 장치에 관한 것으로 더 상세하게는 샘플의 상을 관찰하는 경우, 관찰이 용이하도록 샘플을 효과적으로 고정하는 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a device for fixing a sample of a microscope, and more particularly, when observing an image of a sample, it relates to a device for effectively fixing a sample for easy observation.

현미경은 인간의 눈으로 관찰할 수 없는 미세한 물체나 미생물을 확대하여 관찰하는 기구이며, 빛을 쓰는 광학 현미경, 전자를 쓰는 전자 현미경, 이온을 쓰는 이온 현미경 등을 포함한다. 현미경에서 시료(이하, 샘플)를 보다 수월하고 용이하게 관찰하기 위해서는 현미경 대물렌즈의 초점이 잡힐 수 있는 거리에 샘플이 위치되어야 하며 초점의 범위를 벋어나지 않게 샘플을 효과적으로 고정하는 장치가 필요하다. A microscope is a device that magnifies and observes microscopic objects or microorganisms that cannot be observed by the human eye, and includes an optical microscope that uses light, an electron microscope that uses electrons, and an ion microscope that uses ions. In order to more easily and easily observe a sample (hereinafter referred to as a sample) in a microscope, the sample should be positioned at a distance that the microscope objective can be focused, and an apparatus for effectively fixing the sample without deviating from the range of focus is required.

도 1 (a) 및 도 1(b)는 종래기술에서 사용하는 조직고정장치를 나타낸다. 종래기술에 따른 조직고정장치는 샘플(11)의 두께에 맞는 스페이서(13)를 이용하여 현미경 이미징 획득시 샘플(11)이 커버 글라스(cover glass)에 고정되는 방식을 이용한다. 먼저, 도 1(a)의 제품은 이미징용 굴절률 용액의 흐름을 방지하기 위해 고무베어링을 사용하며, 고무베어링 안쪽에 샘플(11)과 다양한 두께의 플라스틱 스페이서(13)를 사용한다. 도 1(a)의 제품은 비교적 고가(가령, 백만원 이상)의 장비이며 샘플(11)의 크기에 따라 다양한 사이즈의 스페이서(13)가 필요하며, 샘플이 교체될 때마다 복잡한 분리, 조립, 세척 과정이 필요하고, 샘플이 치우친 경우 이미지 획득에도 어려움이 발생된다. 도 1(b)의 제품은 스페이서(13)를 슬라이드 글라스(Slide glass)에 붙이고, 스페이서(13) 내부에 이미징용 용액 및 샘플(11)을 배치하는 방식을 사용하나, 스페이서(13) 안쪽 용액에 버블이 생겨 이미지 획득시 왜곡이 발생될 수 있으며, 버블을 없애기 위해 이미지 용액을 스페이서(13)에 가득 채우면 이미징 용액이 넘쳐 스페이서(13)와 커버글라스(cover glass)의 부착에 방해를 주어 이미징 용액이 스페이서(13) 사이로 세어나와 샘플(11) 쪽에 버블이 생기거나 주변이 오염되는 문제가 있었다.1 (a) and 1 (b) show a tissue fixing device used in the prior art. The tissue fixation apparatus according to the prior art uses a method in which the sample 11 is fixed to the cover glass when obtaining microscopic imaging by using a spacer 13 suitable for the thickness of the sample 11. First, the product of FIG. 1 (a) uses a rubber bearing to prevent the flow of the refractive index solution for imaging, and a sample 11 and a plastic spacer 13 of various thicknesses are used inside the rubber bearing. The product of FIG. 1 (a) is a relatively expensive (for example, over 1 million won) equipment and requires various sizes of spacers 13 according to the size of the sample 11, and complicated separation, assembly, and cleaning whenever the sample is replaced If a process is required, and the sample is biased, it is difficult to acquire an image. The product of FIG. 1 (b) uses a method in which a spacer 13 is attached to a slide glass and an imaging solution and a sample 11 are disposed inside the spacer 13, but the solution inside the spacer 13 is used. When bubbles are formed on the image, distortion may occur. When the image solution is filled with spacer 13 to eliminate bubbles, the imaging solution overflows and interferes with the attachment of the spacer 13 and cover glass, thus imaging There was a problem that the solution leaked between the spacers 13 and bubbles were formed on the sample 11 side or the surroundings were contaminated.

이에, 보다 현미경의 샘플을 효과적으로 대물렌즈의 초점범위에 상이 잡히도록 고정하는 장치가 필요하다 할 것이다. Accordingly, it would be necessary to provide a device for effectively fixing the sample of the microscope so that it is imaged in the focal range of the objective lens.

한편, 상기와 같은 정보는 본 발명의 이해를 돕기 위한 백그라운드(background) 정보로서만 제시될 뿐이다. 상기 내용 중 어느 것이라도 본 발명에 관한 종래 기술로서 적용 가능할지 여부에 관해, 어떤 결정도 이루어지지 않았고, 또한 어떤 주장도 이루어지지 않는다.Meanwhile, the above information is only presented as background information for understanding the present invention. As to whether or not any of the above is applicable as the prior art related to the present invention, no decision has been made, and no claim is made.

공개특허공보 제10-2018-0002779호(공개일 : 2018.1.8)Published Patent Publication No. 10-2018-0002779 (Publication date: 2018.1.8)

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 일 실시 예는 현미경을 이용하여 샘플을 관찰하는 경우, 관찰이 용이하도록 샘플을 효과적으로 고정하는 장치를 제안한다.The present invention has been devised to solve the above-mentioned problems, and an embodiment of the present invention proposes an apparatus for effectively fixing a sample to facilitate observation when observing a sample using a microscope.

본 발명에서 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical problems to be achieved in the present invention are not limited to the technical problems mentioned above, and other technical problems that are not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description. Will be able to.

본 발명의 일 실시 예에 따른 현미경의 샘플을 고정하는 장치는 헤드, 나사가 형성된 바디, 및 테일이 일체형으로 결합된 제1 결합부; 하나 이상의 지지부를 포함하며, 상기 지지부가 이미징 접시 벽면에 고정되어 상기 제1 결합부가 수직 방향으로 이동하게되며, 상기 지지부가 수렴하는 소정 영역에 상기 제1 결합부가 볼트 결합되는 관통홀을 포함하는 제2 결합부; 및 샘플과 맞닿는 일면 및 상기 제1 결합부의 테일과 체결되는 체결부가 배치된 타면을 포함하는 샘플 고정판을 포함할 수 있다.An apparatus for fixing a sample of a microscope according to an embodiment of the present invention includes a head, a body having a screw, and a first coupling unit in which the tail is integrally coupled; It includes at least one support portion, the support portion is fixed to the wall of the imaging dish, the first coupling portion is moved in the vertical direction, the first coupling portion is a through hole through which the first coupling portion is bolted to the converging region 2 coupling portion; And a sample fixing plate including one surface in contact with the sample and the other surface on which the fastening part engaged with the tail of the first coupling part is disposed.

보다 구체적으로, 상기 헤드는, 측면 회전 방향으로 가해지는 힘에 의해 상기 제1 결합부가 수직 방향으로 이동되게 하는 그립부를 포함할 수 있다.More specifically, the head may include a grip portion that causes the first coupling portion to move in the vertical direction by a force applied in a lateral rotation direction.

보다 구체적으로, 상기 지지부 각각의 하부는 이미징 접시 내부의 소정 영역에 하중을 가하도록 배치될 수 있다.More specifically, the lower portion of each of the support portions may be arranged to apply a load to a predetermined area inside the imaging dish.

보다 구체적으로, 상기 이미징 접시 내부에 이미징 용액이 배치되며, 상기 샘플 고정판 및 상기 샘플이 상기 이미징 용액에 잠긴 상태에서 상기 제1 결합부가 수직 하강 방향으로 이동하게 되고, 상기 샘플이 상기 샘플 고정판에 의해 압력이 가해지며, 상기 샘플이 상기 이미징 접시 하부에 고정될 수 있다.More specifically, an imaging solution is disposed inside the imaging dish, and the first coupling portion moves in a vertical downward direction while the sample holding plate and the sample are immersed in the imaging solution, and the sample is moved by the sample holding plate. Pressure is applied, and the sample can be fixed to the bottom of the imaging dish.

보다 구체적으로, 상기 샘플이 상기 샘플 고정판에 의해 압력이 가해질 때, More specifically, when the sample is pressurized by the sample holding plate,

상기 샘플과 상기 샘플 고정판이 닿는 면과 상기 이미징 접시 하부가 이루는 각도가 평행하거나, 상기 샘플과 상기 샘플 고정판이 닿는 면과 상기 이미징 접시 하부가 이루는 각도가 평행하지 않고 기울어질 수 있다.The angle between the surface of the sample and the sample holding plate and the bottom of the imaging plate may be parallel, or the angle between the surface of the sample and the sample holding plate and the bottom of the imaging plate may be inclined without being parallel.

본 발명의 다양한 실시 예에 따른 현미경의 샘플을 고정하는 장치가 제공됨으로써 아래와 같은 효과가 발생된다.The following effects are generated by providing an apparatus for fixing a sample of a microscope according to various embodiments of the present invention.

첫째로, 현미경의 관찰 대상인 샘플이 간단한 구조에 의해 고정될 수 있다.First, the sample to be observed under the microscope can be fixed by a simple structure.

둘째로, 버블에 의한 이미지 왜곡 현상이 방지될 수 있으며, 이미징 용액의 넘침에 따른 주변 오염 문제가 해소될 수 있다.Second, image distortion caused by bubbles can be prevented, and a problem of surrounding contamination caused by overflow of the imaging solution can be solved.

셋째로, 저렴한 비용으로 이미징 접시 바닥에 샘플이 고정될 수 있으며, 다양한 형태의 샘플에서 샘플 고정판의 움직임으로 샘플을 최대면적으로 대물렌즈의 초점상에 고정시킬 수 있다.Third, the sample can be fixed to the bottom of the imaging plate at a low cost, and the sample can be fixed on the focal point of the objective lens with the maximum area by the movement of the sample holding plate in various types of samples.

넷째로, 샘플과 샘플 고정판이 닿는 면과 이미징 접시 하부가 이루는 각도가 평행하거나 기울어질 수 있어 샘플 형상에 관계없이 샘플이 가변적으로 고정될 수 있다.Fourth, since the angle between the surface of the sample and the sample holding plate and the bottom of the imaging plate may be parallel or inclined, the sample may be fixed variably regardless of the sample shape.

본 발명에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects obtainable in the present invention are not limited to the above-mentioned effects, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description. will be.

도 1(a) 및 도 1(b)는 비교 례에 따른 현미경의 샘플을 고정하는 장치를 나타낸다.
도 2는 내지 도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 현미경의 샘플을 고정하는 장치의 구조 또는 구동을 설명하기 위한 도면이다.1 (a) and 1 (b) show a device for fixing a sample of a microscope according to a comparative example.
2 to 7 are diagrams for explaining the structure or driving of a device for fixing a sample of a microscope according to an embodiment of the present invention.

이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 다양한 실시 예를 보다 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, various embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, in the description of the present invention, when it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention, a detailed description thereof will be omitted.

본 발명이 적용되는 현미경은 inverted type의 모든 광학현미경을 포함 가능하며, 형광현미경, confocal, TIRFM(Total internal reflection fluorescence microscope) 등을 포함할 수 있다. 또한, 샘플은 인간의 신체 조직(가령, 뇌)일 수 있으며, 연한 조직 또는 단단한 조직일 수 있으며, 다양한 형태를 포함할 수 있다.The microscope to which the present invention is applied may include all optical microscopes of the inverted type, and may include a fluorescence microscope, confocal, total internal reflection fluorescence microscope (TIRFM), and the like. Further, the sample may be human body tissue (eg, brain), soft tissue, or hard tissue, and may include various forms.

또한, 현미경의 샘플을 고정하는 장치(100)의 소재는 폴리카보네이트가 적용될 수 있으나, 구현시에는 다양한 재료가 적용될 수 있다.In addition, polycarbonate may be applied as a material of the apparatus 100 for fixing a sample of a microscope, but various materials may be applied in the implementation.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 현미경의 샘플을 고정하는 장치(100, 이하, “샘플고정장치(100)”로 칭함)을 구조를 나타낸다.Figure 2 shows the structure of a device for fixing a sample of a microscope according to an embodiment of the present invention (hereinafter referred to as "sample fixing device 100").

도 2를 참고하면, 샘플고정장치(100)는 제1 결합부(110), 제2 결합부(120) 및 샘플 고정판(130)을 포함한다. 제1 결합부(110), 제2 결합부(120) 및 샘플 고정판(130)은 서로 결합될 수 있다.Referring to FIG. 2, the sample fixing device 100 includes a first coupling portion 110, a second coupling portion 120, and a sample fixing plate 130. The first coupling portion 110, the second coupling portion 120 and the sample fixing plate 130 may be coupled to each other.

제1 결합부(110)는 헤드(111), 나사가 형성된 바디, 및 테일(113)이 일체형으로 결합될 수 있다. 헤드(111)는 그립부(111a)를 통해, 측면 회전 방향으로 가해지는 힘에 의해 상기 제1 결합부(111)가 수직 방향으로 하강되거나 상승되게 할 수 있다.The head 111, the screwed body, and the tail 113 may be integrally coupled to the first coupling portion 110. The head 111 may allow the first coupling portion 111 to descend or rise in the vertical direction by a force applied in the lateral rotation direction through the grip portion 111a.

제1 결합부(110)의 총길이는 21.22 mm 일 수 있으며, 헤드(111)의 길이는 2 mm, 바디의 길이는 15.22 mm, 테일의 길이는 3.5mm 일 수 있으나, 실시 예가 이에 국한되는 것은 아니다.The total length of the first coupling portion 110 may be 21.22 mm, the length of the head 111 may be 2 mm, the length of the body may be 15.22 mm, and the length of the tail may be 3.5 mm, but embodiments are not limited thereto. .

헤드(111)는 작업자의 손에 의해 조작될 수 있으나, 구현시에는 자동으로 헤드(111)가 상승되거나 하강되도록 조절하는 기구가 적용될 수 있다.The head 111 may be operated by an operator's hand, but in the implementation, a mechanism for automatically adjusting the head 111 to be raised or lowered may be applied.

제2 결합부(120)는 하나 이상의 지지부(123A~123C)를 포함하고 지지부(123A~123C)가 이미징접시의 내측벽면에 고정되어 제1 결합부(110)를 수직방향으로 이동시키는 역할을 하며, 지지부(123A~123C)가 수렴하는 소정 영역(121)에 제1 결합부(110)가 볼트 결합되는 관통홀을 포함할 수 있다. 이에, 제1 결합부(110)와 제2 결합부(120)가 견고하게 결합될 수 있다. The second coupling portion 120 includes one or more supporting portions 123A to 123C, and the supporting portions 123A to 123C are fixed to the inner wall surface of the imaging plate to move the first coupling portion 110 in the vertical direction. , The first coupling portion 110 may include a through hole through which the first coupling portion 110 is bolted to a predetermined region 121 where the supporting portions 123A to 123C converge. Thus, the first coupling portion 110 and the second coupling portion 120 may be firmly coupled.

제1 결합부(110)의 테일(113)은 샘플 고정판(130)의 체결부(131)와 결합될 수 있다. 다만, 체결부(131)가 구모양으로 구성되어 샘플 고정판(130)이 기울어질 수 있게 체결될 수 있다. 이에 따라, 샘플의 상부면 및 샘플의 하부면이 평행하지 않더라도 샘플의 상 관찰이 가능하며, 샘플 고정판(130)이 기울어진 상태에서도 하부로 압력이 가해질 수 있다. 다만, 체결부(131)는 구모양에 한정되지 않고, 기울기 각도 조정을 위한 반원형태, 다양한 다각형 형태, 타원 형태로 구현될 수 있으며 그 각도의 범위는 이미징접시 바닥면을 기준으로 샘플 고정판(130)의 기울기가 20도를 넘지 않도록 설정될 수 있으며, 이에 따라 샘플에 하중이 가해질 때, 샘플이 측면으로 밀려나지 않게 할 수 있다. The tail 113 of the first coupling portion 110 may be combined with the fastening portion 131 of the sample fixing plate 130. However, the fastening part 131 may be formed in a spherical shape so that the sample fixing plate 130 can be inclined. Accordingly, even if the upper surface of the sample and the lower surface of the sample are not parallel, it is possible to observe the image of the sample, and pressure may be applied downward even when the sample holding plate 130 is inclined. However, the fastening portion 131 is not limited to a spherical shape, and may be implemented in a semicircular shape, various polygonal shapes, or elliptical shapes for adjusting the tilt angle, and the range of the angle is a sample fixing plate 130 based on the bottom surface of the imaging dish. ) Can be set so that the inclination does not exceed 20 degrees, so that when a load is applied to the sample, it is possible to prevent the sample from being pushed to the side.

구체적으로, 반원 형태의 체결부(131)인 경우, 반지름이 1.75 mm 로 설정될 수 있으며, 반구의 상부 단면과 중심 간 거리는 0.95 mm 로 설정될 수 있다. 이에, 결합이 견고하면서도 특정각이상으로 기울어지지 않아 샘플이 밀리지 않게 할 수 있다. 도 3(a) 내지 도 3(c)는 샘플고정장치(100)의 상면, 하면, 측면 등에서 제1 결합부(110), 제2 결합부(120) 및 샘플 고정판(130)이 결합된 상태를 나타낸 것이다. Specifically, in the case of the semi-circular fastening portion 131, the radius may be set to 1.75 mm, and the distance between the upper section of the hemisphere and the center may be set to 0.95 mm. Thus, the sample can be prevented from being pushed because the bond is firm and does not incline above a certain angle. 3 (a) to 3 (c) show a state in which the first coupling portion 110, the second coupling portion 120, and the sample fixing plate 130 are coupled on the upper, lower, and side surfaces of the sample fixing device 100. It shows.

도 3(b)를 참고하면, 샘플 고정판(130)에 샘플이 접촉하여 이미징 접시 하부에 하중이 가해지고, 작업자는 이미징 접시에 접촉된 커버 글래스 방향으로 대물렌즈를 통해 샘플의 상을 관찰할 수 있다.Referring to Figure 3 (b), the sample is in contact with the sample holding plate 130, the load is applied to the lower portion of the imaging plate, the operator can observe the image of the sample through the objective lens in the direction of the cover glass contacting the imaging plate have.

여기서, 지지부(123A~123C)의 하중이 이미징 접시에 효과적으로 전달되기 위해, 각 지지부(123A~123C)의 꺽임 부위의 각도는 113.85도를 형성할 수 있으나, 구현 예에 따라서는 다른 각도가 적용될 수 있다.Here, in order to effectively transmit the load of the support portions 123A to 123C, the angle of the bent portion of each support portion 123A to 123C may form 113.85 degrees, but other angles may be applied depending on the implementation example. have.

또한, 또한, 샘플 고정판(130)의 직경은 25 mm 가 될 수 있으나, 실시 예가 이에 국한되는 것은 아니다.In addition, the diameter of the sample fixing plate 130 may be 25 mm, but the embodiment is not limited thereto.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 샘플고정장치(100)의 제2 결합부(120)의 다른 모양을 나타낸다. 도 4를 참고하면, 샘플고정장치(100)는 4개의 지지부(123A~123D)를 구비할 수 있다.4 shows another shape of the second coupling portion 120 of the sample fixing device 100 according to an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 4, the sample fixing device 100 may include four supporting parts 123A to 123D.

도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 샘플고정장치(100)가 실제로 현미경에 적용한 것을 나타낸다.5 shows that the sample fixing device 100 according to an embodiment of the present invention is actually applied to a microscope.

도 5를 참고하면, 작업자는 대물렌즈(500)를 통해 이미징 접시(200)와 밀착한 샘플(410)을 관찰할 수 있다. Referring to FIG. 5, an operator can observe the sample 410 in close contact with the imaging dish 200 through the objective lens 500.

여기서, 샘플고정장치(100)는 샘플(410)을 이미징 접시(200) 방향으로 압력을 가할 수 있다. 샘플고정장치(100)의 지지부는 이미징 접시(200) 내부의 사이드 소정 영역에 하중을 가할 수 있다. 이때, 지지부는 이미징 접시(200)의 하부 및 측부에도 밀착되어, 고정력이 높아질 수 있다.Here, the sample fixing device 100 may apply pressure to the sample 410 in the direction of the imaging dish 200. The support portion of the sample fixing device 100 may apply a load to a predetermined area of the side inside the imaging dish 200. At this time, the support portion is also in close contact with the lower and side portions of the imaging dish 200, the fixing force can be increased.

도 6(a) 및 도 6(b)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 샘플의 형태에 따라 샘플 고정판의 기울기 및 초점이 달라지는 샘플고정장치(100)를 나타낸다. 6 (a) and 6 (b) show a sample fixing device 100 in which the inclination and focus of the sample fixing plate are changed according to the shape of the sample according to an embodiment of the present invention.

도 6(a)를 참고하면, 샘플(400A)의 상부면과 하부면이 평형한 경우, 샘플 고정판(130)이 기울어지지 않고 샘플(400A)을 이미징 접시의 하부에 고정할 수 있으며, 관찰자는 대물렌즈(500A)를 통해 샘플(400A)의 상을 관찰할 수 있다.Referring to FIG. 6 (a), when the upper surface and the lower surface of the sample 400A are in equilibrium, the sample holding plate 130 is not inclined and the sample 400A can be fixed to the lower portion of the imaging dish. The image of the sample 400A can be observed through the objective lens 500A.

도 6(b)를 참고하면, 샘플(400B)의 상면과 하면의 평형하지 않아서, 압착하는 힘에 의해 샘플 고정판이 기울어지더라도 수직 방향으로 힘이 가해져서 샘플이 이미징 접시(200B)의 하부에 닿을 수 있다. 이에 따라, 관찰자는 샘플(400B)의 상을 관찰할 수 있다. 여기서, 샘플 고정판과 이미징 접시(200B)의 하면(310B)이 이루는 각도는 20도 내외로 설정되어, 샘플에 적절한 하중이 가해질 수 있다. Referring to FIG. 6 (b), the upper and lower surfaces of the sample 400B are not in equilibrium, so a force is applied in the vertical direction even if the sample holding plate is inclined by the pressing force, so that the sample is placed at the lower portion of the imaging plate 200B. Can reach. Accordingly, the observer can observe the image of the sample 400B. Here, the angle formed by the sample holding plate and the lower surface 310B of the imaging plate 200B is set to about 20 degrees, so that an appropriate load can be applied to the sample.

여기서, 커버 글래스(310A, 310B)는 이미징 접시(200A, 200B)의 하부와 맞닿아 있으며, 이미징 접시(200A, 200B)는 시중에서 판매되는 60mm 이미징 접시일 수 있으나, 구현예에 따라서는 다양한 이미징 접시가 적용될 수 있다.Here, the cover glass (310A, 310B) is in contact with the lower portion of the imaging plate (200A, 200B), the imaging plate (200A, 200B) may be a commercially available 60mm imaging plate, depending on the implementation various imaging Dish can be applied.

도 7을 참고하면, 이미징 접시 내부에는 이미징 용액(750)이 배치될 수 있다. 이?, 샘플 고정판(130) 및 샘플(410D)이 상기 이미징 용액에 잠긴 상태에서 상기 제1 결합부(110)가 수직 하강 방향으로 이동하게 될 수 있는데, 샘플 고정판(130) 및 샘플(410D)이 모두 이미징 용액 내부에 잠기게 되어 버블 발생이 미연에 방지되고 이에 따른 이미지 상 왜곡 문제가 해소될 수 있다.Referring to FIG. 7, an imaging solution 750 may be disposed inside the imaging dish. E ?, while the sample holding plate 130 and the sample 410D are immersed in the imaging solution, the first coupling portion 110 may be moved in a vertical downward direction, the sample holding plate 130 and the sample 410D All of this is immersed in the imaging solution, so that bubble generation can be prevented beforehand and the image distortion problem can be solved.

또한, 대물렌즈의 초점 거리가 넉넉하게 보장될 수 있으며, 샘플이 센터에 위치하게 되어 스페이서 벽면으로 샘플이 쏠리는 현상이 방지될 수 있으며, 샘플 회수시에도 샘플고정장치만 회수하면 커버슬립의 파손으로 샘플의 손상이나 사용자가 다치는 문제가 발생되지 않는다. 본 발명에 따르면, 저렴하게 현미경의 샘플이 고정될 수 있으며, 세팅 방법이 간편하다 할 것이며, 샘플 형태가 다양하더라도 샘플의 상 관찰이 용이할 수 있으며, 샘플의 유동을 막아 대영역의 이미지를 타일링하여 전체 이미지도 모두 획득될 수 있다.In addition, the focal length of the objective lens can be ensured generously, and the sample is positioned at the center to prevent the sample from being thrown to the wall of the spacer, and even when the sample is fixed, the cover slip can be damaged if the sample fixing device is recovered. No sample damage or user injuries are caused. According to the present invention, the sample of the microscope can be fixed inexpensively, the setting method will be simple, and the sample phase can be easily observed even if the sample shape is various, and the flow of the sample is blocked to tile the image of a large area. Thus, the entire image can also be obtained.

본 명세서는 다수의 특정한 구현물의 세부사항들을 포함하지만, 이들은 어떠한 발명이나 청구 가능한 것의 범위에 대해서도 제한적인 것으로서 이해되어서는 안되며, 오히려 특정한 발명의 특정한 실시형태에 특유할 수 있는 특징들에 대한 설명으로서 이해되어야 한다. 마찬가지로, 개별적인 실시형태의 문맥에서 본 명세서에 기술된 특정한 특징들은 단일 실시형태에서 조합하여 구현될 수도 있다. 반대로, 단일 실시형태의 문맥에서 기술한 다양한 특징들 역시 개별적으로 혹은 어떠한 적절한 하위 조합으로도 복수의 실시형태에서 구현 가능하다. 나아가, 특징들이 특정한 조합으로 동작하고 초기에 그와 같이 청구된 바와 같이 묘사될 수 있지만, 청구된 조합으로부터의 하나 이상의 특징들은 일부 경우에 그 조합으로부터 배제될 수 있으며, 그 청구된 조합은 하위 조합이나 하위 조합의 변형물로 변경될 수 있다.This specification includes details of many specific implementations, but these should not be understood as limiting on the scope of any invention or claim, but rather as a description of features that may be specific to a particular embodiment of the particular invention. It should be understood. Likewise, certain features described herein in the context of individual embodiments may be implemented in combination in a single embodiment. Conversely, various features described in the context of a single embodiment can also be implemented in multiple embodiments individually or in any suitable subcombination. Further, although features may operate in a particular combination and may initially be depicted as so claimed, one or more features from the claimed combination may in some cases be excluded from the combination, and the claimed combination subcombined. Or sub-combinations.

또한, 본 명세서에서는 특정한 순서로 도면에서 동작들을 묘사하고 있지만, 이는 바람직한 결과를 얻기 위하여 도시된 그 특정한 순서나 순차적인 순서대로 그러한 동작들을 수행하여야 한다거나 모든 도시된 동작들이 수행되어야 하는 것으로 이해되어서는 안 된다. 특정한 경우, 멀티태스킹과 병렬 프로세싱이 유리할 수 있다. 또한, 상술한 실시형태의 다양한 시스템 컴포넌트의 분리는 그러한 분리를 모든 실시형태에서 요구하는 것으로 이해되어서는 안되며, 설명한 프로그램 컴포넌트와 시스템들은 일반적으로 단일의 소프트웨어 제품으로 함께 통합되거나 다중 소프트웨어 제품에 패키징될 수 있다는 점을 이해하여야 한다.In addition, although the descriptions describe the operations in the drawings in a specific order, it should be understood that such operations must be performed in the specific order or sequential order shown in order to obtain a desired result, or that all illustrated actions should be performed. Can not be done. In certain cases, multitasking and parallel processing may be advantageous. In addition, the separation of various system components of the above-described embodiments should not be understood as requiring such separation in all embodiments, and the described program components and systems will generally be integrated together into a single software product or packaged in multiple software products. You should understand that you can.

이와 같이, 본 명세서는 그 제시된 구체적인 용어에 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 따라서, 상술한 예를 참조하여 본 발명을 상세하게 설명하였지만, 당업자라면 본 발명의 범위를 벗어나지 않으면서도 본 예들에 대한 개조, 변경 및 변형을 가할 수 있다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.As such, this specification is not intended to limit the invention to the specific terms presented. Therefore, although the present invention has been described in detail with reference to the above-described examples, those skilled in the art can make modifications, alterations, and modifications to these examples without departing from the scope of the present invention. The scope of the present invention is indicated by the following claims rather than the above detailed description, and it should be interpreted that all changes or modified forms derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts are included in the scope of the present invention. do.

Claims (5)

헤드, 나사가 형성된 바디 및 테일이 일체형으로 결합된 제1 결합부;
하나 이상의 지지부를 포함하며, 상기 지지부가 이미징 접시 벽면에 고정되어 상기 제1 결합부가 수직 방향으로 이동하게 되며, 상기 지지부가 수렴하는 소정 영역에 상기 제1 결합부가 볼트 결합되는 관통홀을 포함하는 제2 결합부; 및
샘플과 맞닿는 일면 및 상기 제1 결합부의 테일과 체결되는 체결부가 배치된 타면을 포함하는 샘플 고정판을 포함하며,
상기 지지부 각각의 하부는 이미징 접시 내부의 소정 영역에 하중을 가하도록 이미징접시 하부, 내부에 고정되어 배치된, 현미경의 샘플을 고정하는 장치.A head, a first body having a screwed body and a tail coupled integrally;
It includes at least one support, the support is fixed to the imaging plate wall surface, the first coupling portion is moved in the vertical direction, the support portion is converged through the first coupling portion is bolted through the through hole is bolted 2 coupling portion; And
And a sample fixing plate including one surface in contact with the sample and the other surface on which the fastening part is fastened to the tail of the first coupling part,
The lower portion of each of the support portions is fixed to the lower portion of the imaging dish to apply a load to a predetermined area inside the imaging dish, the device for fixing the sample of the microscope. 제1항에 있어서,
상기 헤드는, 측면 회전 방향으로 가해지는 힘에 의해 상기 제1 결합부가 수직 방향으로 이동되게 하는 그립부를 포함하는, 현미경의 샘플을 고정하는 장치.According to claim 1,
The head, the device for fixing the sample of the microscope, including a grip portion for moving the first coupling portion in the vertical direction by the force applied in the lateral rotation direction. 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 이미징 접시 내부에 이미징 용액이 배치되며,
상기 샘플 고정판 및 상기 샘플이 상기 이미징 용액에 잠긴 상태에서 상기 제1 결합부가 수직 하강 방향으로 이동하게 되고, 상기 샘플이 상기 샘플 고정판에 의해 압력이 가해지며, 상기 샘플이 상기 이미징 접시 하부에 고정되는, 현미경의 샘플을 고정하는 장치.According to claim 1,
An imaging solution is placed inside the imaging dish,
While the sample holding plate and the sample are immersed in the imaging solution, the first coupling portion moves in a vertical downward direction, the sample is pressurized by the sample holding plate, and the sample is fixed to the lower portion of the imaging plate. , A device for fixing samples in a microscope. 제4항에 있어서,
상기 샘플이 상기 샘플 고정판에 의해 압력이 가해질 때,
상기 샘플과 상기 샘플 고정판이 닿는 면과 상기 이미징 접시 하부가 이루는 각도가 평행하거나,
상기 샘플과 상기 샘플 고정판이 닿는 면과 상기 이미징 접시 하부가 이루는 각도가 평행하지 않고 기울어진, 현미경의 샘플을 고정하는 장치.



According to claim 4,
When the sample is pressurized by the sample holding plate,
The angle between the surface of the sample and the sample holding plate and the bottom of the imaging plate is parallel, or
An apparatus for fixing a sample of a microscope, in which an angle between the surface of the sample and the sample holding plate and the bottom of the imaging plate is not parallel, but inclined.



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