KR102089653B1 - Test socket assembly - Google Patents

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Abstract

The present invention is to provide a test socket assembly having a simple structure and capable of stably transmitting a signal at a high communication speed. According to the present invention, the test socket assembly is provided to transmit an electrical signal between a device to be tested and a test board. The test socket assembly comprises: a test socket including a plurality of conduction units which electrically connect a device terminal of the device to be tested and a board terminal of the test board; a guide housing including a housing body with a housing opening into which the device to be tested can be inserted and a socket support unit disposed on a lower side of the housing opening to be protruding from one surface of the housing body; and a socket frame including a frame body coupled to the test socket to be fixed to the socket support unit so that the test socket is supported to be disposed below the housing opening, and a frame wing bent from the frame body towards the housing body to be fixed to the housing body.

Description

테스트 소켓 조립체{TEST SOCKET ASSEMBLY}Test socket assembly {TEST SOCKET ASSEMBLY}

본 발명은 테스트 소켓 조립체에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스와 테스터 기판 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있는 테스트 소켓 조립체에 관한 것이다.The present invention relates to a test socket assembly, and more particularly, to a test socket assembly capable of transmitting electrical signals between a device under test and a tester substrate.

반도체 디바이스의 제조 공정이 끝나면 반도체 디바이스에 대한 테스트가 필요하다. 반도체 디바이스의 테스트를 수행할 때에는 테스트 장비와 반도체 디바이스 간을 전기적으로 연결시키는 테스트 소켓이 필요하다. 테스트 공정에서 테스트 소켓은 테스터에서 나온 신호가 반도체 디바이스로 전달될 수 있도록 하는 매개 부품이다.After the manufacturing process of the semiconductor device is finished, testing of the semiconductor device is required. When performing a test of a semiconductor device, a test socket for electrically connecting the test equipment and the semiconductor device is required. In the test process, the test socket is an intermediary component that allows the signal from the tester to pass to the semiconductor device.

반도체 디바이스에 대한 신뢰성 있는 테스트를 위해서는 반도체 디바이스의 단자와 테스트 소켓을 정확하게 연결할 필요가 있다. 반도체 디바이스의 테스트 시, 반도체 디바이스를 정확한 위치에 위치시키기 위해 디바이스 가이드가 사용되고 있다. 디바이스 가이드는 테스터 기판에 설치되어 반도체 디바이스를 테스트 소켓 상의 정확한 위치로 가이드하는 역할을 한다.For reliable testing of a semiconductor device, it is necessary to accurately connect a terminal of the semiconductor device and a test socket. When testing a semiconductor device, a device guide is used to position the semiconductor device in the correct position. The device guide is installed on the tester board to guide the semiconductor device to the correct position on the test socket.

그런데 최근 테스터 기판에 설치되는 수동소자의 수가 증가하면서 디바이스 가이드를 테스터 기판에 설치하는 것이 어려워지고 있다.However, recently, as the number of passive elements installed on the tester substrate increases, it is difficult to install the device guide on the tester substrate.

포고 핀을 이용하는 테스트 소켓의 경우, 포고 핀을 수동소자의 높이 이상으로 제작하는 것이 용이하다. 따라서, 포고 핀 타입의 테스트 소켓의 경우 이에 맞는 디바이스 가이드의 제작이 어렵지 않다.In the case of a test socket using a pogo pin, it is easy to manufacture the pogo pin beyond the height of the passive element. Therefore, in the case of a pogo pin type test socket, it is not difficult to manufacture a device guide suitable for this.

그런데 5G용 또는 그 이상의 주파수(통상 2Ghz이상)를 사용하는 반도체 디바이스의 테스트의 경우, 포고 핀과 포고 핀을 탄력적으로 지지하는 스프링이 인덕턴스로 작용하게 된다. 따라서, 1Ghz 이상의 통신 속도가 요구되는 테스트에서는 포고 핀 타입의 테스트 소켓을 사용하기가 곤란하다.However, in the case of testing of a semiconductor device using a frequency for 5G or higher (typically 2Ghz or more), the pogo pin and the spring that elastically supports the pogo pin act as inductance. Therefore, it is difficult to use a pogo pin type test socket in a test requiring a communication speed of 1 Ghz or higher.

이러한 포고 핀 타입의 테스트 소켓의 한계를 극복하기 위해 이방 도전성 소켓이 사용되고 있다. 그런데 종래의 이방 도전성 소켓은 1mm 이상의 높이로 제조가 불가능한 단점이 있다.An anisotropic conductive socket is used to overcome the limitations of the pogo pin type test socket. However, the conventional anisotropic conductive socket has a disadvantage that it cannot be manufactured to a height of 1 mm or more.

이러한 문제를 해결하기 위해 도 1에 나타낸 것과 같은 테스트 소켓(1)이 제안된 바 있다.To solve this problem, a test socket 1 as shown in FIG. 1 has been proposed.

도 1에 나타낸 것과 같은 종래의 테스트 소켓(1)은 테스터 기판의 도전성 패드와 대면하는 위치에 높이 500㎛ 정도의 하부 이방 도전성 소켓(2)이 배치되고, 그 위에 약 1000~4000㎛의 높이를 갖는 PCB(3)가 놓이며, 그 위에 반도체 디바이스와 직접 접촉될 수 있는 상부 이방 도전성 소켓(4)이 적층되는 구조를 갖는다. 이러한 종래의 테스트 소켓(1)은 다층 구조를 취함으로써 수동소자의 높이 이상이 되도록 제작될 수 있다.In the conventional test socket 1 as shown in FIG. 1, a lower anisotropic conductive socket 2 of about 500 μm in height is disposed at a position facing the conductive pad of the tester substrate, and a height of about 1000 to 4000 μm is disposed thereon. The PCB 3 has a structure on which an upper anisotropic conductive socket 4 that can be directly contacted with a semiconductor device is stacked. Such a conventional test socket 1 can be manufactured to be higher than the height of a passive element by taking a multi-layer structure.

그런데 도 1에 나타낸 것과 같은 종래 테스트 소켓(1)은 하부 이방 도전성 소켓(2)에서 PCB(3)까지의 길이가 1500~4500㎛이상이 되고, PCB(3)를 사용하기 때문에 주파수 특성이 떨어지게 된다. 따라서, 종래 테스트 소켓(1)은 통상적으로 2Ghz 이하의 통신 속도에서만 적용 가능하다.However, in the conventional test socket 1 as shown in FIG. 1, the length from the lower anisotropic conductive socket 2 to the PCB 3 is 1500 to 4,500 µm or more, and the frequency characteristics are reduced because the PCB 3 is used. do. Therefore, the conventional test socket 1 is generally applicable only at a communication speed of 2Ghz or less.

또한, 종래 테스트 소켓(1)은 복수의 소자 적층 구조를 이루므로, 소자 간의 접촉점이 많아 전기적인 저항이 증가하고, 제조 단가가 높아지는 문제점이 있다.In addition, since the conventional test socket 1 has a plurality of device stacked structures, there is a problem in that the electrical resistance increases and the manufacturing cost increases due to a large number of contact points between devices.

등록특허공보 제1798853호 (2017. 11. 20)Registered Patent Publication No.1798853 (November 20, 2017)

본 발명은 상술한 바와 같은 점을 감안하여 안출된 것으로, 구조가 단순하고 고속 통신 속도에서도 안정적인 신호 전달이 가능한 테스트 소켓 조립체를 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been devised in view of the above-mentioned points, and has an object to provide a test socket assembly having a simple structure and stable signal transmission even at a high communication speed.

상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 테스트 소켓 조립체는, 피검사 디바이스와 테스터 기판 사이에서 전기 신호를 전달하기 위한 테스트 소켓 조립체에 있어서, 상기 피검사 디바이스의 디바이스 단자와 상기 테스터 기판의 기판 단자를 전기적으로 연결하는 복수의 도전부를 갖는 테스트 소켓; 상기 피검사 디바이스가 삽입될 수 있는 하우징 개구를 갖는 하우징 바디와, 상기 하우징 바디의 일면으로부터 돌출되도록 상기 하우징 개구의 하측에 배치되는 소켓 지지부를 구비하는 가이드 하우징; 및 상기 테스트 소켓을 상기 하우징 개구 아래에 놓이도록 지지하기 위해 상기 테스트 소켓과 결합되어 상기 소켓 지지부에 고정되는 프레임 바디와, 상기 프레임 바디로부터 상기 하우징 바디 측으로 절곡되어 상기 하우징 바디에 고정되는 프레임 날개를 구비하는 소켓 프레임;을 포함한다.The test socket assembly according to the present invention for solving the above object is a test socket assembly for transmitting an electrical signal between the device under test and the tester substrate, the device terminal of the device under test and the test socket A test socket having a plurality of conductive parts electrically connecting the substrate terminals; A guide housing having a housing body having a housing opening into which the device under test can be inserted, and a socket support disposed below the housing opening so as to protrude from one surface of the housing body; And a frame body coupled to the test socket and fixed to the socket support to support the test socket to be placed under the housing opening, and a frame wing bent from the frame body toward the housing body and fixed to the housing body. It includes; a socket frame provided.

상기 프레임 날개는, 상기 프레임 바디의 가장자리로부터 상기 하우징 바디 측으로 절곡되는 연결 날개와, 상기 연결 날개로부터 상기 하우징 개구로부터 멀어지는 방향으로 절곡되어 상기 하우징 바디에 고정되는 고정 날개를 포함할 수 있다.The frame wing may include a connecting wing bent from the edge of the frame body toward the housing body, and a fixed wing bent in a direction away from the housing opening from the connecting wing and fixed to the housing body.

상기 연결 날개는 상기 프레임 바디에 대해 세워지도록 상기 프레임 바디로부터 절곡되고, 상기 고정 날개는 상기 하우징 바디에 면접촉 가능하도록 상기 연결 날개로부터 절곡될 수 있다.The connecting wing is bent from the frame body so as to stand up against the frame body, and the fixed wing can be bent from the connecting wing so as to be in surface contact with the housing body.

상기 가이드 하우징에는 상기 고정 날개가 수용될 수 있는 장착홈이 형성될 수 있다.In the guide housing, a mounting groove in which the fixed wing can be accommodated may be formed.

본 발명에 따른 테스트 소켓 조립체는, 상기 프레임 날개에 접하여 상기 프레임 날개를 상기 가이드 하우징에 탈부착 할 수 있도록 상기 가이드 하우징에 형성되는 삽입 홀에 삽입되는 고정부재;를 포함할 수 있다.The test socket assembly according to the present invention may include a fixing member inserted into an insertion hole formed in the guide housing so that the frame wing can be detachably attached to the guide housing in contact with the frame wing.

상기 소켓 지지부와 상기 프레임 바디 중 어느 하나에는 결합홈이 마련되고, 다른 하나에는 상기 결합홈에 삽입되는 고정 돌기가 구비될 수 있다.A coupling groove may be provided in one of the socket support portion and the frame body, and a fixing protrusion inserted into the coupling groove may be provided in the other.

상기 도전부는, 탄성 절연물질과, 상기 탄성 절연물질 내에 함유되어 있는 다수의 도전성 입자를 포함할 수 있다.The conductive portion may include an elastic insulating material and a plurality of conductive particles contained in the elastic insulating material.

상기 가이드 하우징은, 상기 테스터 기판에 결합되어 상기 하우징 바디를 상기 테스터 기판으로부터 이격시킬 수 있도록 상기 하우징 바디의 일단으로부터 돌출되는 복수의 하우징 레그를 포함할 수 있다.The guide housing may include a plurality of housing legs protruding from one end of the housing body so as to be coupled to the tester substrate to separate the housing body from the tester substrate.

본 발명에 따른 테스트 소켓 조립체는 신호 전달을 위한 도전부를 갖는 테스트 소켓이 테스터 기판에 설치되는 가이드 하우징의 하우징 바디로부터 돌출된 소켓 지지부에 장착되므로, 테스트 소켓이 테스터 기판에 설치되는 수동소자와 간섭되지 않고 기판 단자와 원활하게 접촉할 수 있다. 따라서, 종래와 같이 복수의 소자가 적층된 다층 구조의 테스트 소켓을 사용하지 않고 단층 구조의 테스트 소켓으로 안정적인 신호 전달이 가능하다. 그리고 단층 구조의 테스트 소켓을 이용함으로써 고속 통신 속도가 요구되는 테스트에 이용될 수 있다.Since the test socket assembly according to the present invention is mounted on a socket support protruding from the housing body of a guide housing in which a test socket having a conductive portion for signal transmission is installed on a tester board, the test socket is not interfered with a passive element installed on a tester board. It can be smoothly contacted with the substrate terminal. Therefore, it is possible to transmit a stable signal to a test socket having a single layer structure without using a test socket having a multi-layer structure in which a plurality of devices are stacked as in the prior art. And by using a single-layered test socket, it can be used for tests requiring high-speed communication speed.

또한, 본 발명에 따른 테스트 소켓 조립체는 테스트 소켓이 절곡된 구조의 소켓 프레임을 통해 가이드 하우징에 간단하게 결합될 수 있다. 따라서, 구조가 단순하고, 제조 단가가 절감되며, 제조 시간이 단축될 수 있다.In addition, the test socket assembly according to the present invention can be simply coupled to the guide housing through a socket frame of a structure in which the test socket is bent. Therefore, the structure is simple, the manufacturing cost is reduced, and the manufacturing time can be shortened.

도 1은 종래의 테스트 소켓을 나타낸 것이다.
도 2 및 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 사시도이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체의 가이드 하우징을 나타낸 사시도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체의 조립 과정을 설명하기 위한 것이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체가 설치된 모습을 나타낸 것이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 단면도이다.
도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 사시도이다.
도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 단면도이다.
도 12는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 조립체의 조립 과정을 설명하기 위한 것이다.1 shows a conventional test socket.
2 and 3 is a perspective view showing a test socket assembly according to an embodiment of the present invention.
4 is a cross-sectional view showing a test socket assembly according to an embodiment of the present invention.
5 is a perspective view showing a guide housing of a test socket assembly according to an embodiment of the present invention.
6 and 7 are for explaining the assembly process of the test socket assembly according to an embodiment of the present invention.
8 shows a state in which a test socket assembly according to an embodiment of the present invention is installed.
9 is a cross-sectional view showing a test socket assembly according to another embodiment of the present invention.
10 is a perspective view showing a test socket assembly according to another embodiment of the present invention.
11 is a cross-sectional view showing a test socket assembly according to another embodiment of the present invention.
12 is for explaining the assembly process of the test socket assembly according to another embodiment of the present invention.

이하, 본 발명에 따른 테스트 소켓 조립체를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a test socket assembly according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 2 및 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 사시도이고, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 단면도이고, 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체의 가이드 하우징을 나타낸 사시도이며, 도 6 및 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체의 조립 과정을 설명하기 위한 것이다.2 and 3 is a perspective view showing a test socket assembly according to an embodiment of the present invention, Figure 4 is a cross-sectional view showing a test socket assembly according to an embodiment of the present invention, Figure 5 is an embodiment of the present invention It is a perspective view showing a guide housing of the test socket assembly according to, Figures 6 and 7 are for explaining the assembly process of the test socket assembly according to an embodiment of the present invention.

도면에 나타낸 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체(100)는 피검사 디바이스(20)와 테스터 기판(10) 사이에서 전기 신호를 전달하기 위한 것으로, 전기 신호 전달을 위한 테스트 소켓(110)과, 테스트 소켓(110)에 결합되는 소켓 프레임(120)과, 테스터 기판(10)에 설치되어 피검사 디바이스(20)를 가이드하는 가이드 하우징(140)을 포함한다.As shown in the figure, the test socket assembly 100 according to an embodiment of the present invention is for transmitting an electric signal between the device under test 20 and the tester substrate 10, and a test socket for electric signal transmission It includes a 110, a socket frame 120 coupled to the test socket 110, and a guide housing 140 installed on the tester substrate 10 to guide the device under test 20.

테스트 소켓(110)은 피검사 디바이스(20)의 디바이스 단자(21)와 테스터 기판(10)의 기판 단자(11)를 전기적으로 연결하는 복수의 도전부(111)와, 복수의 도전부(111) 주위를 둘러싸서 복수의 도전부(111)를 상호 이격되도록 지지하는 절연부(112)를 포함한다.The test socket 110 includes a plurality of conductive parts 111 and a plurality of conductive parts 111 electrically connecting the device terminal 21 of the device under test 20 and the substrate terminal 11 of the tester substrate 10. ) Surrounding the surroundings to include a plurality of conductive parts 111 to be spaced apart from each other.

도전부(111)는 탄성 절연물질과, 탄성 절연물질 내에 함유되어 있는 다수의 도전성 입자를 포함한다. 도전부(111)는 피검사 디바이스(20)의 디바이스 단자(21)와 테스터 기판(10)의 기판 단자(11)를 전기적으로 연결함으로써 피검사 디바이스(20)와 테스터 기판(10) 사이에서 전기적 신호를 전달할 수 있다.The conductive portion 111 includes an elastic insulating material and a plurality of conductive particles contained in the elastic insulating material. The conductive part 111 is electrically connected between the device under test 20 and the tester board 10 by electrically connecting the device terminal 21 of the device under test 20 and the board terminal 11 of the tester board 10. It can transmit a signal.

도전부(111)를 구성하는 탄성 절연물질로는 가교 구조를 갖는 내열성의 고분자 물질, 예를 들어, 실리콘 고무, 폴리부타디엔 고무, 천연 고무, 폴리이소플렌 고무, 스틸렌-부타디엔 공중합체 고무, 아크릴로니트릴-부타디엔 공중합체 고무, 스틸렌-부타디엔-디엔 블럭 공중합체 고무, 스틸렌-이소플렌 블럭 공중합체 고무, 우레탄 고무, 폴리에스테르계 고무, 에피크롤히드린 고무, 에틸렌-프로필렌 공중합체 고무, 에틸렌-프로필렌-디엔 공중합체 고무, 연질 액상 에폭시 고무 등이 이용될 수 있다.The elastic insulating material constituting the conductive part 111 is a heat-resistant polymer material having a cross-linked structure, for example, silicone rubber, polybutadiene rubber, natural rubber, polyisoprene rubber, styrene-butadiene copolymer rubber, acrylic Nitrile-butadiene copolymer rubber, styrene-butadiene-diene block copolymer rubber, styrene-isoprene block copolymer rubber, urethane rubber, polyester rubber, epichlorohydrin rubber, ethylene-propylene copolymer rubber, ethylene-propylene -Diene copolymer rubber, soft liquid epoxy rubber, and the like can be used.

또한, 도전부(111)를 구성하는 도전성 입자로는 자장에 의해 반응할 수 있도록 자성을 갖는 것이 이용될 수 있다. 예를 들어, 도전성 입자로는 철, 니켈, 코발트 등의 자성을 나타내는 금속의 입자, 혹은 이들의 합금 입자, 또는 이들 금속을 함유하는 입자 또는 이들 입자를 코어 입자로 하고 그 코어 입자의 표면에 금, 은, 팔라듐, 라듐 등의 도전성이 양호한 금속이 도금된 것, 또는 비자성 금속 입자, 글래스 비드 등의 무기 물질 입자, 폴리머 입자를 코어 입자로 하고 그 코어 입자의 표면에 니켈 및 코발트 등의 도전성 자성체를 도금한 것, 또는 코어 입자에 도전성 자성체 및 도전성이 양호한 금속을 도금한 것 등이 이용될 수 있다.Further, as the conductive particles constituting the conductive portion 111, those having magnetism may be used to react by a magnetic field. For example, as the conductive particles, particles of a metal exhibiting magnetic properties such as iron, nickel, and cobalt, or alloy particles thereof, or particles containing these metals or these particles as core particles, and gold on the surface of the core particles , Silver, palladium, radium, etc., which has good conductivity, plated with metal, or non-magnetic metal particles, inorganic particles such as glass beads, and polymer particles as core particles, and conductive surfaces such as nickel and cobalt on the surface of the core particles A plated magnetic body, or a plated core particle having a conductive magnetic body and a metal having good conductivity may be used.

절연부(112)는 탄성 절연물질로 이루어지고, 복수의 도전부(111) 주위를 둘러싸서 복수의 도전부(111)를 상호 이격되도록 지지한다. 절연부(112)의 탄성 절연물질은 도전부(111)의 탄성 절연물질과 동일한 소재로 이루어질 수 있다.The insulating portion 112 is made of an elastic insulating material, and surrounds the plurality of conductive portions 111 to support the plurality of conductive portions 111 to be spaced apart from each other. The elastic insulating material of the insulating portion 112 may be made of the same material as the elastic insulating material of the conductive portion 111.

테스트 소켓(110)은 도시된 것과 같이, 탄성 절연물질 내에 다수의 도전성 입자가 포함된 복수의 도전부(111)와, 복수의 도전부(111)를 둘러싸는 절연부(112)를 포함하는 구조 이외의 다양한 다른 구조로 변경될 수 있다. 다른 예로, 테스트 소켓은 포고 핀 타입의 구조로 변경될 수 있다. 또 다른 예로, 테스트 소켓은 한국등록특허 제1410866호에 개시되어 있는 구조를 취할 수 있다.As illustrated, the test socket 110 has a structure including a plurality of conductive parts 111 including a plurality of conductive particles in an elastic insulating material, and an insulating part 112 surrounding the plurality of conductive parts 111. It can be changed to various other structures. As another example, the test socket can be changed to a pogo pin type structure. As another example, the test socket may take the structure disclosed in Korean Patent Registration No. 1410866.

소켓 프레임(120)은 테스트 소켓(110)과 결합되어 테스트 소켓(110)을 가이드 하우징(140)에 고정시키는 역할을 한다. 소켓 프레임(120)은 가이드 하우징(140)에 구비되는 소켓 지지부(143)에 고정되는 프레임 바디(121)와, 프레임 바디(121)로부터 절곡되어 가이드 하우징(140)의 하우징 바디(141)에 고정되는 프레임 날개(125)를 포함한다.The socket frame 120 is coupled to the test socket 110 and serves to fix the test socket 110 to the guide housing 140. The socket frame 120 is fixed to the frame body 121 fixed to the socket support 143 provided in the guide housing 140, and bent from the frame body 121 to be fixed to the housing body 141 of the guide housing 140. The frame includes a wing 125.

프레임 바디(121)는 테스트 소켓(110)을 지지하는 평판 형상으로 이루어진다. 프레임 바디(121)에는 프레임 관통구(122)가 마련되고, 프레임 관통구(122)를 통해 테스트 소켓(110)의 도전부(111)의 하단부가 프레임 바디(121)의 하부 측으로 노출될 수 있다. 프레임 바디(121)의 하부 측으로 노출되는 도전부(111)의 하단부는 테스터 기판(10)의 기판 단자(11)에 접촉하여 기판 단자(11)와 전기적으로 연결된다. 테스트 소켓(110)은 접착제를 통한 접착 방식 등 다양한 방식으로 프레임 바디(121)에 결합될 수 있다.The frame body 121 is formed in a flat plate shape supporting the test socket 110. The frame body 121 is provided with a frame through hole 122, and the lower end of the conductive portion 111 of the test socket 110 may be exposed to the lower side of the frame body 121 through the frame through hole 122. . The lower end of the conductive portion 111 exposed to the lower side of the frame body 121 contacts the substrate terminal 11 of the tester substrate 10 and is electrically connected to the substrate terminal 11. The test socket 110 can be coupled to the frame body 121 in a variety of ways, such as through an adhesive method.

프레임 바디(121)에는 결합홈(123)이 구비된다. 프레임 바디(121)가 가이드 하우징(140)의 소켓 지지부(143)에 결합될 때 소켓 지지부(143)에 구비되는 고정 돌기(145)가 결합홈(123)에 삽입된다. 따라서, 프레임 바디(121)가 소켓 지지부(143)와 안정적인 결합 상태를 유지할 수 있다.The frame body 121 is provided with a coupling groove 123. When the frame body 121 is coupled to the socket support portion 143 of the guide housing 140, the fixing protrusion 145 provided in the socket support portion 143 is inserted into the coupling groove 123. Therefore, the frame body 121 can maintain a stable coupling state with the socket support 143.

프레임 날개(125)는 소켓 지지부(143)에 고정되는 프레임 바디(121)로부터 하우징 바디(141) 측으로 절곡되어 가이드 하우징(140)의 하우징 바디(141)에 고정된다. 프레임 날개(125)가 하우징 바디(141)에 고정됨으로써 프레임 바디(121)가 소켓 지지부(143)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다. 프레임 날개(125)는 프레임 바디(121)로부터 절곡되는 연결 날개(126)와, 연결 날개(126)로부터 절곡되는 고정 날개(128)를 포함한다. 연결 날개(126)는 프레임 바디(121)에 대해 세워지도록 프레임 바디(121)로부터 절곡되고, 고정 날개(128)는 하우징 바디(141)에 면접촉 가능하도록 연결 날개(126)로부터 절곡된다. 즉, 연결 날개(126)는 프레임 바디(121)의 가장자리로부터 대략 수직으로 절곡되고, 고정 날개(128)는 연결 날개(126)로부터 대략 수직으로 절곡되어 하우징 바디(141)에 고정된다.The frame wing 125 is bent toward the housing body 141 from the frame body 121 fixed to the socket support 143 and fixed to the housing body 141 of the guide housing 140. The frame wing 125 is fixed to the housing body 141 so that the frame body 121 can be stably coupled to the socket support 143. The frame wing 125 includes a connecting wing 126 that is bent from the frame body 121 and a fixed wing 128 that is bent from the connecting wing 126. The connecting wing 126 is bent from the frame body 121 so as to stand up against the frame body 121, and the fixed wing 128 is bent from the connecting wing 126 so as to be in surface contact with the housing body 141. That is, the connecting wing 126 is bent approximately vertically from the edge of the frame body 121, and the fixed wing 128 is bent approximately vertically from the connecting wing 126 and fixed to the housing body 141.

고정 날개(128)는 제 1 고정부(129)와, 제 2 고정부(130) 및 연결부(131)를 포함한다. 제 1 고정부(129)는 연결 날개(126)에 연결되고, 제 2 고정부(130)는 연결부(131)를 통해 제 1 고정부(129)와 연결된다. 연결부(131)는 제 1 고정부(129)로부터 경사지게 절곡되고, 제 2 고정부(130)는 연결부(131)로부터 절곡되어 제 1 고정부(129)와 실질적으로 평행하게 배치된다. 제 2 고정부(130)에는 프레임 날개 홀(132)이 마련된다. 프레임 날개 홀(132)에는 프레임 날개(125)를 가이드 하우징(140)에 고정하기 위한 고정부재(160)가 삽입될 수 있다.The fixed wing 128 includes a first fixing portion 129, a second fixing portion 130 and a connecting portion 131. The first fixing part 129 is connected to the connecting blade 126, and the second fixing part 130 is connected to the first fixing part 129 through the connecting part 131. The connecting portion 131 is bent inclined from the first fixing portion 129, and the second fixing portion 130 is bent from the connecting portion 131 and disposed substantially parallel to the first fixing portion 129. A frame wing hole 132 is provided in the second fixing part 130. A fixing member 160 for fixing the frame wing 125 to the guide housing 140 may be inserted into the frame wing hole 132.

고정 날개(128)가 고정부재(160)에 의해 가이드 하우징(140)에 고정됨으로써 프레임 날개(125)는 소켓 지지부(143)에 결합된 프레임 바디(121)를 안정적으로 지지할 수 있다. 즉, 하우징 바디(141)에 고정된 프레임 날개(125)는 프레임 바디(121)를 소켓 지지부(143)에 밀착시키는 방향으로 프레임 바디(121)에 탄성력을 가할 수 있다. 따라서, 프레임 바디(121)가 소켓 지지부(143)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있고, 프레임 바디(121)에 결합된 테스트 소켓(110) 또한 소켓 지지부(143)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다.Since the fixed wing 128 is fixed to the guide housing 140 by the fixing member 160, the frame wing 125 can stably support the frame body 121 coupled to the socket support 143. That is, the frame wing 125 fixed to the housing body 141 may apply elastic force to the frame body 121 in a direction in which the frame body 121 is in close contact with the socket support 143. Therefore, the frame body 121 can maintain a state of being stably coupled to the socket support 143, and the test socket 110 coupled to the frame body 121 is also stably coupled to the socket support 143. Can be maintained.

소켓 프레임(120)은 굽힘 변형될 수 있는 다양한 소재로 이루어질 수 있다. 예를 들어, 소켓 프레임(120)은 플라스틱이나, 금속으로 이루어질 수 있다. 소켓 프레임(120)의 제조에 이용될 수 있는 플라스틱으로는, 다양한 환경에서 변형에 강하고 유연성이 뛰어난 폴리이미드(Polyimide) 등이 이용될 수 있다.The socket frame 120 may be made of various materials that can be deformed. For example, the socket frame 120 may be made of plastic or metal. As a plastic that can be used in the manufacture of the socket frame 120, polyimide or the like that is resistant to deformation and has excellent flexibility in various environments may be used.

소켓 프레임(120)의 제조 시, 프레임 바디(121)로부터 연장되는 프레임 날개(125)를 복수 회 절곡함으로써 연결 날개(126)와, 제 1 고정부(129)와, 제 2 고정부(130)와, 연결부(131)를 형성할 수 있다. 프레임 날개(125)를 절곡하는 과정에서 절곡되는 부분에 노치를 다양한 형태로 형성해 놓으면 절곡 작업이 보다 용이하게 이루어질 수 있다. 또한, 프레임 날개(125)에 노치를 형성해 놓으면 절곡된 부분이 쉽게 펴지지 않게 할 수 있다.When manufacturing the socket frame 120, the frame blades 125 extending from the frame body 121 are bent a plurality of times to connect the wing 126, the first fixing portion 129, and the second fixing portion 130 With, it is possible to form the connecting portion 131. In the process of bending the frame wing 125, if the notch is formed in various shapes in the bent portion, the bending operation may be more easily performed. In addition, if a notch is formed in the frame wing 125, the bent portion may not be easily extended.

가이드 하우징(140)은 테스터 기판(10)에 설치되어 테스트 소켓(110)을 지지하고, 피검사 디바이스(20)를 테스트 소켓(110)으로 가이드한다. 가이드 하우징(140)은 피검사 디바이스(20)가 삽입될 수 있는 하우징 개구(142)를 갖는 하우징 바디(141)와, 테스트 소켓(110)을 지지할 수 있도록 하우징 바디(141)의 일면으로부터 돌출되는 소켓 지지부(143)를 구비한다. 하우징 개구(142)는 하우징 바디(141)의 중간 부분에 하우징 바디(141)를 관통하도록 형성된다. 하우징 개구(142)는 피검사 디바이스(20)가 삽입될 수 있도록 피검사 디바이스(20)의 형상에 대응하는 형상을 가질 수 있다.The guide housing 140 is installed on the tester substrate 10 to support the test socket 110 and guides the device under test 20 to the test socket 110. The guide housing 140 protrudes from one surface of the housing body 141 to support the test socket 110 and the housing body 141 having a housing opening 142 into which the device under test 20 can be inserted. The socket support portion 143 is provided. The housing opening 142 is formed to penetrate the housing body 141 in the middle portion of the housing body 141. The housing opening 142 may have a shape corresponding to the shape of the device under test 20 so that the device under test 20 can be inserted.

소켓 지지부(143)는 하우징 개구(142)의 하측으로 돌출됨으로써 테스트 소켓(110)을 하우징 개구(142) 아래에 놓이도록 지지할 수 있다. 소켓 지지부(143)는 하우징 개구(142)의 주위로부터 돌출되는 복수의 지지 돌기(144)를 포함한다. 지지 돌기(144)에는 피검사 디바이스(20)를 테스트 소켓(110) 측으로 가이드하기 위한 가이드부(146)가 구비된다. 피검사 디바이스(20)가 하우징 개구(142)로 삽입될 때 가이드부(146)가 피검사 디바이스(20)의 가장자리에 접할 수 있다. 따라서, 피검사 디바이스(20)는 가이드부(146)에 의해 가이드되어 정자세로 테스트 소켓(110)에 접근할 수 있다.The socket support 143 may support the test socket 110 to be placed under the housing opening 142 by protruding downward from the housing opening 142. The socket support 143 includes a plurality of support protrusions 144 protruding from the periphery of the housing opening 142. The support protrusion 144 is provided with a guide portion 146 for guiding the device under test 20 toward the test socket 110. When the device under test 20 is inserted into the housing opening 142, the guide portion 146 may contact the edge of the device under test 20. Therefore, the device under test 20 can be guided by the guide unit 146 to access the test socket 110 in a normal orientation.

소켓 지지부(143)에는 소켓 프레임(120)의 결합홈(123)에 삽입될 수 있는 고정 돌기(145)가 하측으로 돌출 구비된다. 고정 돌기(145)는 프레임 바디(121)가 소켓 지지부(143)에 결합될 때 프레임 바디(121)의 결합홈(123)에 삽입된다. 고정 돌기(145)가 결합홈(123)에 삽입됨으로써 프레임 바디(121)가 소켓 지지부(143)에서 쉽게 분리되지 못하고 소켓 지지부(143)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다.The socket support portion 143 is provided with a fixing protrusion 145 that can be inserted into the coupling groove 123 of the socket frame 120 protruding downward. The fixing protrusion 145 is inserted into the coupling groove 123 of the frame body 121 when the frame body 121 is coupled to the socket support 143. Since the fixing protrusion 145 is inserted into the coupling groove 123, the frame body 121 is not easily separated from the socket support portion 143 and can be stably coupled to the socket support portion 143.

하우징 바디(141)에는 소켓 프레임(120)의 고정 날개(128)가 수용될 수 있는 장착홈(148)이 형성된다. 고정 날개(128)가 장착홈(148) 속에 삽입되어 고정부재(160)에 의해 고정됨으로써 고정 날개(128)가 유동되지 않고 하우징 바디(141)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다. 또한, 고정 날개(128)가 장착홈(148) 속에 삽입됨으로써 고정 날개(128)가 하우징 바디(141)로부터 돌출되지 않는다. 고정 날개(128)가 하우징 바디(141)에서 돌출되지 않으면 고정부재(160)의 손상 위험이 줄어든다.The housing body 141 is formed with a mounting groove 148 in which the fixed wing 128 of the socket frame 120 can be accommodated. Since the fixed wing 128 is inserted into the mounting groove 148 and fixed by the fixed member 160, the fixed wing 128 is not flowed and can be stably coupled to the housing body 141. In addition, the fixed wing 128 is inserted into the mounting groove 148 so that the fixed wing 128 does not protrude from the housing body 141. If the fixed wing 128 does not protrude from the housing body 141, the risk of damage to the fixed member 160 is reduced.

장착홈(148)은 고정 날개(128)의 제 1 고정부(129)가 수용되는 제 1 수용홈(149)과, 고정 날개(128)의 제 2 고정부(130)가 수용되는 제 2 수용홈(150)을 포함한다. 제 2 수용홈(150)의 깊이는 제 1 수용홈(149)의 깊이보다 깊다. 제 2 고정부(130)의 프레임 날개 홀(132)에 삽입되는 고정부재(160)가 제 2 수용홈(150)에 수용될 수 있다.The mounting groove 148 includes a first receiving groove 149 in which the first fixing part 129 of the fixed wing 128 is accommodated, and a second accommodation in which the second fixing part 130 of the fixing wing 128 is accommodated. It includes a groove 150. The depth of the second receiving groove 150 is deeper than the depth of the first receiving groove 149. The fixing member 160 inserted into the frame wing hole 132 of the second fixing part 130 may be accommodated in the second receiving groove 150.

고정부재(160)가 제 2 수용홈(150)에 수용됨으로써 고정부재(160)는 하우징 바디(141)의 상면으로부터 돌출되지 않고 하우징 바디(141)에 고정될 수 있다. 고정부재(160)는 제 2 수용홈(150)과 연결되는 삽입 홀(152)에 삽입되어 가이드 하우징(140)에 고정될 수 있다. 고정부재(160)는 제 2 고정부(130)의 프레임 날개 홀(132)을 통과하여 삽입 홀(152)에 삽입됨으로써 제 2 고정부(130)에 접하게 되고, 제 2 고정부(130)를 가이드 하우징(140)에 탈부착 시킬 수 있다.Since the fixing member 160 is accommodated in the second receiving groove 150, the fixing member 160 may be fixed to the housing body 141 without protruding from the upper surface of the housing body 141. The fixing member 160 may be inserted into the insertion hole 152 connected to the second receiving groove 150 and fixed to the guide housing 140. The fixing member 160 passes through the frame wing hole 132 of the second fixing part 130 and is inserted into the insertion hole 152 so as to come into contact with the second fixing part 130, and the second fixing part 130. It can be attached or detached to the guide housing 140.

도시된 것과 같이, 고정부재(160)가 볼트 구조로 이루어지는 경우, 삽입 홀(152) 속에는 암나사산이 형성될 수 있다. 볼트 구조의 고정부재(160)는 삽입 홀(152)에 나사 결합됨으로써 고정 날개(128)를 가이드 하우징(140)에 견고하게 고정시킬 수 있다.As shown, when the fixing member 160 is made of a bolt structure, a female thread may be formed in the insertion hole 152. The fixing member 160 of the bolt structure is screwed to the insertion hole 152 so that the fixing wing 128 can be securely fixed to the guide housing 140.

하우징 개구(142)와 제 1 수용홈(149)의 사이에는 연결홈(151)이 형성된다. 연결홈(151)에는 프레임 날개(125)의 연결 날개(126)가 삽입될 수 있다. 연결 날개(126)는 연결홈(151)에 삽입됨으로써 가이드 하우징(140)의 가이드부(146)보다 안쪽으로 돌출되지 않는다. 그리고 연결 날개(126)가 하우징 개구(142)의 안쪽으로 돌출되지 않음으로써 연결 날개(126)가 하우징 개구(142)로 삽입되는 피검사 디바이스(20)와 간섭되지 않고, 피검사 디바이스(20)의 출입을 방해하지 않는다.A connecting groove 151 is formed between the housing opening 142 and the first receiving groove 149. The connecting blade 126 of the frame blade 125 may be inserted into the connecting groove 151. The connecting blade 126 is not inserted into the connecting groove 151 so that it protrudes inward than the guide portion 146 of the guide housing 140. In addition, since the connecting blade 126 does not protrude into the housing opening 142, the connecting blade 126 does not interfere with the device under test 20 inserted into the housing opening 142, and the device under test 20 Do not interfere with the entrance.

이 밖에, 가이드 하우징(140)은 보스부(154)와, 하우징 레그(155)를 포함한다.In addition, the guide housing 140 includes a boss portion 154 and a housing leg 155.

보스부(154)는 삽입 홀(152)에 대응하는 위치에서 하우징 바디(141)로부터 돌출되도록 구비된다. 삽입 홀(152)은 하우징 바디(141)의 상면으로부터 보스부(154)의 하단부를 관통하도록 형성된다.The boss portion 154 is provided to protrude from the housing body 141 at a position corresponding to the insertion hole 152. The insertion hole 152 is formed to penetrate the lower end of the boss portion 154 from the upper surface of the housing body 141.

하우징 레그(155)는 하우징 바디(141)의 일면으로부터 소켓 지지부(143)의 돌출 방향과 같은 방향으로 돌출된다. 하우징 레그(155)는 복수 개가 하우징 바디(141)의 모서리 부분에 구비되어 테스터 기판(10)에 결합될 수 있다. 복수의 하우징 레그(155)는 테스터 기판(10)에 결합되어 하우징 바디(141)를 테스터 기판(10)으로부터 이격시킬 수 있다.The housing leg 155 protrudes from one surface of the housing body 141 in the same direction as the protruding direction of the socket support 143. A plurality of housing legs 155 may be provided at corner portions of the housing body 141 to be coupled to the tester substrate 10. The plurality of housing legs 155 may be coupled to the tester substrate 10 to separate the housing body 141 from the tester substrate 10.

하우징 레그(155)에는 고정 핀(156)과, 하우징 관통구(157)가 구비될 수 있다. 고정 핀(156)은 테스터 기판(10)에 마련되는 홈(미도시)에 삽입됨으로써 테스터 기판(10) 상에서 가이드 하우징(140)의 결합 위치를 결정할 수 있다. 하우징 관통구(157)는 하우징 바디(141)의 상면에서 하우징 레그(155)의 하단부를 관통하도록 형성된다. 하우징 관통구(157)에는 가이드 하우징(140)을 테스터 기판(10)에 고정하기 위한 고정부재(미도시)가 삽입될 수 있다.A fixing pin 156 and a housing through-hole 157 may be provided in the housing leg 155. The fixing pin 156 may be inserted into a groove (not shown) provided in the tester substrate 10 to determine a coupling position of the guide housing 140 on the tester substrate 10. The housing through hole 157 is formed to penetrate the lower end of the housing leg 155 on the upper surface of the housing body 141. A fixing member (not shown) for fixing the guide housing 140 to the tester substrate 10 may be inserted into the housing through-hole 157.

테스트 소켓 조립체(100)는 도 6 및 도 7에 나타낸 것과 같은 방식으로 조립될 수 있다.The test socket assembly 100 can be assembled in the same manner as shown in FIGS. 6 and 7.

먼저, 테스트 소켓(110)을 소켓 프레임(120)에 결합하고, 테스트 소켓(110)이 결합된 소켓 프레임(120)을 가이드 하우징(140)에 조립한다. 소켓 프레임(120)을 가이드 하우징(140)에 조립할 때, 프레임 바디(121)의 결합홈(123)에 소켓 지지부(143)의 고정 돌기(145)가 삽입되도록 프레임 바디(121)를 소켓 지지부(143)에 장착한다. 그리고 고정 날개(128)를 가이드 하우징(140)의 장착홈(148)에 장착한다. 프레임 날개(125)는 탄성 변형 가능하므로, 고정 날개(128)를 장착홈(148)에 장착하는 작업이 쉽게 이루어질 수 있다. 이후, 고정부재(160)를 고정 날개(128)의 프레임 날개 홀(132)을 통과시켜 가이드 하우징(140)의 삽입 홀(152)에 삽입함으로써 소켓 프레임(120)을 가이드 하우징(140)에 단단히 고정할 수 있다.First, the test socket 110 is coupled to the socket frame 120, and the socket frame 120 to which the test socket 110 is coupled is assembled to the guide housing 140. When assembling the socket frame 120 to the guide housing 140, the frame body 121 is inserted into the socket support portion (145) so that the fixing protrusion 145 of the socket support portion 143 is inserted into the coupling groove 123 of the frame body 121. 143). Then, the fixed wing 128 is mounted to the mounting groove 148 of the guide housing 140. Since the frame wing 125 is elastically deformable, the operation of mounting the fixed wing 128 to the mounting groove 148 can be easily performed. Thereafter, the socket frame 120 is firmly inserted into the guide housing 140 by inserting the fixing member 160 through the frame wing hole 132 of the fixed wing 128 into the insertion hole 152 of the guide housing 140. Can be fixed.

이때, 프레임 날개(125)가 프레임 바디(121)를 소켓 지지부(143)에 밀착시키는 방향으로 프레임 바디(121)에 탄성력을 가할 수 있다. 따라서, 프레임 바디(121)가 소켓 지지부(143)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있고, 프레임 바디(121)에 결합된 테스트 소켓(110) 또한 소켓 지지부(143)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다.At this time, the frame wing 125 may apply elastic force to the frame body 121 in a direction in which the frame body 121 is in close contact with the socket support portion 143. Therefore, the frame body 121 can maintain a state of being stably coupled to the socket support 143, and the test socket 110 coupled to the frame body 121 is also stably coupled to the socket support 143. Can be maintained.

이러한 테스트 소켓 조립체(100)는 도 8에 나타낸 것과 같이, 테스터 기판(10)에 설치되어 피검사 디바이스(20)와 테스터 기판(10) 사이에서 전기 신호를 전달할 수 있다. 이때, 가이드 하우징(140)의 하우징 레그(155)가 테스터 기판(10)에 고정되어 하우징 바디(141)를 테스터 기판(10)으로부터 이격되도록 지지할 수 있다. 그리고 하우징 바디(141)로부터 돌출되는 소켓 지지부(143)에 장착된 테스트 소켓(110)은 테스터 기판(10)에 구비되는 복수의 기판 단자(11)와 접촉할 수 있다. 이와 같이, 테스트 소켓(110)이 하우징 바디(141)로부터 돌출된 소켓 지지부(143)에 장착되므로, 테스트 소켓(110)은 기판 단자(11)에 인접하도록 테스터 기판(10)에 설치되는 수동소자(12)와 간섭되지 않고 기판 단자(11)와 원활하게 연결될 수 있다.8, the test socket assembly 100 may be installed on the tester substrate 10 to transmit electrical signals between the device under test 20 and the tester substrate 10. At this time, the housing leg 155 of the guide housing 140 is fixed to the tester substrate 10 to support the housing body 141 to be spaced apart from the tester substrate 10. In addition, the test socket 110 mounted on the socket support 143 protruding from the housing body 141 may contact a plurality of substrate terminals 11 provided on the tester substrate 10. As described above, since the test socket 110 is mounted on the socket support 143 protruding from the housing body 141, the test socket 110 is a passive element installed on the tester board 10 to be adjacent to the substrate terminal 11 It can be smoothly connected to the substrate terminal 11 without interfering with (12).

피검사 디바이스(20)에 대한 전기적 테스트가 진행되는 경우, 피검사 디바이스(20)가 픽커(미도시)에 의해 테스트 소켓(110) 위로 운반된다. 이때, 가이드 하우징(140)이 피검사 디바이스(20)를 테스트 소켓(110) 위로 가이드할 수 있다. 따라서, 피검사 디바이스(20)의 디바이스 단자(21)가 테스트 소켓(110)의 도전부(111)에 안정적으로 접촉될 수 있다.When the electrical test for the device under test 20 is performed, the device under test 20 is carried over the test socket 110 by a picker (not shown). At this time, the guide housing 140 may guide the device under test 20 over the test socket 110. Therefore, the device terminal 21 of the device under test 20 can stably contact the conductive portion 111 of the test socket 110.

상술한 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체(100)는 신호 전달을 위한 도전부(111)를 갖는 테스트 소켓(110)이 가이드 하우징(140)의 하우징 바디(141)로부터 돌출된 소켓 지지부(143)에 장착되므로, 테스트 소켓(110)이 테스터 기판(10)에 설치되는 수동소자(12)와 간섭되지 않고 기판 단자(11)와 전기적으로 연결될 수 있다. 따라서, 종래와 같이 복수의 소자가 적층된 다층 구조의 테스트 소켓을 사용하지 않고 단층 구조의 테스트 소켓(110)으로 안정적인 신호 전달이 가능하다. 그리고 단층 구조의 테스트 소켓(110)을 이용함으로써 고속 통신 속도가 요구되는 테스트에 활용될 수 있다.As described above, in the test socket assembly 100 according to an embodiment of the present invention, the test socket 110 having the conductive portion 111 for signal transmission protrudes from the housing body 141 of the guide housing 140. Since it is mounted on the socket support 143, the test socket 110 can be electrically connected to the board terminal 11 without interfering with the passive element 12 installed on the tester board 10. Therefore, it is possible to stably transmit a signal to the test socket 110 of a single layer structure without using a test socket of a multi-layer structure in which a plurality of devices are stacked as in the prior art. In addition, by using the test socket 110 having a single layer structure, it can be utilized for tests requiring high-speed communication speed.

또한, 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 소켓 조립체(100)는 테스트 소켓(110)이 절곡된 구조의 소켓 프레임(120)을 통해 가이드 하우징(140)에 간단하게 결합될 수 있다. 따라서, 구조가 단순하고, 제조 단가가 절감되며, 제조 시간이 단축될 수 있다.In addition, the test socket assembly 100 according to an embodiment of the present invention may be simply coupled to the guide housing 140 through a socket frame 120 having a structure in which the test socket 110 is bent. Therefore, the structure is simple, the manufacturing cost is reduced, and the manufacturing time can be shortened.

한편, 도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 단면도이다.On the other hand, Figure 9 is a cross-sectional view showing a test socket assembly according to another embodiment of the present invention.

도 8에 나타낸 테스트 소켓 조립체(200)는 전기 신호 전달을 위한 테스트 소켓(110)과, 테스트 소켓(110)에 결합되는 소켓 프레임(120)과, 테스터 기판(10)에 설치되어 피검사 디바이스(20)를 가이드하는 가이드 하우징(140)과, 소켓 프레임(120)의 프레임 날개(125)를 가이드 하우징(140)에 고정하기 위한 고정부재(160)를 포함한다.The test socket assembly 200 shown in FIG. 8 is installed on the test socket 110 for electric signal transmission, the socket frame 120 coupled to the test socket 110, and the tester substrate 10, and the device under test ( 20) a guide housing 140 for guiding, and a fixing member 160 for fixing the frame wing 125 of the socket frame 120 to the guide housing 140.

이러한 테스트 소켓 조립체(200)는 앞서 설명한 테스트 소켓 조립체(100)와 비교하여 고정부재(160)의 결합 방향이 변경된 것이다. 즉, 고정부재(160)는 보스부(154)의 하단부로부터 삽입 홀(152)에 삽입되며, 삽입 홀(152)을 통과하여 프레임 날개(125)의 프레임 날개 홀(132)에 결합될 수 있다.The test socket assembly 200 is one in which the coupling direction of the fixing member 160 is changed compared to the test socket assembly 100 described above. That is, the fixing member 160 is inserted into the insertion hole 152 from the lower end of the boss portion 154, may pass through the insertion hole 152 and be coupled to the frame wing hole 132 of the frame wing 125. .

이 밖에, 고정부재는 도시된 것과 같은 볼트 구조 이외에, 가이드 하우징(140)에 결합되어 프레임 날개(125)를 가이드 하우징(140)에 고정할 수 있는 다양한 다른 구조로 변경될 수 있다.In addition, the fixing member may be changed to various other structures capable of fixing the frame wing 125 to the guide housing 140 by being coupled to the guide housing 140 in addition to the bolt structure as shown.

한편, 도 10은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 사시도이고, 도 11은 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 조립체를 나타낸 단면도이며, 도 12는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 테스트 소켓 조립체의 조립 과정을 설명하기 위한 것이다.On the other hand, Figure 10 is a perspective view showing a test socket assembly according to another embodiment of the present invention, Figure 11 is a cross-sectional view showing a test socket assembly according to another embodiment of the present invention, Figure 12 is another view of the present invention For explaining the assembly process of the test socket assembly according to the embodiment.

도 10 내지 도 12에 나타낸 테스트 소켓 조립체(300)는 전기 신호 전달을 위한 테스트 소켓(110)과, 테스트 소켓(110)에 결합되는 소켓 프레임(310)과, 테스터 기판(10)에 설치되어 피검사 디바이스(20)를 가이드하는 가이드 하우징(320)과, 소켓 프레임(310)을 가이드 하우징(320)에 고정하기 위한 고정부재(160)를 포함한다. 이러한 테스트 소켓 조립체(300)는 앞서 설명한 테스트 소켓 조립체(100)와 비교하여 소켓 프레임(310)과 가이드 하우징(320)의 일부 구성이 변형된 것으로, 테스트 소켓(110)은 상술한 것과 같다.The test socket assembly 300 shown in FIGS. 10 to 12 is installed on a test socket 110 for electric signal transmission, a socket frame 310 coupled to the test socket 110, and a tester substrate 10 to be avoided. It includes a guide housing 320 for guiding the inspection device 20, and a fixing member 160 for fixing the socket frame 310 to the guide housing 320. The test socket assembly 300 is a modified portion of the socket frame 310 and the guide housing 320 compared to the test socket assembly 100 described above, and the test socket 110 is the same as described above.

소켓 프레임(310)은 가이드 하우징(320)에 구비되는 소켓 지지부(143)에 고정되는 프레임 바디(121)와, 프레임 바디(121)로부터 절곡되어 가이드 하우징(320)의 하우징 바디(141)에 고정되는 프레임 날개(311)를 포함한다. 여기에서, 프레임 바디(121)는 테스트 소켓(110)과 결합되어 소켓 지지부(143)에 고정되는 것으로 앞서 설명한 것과 같다.The socket frame 310 is fixed to the frame body 121 fixed to the socket support portion 143 provided in the guide housing 320 and is bent from the frame body 121 and fixed to the housing body 141 of the guide housing 320. It includes a frame wing 311. Here, the frame body 121 is coupled to the test socket 110 and fixed to the socket support 143, as described above.

프레임 날개(311)는 프레임 바디(121)로부터 하우징 바디(141) 측으로 절곡되어 하우징 바디(141)에 고정된다. 프레임 날개(311)는 프레임 바디(121)로부터 절곡되는 연결 날개(312)와, 연결 날개(312)로부터 절곡되는 고정 날개(314)를 포함한다. 연결 날개(312)는 프레임 바디(121)의 가장자리로부터 대략 수직으로 절곡된다. 고정 날개(314)는 연결 날개(312)로부터 대략 수직으로 절곡되어 하우징 바디(141)에 고정된다.The frame wing 311 is bent from the frame body 121 toward the housing body 141 and fixed to the housing body 141. The frame wing 311 includes a connecting wing 312 bent from the frame body 121 and a fixed wing 314 bent from the connecting wing 312. The connecting wing 312 is bent approximately vertically from the edge of the frame body 121. The fixed wing 314 is bent approximately vertically from the connecting wing 312 and fixed to the housing body 141.

고정 날개(314)는 제 1 고정부(315)와, 제 2 고정부(316)와, 제 3 고정부(317)를 포함한다. 제 1 고정부(315)는 연결 날개(312)에 연결되고, 제 2 고정부(316)는 제 1 연결부(318)를 통해 제 1 고정부(315)와 연결된다. 제 1 연결부(318)는 제 1 고정부(315)로부터 경사지게 절곡된다. 제 2 고정부(316)는 제 1 연결부(318)로부터 절곡되어 제 1 고정부(315)보다 낮은 위치에서 제 1 고정부(315)와 실질적으로 평행하게 배치된다. 제 3 고정부(317)는 제 2 연결부(319)를 통해 제 2 고정부(316)와 연결된다. 제 2 연결부(319)는 제 2 고정부(316)로부터 경사지게 절곡된다. 제 3 고정부(317)는 제 2 연결부(319)로부터 절곡되어 제 1 고정부(315)와 대략 같은 높이에서 제 1 고정부(315)와 실질적으로 평행하게 배치된다. 제 3 고정부(317)에는 프레임 날개 홀(320)이 마련된다. 프레임 날개 홀(320)에는 고정부재(160)가 삽입될 수 있다. 고정 날개(314)는 고정부재(160)를 통해 가이드 하우징(320)에 견고하게 고정될 수 있다.The fixed wing 314 includes a first fixed portion 315, a second fixed portion 316, and a third fixed portion 317. The first fixing part 315 is connected to the connecting blade 312, and the second fixing part 316 is connected to the first fixing part 315 through the first connecting part 318. The first connecting portion 318 is bent inclined from the first fixing portion 315. The second fixing portion 316 is bent from the first connecting portion 318 and is disposed substantially parallel to the first fixing portion 315 at a lower position than the first fixing portion 315. The third fixing part 317 is connected to the second fixing part 316 through the second connecting part 319. The second connecting portion 319 is bent inclined from the second fixing portion 316. The third fixing portion 317 is bent from the second connecting portion 319 and disposed substantially parallel to the first fixing portion 315 at the same height as the first fixing portion 315. A frame wing hole 320 is provided in the third fixing part 317. A fixing member 160 may be inserted into the frame wing hole 320. The fixed wing 314 may be securely fixed to the guide housing 320 through the fixing member 160.

가이드 하우징(320)은 하우징 개구(142)를 갖는 하우징 바디(141)와, 테스트 소켓(110)을 지지할 수 있도록 하우징 바디(141)의 일면으로부터 돌출되는 소켓 지지부(143)를 구비한다. 소켓 지지부(143)는 앞서 설명한 것과 같다.The guide housing 320 includes a housing body 141 having a housing opening 142 and a socket support 143 protruding from one surface of the housing body 141 to support the test socket 110. The socket support 143 is as described above.

하우징 바디(141)에는 소켓 프레임(310)의 고정 날개(314)가 수용될 수 있는 장착홈(321)이 형성된다. 장착홈(321)은 고정 날개(314)의 제 1 고정부(315)가 수용되는 제 1 수용홈(322)과, 제 2 고정부(316)가 수용되는 제 2 수용홈(323)과, 제 3 고정부(317)가 삽입되는 제 3 수용홈(324)을 포함한다. 제 1 수용홈(322)은 하우징 바디(141)의 상면으로부터 외측으로 개방되고, 제 2 수용홈(323) 및 제 3 수용홈(324)은 하우징 바디(141)의 하면으로부터 외측으로 개방된다. 제 3 수용홈(324)의 깊이는 제 2 수용홈(323)의 깊이보다 깊다. 제 3 고정부(317)의 프레임 날개 홀(320)에 삽입되는 고정부재(160)가 제 3 수용홈(324)에 수용된다. 고정부재(160)는 제 3 수용홈(324)과 연결되는 삽입 홀(326)에 삽입되어 가이드 하우징(320)에 고정될 수 있다. 삽입 홀(326)은 하우징 바디(141)의 상면으로부터 돌출되는 보스부(328)까지 연장된다.The housing body 141 is formed with a mounting groove 321 into which the fixed wing 314 of the socket frame 310 can be accommodated. The mounting groove 321 includes a first receiving groove 322 in which the first fixing portion 315 of the fixed wing 314 is accommodated, and a second receiving groove 323 in which the second fixing portion 316 is accommodated, And a third receiving groove 324 into which the third fixing part 317 is inserted. The first receiving groove 322 is opened outward from the upper surface of the housing body 141, and the second receiving groove 323 and the third receiving groove 324 are opened outward from the lower surface of the housing body 141. The depth of the third receiving groove 324 is deeper than the depth of the second receiving groove 323. The fixing member 160 inserted into the frame wing hole 320 of the third fixing portion 317 is accommodated in the third receiving groove 324. The fixing member 160 may be inserted into the insertion hole 326 connected to the third receiving groove 324 and fixed to the guide housing 320. The insertion hole 326 extends from the upper surface of the housing body 141 to the boss portion 328 protruding.

하우징 개구(142)와 제 1 수용홈(322)의 사이에는 연결홈(325)이 형성된다. 연결홈(325)에는 프레임 날개(311)의 연결 날개(312)가 삽입될 수 있다. 연결 날개(312)가 연결홈(325)에 삽입됨으로써 연결 날개(312)가 가이드 하우징(320)의 가이드부(146)보다 안쪽으로 돌출되지 않는다.A connecting groove 325 is formed between the housing opening 142 and the first receiving groove 322. A connecting wing 312 of the frame wing 311 may be inserted into the connecting groove 325. The connecting blade 312 is inserted into the connecting groove 325 so that the connecting blade 312 does not protrude inwardly than the guide portion 146 of the guide housing 320.

이러한 테스트 소켓 조립체(300)는 테스트 소켓(110)이 소켓 프레임(310)에 결합된 상태에서 소켓 프레임(310)이 가이드 하우징(320)에 결합되는 방식으로 조립될 수 있다. 소켓 프레임(310)을 가이드 하우징(320)에 조립할 때, 프레임 바디(121)의 결합홈(123)에 소켓 지지부(143)의 고정 돌기(145)가 삽입되도록 프레임 바디(121)를 소켓 지지부(143)에 장착하고 고정 날개(314)를 가이드 하우징(320)의 장착홈(321)에 장착한다. 프레임 날개(311)는 탄성 변형 가능하므로, 고정 날개(314)를 장착홈(321)에 장착하는 작업이 어렵지 않게 이루어질 수 있다. 이후, 고정부재(160)를 하우징 바디(141)의 하부로부터 고정 날개(314)의 프레임 날개 홀(320)을 통과시켜 가이드 하우징(320)의 삽입 홀(326)에 삽입함으로써 소켓 프레임(310)을 가이드 하우징(320)에 단단히 고정할 수 있다.The test socket assembly 300 may be assembled in such a way that the socket frame 310 is coupled to the guide housing 320 while the test socket 110 is coupled to the socket frame 310. When assembling the socket frame 310 to the guide housing 320, the frame body 121 is inserted into the socket support portion (145) so that the fixing protrusion 145 of the socket support portion 143 is inserted into the coupling groove 123 of the frame body 121. 143) and the fixed wing 314 to the mounting groove 321 of the guide housing 320. Since the frame wing 311 is elastically deformable, the operation of attaching the fixed wing 314 to the mounting groove 321 may not be difficult. Then, the socket frame 310 by inserting the fixing member 160 through the frame wing hole 320 of the fixed wing 314 from the lower portion of the housing body 141 into the insertion hole 326 of the guide housing 320. Can be securely fixed to the guide housing 320.

이때, 프레임 날개(311)가 프레임 바디(121)를 소켓 지지부(143)에 밀착시키는 방향으로 프레임 바디(121)에 탄성력을 가할 수 있으므로, 프레임 바디(121)가 소켓 지지부(143)에 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다. 그리고 프레임 바디(121)에 결합된 테스트 소켓(110) 또한 소켓 지지부(143)에서 유동되지 않고 안정적으로 결합된 상태를 유지할 수 있다.At this time, since the frame wing 311 can apply elastic force to the frame body 121 in a direction in which the frame body 121 is in close contact with the socket support portion 143, the frame body 121 is stably applied to the socket support portion 143. You can stay bound. In addition, the test socket 110 coupled to the frame body 121 may also maintain a stably coupled state without flowing from the socket support 143.

이상 본 발명에 대해 바람직한 예를 들어 설명하였으나 본 발명의 범위가 앞에서 설명되고 도시되는 형태로 한정되는 것은 아니다.The present invention has been described as a preferred example, but the scope of the present invention is not limited to the form described and illustrated above.

예를 들어, 도면에는 소켓 프레임이 테스트 소켓(110)이 결합되는 프레임 바디와, 프레임 바디에 연결되는 두 개의 프레임 날개를 포함하는 것으로 나타냈으나, 프레임 날개의 개수는 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 프레임 날개는 도시된 구조 이외에, 한번 이상 절곡된 다양한 다른 구조로 변경될 수 있다.For example, although the drawing shows that the socket frame includes a frame body to which the test socket 110 is coupled and two frame wings connected to the frame body, the number of frame wings can be variously changed. In addition, the frame wing may be changed to various other structures that are bent more than once, in addition to the illustrated structure.

또한, 도면에는 테스터 기판(10)에 설치되는 가이드 하우징의 하우징 바디에 테스터 기판(10)에 접할 수 있는 복수의 하우징 레그가 구비되는 것으로 나타냈으나, 하우징 레그가 생략된 형태의 가이드 하우징도 가능하다. 이 경우, 테스터 기판(10)에 테스터 기판(10)으로부터 돌출되는 돌출 구조를 마련하고, 이러한 돌출 구조를 이용하여 하우징 바디를 테스터 기판(10)으로부터 이격시킬 수 있다.In addition, although the drawings show that the housing body of the guide housing installed on the tester substrate 10 is provided with a plurality of housing legs that can contact the tester substrate 10, a guide housing in which the housing legs are omitted is also possible. Do. In this case, a protruding structure protruding from the tester substrate 10 may be provided on the tester substrate 10, and the housing body may be spaced apart from the tester substrate 10 using the protruding structure.

또한, 도면에는 가이드 하우징의 소켓 지지부(143)가 복수의 지지 돌기(144)를 포함하는 것으로 나타냈으나, 소켓 지지부(143)는 하우징 개구(142)의 하측으로 돌출됨으로써 테스트 소켓(110)을 하우징 개구(142) 아래에 놓이도록 지지할 수 있는 다양한 다른 구조로 변경될 수 있다.In addition, although the drawing shows that the socket support portion 143 of the guide housing includes a plurality of support protrusions 144, the socket support portion 143 protrudes downward from the housing opening 142 to test the socket 110. It can be modified to a variety of other structures that can be supported to lie beneath the housing opening 142.

또한, 도면에는 가이드 하우징(140)의 소켓 지지부(143)에 고정 돌기(145)가 구비되고 소켓 프레임(120)의 프레임 바디(121)에 결합홈(123)이 마련된 것으로 나타냈으나, 고정 돌기와 결합홈의 위치는 반대로 바뀔 수 있다.In addition, the drawing shows that the fixing protrusion 145 is provided on the socket support portion 143 of the guide housing 140 and the coupling groove 123 is provided on the frame body 121 of the socket frame 120. The position of the coupling groove can be reversed.

이상, 본 발명을 본 발명의 원리를 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 그와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용으로 한정되는 것이 아니다. 오히려 첨부된 청구범위의 사상 및 범위를 일탈함이 없이 본 발명에 대한 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.Above, the present invention has been shown and described in connection with a preferred embodiment for illustrating the principles of the present invention, but the present invention is not limited to the configuration and operation as shown and described. Rather, those skilled in the art will appreciate that many changes and modifications to the present invention are possible without departing from the spirit and scope of the appended claims.

100, 200, 300 : 테스트 소켓 조립체
110 : 테스트 소켓 111 : 도전부
112 : 절연부 120, 310 : 소켓 프레임
121 : 프레임 바디 125, 311 : 프레임 날개
126, 312 : 연결 날개 128, 314 : 고정 날개
140, 320 : 가이드 하우징 141 : 하우징 바디
142 : 하우징 개구 143 : 소켓 지지부
148, 321 : 장착홈 151, 325 : 연결홈
155 : 하우징 레그 160 : 고정부재100, 200, 300: test socket assembly
110: test socket 111: conductive portion
112: insulation 120, 310: socket frame
121: frame body 125, 311: frame wings
126, 312: connecting wing 128, 314: fixed wing
140, 320: guide housing 141: housing body
142: housing opening 143: socket support
148, 321: mounting groove 151, 325: connecting groove
155: housing leg 160: fixing member

Claims (8)

피검사 디바이스와 테스터 기판 사이에서 전기 신호를 전달하기 위한 테스트 소켓 조립체에 있어서,
상기 피검사 디바이스의 디바이스 단자와 상기 테스터 기판의 기판 단자를 전기적으로 연결하는 복수의 도전부를 갖는 테스트 소켓;
상기 피검사 디바이스가 삽입될 수 있는 하우징 개구를 갖는 하우징 바디와, 상기 하우징 바디의 일면으로부터 돌출되도록 상기 하우징 개구의 하측에 배치되는 소켓 지지부를 구비하는 가이드 하우징; 및
상기 테스트 소켓을 상기 하우징 개구 아래에 놓이도록 지지하기 위해 상기 테스트 소켓과 결합되어 상기 소켓 지지부에 고정되는 프레임 바디와, 상기 프레임 바디로부터 상기 하우징 바디 측으로 절곡되어 상기 하우징 바디에 고정되는 프레임 날개를 구비하는 소켓 프레임;을 포함하고,
상기 프레임 날개는,
상기 프레임 바디의 가장자리로부터 상기 하우징 바디 측으로 절곡되는 연결 날개와,
상기 연결 날개로부터 상기 하우징 개구로부터 멀어지는 방향으로 절곡되어 상기 하우징 바디에 고정되는 고정 날개를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 조립체.
A test socket assembly for transmitting electrical signals between a device under test and a tester substrate, the test socket assembly comprising:
A test socket having a plurality of conductive parts electrically connecting a device terminal of the device under test and a substrate terminal of the tester substrate;
A guide housing having a housing body having a housing opening into which the device under test can be inserted, and a socket support disposed below the housing opening so as to protrude from one surface of the housing body; And
A frame body coupled to the test socket and fixed to the socket support to support the test socket to be placed under the housing opening, and a frame wing bent from the frame body toward the housing body and fixed to the housing body To include a socket frame;
The frame wing,
A connecting wing bent from the edge of the frame body toward the housing body,
And a fixed wing bent in a direction away from the housing opening from the connecting wing and fixed to the housing body.
삭제delete 제 1 항에 있어서,
상기 연결 날개는 상기 프레임 바디에 대해 세워지도록 상기 프레임 바디로부터 절곡되고, 상기 고정 날개는 상기 하우징 바디에 면접촉 가능하도록 상기 연결 날개로부터 절곡되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 조립체.
According to claim 1,
The connecting wing is bent from the frame body so as to stand up against the frame body, and the fixed wing is bent from the connecting wing so as to be in surface contact with the housing body.
제 3 항에 있어서,
상기 가이드 하우징에는 상기 고정 날개가 수용될 수 있는 장착홈이 형성되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 조립체.
The method of claim 3,
Test socket assembly, characterized in that the guide housing is formed with a mounting groove for accommodating the fixed wing.
제 1 항에 있어서,
상기 프레임 날개에 접하여 상기 프레임 날개를 상기 가이드 하우징에 탈부착 할 수 있도록 상기 가이드 하우징에 형성되는 삽입 홀에 삽입되는 고정부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 조립체.
According to claim 1,
And a fixing member inserted into an insertion hole formed in the guide housing so as to be in contact with the frame wing and attach and detach the frame wing to the guide housing.
제 1 항에 있어서,
상기 소켓 지지부와 상기 프레임 바디 중 어느 하나에는 결합홈이 마련되고, 다른 하나에는 상기 결합홈에 삽입되는 고정 돌기가 구비되는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 조립체.
According to claim 1,
A test socket assembly, characterized in that a coupling groove is provided in one of the socket support portion and the frame body, and a fixing protrusion inserted into the coupling groove is provided in the other.
제 1 항에 있어서,
상기 도전부는,
탄성 절연물질과,
상기 탄성 절연물질 내에 함유되어 있는 다수의 도전성 입자를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 조립체.
According to claim 1,
The conductive portion,
Elastic insulating material,
Test socket assembly comprising a plurality of conductive particles contained in the elastic insulating material.
제 1 항에 있어서,
상기 가이드 하우징은,
상기 테스터 기판에 결합되어 상기 하우징 바디를 상기 테스터 기판으로부터 이격시킬 수 있도록 상기 하우징 바디의 일단으로부터 돌출되는 복수의 하우징 레그를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 소켓 조립체.According to claim 1,
The guide housing,
A test socket assembly comprising a plurality of housing legs protruding from one end of the housing body coupled to the tester substrate to separate the housing body from the tester substrate.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021137527A1 (en) * 2019-12-30 2021-07-08 신종천 Test socket assembly
WO2022134853A1 (en) * 2020-12-22 2022-06-30 青岛海尔智慧厨房电器有限公司 Convenient testing device, and oven
KR20240010156A (en) * 2022-07-15 2024-01-23 주식회사 오킨스전자 Semiconductor test apparatus

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102393083B1 (en) * 2020-08-21 2022-05-03 주식회사 스노우 Conductive particle and testing socket comprsing the same

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070113782A (en) * 2006-05-26 2007-11-29 (주)엠투엔 Probe of a probe card
KR100892606B1 (en) * 2007-08-23 2009-04-08 파워테크 테크놀로지 인코포레이티드 Universal insert tool for fixing a bga package under test
KR100946482B1 (en) * 2004-11-22 2010-03-10 가부시키가이샤 어드밴티스트 Insert and pusher for electronic component handling apparatus, socket guide for test head and electronic component handling apparatus
KR20100095142A (en) * 2009-02-20 2010-08-30 리노공업주식회사 Test socket
KR101490498B1 (en) * 2013-06-18 2015-02-05 주식회사 아이에스시 Insert for test
KR101535229B1 (en) * 2009-05-22 2015-07-08 삼성전자주식회사 universal test socket and semiconductor package testing apparatus using the same
KR101798853B1 (en) 2016-02-12 2017-11-20 리노공업주식회사 A Test Socket
KR102060083B1 (en) * 2019-06-27 2019-12-27 (주) 나노에이스 Support for inspection of semiconductor chips

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4683423A (en) * 1985-10-30 1987-07-28 Precision Monolithics, Inc. Leadless chip test socket
US5180976A (en) * 1987-04-17 1993-01-19 Everett/Charles Contact Products, Inc. Integrated circuit carrier having built-in circuit verification
US5036381A (en) * 1990-06-15 1991-07-30 Motorola, Inc. Multiple electronic devices within a single carrier structure
US5114880A (en) * 1990-06-15 1992-05-19 Motorola, Inc. Method for fabricating multiple electronic devices within a single carrier structure
TWI221529B (en) * 2001-12-28 2004-10-01 Nhk Spring Co Ltd Socket for inspection
US7029288B2 (en) * 2003-03-24 2006-04-18 Che-Yu Li Electrical contact and connector and method of manufacture
KR200443286Y1 (en) * 2007-05-18 2009-02-10 주식회사 아이엠 Probe card and Needle of Probe card
US8044673B1 (en) * 2010-04-28 2011-10-25 Lajos Burgyan Method and apparatus for positioning and contacting singulated semiconductor dies
CN103782182B (en) * 2011-07-12 2016-08-24 英泰斯特股份有限公司 Docking measuring head and the method and apparatus of ancillary equipment
KR101284212B1 (en) * 2012-04-27 2013-07-09 주식회사 아이에스시 Test socket which can be aligned easily
JP2017518505A (en) * 2014-06-20 2017-07-06 エクセラ・コーポレーションＸｃｅｒｒａ Ｃｏｒｐ． Test socket assembly and related methods
KR101961101B1 (en) * 2017-12-07 2019-03-22 (주)티에스이 Rubber socket for test having no-frame structure and manufacturing method thereof
KR101879806B1 (en) * 2017-12-07 2018-07-18 (주)티에스이 Pad for managing history of semiconductor test socket, manufacturing method thereof and semiconductor test device including the same
KR101985464B1 (en) * 2018-01-29 2019-06-03 주식회사 아이에스시 Test socket
KR102089653B1 (en) 2019-12-30 2020-03-16 신종천 Test socket assembly

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100946482B1 (en) * 2004-11-22 2010-03-10 가부시키가이샤 어드밴티스트 Insert and pusher for electronic component handling apparatus, socket guide for test head and electronic component handling apparatus
KR20070113782A (en) * 2006-05-26 2007-11-29 (주)엠투엔 Probe of a probe card
KR100892606B1 (en) * 2007-08-23 2009-04-08 파워테크 테크놀로지 인코포레이티드 Universal insert tool for fixing a bga package under test
KR20100095142A (en) * 2009-02-20 2010-08-30 리노공업주식회사 Test socket
KR101535229B1 (en) * 2009-05-22 2015-07-08 삼성전자주식회사 universal test socket and semiconductor package testing apparatus using the same
KR101490498B1 (en) * 2013-06-18 2015-02-05 주식회사 아이에스시 Insert for test
KR101798853B1 (en) 2016-02-12 2017-11-20 리노공업주식회사 A Test Socket
KR102060083B1 (en) * 2019-06-27 2019-12-27 (주) 나노에이스 Support for inspection of semiconductor chips

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021137527A1 (en) * 2019-12-30 2021-07-08 신종천 Test socket assembly
US11940462B2 (en) 2019-12-30 2024-03-26 Jong Choen Shin Test socket assembly
WO2022134853A1 (en) * 2020-12-22 2022-06-30 青岛海尔智慧厨房电器有限公司 Convenient testing device, and oven
KR20240010156A (en) * 2022-07-15 2024-01-23 주식회사 오킨스전자 Semiconductor test apparatus
KR102652084B1 (en) 2022-07-15 2024-03-29 주식회사 오킨스전자 Semiconductor test apparatus

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US11940462B2 (en) 2024-03-26
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