KR102069032B1 - 확률론적 피로 균열 수명 추정을 위한 방법 및 시스템 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 도 1에 도시된 바와 같은 표면 균열 모델에 대한 주기적인 피로 균열 계산 동안의 최대 응력도 진화(stress intensity evolution)를 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 3은 도 1에 도시된 바와 같은 표면 균열 모델에 대한 주기적인 피로 균열 계산 동안의 균열 크기 진화를 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 4는 파괴 인성 평균값 곡선 및 좌표화된(plotted) 실제값을 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 5는 균열 성장률 평균값 곡선 및 좌표화된 실제값을 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 6은 영률 평균값 곡선 및 실제값을 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 7은 항복 및 극한 항복 강도 평균값 곡선 및 실제값을 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 8은 일 실시형태에 따른 확률론적 피로 균열 수명 추정을 위한 시스템의 개략도이다.
도 9는 일 실시형태에 따른 확률론적 피로 균열 수명 추정을 위한 방법을 도시하는 순서도이다.
도 10은 전류 초음파 검사 기술에 대한 참 결함 크기(TFS)의 함수로서의 검출 확률(PoD)을 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 11은 변환 계수(k)의 산포의 예시적인 표시이다.
도 12는 KSR-, 변환된 KSR-, 및 참 결함 크기의 분포를 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 13은 관통 벽 표면 균열 모델의 기하학적 구조의 개략도이다.
도 14는 적분 단계 크기에 의존하는 균열 크기의 수치 결정을 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 15는 파손 확률 함수(PoF(N))를 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 16은 위험함수(H(N))를 도시하는 예시적인 그래프이다.
도 17은 반경방향 결함 밀도 분포의 예를 도시한다.
도 18a 내지 도 18d는 예시의 임계적 과도 상태 맵을 도시한다.
도 19a 내지 도 19e는 각각 이하의 양, 즉 각속도, 온도, 응력, 파괴 인성, 응력/파괴-인성에 대한 구성요소의 하나의 위치에서의 시간 진화를 나타낸다.
도 20은 소정 작동 사이클 수 후의 파손 맵의 예를 도시한다.
Claims (15)
- 주기적인 응력을 받도록 구성된 구성요소의 피로 균열 수명의 확률론적 추정을 위한 방법(90)이며, 상기 방법(90)은,
- 구성요소의 재료 특성 산포 데이터(90a-g) 및 결함-크기 산포 데이터(90h-j)로부터 구성요소의 복수의 표본을 규정하는 단계로서, 각각의 표본은 구성요소와 관련된 하나의 가능한 재료 조건 및 결함-크기 조건에 의해 규정되는 단계,
- 각각의 개별 표본에 대해, 구성요소 위치를 선택(93)하고 선택된 위치에 있어서의 균열 성장의 결정(95)에 기초하여 상기 개별 표본이 주어진 사이클 수(N) 후에 파손되는지의 여부를 결정(96)하는 단계로서, 균열 성장은 선택된 위치에서의 재료 조건 및 결함-크기 조건에 기초하여 결정(95)되고, 개별 표본의 파손은 균열 성장이 불안정한 것으로 결정되는 경우에 결정(96)되는 단계,
- N 사이클 후에 파손된 표본의 수의 합계를 결정(97)하는 단계, 및
- N 사이클 후에 구성요소의 파손 확률을 PoF(N) = Nf/S로서 결정(99)하는 단계를 포함하고,
여기서,
PoF(N)은 N 사이클 후의 구성요소의 파손 확률이고,
Nf는 N 사이클 후에 파손된 것으로 결정되는 표본의 수의 합계이며,
S는 표본의 총 수인, 방법(90). - 제1항에 있어서, 미리 정해진 사이클 수 후에 파손 맵을 생성시키는 단계를 더 포함하고, 파손 맵은 소정 영역에서의 파손된 표본의 수를 나타내는, 방법(90).
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 각각의 재료 조건은 적어도 파괴 인성(K1c)(90d) 및 균열 성장률(da/dN)(90a)을 포함하는 구성요소의 재료 특성의 산포 데이터(90a-g)로부터 값을 인출함으로써 규정되는, 방법(90).
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 각각의 개별 균열 성장 결정(95)은 선형 탄성 파괴 역학에 기초한 모의실험을 통해 실행되는, 방법(90).
- 제3항에 있어서, 재료 특성은 항복 강도(RP02)(90g) 및/또는 극한 항복 강도(RM)(90f) 및/또는 영률(E)(90e)을 더 포함하는, 방법(90).
- 제3항에 있어서, 구성요소의 재료 조건에 기초하여 구성요소의 임계적 과도 상태 맵을 생성(91a)하는 단계를 더 포함하고, 임계적 과도 상태 맵은 구성요소의 응력 및 온도 분포를 나타내고, 이 구성요소의 각각의 구성요소 위치에는 임계 응력값 및 임계 온도값이 할당되어 있는, 방법(90).
- 제6항에 있어서, 임계적 과도 상태 맵은 과도 유한 요소 분석을 통해 생성(91a)되는, 방법(90).
- 제6항에 있어서, 각각의 개별 표본에는 약간 상이한 응력 및/또는 온도 분포가 할당되어 있는, 방법(90).
- 제1항 또는 제2항에 있어서,
균열 성장은 균열 성장률(da/dN)의 수치 적분에 의해 결정(95)되고,
여기서, 'da'는 균열 크기 증분을 나타내고 'dN'은 사이클 증분을 나타내며,
적분은 적분 단계 크기에 관계없이 항상 균열-성장을 과대추정하는 변형된 룬게-쿠타 적분법을 이용하여 실행되는, 방법(90). - 제1항 또는 제2항에 있어서,
개별 표본의 선택된 위치의 결함-크기 조건은 참 결함 크기 분포 데이터(91b)로부터 획득(94)되고, 참 결함 크기 분포 데이터는,
- 비파괴 시험 표시 결함 크기 분포 데이터(90h),
- 상기 비파괴 시험 기술의 검출 확률(PoD)(90i), 및
- 변환 계수가 k= TFS/KSR 로서 규정되는 변환 계수 분포 데이터(90j)에 기초하여 결정되며,
여기서,
K는 변환 계수를 나타내고,
TFS는 참 결함 크기를 나타내며,
KSR는 비파괴 시험 표시 결함 크기를 나타내는, 방법(90). - 제1항 또는 제2항에 있어서, 사이클 당 위험 또는 위험함수를 H(N+1)=(PoF(N+1)-PoF(N))/(1-PoF(N))로서 결정하는 단계를 더 포함하고,
여기서,
H는 사이클 당 위험 또는 위험함수이고,
N은 사이클 수이고,
PoF는 파손 확률인, 방법(90). - 주기적인 응력 하에 구성요소를 작동시키는 방법이며, 상기 방법은 제1항 또는 제2항에 따른 방법(90)에 의해 추정되는 바와 같은 구성요소의 확률론적 피로 균열 수명을 고려하여 상기 구성요소의 정지 또는 유지보수 간격을 계획하는 단계를 포함하는, 방법.
- 주기적인 응력을 받도록 구성된 구성요소의 피로 균열 수명의 확률론적 추정을 위한 시스템(80)이며, 상기 시스템은,
- 재료 특성 산포 데이터(90a-g) 및 결함-크기 산포 데이터(90h-j)를 저장하기 위한 메모리(81), 및
- 처리 수단(82)을 포함하고, 처리 수단(82)은,
- 메모리 관리를 다루기 위한 복수의 라이브러리를 포함하는 라이브러리 모듈(87)로서, 상기 라이브러리를 이용하여, 구성요소의 복수의 표본이 규정되고, 각각의 표본은 구성요소와 관련된 하나의 가능한 재료 조건 및 결함-크기 조건에 의해 규정되는 라이브러리 모듈(87),
- 상기 표본의 선택된 위치에서의 균열 성장의 결정에 기초하여 주어진 사이클 수(N) 후에 개별 표본이 파손되는지의 여부를 결정하기 위한 파괴 역학 모듈(84)로서, 균열 성장은 선택된 위치에서의 재료 조건 및 결함-크기 조건에 기초하여 결정되고, 개별 표본의 파손은 균열 성장이 불안정한 것으로 결정되는 경우에 결정되고, 파괴 역학 모듈은 복수의 표본의 각각에 대해 상기 파손 결정을 실행하도록 구성되는 파괴 역학 모듈(84), 및
- N 사이클 후의 구성요소의 파손 확률을 PoF(N) = Nf/S로서 결정하기 위한 계산 모듈(85)을 포함하고,
여기서,
PoF(N)은 N 사이클 후의 구성요소의 파손 확률이고,
Nf는 파괴 역학 모듈에 의해 N 사이클 후에 파손된 것으로 결정되는 표본의 수의 합계이며,
S는 표본의 총 수인, 시스템(80). - 제14항에 있어서, 구성요소의 재료 조건에 기초하여 구성요소의 임계적 과도 상태 맵을 생성시키기 위한 유한 요소 분석 모듈(88)을 더 포함하고, 임계적 과도 상태 맵은 구성요소의 응력 및 온도 분포를 나타내며, 이 구성요소의 각각의 구성 요소 위치에는 임계 응력값 및 임계 온도값이 할당되어 있는, 시스템(80).
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Families Citing this family (38)
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JP6323232B2 (ja) * | 2013-11-01 | 2018-05-16 | ソニー株式会社 | 情報処理装置、情報処理方法及びプログラム |
DE102014209858A1 (de) * | 2014-05-23 | 2015-11-26 | Siemens Aktiengesellschaft | Verfahren zur Bestimmung der erwarteten Verteilung der inhärenten Fehlstellen in einem Bauteil |
US9857242B2 (en) * | 2014-06-25 | 2018-01-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Method for analysis of 3D features using a 2D probabilistic analysis |
US10732085B2 (en) | 2015-03-24 | 2020-08-04 | Bell Helicopter Textron Inc. | Notch treatment methods for flaw simulation |
US10094751B2 (en) * | 2015-03-24 | 2018-10-09 | Bell Helicopter Textron Inc. | System and method for determining direct damage tolerance allowables |
US10989640B2 (en) * | 2015-03-24 | 2021-04-27 | Bell Helicopter Textron Inc. | Method for defining threshold stress curves utilized in fatigue and damage tolerance analysis |
US10726171B2 (en) | 2015-05-04 | 2020-07-28 | Sikorsky Aircraft Corporation | System and method for calculating remaining useful life of a component |
CN104850691B (zh) * | 2015-05-05 | 2017-11-10 | 南京市特种设备安全监督检验研究院 | 一种基于多因素融合修正的结构件裂纹扩展预测方法 |
US9841756B2 (en) * | 2015-05-27 | 2017-12-12 | Siemens Energy, Inc. | Scheduling inspections and predicting end-of-life for machine components |
US10502719B2 (en) * | 2015-08-21 | 2019-12-10 | The Boeing Company | Analysis of a structure modeled with inconsistencies mapped thereon |
CN105548005A (zh) * | 2016-01-06 | 2016-05-04 | 武汉理工大学 | 基于sif值评估cfrp加固钢结构疲劳裂纹扩展特性的方法 |
CN106198265B (zh) * | 2016-07-05 | 2019-03-19 | 中国航空工业集团公司北京航空材料研究院 | 一种隔片零件疲劳测试试验装置及试验方法 |
JP6636891B2 (ja) * | 2016-10-07 | 2020-01-29 | 株式会社東芝 | 破壊評価解析装置、破壊評価システム、および破壊評価方法 |
CN106777479B (zh) * | 2016-11-18 | 2020-04-21 | 中国航空动力机械研究所 | 基于梁理论的涡轮叶片非线性蠕变分析方法 |
JP6746512B2 (ja) * | 2017-02-01 | 2020-08-26 | 株式会社東芝 | 破壊評価解析装置、破壊評価解析システムおよび破壊評価解析方法 |
US10678969B2 (en) * | 2017-04-21 | 2020-06-09 | General Electric Company | Usage based lifing |
CN109388820B (zh) * | 2017-08-08 | 2020-10-30 | 北京航空航天大学 | 确定不规则温循剖面下焊点损伤累积完整法则的有限元仿真方法 |
KR101982842B1 (ko) * | 2017-10-26 | 2019-05-27 | 울산과학기술원 | 재료 파괴 특성 분석 장치 및 방법 |
CN107992693B (zh) * | 2017-12-08 | 2021-12-10 | 中国北方发动机研究所(天津) | 一种气缸盖可靠性寿命评价方法 |
CN108845035A (zh) * | 2018-07-06 | 2018-11-20 | 北京领示科技有限公司 | 一种基于超声无损定量检出概率的延寿方法 |
CN110879912A (zh) * | 2018-09-05 | 2020-03-13 | 西门子股份公司 | 疲劳分析方法与装置 |
US11126764B2 (en) * | 2018-10-01 | 2021-09-21 | Palo Alto Research Center Incorporated | Physics-based model particle-filtering framework for predicting RUL using resistance measurements |
WO2020089402A2 (en) | 2018-11-01 | 2020-05-07 | Siemens Aktiengesellschaft | Computer-implemented method for the probabilistic estimation of a probability of failure of a component, a data processing system, a computer program product and a computer-readable storage medium |
IT201800020743A1 (it) * | 2018-12-21 | 2020-06-21 | Milano Politecnico | Sistema per la valutazione probabilistica della fatica di parti in presenza di difetti di fabbricazione |
CN109612806A (zh) * | 2019-02-25 | 2019-04-12 | 北京航空航天大学 | 一种适用于表面裂纹缺陷检出概率试验的高效试件制备及试验方法 |
CN109670278A (zh) * | 2019-02-26 | 2019-04-23 | 沈阳建筑大学 | 一种基于高斯分布的概率疲劳裂纹扩展速率统计分析方法 |
US11137751B2 (en) | 2019-11-05 | 2021-10-05 | Siemens Aktiengesellschaft | System, apparatus, and method for estimating life of components |
WO2022087769A1 (zh) * | 2020-10-26 | 2022-05-05 | 西门子燃气与电力股份有限公司 | 确定机械部件的低周疲劳的方法、装置及存储介质 |
CN112966354B (zh) * | 2021-03-29 | 2022-05-13 | 湖北三江航天江北机械工程有限公司 | 燃气流排导装置抗冲刷能力评估方法 |
CN113533435B (zh) * | 2021-06-28 | 2022-08-05 | 南京航空航天大学 | 一种电位法与复型法相结合的曲线裂纹扩展监测方法 |
CN113609675B (zh) * | 2021-08-04 | 2022-04-15 | 天津大学 | 一种疲劳短裂纹扩展速率预测模型的确定方法及装置 |
CN113836777B (zh) * | 2021-10-26 | 2025-01-24 | 中车青岛四方机车车辆股份有限公司 | 含缺陷焊接结构的概率剩余寿命预测方法及系统 |
CN114112415A (zh) * | 2021-11-19 | 2022-03-01 | 华能国际电力股份有限公司 | 一种燃气轮机高温部件裂纹扩展寿命预测方法 |
CN115019913B (zh) * | 2022-05-12 | 2024-10-22 | 中国航发四川燃气涡轮研究院 | 一种双性能粉末盘疲劳裂纹扩展寿命计算方法 |
CN117057166B (zh) * | 2023-10-11 | 2023-12-26 | 合肥通用机械研究院有限公司 | 应力集中部位裂纹自由表面处应力强度因子的计算方法 |
CN117195665B (zh) * | 2023-11-07 | 2024-01-26 | 湖南大学 | 一种功率半导体器件键合线的寿命预测模型构建方法 |
CN118095019B (zh) * | 2024-04-26 | 2024-09-17 | 西安航天动力研究所 | 一种发动机结构振动疲劳裂纹扩展寿命的计算方法及装置 |
CN119337535A (zh) * | 2024-12-18 | 2025-01-21 | 南京理工大学 | 一种压气机叶轮的剩余强度评估方法、装置及设备 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008170242A (ja) | 2007-01-11 | 2008-07-24 | Fujitsu Ltd | き裂進展評価装置、き裂進展評価方法及びき裂進展評価プログラム |
US20110054806A1 (en) | 2009-06-05 | 2011-03-03 | Jentek Sensors, Inc. | Component Adaptive Life Management |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4265120A (en) * | 1979-05-23 | 1981-05-05 | Rockwell International Corporation | Fatigue detection utilizing acoustic harmonics |
JPH10160646A (ja) * | 1996-12-03 | 1998-06-19 | Toshiba Corp | 構造部材の疲労寿命予測方法 |
US7451657B2 (en) * | 2004-01-16 | 2008-11-18 | Jentek Sensors, Inc. | Material condition monitoring with multiple sensing modes |
US7219044B1 (en) * | 2004-10-07 | 2007-05-15 | Surface Technology Holdings, Ltd. | Method and system for improving a part's resistance to stress induced failure |
US20070068605A1 (en) * | 2005-09-23 | 2007-03-29 | U.I.T., Llc | Method of metal performance improvement and protection against degradation and suppression thereof by ultrasonic impact |
US8768657B2 (en) * | 2006-01-12 | 2014-07-01 | Jentek Sensors, Inc. | Remaining life prediction for individual components from sparse data |
US20120152007A1 (en) * | 2007-01-12 | 2012-06-21 | Richard Holmes | Testing performance of a material for use in a jet engine |
JP4202400B1 (ja) | 2007-07-27 | 2008-12-24 | 三菱重工業株式会社 | き裂進展予測方法及びプログラム |
JP2009069046A (ja) * | 2007-09-14 | 2009-04-02 | Universal Shipbuilding Corp | 疲労き裂シュミュレーションおよび構造物の残余寿命の推定方法 |
US7623973B1 (en) * | 2008-05-05 | 2009-11-24 | Gm Global Technology Operations, Inc. | Methods and systems to predict fatigue life in aluminum castings |
-
2012
- 2012-10-16 US US13/652,671 patent/US9280620B2/en active Active
-
2013
- 2013-09-16 ES ES13762824.4T patent/ES2687228T3/es active Active
- 2013-09-16 CN CN201380062999.6A patent/CN104823191B/zh active Active
- 2013-09-16 JP JP2015537175A patent/JP2015532430A/ja active Pending
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- 2013-09-16 EP EP13762824.4A patent/EP2909760B1/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008170242A (ja) | 2007-01-11 | 2008-07-24 | Fujitsu Ltd | き裂進展評価装置、き裂進展評価方法及びき裂進展評価プログラム |
US20110054806A1 (en) | 2009-06-05 | 2011-03-03 | Jentek Sensors, Inc. | Component Adaptive Life Management |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
"Effect of Powder Cleanliness on the Fatigue Behavior of Powder Metallurgy Ni-Disk Alloy UDIMET 720", SUPERALLOYS 2004 (TENTH INTERNATIONAL SYMPOSIUM), 2004. |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20150074034A (ko) | 2015-07-01 |
EP2909760A1 (en) | 2015-08-26 |
US9280620B2 (en) | 2016-03-08 |
EP2909760B1 (en) | 2018-07-04 |
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JP2015532430A (ja) | 2015-11-09 |
CN104823191B (zh) | 2018-05-22 |
WO2014060160A1 (en) | 2014-04-24 |
ES2687228T3 (es) | 2018-10-24 |
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