KR102055611B1 - 테스트 플랫폼, 검사장치 및 그 제어방법 - Google Patents

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Abstract

검사장치의 검출모듈을 테스트하여 보정　여부를 결정하거나　검사장치의 정도관리(Quality Control)에 사용되는 테스트 플랫폼을 제공한다.
테스트 플랫폼은 바디 및 상기 바디 상에 형성되고, 하나 이상의 색상이 인쇄된 적어도 하나의 기준부재를 포함한다.

Description

테스트 플랫폼, 검사장치 및 그 제어방법{Test platform, test apparatus and control method thereof}
미세유동장치를 통해 생체물질의 검사를 수행하는 검사장치 및 검사장치의 정도관리(Quality Control) 및 보정을 위해 사용되는 테스트 플랫폼에 관한 것이다.
미세유동장치는 소량의 유체를 조작하여 생물학적 또는 화학적인 반응을 수행하는데 사용되는 장치이다.
일반적으로 미세유동장치에서 하나의 독립적인 기능을 수행하는 미세유동 구조물은 유체를 수용하는 챔버와, 유체가 흐를 수 있는 채널 및 유체의 흐름을 조절할 수 있는 수단을 포함하고, 이들의 다양한 조합에 의해 구현될 수 있다. 소형의 칩(chip) 상에서 면역혈청반응 또는 생화학적 반응 등을 포함한 검사를 수행할 수 있도록 칩형태의 기판에 이러한 미세유동 구조물을 배치하고 여러 단계의 처리 및 조작을 수행할 수 있도록 제작된 장치를 랩온어칩(lab-on-a chip)이라 한다.
미세유동 구조물 내에서 유체를 이송하기 위해서는 구동 압력이 필요한데, 구동 압력으로서 모세관압이 이용되기도 하고, 별도의 펌프에 의한 압력이 이용되기도 한다. 최근에는 디스크 형상의 플랫폼에 미세유동 구조물을 배치하고 원심력을 이용하여 유체를 이동시키며 일련의 작업을 수행하는 디스크형 미세유동장치들이 제안되고 있다. 이를 일컬어 랩씨디(Lab CD) 또는 랩온어디스크(Lab-on a disk)라 하기도 한다.
미세유동장치는 분석대상물질이나 피검물질을 검출하기 위한 챔버 또는 반응지와 같은 검출대상물을 포함한다.
검사장치는 이러한 미세유동장치의 검출대상물을 검출하기 위해 발광부와 수광부를 구비하여 검출대상물에서 일어나는 생화학 반응의 결과를 검출하는 장치로 혈액검사기를 포함한다.
본 발명의 일 측면은 검사장치의 검출모듈을 테스트하여 보정　여부를 결정하거나　검사장치의 정도관리(Quality Control)에 사용되는 플랫폼으로서, 검출모듈의 테스트를 위한 색상이 인쇄된 기준부재를 포함하는 테스트 플랫폼을 제공한다.
본 발명의 다른 측면은 테스트 플랫폼를 이용하여 검출모듈의 보정 여부를 결정하고 정도관리를 수행하는 검사장치를 제공한다.
　
본 발명의 일 측면에 따른 테스트 플랫폼은 바디; 및 상기 바디 상에 형성되고, 하나 이상의 색상이 인쇄된 적어도 하나의 기준부재(reference material);를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 색상은, 인쇄된 형태, 밝기 및 두께 중 적어도 하나가 서로 다를 수 있다.
또한, 상기 테스트 플랫폼과 관련된 정보를 저장하는 태그를 포함할 수 있다.
또한, 상기 태그는 상기 바디 상에 형성되고, 바코드, QR코드 또는 RFID태그를 포함할 수 있다.
또한, 상기 태그는, 상기 테스트 플랫폼의 식별을 위한 식별정보 및 검사장치의 테스트를 위한 기준값을 포함할 수 있다.
또한, 상기 기준값은, 상기 검사장치에서 검출한 상기 기준부재에 대한 검출결과의 기준값으로, 상기 기준부재 별로 미리 설정된 기준범위를 포함할 수 있다.
또한, 상기 적어도 하나의 기준부재를 수용하는 수용부를 포함할 수 있다.
또한, 상기 적어도 하나의 기준부재 및 상기 태그와 인접한 위치에 마련되는 자성체를 포함할 수 있다.
또한, 상기 기준부재는 하나 이상의 색상이 인쇄된 인쇄 필름이 반응지에 부착되어 형성될 수 있다.
또한, 상기 바디는 디스크 형태를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 측면에 따른 검사장치는 테스트 플랫폼에 광을 조사하는 발광부; 상기 테스트 플랫폼을 사이에 두고 상기 발광부와 마주 보는 위치에 마련되는 수광부를 포함하는 검출모듈; 및 상기 테스트 플랫폼의 태그에 저장된 상기 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 포함하는 정보를 수신하고, 상기 검출모듈에서 상기 기준부재를 투과한 광을 검출하면 상기 검출결과를 상기 기준값과 비교하여 상기 검출모듈의 보정여부를 결정하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 회전 구동부; 및 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 검출모듈 구동부;를 포함하고, 상기 제어부는 상기 검출모듈의 수광부가 상기 태그 또는 기준부재와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키고, 상기 태그 또는 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시킬 수 있다.
또한, 상기 발광부는 면광원 백 라이트 유닛(Back Light Unit)을 포함할 수 있다.
또한, 상기 수광부는 CCD 이미지센서 또는 CMOS 이미지센서를 포함할 수 있다.
또한, 상기 테스트 플랫폼은 상기 태그 및 기준부재에 인접한 위치에 마련되는 자성체를 포함하고, 상기 검출모듈은 상기 태그 및 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치에서 정지하도록 상기 자성체에 인력을 작용하는 자석을 포함할 수 있다.
또한, 상기 제어부는 상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 자성체와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키고, 상기 테스트 플랫폼의 자성체가 상기 검출모듈의 자석과 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시킬 수 있다.
또한, 상기 제어부는, 상기 검출모듈의 수광부에서 상기 태그를 판독하여 획득한 상기 테스트 플랫폼의 식별을 위한 식별정보 및 상기 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 수신하고, 상기 식별정보를 통해 상기 플랫폼이 검출모듈의 테스트를 위한 테스트 플랫폼임을 확인하고, 상기 검출모듈의 수광부에서 상기 기준부재에 인쇄된 색상을 투과한 광을 검출하면 상기 검출 결과를 수신하여 상기 검출모듈의 테스트를 위한 기준값과 비교하고, 상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면 상기 검출모듈의 수광부를 보정할 수 있다.
또한, 상기 기준값은, 상기 검출모듈의 수광부에서 검출한 상기 기준부재에 대한 검출결과의 기준값으로, 상기 기준부재 별로 미리 설정된 기준범위를 포함할 수 있다.
또한, 상기 제어부는, 상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면, 상기 수광부의 검출결과가 상기 기준값에 대응하도록 상기 수광부의 검출조건을 보정하고, 상기 수광부의 검출조건을 보정하면, 상기 수광부에서 상기 기준부재에 인쇄된 색상을 투과한 광을 재검출하도록 하여 상기 재검출결과가 상기 기준값에 대응하는지 확인할 수 있다.
본 발명의 일 측면에 따른 검사장치의 제어방법은 테스트 플랫폼의 태그에 저장된 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 포함하는 정보를 수신하고; 상기 검출모듈에서 상기 기준부재를 투과한 광을 검출하면 상기 검출결과를 상기 기준값과 비교하고; 상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면 상기 검출모듈의 수광부를 보정하는 것을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 테스트 플랫폼의 태그에 저장된 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 포함하는 정보를 수신하는 것은, 상기 검출모듈의 수광부가 상기 태그와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키고; 상기 태그가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키고; 상기 수광부에서 상기 태그를 판독하여 상기 테스트 플랫폼의 식별을 위한 식별정보 및 상기 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 획득하면, 이를 수신하여 저장하고; 상기 식별정보를 통해 상기 플랫폼이 상기 검출모듈의 테스트를 위한 테스트 플랫폼임을 확인하는 것;을 포함할 수 있다.
또한, 상기 테스트 플랫폼은 상기 태그에 인접한 위치에 마련되는 자성체를 포함하고, 상기 검출모듈은 상기 태그가 상기 수광부와 마주 보는 위치에 정지하도록 상기 자성체에 인력을 인가하는 자석을 포함하고, 상기 검출모듈의 수광부가 상기 태그와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 것은, 상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 태그와 인접한 위치에 마련된 자성체와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 것을 포함할 수 있다.
또한, 상기 태그가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 것은, 상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 태그와 인접한 위치에 마련된 자성체와 동일 반경에 위치하면, 상기 테스트 플랫폼의 자성체가 상기 검출모듈의 자석과 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 것을 포함할 수 있다.
또한, 상기 검출모듈에서 상기 기준부재를 투과한 광을 검출하면 상기 검출결과를 상기 기준값과 비교하는 것은, 상기 검출모듈의 수광부가 상기 기준부재와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키고; 상기 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키고; 상기 수광부에서 상기 기준부재에 인쇄된 색상을 투과한 광을 검출하면 상기 검출 결과를 수신하여 상기 기준값과 비교하는 것을 포함할 수 있다.
또한, 상기 테스트 플랫폼은 상기 기준부재에 인접한 위치에 마련되는 자성체를 포함하고, 상기 검출모듈은 상기 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치에 정지하도록 상기 자성체에 인력을 인가하는 자석을 포함하고, 상기 검출모듈의 수광부가 상기 기준부재와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 것은, 상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 기준부재와 인접한 위치에 마련된 자성체와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 것을 포함할 수 있다.
또한, 상기 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 것은, 상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 기준부재와 인접한 위치에 마련된 자성체와 동일 반경에 위치하면, 상기 테스트 플랫폼의 자성체가 상기 검출모듈의 자석과 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 것을 포함할 수 있다.
또한, 상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면 상기 검출모듈의 수광부를 보정하는 것은, 상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면, 상기 수광부의 검출결과가 상기 기준값에 대응하도록 상기 수광부의 검출조건을 보정하고; 상기 수광부의 검출조건을 보정하면, 상기 수광부에서 상기 기준부재에 인쇄된 색상을 투과한 광을 재검출하도록 하여 상기 재검출결과가 상기 기준값에 대응하는지 확인하는 것;을 포함할 수 있다.
　
본 발명의 일 측면에 따르면, 테스트 플랫폼을 이용하여 검사장치의 검출모듈의 성능을 저렴한 비용으로 간단하게 관리할 수 있다.
또한, 검사장치의 검출모듈의 성능 관리에 소요되는 시간을 단축할 수 있다.
또한, 검출모듈의 성능관리를 통해 보다 정확하고 신뢰성이 높은 검출결과를 획득할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼의 구조를 간략하게 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼의 구조를 구체적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 플랫폼의 구조를 간략하게 나타낸 도면이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 플랫폼의 구조를 구체적으로 나타낸 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼에 마련되는 기준부재를 나타낸 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치의 구성을 나타낸 블럭도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치의 구성을 개념적으로 나타낸 도면이다.
도 8 및 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 검출 모듈이 방사방향으로 이동하는 것을 나타낸 도면이다.
도 10 내지 도 12는 는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치에서 검출 모듈의 이동과 테스트 플랫폼의 회전에 의해 기준부재가 검출 모듈의 수광부와 마주 보는 위치로 이동하는 과정을 도시한 도면이다.
도 13은 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치의 구성을 나타낸 블럭도이다.
도 14는 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치의 구성을 개념적으로 나타낸 도면이다.
도 15 및 도 16은 본 발명의 다른 실시예에 따른 검출 모듈이 방사방향으로 이동하는 것을 도시한 도면이다.
도 17 내지 도 19는 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치에서 검출 모듈의 이동과 테스트 플랫폼의 회전에 의해 기준부재가 검출 모듈의 수광부와 마주 보는 위치로 이동하는 과정을 도시한 도면이다
도 20 및 도 21은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치의 제어방법을 나타낸 순서도이다.
도 22 및 도 23은 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치의 제어방법을 나타낸 순서도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼의 구조를 간략하게 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼의 구조를 구체적으로 나타낸 배면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)은 몸체를 형성하는 바디(100)와, 상기 바디(100) 상에 형성되는 기준부재(110) 및 태그(120)를 포함한다.
바디(100)는 성형이 용이하고 그 표면이 생물학적으로 비활성인 아크릴(PMMA), PDMS, PC, 폴리플로필렌, 폴리비닐알코올, 폴리에틸렌 등의 플라스틱 소재, 유리, 운모, 실리카, 실리콘 웨이퍼 등의 다양한 재료로 만들어질 수 있다. 상기 물질들은 바디(100)의 재료로 사용될 수 있는 물질의 예시에 불과하며, 본 발명의 실시예가 이에 한정되는 것은 아니다. 화학적, 생물학적 안정성과 광학적 투명성 및 기계적 가공성을 가지는 소재이면 어느 것이든 본 발명의 일 실시예에 따른 바디(100)의 재료가 될 수 있다.
바디(100)는 여러 층의 판으로 이루어질 수 있다. 판과 판이 맞닿는 면에 챔버 등의 음각 구조물을 만들 수 있다. 일반적인 미세유동장치의 경우, 상기 두 판을 접합함으로써 바디(100) 내부에 유체를 수용할 수 있는 공간과 유체가 이동할 수 있는 통로를 제공할 수 있다. 판과 판의 접합은 접착제 또는 양면 접착 테이프를 이용한 접착이나 초음파 융착, 레이저 용접 등 다양한 방법으로 이루어질 수 있다.
도 1 및 도 2의 실시예에서는 원판 형상의 디스크형 바디(100)를 사용하였으나, 본 발명의 실시예에서 사용되는 바디(100)는 그 자체로서 회전 가능한 온전한 원판 형상뿐만 아니라 회전 가능한 프레임(frame)에 안착되어 회전할 수 있는 부채꼴 등의 형상일 수도 있고, 회전할 수만 있으면 다각형의 형상도 가능하다. 이하부터는 바디가 원판 형상의 디스크 타입인 것을 일 예로 들어 설명한다.
도 1 및 도 2에 도시된 것처럼, 바디(100)에는 기준부재(110)와 태그(120)가 마련된다.
기준부재(110)는 도 5에 도시된 것처럼, 반응지(114)에 미리 정해진 복수의 색상(111)이 프린트된 인쇄 필름(113)이 부착되어 형성된다.
반응지(114)는 면역검사에 사용되는 일반적인 반응지 타입의 미세유동장치에서 사용되는 반응지를 사용할 수 있다.
반응지(114)에 부착되는 인쇄 필름(113)은 투명한 재질을 갖는 공지된 다양한 재료를 가공하여 형성할 수 있다.
반응지(114)에 인쇄필름(113)을 부착하여 기준부재(110)를 형성하는 것은 일 예일 뿐, 스트립을 이용하는 방식 등 다양한 방식으로 색상이 인쇄된 기준부재(110)를 형성할 수 있다.
인쇄 필름(113)에는 두 개 이상의 색상(111)이 인쇄될 수 있는데, 각 색상(111)은 다양한 형태나 두께로 인쇄될 수 있고, 다양한 밝기로 인쇄될 수 있다. 각 색상(111)은 서로 다른 흡광도를 갖도록 형성되는 것이 바람직하다.
도 1 및 도 2에는 두 개의 색상(111)이 인쇄되어 있으나 이는 일 예일 뿐 이에 한정되지 않고, 두 개 이상의 색상(111)이 인쇄될 수도 있다.
이렇게 색상(111)이 인쇄된 인쇄 필름(113)을 반응지(114)에 접착하는 방식으로 부착하여 기준부재(110)를 제작한다.
반응지 타입의 미세유동장치에서 혈청 등이 반응지에 흡수되어 반응이 일어나면 검사장치(1000)에서 반응지를 촬영하여 원하는 물질의 존재 여부 등을 검출하므로 실제로 반응지 타입의 미세유동장치에서 사용되는 반응지(114)에 인쇄 필름(113)을 부착하여 기준부재(110)를 제작함으로써, 검출모듈(1410)의 성능을 실제 검출환경과 유사한 환경에서 테스트할 수 있다.
　
태그(120)로는 1D 바코드, QR코드 같은 2D 바코드 또는 RFID태그가 사용될 수 있다. 태그(120)는 검출모듈(1410)의 수광부(1411)에서 판독할 수 있도록 플랫폼의 배면에 마련되는데, 별도의 수용부없이 플랫폼 표면에 부착되는 방식으로 마련될 수 있다.
태그(120)에는 검사장치(1000)에 해당 플랫폼이 테스트 플랫폼(10)임을 알려 주는 식별정보가 포함되고, 복수의 기준부재(110) 각각을 투과한 광을 검출한 결과들에 대한 기준값이 포함된다.
　
테스트 플랫폼(10)이 검사장치(1000)에 로딩되었을 때, 검사장치(1000)에서 해당 플랫폼이 본격적인 면역검사를 수행하기 위한 미세유동장치인지 검사장치(1000)의 검출모듈(1410)을 테스트하기 위한 테스트 플랫폼(10)인지 판별할 수 있어야, 플랫폼의 종류별로 미리 정해진 알고리즘을 적절하게 수행할 수 있으므로 태그(120)에는 식별정보가 포함된다.
검사장치(1000)에서 태그(120)를 판독하여 해당 플랫폼이 테스트 플랫폼(10)임을 확인하면, 검사장치(1000)는 테스트 플랫폼(10)에 맞게 미리 정해진 알고리즘에 따라 검출모듈(1410)을 테스트한다.
기준값은, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)에서 복수의 기준부재(110) 각각을 투과한 광을 검출한 결과가 상기 수광부(1411)의 보정이 요구되는 결과에 포함되는지 판단하기 위한 기준을 제공한다. 기준값은 하나의 값일 수도 있으나, 상한과 하한을 가지는 범위를 갖는 것이 바람직하다. 즉, 기준값은 복수의 기준부재(110) 별로 각각 설정된 상한과 하한을 가지는 기준범위로 저장될 수 있다.
예를 들면, 기준부재(110)가 세 개일 경우, 태그(120)에는 세 개의 기준값이 저장되고, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)에서 각 기준부재(110)를 투과한 광을 검출하면 검사장치(1000)는 그 결과를 각 기준값과 비교하여 수광부(1411)의 보정 여부를 결정한다. 즉, 검출결과가 전술한 기준범위에 포함되면 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 정상적으로 작동하는 것이므로 보정이 필요없다고 판단하고, 기준범위를 벗어나면 보정이 필요하다고 판단한다. 수광부(1411)의 보정이 필요하다고 판단되면, 수광부(1411)의 검출조건을 보정한다. 이에 대한 구제척인 내용은 후술하도록 한다.
기준값은 기준 검사장치(1000)에서 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)을 검사하여 획득한 검출값으로 태그(120)에 코드화되어 저장된다.
태그(120)가 RFID 태그인 경우에는, 검출모듈(1410)은 RFID리더를 포함할 수 있다.
　
테스트 플랫폼(10)에 전술한 태그(120)와 기준부재(110)가 미리 정해진 위치에 마련되는데, 플랫폼의 외곽 쪽에 원주 방향으로 서로 이격되게 마련될 수 있다.
복수의 기준부재(110) 각각의 위치는 태그(120)에 저장되고, 검사장치(1000)는 태그(120)를 판독하여 복수의 기준부재(110) 각각의 위치를 확인할 수 있다.
태그(120) 및 기준부재(110) 각각이 동일한 사이각을 갖도록 테스트 플랫폼(10) 상에 배치되면 보다 용이하게 기준부재(110) 각각의 위치를 확인할 수 있으므로, 태그(120) 및 기준부재(110) 각각이 동일한 사이각을 갖도록 테스트 플랫폼(10) 상에 배치하는 것이 바람직하다. 도 1 및 도 2에 도시된 태그(120) 및 세 개의 기준부재(110) 각각은 90도의 사이각을 갖도록 배치되었다.
기준부재(110)는 바디(100)에 챔버 형태로 마련된 수용부(113) 내에 배치될 수 있다.
　
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)의 구조를 간략하게 나타낸 사시도이고, 도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)의 구조를 구체적으로 나타낸 배면도이다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)은 바디(100)와, 상기 바디(100) 상에 형성되는 기준부재(110) 및 태그(120)와, 상기 기준부재(110) 및 태그(120) 각각에 인접한 위치에 마련되는 자성체(112)를 포함한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)은 기준부재(110)와 태그(120)에 인접한 위치에 각각 자성체(112)가 마련되는 것 외에는 전술한 실시예와 동일하므로, 반복되는 설명은 생략하고, 이하 자성체(112)에 대해 설명한다.
바디(100)에는 자성체(112)가 설치되는데, 자성체(112)를 수용하기 위해 자성체 수용챔버가 바디(100)에 마련될 수 있다. 자성체 수용챔버는 자성체(112)가 플랫폼의 표면에 노출될 수 있도록 형성된다. 후술할 검사장치(1000)의 검사모듈에 마련된 자석(1413)이 자성체(112)에 인력을 보다 효과적으로 작용할 수 있도록 하기 위함이다.
자성체(112)는 태그(120)와 각 기준부재(110)에 인접한 위치에 마련된다. 이렇게 태그(120)와 기준부재(110)에 인접한 위치에 자성체(112)를 마련함으로써, 태그(120)나 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주 보는 위치에 이동하면, 검출모듈(1410)의 자석(1413)이 수광부(1411)와 마주 보는 태그(120) 또는 기준부재(110)에 인접한 위치에 마련된 자성체(112)에 인력을 작용하여 수광부(1411)가 태그(120) 또는 기준부재(110)를 촬영하는 동안 서로 마주 보는 그 상태를 고정시킬 수 있다.
따라서, 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)와 검사장치(1000)의 검출모듈(1410)에 마련된 자석(1413)이 서로 마주 보는 위치에 있을 때, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 테스트 플랫폼(10)의 태그(120) 또는 기준부재(110) 또한 마주 보는 위치에 있도록, 자성체(112)의 설치 위치 및 검출모듈(1410)의 자석(1413)의 설치 위치를 결정할 수 있다. 이에 대해서는 후술할 검사장치(1000)와 관련된 도면을 통해 보다 쉽게 이해될 것이다.
자성체(112)는 철, 코발트, 니켈 등 자화 강도가 세고 영구 자석과 같이 강한 자석이 될 수 있는 강자성체일 수도 있고, 크롬, 백금, 망간, 알루미늄 등 자화 강도가 약하여 그 물질 자체만으로는 자석이 될 수 없으나 자석이 접근하면 자화의 세기가 커져 자석이 되는 상자성체일 수도 있다.
자성체(112)는 테스트 플랫폼(10)에 마련되는 태그(120) 및 기준부재(110)의 개수만큼 설치된다.
　
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치(1000)의 구성을 나타낸 블럭도이고, 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치(1000)의 구성을 개념적으로 나타낸 측면도이다.
본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치(1000)는 테스트 플랫폼(10)을 회전시키는 회전 구동부(1340)와, 테스트 플랫폼(10)에 광을 조사하는 발광부(1333)와, 발광부(1333)에서 조사된 광을 통해 태그(120)를 판독하거나 기준부재(110)를 검출하기 위한 수광부(1411)가 장착된 검출모듈(1410)과, 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시키는 검출모듈 구동부(1400)와, 외부로부터 사용자의 명령이 입력되는 입력부(1100)와, 입력부(1100)를 통해 입력된 명령에 따라 검사장치(1000)의 전반적인 동작 및 기능을 제어하는 제어부(1200)를 포함한다.
테스트 플랫폼(10)은 도 1 내지 도 5를 참조하여 상술한 테스트 플랫폼(10)과 동일하므로 자세한 설명은 생략한다.
회전 구동부(1340)는 스핀들 모터로 구현될 수 있고, 테스트 플랫폼(10)이 로딩되면, 제어부(1200)의 제어 하에 구동되어 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다. 회전 구동부(1340)는 제어부(1200)로부터 출력되는 신호를 수신하여 회전 및 정지 동작을 반복함으로써 테스트 플랫폼(10) 상의 태그(120)나 기준부재(110)를 원하는 위치로 이동시킬 수 있다.
또한, 회전 구동부(1340)는 테스트 플랫폼(10)의 각 위치(angular position)를 제어할 수 있는 모터 드라이브(motor drive)장치를 포함할 수 있다. 예를 들면, 모터 드라이브 장치는 스텝 모터를 이용한 것일 수도 있고, 직류 모터를 이용한 것일 수도 있다.
발광부(1333)는 테스트 플랫폼(10)의 일정 영역에 빛을 조사할 수 있도록 발광면적이 넓고 균일할 광을 조사할 수 있는 면광원으로 구현될 수 있다. 예를 들면, 백라이트 유닛(Back Light Unit)이 발광부(1333)로 사용될 수 있다.
발광부(1333)는 수광부(1411)와 같은 방향에 형성될 수도 있으나, 도 7에 도시된 것처럼 서로 마주보도록 대향형으로 형성되는 것이 바람직하다. 도 7에는 테스트 플랫폼(10)을 사이에 두고 발광부(1333)가 상부에 수광부(1411)가 하부에 위치하는 것으로 표현하였으나, 그 위치가 서로 바뀔 수 있음은 물론이다. 발광부(1333)는 제어부(1200)의 제어 하에 광의 조사량을 조절할 수 있다.
수광부(1411)는 발광부(1333)에서 조사되어 태그(120) 또는 기준부재(110)를 투과한 광을 수광하여 태그(120)를 판독하거나 기준부재(110)를 검출한다. 수광부(1411)는 CMOS 이미지 센서 또는 CCD 이미지 센서로 구현될 수 있다.
태그(120)나 기준부재(110)를 투과한 광을 수광부(1411)에서 수광하여 태그(120)나 기준부재(110)에 대한 이미지를 획득하면, 제어부(1200)는 상기 이미지를 통해 태그(120)에 저장된 정보를 획득하고, 기준부재(110)를 투과한 광의 광량을 검출할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치(1000)는 하나의 수광부(1411)로 테스트 플랫폼(10)에 마련된 태그(120) 및 복수의 기준부재(110)를 검출할 수 있도록, 방사방향으로 이동 가능한 기구부인 검출모듈(1410)에 수광부(1411)를 설치한다.
도 8 및 도 9는 본 발명의 일 실시예에 따른 검출모듈(1410)이 방사방향으로 이동하는 것을 도시한 도면으로 검출모듈(1410)을 위에서 바라본 모습을 나타낸 도면이다.
도 8 및 도 9를 참조하면, 검출모듈(1410)은 검출모듈 구동부(1400)에서 공급되는 구동력에 의해 방사방향으로 이동할 수 있다. 검출모듈 구동부(1400)는 피딩 모터(feeding motor) 또는 스텝핑 모터(stepping motor)로 구현될 수 있다.
검출모듈(1410)의 이동거리는 테스트 플랫폼(10)의 반지름보다 크도록 구현될 수 있다. 테스트 플랫폼(10)의 외주를 벗어난 지역에서 테스트 플랫폼(10)의 중심 근처까지 이동할 수 있으면 족하다.
검출모듈(1410)은 수광부(1411)와 같은 구성 요소가 설치되는 플레이트(1416)를 포함할 수 있다. 검출모듈(1410)은 안정적인 방사방향(radial direction) 이동을 가이드하는 두 개의 가이드부(1420)에 의해 방사방향으로 슬라이딩 하듯이 이동할 수 있다. 가이드부(1420)는 봉 형태로 구현될 수 있고 플레이트(1416)는 가이드부(1420)에 결합되어 가이드부(1420)를 따라 이동할 수 있다. 플레이트(1416)는 가이드부(1420)에 슬라이딩 가능하게 장착되어, 검출모듈(1410)을 지지함과 동시에 검출모듈(1410)이 가이드부(1420)를 따라 이동할 수 있게 한다.
또한, 검출모듈 구동부(1400)에서 생성된 동력이 동력전달부(1401)를 통해 검출모듈(1410)로 전달되어 검출모듈(1410)이 방사방향으로 이동할 수 있도록 검출모듈(1410)은 동력전달부(1401)에 장착된다. 즉, 검출모듈 구동부(1400)가 구동되어 동력전달부(1401)를 통해 검출모듈(1410)로 동력이 전달되면, 검출모듈(1410)은 동력전달부(1401) 및 가이드부(1420)를 따라 방사방향으로 이동하게 된다.
도 7에는 검출모듈(1410)이 테스트 플랫폼(10)의 하부에 위치하고, 발광부(1333)가 테스트 플랫폼(10)의 상부에 위치하는 것으로 도시되어 있으나, 이는 일 예일 뿐, 그 위치가 서로 바뀔 수 있음은 물론이다.
　
도 10 내지 도 12는 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치(1000)에서 검출모듈(1410)의 이동과 테스트 플랫폼(10)의 회전에 의해 태그(120) 및 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주 보는 위치로 이동하는 과정을 도시한 도면으로, 위에서 바라본 모습을 나타낸 도면이다. 설명의 편의를 위해 플랫폼에 하나의 기준부재(110)만 도시하여 설명한다. 태그(120) 또한 수광부(1411)와 마주 보는 위치로 이동하는 과정이 기준부재(110)와 동일하므로 기준부재(110)를 예로 들어 설명하는 것이다.
테스트 플랫폼(10)이 검출모듈(1410)의 상부에 위치하나, 검출모듈(1410)의 이동을 보다 정확하게 표현하기 위해 테스트 플랫폼(10)을 점선으로 표시하고, 테스트 플랫폼(10)의 하부에 위치하는 검출모듈(1410)을 실선으로 도시하였다. 　　　
도 10은 테스트 플랫폼(10)이 정지한 상태를 도시한 것으로, 검출모듈(1410)은 테스트 플랫폼(10)의 하부에서 외주쪽으로 벗어나 있다. 전술한 것처럼 설명의 편의를 위해 테스트 플랫폼(10) 내의 다른 구조물들은 생략하고, 하나의 기준부재(110)만 도시하였다.
제어부(1200)는 기준부재(110)의 반경(R)까지 검출모듈(1410)이 이동할 수 있도록 검출모듈 구동부(1400)를 제어하여 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시킨다.
도 11은 검출모듈(1410)이 테스트 플랫폼(10)의 중심을 향해 방사방향으로 이동하여 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)의 설치반경(R)까지 도달한 것을 도시한 도면이다.
제어부(1200)에는 테스트 플랫폼(10)에 마련된 기준부재(110)들의 설치 반경에 대한 정보가 미리 저장될 수 있다. 또는, 전술한 것처럼, 태그(120)에 각 기준부재(110)들의 위치가 저장되어 태그(120)로부터 기준부재(110)들의 설치 위치 즉, 설치 반경(R)과 각도(A)를 획득할 수 있다.
제어부(1200)는 검출모듈 구동부(1400)의 제어 시 상기 정보를 이용하여 검출모듈 구동부(1400)를 제어함으로써 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 검출하고자 하는 기준부재(110)의 설치 반경(R)과 동일한 반경까지 이동할 수 있도록 한다.
검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)와 동일한 반경(R)에 위치하면, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)를 제어하여 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주 보는 위치로 이동하도록 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)와 검출모듈(1410)의 수광부(1411) 사이의 각도(A)를 산출하여 해당 각도(A)만큼 테스트 플랫폼(10)이 회전할 수 있도록 회전 구동부(1340)를 제어한다.
도 12는 테스트 플랫폼(10)이 회전하여 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주 보는 위치로 이동한 후 테스트 플랫폼(10)의 회전이 정지된 것을 나타낸 도면이다.
테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보는 위치까지 이동하여 테스트 플랫폼(10)이 정지하면, 제어부(1200)는 발광부(1333)를 제어하여 기준부재(110)로 광이 조사되도록 하고, 수광부(1411)는 발광부(1333)에서 조사되어 기준부재(110)를 투과한 광을 수광하여 기준부재(110)의 이미지를 생성한다.
제어부(1200)는 생성된 기준부재(110)의 이미지를 분석하여 기준부재(110)를 투과한 광의 광량 등을 포함하는 정보를 산출한다.
　
도 13은 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치(1000)의 구성을 나타낸 블럭도이고, 도 14는 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치(1000)의 구성을 개념적으로 나타낸 측면도이다.
도 13을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치(1000)는 테스트 플랫폼(10)을 회전시키는 회전 구동부(1340)와, 테스트 플랫폼(10)에 광을 조사하는 발광부(1333)와, 발광부(1333)에서 조사된 광을 통해 태그(120)를 판독하거나 기준부재(110)를 검출하기 위한 수광부(1411) 및 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)에 인력을 인가하는 자석(1413)이 장착된 검출모듈(1410)과, 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시키는 검출모듈 구동부(1400)와, 외부로부터 사용자의 명령이 입력되는 입력부(1100)와, 입력부(1100)를 통해 입력된 명령에 따라 검사장치(1000)의 전반적인 동작 및 기능을 제어하는 제어부(1200)를 포함한다.
본 실시예는 검출모듈(1410)에 자석(1413)이 포함된 것 외에는 도 6 내지 12에서 설명한 본 발명의 일 실시예와 동일하므로 반복되는 설명은 생략하고, 자석(1413)이 설치된 검출모듈(1410)에 대해 자세하게 설명한다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치(1000)는 도 14에 도시된 것처럼, 검출모듈(1410)에 적어도 하나의 자석(1413)이 마련될 수 있다.
검출모듈(1410)에 마련된 자석(1413)은 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110) 또는 태그(120)의 위치를 확인하기 위해 기준부재(110) 또는 태그(120)의 인접한 영역에 형성되는 자성체(112)에 인력을 작용한다. 본 실시예에서는 검출모듈(1410)에 자석(1413)이, 테스트 플랫폼(10)에 자성체(112)가 설치되는 것을 예로 들어 설명하고 있으나, 이에 한정되지 않고, 검출모듈(1410)에 자성체(112)가 테스트 플랫폼(10)의 자석(1413)이 설치되는 것도 물론 가능하다.
검출모듈(1410)의 자석(1413)과 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 서로 대면하게 되면, 자석(1413)에서 자성체(112)로 인력이 작용하여, 상기 인력을 초과하는 힘이 작용하지 않는 이상, 테스트 플랫폼(10)의 위치가 그 상태로 고정될 수 있다.
도 19에 도시된 것처럼, 검출모듈(1410)에서 자석(1413)은, 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 자석(1413)과 대면하여 자석(1413)에서 작용하는 인력에 의해 그 위치가 고정될 때, 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보게 되는 위치에 마련된다.
즉, 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)와 검출모듈(1410)의 자석(1413)이 대면하게 되면, 기준부재(110)는 자연스럽게 수광부(1411)와 대면하게 된다.
이와 같이 검출모듈(1410)에 자석(1413)을 설치하면, 기준부재(110)의 검출을 위해 테스트 플랫폼(10)이 회전하여 수광부(1411)쪽으로 이동할 때 자성체(112)가 자석(1413) 근처에 오면, 자석(1413)에서 작용하는 인력에 의해 자성체(112)가 고정됨으로써, 기준부재(110)가 수광부(1411)와 마주 보는 상태에서 테스트 플랫폼(10)이 정지하게 된다.
따라서 보다 안정적으로 기준부재(110)를 검출할 수 있다. 기준부재(110)의 검출 시 외부에서 충격이 가해질 경우 기준부재(110)를 정확하게 검출할 수 없는 문제가 발생할 수 있는데, 자석(1413)과 자성체(112) 사이의 인력으로 인해 테스트 플랫폼(10)이 고정되면 보다 안정적으로 기준부재(110)를 검출할 수 있게 되는 것이다.
도 14 내지 도 19에는 검출모듈(1410)에 마련되는 자석(1413)이 두 개로 도시되어 있으나, 그 개수에는 제한이 없다. 검출모듈(1410)의 방사방향 이동과, 테스트 플랫폼(10)의 회전을 통해 테스트 플랫폼(10) 상의 어떤 위치에 있는 자성체(112)라도 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치로 이동시킬 수 있기 때문이다.
그러나 자석(1413)이 두 개 또는 그 이상이 되면, 다른 반경에 있는 다른 기준부재(110)를 검출할 때 자석(1413)이 하나일 때보다 적은 이동으로 기준부재(110)와 수광부(1411)가 대면하도록 할 수도 있기 때문에 본 발명의 다른 실시예에 따른 검출모듈(1410)에는 두 개의 자석(1413)이 사용되었다.
　
도 15 및 도 16은 본 발명의 다른 실시예에 따른 검출모듈(1410)이 방사방향으로 이동하는 것을 도시한 도면으로 검출모듈(1410)을 위에서 바라본 모습을 나타낸 도면이다.
검출모듈(1410)에 자석(1413)이 추가적으로 설치된 것 외에 검출모듈(1410)의 구동원리는 동일하므로 도 8 및 도 9의 설명으로 대체한다.
　
도 17 내지 도 19는 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치(1000)에서 검출모듈(1410)의 이동과 테스트 플랫폼(10)의 회전에 의해 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주 보는 위치로 이동하는 과정을 도시한 도면으로, 위에서 바라본 모습을 나타낸 도면이다.
테스트 플랫폼(10)이 검출모듈(1410)의 상부에 위치하나, 검출모듈(1410)의 이동을 보다 정확하게 표현하기 위해 테스트 플랫폼(10)을 점선으로 표시하고, 테스트 플랫폼(10)의 하부에 위치하는 검출모듈(1410)을 실선으로 도시하였다. 　　　
도 17은 테스트 플랫폼(10)이 정지한 상태를 도시한 것으로, 검출모듈(1410)은 테스트 플랫폼(10)의 하부에서 외주쪽으로 벗어나 있다. 전술한 것처럼 설명의 편의를 위해 테스트 플랫폼(10) 내의 다른 구조물들은 생략하고, 하나의 기준부재(110)와 그에 인접하게 마련된 자성체(112)만 도시하였다.
　
제어부(1200)는 검출하고자 하는 기준부재(110)의 인접한 영역에 설치된 자성체(112)의 반경(L)까지 검출모듈(1410)의 자석(1413)이 이동할 수 있도록 검출모듈 구동부(1400)를 제어하여 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시킨다.
도 18은 검출모듈(1410)이 테스트 플랫폼(10)의 중심을 향해 방사방향으로 이동하여 검출모듈(1410)의 자석(1413)이 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)의 설치반경(L)까지 도달한 것을 도시한 도면이다.
제어부(1200)에는 테스트 플랫폼(10)에 마련된 자성체(112)들의 설치 반경에 대한 정보가 미리 저장될 수 있다. 또는, 전술한 것처럼, 태그(120)에 각 기준부재(110)들에 인접하게 마련된 자성체(112)의 위치가 저장되어 태그(120)로부터 자성체(112)들의 설치 위치 즉, 설치 반경(L)과 각도(B)를 획득할 수 있다.
제어부(1200)는 검출모듈 구동부(1400)의 제어 시 상기 정보를 이용하여 검출모듈 구동부(1400)를 제어함으로써 검출모듈(1410)의 자석(1413)이 원하는 기준부재(110)의 인접한 영역에 마련된 자성체(112)의 설치 반경(L)과 동일한 반경까지 이동할 수 있도록 한다.
검출모듈(1410)의 자석(1413)이 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)와 동일한 반경(L)에 위치하면, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)를 제어하여 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주 보는 위치로 이동하도록 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다.
자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)에 근접하면, 자석(1413)에서 자성체(112)로 작용하는 인력에 의해 자성체(112)가 자석(1413)과 마주보는 위치에서 고정된다. 이로 인해 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 대면한 채로 테스트 플랫폼(10)이 정지하게 된다.
도 19는 테스트 플랫폼(10)이 회전하여 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주 보는 위치에서 자석(1413)에서 자성체(112)로 작용하는 인력에 의해 고정된 것을 나타낸 도면이다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)와 검출모듈(1410)의 자석(1413) 사이의 각도(B)를 산출하여 해당 각도(B)만큼 테스트 플랫폼(10)이 회전할 수 있도록 회전 구동부(1340)를 제어할 수 있다.
테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치까지 이동하여 테스트 플랫폼(10)이 정지하면, 제어부(1200)는 발광부(1333)를 제어하여 기준부재(110)로 광이 조사되도록 하고, 수광부(1411)는 발광부(1333)에서 조사되어 기준부재(110)를 투과한 광을 수광하여 기준부재(110)의 이미지를 생성한다.
제어부(1200)는 생성된 기준부재(110)의 이미지를 분석하여 기준부재(110)를 투과한 광의 광량 등을 포함하는 정보를 산출한다.
　
도 20 및 도 21은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사장치(1000)의 제어방법을 나타낸 순서도이다. 도 20은 태그(120)를 판독하여 테스트 플랫폼(10)을 식별하는 과정을 도시하고 있고, 그에 이어서 도 21은 기준부재(110)를 검출하여 검출모듈(1410)의 수광부(1411)를 보정하는 과정을 도시하고 있다.
우선 도 20을 참조하면, 제어부(1200)는 검출모듈 구동부(1400)를 구동시켜 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시킨다(200).
테스트 플랫폼(10)이 검사장치(1000)로 로딩되면, 제어부(1200)는 태그(120)가 설치된 반경까지 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 이동할 수 있도록 검출모듈 구동부(1400)를 제어하여 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시킨다.
제어부(1200)는 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 태그(120)의 설치반경에 도달했는지 판단하여(210), 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 태그(120)의 설치반경에 도달했으면, 검출모듈 구동부(1400)의 구동을 정지시킨다(220).
제어부(1200)에는 테스트 플랫폼(10)에 마련된 태그(120)의 설치 반경에 대한 정보가 미리 저장될 수 있다. 제어부(1200)는 검출모듈 구동부(1400)의 제어 시 상기 정보를 이용하여 검출모듈 구동부(1400)를 제어함으로써 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 태그(120)의 설치 반경과 동일한 반경까지 이동할 수 있도록 한다.
검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 테스트 플랫폼(10)의 태그(120) 동일한 반경에 위치하여 검출모듈 구동부(1400)의 구동이 정지하면, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)을 구동시켜(440) 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다(230).
즉, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)를 제어하여 테스트 플랫폼(10)의 태그(120)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주 보는 위치로 이동하도록 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 태그(120)와 검출모듈(1410)의 수광부(1411) 사이의 각도를 산출하여 해당 각도만큼 테스트 플랫폼(10)이 회전할 수 있도록 회전 구동부(1340)를 제어할 수 있다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 태그(120)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보는 위치에 도달했는지 판단하여(240), 태그(120)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보는 위치에 도달하면, 회전 구동부(1340)의 구동을 정지시킨다(250). 　
태그(120)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보는 위치에 도달하여 제어부(1200)에서 회전 구동부(1340)의 구동을 정지시키면, 테스트 플랫폼(10)의 태그(120)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 대면한 채로 테스트 플랫폼(10)이 정지하게 된다.
테스트 플랫폼(10)의 태그(120)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보는 위치에 도달하여 회전 구동부(1340)의 구동이 정지함으로써 테스트 플랫폼(10)의 회전이 멈추면, 제어부(1200)는 발광부(1333)를 구동시켜 수광부(1411)에서 태그(120)를 판독하여 태그(120)에 저장된 식별정보 및 기준값을 획득한다(260). 획득한 식별정보를 통해 제어부(1200)는 해당 플랫폼이 테스트 플랫폼(10)임을 확인한다(270).
태그(120)에는 검사장치(1000)에 해당 플랫폼이 테스트 플랫폼(10)임을 알려 주는 식별정보가 포함되고, 복수의 기준부재(110) 각각을 투과한 광을 검출한 결과들에 대한 기준값이 포함된다.
테스트 플랫폼(10)이 검사장치(1000)에 로딩되었을 때, 검사장치(1000)에서 해당 플랫폼이 본격적인 면역검사를 수행하기 위한 미세유동장치인지 검사장치(1000)의 검출모듈(1410)을 테스트하기 위한 테스트 플랫폼(10)인지 판별할 수 있어야, 플랫폼의 종류별로 미리 정해진 알고리즘을 적절하게 수행할 수 있으므로 태그(120)에는 식별정보가 포함된다.
검사장치(1000)에서 태그(120)를 판독하여 해당 플랫폼이 테스트 플랫폼(10)임을 확인하면, 검사장치(1000)는 테스트 플랫폼(10)에 맞게 미리 정해진 알고리즘에 따라 검출모듈(1410)을 테스트한다.
기준값은, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)에서 복수의 기준부재(110) 각각을 투과한 광을 검출한 결과가 상기 수광부(1411)의 보정이 요구되는 결과에 포함되는지 판단하기 위한 기준을 제공한다. 기준값은 하나의 값일 수도 있으나, 상한과 하한을 가지는 범위를 갖는 것이 바람직하다. 즉, 기준값은 복수의 기준부재(110) 별로 각각 설정된 상한과 하한을 가지는 기준범위로 저장될 수 있다. 기준값은 기준 검사장치(1000)에서 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)을 검사하여 획득한 검출값으로 태그(120)에 코드화되어 저장된다.
도 21을 참조하면, 　제어부(1200)는 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 기준부재(110)의 설치반경과 동일한 반경에 위치하는지 판단하고(300), 동일한 반경에 위치하지 않으면, 수광부(1411)가 기준부재(110)의 설치반경에 도달하도록 검출모듈 구동부(1400)를 구동시켜 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시키고(310), 동일한 반경에 위치하면, 검출모듈 구동부(1400)의 구동을 정지시킨다(320).
도 21에 도시된 과정은 앞서 도 20에서 설명한 태그판독 과정에서 이어지는 과정을 나타내고 있다. 태그(120)와 기준부재(110)가 동일한 설치반경을 가질 수 있으므로, 검출모듈(1410)을 이동시키기 전에 수광부(1411)가 기준부재(110)의 설치반경에 위치하고 있는지 확인하는 과정을 먼저 거친다.
제어부(1200)에는 테스트 플랫폼(10)에 마련된 기준부재(110)의 설치 반경에 대한 정보가 미리 저장될 수 있다. 또는, 전술한 것처럼, 태그(120)에 각 기준부재(110)들의 설치 위치가 저장되어 태그(120)로부터 기준부재(110)들의 설치 위치 즉, 설치 반경과 각도를 획득할 수 있다. 제어부(1200)는 검출모듈 구동부(1400)의 제어 시 상기 정보를 이용하여 검출모듈 구동부(1400)를 제어함으로써 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 기준부재(110)의 설치 반경과 동일한 반경까지 이동할 수 있도록 한다.
검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)와 동일한 반경에 위치하여 검출모듈 구동부(1400)의 구동이 정지하면, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)을 구동시켜(440) 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다(330).
즉, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)를 제어하여 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주 보는 위치로 이동하도록 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)와 검출모듈(1410)의 수광부(1411) 사이의 각도를 산출하여 해당 각도만큼 테스트 플랫폼(10)이 회전할 수 있도록 회전 구동부(1340)를 제어할 수 있다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보는 위치에 도달했는지 판단하여(340), 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보는 위치에 도달하면, 회전 구동부(1340)의 구동을 정지시킨다(350). 　
기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보는 위치에 도달하여 제어부(1200)에서 회전 구동부(1340)의 구동을 정지시키면, 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 대면한 채로 테스트 플랫폼(10)이 정지하게 된다.
테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 마주보는 위치에 도달하여 회전 구동부(1340)의 구동이 정지함으로써 테스트 플랫폼(10)의 회전이 멈추면, 검출모듈의 수광부(1411)는 기준부재(110)를 투과한 광을 검출한다(360).
테스트 플랫폼(10)의 회전이 멈추면 제어부(1200)는 발광부(1333)를 구동시켜 발광부(1333)에서 기준부재(110)로 광을 조사하도록 하고, 수광부(1411)는 기준부재(110)를 투과한 광을 수광하여 기준부재(110)를 검출한다.
수광부(1411)에서 기준부재(110)를 투과한 광을 검출하면, 제어부(1200)는 검출결과가 태그(120)로부터 획득한 기준값과 일치하는지 판단하고(370), 검출결과가 기준값과 일치하지 않으면, 제어부(1200)는 수광부(1411)의 검출조건을 보정한다(380).
기준값은, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)에서 복수의 기준부재(110) 각각을 투과한 광을 검출한 결과가 상기 수광부(1411)의 보정이 요구되는 결과에 포함되는지 판단하기 위한 기준을 제공한다. 기준값은 하나의 값일 수도 있으나, 상한과 하한을 가지는 범위를 갖는 것이 바람직하다. 즉, 기준값은 복수의 기준부재(110) 별로 각각 설정된 상한과 하한을 가지는 기준범위로 저장될 수 있다. 기준값은 기준 검사장치(1000)에서 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)을 검사하여 획득한 검출값으로 태그(120)에 코드화되어 저장되고, RGB신호값, YCbCr신호값 또는 Gray신호값을 사용할 수 있다.
예를 들면, 기준부재(110)가 세 개일 경우, 태그(120)에는 세 개의 기준값이 저장되고, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)에서 각 기준부재(110)를 투과한 광을 검출하면 제어부(1200)는 그 결과를 각 기준값과 비교하여 수광부(1411)의 보정 여부를 결정한다. 즉, 검출결과가 전술한 기준범위에 포함되면 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 정상적으로 작동하는 것이므로 보정이 필요없다고 판단하고, 기준범위를 벗어나면 보정이 필요하다고 판단한다.
수광부(1411)의 보정이 필요하다고 판단되면, 수광부(1411)의 검출조건을 보정한다. 예를 들면, 수광부(1411)의 셔터스피드 또는 조리개의 개방도 등과 같은 조건을 보정하여 수광부(1411)의 노출수준을 보정할 수 있다.
수광부(1411)의 검출조건을 보정하면, 기준부재(110)를 재검출하기 위해 다시 360단계부터 반복한다. 보정 후의 재검출결과가 기준값과 일치하는지 판단하여 보정이 적절하게 수행되었는지 검증하기 위해 다시 기준부재(110)를 검출한다.
재검출결과가 기준값과 일치하면 보정이 적절하게 수행되었으므로 검출모듈(1410)의 수광부(1411)를 보정하는 과정을 종료한다.
　
도 22 및 도 23은 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사장치(1000)의 제어방법을 나타낸 순서도이다. 도 22는 태그(120)를 판독하여 테스트 플랫폼(10)을 식별하는 과정을 도시하고 있고, 그에 이어서 도 23은 기준부재(110)를 검출하여 검출모듈(1410)의 수광부(1411)를 보정하는 과정을 도시하고 있다.
도 22를 참조하면, 우선 제어부(1200)는 검출모듈 구동부(1400)를 구동시켜 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시킨다(400).
테스트 플랫폼(10)이 검사장치(1000)로 로딩되면, 제어부(1200)는 태그(120)에 인접한 영역에 설치된 자성체(112)의 반경까지 검출모듈(1410)의 자석(1413)이 이동할 수 있도록 검출모듈 구동부(1400)를 제어하여 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시킨다.
제어부(1200)는 검출모듈(1410)의 자석(1413)이 태그(120)에 인접한 영역에 설치된 자성체(112)의 반경에 도달했는지 판단하여(410), 검출모듈(1410)의 자석(1413)이 자성체(112)의 설치 반경에 도달했으면, 검출모듈 구동부(1400)의 구동을 정지시킨다(420).
제어부(1200)에는 테스트 플랫폼(10)에 마련된 자성체(112)들의 설치 반경에 대한 정보가 미리 저장될 수 있다. 제어부(1200)는 검출모듈 구동부(1400)의 제어 시 상기 정보를 이용하여 검출모듈 구동부(1400)를 제어함으로써 검출모듈(1410)의 자석(1413)이 태그(120)와 인접한 영역에 설치된 자성체(112)의 설치 반경과 동일한 반경까지 이동할 수 있도록 한다.
검출모듈(1410)의 자석(1413)이 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)와 동일한 반경에 위치하여 검출모듈 구동부(1400)의 구동이 정지하면, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)을 구동시켜(540) 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다(430).
즉, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)를 제어하여 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주 보는 위치로 이동하도록 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)와 검출모듈(1410)의 자석(1413) 사이의 각도를 산출하여 해당 각도만큼 테스트 플랫폼(10)이 회전할 수 있도록 회전 구동부(1340)를 제어할 수 있다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치에 도달했는지 판단하여(440), 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치에 도달하면, 회전 구동부(1340)의 구동을 정지시킨다(450). 　
자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치에 도달하여 제어부(1200)에서 회전 구동부(1340)의 구동을 정지시키면, 자석(1413)에서 자성체(112)로 작용하는 인력에 의해 자성체(112)가 자석(1413)과 마주보는 위치에서 고정된다. 이로 인해, 테스트 플랫폼(10)의 태그(120)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 대면한 채로 테스트 플랫폼(10)이 정지하게 된다.
테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치에 도달하여 회전 구동부(1340)의 구동이 정지함으로써 테스트 플랫폼(10)의 회전이 멈추면, 제어부(1200)는 발광부(1333)를 구동시켜 수광부(1411)에서 태그(120)를 판독하여 태그(120)에 저장된 식별정보 및 기준값을 획득한다(460). 획득한식별정보를 통해 제어부(1200)는 해당 플랫폼이 테스트 플랫폼(10)임을 확인한다(470).
태그(120)에는 검사장치(1000)에 해당 플랫폼이 테스트 플랫폼(10)임을 알려 주는 식별정보가 포함되고, 복수의 기준부재(110) 각각을 투과한 광을 검출한 결과들에 대한 기준값이 포함된다.
테스트 플랫폼(10)이 검사장치(1000)에 로딩되었을 때, 검사장치(1000)에서 해당 플랫폼이 본격적인 면역검사를 수행하기 위한 미세유동장치인지 검사장치(1000)의 검출모듈(1410)을 테스트하기 위한 테스트 플랫폼(10)인지 판별할 수 있어야, 플랫폼의 종류별로 미리 정해진 알고리즘을 적절하게 수행할 수 있으므로 태그(120)에는 식별정보가 포함된다.
검사장치(1000)에서 태그(120)를 판독하여 해당 플랫폼이 테스트 플랫폼(10)임을 확인하면, 검사장치(1000)는 테스트 플랫폼(10)에 맞게 미리 정해진 알고리즘에 따라 검출모듈(1410)을 테스트한다.
기준값은, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)에서 복수의 기준부재(110) 각각을 투과한 광을 검출한 결과가 상기 수광부(1411)의 보정이 요구되는 결과에 포함되는지 판단하기 위한 기준을 제공한다. 기준값은 하나의 값일 수도 있으나, 상한과 하한을 가지는 범위를 갖는 것이 바람직하다. 즉, 기준값은 복수의 기준부재(110) 별로 각각 설정된 상한과 하한을 가지는 기준범위로 저장될 수 있다. 기준값은 기준 검사장치(1000)에서 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)을 검사하여 획득한 검출값으로 태그(120)에 코드화되어 저장된다.
도 23을 참조하면, 제어부(1200)는 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 기준부재(110)에 인접한 영역에 설치된 자성체(112)의 설치반경과 동일한 반경에 위치하는지 판단하고(500), 동일한 반경에 위치하지 않으면, 수광부(1411)가 기준부재(110)에 인접한 영역에 설치된 자성체(112)의 설치반경에 도달하도록 검출모듈 구동부(1400)를 구동시켜 검출모듈(1410)을 방사방향으로 이동시키고(510), 동일한 반경에 위치하면, 검출모듈 구동부(1400)의 구동을 정지시킨다(520).
도 23에 도시된 과정은 앞서 도 22에서 설명한 태그판독 과정에서 이어지는 과정을 나타내고 있다. 태그(120)에 인접한 영역에 설치된 자성체(112)와 기준부재(110)에 인접한 영역에 설치되는 자성체(112)가 동일한 설치반경을 가질 수 있으므로, 검출모듈(1410)을 이동시키기 전에 수광부(1411)가 기준부재(110)에 인접한 영역에 설치된 자성체(112)의 설치반경에 위치하고 있는지 확인하는 과정을 먼저 거친다.
제어부(1200)에는 기준부재(110)에 인접한 영역에 설치된 자성체(112)의 설치 반경에 대한 정보가 미리 저장될 수 있다. 또는, 전술한 것처럼, 태그(120)에 각 자성체(112)들의 설치 위치가 저장되어 태그(120)로부터 자성체(112)들의 설치 위치 즉, 설치 반경과 각도를 획득할 수 있다. 제어부(1200)는 검출모듈 구동부(1400)의 제어 시 상기 정보를 이용하여 검출모듈 구동부(1400)를 제어함으로써 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 기준부재(110)에 인접한 영역에 설치된 자성체(112)의 설치 반경과 동일한 반경까지 이동할 수 있도록 한다.
검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 자성체(112)와 동일한 반경에 위치하여 검출모듈 구동부(1400)의 구동이 정지하면, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)를 구동시켜(440) 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다(530).
즉, 제어부(1200)는 회전 구동부(1340)를 제어하여 기준부재(110)의 인접한 위치에 설치된 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주 보는 위치로 이동하도록 테스트 플랫폼(10)을 회전시킨다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)와 검출모듈(1410)의 자석(1413) 사이의 각도를 산출하여 해당 각도만큼 테스트 플랫폼(10)이 회전할 수 있도록 회전 구동부(1340)를 제어할 수 있다.
제어부(1200)는 테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치에 도달했는지 판단하여(540), 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치에 도달하면, 회전 구동부(1340)의 구동을 정지시킨다(550). 　
기준부재(110)에 인접한 영역에 설치된 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치에 도달하여 제어부(1200)에서 회전 구동부(1340)의 구동을 정지시키면, 자석(1413)에서 자성체(112)로 작용하는 인력에 의해 자성체(112)가 자석(1413)과 마주보는 위치에서 고정된다. 이로 인해, 테스트 플랫폼(10)의 기준부재(110)가 검출모듈(1410)의 수광부(1411)와 대면한 채로 테스트 플랫폼(10)이 정지하게 된다.
테스트 플랫폼(10)의 자성체(112)가 검출모듈(1410)의 자석(1413)과 마주보는 위치에 도달하여 회전 구동부(1340)의 구동이 정지함으로써 테스트 플랫폼(10)의 회전이 멈추면, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)는 기준부재(110)를 투과한 광을 검출한다(560).
테스트 플랫폼(10)의 회전이 멈추면 제어부(1200)는 발광부(1333)를 구동시켜 발광부(1333)에서 기준부재(110)로 광을 조사하도록 하고, 수광부(1411)는 기준부재(110)를 투과한 광을 수광하여 기준부재(110)를 검출한다.
수광부(1411)에서 기준부재(110)를 투과한 광을 검출하면, 제어부(1200)는 검출결과가 태그(120)로부터 획득한 기준값과 일치하는지 판단하고(570), 검출결과가 기준값과 일치하지 않으면, 제어부(1200)는 수광부(1411)의 검출조건을 보정한다(580).
기준값은, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)에서 복수의 기준부재(110) 각각을 투과한 광을 검출한 결과가 상기 수광부(1411)의 보정이 요구되는 결과에 포함되는지 판단하기 위한 기준을 제공한다. 기준값은 하나의 값일 수도 있으나, 상한과 하한을 가지는 범위를 갖는 것이 바람직하다. 즉, 기준값은 복수의 기준부재(110) 별로 각각 설정된 상한과 하한을 가지는 기준범위로 저장될 수 있다. 기준값은 기준 검사장치(1000)에서 본 발명의 일 실시예에 따른 테스트 플랫폼(10)을 검사하여 획득한 검출값으로 태그(120)에 코드화되어 저장되고, RGB신호값, YCbCr신호값 또는 Gray신호값을 사용할 수 있다.
예를 들면, 기준부재(110)가 세 개일 경우, 태그(120)에는 세 개의 기준값이 저장되고, 검출모듈(1410)의 수광부(1411)에서 각 기준부재(110)를 투과한 광을 검출하면 제어부(1200)는 그 결과를 각 기준값과 비교하여 수광부(1411)의 보정 여부를 결정한다. 즉, 검출결과가 전술한 기준범위에 포함되면 검출모듈(1410)의 수광부(1411)가 정상적으로 작동하는 것이므로 보정이 필요없다고 판단하고, 기준범위를 벗어나면 보정이 필요하다고 판단한다.
수광부(1411)의 보정이 필요하다고 판단되면, 수광부(1411)의 검출조건을 보정한다. 예를 들면, 수광부(1411)의 셔터스피드 또는 조리개의 개방도 등과 같은 조건을 보정하여 수광부(1411)의 노출수준을 보정할 수 있다.
수광부(1411)의 검출조건을 보정하면, 기준부재(110)를 재검출하기 위해 다시 560단계부터 반복한다. 보정 후의 재검출결과가 기준값과 일치하는지 판단하여 보정이 적절하게 수행되었는지 검증하기 위해 다시 기준부재(110)를 검출한다.
재검출결과가 기준값과 일치하면 보정이 적절하게 수행되었으므로 검출모듈(1410)의 수광부(1411)를 보정하는 과정을 종료한다.
이상에서는 특정의 실시예에 대하여 도시하고 설명하였다. 그러나, 상기한 실시예에만 한정되지 않으며, 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이하의 청구범위에 기재된 발명의 기술적 사상의 요지를 벗어남이 없이 얼마든지 다양하게 변경 실시할 수 있을 것이다.
10 : 테스트 플랫폼
110 : 기준부재
120 : 태그
112 : 자성체
1100 : 입력부
1200 : 제어부
1410 : 검출모듈
1411 : 수광부
1333 : 발광부

Claims (27)

  1. 바디;
    상기 바디 상에 형성되고, 하나 이상의 색상이 인쇄된 적어도 하나의 기준부재(reference material); 및
    테스트 플랫폼과 관련된 정보를 저장하는 태그;를 포함하고,
    상기 태그는, 상기 테스트 플랫폼의 식별을 위한 식별정보 및 검사장치의 테스트를 위한 기준값을 포함하고,
    상기 기준값은,
    상기 검사장치에서 검출한 상기 기준부재에 대한 검출결과의 기준값으로, 상기 기준부재 별로 미리 설정된 기준범위를 포함하고,
    상기 태그는,
    상기 테스트 플랫폼이 면역검사를 수행하기 위한 미세유동장치인지 검사장치의 검출모듈을 테스트하기 위한 테스트 플랫폼인지 판별하는 정보 및 상기 적어도 하나의 기준 부재의 위치를 저장하는 테스트 플랫폼.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 색상은, 인쇄된 형태, 밝기 및 두께 중 적어도 하나가 서로 다른 것을 특징으로 하는 테스트 플랫폼.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 태그는 상기 바디 상에 형성되고, 바코드, QR코드 또는 RFID태그를 포함하는 테스트 플랫폼.
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 기준부재를 수용하는 수용부를 포함하는 테스트 플랫폼.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 기준부재 및 상기 태그와 인접한 위치에 마련되는 자성체를 포함하는 테스트 플랫폼.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 기준부재는 하나 이상의 색상이 인쇄된 인쇄 필름이 반응지에 부착되어 형성되는 테스트 플랫폼.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 바디는 디스크 형태를 포함하는 테스트 플랫폼.
  11. 테스트 플랫폼에 광을 조사하는 발광부;
    상기 테스트 플랫폼을 사이에 두고 상기 발광부와 마주 보는 위치에 마련되는 수광부를 포함하는 검출모듈; 및
    상기 테스트 플랫폼의 태그에 저장된 상기 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 포함하는 정보를 수신하고, 상기 검출모듈에서 기준부재를 투과한 광을 검출하면 검출 결과를 상기 기준값과 비교하여 상기 검출모듈의 보정여부를 결정하는 제어부;를 포함하고,
    상기 기준값은,
    검사장치에서 검출한 상기 기준부재에 대한 검출결과의 기준값으로, 상기 기준부재 별로 미리 설정된 기준범위를 포함하고,
    상기 태그는,
    상기 테스트 플랫폼이 면역검사를 수행하기 위한 미세유동장치인지 검사장치의 검출모듈을 테스트하기 위한 테스트 플랫폼인지 판별하는 정보 및 상기 적어도 하나의 기준 부재의 위치를 저장하는 검사장치.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 회전 구동부; 및
    상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 검출모듈 구동부;를 포함하고,
    상기 제어부는 상기 검출모듈의 수광부가 상기 태그 또는 기준부재와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키고, 상기 태그 또는 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 검사장치.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 발광부는 면광원 백 라이트 유닛(Back Light Unit)을 포함하는 검사장치.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 수광부는 CCD 이미지센서 또는 CMOS 이미지센서를 포함하는 검사장치.
  15. 제11항에 있어서,
    상기 테스트 플랫폼은 상기 태그 및 기준부재에 인접한 위치에 마련되는 자성체를 포함하고,
    상기 검출모듈은 상기 태그 및 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치에서 정지하도록 상기 자성체에 인력을 작용하는 자석을 포함하는 검사장치.
  16. 제15항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 자성체와 동일 반경에 위치하도록 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키고, 상기 테스트 플랫폼의 자성체가 상기 검출모듈의 자석과 마주 보는 위치로 이동하도록 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 검사장치.
  17. 제11항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 검출모듈의 수광부에서 상기 태그를 판독하여 획득한 상기 테스트 플랫폼의 식별을 위한 식별정보 및 상기 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 수신하고,
    상기 식별정보를 통해 상기 플랫폼이 검출모듈의 테스트를 위한 테스트 플랫폼임을 확인하고,
    상기 검출모듈의 수광부에서 상기 기준부재에 인쇄된 색상을 투과한 광을 검출하면 상기 검출 결과를 수신하여 상기 검출모듈의 테스트를 위한 기준값과 비교하고,
    상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면 상기 검출모듈의 수광부를 보정하는 검사장치.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 기준값은,
    상기 검출모듈의 수광부에서 검출한 상기 기준부재에 대한 검출결과의 기준값으로, 상기 기준부재 별로 미리 설정된 기준범위를 포함하는 검사장치.
  19. 제17항에 있어서,
    상기 제어부는,
    상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면, 상기 수광부의 검출결과가 상기 기준값에 대응하도록 상기 수광부의 검출조건을 보정하고,
    상기 수광부의 검출조건을 보정하면, 상기 수광부에서 상기 기준부재에 인쇄된 색상을 투과한 광을 재검출하도록 하여 재검출결과가 상기 기준값에 대응하는지 확인하는 검사장치.
  20. 테스트 플랫폼의 태그에 저장된 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 포함하는 정보를 수신하고;
    상기 검출모듈에서 기준부재를 투과한 광을 검출하면 검출결과를 상기 기준값과 비교하고;
    상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면 상기 검출모듈의 수광부를 보정하는 것을 포함하고
    상기 기준값은,
    검사장치에서 검출한 상기 기준부재에 대한 검출결과의 기준값으로, 상기 기준부재 별로 미리 설정된 기준범위를 포함하고,
    상기 태그는,
    상기 테스트 플랫폼이 면역검사를 수행하기 위한 미세유동장치인지 검사장치의 검출모듈을 테스트하기 위한 테스트 플랫폼인지 판별하는 정보 및 상기 적어도 하나의 기준 부재의 위치를 저장하는 검사장치의 제어방법.
  21. 제20항에 있어서,
    테스트 플랫폼의 태그에 저장된 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 포함하는 정보를 수신하는 것은,
    상기 검출모듈의 수광부가 상기 태그와 동일 반경에 위치하도록 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키고;
    상기 태그가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키고;
    상기 수광부에서 상기 태그를 판독하여 상기 테스트 플랫폼의 식별을 위한 식별정보 및 상기 검출모듈의 테스트를 위한 기준값을 획득하면, 이를 수신하여 저장하고;
    상기 식별정보를 통해 상기 플랫폼이 상기 검출모듈의 테스트를 위한 테스트 플랫폼임을 확인하는 것;을 포함하는 검사장치의 제어방법.
  22. 제21항에 있어서,
    상기 테스트 플랫폼은 상기 태그에 인접한 위치에 마련되는 자성체를 포함하고,
    상기 검출모듈은 상기 태그가 상기 수광부와 마주 보는 위치에 정지하도록 상기 자성체에 인력을 인가하는 자석을 포함하고,
    상기 검출모듈의 수광부가 상기 태그와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 것은,
    상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 태그와 인접한 위치에 마련된 자성체와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 것을 포함하는 검사장치의 제어방법.
  23. 제22항에 있어서,
    상기 태그가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 것은,
    상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 태그와 인접한 위치에 마련된 자성체와 동일 반경에 위치하면, 상기 테스트 플랫폼의 자성체가 상기 검출모듈의 자석과 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 것을 포함하는 검사장치의 제어방법.
  24. 제20항에 있어서,
    상기 검출모듈에서 상기 기준부재를 투과한 광을 검출하면 상기 검출결과를 상기 기준값과 비교하는 것은,
    상기 검출모듈의 수광부가 상기 기준부재와 동일 반경에 위치하도록 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키고;
    상기 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키고;
    상기 수광부에서 상기 기준부재에 인쇄된 색상을 투과한 광을 검출하면 상기 검출결과를 수신하여 상기 기준값과 비교하는 것을 포함하는 검사장치의 제어방법.
  25. 제21항에 있어서,
    상기 테스트 플랫폼은 상기 기준부재에 인접한 위치에 마련되는 자성체를 포함하고,
    상기 검출모듈은 상기 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치에 정지하도록 상기 자성체에 인력을 인가하는 자석을 포함하고,
    상기 검출모듈의 수광부가 상기 기준부재와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 것은,
    상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 기준부재와 인접한 위치에 마련된 자성체와 동일 반경에 위치하도록 상기 검출모듈 구동부를 제어하여 상기 검출모듈을 방사방향으로 이동시키는 것을 포함하는 검사장치의 제어방법.
  26. 제25항에 있어서,
    상기 기준부재가 상기 수광부와 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 것은,
    상기 검출모듈의 자석이 상기 테스트 플랫폼의 기준부재와 인접한 위치에 마련된 자성체와 동일 반경에 위치하면, 상기 테스트 플랫폼의 자성체가 상기 검출모듈의 자석과 마주 보는 위치로 이동하도록 상기 회전 구동부를 제어하여 상기 테스트 플랫폼을 회전시키는 것을 포함하는 검사장치의 제어방법.
  27. 제20항에 있어서,
    상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면 상기 검출모듈의 수광부를 보정하는 것은,
    상기 검출결과가 상기 기준값을 벗어나면, 상기 수광부의 검출결과가 상기 기준값에 대응하도록 상기 수광부의 검출조건을 보정하고;
    상기 수광부의 검출조건을 보정하면, 상기 수광부에서 상기 기준부재에 인쇄된 색상을 투과한 광을 재검출하도록 하여 재검출결과가 상기 기준값에 대응하는지 확인하는 것;을 포함하는 검사장치의 제어방법.

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PL13176478T PL2698639T3 (pl) 2012-08-17 2013-07-15 Platforma testowa, urządzenie testowe i sposób sterowania nimi
DK13176478.9T DK2698639T3 (da) 2012-08-17 2013-07-15 Testplatform, testapparat og styringsfremgangsmåde deraf
EP13176478.9A EP2698639B1 (en) 2012-08-17 2013-07-15 Test platform, test apparatus and control method thereof
US13/949,674 US9482680B2 (en) 2012-08-17 2013-07-24 Test platform, test apparatus and control method thereof
CN201310359257.1A CN103592236A (zh) 2012-08-17 2013-08-16 测试平台、测试设备及其控制方法
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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20160019844A (ko) * 2014-08-12 2016-02-22 삼성전자주식회사 체외진단기 및 그에 따른 체외진단방법
EP3201625A1 (en) 2014-09-29 2017-08-09 Biosurfit, S.A. Positioning mechanism
CN106445813B (zh) * 2016-08-31 2019-02-12 福建联迪商用设备有限公司 一种图像算法仿真自动化测试方法和系统
WO2018100779A1 (ja) * 2016-11-30 2018-06-07 国立研究開発法人産業技術総合研究所 標的物質検出装置及び標的物質検出方法
JP6439028B1 (ja) * 2017-11-30 2018-12-19 シスメックス株式会社 試薬キット、試薬キットの製造方法および測定結果の関連付け方法
JP6442028B1 (ja) * 2017-11-30 2018-12-19 シスメックス株式会社 検体測定方法および検体測定装置
JP6434114B1 (ja) * 2017-11-30 2018-12-05 シスメックス株式会社 測定方法および測定装置
CN112165614B (zh) * 2020-09-28 2023-06-02 成都微光集电科技有限公司 Cmos图像传感器测试系统及方法
WO2022217396A1 (zh) * 2021-04-12 2022-10-20 苏州鼎实医疗科技有限公司 周期性自动校准的全自动免疫分析仪及其自动校准方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6327031B1 (en) 1998-09-18 2001-12-04 Burstein Technologies, Inc. Apparatus and semi-reflective optical system for carrying out analysis of samples
US20030133840A1 (en) 2001-10-24 2003-07-17 Coombs James Howard Segmented area detector for biodrive and methods relating thereto

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5397709A (en) * 1993-08-27 1995-03-14 Becton Dickinson And Company System for detecting bacterial growth in a plurality of culture vials
GB9616543D0 (en) * 1996-08-06 1996-09-25 Northern Telecom Ltd Power line communications
WO2002044695A1 (en) * 2000-11-16 2002-06-06 Burstein Technologies, Inc. Methods and apparatus for detecting and quantifying lymphocytes with optical biodiscs
DE10234140A1 (de) * 2002-07-26 2004-02-05 Arnold & Richter Cine Technik Gmbh & Co Betriebs Kg Prüfvorrichtung und Prüfverfahren
US20050226769A1 (en) * 2004-04-08 2005-10-13 Matsushita Elec. Ind. Co. Ltd. Analytical apparatus and analytical disk for use therein
WO2007001160A1 (en) * 2005-06-28 2007-01-04 Jae Chern Yoo BlO DRIVE APPARATUS, AND ASSAY METHOD USING THE SAME
US8506908B2 (en) * 2007-03-09 2013-08-13 Vantix Holdings Limited Electrochemical detection system
CN102007416B (zh) * 2008-02-14 2013-10-16 三星电子株式会社 生物盘片、生物盘片读取器及使用生物盘片的分析方法
WO2010005000A1 (ja) * 2008-07-10 2010-01-14 三光純薬株式会社 臨床検査用ディスク、ディスクパックおよび臨床検査装置
EP2277624A3 (en) * 2009-07-20 2013-12-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Disk type microfluidic device and blood testing apparatus using the same
CN102539735A (zh) * 2010-11-12 2012-07-04 美艾利尔圣地亚哥有限公司 集成质量保证标签的测试装置和系统
KR20120080056A (ko) * 2011-01-06 2012-07-16 삼성전자주식회사 디스크 및 이를 이용한 검사장치의 보정방법

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6327031B1 (en) 1998-09-18 2001-12-04 Burstein Technologies, Inc. Apparatus and semi-reflective optical system for carrying out analysis of samples
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