KR102032601B1 - Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor element - Google Patents

Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor element Download PDF

Info

Publication number
KR102032601B1
KR102032601B1 KR1020167009459A KR20167009459A KR102032601B1 KR 102032601 B1 KR102032601 B1 KR 102032601B1 KR 1020167009459 A KR1020167009459 A KR 1020167009459A KR 20167009459 A KR20167009459 A KR 20167009459A KR 102032601 B1 KR102032601 B1 KR 102032601B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
pellicle
polymer
acrylic
adhesive
less
Prior art date
Application number
KR1020167009459A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20160055859A (en
Inventor
스스무 아사다
히데아키 다마야
고헤이 야노
다이키 야마시타
Original Assignee
아사히 가세이 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 아사히 가세이 가부시키가이샤 filed Critical 아사히 가세이 가부시키가이샤
Publication of KR20160055859A publication Critical patent/KR20160055859A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102032601B1 publication Critical patent/KR102032601B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/62Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/62Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
    • G03F1/64Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof characterised by the frames, e.g. structure or material, including bonding means therefor
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L33/00Compositions of homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical, or of salts, anhydrides, esters, amides, imides or nitriles thereof; Compositions of derivatives of such polymers
    • C08L33/04Homopolymers or copolymers of esters
    • C08L33/06Homopolymers or copolymers of esters of esters containing only carbon, hydrogen and oxygen, which oxygen atoms are present only as part of the carboxyl radical
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L33/00Compositions of homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and only one being terminated by only one carboxyl radical, or of salts, anhydrides, esters, amides, imides or nitriles thereof; Compositions of derivatives of such polymers
    • C08L33/04Homopolymers or copolymers of esters
    • C08L33/06Homopolymers or copolymers of esters of esters containing only carbon, hydrogen and oxygen, which oxygen atoms are present only as part of the carboxyl radical
    • C08L33/08Homopolymers or copolymers of acrylic acid esters
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L53/00Compositions of block copolymers containing at least one sequence of a polymer obtained by reactions only involving carbon-to-carbon unsaturated bonds; Compositions of derivatives of such polymers
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J133/00Adhesives based on homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by only one carboxyl radical, or of salts, anhydrides, esters, amides, imides, or nitriles thereof; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • C09J133/04Homopolymers or copolymers of esters
    • C09J133/06Homopolymers or copolymers of esters of esters containing only carbon, hydrogen and oxygen, the oxygen atom being present only as part of the carboxyl radical
    • C09J133/08Homopolymers or copolymers of acrylic acid esters
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C09DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09JADHESIVES; NON-MECHANICAL ASPECTS OF ADHESIVE PROCESSES IN GENERAL; ADHESIVE PROCESSES NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE; USE OF MATERIALS AS ADHESIVES
    • C09J133/00Adhesives based on homopolymers or copolymers of compounds having one or more unsaturated aliphatic radicals, each having only one carbon-to-carbon double bond, and at least one being terminated by only one carboxyl radical, or of salts, anhydrides, esters, amides, imides, or nitriles thereof; Adhesives based on derivatives of such polymers
    • C09J133/04Homopolymers or copolymers of esters
    • C09J133/06Homopolymers or copolymers of esters of esters containing only carbon, hydrogen and oxygen, the oxygen atom being present only as part of the carboxyl radical
    • C09J133/10Homopolymers or copolymers of methacrylic acid esters

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Adhesive Tapes (AREA)
  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)

Abstract

본 발명은 펠리클 프레임과, 펠리클 프레임의 일단부면(2e)에 장설된 펠리클막(3)과, 펠리클 프레임의 타단부면(2f)에 부착된 비가교형의 아크릴계 점착제(10)를 구비하고, 상기 비가교형의 아크릴계 점착제(10)에서의 중량 평균 분자량 800 이하의 화합물의 함유량이 18중량% 이하인 펠리클에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 마스크로부터 펠리클을 박리했을 때의 점착제 잔류를 충분히 방지할 수 있다.The present invention comprises a pellicle frame, a pellicle film 3 installed on one end surface 2e of the pellicle frame, and an uncrosslinked acrylic pressure-sensitive adhesive 10 attached to the other end surface 2f of the pellicle frame. It is related with the pellicle whose content of the weight average molecular weight 800 or less compound in the bridge | crosslinking acrylic adhesive 10 is 18 weight% or less. According to this invention, the adhesive residue at the time of peeling a pellicle from a mask can fully be prevented.

Description

펠리클, 펠리클 부착 포토마스크 및 반도체 소자의 제조 방법{PELLICLE, PHOTOMASK WITH PELLICLE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR ELEMENT}PELLICLE, PHOTOMASK WITH PELLICLE, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR ELEMENT}

본 발명은, LSI, 초LSI 등의 반도체 소자 혹은 액정 표시판 등의 반도체 장치를 제조할 때에, 마스크(포토마스크)에 이물이 부착되는 것을 방지하기 위하여 사용되는 포토리소그래피용 펠리클에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pellicle for photolithography which is used to prevent foreign matter from adhering to a mask (photomask) when manufacturing a semiconductor device such as an LSI, an ultra-LSI, or a liquid crystal display panel.

반도체 제조의 포토리소그래피 공정에 있어서, 웨이퍼 상에 집적 회로에 대응한 포토레지스트 패턴을 형성하기 위해서는, 스테퍼(축소 투영 노광 장치) 등의 반도체 제조 장치가 사용되고 있다. 펠리클은 프레임 형상을 갖는 펠리클 프레임의 일단부면에 투명 박막을 장설한 것이며, 이물이 마스크 상에 직접 부착되어, 회로 패턴의 결함을 형성하는 것을 방지하는 것이다. 구체적으로는, 가령 포토리소그래피 공정에서 이물이 펠리클 상에 부착되었다고 해도, 포토레지스트가 도포된 웨이퍼 상에 이들 이물은 결상되지 않게 된다. 이에 의해, 이물의 상(像)에 의한 회로 패턴의 결함에 기인한 반도체 집적 회로의 단락 및 단선 등을 방지할 수 있어, 포토리소그래피 공정의 제조 수율을 향상시킬 수 있다.In the photolithography process of semiconductor manufacturing, in order to form the photoresist pattern corresponding to an integrated circuit on a wafer, semiconductor manufacturing apparatuses, such as a stepper (reduced projection exposure apparatus), are used. A pellicle installs a transparent thin film in the one end surface of the pellicle frame which has a frame shape, and prevents a foreign material from adhering directly on a mask and forming the defect of a circuit pattern. Specifically, even if foreign matter adheres to the pellicle in the photolithography step, these foreign matters are not formed on the wafer to which the photoresist is applied. Thereby, short circuit, disconnection, etc. of a semiconductor integrated circuit resulting from the defect of the circuit pattern by the foreign material image can be prevented, and the manufacturing yield of a photolithography process can be improved.

최근들어 반도체 장치의 고집적화에 수반하여, 포토리소그래피 공정에 사용하는 노광광의 단파장화가 진행되고 있다. 즉, 웨이퍼 상에 집적 회로 패턴을 묘사할 때에 보다 좁은 선 폭으로 미세한 회로 패턴을 묘화할 수 있는 기술이 요구되고 있다. 이것에 대응하기 위하여, 예를 들어 포토리소그래피용 스테퍼의 노광광으로서, 종래의 g선(파장 436㎚), i선(파장 365㎚)에서부터 진행되어 KrF 엑시머 레이저(파장 248㎚), ArF 엑시머 레이저(파장 193㎚) 또한 F2 엑시머 레이저(파장 157㎚) 등의 보다 단파장의 광이 사용되려고 하고 있다.In recent years, with the high integration of a semiconductor device, the shortening of the exposure light used for a photolithography process is progressing. That is, when describing an integrated circuit pattern on a wafer, the technique which can draw a fine circuit pattern with a narrower line width is calculated | required. In order to cope with this, for example, as exposure light of a stepper for photolithography, it proceeds from the conventional g line (wavelength 436 nm) and i line (wavelength 365 nm), and it is KrF excimer laser (wavelength 248 nm), ArF excimer laser. (wavelength 193㎚) also has more of the short wavelength light about to be used, such as F 2 excimer laser (wavelength 157㎚).

최근의 노광광의 단파장화·고에너지화에 수반하여, 노광에 수반하는 펠리클막 또는 마스크의 오염 발생하는 빈도가 높아짐으로써, 펠리클 및 마스크의 교체 빈도도 높아지고 있다. 여기서, 펠리클을 마스크 상에 고정하는 방법으로서는, 점착제로 박리 가능하게 고정하는 방법이 통상 사용된다. 점착제로서는, 아크릴계, 고무계, 폴리부텐계, 폴리우레탄계, 실리콘계 등의 것이(특허문헌 1 참조), 또한 열가소성 엘라스토머계의 것(특허문헌 2 참조)이 알려져 있다.With the recent shortening of wavelength and high energy of exposure light, the frequency of contamination of the pellicle film or mask accompanying exposure increases, and the frequency of replacement of the pellicle and mask is also increasing. Here, as a method of fixing a pellicle on a mask, the method of fixing so that peeling is possible with an adhesive is used normally. As an adhesive, what is acryl type, rubber type, polybutene type, polyurethane type, silicone type, etc. (refer patent document 1), and the thing of thermoplastic elastomer type (refer patent document 2) are known.

일본 특허 공개(평) 05-281711호 공보Japanese Patent Publication No. 05-281711 국제 공보 제2012-004951호International Publication No. 2012-004951

점착제는, 적절한 점착력을 안정되게 가짐과 함께, 펠리클의 교환 시, 마스크로부터 펠리클을 박리할 때에 점착제가 응집 파괴되어, 점착제의 일부가 마스크에 부착된 상태로 되는 것(이하, 이 현상을 점착제 잔류라고 함)을 방지하는 것이 요망되고 있다. 그러나, 최근의 노광광의 단파장화·고에너지화에 수반하여, 특허문헌 1에 기재된 점착제에서는 누출광에 의한 점착제의 분해로 마스크와 결합하기 쉬워져, 펠리클을 마스크로부터 박리할 때에 마스크 표면 상에 점착제의 점착제 잔류가 발생하기 쉬워진다. 또한, 특허문헌 2에 기재된 점착제에서도, 아크릴계 점착제에서는 점착제 잔류 방지의 관점에서 과제가 있다. 특히, 200㎚ 이하의 단파장을 사용하는 경우, 헤이즈라고 불리는 마스크의 오염이 발생한다. 그로 인해, 펠리클의 교환 빈도가 높아지는 점에서, 마스크로부터의 박리 시에 마스크 상에 점착제가 점착제 잔류되지 않는 것이 요구되고 있다.The pressure sensitive adhesive stably has an appropriate adhesive force, and when the pellicle is exchanged, the pressure sensitive adhesive is cohesively broken when peeling the pellicle from the mask so that a part of the pressure sensitive adhesive adheres to the mask (hereinafter, this phenomenon remains the pressure sensitive adhesive). It is desired to prevent). However, with the recent shortening of wavelength and high energy of exposure light, the adhesive described in patent document 1 is easy to combine with a mask by decomposition | disassembly of the adhesive by leaking light, and an adhesive on a mask surface when peeling a pellicle from a mask Pressure-sensitive adhesive residue easily occurs. Moreover, also in the adhesive of patent document 2, in an acrylic adhesive, there exists a subject from a viewpoint of prevention of adhesive residue. In particular, when a short wavelength of 200 nm or less is used, contamination of a mask called haze occurs. Therefore, since the exchange frequency of a pellicle becomes high, it is calculated | required that an adhesive does not remain an adhesive on a mask at the time of peeling from a mask.

본 발명은, 상기 문제를 감안하여, 마스크로부터 펠리클을 박리했을 때의 점착제 잔류를 충분히 방지할 수 있는 펠리클, 펠리클 부착 포토마스크 및 반도체 소자의 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.In view of the above problems, an object of the present invention is to provide a pellicle, a photomask with a pellicle, and a method for manufacturing a semiconductor element, which can sufficiently prevent adhesive residue when peeling a pellicle from a mask.

본 발명은, 이하 (1) 내지 (11)을 제공한다.The present invention provides the following (1) to (11).

(1) 펠리클 프레임과, (1) the pellicle frame,

펠리클 프레임의 일단부면에 장설된 펠리클막과, A pellicle film installed at one end of the pellicle frame,

펠리클 프레임의 타단부면에 부착된 비가교형의 아크릴계 점착제를 구비하고,A non-crosslinked acrylic pressure-sensitive adhesive attached to the other end surface of the pellicle frame,

점착제에서의 중량 평균 분자량 800 이하의 화합물의 함유량이 18질량% 이하인, 펠리클.The pellicle whose content of the weight average molecular weight 800 or less compound in an adhesive is 18 mass% or less.

(2) 비가교형의 아크릴계 점착제의 탄성률은 20mN/㎟ 이상 180mN/㎟ 이하인, (1)에 기재된 펠리클.(2) The pellicle as described in (1) whose elasticity modulus of an uncrosslinked acrylic adhesive is 20 mN / mm <2> or more and 180 mN / mm <2>.

(3) 비가교형의 아크릴계 점착제의 유리 전이 온도는 -25℃ 미만인, (1) 또는 (2)에 기재된 펠리클.(3) The pellicle as described in (1) or (2) whose glass transition temperature of an uncrosslinked acrylic adhesive is less than -25 degreeC.

(4) 비가교형의 아크릴계 점착제는 아크릴계 중합체 (A)와, 아크릴계 베이스 중합체 (B)를 함유하는, (1) 내지 (3) 중 어느 하나에 기재된 펠리클.(4) The pellicle according to any one of (1) to (3), wherein the non-crosslinked acrylic pressure sensitive adhesive contains an acrylic polymer (A) and an acrylic base polymer (B).

(5) 아크릴계 중합체 (A)의 유리 전이 온도는 -30℃ 이하이고,(5) The glass transition temperature of acrylic polymer (A) is -30 degrees C or less,

아크릴계 베이스 중합체 (B)의 유리 전이 온도는 -25℃ 이상인, (4)에 기재된 펠리클.The pellicle as described in (4) whose glass transition temperature of an acrylic base polymer (B) is -25 degreeC or more.

(6) 비가교형의 아크릴계 점착제에서의 아크릴계 중합체 (A)의 함유량이 15 내지 80질량%인, (4) 또는 (5)에 기재된 펠리클.(6) The pellicle as described in (4) or (5) whose content of the acrylic polymer (A) in an uncrosslinked acrylic adhesive is 15-80 mass%.

(7) 아크릴계 중합체 (A)는 탄소수 1 내지 14의 알킬기를 갖는 (메트)아크릴산알킬의 중합체 또는 공중합체인, (4) 내지 (6) 중 어느 하나에 기재된 펠리클.(7) The pellicle according to any one of (4) to (6), wherein the acrylic polymer (A) is a polymer or copolymer of alkyl (meth) acrylate having an alkyl group having 1 to 14 carbon atoms.

(8) 아크릴계 베이스 중합체 (B)는 블록 중합체인, (4) 내지 (7) 중 어느 하나에 기재된 펠리클.(8) The pellicle according to any one of (4) to (7), wherein the acrylic base polymer (B) is a block polymer.

(9) 블록 중합체는 하기 일반식 (I)로 표시되는 구조를 중합체 주쇄 중에 갖고,(9) The block polymer has a structure represented by the following general formula (I) in the polymer main chain,

식 (I) 중, (a1) 및 (a2)는 각각 유리 전이 온도 80℃ 이상의 중합체를 나타내고, (b)는 유리 전이 온도 30℃ 이하의 중합체를 나타내는, (8)에 기재된 펠리클.In formula (I), (a1) and (a2) respectively show a polymer with a glass transition temperature of 80 degreeC or more, (b) the pellicle as described in (8) which shows a polymer with a glass transition temperature of 30 degreeC or less.

Figure 112016034420969-pct00001
Figure 112016034420969-pct00001

(10) 일반식 (I)에 있어서의 (a1) 및 (a2)는 각각, 주로 탄소수 1 내지 14의 메타크릴산알킬에스테르를 포함하고,(10) (a1) and (a2) in General formula (I) mainly contain the alkyl ester of methacrylic acid of C1-C14, respectively,

일반식 (I)에 있어서의 (b)는 주로 탄소수 1 내지 14의 (메트)아크릴산알킬에스테르를 포함하는, (9)에 기재된 펠리클.The pellicle as described in (9) in which (b) in general formula (I) mainly contains the C1-C14 (meth) acrylic-acid alkylester.

(11) 아크릴계 중합체 (A)의 중량 평균 분자량이 850 이상 70000 이하이고, 아크릴계 베이스 중합체 (B)의 중량 평균 분자량이 10000 이상 500000 이하인, (4) 내지 (10) 중 어느 하나에 기재된 펠리클.(11) The pellicle according to any one of (4) to (10), wherein the weight average molecular weight of the acrylic polymer (A) is 850 or more and 70000 or less, and the weight average molecular weight of the acrylic base polymer (B) is 10000 or more and 500000 or less.

(12) (1) 내지 (11) 중 어느 하나에 기재된 펠리클이 장착되어 있는, 펠리클 부착 포토마스크.(12) The photomask with a pellicle in which the pellicle in any one of (1)-(11) is attached.

(13) (12)에 기재된 펠리클 부착 포토마스크에 의해 기판을 노광하는 공정을 구비하는, 반도체 소자의 제조 방법.(13) The manufacturing method of a semiconductor element provided with the process of exposing a board | substrate with the photomask with a pellicle as described in (12).

본 발명에 따르면, 마스크로부터 펠리클을 박리했을 때의 점착제 잔류를 충분히 방지할 수 있다.According to this invention, the adhesive residue at the time of peeling a pellicle from a mask can fully be prevented.

도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 관한 펠리클을 도시하는 사시도이다.
도 2는 도 1에 있어서의 II-II선 단면도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 형태에 관한 펠리클 부착 포토마스크에 의해 기판을 노광하는 공정을 모식적으로 도시하는 도면이다.
1 is a perspective view illustrating a pellicle according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II in FIG. 1. FIG.
It is a figure which shows typically the process of exposing a board | substrate with the pellicle photomask which concerns on one Embodiment of this invention.

이하, 본 발명을 실시하기 위한 형태(이하, 간단히 「본 실시 형태」라고 함)에 관하여 상세하게 설명한다. 이하의 본 실시 형태는, 본 발명을 설명하기 위한 예시이며, 본 발명을 이하의 내용에 한정하는 취지가 아니다. 본 발명은, 그 요지의 범위 내에서 적절하게 변형되어 실시할 수 있다. EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the form for implementing this invention (henceforth simply a "this embodiment") is demonstrated in detail. This embodiment below is an illustration for demonstrating this invention, and is not the meaning which limits this invention to the following content. The present invention can be appropriately modified within the scope of the gist of the invention.

도 1은 본 실시 형태에 관한 펠리클을 도시하는 사시도이며, 도 2는 도 1에 있어서의 II-II선 단면도이다. 도 1 및 도 2에 도시한 바와 같이, 펠리클(1)은, 펠리클 프레임(2)과, 펠리클 프레임(2)의 일단부면(2e)에 장설된 펠리클막(3)과, 펠리클 프레임(2)의 타단부면(2f)에 부착된 점착제(10)와, 점착제(10)에 점착되고, 이 점착제(10)를 보호하는 보호 필름 F를 구비하고 있다. 도 3은 본 실시 형태에 관한 펠리클 부착 포토마스크에 의해 기판을 노광하는 공정을 모식적으로 도시하는 도면이다. 도 3에 도시한 바와 같이, 본 실시 형태의 펠리클 부착 포토마스크(30)는, 펠리클(1)과 포토마스크(20)를 구비한다. 펠리클(1)의 타단부면(2f)이, 점착제(10)를 통하여, 포토마스크(20)의 패턴(20P)이 형성되어 있는 측의 단부면(20f)에 장착되어 있다. 기판(60)을 노광하기 위하여, 펠리클 부착 포토마스크(30)의 상방으로부터 당해 펠리클 부착 포토마스크(30)에 노광광(40)을 조사한다. 노광광(40)은, 펠리클 부착 포토마스크(30)를 거친 후, 예를 들어 투광 광학계(50)에 의해 집광되어, 표면에 포토레지스트(62)가 설치된 기판(60)에 조사된다. 그 후, 현상 공정, 에칭 공정 등의 소정의 공정을 거침으로써, 포토마스크(20)의 패턴(20P)이 기판(60)의 표면에 전사된다. 기판(60)은 예를 들어 반도체 재료를 포함한다. 상술한 바와 같이 펠리클 부착 포토마스크(30)를 사용하여 포토마스크(20)의 패턴(20P)을 기판(60)의 표면에 전사하는 공정은, 예를 들어 반도체 소자의 제조 공정의 일부이다.1 is a perspective view illustrating a pellicle according to the present embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line II-II in FIG. 1. As shown in FIG. 1 and FIG. 2, the pellicle 1 includes a pellicle frame 2, a pellicle film 3 mounted on one end surface 2e of the pellicle frame 2, and a pellicle frame 2. It is provided with the adhesive 10 adhered to the other end surface 2f of this, and the protective film F which adheres to the adhesive 10, and protects this adhesive 10. As shown in FIG. 3 is a diagram schematically illustrating a step of exposing a substrate by the photomask with pellicle according to the present embodiment. As shown in FIG. 3, the pellicle photomask 30 of this embodiment is equipped with the pellicle 1 and the photomask 20. As shown in FIG. The other end surface 2f of the pellicle 1 is attached to the end surface 20f on the side where the pattern 20P of the photomask 20 is formed via the adhesive 10. In order to expose the board | substrate 60, the exposure light 40 is irradiated to the said photomask 30 with a pellicle from above the photomask 30 with a pellicle. After passing through the photomask 30 with a pellicle, the exposure light 40 is condensed by the light transmission optical system 50, and is irradiated to the board | substrate 60 with the photoresist 62 provided in the surface. Then, the pattern 20P of the photomask 20 is transferred to the surface of the board | substrate 60 by passing through predetermined processes, such as a developing process and an etching process. Substrate 60 includes, for example, a semiconductor material. As mentioned above, the process of transferring the pattern 20P of the photomask 20 to the surface of the board | substrate 60 using the photomask 30 with a pellicle is a part of the manufacturing process of a semiconductor element, for example.

(점착제) (adhesive)

본 실시 형태에 관한 펠리클에 사용하는 점착제(아크릴계 점착제)는, 비가교형의 아크릴계 점착재이며, 아크릴계 점착제에서의 중량 평균 분자량 800 이하의 화합물의 함유 비율이 18질량% 이하이다. 여기에서 말하는 비가교형이란, 본 발명의 효과를 발휘하는 범위에서, 경화재와의 반응 생성물을 포함하는 경우도 포함된다.The adhesive (acrylic adhesive) used for the pellicle which concerns on this embodiment is an uncrosslinked acrylic adhesive material, and the content rate of the compound of the weight average molecular weight 800 or less in an acrylic adhesive is 18 mass% or less. The non-crosslinking type here includes the case where the reaction product with a hardening | curing material is included in the range which exhibits the effect of this invention.

또한, 본 실시 형태의 아크릴계 점착제의 유리 전이 온도는 -25℃ 미만인 것이 바람직하고, -27℃ 이하인 것이 보다 바람직하고, -30℃ 이하인 것이 더욱 바람직하다. 본 실시 형태의 아크릴계 점착제가 복수의 유리 전이 온도를 갖는 경우에는, 당해 복수의 유리 전이 온도 중 적어도 하나가 이 범위에 존재하면 된다. 유리 전이 온도가 상술한 범위 내에 있으면, 탄성률이 낮아 부드러운 점착제가 되기 때문에, 후술하는 마스크 변형을 저감시킨다는 효과를 보다 유효하게 발휘할 수 있다. 또한, 본 실시 형태의 아크릴계 점착제의 유리 전이 온도의 하한은 특별히 제한은 없지만, 취급의 용이성이나 마스크 점착제의 성형성의 관점에서, -90℃ 이상인 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable that the glass transition temperature of the acrylic adhesive of this embodiment is less than -25 degreeC, It is more preferable that it is -27 degrees C or less, It is further more preferable that it is -30 degrees C or less. In the case where the acrylic pressure-sensitive adhesive of the present embodiment has a plurality of glass transition temperatures, at least one of the plurality of glass transition temperatures may be present in this range. When the glass transition temperature is in the above-described range, the elastic modulus is low and thus a soft adhesive can be more effectively exhibited. Moreover, although the minimum in particular of the glass transition temperature of the acrylic adhesive of this embodiment does not have a restriction | limiting, It is preferable that it is -90 degreeC or more from a viewpoint of the ease of handling and the moldability of a mask adhesive.

또한, 본 실시 형태의 아크릴계 점착제의 탄성률은 20mN/㎟ 이상 180mN/㎟ 이하인 것이 바람직하다. 탄성률이 상기 범위 내에 있으면, 부드러움을 유지하면서 마스크로부터의 펠리클의 어긋남을 억제할 수 있는 데다가 마스크에 가해지는 부착 하중을 완화시킬 수 있기 때문에, 펠리클로부터 마스크로 인가되는 변형을 저감시키는 것이 가능해진다. 본 실시 형태의 아크릴계 점착제의 탄성률은 30mN/㎟ 이상 160mN/㎟ 이하인 것이 더욱 바람직하고, 40mN/㎟ 이상 140mN/㎟ 이하인 것이 더욱 바람직하다. 점착제의 탄성률은, 점착제에 사용하는 원료 중합체의 탄성률 및 복수의 원료 중합체를 사용하는 경우에는 그들의 상용성을 고려하여 조정할 수 있다.Moreover, it is preferable that the elasticity modulus of the acrylic adhesive of this embodiment is 20 mN / mm <2> or more and 180 mN / mm <2> or less. When the modulus of elasticity is within the above range, the pellicle shift from the mask can be suppressed while maintaining the softness, and the adhesion load applied to the mask can be alleviated, so that the strain applied from the pellicle to the mask can be reduced. As for the elasticity modulus of the acrylic adhesive of this embodiment, it is more preferable that they are 30 mN / mm <2> or more and 160 mN / mm <2> or less, and it is more preferable that they are 40 mN / mm <2> or more and 140 mN / mm <2> or less. The elasticity modulus of an adhesive can be adjusted in consideration of their compatibility, when using the elasticity modulus of the raw material polymer used for an adhesive, and a some raw material polymer.

또한, 본 실시 형태에 관한 펠리클에 사용하는 아크릴계 점착제는 양호한 탄성 접착성을 부여하는 관점에서, 아크릴계 중합체 (A)와, 아크릴계 베이스 중합체 (B)가 포함되는 것이 바람직하다. 여기서, 상기 화합물 등의 중량 평균 분자량은, GPC(겔 투과 크로마토그래피) 측정에서 얻은 값이다.In addition, it is preferable that the acrylic adhesive used for the pellicle which concerns on this embodiment contains an acrylic polymer (A) and an acrylic base polymer (B) from a viewpoint of providing favorable elastic adhesiveness. Here, the weight average molecular weights of the said compound etc. are the values obtained by the GPC (gel permeation chromatography) measurement.

(중량 평균 분자량 800 이하의 화합물) (Compound with a weight average molecular weight of 800 or less)

중량 평균 분자량 800 이하의 화합물은, 비가교형의 아크릴계 점착제에서, 점착성을 발현시키거나, 또는 점착·접착 성능을 향상시키기 위한 점착 부여제로서 사용된다. 점착 부여제는, 점착제의 베이스가 되는 중합체(베이스 중합체)와의 상용성이 양호할 뿐만 아니라, 우수한 점성 유동 특성 즉 점착제의 변형 또는 변동 속도로 즉시 결합하는 성질을 점착제에 부여하는 것이 요구되고, 베이스 중합체보다 대폭 낮은 분자량인 것이 중요해진다. 그 때문에, 통상은, 점착 부여제로서 중량 평균 분자량 800 이하의 저분자량 화합물이 사용된다.A compound with a weight average molecular weight of 800 or less is used as a tackifier for expressing adhesiveness or improving adhesive and adhesive performance in an uncrosslinked acrylic adhesive. The tackifier not only has good compatibility with the polymer (base polymer) serving as the base of the pressure-sensitive adhesive, but also needs to give the pressure-sensitive adhesive with excellent viscosity flow characteristics, i.e., a property of instantly bonding at a rate of deformation or fluctuation of the pressure-sensitive adhesive. It is important that the molecular weight is significantly lower than the polymer. Therefore, a low molecular weight compound with a weight average molecular weight of 800 or less is usually used as a tackifier.

상술한 바와 같이, 점착제에서의 중량 평균 분자량 800 이하의 화합물의 함유 비율은 18질량% 이하이다. 중량 평균 분자량 800 이하의 화합물의 함유 비율이 상기 범위 내임으로써, 상기 화합물이 점착제의 표면에 배어 나오는 것이 적절하게 방지된다. 이에 의해, 점착제의 응집 파괴를 억제하여, 점착제 잔류를 저감시킬 수 있다. 상기 화합물의 함유 비율은 적을수록 좋고, 15질량% 이하, 10질량% 이하, 7질량% 이하, 또는 3질량% 이하인 것이 보다 바람직하다. 상기 화합물은 점착제 중에 함유되어 있지 않을 수도 있지만, 상기 화합물이 점착제 중에 함유되어 있는 경우에 있어서의 상기 화합물의 함유 비율은, 0.5질량% 이상, 또는 1질량% 이상일 수도 있다.As mentioned above, the content rate of the compound of the weight average molecular weight 800 or less in an adhesive is 18 mass% or less. When the content ratio of the compound having a weight average molecular weight of 800 or less is within the above range, the compound is properly prevented from leaking onto the surface of the pressure-sensitive adhesive. Thereby, aggregation failure of an adhesive can be suppressed and adhesive residue can be reduced. It is more preferable that there are few content rates of the said compound, and it is more preferable that they are 15 mass% or less, 10 mass% or less, 7 mass% or less, or 3 mass% or less. Although the said compound may not be contained in the adhesive, the content rate of the said compound in the case where the said compound is contained in an adhesive may be 0.5 mass% or more, or 1 mass% or more.

또한, 종래에 있어서의 아크릴계 점착제는 가교형과 비가교형의 점착제로 크게 나뉘어져 있다. 일반적으로, 비가교형의 아크릴계 점착제인 경우, 베이스 중합체와 점착 부여제가 함유되어 있다. 점착 부여제로서는, 로진계 수지, 테르펜계 수지 또는 석유계 수지 등을 포함하고, 분자량이 수백 내지 수천이고 무정형의 화합물이다. 아크릴계 점착제에 가장 많이 적용되는 점착 부여제는, 로진계 수지로 되어 있다. 로진계 수지는, 입체적이며 벌키한 환상 구조를 갖기 때문에, 동일한 연화점을 나타내는 다른 석유계 수지에 비하여, 저분자량으로 좁은 분자량 분포가 된다. 또한, 로진계 수지는, 에스테르 결합 등의 극성기를 갖고, 베이스 중합체에 대한 상용성이 우수한 점에서, 아크릴계 점착제의 점착 부여제로서 가장 많이 적용된다. 그러나, 로진계 수지는, 아비에트산으로 대용되는 불포화 결합을 갖는 구조를 포함하기 때문에, 산화되기 쉬워, 내광성 등이 떨어진다. 그 때문에 수소 첨가, 중합화된 변성 로진을 에스테르화한 수지의 개발이나, 초담색화 기술에 의해 광학 용도 등에도 뛰어난 로진 유도체가 개발되고 있다.In addition, the acrylic adhesive in the prior art is largely divided into a crosslinking type and a non-crosslinking type adhesive. Generally, in the case of an uncrosslinked acrylic pressure sensitive adhesive, the base polymer and the tackifier are contained. Examples of the tackifier include rosin-based resins, terpene-based resins, petroleum-based resins, and the like, and have a molecular weight of several hundred to several thousand and are amorphous compounds. The tackifier applied most to an acrylic adhesive becomes a rosin-type resin. Since the rosin-based resin has a three-dimensional and bulky cyclic structure, it has a narrow molecular weight distribution with a low molecular weight compared to other petroleum resins having the same softening point. Moreover, rosin-type resin has most polar groups, such as an ester bond, and is the most applied as a tackifier of an acrylic adhesive from the point which is excellent in compatibility with a base polymer. However, since rosin-type resin contains the structure which has an unsaturated bond substituted by abienic acid, it is easy to be oxidized and its light resistance etc. are inferior. Therefore, the rosin derivative which is excellent also for optical use etc. is developed by the development of resin which esterified hydrogenated and superposed | polymerized modified rosin, and the super-bleaching technique.

종래에 있어서의 아크릴계 점착제에서는, 베이스 중합체와 점착 부여제를 상용시켜 점착성과 고무 탄성을 발현하기 위하여, 베이스 중합체에 점착 부여제를 20질량% 이상 80질량% 이하의 양을 배합하고 있다. 이것은, 일반적으로 점착 부여제가 20질량% 미만에서는, 점착성의 향상이 부족하다고 말해지고 있기 때문이다. 그러나, 점착 부여제를 상기한 함유 비율로 하면, 점착 부여제와 베이스 중합체 사이에 분리 등이 발생한다. 이로 인해, 점착 부여제가 표면에 배어 나오게 되어, 점착 부여제가 마스크측으로 이행하여 마스크측에 남아 버린다. 이것이, 종래의 아크릴계 점착제를 사용하면 점착제 잔류가 발생하는 원인의 하나로 되어 있다고 생각되어진다.In the conventional acrylic adhesive, the amount of 20 mass% or more and 80 mass% or less is mix | blended with a base polymer in order to make a base polymer and a tackifier compatible, and to express adhesiveness and rubber elasticity. This is because generally, when the tackifier is less than 20 mass%, it is said that the improvement of adhesiveness is lacking. However, when a tackifier is made into the said content rate, separation etc. generate | occur | produce between a tackifier and a base polymer. For this reason, a tackifier comes out to the surface, and a tackifier moves to a mask side and remains on a mask side. It is thought that this is one of the causes of adhesive residue generation when using a conventional acrylic adhesive.

(아크릴계 중합체 (A)) (Acrylic Polymer (A))

아크릴계 중합체 (A)는 유리 전이 온도가 -30℃ 이하이고, -33℃ 이하인 것이 바람직하고, -35℃ 이하인 것이 보다 바람직하다. 아크릴계 중합체 (A)의 유리 전이 온도가 -30℃ 이하로 함으로써, 환경 온도가 낮은 경우에도 양호한 탄성 접착성을 갖고, 작업성도 양호해진다. 하한은 특별히 제한은 없지만, 취급의 용이성, 입수의 용이함으로부터, 유리 전이 온도가 -90℃ 이상인 것이 바람직하다. 또한, 아크릴계 중합체 (A)가 복수의 유리 전이 온도를 갖는 경우, 당해 복수의 유리 전이 온도 중 적어도 하나가 상기 범위 내에 있으면 되며, 당해 복수의 유리 전이 온도 모두가 상기 범위 내에 있는 것이 바람직하다. 또한, 본 실시 형태에 사용되는 화합물 등의 유리 전이 온도는, DSC(시차 주사 열량 측정)로 얻은 값이다.The glass transition temperature of an acrylic polymer (A) is -30 degrees C or less, it is preferable that it is -33 degrees C or less, and it is more preferable that it is -35 degrees C or less. By the glass transition temperature of an acrylic polymer (A) being -30 degrees C or less, even when an environmental temperature is low, it has favorable elastic adhesiveness and workability becomes favorable. Although a minimum does not have a restriction | limiting in particular, It is preferable that glass transition temperature is -90 degreeC or more from the ease of handling and the availability. In addition, when an acrylic polymer (A) has some glass transition temperature, at least 1 of the said some glass transition temperature should just exist in the said range, and it is preferable that all the said plurality of glass transition temperatures exist in the said range. In addition, glass transition temperature, such as a compound used for this embodiment, is a value obtained by DSC (differential scanning calorimetry).

유리 전이 온도가 상기 범위인 경우, 아크릴계 중합체 (A)는 상온에서 액체가 되기 때문에 취급하기 쉽다. 또한, 아크릴계 중합체 (A)를 사용함으로써, 로진계 수지 등의 종래의 점착 부여제를 아크릴계 점착제에 배합하지 않았다고 해도, 펠리클의 점착제로서 사용 가능한 점착력을 발현할 수 있다. 이것은, 아크릴계 중합체 (A)를 사용함으로써, 아크릴계 베이스 중합체 (B)에 포함되는, 접착성 및 유연성을 갖는 단량체 성분과, 상용성이 양호해지기 때문이라고 생각되어진다. 또한, 아크릴계 중합체 (A)는 아크릴계 베이스 중합체 (B)와 상용성이 양호하기 때문에 상분리되기 어려운 것 및 내광성이 되는 것 등으로부터, 종래의 점착 부여제와 같이 표면에 배어 나오는 비율이 작아져, 점착제의 점착제 잔류가 억제된다.When glass transition temperature is the said range, since an acrylic polymer (A) turns into a liquid at normal temperature, it is easy to handle. In addition, by using an acrylic polymer (A), even if conventional tackifiers, such as rosin-type resin, are not mix | blended with an acrylic adhesive, the adhesive force which can be used as an adhesive of a pellicle can be expressed. It is thought that this is because compatibility with the monomer component which has adhesiveness and flexibility contained in an acrylic base polymer (B) becomes favorable by using an acrylic polymer (A). Moreover, since acrylic polymer (A) has good compatibility with acrylic base polymer (B), since it is hard to phase-separate and becomes light resistance, the ratio which soaks on the surface like a conventional tackifier becomes small, and it is an adhesive The adhesive residue of is suppressed.

또한, 최근의 노광광의 단파장화·고에너지화에 수반하여, 패턴의 미세화가 진행되고 있다. 미세화의 방법으로서 더블 패터닝이 알려져 있고, 통상 2매의 마스크를 사용하여 2회 노광한다. 이로 인해, 형성되는 2개의 패턴끼리의 위치 정밀도를 높이는 것이 중요해진다. 즉, 1회째의 노광에 의해 얻어지는 패턴과 2회째의 노광에 의해 얻어지는 패턴의 위치 정밀도가 낮으면, 원하는 패턴을 얻을 수 없게 된다. 이로 인해, 형성되는 2개의 패턴의 위치 어긋남을 작게 할 필요가 있기 때문에, 마스크에 요구되는 평탄성이 필요하게 되어 있다. 이때, 마스크에 펠리클을 부착하면, 마스크 변형이 발생하는 경우가 있다.Moreover, with the recent shortening of wavelength and high energy of exposure light, refinement | miniaturization of a pattern is progressing. Double patterning is known as a method of refinement | miniaturization, and it exposes normally twice using two masks. For this reason, it becomes important to raise the positional precision of the two patterns formed. In other words, if the positional accuracy of the pattern obtained by the first exposure and the pattern obtained by the second exposure is low, the desired pattern cannot be obtained. For this reason, since the positional shift of the two patterns formed needs to be made small, the flatness calculated | required by the mask is needed. At this time, when a pellicle is affixed to a mask, mask deformation may occur.

이 마스크 변형이 발생하는 원인의 하나로서, 펠리클을 마스크에 점착제를 통하여 압착할 때에, 펠리클 프레임의 변형이, 점착제를 통하여 전해지는 것이 생각되어진다. 그로 인해, 펠리클 프레임의 변형을 마스크에 전해지지 않도록 하기 위하여, 점착제를 부드럽게 하여 변형시킴으로써, 펠리클 프레임의 변형 에너지를 완화시켜, 결과적으로 마스크 변형을 저감시키게 된다고 생각되어지고 있다. 아크릴계 중합체 (A)의 유리 전이점이 상기 범위 내이면, 아크릴계 베이스 중합체 (B)와 상용성이 양호하기 때문에, 유연성을 발휘할 수 있다. 이에 의해, 상술한 마스크 변형을 저감시킬 수 있게 된다.As one of the causes of this mask deformation | transformation, when a pellicle is crimped | bonded to a mask through an adhesive, it is thought that the deformation of a pellicle frame is transmitted through an adhesive. Therefore, in order to prevent the deformation of the pellicle frame from being transmitted to the mask, it is considered that by softening the pressure-sensitive adhesive, the deformation energy of the pellicle frame is alleviated, and as a result, the mask deformation is reduced. If the glass transition point of an acrylic polymer (A) is in the said range, since compatibility with an acrylic base polymer (B) is favorable, flexibility can be exhibited. As a result, the above-described mask deformation can be reduced.

상기 아크릴계 중합체 (A)의 함유량은, 점착제 전체에 대하여 15 내지 80질량%인 것이 바람직하다. 18 내지 75질량%인 것이 보다 바람직하고, 20 내지 70질량%인 것이 더욱 바람직하고, 30 내지 70질량%인 것이 특히 바람직하고, 40 내지 70질량%인 것이 특히 더 바람직하다. 당해 함유량이 15질량% 이상임으로써, 적절한 접착력을 얻을 수 있고, 80질량% 이하임으로써, 응집력을 적절한 범위로 할 수 있어, 유지력이 향상된다. 아크릴계 중합체 (A)의 함유량을 상기한 범위로 함으로써, 펠리클을 마스크에 부착한 후에 펠리클이 마스크로부터 낙하하는 것을 방지할 수 있다.It is preferable that content of the said acrylic polymer (A) is 15-80 mass% with respect to the whole adhesive. It is more preferable that it is 18-75 mass%, It is further more preferable that it is 20-70 mass%, It is especially preferable that it is 30-70 mass%, It is especially more preferable that it is 40-70 mass%. When the said content is 15 mass% or more, appropriate adhesive force can be obtained, and when it is 80 mass% or less, cohesion force can be made into an appropriate range, and a holding force improves. By making content of an acrylic polymer (A) into the said range, it can prevent that a pellicle falls from a mask after affixing a pellicle to a mask.

아크릴계 중합체 (A)는 연화제로서의 역할도 겸비할 수 있는 관점에서, 탄소수가 1 내지 14인 알킬기를 갖는 (메트)아크릴산알킬계 중합체 또는 공중합체를 포함하는 것이 바람직하다. 이들 중합체 또는 공중합체는, 디블록, 트리블록 등도 포함하고, 1종 또는 2종 이상의 (메트)아크릴산알킬계 단량체를 중합시키거나 또는, 1종 또는 2종 이상의 (메트)아크릴산알킬계 단량체와 (메트)아크릴산알킬계 단량체 이외의 다른 단량체의 혼합물을 중합시켜도 얻어진다. 또한, 기능성에 따라, 이들 중합체 또는 공중합체 중 1종 또는 2종 이상을 사용하여 아크릴계 중합체 (A)를 얻을 수도 있다. 또한, 본 명세서에 있어서의 「(메트)아크릴산」이란 「아크릴산」 및 그것에 대응하는 「메타크릴산」을 의미한다.The acrylic polymer (A) preferably contains an alkyl (meth) acrylate polymer or copolymer having an alkyl group having 1 to 14 carbon atoms from the viewpoint of having a role as a softener. These polymers or copolymers also include diblocks, triblocks, and the like, polymerize one or two or more alkyl (meth) acrylate monomers, or one or two or more alkyl (meth) acrylate monomers ( It is obtained even if it superposes | polymerizes the mixture of other monomers other than an alkyl meth) acrylate type monomer. Moreover, depending on the functionality, the acrylic polymer (A) may be obtained using one kind or two or more kinds of these polymers or copolymers. In addition, "(meth) acrylic acid" in this specification means "acrylic acid" and "methacrylic acid" corresponding to it.

(메트)아크릴산알킬계 단량체의 구체예로서는, (메트)아크릴산메틸, (메트)아크릴산에틸, (메트)아크릴산프로필, (메트)아크릴산부틸, (메트)아크릴산헥실(메트)아크릴산옥틸, (메트)아크릴산데실, (메트)아크릴산2-에틸헥실, (메트)아크릴산이소부틸, (메트)아크릴산이소옥틸, (메트)아크릴산시클로헥실, (메트)아크릴산, (메트)아크릴산히드록시에틸, (메트)아크릴산히드록시프로필, (메트)아크릴산글리시딜, 아크릴산메톡시에틸 등, 직쇄 지방족 알코올의 (메트)아크릴산에스테르, 또는 분지상의 알킬쇄를 갖는 (메트)아크릴산에스테르 등을 들 수 있다. 또한, 상기 다른 단량체로서는, (메트)아크릴산알킬계 단량체와 공중합체 가능한 단량체, 예를 들어 아크릴산, 아세트산비닐, 스티렌 등을 사용할 수 있다.As a specific example of the alkyl (meth) acrylate type monomer, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate (octyl acrylate), (meth) acrylic acid Decyl, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, (meth) acrylic acid, hydroxyethyl (meth) acrylate, (meth) acrylate (Meth) acrylic acid ester of linear aliphatic alcohol, such as oxypropyl, glycidyl (meth) acrylate, and methoxyethyl acrylate, or (meth) acrylic acid ester which has a branched alkyl chain, etc. are mentioned. Moreover, as said other monomer, the monomer copolymerizable with an alkyl (meth) acrylic-type monomer, for example, acrylic acid, vinyl acetate, styrene, etc. can be used.

그 중에서도, (메트)아크릴산부틸, (메트)아크릴산메틸, (메트)아크릴산에틸, (메트)아크릴산2-에틸헥실, (메트)아크릴산2-히드록시에틸, (메트)아크릴산2-메톡시에틸, (메트)아크릴산이소부틸 등의 탄소수 1 내지 8의 알킬기를 갖는 (메트)아크릴산알킬에스테르 등으로 형성되는 중합체 또는 공중합체가, 아크릴계 베이스 중합체 (B)의 접착성을 발현할 수 있는 단량체 성분과 상용성을 가지기 쉽기 때문에 바람직하다. 또한, 상술한 중합체 또는 공중합체는, 연화제로서의 역할도 겸비할 수 있다.Especially, butyl (meth) acrylate, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-methoxyethyl (meth) acrylate, The polymer or copolymer formed from (meth) acrylic-acid alkylester which has a C1-C8 alkyl group, such as isobutyl (meth) acrylate, is compatible with the monomer component which can express the adhesiveness of an acrylic base polymer (B). It is preferable because it is easy to have sex. Moreover, the polymer or copolymer mentioned above can also have a role as a softener.

아크릴계 중합체 (A)의 분자량은, 중량 평균 분자량으로 850 이상 70,000 이하인 것이 바람직하고, 900 이상 68,000 이하인 것이 보다 바람직하다. 아크릴계 중합체 (A)의 중량 평균 분자량이 850 이상임으로써 충분한 접착 강도가 얻어지고, 70,000 이하임으로써 점도를 적절한 범위로 제어할 수 있어, 작업성을 양호하게 하는 관점에서 바람직하다.It is preferable that it is 850 or more and 70,000 or less in a weight average molecular weight, and, as for the molecular weight of an acrylic polymer (A), it is more preferable that it is 900 or more and 68,000 or less. When the weight average molecular weight of an acrylic polymer (A) is 850 or more, sufficient adhesive strength is obtained, A viscosity can be controlled to an appropriate range by being 70,000 or less, and it is preferable from a viewpoint of making workability favorable.

또한, 중량 평균 분자량이 850 이상 70,000 이하임으로써, 아크릴계 베이스 중합체 (B)와 상용되기 쉬워진다. 이로 인해, 아크릴계 베이스 중합체 (B)의 점착성을 높이는 것이 가능해져, 아크릴계 중합체 (A)가 점착 부여제로서의 작용도 하는 것이 가능해진다. 또한, 분자량 800 이하의 화합물을 18질량% 이하로 한 경우에도, 점착제의 점착력을 양호하게 발현함과 함께, 점착제 잔류를 개선하는 것이 가능해진다.Moreover, when a weight average molecular weight is 850 or more and 70,000 or less, it becomes easy to be compatible with an acrylic base polymer (B). For this reason, it becomes possible to raise the adhesiveness of an acrylic base polymer (B), and it becomes possible for an acrylic polymer (A) to also act as a tackifier. Moreover, even when the compound of molecular weight 800 or less is made into 18 mass% or less, while the adhesive force of an adhesive is exhibited favorably, it becomes possible to improve adhesive residue.

아크릴계 중합체 (A)의 평균 분자량은, MW/MN이 1.0 내지 2.0의 범위인 것이, 점착제 잔류를 방지하는 관점에서 바람직하다. 또한, 점착제를 펠리클 프레임에 두껍게 도포하는 것이 가능해지면서, 또한 펠리클을 마스크에 부착했을 때의 마스크 변형을 저감시키는 것이 가능해지는 관점에서, 블록 중합체인 것이 바람직하다.The average molecular weight of the acrylic polymer (A) is preferably from the viewpoint of preventing the adhesive residue from having a M W / M N in the range of 1.0 to 2.0. Moreover, it is preferable that it is a block polymer from a viewpoint that it becomes possible to apply | coat an adhesive to a pellicle frame thickly and to reduce the mask distortion at the time of sticking a pellicle to a mask.

아크릴계 중합체 (A)의 구체예로서는, 상품명 「아루폰(ARUFON)(등록 상표)」 시리즈(도아 고세 가부시키가이샤제), 상품명 「크라리티(등록 상표)」 시리즈(가부시키가이샤 구라레이제) 등을 들 수 있다. 상품명 「아루폰(등록 상표)」 시리즈는, 중합 개시제, 연쇄 이동제, 용제 등을 사용하지 않기 때문에 불순물이 적고, MW/MN이 1.0 내지 2.0으로 분자량 분포가 좁기 때문에 점착제 잔류 방지성이 특히 우수하다. 또한, 상품명 「크라리티(등록 상표)」 시리즈는, 경질 세그먼트 및 연질 세그먼트를 갖는 트리블록 공중합체이기 때문에, 펠리클 프레임에 두껍게 도포할 수 있는 점에서 마스크 변형의 저감이 특히 우수하다. 또한, 상품명 「크라리티(등록 상표)」 시리즈는 MW/MN이 1.0 내지 2.0으로 분자량 분포가 좁기 때문에, 점착제 잔류 방지성도 우수하다.As a specific example of an acryl-type polymer (A), a brand name "Arupon (ARUFON) (trademark)" series (made by Toagosei Co., Ltd.), a brand name "Craiti (registered trademark)" series (made by Kuraray Co., Ltd.), etc. are mentioned. Can be mentioned. Trade name "Aru phone (trademark)" series, the polymerization initiator, as a chain transfer agent, does not use a solvent such as less impurities, since M W / M N is the molecular weight distribution is narrow as 1.0 to 2.0, the pressure-sensitive adhesive residue prevention property in particular great. Moreover, since the brand name "Cryrity (trademark)" series is a triblock copolymer having a hard segment and a soft segment, the reduction of mask deformation is particularly excellent in that it can be thickly applied to a pellicle frame. Further, since the commercial name "Priority Klein TM" series of narrow molecular weight distribution with M W / M N of 1.0 to 2.0, it is excellent in pressure-sensitive adhesive residue prevention.

(아크릴계 베이스 중합체 (B)) (Acrylic Base Polymer (B))

본 실시 형태에 있어서, 아크릴계 베이스 중합체 (B)는, 유리 전이 온도가 -25℃ 이상이고, 140℃ 이하인 것이 바람직하다. 특히, -25℃ 이상 130℃ 이하, 또한, -25℃ 이상 120℃ 이하가 바람직하다. 본 실시 형태의 아크릴계 베이스 중합체 (B)가 복수의 유리 전이 온도를 갖는 경우에는, 당해 복수의 유리 전이 온도 중 적어도 하나가 이 범위에 존재하면 된다. 또한, 아크릴계 베이스 중합체 (B)는 점착제를 펠리클 프레임에 두껍게 도포하는 것이 가능해지고, 펠리클을 마스크에 부착했을 때의 마스크 변형을 저감시키는 것이 가능해지는 관점에서, 블록 중합체인 것이 바람직하다.In this embodiment, it is preferable that an acrylic base polymer (B) is -25 degreeC or more and 140 degrees C or less of glass transition temperature. Especially -25 degreeC or more and 130 degrees C or less, and -25 degreeC or more and 120 degrees C or less are preferable. In the case where the acrylic base polymer (B) of the present embodiment has a plurality of glass transition temperatures, at least one of the plurality of glass transition temperatures may be present in this range. Moreover, it is preferable that an acrylic base polymer (B) is block polymer from a viewpoint which becomes possible to apply | coat an adhesive thickly to a pellicle frame, and to reduce mask distortion at the time of sticking a pellicle to a mask.

상기 블록 중합체는 유리 전이 온도가 -25℃ 이상인 것이 바람직하고, 140℃ 이하인 것이 바람직하다. 특히, -10℃ 이상 130℃ 이하, 또한, 0℃ 이상 120℃ 이하가 바람직하다.It is preferable that glass transition temperature is -25 degreeC or more, and, as for the said block polymer, it is preferable that it is 140 degrees C or less. In particular, -10 degreeC or more and 130 degrees C or less, and 0 degreeC or more and 120 degrees C or less are preferable.

상기 블록 중합체는 일반식 (I) -(a1)-(b)-(a2)-를 포함한다. 식 (I)의 (a1) 및 (a2)의 유리 전이 온도는 80℃ 이상인 것이 바람직하다. 식 (I)의 (b)의 유리 전이 온도는 30℃ 이하인 것이 바람직하다. 또한, 식 (I)의 (b)는 유리 전이 온도가 30℃ 이하인 중합체를 주쇄 중에 갖는 블록 중합체인 것이 바람직하다.The block polymer includes the general formulas (I)-(a1)-(b)-(a2)-. It is preferable that the glass transition temperatures of (a1) and (a2) of Formula (I) are 80 degreeC or more. It is preferable that the glass transition temperature of (b) of Formula (I) is 30 degrees C or less. Moreover, it is preferable that (b) of Formula (I) is a block polymer which has a polymer whose glass transition temperature is 30 degrees C or less in a main chain.

식 (I)의 (a1) 및 (a2)로 표시되는 중합체 블록(이하, 이들 중합체 블록을 「중합체 블록 a」라고 칭함)을 구성하는 단량체 성분은, 주로 탄소수가 1 내지 14인 메타크릴산알킬에스테르인 것이, 중합체 블록 a의 유리 전이 온도를 80℃ 이상으로 하는 관점에서 바람직하다. 상기 메타크릴산알킬에스테르로서는 예를 들어, 메타크릴산메틸, 메타크릴산에틸, 메타크릴산n-프로필, 메타크릴산이소프로필, 메타크릴산n-부틸, 메타크릴산이소부틸, 메타크릴산sec-부틸, 메타크릴산t-부틸, 메타크릴산아밀, 메타크릴산이소아밀, 메타크릴산n-헥실, 메타크릴산2-에틸헥실, 메타크릴산펜타데실, 메타크릴산시클로헥실, 메타크릴산라우릴, 메타크릴산트리데실, 메타크릴산2-헥실데실 등의 1종 또는 2종 이상을 들 수 있다. 단, 중합체 블록 a의 유리 전이 온도를 80℃ 이상으로 하는 관점에서, 메타크릴산메틸, 메타크릴산에틸, 메타크릴산n-프로필, 메타크릴산이소프로필 등의, 메타크릴산 및 탄소수 3 이하의 알코올을 포함하는 에스테르를 주체로 하는 것이 더 바람직하다. 여기서, 「주로」란, 중합체 블록 a 전체 중 적어도 절반을 초과하고, 바람직하게는 80% 이상을 탄소수가 1 내지 14인 메타크릴산알킬에스테르가 차지하고 있는 것을 가리킨다. 또한, 중합체 블록 a 중 적어도 어느 하나가, 탄소수가 1 내지 14인 메타크릴산알킬에스테르를 포함하고 있을 수도 있다.The monomer component which comprises the polymer block represented by (a1) and (a2) of Formula (I) (henceforth these polymer blocks are called "polymer block a") is a C1-C14 alkyl methacrylate mainly It is preferable that it is ester from a viewpoint of making the glass transition temperature of the polymer block a into 80 degreeC or more. As said alkyl methacrylate, For example, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n-propyl methacrylate, isopropyl methacrylate, n-butyl methacrylate, isobutyl methacrylate, methacrylic acid sec-butyl, t-butyl methacrylate, amyl methacrylate, isoamyl methacrylate, n-hexyl methacrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, pentadecyl methacrylate, cyclohexyl methacrylate, meta 1 type (s) or 2 or more types, such as lauryl krill, tridecyl methacrylate and 2-hexyl decyl methacrylate, is mentioned. However, methacrylic acid, such as methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n-propyl methacrylate, isopropyl methacrylate, and carbon number 3 or less from a viewpoint of making the glass transition temperature of the polymer block a into 80 degreeC or more. It is more preferable to mainly use ester containing alcohol. Here, "mainly" means that the methacrylic acid alkyl ester having 1 to 14 carbon atoms occupies at least half of the entire polymer block a, and preferably 80% or more. In addition, at least any one of polymer block a may contain the C1-C14 methacrylic acid alkylester.

식 (I)의 중합체 블록 a에는, 적은 비율(예를 들어 절반 미만, 바람직하게는 20% 미만)이면, 예를 들어 메타크릴산트리메틸실릴, 메타크릴산트리메톡시실릴프로필, 메타크릴산글리시딜, 메타크릴산알릴 등의 알킬에스테르 이외의 메타크릴산에스테르; 아크릴산메틸, 아크릴산n-부틸, 아크릴산t-부틸 등의 아크릴산알킬에스테르; 에틸렌, 프로필렌 등의 올레핀; ε-카프로락톤, 발레로락톤 등의 락톤이라는 단량체에서 유래하는 구성 성분이 포함되어 있을 수도 있다. 중합체 블록 a의 유리 전이 온도가 80℃ 이상이면 고온 하에서의 유지력 및 응집력이 충분히 얻어져 바람직하다.In the polymer block a of formula (I), if it is a small ratio (for example, less than half, preferably less than 20%), for example, trimethylsilyl methacrylate, trimethoxy silylpropyl methacrylate, and methacrylate Methacrylic acid esters other than alkyl esters such as cydyl and allyl methacrylate; Alkyl acrylates such as methyl acrylate, n-butyl acrylate and t-butyl acrylate; Olefins such as ethylene and propylene; The structural component derived from the monomer called lactone, such as (epsilon) -caprolactone and valerolactone, may be contained. If the glass transition temperature of the polymer block a is 80 degreeC or more, the holding force and cohesion force under high temperature are fully obtained and it is preferable.

식 (I)의 (b)로 표시되는 중합체 블록(이하, 이것을 「중합체 블록 b」라고 칭함)을 구성하는 단량체 성분은, 주로 탄소수 1 내지 14의 아크릴산알킬에스테르 및/또는 메타크릴산알킬에스테르인 것이 중합체 블록 b의 유리 전이 온도를 30℃ 이하로 하는 관점에서 바람직하다. 중합체 블록 b를 구성할 수 있는 아크릴산알킬에스테르로서는, 예를 들어 아크릴산메틸, 아크릴산에틸, 아크릴산n-프로필, 아크릴산이소프로필, 아크릴산n-부틸, 아크릴산이소부틸, 아크릴산sec-부틸, 아크릴산t-부틸, 아크릴산아밀, 아크릴산이소아밀, 아크릴산n-헥실, 아크릴산2-에틸헥실, 아크릴산라우릴 등의 1종 또는 2종 이상을 들 수 있다. 또한, 중합체 블록 b를 구성할 수 있는 메타크릴산알킬에스테르 단량체로서는, 예를 들어 메타크릴산메틸, 메타크릴산에틸, 메타크릴산n-프로필, 메타크릴산이소프로필, 메타크릴산n-부틸, 메타크릴산이소부틸, 메타크릴산sec-부틸, 메타크릴산t-부틸, 메타크릴산아밀, 메타크릴산이소아밀, 메타크릴산n-헥실, 메타크릴산2-에틸헥실, 메타크릴산펜타데실, 메타크릴산시클로헥실, 메타크릴산라우릴, 메타크릴산트리데실, 메타크릴산2-헥실데실 등의 1종 또는 2종 이상을 들 수 있다. 단, 중합체 블록 b를, 메타크릴산알킬에스테르를 주된 단량체 성분으로서 사용하여 구성하는 경우에는, 그 유리 전이 온도를 30℃ 이하로 하기 위하여, 메타크릴산n-부틸, 메타크릴산이소부틸, 메타크릴산아밀, 메타크릴산이소아밀, 메타크릴산n-헥실, 메타크릴산2-에틸헥실, 메타크릴산펜타데실, 메타크릴산라우릴, 메타크릴산트리데실, 메타크릴산2-헥실데실 등의, 메타크릴산과 탄소 4 이상의 알코올의 에스테르를 주체로 하는 것이 바람직하다. 중합체 블록 b에는, 마스크로의 점착제 잔류와 내광성에 악영향을 주지 않는 범위에서, 다른 구성 성분을 포함하고 있을 수도 있다.The monomer component which comprises the polymer block (henceforth this "polymer block b") represented by (b) of Formula (I) is mainly C1-C14 alkyl acrylate and / or alkyl methacrylate. It is preferable from a viewpoint of making the glass transition temperature of the polymer block b into 30 degrees C or less. As alkyl acrylate ester which can comprise the polymer block b, For example, methyl acrylate, ethyl acrylate, n-propyl acrylate, isopropyl acrylate, n-butyl acrylate, isobutyl acrylate, sec-butyl acrylate, t-butyl acrylate, 1 type (s) or 2 or more types, such as amyl acrylate, isoamyl acrylate, n-hexyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, and lauryl acrylate. Moreover, as methacrylic acid alkylester monomer which can comprise the polymer block b, For example, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, n-propyl methacrylate, isopropyl methacrylate, n-butyl methacrylate Isobutyl methacrylate, sec-butyl methacrylate, t-butyl methacrylate, amyl methacrylate, isoamyl methacrylate, n-hexyl methacrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, methacrylic acid Pentadecyl, cyclohexyl methacrylate, lauryl methacrylate, tridecyl methacrylate, 2-hexyl decyl methacrylate, etc. can be mentioned. However, in the case of constituting the polymer block b using the alkyl methacrylate as the main monomer component, in order to make the glass transition temperature 30 ° C. or less, n-butyl methacrylate, isobutyl methacrylate, and meta Amyl methacrylate, isoamyl methacrylate, n-hexyl methacrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, pentadecyl methacrylate, lauryl methacrylate, tridecyl methacrylate, 2-hexyl methacrylate, etc. It is preferable to mainly use esters of methacrylic acid and an alcohol having 4 or more carbons. The polymer block b may include other constituents within a range that does not adversely affect the pressure-sensitive adhesive residue and the light resistance of the mask.

중합체 블록 b의 유리 전이 온도가 30℃ 이하임으로써, 점착력, 유지력이 충분히 얻어지기 때문에 바람직하다.When the glass transition temperature of the polymer block b is 30 degrees C or less, since adhesive force and holding force are fully obtained, it is preferable.

상기 블록 중합체는 식 (I)의 (a1) 및 (a2)와 같이, 2개의 중합체 블록 a 사이에 1개의 중합체 블록 b가 위치하는 구조를 갖는다. 그러나, 상기한 3개의 중합체 블록을 소정의 순서로 포함하고 있으면, 이들 3개의 중합체 블록만으로 구성되는 블록 공중합체뿐만 아니라, 또한 1개 이상의 다른 중합체 블록을 포함하는 4개 이상의 중합체 블록으로 구성되는 블록 공중합체를 포함하고 있을 수도 있다. 상술한 다른 중합체 블록은, 중합체 블록 a 또는 b와 동종의 중합체 블록일 수도 있고, 그것과는 별종의 중합체 블록 c일 수도 있다. 별종의 중합체 블록 c로서는, 에틸렌, 프로필렌 등의 올레핀 및 ε-카프로락톤, 발레로락톤 등의 락톤 등에 의해 구성되는 중합체 블록이 예시된다.The block polymer has a structure in which one polymer block b is located between two polymer blocks a, as shown in formula (I) and (a2). However, if the above-described three polymer blocks are included in a predetermined order, not only a block copolymer composed of these three polymer blocks but also a block composed of four or more polymer blocks including one or more other polymer blocks It may also contain a copolymer. The other polymer block mentioned above may be a polymer block of the same kind as polymer block a or b, and may be a polymer block c different from it. As another polymer block c, the polymer block comprised by olefins, such as ethylene and a propylene, and lactones, such as (epsilon) -caprolactone and a valerolactone, is illustrated.

본 실시 형태에 있어서 바람직한 블록 공중합체로서는, 중합체 블록 a-중합체 블록 b-중합체 블록 a, 중합체 블록 a-중합체 블록 b-중합체 블록 a-중합체 블록 b, 중합체 블록 a-중합체 블록 b-중합체 블록 a-중합체 블록 c 등을 들 수 있다.Preferred block copolymers in this embodiment include polymer block a-polymer block b-polymer block a, polymer block a-polymer block b-polymer block a-polymer block b, polymer block a-polymer block b-polymer block a A polymer block c and the like.

블록 공중합체의 분자량은, 중량 평균 분자량으로 10,000 내지 500,000의 범위에 있는 것이 바람직하고, 30,000 내지 450,000, 특히 50,000 내지 400,000의 범위 내에 있는 것이 보다 바람직하다. 블록 공중합체의 중량 평균 분자량이 10,000 내지 500,000의 범위임으로써, 리빙 중합법 등으로 중합할 수 있고, 분자량 분포가 작고 불순물이 적은 블록 공중합체가 얻어진다. 이에 의해, 점착제의 점착제 잔류가 개선되어, 점착제를 두껍게 도포하는 것이 가능해지는 점에서 바람직하다. 또한, 상기 관점에서, 분자량 분포로서는 MW/MN이 1.0 내지 2.0인 것이 바람직하다.It is preferable that the molecular weight of a block copolymer exists in the range of 10,000-500,000 by weight average molecular weight, and it is more preferable to exist in the range of 30,000-450,000, especially 50,000-400,000. When the weight average molecular weight of a block copolymer is the range of 10,000-500,000, it can superpose | polymerize by a living polymerization method etc., and the block copolymer with a small molecular weight distribution and few impurities is obtained. It is preferable at this point that the adhesive residue of an adhesive improves and it becomes possible to apply | coat an adhesive thickly. Further, in view of the above, as the molecular weight distribution it is preferably a M W / M N of 1.0 to 2.0.

그리고, 블록 공중합체에서는, 분자 중에 포함되는 중합체 블록 b의 총 질량을 기준으로 한 경우에 있어서의 중합체 블록 a의 총 질량의 비율(a/b)은 5/95 내지 80/20이면 바람직하다. 나아가, a/b는 10/90 내지 75/25이면 보다 바람직하다. a/b가 5/95 이상임으로써, 점착제의 응집력이 충분히 얻어져, 높은 유지력이 얻어지는 경향이 된다. 또한, a/b가 80/20 이하임으로써, 점착력이 충분히 얻어지는 경향이 된다.And in a block copolymer, the ratio (a / b) of the total mass of the polymer block a in the case where it is based on the total mass of the polymer block b contained in a molecule | numerator is preferable in it being 5/95-80/20. Furthermore, a / b is more preferable in it being 10/90-75/25. When a / b is 5/95 or more, the cohesion force of an adhesive is fully acquired and it becomes the tendency for a high holding force to be obtained. Moreover, since a / b is 80/20 or less, it becomes the tendency for adhesive force to fully be obtained.

상술한 블록 공중합체이면, 중합체 중에 부피가 큰 분지 구조를 갖는 측쇄를 형성할 수 있다. 이로 인해, 점착제를 두껍게 도포하는 것이 가능해져, 펠리클을 마스크에 부착했을 때의 마스크 변형을 저감시키는 것이 가능해진다. 또한, 아크릴계 중합체 (A)는 중합체 블록 b와 특히 상용성이 양호하기 때문에, 접착성과 유연성을 향상시킬 수 있어, 더욱 마스크 변형을 저감시킬 수 있다.If it is the block copolymer mentioned above, the side chain which has a bulky branched structure in a polymer can be formed. For this reason, it becomes possible to apply | coat an adhesive thickly and it becomes possible to reduce mask distortion at the time of sticking a pellicle to a mask. Moreover, since an acrylic polymer (A) has especially favorable compatibility with the polymer block b, adhesiveness and flexibility can be improved and mask deformation can be reduced further.

또한, 블록 공중합체에는, 마스크로의 점착제 잔류와, 아크릴계 베이스 중합체 (B)의 내광성에 악영향을 주지 않을 정도로, 분자 측쇄 중 또는 분자 주쇄 말단에 수산기, 카르복실기, 산 무수물기, 아미노기 등의 관능기를 갖고 있을 수도 있다.Further, the block copolymer has functional groups such as hydroxyl groups, carboxyl groups, acid anhydride groups and amino groups in the molecular side chain or at the terminal of the molecular main chain to the extent that the adhesive residue in the mask and the light resistance of the acrylic base polymer (B) are not adversely affected. You may have it.

이들 블록 공중합체의 구체예로서는, 상품명 「크라리티(등록 상표)」 시리즈(가부시키가이샤 구라레이제), 상품명 「나노스트렝스(Nanostrength)」 시리즈(아르케마 가부시키가이샤제) 등을 들 수 있다.As a specific example of these block copolymers, a brand name "Crity (registered trademark)" series (made by Kuraray Co., Ltd.), a brand name "Nanostrength" series (made by Arkema Co., Ltd.), etc. are mentioned.

이들 아크릴계 중합체 (A)와 아크릴계 베이스 중합체 (B) 이외에, 내광성 향상이나 점착제 잔류 개선을 목적으로 하여, 무기 물질을 첨가할 수도 있다.In addition to these acrylic polymers (A) and acrylic base polymers (B), an inorganic substance may be added for the purpose of improving the light resistance and improving the adhesive residue.

본 실시 형태의 펠리클은, 예를 들어 이하의 방법으로 적절하게 제조할 수 있다.The pellicle of this embodiment can be manufactured suitably by the following method, for example.

첫째, 상술한 아크릴계 중합체 (A)와 아크릴계 베이스 중합체 (B)를 혼합하여, 점착제 조성물을 얻는다. 이 경우, 점착제(10)를 소정의 두께·폭의 마스크 점착제층으로서 펠리클 프레임(2)의 단부면에 부착(도포)되기 때문에, 점착제 조성물을 재차 용매로 희석하여, 용액 농도(점도)를 조정한다. 마스크 점착제층의 두께는 0.25㎜ 이상 3.0㎜ 이하가 바람직하다. 반도체용에서는, 당해 두께는 0.25㎜ 이상 1.0㎜ 이하가 바람직하고, 0.3㎜ 이상 0.8㎜ 이하가 더욱 바람직하다. 액정용에서는, 당해 두께는 1.0㎜ 이상 2.5㎜ 이하가 바람직하고, 1.2㎜ 이상 2.0㎜ 이하가 더욱 바람직하다. 또한, 마스크 점착제층의 폭은, 도포되는 프레임폭의 30% 이상 90% 이하가 바람직하고, 40% 이상 80% 이하가 더욱 바람직하다. 프레임폭으로서는 1.0㎜ 이상 20㎜ 이하가 일반적이다.First, the acrylic polymer (A) and the acrylic base polymer (B) described above are mixed to obtain an adhesive composition. In this case, since the adhesive 10 is attached (coated) to the end surface of the pellicle frame 2 as a mask adhesive layer of a predetermined thickness and width, the adhesive composition is diluted again with a solvent to adjust the solution concentration (viscosity). do. As for the thickness of a mask adhesive layer, 0.25 mm or more and 3.0 mm or less are preferable. In the semiconductor, the thickness is preferably 0.25 mm or more and 1.0 mm or less, and more preferably 0.3 mm or more and 0.8 mm or less. In liquid crystal use, the thickness is preferably 1.0 mm or more and 2.5 mm or less, and more preferably 1.2 mm or more and 2.0 mm or less. Moreover, 30% or more and 90% or less of the frame width to which the mask adhesive layer is apply | coated is preferable, and 40% or more and 80% or less are more preferable. As frame width, 1.0 mm or more and 20 mm or less are common.

둘째, 점착제 조성물을, 일단부면(2e)에 장설된 펠리클막(3)을 갖는 펠리클 프레임(2)의 타단부면(2f)에 도포한다. 도포 방법은, 특별히 한정되는 것은 아니나, 점착제 조성물을 용매로 희석한 경우에는 디스펜서 또는 시린지를 사용하여 도포하는 것이 바람직하다. 또한, 점착제 조성물을 열 용융하여 도포하는 핫 멜트법을 사용할 수도 있다.Second, the pressure-sensitive adhesive composition is applied to the other end surface 2f of the pellicle frame 2 having the pellicle film 3 installed on one end surface 2e. Although a coating method is not specifically limited, When diluting an adhesive composition with a solvent, it is preferable to apply | coat using a dispenser or a syringe. Moreover, the hot melt method which heat-melts an adhesive composition and apply | coats can also be used.

셋째, 점착제 조성물을 용매로 희석한 경우에는, 도포된 점착제 조성물을 가열 건조시킴으로써 성형한 점착제(10)를 펠리클 프레임(2)의 타단부면(2f)에 밀착시킨다. 핫 멜트법으로 점착제 조성물을 도포한 경우는, 도포된 점착제 조성물을 성형 후 냉각한 점착제(10)를 펠리클 프레임(2)의 타단부면(2f)에 밀착시킨다. 점착물 조성물을 건조 또는 냉각 후, 점착제(10)의 점착면을 보호하기 위한 보호 필름 F를 붙일 수도 있다. 보호 필름 F는, 예를 들어 폴리에스테르제의 두께 30 내지 200㎛의 필름 등이 사용된다. 또한, 점착제(10)로부터 보호 필름 F를 박리할 때의 박리력이 크면, 박리 시에 점착제(10)가 변형될 우려가 있다. 따라서, 적절한 박리력이 되도록, 점착제(10)와 접하는 보호 필름 F 표면에 실리콘 또는 불소 등을 사용한 이형 처리를 미리 행하고 있을 수도 있다.Third, when the pressure-sensitive adhesive composition is diluted with a solvent, the molded pressure-sensitive adhesive 10 is brought into close contact with the other end surface 2f of the pellicle frame 2 by heating and drying the applied pressure-sensitive adhesive composition. When apply | coating an adhesive composition by a hot melt method, the adhesive 10 which cooled after shape | molding the apply | coated adhesive composition is made to adhere to the other end surface 2f of the pellicle frame 2 closely. After drying or cooling an adhesive composition, you may stick the protective film F for protecting the adhesive face of the adhesive 10. As the protective film F, for example, a film having a thickness of 30 to 200 μm made of polyester is used. Moreover, when the peeling force at the time of peeling the protective film F from the adhesive 10 is large, there exists a possibility that the adhesive 10 may deform | transform at the time of peeling. Therefore, you may perform previously the mold release process using silicone or fluorine etc. on the protective film F surface which contact | connects the adhesive 10 so that it may become a suitable peeling force.

점착제(10)의 점착면을 보호하기 위한 보호 필름 F를 붙인 후, 가중을 가하여, 점착제 표면을 대략 평탄하게 성형할 수도 있다.After sticking the protective film F for protecting the adhesive face of the adhesive 10, weighting is added and the adhesive surface may be shape | molded substantially flat.

실시예Example

이하, 실시예 및 비교예에 의해 본 실시 형태를 더욱 구체적으로 설명하지만, 본 실시 형태는 이들에 의해 전혀 한정되지 않는다.Hereinafter, although an Example and a comparative example demonstrate this embodiment further more concretely, this embodiment is not limited at all by these.

아크릴계 중합체 (A), 아크릴계 베이스 중합체 (B), 분자량 800 이하의 화합물은, 다음의 것을 사용했다. 또한, 아크릴계 중합체 (A)에 관해서는, GPC 측정에 의해 얻어진, 조성의 분자량 800 이하의 비율을 함께 나타낸다. (아크릴계 중합체 (A))The following things were used for the acryl-type polymer (A), the acryl-type base polymer (B), and the compound of molecular weight 800 or less. In addition, about an acrylic polymer (A), the ratio of the molecular weight 800 or less of the composition obtained by GPC measurement is shown together. (Acrylic Polymer (A))

·아루폰(등록 상표) UP1190(도아 고세 가부시키가이샤제)(28.2%)ALPON (registered trademark) UP1190 (made by Toagosei Co., Ltd.) (28.2%)

(유리 전이 온도: -50℃)(Glass transition temperature: -50 ℃)

·아루폰(등록 상표) UP1080(도아 고세 가부시키가이샤제)(5.9%) Arupon (registered trademark) UP1080 (manufactured by Toagosei Co., Ltd.) (5.9%)

(유리 전이 온도: -61℃) (Glass transition temperature: -61 ℃)

·아루폰(등록 상표) UP1000(도아 고세 가부시키가이샤제)(13.7%) ALPON (registered trademark) UP1000 (made by Toagosei Co., Ltd.) (13.7%)

(유리 전이 온도: -77℃) (Glass transition temperature: -77 ℃)

·크라리티(등록 상표) LA1114(가부시키가이샤 구라레이제)(0.0%) Clarity (registered trademark) LA1114 (manufactured by Kuraray, Inc.) (0.0%)

(유리 전이 온도: -40℃) (Glass transition temperature: -40 ℃)

·i-BA/BA/AA/HEA(아크릴산이소부틸/아크릴산부틸/아크릴산/2-히드록시에틸아크릴레이트)(2.4%) I-BA / BA / AA / HEA (isobutyl acrylate / butyl acrylate / acrylic acid / 2-hydroxyethyl acrylate) (2.4%)

(유리 전이 온도: -51℃) (Glass transition temperature: -51 ℃)

(아크릴계 베이스 중합체 (B)) (Acrylic Base Polymer (B))

·크라리티(등록 상표) LA2140e(가부시키가이샤 구라레이제)Clarity (registered trademark) LA2140e (product made by Kuraray Co., Ltd.)

(유리 전이 온도: -38℃, 85℃) (Glass transition temperature: -38 ℃, 85 ℃)

·크라리티(등록 상표) LA2330(가부시키가이샤 구라레이제)Clarity (registered trademark) LA2330 (manufactured by Kuraray Co., Ltd.)

(유리 전이 온도: -39℃, 86℃) (Glass transition temperature: -39 ℃, 86 ℃)

·나노스트렝스 M-85(아르케마 가부시키가이샤제) Nanostrength M-85 (made by Arkema Co., Ltd.)

(유리 전이 온도: -54℃, 100℃) (Glass transition temperature: -54 ℃, 100 ℃)

(분자량 800 이하의 화합물) (Compound with a molecular weight of 800 or less)

·파인 크리스탈(등록 상표) KE-311(아라카와 가가쿠 고교 가부시키가이샤제)Fine Crystal (registered trademark) KE-311 (made by Arakawa Kagaku Kogyo Co., Ltd.)

아크릴계 중합체 (A)·아크릴계 베이스 중합체 (B)의 분자량, 유리 전이 온도 및 각 공중합 성분의 함유량의 측정, 아크릴계 중합체 (A)·아크릴계 베이스 중합체 (B)를 포함하는 점착제의 유리 전이 온도 및 탄성률은, 이하에 기재되는 장치 및 조건를 따라 행했다.Measurement of the molecular weight, glass transition temperature, and content of each copolymerization component of the acrylic polymer (A) and the acrylic base polymer (B), the glass transition temperature and the elastic modulus of the pressure-sensitive adhesive containing the acrylic polymer (A) and the acrylic base polymer (B) It carried out according to the apparatus and conditions described below.

(1) GPC(겔 투과 크로마토그래피)에 의한 분자량 측정 (1) Molecular weight measurement by GPC (gel permeation chromatography)

·장치: 도소 가부시키가이샤제 겔 투과 크로마토그래피(HLC-8320) Apparatus: gel permeation chromatography (HLC-8320) manufactured by Tosoh Corporation

·칼럼: 도소 가부시키가이샤제 「TSK겔 수퍼(gel SUPER) HZ3000×2」 및 「HZ2000×2」를 직렬로 연결Column: Connect "TSK gel SUPER HZ3000 x 2" and "HZ 2000 x 2" manufactured by Tosoh Corp. in series

·용리액: 테트라히드로푸란 Eluent: tetrahydrofuran

·용리액 유량: 0.6ml/분 Eluent flow rate: 0.6 ml / min

·칼럼 온도: 40℃ Column temperature: 40 ℃

·검출기: 시차 굴절률(RI)계 Detector: differential refractive index (RI) meter

·검량선: 표준 폴리스티렌을 사용하여 작성Calibration curve: Created using standard polystyrene

(2) DSC(시차 주사 열량 측정)에 의한 유리 전이 온도 측정(2) Glass transition temperature measurement by DSC (differential scanning calorimetry)

·장치: TA 인스트루먼트사제 DSCQ2000 Apparatus: DSCQ2000 made by TA Instruments

·밀폐 팬 · Sealed fan

·온도 범위: -80℃ 내지 160℃ Temperature range: -80 ° C to 160 ° C

·승온 속도: 5℃/min Heating rate: 5 ℃ / min

·시료 중량: 10㎎ Sample weight: 10 mg

아크릴계 중합체 (A)·아크릴계 베이스 중합체 (B)를 포함하는 점착제의 유리 전이 온도가 복수 측정된 경우에는, 가장 저온측의 온도를 유리 전이 온도 Tg로 하여 표 1에 기재했다. When two or more glass transition temperatures of the adhesive containing an acrylic polymer (A) and an acrylic base polymer (B) were measured, it showed in Table 1 as the temperature of the lowest temperature side as glass transition temperature Tg.

(3) 프로톤 핵자기 공명(1H-NMR) 분광법에 의한, 각 공중합 성분의 함유량의 측정 (3) Proton nuclear magnetic resonance (1 H-NMR) measurement of the content of the by spectroscopy, each copolymer component

·장치: 니혼덴시 가부시키가이샤제 핵자기 공명 장치(JNM-LA400)Apparatus: nuclear magnetic resonance apparatus (JNM-LA400) made by Nippon Denshi Corporation

·용매: 중클로로포름 Solvent: Heavy Chloroform

또한, 1H-NMR 스펙트럼에 있어서, 3.6ppm 및 4.0ppm 부근의 시그널은, 각각, 메타크릴산메틸 단위의 에스테르기(-O-CH3) 및 아크릴산n-부틸 단위의 에스테르기-O-CH2-CH2-CH2-CH3)에 귀속되기 때문에, 이들 시그널의 적분값의 비에 의해 공중합 성분의 함유량을 구했다.In the 1 H-NMR spectrum, the signals in the vicinity of 3.6 ppm and 4.0 ppm are ester groups (-O-CH 3 ) of methyl methacrylate units and ester groups -O-CH of n-butyl acrylate units, respectively. 2 -CH 2 -CH 2, because it is attributed to -CH 3), was determined the content of the copolymer component by the ratio of the integrals of these signals.

(4) 탄성률의 측정 (4) measurement of elastic modulus

보호 필름을 갖는 펠리클의 1변을 절단하고, 그 후, 점착제층이 변형되지 않도록 천천히 보호 필름을 박리하고, 그 후, 펠리클 프레임으로부터 마스크 점착제층을 천천히 박리했다. 그 때, 박리하기 어려울 때는, 시카롤을 손과 점착제층에 부착하면서 천천히 박리하고, 박리된 점착제층의 신장률이 5% 이하로 되도록 했다.One side of the pellicle having the protective film was cut off, and then the protective film was slowly peeled off so that the pressure-sensitive adhesive layer was not deformed, and then the mask pressure-sensitive adhesive layer was slowly peeled off from the pellicle frame. In that case, when it was difficult to peel, it peeled slowly, attaching a cica roll to a hand and an adhesive layer, and made the elongation rate of the peeled adhesive layer become 5% or less.

박리된 점착제층을 다음의 장치를 사용하여 실온(25℃)에서 측정했다.The peeled adhesive layer was measured at room temperature (25 degreeC) using the following apparatus.

장치명: 오토그래프(SHIMAZU EZ-S 시마즈 세이사쿠쇼제)Device name: Autograph (SHIMAZU EZ-S Shimadzu Seisakusho)

로드셀: 1N(클립식 척) Load cell: 1 N (clip chuck)

척간: 40㎜Spindle: 40mm

크로스 헤드 속도: 100㎜/min. Cross head speed: 100 mm / min.

상기 장치로 점착제층을 신도 20%까지 인장했다. 따로, 점착제층의 단면적을 측정하고, 상기 측정 결과를 단면적으로 나눔으로써, 단위 면적당 응력값을 구했다.The pressure-sensitive adhesive layer was stretched to 20% elongation with the above apparatus. Separately, the cross-sectional area of the pressure-sensitive adhesive layer was measured, and the stress value per unit area was determined by dividing the measurement result by the cross-sectional area.

x축에 신도, y축에 단위 면적당 응력값을 포함하는 그래프를 작성하고, 신도 0%와 신도 20% 시에 직선을 그은 경우의 신도 100%에서의 y축의 값을 탄성률로 했다.A graph including the elongation on the x-axis and the stress value per unit area on the y-axis was created, and the value of the y-axis at 100% elongation when a straight line was drawn at 0% elongation and 20% elongation was used as the elastic modulus.

(i-BA/BA/AA/HEA 조성물의 조정)(Adjustment of i-BA / BA / AA / HEA Composition)

주지의 방법에 의해 i-BA/BA/AA/HEA 조성물을 조정했다. 구체적으로는, 교반기, 온도계, 환류 냉각기, 적하 장치, 질소 도입관을 구비한 반응 용기에 아세트산에틸(30중량부)을 넣고, 이소부틸아크릴레이트/부틸아크릴레이트/아크릴산/2-히드록시에틸아크릴레이트/2,2'-아조비스이소부티로니트릴의 혼합물(32중량부)을 48/48/1.5/2.5/1.0의 중량비로 투입하고, 질소 분위기 하에서, 이 반응 용액을 60℃에서 8시간 반응한다. 반응 종료 후, 톨루엔(38중량부)을 첨가하여, 불휘발분 농도 32중량%의 아크릴 공중합체 용액을 얻었다.The i-BA / BA / AA / HEA composition was adjusted by a well-known method. Specifically, ethyl acetate (30 parts by weight) is placed in a reaction vessel equipped with a stirrer, a thermometer, a reflux condenser, a dropping device, and a nitrogen inlet tube, and isobutyl acrylate / butyl acrylate / acrylic acid / 2-hydroxyethyl acryl A mixture of rate / 2,2′-azobisisobutyronitrile (32 parts by weight) was added at a weight ratio of 48/48 / 1.5 / 2.5 / 1.0, and the reaction solution was reacted at 60 ° C. for 8 hours under a nitrogen atmosphere. do. Toluene (38 weight part) was added after completion | finish of reaction, and the acrylic copolymer solution of 32 weight% of non volatile matter concentration was obtained.

<실시예 1><Example 1>

(펠리클의 제작)(Production of pellicle)

아크릴계 중합체 (A)로서 「크라리티 LA1114(가부시키가이샤 구라레이제)」 70질량부와, 베이스계 아크릴 중합체 (B)로서 아크릴계 블록 공중합체 「크라리티 LA2140e(가부시키가이샤 구라레이제)」 30질량부를, 전체적으로 48g가 되도록 혼합하여 원료 혼합물을 얻었다. 얻어진 원료 혼합물을 라보 플라스토 밀(가부시키가이샤 도요 세키 세이사쿠쇼제, 내용량: 60mL)에 투입한 후, 밀폐했다. 200℃, 100rpm으로 20분간 혼련하여, 괴상의 마스크 점착제를 얻었다. 약 10g의 마스크 점착제를 가열 탱크(탱크 내 온도: 200℃)에 투입하여 용융시켰다.70 mass parts of "credit LA1114 (made by Kuraray)" as an acrylic polymer (A), and an acrylic block copolymer "credit LA2140e (made by Kuraray)" as a base acrylic polymer (B) 30 The mass part was mixed so that it might be set to 48 g as a whole, and the raw material mixture was obtained. The obtained raw material mixture was thrown into the labo plasterto mill (Toyo Seki Seisakusho make, content: 60 mL), and it sealed. It knead | mixed for 20 minutes at 200 degreeC and 100 rpm, and obtained the bulk mask adhesive. About 10 g of mask adhesive was poured into a heating tank (tank temperature: 200 ° C) to melt.

한편, 양극 산화 처리한 알루미늄 합금제의 펠리클 프레임(외경 113㎜×149㎜, 내경 109㎜×145㎜, 높이 2.9㎜)을 준비했다. 여기서, 핀 구멍으로서 막 접착제 도포 단부면으로부터 1.7㎜가 되는 위치에, 펠리클 프레임 외변 측면의 코너부로부터 각각 25㎜의 위치에, 구멍 직경 1.6㎜φ, 깊이 1.2㎜의 지그 구멍을 4개소 형성했다. 가열 탱크에 연통되는 바늘끝으로부터 압출한 용융 상태의 마스크 점착제를, 펠리클 프레임의 한쪽의 단부면 상에 도포하여 마스크 점착제층을 형성했다. 형성된 마스크 점착제층의 두께는 0.6㎜이었다. 그 후, 마스크 점착제층의 표면에 실리콘 이형 처리한 두께 100㎛의 폴리에스테르제 보호 필름을 접합했다. 상기한 펠리클 프레임의 타단부면에 막 접착제층을 통하여 펠리클막을 부착하여 펠리클을 제작했다.On the other hand, a pellicle frame made of anodized aluminum alloy (outer diameter 113 mm x 149 mm, inner diameter 109 mm x 145 mm, height 2.9 mm) was prepared. Here, four jig holes with a hole diameter of 1.6 mm and a depth of 1.2 mm were formed at positions 25 mm from the corner portions of the outer side of the pellicle frame at positions that became 1.7 mm from the film adhesive-coated end face as pin holes. . The mask adhesive of the molten state extruded from the needle tip connected to the heating tank was apply | coated on one end surface of the pellicle frame, and the mask adhesive layer was formed. The thickness of the formed mask adhesive layer was 0.6 mm. Then, the protective film made from polyester of 100 micrometers in thickness which carried out the silicone mold release process was bonded to the surface of a mask adhesive layer. A pellicle was produced by attaching a pellicle film to the other end surface of the pellicle frame through a film adhesive layer.

얻어진 펠리클에 대하여, 박리성 평가 및 마스크의 변형 평가를 실시했다. 각각의 결과를 표 1에 기재한다.Peelability evaluation and deformation | transformation evaluation of the mask were performed about the obtained pellicle. Each result is shown in Table 1.

Figure 112016034420969-pct00002
Figure 112016034420969-pct00002

(박리성 평가) (Exfoliation evaluation)

실시예 1에서 얻은 점착제를 갖는 펠리클에 대하여, 보호 필름을 박리하고, 6025크롬을 갖는 마스크 블랭크스 기재에 간이형 마운터로 가중(30Kgf, 60sec) 부착을 행하여, 펠리클을 부착한 마스크 기재를 얻었다. 마스크 기재를, 실온(20±3℃)에서 2시간 방치 후, 마스크 기재를 수평하게 고정하고, 인장 시험기에 의해, 펠리클의 각 긴 변에 2개씩 있는 핀 구멍, 총 4개를 파지하여 각 긴 변을 동시에, 마스크면에 대하여 수직으로 5㎜/min의 속도로 인상하여, 펠리클의 박리를 행했다. 박리성은, 각 피착체 표면의 모습을 관찰하여, 이하의 기준으로 평가했다. 본 실시예에서의 점착제 잔류란, 응집 파괴에 의해 점착제의 일부가 마스크에 부착된 상태로 되는 것을 의미한다.About the pellicle which has the adhesive obtained in Example 1, the protective film was peeled off and it attached to the mask blank base material which has 6025 chromium by weighting (30Kgf, 60sec) with the simple mounter, and the mask base material with a pellicle was obtained. After leaving the mask substrate at room temperature (20 ± 3 ° C.) for 2 hours, the mask substrate is fixed horizontally, and a tensile tester is used to grasp a total of four pin holes, each of which is located on each of the two long sides of the pellicle, and a total of four long holes. At the same time, the sides were pulled up at a speed of 5 mm / min perpendicular to the mask surface, and the pellicle was peeled off. Peelability observed the state of each adherend surface, and evaluated the following references | standards. The pressure sensitive adhesive residue in the present embodiment means that a part of the pressure sensitive adhesive adheres to the mask by cohesive failure.

◎: 점착제 잔류 면적이 부착 면적 전체 중 0% 이상 5% 이하(Double-circle): An adhesive residual area is 0% or more and 5% or less of the whole adhesion area.

○: 점착제 잔류 면적이 부착 면적 전체 중 5% 초과 10% 이하○: The adhesive residual area is more than 5% and 10% or less in the entire adhesion area.

△: 점착제 잔류 면적이 부착 면적 전체 중 10% 초과 20% 이하(Triangle | delta): The adhesive residual area is more than 10% of 20 whole adhesion areas, or less

×: 점착제 잔류 면적이 부착 면적 전체 중 20% 초과 100% 이하X: adhesive residual area is more than 20% in 100% of the whole adhesion area, or less

(마스크의 변형 평가) (Evaluation of mask deformation)

마스크의 변형 등에 의한 변형의 평가는, Tropel사제의 FlatMaster200을 사용하여 측정했다. 먼저, 마스크(6025석영)에 대하여, 펠리클을 부착하기 전의 평탄도를 측정했다. 그 후에 실시예 1에서 얻은 점착제를 갖는 펠리클을 당해 마스크에 부착하고, 펠리클 부착 후의 마스크의 평탄도를 측정했다(측정 범위: 135㎜×110㎜). 부착 전후의 평탄도의 차감을 행하여, 펠리클을 부착한 것으로 얼마나 6025석영이 변형되었는지를 산출했다.Evaluation of the deformation by deformation of the mask or the like was measured using a FlatMaster200 manufactured by Tropel. First, the flatness before affixing a pellicle was measured about the mask 6025 quartz. Then, the pellicle which has the adhesive obtained in Example 1 was affixed to the said mask, and the flatness of the mask after pellicle adhesion was measured (measurement range: 135 mm x 110 mm). The flatness before and after adhesion was subtracted to calculate how much 6025 quartz was deformed by attaching the pellicle.

펠리클의 석영에의 부착은 간이형 마운터로 행했다(가중: 15Kgf, 60sec).The pellicle was attached to quartz by a simple mounter (weighted: 15 Kgf, 60 sec).

◎: 펠리클을 부착한 것에 의한 마스크의 변형량이 25㎚ 이하(Double-circle): Deformation amount of a mask by attaching a pellicle is 25 nm or less

○: 펠리클을 부착한 것에 의한 마스크의 변형량이 25㎚ 초과 35㎚ 이하(Circle): The deformation amount of the mask by attaching a pellicle is more than 25 nm and 35 nm or less

△: 펠리클을 부착한 것에 의한 마스크의 변형량이 35㎚ 초과 60㎚ 이하(Triangle | delta): Deformation amount of the mask by attaching a pellicle more than 35 nm and 60 nm or less

×: 펠리클을 부착한 것에 의한 마스크의 변형량이 60㎚ 초과X: Deformation amount of a mask by attaching a pellicle more than 60 nm

<실시예 2 내지 9, 비교예 1, 2><Examples 2 to 9, Comparative Examples 1 and 2>

표 1에 기재한 배합이 되도록 각 성분을 혼합하여 혼합물을 얻은 것 이외는, 실시예 1과 마찬가지로 펠리클을 제작했다. 얻어진 펠리클에 대하여 실시예 1과 마찬가지의 평가를 실시했다. 이들 결과도, 표 1에 기재한다.A pellicle was produced in the same manner as in Example 1, except that each component was mixed to obtain a mixture shown in Table 1 and a mixture was obtained. Evaluation similar to Example 1 was performed about the obtained pellicle. These results are also shown in Table 1.

<비교예 3>Comparative Example 3

스티렌에틸렌부틸렌스티렌 공중합체 100질량부, 수소 첨가형 테르펜 수지 80질량부, 파라핀계 프로세스 오일 40질량부 및 산화 방지제(BHT) 2질량부를, 니더를 사용하여 220℃에서 용융 혼합함으로써, 괴상의 마스크 점착제를 얻었다. 약 10g의 마스크 점착제를 가열 탱크(탱크 내 온도: 200℃)에 투입하여 용융시켰다.Block mass of 100 mass parts of styrene ethylene butylene styrene copolymers, 80 mass parts of hydrogenated terpene resins, 40 mass parts of paraffinic process oils, and 2 mass parts of antioxidant (BHT) are melt-mixed at 220 degreeC using a kneader. An adhesive was obtained. About 10 g of mask adhesive was poured into a heating tank (tank temperature: 200 ° C) to melt.

한편, 양극 산화 처리한 알루미늄 합금제의 펠리클 프레임(외경 113㎜×149㎜, 내경 109㎜×145㎜, 높이 2.9㎜)을 준비했다. 가열 탱크에 연통되는 바늘끝으로부터 압출한 용융 상태의 마스크 점착제를, 펠리클 프레임의 한쪽의 단부면 상에 도포하여 마스크 점착제층을 형성했다. 형성된 마스크 점착제층의 두께는 0.6㎜이었다. 그 후, 마스크 점착제층의 표면에 실리콘 이형 처리한 두께 100㎛의 폴리에스테르제 보호 필름을 접합했다. 상기한 펠리클 프레임의 타단부면에 막 접착제층을 통하여 펠리클막을 부착하여 펠리클을 제작했다.On the other hand, a pellicle frame made of anodized aluminum alloy (outer diameter 113 mm x 149 mm, inner diameter 109 mm x 145 mm, height 2.9 mm) was prepared. The mask adhesive of the molten state extruded from the needle tip connected to the heating tank was apply | coated on one end surface of the pellicle frame, and the mask adhesive layer was formed. The thickness of the formed mask adhesive layer was 0.6 mm. Then, the protective film made from polyester of 100 micrometers in thickness which carried out the silicone mold release process was bonded to the surface of a mask adhesive layer. A pellicle was produced by attaching a pellicle film to the other end surface of the pellicle frame through a film adhesive layer.

얻어진 펠리클에 대하여, 실시예 1과 마찬가지로 박리성 평가 및 마스크의 변형 평가를 실시했다. 각각의 결과를 표 1에 기재한다.Peelability evaluation and deformation | transformation evaluation of the mask were performed similarly to Example 1 about the obtained pellicle. Each result is shown in Table 1.

<비교예 4><Comparative Example 4>

교반기, 온도계, 환류 냉각기, 적하 장치, 질소 도입관을 구비한 반응 용기에 아세트산에틸(30질량부)을 투입했다. 이소부틸아크릴레이트/부틸아크릴레이트/아크릴산/2-히드록시에틸아크릴레이트/2,2'-아조비스이소부티로니트릴을 30/66/1.5/2.5/1의 질량비로 혼합한 혼합물(32질량부)을 아세트산에틸에 첨가하고, 질소 분위기 하에서, 60℃에서 8시간 반응시켰다. 반응 종료 후, 톨루엔(38질량부)을 반응 용액에 첨가하여, 불휘발분 농도 32질량%의 아크릴 공중합체 용액을 얻었다(중량 평균 분자량 130만). 얻어진 아크릴 공중합체 용액 100질량부에 다관능성 에폭시 화합물(1,3-비스(N,N-디글리시딜아미노메틸)시클로헥산의 톨루엔 용액, 불휘발분 농도 5%)을 0.3중량부 첨가·교반 혼합하여, 점착제 전구체 조성물을 얻었다.Ethyl acetate (30 parts by mass) was added to a reaction vessel equipped with a stirrer, a thermometer, a reflux condenser, a dropping device, and a nitrogen inlet tube. A mixture in which isobutyl acrylate / butyl acrylate / acrylic acid / 2-hydroxyethyl acrylate / 2,2'-azobisisobutyronitrile was mixed at a mass ratio of 30/66 / 1.5 / 2.5 / 1 (32 parts by mass ) Was added to ethyl acetate and reacted at 60 ° C. for 8 hours under a nitrogen atmosphere. Toluene (38 mass parts) was added to the reaction solution after completion | finish of reaction, and the acrylic copolymer solution of 32 mass% of non volatile matter concentrations was obtained (weight average molecular weight 1.3 million). 0.3 weight part addition and stirring of polyfunctional epoxy compound (toluene solution of 1, 3-bis (N, N- diglycidyl aminomethyl) cyclohexane, 5% of non volatile matter concentration) to 100 mass parts of obtained acrylic copolymer solutions It mixed and obtained the adhesive precursor composition.

한편, 양극 산화 처리된 알루미늄 합금제의 펠리클 프레임(외경 113㎜×149㎜, 내경 109㎜×145㎜, 높이 3.2㎜)을 준비했다. 여기서, 핀 구멍으로서 막 접착제 도포 단부면으로부터 1.7㎜가 되는 위치에, 펠리클 프레임 외변 측면의 코너부로부터 각각 25㎜의 위치에, 구멍 직경 1.6㎜φ, 깊이 1.2㎜의 지그 구멍을 4개소 형성했다. 조합한 상기 점착제 조성물을, 펠리클 프레임의 한쪽의 단부면 상에 디스펜서로 도포했다. 이것을 2단계로 가열 건조·큐어(1단계째: 100℃, 8분, 2단계째: 180℃, 8분)하여, 마스크 점착제층을 형성했다. 그 후, 마스크 점착제층의 표면에 실리콘 이형 처리한 두께 100㎛의 폴리에스테르제 보호 필름을 접합하고, 실온(20±3℃)에서 3일간 양생시켜, 점착력을 안정화시켰다. 형성된 마스크 점착제층의 두께는 0.3㎜이었다. 상기한 펠리클 프레임의 타단부면에 막 접착제층을 통하여 펠리클막을 부착하여 펠리클을 제작했다.On the other hand, a pellicle frame made of anodized aluminum alloy (outer diameter 113 mm x 149 mm, inner diameter 109 mm x 145 mm, height 3.2 mm) was prepared. Here, four jig holes with a hole diameter of 1.6 mm and a depth of 1.2 mm were formed at positions 25 mm from the corner portions of the outer side of the pellicle frame at positions that became 1.7 mm from the film adhesive-coated end face as pin holes. . The combined said adhesive composition was apply | coated with the dispenser on one end surface of the pellicle frame. This was heat-dried and cured in 2 steps (1st step: 100 degreeC, 8 minutes, 2nd step: 180 degreeC, 8 minutes), and the mask adhesive layer was formed. Then, the protective film made from polyester of 100 micrometers in thickness which carried out the silicone mold release process on the surface of the mask adhesive layer was bonded, it was made to cure for 3 days at room temperature (20 +/- 3 degreeC), and the adhesive force was stabilized. The thickness of the formed mask adhesive layer was 0.3 mm. A pellicle was produced by attaching a pellicle film to the other end surface of the pellicle frame through a film adhesive layer.

얻어진 펠리클에 대하여, 실시예 1과 마찬가지로 박리성 평가 및 마스크의 변형 평가를 실시했다. 각각의 결과를 표 1에 기재한다.Peelability evaluation and deformation | transformation evaluation of the mask were performed similarly to Example 1 about the obtained pellicle. Each result is shown in Table 1.

본 발명에 따르면 노광 후의 마스크로의 점착제 잔류를 충분히 방지할 수 있다. 본 발명은, IC(집적 회로), LSI(대규모 집적 회로), LCD(액정 디스플레이) 등의 리소그래피 공정에 있어서 적절하게 사용할 수 있고, 특히 고해상도를 필요로 하는 노광에 있어서 사용되는 엑시머 레이저를 사용한 리소그래피 공정, 바람직하게는 200㎚ 이하의 자외광 노광을 사용한 리소그래피 공정 시에 적절하게 사용할 수 있다. According to the present invention, it is possible to sufficiently prevent the residue of the adhesive on the mask after exposure. The present invention can be suitably used in lithography processes such as IC (integrated circuit), LSI (large scale integrated circuit), LCD (liquid crystal display), and is particularly lithography using an excimer laser used for exposure requiring high resolution. Process, Preferably it can be used suitably at the time of the lithographic process using the ultraviolet light exposure of 200 nm or less.

1: 펠리클
2: 펠리클 프레임
2e, 2f: 펠리클 프레임의 단부면
3: 펠리클막
10: 점착제
F: 보호 필름
1: pellicle
2: pellicle frame
2e, 2f: end face of pellicle frame
3: pellicle film
10: adhesive
F: protective film

Claims (13)

펠리클 프레임과,
상기 펠리클 프레임의 일단부면에 장설된 펠리클막과,
상기 펠리클 프레임의 타단부면에 부착된 비가교형의 아크릴계 점착제
를 구비하고,
상기 비가교형의 아크릴계 점착제는 아크릴계 베이스 중합체 (B)와 점착 부여제로서의 아크릴계 중합체 (A)를 포함하고,
상기 비가교형의 아크릴계 점착제에서의 중량 평균 분자량 800 이하의 화합물의 함유량이 15질량% 이하인, 펠리클.
Pellicle frame,
A pellicle film mounted on one end of the pellicle frame;
Non-cross-linked acrylic pressure-sensitive adhesive attached to the other end surface of the pellicle frame
And
The non-crosslinked acrylic pressure sensitive adhesive includes an acrylic base polymer (B) and an acrylic polymer (A) as a tackifier,
The pellicle whose content of the weight average molecular weight 800 or less compound in the said non-crosslinked acrylic adhesive is 15 mass% or less.
제1항에 있어서, 상기 비가교형의 아크릴계 점착제의 탄성률은 20mN/㎟ 이상 180mN/㎟ 이하인, 펠리클.The pellicle of Claim 1 whose elasticity modulus of the said non-crosslinking acrylic adhesive is 20 mN / mm <2> or more and 180 mN / mm <2> or less. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 비가교형의 아크릴계 점착제의 유리 전이 온도는 -25℃ 미만인, 펠리클.The pellicle of Claim 1 or 2 whose glass transition temperature of the said non-crosslinked acrylic adhesive is less than -25 degreeC. 삭제delete 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 아크릴계 중합체 (A)의 유리 전이 온도는 -30℃ 이하이고,
상기 아크릴계 베이스 중합체 (B)의 유리 전이 온도는 -25℃ 이상인, 펠리클.
The glass transition temperature of the said acrylic polymer (A) is -30 degrees C or less,
The pellicle whose glass transition temperature of the said acrylic base polymer (B) is -25 degreeC or more.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 비가교형의 아크릴계 점착제에서의 상기 아크릴계 중합체 (A)의 함유량이 15 내지 80질량%인, 펠리클.The pellicle of Claim 1 or 2 whose content of the said acrylic polymer (A) in the said non-crosslinked acrylic adhesive is 15-80 mass%. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 아크릴계 중합체 (A)는 탄소수 1 내지 14의 알킬기를 갖는 (메트)아크릴산알킬의 중합체 또는 공중합체인, 펠리클.The pellicle according to claim 1 or 2, wherein the acrylic polymer (A) is a polymer or copolymer of alkyl (meth) acrylate having an alkyl group having 1 to 14 carbon atoms. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 아크릴계 베이스 중합체 (B)는 블록 중합체인, 펠리클.The pellicle according to claim 1 or 2, wherein the acrylic base polymer (B) is a block polymer. 제8항에 있어서, 상기 블록 중합체는 하기 일반식 (I)로 표시되는 구조를 중합체 주쇄 중에 갖고,
식 (I) 중, (a1) 및 (a2)는 각각 유리 전이 온도 80℃ 이상의 중합체를 나타내고, (b)는 유리 전이 온도 30℃ 이하의 중합체를 나타내는, 펠리클.
Figure 112016034420969-pct00003
The method according to claim 8, wherein the block polymer has a structure represented by the following general formula (I) in the polymer backbone,
In formula (I), (a1) and (a2) represent a polymer with a glass transition temperature of 80 degrees C or more, respectively, (b) a pellicle which shows a polymer with a glass transition temperature of 30 degrees C or less.
Figure 112016034420969-pct00003
제9항에 있어서, 상기 일반식 (I)에 있어서의 (a1) 및 (a2)는 각각 탄소수 1 내지 14의 메타크릴산알킬에스테르를 포함하고,
상기 일반식 (I)에 있어서의 (b)는 탄소수 1 내지 14의 (메트)아크릴산알킬에스테르를 포함하는, 펠리클.
(A1) and (a2) in the said general formula (I) contain the alkyl ester of methacrylic acid of C1-C14, respectively,
(B) in the said General formula (I) is a pellicle containing the C1-C14 alkyl (meth) acrylic-acid alkylester.
제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 아크릴계 중합체 (A)의 중량 평균 분자량이 850 이상 70000 이하이고,
상기 아크릴계 베이스 중합체 (B)의 중량 평균 분자량이 10000 이상 500000 이하인, 펠리클.
The weight average molecular weight of the said acrylic polymer (A) is 850 or more and 70000 or less,
The pellicle whose weight average molecular weights of the said acrylic base polymer (B) are 10000 or more and 500000 or less.
제1항 또는 제2항에 기재된 펠리클이 장착되어 있는, 펠리클 부착 포토마스크.The photomask with a pellicle in which the pellicle of Claim 1 or 2 is mounted. 제12항에 기재된 펠리클 부착 포토마스크에 의해 기판을 노광하는 공정을 구비하는, 반도체 소자의 제조 방법.The manufacturing method of the semiconductor element which comprises the process of exposing a board | substrate with the photomask with a pellicle of Claim 12.
KR1020167009459A 2013-10-15 2014-10-10 Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor element KR102032601B1 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013215005 2013-10-15
JPJP-P-2013-215005 2013-10-15
PCT/JP2014/077251 WO2015056653A1 (en) 2013-10-15 2014-10-10 Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor element

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020187011059A Division KR20180043404A (en) 2013-10-15 2014-10-10 Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor element

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20160055859A KR20160055859A (en) 2016-05-18
KR102032601B1 true KR102032601B1 (en) 2019-10-15

Family

ID=52828097

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020167009459A KR102032601B1 (en) 2013-10-15 2014-10-10 Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor element
KR1020187011059A KR20180043404A (en) 2013-10-15 2014-10-10 Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor element

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020187011059A KR20180043404A (en) 2013-10-15 2014-10-10 Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor element

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6326059B2 (en)
KR (2) KR102032601B1 (en)
CN (1) CN105683834B (en)
TW (2) TWI614324B (en)
WO (1) WO2015056653A1 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6430118B2 (en) * 2013-12-12 2018-11-28 旭化成株式会社 Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor device
JP2017090718A (en) * 2015-11-11 2017-05-25 旭化成株式会社 Pellicle
TWI618974B (en) * 2016-12-28 2018-03-21 Micro Lithography Inc Dust-proof frame structure for reticle
WO2018125699A2 (en) * 2016-12-30 2018-07-05 3M Innovative Properties Company Tapes and methods of use for masking aluminum surfaces in chromic acid anodization
CN110835982B (en) * 2018-08-17 2023-02-17 Sika技术股份公司 Self-adhesive roofing membrane

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010155923A (en) * 2008-12-26 2010-07-15 Dainippon Printing Co Ltd Pressure-sensitive adhesive film for protection
WO2012004951A1 (en) * 2010-07-09 2012-01-12 三井化学株式会社 Pellicle and mask adhesive agent for use in same

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2962447B2 (en) 1992-04-01 1999-10-12 信越化学工業株式会社 UV resistant pellicle
JP4021054B2 (en) * 1998-05-18 2007-12-12 株式会社クラレ Block copolymer composition and its adhesive application
KR20060116152A (en) * 2005-05-09 2006-11-14 미쓰이 가가쿠 가부시키가이샤 Pellicles having low adhesive residue
KR101448327B1 (en) * 2007-03-23 2014-10-07 세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤 Pressure-sensitive adhesive tape for the protection of photo masks
JP2011006584A (en) * 2009-06-26 2011-01-13 As R&D合同会社 Organic vibration damping material
TWI579354B (en) * 2009-11-18 2017-04-21 Asahi Kasei E-Materials Corp Mask mask
JP5319500B2 (en) * 2009-11-18 2013-10-16 旭化成イーマテリアルズ株式会社 Pellicle
JP2012093518A (en) * 2010-10-26 2012-05-17 Asahi Kasei E-Materials Corp Pellicle

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010155923A (en) * 2008-12-26 2010-07-15 Dainippon Printing Co Ltd Pressure-sensitive adhesive film for protection
WO2012004951A1 (en) * 2010-07-09 2012-01-12 三井化学株式会社 Pellicle and mask adhesive agent for use in same

Also Published As

Publication number Publication date
CN105683834B (en) 2021-03-02
KR20160055859A (en) 2016-05-18
KR20180043404A (en) 2018-04-27
TW201520302A (en) 2015-06-01
CN105683834A (en) 2016-06-15
JPWO2015056653A1 (en) 2017-03-09
JP6326059B2 (en) 2018-05-16
TWI526515B (en) 2016-03-21
TW201608004A (en) 2016-03-01
TWI614324B (en) 2018-02-11
WO2015056653A1 (en) 2015-04-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102032601B1 (en) Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor element
US9663685B2 (en) Photocurable adhesive composition and use of the same
TWI404783B (en) Pressure-sensitive adhesive compositions, polarizers and liquid crystal displays comprising the same
JP6430118B2 (en) Pellicle, photomask with pellicle, and method for manufacturing semiconductor device
TWI417358B (en) Adhesive for optical film and adhering processed optical film
KR100990673B1 (en) Acrylic Pressure-Sensitive Adhesive Composition for the Polarizing Film comprising photoinitiators
KR20130053399A (en) Pressure-sensitive adhesive composition for optical members and pressure-sensitive adhesive tape for optical members
TW201510155A (en) Adhesive composition and surface protection film
KR20120124394A (en) Adhesive agent, adhesive agent for optical member, optical member having adhesive layer attached thereto, image display device, active-energy-ray-and/or heat-curable adhesive agent composition, and adhesive agent composition
KR20150113884A (en) Adhesive composition, adhesive polarizing plate and liquid crystal display device
JP2012052086A (en) Acrylic self-adhesive composition and polarizing film containing the same
JP2011107468A (en) Pellicle
JP2016018008A (en) Pellicle, pellicle-fitted photomask and method for producing semiconductor device
KR101459125B1 (en) Photo-curable adhesive composition and display device comprising the same
TW201825535A (en) Photosensitive resin composition, photocurable pattern formed from the same and image display comprising the pattern
KR20180031330A (en) Optically Clear Adhesive Composition, and Optically Clear Adhesive Film comprising the Same, and Flat Panel Display
TW200907001A (en) Adhesive composition, adhesive sheet, adhesive sheet for optics and adhesive sheet for electromagnetic shielding
JP4581061B2 (en) Adhesive composition for optical film protective sheet and optical film protective sheet
JP5756744B2 (en) Pellicle pressure-sensitive adhesive composition
KR101937566B1 (en) Optically clear adhesive film and composition for the same and display device using the same
TW201623520A (en) Adhesive bonding composition for optical use, method for multistage curing and, image display device
JPWO2013161759A1 (en) Composition for transparent adhesive sheet, method for producing the same, and transparent adhesive sheet
KR101371949B1 (en) Pellicle
JP6827670B2 (en) Adhesive composition for optical member protective film and optical member protective film
TW202330841A (en) Photocurable Adhesive Sheet

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
AMND Amendment
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
AMND Amendment
A107 Divisional application of patent
J201 Request for trial against refusal decision
J301 Trial decision

Free format text: TRIAL NUMBER: 2018101001698; TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20180419

Effective date: 20190830

S901 Examination by remand of revocation
GRNO Decision to grant (after opposition)
GRNT Written decision to grant