KR102031213B1 - Method for producing resin film and resin film with fewer fine scratches - Google Patents

Method for producing resin film and resin film with fewer fine scratches

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KR102031213B1
KR102031213B1 KR1020180130052A KR20180130052A KR102031213B1 KR 102031213 B1 KR102031213 B1 KR 102031213B1 KR 1020180130052 A KR1020180130052 A KR 1020180130052A KR 20180130052 A KR20180130052 A KR 20180130052A KR 102031213 B1 KR102031213 B1 KR 102031213B1
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Abstract

[과제] 본 발명은, 수지 필름의 작은 흠집을 방지하기 위하여, 수지 필름의 건조 공정에 있어서, 개량을 추가하는 것을 목적으로 한다.
[해결 수단] 본 발명은, 지지체 상에 수지 바니시를 도포함으로써 얻어진 수지 필름을 지지체로부터 박리한 후에 건조시키는 공정에 있어서, 상기 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤에 접촉시키는, 수지 필름의 제조 방법을 제공한다. 또, 본 발명은, 폴리이미드, 폴리아미드 또는 폴리아미드이미드로 이루어지는 수지 필름이고, 당해 수지 필름이, 크기 40∼400 ㎛의 사이즈의 미소 흠집이 100∼1,000개/㎠의 빈도로 존재하고 있는 발생 영역을 갖고, 또한 상기 미소 흠집의 발생 영역은, 필름 전체의 면적에 대하여 10% 이하인, 것을 특징으로 하는 수지 필름을 제공한다.
[Problem] The present invention aims to add an improvement in a drying step of a resin film in order to prevent small scratches of the resin film.
[Solution] The present invention is a step in which a resin film obtained by applying a resin varnish on a support is peeled off from a support, followed by drying. The manufacturing method of the resin film which makes contact with a guide roll is provided. Moreover, this invention is a resin film which consists of a polyimide, polyamide, or polyamideimide, and the said resin film exists in which the micro scratches of the size of 40-400 micrometers in size exist in the frequency of 100-1,000 pieces / cm <2>. The area | region which has an area | region and the generation | occurrence | production area of the said micro flaw provides 10% or less with respect to the area of the whole film, The resin film characterized by the above-mentioned.

Description

수지 필름의 제조 방법 및 미소 흠집이 적은 수지 필름{METHOD FOR PRODUCING RESIN FILM AND RESIN FILM WITH FEWER FINE SCRATCHES}Manufacturing method of resin film and resin film with few micro scratches {METHOD FOR PRODUCING RESIN FILM AND RESIN FILM WITH FEWER FINE SCRATCHES}

본 발명은 수지 필름의 제조 방법, 특히 시인성이 높은 투명한 수지 필름의 제조 방법 및 미소 흠집이 적은 수지 필름에 관한 것이다.This invention relates to the manufacturing method of a resin film, especially the manufacturing method of the high visibility transparent resin film, and the resin film with few micro scratches.

액정 표시 장치 및 태양 전지와 같은 디바이스의 투명 부재로서, 투명 수지 필름이 이용되는 경우가 있다. 이 투명 수지 필름으로서, 높은 내열성을 갖는 폴리이미드 필름이 이용되는 경우가 있다(특허문헌 1).As a transparent member of devices, such as a liquid crystal display device and a solar cell, a transparent resin film may be used. As this transparent resin film, the polyimide film which has high heat resistance may be used (patent document 1).

또, 투명한 폴리이미드 필름을 얻는 경우, 폴리이미드를 함유하는 바니시를 지지체 상에 도포하고 나서, 지지체를 박리한 후 건조하여, 추가로 보호층을 적층하는 것이 행해지고 있다.Moreover, when obtaining a transparent polyimide film, after apply | coating the varnish containing polyimide on a support body, peeling a support body and drying, and laminating | stacking a protective layer further is performed.

일본 공개특허 특개평10-310639호 공보Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 10-310639

그런데, 폴리이미드 필름을 건조하는 공정은, 폴리이미드 필름을 지지체로부터 박리하여, 가이드 롤에 의해 필름을 이동하고 있는 상태에서 건조를 행하고, 건조 후에 보호 필름을 부착하여 폴리이미드 필름을 보호하는 것이 행해지고 있지만, 가이드 롤 상을 이동하여 건조하고 있을 때에, 폴리이미드 필름에 통상이라면 인식하기 어려운 매우 작은 흠집(예를 들면, 미소 흠집이나 마찰 흠집)이 형성된다. 이와 같은 흠집은, 폴리이미드 필름에서는, 밝은 광원 하에서 사용되는 고도의 투명성이 요구되는 폴리이미드 필름에서는 피해야만 한다.By the way, the process of drying a polyimide film is peeling a polyimide film from a support body, drying in the state which has moved the film by the guide roll, and attaching a protective film after drying to protect a polyimide film, However, when moving on a guide roll and drying, very small scratches (for example, micro scratches and friction scratches) which are difficult to recognize normally are formed in a polyimide film. Such scratches should be avoided in polyimide films in which a high degree of transparency used under a bright light source is required in polyimide films.

그래서, 본 발명자들은, 상기한 작은 흠집을 방지하기 위하여 검토를 행하여, 폴리이미드 필름의 건조 공정에 있어서 개량을 추가하는 것을 목적으로 한다.Then, the present inventors investigate in order to prevent the said small scratch, and aim at adding the improvement in the drying process of a polyimide film.

즉, 본 발명은, 지지체 상에 수지 바니시를 도포함으로써 얻어진 수지 필름을 지지체로부터 박리한 후에 건조시키는 공정에 있어서, 상기 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반(反)지지체면측을 가이드 롤에 접촉시키는, 수지 필름의 제조 방법을 제공한다.That is, in the process of peeling a resin film obtained by apply | coating a resin varnish on a support body after peeling from a support body, this invention WHEREIN: The anti-support body surface which was not in contact with the support body surface before the said resin film was peeled from a support body. The manufacturing method of the resin film which makes a side contact a guide roll is provided.

상기 수지 바니시는, 바람직하게는 폴리이미드, 폴리아미드이미드 및 폴리아미드로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 고분자를 함유한다.The resin varnish preferably contains at least one polymer selected from the group consisting of polyimide, polyamideimide and polyamide.

본 발명은 또한, 폴리이미드, 폴리아미드 또는 폴리아미드이미드로 이루어지는 수지 필름이고,The present invention is also a resin film composed of polyimide, polyamide or polyamideimide,

당해 수지 필름이, 크기 40∼400 ㎛의 사이즈의 미소 흠집이 100∼1,000개/㎠의 빈도로 존재하고 있는 발생 영역을 갖고,The said resin film has the generation | occurrence | production area | region where the micro scratches of the size of 40-400 micrometers in size exist in the frequency of 100-1,000 piece / cm <2>,

상기 미소 흠집이, 3,000 루멘보다 높은 조도(照度)의 광을, 필름의 흐름 방향으로부터 조사시킴으로써 시인(視認)할 수 있는 결함이고, 또한The micro scratches are defects that can be visualized by irradiating light of illuminance higher than 3,000 lumens from the flow direction of the film, and

상기 미소 흠집의 발생 영역은, 필름 전체의 면적에 대하여 10% 이하인, 것을 특징으로 하는 수지 필름을 제공한다.The area | region where the said micro flaws generate | occur | produce provides the resin film characterized by the above-mentioned with respect to the area of the whole film.

본 발명에서는, 건조 공정에 있어서, 상기 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤에 접촉시킴으로써, 자잘한 흠집, 특히 미소 흠집을 방지할 수 있다. 건조 공정에서는, 건조가 보다 진행되도록 지지체나 보호 필름을 박리하여, 수지 필름 단독으로 건조하는 것이지만, 박리 시점에서는 아직 용매가 남아 있어, 특히 지지체에 접해 있던 부분은 용매가 보다 잔존해 있어, 지지체 박리면이 가이드 롤에 접하면 미소 흠집이 발생할 것으로 생각된다. 본 발명에서는, 지지체 박리면에는 가이드 롤을 닿게 하지 않고, 그 반대측의 면을 가이드 롤에 접촉시킴으로써, 미소 흠집이 감소한다는 것이 밝혀졌다. 지지체 박리면이 아닌 면은, 지지체 박리면보다 건조가 진행되고 있으므로, 이 면을 가이드 롤에 접하여 건조하면, 미소 흠집이 감소한다. 미소 흠집을 방지할 수 있음으로써, 광의 난반사가 감소되고, 백라이트 등에 의해 광을 투과시키는 경우에, 백라이트 전력도 삭감할 수 있다.In the present invention, in the drying step, minor scratches, in particular, micro scratches can be prevented by contacting the guide roll with the ring retaining surface side, which is not in contact with the support surface, before the resin film is separated from the support. In a drying process, a support body and a protective film are peeled so that drying may advance more, and it drys only by a resin film, However, at the time of peeling, a solvent still remains, especially the part which contacted the support remains more solvent, It is thought that micro scratches will occur when the back surface contacts the guide roll. In the present invention, it has been found that minute scratches are reduced by contacting the guide roll on the opposite side with the guide roll without contacting the support peeling surface. Since the surface which is not a support body peeling surface advances rather than a support body peeling surface, when this surface is contacted with a guide roll and dried, a micro flaw decreases. By preventing the minute scratches, the diffuse reflection of the light is reduced, and the backlight power can be reduced when the light is transmitted by the backlight or the like.

본 발명에서는, 상기의 가이드 롤에 접하는 건조 공정 후에, 추가적인 건조 공정을 마련해도 된다. 이 추가적인 건조 공정에서는, 이미 건조가 진행되고 있으므로, 미소 흠집이 발생하는 일은 적다.In this invention, you may provide an additional drying process after the drying process which contact | connects said guide roll. In this additional drying step, drying is already progressed, so that small scratches rarely occur.

도 1은 본 발명의 수지 필름의 제조 공정을 기재한 공정도이다.
도 2는 본 발명의 수지 필름의 제조 방법의 공정을 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 수지 필름 표면의 미소 흠집을 나타낸 사진이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is process drawing describing the manufacturing process of the resin film of this invention.
It is a figure which shows typically the process of the manufacturing method of the resin film of this invention.
3 is a photograph showing micro scratches on the surface of a resin film.

이하에, 본 발명의 몇 가지 실시 형태에 대하여 도 1∼3을 이용하여 상세하게 설명한다. 단, 본 발명의 수지 필름의 제조 방법은, 도 1∼3의 태양에 한정되는 것은 아니다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Below, some embodiment of this invention is described in detail using FIGS. However, the manufacturing method of the resin film of this invention is not limited to the aspect of FIGS.

도 1은 본 발명의 수지 필름의 제조 공정을 기재한 공정도이다. 도 1에 기재한 바와 같이, 본 발명의 수지 필름은 바니시화, 프리 제막(製膜), 지지체 박리 및 건조라는 공정을 거쳐 제조된다. 바니시화의 공정에서는, 수지를 용매에 용해 또는 분산하여 수지 바니시를 형성하고, 프리 제막 공정에서는, 얻어진 수지 바니시를, 도장 장치를 이용하여 지지체 상에 도장하여, 간단히 건조한 후 보호 필름을 수지 필름 상에 피복하여 일단 적층 필름으로 한다. 이 적층 필름을 이어서 지지체 박리 공정으로 옮겨, 지지체를 박리흔(痕)이 없도록 박리한다. 박리 공정에서 얻어진 수지 필름과 보호 필름으로 이루어지는 것을, 도 1의 건조 공정으로 이행하여, 보호 필름을 박리함과 함께, 수지 필름을 건조한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS It is process drawing describing the manufacturing process of the resin film of this invention. As shown in FIG. 1, the resin film of this invention is manufactured through the process of varnishing, pre-film forming, support body peeling, and drying. In the process of varnishing, resin is melt | dissolved or disperse | distributed in a solvent, a resin varnish is formed, In the pre-film-forming process, the obtained resin varnish is apply | coated on a support body using a coating apparatus, and simply dried, and then a protective film is formed on a resin film It coat | covers on and sets it as a laminated film once. This laminated | multilayer film is then moved to a support body peeling process, and a support body is peeled so that there may be no peeling trace. What consists of a resin film and a protective film obtained at the peeling process transfers to the drying process of FIG. 1, and peels a protective film, and dries a resin film.

도 1의 바니시화의 공정에서는, 상술한 바와 같이 수지를 용매에 용해 또는 분산하여 수지 바니시를 형성하는 것이지만, 본 발명에 제조 방법에서 사용되는 수지는, 예를 들면, 폴리이미드계 고분자(폴리이미드 및 폴리아미드이미드를 포함함), 폴리아미드, 폴리에스테르, 폴리(메타)아크릴레이트, 아세틸셀룰로오스, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 시클로올레핀 폴리머 및 그들의 공중합체 등을 들 수 있다. 투명성, 내열성, 각종 기계 물성이 우수하다는 점에서, 바람직하게는 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드이고, 더 바람직하게는 폴리이미드이다. 포함되는 수지는 1종류여도 되고 2종류 이상이어도 된다. 얻어지는 수지 필름은, 착색 또는 무색의 수지 필름이어도 되지만, 적합하게는 무색 투명의 수지 필름이다.In the process of varnishing of Fig. 1, as described above, the resin is dissolved or dispersed in a solvent to form a resin varnish, but the resin used in the production method of the present invention is, for example, a polyimide polymer (polyimide). And polyamideimide), polyamide, polyester, poly (meth) acrylate, acetyl cellulose, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, cycloolefin polymer and copolymers thereof. In view of excellent transparency, heat resistance and various mechanical properties, the polyimide polymer and the polyamide are preferably polyimide. One type of resin contained may be sufficient and two or more types may be sufficient as it. Although the resin film obtained may be colored or a colorless resin film, it is a colorless and transparent resin film suitably.

본 명세서에 있어서 폴리이미드란, 이미드기를 포함하는 반복 구조 단위를 주로 하는 중합체이고, 폴리아미드란, 아미드기를 포함하는 반복 구조 단위를 주로 하는 중합체이고, 폴리이미드계 고분자란, 폴리이미드 및 이미드기를 포함하는 구조 단위 및 아미드기를 포함하는 구조 단위를 주로 하는 중합체를 나타낸다.In this specification, a polyimide is a polymer mainly using the repeating structural unit containing an imide group, a polyamide is a polymer mainly consisting of the repeating structural unit containing an amide group, and a polyimide type polymer is a polyimide and an imide The polymer which mainly uses the structural unit containing a group and the structural unit containing an amide group is shown.

본 발명의 폴리이미드계 고분자는, 후술하는 테트라카르본산 화합물과 디아민 화합물을 주된 원료로서 제조할 수 있고, 하기의 식 (10)으로 나타내어지는 반복 구조 단위를 갖는다. 여기서, G는 4가의 유기기이고, A는 2가의 유기기이다. G 및/또는 A가 다른, 2종류 이상의 식 (10)으로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다. 또, 본 실시 형태에 관련된 폴리이미드계 고분자는, 얻어지는 폴리이미드계 고분자 필름의 각종 물성을 손상하지 않는 범위에서, 식 (11), 식 (12), 식 (13)으로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다.The polyimide-type polymer of this invention can manufacture the tetracarboxylic acid compound and diamine compound mentioned later as a main raw material, and has a repeating structural unit represented by following formula (10). Here, G is a tetravalent organic group and A is a divalent organic group. The structure represented by two or more types of formulas (10) in which G and / or A are different may be included. Moreover, the polyimide polymer which concerns on this embodiment contains the structure represented by Formula (11), Formula (12), and Formula (13) in the range which does not impair the various physical properties of the obtained polyimide polymer film. You may be.

[화학식 1][Formula 1]

G 및 G1은 4가의 유기기이고, 바람직하게는 탄화수소기 또는 불소 치환된 탄화수소기에 의해 치환되어 있어도 되는 유기기이고, 이하의 식 (20), 식 (21), 식 (22), 식 (23), 식 (24), 식 (25), 식 (26), 식 (27), 식 (28) 또는 식 (29)로 나타내어지는 기 및 4가의 탄소수 6 이하의 쇄식 탄화수소기가 예시된다. 식 중의 *은 결합손을 나타내고, Z는 단결합, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -Ar-, -SO2-, -CO-, -O-Ar-O-, -Ar-O-Ar-, -Ar-CH2-Ar-, -Ar-C(CH3)2-Ar- 또는 -Ar-SO2-Ar-을 나타낸다. Ar은 불소 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 6∼20의 아릴렌기를 나타내고, 구체예로서는 페닐렌기를 들 수 있다.G and G 1 is a tetravalent organic group, preferably a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon groups organic group which may be substituted, the following formula 20, formula 21, formula 22, formula ( The group represented by 23, Formula (24), Formula (25), Formula (26), Formula (27), Formula (28), or Formula (29) and a tetravalent C6-C6 hydrocarbon group are illustrated. In the formula, * represents a bond, Z represents a single bond, -O-, -CH 2- , -CH 2 -CH 2- , -CH (CH 3 )-, -C (CH 3 ) 2- , -C (CF 3 ) 2- , -Ar-, -SO 2- , -CO-, -O-Ar-O-, -Ar-O-Ar-, -Ar-CH 2 -Ar-, -Ar-C ( CH 3 ) 2 -Ar- or -Ar-SO 2 -Ar-. Ar represents the C6-C20 arylene group which may be substituted by the fluorine atom, and a phenylene group is mentioned as a specific example.

[화학식 2][Formula 2]

G2는 3가의 유기기이고, 바람직하게는 탄화수소기 또는 불소 치환된 탄화수소기에 의해 치환되어 있어도 되는 유기기이고, 상기의 식 (20), 식 (21), 식 (22), 식 (23), 식 (24), 식 (25), 식 (26), 식 (27), 식 (28) 또는 식 (29)로 나타내어지는 기의 결합손 중 어느 하나가 수소 원자로 치환된 기 및 3가의 탄소수 6 이하의 쇄식 탄화수소기가 예시된다.G 2 is a trivalent organic group, preferably an organic group which may be substituted with a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group, and the above formulas (20), (21), (22) and (23) , A group wherein any one of the bonds of the group represented by formula (24), formula (25), formula (26), formula (27), formula (28) or formula (29) is substituted with a hydrogen atom and the number of trivalent carbon atoms Six or less chain hydrocarbon groups are exemplified.

G3은 2가의 유기기이고, 바람직하게는 탄화수소기 또는 불소 치환된 탄화수소기에 의해 치환되어 있어도 되는 유기기이고, 상기의 식 (20), 식 (21), 식 (22), 식 (23), 식 (24), 식 (25), 식 (26), 식 (27), 식 (28) 또는 식 (29)로 나타내어지는 기의 결합손 중, 인접하지 않는 2개가 수소 원자로 치환된 기 및 탄소수 6 이하의 쇄식 탄화수소기가 예시된다.G 3 is a divalent organic group, preferably an organic group which may be substituted with a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group, and the above formulas (20), (21), (22) and (23) , A group in which two non-adjacent groups are substituted with a hydrogen atom among the bonds of the group represented by formula (24), formula (25), formula (26), formula (27), formula (28) or formula (29), and C6 or less chain hydrocarbon group is illustrated.

A, A1, A2, A3은 모두 2가의 유기기이고, 바람직하게는 탄화수소기 또는 불소 치환된 탄화수소기에 의해 치환되어 있어도 되는 유기기이고, 이하의 식 (30), 식 (31), 식 (32), 식 (33), 식 (34), 식 (35), 식 (36), 식 (37) 또는 식 (38)로 나타내어지는 기; 그들이 메틸기, 플루오로기, 클로로기 또는 트리플루오로메틸기에 의해 치환된 기 및 탄소수 6 이하의 쇄식 탄화수소기가 예시된다. 식 중의 *은 결합손을 나타내고, Z1, Z2 및 Z3은, 각각 독립적으로, 단결합, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2- 또는 -CO-를 나타낸다. 하나의 예는, Z1 및 Z3이 -O-이고, 또한, Z2가 -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2- 또는 -SO2-이다. Z1과 Z2, 및, Z2와 Z3은, 각각, 각 환에 대하여 메타 위치 또는 파라 위치인 것이 바람직하다.A, A 1 , A 2 , and A 3 are all divalent organic groups, preferably an organic group which may be substituted with a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group, and the following formulas (30), (31), A group represented by formula (32), formula (33), formula (34), formula (35), formula (36), formula (37) or formula (38); Groups in which they are substituted by a methyl group, a fluoro group, a chloro group or a trifluoromethyl group and a chain hydrocarbon group having 6 or less carbon atoms are exemplified. In the formula, * represents a bond, and Z 1 , Z 2 and Z 3 each independently represent a single bond, -O-, -CH 2- , -CH 2 -CH 2- , -CH (CH 3 )- , -C (CH 3 ) 2- , -C (CF 3 ) 2- , -SO 2 -or -CO-. One example is that Z 1 and Z 3 are -O-, and Z 2 is -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , -C (CF 3 ) 2 -or -SO 2- . It is preferable that Z <1> and Z <2> and Z <2> and Z <3> are a meta position or a para position with respect to each ring, respectively.

[화학식 3][Formula 3]

본 발명의 폴리아미드는, 상기의 식 (13)으로 나타내어지는 반복 구조 단위를 주로 하는 중합체이다. 바람직한 예 및 구체예는, 폴리이미드계 고분자에 있어서의 G3 및 A3과 동일하다. G3 및/또는 A3이 다른, 2종류 이상의 식 (13)으로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다.The polyamide of this invention is a polymer which mainly uses the repeating structural unit represented by said Formula (13). Preferred examples and specific examples are the same as those of G 3 and A 3 in the polyimide polymer. G 3 and / or A 3 may include a structure represented by two or more types of formulas (13).

폴리이미드계 고분자는, 예를 들면, 디아민과 테트라카르본산 화합물(테트라카르본산 2 무수물 등)과의 중축합에 의해서 얻어지고, 예를 들면, 일본 공개특허 특개2006-199945호 공보 또는 일본 공개특허 특개2008-163107호 공보에 기재되어 있는 방법에 따라서 합성할 수 있다. 폴리이미드의 시판품으로서는, 미쓰비시가스화학(주) 제 네오푸림(Neopulim) 등을 들 수 있다.The polyimide polymer is obtained by, for example, polycondensation of a diamine and a tetracarboxylic acid compound (tetracarboxylic dianhydride, etc.), for example, JP-A-2006-199945 or JP-A It can synthesize | combine according to the method described in Unexamined-Japanese-Patent No. 2008-163107. As a commercial item of a polyimide, Neopulim etc. by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. are mentioned.

폴리이미드의 합성에 이용되는 테트라카르본산 화합물로서는, 방향족 테트라카르본산 2 무수물 등의 방향족 테트라카르본산 화합물 및 지방족 테트라카르본산 2 무수물 등의 지방족 테트라카르본산 화합물을 들 수 있다. 테트라카르본산 화합물은 단독으로 이용해도 되고 2종 이상을 병용해도 된다. 테트라카르본산 화합물은 2 무수물 외에, 산 클로라이드 화합물 등의 테트라카르본산 화합물 유연체(類緣體)여도 된다.As tetracarboxylic acid compound used for the synthesis | combination of a polyimide, aliphatic tetracarboxylic acid compounds, such as aromatic tetracarboxylic dianhydride, and aliphatic tetracarboxylic acid compounds, such as aliphatic tetracarboxylic dianhydride, are mentioned. The tetracarboxylic acid compound may be used independently or may use 2 or more types together. The tetracarboxylic acid compound may be a tetracarboxylic acid compound flexible body such as an acid chloride compound, in addition to the anhydride.

방향족 테트라카르본산 2 무수물의 구체예로서는 4,4'-옥시디프탈산 2 무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르본산 2 무수물, 2,2',3,3'-벤조페논테트라카르본산 2 무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르본산 2 무수물, 2,2',3,3'-비페닐테트라카르본산 2 무수물, 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르본산 2 무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)프로판 2 무수물, 2,2-비스(2,3-디카르복시페닐)프로판 2 무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페녹시페닐)프로판 2 무수물, 4,4'-(헥사플루오로 이소프로필리덴)디프탈산 2 무수물, 1,2-비스(2,3-디카르복시페닐)에탄 2 무수물, 1,1-비스(2,3-디카르복시페닐)에탄 2 무수물, 1,2-비스(3,4-디카르복시페닐)에탄 2 무수물, 1,1-비스(3,4-디카르복시페닐)에탄 2 무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)메탄 2 무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)메탄 2 무수물, 4,4'-(p-페닐렌디옥시)디프탈산 2 무수물, 4,4'-(m-페닐렌디옥시)디프탈산 2 무수물 및 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르본산 2 무수물을 들 수 있다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다.Specific examples of the aromatic tetracarboxylic dianhydride include 4,4'-oxydiphthalic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 2,2', 3,3'-benzophenone Tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2', 3,3'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4 '-Diphenylsulfontetracarboxylic acid dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2-bis (2,3-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2 -Bis (3,4-dicarboxyphenoxyphenyl) propane dianhydride, 4,4 '-(hexafluoro isopropylidene) diphthalic dianhydride, 1,2-bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane 2 anhydride, 1,1-bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,1-bis (3,4-di Carboxyphenyl) ethane dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, 4,4 '-(p-phenylene Oxy) diphthalic dianhydride, 4,4 '- there may be mentioned (m- phenylenedimaleimide oxy) diphthalic acid dianhydride and 2,3,6,7-naphthalene tetracarboxylic dianhydride. These can be used individually or in combination of 2 or more types.

지방족 테트라카르본산 2 무수물로서는, 환식 또는 비환식의 지방족 테트라카르본산 2 무수물을 들 수 있다. 환식 지방족 테트라카르본산 2 무수물이란, 지환식 탄화수소 구조를 갖는 테트라카르본산 2 무수물이고, 그 구체예로서는 1,2,4,5-시클로헥산테트라카르본산 2 무수물, 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르본산 2 무수물, 1,2,3,4-시클로펜탄테트라카르본산 2 무수물 등의 시클로알칸테트라카르본산 2 무수물, 비시클로[2.2.2]옥트-7-엔-2,3,5,6-테트라카르본산 2 무수물, 디시클로헥실 3,3',4,4'-테트라카르본산 2 무수물 및 이들의 위치 이성체를 들 수 있다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다. 비환식 지방족 테트라카르본산 2 무수물의 구체예로서는 1,2,3,4-부탄테트라카르본산 2 무수물, 1,2,3,4-펜탄테트라카르본산 2 무수물 등을 들 수 있고, 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다.As aliphatic tetracarboxylic dianhydride, a cyclic or acyclic aliphatic tetracarboxylic dianhydride is mentioned. Cyclic aliphatic tetracarboxylic dianhydride is tetracarboxylic dianhydride which has alicyclic hydrocarbon structure, As a specific example, 1,2,4,5-cyclohexane tetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclo Cycloalkanetetracarboxylic dianhydride, such as butanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, bicyclo [2.2.2] oct-7-ene-2,3,5 And 6-tetracarboxylic dianhydride, dicyclohexyl 3,3 ', 4,4'-tetracarboxylic dianhydride and positional isomers thereof. These can be used individually or in combination of 2 or more types. Specific examples of the acyclic aliphatic tetracarboxylic dianhydride include 1,2,3,4-butanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-pentanetetracarboxylic dianhydride, and the like, and these alone or It can be used in combination of 2 or more type.

상기 테트라카르본산 2 무수물 중에서도, 고투명성 및 저착색성의 관점에서, 1,2,4,5-시클로헥산테트라카르본산 2 무수물, 비시클로[2.2.2]옥트-7-엔-2,3,5,6-테트라카르본산 2 무수물 및 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 2 무수물이 바람직하다.Among the tetracarboxylic dianhydrides, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, bicyclo [2.2.2] oct-7-ene-2,3, from the viewpoint of high transparency and low colorability Preference is given to 5,6-tetracarboxylic acid dianhydride and 4,4 '-(hexafluoroisopropylidene) diphthalic dianhydride.

또한, 본 발명의 폴리이미드계 고분자는, 얻어지는 폴리이미드계 고분자 필름의 각종 물성을 손상하지 않는 범위에서, 상기의 폴리이미드 합성에 이용되는 테트라카르본산의 무수물에 추가하여, 테트라카르본산, 트리카르본산 및 디카르본산 및 그들의 무수물 및 유도체를 추가로 반응시킨 것이어도 된다.In addition, the polyimide-based polymer of the present invention, in addition to the anhydrides of tetracarboxylic acid used for the above-mentioned polyimide synthesis, in the range that does not impair the various physical properties of the resulting polyimide-based polymer film, tetracarboxylic acid, tricar The reaction may be performed by further reacting the main acid and the dicarboxylic acid and their anhydrides and derivatives.

트리카르본산 화합물로서는 방향족 트리카르본산, 지방족 트리카르본산 및 그들의 유연의 산 클로라이드 화합물, 산 무수물 등을 들 수 있고, 2종 이상을 병용해도 된다. 구체예로서는 1,2,4-벤젠트리카르본산의 무수물; 2,3,6-나프탈렌트리카르본산-2,3-무수물; 프탈산 무수물과 안식향산이 단결합, -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2- 또는 페닐렌기에 의해 연결된 화합물을 들 수 있다.Examples of the tricarboxylic acid compound include aromatic tricarboxylic acid, aliphatic tricarboxylic acid, their flexible acid chloride compounds, and acid anhydrides, and two or more kinds thereof may be used in combination. Specific examples include anhydrides of 1,2,4-benzenetricarboxylic acid; 2,3,6-naphthalenetricarboxylic acid-2,3- anhydride; And phthalic anhydride and benzoic acid are linked by a single bond, -O-, -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , -C (CF 3 ) 2- , -SO 2 -or a phenylene group. .

디카르본산 화합물로서는 방향족 디카르본산, 지방족 디카르본산 및 그들의 유연의 산 클로라이드 화합물, 산 무수물 등을 들 수 있고, 2종 이상을 병용해도 된다. 구체예로서는 테레프탈산; 이소프탈산; 나프탈렌디카르본산; 4,4'-비페닐디카르본산; 3,3'-비페닐디카르본산; 탄소수 8 이하인 쇄식 탄화수소의 디카르본산 화합물 및 2개의 안식향산이 단결합, -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2- 또는 페닐렌기에 의해 연결된 화합물을 들 수 있다.As a dicarboxylic acid compound, aromatic dicarboxylic acid, aliphatic dicarboxylic acid, those flexible acid chloride compounds, an acid anhydride, etc. are mentioned, You may use 2 or more types together. Specific examples include terephthalic acid; Isophthalic acid; Naphthalenedicarboxylic acid; 4,4'-biphenyldicarboxylic acid; 3,3'-biphenyldicarboxylic acid; The dicarboxylic acid compound of the chain hydrocarbon having 8 or less carbon atoms and the two benzoic acids are a single bond, -O-, -CH 2- , -C (CH 3 ) 2- , -C (CF 3 ) 2- , -SO 2 -or The compound connected by the phenylene group is mentioned.

폴리이미드의 합성에 이용되는 디아민으로서는 지방족 디아민, 방향족 디아민 또는 그들의 혼합물이어도 된다. 또한, 본 실시 형태에 있어서 「방향족 디아민」이란, 아미노기가 방향환에 직접 결합하고 있는 디아민을 나타내고, 그 구조의 일부에 지방족 기 또는 기타의 치환기를 포함하고 있어도 된다. 방향환은 단환이어도 되고 축합환이어도 되며, 벤젠환, 나프탈렌환, 안트라센환 및 플루오렌환 등이 예시되지만, 이들에 한정되는 것은 아니다. 이들 중에서도 바람직하게는 벤젠환이다. 또, 「지방족 디아민」이란, 아미노기가 지방족 기에 직접 결합하고 있는 디아민을 나타내고, 그 구조의 일부에 방향환이나 기타의 치환기를 포함하고 있어도 된다.As a diamine used for the synthesis | combination of a polyimide, aliphatic diamine, aromatic diamine, or a mixture thereof may be sufficient. In addition, in this embodiment, "aromatic diamine" represents the diamine which the amino group couple | bonded with the aromatic ring directly, and may contain the aliphatic group or other substituent in a part of the structure. The aromatic ring may be monocyclic or condensed ring, and examples thereof include, but are not limited to, benzene ring, naphthalene ring, anthracene ring, fluorene ring and the like. Among these, Preferably they are a benzene ring. Moreover, "aliphatic diamine" shows the diamine which the amino group couple | bonded with the aliphatic group directly, and may contain the aromatic ring and other substituent in a part of the structure.

지방족 디아민으로서는, 예를 들면, 헥사메틸렌디아민 등의 비환식 지방족 디아민 및 1,3-비스(아미노메틸)시클로헥산, 1,4-비스(아미노메틸)시클로헥산, 노르보르난디아민, 4,4'-디아미노디시클로헥실메탄 등의 환식 지방족 디아민 등을 들 수 있고, 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다.Examples of the aliphatic diamines include acyclic aliphatic diamines such as hexamethylenediamine, 1,3-bis (aminomethyl) cyclohexane, 1,4-bis (aminomethyl) cyclohexane, norbornanediamine, and 4,4. Cyclic aliphatic diamines, such as "-diamino dicyclohexyl methane, etc. are mentioned, These can be used individually or in combination of 2 or more types.

방향족 디아민으로서는, 예를 들면, p-페닐렌디아민, m-페닐렌디아민, 2,4-톨루엔디아민, m-크실릴렌디아민, p-크실릴렌디아민, 1,5-디아미노나프탈렌, 2,6-디아미노나프탈렌 등의, 방향환을 1개 갖는 방향족 디아민, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐프로판, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐에테르, 3,3'-디아미노디페닐에테르, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 3,4'-디아미노디페닐술폰, 3,3'-디아미노디페닐술폰, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 비스〔4-(4-아미노페녹시)페닐〕술폰, 비스〔4-(3-아미노페녹시)페닐〕술폰, 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판, 2,2-비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]프로판, 2,2'-디메틸벤지딘, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 9,9-비스(4-아미노페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노-3-메틸페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노-3-클로로페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노-3-플루오로페닐)플루오렌 등의, 방향환을 2개 이상 갖는 방향족 디아민을 들 수 있고, 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다.Examples of the aromatic diamine include p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 2,4-toluenediamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine, 1,5-diaminonaphthalene, 2 Aromatic diamine having one aromatic ring, such as 6-diaminonaphthalene, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylpropane, and 4,4'-diaminodiphenyl ether , 3,4'-diaminodiphenylether, 3,3'-diaminodiphenylether, 4,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,4'-diaminodiphenylsulfone, 3,3'- Diaminodiphenylsulfone, 1,4-bis (4-aminophenoxy) benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,2-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 2,2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] Propane, 2,2'-dimethylbenzidine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, 4,4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 9,9-bis (4-aminophenyl ) Ple Orene, 9,9-bis (4-amino-3-methylphenyl) fluorene, 9,9-bis (4-amino-3-chlorophenyl) fluorene, 9,9-bis (4-amino-3-fluor Aromatic diamine which has two or more aromatic rings, such as rophenyl) fluorene, is mentioned, These can be used individually or in combination of 2 or more types.

상기 디아민 중에서도, 고투명성 및 저착색성의 관점에서는, 비페닐 구조를 갖는 방향족 디아민으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 바람직하다. 2,2'-디메틸벤지딘, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐 및 4,4'-디아미노디페닐에테르로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 더 바람직하고, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘이 포함되는 것이 보다 더 바람직하다.Among the diamines, from the viewpoint of high transparency and low colorability, it is preferable to use one or more selected from the group consisting of aromatic diamines having a biphenyl structure. Consisting of 2,2'-dimethylbenzidine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, 4,4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl and 4,4'-diaminodiphenylether It is more preferable to use one or more selected from the group, and more preferably 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine is included.

식 (10), 식 (11), 식 (12) 또는 식 (13)으로 나타내어지는 반복 구조 단위를 적어도 1종 포함하는 중합체인 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드는, 디아민과, 테트라카르본산 화합물(산 클로라이드 화합물, 테트라카르본산 2 무수물 등의 테트라카르본산 화합물 유연체), 트리카르본산 화합물(산 클로라이드 화합물, 트리카르본산 무수물 등의 트리카르본산 화합물 유연체) 및 디카르본산 화합물(산 클로라이드 화합물 등의 디카르본산 화합물 유연체)로 이루어지는 군에 포함되는 적어도 1종류의 화합물과의 중축합 생성물인 축합형 고분자이다. 출발 원료로서는, 이들에 추가하여, 추가로 디카르본산 화합물(산 클로라이드 화합물 등의 유연체를 포함함)을 이용하는 경우도 있다. 식 (11)로 나타내어지는 반복 구조 단위는, 통상, 디아민류 및 테트라카르본산 화합물로부터 유도된다. 식 (12)로 나타내어지는 반복 구조 단위는, 통상, 디아민 및 트리카르본산 화합물로부터 유도된다. 식 (13)으로 나타내어지는 반복 구조 단위는, 통상, 디아민 및 디카르본산 화합물로부터 유도된다. 디아민 및 테트라카르본산 화합물의 구체예는, 상술한 바와 같다.The polyimide polymer and polyamide which are polymers containing at least 1 type of repeating structural unit represented by Formula (10), Formula (11), Formula (12), or Formula (13) are a diamine, a tetracarboxylic acid compound ( Tetracarboxylic acid compound flexible body such as acid chloride compound and tetracarboxylic dianhydride), tricarboxylic acid compound (tricarboxylic acid compound flexible body such as acid chloride compound and tricarboxylic acid anhydride) and dicarboxylic acid compound (acid chloride compound) It is a condensation type polymer which is a polycondensation product with at least 1 type of compound contained in the group which consists of dicarboxylic acid compound flexible bodies, such as these. In addition to these, a dicarboxylic acid compound (including flexible bodies, such as an acid chloride compound) may be used as a starting raw material. The repeating structural unit represented by Formula (11) is usually derived from diamines and tetracarboxylic acid compounds. The repeating structural unit represented by the formula (12) is usually derived from a diamine and a tricarboxylic acid compound. The repeating structural unit represented by the formula (13) is usually derived from a diamine and a dicarboxylic acid compound. Specific examples of the diamine and tetracarboxylic acid compound are as described above.

본 발명의 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드의 표준 폴리스티렌 환산의 중량평균 분자량은, 바람직하게는 10,000∼500,000, 보다 바람직하게는 50,000∼500,000, 더 바람직하게는 100,000∼450,000, 특히 바람직하게는 100,000∼400,000이다. 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드의 중량평균 분자량이 클수록 필름화하였을 때에 높은 내굴곡성을 발현하기 쉬운 경향이 있지만, 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드의 중량평균 분자량이 너무 크면, 수지 바니시의 점도가 높아지고, 가공성이 저하되는 경향이 있다. 폴리이미드계 고분자는 2종류 이상을 혼합하여 이용해도 된다.The weight average molecular weight in terms of the standard polystyrene of the polyimide polymer and polyamide of the present invention is preferably 10,000 to 500,000, more preferably 50,000 to 500,000, still more preferably 100,000 to 450,000, particularly preferably 100,000 to 400,000 to be. The larger the weight average molecular weight of the polyimide-based polymer and polyamide, the more likely it is to express high flex resistance when filmed. However, if the weight average molecular weight of the polyimide-based polymer and polyamide is too large, the viscosity of the resin varnish increases, There exists a tendency for workability to fall. You may use a polyimide type polymer in mixture of 2 or more types.

폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드는, 함불소 치환기를 포함함으로써, 필름화하였을 때의 탄성률이 향상함과 함께, YI 값이 저감되는 경향이 있다. 필름의 탄성률이 높으면, 흠집 및 주름 등의 발생이 억제되는 경향이 있다. 필름의 투명성의 관점에서, 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드는, 함불소 치환기를 갖는 것이 바람직하다. 함불소 치환기의 구체예로서는, 플루오로기 및 트리플루오로메틸기를 들 수 있다.By containing a fluorine-containing substituent, the polyimide polymer and the polyamide tend to reduce the YI value while improving the elastic modulus when forming a film. If the elastic modulus of the film is high, the occurrence of scratches and wrinkles tends to be suppressed. From the viewpoint of transparency of the film, the polyimide polymer and the polyamide preferably have a fluorine-containing substituent. As a specific example of a fluorine-containing substituent, a fluoro group and a trifluoromethyl group are mentioned.

폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드에 있어서의 불소 원자의 함유량은, 폴리이미드계 고분자 또는 폴리아미드의 질량에 대하여, 바람직하게는 1 질량% 이상 40 질량% 이하, 보다 바람직하게는 5 질량% 이상 40 질량% 이하이다.The content of the fluorine atom in the polyimide polymer and the polyamide is preferably 1% by mass or more and 40% by mass or less, more preferably 5% by mass or more and 40% by mass with respect to the mass of the polyimide polymer or the polyamide. % Or less

수지 바니시에는, 상기의 폴리이미드계 고분자 및/또는 폴리아미드에 추가하여, 무기 입자 등의 무기 재료를 추가로 함유하고 있어도 된다.The resin varnish may further contain inorganic materials such as inorganic particles in addition to the above polyimide polymer and / or polyamide.

무기 재료로서 바람직하게는, 실리카 입자, 오르토 규산 테트라에틸 등의 4급 알콕시실란 등의 규소 화합물을 들 수 있고, 바니시 안정성의 관점에서, 바람직하게는 실리카 입자를 들 수 있다.As an inorganic material, Preferably, a silicon compound, such as a quaternary alkoxysilane, such as a silica particle and tetraethyl ortho silicate, is mentioned, From a viewpoint of varnish stability, Preferably, a silica particle is mentioned.

실리카 입자의 평균 일차 입자경은, 바람직하게는 10∼100 ㎚, 더 바람직하게는 20∼80 ㎚이다. 실리카 입자의 평균 일차 입자경이 상기의 범위에 있으면 투명성이 향상하는 경향이 있고, 또한, 실리카 입자의 응집력이 약해지기 때문에 취급하기 쉬워지는 경향이 있다.The average primary particle diameter of a silica particle becomes like this. Preferably it is 10-100 nm, More preferably, it is 20-80 nm. When the average primary particle diameter of a silica particle exists in the said range, transparency tends to improve, and since cohesion force of a silica particle becomes weak, it tends to be easy to handle.

본 발명에 있어서의 실리카 입자는, 유기 용제 등에 실리카 입자를 분산시킨 실리카 졸이어도 되고, 기상법으로 제조한 실리카 입자 분말이어도 되지만, 핸들링이 용이하기 때문에 바람직하게는 실리카 졸이다.The silica particles in the present invention may be a silica sol obtained by dispersing the silica particles in an organic solvent or the like, or may be a silica particle powder produced by a gas phase method. However, since the handling is easy, the silica particles are preferably silica sol.

얻어진 수지 필름 중의 실리카 입자의 평균 일차 입자경은, 투과형 전자현미경(TEM)에 의한 관찰에 의해 구할 수 있다. 투명한 수지 필름을 형성하기 전의 실리카 입자의 입도 분포는, 시판의 레이저 회절식 입도 분포계에 의해 구할 수 있다.The average primary particle diameter of the silica particle in the obtained resin film can be calculated | required by observation with a transmission electron microscope (TEM). The particle size distribution of the silica particle before forming a transparent resin film can be calculated | required with a commercially available laser diffraction type particle size distribution meter.

본 발명의 수지 필름에 있어서, 무기 재료의 함유량은, 수지 필름의 질량에 대하여, 바람직하게는 0 질량% 이상 90 질량% 이하, 보다 바람직하게는 10 질량% 이상 60 질량% 이하, 더 바람직하게는 20 질량% 이상 50 질량% 이하이다. 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드와 무기 재료와의 배합비가 상기의 범위 내이면, 수지 필름의 투명성 및 기계적 강도를 양립시키기 쉬운 경향이 있다.In the resin film of this invention, content of an inorganic material becomes like this. Preferably it is 0 mass% or more and 90 mass% or less with respect to the mass of a resin film, More preferably, it is 10 mass% or more and 60 mass% or less, More preferably, It is 20 mass% or more and 50 mass% or less. When the compounding ratio of the polyimide polymer and the polyamide and the inorganic material is within the above range, there is a tendency to make the transparency and mechanical strength of the resin film compatible.

수지 필름은, 이상으로 설명한 성분에 추가하여, 기타 성분을 추가로 함유하고 있어도 된다. 기타 성분으로서는, 예를 들면, 산화방지제, 이형제, 안정제, 블루잉제, 난연제, 윤활제 및 레벨링제를 들 수 있다.The resin film may further contain other components in addition to the components described above. As other components, antioxidant, a mold release agent, a stabilizer, a bluing agent, a flame retardant, a lubricating agent, and a leveling agent are mentioned, for example.

수지 성분 및 무기 재료 이외의 성분의 함유량은, 수지 필름의 질량에 대하여, 바람직하게는 0 질량% 초과 20 질량% 이하, 보다 바람직하게는 0 질량% 초과 10 질량% 이하이다.Content of components other than a resin component and an inorganic material becomes like this. Preferably it is more than 0 mass% and 20 mass% or less, More preferably, it is more than 0 mass% and 10 mass% or less with respect to the mass of a resin film.

본 발명에서 이용하는 수지 바니시는, 예를 들면, 상기 테트라카르본산 화합물, 상기 디아민 및 상기의 기타의 원료로부터 선택하여 반응시켜 얻어지는, 폴리이미드계 고분자 및/또는 폴리아미드의 반응액, 용매, 및 필요에 따라서 이용되는 상기의 기타의 성분을 혼합, 교반함으로써 조제할 수 있다. 폴리이미드계 고분자 등의 반응액 대신에, 구입한 폴리이미드계 고분자 등의 용액이나, 구입한 고체의 폴리이미드계 고분자 등의 용액을 이용해도 된다.The resin varnish used in the present invention is, for example, a reaction solution of a polyimide-based polymer and / or polyamide obtained by selecting from the tetracarboxylic acid compound, the diamine and the other raw materials, and / or a polyamide, and a solvent. It can prepare by mixing and stirring the said other components used according to the above. Instead of a reaction solution such as a polyimide polymer, a solution such as a purchased polyimide polymer or a solution such as a purchased polyimide polymer may be used.

수지 바니시에 이용되는 용매는, 수지 성분을 용해 또는 분산시키는 것이면 되고, 예를 들면, N,N-디메틸포름아미드, N,N-디메틸아세트아미드 등의 아미드계 용매, γ-부티로락톤, γ-발레로락톤 등의 락톤계 용매, 디메틸술폰, 디메틸술폭시드, 술포란 등의 함유황계 용제, 에틸렌카보네이트, 프로필렌카보네이트 등의 카보네이트계 용매 등을 들 수 있다. 용매의 양은, 수지 바니시의 취급이 가능한 점도가 되도록 선택되므로, 특별히 제한은 없지만, 예를 들면, 수지 바니시 전체에 대하여, 통상 70∼95 질량%, 바람직하게는 80∼90 질량%이다.The solvent used for the resin varnish may be one that dissolves or disperses the resin component. For example, amide solvents such as N, N-dimethylformamide and N, N-dimethylacetamide, γ-butyrolactone, and γ Lactone solvents such as valerolactone, sulfur solvents such as dimethyl sulfone, dimethyl sulfoxide, and sulfolane; and carbonate solvents such as ethylene carbonate and propylene carbonate. The amount of the solvent is selected so that the resin varnish can be handled, and the amount of the solvent is not particularly limited. For example, the amount of the solvent is usually 70 to 95 mass%, preferably 80 to 90 mass% with respect to the entire resin varnish.

수지 바니시의 형성은, 상기 수지 필름의 성분을 용매로 혼합함으로써 제조된다. 혼합은 통상의 혼합 장치를 이용하여 행해진다.Formation of the resin varnish is manufactured by mixing the component of the said resin film with a solvent. Mixing is performed using a normal mixing apparatus.

무기 재료를 함유하는 수지 필름을 제조하는 경우, 무기 재료를 첨가하고, 교반 및 혼합하여, 무기 재료가 균일하게 분산된 수지 바니시(분산액)를 조제한다.When manufacturing the resin film containing an inorganic material, an inorganic material is added, it is stirred and mixed, and the resin varnish (dispersion liquid) in which an inorganic material was disperse | distributed uniformly is prepared.

수지 바니시를 형성한 후, 도 1에 나타낸 바와 같이, 프리 제막 공정으로 이동한다. 프리 제막 공정에서는, 수지 바니시를 도장 장치에 의해 지지체 상에 도포하여, 간단히 건조하여 지지체 상에 수지 필름의 층을 형성한다. 지지체는, 예를 들면, 수지 필름 기재(基材), 스틸 기재(예를 들면, SUS 벨트)여도 된다. 수지 필름 기재로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름을 들 수 있다. 지지체가 수지 필름 기재인 경우, 그 두께는 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 50∼250 ㎛, 보다 바람직하게는 100∼200 ㎛이다. 얇은 쪽이 비용이 억제되는 경향이 있고, 두꺼운 쪽이 용매의 일부를 제거하는 공정에서 생기는 경우가 있는 컬을 억제할 수 있는 경향이 있다.After forming a resin varnish, it moves to a pre film forming process, as shown in FIG. In the pre-film forming step, the resin varnish is applied onto the support by a coating device, and simply dried to form a layer of a resin film on the support. The support may be, for example, a resin film substrate or a steel substrate (for example, an SUS belt). As a resin film base material, a polyethylene terephthalate (PET) film is mentioned, for example. In the case where the support is a resin film base material, the thickness thereof is not particularly limited, but is preferably 50 to 250 μm, more preferably 100 to 200 μm. The thinner side tends to be suppressed in cost, and the thicker side tends to be able to suppress curls which may occur in the process of removing a part of the solvent.

상술한 바와 같이, 프리 제막 공정에서는, 지지체 상에 수지 필름의 층이 형성되지만, 통상 수지 필름 상에 추가로 보호 필름이 형성된다. 보호 필름은, 수지 필름을 보호하기 위한 필름으로서, 폴리에틸렌이나 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀계 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르계 필름 등의 필름이 이용된다. 따라서, 프리 제막 공정에서는, 지지체 상에 수지 필름의 층이 형성되고, 추가로 수지 필름의 층의 위에 보호 필름이 형성된 적층 필름이 형성된다.As mentioned above, in a pre-film forming process, although the layer of a resin film is formed on a support body, a protective film is further formed on a resin film normally. As a protective film, a film, such as polyester-based films, such as polyolefin type films, such as polyethylene and a polypropylene, and a polyethylene terephthalate, is used as a film for protecting a resin film. Therefore, in a pre-film forming process, the layer of a resin film is formed on a support body, and the laminated | multilayer film in which the protective film was formed on the layer of a resin film is further formed.

도 1의 프리 제막 공정의 다음의 공정은, 지지체 박리 공정이다. 지지체 박리 공정은, 다음의 건조 공정을 거치기 전에, 수지 필름층으로부터 지지체를 박리흔이 없도록 지지체를 박리하는 공정이다. 이 시점의 수지 필름은 아직 건조 공정을 거치고 있지 않은 것으로, 용매분이 많이 잔존하는 것이고, 건조 공정을 거치기 전에, 지지체를 주의 깊게 박리할 필요가 있어, 이 지지체 박리 공정을 마련하고 있다. 여기서 얻어진 수지 필름은, 보호 필름과 수지 필름의 2층으로 이루어지고, 통상은 롤 형상으로 권취(卷取)되어 있다. 롤은, 예를 들면, 외경 50∼200 ㎜의 권취관(플라스틱 코어, 금속 롤 등)의 둘레에 적층체를 권취하여, 적층체를 롤 할 수 있다. 권취관으로서는, 시판의 3인치, 6인치 직경의 플라스틱 코어 등을 이용해도 된다. 이 롤은, 도 2의 건조 공정에서도, 적층 필름을 권취하는 롤에 사용할 수 있다.The following process of the pre-film forming process of FIG. 1 is a support body peeling process. A support body peeling process is a process of peeling a support body so that there may be no peeling trace from a resin film layer before passing through the following drying process. The resin film at this point has not yet undergone a drying step, and a large amount of solvent remains, and it is necessary to carefully peel off the support before passing through the drying step, thereby providing this support peeling step. The resin film obtained here consists of two layers of a protective film and a resin film, and is usually wound up in roll shape. A roll can wind a laminated body around the winding pipe | tube (plastic core, a metal roll, etc.) of outer diameter 50-200 mm, for example, and can roll a laminated body. As a winding tube, you may use a commercially available 3 inch and 6 inch diameter plastic core. This roll can be used for the roll which winds up a laminated | multilayer film also in the drying process of FIG.

건조 공정은, 구체적으로 도 2에 모식적으로 나타나 있다. 이전의 프리 제막 공정에서 얻어진 수지 필름과 보호 필름의 2층의 적층 필름은, 롤(1)의 형태로 도 2에 표시되어 있다. 롤(1)로부터 송출된 적층 필름은, 보호 필름을 보호 필름 권취 롤(2)에 권취하고, 수지 필름(3)만으로 하여 건조로(爐)(4) 내의 복수의 가이드 롤(5) 상을 주행한다. 가이드 롤을 주행 중에 건조로(4) 내에서 충분히 건조한 후, 가이드 롤(9)을 통과하게 하여, 제 2 롤(6)에 권취한다. 이 제 2 롤(6)에 권취할 때에도, 통상, 보호 필름을 보호 필름 롤(7)로부터 송출하고, 보호 필름에 의해 피복한다. 도 2 중, 8로 나타내어지는 화살표는, 수지 필름의 흐름 방향(세로 방향)을 나타낸다.The drying process is shown typically in FIG. 2 specifically. The laminated film of the two layers of the resin film and protective film obtained by the previous pre-film forming process is shown by FIG. 2 in the form of the roll 1. As shown in FIG. The laminated | multilayer film sent out from the roll 1 winds up a protective film in the protective film winding roll 2, and sets only the resin film 3 on the some guide roll 5 in the drying furnace 4 Drive. After the guide roll is sufficiently dried in the drying furnace 4 during traveling, the guide roll 9 is passed through and wound around the second roll 6. Also when winding up on this 2nd roll 6, a protective film is normally sent out from the protective film roll 7, and it coat | covers with a protective film. The arrow shown by 8 in FIG. 2 shows the flow direction (vertical direction) of a resin film.

본 발명에서는, 상기의 건조 공정에 있어서, 수지 필름(3)이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤에 접촉시키는 것을 특징으로 한다. 도 2에서는, 수지 필름(3)이, 건조로(4) 내에서 가이드 롤(5) 및 건조 후에 가이드 롤(9)에 접해 있지만, 접해 있는 면은 보호 필름을 벗긴 측이므로, 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면을 가이드 롤(5 및 9)에 접촉시키고 있게 된다.In this invention, in the said drying process, before the resin film 3 peels from a support body, the ring support surface side which was not in contact with the support body surface is made to contact a guide roll. In FIG. 2, although the resin film 3 is in contact with the guide roll 5 and the guide roll 9 after drying in the drying furnace 4, since the contacted surface is a side which peeled off the protective film, it is in contact with a support surface. The ring retardation surface, which was not present, is brought into contact with the guide rolls 5 and 9.

본 발명에서는, 상기 건조로(4)에서 건조될 때에, 가이드 롤(5 및 9)에 접촉시키면, 미소 흠집이 생기는 것을 확인하였지만, 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접촉되어 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤(5 및 9)에 접촉시키면 미소 흠집이 감소한다. 본 발명에서는, 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접촉되어 있지 않던 반지지체면은, 이전의 공정에서의 건조에 의해 용매가 휘산(揮散)되어 있으므로, 그 반지지체면을 가이드 롤(5 및 9)에 접촉시킴으로써, 미소 흠집을 형성하지 않거나 또는 형성하더라도 크게 감소시킨다.In the present invention, when it is dried in the drying furnace 4, it is confirmed that micro scratches are generated when contacting the guide rolls 5 and 9, but the ring was not in contact with the support surface before the resin film was peeled off from the support. When the retardation surface side is brought into contact with the guide rolls 5 and 9, fine scratches are reduced. In the present invention, since the solvent is volatilized by the drying in the previous step, the ring retaining surface, which is not in contact with the support surface before the resin film is peeled off from the support, has a guide roll (5). And 9), the micro scratches are not formed or are greatly reduced even if they are formed.

지지체를 박리한 후의 수지 필름에 있어서, 지지체면과 반지지체면에서는 반지지체면 쪽이 경도가 높다. 용제가 많이 잔존해 있으면, 용제가 가소제로서 작용하여, 경도가 저감된다. 프리 제막 공정에서의 건조에서는, 반지지체면측으로부터 용제가 휘발되기 때문에, 지지체면측 쪽이 용매가 많이 잔존할 가능성이 있다. 이 때문에, 가이드 롤에 접촉하는 면을 반지지체면측으로 하는 것이 바람직하다.In the resin film after peeling a support body, in a support body surface and a ring support surface, the ring support surface side has high hardness. If a large amount of solvent remains, the solvent acts as a plasticizer and the hardness is reduced. In the drying in the pre-film forming step, since the solvent is volatilized from the ring retaining surface side, a large amount of solvent may remain on the support surface side. For this reason, it is preferable to make the surface which contacts a guide roll into the ring support surface side.

건조로(4)에서의 건조는, 도막으로부터 용매를 제거하는 건조를 위하여, 도막을 필요에 따라서 가열해도 된다. 예를 들면, 가열 온도를 40∼240℃의 범위, 가열 시간을 10∼180분, 바람직하게는 10∼120분의 범위에서 조정할 수 있다. 열풍에 의한 건조(용매의 제거)의 경우, 열풍의 풍속을 0∼15 m/초의 범위에서 조정할 수 있다. 용매의 제거시, 불활성 분위기나 감압의 조건 하에서 도막을 가열해도 된다. 건조로(4) 내의 가이드 롤의 직경은, 바람직하게는 10∼300 ㎜, 보다 바람직하게는 30∼250 ㎜, 더 바람직하게는 50∼200 ㎜이다. 또, JIS B0601에 준거하여 측정한 가이드 롤의 표면 거칠기(Rmax)는, 바람직하게는 0.01 이상 1.0 이하, 보다 바람직하게는 0.03 이상 0.9 이하, 더 바람직하게는 0.05 이상 0.7 이하이다. 가이드 롤의 표면 거칠기(Rmax)가 0.01보다 크면 수지 필름과 접촉하였을 때의 저항이 작아지고, 1.0보다 작으면, 가이드 롤 표면의 형상이 수지 필름으로 전사되기 어렵다. 또한, JIS Z2244에 준거하여 측정한 가이드 롤의 바람직한 비커스 경도는, 바람직하게는 500 이상 2,000 이하, 보다 바람직하게는 520 이상 1,500 이하, 더 바람직하게는 550 이상 1,300 이하이다. 금속 롤의 표면 처리 방법으로서는 니켈 도금, 무전해 니켈 도금, 니켈-붕소 도금, 경질 크롬 도금, 파커 도금 등을 들 수 있고, 바람직하게는 경질 크롬 도금을 들 수 있다.The drying in the drying furnace 4 may heat a coating film as needed for the drying which removes a solvent from a coating film. For example, heating temperature can be adjusted in the range of 40-240 degreeC, and heating time in 10 to 180 minutes, Preferably it is 10 to 120 minutes. In the case of drying (removal of a solvent) by hot air, the wind speed of hot air can be adjusted in the range of 0-15 m / sec. At the time of removal of a solvent, you may heat a coating film under conditions of inert atmosphere or reduced pressure. The diameter of the guide roll in the drying furnace 4 becomes like this. Preferably it is 10-300 mm, More preferably, it is 30-250 mm, More preferably, it is 50-200 mm. Moreover, the surface roughness Rmax of the guide roll measured based on JIS B0601 becomes like this. Preferably it is 0.01 or more and 1.0 or less, More preferably, it is 0.03 or more and 0.9 or less, More preferably, it is 0.05 or more and 0.7 or less. If the surface roughness Rmax of the guide roll is larger than 0.01, the resistance at the time of contact with the resin film is small, and if smaller than 1.0, the shape of the guide roll surface is hard to be transferred to the resin film. Moreover, the preferable Vickers hardness of the guide roll measured based on JISZ2244 becomes like this. Preferably it is 500 or more and 2,000 or less, More preferably, it is 520 or more and 1,500 or less, More preferably, it is 550 or more and 1,300 or less. As a surface treatment method of a metal roll, nickel plating, electroless nickel plating, nickel-boron plating, hard chromium plating, parker plating, etc. are mentioned, Preferably, hard chromium plating is mentioned.

얻어지는 수지 필름의 두께는, 수지 필름이 적용되는 각종 디바이스에 따라서 적당히 조정되지만, 바람직하게는 10∼500 ㎛, 보다 바람직하게는 15∼200 ㎛, 더 바람직하게는 20∼100 ㎛이다. 이와 같은 구성의 수지 필름은, 특히 우수한 굴곡성을 가질 수 있다.Although the thickness of the resin film obtained is adjusted suitably according to the various device to which a resin film is applied, Preferably it is 10-500 micrometers, More preferably, it is 15-200 micrometers, More preferably, it is 20-100 micrometers. The resin film of such a structure can have especially the outstanding flexibility.

또한, 본 명세서에 있어서 「미소 흠집」이란, 3,000 루멘 이상, 예를 들면 3,400 루멘의 조도의 광을 필름의 흐름 방향(즉, 세로 방향)으로부터 조사하여, 육안으로 인식할 수 있는 점 형상의 결함이고, 크기는 40∼400 ㎛의 크기의 것을 말한다. 수지 필름의 표면의 미소 흠집의 사진을 도 3에 나타낸다.In addition, in this specification, a "microscopic flaw" means the dot defect which can be recognized visually by irradiating the light of 3,000 lumens or more, for example, 3,400 lumens of illumination from the flow direction (namely, a longitudinal direction) of a film. And the size refers to a size of 40 to 400 μm. The photograph of the micro scratches on the surface of the resin film is shown in FIG.

미소 흠집의 발생은, 수지 필름의 제막 이후의 공정에서, 수지 필름 중의 잔존 용매량과 관계가 있다. 수지 필름 중의 잔존 용매의 양이 많으면, 필름 표면이 부드러워져 미소 흠집이 생기기 쉬워진다. 상기 프리 제막 후의 수지 필름 중의 잔존 용매는 수지 필름의 질량에 대하여, 통상 5∼30 질량%, 바람직하게는 5∼20 질량% 정도이고, 건조 공정을 거치면 잔존 용매의 양은, 수지 필름의 질량에 대하여, 통상 0∼10 질량%, 바람직하게는 0∼5 질량%가 된다. 건조 공정 후의 잔존 용매량이 상기의 범위에 있으면, 수지 필름을 반송 중의 미소 흠집의 발생의 리스크는 매우 작아질 것으로 생각된다.The occurrence of minute scratches is related to the amount of solvent remaining in the resin film in the step after film formation of the resin film. When there is much quantity of the residual solvent in a resin film, a film surface becomes soft and a micro flaw is easy to produce. Remaining solvent in the resin film after the said pre-film forming is 5-30 mass% normally with respect to the mass of a resin film, Preferably it is about 5-20 mass%, The quantity of a remaining solvent is a mass with respect to the mass of a resin film after a drying process. 0-10 mass% normally, Preferably it is 0-5 mass%. When the amount of residual solvent after a drying process exists in the said range, it is thought that the risk of generation | occurrence | production of the micro scratches during conveyance of a resin film will become very small.

상기 수지 필름 중의 잔존 용매량의 측정은 「TG-DTA 측정」으로 행할 수 있다. TG-DTA의 측정 장치로서, 히타치하이테크사이언스사 제 「TG/DTA6300」을 이용할 수 있다. 측정 순서는 다음과 같다:The measurement of the amount of residual solvent in the said resin film can be performed by "TG-DTA measurement." As a measuring device of TG-DTA, "TG / DTA6300" by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd. can be used. The order of measurement is as follows:

제작된 폴리이미드 필름으로부터 약 20 ㎎의 시료를 취득한다.About 20 mg of sample is acquired from the produced polyimide film.

채취한 시료를 실온부터 120℃까지 10℃/분의 승온 속도로 승온하고, 120℃에서 5분간 보지(保持)한 후, 400℃까지 10℃/분의 승온 속도로 승온하는 조건으로 가열하면서, 시료의 질량 변화를 측정한다.The sample collected was heated to a temperature increase rate of 10 ° C./min from room temperature to 120 ° C., held at 120 ° C. for 5 minutes, and then heated to 400 ° C. under conditions of increasing the temperature at a temperature increase rate of 10 ° C./min, Measure the change in mass of the sample.

TG-DTA 측정 결과로부터, 120℃부터 250℃에 걸쳐서의 질량 감소율 L(%)을 하기 식에 의해서 산출하여, 잔존 용매량으로 한다.From the TG-DTA measurement result, the mass reduction rate L (%) from 120 degreeC to 250 degreeC is computed by the following formula, and it is set as the amount of residual solvent.

L(%) = 100-(W1/W0)×100L (%) = 100- (W 1 / W 0 ) × 100

(상기 식 중, W0은 120℃에서 5분간 보지한 후의 시료의 질량을 나타내고,(In the formula, W 0 denotes the mass of the sample after the look out for 5 minutes at 120 ℃,

W1은 250℃에 있어서의 시료의 질량을 나타낸다.)W 1 represents the mass of the sample at 250 ° C.)

본 발명에서는, 또한, 폴리이미드, 폴리아미드 또는 폴리아미드이미드로 이루어지는 수지 필름이고,In this invention, Furthermore, it is a resin film which consists of polyimide, polyamide, or polyamideimide,

당해 수지 필름이, 크기 40∼400 ㎛의 사이즈의 미소 흠집이 100∼1,000개/㎠의 빈도로 존재하고 있는 발생 영역을 갖고,The said resin film has the generation | occurrence | production area | region where the micro scratches of the size of 40-400 micrometers in size exist in the frequency of 100-1,000 piece / cm <2>,

상기 미소 흠집이, 3,000 루멘보다 높은 조도의 광을, 필름의 흐름 방향으로부터 조사시킴으로써 시인할 수 있는 결함이고, 또한Said micro scratch is a defect which can be visually recognized by irradiating the light of illumination intensity higher than 3,000 lumens from the flow direction of a film, and

상기 미소 흠집의 발생 영역은, 필름 전체의 면적에 대하여 10% 이하인, 것을 특징으로 하는 수지 필름을 제공한다.The area | region where the said micro flaws generate | occur | produce provides the resin film characterized by the above-mentioned with respect to the area of the whole film.

본 발명의 수지 필름은, 구체적으로 폴리이미드, 폴리아미드 또는 폴리아미드이미드로 이루어지는 것이고, 또한 미소 흠집이 적은, 즉 미소 흠집이 100∼1,000개/㎠의 빈도로 존재하고 있는 발생 영역을 갖고 또한 미소 흠집의 발생 영역이 필름 전체의 면적에 대하여 10% 이하인 것이다. 미소 흠집의 발생 영역이 필름 전체의 면적에 대하여, 10%를 초과하면, 미소 흠집이 없는 영역이 적어지고, 예를 들면 수지 필름이 긴 형상인 경우에는, 이것으로부터 잘라내는 것이 가능한 매엽(每葉)의 수지 필름이 적어지는 등 하여, 바람직하지 않다.Specifically, the resin film of this invention consists of polyimide, polyamide, or polyamideimide, and has the generation | occurrence | production area | region where there are few micro-wounds, ie, micro-wounds exist in the frequency of 100-1,000 pieces / cm <2>, and micro The area | region where a flaw generate | occur | produces is 10% or less with respect to the area of the whole film. When the area where the micro scratches are generated exceeds 10% with respect to the area of the film as a whole, there are fewer areas where there are no micro scratches, for example, when the resin film has a long shape, the sheet can be cut out from this. It is not preferable that the resin film of) decreases.

본 발명의 폴리아미드계의 수지 필름에 있어서는, 미소 흠집을 거의 시인할 수 없어, 광학 용도로 사용할 수 있는 우수한 것이다.In the polyamide-based resin film of the present invention, the micro scratches can hardly be visually recognized and can be used for optical applications.

또한, 폴리이미드계 수지 및 폴리아미드의 중량평균 분자량 측정은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC) 측정에 의해 이하의 방법으로 행해진다.In addition, the weight average molecular weight measurement of polyimide-type resin and polyamide is performed by the following method by gel permeation chromatography (GPC) measurement.

(1) 전처리 방법(1) pretreatment method

시료를 γ-부티로락톤(GBL)에 용해시켜 20 질량% 용액으로 한 후, N,N-디메틸포름아미드(DMF) 용리액에 의해 100배로 희석하고, 0.45 ㎛ 멤브레인 필터로 여과된 것을 측정 용액으로 한다.The sample was dissolved in γ-butyrolactone (GBL) to a 20% by mass solution, diluted 100-fold with N, N-dimethylformamide (DMF) eluent, and filtered through a 0.45 μm membrane filter as a measurement solution. do.

(2) 측정 조건(2) measurement conditions

장치: (주)시마즈제작소 제 LC-10AtvpApparatus: LC-10Atvp manufactured by Shimadzu Corporation

컬럼: TSKgel Super AWM-H×2+SuperAW2500×1(6.0 ㎜ I.D.×150 ㎜×3개)Column: TSKgel Super AWM-H × 2 + SuperAW2500 × 1 (6.0 mm I.D. × 150 mm × 3 pieces)

용리액: DMF(10 mM의 브롬화리튬 첨가)Eluent: DMF (with 10 mM lithium bromide)

유량: 0.6 mL/min.Flow rate: 0.6 mL / min.

검출기: RI 검출기Detector: RI Detector

컬럼 온도: 40℃Column temperature: 40 ℃

주입량: 20 μLInjection volume: 20 μL

분자량 표준: 표준 폴리스티렌Molecular Weight Standard: Standard Polystyrene

[실시예]EXAMPLE

이하에, 실시예를 들어 본 발명에 대하여 더 구체적으로 설명한다. 단, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다.An Example is given to the following and this invention is demonstrated further more concretely. However, this invention is not limited to these Examples.

실시예 1Example 1

중량평균 분자량이 360,000인 폴리이미드(가와무라산업(주) 제 「KPI-MX300F」)를 준비하였다. 이 폴리이미드를 N,N-디메틸아세트아미드 및 γ-부티로락톤의 9:1의 혼합 용매에 용해하여, 수지 바니시(농도 20 질량%)를 조제하였다. 이 수지 바니시를, 두께 188 ㎛, 폭 900 ㎜인 긴 형상의 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름 기재 상에 캐스트법에 의해 폭 870 ㎜로 도포하여 제막하였다. 제막된 수지 바니시를, 온도를 단계적으로 70℃부터 120℃가 되도록 설정한 길이 12 m의 노(爐) 내를 선속(線速) 0.4 m/분으로 통과시킴으로써 수지 바니시로부터 용매를 제거하여, 수지 필름(두께 80 ㎛)을 형성시켰다. 그 후, 수지 필름에 보호 필름(도레이필름가공(주) 제 「7332」, 약(弱)점착력의 폴리올레핀 보호 필름)을 첩합(貼合)하여, 보호 필름과 수지 필름과 PET 필름으로 구성되는 필름 형상의 적층체를 롤 심(芯)에 권취하여 롤 형상(250 m)으로 하였다.The polyimide ("KPI-MX300F" by Kawamura Industries Co., Ltd.) whose weight average molecular weight is 360,000 was prepared. This polyimide was dissolved in a 9: 1 mixed solvent of N, N-dimethylacetamide and γ-butyrolactone to prepare a resin varnish (concentration 20% by mass). This resin varnish was apply | coated to 870 mm in width by the casting method on the elongate polyethylene terephthalate (PET) film base material of thickness 188 micrometers, and width 900mm, and formed into a film. The solvent is removed from the resin varnish by passing the film-formed resin varnish through a furnace having a length of 0.4 m / min. A film (thickness 80 μm) was formed. Thereafter, a protective film (&quot; 7332 &quot; manufactured by Toray Film Processing Co., Ltd., a polyolefin protective film having a weak adhesive strength) is bonded to the resin film, and the film is composed of a protective film, a resin film, and a PET film. The shape laminate was wound up to a roll core to obtain a roll shape (250 m).

상기에서 롤 형상으로 권취된 적층체를 권출(卷出)하면서 PET 필름 기재를 박리하고, 수지 필름과 보호 필름으로 구성되는 적층체를 권취하였다.The PET film base material was peeled off, unwinding the laminated body wound up in roll shape as mentioned above, and the laminated body comprised from a resin film and a protective film was wound up.

상기에서 롤 형상으로 권취된 적층체를 30 N(33.3 N/m)의 장력으로 권출하면서, 보호 필름을 박리하면서, 수지 필름을 장력 80.5 N/m으로 건조로에 도입하여 추가로 건조시켰다. 건조로 내에서는, 보호 필름을 박리한 후의 수지 필름이 박리 전의 PET 필름 기재와 접촉하고 있던 면(지지체면)측과는 반대측의 면(반지지체면)측에서, 금속제의 직경 100 ㎜, 표면 거칠기(Rmax) 0.6 S, 비커스 경도 850의 경질 크롬 도금의 가이드 롤 10개와 접촉하도록 하여 반송하였다. 건조로의 온도는 200℃로 하고, 반송 속도는 0.4 m/분으로 하고, 건조 시간은 30분으로 하였다. 건조로에서 건조시킨 후의 수지 필름은, 양면에 보호 필름(도레이필름가공(주) 제 「7332」, 약점착력의 폴리올레핀 보호 필름)을 첩합하고, 롤 심에 권취하였다(200 m 취득).The resin film was introduced into the drying furnace at a tension of 80.5 N / m and further dried while peeling off the protective film while unwinding the laminated body wound in the roll shape at a tension of 30 N (33.3 N / m). In the drying furnace, the resin film after peeling off the protective film is made of metal 100 mm in diameter and surface roughness on the surface (semi-support surface) side on the side opposite to the surface (support surface) side on which the resin film after contact with the PET film base material before peeling off. (Rmax) It conveyed in contact with 10 guide rolls of hard chromium plating of 0.6 S and Vickers hardness 850. The temperature of the drying furnace was 200 degreeC, the conveyance speed was 0.4 m / min, and the drying time was 30 minutes. The resin film after drying in the drying furnace bonded the protective film (Toray Film Processing Co., Ltd. product "7332", the polyolefin protective film of weak adhesive force) on both surfaces, and wound up to the roll core (200m acquisition).

실시예 1에서 얻어진 건조 후의 수지 필름에 대하여, 양면의 보호 필름을 박리하고, 200 m의 롤로부터 무작위로 1 m 잘라내어, 이하와 같이 미소 흠집을 평가하였다.With respect to the resin film after drying obtained in Example 1, the protective film of both surfaces was peeled off and it cut out randomly 1 m from the 200 m roll, and evaluated the micro flaw as follows.

미소 흠집의 평가Evaluation of Smile Scratches

폴라리온 라이트〔폴라리온사 제 「PS-X1」〕(3,400 루멘)를 지지체면측으로부터 흐름 방향(즉, 세로 방향)으로부터 조사하였다. 그 때, 필름면에 대하여 20∼70° 정도의 눕힌 각도로 조사하였다. 시인하는 방향은, 평가하는 수지 필름의 면의 대략 바로 위(수지 필름면으로부터 90°의 각도)부터이고, 사람의 눈으로 평가를 행하였다. 시인한 면적에 대해서는, 미소 흠집군의 전부를 포함하도록 사각을 그리고, 그 면적을 서로 합쳐, 발생 영역(「미소 흠집 면적」이라고 한다.)으로 하였다. 단, 그 사각이 이웃한 것과 0.5 ㎝ 이상 떨어져 있지 않은 경우에는, 동일 발생 영역으로 하였다.Polarlion light ("PS-X1" manufactured by Polarion) (3,400 lumens) was irradiated from the flow direction (ie, longitudinal direction) from the support surface side. In that case, it irradiated at the lying angle of about 20-70 degrees with respect to the film surface. The direction to visually recognize was from about immediately above (an angle of 90 degrees from a resin film surface) of the surface of the resin film to evaluate, and evaluated with the human eye. About the area visually recognized, the square was drawn so that the whole group of micro scratches may be included, and the area was put together, and it was set as the generation area | region (it is called a "micro scratch area."). However, when the square was not separated from the neighboring one by 0.5 cm or more, it was set as the same generating area.

미소 흠집의 평가는 이하와 같이 하였다.Evaluation of the micro scratches was performed as follows.

○: 눈으로 본 미소 흠집의 발생 영역이 전체 면적의 5% 미만(Circle): The area | region where the microscratches seen with eyes are less than 5% of the total area

△: 눈으로 본 미소 흠집의 발생 영역이 전체 면적의 5% 이상 10% 이하(Triangle | delta): 5% or more and 10% or less of the whole area | region where the micro-scratches which were seen by eyes were seen

×: 눈으로 본 미소 흠집의 발생 영역이 전체 면적의 10% 초과X: The area | region where the microscratches seen with eyes exceeded 10% of the total area

실시예 1에서 얻어진 수지 필름의 미소 흠집의 상기 측정에서의 평가는, ○였다. 실시예 1의 결과를 표 1에 기재한다. 표 1에는, 가이드 롤과의 접촉면, 미소 흠집 면적(㎠), 필름 전체에 있어서의 미소 흠집 비율(%)에 대해서도 기재하였다. 또한, 검사 필름 면적은 87×100=8,700 ㎠이며, 미소 흠집 면적(㎠)을 검사 필름 면적(8,700 ㎠)으로 나누어 100배 한 것이 필름 전체에 있어서의 미소 흠집 비율(%)이다.Evaluation in the said measurement of the micro scratches of the resin film obtained in Example 1 was (circle). The results of Example 1 are shown in Table 1. In Table 1, it described also about the contact surface with a guide roll, a micro flaw area (cm <2>), and the micro scratch rate (%) in the whole film. In addition, the inspection film area is 87x100 = 8,700 cm <2>, and it is the minute scratch rate (%) in the whole film which divided and divided 100 micro scratch area (cm <2>) by inspection film area (8,700 cm <2>).

탄성률의 측정Measurement of Elastic Modulus

얻어진 수지 필름을 200℃에서 20분간 건조하고, 덤벨 커터를 이용하여 10 ㎜×100 ㎜의 세로가 긴 직사각형 형상(短冊狀)으로 잘라, 샘플을 얻었다. 이 샘플의 탄성률을 (주)시마즈제작소 제 오토그래프 AG-IS를 이용하여, 척(chuck) 간 거리 500 ㎜, 인장 속도 20 ㎜/분의 조건으로 S-S 곡선을 측정하고, 그 기울기로부터 광학 필름의 탄성률을 산출하였다. 결과를 표 1에 기재하였다.The obtained resin film was dried at 200 degreeC for 20 minutes, and it cut out to 10 mm x 100 mm of vertical rectangular shape using the dumbbell cutter, and obtained the sample. Using the Autograph AG-IS manufactured by Shimadzu Corporation, the elastic modulus of this sample was measured on an SS curve under conditions of a distance of 500 mm between chucks and a tensile speed of 20 mm / minute, and from the inclination of the optical film. The elastic modulus was calculated. The results are shown in Table 1.

잔존 용매량의 측정Measurement of residual solvent amount

얻어진 수지 필름 중의 잔존 용매량의 측정은 「TG-DTA 측정」으로 행하였다. 측정 순서는 이하와 같았다:The measurement of the amount of residual solvent in the obtained resin film was performed by "TG-DTA measurement." The measurement procedure was as follows:

제작된 수지 필름으로부터 약 20 ㎎의 시료를 취득하였다.About 20 mg of sample was obtained from the produced resin film.

채취한 시료를 실온부터 120℃까지 10℃/분의 승온 속도로 승온하고, 120℃에서 5분간 보지한 후, 400℃까지 10℃/분의 승온 속도로 승온하는 조건으로 가열하면서, 시료의 질량 변화를 TG-DTA의 측정 장치: 히타치하이테크사이언스사 제 「TG/DTA6300」으로 측정하였다.The sample sample was heated at a temperature increase rate of 10 ° C./min from room temperature to 120 ° C., held at 120 ° C. for 5 minutes, and then heated to 400 ° C. under conditions of increasing the temperature at a temperature increase rate of 10 ° C./min. The change was measured by the measuring apparatus of TG-DTA: "TG / DTA6300" by Hitachi High-Tech.

TG-DTA 측정 결과로부터, 120℃부터 250℃에 걸쳐서의 질량 감소율 L(%)을 하기 식:From the TG-DTA measurement result, the mass reduction rate L (%) over 120 ° C to 250 ° C is expressed by the following equation:

L(%)=100-(W1/W0)×100L (%) = 100- (W 1 / W 0 ) × 100

(상기 식 중, W0은 120℃에서 5분간 보지한 후의 시료의 질량을 나타내고,(In the formula, W 0 denotes the mass of the sample after the look out for 5 minutes at 120 ℃,

W1은 250℃에 있어서의 시료의 질량을 나타낸다.)W 1 represents the mass of the sample at 250 ° C.)

으로부터 계산하여, 잔존 용매량으로 하였다. 건조 전의 수지 필름과 건조 후의 수지 필름에 대하여, 각각 잔존 용매량을 측정하여, 결과를 표 1에 기재하였다.It calculated from and set it as the amount of residual solvent. The amount of residual solvent was measured about the resin film before drying and the resin film after drying, respectively, and the result was shown in Table 1.

비교예 1Comparative Example 1

건조로에 있어서, PET 필름 기재가 적층되어 있던 측이 가이드 롤과 접촉하도록 반송한 것 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 조작하여 수지 필름을 얻었다. 실시예 1과 마찬가지로 수지 필름의 미소 흠집의 평가를 행하고, 그 결과를 표 1에 기재하였다. 표 1에는, 실시예 1과 마찬가지로, 가이드 롤과의 접촉면, 미소 흠집 면적(㎠), 필름 전체에 있어서의 미소 흠집 비율(%), 잔존 용매량(건조 전) 및 잔존 용매량(건조 후)도 기재하였다. 또한, 검사 필름 면적은 실시예 1과 동일하게 8,700 ㎠이다.In the drying furnace, a resin film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the side on which the PET film base material was laminated was brought in contact with the guide roll. In the same manner as in Example 1, micro scratches of the resin film were evaluated, and the results are shown in Table 1. In Table 1, similarly to Example 1, the contact surface with the guide roll, the micro scratch area (cm 2), the micro scratch ratio (%) in the entire film, the residual solvent amount (before drying) and the residual solvent amount (after drying) Also described. In addition, the inspection film area is 8,700 cm <2> similarly to Example 1.

상기 표 1로부터 명백한 바와 같이, 건조 공정에 있어서 가이드 롤과의 접촉면을 반지지체면측으로 하면, 미소 흠집의 평가가 좋아지고, 반대로 가이드 롤과의 접촉면을 지지체면측으로 하면, 미소 흠집의 평가가 나빠진다는 것이 밝혀졌다. 또, 도 3에 나타내는 흰 점들 부분이 미소 흠집이다.As is apparent from Table 1 above, when the contact surface with the guide roll is placed on the anti-retardant surface in the drying step, the evaluation of the micro scratches is improved. On the contrary, when the contact surface with the guide roll is the support surface, the evaluation of the micro scratches is deteriorated. It turned out. Moreover, the white point part shown in FIG. 3 is a micro scratch.

본 발명의 수지 필름의 제조 방법은, 투명한 수지 필름을 제조할 때의 건조시에, 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤에 접촉시킴으로써, 작은 흠집(특히, 미소 흠집)을 방지할 수 있는 것이고, 투명성이 요구되는 필름의 제조에 널리 응용할 수 있다.In the method for producing a resin film of the present invention, a small scratch (particularly, by contacting a guide roll with a ring support surface side, which is not in contact with the support surface before the resin film is separated from the support, at the time of drying at the time of manufacturing the transparent resin film), Micro-scratches) can be prevented and can be widely applied to the production of films requiring transparency.

1 … 롤
2 … 보호 필름 권취 롤
3 … 수지 필름
4 … 건조로
5 … 가이드 롤
6 … 제 2 롤
7 … 보호 필름 롤
8 … 흐름 방향(세로 방향)
9 … 가이드 롤
One … role
2 … Protective film winding roll
3…. Resin film
4 … Drying furnace
5…. Guide roll
6. 2nd roll
7. Protective film roll
8 … Flow direction (portrait direction)
9. Guide roll

Claims (3)

지지체 상에 수지 바니시를 도포함으로써 얻어진 수지 필름을 지지체로부터 박리한 후에 건조시키는 공정에 있어서, 상기 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면측만을 가이드 롤에 접촉시키는, 수지 필름의 제조 방법.In the process of peeling the resin film obtained by apply | coating a resin varnish on a support body after peeling from a support body, resin which makes only a ring support surface side which was not in contact with a support body surface before contacting the guide roll before peeling from the support body resin Method for producing a film. 제 1 항에 있어서,
상기 수지 바니시가, 폴리이미드, 폴리아미드이미드 및 폴리아미드로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 고분자를 함유하는, 수지 필름의 제조 방법.
The method of claim 1,
The said resin varnish contains the at least 1 sort (s) of polymer chosen from the group which consists of a polyimide, polyamideimide, and polyamide, The manufacturing method of the resin film.
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