KR20190049533A - Method for producing resin film and resin film with fewer fine scratches - Google Patents

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Abstract

The purpose of the present invention is to add improvements in a process of drying the resin film so as to prevent fine scratches of a resin film. The present invention provides a method of producing the resin film, which comprises a step of contacting a guide roll with a half-supporter surface side that has not been brought into contact with a supporter surface before the resin film is stripped from the supporter in the process of drying the resin film after stripping from the supporter the resin film obtained by applying a resin varnish onto a supporter. Further, the present invention provides a resin film which is formed of polyimide, polyamide, or polyamideimide, wherein the resin film has a generation area in which fine scratches with a size of 40 to 400μm exist at a frequency of 100 to 1,000 scratches/cm^2, and the generation area of the fine scratches is not more than 10% of the total area of the film.

Description

수지 필름의 제조 방법 및 미소 흠집이 적은 수지 필름{METHOD FOR PRODUCING RESIN FILM AND RESIN FILM WITH FEWER FINE SCRATCHES}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a resin film,

본 발명은 수지 필름의 제조 방법, 특히 시인성이 높은 투명한 수지 필름의 제조 방법 및 미소 흠집이 적은 수지 필름에 관한 것이다.The present invention relates to a method for producing a resin film, in particular, a method for producing a transparent resin film having high visibility and a resin film having a small number of minute scratches.

액정 표시 장치 및 태양 전지와 같은 디바이스의 투명 부재로서, 투명 수지 필름이 이용되는 경우가 있다. 이 투명 수지 필름으로서, 높은 내열성을 갖는 폴리이미드 필름이 이용되는 경우가 있다(특허문헌 1).As a transparent member of a device such as a liquid crystal display device and a solar cell, a transparent resin film may be used. As this transparent resin film, a polyimide film having high heat resistance is sometimes used (Patent Document 1).

또, 투명한 폴리이미드 필름을 얻는 경우, 폴리이미드를 함유하는 바니시를 지지체 상에 도포하고 나서, 지지체를 박리한 후 건조하여, 추가로 보호층을 적층하는 것이 행해지고 있다.Further, in the case of obtaining a transparent polyimide film, a varnish containing polyimide is coated on a support, then the support is peeled off and dried, and further a protective layer is laminated.

일본 공개특허 특개평10-310639호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 10-310639

그런데, 폴리이미드 필름을 건조하는 공정은, 폴리이미드 필름을 지지체로부터 박리하여, 가이드 롤에 의해 필름을 이동하고 있는 상태에서 건조를 행하고, 건조 후에 보호 필름을 부착하여 폴리이미드 필름을 보호하는 것이 행해지고 있지만, 가이드 롤 상을 이동하여 건조하고 있을 때에, 폴리이미드 필름에 통상이라면 인식하기 어려운 매우 작은 흠집(예를 들면, 미소 흠집이나 마찰 흠집)이 형성된다. 이와 같은 흠집은, 폴리이미드 필름에서는, 밝은 광원 하에서 사용되는 고도의 투명성이 요구되는 폴리이미드 필름에서는 피해야만 한다.However, in the step of drying the polyimide film, the polyimide film is peeled off from the support, the film is dried while the film is being moved by the guide roll, the protective film is attached after drying to protect the polyimide film However, very small scratches (for example, minute scratches or scratches) which are difficult to be recognized on a polyimide film are formed when the film is dried by moving on a guide roll. Such scratches should be avoided in a polyimide film in which a high transparency is required under a bright light source.

그래서, 본 발명자들은, 상기한 작은 흠집을 방지하기 위하여 검토를 행하여, 폴리이미드 필름의 건조 공정에 있어서 개량을 추가하는 것을 목적으로 한다.Therefore, the present inventors have made a study to prevent the above-mentioned small scratches and to improve the polyimide film in the drying process.

즉, 본 발명은, 지지체 상에 수지 바니시를 도포함으로써 얻어진 수지 필름을 지지체로부터 박리한 후에 건조시키는 공정에 있어서, 상기 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반(反)지지체면측을 가이드 롤에 접촉시키는, 수지 필름의 제조 방법을 제공한다.That is, the present invention relates to a process for producing a resin film, which comprises a step of peeling off a resin film obtained by applying a resin varnish on a support and then drying the resin film after peeling off from the support, Side of the film is brought into contact with the guide roll.

상기 수지 바니시는, 바람직하게는 폴리이미드, 폴리아미드이미드 및 폴리아미드로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 고분자를 함유한다.The resin varnish preferably contains at least one polymer selected from the group consisting of polyimide, polyamideimide and polyamide.

본 발명은 또한, 폴리이미드, 폴리아미드 또는 폴리아미드이미드로 이루어지는 수지 필름이고,The present invention is also a resin film comprising a polyimide, polyamide or polyamideimide,

당해 수지 필름이, 크기 40∼400 ㎛의 사이즈의 미소 흠집이 100∼1,000개/㎠의 빈도로 존재하고 있는 발생 영역을 갖고,Wherein the resin film has a generation region in which a minute scratch of a size of 40 to 400 占 퐉 exists at a frequency of 100 to 1,000 / cm2,

상기 미소 흠집이, 3,000 루멘보다 높은 조도(照度)의 광을, 필름의 흐름 방향으로부터 조사시킴으로써 시인(視認)할 수 있는 결함이고, 또한The fine scratches are defects that can be visually recognized by irradiating light having an illuminance higher than 3,000 lumens from the flow direction of the film,

상기 미소 흠집의 발생 영역은, 필름 전체의 면적에 대하여 10% 이하인, 것을 특징으로 하는 수지 필름을 제공한다.And the area where the minute scratches are generated is 10% or less with respect to the entire area of the film.

본 발명에서는, 건조 공정에 있어서, 상기 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤에 접촉시킴으로써, 자잘한 흠집, 특히 미소 흠집을 방지할 수 있다. 건조 공정에서는, 건조가 보다 진행되도록 지지체나 보호 필름을 박리하여, 수지 필름 단독으로 건조하는 것이지만, 박리 시점에서는 아직 용매가 남아 있어, 특히 지지체에 접해 있던 부분은 용매가 보다 잔존해 있어, 지지체 박리면이 가이드 롤에 접하면 미소 흠집이 발생할 것으로 생각된다. 본 발명에서는, 지지체 박리면에는 가이드 롤을 닿게 하지 않고, 그 반대측의 면을 가이드 롤에 접촉시킴으로써, 미소 흠집이 감소한다는 것이 밝혀졌다. 지지체 박리면이 아닌 면은, 지지체 박리면보다 건조가 진행되고 있으므로, 이 면을 가이드 롤에 접하여 건조하면, 미소 흠집이 감소한다. 미소 흠집을 방지할 수 있음으로써, 광의 난반사가 감소되고, 백라이트 등에 의해 광을 투과시키는 경우에, 백라이트 전력도 삭감할 수 있다.In the present invention, in the drying step, the ring retention surface side, which is not in contact with the support surface before the resin film is peeled from the support, is brought into contact with the guide roll, so that minor scratches, particularly fine scratches, can be prevented. In the drying step, the support or the protective film is peeled off to dry more, and the resin film alone is dried. However, the solvent remains at the time of peeling, and in particular, It is considered that a slight scratch will occur when the guide surface is brought into contact with the guide roll. In the present invention, it has been found that the fine scratches are reduced by bringing the surface on the opposite side thereof into contact with the guide roll without touching the guide roll surface. Since the surface of the support surface other than the release surface of the support is drying more than the surface of the support member, the surface is dried in contact with the guide roll, thereby reducing minute scratches. By preventing minute scratches, diffused reflection of light is reduced, and when light is transmitted by a backlight or the like, backlight power can also be reduced.

본 발명에서는, 상기의 가이드 롤에 접하는 건조 공정 후에, 추가적인 건조 공정을 마련해도 된다. 이 추가적인 건조 공정에서는, 이미 건조가 진행되고 있으므로, 미소 흠집이 발생하는 일은 적다.In the present invention, an additional drying step may be provided after the drying step in contact with the guide roll. In this additional drying step, since drying is already proceeding, minute scratches are less likely to occur.

도 1은 본 발명의 수지 필름의 제조 공정을 기재한 공정도이다.
도 2는 본 발명의 수지 필름의 제조 방법의 공정을 모식적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 수지 필름 표면의 미소 흠집을 나타낸 사진이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a process diagram showing a production process of the resin film of the present invention. Fig.
Fig. 2 is a diagram schematically showing a step of the method for producing a resin film of the present invention.
3 is a photograph showing fine scratches on the surface of the resin film.

이하에, 본 발명의 몇 가지 실시 형태에 대하여 도 1∼3을 이용하여 상세하게 설명한다. 단, 본 발명의 수지 필름의 제조 방법은, 도 1∼3의 태양에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to Figs. 1 to 3. Fig. However, the manufacturing method of the resin film of the present invention is not limited to the embodiment of Figs.

도 1은 본 발명의 수지 필름의 제조 공정을 기재한 공정도이다. 도 1에 기재한 바와 같이, 본 발명의 수지 필름은 바니시화, 프리 제막(製膜), 지지체 박리 및 건조라는 공정을 거쳐 제조된다. 바니시화의 공정에서는, 수지를 용매에 용해 또는 분산하여 수지 바니시를 형성하고, 프리 제막 공정에서는, 얻어진 수지 바니시를, 도장 장치를 이용하여 지지체 상에 도장하여, 간단히 건조한 후 보호 필름을 수지 필름 상에 피복하여 일단 적층 필름으로 한다. 이 적층 필름을 이어서 지지체 박리 공정으로 옮겨, 지지체를 박리흔(痕)이 없도록 박리한다. 박리 공정에서 얻어진 수지 필름과 보호 필름으로 이루어지는 것을, 도 1의 건조 공정으로 이행하여, 보호 필름을 박리함과 함께, 수지 필름을 건조한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a process diagram showing a production process of the resin film of the present invention. Fig. As shown in Fig. 1, the resin film of the present invention is produced through processes such as varnishization, free film formation, support film separation and drying. In the varnishization step, the resin is dissolved or dispersed in a solvent to form a resin varnish. In the pre-film forming step, the obtained resin varnish is coated on a support using a coating apparatus, To form a laminated film. The laminated film is then transferred to a support peeling step, and the support is peeled off so that there is no peeling scar. The resin film and the protective film obtained in the peeling process are shifted to the drying process in Fig. 1, the protective film is peeled off, and the resin film is dried.

도 1의 바니시화의 공정에서는, 상술한 바와 같이 수지를 용매에 용해 또는 분산하여 수지 바니시를 형성하는 것이지만, 본 발명에 제조 방법에서 사용되는 수지는, 예를 들면, 폴리이미드계 고분자(폴리이미드 및 폴리아미드이미드를 포함함), 폴리아미드, 폴리에스테르, 폴리(메타)아크릴레이트, 아세틸셀룰로오스, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리에틸렌나프탈레이트, 시클로올레핀 폴리머 및 그들의 공중합체 등을 들 수 있다. 투명성, 내열성, 각종 기계 물성이 우수하다는 점에서, 바람직하게는 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드이고, 더 바람직하게는 폴리이미드이다. 포함되는 수지는 1종류여도 되고 2종류 이상이어도 된다. 얻어지는 수지 필름은, 착색 또는 무색의 수지 필름이어도 되지만, 적합하게는 무색 투명의 수지 필름이다.In the varnishation step of Fig. 1, the resin is dissolved or dispersed in a solvent to form a resin varnish as described above. The resin used in the production method of the present invention is, for example, a polyimide-based polymer And polyamideimide), polyamides, polyesters, poly (meth) acrylates, acetylcellulose, polyethylene terephthalate, polyethylene naphthalate, cycloolefin polymers and copolymers thereof. Is preferably a polyimide-based polymer and a polyamide, more preferably a polyimide in that it is excellent in transparency, heat resistance and various mechanical properties. The resin included may be one type or two or more types. The resulting resin film may be a colored or colorless resin film, preferably a colorless transparent resin film.

본 명세서에 있어서 폴리이미드란, 이미드기를 포함하는 반복 구조 단위를 주로 하는 중합체이고, 폴리아미드란, 아미드기를 포함하는 반복 구조 단위를 주로 하는 중합체이고, 폴리이미드계 고분자란, 폴리이미드 및 이미드기를 포함하는 구조 단위 및 아미드기를 포함하는 구조 단위를 주로 하는 중합체를 나타낸다.In the present specification, the polyimide is a polymer mainly comprising a repeating structural unit containing an imide group, and the polyamide is a polymer mainly comprising a repeating structural unit containing an amide group, and the polyimide-based polymer is a polyimide- And a structural unit containing an amide group.

본 발명의 폴리이미드계 고분자는, 후술하는 테트라카르본산 화합물과 디아민 화합물을 주된 원료로서 제조할 수 있고, 하기의 식 (10)으로 나타내어지는 반복 구조 단위를 갖는다. 여기서, G는 4가의 유기기이고, A는 2가의 유기기이다. G 및/또는 A가 다른, 2종류 이상의 식 (10)으로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다. 또, 본 실시 형태에 관련된 폴리이미드계 고분자는, 얻어지는 폴리이미드계 고분자 필름의 각종 물성을 손상하지 않는 범위에서, 식 (11), 식 (12), 식 (13)으로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다.The polyimide-based polymer of the present invention can be produced as a main raw material of a tetracarboxylic acid compound and a diamine compound described later, and has a repeating structural unit represented by the following formula (10). Here, G is a tetravalent organic group and A is a divalent organic group. G, and / or A may contain two or more kinds of structures represented by formula (10). The polyimide-based polymer according to the present embodiment includes the structure represented by the formula (11), the formula (12), and the formula (13) within the range of not impairing various physical properties of the obtained polyimide- .

[화학식 1][Chemical Formula 1]

Figure pat00001
Figure pat00001

G 및 G1은 4가의 유기기이고, 바람직하게는 탄화수소기 또는 불소 치환된 탄화수소기에 의해 치환되어 있어도 되는 유기기이고, 이하의 식 (20), 식 (21), 식 (22), 식 (23), 식 (24), 식 (25), 식 (26), 식 (27), 식 (28) 또는 식 (29)로 나타내어지는 기 및 4가의 탄소수 6 이하의 쇄식 탄화수소기가 예시된다. 식 중의 *은 결합손을 나타내고, Z는 단결합, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -Ar-, -SO2-, -CO-, -O-Ar-O-, -Ar-O-Ar-, -Ar-CH2-Ar-, -Ar-C(CH3)2-Ar- 또는 -Ar-SO2-Ar-을 나타낸다. Ar은 불소 원자로 치환되어 있어도 되는 탄소수 6∼20의 아릴렌기를 나타내고, 구체예로서는 페닐렌기를 들 수 있다.G and G 1 are each a tetravalent organic group and are preferably organic groups which may be substituted by a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group and are represented by the following formulas (20), (21), (22) There may be exemplified a group represented by formula (24), formula (25), formula (26), formula (27), formula (28) or formula (29) and a quadrivalent cyclic hydrocarbon group having 6 or less carbon atoms. Z represents a single bond, -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH (CH 3 ) -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3 ) 2 -, -Ar-, -SO 2 -, -CO-, -O-Ar-O-, -Ar-O-Ar-, -Ar-CH 2 -Ar-, -Ar-C CH 3 ) 2 -Ar- or -Ar-SO 2 -Ar-. Ar represents an arylene group having 6 to 20 carbon atoms which may be substituted with a fluorine atom, and specific examples thereof include a phenylene group.

[화학식 2](2)

Figure pat00002
Figure pat00002

G2는 3가의 유기기이고, 바람직하게는 탄화수소기 또는 불소 치환된 탄화수소기에 의해 치환되어 있어도 되는 유기기이고, 상기의 식 (20), 식 (21), 식 (22), 식 (23), 식 (24), 식 (25), 식 (26), 식 (27), 식 (28) 또는 식 (29)로 나타내어지는 기의 결합손 중 어느 하나가 수소 원자로 치환된 기 및 3가의 탄소수 6 이하의 쇄식 탄화수소기가 예시된다.G 2 is a trivalent organic group, preferably an organic group which may be substituted by a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group, and the groups represented by the formulas (20), (21) Any one of the groups bonded to each other represented by the formula (24), the formula (25), the formula (26), the formula (27), the formula (28) or the formula (29) A chain hydrocarbon group having 6 or less is exemplified.

G3은 2가의 유기기이고, 바람직하게는 탄화수소기 또는 불소 치환된 탄화수소기에 의해 치환되어 있어도 되는 유기기이고, 상기의 식 (20), 식 (21), 식 (22), 식 (23), 식 (24), 식 (25), 식 (26), 식 (27), 식 (28) 또는 식 (29)로 나타내어지는 기의 결합손 중, 인접하지 않는 2개가 수소 원자로 치환된 기 및 탄소수 6 이하의 쇄식 탄화수소기가 예시된다.G 3 is a divalent organic group and is preferably an organic group which may be substituted by a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group. The above-mentioned formulas (20), (21), (22) Of the groups represented by the formulas (24), (25), (26), (27), (28) or (29) A chain hydrocarbon group having 6 or less carbon atoms is exemplified.

A, A1, A2, A3은 모두 2가의 유기기이고, 바람직하게는 탄화수소기 또는 불소 치환된 탄화수소기에 의해 치환되어 있어도 되는 유기기이고, 이하의 식 (30), 식 (31), 식 (32), 식 (33), 식 (34), 식 (35), 식 (36), 식 (37) 또는 식 (38)로 나타내어지는 기; 그들이 메틸기, 플루오로기, 클로로기 또는 트리플루오로메틸기에 의해 치환된 기 및 탄소수 6 이하의 쇄식 탄화수소기가 예시된다. 식 중의 *은 결합손을 나타내고, Z1, Z2 및 Z3은, 각각 독립적으로, 단결합, -O-, -CH2-, -CH2-CH2-, -CH(CH3)-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2- 또는 -CO-를 나타낸다. 하나의 예는, Z1 및 Z3이 -O-이고, 또한, Z2가 -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2- 또는 -SO2-이다. Z1과 Z2, 및, Z2와 Z3은, 각각, 각 환에 대하여 메타 위치 또는 파라 위치인 것이 바람직하다.(A), A 1 , A 2 and A 3 are all divalent organic groups, preferably an organic group which may be substituted by a hydrocarbon group or a fluorine-substituted hydrocarbon group, and the following formulas (30), A group represented by formulas (32), (33), (34), (35), (36), (37) or (38); A group substituted by a methyl group, a fluoro group, a chloro group or a trifluoromethyl group, and a chain hydrocarbon group having 6 or less carbon atoms. Z 1 , Z 2 and Z 3 each independently represent a single bond, -O-, -CH 2 -, -CH 2 -CH 2 -, -CH (CH 3 ) -, , -C (CH 3) 2 - , -C (CF 3) 2 - or denotes a -CO- -, -SO 2. One example is where Z 1 and Z 3 are -O- and Z 2 is -CH 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3 ) 2 - or -SO 2 -. Z 1 and Z 2 , and Z 2 and Z 3 are each preferably a meta position or a para position with respect to each ring.

[화학식 3](3)

Figure pat00003
Figure pat00003

본 발명의 폴리아미드는, 상기의 식 (13)으로 나타내어지는 반복 구조 단위를 주로 하는 중합체이다. 바람직한 예 및 구체예는, 폴리이미드계 고분자에 있어서의 G3 및 A3과 동일하다. G3 및/또는 A3이 다른, 2종류 이상의 식 (13)으로 나타내어지는 구조를 포함하고 있어도 된다.The polyamide of the present invention is a polymer mainly comprising repeating structural units represented by the above formula (13). Preferred examples and specific examples are the same as G 3 and A 3 in the polyimide-based polymer. G 3 and / or A 3 may contain two or more kinds of structures represented by formula (13).

폴리이미드계 고분자는, 예를 들면, 디아민과 테트라카르본산 화합물(테트라카르본산 2 무수물 등)과의 중축합에 의해서 얻어지고, 예를 들면, 일본 공개특허 특개2006-199945호 공보 또는 일본 공개특허 특개2008-163107호 공보에 기재되어 있는 방법에 따라서 합성할 수 있다. 폴리이미드의 시판품으로서는, 미쓰비시가스화학(주) 제 네오푸림(Neopulim) 등을 들 수 있다.The polyimide-based polymer is obtained, for example, by polycondensation of a diamine with a tetracarboxylic acid compound (tetracarboxylic acid dianhydride or the like). For example, JP-A-2006-199945 or JP- Can be synthesized according to the method described in JP-A-2008-163107. Examples of commercially available products of polyimide include Neopulim manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd. and the like.

폴리이미드의 합성에 이용되는 테트라카르본산 화합물로서는, 방향족 테트라카르본산 2 무수물 등의 방향족 테트라카르본산 화합물 및 지방족 테트라카르본산 2 무수물 등의 지방족 테트라카르본산 화합물을 들 수 있다. 테트라카르본산 화합물은 단독으로 이용해도 되고 2종 이상을 병용해도 된다. 테트라카르본산 화합물은 2 무수물 외에, 산 클로라이드 화합물 등의 테트라카르본산 화합물 유연체(類緣體)여도 된다.Examples of the tetracarboxylic acid compound used for the synthesis of polyimide include aromatic tetracarboxylic acid compounds such as aromatic tetracarboxylic dianhydride and aliphatic tetracarboxylic acid compounds such as aliphatic tetracarboxylic dianhydride. The tetracarboxylic acid compound may be used alone or in combination of two or more. The tetracarboxylic acid compound may be an anhydride of a tetracarboxylic acid compound such as an acid chloride compound in addition to dianhydride.

방향족 테트라카르본산 2 무수물의 구체예로서는 4,4'-옥시디프탈산 2 무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르본산 2 무수물, 2,2',3,3'-벤조페논테트라카르본산 2 무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르본산 2 무수물, 2,2',3,3'-비페닐테트라카르본산 2 무수물, 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르본산 2 무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페닐)프로판 2 무수물, 2,2-비스(2,3-디카르복시페닐)프로판 2 무수물, 2,2-비스(3,4-디카르복시페녹시페닐)프로판 2 무수물, 4,4'-(헥사플루오로 이소프로필리덴)디프탈산 2 무수물, 1,2-비스(2,3-디카르복시페닐)에탄 2 무수물, 1,1-비스(2,3-디카르복시페닐)에탄 2 무수물, 1,2-비스(3,4-디카르복시페닐)에탄 2 무수물, 1,1-비스(3,4-디카르복시페닐)에탄 2 무수물, 비스(3,4-디카르복시페닐)메탄 2 무수물, 비스(2,3-디카르복시페닐)메탄 2 무수물, 4,4'-(p-페닐렌디옥시)디프탈산 2 무수물, 4,4'-(m-페닐렌디옥시)디프탈산 2 무수물 및 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르본산 2 무수물을 들 수 있다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다.Specific examples of the aromatic tetracarboxylic acid dianhydride include 4,4'-oxydiphthalic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-benzophenonetetracarboxylic dianhydride, 2,2', 3,3'-benzophenone Tetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 2,2', 3,3'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4 (2,3-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) propane dianhydride, 2,2- Bis (3,4-dicarboxyphenoxyphenyl) propane dianhydride, 4,4 '- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic dianhydride, 1,2-bis (2,3-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,2-bis (3,4-dicarboxyphenyl) ethane dianhydride, 1,1-bis Carboxyphenyl) ethane dianhydride, bis (3,4-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, bis (2,3-dicarboxyphenyl) methane dianhydride, 4,4 '- Oxy) diphthalic dianhydride, 4,4 '- there may be mentioned (m- phenylenedimaleimide oxy) diphthalic acid dianhydride and 2,3,6,7-naphthalene tetracarboxylic dianhydride. These may be used alone or in combination of two or more.

지방족 테트라카르본산 2 무수물로서는, 환식 또는 비환식의 지방족 테트라카르본산 2 무수물을 들 수 있다. 환식 지방족 테트라카르본산 2 무수물이란, 지환식 탄화수소 구조를 갖는 테트라카르본산 2 무수물이고, 그 구체예로서는 1,2,4,5-시클로헥산테트라카르본산 2 무수물, 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르본산 2 무수물, 1,2,3,4-시클로펜탄테트라카르본산 2 무수물 등의 시클로알칸테트라카르본산 2 무수물, 비시클로[2.2.2]옥트-7-엔-2,3,5,6-테트라카르본산 2 무수물, 디시클로헥실 3,3',4,4'-테트라카르본산 2 무수물 및 이들의 위치 이성체를 들 수 있다. 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다. 비환식 지방족 테트라카르본산 2 무수물의 구체예로서는 1,2,3,4-부탄테트라카르본산 2 무수물, 1,2,3,4-펜탄테트라카르본산 2 무수물 등을 들 수 있고, 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다.Examples of the aliphatic tetracarboxylic acid dianhydride include cyclic or acyclic aliphatic tetracarboxylic dianhydrides. The cyclic aliphatic tetracarboxylic acid dianhydride is tetracarboxylic dianhydride having an alicyclic hydrocarbon structure, and specific examples thereof include 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclo Butane tetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride and the like, cycloalkanetetracarboxylic dianhydride, bicyclo [2.2.2] oct-7-ene-2,3,5 , 6-tetracarboxylic dianhydride, dicyclohexyl 3,3 ', 4,4'-tetracarboxylic dianhydride, and their positional isomers. These may be used alone or in combination of two or more. Specific examples of the non-cyclic aliphatic tetracarboxylic acid dianhydride include 1,2,3,4-butanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-pentanetetracarboxylic dianhydride, etc., Two or more species may be used in combination.

상기 테트라카르본산 2 무수물 중에서도, 고투명성 및 저착색성의 관점에서, 1,2,4,5-시클로헥산테트라카르본산 2 무수물, 비시클로[2.2.2]옥트-7-엔-2,3,5,6-테트라카르본산 2 무수물 및 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 2 무수물이 바람직하다.Among the tetracarboxylic dianhydrides, from the viewpoint of high transparency and low coloring property, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, bicyclo [2.2.2] oct- 5,6-tetracarboxylic dianhydride and 4,4 '- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic dianhydride are preferable.

또한, 본 발명의 폴리이미드계 고분자는, 얻어지는 폴리이미드계 고분자 필름의 각종 물성을 손상하지 않는 범위에서, 상기의 폴리이미드 합성에 이용되는 테트라카르본산의 무수물에 추가하여, 테트라카르본산, 트리카르본산 및 디카르본산 및 그들의 무수물 및 유도체를 추가로 반응시킨 것이어도 된다.The polyimide-based polymer of the present invention may contain, in addition to the anhydride of the tetracarboxylic acid used in the polyimide synthesis, the tetracarboxylic acid, tricarboxylic acid, And further reacted with the maleic acid and the dicarboxylic acid and anhydrides and derivatives thereof.

트리카르본산 화합물로서는 방향족 트리카르본산, 지방족 트리카르본산 및 그들의 유연의 산 클로라이드 화합물, 산 무수물 등을 들 수 있고, 2종 이상을 병용해도 된다. 구체예로서는 1,2,4-벤젠트리카르본산의 무수물; 2,3,6-나프탈렌트리카르본산-2,3-무수물; 프탈산 무수물과 안식향산이 단결합, -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2- 또는 페닐렌기에 의해 연결된 화합물을 들 수 있다.Examples of the tricarboxylic acid compound include aromatic tricarboxylic acid, aliphatic tricarboxylic acid, and their flexible acid chloride compounds and acid anhydrides, and two or more of them may be used in combination. Specific examples include anhydrides of 1,2,4-benzenetricarboxylic acid; 2,3,6-naphthalenetricarboxylic acid-2,3-anhydride; A compound in which phthalic anhydride and benzoic acid are linked by a single bond, -O-, -CH 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3 ) 2 -, -SO 2 - or phenylene group .

디카르본산 화합물로서는 방향족 디카르본산, 지방족 디카르본산 및 그들의 유연의 산 클로라이드 화합물, 산 무수물 등을 들 수 있고, 2종 이상을 병용해도 된다. 구체예로서는 테레프탈산; 이소프탈산; 나프탈렌디카르본산; 4,4'-비페닐디카르본산; 3,3'-비페닐디카르본산; 탄소수 8 이하인 쇄식 탄화수소의 디카르본산 화합물 및 2개의 안식향산이 단결합, -O-, -CH2-, -C(CH3)2-, -C(CF3)2-, -SO2- 또는 페닐렌기에 의해 연결된 화합물을 들 수 있다.Examples of the dicarboxylic acid compound include aromatic dicarboxylic acids, aliphatic dicarboxylic acids and their flexible acid chloride compounds and acid anhydrides, and two or more of them may be used in combination. Specific examples include terephthalic acid; Isophthalic acid; Naphthalene dicarboxylic acid; 4,4'-biphenyldicarboxylic acid; 3,3'-biphenyldicarboxylic acid; A dicarboxylic acid compound of a chain hydrocarbon having a carbon number of 8 or less and two benzoic acids are bonded by a single bond, -O-, -CH 2 -, -C (CH 3 ) 2 -, -C (CF 3 ) 2 -, -SO 2 - And a compound linked by a phenylene group.

폴리이미드의 합성에 이용되는 디아민으로서는 지방족 디아민, 방향족 디아민 또는 그들의 혼합물이어도 된다. 또한, 본 실시 형태에 있어서 「방향족 디아민」이란, 아미노기가 방향환에 직접 결합하고 있는 디아민을 나타내고, 그 구조의 일부에 지방족 기 또는 기타의 치환기를 포함하고 있어도 된다. 방향환은 단환이어도 되고 축합환이어도 되며, 벤젠환, 나프탈렌환, 안트라센환 및 플루오렌환 등이 예시되지만, 이들에 한정되는 것은 아니다. 이들 중에서도 바람직하게는 벤젠환이다. 또, 「지방족 디아민」이란, 아미노기가 지방족 기에 직접 결합하고 있는 디아민을 나타내고, 그 구조의 일부에 방향환이나 기타의 치환기를 포함하고 있어도 된다.The diamine used for the synthesis of the polyimide may be an aliphatic diamine, an aromatic diamine or a mixture thereof. In the present embodiment, the term "aromatic diamine" refers to a diamine in which an amino group is directly bonded to an aromatic ring, and a part of the structure may contain an aliphatic group or other substituent. The aromatic ring may be a monocyclic ring or a condensed ring, and examples thereof include a benzene ring, a naphthalene ring, an anthracene ring and a fluorene ring, but are not limited thereto. Of these, benzene rings are preferable. The term " aliphatic diamine " means a diamine in which an amino group is bonded directly to an aliphatic group, and an aromatic ring or other substituent may be contained in a part of the structure.

지방족 디아민으로서는, 예를 들면, 헥사메틸렌디아민 등의 비환식 지방족 디아민 및 1,3-비스(아미노메틸)시클로헥산, 1,4-비스(아미노메틸)시클로헥산, 노르보르난디아민, 4,4'-디아미노디시클로헥실메탄 등의 환식 지방족 디아민 등을 들 수 있고, 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다.Examples of the aliphatic diamines include alicyclic diamines such as hexamethylene diamine and the like; aliphatic diamines such as 1,3-bis (aminomethyl) cyclohexane, 1,4-bis (aminomethyl) cyclohexane, '-Diaminodicyclohexylmethane and the like, and they may be used alone or in combination of two or more.

방향족 디아민으로서는, 예를 들면, p-페닐렌디아민, m-페닐렌디아민, 2,4-톨루엔디아민, m-크실릴렌디아민, p-크실릴렌디아민, 1,5-디아미노나프탈렌, 2,6-디아미노나프탈렌 등의, 방향환을 1개 갖는 방향족 디아민, 4,4'-디아미노디페닐메탄, 4,4'-디아미노디페닐프로판, 4,4'-디아미노디페닐에테르, 3,4'-디아미노디페닐에테르, 3,3'-디아미노디페닐에테르, 4,4'-디아미노디페닐술폰, 3,4'-디아미노디페닐술폰, 3,3'-디아미노디페닐술폰, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 비스〔4-(4-아미노페녹시)페닐〕술폰, 비스〔4-(3-아미노페녹시)페닐〕술폰, 2,2-비스[4-(4-아미노페녹시)페닐]프로판, 2,2-비스[4-(3-아미노페녹시)페닐]프로판, 2,2'-디메틸벤지딘, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 9,9-비스(4-아미노페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노-3-메틸페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노-3-클로로페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노-3-플루오로페닐)플루오렌 등의, 방향환을 2개 이상 갖는 방향족 디아민을 들 수 있고, 이들은 단독으로 또는 2종 이상을 조합하여 이용할 수 있다.Examples of the aromatic diamines include aromatic diamines such as p-phenylenediamine, m-phenylenediamine, 2,4-toluenediamine, m-xylylenediamine, p-xylylenediamine, , And 6-diaminonaphthalene; aromatic diamines having one aromatic ring such as 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylpropane, 4,4'-diaminodiphenyl ether , 3,4'-diaminodiphenyl ether, 3,3'-diaminodiphenyl ether, 4,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,4'-diaminodiphenyl sulfone, 3,3'- Bis (4-aminophenoxy) benzene, bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] sulfone, bis Bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone, 2,2-bis [4- Propane, 2,2'-dimethylbenzidine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, 4,4'-bis (4-aminophenoxy) biphenyl, 9,9- ) Fl Fluorene, 9,9-bis (4-amino-3-methylphenyl) fluorene, 9,9-bis And phenylphenyl) fluorene, and aromatic diamines having two or more aromatic rings may be used either alone or in combination of two or more.

상기 디아민 중에서도, 고투명성 및 저착색성의 관점에서는, 비페닐 구조를 갖는 방향족 디아민으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 바람직하다. 2,2'-디메틸벤지딘, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐 및 4,4'-디아미노디페닐에테르로 이루어지는 군으로부터 선택되는 1종 이상을 이용하는 것이 더 바람직하고, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘이 포함되는 것이 보다 더 바람직하다.Among the above diamines, from the viewpoints of high transparency and low coloring property, it is preferable to use at least one selected from the group consisting of aromatic diamines having a biphenyl structure. (4-aminophenoxy) biphenyl and 4,4'-diaminodiphenyl ether, which is composed of 2,2'-dimethylbenzidine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, , More preferably at least one selected from the group consisting of 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine, and still more preferably 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine.

식 (10), 식 (11), 식 (12) 또는 식 (13)으로 나타내어지는 반복 구조 단위를 적어도 1종 포함하는 중합체인 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드는, 디아민과, 테트라카르본산 화합물(산 클로라이드 화합물, 테트라카르본산 2 무수물 등의 테트라카르본산 화합물 유연체), 트리카르본산 화합물(산 클로라이드 화합물, 트리카르본산 무수물 등의 트리카르본산 화합물 유연체) 및 디카르본산 화합물(산 클로라이드 화합물 등의 디카르본산 화합물 유연체)로 이루어지는 군에 포함되는 적어도 1종류의 화합물과의 중축합 생성물인 축합형 고분자이다. 출발 원료로서는, 이들에 추가하여, 추가로 디카르본산 화합물(산 클로라이드 화합물 등의 유연체를 포함함)을 이용하는 경우도 있다. 식 (11)로 나타내어지는 반복 구조 단위는, 통상, 디아민류 및 테트라카르본산 화합물로부터 유도된다. 식 (12)로 나타내어지는 반복 구조 단위는, 통상, 디아민 및 트리카르본산 화합물로부터 유도된다. 식 (13)으로 나타내어지는 반복 구조 단위는, 통상, 디아민 및 디카르본산 화합물로부터 유도된다. 디아민 및 테트라카르본산 화합물의 구체예는, 상술한 바와 같다.The polyimide-based polymer and the polyamide, which are polymers containing at least one repeating structural unit represented by the formula (10), the formula (11), the formula (12) or the formula (13), can be prepared by reacting a diamine with a tetracarboxylic acid compound (E.g., a tetracarboxylic acid compound such as an acid chloride compound or a tetracarboxylic acid dianhydride), a tricarboxylic acid compound (an acid chloride compound, a tricarboxylic acid compound such as a tricarboxylic acid anhydride), and a dicarboxylic acid compound And at least one kind of compound contained in the group consisting of dicarboxylic acid-based compounds (such as dicarboxylic acid-based compounds). As the starting material, there may be used a dicarboxylic acid compound (including a derivative such as an acid chloride compound) in addition to these. The repeating structural unit represented by the formula (11) is usually derived from a diamine and a tetracarboxylic acid compound. The repeating structural unit represented by the formula (12) is usually derived from a diamine and a tricarboxylic acid compound. The repeating structural unit represented by the formula (13) is usually derived from a diamine and a dicarboxylic acid compound. Specific examples of the diamine and tetracarboxylic acid compound are as described above.

본 발명의 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드의 표준 폴리스티렌 환산의 중량평균 분자량은, 바람직하게는 10,000∼500,000, 보다 바람직하게는 50,000∼500,000, 더 바람직하게는 100,000∼450,000, 특히 바람직하게는 100,000∼400,000이다. 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드의 중량평균 분자량이 클수록 필름화하였을 때에 높은 내굴곡성을 발현하기 쉬운 경향이 있지만, 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드의 중량평균 분자량이 너무 크면, 수지 바니시의 점도가 높아지고, 가공성이 저하되는 경향이 있다. 폴리이미드계 고분자는 2종류 이상을 혼합하여 이용해도 된다.The weight average molecular weight of the polyimide-based polymer and polyamide of the present invention in terms of standard polystyrene is preferably 10,000 to 500,000, more preferably 50,000 to 500,000, more preferably 100,000 to 450,000, and particularly preferably 100,000 to 400,000 to be. The larger the weight average molecular weight of the polyimide-based polymer and the polyamide tends to exhibit the higher flex resistance when formed into a film, but if the weight average molecular weight of the polyimide-based polymer and the polyamide is too large, the viscosity of the resin varnish increases, The workability tends to be lowered. The polyimide-based polymer may be used by mixing two or more kinds thereof.

폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드는, 함불소 치환기를 포함함으로써, 필름화하였을 때의 탄성률이 향상함과 함께, YI 값이 저감되는 경향이 있다. 필름의 탄성률이 높으면, 흠집 및 주름 등의 발생이 억제되는 경향이 있다. 필름의 투명성의 관점에서, 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드는, 함불소 치환기를 갖는 것이 바람직하다. 함불소 치환기의 구체예로서는, 플루오로기 및 트리플루오로메틸기를 들 수 있다.When the polyimide-based polymer and the polyamide contain a fluorine-substituted group, the modulus of elasticity of the film is improved and the YI value tends to be reduced. If the elastic modulus of the film is high, the occurrence of scratches and wrinkles tends to be suppressed. From the viewpoint of transparency of the film, the polyimide-based polymer and the polyamide preferably have a fluorinated substituent. Specific examples of fluorine-substituted groups include a fluoro group and a trifluoromethyl group.

폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드에 있어서의 불소 원자의 함유량은, 폴리이미드계 고분자 또는 폴리아미드의 질량에 대하여, 바람직하게는 1 질량% 이상 40 질량% 이하, 보다 바람직하게는 5 질량% 이상 40 질량% 이하이다.The content of the fluorine atom in the polyimide-based polymer and the polyamide is preferably 1% by mass or more and 40% by mass or less, more preferably 5% by mass or more and 40% by mass or less based on the mass of the polyimide-based polymer or polyamide % Or less.

수지 바니시에는, 상기의 폴리이미드계 고분자 및/또는 폴리아미드에 추가하여, 무기 입자 등의 무기 재료를 추가로 함유하고 있어도 된다.The resin varnish may further contain an inorganic material such as inorganic particles in addition to the above-mentioned polyimide-based polymer and / or polyamide.

무기 재료로서 바람직하게는, 실리카 입자, 오르토 규산 테트라에틸 등의 4급 알콕시실란 등의 규소 화합물을 들 수 있고, 바니시 안정성의 관점에서, 바람직하게는 실리카 입자를 들 수 있다.As the inorganic material, silicon compounds such as silica particles and quaternary alkoxysilanes such as tetraethyl orthosilicate are preferable, and from the viewpoint of the varnish stability, silica particles are preferably used.

실리카 입자의 평균 일차 입자경은, 바람직하게는 10∼100 ㎚, 더 바람직하게는 20∼80 ㎚이다. 실리카 입자의 평균 일차 입자경이 상기의 범위에 있으면 투명성이 향상하는 경향이 있고, 또한, 실리카 입자의 응집력이 약해지기 때문에 취급하기 쉬워지는 경향이 있다.The average primary particle size of the silica particles is preferably 10 to 100 nm, more preferably 20 to 80 nm. When the average primary particle size of the silica particles is in the above range, the transparency tends to be improved, and the cohesive force of the silica particles tends to be weak, so that it tends to be easy to handle.

본 발명에 있어서의 실리카 입자는, 유기 용제 등에 실리카 입자를 분산시킨 실리카 졸이어도 되고, 기상법으로 제조한 실리카 입자 분말이어도 되지만, 핸들링이 용이하기 때문에 바람직하게는 실리카 졸이다.The silica particles in the present invention may be silica sol in which silica particles are dispersed in an organic solvent or the like and may be silica powder particles prepared by a vapor phase method, but silica sol is preferable because handling is easy.

얻어진 수지 필름 중의 실리카 입자의 평균 일차 입자경은, 투과형 전자현미경(TEM)에 의한 관찰에 의해 구할 수 있다. 투명한 수지 필름을 형성하기 전의 실리카 입자의 입도 분포는, 시판의 레이저 회절식 입도 분포계에 의해 구할 수 있다.The average primary particle size of the silica particles in the obtained resin film can be obtained by observation with a transmission electron microscope (TEM). The particle size distribution of the silica particles before forming the transparent resin film can be obtained by a commercially available laser diffraction particle size distribution meter.

본 발명의 수지 필름에 있어서, 무기 재료의 함유량은, 수지 필름의 질량에 대하여, 바람직하게는 0 질량% 이상 90 질량% 이하, 보다 바람직하게는 10 질량% 이상 60 질량% 이하, 더 바람직하게는 20 질량% 이상 50 질량% 이하이다. 폴리이미드계 고분자 및 폴리아미드와 무기 재료와의 배합비가 상기의 범위 내이면, 수지 필름의 투명성 및 기계적 강도를 양립시키기 쉬운 경향이 있다.In the resin film of the present invention, the content of the inorganic material is preferably 0% by mass or more and 90% by mass or less, more preferably 10% by mass or more and 60% by mass or less relative to the mass of the resin film, 20 mass% or more and 50 mass% or less. When the compounding ratio of the polyimide-based polymer and the polyamide to the inorganic material is within the above range, the transparency and the mechanical strength of the resin film tends to be compatible with each other.

수지 필름은, 이상으로 설명한 성분에 추가하여, 기타 성분을 추가로 함유하고 있어도 된다. 기타 성분으로서는, 예를 들면, 산화방지제, 이형제, 안정제, 블루잉제, 난연제, 윤활제 및 레벨링제를 들 수 있다.The resin film may further contain other components in addition to the components described above. Examples of the other components include an antioxidant, a release agent, a stabilizer, a bluing agent, a flame retardant, a lubricant, and a leveling agent.

수지 성분 및 무기 재료 이외의 성분의 함유량은, 수지 필름의 질량에 대하여, 바람직하게는 0 질량% 초과 20 질량% 이하, 보다 바람직하게는 0 질량% 초과 10 질량% 이하이다.The content of the components other than the resin component and the inorganic material is preferably from more than 0 mass% to 20 mass% or less, more preferably from 0 mass% or more to 10 mass% or less with respect to the mass of the resin film.

본 발명에서 이용하는 수지 바니시는, 예를 들면, 상기 테트라카르본산 화합물, 상기 디아민 및 상기의 기타의 원료로부터 선택하여 반응시켜 얻어지는, 폴리이미드계 고분자 및/또는 폴리아미드의 반응액, 용매, 및 필요에 따라서 이용되는 상기의 기타의 성분을 혼합, 교반함으로써 조제할 수 있다. 폴리이미드계 고분자 등의 반응액 대신에, 구입한 폴리이미드계 고분자 등의 용액이나, 구입한 고체의 폴리이미드계 고분자 등의 용액을 이용해도 된다.The resin varnish used in the present invention can be obtained, for example, by reacting a reaction solution, a solvent, and a polyimide-based polymer and / or a polyamide obtained by reacting the tetracarboxylic acid compound, the diamine and the above- The above-mentioned other components to be used in accordance with the present invention may be mixed and stirred. Instead of the reaction liquid such as the polyimide-based polymer, a solution of the purchased polyimide-based polymer or the like or a solution of the purchased solid polyimide-based polymer may be used.

수지 바니시에 이용되는 용매는, 수지 성분을 용해 또는 분산시키는 것이면 되고, 예를 들면, N,N-디메틸포름아미드, N,N-디메틸아세트아미드 등의 아미드계 용매, γ-부티로락톤, γ-발레로락톤 등의 락톤계 용매, 디메틸술폰, 디메틸술폭시드, 술포란 등의 함유황계 용제, 에틸렌카보네이트, 프로필렌카보네이트 등의 카보네이트계 용매 등을 들 수 있다. 용매의 양은, 수지 바니시의 취급이 가능한 점도가 되도록 선택되므로, 특별히 제한은 없지만, 예를 들면, 수지 바니시 전체에 대하여, 통상 70∼95 질량%, 바람직하게는 80∼90 질량%이다.The solvent used in the resin varnish is not particularly limited as long as it dissolves or disperses the resin component. Examples thereof include amide solvents such as N, N-dimethylformamide and N, N-dimethylacetamide, gamma -butyrolactone, - lactone type solvents such as valerolactone, sulfur-containing solvents including dimethyl sulfone, dimethyl sulfoxide and sulfolane, carbonate solvents such as ethylene carbonate and propylene carbonate, and the like. The amount of the solvent is not particularly limited so long as it is selected so as to be a viscosity capable of handling the resin varnish. For example, it is usually 70 to 95 mass%, preferably 80 to 90 mass%, based on the whole resin varnish.

수지 바니시의 형성은, 상기 수지 필름의 성분을 용매로 혼합함으로써 제조된다. 혼합은 통상의 혼합 장치를 이용하여 행해진다.The formation of the resin varnish is produced by mixing the components of the resin film with a solvent. Mixing is carried out using a conventional mixing apparatus.

무기 재료를 함유하는 수지 필름을 제조하는 경우, 무기 재료를 첨가하고, 교반 및 혼합하여, 무기 재료가 균일하게 분산된 수지 바니시(분산액)를 조제한다.In the case of producing a resin film containing an inorganic material, an inorganic material is added and stirred and mixed to prepare a resin varnish (dispersion) in which the inorganic material is uniformly dispersed.

수지 바니시를 형성한 후, 도 1에 나타낸 바와 같이, 프리 제막 공정으로 이동한다. 프리 제막 공정에서는, 수지 바니시를 도장 장치에 의해 지지체 상에 도포하여, 간단히 건조하여 지지체 상에 수지 필름의 층을 형성한다. 지지체는, 예를 들면, 수지 필름 기재(基材), 스틸 기재(예를 들면, SUS 벨트)여도 된다. 수지 필름 기재로서는, 예를 들면, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름을 들 수 있다. 지지체가 수지 필름 기재인 경우, 그 두께는 특별히 제한되지 않지만, 바람직하게는 50∼250 ㎛, 보다 바람직하게는 100∼200 ㎛이다. 얇은 쪽이 비용이 억제되는 경향이 있고, 두꺼운 쪽이 용매의 일부를 제거하는 공정에서 생기는 경우가 있는 컬을 억제할 수 있는 경향이 있다.After the resin varnish is formed, as shown in Fig. 1, the process moves to the pre-film forming step. In the pre-film forming step, the resin varnish is coated on a support by a coating apparatus, and is simply dried to form a resin film layer on the support. The support may be, for example, a resin film base material or a steel base material (for example, SUS belt). As the resin film base, for example, a polyethylene terephthalate (PET) film can be cited. When the support is a resin film base, its thickness is not particularly limited, but is preferably 50 to 250 占 퐉, more preferably 100 to 200 占 퐉. There is a tendency that the thinner the cost is suppressed and the thicker the tendency to suppress the curl which may occur in the process of removing a part of the solvent.

상술한 바와 같이, 프리 제막 공정에서는, 지지체 상에 수지 필름의 층이 형성되지만, 통상 수지 필름 상에 추가로 보호 필름이 형성된다. 보호 필름은, 수지 필름을 보호하기 위한 필름으로서, 폴리에틸렌이나 폴리프로필렌 등의 폴리올레핀계 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 폴리에스테르계 필름 등의 필름이 이용된다. 따라서, 프리 제막 공정에서는, 지지체 상에 수지 필름의 층이 형성되고, 추가로 수지 필름의 층의 위에 보호 필름이 형성된 적층 필름이 형성된다.As described above, in the pre-film forming step, a layer of a resin film is formed on a support, but usually a protective film is further formed on the resin film. The protective film is a film for protecting the resin film, such as a polyolefin film such as polyethylene or polypropylene, or a polyester film such as polyethylene terephthalate. Thus, in the pre-film forming step, a laminated film is formed on which a resin film layer is formed on a support and a protective film is further formed on the resin film layer.

도 1의 프리 제막 공정의 다음의 공정은, 지지체 박리 공정이다. 지지체 박리 공정은, 다음의 건조 공정을 거치기 전에, 수지 필름층으로부터 지지체를 박리흔이 없도록 지지체를 박리하는 공정이다. 이 시점의 수지 필름은 아직 건조 공정을 거치고 있지 않은 것으로, 용매분이 많이 잔존하는 것이고, 건조 공정을 거치기 전에, 지지체를 주의 깊게 박리할 필요가 있어, 이 지지체 박리 공정을 마련하고 있다. 여기서 얻어진 수지 필름은, 보호 필름과 수지 필름의 2층으로 이루어지고, 통상은 롤 형상으로 권취(卷取)되어 있다. 롤은, 예를 들면, 외경 50∼200 ㎜의 권취관(플라스틱 코어, 금속 롤 등)의 둘레에 적층체를 권취하여, 적층체를 롤 할 수 있다. 권취관으로서는, 시판의 3인치, 6인치 직경의 플라스틱 코어 등을 이용해도 된다. 이 롤은, 도 2의 건조 공정에서도, 적층 필름을 권취하는 롤에 사용할 수 있다.The next step of the pre-film forming step of Fig. 1 is a support peeling step. The support peeling step is a step of peeling the support from the resin film layer so that the support is not peeled off before the next drying step. The resin film at this point has not yet been subjected to a drying process, and a large amount of solvent is remained, and it is necessary to carefully peel off the support before the drying step, so that the support peeling step is provided. The resin film thus obtained is composed of two layers of a protective film and a resin film, and is usually wound in a roll form. The roll can be rolled around a winding tube (plastic core, metal roll or the like) having an outer diameter of 50 to 200 mm, for example, to roll the laminate. As the winding tube, commercially available plastic cores having a diameter of 3 inches or 6 inches may be used. This roll can also be used in a roll for winding a laminated film in the drying process of Fig.

건조 공정은, 구체적으로 도 2에 모식적으로 나타나 있다. 이전의 프리 제막 공정에서 얻어진 수지 필름과 보호 필름의 2층의 적층 필름은, 롤(1)의 형태로 도 2에 표시되어 있다. 롤(1)로부터 송출된 적층 필름은, 보호 필름을 보호 필름 권취 롤(2)에 권취하고, 수지 필름(3)만으로 하여 건조로(爐)(4) 내의 복수의 가이드 롤(5) 상을 주행한다. 가이드 롤을 주행 중에 건조로(4) 내에서 충분히 건조한 후, 가이드 롤(9)을 통과하게 하여, 제 2 롤(6)에 권취한다. 이 제 2 롤(6)에 권취할 때에도, 통상, 보호 필름을 보호 필름 롤(7)로부터 송출하고, 보호 필름에 의해 피복한다. 도 2 중, 8로 나타내어지는 화살표는, 수지 필름의 흐름 방향(세로 방향)을 나타낸다.The drying process is schematically shown in Fig. 2 in detail. A two-layer laminated film of the resin film and the protective film obtained in the previous pre-film forming step is shown in Fig. 2 in the form of a roll (1). The laminated film sent out from the roll 1 is obtained by winding a protective film on the protective film winding roll 2 and winding the protective films on the plurality of guide rolls 5 in the drying furnace 4 by using only the resin film 3 Drive. The guide roll is sufficiently dried in the drying furnace 4 during traveling and then passes through the guide roll 9 and wound around the second roll 6. The protective film is usually fed from the protective film roll 7 and covered with a protective film. In Fig. 2, an arrow 8 indicates the flow direction (longitudinal direction) of the resin film.

본 발명에서는, 상기의 건조 공정에 있어서, 수지 필름(3)이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤에 접촉시키는 것을 특징으로 한다. 도 2에서는, 수지 필름(3)이, 건조로(4) 내에서 가이드 롤(5) 및 건조 후에 가이드 롤(9)에 접해 있지만, 접해 있는 면은 보호 필름을 벗긴 측이므로, 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면을 가이드 롤(5 및 9)에 접촉시키고 있게 된다.According to the present invention, in the above drying step, the side of the ring support surface, which is not in contact with the support surface, is brought into contact with the guide roll before the resin film (3) is peeled from the support. 2, the resin film 3 is in contact with the guide roll 5 and the guide roll 9 after drying in the drying furnace 4, but the abutting side is on the side where the protective film is peeled off, The contact surface of the ring which is not in contact with the guide rolls 5 and 9 is brought into contact.

본 발명에서는, 상기 건조로(4)에서 건조될 때에, 가이드 롤(5 및 9)에 접촉시키면, 미소 흠집이 생기는 것을 확인하였지만, 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접촉되어 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤(5 및 9)에 접촉시키면 미소 흠집이 감소한다. 본 발명에서는, 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접촉되어 있지 않던 반지지체면은, 이전의 공정에서의 건조에 의해 용매가 휘산(揮散)되어 있으므로, 그 반지지체면을 가이드 롤(5 및 9)에 접촉시킴으로써, 미소 흠집을 형성하지 않거나 또는 형성하더라도 크게 감소시킨다.In the present invention, it was confirmed that fine scratches were formed when the film was dried in the drying furnace (4) and brought into contact with the guide rolls (5 and 9). However, in the case where the resin film was not in contact with the support surface When the supporting surface side is brought into contact with the guide rolls 5 and 9, the minute scratches are reduced. In the present invention, since the solvent is volatilized by drying in the previous step, the ring support surface, which was not in contact with the support surface before the resin film was peeled from the support, And 9), micro-scratches are not formed or are greatly reduced even if they are formed.

지지체를 박리한 후의 수지 필름에 있어서, 지지체면과 반지지체면에서는 반지지체면 쪽이 경도가 높다. 용제가 많이 잔존해 있으면, 용제가 가소제로서 작용하여, 경도가 저감된다. 프리 제막 공정에서의 건조에서는, 반지지체면측으로부터 용제가 휘발되기 때문에, 지지체면측 쪽이 용매가 많이 잔존할 가능성이 있다. 이 때문에, 가이드 롤에 접촉하는 면을 반지지체면측으로 하는 것이 바람직하다.In the resin film after peeling the support, the hardness of the ring support surface is higher on the support surface and the ring support surface. If a large amount of the solvent remains, the solvent acts as a plasticizer and the hardness is reduced. In the drying in the pre-film forming step, since the solvent is volatilized from the ring retention surface side, there is a possibility that a large amount of solvent remains on the side of the support surface. For this reason, it is preferable that the surface that comes into contact with the guide roll is the side of the ring support surface.

건조로(4)에서의 건조는, 도막으로부터 용매를 제거하는 건조를 위하여, 도막을 필요에 따라서 가열해도 된다. 예를 들면, 가열 온도를 40∼240℃의 범위, 가열 시간을 10∼180분, 바람직하게는 10∼120분의 범위에서 조정할 수 있다. 열풍에 의한 건조(용매의 제거)의 경우, 열풍의 풍속을 0∼15 m/초의 범위에서 조정할 수 있다. 용매의 제거시, 불활성 분위기나 감압의 조건 하에서 도막을 가열해도 된다. 건조로(4) 내의 가이드 롤의 직경은, 바람직하게는 10∼300 ㎜, 보다 바람직하게는 30∼250 ㎜, 더 바람직하게는 50∼200 ㎜이다. 또, JIS B0601에 준거하여 측정한 가이드 롤의 표면 거칠기(Rmax)는, 바람직하게는 0.01 이상 1.0 이하, 보다 바람직하게는 0.03 이상 0.9 이하, 더 바람직하게는 0.05 이상 0.7 이하이다. 가이드 롤의 표면 거칠기(Rmax)가 0.01보다 크면 수지 필름과 접촉하였을 때의 저항이 작아지고, 1.0보다 작으면, 가이드 롤 표면의 형상이 수지 필름으로 전사되기 어렵다. 또한, JIS Z2244에 준거하여 측정한 가이드 롤의 바람직한 비커스 경도는, 바람직하게는 500 이상 2,000 이하, 보다 바람직하게는 520 이상 1,500 이하, 더 바람직하게는 550 이상 1,300 이하이다. 금속 롤의 표면 처리 방법으로서는 니켈 도금, 무전해 니켈 도금, 니켈-붕소 도금, 경질 크롬 도금, 파커 도금 등을 들 수 있고, 바람직하게는 경질 크롬 도금을 들 수 있다.In the drying in the drying furnace 4, the coating film may be heated as needed for drying in order to remove the solvent from the coating film. For example, the heating temperature can be adjusted in the range of 40 to 240 占 폚 and the heating time in the range of 10 to 180 minutes, preferably 10 to 120 minutes. In the case of drying by hot air (removal of solvent), the wind speed of the hot air can be adjusted in the range of 0 to 15 m / sec. When the solvent is removed, the coating film may be heated under an inert atmosphere or reduced pressure. The diameter of the guide roll in the drying furnace 4 is preferably 10 to 300 mm, more preferably 30 to 250 mm, and still more preferably 50 to 200 mm. The surface roughness (Rmax) of the guide roll measured in accordance with JIS B0601 is preferably 0.01 or more and 1.0 or less, more preferably 0.03 or more and 0.9 or less, and still more preferably 0.05 or more and 0.7 or less. If the surface roughness (Rmax) of the guide roll is larger than 0.01, the resistance at the time of contact with the resin film becomes small. If the surface roughness Rmax is smaller than 1.0, the shape of the surface of the guide roll is hardly transferred to the resin film. The Vickers hardness of the guide roll measured in accordance with JIS Z2244 is preferably 500 to 2,000, more preferably 520 to 1,500, and still more preferably 550 to 1,300. Examples of the surface treatment method of the metal roll include nickel plating, electroless nickel plating, nickel-boron plating, hard chrome plating and Parker plating, and hard chromium plating is preferable.

얻어지는 수지 필름의 두께는, 수지 필름이 적용되는 각종 디바이스에 따라서 적당히 조정되지만, 바람직하게는 10∼500 ㎛, 보다 바람직하게는 15∼200 ㎛, 더 바람직하게는 20∼100 ㎛이다. 이와 같은 구성의 수지 필름은, 특히 우수한 굴곡성을 가질 수 있다.The thickness of the obtained resin film is appropriately adjusted according to various devices to which the resin film is applied, but is preferably 10 to 500 占 퐉, more preferably 15 to 200 占 퐉, and still more preferably 20 to 100 占 퐉. The resin film having such a constitution can have particularly excellent flexibility.

또한, 본 명세서에 있어서 「미소 흠집」이란, 3,000 루멘 이상, 예를 들면 3,400 루멘의 조도의 광을 필름의 흐름 방향(즉, 세로 방향)으로부터 조사하여, 육안으로 인식할 수 있는 점 형상의 결함이고, 크기는 40∼400 ㎛의 크기의 것을 말한다. 수지 필름의 표면의 미소 흠집의 사진을 도 3에 나타낸다.In the present specification, the term " micro-scratch " means that light having an illuminance of 3,000 lumens or more, for example, 3,400 lumens is irradiated from the film flow direction (that is, the longitudinal direction) And has a size of 40 to 400 mu m. Fig. 3 shows photographs of fine scratches on the surface of the resin film.

미소 흠집의 발생은, 수지 필름의 제막 이후의 공정에서, 수지 필름 중의 잔존 용매량과 관계가 있다. 수지 필름 중의 잔존 용매의 양이 많으면, 필름 표면이 부드러워져 미소 흠집이 생기기 쉬워진다. 상기 프리 제막 후의 수지 필름 중의 잔존 용매는 수지 필름의 질량에 대하여, 통상 5∼30 질량%, 바람직하게는 5∼20 질량% 정도이고, 건조 공정을 거치면 잔존 용매의 양은, 수지 필름의 질량에 대하여, 통상 0∼10 질량%, 바람직하게는 0∼5 질량%가 된다. 건조 공정 후의 잔존 용매량이 상기의 범위에 있으면, 수지 필름을 반송 중의 미소 흠집의 발생의 리스크는 매우 작아질 것으로 생각된다.The generation of minute scratches is related to the amount of residual solvent in the resin film in the process after the formation of the resin film. When the amount of the residual solvent in the resin film is large, the surface of the film is softened and small scratches are apt to occur. The residual solvent in the resin film after the pre-film formation is usually about 5 to 30 mass%, preferably about 5 to 20 mass%, based on the mass of the resin film. When the drying step is performed, , Usually 0 to 10 mass%, preferably 0 to 5 mass%. If the amount of the residual solvent after the drying step is in the above range, the risk of generation of minute scratches during transportation of the resin film is considered to be very small.

상기 수지 필름 중의 잔존 용매량의 측정은 「TG-DTA 측정」으로 행할 수 있다. TG-DTA의 측정 장치로서, 히타치하이테크사이언스사 제 「TG/DTA6300」을 이용할 수 있다. 측정 순서는 다음과 같다:The amount of the residual solvent in the resin film can be measured by " TG-DTA measurement ". As a measuring device of TG-DTA, "TG / DTA6300" manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd. can be used. The measurement sequence is as follows:

제작된 폴리이미드 필름으로부터 약 20 ㎎의 시료를 취득한다.A sample of about 20 mg is obtained from the fabricated polyimide film.

채취한 시료를 실온부터 120℃까지 10℃/분의 승온 속도로 승온하고, 120℃에서 5분간 보지(保持)한 후, 400℃까지 10℃/분의 승온 속도로 승온하는 조건으로 가열하면서, 시료의 질량 변화를 측정한다.The sample thus obtained was heated from room temperature to 120 ° C at a heating rate of 10 ° C / minute, held at 120 ° C for 5 minutes, heated to 400 ° C at a heating rate of 10 ° C / Measure the mass change of the sample.

TG-DTA 측정 결과로부터, 120℃부터 250℃에 걸쳐서의 질량 감소율 L(%)을 하기 식에 의해서 산출하여, 잔존 용매량으로 한다.From the results of the TG-DTA measurement, the mass reduction rate L (%) over a range from 120 ° C to 250 ° C is calculated by the following formula to be the residual solvent amount.

L(%) = 100-(W1/W0)×100L (%) = 100- (W 1 / W 0 ) × 100

(상기 식 중, W0은 120℃에서 5분간 보지한 후의 시료의 질량을 나타내고,(Where W 0 represents the mass of the sample after being held at 120 ° C for 5 minutes,

W1은 250℃에 있어서의 시료의 질량을 나타낸다.)W 1 represents the mass of the sample at 250 ° C.)

본 발명에서는, 또한, 폴리이미드, 폴리아미드 또는 폴리아미드이미드로 이루어지는 수지 필름이고,In the present invention, a resin film made of polyimide, polyamide or polyamideimide,

당해 수지 필름이, 크기 40∼400 ㎛의 사이즈의 미소 흠집이 100∼1,000개/㎠의 빈도로 존재하고 있는 발생 영역을 갖고,Wherein the resin film has a generation region in which a minute scratch of a size of 40 to 400 占 퐉 exists at a frequency of 100 to 1,000 / cm2,

상기 미소 흠집이, 3,000 루멘보다 높은 조도의 광을, 필름의 흐름 방향으로부터 조사시킴으로써 시인할 수 있는 결함이고, 또한The fine scratches are defects that can be visually recognized by irradiating light having an illuminance higher than 3,000 lumens from the flow direction of the film,

상기 미소 흠집의 발생 영역은, 필름 전체의 면적에 대하여 10% 이하인, 것을 특징으로 하는 수지 필름을 제공한다.And the area where the minute scratches are generated is 10% or less with respect to the entire area of the film.

본 발명의 수지 필름은, 구체적으로 폴리이미드, 폴리아미드 또는 폴리아미드이미드로 이루어지는 것이고, 또한 미소 흠집이 적은, 즉 미소 흠집이 100∼1,000개/㎠의 빈도로 존재하고 있는 발생 영역을 갖고 또한 미소 흠집의 발생 영역이 필름 전체의 면적에 대하여 10% 이하인 것이다. 미소 흠집의 발생 영역이 필름 전체의 면적에 대하여, 10%를 초과하면, 미소 흠집이 없는 영역이 적어지고, 예를 들면 수지 필름이 긴 형상인 경우에는, 이것으로부터 잘라내는 것이 가능한 매엽(每葉)의 수지 필름이 적어지는 등 하여, 바람직하지 않다.The resin film of the present invention is specifically made of polyimide, polyamide or polyamideimide and has a generation area having a small number of minute scratches, that is, a minute scratch is present at a frequency of 100 to 1,000 per cm & The occurrence area of the scratches is 10% or less with respect to the entire area of the film. If the area where the minute scratches are generated exceeds 10% of the total area of the film, the area without minute scratches is reduced. For example, in the case where the resin film has a long shape, ) Of the resin film becomes smaller.

본 발명의 폴리아미드계의 수지 필름에 있어서는, 미소 흠집을 거의 시인할 수 없어, 광학 용도로 사용할 수 있는 우수한 것이다.In the polyamide-based resin film of the present invention, fine scratches can hardly be visually recognized, which is excellent for use in optical applications.

또한, 폴리이미드계 수지 및 폴리아미드의 중량평균 분자량 측정은, 겔 침투 크로마토그래피(GPC) 측정에 의해 이하의 방법으로 행해진다.The weight average molecular weight of polyimide resin and polyamide is measured by gel permeation chromatography (GPC) in the following manner.

(1) 전처리 방법(1) Pretreatment method

시료를 γ-부티로락톤(GBL)에 용해시켜 20 질량% 용액으로 한 후, N,N-디메틸포름아미드(DMF) 용리액에 의해 100배로 희석하고, 0.45 ㎛ 멤브레인 필터로 여과된 것을 측정 용액으로 한다.The sample was dissolved in? -Butyrolactone (GBL) to prepare a 20 mass% solution. The sample was diluted 100 times with N, N-dimethylformamide (DMF) eluant and filtered through a 0.45 占 퐉 membrane filter. do.

(2) 측정 조건(2) Measurement conditions

장치: (주)시마즈제작소 제 LC-10AtvpApparatus: LC-10Atvp manufactured by Shimadzu Corporation

컬럼: TSKgel Super AWM-H×2+SuperAW2500×1(6.0 ㎜ I.D.×150 ㎜×3개)Column: TSKgel Super AWM-H x 2 + SuperAW 2500 x 1 (6.0 mm ID x 150 mm x 3)

용리액: DMF(10 mM의 브롬화리튬 첨가)Eluent: DMF (10 mM lithium bromide added)

유량: 0.6 mL/min.Flow rate: 0.6 mL / min.

검출기: RI 검출기Detector: RI detector

컬럼 온도: 40℃Column temperature: 40 ° C

주입량: 20 μLInjection volume: 20 μL

분자량 표준: 표준 폴리스티렌Molecular weight standard: Standard polystyrene

[실시예][Example]

이하에, 실시예를 들어 본 발명에 대하여 더 구체적으로 설명한다. 단, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail by way of examples. However, the present invention is not limited to these examples.

실시예 1Example 1

중량평균 분자량이 360,000인 폴리이미드(가와무라산업(주) 제 「KPI-MX300F」)를 준비하였다. 이 폴리이미드를 N,N-디메틸아세트아미드 및 γ-부티로락톤의 9:1의 혼합 용매에 용해하여, 수지 바니시(농도 20 질량%)를 조제하였다. 이 수지 바니시를, 두께 188 ㎛, 폭 900 ㎜인 긴 형상의 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름 기재 상에 캐스트법에 의해 폭 870 ㎜로 도포하여 제막하였다. 제막된 수지 바니시를, 온도를 단계적으로 70℃부터 120℃가 되도록 설정한 길이 12 m의 노(爐) 내를 선속(線速) 0.4 m/분으로 통과시킴으로써 수지 바니시로부터 용매를 제거하여, 수지 필름(두께 80 ㎛)을 형성시켰다. 그 후, 수지 필름에 보호 필름(도레이필름가공(주) 제 「7332」, 약(弱)점착력의 폴리올레핀 보호 필름)을 첩합(貼合)하여, 보호 필름과 수지 필름과 PET 필름으로 구성되는 필름 형상의 적층체를 롤 심(芯)에 권취하여 롤 형상(250 m)으로 하였다.(KPI-MX300F made by Kawamura Industrial Co., Ltd.) having a weight average molecular weight of 360,000 was prepared. This polyimide was dissolved in a 9: 1 mixed solvent of N, N-dimethylacetamide and? -Butyrolactone to prepare a resin varnish (concentration 20 mass%). The resin varnish was applied on a long polyethylene terephthalate (PET) film base material having a thickness of 188 mu m and a width of 900 mm by a casting method to a width of 870 mm. The resin varnish thus formed was passed through a furnace having a length of 12 m set at a temperature of 70 ° C to 120 ° C at a linear velocity of 0.4 m / min to remove the solvent from the resin varnish, To form a film (thickness 80 占 퐉). Thereafter, a protective film ("7332" made by TORAY FILM CO., LTD., A polyolefin protective film having weak adhesive strength) was stuck to the resin film to form a protective film, a film composed of a resin film and a PET film Shaped laminate was wound on a roll core to form a roll (250 m).

상기에서 롤 형상으로 권취된 적층체를 권출(卷出)하면서 PET 필름 기재를 박리하고, 수지 필름과 보호 필름으로 구성되는 적층체를 권취하였다.The PET film base material was peeled off while the laminated material rolled up in the above was wound, and a laminate composed of a resin film and a protective film was wound thereon.

상기에서 롤 형상으로 권취된 적층체를 30 N(33.3 N/m)의 장력으로 권출하면서, 보호 필름을 박리하면서, 수지 필름을 장력 80.5 N/m으로 건조로에 도입하여 추가로 건조시켰다. 건조로 내에서는, 보호 필름을 박리한 후의 수지 필름이 박리 전의 PET 필름 기재와 접촉하고 있던 면(지지체면)측과는 반대측의 면(반지지체면)측에서, 금속제의 직경 100 ㎜, 표면 거칠기(Rmax) 0.6 S, 비커스 경도 850의 경질 크롬 도금의 가이드 롤 10개와 접촉하도록 하여 반송하였다. 건조로의 온도는 200℃로 하고, 반송 속도는 0.4 m/분으로 하고, 건조 시간은 30분으로 하였다. 건조로에서 건조시킨 후의 수지 필름은, 양면에 보호 필름(도레이필름가공(주) 제 「7332」, 약점착력의 폴리올레핀 보호 필름)을 첩합하고, 롤 심에 권취하였다(200 m 취득).The resin film was introduced into the drying furnace at a tension of 80.5 N / m while the protective film was being peeled off while the laminated body rolled up in the above was unwound with a tensile force of 30 N (33.3 N / m) and further dried. In the drying furnace, the resin film after peeling the protective film had a diameter of 100 mm and a surface roughness (surface roughness) of 100 mm on the side opposite to the side (support surface) side of the PET film substrate before peeling (Rmax) of 0.6 S, Vickers hardness of 850 and 10 hardness chrome plated guide rolls. The temperature of the drying furnace was 200 캜, the conveying speed was 0.4 m / min, and the drying time was 30 min. The resin film after drying in the drying furnace was laminated on both sides with a protective film ("7332" made by Toray Film Processing Co., Ltd., a polyolefin protective film with weak adhesive force) and wound on a roll core (200 m acquisition).

실시예 1에서 얻어진 건조 후의 수지 필름에 대하여, 양면의 보호 필름을 박리하고, 200 m의 롤로부터 무작위로 1 m 잘라내어, 이하와 같이 미소 흠집을 평가하였다.The protective film on both sides of the resin film after drying obtained in Example 1 was peeled off, and the film was cut at a distance of 1 m randomly from a roll of 200 m, and the minute scratches were evaluated as follows.

미소 흠집의 평가Evaluation of smudges

폴라리온 라이트〔폴라리온사 제 「PS-X1」〕(3,400 루멘)를 지지체면측으로부터 흐름 방향(즉, 세로 방향)으로부터 조사하였다. 그 때, 필름면에 대하여 20∼70° 정도의 눕힌 각도로 조사하였다. 시인하는 방향은, 평가하는 수지 필름의 면의 대략 바로 위(수지 필름면으로부터 90°의 각도)부터이고, 사람의 눈으로 평가를 행하였다. 시인한 면적에 대해서는, 미소 흠집군의 전부를 포함하도록 사각을 그리고, 그 면적을 서로 합쳐, 발생 영역(「미소 흠집 면적」이라고 한다.)으로 하였다. 단, 그 사각이 이웃한 것과 0.5 ㎝ 이상 떨어져 있지 않은 경우에는, 동일 발생 영역으로 하였다.Polarion Light (PS-X1, manufactured by Polarion Co., Ltd.) (3,400 lumens) was irradiated from the support surface side in the flow direction (that is, the longitudinal direction). At that time, the film surface was irradiated at an angle of about 20 to 70 DEG. The direction of visibility was from almost right above the surface of the resin film to be evaluated (angle of 90 DEG from the resin film surface), and was evaluated by human eyes. As for the visible area, a square was formed so as to include the entirety of the minute scratches, and the areas were combined with each other to obtain a generation area (referred to as " minute scratch area "). However, when the angle was not more than 0.5 cm from the neighboring area, the same occurrence area was used.

미소 흠집의 평가는 이하와 같이 하였다.The evaluation of the minute scratches was made as follows.

○: 눈으로 본 미소 흠집의 발생 영역이 전체 면적의 5% 미만?: Less than 5% of the total area of the area where the micro-scratches seen by the eyes occurred

△: 눈으로 본 미소 흠집의 발생 영역이 전체 면적의 5% 이상 10% 이하?: 5% or more and 10% or less of the total area of the area where the fine scratches were observed

×: 눈으로 본 미소 흠집의 발생 영역이 전체 면적의 10% 초과X: The area of occurrence of the fine scratches seen by the eyes exceeds 10% of the total area

실시예 1에서 얻어진 수지 필름의 미소 흠집의 상기 측정에서의 평가는, ○였다. 실시예 1의 결과를 표 1에 기재한다. 표 1에는, 가이드 롤과의 접촉면, 미소 흠집 면적(㎠), 필름 전체에 있어서의 미소 흠집 비율(%)에 대해서도 기재하였다. 또한, 검사 필름 면적은 87×100=8,700 ㎠이며, 미소 흠집 면적(㎠)을 검사 필름 면적(8,700 ㎠)으로 나누어 100배 한 것이 필름 전체에 있어서의 미소 흠집 비율(%)이다.The evaluation of the fine scratches of the resin film obtained in Example 1 in the above measurement was?. The results of Example 1 are shown in Table 1. Table 1 also shows the contact surface with the guide roll, the minute scratch area (cm 2), and the minute scratch percentage (%) in the entire film. The inspection film area is 87 x 100 = 8,700 cm 2, and the fine scratch area (cm 2) divided by the inspection film area (8,700 cm 2) is 100 times the fine scratch percentage (%) of the whole film.

탄성률의 측정Measurement of elastic modulus

얻어진 수지 필름을 200℃에서 20분간 건조하고, 덤벨 커터를 이용하여 10 ㎜×100 ㎜의 세로가 긴 직사각형 형상(短冊狀)으로 잘라, 샘플을 얻었다. 이 샘플의 탄성률을 (주)시마즈제작소 제 오토그래프 AG-IS를 이용하여, 척(chuck) 간 거리 500 ㎜, 인장 속도 20 ㎜/분의 조건으로 S-S 곡선을 측정하고, 그 기울기로부터 광학 필름의 탄성률을 산출하였다. 결과를 표 1에 기재하였다.The obtained resin film was dried at 200 占 폚 for 20 minutes and cut into a rectangular shape with a length of 10 mm x 100 mm using a dumbbell cutter to obtain a sample. The SS curve was measured under the conditions of a chuck distance of 500 mm and a tensile speed of 20 mm / min using Autograph AG-IS manufactured by Shimadzu Seisakusho Co., And the elastic modulus was calculated. The results are shown in Table 1.

잔존 용매량의 측정Measurement of residual solvent amount

얻어진 수지 필름 중의 잔존 용매량의 측정은 「TG-DTA 측정」으로 행하였다. 측정 순서는 이하와 같았다:The amount of the residual solvent in the obtained resin film was measured by " TG-DTA measurement ". The order of measurement was as follows:

제작된 수지 필름으로부터 약 20 ㎎의 시료를 취득하였다.A sample of about 20 mg was obtained from the produced resin film.

채취한 시료를 실온부터 120℃까지 10℃/분의 승온 속도로 승온하고, 120℃에서 5분간 보지한 후, 400℃까지 10℃/분의 승온 속도로 승온하는 조건으로 가열하면서, 시료의 질량 변화를 TG-DTA의 측정 장치: 히타치하이테크사이언스사 제 「TG/DTA6300」으로 측정하였다.The sample was heated from room temperature to 120 ° C at a heating rate of 10 ° C / minute, held at 120 ° C for 5 minutes, heated to 400 ° C at a heating rate of 10 ° C / minute, The change was measured by a measuring device of TG-DTA: "TG / DTA6300" manufactured by Hitachi High-Tech Science Co., Ltd.

TG-DTA 측정 결과로부터, 120℃부터 250℃에 걸쳐서의 질량 감소율 L(%)을 하기 식:From the results of the TG-DTA measurement, the mass reduction ratio L (%) from 120 deg. C to 250 deg.

L(%)=100-(W1/W0)×100L (%) = 100- (W 1 / W 0 ) × 100

(상기 식 중, W0은 120℃에서 5분간 보지한 후의 시료의 질량을 나타내고,(Where W 0 represents the mass of the sample after being held at 120 ° C for 5 minutes,

W1은 250℃에 있어서의 시료의 질량을 나타낸다.)W 1 represents the mass of the sample at 250 ° C.)

으로부터 계산하여, 잔존 용매량으로 하였다. 건조 전의 수지 필름과 건조 후의 수지 필름에 대하여, 각각 잔존 용매량을 측정하여, 결과를 표 1에 기재하였다.To calculate the amount of residual solvent. The residual solvent amounts of the resin film before drying and the resin film after drying were measured, respectively, and the results are shown in Table 1.

비교예 1Comparative Example 1

건조로에 있어서, PET 필름 기재가 적층되어 있던 측이 가이드 롤과 접촉하도록 반송한 것 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 조작하여 수지 필름을 얻었다. 실시예 1과 마찬가지로 수지 필름의 미소 흠집의 평가를 행하고, 그 결과를 표 1에 기재하였다. 표 1에는, 실시예 1과 마찬가지로, 가이드 롤과의 접촉면, 미소 흠집 면적(㎠), 필름 전체에 있어서의 미소 흠집 비율(%), 잔존 용매량(건조 전) 및 잔존 용매량(건조 후)도 기재하였다. 또한, 검사 필름 면적은 실시예 1과 동일하게 8,700 ㎠이다.A resin film was obtained in the same manner as in Example 1 except that the side where the PET film base was laminated was brought into contact with the guide roll in the drying furnace. Minute scratches of the resin film were evaluated in the same manner as in Example 1. The results are shown in Table 1. Table 1 shows the contact surface with the guide roll, the minute scratch area (cm 2), the minute scratch percentage (%) in the whole film, the amount of residual solvent (before drying) and the amount of solvent after drying (after drying) Lt; / RTI > The inspection film area was 8,700 cm 2 in the same manner as in Example 1.

Figure pat00004
Figure pat00004

상기 표 1로부터 명백한 바와 같이, 건조 공정에 있어서 가이드 롤과의 접촉면을 반지지체면측으로 하면, 미소 흠집의 평가가 좋아지고, 반대로 가이드 롤과의 접촉면을 지지체면측으로 하면, 미소 흠집의 평가가 나빠진다는 것이 밝혀졌다. 또, 도 3에 나타내는 흰 점들 부분이 미소 흠집이다.As is clear from Table 1, when the contact surface with the guide roll is set to the side of the ring retention surface in the drying process, evaluation of fine scratches is improved. Conversely, when the contact surface with the guide roll is made to the support surface side, evaluation of fine scratches is poor . The white dots shown in Fig. 3 are small scratches.

본 발명의 수지 필름의 제조 방법은, 투명한 수지 필름을 제조할 때의 건조시에, 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤에 접촉시킴으로써, 작은 흠집(특히, 미소 흠집)을 방지할 수 있는 것이고, 투명성이 요구되는 필름의 제조에 널리 응용할 수 있다.The method of producing a resin film of the present invention is a method of manufacturing a transparent resin film by contacting a ring support surface side of the resin film, which was not in contact with the support surface before peeling off from the support, , Minute scratches) can be prevented, and the film can be widely applied to the production of films requiring transparency.

1 … 롤
2 … 보호 필름 권취 롤
3 … 수지 필름
4 … 건조로
5 … 가이드 롤
6 … 제 2 롤
7 … 보호 필름 롤
8 … 흐름 방향(세로 방향)
9 … 가이드 롤
One … role
2 … Protective film winding roll
3 ... Resin film
4 … Drying furnace
5 ... Guide roll
6 ... The second roll
7 ... Protective film roll
8 … Flow direction (vertical direction)
9 ... Guide roll

Claims (3)

지지체 상에 수지 바니시를 도포함으로써 얻어진 수지 필름을 지지체로부터 박리한 후에 건조시키는 공정에 있어서, 상기 수지 필름이 지지체로부터 박리되기 전에 지지체면에 접해 있지 않던 반지지체면측을 가이드 롤에 접촉시키는, 수지 필름의 제조 방법.In the step of peeling off the resin film obtained by applying the resin varnish on the support and then drying the resin film, the side of the ring support surface, which is not in contact with the support surface before the resin film is peeled from the support, ≪ / RTI > 제 1 항에 있어서,
상기 수지 바니시가, 폴리이미드, 폴리아미드이미드 및 폴리아미드로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1종의 고분자를 함유하는, 수지 필름의 제조 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the resin varnish contains at least one polymer selected from the group consisting of polyimide, polyamideimide and polyamide.
폴리이미드, 폴리아미드 또는 폴리아미드이미드로 이루어지는 수지 필름이고,
당해 수지 필름이, 크기 40∼400 ㎛의 사이즈의 미소 흠집이 100∼1,000개/㎠의 빈도로 존재하고 있는 발생 영역을 갖고,
상기 미소 흠집이, 3,000 루멘보다 높은 조도의 광을, 필름의 흐름 방향으로부터 조사시킴으로써 시인할 수 있는 결함이고, 또한
상기 미소 흠집의 발생 영역은, 필름 전체의 면적에 대하여 10% 이하인, 것을 특징으로 하는 수지 필름.
A resin film made of polyimide, polyamide or polyamideimide,
Wherein the resin film has a generation region in which a minute scratch of a size of 40 to 400 占 퐉 exists at a frequency of 100 to 1,000 / cm2,
The fine scratches are defects that can be visually recognized by irradiating light having an illuminance higher than 3,000 lumens from the flow direction of the film,
Wherein the area of occurrence of the minute scratches is 10% or less with respect to the total area of the film.
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