KR102025421B1 - 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치에 관한 것으로, 하부 지지유닛의 발광모듈로부터 플렉시블 회로기판(연성 회로기판)을 통과한 빛의 조도를 측정하여 오버랩 여부를 확인함으로써, 작업자를 통해 진행하는 육안 검사 대비 복수의 플렉시블 회로기판(연성 회로기판)을 동시에 신속하고 정확한 검사를 진행할 수 있고, 작업자 투입수의 감소로 생산성을 증대시킬 수 있다.
Description
본 발명은 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치에 관한 것으로써, 더욱 상세하게는 플렉시블 회로기판(Flexible Printed Circuit Board) 조립 공정 중 하나로 트레이 상에 플렉시블 회로기판을 적재하는 공정 이후 적재된 플렉시블 회로기판의 미적재 또는 과적재(2개 이상 이중겹침) 여부를 검사하여 SMT 공정상 적재 관련 불량 이슈 발생을 방지하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치에 관한 것이다.
플렉시블 회로기판(연성 회로기판)은 플라스틱 등의 절연 소재로 제조된 필름 형태의 기자재의 단면 또는 양면 상에 구리 등의 소재로 회로를 인쇄한 것으로서, 연성(Flexibility)을 가지며, 내열성(Heat-resistance) 및 내굴곡성(Flexibility Resistance)이 뛰어나고, 기판상에 전자부품 실장 및 응용도가 높기 때문에 스마트폰, 태블릿 PC, 위성장비, 군사장비, 의료장비, 전장품 등의 전기, 전자 장비에 사용되는 등 활용도가 다양하다.
이러한 플렉시블 회로기판 조립 공정 중 검사 단계는 일반적으로 4가지 검사로 구성되어 있는데, SPI(Solder Paste Inspection) 검사, AOI(Auto Optical Inspection) 검사, FCT(Function Test) 검사, 그리고 육안 검사가 있다.
SPI 검사는 기판상에 도포된 납의 상태를 검사하여 도포 불량 여부를 검출해내는 검사이며, AOI 검사는 기판상의 회로나 핀 홀, 그리고 이물질 여부 등을 검사하여 표면상의 불량을 검출해 내는 검사이고, FCT 검사는 부품 실장 단계가 완료된 이후 진행되는 기능 검사로, 실장된 부품의 기능이 정상적으로 작동하는지 여부를 판단하는 검사이다.
마지막으로 육안 검사는 SMT 공정 전후에 진행하는 검사로, 별도 진행하는 경우가 많으며, 수량 검사와 같은 난이도가 비교적 낮은 검사를 진행하는 것이 일반적이다.
이때, 플렉시블 회로기판을 트레이 상에 적재하는 공정은 작업자의 인력에 의해 이루어지거나 일부 SMT 공정 장비를 활용하여 공정을 수행할 수 있다.
그러나, 플렉시블 회로기판은 경성(Solidity)을 가지는 일반 인쇄회로기판(Printed Circuit Board)과 달리 그 두께가 매우 얇고 연성(Flexibility)을 가지는 필름 형태의 기판이기 때문에 취급 시 작업자의 높은 집중력을 요구하고 있다.
또한, 일부 SMT 공정 장비를 활용하여 본 공정을 진행하는 경우, 작업자에 의한 공정 수행보다 비교적 공정 수행 시간과 비용이 감소할 수 있으나, 적재 관련 불량 이슈는 인력에 의한 공정 수행뿐만 아니라 장비를 활용하여 수행하는 경우에도 발생할 수 있어, 적재 이후의 공정에도 큰 영향을 미칠 수 있다.
즉, 공정 수행 도중에 불량을 발견하거나, 공정 수행 완료 이후 불량을 발견하는 경우, 추가 비용과 시간이 낭비되며 품질 저하 등 생산 효율성이 낮아지는 문제점이 발생 된다.
이에 본 발명은 전술한 배경에서 안출된 것으로, 하부 지지유닛의 발광모듈로부터 플렉시블 회로기판(연성 회로기판)을 통과한 빛의 조도를 측정하여 오버랩 여부를 확인함으로써, 작업자를 통해 진행하는 육안 검사 대비 복수의 플렉시블 회로기판(연성 회로기판)을 동시에 신속하고 정확한 검사를 진행할 수 있고, 작업자 투입수의 감소로 생산성을 증대시킬 수 있는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
또한, 적재 공정에서 발생할 수 있는 불량 이슈를 디스플레이부 또는 알림부를 통해 바로 확인함으로써, 이후 공정에서의 불량 이슈를 사전에 차단하여 품질 향상 등 생산 효율성을 높일 수 있는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일실시예는 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이를 지지하며, 상기 플렉시블 회로기판에 빛이 투과되도록 상기 플렉시블 회로기판에 빛을 조사하는 하부 지지유닛; 및 상기 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도 값을 측정하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단하며, 오버랩 여부(Pass/Fail)를 표시하는 상부 이동유닛;을 포함하는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치를 제공한다.
또한, 본 발명에서 상기 상부 이동유닛의 상부에 설치되어 상기 상부 이동유닛을 상기 하부 지지유닛과 멀어지는 방향으로 승강시키거나 가까워지는 방향으로 하강시키는 승하강 제어유닛;을 더 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서 상기 하부 지지유닛은, 하부 브라켓의 상측에 형성된 수용부에 설치되며, 복수 개의 발광부가 구비되는 발광모듈; 및 상기 하부 브라켓의 상부에 설치되어 상기 플렉시블 회로기판이 적재된 상기 회로기판 트레이를 지지하며, 상기 발광부의 조사되는 빛이 산란되지 않고 상기 플렉시블 회로기판을 투과할 수 있도록 복수 개의 상기 발광부와 대응되는 복수 개의 통공이 형성되는 하부플레이트;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서 상기 상부 이동유닛은, 상기 하부 브라켓과 마주하는 상부 브라켓의 하부에 설치되며, 복수 개의 상기 발광부와 대응되도록 복수 개의 조도센서가 구비되는 수광모듈; 및 상기 수광모듈의 하부에 설치되어 상기 플렉시블 회로기판에 투과된 빛이 산란되지 않고 상기 조도센서에 전달될 수 있도록 복수 개의 상기 조도센서와 대응되는 복수 개의 통공이 형성되는 상부플레이트;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명에서 상기 수광모듈은, 상기 조도센서의 측정값과 기준값을 비교하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단하고, 측정값이 기준값을 벗어난 경우, 디스플레이부를 통해 표시하는 제어부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 의하면, 하부 지지유닛의 발광모듈로부터 플렉시블 회로기판(연성 회로기판)을 통과한 빛의 조도를 측정하여 오버랩 여부를 확인함으로써, 작업자를 통해 진행하는 육안 검사 대비 복수의 플렉시블 회로기판(연성 회로기판)을 동시에 신속하고 정확한 검사를 진행할 수 있고, 작업자 투입수의 감소로 생산성을 증대시킬 수 있는 효과가 있다.
또한, 적재 공정에서 발생할 수 있는 불량 이슈를 디스플레이부 또는 알림부를 통해 바로 확인함으로써, 이후 공정에서의 불량 이슈를 사전에 차단하여 품질 향상 등 생산 효율성을 높일 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부를 나타낸 사시도,
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부를 나타낸 분해 사시도,
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 상부 브라켓을 나타낸 도면,
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 수광모듈을 나타낸 도면,
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 상부 플레이트를 나타낸 도면,
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 회로기판 트레이를 나타낸 도면,
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 하부 플레이트를 나타낸 도면,
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 발광모듈을 나타낸 도면,
도 9와 도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부의 작동 상태를 나타낸 측단면도,
도 11과 도 12는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치를 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부를 나타낸 분해 사시도,
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 상부 브라켓을 나타낸 도면,
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 수광모듈을 나타낸 도면,
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 상부 플레이트를 나타낸 도면,
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 회로기판 트레이를 나타낸 도면,
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 하부 플레이트를 나타낸 도면,
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 발광모듈을 나타낸 도면,
도 9와 도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부의 작동 상태를 나타낸 측단면도,
도 11과 도 12는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치를 나타낸 사시도이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
또한, 본 발명의 구성요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성요소 사이에 또 다른 구성요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부를 나타낸 사시도, 도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부를 나타낸 분해 사시도, 도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 상부 브라켓을 나타낸 도면, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 수광모듈을 나타낸 도면, 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 상부 플레이트를 나타낸 도면, 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 회로기판 트레이를 나타낸 도면, 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 하부 플레이트를 나타낸 도면, 도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치의 발광모듈을 나타낸 도면, 도 9와 도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부의 작동 상태를 나타낸 측단면도, 도 11과 도 12는 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치를 나타낸 사시도이다.
각각의 도면에서 (a)는 평면을 나타낸 평면도, (b)는 측면을 나타낸 측면도, (c)는 정면을 나타낸 정면도이다.
이들 도면들에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치(10)는, 플렉시블 회로기판(연성 회로기판)이 적재된 회로기판 트레이(140)를 지지하며, 플렉시블 회로기판에 빛이 투과되도록 플렉시블 회로기판에 빛을 조사하는 하부 지지유닛(150) 및 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도 값을 측정하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단하며, 오버랩 여부(Pass/Fail)를 표시하는 상부 이동유닛(130)을 포함하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부(100); 및 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부(100)로부터 이송된 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이(140)가 수납되는 수납부(220) 및 회로기판 트레이(140)가 수납된 후 또 다른 회로기판 트레이(140)를 수납하기 위해 수납부(220)를 승하강시키는 구동부를 포함하는 회로기판 트레이 적층부(200);를 포함한다.
도 1 내지 도 10에 도시된 바와 같이, 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부(100)는 하부 지지유닛(150), 상부 이동유닛(130) 및 상부 이동유닛(130)의 상부에 설치되어 상부 이동유닛(130)을 하부 지지유닛(150)과 멀어지는 방향으로 승강시키거나 가까워지는 방향으로 하강시키는 승하강 제어유닛(110);을 포함하며, 하부 지지유닛(150)은 하부 브라켓(155)의 상측에 형성된 수용부(156)에 설치되며, 복수 개의 발광부(154)가 구비되는 발광모듈(153); 및 하부 브라켓(155)의 상부에 설치되어 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이(140)를 지지하며, 발광부(154)의 조사되는 빛이 산란되지 않고 회로기판을 투과할 수 있도록 복수 개의 발광부(154)와 대응되는 복수 개의 통공(152)이 형성되는 하부 플레이트(151);를 포함하고, 상부 이동유닛(130)은, 하부 브라켓(155)과 마주하는 상부 브라켓(131)의 하부에 설치되며, 복수 개의 발광부(154)와 대응되도록 복수 개의 조도센서(134)가 구비되는 수광모듈(133); 및 수광모듈(133)의 하부에 설치되어 플렉시블 회로기판에 투과된 빛이 산란되지 않고 조도센서(134)에 전달될 수 있도록 복수 개의 조도센서(134)와 대응되는 복수 개의 통공(137)이 형성되는 상부 플레이트(136);를 포함한다.
이하, 각 구성에 대해 상세히 설명한다.
먼저, 하부 지지유닛(150)은 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이(140)를 지지하며, 플렉시블 회로기판에 빛이 투과되도록 플렉시블 회로기판에 빛을 조사하는 것으로, 하부 브라켓(155), 발광모듈(153) 및 하부 플레이트(151)를 포함한다.
하부 브라켓(155)은 사각평판 형상으로 상측에 발광모듈(153)이 수용되는 수용부(156)가 형성되며, 상부에 하부 플레이트(151)가 설치된다.
발광모듈(153)은 플렉시블 회로기판에 빛을 조사하여 투과시킬 수 있는 발광부(154)가 구비되며, 하부 브라켓(155)의 수용부(156)에 고정 설치된다.
발광부(154)는 전류를 흘려 빛을 발산하는 반도체소자(LED : Light Emitting Diode)로 이루어지며, 발광모듈(153)의 상측면에 일정간격을 두고 이격되게 복수 개가 설치된다.
하부 플레이트(151)는 사각평판 형상으로 하부 브라켓(155)의 상부에 설치되어 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이(140)의 하측면을 지지하며, 발광부(154)의 조사되는 빛이 산란되지 않고 회로기판을 투과할 수 있도록 복수 개의 발광부(154)와 대응되는 복수 개의 통공(152)이 형성된다.
회로기판 트레이(140)는 하나 이상의 플렉시블 회로기판(S)을 지지하는 것으로, 플렉시블 회로기판이 끼워지는 수용홀이 하나 이상 형성되고, 수용홀에 끼워진 플렉시블 회로기판의 일부분을 지지하게 된다.
상부 이동유닛(130)은 승하강 제어유닛(110)에 의해 승하강되는 것으로, 상부 브라켓(131), 수광모듈(133) 및 상부 플레이트(136)를 포함하며, 상승된 상태에서 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이(140)가 하부 지지유닛(150)의 상부에 위치하게 되면 하부 지지유닛(150)을 향해 이동하며, 하강된 상태에서 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도 값을 측정하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단하고, 오버랩 여부(Pass/Fail)를 디스플레이부(135) 또는 알림부(116)에 표시하게 된다.
상부 브라켓(131)은 사각평판 형상으로 하부 브라켓(155)과 마주하게 하부 브라켓(155)의 상부에 배치되며, 하부에 수광모듈(133)이 설치된다.
이와 같은 상부 브라켓(131)은 승하강 제어유닛(110)의 액추에이터(114)에 의해 수광모듈(133) 및 상부 플레이트(136)와 함께 승하강하게 된다.
수광모듈(133)은 복수 개의 발광부(154)와 대응되도록 복수 개의 조도센서(134)가 구비되며, 상부 브라켓(131)의 하부에 고정 설치된다.
조도센서(134)는 발광부(154)로부터 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도를 측정하여 측정값을 제어부(112)에 전송한다.
이와 같은 수광모듈(133)은 조도센서(134)의 측정값과 기준값을 비교하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단하고, 측정값이 기준값을 벗어난 경우, 디스플레이부(135) 또는 알림부(116)를 통해 표시하는 제어부(112)를 포함한다.
제어부(112)는 조도센서(134)의 측정값과 기설정된 기준값을 비교하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단하는 것으로, 측정값이 기준값의 범위 내에 속할 경우, 오버랩 여부(Pass/Fail)를 디스플레이부(135) 또는 알림부(116)에 통과(Pass)로 표시하고, 측정값이 기준값을 벗어난 경우, 디스플레이부(135) 또는 알림부(116)에 실패(Fail)로 표시하게 된다.
상부 플레이트(136)는 사각평판 형상으로 수광모듈(133)의 하부에 설치되어 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이(140)의 상측면을 지지하며, 플렉시블 회로기판에 투과된 빛이 산란되지 않고 조도센서(134)에 전달될 수 있도록 복수 개의 조도센서(134)와 대응되는 복수 개의 통공(137)이 형성된다.
여기서, 발광모듈(153)의 발광부(154)와 수광모듈(133)의 조도센서(134) 및 상하부 플레이트(136, 151)의 통공(137, 152)은 개수와 위치가 각각 대응되게 이루어지며, 발광부(154)의 빛이 산란되지 않고 조도센서(134)에 전달될 수 있도록 발광부(154)의 빛은 상하부 플레이트(136, 151)의 통공(137, 152)을 통과하게 된다.
이에 따라, 본 발명은 상하부 플레이트(136, 151)의 통공(137, 152)에 의해 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도를 주변환경 조건에 영향을 받지 않고 항상 동일하게 측정할 수 있게 된다.
이때, 상하부 플레이트(136, 151)의 통공(137, 152)은 개수, 위치, 크기가 서로 다르게 형성될 수 있으며, 발광부(154) 또는 조도센서(134)의 크기에 따라 변동될 수 있고, 상하부 플레이트(136, 151)의 통공(137, 152)과 연계하여 그 위치와 크기가 달라질 수도 있다.
이와 더불어 상부 이동유닛(130)은 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도를 주변환경 조건에 영향을 받지 않고 항상 동일하게 측정할 수 있도록 상부 브라켓(131), 수광모듈(133), 상부 플레이트(136) 및 하부 지지유닛(150)을 감싸는 형상으로 형성되는 커버 브라켓(160)을 포함한다.
커버 브라켓(160)은 사각평판 형상으로 상부 브라켓(131)의 상부에 설치되는 상판(161)과, 발광부(154)의 조사되는 빛이 회로기판을 투과하여 외부의 빛과 함께 조도센서(134)에 전달되는 것을 방지하도록 상판(161)의 전후좌우 측방향 단부로부터 하측으로 연장 형성되는 차단판(162)을 포함한다.
이에 따라 본 발명은 상부 이동유닛(130)이 엑추에이터에 의해 하강시 커버 브라켓(160)에 의해 상부 브라켓(131), 수광모듈(133), 상부 플레이트(136) 및 하부 지지유닛(150)이 위치한 내부로 전달되는 외부의 빛을 차단할 수 있게 되고, 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도를 주변환경 조건에 영향을 받지 않고 항상 동일하게 측정할 수 있게 되는 것이다.
승하강 제어유닛(110)은 상부 이동유닛(130)의 상부에 설치되어 상부 이동유닛(130)을 하부 지지유닛(150)과 멀어지는 방향으로 승강시키거나 가까워지는 방향으로 하강시키게 된다.
이와 같은 승하강 제어유닛(110)은 상부 이동유닛(130)을 승하강시키는 액추에이터(114)를 포함한다.
여기서, 액추에이터(114)는 플렉시블 회로기판 트레이(140)가 이송되어 하부 지지유닛(150)의 상부에 위치하도록 제어부(112)의 제어에 의해 상부 이동유닛(130)을 상승시키고, 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도 값을 측정하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단할 수 있도록 제어부(112)의 제어에 의해 상부 이동유닛(130)을 하부 지지유닛(150) 방향으로 하강시키게 된다.
이와 더불어 수광모듈(133)은 상부에 오버랩 여부(Pass/Fail)를 표시하는 디스플레이부(135)가 구비되고, 상부 브라켓(131)과 승하강 제어유닛(110)은 수광모듈(133)의 디스플레이부(135)와 대응되는 위치에 확인창(118)(132)이 각각 형성된다.
이에 따라, 본 발명은 확인창(118)(132)을 통해 디스플레이부(135)에 표시된 오버랩 여부(Pass/Fail)를 쉽게 확인할 수 있다.
또한, 승하강 제어유닛(110)은 빛 또는 소리를 통해 오버랩 여부(Pass/Fail)를 알려주는 알림부(116)가 구비된다.
알림부(116)는 오버랩 여부(Pass/Fail)를 다양한 색의 빛의 또는 음성으로 출력할 수 있고, 빛의 깜박임 또는 비프음으로 출력할 수도 있다.
계속해서, 본 발명의 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치(10)는, 하부 지지유닛(150) 및 상부 이동유닛(130)을 포함하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부(100); 및 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부(100)로부터 이송된 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이(140)가 수납되는 수납부(220) 및 회로기판 트레이(140)가 수납된 후 또 다른 회로기판 트레이(140)를 수납하기 위해 수납부(220)를 승하강시키는 구동부를 포함하는 회로기판 트레이 적층부(200);를 포함한다.
보다 상세하게 회로기판 트레이 적층부(200)는 몸체(210)와 수납부(220) 및 구동부를 포함하며, 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부(100)로부터 이송된 다수의 회로기판 트레이(140)를 적층시켜 보관하게 된다.
몸체(210)는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부(100)가 위치한 일측에 투입구(280)가 형성되고, 내부에 수납부(220)가 승하강 가능하게 설치된다.
수납부(220)는 몸체(210)의 내부에 승하강 가능하게 설치되며, 회로기판 트레이(140)를 지지하는 복수 개의 지지부(222)가 상하로 일정간격을 두고 이격되게 형성된다.
구동부는 몸체(210)의 내부에 설치되어 다수의 회로기판 트레이(140)를 수납하는 수납부(220)를 승하강시키게 된다.
이와 같은 구동부는 모터(230)의 회전축에 결합된 구동풀리(232)가 롤러(240)의 회전축에 결합된 종동풀리(242)와 벨트(250)를 매개로 연결되고, 상하로 이격된 롤러(240)에 감긴 와이어가 수납부(220)와 연결되어 모터(230)의 구동력으로 수납부(220)를 승하강시키게 된다.
즉, 본 발명의 트레이 적층부(200)는 모터(230)의 회전축이 일방향 회전함에 따라 이와 연결된 롤러(240)가 회전하게 되고, 롤러(240)가 회전함에 따라 롤러(240)에 감긴 와이어에 의해 수납부(220)가 상승하게 되며, 모터(230)의 회전축이 반대방향 회전함에 따라 이와 연결된 롤러(240)가 회전하게 되고, 롤러(240)가 회전함에 따라 롤러(240)에 감긴 와이어에 의해 수납부(220)가 하강하게 된다.
이와 같은 트레이 적층부(200)는 회로기판 오버랩 검사부(100)로부터 이송된 회로기판 트레이(140)가 투입구(280)를 통해 수납부(220)에 수납되면, 구동부에 의해 수납부(220)가 상승하게 되며, 또 다른 회로기판 트레이(140)가 투입구(280)를 통해 수납부(220)에 수납되면, 구동부에 의해 수납부(220)가 상승하게 되는 것으로, 복수 개의 지지부(222)에 순차적으로 회로기판 트레이(140)를 적층시켜 보관하게 된다.
또한, 회로기판 트레이 적층부(200)는 빛 또는 소리를 통해 Fail 판명 플렉시블 회로기판이 포함된 회로기판 트레이(140)가 적층되어 있거나 회로기판 트레이 적층부(200)가 가득찬 상태임을 알려주는 알림부(216)가 구비된다.
알림부(216)는 오버랩 여부(Pass/Fail)를 다양한 색의 빛의 또는 음성으로 출력할 수 있고, 빛의 깜박임 또는 비프음으로 출력할 수도 있다.
도면들을 참고하여, 본 발명의 일실시예에 따른 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치(10)의 작동 과정을 설명한다
먼저, 회로기판 트레이(140) 상에 플렉시블 회로기판을 적재하는 공정 이후 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이(140)가 컨베이어를 통해 회로기판 오버랩 검사부(100)로 이송되면, 회로기판 트레이(140)는 하부 지지유닛(150)과 상부 이동유닛(130) 사이에서 정지하여 위치하게 된다.
그리고, 회로기판 트레이(140)가 하부 지지유닛(150)과 상부 이동유닛(130) 사이에 위치하면, 상부 이동유닛(130)은 오버랩 검사를 위해 하강하게 된다.
이때, 상부 이동유닛(130)은 액추에이터(114)에 의해 하강하며, 플렉시블 회로기판 또는 회로기판 트레이(140)에 맞닿을 때까지 하강하게 된다.
이어서, 오버랩 검사가 진행되는데, 발광모듈(153)의 발광부(154)로부터 조사된 빛은 플렉시블 회로기판을 투과하여 수광모듈(133)의 조도센서(134)로 전달되어 조도 값이 측정된다.
조도센서(134)를 통해 측정된 조도 측정값은 제어부(112)에 전달되어 연산된 후, 디스플레이부(135) 상에 오버랩 여부(Pass/Fail)를 표시하게 된다.
이때, 작업자는 디스플레이부(135)에 표시된 오버랩 여부(Pass/Fail)를 확인창(118)(132)을 통해 확인할 수 있다.
오버랩 검사가 완료되면 상부 이동유닛(130)은 액추에이터(114)에 의해 다시 상승하여 원래 위치로 되돌아가게 된다.
그리고, 회로기판 트레이는 컨베이어를 통해 이송되어 트레이 적층부(200)에 적층된다.
여기서, 테스트 결과가 실패(Fail)일 경우, 회로기판 트레이(140)는 트레이 적층부(200)로 이동하여 일정 시간동안 적층되고, 트레이 적층부(200)는 회로기판 트레이가 가득 찼을 경우, 알림부(260)를 통해 알려주게 된다.
이와는 다르게, 테스트 결과가 실패(Fail)일 경우, 알림부(116)를 통해 작업자에게 알림 신호를 주거나 작업자의 개입 없이 장치가 프로그램 자동화에 의하여 실패(Fail) 판명된 플렉시블 회로기판을 별도로 분리할 수도 있다.
이와 같이 본발명은 하부 지지유닛(150)의 발광모듈(153)로부터 플렉시블 회로기판을 통과한 빛의 조도를 측정하여 오버랩 여부를 확인함으로써, 작업자를 통해 진행하는 육안 검사 대비 복수의 플렉시블 회로기판을 동시에 신속하고 정확한 검사를 진행할 수 있고, 작업자 투입수의 감소로 생산성을 증대시킬 수 있다.
또한, 적재 공정에서 발생할 수 있는 불량 이슈를 디스플레이부(135) 또는 알림부(116)를 통해 바로 확인함으로써, 이후 공정에서의 불량 이슈를 사전에 차단하여 품질 향상 등 생산 효율성을 높일 수 있게 되는 것이다.
이상에서, 본 발명의 실시예를 구성하는 모든 구성요소들이 하나로 결합되거나 결합되어 동작하는 것으로 설명되었다고 해서, 본 발명이 반드시 이러한 실시예에 한정되는 것은 아니다. 즉, 본 발명의 목적 범위 안에서라면, 그 모든 구성요소들이 하나 이상으로 선택적으로 결합하여 동작할 수도 있다.
또한, 이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥 상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
10 : 회로기판 오버랩 검사 장치
110 : 승하강 제어유닛
112 : 제어부
114 : 액추에이터
116 : 알림부
118 : 확인창
130 : 상부 이동유닛
131 : 상부 브라켓
132 : 확인창
133 : 수광모듈
134 : 조도센서
135 : 디스플레이부
136 : 상부 플레이트
137 : 통공
140 : 회로기판 트레이
150 : 하부 지지유닛
151 : 하부 플레이트
152 : 통공
153 : 발광모듈
154 : 발광부
155 : 하부 브라켓
156 : 수용부
110 : 승하강 제어유닛
112 : 제어부
114 : 액추에이터
116 : 알림부
118 : 확인창
130 : 상부 이동유닛
131 : 상부 브라켓
132 : 확인창
133 : 수광모듈
134 : 조도센서
135 : 디스플레이부
136 : 상부 플레이트
137 : 통공
140 : 회로기판 트레이
150 : 하부 지지유닛
151 : 하부 플레이트
152 : 통공
153 : 발광모듈
154 : 발광부
155 : 하부 브라켓
156 : 수용부
Claims (6)
- 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이를 지지하며, 상기 플렉시블 회로기판에 빛이 투과되도록 상기 플렉시블 회로기판에 빛을 조사하는 하부 지지유닛; 및
상기 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도 값을 측정하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단하며, 오버랩 여부(Pass/Fail)를 표시하는 상부 이동유닛;을 포함하되,
상기 하부 지지유닛은,
하부 브라켓의 상측에 형성된 수용부에 설치되며, 복수 개의 발광부가 구비되는 발광모듈; 및
상기 하부 브라켓의 상부에 설치되어 상기 플렉시블 회로기판이 적재된 상기 회로기판 트레이를 지지하며, 상기 발광부의 조사되는 빛이 산란되지 않고 상기 플렉시블 회로기판을 투과할 수 있도록 복수 개의 상기 발광부와 대응되는 복수 개의 통공이 형성되는 하부플레이트;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치.
- 제 1 항에 있어서,
상기 상부 이동유닛의 상부에 설치되어 상기 상부 이동유닛을 상기 하부 지지유닛과 멀어지는 방향으로 승강시키거나 가까워지는 방향으로 하강시키는 승하강 제어유닛;
을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서,
상기 상부 이동유닛은,
상기 하부 브라켓과 마주하는 상부 브라켓의 하부에 설치되며, 복수 개의 상기 발광부와 대응되도록 복수 개의 조도센서가 구비되는 수광모듈; 및
상기 수광모듈의 하부에 설치되어 상기 플렉시블 회로기판에 투과된 빛이 산란되지 않고 상기 조도센서에 전달될 수 있도록 복수 개의 상기 조도센서와 대응되는 복수 개의 통공이 형성되는 상부플레이트;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치.
- 제 4 항에 있어서,
상기 수광모듈은,
상기 조도센서의 측정값과 기준값을 비교하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단하고, 측정값이 기준값을 벗어난 경우, 디스플레이부를 통해 표시하는 제어부;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치.
- 플렉시블 회로기판이 적재된 회로기판 트레이를 지지하며, 상기 플렉시블 회로기판에 빛이 투과되도록 상기 플렉시블 회로기판에 빛을 조사하는 하부 지지유닛 및 상기 플렉시블 회로기판에 투과된 빛의 조도 값을 측정하여 오버랩 여부(Pass/Fail)를 판단하며, 오버랩 여부(Pass/Fail)를 표시하는 상부 이동유닛을 포함하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부; 및
상기 플렉시블 회로기판 오버랩 검사부로부터 이송된 상기 플렉시블 회로기판이 적재된 상기 회로기판 트레이가 수납되는 수납부 및 플렉시블 회로기판 트레이가 수납된 후 또 다른 회로기판 트레이를 수납하기 위해 상기 수납부를 승하강시키는 구동부를 포함하는 회로기판 트레이 적층부;를 포함하고,
상기 하부 지지유닛은,
하부 브라켓의 상측에 형성된 수용부에 설치되며, 복수 개의 발광부가 구비되는 발광모듈; 및
상기 하부 브라켓의 상부에 설치되어 상기 플렉시블 회로기판이 적재된 상기 회로기판 트레이를 지지하며, 상기 발광부의 조사되는 빛이 산란되지 않고 상기 플렉시블 회로기판을 투과할 수 있도록 복수 개의 상기 발광부와 대응되는 복수 개의 통공이 형성되는 하부플레이트;
를 포함하는 것을 특징으로 하는 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치.
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| KR1020180042164A KR102025421B1 (ko) | 2018-04-11 | 2018-04-11 | 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| KR1020180042164A KR102025421B1 (ko) | 2018-04-11 | 2018-04-11 | 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치 |
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| KR1020180042164A KR102025421B1 (ko) | 2018-04-11 | 2018-04-11 | 플렉시블 회로기판 오버랩 검사 장치 |
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| KR100732530B1 (ko) * | 2001-07-03 | 2007-06-27 | 삼성전자주식회사 | 웨이퍼 수량 검사 장치 |
| KR20110005084A (ko) * | 2009-07-09 | 2011-01-17 | 아주하이텍(주) | 기판 수납 용기와, 이를 구비한 기판 검사 장치 |
| KR101379324B1 (ko) | 2013-01-11 | 2014-03-31 | 김준수 | 인쇄회로기판의 불량위치 출력장치 |
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2018
- 2018-04-11 KR KR1020180042164A patent/KR102025421B1/ko active IP Right Grant
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