KR102008474B1 - System and Method of inspecting Display Device - Google Patents

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Abstract

본 발명은, 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량 검사 기준을 제공하기 위해서, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하는 기준 디스플레이 장치; 상기 기준 디스플레이 장치에 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 제공하는 데이터 관리부; 및 상기 데이터 관리부를 컨트롤하는 컨트롤부를 포함하여 이루어지고, 상기 데이터 관리부는 상기 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 저장하고 있는 데이터 저장부 및 상기 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 데이터 생성부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법에 관한 것으로서,
본 발명은 기준 디스플레이 장치에서 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사하기 위한 기준, 구체적으로, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 제공하기 때문에, 본 발명에 따르면, 작업자가 상기 기준 디스플레이 장치에서 제공하는 기준에 근거하여 보다 객관적으로 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사할 수 있다. The present invention provides a standard display device for displaying a reference spot image and defect information in order to provide a spot defect inspection criterion of the inspected display device; A data manager which provides spot image data and defect data to the reference display device; And a control unit for controlling the data management unit, wherein the data management unit includes a data storage unit storing the spot image data and defect data and a data generating unit capable of generating the spot image data. As an inspection system and inspection method of a display device,
According to the present invention, the reference provided by the operator in the reference display device, according to the present invention, because the present invention provides a reference for inspecting the stain defect of the test target display device in the reference display device, specifically, the reference spot image and defect information On the basis of this, it is possible to more objectively inspect the stain defect of the inspected display device.

Description

디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법{System and Method of inspecting Display Device}System and Method of inspecting Display Device

본 발명은 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사하는 검사 시스템 및 검사 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an inspection system and an inspection method of a display device, and more particularly, to an inspection system and an inspection method for inspecting a defect of a display device.

액정표시장치(Liquid Crystal Display Device) 및 유기 발광장치(Organic Light Emitting Device) 등과 같은 디스플레이 장치는 TV, 노트북 컴퓨터, 모니터, 및 휴대폰 등에 널리 이용되고 있다. Display devices such as liquid crystal display devices and organic light emitting devices are widely used in TVs, notebook computers, monitors, mobile phones, and the like.

이와 같은 디스플레이 장치는 화상을 디스플레이할 수 있는 패널을 제조한 후 모듈화 공정을 통해 제조되는데, 패널을 제조한 후 모듈화 공정 이전에 또는 모듈화 공정 이후에, 디스플레이 장치에 무라(Mura)와 같은 얼룩 불량이 발생하는지 여부에 대해서 검사하고, 검사 결과에 따라 양품 또는 불량품으로 분류한 후, 양품만을 최종 제품으로 출하한다. Such a display device is manufactured through a modularization process after manufacturing a panel capable of displaying an image, and after the panel is manufactured, before the modularization process or after the modularization process, uneven defects such as mura are present in the display device. After the inspection, it is classified as good or defective according to the inspection result, and only good quality is shipped as final product.

상기 디스플레이 장치의 얼룩 불량 여부에 대한 검사는 작업자의 육안 검사를 통해 수행된다. 즉, 디스플레이 장치의 얼룩 불량에 대해서 일정 수준 이상의 교육을 받은 작업자가 육안으로 디스플레이 장치의 얼룩 불량의 정도에 대해서 검사한 후 그 검사 결과에 따라 양품 또는 불량품으로 분류하게 된다. Inspection of the defect of the display device is performed by visual inspection of the operator. That is, an operator who has received a certain level or more of education about the defect of the display device visually inspects the degree of defect of the display device and classifies it as good or defective according to the inspection result.

그러나, 이와 같은 종래의 방법은 작업자가 교체될 경우 얼룩 불량 판정 기준이 변경될 수 있는 문제가 있고, 또한, 설령 작업자가 교체되지 않는다 하더라도 작업자의 상태 등에 따라서 얼룩 불량 판정 기준이 일관적이지 못하게 되는 문제가 있다. However, such a conventional method has a problem that the stain defect determination criteria may be changed when the operator is replaced, and even if the operator is not replaced, the stain defect determination criteria may be inconsistent depending on the worker's condition. there is a problem.

따라서, 불량품이 양품으로 판정될 경우 고객 클레임을 유발할 수 있고, 양품이 불량품으로 판정될 경우 불필요한 생산 비용 낭비를 초래하게 된다. Therefore, when a defective product is determined to be good, it may cause a customer claim, and when the defective product is determined to be defective, it causes unnecessary production cost.

본 발명은 전술한 종래의 문제점을 해결하기 위해 고안된 것으로서, 본 발명은 보다 객관적인 방법으로 디스플레이 장치의 얼룩 불량 여부를 검사할 수 있는 검사 시스템 및 검사 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been devised to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide an inspection system and an inspection method capable of inspecting whether a display device is defective in a more objective manner.

본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해서, 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량 검사 기준을 제공하기 위해서, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하는 기준 디스플레이 장치; 상기 기준 디스플레이 장치에 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 제공하는 데이터 관리부; 및 상기 데이터 관리부를 컨트롤하는 컨트롤부를 포함하여 이루어지고, 상기 데이터 관리부는 상기 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 저장하고 있는 데이터 저장부 및 상기 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 데이터 생성부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템을 제공한다. In order to achieve the above object, the present invention provides a reference display device for displaying a reference spot image and defect information in order to provide a spot defect inspection criteria of the inspected display device; A data manager which provides spot image data and defect data to the reference display device; And a control unit for controlling the data management unit, wherein the data management unit includes a data storage unit storing the spot image data and defect data and a data generating unit capable of generating the spot image data. A test system for a display device is provided.

본 발명은 또한, 피검사 디스플레이 장치를 기준 디스플레이 장치 근방의 검사 위치로 이송하는 공정; 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 데이터가 데이터 저장부에 저장되어 있는지 판단함으로써, 상기 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한지 판단하는 공정; 상기 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한 경우, 상기 기준 얼룩 데이터에 기초한 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 상기 기준 디스플레이 장치에서 디스플레이하고, 상기 기준 얼룩 화상과 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩을 비교하여 상기 피검사 디스플레이 장치의 불량 유무를 판단하는 공정; 및 상기 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우, 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터를 생성하고 저장하는 공정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법을 제공한다.The present invention also provides a process for transferring a test target display device to a test position near the reference display device; Determining whether the reference spot data can be selected by determining whether reference spot data related to the spot of the inspected display apparatus is stored in a data storage unit; If the reference spot data can be selected, the reference spot image and defect information based on the reference spot data are displayed on the reference display device, and the test subject display is compared by comparing the reference spot image with the spot of the test target display device. Determining whether the apparatus is defective; And generating and storing spot data related to spots of the inspected display apparatus when the reference spot data cannot be selected.

이상과 같은 본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다. According to the present invention as described above has the following effects.

본 발명은 기준 디스플레이 장치에서 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사하기 위한 기준, 구체적으로, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 제공하기 때문에, 본 발명에 따르면, 작업자가 상기 기준 디스플레이 장치에서 제공하는 기준에 근거하여 보다 객관적으로 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사할 수 있다. According to the present invention, the reference provided by the operator in the reference display device, according to the present invention, because the present invention provides a reference for inspecting the stain defect of the test target display device in the reference display device, specifically, the reference spot image and defect information On the basis of this, it is possible to more objectively inspect the stain defect of the inspected display device.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 시스템의 개략도이다.
도 2(a)는 피검사 디스플레이 장치에서 발견될 수 있는 일 예에 따른 얼룩을 도시한 것이고, 도 2(b)는 일반적인 디스플레이 장치를 이용하여 얼룩 화상 데이터를 생성한 경우를 도시한 것이고, 도 2(c)는 본 발명의 일 실시예에 따라 얼룩 화상 데이터를 생성한 경우를 도시한 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 소수점 이하의 계조를 표현하는 방법을 보여주는 그림이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 보여주는 검사 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우의 디스플레이 장치의 검사 방법을 보여주는 검사 흐름도이다.1 is a schematic diagram of an inspection system of a display apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 (a) illustrates a spot according to an example that may be found in an inspected display apparatus, and FIG. 2 (b) illustrates a case where spot image data is generated using a general display apparatus. FIG. 2 (c) shows a case where blot image data is generated according to an embodiment of the present invention.
3 is a diagram illustrating a method of expressing gray scales below the decimal point according to an embodiment of the present invention.
4 is an inspection flowchart illustrating an inspection method of a display apparatus according to an exemplary embodiment.
FIG. 5 is an inspection flowchart illustrating a method of inspecting a display apparatus when it is impossible to select reference spot data according to an embodiment of the present invention.

이하, 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예에 대해서 상세히 설명하기로 한다. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 시스템의 개략도이다. 1 is a schematic diagram of an inspection system of a display apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 1에서 알 수 있듯이, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 시스템은, 피검사 디스플레이 장치(1)를 이송하는 이송부(10), 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩 불량 검사 기준을 제공하는 기준 디스플레이 장치(20), 상기 기준 디스플레이 장치(20)에 얼룩 데이터를 제공하는 데이터 관리부(30), 상기 데이터 관리부(30)를 컨트롤하는 컨트롤부(40)를 포함하여 이루어진다. As can be seen in Figure 1, the inspection system of the display device according to an embodiment of the present invention, the transfer unit 10 for conveying the inspected display device 1, the stain defect inspection criteria of the inspected display device 1 It includes a reference display device 20 to provide, a data management unit 30 for providing uneven data to the reference display device 20, and a control unit 40 for controlling the data management unit 30.

상기 피검사 디스플레이 장치(1)는 얼룩 불량 검사의 대상이 되는 것으로서, 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device) 및 유기 발광장치(Organic Light Emitting Device) 등과 같은 다양한 디스플레이 장치가 될 수 있다. 또한, 상기 피검사 디스플레이 장치(1)는 TV, 노트북 컴퓨터, 또는 모니터 등 다양한 형태의 장치가 될 수 있다. The inspected display apparatus 1 may be a target of spot defect inspection, and may be various display apparatuses such as a liquid crystal display device and an organic light emitting device. In addition, the test target display device 1 may be various types of devices such as a TV, a notebook computer, or a monitor.

이와 같은 피검사 디스플레이 장치(1)는 모듈화 공정 이전의 디스플레이 패널 상태일 수도 있고, 모듈화 공정 이후의 디스플레이 모듈 상태일 수도 있다. Such an inspected display apparatus 1 may be in a display panel state before the modularization process or may be in a display module state after the modularization process.

상기 이송부(10)는 피검사 디스플레이 장치(1)를 검사 위치까지 이송하는 역할을 함과 더불어 검사가 완료된 피검사 디스플레이 장치(1)를 적재 위치까지 이송하는 역할을 할 수 있다. The transfer unit 10 may serve to transfer the inspected display device 1 to an inspection position and also transport the inspected display device 1 to a stowed position.

도시하지는 않았지만, 상기 이송부(10)의 일단은 피검사 디스플레이 장치(1)의 제조 라인과 연결되고, 상기 이송부(10)의 타단은 검사결과에 따른 양품 또는 불량품으로 구분된 적재함과 연결될 수 있다. Although not shown, one end of the transfer unit 10 may be connected to a manufacturing line of the display device 1 to be inspected, and the other end of the transfer unit 10 may be connected to a loading box classified as good or defective according to an inspection result.

상기 이송부(10)는 컨베이어 벨트와 같은 자동 이송 기구로 이루어질 수 있지만, 반드시 그에 한정되는 것은 아니다. The transfer unit 10 may be made of an automatic transfer mechanism such as a conveyor belt, but is not necessarily limited thereto.

상기 기준 디스플레이 장치(20)는 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩 불량 검사 기준을 제공한다. 즉, 상기 기준 디스플레이 장치(20)는 다양한 크기 및 다양한 형태의 얼룩 화상 및 그 얼룩 화상의 불량 유무 정보를 디스플레이함으로써, 작업자가 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이되는 얼룩 화상 및 그 얼룩 화상의 불량 유무 정보를 기준으로 하여 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩 불량 여부를 판단하게 된다. The reference display apparatus 20 provides a stain defect inspection criterion of the inspected display apparatus 1. That is, the reference display apparatus 20 displays the unevenness image of various sizes and various shapes and information on whether the unevenness image is defective, so that the unevenness of the unevenness image and the unevenness image displayed by the operator on the reference display apparatus 20 are displayed. On the basis of the presence information, it is determined whether the unevenness of the inspected display device 1 is defective.

이와 같은 기준 디스플레이 장치(20)는 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 검사 위치 근방에 고정되어 있어, 상기 작업자의 얼룩 불량 여부 판단을 용이하게 할 수 있다. Such a reference display device 20 is fixed near the inspection position of the inspected display device 1, so that it is easy to determine whether the worker is uneven.

상기 기준 디스플레이 장치(20)는 상기 피검사 디스플레이 장치(1)와 동일한 종류로 이루어진 것이 바람직하지만, 반드시 그에 한정되는 것은 아니다. 즉, 상기 피검사 디스플레이 장치(1)가 액정표시장치인 경우 상기 기준 디스플레이 장치(20)도 액정표시장치인 것이 바람직하다. The reference display device 20 is preferably made of the same type as the display device 1 to be inspected, but is not necessarily limited thereto. That is, when the test display device 1 is a liquid crystal display device, the reference display device 20 is also a liquid crystal display device.

상기 데이터 관리부(30)는 얼룩 불량에 대한 다양한 데이터를 관리하여 상기 기준 디스플레이 장치(20)에 제공한다. The data manager 30 manages a variety of data on spot defects and provides them to the reference display device 20.

상기 데이터 관리부(30)는 데이터 저장부(32) 및 데이터 생성부(34)를 포함하여 이루어진다. The data manager 30 includes a data storage 32 and a data generator 34.

상기 데이터 저장부(32)는 얼룩에 대한 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 저장하고 있다. 본 명세서에서, "얼룩에 대한 화상 데이터 및 불량 유무 데이터"는 "얼룩 데이터"로 칭해진다. The data storage unit 32 stores image data and defect data about spots. In the present specification, "image data for stain and defect data" is referred to as "stain data".

상기 데이터 저장부(32)에 저장된 얼룩에 대한 화상 데이터 및 불량 유무 데이터는 크기별 및 형태별로 구분되어 있다. Image data and defect data about the spots stored in the data storage unit 32 are divided by size and shape.

예로서, 상기 데이터 저장부(32)는 얼룩의 크기를 대, 중, 소로 구분하여 저장하고 있고, 각각의 크기별로 불량품으로 판정되어야 하는 얼룩과 양품으로 판정되어야 하는 얼룩을 구분한 불량 유무 데이터를 저장하고 있다. For example, the data storage unit 32 stores the size of the stains into large, medium, and small, and stores the defect data having classified the stains to be determined as defective goods and the defects to be determined as good quality for each size. Saving.

또한, 상기 데이터 저장부(32)는 얼룩 불량의 형태를 점형, 선형 및 부정형으로 구분하여 저장하고 있고, 각각의 형태별로 불량품으로 판정되어야 하는 얼룩과 양품으로 판정되어야 하는 얼룩을 구분한 불량 유무 데이터를 저장하고 있다.In addition, the data storage unit 32 stores the types of spot defects into dots, linear shapes, and irregular shapes, and stores defects having different types of spots to be identified as defective products and spots to be judged as good products. Is saving.

따라서, 상기 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는 다양한 얼룩 데이터들 중에서 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터가 기준 얼룩 데이터가 된다. Accordingly, among the various spot data stored in the data storage unit 32, the spot data related to the spot of the inspected display apparatus 1 becomes reference spot data.

구체적으로 설명하면, 예로서, 작업자가 상기 피검사 디스플레이 장치(1)에서 점형의 대형 얼룩을 발견하면, 상기 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는 다양한 얼룩 화상 데이터들 중에서 점형의 대형 얼룩과 관련한 얼룩 화상 데이터가 기준 얼룩 화상 데이터로 선정되고, 선정된 기준 얼룩 화상 데이터에 근거하여 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 기준 얼룩 화상 및 그에 대한 불량 유무 정보가 디스플레이된다. Specifically, for example, when the operator finds a large spot of spots in the inspected display apparatus 1, among the various spot image data stored in the data storage unit 32, the operator may find a large spot of spots. The spot image data is selected as the reference spot image data, and the reference spot image and defect information thereof are displayed on the reference display device 20 based on the selected reference spot image data.

다시 말하면, 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 상기 데이터 저장부(32)에 저장된 다양한 얼룩 화상 데이터에 근거한 다양한 얼룩 화상을 상기 기준 디스플레이 장치(20)를 통해 보면서 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 화상을 선정하고, 그와 같은 기준 얼룩 화상 및 그에 대한 불량 유무 정보가 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 계속하여 디스플레이될 수 있도록 한다. 따라서, 작업자는 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩을 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이되는 기준 얼룩 화상 및 그에 대한 불량 유무 정보와 비교한다. In other words, while the operator manipulates the control unit 40 and views various spot images based on the various spot image data stored in the data storage unit 32 through the reference display device 20, the test target display device 1 The reference spot image associated with the blob of is selected, and such a reference blot image and information on whether there is a defect thereof can be continuously displayed on the reference display device 20. Therefore, the operator compares the spot of the inspected display apparatus 1 with the reference spot image displayed on the reference display apparatus 20 and information on whether there is a defect.

상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 얼룩 화상을 디스플레이하고, 디스플레이된 얼룩 화상 중에서 기준 얼룩 화상을 선정하는 동작은 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 수행된다. The operation of displaying a spot image on the reference display device 20 and selecting a reference spot image from the displayed spot images is performed by an operator operating the control unit 40.

상기 데이터 생성부(34)는 얼룩에 대한 새로운 화상 데이터를 생성한다. The data generation unit 34 generates new image data on the spot.

상기 피검사 디스플레이 장치(1)에서 발견된 얼룩과 관련된 얼룩 화상 데이터가 상기 데이터 저장부(32)에 저장되어 있지 않을 경우에, 상기 데이터 생성부(34)에서 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성하게 된다. When the spot image data associated with the spot found in the inspected display apparatus 1 is not stored in the data storage unit 32, the data generating unit 34 generates new spot image data.

즉, 작업자가 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 화상을 선정하지 못한 경우 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩 불량에 대한 판단을 보류하고, 상기 데이터 생성부(34)에서 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성시키고, 생성된 새로운 얼룩 화상 데이터를 상기 데이터 저장부(32)에 저장시킨다. That is, when the operator fails to select the reference spot image related to the spot of the inspected display apparatus 1, the determination of the spot defect of the inspected display apparatus 1 is suspended, and the data generating unit 34 New spot image data associated with the spot of the inspected display device 1 is generated, and the generated new spot image data is stored in the data storage unit 32.

이와 같은 데이터 생성부(34)에서 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성시키고 생성된 얼룩 화상 데이터를 상기 데이터 저장부(32)에 저장하는 동작은 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 수행된다. The operation of generating new spot image data in the data generating unit 34 and storing the generated spot image data in the data storage unit 32 is performed by an operator operating the control unit 40.

상기 데이터 생성부(34)는 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 프로그램을 탑재하고 있어, 상기 프로그램을 통해서 상기 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩과 최대한 가까운 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있게 된다. 상기 프로그램은 후술하는 바와 같은 디더링(Dithering) 및 FRC(Frame Rate Control) 기능을 수행할 수 있다. The data generation unit 34 is equipped with a program capable of generating spot image data, and through this program, it is possible to generate spot image data as close as possible to the spot newly found in the inspected display apparatus 1. do. The program may perform dithering and frame rate control (FRC) functions as described below.

도 2(a)는 피검사 디스플레이 장치에서 발견될 수 있는 일 예에 따른 얼룩을 도시한 것이고, 도 2(b)는 일반적인 디스플레이 장치를 이용하여 얼룩 화상 데이터를 생성한 경우를 도시한 것이고, 도 2(c)는 본 발명의 일 실시예에 따라 얼룩 화상 데이터를 생성한 경우를 도시한 것이다. FIG. 2 (a) illustrates a spot according to an example that may be found in an inspected display apparatus, and FIG. 2 (b) illustrates a case where spot image data is generated using a general display apparatus. FIG. 2 (c) shows a case where blot image data is generated according to an embodiment of the present invention.

도 2(a)에서 알 수 있듯이, 예로서, 피검사 디스플레이 장치에서 a 계조 내지 b 계조 범위의 휘도를 가지는 얼룩이 발생하였다고 가정하면, 그와 같은 얼룩은 상기 휘도 범위 내에서 소수점 이하의 계조 범위를 포함하게 된다. As can be seen from FIG. 2 (a), for example, assuming that a blob having luminance in the range of a to b tones is generated in the display device to be inspected, the blob has a gradation range below the decimal point within the luminance range. It will be included.

그런데, 도 2(b)에서 알 수 있듯이, 일반적인 디스플레이 장치는 정수의 계조 범위의 휘도를 가지도록 설계되어 있기 때문에, 피검사 디스플레이 장치에서 발생한 얼룩과 유사한 휘도 범위를 가지는 얼룩 화상을 생성시키는 것은 어렵다. 즉, 도 2(b)와 같이 일반적인 디스플레이 장치는 a 계조와 b 계조 사이에서 계단식 휘도 차를 가지는 얼룩 화상을 생성하게 되어, 실제로 발생하는 얼룩의 형태와 상이하게 된다. However, as can be seen from FIG. 2 (b), since a general display device is designed to have a brightness of an integer gradation range, it is difficult to generate a blob image having a brightness range similar to that of a blob generated in the inspected display device. . That is, as shown in (b) of FIG. 2, a general display apparatus generates a blob image having a stepped luminance difference between the a to b b tones, which is different from the shape of the blob actually generated.

따라서, 도 2(c)에서와 같이, a 계조 내지 b 계조 범위에서 소수점 이하의 계조도 표현할 수 있어야 피검사 디스플레이 장치에서 발견된 얼룩과 유사한 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있다. Therefore, as shown in FIG. 2 (c), gray scales below the decimal point can also be expressed in the range of a gray scale to b gray scale to generate spot image data similar to spots found in the inspected display device.

이와 같이, 소수점 이하의 계조를 표현하기 위해서, 본 발명의 일 실시예에서는 디더링(Dithering) 및 FRC(Frame Rate Contro) 기법을 이용할 수 있다. As described above, in order to express gray scales below the decimal point, dithering and Frame Rate Contro (FRC) techniques may be used in an embodiment of the present invention.

상기 디더링 및 FRC 기법은 화면상의 화소를 일정한 크기의 디더 블록으로 분할하여 디더 블록 내의 화소의 휘도를 프레임마다 다르게 함으로써 정해진 계조의 수보다 더욱 많은 계조를 표현할 수 있게 하는 기법이다. The dithering and FRC techniques divide a pixel on a screen into a dither block of a predetermined size, and thus may represent more gray levels than a predetermined number of gray levels by varying the luminance of the pixels in the dither block for each frame.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 소수점 이하의 계조를 표현하는 방법을 보여주는 그림이다. 3 is a diagram illustrating a method of expressing gray scales below the decimal point according to an embodiment of the present invention.

도 3에서 알 수 있듯이, 예로서, 199 계조와 200 계조 사이의 199.25 계조, 199.5 계조, 및 199.75 계조를 구현해야 한다고 가정하면, 각각의 프레임에서 199 계조와 200 계조를 적절히 조합함으로써, 199.25 계조, 199.5 계조, 및 199.75 계조를 구현할 수 있게 된다. As can be seen in FIG. 3, for example, assuming that 199.25 gray, 199.5 gray, and 199.75 gray between 199 gray and 200 gray should be implemented, 199.25 gray, 199.5 gradation, and 199.75 gradation can be realized.

구체적으로, 각각의 프레임(Fr.1, Fr.2, Fr.3, Fr.4) 마다 총 4개의 화소 중에서 3개의 화소는 199 계조를 표현하고 1개의 화소는 200 계조를 표현함으로써, 199.25 계조를 구현할 수 있다. 또한, 각각의 프레임(Fr.1, Fr.2, Fr.3, Fr.4) 마다 총 4개의 화소 중에서 2개의 화소는 199 계조를 표현하고 2개의 화소는 200 계조를 표현함으로써, 199.5 계조를 구현할 수 있다. 또한, 각각의 프레임(Fr.1, Fr.2, Fr.3, Fr.4) 마다 총 4개의 화소 중에서 3개의 화소는 200 계조를 표현하고 1개의 화소는 199 계조를 표현함으로써, 199.75 계조를 구현할 수 있다. Specifically, among each of the four pixels in each frame Fr.1, Fr.2, Fr.3, and Fr.4, three pixels represent 199 gray levels and one pixel represents 200 gray levels, thereby providing 199.25 gray levels. Can be implemented. Also, in each of the frames Fr.1, Fr.2, Fr.3, and Fr.4, two pixels represent 199 gray levels and two pixels represent 200 gray levels, thereby providing 199.5 gray levels. Can be implemented. In addition, among each of four pixels in each frame (Fr.1, Fr.2, Fr.3, Fr.4), three pixels represent 200 gray levels and one pixel represents 199 gray levels, thereby providing 199.75 gray levels. Can be implemented.

다시 도 2를 참조하면, 상기 데이터 생성부(34)는 디더링(Dithering) 및 FRC(Frame Rate Contro) 기능을 수행하는 프로그램을 탑재하고 있어서, 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩과 최대한 가까운 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있게 되는데, 이를 위해서는 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩의 휘도 정보를 얻기 위한 장치가 추가로 요구되며, 따라서, 본 발명은 상기 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩의 휘도 정보를 얻기 위한 휘도 측정 장치를 추가로 포함할 수 있다. 상기 휘도 측정 장치는 당업계에 공지된 다양한 장치가 이용될 수 있다. Referring back to FIG. 2, the data generator 34 includes a program that performs a function of dithering and frame rate control (FRC), so that the unevenness and the maximum amount of spots newly found in the inspected display apparatus 1 are maximized. It is possible to generate near spot image data. To this end, an apparatus for obtaining luminance information of a newly found spot in the inspected display apparatus 1 is additionally required, and accordingly, the present invention provides the above-described inspected display apparatus 1. ) May further include a luminance measuring device for obtaining luminance information of the newly found spot. The luminance measuring device may be a variety of devices known in the art.

결국, 상기 휘도 측정 장치를 이용하여 측정한 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩의 휘도 정보를 이용하여, 상기 데이터 생성부(34)에서 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성하고, 생성된 얼룩 화상 데이터와 작업자 또는 전문가 집단에 의해서 결정한 불량 유무 데이터를 상기 데이터 저장부(32)에 저장한다. As a result, new spot image data is generated by the data generating unit 34 by using the luminance information of the spot newly found in the inspected display apparatus 1 measured by the brightness measuring apparatus, and the generated spot image The data and the defect data determined by the worker or the expert group are stored in the data storage unit 32.

상기 컨트롤부(40)는 상기 데이터 관리부(30)를 컨트롤하여 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 적절한 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보가 디스플레이될 수 있도록 한다. The control unit 40 controls the data management unit 30 so that the appropriate reference spot image and defect information can be displayed on the reference display device 20.

구체적으로, 상기 컨트롤부(40)는 상기 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는 다양한 얼룩 데이터에 근거한 얼룩 화상이 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이될 수 있도록 하고, 디스플레이되는 다양한 얼룩 화상 중에서 기준 얼룩 화상이 선정될 수 있도록 하고, 선정된 기준 얼룩 화상 및 그에 대한 불량 유무 정보가 계속하여 디스플레이될 수 있도록 한다. Specifically, the control unit 40 allows a blot image based on various blot data stored in the data storage unit 32 to be displayed on the reference display device 20, and among the displayed blot images. The spot image can be selected, and the selected reference spot image and information on whether there is a defect can be continuously displayed.

또한, 상기 컨트롤부(40)는 상기 데이터 생성부(34)에서 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있도록 하고, 생성한 얼룩 화상 데이터를 상기 데이터 저장부(32)에 저장할 수 있도록 한다. In addition, the control unit 40 allows the data generating unit 34 to generate new spot image data and to store the generated spot image data in the data storage unit 32.

이상과 같은 기능을 할 수 있는 컨트롤부(40)는 작업자가 조작할 수 있도록 구성되며, 이를 위해서 마우스 또는 터치 패널 등과 같은 입력 수단이 상기 컨트롤부(40)에 구비되어 있다. 즉, 상기 컨트롤부(40)는 마우스 또는 터치 패널 등과 같은 입력 수단을 구비하고 있어, 작업자가 상기 입력 수단을 이용하여 상기 컨트롤부(40)를 조작할 수 있다. The control unit 40 capable of the above functions is configured to be operated by the operator, for this purpose, the control unit 40 is provided with input means such as a mouse or a touch panel. That is, the control unit 40 is provided with an input means such as a mouse or a touch panel, so that an operator can operate the control unit 40 using the input means.

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 보여주는 검사 흐름도이다. 이하, 도 1 및 도 4를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법에 대해서 설명하기로 한다. 앞서 설명한 구성과 관련하여 중복되는 구성에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다. 4 is an inspection flowchart illustrating an inspection method of a display apparatus according to an exemplary embodiment. Hereinafter, an inspection method of a display apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 4. Detailed description of the overlapping configuration with respect to the above-described configuration will be omitted.

우선, 피검사 디스플레이 장치(1)를 이송한다(100S). First, the test | inspection display apparatus 1 is conveyed (100S).

이 공정(100S)은 이송부(10)에 의해서 피검사 디스플레이 장치(1)를 기준 디스플레이 장치(200) 근방의 검사 위치로 이송하는 공정으로 이루어진다. This process 100S consists of a process of conveying the test | inspection display apparatus 1 to the test | inspection position of the reference display apparatus 200 by the conveyance part 10. FIG.

다음, 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한지 판단한다(110S). Next, it is determined whether reference spot data selection is possible (110S).

이 공정(110S)은 작업자가 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터가 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는지 여부를 판단하는 공정으로 이루어진다. This step (110S) is a step in which the operator determines whether the blob data associated with the blob of the inspection target display device 1 is stored in the data storage unit (32).

상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터가 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는지 여부를 판단하는 공정은, 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 상기 데이터 저장부(32)에 저장된 다양한 얼룩 데이터에 근거한 다양한 얼룩 화상을 상기 기준 디스플레이 장치(20)를 통해 보는 공정을 포함하여 이루어진다. In the process of determining whether or not spot data related to the spot of the inspected display apparatus 1 is stored in the data storage unit 32, an operator operates the control unit 40 to the data storage unit 32. And viewing the various spot images based on the stored various spot data through the reference display device 20.

다음, 전술한 공정(110S)에서 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한 경우(Yes), 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하고(120S), 피검사 디스플레이 장치(1)의 불량 유무를 판단한 후(130S), 판단 결과에 따라 피검사 디스플레이 장치(1)를 양품 또는 불량품으로 분류한다(140S). Next, if reference spot data selection is possible in the above-described process 110S (Yes), the reference spot image and defect information are displayed (120S), and after determining whether the inspected display device 1 is defective (130S). In accordance with the determination result, the inspected display device 1 is classified as good or defective (140S).

상기 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하는 공정(120S)은, 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여, 상기 선정된 기준 얼룩 데이터에 기초한 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이하도록 하는 공정을 포함하여 이루어진다. In the step 120S of displaying the reference spot image and defect information, the operator operates the control unit 40 to display the reference spot image and defect information based on the selected reference spot data. Including a process to display in the.

상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 불량 유무를 판단하는 공정(130S)은, 작업자가 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이되는 기준 얼룩 화상과 상기 피검사 디스플레이 장치(1)이 얼룩을 비교하는 공정을 포함하여 이루어진다. The process 130S of determining whether the inspected display device 1 is defective is a process in which an operator compares the spots of the reference spot image displayed on the reference display device 20 with the spots of the inspected display device 1. It is made, including.

상기 피검사 디스플레이 장치(1)를 양품 또는 불량품으로 분류하는 공정(140S)은 이송부(10)에 의해서 피검사 디스플레이 장치(1)를 적재 위치까지 이송하는 공정을 포함하여 이루어진다. The process 140S of classifying the inspected display device 1 as good or defective includes the process of transferring the inspected display device 1 to a stacking position by the transfer unit 10.

다음, 전술한 공정(110S)에서 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우(No), 새로운 얼룩 데이터를 생성하고(150S), 생성한 얼룩 데이터를 저장한다(160S). Next, when selection of the reference spot data is impossible (No) in the above-described process 110S, new spot data is generated (150S), and the generated spot data is stored (160S).

이와 같은 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우(No)에 있어서의 구체적인 검사 방법은 도 5를 참조하여 보다 상세히 설명하기로 한다. A detailed inspection method in the case where it is impossible to select the reference spot data (No) will be described in more detail with reference to FIG. 5.

도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우의 디스플레이 장치의 검사 방법을 보여주는 검사 흐름도이다. 이하, 도 1 및 도 5를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법에 대해서 설명하기로 한다. 앞서 설명한 구성과 관련하여 중복되는 구성에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다. FIG. 5 is an inspection flowchart illustrating a method of inspecting a display apparatus when it is impossible to select reference spot data according to an embodiment of the present invention. Hereinafter, an inspection method of a display apparatus according to an exemplary embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 5. Detailed description of the overlapping configuration with respect to the above-described configuration will be omitted.

우선, 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우(200S), 피검사 디스플레이 장치의 얼룩의 휘도를 측정한다(210S). First, when the selection of the reference spot data is impossible (200S), the luminance of the spots of the inspected display apparatus is measured (210S).

다음, 측정한 휘도 정보에 근거하여 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성하고(220S), 그 얼룩 화상 데이터의 불량 유무를 결정한다(230S).Next, new spot image data is generated based on the measured luminance information (220S), and whether or not the spot image data is defective is determined (230S).

상기 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성하는 공정(220S)은 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 디더링 및 FRC 기능을 구비한 데이터 생성부(34)에서 수행한다. The process 220S of generating the new spot image data is performed by a data generator 34 having a dithering and FRC function by an operator operating the control unit 40.

상기 얼룩 화상 데이터의 불량 유무를 결정하는 공정(230S)은 작업자 또는 전문가 집단에 의해서 결정한다. The process 230S of determining whether the spot image data is defective is determined by a worker or a professional group.

다음, 얼룩 데이터를 저장하고(240S), 피검사 디스플레이 장치(1)를 양품 또는 불량품으로 분류한다(250S). Next, the spot data is stored (240S), and the inspected display device 1 is classified as good or defective (250S).

상기 얼룩 데이터를 저장하는 공정(240S)은 전술한 공정(220S)에서 생성된 얼룩 화상 데이터 및 전술한 공정(230S)에서 결정한 불량 유무 데이터를 데이터 저장부(32)에 저장하는 공정을 포함하여 이루어진다. The process 240S of storing the spot data includes storing the spot image data generated in the above-described process 220S and the defect existence data determined in the above-described process 230S in the data storage unit 32. .

상기 피검사 디스플레이 장치(1)를 양품 또는 불량품으로 분류하는 공정(250S)은 전술한 공정(230S)에서 결정한 불량 유무 데이터에 근거하여 수행한다. The process 250S of classifying the inspected display apparatus 1 as good or defective is performed based on the defect data determined in the above-described process 230S.

1: 피검사 디스플레이 장치 10: 이송부
20: 기준 디스플레이 장치 30: 데이터 관리부
32: 데이터 저장부 34: 데이터 생성부
40: 컨트롤부1: Inspected display apparatus 10: Transfer part
20: reference display device 30: data management unit
32: data storage unit 34: data generation unit
40: control unit

Claims (10)

피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량 검사 기준을 제공하기 위해서, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하는 기준 디스플레이 장치;
상기 기준 디스플레이 장치에 상기 얼룩 불량 검사 기준이 되는 기준 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 제공하는 데이터 관리부; 및
상기 데이터 관리부를 컨트롤하는 컨트롤부를 포함하여 이루어지고,
상기 데이터 관리부는 상기 기준 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 저장하고 있는 데이터 저장부 및 상기 기준 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 데이터 생성부를 포함하여 이루어지고,
상기 데이터 생성부는 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 화상 데이터가 상기 데이터 저장부에 저장되어 있지 않은 경우, 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 얼룩 화상 데이터를 상기 기준 얼룩 화상 데이터로 생성하고,
상기 데이터 생성부에서 생성한 상기 기준 얼룩 화상 데이터는 상기 데이터 저장부에 저장되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템. A reference display device displaying a reference spot image and defect information in order to provide a spot defect inspection criterion of the inspected display device;
A data manager which provides the reference display device with reference spot image data and defect data as reference points of the spot defect inspection; And
It comprises a control unit for controlling the data management unit,
The data management unit includes a data storage unit for storing the reference spot image data and defect data, and a data generating unit for generating the reference spot image data.
If the reference spot image data associated with the spot of the inspected display apparatus is not stored in the data storage unit, the data generating unit generates spot image data related to the spot of the inspected display apparatus as the reference spot image data. ,
And the reference spot image data generated by the data generation unit is stored in the data storage unit. 제1항에 있어서,
상기 기준 디스플레이 장치에서 디스플레이하는 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보는, 상기 데이터 저장부에 저장되어 있는 상기 기준 얼룩 화상 데이터 중에서 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 것으로 선정된 기준 얼룩 화상 데이터에 기초한 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.The method of claim 1,
The reference spot image and defect information displayed by the reference display device are based on reference spot image data selected as being related to the spot of the inspected display device among the reference spot image data stored in the data storage unit. The inspection system of a display apparatus. 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 데이터 생성부는 상기 기준 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 프로그램을 탑재하고 있고, 상기 프로그램은 디더링 및 FRC 기능을 수행할 수 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.The method of claim 1,
And the data generator includes a program capable of generating the reference spot image data, the program capable of performing dithering and FRC functions. 삭제delete 제1항에 있어서,
상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩의 휘도를 측정하기 위한 휘도 측정 장치를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.The method of claim 1,
And a luminance measuring device for measuring the luminance of the spot of the inspected display device. 제1항에 있어서,
상기 컨트롤부는 작업자가 상기 데이터 관리부를 컨트롤할 수 있도록 입력 수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.The method of claim 1,
And the control unit includes an input unit so that an operator can control the data management unit. 피검사 디스플레이 장치를 기준 디스플레이 장치 근방의 검사 위치로 이송하는 공정;
상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 데이터가 데이터 관리부 내의 데이터 저장부에 저장되어 있는지 판단하는 공정;
상기 기준 얼룩 데이터가 상기 데이터 저장부에 저장되어 있는 경우, 상기 기준 얼룩 데이터에 기초한 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 상기 기준 디스플레이 장치에서 디스플레이하고, 상기 기준 얼룩 화상과 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩을 비교하는 공정; 및
상기 기준 얼룩 데이터가 상기 데이터 저장부에 저장되어 있지 않은 경우, 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 화상 데이터를 상기 데이터 관리부 내의 데이터 생성부에서 생성하여 상기 데이터 저장부에 저장하는 공정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.Transferring the inspected display device to an inspection position near the reference display device;
Determining whether reference spot data related to spots of the inspected display apparatus are stored in a data storage unit in a data manager;
When the reference spot data is stored in the data storage unit, the reference spot image and defect information based on the reference spot data are displayed on the reference display device, and the reference spot image and the spot of the inspected display device are displayed. Comparing process; And
If the reference spot data is not stored in the data storage unit, generating reference spot image data related to the spot of the inspected display apparatus in a data generation unit in the data management unit and storing the reference spot image data in the data storage unit. Inspection method of the display device, characterized in that made. 제8항에 있어서,
상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터를 생성하고 저장하는 공정은,
상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩의 휘도를 측정하는 공정;
상기 측정한 휘도 정보에 근거하여 상기 기준 얼룩 화상 데이터를 생성하는 공정; 및
상기 기준 얼룩 화상 데이터를 상기 데이터 저장부에 저장하는 공정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.The method of claim 8,
The process of generating and storing spot data associated with the spot of the inspected display device,
Measuring luminance of spots of the inspected display device;
Generating the reference spot image data based on the measured luminance information; And
And storing the reference spot image data in the data storage unit. 삭제delete
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