KR101969294B1 - 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치 - Google Patents

온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치에 관한 것으로, 전류 센서에 구비되는 홀 센서의 온도를 측정하는 온도 측정 기능이 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC에 탑재되지 않고, 홀 센서 자체에 구현되어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC을 홀 센서와 멀리 이격 설치할 수 있어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC의 온도 상승을 방지할 수 있으므로, 안정적인 전류 센서 측정 및 구동 제어가 가능하다.

Description

온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치{Current sensor apparatus with self-integrated temperature measurement feature}
본 발명은 홀 효과(Hall Effect)에 의해 홀 전압(Hall Voltage)을 출력하는 홀 센서(Hall Sensor)를 구비하는 전류 센서에 관련한 것으로, 특히 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치에 관한 것이다.
전류를 감지하는 전류 센서 중에 자계 속에 홀 센서를 설치하여 홀 전압을 측정함으로써 자계의 강도, 즉 전류의 강약을 검지하는 홀 센서 방식 전류 센서가 있다.
홀 센서(Hall Sensor)는 홀 효과(Hall Effect)를 이용한 자기-전기 변환기(Magnetic-Electro Transducer)이다. 홀 센서의 출력 전압인 홀 전압(VH)은 다음과 같은 식으로 표현된다.
Figure 112017100575718-pat00001
여기서, RH는 홀 계수(Hall Coefficient)이고, d는 홀 센서의 홀 소자로 사용되는 반도체 물질의 두께이고, Ic는 홀 센서 입력 전류 즉, 홀 센서 구동 전류이고, B는 자속 밀도(Magnetic Flux Density)이다.
위 식에서 알 수 있듯이, 홀 센서의 출력 전압인 홀 전압(VH)은 홀 계수 RH와, 홀 센서 구동 전류 Ic와 자속 밀도 B에 비례하고, 홀 센서의 홀 소자로 사용되는 반도체 물질의 두께 d에 반비례함을 볼 수 있다.
한편, 홀 센서 구동 전류 Ic는 홀 센서 구동 전압에 비례하고, 홀 센서 입력단 저항에 반비례하고, 저항은 온도에 따라 변하는 성질이 있으므로, 홀 센서의 출력 전압인 홀 전압(VH)은 온도에 따라 달라진다.
그 이유는 저항은 결정 구조의 결함 즉, 결정내에 전자의 유동성을 방해하는 불순물이 포함되어 있을 경우 발생하며, 결정내에서의 전자의 유동성은 온도가 높을수록 활발해져서 온도가 높을수록 결함의 수가 증가하여 저항이 커지기 때문이다.
따라서, 온도에 따라 홀 센서 출력 전압인 홀 전압이 달라지는 문제를 해결하기 위해 온도에 따라 홀 센서 출력 전압을 적절하게 보상하여 정규화해야 한다. 온도에 따라 홀 센서 출력 전압을 적절하게 보상하여 정규화하는 기술로, 대한민국 공개특허 제10-2011-0114976호(2011.10.20)에서 제안한 홀 센서의 온도 보상 장치를 제안하고 있다.
이 기술은 온도에 의존적인 홀 센서 출력 전압을 보상하기 위해 홀 센서로 구동 전류를 공급하는 정전압원의 출력 전압에 온도에 따른 보상 전압을 가산하여 온도에 의존적인 홀 센서 출력 전압을 보상한다. 온도에 의존적인 홀 센서 출력 전압을 보상하기 위해서는 먼저 홀 센서 온도를 측정해야 한다.
그런데, 종래의 경우 전류 센서에 사용되는 홀 센서의 온도를 측정하는 온도 센서가 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC(Application Specific Integrated Circuit) 내부에 탑재되어 홀 센서를 ASIC과 근접 설치해야만 했기 때문에, 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC의 온도가 상승하는 문제가 있었다.
대한민국 공개특허 제10-2011-0114976호(2011.10.20)
본 발명은 홀 센서의 온도를 측정하는 온도 측정 기능이 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC에 탑재되지 않고, 홀 센서 자체에 구현되어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC을 홀 센서와 멀리 이격 설치할 수 있으므로, 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC의 온도 상승을 방지할 수 있는 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치를 제공함을 그 목적으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 양상에 따르면, 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치가 대향되는 양단면에 의해 갭이 형성되는 요크(Yoke)와, 요크에 형성되는 갭에 설치되어 홀 효과(Hall Effect)에 의해 홀 전압(Hall Voltage)을 출력하는 홀 소자(Hall Device)와, 홀 소자 입력단에 정전류를 인가하는 정전류원(Static Current Source)과, 정전류원에 의해 홀 소자 입력단으로 인가되는 정전류에 따른 입력 전압을 측정하는 입력 전압 측정부와, 홀 소자 출력단에서 출력되는 출력 전압인 홀 전압을 측정하는 출력 전압 측정부와, 입력 전압 측정부에 의해 측정되는 입력 전압을 이용해 온도를 계산하는 온도 계산부와, 출력 전압 측정부에 의해 측정되는 출력 전압으로부터 피측정 전류를 계산하되, 온도 계산부에 의해 계산되는 온도에 따라 피측정 전류를 보정하는 보정부를 포함하는 제어부를 포함한다.
본 발명의 부가적인 양상에 따르면, 온도 계산부가 홀 소자 입력단으로 인가되는 정전류와, 입력 전압 측정부에 의해 측정되는 입력 전압으로부터 저항을 구하고, 구해진 저항 대비 온도값을 룩업 테이블로부터 검색한다.
본 발명의 부가적인 양상에 따르면, 보정부가 온도 계산부에 의해 계산된 온도 대비 전류 보정값을 룩업 테이블로부터 검색하고, 검색된 온도 대비 전류 보정값을 피측정 전류에 반영하여 보정한다.
본 발명의 부가적인 양상에 따르면, 제어부가 입력 전압 측정부에 의해 측정되는 아날로그 입력 전압과, 출력 전압 측정부에 의해 측정되는 아날로그 출력 전압을 디지털값으로 각각 변환하는 A/D 컨버터 쌍과, A/D 컨버터 쌍 각각의 정격 입력 범위에 따라 증폭률을 각각 가변시키는 가변 증폭기 쌍을 더 포함한다.
본 발명의 부가적인 양상에 따르면, 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치가 출력 전압 측정부에 의해 출력되는 아날로그 출력 전압을 비상용으로 외부로 직접 출력한다.
본 발명의 부가적인 양상에 따르면, 정전류원이 출력 정전류의 크기를 일정 배율로 조정할 수 있는 n배 이득 전류 미러 회로를 포함한다.
본 발명의 부가적인 양상에 따르면, 제어부가 정전류원의 출력 정전류의 크기를 조정 제어하는 구동 전류 제어부를 더 포함한다.
본 발명은 홀 센서의 온도를 측정하는 온도 측정 기능이 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC에 탑재되지 않고, 홀 센서 자체에 구현되어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC을 홀 센서와 멀리 이격 설치할 수 있어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC의 온도 상승을 방지할 수 있으므로, 안정적인 전류 센서 측정 및 구동 제어가 가능한 효과가 있다.
또한, 본 발명은 전류 센서에 구비되는 홀 센서 자체에 구현되는 온도 측정 기능을 통해 홀 센서의 온도를 간편하게 측정하여 온도에 의존적인 홀 센서의 출력 전압을 간편하게 보상할 수 있는 효과가 있다.
도 1 은 본 발명에 따른 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치의 일 실시예의 구성을 도시한 블럭도이다.
도 2 는 본 발명에 따른 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치의 정전류원의 일 실시예의 구성을 도시한 블럭도이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 기술되는 바람직한 실시예를 통하여 본 발명을 당업자가 용이하게 이해하고 재현할 수 있도록 상세히 기술하기로 한다. 특정 실시예들이 도면에 예시되고 관련된 상세한 설명이 기재되어 있으나, 이는 본 발명의 다양한 실시예들을 특정한 형태로 한정하려는 것은 아니다.
본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명 실시예들의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해될 수 있어야 할 것이다.
도 1 은 본 발명에 따른 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치의 일 실시예의 구성을 도시한 블럭도이다. 도 1 에 도시한 바와 같이, 이 실시예에 따른 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치(100)는 요크(Yoke)(110)와, 홀 소자(Hall Device)(120)와, 정전류원(Static Current Source)(130)과, 입력 전압 측정부(140)와, 출력 전압 측정부(150)와, 제어부(160)를 포함한다.
요크(110)는 대향되는 양단면에 의해 갭(111)이 형성된다. 예컨대, 요크(110)는 양단면이 대향되도록 일부가 절개된 복수의 규소 강판을 적층한 적층 코어일 수 있다.
홀 소자(120)는 요크(110)에 형성되는 갭(111)에 설치되어 홀 효과(Hall Effect)에 의해 홀 전압(Hall Voltage)을 출력한다. 예컨대, 홀 소자(100)가 인듐 안티몬(InSb) 또는 갈륨아세나이드(GaAs) 등의 재질의 얇은 반도체 조각이 세라믹 또는 플라스틱 기판 위에 부착되거나 또는 도포된 형태로 IC 칩에 모듈될 수 있다.
홀 소자(100)의 가로방향으로 전압을 인가하여 전류가 흐르도록 하고, 요크(110)를 통해 전류에 수직한 방향으로 자속을 통과시키면, 로렌쯔 힘(Lorentz Force)에 의해 전하가 옆으로 편향되어 홀 소자(100)의 세로방향 양단에 홀 전압이 발생된다.
이 때, 홀 소자(100) 마다 공정상 이유로 온도 특성에 작은 변동(variation)이 있지만, 홀 소자의 온도 특성 자체는 변하지 않기 때문에 홀 소자의 온도 특성을 이용해 홀 소자 온도 측정이 가능하다.
정전류원(130)은 홀 소자(120) 입력단에 정전류를 인가한다. 예컨대, 정전류원(130)이 출력 정전류의 크기를 일정 배율로 조정할 수 있는 n배 이득 전류 미러 회로로 구현될 수 있다.
도 2 는 본 발명에 따른 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치의 정전류원의 일 실시예의 구성을 도시한 블럭도이다. 도 2 에 도시한 바와 같이, 정전류원(130)은 밴드갭 전압 기준회로(bandgap voltage reference circuit)(131)와, 전압-전류 변환부(132)와, 가변전류 증폭부(133)를 포함한다.
밴드갭 전압 기준회로(131)는 온도에 관계없이 일정한 전압을 출력한다. 밴드갭 전압 기준회로(131)는 온도에 무관한(temperature independent) 기준 전압(reference voltage)을 출력하는 공지된 회로이다.
전압-전류 변환부(132)는 밴드갭 전압 기준회로의 출력전압을 일정한 전류로 변환한다. 전압-전류 변환부(132)는 OP 앰프로 가변전류 증폭부(133) 입력단을 구동하며, 기준 전압을 온도에 무관한 정전류로 변환한다.
가변전류 증폭부(133)는 n-배 이득 전류 미러 회로(n-gain current mirror circuit)로 구현될 수 있다. n-배 이득 전류 미러 회로의 출력 정전류의 크기는 제1 출력단 및 제2 출력단을 각각 구성하는 복수의 트랜지스터들에 각각 연결된 제1 아날로그 스위치 어레이 및 제2 아날로그 스위치 어레이를 제어함에 의해 제어된다. 제1 출력단의 아날로그 스위치 어레이(QB0~QB4) 및 제2 출력단의 아날로그 스위치 어레이(Q0~Q4) 중 대응되는 하나 혹은 복수개의 스위치 쌍을 온/오프시킴에 의해 기준 전류에 대해 출력되는 전류의 크기를 n배율로 제어할 수 있다
입력 전압 측정부(140)는 정전류원(130)에 의해 홀 소자(120) 입력단으로 인가되는 정전류에 따른 입력 전압을 측정한다. 예컨대, 입력 전압 측정부(140)로 정밀 전압 계측기가 사용될 수 있다.
온도에 따라 홀 센서 출력 전압인 홀 전압이 달라지는 문제를 해결하기 위해 온도에 따라 홀 센서 출력 전압을 적절하게 보상하여 정규화해야 하고, 이를 위해서 홀 센서의 온도를 측정해야 한다.
종래의 경우 홀 센서의 온도를 측정하는 온도 센서가 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC(Application Specific Integrated Circuit) 내부에 별도로 탑재되어 홀 센서를 ASIC과 근접 설치해야만 했기 때문에, 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC의 온도가 상승하는 문제가 있었다.
본 발명은 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC(Application Specific Integrated Circuit) 내부에 온도 센서를 별도로 탑재하지 않고, 홀 센서 온도 계산에 이용되는 홀 소자(120) 입력단으로 인가되는 정전류에 따른 입력 전압을 입력 전압 측정부(140)를 통해 측정한다.
이 때, 홀 소자(120)가 모듈되는 IC칩에 입력 전압 측정부(140)를 같이 모듈시키면, 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC(Application Specific Integrated Circuit)에 온도 센서를 탑재하지 않아도 되므로, 홀 센서를 ASIC과 근접 설치할 필요가 없어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC의 홀 센서 근접 설치에 의한 온도 상승 문제를 해결할 수 있다.
출력 전압 측정부(150)는 홀 소자(120) 출력단에서 출력되는 출력 전압인 홀 전압을 측정한다. 예컨대, 출력 전압 측정부(150)로 정밀 전압 계측기가 사용될 수 있다. 이 때, 홀 소자(120)가 모듈되는 IC칩에 출력 전압 측정부(150)를 같이 모듈시킬 수 있다.
제어부(160)는 출력 전압 측정부(150)에 의해 측정되는 출력 전압으로부터 피측정 전류를 계산하되, 입력 전압 측정부(140)에 의해 측정되는 입력 전압을 이용해 계산되는 온도에 따라 피측정 전류를 보정한다.
이 때, 제어부(160)는 홀 소자(120)가 모듈되는 IC칩과는 이격된 별도의 ASIC에 모듈되어 홀 센서와 근접되지 않으므로, 홀 센서에 의한 온도 상승 문제를 해결할 수 있어, 안정적인 전류 센서 측정 및 구동 제어가 가능해 진다.
제어부(160)는 온도 계산부(161), 보정부(162)를 포함한다. 온도 계산부(161)는 입력 전압 측정부(140)에 의해 측정되는 입력 전압을 이용해 온도를 계산한다.
이 때, 온도 계산부(161)가 홀 소자(120) 입력단으로 인가되는 정전류와, 입력 전압 측정부(140)에 의해 측정되는 입력 전압으로부터 저항을 구하고, 구해진 저항 대비 온도값을 룩업 테이블로부터 검색함으로써 홀 센서 온도를 얻도록 구현될 수 있다. 저항 대비 온도값을 저장하는 룩업 테이블은 메모리(도면 도시 생략)에 저장될 수 있다.
보정부(162)는 출력 전압 측정부(150)에 의해 측정되는 출력 전압으로부터 피측정 전류를 계산하되, 온도 계산부(161)에 의해 계산되는 온도에 따라 피측정 전류를 보정한다.
이 때, 보정부(162)가 온도 계산부(161)에 의해 온도 계산부(161)에 의해 계산된 온도 대비 전류 보정값을 룩업 테이블로부터 검색하고, 검색된 온도 대비 전류 보정값을 피측정 전류에 반영하여 보정하도록 구현될 수 있다. 온도 대비 전류 보정값을 저장하는 룩업 테이블은 메모리(도면 도시 생략)에 저장될 수 있다.
이와 같이 구현함에 의해 본 발명은 홀 센서의 온도를 측정하는 온도 측정 기능이 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC에 탑재되지 않고, 홀 센서 자체에 구현되어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC을 홀 센서와 멀리 이격 설치할 수 있어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC의 온도 상승을 방지할 수 있으므로, 안정적인 전류 센서 측정 및 구동 제어가 가능해 진다.
또한, 본 발명은 전류 센서에 구비되는 홀 센서 자체에 구현되는 온도 측정 기능을 통해 홀 센서의 온도를 간편하게 측정하여 온도에 의존적인 홀 센서의 출력 전압을 간편하게 보상할 수 있다.
한편, 발명의 부가적인 양상에 따르면, 제어부(160)가 A/D 컨버터 쌍(163a, 163b)과, 가변 증폭기 쌍(164a, 164b)을 더 포함할 수 있다.
A/D 컨버터 쌍(163a, 163b)은 입력 전압 측정부(140)에 의해 측정되는 아날로그 입력 전압과, 출력 전압 측정부(150)에 의해 측정되는 아날로그 출력 전압을 디지털값으로 각각 변환한다.
입력 전압 측정부(140)에 의해 측정되는 아날로그 입력 전압과, 출력 전압 측정부(150)에 의해 측정되는 아날로그 출력 전압이 A/D 컨버터 쌍(163a, 163b) 각각의 정격 입력 범위에 맞추어 변환되므로, A/D 컨버터 쌍(163a, 163b)의 해상도를 충분히 활용하여 정밀한 출력을 달성할 수 있다.
가변 증폭기 쌍(164a, 164b)은 A/D 컨버터 쌍(163a, 163b) 각각의 정격 입력 범위에 따라 증폭률을 각각 가변시킨다. 이 때, 가변 증폭기 쌍(164a, 164b)의 오프셋과 증폭률은 홀 센서 특성과 A/D 컨버터 쌍(163a, 163b)의 정격 입력 범위에 따라 결정되는 값으로 설정될 수 있다. 가변 증폭기 쌍(164a, 164b)의 오프셋(offset)과 증폭률(gain)이 홀 센서의 특성에 따라 설정되므로, 발생 가능한 홀 센서 출력의 큰 편차가 제거된다.
한편, 발명의 부가적인 양상에 따르면, 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치(100)가 출력 전압 측정부(150)에 의해 출력되는 아날로그 출력 전압을 비상용으로 외부로 직접 출력하는 아날로그 출력부(170)를 더 포함할 수 있다.
홀 센서는 전기 자동차의 속도 제어를 위한 전류를 센싱하는 전류 센서 등에서 대전류 측정을 위해 사용되므로, 출력 전압 측정부(150)에 의해 출력되는 아날로그 출력 전압을 아날로그 출력부(170)를 통해 비상용으로 외부로 직접 출력하고, 예컨대, 전기 자동차의 ECU 등에서 아날로그 출력부(170)를 통해 비상용으로 출력되는 아날로그 출력 전압이 기준치 이상인지 판단하여, 기준치 이상일 경우, 과전압을 경고하거나 전원 공급을 차단시킴으로써 위험을 방지할 수 있다.
한편, 발명의 부가적인 양상에 따르면, 제어부(160)가 구동 전류 제어부(165)를 더 포함할 수 있다. 구동 전류 제어부(165)는 정전류원의 출력 정전류의 크기를 조정 제어한다.
예컨대, 구동 전류 제어부(165)가 홀 센서의 특성에 따라 결정되는 구동 전류값으로 정전류원(130)의 구동을 제어하도록 구현될 수 있다. 정전류원(130)은 구동 전류 제어부에 의해 홀 센서의 특성에 따라 결정되는 구동 전류값으로 구동되어 홀 소자(100) 입력단에 정전류를 인가한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 홀 센서의 온도를 측정하는 온도 측정 기능이 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC에 탑재되지 않고, 홀 센서 자체에 구현되어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC을 홀 센서와 멀리 이격 설치할 수 있어 전류 센서를 구동하는 제어부인 ASIC의 온도 상승을 방지할 수 있으므로, 안정적인 전류 센서 측정 및 구동 제어가 가능하다.
또한, 본 발명은 전류 센서에 구비되는 홀 센서 자체에 구현되는 온도 측정 기능을 통해 홀 센서의 온도를 간편하게 측정하여 온도에 의존적인 홀 센서의 출력 전압을 간편하게 보상할 수 있으므로, 상기에서 제시한 본 발명의 목적을 달성할 수 있다.
본 발명의 다양한 실시예에 따른 장치(예: 모듈들 또는 그 기능들) 또는 방법(예: 동작들)의 적어도 일부는, 예컨대, 프로그래밍 모듈의 형태로 컴퓨터로 읽을 수 있는 저장매체(Computer-Readable Storage Media)에 저장된 명령어로 구현될 수 있다.
명령어는, 하나 이상의 프로세서에 의해 실행될 경우, 하나 이상의 프로세서가 명령어에 해당하는 기능을 수행할 수 있다. 컴퓨터로 읽을 수 있는 저장매체는 프로그래밍 모듈의 적어도 일부는, 예를 들면, 프로세서에 의해 구현(Implement)(예: 실행)될 수 있다. 프로그래밍 모듈의 적어도 일부는 하나 이상의 기능을 수행하기 위한, 예를 들면, 모듈, 프로그램, 루틴, 명령어 세트(Sets of Instructions) 또는 프로세스 등을 포함할 수 있다.
그리고, 본 명세서 및 도면에 개시된 다양한 실시예들은 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것일 뿐이며, 본 발명의 다양한 실시예들의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다.
따라서, 본 발명의 다양한 실시예들의 범위는 여기에서 설명된 실시예들 이외에도 본 발명의 다양한 실시예들의 기술적 사상을 바탕으로 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 다양한 실예들의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.
본 발명은 홀 효과(Hall Effect)에 의해 홀 전압(Hall Voltage)을 출력하는 홀 센서(Hall Sensor) 관련 기술분야 및 이의 응용 기술분야에서 산업상으로 이용 가능하다.
100 : 전류 센서
110 : 요크
111 : 갭
120 : 홀 소자
130 : 정전류원
131 : 밴드갭 전압 기준회로
132 : 전압-전류 변환부
133 : 가변전류 증폭부
140 : 입력 전압 측정부
150 : 출력 전압 측정부
160 : 제어부
161 : 온도 계산부
162 : 보정부
163a, 163b : A/D 컨버터
164a, 164b : 가변 증폭기
165 : 구동 전류 제어부
170 : 아날로그 출력부

Claims (7)

  1. 대향되는 양단면에 의해 갭이 형성되는 요크(Yoke)와;
    요크에 형성되는 갭에 설치되어 홀 효과(Hall Effect)에 의해 홀 전압(Hall Voltage)을 출력하는 홀 소자(Hall Device)와;
    홀 소자 입력단에 정전류를 인가하는 정전류원(Static Current Source)과;
    정전류원에 의해 홀 소자 입력단으로 인가되는 정전류에 따른 입력 전압을 측정하는 입력 전압 측정부와;
    홀 소자 출력단에서 출력되는 출력 전압인 홀 전압을 측정하는 출력 전압 측정부와;
    홀 소자 입력단으로 인가되는 정전류와, 입력 전압 측정부에 의해 측정되는 입력 전압으로부터 저항을 구하고, 구해진 저항 대비 온도값을 룩업 테이블로부터 검색하여 온도를 계산하는 온도 계산부와, 출력 전압 측정부에 의해 측정되는 출력 전압으로부터 피측정 전류를 계산하되, 온도 계산부에 의해 계산되는 온도에 따라 피측정 전류를 보정하는 보정부를 포함하는 제어부를;
    포함하는 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    보정부가:
    온도 계산부에 의해 계산된 온도 대비 전류 보정값을 룩업 테이블로부터 검색하고, 검색된 온도 대비 전류 보정값을 피측정 전류에 반영하여 보정하는 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치.
  4. 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
    제어부가:
    입력 전압 측정부에 의해 측정되는 아날로그 입력 전압과, 출력 전압 측정부에 의해 측정되는 아날로그 출력 전압을 디지털값으로 각각 변환하는 A/D 컨버터 쌍과;
    A/D 컨버터 쌍 각각의 정격 입력 범위에 따라 증폭률을 각각 가변시키는 가변 증폭기 쌍을;
    더 포함하는 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치.
  5. 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
    온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치가:
    출력 전압 측정부에 의해 출력되는 아날로그 출력 전압을 비상용으로 외부로 직접 출력하는 아날로그 출력부를;
    더 포함하는 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치.
  6. 제 1 항 또는 제 3 항에 있어서,
    정전류원이:
    출력 정전류의 크기를 일정 배율로 조정할 수 있는 n배 이득 전류 미러 회로를 포함하는 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    제어부가:
    정전류원의 출력 정전류의 크기를 조정 제어하는 구동 전류 제어부를;
    더 포함하는 온도 측정 기능을 자체 구비한 전류 센서 장치.
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