KR101965095B1 - A composition for forming an adhesion layer, a method for producing a cured product, a method for producing an optical component, a method for producing a circuit board, a method for manufacturing an imprint mold, and a device part - Google Patents

A composition for forming an adhesion layer, a method for producing a cured product, a method for producing an optical component, a method for producing a circuit board, a method for manufacturing an imprint mold, and a device part Download PDF

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Abstract

밀착층 형성 조성물은 알콕시알킬 기 및 알킬올 기 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 함유하며, 분자당 알콕시알킬 기 및 알킬올 기 중 어느 한쪽의 수 또는 분자당 알콕시알킬 기 및 알킬올 기의 수가 총 적어도 5개인 화합물 (A), 및 티올 기를 분자당 적어도 2개 함유하는 화합물 (B)를 함유한다.The adhesive layer-forming composition contains either or both of an alkoxyalkyl group and an alkylol group, and the number of alkoxyalkyl groups and alkylol groups per molecule or the number of alkoxyalkyl groups and alkylol groups per molecule is at least 5 A specific compound (A), and a compound (B) containing at least two thiol groups per molecule.

Figure 112017083533914-pct00015
Figure 112017083533914-pct00015

Description

밀착층 형성 조성물, 경화물 패턴의 제조 방법, 광학 부품의 제조 방법, 회로 기판의 제조 방법, 임프린트용 몰드의 제조 방법, 및 디바이스 부품A composition for forming an adhesion layer, a method for producing a cured product, a method for producing an optical component, a method for producing a circuit board, a method for manufacturing an imprint mold, and a device part

본 발명은 밀착층 형성 조성물, 경화물 패턴의 제조 방법, 광학 부품의 제조 방법, 회로 기판의 제조 방법, 임프린트용 몰드의 제조 방법, 및 디바이스 부품에 관한 것이다.The present invention relates to a composition for forming an adhesion layer, a method for producing a cured product, a method for producing an optical component, a method for producing a circuit board, a method for manufacturing an imprint mold, and a device component.

반도체 디바이스, 마이크로전기기계 시스템 (MEMS) 등에서는, 미세가공의 요구가 높아지고 있다. 특히, 광 나노임프린트 기술이 주목받고 있다.BACKGROUND ART [0002] In semiconductor devices, microelectromechanical systems (MEMS) and the like, there is an increasing demand for microfabrication. In particular, optical nanoimprint technology is attracting attention.

광 나노임프린트 기술에서는, 표면에 미세한 요철 패턴을 갖는 몰드를 광경화성 조성물 (레지스트)이 코팅된 기판 (웨이퍼) 등의 기재에 대해 가압한 상태에서 상기 광경화성 조성물을 경화시킨다. 이에 의해, 몰드의 요철 패턴을 광경화성 조성물의 경화막에 전사하여, 요철 패턴을 기재 상에 형성한다. 광 나노임프린트 기술은 기재 상에 수 나노미터 오더의 미세한 구조를 형성할 수 있다.In the photo-nanoimprint technique, a mold having a fine concavo-convex pattern on its surface is pressed against a substrate such as a substrate (wafer) coated with a photo-curable composition (resist), and the photo-curable composition is cured. Thereby, the concavo-convex pattern of the mold is transferred to the cured film of the photo-curable composition to form the concavo-convex pattern on the substrate. The optical nanoimprint technique can form a fine structure of several nanometers order on a substrate.

광 나노임프린트 기술에서는, 기재의 패턴 형성 영역에 광경화성 조성물을 도포한다 (배치 단계). 이어서, 상기 광경화성 조성물을 패턴화된 몰드를 사용하여 성형한다 (몰드 접촉 단계). 광경화성 조성물에 광을 조사함으로써 광경화성 조성물을 경화 (광 조사 단계)시킨 다음, 이형시킨다 (이형 단계). 이들 단계를 통해, 미리 결정된 형상을 갖는 수지의 패턴 (광경화물)이 기재 상에 형성된다.In the photo-nanoimprint technique, the photo-curable composition is applied to the pattern formation region of the substrate (batch step). The photocurable composition is then molded using a patterned mold (mold contacting step). The photo-curable composition is cured (photoirradiation step) by irradiating light to the photo-curable composition, followed by release (release step). Through these steps, a pattern of resin (photopolymerization) having a predetermined shape is formed on the substrate.

광 나노임프린트 기술의 이형 단계에서는, 광경화성 조성물과 기재 사이의 밀착성이 중요하다. 이는 광경화성 조성물과 기재 사이의 밀착성이 낮은 경우에, 이형 단계에서 몰드를 분리하는 작업 시에, 광경화성 조성물을 경화시킴으로써 얻어진 광경화물의 일부가 몰드에 부착된 채로 박리되며, 즉 패턴 박리 결함이 발생되는 경우가 있기 때문이다.In the release step of the photo-nanoimprint technique, the adhesion between the photocurable composition and the substrate is important. When the adhesion between the photo-curable composition and the substrate is low, in the operation of separating the mold in the mold-releasing step, a part of the photo-cured product obtained by curing the photo-curable composition is peeled off while adhering to the mold, In some cases.

종래, 광경화성 조성물과 기재 사이의 밀착성을 향상시키는 기술로서, 광경화성 조성물과 기재 사이에, 광경화성 조성물과 기재를 밀착시키기 위한 밀착층을 형성하는 기술이 제안된 바 있다 (특허문헌 1).Conventionally, as a technique for improving the adhesion between the photocurable composition and a substrate, there has been proposed a technique for forming an adhesion layer between the photocurable composition and the substrate to adhere the photocurable composition to the substrate (Patent Document 1).

일본 특허 공개 제2013-202982호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-202982

특허문헌 1에 개시된 기술에서는, 경화성 베이스 수지 및 우레아 가교제를 함유하는 조성물을 사용하여 밀착층을 형성하고 있다. 그러나, 조성물이 우레아 가교제를 함유하기 때문에, 조성물의 경화성이 밀착층을 형성하기에 불충분하다. 따라서, 광경화성 조성물과 기재 사이의 밀착성을 충분히 향상시킬 수 없고, 패턴 박리 결함이 발생한다는 과제가 존재한다.In the technique disclosed in Patent Document 1, an adhesive layer is formed using a composition containing a curable base resin and a urea crosslinking agent. However, since the composition contains a urea crosslinking agent, the curability of the composition is insufficient to form the adhesive layer. Therefore, there is a problem that the adhesion between the photocurable composition and the substrate can not be sufficiently improved, and a pattern peeling defect occurs.

상기 상황을 감안하여, 본 발명은 패턴 박리 결함의 발생을 억제할 수 있는 밀착층 형성 조성물을 제공한다.In view of the above circumstances, the present invention provides an adhesive layer-forming composition capable of suppressing the occurrence of pattern peeling defects.

본 발명은 알콕시알킬 기 및 알킬올 기 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 함유하며, 분자당 알콕시알킬 기 및 알킬올 기 중 어느 한쪽의 수 또는 분자당 알콕시알킬 기 및 알킬올 기의 수가 총 적어도 5개인 화합물 (A), 및 티올 기를 분자당 적어도 2개 함유하는 화합물 (B)를 함유하는 밀착층 형성 조성물을 제공한다.The present invention relates to a compound having at least one of an alkoxyalkyl group and an alkylol group per molecule and a total number of alkoxyalkyl groups and alkylol groups per molecule of at least 5, (A), and a compound (B) containing at least two thiol groups per molecule.

본 발명의 추가의 특색은 첨부된 도면을 참조하여 예시적 실시형태의 하기 설명으로부터 명백해질 것이다.Further features of the present invention will become apparent from the following description of exemplary embodiments with reference to the accompanying drawings.

도 1(a)는 본 발명의 한 실시형태에 따른 경화물 패턴의 제조 방법을 제시하는 모식적 단면도이다.
도 1(b)는 경화물 패턴의 제조 방법을 제시하는 모식적 단면도이다.
도 1(c)는 경화물 패턴의 제조 방법을 제시하는 모식적 단면도이다.
도 1(d)는 경화물 패턴의 제조 방법을 제시하는 모식적 단면도이다.
도 1(e)는 경화물 패턴의 제조 방법을 제시하는 모식적 단면도이다.
도 1(f)는 경화물 패턴의 제조 방법을 제시하는 모식적 단면도이다.
도 1(g)는 경화물 패턴의 제조 방법을 제시하는 모식적 단면도이다.
도 1(h)는 경화물 패턴의 제조 방법을 제시하는 모식적 단면도이다.
1 (a) is a schematic cross-sectional view showing a method of manufacturing a cured product pattern according to an embodiment of the present invention.
Fig. 1 (b) is a schematic cross-sectional view showing a method for producing a cured product pattern.
Fig. 1 (c) is a schematic cross-sectional view showing a method for producing a cured product pattern.
1 (d) is a schematic cross-sectional view showing a method for producing a cured product pattern.
1 (e) is a schematic cross-sectional view showing a method for producing a cured product pattern.
1 (f) is a schematic cross-sectional view showing a method for producing a cured product pattern.
FIG. 1 (g) is a schematic cross-sectional view showing a method for producing a cured product pattern.
1 (h) is a schematic cross-sectional view showing a method for producing a cured product pattern.

이제, 본 발명의 실시형태에 대해 상세하게 기재할 것이다. 본 발명은 실시형태에 제한되지는 않는다. 본 발명의 취지를 일탈하지 않으면서 관련 기술분야의 통상의 기술자의 지식에 기초하여 실시형태에 대해 이루어진 변경, 개량 등도 본 발명의 범주 내에 포함된다.Now, embodiments of the present invention will be described in detail. The present invention is not limited to the embodiments. Modifications and improvements made to the embodiments based on the knowledge of those skilled in the art without departing from the spirit of the present invention are also included within the scope of the present invention.

본 발명의 한 실시형태에 따른 밀착층 형성 조성물(100)은 기재(102)와 광경화성 조성물(103) 사이에 밀착층(101)을 형성하기 위한 조성물이다. 밀착층 형성 조성물(100)은 알콕시알킬 기 및 알킬올 기 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 함유하며, 분자당 알콕시알킬 기 및 알킬올 기 중 어느 한쪽의 수 또는 분자당 알콕시알킬 기 및 알킬올 기의 수가 총 적어도 5개인 화합물 (A), 및 티올 기를 분자당 적어도 2개 함유하는 화합물 (B)를 함유한다.The adhesive layer forming composition 100 according to one embodiment of the present invention is a composition for forming the adhesive layer 101 between the base material 102 and the photocurable composition 103. [ The adhesive layer-forming composition (100) contains one or both of an alkoxyalkyl group and an alkylol group, and the number of the alkoxyalkyl groups and alkylol groups per molecule or the number of alkoxyalkyl groups and alkylol groups per molecule A compound (A) having at least 5 in total, and a compound (B) containing at least two thiol groups per molecule.

밀착층 형성 조성물(100)은 밀착층 형성 조성물(100)을 기재(102) 상에 배치하고, 경화시켜, 광경화물을 형성하는 방식으로 바람직하게 사용된다. 또한, 밀착층 형성 조성물(100)을 경화시킴으로써 얻어진 밀착층(101), 및 기재(102)를 포함하는 적층체는, 광경화성 조성물(103)을 적층체 상에 배치함으로써 얻어진 광경화물(109)을 얻기 위한 기재로서 바람직하게 사용될 수 있다. 밀착층 형성 조성물(100)은 임프린트용 밀착층 형성 조성물로서 사용될 수 있고, 광 나노임프린트용 밀착층 형성 조성물로서 특히 유용하다.The adhesive layer forming composition 100 is preferably used in such a manner that the adhesive layer forming composition 100 is disposed on the substrate 102 and cured to form a photo-cured product. The laminate including the adhesive layer 101 and the base material 102 obtained by curing the adhesive layer forming composition 100 is a laminate comprising the photo-cured product 109 obtained by arranging the photo-curing composition 103 on the laminate, Can be preferably used as a base material for obtaining a base material. The adhesion layer forming composition (100) can be used as a composition for forming an adhesion layer for imprinting, and is particularly useful as a composition for forming a contact layer for a light nanoimprint.

이하, 밀착층 형성 조성물(100)에 함유된 성분에 대해 상세하게 기재한다.Hereinafter, the components contained in the adhesive layer-forming composition (100) will be described in detail.

화합물 (A)The compound (A)

화합물 (A)는 알콕시알킬 기 및 알킬올 기 중 어느 한쪽 또는 양쪽 (이하, "관능기 a"로 칭함)을 함유하며, 분자당 알콕시알킬 기 및 알킬올 기 중 어느 한쪽의 수 또는 분자당 알콕시알킬 기 및 알킬올 기의 수가 총 적어도 5개이다.The compound (A) contains one or both of an alkoxyalkyl group and an alkylol group (hereinafter referred to as " functional group a "), and the number of alkoxyalkyl groups and alkylol groups per molecule or alkoxyalkyl And the number of the alkylol groups is at least 5 in total.

화합물 (A)에 함유된 관능기 a는 하기 밀착층 형성 단계에서 화합물 (B)에 함유된 티올 기와 반응하는 관능기이다. 따라서, 화합물 (A)와 화합물 (B) 사이에 결합이 형성된다. 화합물 (A)는 관능기 a를 함유하기 때문에, 화합물 (A)의 각각의 분자는 화합물 (B)의 복수개의 분자에 결합될 수 있다. 화합물 (A)의 각각의 분자가 화합물 (B)의 복수개의 분자에 결합될 수 있기 때문에, 밀착층(101)을 형성하는 화합물들이 서로 가교된 구조 (가교 구조)가 형성될 수 있다.The functional group a contained in the compound (A) is a functional group that reacts with the thiol group contained in the compound (B) in the following step of forming the adhesion layer. Thus, a bond is formed between the compound (A) and the compound (B). Since the compound (A) contains the functional group a, each molecule of the compound (A) can be bonded to a plurality of molecules of the compound (B). Since each molecule of the compound (A) can be bonded to a plurality of molecules of the compound (B), a structure (crosslinked structure) in which the compounds forming the adhesive layer 101 are crosslinked with each other can be formed.

화합물 (A)에 함유된 관능기 a와 화합물 (B)에 함유된 티올 기 사이의 반응은 밀착층 형성 단계에서의 가열 프로세스에 의해 바람직하게 발생된다.The reaction between the functional group a contained in the compound (A) and the thiol group contained in the compound (B) is preferably generated by a heating process in the adhesion layer formation step.

상기 기재된 바와 같이 가교 구조를 갖도록 밀착층(101)을 형성하는 방식으로, 기재(102)에 결합되지 않은 유리 미반응 화합물 (A) 또는 (B)의 양을 저감시킬 수 있다. 이는 밀착층(101)의 강도가 향상되는 것을 가능하게 한다.The amount of the free unreacted compound (A) or (B) that is not bonded to the base material 102 can be reduced by forming the adhesion layer 101 to have a crosslinked structure as described above. This enables the strength of the adhesion layer 101 to be improved.

미반응 화합물 (A) 및 (B)가 밀착층(101) 중에 유리 상태로 존재하는 경우에, 광경화성 조성물(103)의 배치 단계에서 미반응 화합물 (A) 및 (B)가 광경화성 조성물(103) 중에 용출될 가능성이 있다. 그 결과, 광경화성 조성물(103)의 조성이 달라지고, 따라서 광경화성 조성물(103)의 특성이 달라져서, 예를 들어 광경화성 조성물(103)을 경화시킴으로써 얻어진 광경화물(109)에서 패턴 박리 결함 등이 발생한다.When the unreacted compounds (A) and (B) are present in the adhesive layer 101 in a free state, the unreacted compounds (A) and (B) 103). ≪ / RTI > As a result, the composition of the photo-curing composition 103 is changed, and therefore, the characteristics of the photo-curing composition 103 are changed. For example, the photo-curing composition 103 obtained by curing the photo- Lt; / RTI >

그러나, 밀착층 형성 조성물(100)을 사용하는 것은 기재(102)에 결합되지 않은 유리 화합물 (A) 또는 (B)의 양을 종래보다 더 상당히 저감시키는 것을 가능하게 한다. 이는 광경화성 조성물(103)의 배치 단계에서 광경화성 조성물(103) 중에의 화합물 (A) 또는 (B)의 용출을 상당히 억제하는 것을 가능하게 한다. 그 결과, 광경화물(109)에서 패턴 박리 결함 등의 발생을 억제할 수 있다.However, the use of the adhesion layer forming composition 100 makes it possible to significantly reduce the amount of the free glass compound (A) or (B) that is not bonded to the base material 102, as compared with the prior art. This makes it possible to significantly inhibit the elution of the compound (A) or (B) in the photo-curable composition 103 in the step of arranging the photo-curing composition 103. As a result, it is possible to suppress the occurrence of pattern peeling defects and the like in the photocatalyst 109.

화합물 (A)에 함유된 관능기 a는 기재(102) 상에 존재하는 관능기와 공유 결합, 이온 결합, 수소 결합 또는 분자간력 등의 상호작용 또는 화학 결합을 형성할 수 있다. 예를 들어, 기재(102)가 표면 상에 실라놀 기 등의 히드록시 기를 갖는 경우에, 알콕시알킬 기와 실라놀 기 사이에 탈알콜 반응이 발생한다. 따라서, 화합물 (A)와 기재(102) 사이에 공유 결합을 형성할 수 있다. 이는 밀착층(101)과 기재(102) 사이의 밀착성을 향상시키는 것을 가능하게 한다.The functional group a contained in the compound (A) may form an interaction or a chemical bond such as a covalent bond, an ionic bond, a hydrogen bond, or an intermolecular force with a functional group present on the base material 102. For example, when the substrate 102 has a hydroxyl group such as a silanol group on the surface, a dealcoholation reaction occurs between the alkoxyalkyl group and the silanol group. Therefore, a covalent bond can be formed between the compound (A) and the substrate 102. This makes it possible to improve the adhesion between the adhesive layer 101 and the substrate 102. [

화합물 (A)는 바람직하게는 하기 화학식 1에 의해 나타내어진 화합물이다.The compound (A) is preferably a compound represented by the following formula (1).

<화학식 1>&Lt; Formula 1 >

Figure 112017083533914-pct00001
Figure 112017083533914-pct00001

화학식 1에서, R1 내지 R6은 독립적으로 수소 원자, 알킬 기, 알콕시알킬 기 또는 알킬올 기를 나타내고, R1 내지 R6 중 적어도 5개는 알콕시알킬 기 또는 알킬올 기이다.In formula (1), R 1 to R 6 independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, an alkoxyalkyl group or an alkylol group, and at least five of R 1 to R 6 are an alkoxyalkyl group or an alkylol group.

상기 화학식 1에 의해 나타내어진 화합물은 구조의 중심에 트리아진 환을 함유하는 멜라민의 유도체이다. 즉, 화학식 1에 의해 나타내어진 화합물은 1,3,5-트리아진의 2-, 4- 및 6-위치 중 1개에 각각의 질소 원자가 결합된 구조를 갖는다. 화학식 1에 의해 나타내어진 화합물은 관능기 a를 5 또는 6개 함유한다. 즉, 상기 화학식 1에 의해 나타내어진 화합물은 글리콜우릴 유도체 등의 우레아 화합물에 비해 더 많은 수의 관능기 a를 함유한다.The compound represented by Formula 1 is a derivative of melamine containing a triazine ring at the center of its structure. That is, the compound represented by Chemical Formula 1 has a structure in which each nitrogen atom is bonded to one of the 2-, 4-, and 6-positions of 1,3,5-triazine. The compound represented by the general formula (1) contains 5 or 6 functional groups a. That is, the compound represented by Formula 1 contains a larger number of functional groups a than urea compounds such as glycoluril derivatives.

우레아 화합물은 분자 내에 전자 흡인성 산소 원자를 함유한다. 따라서, 관능기 a 함유 우레아 화합물에 함유된 관능기 a의 티올 기 등과의 반응성은 분자 내에 전자 흡인성 산소 원자를 함유하지 않는 경우에 비해 더 저하되는 경향이 있다. 그러나, 트리아진 환은 화학식 1에 의해 나타내어진 화합물의 핵이며, 구조 내에 전자 흡인성 산소 원자를 함유하지 않는다. 따라서, 화학식 1에 의해 나타내어진 화합물에 함유된 관능기 a는 아마도 이러한 우레아 화합물 내의 관능기 a에 비해 더 높은 반응성을 가질 것이다.The urea compound contains an electron-withdrawing oxygen atom in the molecule. Therefore, the reactivity of the functional group a contained in the functional group a-containing urea compound with the thiol group or the like tends to be lower than that in the case of not containing the electron-withdrawing oxygen atom in the molecule. However, the triazine ring is the nucleus of the compound represented by the formula (1) and contains no electron-withdrawing oxygen atom in the structure. Therefore, the functional group a contained in the compound represented by the formula (1) will probably have a higher reactivity than the functional group a in such a urea compound.

상기로부터, 화학식 1에 의해 나타내어진 화합물인 화합물 (A)를 사용하는 것은 밀착층 형성 조성물(100)이 향상된 경화성을 갖는 것을 가능하게 하고, 또한 밀착층 형성 조성물(100)을 사용하여 형성되는 밀착층(101)의 강도가 향상되는 것을 가능하게 한다.From the above, it can be seen that the use of the compound (A) represented by the general formula (1) enables the adhesive layer-forming composition (100) to have improved curability, Thereby enabling the strength of the layer 101 to be improved.

화합물 (A)에 함유된 알콕시알킬 기 또는 알킬올 기의 종류는 특별히 제한되지는 않는다. 알콕시알킬 기는 바람직하게는 메톡시메틸 기이고, 알킬올 기는 바람직하게는 메틸올 기이다. 알콕시알킬 기 또는 알킬올 기로서 화학식량이 낮은 관능기를 사용하는 것은 밀착층(101)의 단위 질량당 가교 밀도가 향상되는 것을 가능하게 하고, 따라서 밀착층(101)의 강도가 향상되는 것을 가능하게 한다.The kind of the alkoxyalkyl group or alkylol group contained in the compound (A) is not particularly limited. The alkoxyalkyl group is preferably a methoxymethyl group, and the alkylol group is preferably a methylol group. Use of a functional group having a low chemical formula as an alkoxyalkyl group or an alkylol group makes it possible to improve the crosslinking density per unit mass of the adhesive layer 101 and thus to improve the strength of the adhesive layer 101 do.

화합물 (A)의 예로서는, 펜타메톡시메틸멜라민, 헥사메톡시메틸멜라민, (히드록시메틸)펜타키스(메톡시메틸)멜라민, 헥사에톡시메틸멜라민, 헥사부톡시메틸멜라민, 펜타메틸올멜라민, 및 헥사메틸올멜라민을 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of the compound (A) include pentamethoxymethylmelamine, hexamethoxymethylmelamine, (hydroxymethyl) pentakis (methoxymethyl) melamine, hexaethoxymethylmelamine, hexabutoxymethylmelamine, pentamethylolmelamine, And hexamethylol melamine, but are not limited thereto.

화합물 (A)는 단일 종류의 화합물로 구성되거나, 또는 다수 종류의 화합물로 구성될 수 있다.The compound (A) may be composed of a single kind of compound, or may be composed of many kinds of compounds.

화합물 (B)The compound (B)

본 발명의 화합물 (B)는 분자 내에 티올 기를 적어도 2개 함유하는 화합물이다.The compound (B) of the present invention is a compound containing at least two thiol groups in the molecule.

화합물 (B)에 함유된 티올 기는 상기 기재된 바와 같이 화합물 (A)에 함유된 관능기 a와 반응하는 관능기이다. 따라서, 화합물 (A)와 화합물 (B) 사이에 결합이 형성된다. 화합물 (B)는 티올 기를 함유하기 때문에, 화합물 (B)의 각각의 분자는 화합물 (A)의 복수개의 분자에 결합될 수 있다. 화합물 (B)의 각각의 분자가 화합물 (A)의 복수개 분자에 결합될 수 있기 때문에, 밀착층(101)을 형성하는 화합물들이 서로 가교된 구조 (가교 구조)가 형성될 수 있다.The thiol group contained in the compound (B) is a functional group which reacts with the functional group a contained in the compound (A) as described above. Thus, a bond is formed between the compound (A) and the compound (B). Since the compound (B) contains a thiol group, each molecule of the compound (B) can be bonded to a plurality of molecules of the compound (A). Since each molecule of the compound (B) can be bonded to a plurality of molecules of the compound (A), a structure (crosslinked structure) in which the compounds forming the adhesive layer 101 are crosslinked with each other can be formed.

상기 기재된 바와 같이 가교 구조를 갖도록 밀착층(101)을 형성하는 방식으로, 기재(102)에 결합되지 않은 유리 미반응 화합물 (A) 또는 (B)의 양을 저감시킬 수 있다. 이는 기재(102)가 향상된 강도를 갖는 것을 가능하게 하고, 광경화성 조성물(103)의 배치 단계에서 광경화성 조성물(103) 중에의 화합물 (A) 또는 (B)의 용출을 상당히 억제하는 것을 가능하게 한다. 그 결과, 광경화물(109)에서 패턴 박리 결함 등의 발생을 억제할 수 있다.The amount of the free unreacted compound (A) or (B) that is not bonded to the base material 102 can be reduced by forming the adhesion layer 101 to have a crosslinked structure as described above. This enables the substrate 102 to have an enhanced strength and is capable of significantly inhibiting the elution of the compound (A) or (B) in the photo-curable composition 103 in the placement step of the photo- do. As a result, it is possible to suppress the occurrence of pattern peeling defects and the like in the photocatalyst 109.

화합물 (B)에 함유된 티올 기는 기재(102) 상에 존재하는 관능기와 공유 결합, 수소 결합 또는 분자간력 등의 상호작용 또는 화학 결합을 형성할 수 있다. 이는 밀착층(101)과 기재(102) 사이의 밀착성을 향상시키는 것을 가능하게 한다.The thiol group contained in the compound (B) may form an interaction or a chemical bond such as a covalent bond, a hydrogen bond, or an intermolecular force with the functional group present on the substrate (102). This makes it possible to improve the adhesion between the adhesive layer 101 and the substrate 102. [

화합물 (B)에 함유된 티올 기는, 하기 광 조사 단계에서 화합물 (B)에 함유된 티올 기와 광경화성 조성물(103) 중에서 발생된 라디칼 사이의 연쇄 이동 반응을 통해, 광경화성 조성물(103)에 함유된 중합성 화합물에 공유 결합된다. 이는 밀착층(101)과 광경화성 조성물(103) 또는 광경화물(109) 사이의 밀착성을 향상시키는 것을 가능하게 한다. 밀착층(101)은 상기 기재된 바와 같이 기재(102)와 화학 결합 또는 상호작용을 형성하고, 따라서 기재(102)와 광경화성 조성물(103) 또는 광경화물(109) 사이의 밀착성을 향상시킬 수 있다.The thiol group contained in the compound (B) is contained in the photocurable composition (103) through a chain transfer reaction between the thiol group contained in the compound (B) and the radical generated in the photocurable composition (103) Bonded to the polymerizable compound. This makes it possible to improve the adhesion between the adhesive layer 101 and the photo-curing composition 103 or the photo-cured product 109. [ The adhesion layer 101 may form a chemical bond or interaction with the substrate 102 as described above and thus improve the adhesion between the substrate 102 and the photocurable composition 103 or the photocurable 109 .

상기 효과를 발휘하기 위해, 화합물 (B)에 함유된 티올 기의 수는 바람직하게는 크고, 보다 바람직하게는 적어도 3개, 더욱 바람직하게는 적어도 4개이다. 화합물 (B)에 함유된 티올 기의 수가 적어도 3개인 경우에, 화합물 (B)에 의해 형성되는 가교 구조가 3차원적이고, 밀착층(101)이 향상된 강도를 갖는다. 또한, 화합물 (B), 화합물 (A) 및 기재(102)가 서로 결합되기 쉬워진다. 화합물 (B)에 함유된 티올 기의 수가 더 클수록, 상기 효과가 더 상당해진다. 따라서, 화합물 (B)에 함유된 티올 기의 수는 바람직하게는 적어도 4개이다.In order to exhibit the above effect, the number of thiol groups contained in the compound (B) is preferably large, more preferably at least three, and still more preferably at least four. When the number of thiol groups contained in the compound (B) is at least 3, the crosslinked structure formed by the compound (B) is three-dimensional, and the adhesive layer 101 has an improved strength. Further, the compound (B), the compound (A) and the substrate 102 are easily bonded to each other. The larger the number of thiol groups contained in the compound (B), the more remarkable the above effect is. Therefore, the number of thiol groups contained in the compound (B) is preferably at least 4.

화합물 (B)는 바람직하게는 1급 티올이다. 화합물 (B)가 1급 티올인 경우에, 화합물 (B)에 함유된 티올 기 주위의 입체 장애를 저감시킬 수 있다. 그 결과, 화합물 (B)에 함유된 티올 기의 반응성을 높일 수 있고, 밀착층 형성 조성물(100)의 경화성을 향상시킬 수 있다.The compound (B) is preferably a primary thiol. When the compound (B) is a primary thiol, steric hindrance around the thiol group contained in the compound (B) can be reduced. As a result, the reactivity of the thiol group contained in the compound (B) can be enhanced, and the curability of the adhesive layer-forming composition 100 can be improved.

화합물 (B)의 예로서는, 1,6-헥산디티올, 1,8-옥탄디티올, 1,10-데칸디티올, 1,4-부탄디올 비스(티오글리콜레이트), 및 1,4-비스(3-메르캅토부티릴옥시)부탄 등의 이관능성 티올 화합물; 1,3,5-트리스(3-메르캅토부티릴옥시에틸)-1,3,5-트리아진-2,4,6 (1H,3H,5H)-트리온, 트리메틸올프로판 트리스(3-메르캅토프로피오네이트), 및 펜타에리트리톨 트리스(3-메르캅토부티레이트) 등의 삼관능성 티올 화합물; 펜타에리트리톨 테트라키스(메르캅토아세테이트), 펜타에리트리톨 테트라키스(3-메르캅토부티레이트), 및 펜타에리트리톨 테트라키스(3-메르캅토프로피오네이트) 등의 사관능성 티올 화합물을 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of the compound (B) include 1,6-hexanedithiol, 1,8-octanedithiol, 1,10-decanedithiol, 1,4-butanediol bis (thioglycolate) Bifunctional thiol compounds such as 3-mercaptobutyryloxy) butane; 1,3,5-tris (3-mercaptobutyryloxyethyl) -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -thione, trimethylolpropane tris (3- Mercapto propionate), and trifunctional thiol compounds such as pentaerythritol tris (3-mercaptobutyrate); (3-mercaptobutyrate), pentaerythritol tetrakis (mercaptoacetate), pentaerythritol tetrakis (mercaptoacetate), and pentaerythritol tetrakis (3-mercaptopropionate) But is not limited thereto.

화합물 (B)는 단일 종류의 화합물로 구성되거나, 또는 다수 종류의 화합물로 구성될 수 있다.The compound (B) may be composed of a single kind of compound, or may be composed of many kinds of compounds.

화합물 (A) 및 화합물 (B)의 배합 비율The compounding ratio of the compound (A) and the compound (B)

밀착층 형성 조성물(100) 중 화합물 (A) 또는 (B)의 배합 비율이 극단적으로 작은 경우에, 밀착층(101)은 감소된 가교 밀도, 불충분한 강도 및 불충분한 경화성을 갖는다. 따라서, 밀착층 형성 조성물(100) 전체를 100 중량%로 했을 때에 화합물 (A)의 중량 분율을 α (%)로 하고 화합물 (B)의 중량 분율을 β (%)로 하면, 비율 α:β는 바람직하게는 1:9 내지 9:1, 보다 바람직하게는 1:4 내지 4:1이다. 즉, 비율 α/β는 바람직하게는 0.11 이상 9 이하, 보다 바람직하게는 0.25 이상 4 이하이다. 각각의 화합물 (A) 및 화합물 (B)의 최적 배합 비율은 화합물 (A) 및 (B)의 관능기의 수, 분자량 및 반응성에 따라 달라지지만, 배합 비율을 실질적으로 상기 범위 내로 조정하는 것은 밀착층 형성 조성물(100)의 경화성을 향상시키는 것을 가능하게 한다.When the blending ratio of the compound (A) or (B) in the adhesive layer-forming composition (100) is extremely small, the adhesive layer (101) has reduced crosslink density, insufficient strength and insufficient curing ability. Therefore, when the weight percentage of the compound (A) is? (%) And the weight fraction of the compound (B) is? (%) When the entirety of the adhesion layer forming composition 100 is 100% Is preferably 1: 9 to 9: 1, more preferably 1: 4 to 4: 1. That is, the ratio? /? Is preferably 0.11 or more and 9 or less, more preferably 0.25 or more and 4 or less. The optimum mixing ratio of the compound (A) and the compound (B) varies depending on the number of the functional groups of the compounds (A) and (B) and the molecular weight and reactivity, Making it possible to improve the curability of the forming composition (100).

밀착층 형성 조성물(100) 중 화합물 (A) 및 (B)의 배합 비율 (α 및 β의 합계)은 밀착층 형성 조성물(100)의 점도, 밀착층(101)의 목표 두께 등에 따라 적절히 조정될 수 있다. α 및 β의 합계는 바람직하게는 0.01 이상 10 이하, 보다 바람직하게는 0.1 이상 10 이하, 더욱 바람직하게는 0.1 이상 7 이하이다. 밀착층 형성 조성물(100) 중 화합물 (A) 및 (B)의 배합 비율을 상기 범위 내로 조정하는 것은 밀착층 형성 조성물(100)의 점도를 저하시키는 것을 가능하게 하고, 형성되는 밀착층(101)의 두께를 저하시키는 것을 가능하게 한다.The mixing ratios (sum of? And?) Of the compounds (A) and (B) in the adhesive layer forming composition 100 can be appropriately adjusted according to the viscosity of the adhesive layer forming composition 100, the target thickness of the adhesive layer 101, have. The sum of? and? is preferably 0.01 or more and 10 or less, more preferably 0.1 or more and 10 or less, still more preferably 0.1 or more and 7 or less. Adjustment of the compounding ratio of the compounds (A) and (B) in the adhesive layer-forming composition (100) within the above range makes it possible to lower the viscosity of the adhesive layer- It is possible to reduce the thickness of the film.

휘발성 용제 (C)The volatile solvent (C)

밀착층 형성 조성물(100)은 휘발성 용제 (C) (이하, 간단히 "용제 (C)"로 칭함)를 추가로 함유한다. 밀착층 형성 조성물(100)이 용제 (C)를 함유하기 때문에, 밀착층 형성 조성물(100)의 점도를 저하시킬 수 있다. 그 결과, 밀착층 형성 조성물(100)의 기재(102)에 대한 도포성을 향상시킬 수 있다.The adhesion layer-forming composition (100) further contains a volatile solvent (C) (hereinafter simply referred to as "solvent (C)"). Since the adhesive layer-forming composition 100 contains the solvent (C), the viscosity of the adhesive layer-forming composition 100 can be lowered. As a result, the applicability of the adhesive layer-forming composition 100 to the substrate 102 can be improved.

용제 (C)는 특별히 제한되지는 않지만, 화합물 (A) 및 화합물 (B)를 용해시킬 수 있다. 용제 (C)는 바람직하게는 80℃ 내지 200℃의 대기압에서의 비점을 갖는다. 또한, 용제 (C)는 바람직하게는 히드록시 기, 에테르 구조, 에스테르 구조 및 케톤 구조 중 적어도 1개를 갖는 유기 용제이다. 이러한 용제 (C)는 화합물 (A) 및 화합물 (B)를 용해시킴에 있어서 우수하고, 기재(102)에 대해 우수한 습윤성을 갖는다.The solvent (C) is not particularly limited, but the compound (A) and the compound (B) can be dissolved. The solvent (C) preferably has a boiling point at atmospheric pressure of from 80 캜 to 200 캜. The solvent (C) is preferably an organic solvent having at least one of a hydroxy group, an ether structure, an ester structure and a ketone structure. Such a solvent (C) is excellent in dissolving the compound (A) and the compound (B), and has excellent wettability with respect to the base material (102).

용제 (C)의 예로서는, 프로필 알콜, 이소프로필 알콜, 및 부틸 알콜 등의 알콜 용제; 에틸렌 글리콜 모노메틸 에테르, 에틸렌 글리콜 디메틸 에테르, 에틸렌 글리콜 모노에틸 에테르, 에틸렌 글리콜 디에틸 에테르, 에틸렌 글리콜 모노부틸 에테르, 및 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 등의 등의 에테르 용제; 부틸 아세테이트, 에틸렌 글리콜 모노에틸 에테르 아세테이트, 에틸렌 글리콜 모노부틸 에테르 아세테이트, 및 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 아세테이트 등의 에스테르 용제; 및 메틸 이소부틸 케톤, 디이소부틸 케톤, 시클로헥사논, 2-헵타논, γ-부티로락톤, 및 에틸 락테이트 등의 케톤 용제를 들 수 있다. 이들 용제는 단독으로 또는 조합으로 사용될 수 있다. 특히, 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 아세테이트 또는 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 아세테이트를 함유하는 혼합물이 도포성의 관점에서 바람직하다.Examples of the solvent (C) include alcohol solvents such as propyl alcohol, isopropyl alcohol, and butyl alcohol; Ether solvents such as ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, and propylene glycol monomethyl ether; Ester solvents such as butyl acetate, ethylene glycol monoethyl ether acetate, ethylene glycol monobutyl ether acetate, and propylene glycol monomethyl ether acetate; And ketone solvents such as methyl isobutyl ketone, diisobutyl ketone, cyclohexanone, 2-heptanone,? -Butyrolactone, and ethyl lactate. These solvents may be used singly or in combination. Particularly, a mixture containing propylene glycol monomethyl ether acetate or propylene glycol monomethyl ether acetate is preferable from the viewpoint of coatability.

밀착층 형성 조성물(100) 중 용제 (C)의 배합 비율은 화합물 (A) 및 (B)의 점도, 화합물 (A) 및 (B)의 도포성, 밀착층(101)의 두께 등에 따라 적절히 조정될 수 있다. 밀착층 형성 조성물(100) 중 용제 (C)의 배합 비율은 밀착층 형성 조성물(100)의 양에 대해 바람직하게는 70 질량% 이상, 보다 바람직하게는 90 질량% 이상, 더욱 바람직하게는 95 질량% 이상이다. 밀착층 형성 조성물(100) 중 용제 (C)의 배합 비율이 더 클수록, 밀착층(101)의 두께를 저하시킬 수 있고, 이는 임프린트용 밀착층 형성 조성물에 대해 바람직하다. 밀착층 형성 조성물(100) 중 용제 (C)의 배합 비율이 70 질량% 미만인 경우에, 충분한 도포성이 얻어지지 않는 경우가 있다. 용제 (C)의 배합 비율의 상한은 특별히 제한되지는 않는다. 용제 (C)의 배합 비율의 상한은 바람직하게는 99.9 질량% 이하, 보다 바람직하게는 99 질량% 이하이다.The compounding ratio of the solvent (C) in the adhesive layer forming composition (100) is appropriately adjusted according to the viscosity of the compounds (A) and (B), the coating properties of the compounds (A) and (B) . The mixing ratio of the solvent (C) in the adhesive layer-forming composition (100) is preferably 70% by mass or more, more preferably 90% by mass or more, still more preferably 95% by mass or more with respect to the amount of the adhesive layer- %. The greater the proportion of the solvent (C) in the adhesive layer-forming composition 100, the lower the thickness of the adhesive layer 101, which is preferable for the composition for forming an adhesion layer for imprints. When the compounding ratio of the solvent (C) in the adhesive layer-forming composition (100) is less than 70% by mass, sufficient coating properties may not be obtained. The upper limit of the mixing ratio of the solvent (C) is not particularly limited. The upper limit of the mixing ratio of the solvent (C) is preferably 99.9% by mass or less, more preferably 99% by mass or less.

또 다른 성분 (D)Another component (D)

밀착층 형성 조성물(100)은 화합물 (A), 화합물 (B) 및 용제 (C) 이외에도, 다양한 목적에 따라, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 한, 성분 (D)를 추가로 함유할 수 있다. 성분 (D)의 예로서는, 계면활성제, 가교제, 중합체 성분, 산화 억제제, 및 중합 억제제를 들 수 있다. 밀착층 형성 조성물(100)을 기재(102) 상에 배치한 다음, 가열에 의해 용제 (C)를 증발시키면서 경화시키며, 그에 의해 밀착층(101)의 두께를 저하시킬 수 있다. 따라서, 밀착층 형성 조성물(100)은 광 조사에 의해 밀착층 형성 조성물(100)을 경화시키는 목적을 위해 사용되는 어떠한 광중합 개시제도 함유하지 않는 것이 바람직하다. 밀착층 형성 조성물(100)이 광중합 개시제를 함유하는 경우에, 밀착층(101)의 형성 과정에서 광중합이 발생하여 용제 (C)가 완전히 휘발하기 전에 밀착층 형성 조성물(100)이 경화하고; 따라서 밀착층(101)의 두께가 증가될 가능성이 있다.The adhesive layer forming composition 100 may further contain, in addition to the compound (A), the compound (B) and the solvent (C), the component (D) . Examples of the component (D) include a surfactant, a crosslinking agent, a polymer component, an oxidation inhibitor, and a polymerization inhibitor. The adhesive layer forming composition 100 is placed on the base material 102 and then cured while evaporating the solvent C by heating so that the thickness of the adhesive layer 101 can be reduced. Therefore, it is preferable that the adhesion layer-forming composition 100 does not contain any photopolymerization initiation system used for the purpose of curing the adhesion layer-forming composition 100 by light irradiation. When the adhesive layer-forming composition 100 contains a photopolymerization initiator, the adhesive layer-forming composition 100 is cured before photopolymerization occurs and the solvent (C) completely volatilizes during the formation of the adhesive layer 101; Therefore, there is a possibility that the thickness of the adhesive layer 101 is increased.

밀착층 형성 조성물의 점도Viscosity of the adhesive layer-forming composition

밀착층 형성 조성물(100)의 점도는 화합물 (A), 화합물 (B) 및 용제 (C) 등의 성분의 종류 및 배합 비율에 따라 달라진다. 밀착층 형성 조성물(100)의 점도는 23℃에서 바람직하게는 0.5 밀리파스칼-초 이상 20 밀리파스칼-초 이하, 보다 바람직하게는 1 밀리파스칼-초 이상 10 밀리파스칼-초 이하, 더욱 바람직하게는 1 밀리파스칼-초 이상 5 밀리파스칼-초 이하이다.The viscosity of the adhesive layer-forming composition 100 varies depending on the kinds and blending ratios of the components such as the compound (A), the compound (B) and the solvent (C). The viscosity of the adhesive layer forming composition 100 is preferably from 0.5 to 20 milli-pascals-sec, more preferably from 1 to 10 mPas-sec at 23 ° C, 1 milli-pascal-second and more than 5 milli-pascal-second.

밀착층 형성 조성물(100)의 점도가 20 밀리파스칼-초 이하인 경우에, 밀착층 형성 조성물(100)의 기재(102)에 대한 도포성이 우수하다. 따라서, 기재(102) 상에 배치된 밀착층 형성 조성물(100)의 층의 두께를 용이하게 조정할 수 있다.When the viscosity of the adhesive layer-forming composition 100 is 20 milli-pascals-second or less, the applicability of the adhesive layer-forming composition 100 to the substrate 102 is excellent. Therefore, the thickness of the layer of the adhesion layer forming composition 100 disposed on the base material 102 can be easily adjusted.

밀착층 형성 조성물에 혼입되는 불순물Impurities incorporated into the adhesive layer-forming composition

밀착층 형성 조성물(100)은 바람직하게는 불순물을 실질적으로 함유하지 않는다. 본원에 사용된 용어 "불순물"은 화합물 (A), 화합물 (B), 용제 (C) 및 성분 (D) 이외의 것들을 지칭한다. 밀착층 형성 조성물(100)을 나노임프린트 프로세스에 사용하는 경우에, 밀착층 형성 조성물(100)은 특히 바람직하게는 입자 및 고형 성분 중 어떠한 것도 함유하지 않는다. 본원에 사용된 용어 "입자"는 전형적으로 수 나노미터 내지 수 마이크로미터의 크기 (직경)를 갖는 겔상 내지 고형 입자상 물질을 지칭한다. 따라서, 밀착층 형성 조성물(100) 중 크기가 0.2 μm보다 큰 입자의 함유량은 밀착층 형성 조성물(100) 전체를 100 질량%로 했을 때에 바람직하게는 0 질량% 이상 3 질량% 미만이다.The adhesive layer-forming composition (100) is preferably substantially free of impurities. As used herein, the term " impurity " refers to compounds other than compounds (A), (B), (C) and (D). When the adhesive layer-forming composition 100 is used in a nanoimprint process, the adhesive layer-forming composition 100 particularly preferably does not contain any of particles and solid components. The term " particle " as used herein refers to a gel or solid particulate material typically having a size (diameter) of from several nanometers to several micrometers. Therefore, the content of particles having a size larger than 0.2 占 퐉 in the adhesive layer-forming composition 100 is preferably 0% by mass or more and less than 3% by mass based on 100% by mass of the entire adhesive layer forming composition 100.

따라서, 밀착층 형성 조성물(100)은 바람직하게는 정제 단계를 통해 얻어진다. 이러한 정제 단계에서는, 필터를 사용한 여과 등이 바람직하게 행해진다.Thus, the adhesion layer-forming composition 100 is preferably obtained through a purification step. In such a purification step, filtration using a filter or the like is preferably performed.

필터를 사용한 여과를 행하는 경우에, 구체적으로 화합물 (A), 화합물 (B), 용제 (C) 및 필요에 따라 첨가되는 성분 (D)를 혼합함으로써 얻어진 혼합물을 바람직하게는 예를 들어 구멍 크기 0.001 μm 이상 5.0 μm 이하의 필터를 통해 여과한다. 혼합물을 보다 바람직하게는 구멍 크기 0.001 μm 이상 0.2 μm 이하의 필터를 통해 여과한다. 여과를 다수의 단계에서 필터를 사용하여 행하거나 또는 필터를 다수회 사용하여 반복하는 것이 보다 바람직하다. 여과액을 다시 여과할 수 있다. 구멍 크기가 상이한 복수의 필터가 여과에 사용될 수 있다. 여과에 사용되는 필터는 특별히 제한되지는 않지만, 폴리에틸렌 수지, 폴리프로필렌 수지, 불소 수지, 나일론 수지 등으로 제조될 수 있다.Specifically, the mixture obtained by mixing the compound (A), the compound (B), the solvent (C) and the component (D) to be added as required is preferably used, for example, with a pore size of 0.001 filtration through a filter of not less than μm but not more than 5.0 μm. More preferably, the mixture is filtered through a filter having a pore size of 0.001 μm or more and 0.2 μm or less. It is more preferable to perform the filtration using the filter in a plurality of stages or by repeating the use of the filter many times. The filtrate can be filtered again. A plurality of filters having different hole sizes may be used for filtration. The filter used for the filtration is not particularly limited, but it may be made of a polyethylene resin, a polypropylene resin, a fluororesin, a nylon resin or the like.

이러한 정제 단계를 통해, 밀착층 형성 조성물(100)에 혼입되는 입자 등의 불순물을 제거할 수 있다. 이는 밀착층 형성 조성물(100)을 도포함으로써 얻어진 밀착층(101)에서 부주의하게 결함이 발생하는 것을 방지하는 것을 가능하게 한다.Through such a purification step, impurities such as particles incorporated in the adhesive layer-forming composition 100 can be removed. This makes it possible to prevent inadvertent occurrence of defects in the adhesive layer 101 obtained by applying the adhesive layer forming composition 100. [

밀착층 형성 조성물(100)이 반도체 집적 회로 등의 반도체 디바이스에 사용하기 위한 회로 기판을 제조하기 위해 사용되는 경우에, 밀착층 형성 조성물(100) 중에 금속 원자를 함유하는 불순물 (금속 불순물)이 혼입되는 것을 바람직하게는 가능한 한 회피한다. 이는 금속 등의 불순물이 회로 기판의 동작을 저해하는 것을 방지하기 때문이다. 이러한 경우에, 밀착층 형성 조성물(100) 중 금속 불순물의 농도는 바람직하게는 10 ppm 이하, 보다 바람직하게는 100 ppb 이하이다.When the adhesive layer-forming composition 100 is used for producing a circuit board for use in a semiconductor device such as a semiconductor integrated circuit, an impurity (metal impurity) containing a metal atom is mixed in the adhesive layer- Preferably as much as possible. This is because impurities such as metals prevent the operation of the circuit board from being hindered. In such a case, the concentration of the metal impurity in the adhesion layer-forming composition 100 is preferably 10 ppm or less, more preferably 100 ppb or less.

따라서, 밀착층 형성 조성물(100)은 바람직하게는 제조 단계에서 금속과 접촉하지 않으면서 제조된다. 즉, 화합물 (A), 화합물 (B), 용제 (C) 및 필요에 따라 첨가되는 성분 (D)의 원료를 칭량하고, 배합하고, 함께 혼합하는 경우에, 바람직하게는 금속 칭량 기구 또는 용기를 사용하지 않는다. 또한, 상기 정제 단계에서, 금속 불순물 제거 필터를 사용하여 여과를 행하는 것이 바람직하다. 금속 불순물 제거 필터는 특별히 제한되지는 않지만, 셀룰로스 및 규조토, 이온 교환 수지 등으로 제조된 필터일 수 있다. 금속 불순물 제거 필터는 바람직하게는 세정 후에 사용된다. 세정 방법은 바람직하게는 하기와 같다: 초순수로의 세척, 알콜로의 세척, 밀착층 형성 조성물(100)로의 공세척이 이 순서대로 행해진다.Thus, the adhesion layer forming composition 100 is preferably manufactured without contacting the metal in the manufacturing step. That is, when the raw materials of the compound (A), the compound (B), the solvent (C) and optionally the component (D) to be added are weighed, compounded and mixed together, preferably a metal weighing device or container Do not use. In the purification step, filtration is preferably performed using a metal impurity removal filter. The metal impurity removal filter is not particularly limited, but may be a filter made of cellulose and diatomaceous earth, an ion exchange resin, or the like. The metal impurity removal filter is preferably used after cleaning. The cleaning method is preferably as follows: washing with ultrapure water, washing with alcohol, and washing with the adhesive layer forming composition 100 are performed in this order.

광경화성 조성물Photo-curing composition

밀착층 형성 조성물(100)로부터 형성된 밀착층(101)과 함께 사용되는 광경화성 조성물(103)은 통상 중합성 화합물인 성분 (E) 및 광중합 개시제인 성분 (F)를 함유한다.The photo-curable composition 103 used together with the adhesive layer 101 formed from the adhesive layer-forming composition 100 usually contains a component (E) which is a polymerizable compound and a component (F) which is a photopolymerization initiator.

성분 (E): 중합성 화합물Component (E): Polymerizable compound

성분 (E)는 중합성 화합물이다. 본원에 사용된 용어 "중합성 화합물"은 광중합 개시제 (성분 (F))로부터 발생된 중합 인자 (라디칼 등)와 반응하여 연쇄 반응 (중합 반응)에 의해 중합체 화합물 (중합체)로 제조된 막을 형성하는 화합물을 지칭한다.Component (E) is a polymerizable compound. As used herein, the term " polymerizable compound " refers to a compound that reacts with polymerization initiators (such as radicals) generated from a photopolymerization initiator (component (F)) to form a film made of a polymer compound &Lt; / RTI &gt;

성분 (E)는 단일 종류의 중합성 화합물로 구성되거나, 또는 복수 종류의 중합성 화합물로 구성될 수 있다.Component (E) may be composed of a single kind of polymerizable compound or may be composed of plural kinds of polymerizable compounds.

이러한 중합성 화합물로서는, 예를 들어 라디칼 중합성 화합물을 들 수 있다. 라디칼 중합성 화합물로서는, 바람직하게는 아크릴로일 기 또는 메타크릴로일 기를 1개 이상 함유하는 화합물, 즉 (메트)아크릴 화합물을 들 수 있다.As such a polymerizable compound, for example, a radical polymerizable compound can be mentioned. The radical polymerizable compound is preferably a compound containing at least one acryloyl group or methacryloyl group, that is, a (meth) acrylic compound.

따라서, 중합성 화합물인 성분 (E)는 바람직하게는 (메트)아크릴 화합물을 함유한다. 성분 (E)의 주성분은 보다 바람직하게는 (메트)아크릴 화합물이다. 성분 (E)는 가장 바람직하게는 (메트)아크릴 화합물이다. 본원에 사용된 표현 "성분 (E)의 주성분이 (메트)아크릴 화합물이다"는 성분 (E)의 90 중량% 이상이 (메트)아크릴 화합물인 것을 의미한다.Therefore, the component (E) which is a polymerizable compound preferably contains a (meth) acrylic compound. The main component of the component (E) is more preferably a (meth) acrylic compound. Component (E) is most preferably a (meth) acrylic compound. As used herein, the expression " the main component of component (E) is a (meth) acrylic compound " means that at least 90% by weight of component (E) is a (meth) acrylic compound.

라디칼 중합성 화합물이 아크릴로일 기 또는 메타크릴로일 기를 1개 이상 함유하는 복수 종류의 화합물로 구성되는 경우에, 라디칼 중합성 화합물은 바람직하게는 단관능성 (메트)아크릴레이트 단량체 및 다관능성 (메트)아크릴레이트 단량체를 함유한다. 이는 단관능성 (메트)아크릴레이트 단량체 및 다관능성 (메트)아크릴레이트 단량체를 조합하여 사용하여, 강도가 높은 경화막이 얻어지기 때문이다.When the radically polymerizable compound is composed of a plurality of kinds of compounds containing at least one acryloyl group or methacryloyl group, the radical polymerizable compound is preferably a monofunctional (meth) acrylate monomer and a polyfunctional Meth) acrylate monomer. This is because a cured film having high strength can be obtained by using a combination of a monofunctional (meth) acrylate monomer and a polyfunctional (meth) acrylate monomer.

아크릴로일 기 또는 메타크릴로일 기를 1개 함유하는 단관능성 (메트)아크릴 화합물의 예로서는, 페녹시에틸 (메트)아크릴레이트, 페녹시-2-메틸에틸 (메트)아크릴레이트, 페녹시에톡시에틸 (메트)아크릴레이트, 3-페녹시-2-히드록시프로필 (메트)아크릴레이트, 2-페닐페녹시에틸 (메트)아크릴레이트, 4-페닐페녹시에틸 (메트)아크릴레이트, 3-(2-페닐페닐)-2-히드록시프로필 (메트)아크릴레이트, EO 변성 p-쿠밀페놀의 (메트)아크릴레이트, 2-브로모페녹시에틸 (메트)아크릴레이트, 2,4-디브로모페녹시에틸 (메트)아크릴레이트, 2,4,6-트리브로모페녹시에틸 (메트)아크릴레이트, EO 변성 페녹시 (메트)아크릴레이트, PO 변성 페녹시 (메트)아크릴레이트, 폴리옥시에틸렌 노닐페닐 에테르 (메트)아크릴레이트, 이소보르닐 (메트)아크릴레이트, 1-아다만틸 (메트)아크릴레이트, 2-메틸-2-아다만틸 (메트)아크릴레이트, 2-에틸-2-아다만틸 (메트)아크릴레이트, 보르닐 (메트)아크릴레이트, 트리시클로데카닐 (메트)아크릴레이트, 디시클로펜타닐 (메트)아크릴레이트, 디시클로펜테닐 (메트)아크릴레이트, 시클로헥실 (메트)아크릴레이트, 4-부틸시클로헥실 (메트)아크릴레이트, 아크릴로일 모르폴린, 2-히드록시에틸 (메트)아크릴레이트, 2-히드록시프로필 (메트)아크릴레이트, 2-히드록시부틸 (메트)아크릴레이트, 메틸 (메트)아크릴레이트, 에틸 (메트)아크릴레이트, 프로필 (메트)아크릴레이트, 이소프로필 (메트)아크릴레이트, 부틸 (메트)아크릴레이트, 아밀 (메트)아크릴레이트, 이소부틸 (메트)아크릴레이트, t-부틸 (메트)아크릴레이트, 펜틸 (메트)아크릴레이트, 이소아밀 (메트)아크릴레이트, 헥실 (메트)아크릴레이트, 헵틸 (메트)아크릴레이트, 옥틸 (메트)아크릴레이트, 이소옥틸 (메트)아크릴레이트, 2-에틸헥실 (메트)아크릴레이트, 노닐 (메트)아크릴레이트, 데실 (메트)아크릴레이트, 이소데실 (메트)아크릴레이트, 운데실 (메트)아크릴레이트, 도데실 (메트)아크릴레이트, 라우릴 (메트)아크릴레이트, 스테아릴 (메트)아크릴레이트, 이소스테아릴 (메트)아크릴레이트, 벤질 (메트)아크릴레이트, 1-나프틸메틸 (메트)아크릴레이트, 2-나프틸메틸 (메트)아크릴레이트, 테트라히드로푸르푸릴 (메트)아크릴레이트, 부톡시에틸 (메트)아크릴레이트, 에톡시디에틸렌 글리콜 (메트)아크릴레이트, 폴리에틸렌 글리콜 모노(메트)아크릴레이트, 폴리프로필렌 글리콜 모노(메트)아크릴레이트, 메톡시에틸렌 글리콜 (메트)아크릴레이트, 에톡시에틸 (메트)아크릴레이트, 메톡시폴리에틸렌 글리콜 (메트)아크릴레이트, 메톡시폴리프로필렌 글리콜 (메트)아크릴레이트, 디아세톤 (메트)아크릴아미드, 이소부톡시메틸 (메트)아크릴아미드, N,N-디메틸 (메트)아크릴아미드, t-옥틸 (메트)아크릴아미드, 디메틸아미노에틸 (메트)아크릴레이트, 디에틸아미노에틸 (메트)아크릴레이트, 7-아미노-3,7-디메틸옥틸 (메트)아크릴레이트, N,N-디에틸 (메트)아크릴아미드, 및 N,N-디메틸아미노프로필 (메트)아크릴아미드를 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of monofunctional (meth) acrylic compounds containing one acryloyl group or methacryloyl group include phenoxyethyl (meth) acrylate, phenoxy-2-methylethyl (meth) acrylate, phenoxyethoxy (Meth) acrylate, 3-phenoxy-2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-phenylphenoxyethyl (Meth) acrylate of EO-modified p-cumylphenol, 2-bromophenoxyethyl (meth) acrylate, 2,4-dibromo Modified phenoxy (meth) acrylate, PO-modified phenoxy (meth) acrylate, polyoxyethylene (meth) acrylate, Nonylphenyl ether (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, 1-adamantyl (meth) Acrylate, 2-methyl-2-adamantyl (meth) acrylate, 2-ethyl-2-adamantyl (meth) acrylate, bornyl (meth) acrylate, tricyclodecanyl Acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, 4-butylcyclohexyl (meth) acrylate, acryloylmorpholine, (Meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-hydroxybutyl (meth) acrylate, methyl (Meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, amyl (meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate, Hexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, (Meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) acrylate, nonyl (Meth) acrylate, stearyl (meth) acrylate, isostearyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, (Meth) acrylate, 2-naphthylmethyl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, butoxyethyl (meth) acrylate, ethoxydiethylene glycol (Meth) acrylate, methoxyethylene (meth) acrylate, ethoxyethyl (meth) acrylate, methoxypolyethylene (meth) acrylate, (Meth) acrylate, methoxypolypropylene glycol (meth) acrylate, diacetone (meth) acrylamide, isobutoxymethyl (meth) acrylamide, N, (Meth) acrylate, dimethylaminoethyl (meth) acrylate, diethylaminoethyl (meth) acrylate, 7-amino-3,7-dimethyloctyl Amide, and N, N-dimethylaminopropyl (meth) acrylamide.

상기 단관능성 (메트)아크릴 화합물의 예로서는, 도아고세이 캄파니, 리미티드(Toagosei Co., Ltd.)로부터 상업적으로 입수가능한 아로닉스(ARONIX) M101, 아로닉스 M102, 아로닉스 M110, 아로닉스 M111, 아로닉스 M113, 아로닉스 M117, 아로닉스 M5700, TO1317, 아로닉스 M120, 아로닉스 M150, 및 아로닉스 M156 등의 제품; 오사카 오가닉 케미칼 인더스트리 리미티드(Osaka Organic Chemical Industry Ltd.)로부터 상업적으로 입수가능한 MEDOL 10, MIBDOL 10, CHDOL 10, MMDOL 30, MEDOL 30, MIBDOL 30, CHDOL 30, LA, IBXA, 2-MTA, HPA, 비스코트(Viscoat) #150, 비스코트 #155, 비스코트 #158, 비스코트 #190, 비스코트 #192, 비스코트 #193, 비스코트 #220, 비스코트 #2000, 비스코트 #2100, 및 비스코트 #2150 등의 제품; 교에이샤 케미칼 캄파니, 리미티드(Kyoeisha Chemical Co., Ltd.)로부터 상업적으로 입수가능한 라이트 아크릴레이트(Light Acrylate) BO-A, 라이트 아크릴레이트 EC-A, 라이트 아크릴레이트 DMP-A, 라이트 아크릴레이트 THF-A, 라이트 아크릴레이트 HOP-A, 라이트 아크릴레이트 HOA-MPE, 라이트 아크릴레이트 HOA-MPL, 라이트 아크릴레이트 PO-A, 라이트 아크릴레이트 P-200A, 라이트 아크릴레이트 NP-4EA, 라이트 아크릴레이트 NP-8EA, 및 에폭시 에스테르(EPOXY ESTER) M-600A 등의 제품; 니폰 가야쿠 캄파니, 리미티드(Nippon Kayaku Co., Ltd.)로부터 상업적으로 입수가능한 가야라드(KAYARAD) TC110S, 가야라드 R-564, 및 가야라드 R-128H 등의 제품; 신-나카무라 케미칼 캄파니, 리미티드(Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.)로부터 상업적으로 입수가능한 NK 에스테르 AMP-10G 및 NK 에스테르 AMP-20G 등의 제품; 히타치 케미칼 캄파니, 리미티드(Hitachi Chemical Co., Ltd.)로부터 상업적으로 입수가능한 FA-511A, FA-512A, 및 FA-513A 등의 제품; 다이-이치 고교 세이야쿠 캄파니, 리미티드(Dai-ichi Kogyo Seiyaku Co., Ltd.)로부터 상업적으로 입수가능한 PHE, CEA, PHE-2, PHE-4, BR-31, BR-31M 및 BR-32 등의 제품; 바스프(BASF)로부터 상업적으로 입수가능한 VP; 및 고진 캄파니, 리미티드(Kohjin Co., Ltd.)로부터 상업적으로 입수가능한 ACMO, DMMA, 및 DMAPAA 등의 제품을 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of the monofunctional (meth) acrylic compound include Aronix M101, Aronix M102, Aronix M110, Aronix M111, Aronix M101 commercially available from Toagosei Co., Ltd. Products such as Knicks M113, Aronix M117, Aronix M5700, TO1317, Aronix M120, Aronix M150, and Aronix M156; MEDOL 10, MIBDOL 10, CHDOL 10, MMDOL 30, MEDOL 30, MIBDOL 30, CHDOL 30, LA, IBXA, 2-MTA, HPA, and bis (2-hydroxyethyl) amine, which are commercially available from Osaka Organic Chemical Industry Ltd. Viscoat # 150, Viscoat # 150, Viscoat # 150, Viscoat # 150, Biscoat # 155, Biscoat # 158, Biscoat # 190, Biscoat # 192, Biscoat # 193, Biscoat # 220, Biscoat # # 2150; Light Acrylate BO-A, Light Acrylate EC-A, Light Acrylate DMP-A, Light Acrylate (commercially available from Kyoeisha Chemical Co., Ltd.) Light acrylate HOP-A, light acrylate HOA-MPE, light acrylate HOA-MPL, light acrylate PO-A, light acrylate P-200A, light acrylate NP-4EA, light acrylate NP -8EA, and EPOXY ESTER M-600A; Products such as KAYARAD TC110S, Kayalad R-564, and Kayalad R-128H, which are commercially available from Nippon Kayaku Co., Ltd.; Products such as NK ester AMP-10G and NK ester AMP-20G, which are commercially available from Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.; Products such as FA-511A, FA-512A, and FA-513A, which are commercially available from Hitachi Chemical Co., Ltd.; PHE-2, PHE-4, BR-31, BR-31M and BR-32 commercially available from Dai-ichi Kogyo Seiyaku Co., Products such as; VPs commercially available from BASF; And products such as ACMO, DMMA, and DMAPAA, which are commercially available from Kohjin Co., Ltd., but are not limited thereto.

아크릴로일 기 또는 메타크릴로일 기를 2개 이상 함유하는 다관능성 (메트)아크릴 화합물의 예로서는, 트리메틸올프로판 디(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판 트리(메트)아크릴레이트, EO 변성 트리메틸올프로판 트리(메트)아크릴레이트, PO 변성 트리메틸올프로판 트리(메트)아크릴레이트, EO-PO 변성 트리메틸올프로판 트리(메트)아크릴레이트, 디메틸올트리시클로데칸 디아크릴레이트, 펜타에리트리톨 트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨 테트라(메트)아크릴레이트, 에틸렌 글리콜 디(메트)아크릴레이트, 테트라에틸렌 글리콜 디(메트)아크릴레이트, 폴리에틸렌 글리콜 디(메트)아크릴레이트, 폴리프로필렌 글리콜 디(메트)아크릴레이트, 1,4-부탄디올 디(메트)아크릴레이트, 1,6-헥산디올 디(메트)아크릴레이트, 네오펜틸 글리콜 디(메트)아크릴레이트, 1,3-아다만탄디메탄올 디아크릴레이트, o-크실릴렌 디(메트)아크릴레이트, m-크실릴렌 디(메트)아크릴레이트, p-크실릴렌 디(메트)아크릴레이트, 1,9-노난디올 디아크릴레이트, 1,10-데칸디올 디아크릴레이트, 트리스(2-히드록시에틸) 이소시아누레이트 트리(메트)아크릴레이트, 트리스(아크릴로일옥시) 이소시아누레이트, 비스(히드록시메틸)트리시클로데칸 디(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨 펜타(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨 헥사(메트)아크릴레이트, EO 변성 2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시)페닐)프로판, PO 변성 2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시)페닐)프로판, 및 EO-PO 변성 2,2-비스(4-((메트)아크릴옥시)페닐)프로판을 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of the polyfunctional (meth) acrylate compound containing two or more acryloyl groups or methacryloyl groups include trimethylolpropane di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO-modified trimethylolpropane (Meth) acrylate, trimethylolpropane trimethacrylate, tri (meth) acrylate, PO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO-PO modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, dimethylol tricyclodecane diacrylate, (Meth) acrylate, ethylene glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di Acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (Meth) acrylate, p-xylylene di (meth) acrylate, p-xylylene di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, 1,9-nonanediol diacrylate, 1,10-decanediol diacrylate, tris (2-hydroxyethyl) isocyanurate tri (meth) acrylate, tris (acryloyloxy) isocyanurate (Meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, EO-modified 2,2-bis (4- ( (Meth) acryloxy) phenyl) propane, PO modified 2,2-bis (4 - ((meth) acryloxy) phenyl) propane, and EO- ) Phenyl) propane, but are not limited thereto.

상기 다관능성 (메트)아크릴 화합물의 예로서는, 미츠비시 케미칼 코포레이션(Mitsubishi Chemical Corporation)으로부터 상업적으로 입수가능한 유피머(YUPIMER) UV, 유피머 SA1002, 및 유피머 SA2007 등의 제품; 오사카 오가닉 케미칼 인더스트리 리미티드로부터 상업적으로 입수가능한 비스코트 #195, 비스코트 #230, 비스코트 #215, 비스코트 #260, 비스코트 #335HP, 비스코트 #295, 비스코트 #300, 비스코트 #360, 비스코트 #700, 비스코트 GPT, 및 비스코트 3PA 등의 제품; 교에이샤 케미칼 캄파니, 리미티드로부터 상업적으로 입수가능한 라이트 아크릴레이트 4EG-A, 라이트 아크릴레이트 9EG-A, 라이트 아크릴레이트 NP-A, 라이트 아크릴레이트 DCP-A, 라이트 아크릴레이트 BP-4EA, 라이트 아크릴레이트 BP-4PA, 라이트 아크릴레이트 TMP-A, 라이트 아크릴레이트 PE-3A, 라이트 아크릴레이트 PE-4A, 및 라이트 아크릴레이트 DPE-6A 등의 제품; 신-나카무라 케미칼 캄파니, 리미티드로부터 상업적으로 입수가능한 A-DCP, A-HD-N, A-NOD-N, 및 A-DOD-N 등의 제품; 니폰 가야쿠 캄파니, 리미티드로부터 상업적으로 입수가능한 가야라드 PET-30, 가야라드 TMPTA, 가야라드 R-604, 가야라드 DPHA, 가야라드 DPCA-20, 가야라드 DPCA-30, 가야라드 DPCA-60, 가야라드 DPCA-120, 가야라드 HX-620, 가야라드 D-310, 및 가야라드 330 등의 제품; 도아고세이 캄파니, 리미티드로부터 상업적으로 입수가능한 아로닉스 M208, 아로닉스 M210, 아로닉스 M215, 아로닉스 M220, 아로닉스 M240, 아로닉스 M305, 아로닉스 M309, 아로닉스 M310, 아로닉스 M315, 아로닉스 M325, 및 아로닉스 M400 등의 제품; 및 쇼와 덴코 가부시키가이샤(Showa Denko K.K.)로부터 상업적으로 입수가능한 리폭시(Ripoxy) VR-77, 리폭시 VR-60, 및 리폭시 VR-90 등의 제품을 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of the polyfunctional (meth) acrylic compound include products such as YUPIMER UV, Yupimer SA1002, and Yupimer SA2007 commercially available from Mitsubishi Chemical Corporation; Biscot # 230, Viscot # 215, Viscot # 260, Viscot # 335HP, Viscot # 295, Viscot # 300 and Viscot # 360, commercially available from Osaka Organic Chemical Industries, Products such as Viscot # 700, Viscot GPT, and Viscot 3PA; A, light acrylate NP-A, light acrylate DCP-A, light acrylate BP-4EA, and light acrylate commercially available from Kyoeisha Chemical Co., Ltd. Products such as Late BP-4PA, light acrylate TMP-A, light acrylate PE-3A, light acrylate PE-4A, and light acrylate DPE-6A; Products such as A-DCP, A-HD-N, A-NOD-N, and A-DOD-N commercially available from Shin-Nakamura Chemical Co., Ltd.; GAYARADD DPCA-30, GAYARAD DPCA-60, GAYARADD R-604, GAYARAD DPHA, GAYARAD DPCA-20, GAYARAD DPCA-60, Products such as Kayalad DPCA-120, Kayalad HX-620, Kayalad D-310, and Kayalad 330; Aronix M205, Aronix M215, Aronix M220, Aronix M240, Aronix M305, Aronix M309, Aronix M310, Aronix M315, Aronix M325 commercially available from Toagosei Co., Ltd. , And Aronix M400; And products such as Ripoxy VR-77, Lipoxy VR-60, and Lipoxy VR-90 commercially available from Showa Denko KK. Do not.

상기 화합물에서, 용어 "(메트)아크릴레이트"는 아크릴레이트, 또는 아크릴레이트와 등가인 알콜 잔기를 함유하는 메타크릴레이트를 지칭하고; 용어 "(메트)아크릴로일 기"는 아크릴로일 기, 또는 아크릴로일 기와 등가인 알콜 잔기를 함유하는 메타크릴로일 기를 지칭하고, EO는 에틸렌 옥시드를 나타내고; 용어 "EO 변성 화합물 A"는 화합물 A의 (메트)아크릴산 잔기 및 알콜 잔기가 에틸렌 옥시드 기의 블록 구조를 통해 서로 연결되어 있는 화합물을 지칭하고; PO는 프로필렌 옥시드를 나타내고; 용어 "PO 변성 화합물 B"는 화합물 B의 (메트)아크릴산 잔기 및 알콜 잔기가 프로필렌 옥시드 기의 블록 구조를 통해 서로 연결되어 있는 화합물을 지칭한다.In such compounds, the term " (meth) acrylate " refers to acrylate or methacrylate containing alcohol residues equivalent to acrylate; The term " (meth) acryloyl group " refers to an acryloyl group, or a methacryloyl group containing an alcohol moiety equivalent to an acryloyl group, wherein EO represents ethylene oxide; The term " EO modified compound A " refers to a compound wherein the (meth) acrylic acid moiety and the alcohol moiety of Compound A are linked together through a block structure of an ethylene oxide group; PO represents propylene oxide; The term " PO modifying compound B " refers to a compound in which the (meth) acrylic acid moiety and the alcohol moiety of compound B are linked to each other through a block structure of a propylene oxide group.

성분 (F): 광중합 개시제Component (F): A photopolymerization initiator

성분 (F)는 광중합 개시제이다. 본원에 사용된 용어 "광중합 개시제"는 미리 결정된 파장의 광을 흡수하여 중합 인자 (라디칼)를 발생시키는 화합물을 지칭한다. 특히, 광중합 개시제는 광 (적외선, 가시광선, 자외선, 원자외선, X선, 전자 빔 등의 하전 입자 빔, 또는 방사선)을 흡수하여 라디칼을 발생시키는 중합 개시제 (라디칼 발생제)이다. 보다 특히, 광중합 개시제는, 예를 들어 150 nm 이상 400 nm 이하의 파장의 광을 흡수하여 라디칼을 발생시키는 중합 개시제이다.Component (F) is a photopolymerization initiator. The term " photopolymerization initiator " as used herein refers to a compound that absorbs light of a predetermined wavelength to generate polymerization factors (radicals). In particular, the photopolymerization initiator is a polymerization initiator (radical generator) that absorbs light (a charged particle beam such as an infrared ray, a visible ray, an ultraviolet ray, a deep ultraviolet ray, an X ray, an electron beam, or a radiation) to generate a radical. More particularly, the photopolymerization initiator is a polymerization initiator that generates radicals by absorbing light having a wavelength of 150 nm or more and 400 nm or less, for example.

성분 (F)는 단일 종류의 광중합 개시제로 구성되거나, 또는 복수 종류의 광중합 개시제로 구성될 수 있다.Component (F) may be composed of a single type of photopolymerization initiator, or may be composed of plural kinds of photopolymerization initiators.

라디칼 발생제의 예로서는, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체, 2-(o-클로로페닐)-4,5-디(메톡시페닐)이미다졸 이량체, 2-(o-플루오로페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체, 2-(o-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체, 및 2-(p-메톡시페닐)-4,5-디페닐이미다졸 이량체 등의 2,4,5-트리아릴이미다졸 이량체; 벤조페논, N,N'-테트라메틸-4,4'-디아미노벤조페논 (미힐러 케톤), N,N'-테트라에틸-4,4'-디아미노벤조페논, 4-메톡실-4'-디메틸아미노벤조페논, 4-클로로벤조페논, 4,4'-디메톡시벤조페논, 및 4,4'-디아미노벤조페논 등의 벤조페논 유도체; 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부타논 -1 및 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노-프로판-1-온 등의 α-아미노방향족 케톤 유도체; 2-에틸안트라퀴논, 페난트렌퀴논, 2-t-부틸안트라퀴논, 옥타메틸안트라퀴논, 1,2-벤즈안트라퀴논, 2,3-벤즈안트라퀴논, 2-페닐안트라퀴논, 2,3-디페닐안트라퀴논, 1-클로로안트라퀴논, 2-메틸안트라퀴논, 1,4-나프토퀴논, 9,10-페난트라퀴논, 2-메틸-1,4-나프토퀴논, 및 2,3-디메틸안트라퀴논 등의 퀴논; 벤조인 메틸 에테르, 벤조인 에틸 에테르, 및 벤조인 페닐 에테르 등의 벤조인 에테르 유도체; 벤조인, 메틸벤조인, 에틸벤조인, 및 프로필벤조인 등의 벤조인 유도체; 벤질 디메틸 케탈 등의 벤질 유도체; 9-페닐아크리딘 및 1,7-비스(9,9'-아크리디닐)헵탄 등의 아크리딘 유도체; N-페닐글리신 등의 N-페닐글리신 유도체; 아세토페논, 3-메틸아세토페논, 아세토페논 벤질 케탈, 1-히드록시시클로헥실 페닐 케톤, 및 2,2-디메톡시-2-페닐아세토페논 등의 아세토페논 유도체; 티오크산톤, 디에틸티오크산톤, 2-이소프로필티오크산톤, 및 2-클로로티오크산톤 등의 티오크산톤 유도체; 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀 옥시드 및 비스-(2,6-디메톡시벤조일)-2,4,4-트리메틸펜틸포스핀 옥시드 등의 아실포스핀 옥시드 유도체; 1,2-옥탄디온, 1-[4-(페닐티오)-, 2-(O-벤조일옥심)] 및 에타논, 1-[9-에틸-6-(2-메틸벤조일)-9H-카르바졸-3-일]-, 1-(O-아세틸옥심) 등의 옥심 에스테르 유도체; 크산톤; 플루오레논; 벤즈알데히드; 플루오렌; 안트라퀴논; 트리페닐아민; 카르바졸; 1-(4-이소프로필페닐)-2-히드록시-2-메틸프로판-1-온; 및 2-히드록시-2-메틸-1-페닐 프로판-1-온을 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다. 2,4,5-트리아릴이미다졸 이량체는 치환기를 함유할 수 있다.Examples of the radical generator include 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer , 2- (o-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- 2,4,5-triarylimidazole dimer such as methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer; Benzophenone, N, N'-tetramethyl-4,4'-diaminobenzophenone (Michler's ketone), N, N'-tetraethyl-4,4'-diaminobenzophenone, Benzophenone derivatives such as? -Dimethylaminobenzophenone, 4-chlorobenzophenone, 4,4'-dimethoxybenzophenone, and 4,4'-diaminobenzophenone; Methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propane-l- - &lt; / RTI &gt; aminoaromatic ketone derivatives such as &lt; RTI ID = Dianthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2-phenylanthraquinone, 2,3-di (tert-butylanthraquinone) 2-methyl anthraquinone, 1,4-naphthoquinone, 9,10-phenanthraquinone, 2-methyl-1,4-naphthoquinone, and 2,3-dimethyl Quinones such as anthraquinone; Benzoin ether derivatives such as benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, and benzoin phenyl ether; Benzoin derivatives such as benzoin, methylbenzoin, ethylbenzoin, and propylbenzoin; Benzyl derivatives such as benzyl dimethyl ketal; Acridine derivatives such as 9-phenylacridine and 1,7-bis (9,9'-acridinyl) heptane; N-phenylglycine derivatives such as N-phenylglycine; Acetophenone derivatives such as acetophenone, 3-methylacetophenone, acetophenone benzylketal, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, and 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone; Thioxanthone derivatives such as thioxanthone, diethylthioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, and 2-chlorothioxanthone; Acylphosphine oxide derivatives such as 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide and bis- (2,6-dimethoxybenzoyl) -2,4,4-trimethylpentylphosphine oxide; (2-methylbenzoyl) -9H-carbaldehyde, 1- [4- (phenylthio) -, 2- Oxazol-3-yl] -, 1- (O-acetyloxime); Xanthone; Fluorenone; Benzaldehyde; Fluorene; Anthraquinone; Triphenylamine; Carbazole; 1- (4-isopropylphenyl) -2-hydroxy-2-methylpropan-1-one; And 2-hydroxy-2-methyl-1-phenylpropan-1-one. The 2,4,5-triarylimidazole dimer may contain a substituent.

상기 라디칼 발생제의 예로서는, 바스프로부터 상업적으로 입수가능한 이르가큐어(Irgacure) 184, 이르가큐어 369, 이르가큐어 651, 이르가큐어 500, 이르가큐어 819, 이르가큐어 907, 이르가큐어 784, 이르가큐어 2959, 이르가큐어 CGI-1700, 이르가큐어 CGI-1750, 이르가큐어 CGI-1850, 이르가큐어 CG24-61, 다로큐어(Darocure) 1116, 다로큐어 1173, 루시린(Lucirin) TPO, 루시린 LR 8893, 및 루시린 LR 8970 등의 제품, 및 UCB로부터 상업적으로 입수가능한 우베크릴(Uvecryl) P36 등의 제품을 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of the radical generators include Irgacure 184, Irgacure 369, Irgacure 651, Irgacure 500, Irgacure 819, Irgacure 907, Irgacure 784 commercially available from BASF , Irgacure 2959, Irgacure CGI-1700, Irgacure CGI-1750, Irgacure CGI-1850, Irgacure CG24-61, Darocure 1116, But are not limited to, products such as TPO, lucylline LR 8893, and lucylline LR 8970, and Uvecryl P36 commercially available from UCB.

광경화성 조성물(103) 중 성분 (F)의 배합 비율은 성분 (E)의 양에 대해 바람직하게는 0.01 중량% 이상 10 중량% 이하, 보다 바람직하게는 0.1 중량% 이상 7 중량% 이하이다.The proportion of the component (F) in the photocurable composition (103) is preferably 0.01 wt% or more and 10 wt% or less, more preferably 0.1 wt% or more and 7 wt% or less based on the amount of the component (E).

광경화성 조성물(103) 중 성분 (F)의 배합 비율을 성분 (E)의 양에 대해 0.01 중량% 이상으로 하는 경우에, 광경화성 조성물(103)의 경화 속도가 높아서, 반응 효율을 높이는 것이 가능해진다. 광경화성 조성물(103) 중 성분 (F)의 배합 비율이 성분 (E)의 양에 대해 10.0 중량% 이하인 경우에, 얻어진 경화막(109, 110)의 기계적 강도의 저하가 방지되는 경우가 많다.When the proportion of the component (F) in the photocurable composition (103) is 0.01% by weight or more based on the amount of the component (E), the curing rate of the photocurable composition (103) is high and the reaction efficiency can be improved It becomes. When the compounding ratio of the component (F) in the photo-curing composition (103) is 10.0% by weight or less based on the amount of the component (E), the mechanical strength of the obtained cured film (109,110) is often prevented from being lowered.

또 다른 첨가 성분 (G)Another additive component (G)

광경화성 조성물(103)은 성분 (E) 및 성분 (F) 이외에도, 다양한 목적에 따라, 본 발명의 효과를 손상시키지 않는 한, 첨가 성분 (G)를 추가로 함유할 수 있다. 이러한 첨가 성분 (G)의 예로서는, 증감제, 수소 공여체, 내첨형 이형제, 계면활성제, 산화 억제제, 휘발성 용제, 중합체 성분, 및 상기 성분 (F) 이외의 중합 개시제를 들 수 있다.In addition to the component (E) and the component (F), the photo-curing composition (103) may further contain an additive component (G), depending on various purposes, so long as the effect of the present invention is not impaired. Examples of the additive component (G) include a sensitizer, a hydrogen donor, an internal release agent, a surfactant, an oxidation inhibitor, a volatile solvent, a polymer component, and a polymerization initiator other than the component (F).

증감제는 중합 반응 촉진 또는 반응 전환율 향상의 목적을 위해 사용되는 화합물이다. 증감제로서는, 예를 들어 증감 색소를 들 수 있다.The sensitizer is a compound used for the purpose of promoting the polymerization reaction or improving the conversion rate of the reaction. As the sensitizer, for example, a sensitizer may be mentioned.

증감 색소는 특정한 파장의 광을 흡수하여 여기되고 성분 (F)와 상호작용하는 화합물이다. 본원에 사용된 용어 "상호작용"은 여기된 증감 색소로부터 성분 (F)로의 에너지 또는 전자의 이동을 지칭한다.The sensitizing dye is a compound which is excited by absorbing light of a specific wavelength and interacts with the component (F). The term " interaction " as used herein refers to the transfer of energy or electrons from the excited enhancement dye to the component (F).

증감 색소의 예로서는, 안트라센 유도체, 안트라퀴논 유도체, 피렌 유도체, 페안트라센 유도체, 안트라퀴논 유도체, 피렌 유도체, 페릴렌 유도체, 카르바졸 유도체, 벤조페논 유도체, 티오크산톤 유도체, 크산톤 유도체, 쿠마린 유도체, 페노티아진 유도체, 캄포르퀴논 유도체, 아크리딘 색소, 티오피릴륨 색소, 메로시아닌 색소, 퀴놀린 색소, 스티릴퀴놀린 색소, 케토쿠마린 색소, 티오크산텐 색소, 크산텐 색소, 옥소놀 색소, 시아닌 색소, 로다민 색소, 및 피릴륨 색소를 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of the sensitizing dyes include anthracene derivatives, anthraquinone derivatives, pyrene derivatives, pentalcene derivatives, anthraquinone derivatives, pyrene derivatives, perylene derivatives, carbazole derivatives, benzophenone derivatives, thioxanthone derivatives, xanthone derivatives, coumarin derivatives, A thioxanthone derivative, a phenothiazine derivative, a camphorquinone derivative, an acridine dye, a thiopyrilium dye, a merocyanine dye, a quinoline dye, a styrylquinoline dye, a ketokmarine dye, , Cyanine dyes, rhodamine dyes, and pyrilium dyes.

증감제는 단독으로 또는 조합으로 사용될 수 있다.The sensitizers may be used alone or in combination.

수소 공여체는 성분 (F)로부터 발생된 개시 라디칼 또는 중합 동안 생성된 성장 말단 라디칼과 반응하여 더 활성인 라디칼을 발생시키는 화합물이다. 성분 (F)가 광라디칼 발생제인 경우에, 수소 공여체가 바람직하게는 첨가된다.The hydrogen donor is a starting radical generated from component (F) or a compound which reacts with a growing end radical generated during polymerization to generate a more active radical. When component (F) is a photo-radical generator, a hydrogen donor is preferably added.

이러한 수소 공여체의 예로서는, n-부틸아민, 디-n-부틸아민, 트리-n-부틸포스핀, 알릴티오우레아, s-벤질이소티오우로늄-p-톨루엔술피네이트, 트리에틸아민, 디에틸아미노에틸 아크릴레이트, 트리에틸렌테트라민, 4,4'-비스(디알킬아미노)벤조페논, N,N-디메틸아미노벤조산 에틸 에스테르, N,N-디메틸아미노벤조산 이소아밀 에스테르, 펜틸-4-디메틸아미노벤조에이트, 트리에탄올아민 및 N-페닐글리신 등의 아민 화합물, 및 2-메르캅토-N-페닐벤조이미다졸 및 메르캅토프로피온산 에스테르 등의 메르캅토 화합물을 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of such a hydrogen donor include n-butylamine, di-n-butylamine, tri-n-butylphosphine, allylthiourea, s-benzylisothiouronium-p- toluenesulfinate, triethylamine, diethyl Aminoethyl acrylate, triethylenetetramine, 4,4'-bis (dialkylamino) benzophenone, N, N-dimethylaminobenzoic acid ethyl ester, N, N-dimethylaminobenzoic acid isoamyl ester, pentyl- Aminobenzoate, triethanolamine and N-phenylglycine, and mercapto compounds such as 2-mercapto-N-phenylbenzoimidazole and mercaptopropionic acid esters, but the present invention is not limited thereto.

수소 공여체는 단독으로 또는 조합으로 사용될 수 있다.The hydrogen donors may be used alone or in combination.

수소 공여체는 증감제로서 기능할 수 있다.The hydrogen donor may function as a sensitizer.

광경화성 조성물(103)이 첨가 성분 (G)로서 증감제 또는 수소 공여체를 함유하는 경우에, 광경화성 조성물(103)에 함유된 증감제 또는 수소 공여체의 양은 성분 (E)의 양에 대해 바람직하게는 0.1 중량% 이상 20 중량% 이하, 보다 바람직하게는 0.1 중량% 이상 5.0 중량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.2 중량% 이상 2.0 중량% 이하이다. 그에 함유된 증감제의 양이 성분 (E)의 0.1 중량% 이상인 경우에, 중합 촉진 효과를 효과적으로 발현할 수 있다. 그에 함유된 증감제 또는 수소 공여체의 양이 성분 (E)의 양에 대해 5.0 중량% 이하인 경우에, 제조된 경화막을 형성하는 중합체 화합물의 분자량을 충분히 높게 할 수 있다. 또한, 광경화성 조성물(103) 중 증감제 또는 수소 공여체의 불완전한 용해 또는 광경화성 조성물(103)의 보존 안정성의 저하를 억제할 수 있다.When the photocurable composition 103 contains a sensitizer or a hydrogen donor as the additive component G, the amount of sensitizer or hydrogen donor contained in the photocurable composition 103 is preferably in the range of Is not less than 0.1% by weight and not more than 20% by weight, more preferably not less than 0.1% by weight nor more than 5.0% by weight, further preferably not less than 0.2% by weight nor more than 2.0% by weight. When the amount of the sensitizer contained therein is 0.1% by weight or more of the component (E), the polymerization accelerating effect can be effectively exhibited. When the amount of the sensitizer or the hydrogen donor contained therein is 5.0% by weight or less based on the amount of the component (E), the molecular weight of the polymer compound forming the cured film can be made sufficiently high. In addition, incomplete dissolution of the sensitizer or hydrogen donor in the photocurable composition (103) or deterioration of the storage stability of the photocurable composition (103) can be suppressed.

내첨형 이형제는 광경화성 조성물(103)을 경화시킴으로써 얻어진 광경화물(109)과 몰드(104) 사이의 계면 결합 강도의 저감의 목적을 위해, 즉 하기 이형 단계에서의 이형력의 저감의 목적을 위해, 광경화성 조성물(103)에 첨가될 수 있다. 본원에 사용된 용어 "내첨형"은 작용제가 광경화성 조성물(103)의 배치 단계 전에 광경화성 조성물(103)에 첨가되는 것을 의미한다. 내첨형 이형제는 단독으로 또는 또 다른 내첨형 이형제와의 조합으로 사용될 수 있다.The internal mold release agent is used for the purpose of reducing the interfacial bond strength between the photo-cured product 109 and the mold 104 obtained by curing the photo-curing composition 103, that is, for the purpose of reducing the release force in the following mold- May be added to the photo-curable composition 103. [ As used herein, the term " internal form " means that the agent is added to the photo-curable composition 103 prior to the placement step of the photo-curable composition 103. The internal release agent may be used alone or in combination with another internal release agent.

내첨형 이형제의 예로서는, 실리콘 계면활성제, 불소 계면활성제 및 탄화수소 계면활성제 등의 계면활성제 등을 들 수 있다. 본 실시형태에서, 내첨형 이형제는 중합성이 아니다.Examples of the internal mold release agent include a surfactant such as a silicone surfactant, a fluorine surfactant, and a hydrocarbon surfactant. In the present embodiment, the internal release agent is not polymerizable.

불소 계면활성제의 예로서는, 퍼플루오로알킬 기를 함유하는 알콜의 폴리알킬렌 옥시드 부가물 (폴리에틸렌 옥시드 부가물 및 폴리프로필렌 옥시드 부가물), 및 퍼플루오로폴리에테르의 폴리알킬렌 옥시드 부가물 (폴리에틸렌 옥시드 부가물 및 폴리프로필렌 옥시드 부가물)이 포함된다. 불소 계면활성제는 분자 구조의 일부 (예를 들어, 말단기)에 히드록시 기, 알콕시 기, 알킬 기, 아미노 기, 티올 기 등을 함유할 수 있다.Examples of the fluorine surfactant include polyalkylene oxide adducts of an alcohol containing a perfluoroalkyl group (a polyethylene oxide adduct and a polypropylene oxide adduct), and polyalkylene oxide adducts of a perfluoropolyether Water (polyethylene oxide adduct and polypropylene oxide adduct). The fluorine surfactant may contain a hydroxy group, an alkoxy group, an alkyl group, an amino group, a thiol group and the like in a part (for example, an end group) of the molecular structure.

불소 계면활성제는 상업적으로 입수가능한 제품일 수 있다. 이러한 상업적으로 입수가능한 제품의 예로서는, DIC 코포레이션(DIC Corporation)으로부터 입수가능한 메가페이스(MEGAFACE) F-444, 메가페이스 TF-2066, 메가페이스 TF-2067, 및 메가페이스 TF-2068 등의 제품; 스미토모 쓰리엠 리미티드(Sumitomo 3M Limited)로부터 입수가능한 플루오라드(FLUORAD) FC-430 및 플루오라드 FC-431 등의 제품; AGC 세이미 케미칼 캄파니, 리미티드(AGC Seimi Chemical Co., Ltd.)로부터 입수가능한 서플론(SURFLON) S-382; 토켐 프로덕츠 코포레이션(Tohkem Products Corporation)으로부터 입수가능한 EFTOP EF-122A, EFTOP EF-122B, EFTOP EF-122C, EFTOP EF-121, EFTOP EF-126, EFTOP EF-127, 및 EFTOP MF-100 등의 제품; OMNOVA 솔루션즈 인크.(OMNOVA Solutions Inc.)로부터 입수가능한 PF-636, PF-6320, PF-656, 및 PF-6520 등의 제품; 다이킨 인더스트리즈, 리미티드(Daikin Industries, Ltd.)로부터 입수가능한 유니다인(UNIDYNE) DS-401, 유니다인 DS-403, 및 유니다인 DS-451 등의 제품; 및 NEOS 캄파니 리미티드(NEOS Company Limited)로부터 입수가능한 프터전트(Ftergent) 250, 프터전트 251, 프터전트 222F, 및 프터전트 208G 등의 제품을 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.The fluorine surfactant may be a commercially available product. Examples of such commercially available products include products such as MEGAFACE F-444, Megaface TF-2066, Megaface TF-2067, and Megaface TF-2068 available from DIC Corporation; Products such as FLUORAD FC-430 and Fluorad FC-431 available from Sumitomo 3M Limited; SURFLON S-382, available from AGC Seimi Chemical Co., Ltd.; Products such as EFTOP EF-122A, EFTOP EF-122B, EFTOP EF-122C, EFTOP EF-121, EFTOP EF-126, EFTOP EF-127 and EFTOP MF-100 available from Tohkem Products Corporation; Products such as PF-636, PF-6320, PF-656, and PF-6520, available from OMNOVA Solutions Inc.; Products such as UNIDYNE DS-401, Unidyne DS-403, and Unidyne DS-451 available from Daikin Industries, Ltd.; And products such as Ftergent 250, Pratet 251, Pratent 222F, and Pratent 208G available from NEOS Company Limited, but are not limited thereto.

내첨형 이형제는 탄화수소 계면활성제일 수 있다.The internal release agent may be a hydrocarbon surfactant.

탄화수소 계면활성제의 예로서는, 탄소 원자수 1 내지 50의 알킬 알콜에 탄소 원자수 2 내지 4의 알킬렌 옥시드를 부가함으로써 얻어진 알킬 알콜-알킬렌 옥시드 부가물이 포함된다.Examples of the hydrocarbon surfactant include an alkyl alcohol-alkylene oxide adduct obtained by adding an alkylene oxide having 2 to 4 carbon atoms to an alkyl alcohol having 1 to 50 carbon atoms.

알킬 알콜-알킬렌 옥시드 부가물의 예로서는, 메틸 알콜-에틸렌 옥시드 부가물, 데실 알콜-에틸렌 옥시드 부가물, 라우릴 알콜-에틸렌 옥시드 부가물, 세틸 알콜-에틸렌 옥시드 부가물, 스테아릴 알콜-에틸렌 옥시드 부가물, 및 스테아릴 알콜-에틸렌 옥시드/프로필렌 옥시드 부가물을 들 수 있다. 각각의 알킬 알콜-알킬렌 옥시드 부가물의 말단기는 단순하게 알킬 알콜에 폴리알킬렌 옥시드를 부가함으로써 제조될 수 있는 히드록시 기에 제한되지는 않는다. 이러한 히드록시 기는, 예를 들어 카르복시 기, 아미노 기, 피리딜 기, 티올 기 또는 실라놀 기 등의 극성 관능기, 또는 알킬 기 또는 알콕시 기 등의 소수성 관능기로 전환될 수 있다.Examples of alkyl alcohol-alkylene oxide adducts include methyl alcohol-ethylene oxide adduct, decyl alcohol-ethylene oxide adduct, lauryl alcohol-ethylene oxide adduct, cetyl alcohol-ethylene oxide adduct, Alcohol-ethylene oxide adducts, and stearyl alcohol-ethylene oxide / propylene oxide adducts. The terminal group of each alkyl alcohol-alkylene oxide adduct is not limited to a hydroxy group which can be prepared simply by adding a polyalkylene oxide to an alkyl alcohol. Such a hydroxy group can be converted into a hydrophobic functional group such as a polar functional group such as a carboxyl group, an amino group, a pyridyl group, a thiol group or a silanol group, or an alkyl group or an alkoxy group.

알킬 알콜-알킬렌 옥시드 부가물은 상업적으로 입수가능한 제품일 수 있다. 상업적으로 입수가능한 제품의 예로서는, 아오키 오일 인더스트리얼 캄파니, 리미티드(Aoki Oil Industrial Co., Ltd.)로부터 입수가능한 블라우논(BLAUNON) MP-400, 블라우논 MP-550, 및 블라우논 MP-1000 등의 폴리옥시에틸렌 메틸 에테르 (메틸 알콜-에틸렌 옥시드 부가물); 아오키 오일 인더스트리얼 캄파니, 리미티드로부터 입수가능한 파인서프(FINESURF) D-1303, 파인서프 D-1305, 파인서프 D-1307, 및 파인서프 D-1310 등의 폴리옥시에틸렌 데실 에테르 (데실 알콜-에틸렌 옥시드 부가물); 아오키 오일 인더스트리얼 캄파니, 리미티드로부터 입수가능한 블라우논 EL-1505 등의 폴리옥시에틸렌 라우릴 에테르 (라우릴 알콜-에틸렌 옥시드 부가물); 아오키 오일 인더스트리얼 캄파니, 리미티드로부터 입수가능한 블라우논 CH-305 및 블라우논 CH-310 등의 폴리옥시에틸렌 세틸 에테르 (세틸 알콜-에틸렌 옥시드 부가물); 아오키 오일 인더스트리얼 캄파니, 리미티드로부터 입수가능한 블라우논 SR-705, 블라우논 SR-707, 블라우논 SR-715, 블라우논 SR-720, 블라우논 SR-730, 및 블라우논 SR-750 등의 폴리옥시에틸렌 스테아릴 에테르 (스테아릴 알콜-에틸렌 옥시드 부가물); 아오키 오일 인더스트리얼 캄파니, 리미티드로부터 입수가능한 블라우논 SA-50/50 1000R 및 블라우논 SA-30/70 2000R 등의 랜덤 중합체형 폴리옥시에틸렌 폴리옥시프로필렌 스테아릴 에테르; 바스프로부터 입수가능한 플루리올(Pluriol) A760E 등의 폴리옥시에틸렌 메틸 에테르; 및 가오 코포레이션(Kao Corporation)으로부터 입수가능한 에멀겐(Emulgen) 시리즈 계면활성제 등의 폴리옥시에틸렌 알킬 에테르를 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.The alkyl alcohol-alkylene oxide adduct may be a commercially available product. Examples of commercially available products include BLAUNON MP-400, BLAUNON MP-550 and BLAUNON MP-1000 available from Aoki Oil Industrial Co., Ltd. Of polyoxyethylene methyl ether (methyl alcohol-ethylene oxide adduct); Polyoxyethylene decyl ether (decyl alcohol-ethylene oxide) such as FINESURF D-1303, Pine Surf D-1305, Pine Surf D-1307 and Pine Surf D-1310 available from Aoki Oil Industrial Corp., Seed adducts); Polyoxyethylene lauryl ether (lauryl alcohol-ethylene oxide adduct) such as Blaunone EL-1505 available from Aoki Oil Industrial Co., Ltd.; Polyoxyethylene cetyl ether (cetyl alcohol-ethylene oxide adduct) such as BLAUNON CH-305 and BLAUNON CH-310 available from Aoki Oil Industrial Company, Limited; Polyoxides such as Blaunon SR-705, Blaunon SR-707, Blaunon SR-715, Blaunon SR-720, Blaunon SR-730 and Blaunon SR-750 available from Aoki Oil Industrial Company, Ethylene stearyl ether (stearyl alcohol-ethylene oxide adduct); Random polymer type polyoxyethylene polyoxypropylene stearyl ether such as BLAUNON SA-50/50 1000R and BLAUNON SA-30/70 2000R available from Aoki Oil Industrial Company, Limited; Polyoxyethylene methyl ethers such as Pluriol A760E available from BASF; And polyoxyethylene alkyl ethers, such as the Emulgen series surfactants available from Kao Corporation, but are not limited thereto.

이들 탄화수소 계면활성제 중에서도, 내첨형 이형제는 바람직하게는 알킬 알콜-알킬렌 옥시드 부가물, 보다 바람직하게는 장쇄 알킬 알콜-알킬렌 옥시드 부가물이다.Among these hydrocarbon surfactants, the internal release agent is preferably an alkyl alcohol-alkylene oxide adduct, more preferably a long-chain alkyl alcohol-alkylene oxide adduct.

광경화성 조성물(103)이 첨가 성분 (G)로서 내첨형 이형제를 함유하는 경우에, 그에 함유된 내첨형 이형제의 양은 성분 (E)의 양에 대해 바람직하게는 예를 들어 0.001 중량% 이상 10 중량% 이하, 보다 바람직하게는 0.01 중량% 이상 7 중량% 이하, 더욱 바람직하게는 0.05 중량% 이상 5 중량% 이하이다. 그에 함유된 내첨형 이형제의 양이 성분 (E)의 양에 대해 0.001 중량% 이상 10 중량% 이하인 경우에, 이형력 저감 효과 및 충전성이 우수하다.When the photo-curable composition 103 contains an annular release agent as the additive component G, the amount of the internal release agent contained therein is preferably from 0.001% by weight to 10% by weight based on the amount of the component (E) %, More preferably not less than 0.01 wt% and not more than 7 wt%, and still more preferably not less than 0.05 wt% and not more than 5 wt%. When the amount of the internal mold release agent contained therein is 0.001% by weight or more and 10% by weight or less based on the amount of the component (E), the releasing force reduction effect and the filling property are excellent.

광경화성 조성물(103)은 첨가 성분 (G)로서 휘발성 용제를 함유할 수 있지만, 바람직하게는 휘발성 용제를 실질적으로 함유하지 않는다. 본원에 사용된 표현 "용제를 실질적으로 함유하지 않는다"는 불순물 등의 의도치 않게 함유된 휘발성 용제 이외의 어떠한 휘발성 용제도 함유되지 않는 것을 의미한다. 즉, 예를 들어 광경화성 조성물(103)에 함유된 휘발성 용제의 양은 광경화성 조성물(103)의 양에 대해 바람직하게는 3 중량% 이하, 보다 바람직하게는 1 중량% 이하이다. 본원에 사용된 용어 "휘발성 용제"는 광경화성 조성물(103) 또는 포토레지스트에 일반적으로 사용되는 휘발성 용제를 지칭한다. 휘발성 용제의 종류는 특별히 제한되지는 않지만, 휘발성 용제는 광경화성 조성물(103)을 형성하는 별개의 화합물을 용해 및 균일하게 분산시킬 수 있고, 해당 화합물과 비반응성일 수 있다.The photocurable composition 103 may contain a volatile solvent as the additive component (G), but preferably contains substantially no volatile solvent. As used herein, the expression " substantially free of solvent " means that it does not contain any volatile solvents other than volatile solvents that are unintentionally contained, such as impurities. That is, for example, the amount of the volatile solvent contained in the photo-curable composition 103 is preferably 3% by weight or less, more preferably 1% by weight or less based on the amount of the photo-curing composition 103. The term " volatile solvent " as used herein refers to a photo-curable composition 103 or a volatile solvent commonly used in photoresists. The type of the volatile solvent is not particularly limited, but the volatile solvent can dissolve and uniformly disperse the different compound forming the photo-curable composition 103, and may be non-reactive with the compound.

광경화성 조성물의 배합 시의 온도The temperature at which the photocurable composition is blended

광경화성 조성물(103)을 제조하는 과정에서, 성분 (E) 및 성분 (F)를 미리 결정된 온도 조건 하에, 특히 0℃ 이상 100℃ 이하 범위 내에서 혼합하고, 용해시킨다. 이는 광경화성 조성물(103)이 첨가 성분 (G)를 함유하는 경우에도 마찬가지이다.In the process of producing the photo-curing composition (103), the component (E) and the component (F) are mixed and dissolved under predetermined temperature conditions, particularly in the range of 0 ° C to 100 ° C. This is also true when the photocurable composition 103 contains the additive component (G).

광경화성 조성물의 점도Viscosity of photocurable composition

휘발성 용제를 제외한 성분인 광경화성 조성물(103)의 성분의 혼합물은 23℃에서의 점도가 바람직하게는 1 밀리파스칼-초 이상 100 밀리파스칼-초 이하, 보다 바람직하게는 1 밀리파스칼-초 이상 50 밀리파스칼-초 이하, 더욱 바람직하게는 1 밀리파스칼-초 이상 20 밀리파스칼-초 이하이다.The mixture of the components of the photo-curing composition (103), which is a component excluding the volatile solvent, has a viscosity at 23 캜 of preferably 1 mPa · s to 100 mPa · s, more preferably 1 mPa · s to 50 Milli-pascal-second or less, more preferably 1 milli-pascal-second and 20 milli-pascal-second or less.

혼합물의 점도가 100 밀리파스칼-초 이하인 경우에, 광경화성 조성물(103)을 몰드(104)와 서로 접촉시키는 과정에서 몰드(104) 상의 미세 패턴의 오목부에 광경화성 조성물(103)을 충전하는데 긴 시간이 소요되지 않는다. 또한, 충전 불량에 의한 패턴 결함이 발생하기 어렵다.The photocurable composition 103 is filled in the concave portion of the fine pattern on the mold 104 in the process of bringing the photocurable composition 103 into contact with the mold 104 when the viscosity of the mixture is 100 milli-pascals-second or less It does not take long time. In addition, pattern defects due to poor charging are unlikely to occur.

혼합물의 점도가 1 밀리파스칼-초 이상인 경우에, 광경화성 조성물(103)을 기재(102)에 도포하는 과정에서 불균일한 도포가 발생하기 어렵고, 광경화성 조성물(103)을 몰드(104)와 서로 접촉시키는 과정에서 몰드(104)의 단부로부터 광경화성 조성물(103)이 유출하기 어렵다.When the viscosity of the mixture is not less than 1 milli-pascal-second, non-uniform application hardly occurs during the application of the photo-curing composition 103 to the base material 102, It is difficult for the photocurable composition 103 to leak out from the end of the mold 104 during the contact.

광경화성 조성물의 표면 장력The surface tension of the photocurable composition

휘발성 용제를 제외한 성분인 광경화성 조성물(103)의 성분의 혼합물은 23℃에서의 표면 장력이 바람직하게는 5 mN/m 이상 70 mN/m 이하, 보다 바람직하게는 7 mN/m 이상 35 mN/m 이하, 더욱 바람직하게는 10 mN/m 이상 32 mN/m 이하이다. 혼합물의 표면 장력이 5 mN/m 이상인 경우에, 광경화성 조성물(103)을 몰드(104)와 서로 접촉시키는 과정에서 몰드(104) 상의 미세 패턴의 오목부에 광경화성 조성물(103)을 충전하는데 긴 시간이 소요되지 않는다.The mixture of the components of the photocurable composition 103 excluding the volatile solvent preferably has a surface tension at 23 DEG C of preferably 5 mN / m or more and 70 mN / m or less, more preferably 7 mN / m or more and 35 mN / m or less, and more preferably 10 mN / m or more and 32 mN / m or less. When the surface tension of the mixture is 5 mN / m or more, the photocurable composition 103 is filled in the concave portion of the fine pattern on the mold 104 in the process of bringing the photocurable composition 103 into contact with the mold 104 It does not take long time.

혼합물의 표면 장력이 70 mN/m 이하인 경우에, 광경화성 조성물(103)을 광경화시킴으로써 얻어진 경화막(109, 110)이 표면 평활성을 갖는다.When the surface tension of the mixture is 70 mN / m or less, the cured films 109 and 110 obtained by photo-curing the photo-curable composition 103 have surface smoothness.

광경화성 조성물에 혼입되는 불순물Impurities incorporated into the photo-curable composition

밀착층 형성 조성물(100)과 마찬가지로 광경화성 조성물(103)도 바람직하게는 불순물을 실질적으로 함유하지 않는다.Like the adhesive layer-forming composition 100, the photo-curable composition 103 preferably also contains substantially no impurities.

밀착층 형성 조성물(100)과 마찬가지로 광경화성 조성물(103)도 바람직하게는 정제 단계를 통해 얻어진다. 이러한 정제 단계에서는, 필터를 사용한 여과 등이 바람직하게 행해진다.Like the adhesive layer-forming composition 100, the photocurable composition 103 is also preferably obtained through a purification step. In such a purification step, filtration using a filter or the like is preferably performed.

필터를 사용한 여과를 행하는 경우에, 구체적으로 성분 (E), 성분 (F) 및 필요에 따라 첨가되는 첨가 성분 (G)를 혼합함으로써 얻어진 혼합물을 바람직하게는 예를 들어 구멍 크기 0.001 μm 이상 5.0 μm 이하의 필터를 통해 여과한다. 여과를 다수의 단계에서 필터를 사용하여 행하거나 또는 필터를 다수회 사용하여 반복하는 것이 보다 바람직하다. 여과액을 다시 여과할 수 있다. 구멍 크기가 상이한 복수의 필터가 여과에 사용될 수 있다. 여과에 사용되는 필터는 특별히 제한되지는 않지만, 폴리에틸렌 수지, 폴리프로필렌 수지, 불소 수지, 나일론 수지 등으로 제조될 수 있다.The mixture obtained by mixing the component (E), the component (F) and the additive component (G) added as required in the case of performing the filtration using the filter is preferably, for example, from 0.001 μm to 5.0 μm Filter through the following filters. It is more preferable to perform the filtration using the filter in a plurality of stages or by repeating the use of the filter many times. The filtrate can be filtered again. A plurality of filters having different hole sizes may be used for filtration. The filter used for the filtration is not particularly limited, but it may be made of a polyethylene resin, a polypropylene resin, a fluororesin, a nylon resin or the like.

이러한 정제 단계를 통해, 광경화성 조성물(103)에 혼입되는 입자 등의 불순물을 제거할 수 있다. 이는 광경화성 조성물(103)을 광경화시킴으로써 얻어진 광경화물(109)에서 부주의하게 요철로 인한 패턴 결함이 발생하는 것을 방지하는 것을 가능하게 한다.Through such a purification step, impurities such as particles incorporated in the photo-curable composition 103 can be removed. This makes it possible to prevent pattern defects caused by unevenness inadvertently from occurring in the photo-cured product 109 obtained by photo-curing the photo-curing composition 103.

광경화성 조성물(103)이 반도체 집적 회로 등의 반도체 디바이스에 사용하기 위한 회로 기판을 제조하기 위해 사용되는 경우에, 광경화성 조성물(103) 중에 금속 원자를 함유하는 불순물 (금속 불순물)이 혼입되는 것을 바람직하게는 가능한 한 회피한다. 이는 밀착층 형성 조성물(100)에 혼입되는 불순물과 마찬가지로 불순물도 회로 기판의 동작을 저해하는 것을 방지하기 때문이다. 이러한 경우에, 광경화성 조성물(103) 중 금속 불순물의 농도는 바람직하게는 10 ppm 이하, 보다 바람직하게는 100 ppb 이하이다.In the case where the photo-curing composition 103 is used for producing a circuit board for use in a semiconductor device such as a semiconductor integrated circuit, it is preferable that impurities (metal impurities) containing metal atoms are incorporated in the photo- Preferably, avoid as much as possible. This is because impurities as well as the impurities incorporated into the adhesion layer forming composition 100 prevent the operation of the circuit board from being hindered. In this case, the concentration of the metal impurity in the photo-curable composition 103 is preferably 10 ppm or less, more preferably 100 ppb or less.

따라서, 광경화성 조성물(103)은 바람직하게는 제조 단계에서 금속과 접촉하지 않으면서 제조된다. 즉, 성분 (E), 성분 (F) 및 첨가 성분 (G)의 원료를 칭량하고, 배합하고, 함께 혼합하는 경우에, 바람직하게는 금속 칭량 기구 또는 용기를 사용하지 않는다. 또한, 상기 정제 단계에서, 금속 불순물 제거 필터를 사용하여 여과를 행하는 것이 바람직하다. 금속 불순물 제거 필터는 특별히 제한되지는 않지만, 셀룰로스 및 규조토, 이온 교환 수지 등으로 제조된 필터일 수 있다. 금속 불순물 제거 필터는 바람직하게는 세정 후에 사용된다. 세정 방법은 바람직하게는 하기와 같다: 초순수로의 세척, 알콜로의 세척, 광경화성 조성물(103)로의 공세척이 이 순서대로 행해진다.Thus, the photo-curable composition 103 is preferably manufactured without contacting the metal in the manufacturing step. That is, when the raw materials of the component (E), the component (F) and the additive component (G) are weighed, compounded and mixed together, preferably a metal weighing device or container is not used. In the purification step, filtration is preferably performed using a metal impurity removal filter. The metal impurity removal filter is not particularly limited, but may be a filter made of cellulose and diatomaceous earth, an ion exchange resin, or the like. The metal impurity removal filter is preferably used after cleaning. The cleaning method is preferably as follows: washing with ultrapure water, washing with alcohol, and washing with photo-curable composition 103 in this order.

경화물 패턴의 제조 방법Method of manufacturing cured pattern

본 발명의 한 실시형태에 따른 경화물 패턴(111) (패턴 형상을 갖는 경화막)의 제조 방법에 대해 하기 기재한다. 도 1(a) 내지 1(h)는 경화물 패턴(111)의 제조 방법의 한 예를 제시하는 모식적 단면도이다.A method of producing a cured product pattern 111 (a cured film having a pattern shape) according to an embodiment of the present invention will be described below. 1 (a) to 1 (h) are schematic cross-sectional views showing an example of a manufacturing method of the cured product pattern 111. Fig.

경화물 패턴(111)의 제조 방법은The manufacturing method of the cured product pattern 111

(1) 기재(102) 상에, 밀착층 형성 조성물(100)을 사용하여 밀착층(101)을 형성하는 제1 단계 (밀착층 형성 단계),(1) a first step (adhesion layer formation step) of forming the adhesion layer 101 on the base material 102 by using the adhesion layer-forming composition 100,

(2) 밀착층(101) 상에, 광경화성 조성물(103)을 배치하는 제2 단계 (배치 단계),(2) a second step (placement step) of placing the photo-curing composition 103 on the adhesion layer 101,

(3) 밀착층(101) 상의 광경화성 조성물(103)과 몰드(104)를 서로 접촉시키는 제3 단계 (몰드 접촉 단계),(3) a third step (mold contacting step) of bringing the photocurable composition 103 on the adhesion layer 101 and the mold 104 into contact with each other,

(5) 광경화성 조성물(103)과 몰드(104)를 접촉시킨 상태에서, 광경화성 조성물(103)에 광을 조사하는 제4 단계 (광 조사 단계), 및(5) a fourth step (light irradiation step) of irradiating light to the photo-curable composition 103 in a state in which the photo-curable composition 103 and the mold 104 are in contact with each other, and

(6) 제4 단계에서 얻어진 경화물로부터 몰드(104)를 분리하는 제5 단계 (이형 단계)(6) a fifth step (release step) of separating the mold 104 from the cured product obtained in the fourth step,

를 포함한다..

경화물 패턴(111)의 제조 방법은 제3 단계와 제4 단계 사이에, (4) 기재(102)와 몰드(104)를 위치정렬시키는 단계 (위치정렬 단계)를 추가로 포함할 수 있다.The manufacturing method of the cured product pattern 111 may further include (4) positioning the substrate 102 and the mold 104 (alignment step) between the third step and the fourth step.

경화물 패턴(111)의 제조 방법은 광 나노임프린트 기술을 사용하는 방법이다.The manufacturing method of the cured product pattern 111 is a method using a photo-nanoimprint technique.

이러한 방법에 의해 얻어진 경화물 패턴(111)은 바람직하게는 1 nm 이상 10 mm 이하, 보다 바람직하게는 10 nm 이상 100 μm 이하의 크기의 패턴을 갖는 막이다. 또한, 나노 크기 (1 nm 이상 100 nm 이하)의 패턴 (요철 구조)을 갖는 막을 제조하는 패턴 형성 기술은 일반적으로 광 나노임프린트 기술로 지칭된다.The cured product pattern 111 obtained by this method is preferably a film having a pattern with a size of 1 nm or more and 10 mm or less, and more preferably 10 nm or more and 100 占 퐉 or less. In addition, a pattern formation technique for producing a film having a nano-sized (1 nm or more and 100 nm or less) pattern (concavo-convex structure) is generally referred to as a photo-nanoimprint technique.

각 단계에 대해 하기 기재한다.Each step will be described below.

(1) 밀착층 형성 단계(1) Step of forming adhesion layer

본 단계 (밀착층 형성 단계)에서는, 도 1(a)에 제시된 바와 같이, 밀착층 형성 조성물(100)을 사용하여 밀착층(101)을 기재(102) 상에 형성한다. 밀착층(101)은 중합체 화합물 (중합체)을 주로 함유한다.In this step (adhesion layer formation step), the adhesion layer 101 is formed on the base material 102 by using the adhesion layer-forming composition 100 as shown in Fig. 1 (a). The adhesive layer 101 mainly contains a polymer compound (polymer).

광경화성 조성물(103)을 배치하는 대상인 기재(102)는 기판 또는 지지체이며, 다양한 목적에 따라 임의의 기재로부터 선택될 수 있다. 기재(102)는, 예를 들어 실리콘 웨이퍼; 알루미늄, 티타늄-텅스텐 합금, 알루미늄-규소 합금, 알루미늄-구리-규소 합금, 산화규소, 질화규소 등으로 제조된 반도체 디바이스 기판; 석영 기판; 유리 기판; 광학 필름; 세라믹 막; 증착막; 자기막; 반사막; Ni, Cu, Cr, Fe 등으로 제조된 금속 기재; 종이 시트; 폴리에스테르 막, 폴리카르보네이트 막, 또는 폴리이미드 막으로 제조된 중합체 기재; TFT 어레이 기재; PDP를 위한 전극판; 플라스틱 기재; ITO 또는 금속으로 제조된 도전성 기재; 절연성 기재 등일 수 있다. 하기 기재 가공 단계에서 기재(102)를 에칭 등에 의해 가공하는 경우에, 기재(102)는 바람직하게는 실리콘 웨이퍼 또는 반도체 디바이스 기판이다. 기재(102)는 반도체 디바이스 기판 상에 스핀-온-글래스, 유기 물질, 금속, 산화물, 질화물 등을 사용하여 단일 종류 또는 복수 종류의 막을 침착함으로써 수득된 기재일 수 있다.The substrate 102 to which the photocurable composition 103 is to be disposed is a substrate or a support, and may be selected from any substrate according to various purposes. The substrate 102 may be, for example, a silicon wafer; A semiconductor device substrate made of aluminum, titanium-tungsten alloy, aluminum-silicon alloy, aluminum-copper-silicon alloy, silicon oxide, silicon nitride or the like; Quartz substrate; A glass substrate; Optical film; Ceramic membranes; Vapor deposition; Magnetic film; Reflective film; Ni, Cu, Cr, Fe, or the like; Paper sheet; A polymer substrate made of a polyester film, a polycarbonate film, or a polyimide film; TFT array substrate; An electrode plate for a PDP; Plastic substrates; A conductive substrate made of ITO or metal; Insulating substrate or the like. When the substrate 102 is processed by etching or the like in the following substrate processing step, the substrate 102 is preferably a silicon wafer or a semiconductor device substrate. The substrate 102 may be a substrate obtained by depositing a single kind or a plurality of kinds of films using a spin-on-glass, an organic material, a metal, an oxide, a nitride or the like on a semiconductor device substrate.

본 실시형태에서, 기재(102)는 바람직하게는 표면 상에 실라놀 기 (SiOH 기) 등의 히드록시 기 (OH 기)를 갖는다. 이러한 종류의 기재로서는, 예를 들어 실리콘 웨이퍼, 석영 웨이퍼, 유리 웨이퍼 등을 들 수 있다. 기재(102)가 표면 상에 히드록시 기를 갖는 경우에, 기본 단계에서의 가열 처리에 의해 기재(102)의 표면 상에 존재하는 히드록시 기는 아마도 화합물 (B)의 티올 기와의 화학 결합을 용이하게 형성할 것이다. 화합물 (A)가 알콕시알킬 기를 함유하는 경우에, 히드록시 기는 아마도 화합물 (A)의 알콕시알킬 기와의 화학 결합을 형성할 것이다.In the present embodiment, the substrate 102 preferably has a hydroxyl group (OH group) such as a silanol group (SiOH group) on the surface. Examples of such a substrate include silicon wafers, quartz wafers, glass wafers, and the like. In the case where the base material 102 has a hydroxy group on the surface, the hydroxy group present on the surface of the base material 102 by the heat treatment in the basic step may easily facilitate the chemical bonding with the thiol group of the compound (B) Will form. When the compound (A) contains an alkoxyalkyl group, the hydroxy group will possibly form a chemical bond with the alkoxyalkyl group of the compound (A).

예를 들어, 하기 프로세스가 밀착층 형성 조성물(100)을 기재(102)에 도포하기 위해 사용될 수 있다: 잉크젯 프로세스, 딥 코팅 프로세스, 에어 나이프 코팅 프로세스, 커튼 코팅 프로세스, 와이어 바 코팅 프로세스, 그라비어 코팅 프로세스, 압출 코팅 프로세스, 스핀 코팅 프로세스, 슬릿 스캐닝 프로세스 등이 특히 바람직하다. 이들 프로세스 중에서도, 도포성, 특히 두께 균일성의 관점에서 스핀 코팅 프로세스가 특히 바람직하다.For example, the following process can be used to apply the adhesion layer forming composition 100 to the substrate 102: an inkjet process, a dip coating process, an air knife coating process, a curtain coating process, a wire bar coating process, a gravure coating Process, an extrusion coating process, a spin coating process, a slit scanning process and the like are particularly preferable. Of these processes, a spin coating process is particularly preferable from the viewpoint of coating property, particularly thickness uniformity.

밀착층 형성 조성물(100)을 기재(102)에 도포한 후, 밀착층 형성 조성물(100)에 함유된 용제 (C)를 건조에 의해 증발시킨다. 이러한 작업에서, 용제 (C)의 증발과 함께, 기재(102)를 화합물 (A) 또는 (B)와 반응시키고, 화합물 (A) 및 (B)를 서로 반응시키는 것이 바람직하다. 이는 기재(102)와 밀착층(101) 사이의 결합, 및 밀착층(101)에서의 화합물 (A)와 (B) 사이의 결합을 형성시킨다. 화합물 (A)와 (B) 사이의 결합은 하기 반응: 화합물 (A)에 함유된 알콕시알킬 기와 화합물 (B)에 함유된 티올 기 사이의 탈알콜 반응, 또는 화합물 (A)에 함유된 알킬올 기와 화합물 (B)에 함유된 티올 기 사이의 탈수 반응에 의해 형성된 술피드 결합인 것으로 추측된다.After the adhesive layer-forming composition 100 is applied to the substrate 102, the solvent (C) contained in the adhesive layer-forming composition 100 is evaporated by drying. In this operation, it is preferable that the substrate 102 is reacted with the compound (A) or (B) and the compounds (A) and (B) are reacted with each other, together with the evaporation of the solvent (C). This forms a bond between the substrate 102 and the adhesive layer 101 and a bond between the compound (A) and the adhesive (B) in the adhesive layer 101. The bond between the compound (A) and the compound (B) can be carried out by the following reaction: a dealcoholization reaction between the alkoxyalkyl group contained in the compound (A) and the thiol group contained in the compound (B) Is a sulfide bond formed by a dehydration reaction between thiol groups contained in the terephthalate compound (B).

이들 반응 시에, 바람직하게는 가열을 행한다. 이들 반응 시의 온도는 기재(102)와 화합물 (A) 또는 (B) 사이의 반응성; 화합물 (A)와 (B) 사이의 반응성; 화합물 (A), 화합물 (B) 또는 용제 (C)의 비점 등에 따라 적절히 선택될 수 있다. 이들 반응 시의 온도는 바람직하게는 70℃ 이상 250℃ 이하, 보다 바람직하게는 100℃ 이상 220℃ 이하, 더욱 바람직하게는 140℃ 이상 220℃ 이하이다. 용제 (C)의 건조, 기재(102)와 화합물 (A) 또는 (B) 사이의 반응, 및 화합물 (A)와 (B) 사이의 가교 반응은 동일한 온도 또는 상이한 온도에서 행해질 수 있다. 즉, 이들 반응은 동시에 또는 순차적 방식으로 행해질 수 있다.In these reactions, heating is preferably carried out. The temperature at which these reactions take place depends on the reactivity between the substrate 102 and the compound (A) or (B); The reactivity between compounds (A) and (B); The boiling point of the compound (A), the compound (B) or the solvent (C). The temperature at the time of these reactions is preferably 70 占 폚 to 250 占 폚, more preferably 100 占 폚 to 220 占 폚, and still more preferably 140 占 폚 to 220 占 폚. The drying of the solvent (C), the reaction between the substrate (102) and the compound (A) or (B), and the crosslinking reaction between the compounds (A) and (B) can be carried out at the same temperature or different temperatures. That is, these reactions can be carried out simultaneously or in a sequential manner.

밀착층 형성 조성물(100)을 기재(102) 상에 배치함으로써 형성된 밀착층(101)의 두께는 용도에 따라 달라진다. 밀착층(101)의 두께는 바람직하게는 예를 들어 0.1 nm 이상 100 nm 이하, 보다 바람직하게는 0.5 nm 이상 60 nm 이하, 더욱 바람직하게는 1 nm 이상 10 nm 이하이다.The thickness of the adhesive layer 101 formed by disposing the adhesive layer forming composition 100 on the substrate 102 varies depending on the application. The thickness of the adhesive layer 101 is preferably, for example, 0.1 nm or more and 100 nm or less, more preferably 0.5 nm or more and 60 nm or less, and further preferably 1 nm or more and 10 nm or less.

밀착층 형성 조성물(100)을 기재(102)에 도포함으로써 밀착층(101)을 형성하는 경우에, 형성된 밀착층(101) 상에 또 다른 밀착층이 밀착층 형성 조성물(100)을 사용하여 다중 도포에 의해 형성될 수 있다. 형성된 밀착층(101)의 표면은 바람직하게는 가능한 한 평탄하다. 밀착층(101)은 표면 조도가 바람직하게는 1 nm 이하이다.When the adhesive layer 101 is formed by applying the adhesive layer-forming composition 100 to the substrate 102, another adhesive layer is formed on the adhesive layer 101 by using the adhesive layer- May be formed by coating. The surface of the formed adhesion layer 101 is preferably as flat as possible. The surface roughness of the adhesive layer 101 is preferably 1 nm or less.

상기 단계를 통해, 기재(102), 및 상기 기재(102) 상에 침착된 중합체 층 (밀착층(101))을 포함하는 적층체가 형성될 수 있다. 밀착층(101)은 상기 기재된 바와 같이 화합물 (A)에 함유된 알콕시알킬 기 또는 알킬올 기와 화합물 (B)에 함유된 티올 기 사이의 반응에 의해 형성된 술피드 결합을 함유한다.Through the above steps, a laminate including the substrate 102 and the polymer layer deposited on the substrate 102 (the adhesion layer 101) can be formed. The adhesion layer 101 contains a sulfide bond formed by a reaction between an alkoxyalkyl group or an alkylol group contained in the compound (A) and a thiol group contained in the compound (B) as described above.

(2) 배치 단계(2) Placement step

본 단계 (배치 단계)에서는, 도 1(b)에 제시된 바와 같이, 광경화성 조성물(103)을 기재(102) 상에 형성된 밀착층(101) 상에 배치 (도포)하여 습윤 코팅을 형성한다.In this step (placement step), as shown in Fig. 1 (b), the photocurable composition 103 is disposed (applied) on the adhesion layer 101 formed on the base material 102 to form a wet coating.

본 실시형태에서, 예를 들어 하기 프로세스: 잉크젯 프로세스, 딥 코팅 프로세스, 에어 나이프 코팅 프로세스, 커튼 코팅 프로세스, 와이어 바 코팅 프로세스, 그라비어 코팅 프로세스, 압출 코팅 프로세스, 스핀 코팅 프로세스, 슬릿 스캐닝 프로세스 등이 광경화성 조성물(103)을 밀착층(101) 상에 배치하기 위해 사용될 수 있다. 이들 프로세스 중에서도, 광 나노임프린트 기술에서는 잉크젯 프로세스가 특히 바람직하다. 습윤 코팅 (피형상전사층)의 두께는 용도에 따라 달라지며, 예를 들어 0.01 μm 이상 100.0 μm 이하이다.In the present embodiment, for example, the following processes can be used: a process such as an ink jet process, a dip coating process, an air knife coating process, a curtain coating process, a wire bar coating process, a gravure coating process, an extrusion coating process, Can be used to dispose the Mars composition (103) on the adhesion layer (101). Among these processes, an inkjet process is particularly preferable in the optical nanoimprint technique. The thickness of the wet coating (gravure transfer layer) varies depending on the application, and is, for example, not less than 0.01 μm and not more than 100.0 μm.

(3) 몰드 접촉 단계(3) Mold contact step

이어서, 도 1(c)에 제시된 바와 같이, 패턴 형상을 전사하기 위해 사용되는 원형 패턴을 갖는 몰드(104)를 이전 단계 (배치 단계)에서 형성되고 광경화성 조성물(103)로 제조된 습윤 코팅과 접촉시킨다 (도 1(c-1)). 이는 광경화성 조성물(103)로 제조된 습윤 코팅 (그의 일부)이 몰드(104)의 표면 상의 미세 패턴의 오목부에 충전되어, 미세 패턴에 충전되도록 코팅막(105)이 형성된다 (도 1(c-2)).Then, as shown in Fig. 1 (c), the mold 104 having a circular pattern used for transferring the pattern shape is formed by a wet coating formed in the previous step (batch step) and made of the photocurable composition 103 (Fig. 1 (c-1)). This forms the coating film 105 so that the wet coating (part thereof) made of the photo-curable composition 103 is filled in the concave portion of the fine pattern on the surface of the mold 104 to fill the fine pattern (Fig. 1 -2)).

몰드(104)는 바람직하게는 후속 단계 (광 조사 단계)를 고려하여 광 투과성 재료로 제조된다. 몰드(104)를 형성하기 위한 재료로서는 바람직하게는 유리, 석영, PMMA 또는 폴리카르보네이트 등의 투명 수지, 투명 금속 증착 막, 폴리디메틸실록산으로 제조된 유연막, 광경화막, 금속 막 등이 바람직하다. 투명 수지가 몰드(104)를 형성하기 위해 사용되는 경우에, 이러한 투명 수지는 광경화성 조성물(103)에 함유된 성분에 불용성일 필요가 있다. 석영은 열 팽창 계수가 작고, 패턴 변형이 거의 없으며, 따라서 몰드(104)를 형성하기 위해 특히 바람직하게 사용된다.The mold 104 is preferably made of a light-transmitting material in consideration of the subsequent step (light irradiation step). As a material for forming the mold 104, a transparent resin such as glass, quartz, PMMA or polycarbonate, a transparent metal vapor deposition film, a flexible film made of polydimethylsiloxane, a photopolymerization film, a metal film and the like are preferable . In the case where a transparent resin is used to form the mold 104, such a transparent resin needs to be insoluble in the components contained in the photo-curing composition 103. The quartz has a small coefficient of thermal expansion, has little pattern deformation, and is thus particularly preferably used to form the mold 104.

몰드(104)의 표면 상의 미세 패턴은 바람직하게는 4 nm 이상 200 nm 이하의 높이 및 1 이상 10 이하의 종횡비를 갖는다.The fine pattern on the surface of the mold 104 preferably has a height of 4 nm or more and 200 nm or less and an aspect ratio of 1 or more and 10 or less.

몰드(104)는 광경화성 조성물(103)로부터의 몰드(104)의 박리성을 향상시키는 목적을 위해, 광경화성 조성물(103)과 몰드(104)를 서로 접촉시키는 몰드 접촉 단계인 본 단계 전에, 표면 처리될 수 있다. 몰드(104)를 표면 처리하는 방법의 한 예로서는 몰드(104)의 표면에 이형제를 도포함으로써 이형제의 층을 형성하는 방법을 들 수 있다.The mold 104 may be heated before the present step as a mold contacting step in which the photocurable composition 103 and the mold 104 are brought into contact with each other for the purpose of improving the peelability of the mold 104 from the photocurable composition 103, Can be surface-treated. As an example of the method of surface-treating the mold 104, a method of forming a release agent layer by applying a release agent on the surface of the mold 104 can be mentioned.

몰드(104)의 표면에 도포되는 이형제의 예로서는, 실리콘 이형제, 불소 이형제, 탄화수소 이형제, 폴리에틸렌 이형제, 폴리프로필렌 이형제, 파라핀 이형제, 몬탄 이형제, 및 카르나우바 이형제를 들 수 있다. 예를 들어, 다이킨 인더스트리즈, 리미티드로부터 상업적으로 입수가능한 옵툴(OPTOOL) DSX 등의 도포형 이형제가 바람직하게 사용될 수 있다. 이들 이형제는 단독으로 또는 조합으로 사용될 수 있다. 이들 이형제 중에서도, 불소 및 탄화수소 이형제가 특히 바람직하다.Examples of the releasing agent applied to the surface of the mold 104 include a silicone releasing agent, a fluorine releasing agent, a hydrocarbon releasing agent, a polyethylene releasing agent, a polypropylene releasing agent, a paraffin releasing agent, a Montane releasing agent and a Carnauba releasing agent. For example, a coating release agent such as OPTOOL DSX commercially available from Daikin Industries, Ltd. may be preferably used. These release agents may be used alone or in combination. Of these release agents, fluorine and hydrocarbon release agents are particularly preferred.

본 단계 (몰드 접촉 단계)에서, 도 1(c-1)에 제시된 바와 같이, 몰드(104)와 광경화성 조성물(103)을 서로 접촉시킬 때에, 광경화성 조성물(103)에 적용되는 압력 (몰드 압력)은 특별히 제한되지는 않는다. 광경화성 조성물(103)에 적용되는 압력은 통상 0 MPa 이상 100 MPa 이하이다. 특히, 광경화성 조성물(103)에 적용되는 압력은 바람직하게는 0 MPa 이상 50 MPa 이하, 보다 바람직하게는 0 MPa 이상 30 MPa 이하, 더욱 바람직하게는 0 MPa 이상 20 MPa 이하이다.In this step (mold contacting step), when the mold 104 and the photocurable composition 103 are brought into contact with each other as shown in Fig. 1 (c-1), the pressure applied to the photocurable composition 103 Pressure) is not particularly limited. The pressure applied to the photo-curable composition 103 is usually 0 MPa or more and 100 MPa or less. In particular, the pressure applied to the photo-curable composition 103 is preferably 0 MPa or more and 50 MPa or less, more preferably 0 MPa or more and 30 MPa or less, further preferably 0 MPa or more and 20 MPa or less.

본 단계에서, 몰드(104)와 광경화성 조성물(103)의 접촉 시간은 특별히 제한되지는 않지만, 통상 0.1초 이상 600초 이하이다. 몰드(104)와 광경화성 조성물(103)의 접촉 시간은 바람직하게는 0.1초 이상 300초 이하, 보다 바람직하게는 0.1초 이상 180초 이하, 더욱 바람직하게는 0.1초 이상 120초 이하이다.In this step, the contact time of the mold 104 and the photo-curing composition 103 is not particularly limited, but is usually 0.1 second or more and 600 seconds or less. The contact time of the mold 104 and the photocurable composition 103 is preferably 0.1 second or more and 300 seconds or less, more preferably 0.1 second or more and 180 seconds or less, and still more preferably 0.1 second or more and 120 seconds or less.

본 단계는 대기 분위기, 감압 분위기 및 불활성 가스 분위기 중 어느 하나 하에 행해질 수 있다. 경화 반응에 대한 산소 또는 수분의 영향을 방지할 수 있기 때문에, 감압 분위기 및 불활성 가스 분위기가 바람직하다. 불활성 가스 분위기 하에 본 단계를 행하는 경우에 사용될 수 있는 불활성 가스의 예로서는, 질소, 이산화탄소, 헬륨, 아르곤, 클로로플루오로카본 가스, 및 이들 가스의 혼합물을 들 수 있다. 대기 분위기를 포함한 특정한 가스 분위기 하에 본 단계를 행하는 경우에, 압력은 바람직하게는 0.0001 기압 이상 10 기압 이하이다.This step may be performed under any one of an atmospheric atmosphere, a reduced-pressure atmosphere, and an inert gas atmosphere. A reduced pressure atmosphere and an inert gas atmosphere are preferable because it is possible to prevent the influence of oxygen or water on the curing reaction. Examples of the inert gas which can be used in the case of carrying out this step under an inert gas atmosphere include nitrogen, carbon dioxide, helium, argon, chlorofluorocarbon gas, and mixtures of these gases. In the case where this step is carried out under a specific gas atmosphere including an atmospheric atmosphere, the pressure is preferably 0.0001 to 10 atm.

몰드 접촉 단계는 응축성 가스를 함유하는 분위기 (이하, "응축성 가스 분위기"로 지칭됨) 하에 행해질 수 있다. 본원에 사용된 용어 "응축성 가스"는 충전 시의 압력에 의해 생성된 모세관 압력에서 응축 및 액화되는 가스를 지칭한다. 특히, 응축성 가스는 몰드(104) 상에 형성된 미세 패턴의 오목부 및 몰드(104)와 기재(102) 또는 밀착층(101)과의 간극에 코팅막(105) (그의 일부)과 함께 응축성 가스 분위기 중 가스가 충전되었을 때에 응축 및 액화된다. 몰드 접촉 단계에서 광경화성 조성물(103) (피형상전사층)과 몰드(104)를 서로 접촉시키기 전에 (도 1(c-1)), 응축성 가스는 응축성 가스 분위기 중에 기체 형태로 존재한다.The mold contacting step may be performed under an atmosphere containing a condensable gas (hereinafter referred to as a " condensable gas atmosphere "). As used herein, the term " condensable gas " refers to a gas that condenses and liquefies at capillary pressure produced by the pressure at the time of charging. Particularly, the condensable gas is condensed together with the concave portion of the fine pattern formed on the mold 104 and the coating film 105 (a part thereof) on the gap between the mold 104 and the substrate 102 or the adhesive layer 101 And condensed and liquefied when the gas is charged in the gas atmosphere. 1 (c-1)), the condensable gas exists in a gaseous form in the condensable gas atmosphere before contacting the photocurable composition 103 (the surface transfer layer) and the mold 104 with each other in the mold contact step .

응축성 가스 분위기 하에 몰드 접촉 단계를 행하는 것은 미세 패턴의 오목부에서 응축성 가스를 액화시켜 기포를 소멸시키고, 따라서 충전성에 있어서 우수하다. 응축성 가스는 광경화성 조성물(103) 중에 용해될 수 있다.The step of performing the mold contacting step in a condensable gas atmosphere liquefies the condensable gas in the concave portion of the fine pattern to thereby annihilate the bubbles and is therefore excellent in the filling property. The condensable gas can be dissolved in the photo-curing composition (103).

응축성 가스의 비점은 특별히 제한되지는 않지만, 몰드 접촉 단계에 사용되는 분위기의 온도 이하일 수 있다. 응축성 가스의 비점은 바람직하게는 -10℃ 내지 23℃, 보다 바람직하게는 10℃ 내지 23℃이다. 응축성 가스의 비점이 이러한 범위 내인 경우에, 충전성이 우수하다.The boiling point of the condensable gas is not particularly limited, but may be lower than or equal to the temperature of the atmosphere used in the mold contacting step. The boiling point of the condensable gas is preferably -10 ° C to 23 ° C, more preferably 10 ° C to 23 ° C. When the boiling point of the condensable gas is within this range, the filling property is excellent.

몰드 접촉 단계에 사용되는 분위기 온도에서의 응축성 가스의 증기압은 특별히 제한되지는 않지만, 몰드 접촉 단계에서 압인 시의 몰드 압력 이하일 수 있다. 분위기 온도에서의 응축성 가스의 증기압은 바람직하게는 0.1 MPa 내지 0.4 MPa이다. 분위기 온도에서의 응축성 가스의 증기압이 이러한 범위 내인 경우에, 충전성이 우수하다. 분위기 온도에서의 응축성 가스의 증기압이 0.4 MPa보다 더 크면, 기포 소멸 효과를 충분히 얻을 수 없는 경우가 있다. 그러나, 분위기 온도에서의 응축성 가스의 증기압이 0.1 MPa보다 더 작으면, 감압이 필요해진다. 본 실시형태에 따른 제조 방법에 의해 패턴 형상을 갖는 막을 제조하기 위한 임프린트 디바이스의 구성이 복잡해지는 경향이 있다.The vapor pressure of the condensable gas at the ambient temperature used in the mold contacting step is not particularly limited, but may be lower than the mold pressure at the time of stamping in the mold contacting step. The vapor pressure of the condensable gas at the ambient temperature is preferably 0.1 MPa to 0.4 MPa. When the vapor pressure of the condensable gas at the ambient temperature is within this range, the packing property is excellent. If the vapor pressure of the condensable gas at the atmospheric temperature is larger than 0.4 MPa, the bubble decaying effect may not be sufficiently obtained. However, if the vapor pressure of the condensable gas at the atmospheric temperature is lower than 0.1 MPa, a reduced pressure is required. The manufacturing method according to the present embodiment tends to complicate the structure of the imprint device for producing a film having a pattern shape.

몰드 접촉 단계에서의 분위기 온도는 특별히 제한되지는 않지만, 바람직하게는 20℃ 내지 25℃이다.The atmospheric temperature in the mold contacting step is not particularly limited, but is preferably 20 to 25 占 폚.

응축성 가스의 예로서, 트리클로로플루오로메탄 등의 클로로플루오로카본 (CFC), 플루오로카본 (FC), 히드로클로로플루오로카본 (HCFC), 1,1,1,3,3-펜타플루오로프로판 (CHF2CH2CF3, HFC-245fa, PFP) 등의 히드로플루오로카본 (HFC), 및 펜타플루오로에틸 메틸 에테르 (CF3CF2OCH3, HFE-245mc) 등의 히드로플루오로에테르 (HFE)를 들 수 있으나, 이에 제한되지는 않는다.Examples of condensable gases include chlorofluorocarbons (CFCs) such as trichlorofluoromethane, fluorocarbons (FC), hydrochlorofluorocarbons (HCFC), 1,1,1,3,3-pentafluoro (CF 3 CF 2 OCH 3 , HFE-245mc) such as hydrofluorocarbons (HFC) such as rheophthalonitrile (RfCO 2) and rofurovan (CHF 2 CH 2 CF 3 , HFC-245fa, PFP), and hydrofluorocarbons such as pentafluoroethyl methyl ether Ether (HFE), but are not limited thereto.

이들 화합물 중에서도, 몰드 접촉 단계에서의 분위기 온도가 20℃ 내지 25℃일 때에 충전성이 우수하다는 관점에서, 1,1,1,3,3-펜타플루오로프로판 (23℃에서의 증기압 0.14 MPa 및 비점 15℃), 트리클로로플루오로메탄 (23℃에서의 증기압 0.1056 MPa 및 비점 24℃), 및 펜타플루오로에틸 메틸 에테르가 바람직하다. 또한, 안전성이 우수하다는 관점에서, 1,1,1,3,3-펜타플루오로프로판이 특히 바람직하다.Among these compounds, 1,1,1,3,3-pentafluoropropane (having a vapor pressure of 0.14 MPa at 23 deg. C and a pressure of 0.14 MPa at 25 deg. C, Boiling point 15 ° C), trichlorofluoromethane (vapor pressure at 23 ° C 0.1056 MPa and boiling point 24 ° C), and pentafluoroethyl methyl ether are preferred. From the viewpoint of excellent safety, 1,1,1,3,3-pentafluoropropane is particularly preferable.

응축성 가스는 단독으로 또는 또 다른 응축성 가스와의 조합으로 사용될 수 있다. 대안적으로, 응축성 가스를 공기, 질소, 이산화탄소, 헬륨 또는 아르곤 등의 비응축성 가스와 혼합함으로써 제조된 가스 혼합물이 사용될 수 있다. 응축성 가스와 혼합되는 비응축성 가스는 충전성의 관점에서 바람직하게는 헬륨이다. 헬륨은 몰드(104)를 투과할 수 있다. 따라서, 몰드 접촉 단계에서 몰드(104) 상에 형성된 미세 패턴의 오목부에 코팅막(105) (그의 일부)과 함께 분위기 중의 가스 (응축성 가스 및 헬륨)가 충전되었을 때에, 응축성 가스가 액화되고, 헬륨이 몰드(104)를 투과한다. 따라서, 비응축성 가스로서 헬륨을 사용하는 것은 충전성에 있어서 우수하다.The condensable gas may be used alone or in combination with another condensable gas. Alternatively, a gas mixture prepared by mixing a condensable gas with a non-condensable gas such as air, nitrogen, carbon dioxide, helium or argon may be used. The non-condensable gas to be mixed with the condensable gas is preferably helium from the viewpoint of the filling property. Helium can permeate the mold 104. Therefore, when the gas (the condensable gas and the helium) in the atmosphere is filled with the coating film 105 (part thereof) on the concave portion of the fine pattern formed on the mold 104 in the mold contacting step, the condensable gas is liquefied , Helium is transmitted through the mold 104. Therefore, the use of helium as the non-condensable gas is excellent in the filling property.

(4) 위치정렬 단계(4) Position alignment step

이어서, 도 1(d)에 제시된 바와 같이, 필요에 따라, 몰드측 위치결정 마크(106)가 기재(102)의 위치결정 마크(107)와 위치정렬되도록, 몰드(104)의 위치 및/또는 기재(102)의 위치를 조정한다.Subsequently, as shown in Fig. 1 (d), the position of the mold 104 and / or the position of the mold 104 are aligned such that the mold side positioning mark 106 is aligned with the positioning mark 107 of the substrate 102 The position of the base material 102 is adjusted.

(5) 광 조사 단계(5) Light irradiation step

이어서, 도 1(e)에 제시된 바와 같이, 단계 (4) (위치정렬 단계)에 의해 몰드측 위치결정 마크(106)가 위치결정 마크(107)와 위치정렬된 상태에서, 광경화성 조성물(103)의 몰드(104)와의 접촉 부분에, 몰드(104)를 통해 광을 조사한다. 특히, 몰드(104)의 미세 패턴에 충전된 코팅막(105)에, 몰드(104)를 통해 광을 조사한다 (도 1(e-1)). 이는 몰드(104)의 미세 패턴에 충전된 코팅막(105)을 조사광(108)에 의해 경화시켜 광경화물(109)을 형성하는 것을 가능하게 한다 (도 1(e-2)).Subsequently, as shown in Fig. 1 (e), with the mold side positioning mark 106 aligned with the positioning mark 107 by step (positioning), the photocurable composition 103 Is irradiated with light through the mold 104. In this case, In particular, the coating film 105 filled in the fine pattern of the mold 104 is irradiated with light through the mold 104 (Fig. 1 (e-1)). This enables the coating film 105 filled in the fine pattern of the mold 104 to be cured by the irradiation light 108 to form the photo-cured product 109 (Fig. 1 (e-2)).

여기서, 몰드(104)의 미세 패턴에 충전된 코팅막(105)을 형성하는 광경화성 조성물(103)에 조사되는 광은, 광경화성 조성물(103)의 감도 파장에 따라 선택된다. 특히, 150 nm 이상 400 nm 이하의 파장의 자외광, X선, 전자 빔 등이 적절히 선택되고, 바람직하게 사용된다.Here, the light to be irradiated to the photo-curing composition 103 forming the coating film 105 filled in the fine pattern of the mold 104 is selected according to the sensitivity wavelength of the photo-curing composition 103. In particular, ultraviolet light having a wavelength of 150 nm or more and 400 nm or less, X-ray, electron beam, or the like is appropriately selected and preferably used.

광경화성 조성물(103)에 조사되는 광 (조사광(108))은 바람직하게는 자외광이다. 이는 대부분의 상업적으로 입수가능한 경화 보조제 (광중합 개시제)가 자외광에 대해 감도를 갖기 때문이다. 자외광을 방출하는 광원의 예로서는, 고압 수은 램프, 초고압 수은 램프, 저압 수은 램프, 딥-UV 램프, 탄소 아크 램프, 케미칼 램프, 메탈 할라이드 램프, 크세논 램프, KrF 엑시머 레이저, ArF 엑시머 레이저, 및 F2 엑시머 레이저를 들 수 있다. 초고압 수은 램프가 바람직하게 사용된다. 사용되는 광원의 수는 1개 이상일 수 있다. 광을 몰드(104)의 미세 패턴에 충전된 코팅막(105)의 전체 또는 일부에 조사할 수 있다.The light (irradiation light 108) irradiated to the photo-curable composition 103 is preferably ultraviolet light. This is because most commercially available curing aids (photopolymerization initiators) have sensitivity to ultraviolet light. Examples of the light source that emits ultraviolet light include high pressure mercury lamps, ultra high pressure mercury lamps, low pressure mercury lamps, dip-UV lamps, carbon arc lamps, chemical lamps, metal halide lamps, xenon lamps, KrF excimer lasers, ArF excimer lasers, 2 &lt; / RTI &gt; excimer laser. An ultra-high pressure mercury lamp is preferably used. The number of light sources used may be one or more. The light can be irradiated to all or a part of the coating film 105 filled in the fine pattern of the mold 104.

광을 기재(102) 상의 전체 영역에 단속적으로 다수회 조사할 수 있거나, 또는 전체 영역에 연속적으로 조사할 수 있다. 대안적으로, 광을 제1 조사 과정에서 영역 A에 조사하고, 제2 조사 과정에서 영역 A와는 상이한 영역 B에 조사할 수 있다.Light can be intermittently irradiated to the entire area on the base material 102 multiple times or continuously irradiated to the entire area. Alternatively, the light can be irradiated onto the region A during the first irradiation process and irradiated onto the region B different from the region A during the second irradiation process.

본 실시형태에서, 본 단계에서의 광경화성 조성물(103)의 노광량은 바람직하게는 90 mJ/cm2 이하, 보다 바람직하게는 30 mJ/cm2 이하이다.In this embodiment, the exposure amount of the photo-curable composition 103 in this step is preferably 90 mJ / cm 2 or less, more preferably 30 mJ / cm 2 or less.

(6) 이형 단계(6)

이어서, 광경화물(109)과 몰드(104)를 서로 분리한다. 이러한 시점에, 기재(102) 위에 미리 결정된 패턴 형상을 갖는 경화막(110)이 있다.Then, the optical pencil 109 and the mold 104 are separated from each other. At this point, there is a cured film 110 having a predetermined pattern shape on the base material 102.

본 단계 (이형 단계)에서는, 도 1(f)에 제시된 바와 같이, 광경화물(109)과 몰드(104)를 서로 분리하여 경화막(110)이 얻어진다. 단계 (5) (광 조사 단계)에서, 몰드(104) 상에 형성된 미세 패턴의 반전인 패턴 형상을 갖도록 경화막(110)이 얻어진다.In this step (release step), the cured product 110 is obtained by separating the photo-cured product 109 from the mold 104, as shown in Fig. 1 (f). In step (5) (light irradiation step), the cured film 110 is obtained so as to have an inverted pattern shape of a fine pattern formed on the mold 104.

몰드 접촉 단계를 응축성 가스 분위기 하에 행하는 경우에, 이형 단계에서 광경화물(109)과 몰드(104)를 서로 분리할 때에 광경화물(109)과 몰드(104) 사이의 계면에서의 압력이 저하하기 때문에 응축성 가스가 증발한다. 이는 광경화물(109)과 몰드(104)를 서로 분리하기 위해 필요한 이형력을 저감하는 효과를 갖는 경향이 있다.The pressure at the interface between the photo-cured product 109 and the mold 104 is lowered when the photo-cured product 109 and the mold 104 are separated from each other in the mold-releasing step in the case where the mold contacting step is performed in a condensable gas atmosphere Therefore, the condensable gas evaporates. This tends to have the effect of reducing the releasing force required for separating the light guide 109 and the mold 104 from each other.

광경화물(109)과 몰드(104)를 서로 분리하는 방법은 특별히 제한되지는 않지만, 광경화물(109)과 몰드(104)를 서로 분리할 때에 광경화물(109)의 일부에 대해 물리적 파손을 초래하지 않을 수 있다. 광경화물(109)과 몰드(104)를 서로 분리하기 위한 조건도 특별히 제한되지는 않는다. 예를 들어, 기재(102)를 고정하고 몰드(104)를 기재(102)로부터 멀어지도록 이동시키는 방식으로, 몰드(104)를 광경화물(109)로부터 분리할 수 있다. 대안적으로, 몰드(104)를 고정하고 기재(102)를 몰드(104)로부터 멀어지도록 이동시키는 방식으로, 광경화물(109)을 몰드(104)로부터 분리할 수 있다. 기재(102)와 몰드(104)를 반대 방향으로 인장시키는 방식으로, 광경화물(109)과 몰드(104)를 서로 분리할 수 있다.The method of separating the optical fiber bundle 109 and the mold 104 from each other is not particularly limited but causes physical damage to a part of the optical bundle 109 when the optical bundle 109 and the mold 104 are separated from each other I can not. The conditions for separating the light guide body 109 and the mold 104 from each other are also not particularly limited. The mold 104 can be separated from the photocurable 109, for example, in a manner that secures the substrate 102 and moves the mold 104 away from the substrate 102. Alternatively, the photohardener 109 can be separated from the mold 104 in a manner that secures the mold 104 and moves the substrate 102 away from the mold 104. The optical pencil 109 and the mold 104 can be separated from each other in such a manner that the base material 102 and the mold 104 are pulled in opposite directions.

단계 (1) 내지 (6)을 포함하는 일련의 단계 (제조 프로세스)를 통해, 원하는 요철 패턴 형상 (몰드(104)의 요철 형상에 따르는 패턴 형상)을 원하는 위치에 갖는 경화막을 얻을 수 있다. 얻어진 경화막은, 예를 들어 프레넬 렌즈 또는 회절 격자 등의 광학 부재 (광학 부재의 일부로서 사용하는 것 포함)로서 사용될 수 있다. 이러한 경우에, 기재(102) 및 그 위에 배치된 경화막(110)을 포함하는 광학 부재가 얻어질 수 있다.A cured film having desired concave-convex pattern shapes (pattern shapes conforming to the concavo-convex shapes of the mold 104) at desired positions can be obtained through a series of steps (manufacturing process) including steps (1) to (6). The obtained cured film can be used as an optical member (including a part used as an optical member) such as a Fresnel lens or a diffraction grating. In this case, an optical member including the substrate 102 and the cured film 110 disposed thereon can be obtained.

경화물 패턴(111)의 제조 방법에서는, 단계 (1) 내지 (6)으로 구성된 반복 단위 (샷)를 기재(102) 상에 반복적으로 다수회 행할 수 있다. 단계 (1) 내지 (6)으로 구성된 반복 단위 (샷)를 다수회 반복하는 것은 경화막(110)이 기재(102) 상의 원하는 위치에 복수의 원하는 요철 패턴 형상 (몰드(104)의 요철 형상에 따르는 패턴 형상)을 갖는 것을 가능하게 한다.In the production method of the cured product pattern 111, it is possible to repeatedly repeat a plurality of repetitive units (shots) composed of the steps (1) to (6) on the substrate 102. Repeating the repetition units (shots) composed of the steps (1) to (6) a plurality of times may cause the cured film 110 to have a plurality of desired concavo-convex pattern shapes (the convexo-concave shape of the mold 104) Pattern shape that follows).

(7) 경화막을 부분적으로 제거하는 잔막 제거 단계(7) a residual film removing step for partially removing the cured film

단계 (6) (이형 단계)에서 얻어진 경화막(110)은 특정한 패턴 형상을 갖는다. 경화막(110)의 일부는 가능하게는 패턴 형상을 갖는 경화막(110)의 영역 이외의 영역 상에 남아있을 수 있다 (이하, 이러한 경화막(110)의 일부를 "잔막"으로 지칭하는 경우가 있음). 이러한 경우에, 도 1(g)에 제시된 바와 같이, 제거되어야 할 영역에 위치하는 경화막(110)의 영역에 위치하는 잔막 및 상기 잔막 아래에 있는 밀착층(101)을 제거한다. 이는 경화물 패턴(111)을 얻는 것을 가능하게 한다. 경화물 패턴(111)은 원하는 요철 패턴 형상 (몰드(104)의 요철 형상에 따르는 패턴 형상)을 갖는다.The cured film 110 obtained in step (6) (mold-releasing step) has a specific pattern shape. A part of the cured film 110 may possibly remain on a region other than the region of the cured film 110 having a pattern shape (hereinafter, a part of the cured film 110 is referred to as a & ). In this case, as shown in Fig. 1 (g), the residual film located in the region of the cured film 110 located in the region to be removed and the adhesion layer 101 under the residual film are removed. This makes it possible to obtain the cured product pattern 111. [ The cured product pattern 111 has a desired concavo-convex pattern shape (pattern shape conforming to the concavo-convex shape of the mold 104).

잔막 및 상기 잔막 아래에 있는 밀착층(101)을 제거하는 방법의 한 예로서는, 경화막(110)의 오목부에 있는 잔막을 에칭 등의 프로세스에 의해 제거하는 방법을 들 수 있다. 이는 경화막(110)의 오목부로부터 기재(102)의 표면을 노출시키는 것을 가능하게 한다.One example of a method for removing the residual film and the adhesion layer 101 under the residual film is to remove the residual film in the concave portion of the cured film 110 by a process such as etching. This makes it possible to expose the surface of the substrate 102 from the concave portion of the cured film 110.

경화막(110)의 오목부에 있는 잔막 및 상기 잔막 아래에 있는 밀착층(101)을 에칭에 의해 제거하는 경우에, 잔막 및 밀착층(101)을 제거하는 방법은 특별히 제한되지는 않는다. 예를 들어, 건식 에칭이 사용될 수 있다. 건식 에칭에는, 공지의 건식 에칭 시스템이 사용될 수 있다. 건식 에칭 시의 소스 가스는 에칭될 경화막(110)의 조성에 따라 적절히 선택된다. CF4, C2F6, C3F8, CCl2F2, CCl4, CBrF3, BCl3, PCl3, SF6, 및 Cl2 등의 할로겐 함유 가스; O2, CO, 및 CO2 등의 산소 원자를 함유하는 가스; He, N2, 및 Ar 등의 불활성 가스; H2; 및 NH3이 사용될 수 있다. 이들 가스는 조합으로 사용될 수 있다.The method of removing the residual film and the adhesion layer 101 when the residual film in the concave portion of the cured film 110 and the adhesion layer 101 under the residual film are removed by etching is not particularly limited. For example, dry etching may be used. For dry etching, a known dry etching system may be used. The source gas at the time of dry etching is appropriately selected according to the composition of the cured film 110 to be etched. Containing gases such as CF 4 , C 2 F 6 , C 3 F 8 , CCl 2 F 2 , CCl 4 , CBrF 3 , BCl 3 , PCl 3 , SF 6 , and Cl 2 ; A gas containing oxygen atoms such as O 2 , CO, and CO 2 ; Inert gases such as He, N 2 , and Ar; H 2 ; And the NH 3 can be used. These gases can be used in combination.

상기 단계 (1) 내지 (7)을 포함하는 제조 프로세스에 의해, 원하는 요철 패턴 형상 (몰드(104)의 요철 형상에 따르는 패턴 형상)을 원하는 위치에 갖는 경화물 패턴(111)을 얻을 수 있고, 경화물 패턴(111)을 포함하는 물품을 또한 얻을 수 있다. 즉, 기재(102); 상기 기재(102) 상에 배치된 밀착층(101); 상기 밀착층(101) 상에 배치되고 요철 패턴을 갖는 광경화물 (경화물 패턴(111))을 포함하는 디바이스 부품을 얻을 수 있다.The cured product pattern 111 having the desired concavo-convex pattern shape (pattern shape conforming to the concavo-convex shape of the mold 104) at a desired position can be obtained by the manufacturing process including steps (1) to (7) An article comprising the cured article pattern 111 can also be obtained. A base material 102; An adhesion layer (101) disposed on the substrate (102); A device part including the photo-cured product (cured product pattern 111) disposed on the adhesive layer 101 and having a concave-convex pattern can be obtained.

본 실시형태에서 얻어진 디바이스 부품에서는, 밀착층(101)이 화합물 (A) 및 (B)로부터 형성된 가교 구조를 갖는다. 사용되는 화합물 (A)가 화학식 1에 의해 나타내어진 화합물인 경우에, 밀착층(101)은 술피드 결합, 및 2-, 4- 및 6-위치가 질소 원자로 치환된 1,3,5-트리아진 환을 구조 내에 함유한다. 즉, 디바이스 부품은 기재, 상기 기재 위에 있고 요철 패턴을 갖는 광경화물, 및 상기 기재와 상기 광경화물 사이에 배치된 유기층을 포함한다. 유기층은 1,3,5-트리아진 환 및 술피드 결합을 함유한다.In the device part obtained in the present embodiment, the adhesive layer 101 has a crosslinked structure formed from the compounds (A) and (B). When the compound (A) to be used is a compound represented by the general formula (1), the adhesion layer (101) has a sulfide bond and a 1,3,5-tri The azine ring is contained in the structure. That is, the device part includes a substrate, a photo-cured product on the substrate and having a concavo-convex pattern, and an organic layer disposed between the substrate and the photo-cured product. The organic layer contains a 1,3,5-triazine ring and a sulfide bond.

경화물 패턴(111)을 사용하여 기재(102)를 가공하는 경우에, 하기 기재된 바와 같은 기재 가공 단계 (단계 (8))를 행한다.In the case of processing the base material 102 by using the cured material pattern 111, a base material processing step (step (8)) as described below is performed.

경화물 패턴(111)을 회절 격자 또는 편광판 등의 광학 부재 (광학 부재의 일부로서 사용하는 것 포함)로서 사용하여, 광학 부품을 얻을 수 있다. 이는 광학 부품이 기재(102), 및 상기 기재(102) 상에 배치된 경화물 패턴(111)을 포함하는 것을 가능하게 한다.The optical component can be obtained by using the cured product pattern 111 as an optical member such as a diffraction grating or a polarizing plate (including those used as a part of an optical member). This enables the optical component to include a substrate 102 and a cured pattern 111 disposed on the substrate 102.

(8) 기재 가공 단계(8) Substrate processing step

요철 패턴을 갖는 경화물 패턴(111)은, 예를 들어 반도체 소자 등의 전자 부품에 사용하기 위한 층간 절연막으로서 사용될 수 있다. 또한, 경화물 패턴(111)은 반도체 소자 제조 시의 레지스트 막으로서 사용될 수 있다. 본원에 사용된 용어 "반도체 소자"는, 예를 들어 LSI, 시스템 LSI, DRAM, SDRAM, RDRAM, 및 D-RDRAM을 들 수 있지만, 이에 제한되지는 않는다.The cured product pattern 111 having a concavo-convex pattern can be used as an interlayer insulating film for use in electronic parts such as semiconductor devices. Further, the cured resin pattern 111 can be used as a resist film in the production of a semiconductor device. The term "semiconductor device" as used herein includes, but is not limited to, for example, LSI, system LSI, DRAM, SDRAM, RDRAM, and D-RDRAM.

경화물 패턴(111)을 레지스트 막으로서 사용하는 경우에, 단계 (7) (잔막 제거 단계)에서 노출되어 있는 기재(102)의 부분 (도 1(g)에서 참조 번호 112에 의해 나타내어진 영역)에 대해 에칭, 이온 주입 등을 행한다. 이러한 작업에서, 경화물 패턴(111)은 에칭 마스크로서 기능한다. 추가로, 전자 부재를 형성하여, 경화물 패턴(111)의 패턴 형상에 기초하는 회로 구조(113) (도 1(h))를 기재(102) 상에 형성할 수 있다. 이는 반도체 소자 등에 사용하기 위한 회로 기판을 제조하는 것을 가능하게 한다. 또한, 이러한 회로 기판을 회로 제어 시스템 등에 접속함으로써, 디스플레이, 카메라 또는 의료 디바이스 등의 전자 디바이스를 제조할 수 있다.The area of the substrate 102 exposed in step 7 (residual film removing step) (the area indicated by reference numeral 112 in FIG. 1 (g)) when the cured product pattern 111 is used as a resist film, Etching, ion implantation, and the like are performed. In this operation, the cured product pattern 111 functions as an etching mask. In addition, a circuit structure 113 (Fig. 1 (h)) based on the pattern shape of the cured product pattern 111 can be formed on the base material 102 by forming electronic members. This makes it possible to manufacture a circuit board for use in a semiconductor device or the like. By connecting such a circuit board to a circuit control system or the like, an electronic device such as a display, a camera, or a medical device can be manufactured.

마찬가지로, 경화물 패턴(111)을 레지스트 막으로서 사용하여 에칭, 이온 주입 등을 행하는 방식으로, 광학 부품, 마이크로유체 유로 구조, 또는 패턴화된 매체를 위한 구조 등의 디바이스 부품을 얻을 수 있다.Similarly, device parts such as an optical part, a microfluidic flow path structure, or a structure for a patterned medium can be obtained by etching, ion implantation or the like using the cured resin pattern 111 as a resist film.

또한, 경화물 패턴(111)을 마스크 (레지스트 막)로서 사용하여 에칭, 이온 주입 등을 행하는 방식으로, 광학 부품을 얻을 수 있다.In addition, the optical component can be obtained by a method in which the cured product pattern 111 is used as a mask (resist film) and etching, ion implantation, or the like is performed.

대안적으로, 경화물 패턴(111)을 사용하여 기재(102)에 상응하는 석영 기판을 에칭하는 방식으로, 임프린트용 몰드를 제조할 수 있다. 이러한 경우에, 경화물 패턴(111)을 마스크로서 사용하여 기재(102)에 상응하는 석영 기판을 직접 에칭할 수 있다. 경화물 패턴(111)을 마스크로서 사용하여 하드마스크 재료 층을 에칭하고, 에칭된 하드마스크 재료 층으로부터 전사된 하드 마스크 재료로 제조된 패턴을 마스크로서 사용하는 방식으로, 석영 기판을 에칭할 수 있다. 대안적으로, 경화물 패턴(111)의 오목부에서 제2 경화성 재료를 사용하여 제2 경화물을 형성하고, 이를 마스크로서 사용하는 방식으로, 석영 기판을 에칭할 수 있다.Alternatively, the mold for imprinting can be manufactured in such a manner that the cured material pattern 111 is used to etch the quartz substrate corresponding to the substrate 102. [ In this case, the quartz substrate corresponding to the base material 102 can be directly etched by using the cured material pattern 111 as a mask. The quartz substrate can be etched in such a manner that the hard mask material layer is etched using the cured pattern 111 as a mask and the pattern made of the hard mask material transferred from the etched hard mask material layer is used as a mask . Alternatively, the quartz substrate can be etched in such a manner that a second hardened material is formed by using a second hardenable material in the concave portion of the hardened pattern 111, and the second hardened material is used as a mask.

경화물 패턴(111)을 마스크로서 사용하여 기판의 노출된 표면 부분을 에칭하는 경우에, 건식 에칭이 사용될 수 있다. 건식 에칭에는, 공지의 건식 에칭 시스템이 사용될 수 있다. 건식 에칭 시의 소스 가스는 에칭될 경화막의 조성에 따라 적절히 선택된다. CF4, CHF3, C2F6, C3F8, C4F8, CCl2F2, CCl4, CBrF3, BCl3, PCl3, SF6, 및 Cl2 등의 할로겐 함유 가스; O2, CO, 및 CO2 등의 산소 원자를 함유하는 가스; He, N2, 및 Ar 등의 불활성 가스; H2; 및 NH3이 사용될 수 있다. CF4, CHF3, C2F6, C3F8, C4F8, CCl2F2, CBrF3, 및 SF6 등의 불소 함유 가스가 바람직하다. 이는 광경화성 조성물(103)이 불소 함유 가스를 사용하는 건식 에칭에 대해 높은 내성을 갖기 때문이다. 이들 가스는 조합으로 사용될 수 있다.In the case where the exposed surface portion of the substrate is etched using the cured pattern 111 as a mask, dry etching may be used. For dry etching, a known dry etching system may be used. The source gas at the time of dry etching is appropriately selected according to the composition of the cured film to be etched. A halogen-containing gas such as CF 4 , CHF 3 , C 2 F 6 , C 3 F 8 , C 4 F 8 , CCl 2 F 2 , CCl 4 , CBrF 3 , BCl 3 , PCl 3 , SF 6 and Cl 2 ; A gas containing oxygen atoms such as O 2 , CO, and CO 2 ; Inert gases such as He, N 2 , and Ar; H 2 ; And the NH 3 can be used. Containing gas such as CF 4 , CHF 3 , C 2 F 6 , C 3 F 8 , C 4 F 8 , CCl 2 F 2 , CBrF 3 , and SF 6 is preferable. This is because the photo-curable composition 103 has high resistance to dry etching using a fluorine-containing gas. These gases can be used in combination.

경화물 패턴(111)을 마스크로서 사용하여 기재(102)를 가공하는 방법으로서, 에칭 및 이온 주입에 대해 기재하였다. 경화물 패턴(111)을 마스크로서 사용하여 기재(102)를 가공하는 방법은 에칭 또는 이온 주입에 제한되지는 않는다. 예를 들어, 기재(102) 상에 경화물 패턴(111)이 배치된 상태에서, 기재(102)를 도금할 수 있다.Etching and ion implantation are described as a method of processing the base material 102 using the cured material pattern 111 as a mask. The method of processing the base material 102 using the cured material pattern 111 as a mask is not limited to etching or ion implantation. For example, the base material 102 can be plated with the cured material pattern 111 disposed on the base material 102. [

회로 기판 또는 전자 부품을 제조하는 경우에, 최종적으로 가공된 기재(102)로부터 경화물 패턴(111)을 제거할 수 있다. 경화물 패턴(111)은 소자를 형성하는 부재의 형태로 남아있을 수 있다.In the case of producing a circuit board or an electronic component, the cured product pattern 111 can be removed from the finally processed substrate 102. The cured product pattern 111 may remain in the form of a member forming the element.

실시예Example

이하, 실시예를 참조하여 본 발명을 상세하게 추가로 기재한다. 본 발명의 기술적 범주는 실시예에 제한되지는 않는다. 또한, 하기 "부" 및 "%"는 달리 명시되지 않는 한, 중량 기준이다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to Examples. The technical scope of the present invention is not limited to the embodiments. In addition, the following " parts " and "% " are by weight unless otherwise specified.

(1) 경화성의 평가(1) Evaluation of hardenability

하기 방법에 의해, 밀착층 형성 조성물을 경화성에 대해 평가했다.The adhesive layer-forming composition was evaluated for curability by the following method.

(1-1) 밀착층 형성 조성물의 제조(1-1) Preparation of composition for forming adhesion layer

화합물 (A) 및 화합물 (B)를 표 1에 제시된 중량비로 배합하고, 도쿄 케미칼 인더스트리 캄파니, 리미티드(Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.)로부터 입수가능한 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 아세테이트인 휘발성 용제 (C) 중에 용해시켜, 화합물 (A) 및 (B)의 총 농도가 5%인 혼합 용액을 얻었다.Compound (A) and compound (B) were compounded in the weight ratios shown in Table 1, and volatile solvents (C), which is propylene glycol monomethyl ether acetate available from Tokyo Chemical Industry Co., ) To obtain a mixed solution having a total concentration of the compounds (A) and (B) of 5%.

이어서, 얻어진 혼합 용액을 구멍 크기가 0.2 μm인 폴리테트라플루오로에틸렌 필터를 통해 여과했다. 이러한 방식으로, 경화성의 평가를 위한 밀착층 형성 조성물인 조성물 1 내지 11을 제조했다.Then, the resulting mixed solution was filtered through a polytetrafluoroethylene filter having a pore size of 0.2 m. In this manner, compositions 1 to 11, which are adhesion layer-forming compositions for evaluation of curability, were prepared.

(화합물 (A))(Compound (A))

(A-1) 메톡시메틸 기를 6개 함유하는 화합물: 산와 케미칼 캄파니, 리미티드(Sanwa Chemical Co., Ltd.)로부터 상표명 니칼락(NIKALAC) MW-390 하에 입수가능한 화학식 a에 의해 나타내어진 헥사메톡시메틸멜라민.(A-1) Compound containing 6 methoxymethyl groups: Hexa represented by formula a available under the trade name NIKALAC MW-390 from Sanwa Chemical Co., Ltd. Methoxymethylmelamine.

<화학식 a><Formula a>

Figure 112017083533914-pct00002
Figure 112017083533914-pct00002

(A-2) 메톡시메틸 기를 4개 함유하는 화합물 (비교예용): 산와 케미칼 캄파니, 리미티드로부터 상표명 니칼락 MX-270 하에 입수가능한 화학식 b에 의해 나타내어진 1,3,4,6-테트라키스(메톡시메틸)글리콜우릴.(A-2) Compounds containing four methoxymethyl groups (for comparative examples): 1,3,4,6-tetra (4-methoxyphenyl) propane represented by formula b available from Sanwa Chemical Company, Kiss (methoxymethyl) glycoluril.

<화학식 b><Formula b>

Figure 112017083533914-pct00003
Figure 112017083533914-pct00003

(화합물 (B))(Compound (B))

(B-1) 쇼와 덴코 가부시키가이샤로부터 상표명 카렌츠(Karenz) MT NR-1 하에 입수가능한 화학식 c에 의해 나타내어진 1,3,5-트리스(3-메르캅토부티릴옥시에틸)-1,3,5-트리아진-2,4,6(1H,3H,5H)-트리온.(B-1) 1,3,5-tris (3-mercaptobutyryloxyethyl) - 1 (represented by the formula c) available under the trade name Karenz MT NR-1 from Showa Denko K.K. , 3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -triene.

<화학식 c><Formula c>

Figure 112017083533914-pct00004
Figure 112017083533914-pct00004

(B-2) 도쿄 케미칼 인더스트리 캄파니, 리미티드로부터 입수가능한 화학식 d에 의해 나타내어진 트리메틸올프로판 트리스(3-메르캅토프로피오네이트).(B-2) trimethylolpropane tris (3-mercaptopropionate) represented by the formula d available from Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.

<화학식 d><Formula d>

Figure 112017083533914-pct00005
Figure 112017083533914-pct00005

(B-3) 쇼와 덴코 가부시키가이샤로부터 상표명 카렌츠 MT PE-1 하에 입수가능한 화학식 e에 의해 나타내어진 펜타에리트리톨 테트라키스(3-메르캅토부티레이트).(B-3) pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate) represented by the chemical formula (e) available under the trade name Karenz MT PE-1 from Showa Denko K.K.

<화학식 e><Formula e>

Figure 112017083533914-pct00006
Figure 112017083533914-pct00006

(B-4) 도쿄 케미칼 인더스트리 캄파니, 리미티드로부터 입수가능한 화학식 f에 의해 나타내어진 펜타에리트리톨 테트라키스(3-메르캅토프로피오네이트).(B-4) pentaerythritol tetrakis (3-mercaptopropionate) represented by the formula (f) available from Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.

<화학식 f><Formula f>

Figure 112017083533914-pct00007
Figure 112017083533914-pct00007

[표 1][Table 1]

Figure 112017083533914-pct00008
Figure 112017083533914-pct00008

(1-2) 밀착층의 형성(1-2) Formation of adhesion layer

각각의 제조된 조성물 1 내지 11을 실리콘 웨이퍼에 3,000 rpm에서 30초 동안 스핀 코팅에 의해 도포했다. 그 후, 핫플레이트 상에서 각각의 제조된 조성물 1 내지 11을 가열하여 밀착층을 형성했다. 가열 조건은 표 2에 제시되어 있다.Each of the prepared compositions 1 to 11 was applied to a silicon wafer by spin coating at 3,000 rpm for 30 seconds. Thereafter, the prepared compositions 1 to 11 were heated on a hot plate to form an adhesive layer. The heating conditions are shown in Table 2.

(1-3) 경화성 평가(1-3) Evaluation of hardenability

(1-2)에서 형성된 밀착층의 표면을 아세톤이 함침된 BEMCOT로 와이핑하고, 밀착층의 용해 및 박리를 육안으로 확인하는 방식으로, 밀착층을 경화성에 대해 평가했다. 본 평가에서, 밀착층이 용해 또는 박리되지 않은 것을 A로 평가하고, 밀착층이 부분적으로 용해 또는 박리된 것을 B로 평가했다. 평가 결과는 표 2에 요약되어 있다.The surface of the adhesion layer formed in (1-2) was wiped with acetone-impregnated BEMCOT, and the adhesion layer was evaluated for curability in such a manner that dissolution and peeling of the adhesion layer were visually confirmed. In the evaluation, evaluation was made with respect to A in which the adhesion layer was not dissolved or peeled, and B in which the adhesion layer was partially dissolved or peeled. The evaluation results are summarized in Table 2.

[표 2][Table 2]

Figure 112017083533914-pct00009
Figure 112017083533914-pct00009

조성물 1 내지 7은 사용된 화합물 (A)가 A-1인 조성물이다. 조성물 1 내지 7은 우수한 경화성을 가졌다 (실시예 1 내지 7).Compositions 1 to 7 are compositions in which the compound (A) used is A-1. Compositions 1 to 7 had excellent curability (Examples 1 to 7).

조성물 8 내지 11은 사용된 화합물 (A)가 A-2인 조성물이다. 조성물 8 내지 11은 불충분한 경화성을 가졌다 (비교예 1 내지 4).Compositions 8 to 11 are compositions in which the compound (A) used is A-2. Compositions 8 to 11 had insufficient curability (Comparative Examples 1 to 4).

A-1은 화합물 (B)에 함유된 티올 기에 결합될 수 있는 관능기인 메톡시메틸 기를 6개 함유한다. 따라서, A-1은 아마도 화합물 (B)와의 반응성이 높을 것이며, 반응 후에 형성된 밀착층에서 A-1 및 화합물 (B)를 가교시킴으로써 형성된 네트워크 구조가 아마도 조밀할 것이다. 그 결과, 조성물 1 내지 7은 우수한 경화성을 가졌다.A-1 contains 6 methoxymethyl groups which are functional groups capable of binding to the thiol group contained in the compound (B). Thus, A-1 will probably be highly reactive with compound (B), and the network structure formed by crosslinking A-1 and compound (B) in the adhesion layer formed after reaction will probably be dense. As a result, Compositions 1 to 7 had excellent curability.

한편, A-2는 화합물 (B)에 함유된 티올 기에 결합될 수 있는 관능기인 메톡시메틸 기를 4개 함유한다. 즉, A-2에 함유된 메톡시메틸 기의 수는 A-1에 함유된 메톡시메틸 기의 수보다 더 적다. 따라서, A-2는 아마도 화합물 (B)와의 반응성이 불충분할 것이다. 또한, 반응 후에 형성된 밀착층에서 A-2 및 화합물 (B)를 가교시킴으로써 형성된 네트워크 구조가 아마도 A-1 및 화합물 (B)를 가교시킴으로써 형성된 네트워크 구조보다 더 희소할 것이다.On the other hand, A-2 contains four methoxymethyl groups which are functional groups capable of binding to the thiol group contained in the compound (B). That is, the number of methoxymethyl groups contained in A-2 is smaller than the number of methoxymethyl groups contained in A-1. Therefore, A-2 probably will be insufficient in reactivity with compound (B). Also, the network structure formed by crosslinking A-2 and compound (B) in the adhesive layer formed after the reaction will probably be less scarce than the network structure formed by crosslinking A-1 and compound (B).

그 결과, 조성물 8 내지 11은 불충분한 경화성을 가졌다.As a result, Compositions 8 to 11 had insufficient curability.

A-2는 분자 구조 내에 카르보닐 기를 함유한다. 카르보닐 기 내의 산소 원자는 전자 흡인성을 나타내기 때문에, A-2에 함유된 메톡시메틸 기는 A-1에 함유된 메톡시메틸 기에 비해, 화합물 (B)에 함유된 티올 기와의 반응성이 더 낮다. 이는 아마도 조성물 8 내지 11이 불충분한 경화성을 갖는 요인의 일부일 것이다. 한편, A-1은 분자 구조 내에 카르보닐 기를 함유하지 않는다. 따라서, 상기와 달리, A-1에 함유된 메톡시메틸 기는 반응성이 저하되지 않는다. 따라서, 조성물 1 내지 7이 우수한 경화성을 갖는 것으로 생각된다.A-2 contains a carbonyl group in the molecular structure. The methoxymethyl group contained in A-2 is more reactive with the thiol group contained in compound (B) than the methoxymethyl group contained in A-1, since the oxygen atom in the carbonyl group exhibits electron withdrawing property low. This would probably be part of a factor that compositions 8-11 have insufficient curing properties. On the other hand, A-1 does not contain a carbonyl group in the molecular structure. Therefore, unlike the above, the methoxymethyl group contained in A-1 does not lower the reactivity. Therefore, it is considered that the compositions 1 to 7 have excellent curing properties.

상기 기재된 바와 같이, 조성물 1 내지 7은 충분한 경화성을 갖는다. 따라서, 각각의 조성물 1 내지 7을 사용하여 밀착층을 형성함으로써, 패턴 박리 결함의 발생을 아마도 억제할 수 있을 것이다.As described above, Compositions 1 to 7 have sufficient curability. Therefore, by forming the adhesion layer using each of the compositions 1 to 7, it is possible to suppress the occurrence of the pattern peeling defect.

(2) 밀착성의 평가(2) Evaluation of adhesion

이어서, 하기 방법에 의해, 기재와 광경화성 조성물을 경화시킴으로써 얻어진 경화막 사이의 밀착성을 평가했다.Then, the adhesion between the substrate and the cured film obtained by curing the photo-curable composition was evaluated by the following method.

(2-1) 밀착층 형성 조성물의 제조(2-1) Preparation of composition for forming adhesion layer

상기 기재된 바와 같은 경화성의 평가에서 충분한 경화성을 나타낸 조성물 1 내지 7을, 도쿄 케미칼 인더스트리 캄파니, 리미티드로부터 입수가능한 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 아세테이트인 휘발성 용제 (C)로 10배 희석하여, 화합물 (A), 화합물 (B) 및 첨가 성분 (D)의 총 농도가 0.5%인 혼합 용액을 얻었다.Compositions 1 to 7, which exhibited sufficient curability in the evaluation of the curability as described above, were diluted 10 times with volatile solvent (C), which is propylene glycol monomethyl ether acetate available from Tokyo Chemical Industry Co., Ltd., , The compound (B) and the additive component (D) was 0.5%.

이어서, 얻어진 혼합 용액을 구멍 크기가 0.2 μm인 폴리테트라플루오로에틸렌 필터를 통해 여과하여, 밀착성 평가를 위한 조성물 1' 내지 7'을 제조했다.Subsequently, the resulting mixed solution was filtered through a polytetrafluoroethylene filter having a pore size of 0.2 μm to prepare compositions 1 'to 7' for evaluation of adhesion.

(2-2) 광경화성 조성물의 제조(2-2) Preparation of photo-curable composition

하기 성분 (E) (중합성 화합물), 성분 (F) (광중합 개시제) 및 첨가 성분 (G)를 표 3에 제시된 중량비로 함께 배합하여 혼합 용액을 얻었다. 표 3 내의 값은 중량부 기준이다.The following components (E) (polymerizable compound), component (F) (photopolymerization initiator) and the additive component (G) were blended together at a weight ratio shown in Table 3 to obtain a mixed solution. The values in Table 3 are by weight.

얻어진 혼합 용액을 구멍 크기가 0.2 μm인 초고분자량 폴리에틸렌 필터를 통해 여과하여, 광경화성 조성물 a 및 광경화성 조성물 b를 제조했다.The resulting mixed solution was filtered through an ultra-high molecular weight polyethylene filter having a pore size of 0.2 μm to prepare a photocurable composition a and a photocurable composition b.

화합물 (E): 중합성 화합물Compound (E): The polymerizable compound

(E-1) 교에이샤 케미칼 캄파니, 리미티드로부터 상표명 IB-XA 하에 입수가능한 이소보르닐 아크릴레이트.Isobornyl acrylate available under the trade designation IB-XA from Ishikawa Chemical Co., Ltd. (E-1).

(E-2) 오사카 오가닉 케미칼 인더스트리 리미티드로부터 상표명 V#160 하에 입수가능한 벤질 아크릴레이트.(E-2) benzyl acrylate available under the trade designation V # 160 from Osaka Organic Chemical Industries Limited.

(E-3) 교에이샤 케미칼 캄파니, 리미티드로부터 상표명 NP-A 하에 입수가능한 네오펜틸 글리콜 디아크릴레이트.(E-3) Neopentyl glycol diacrylate available from Ishikawa Chemical Co., Ltd. under the trade name NP-A.

(E-4) 교에이샤 케미칼 캄파니, 리미티드로부터 상표명 DCP-A 하에 입수가능한 디메틸올트리시클로데칸 디아크릴레이트.Dimethylol tricyclodecane diacrylate available under the trade name DCP-A from Ishikawa Chemical Co., Ltd. (E-4).

화합물 (F): 광중합 개시제Compound (F): A photopolymerization initiator

(F-1) 바스프로부터 입수가능한 화학식 g에 의해 나타내어진 루시린 TPO.(F-1) Luciferin TPO represented by formula g available from BASF.

<화학식 g><Formula g>

Figure 112017083533914-pct00010
Figure 112017083533914-pct00010

또 다른 화합물 (G)Another compound (G)

(G-1) 도쿄 케미칼 인더스트리 캄파니, 리미티드로부터 입수가능한 4,4'-비스(디에틸아미노)벤조페논(G-1) available from Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.,

(G-2) 가오 코포레이션으로부터 상표명 에멀겐 320P 하에 입수가능한 화학식 h에 의해 나타내어진 폴리옥시에틸렌 스테아릴 에테르.(G-2) polyoxyethylene stearyl ether represented by formula h, available under the tradename Mulgene 320P from Kao Corporation.

<화학식 h><Formula h>

Figure 112017083533914-pct00011
Figure 112017083533914-pct00011

[표 3][Table 3]

Figure 112017083533914-pct00012
Figure 112017083533914-pct00012

(2-3) 밀착층의 형성(2-3) Formation of adhesion layer

각각의 제조된 조성물 1' 내지 7'을 실리콘 웨이퍼에 3,000 rpm에서 30초 동안 스핀 코팅에 의해 도포했다. 그 후, 핫플레이트 상에서 각각의 제조된 조성물 1' 내지 7'을 가열하여 밀착층을 형성했다. 가열 조건은 조성물 1' 내지 3'에 대해서는 220℃에서 30분 동안, 조성물 4' 내지 7'에 대해서는 220℃에서 3분 동안이었다. 형성된 밀착층의 두께는 10 nm 이하였다.Each of the prepared compositions 1 'to 7' was applied to a silicon wafer by spin coating at 3,000 rpm for 30 seconds. Thereafter, each of the prepared compositions 1 'to 7' was heated on a hot plate to form an adhesion layer. The heating conditions were for 30 minutes at 220 ° C for compositions 1 'to 3' and for 3 minutes at 220 ° C for compositions 4 'to 7'. The thickness of the formed adhesion layer was 10 nm or less.

(2-4) 광경화성 조성물의 경화(2-4) Curing of photocurable composition

항목 (2-3)에 기재된 바와 같이 실리콘 웨이퍼 상에 형성된 밀착층 상에, 항목 (2-2)에서 제조된 광경화성 조성물 a를 2 μL 적하하여 배치했다. 생성된 광경화성 조성물 a 상에 두께 1 mm의 석영 유리판을 배치하여, 35 mm × 25 mm 영역을 광경화성 조성물 a로 충전했다.2 μL of the photo-curable composition a prepared in item (2-2) was dropped and placed on the adhesive layer formed on the silicon wafer as described in item (2-3). A 1 mm-thick quartz glass plate was placed on the resulting photo-curable composition a, and a 35 mm x 25 mm area was filled with the photo-curable composition a.

이어서, 초고압 수은 램프를 구비한 UV 광원으로부터 방출된 광을 하기 간섭 필터를 통해 여과한 다음, 석영 유리판을 통해 200초 동안 광경화성 조성물 a에 조사하여, 광경화성 조성물 a를 경화시켜 경화막을 얻었다. 광 조사 시에 사용된 간섭 필터는 시그마코키 캄파니, 리미티드(SIGMAKOKI Co., Ltd.)로부터 입수가능한 VPF-25C-10-15-31300이었다. 사용된 광은 313 ± 5 nm의 단일 파장의 UV 광이고, 조도는 1 mW/cm2였다.Subsequently, the light emitted from the UV light source equipped with the ultra-high pressure mercury lamp was filtered through the following interference filter, and then irradiated to the photo-curing composition a through the quartz glass plate for 200 seconds to cure the photo-curable composition a to obtain a cured film. The interference filter used in light irradiation was VPF-25C-10-15-31300, available from SIGMAKOKI Co., Ltd. The light used was a single wavelength UV light of 313 ± 5 nm and the illumination was 1 mW / cm 2 .

광경화성 조성물 a와 마찬가지로 광경화성 조성물 b도 광경화시켜 경화막을 얻었다.Similarly to the photo-curable composition a, the photo-curable composition b was photo-cured to obtain a cured film.

(2-5) 밀착성의 평가(2-5) Evaluation of adhesion

광경화 후, 석영 유리판을 떼어내고, 실리콘 웨이퍼로부터 경화막이 박리되었는지의 여부를 육안으로 확인했다. 본 실시예에서, 35 mm × 25 mm 영역으로부터 전체면에서 경화막이 박리되지 않은 것을 A로 평가하고, 35 mm × 25 mm 영역의 일부로부터 경화막이 박리된 것을 B로 평가했다.After the photo-curing, the quartz glass plate was peeled off and visually confirmed whether or not the cured film was peeled off from the silicon wafer. In the present embodiment, the cured film was evaluated as A from the area of 35 mm x 25 mm on the whole surface, and rated B when the cured film was peeled off from a part of the area of 35 mm x 25 mm.

평가 결과는 표 4에 요약되어 있다.The evaluation results are summarized in Table 4.

[표 4][Table 4]

Figure 112017083533914-pct00013
Figure 112017083533914-pct00013

실시예 1a 내지 7a는 조성물 1' 내지 7'을 사용하여 밀착층을 형성하고, 광경화성 조성물 a를 사용하여 경화막을 형성한 예이다. 실시예 1b 내지 7b는 조성물 1' 내지 7'을 사용하여 밀착층을 형성하고, 광경화성 조성물 b를 사용하여 경화막을 형성한 예이다. 비교예 5a 및 비교예 5b는 밀착층을 형성하지 않으면서, 실리콘 웨이퍼 상에 광경화성 조성물 a 및 광경화성 조성물 b를 각각 사용하여 직접 경화막을 형성한 예이다.Examples 1a to 7a are examples in which the adhesive layer is formed using the compositions 1 'to 7' and a cured film is formed using the photo-curable composition a. Examples 1b to 7b are examples in which the adhesive layer is formed using the compositions 1 'to 7' and a cured film is formed using the photo-curable composition b. In Comparative Examples 5a and 5b, a direct-cured film was formed by using the photo-curable composition a and the photo-curable composition b, respectively, on a silicon wafer without forming an adhesion layer.

실시예 1a 내지 7a 및 1b 내지 7b에서는, 박리 결함이 발생하지 않았다. 그러나, 밀착층을 형성하지 않은 비교예 5a 및 5b에서는, 박리 결함이 발생했다.In Examples 1a to 7a and 1b to 7b, peeling defect did not occur. However, in Comparative Examples 5a and 5b in which no adhesion layer was formed, a peeling defect occurred.

즉, 밀착층 형성 조성물을 사용하는 것은 기재와 경화막 사이의 밀착성을 향상시킬 수 있는 밀착층을 형성하는 것을 가능하게 하고, 또한 패턴 박리 결함의 발생을 억제하는 것을 가능하게 한다.That is, the use of the adhesive layer-forming composition makes it possible to form an adhesive layer capable of improving the adhesion between the substrate and the cured film, and to suppress the occurrence of pattern peeling defects.

본 발명은 예시적 실시형태를 참조하여 기재되었지만, 본 발명은 개시된 예시적 실시형태에 제한되지는 않는 것으로 이해되어야 한다. 하기 청구범위의 범주는 모든 이러한 변형 및 등가 구조 및 기능을 포괄하도록 가장 넓은 해석에 따라야 한다.While the present invention has been described with reference to exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments. The scope of the following claims is to be accorded the broadest interpretation so as to encompass all such modifications and equivalent structures and functions.

본 출원은 2015년 1월 30일에 출원된 일본 특허 출원 제2015-017714호 및 2015년 11월 11일에 출원된 일본 특허 출원 제2015-221384호의 이익을 청구하며, 이들은 그 전문이 본원에 참조로 포함된다.This application claims the benefit of Japanese Patent Application No. 2015-017714, filed on January 30, 2015, and Japanese Patent Application No. 2015-221384, filed on November 11, 2015, which are incorporated herein by reference in their entirety. .

Claims (20)

알콕시알킬 기와 알킬올 기 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 함유하며, 분자당 알콕시알킬 기와 알킬올 기 중 어느 한쪽의 수 또는 분자당 알콕시알킬 기와 알킬올 기의 수가 총 5개 이상인 화합물 (A); 및
탄화수소에 결합하는 티올 기를 분자당 2개 이상 함유하는 화합물 (B)
를 함유하는 밀착층 형성 조성물.
A compound (A) containing either or both of an alkoxyalkyl group and an alkylol group, wherein the number of alkoxyalkyl groups and alkylol groups per molecule or the total number of alkoxyalkyl groups and alkylol groups per molecule is 5 or more; And
The compound (B) containing two or more thiol groups bonded to the hydrocarbon per molecule,
By weight based on the total weight of the composition.
제1항에 있어서, 휘발성 용제를 추가로 함유하며, 상기 휘발성 용제의 함유량이 상기 밀착층 형성 조성물의 전체를 100 질량%로 했을 때 70 질량% 이상 99.9 질량% 이하인 밀착층 형성 조성물.The adhesion layer-forming composition according to claim 1, further comprising a volatile solvent, wherein the content of the volatile solvent is 70% by mass or more and 99.9% by mass or less when the total amount of the adhesive layer-forming composition is 100% by mass. 제1항에 있어서, 광중합 개시제를 함유하지 않는 밀착층 형성 조성물.The composition for forming an adhesion layer according to claim 1, which does not contain a photopolymerization initiator. 제1항에 있어서, 크기가 0.2 μm보다 큰 입자의 함유량이, 상기 밀착층 형성 조성물의 전체를 100 질량%로 했을 때 3 질량% 미만인 밀착층 형성 조성물.The adhesion layer-forming composition according to claim 1, wherein the content of the particles having a size larger than 0.2 μm is less than 3% by mass based on 100% by mass of the total content of the adhesive layer-forming composition. 제1항에 있어서, 상기 화합물 (A)가 하기 화학식에 의해 나타내어진 화합물인 밀착층 형성 조성물.
<화학식 1>
Figure 112017085963384-pct00014

상기 식에서, R1 내지 R6은 독립적으로 수소 원자, 알킬 기, 알콕시알킬 기 또는 알킬올 기를 나타내고, R1 내지 R6 중 5개 이상은 알콕시알킬 기 또는 알킬올 기이다.
The adhesion layer-forming composition according to claim 1, wherein the compound (A) is a compound represented by the following formula.
&Lt; Formula 1 >
Figure 112017085963384-pct00014

In the above formula, R 1 to R 6 independently represent a hydrogen atom, an alkyl group, an alkoxyalkyl group or an alkylol group, and at least five of R 1 to R 6 are an alkoxyalkyl group or an alkylol group.
제1항에 있어서, 상기 화합물 (A)가 펜타메톡시메틸멜라민, 헥사메톡시메틸멜라민, (히드록시메틸)펜타키스(메톡시메틸)멜라민, 헥사에톡시메틸멜라민, 헥사부톡시메틸멜라민, 펜타메틸올멜라민, 및 헥사메틸올멜라민으로 이루어진 군으로부터 선택된 1종 이상을 포함하는 것인 밀착층 형성 조성물.The composition of claim 1, wherein the compound (A) is selected from the group consisting of pentamethoxymethyl melamine, hexamethoxymethyl melamine, (hydroxymethyl) pentakis (methoxymethyl) melamine, hexaethoxymethyl melamine, hexabutoxymethyl melamine, Wherein the adhesive layer comprises at least one selected from the group consisting of polyamides, pentamethylol melamine, and hexamethylol melamine. 제1항에 있어서, 상기 화합물 (A)가, 알콕시알킬 기와 알킬올 기 중 어느 한쪽 또는 양쪽을 함유하며, 분자당 알콕시알킬 기와 알킬올 기 중 어느 한쪽의 수 또는 분자당 알콕시알킬 기와 알킬올 기의 수가 총 6개 이상인 화합물인 밀착층 형성 조성물.The positive resist composition according to claim 1, wherein the compound (A) contains one or both of an alkoxyalkyl group and an alkylol group, and the number of alkoxyalkyl groups and alkylol groups per molecule or alkoxyalkyl groups and alkylol groups Is 6 or more in total. 제1항에 있어서, 상기 화합물 (B)가 티올 기를 분자당 3개 이상 함유하는 것인 밀착층 형성 조성물.The adhesion layer-forming composition according to claim 1, wherein the compound (B) contains three or more thiol groups per molecule. 제1항에 있어서, 상기 화합물 (B)가 1급 티올인 밀착층 형성 조성물.The composition according to claim 1, wherein the compound (B) is a primary thiol. 제1항에 있어서, 상기 밀착층 형성 조성물의 전체를 100 중량%로 했을 때 상기 화합물 (A)의 중량 분율을 α (%)로 하고 상기 화합물 (B)의 중량 분율을 β (%)로 하면, 비율 α/β가 0.25 이상 4 이하인 밀착층 형성 조성물.The method according to claim 1, wherein assuming that the weight fraction of the compound (A) is? (%) And the weight fraction of the compound (B) is? (%) When the entirety of the adhesion layer- , And the ratio? /? Is 0.25 or more and 4 or less. 제1항에 있어서, 상기 밀착층 형성 조성물의 전체를 100 중량%로 했을 때 상기 화합물 (A)의 중량 분율을 α (%)로 하고 상기 화합물 (B)의 중량 분율을 β (%)로 하면, α와 β의 합계가 0.1 이상 10 이하인 밀착층 형성 조성물.The method according to claim 1, wherein assuming that the weight fraction of the compound (A) is? (%) And the weight fraction of the compound (B) is? (%) When the entirety of the adhesion layer- , and the sum of? and? is 0.1 or more and 10 or less. 제1항에 있어서, 광 나노임프린트용인 밀착층 형성 조성물.The composition for forming an adhesion layer according to claim 1, which is used for a photo-nanoimprint. 기재 상에, 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 기재된 밀착층 형성 조성물을 배치하여 밀착층을 형성하는 제1 단계;
상기 밀착층 상에 광경화성 조성물을 배치하는 제2 단계;
상기 광경화성 조성물과, 패턴 형상을 전사하기 위해 사용되는 원형 패턴을 갖는 몰드를 서로 접촉시키는 제3 단계;
상기 광경화성 조성물에 광을 조사하여 경화물을 생성하는 제4 단계; 및
상기 경화물과 상기 몰드를 서로 분리하는 제5 단계
를 포함하는, 경화물 패턴의 제조 방법.
A first step of forming an adhesion layer by disposing the adhesion layer forming composition according to any one of claims 1 to 12 on a substrate;
A second step of disposing a photocurable composition on the adhesion layer;
A third step of bringing the photocurable composition and a mold having a circular pattern used for transferring a pattern shape into contact with each other;
A fourth step of irradiating the photocurable composition with light to produce a cured product; And
A fifth step of separating the cured product from the mold,
&Lt; / RTI &gt;
제13항에 있어서, 상기 광경화성 조성물이 아크릴로일 기 또는 메타크릴로일 기를 함유하는 화합물을 함유하는 것인 경화물 패턴의 제조 방법.14. The method of claim 13, wherein the photocurable composition contains a compound containing an acryloyl group or a methacryloyl group. 제13항에 있어서, 상기 기재가 표면 상에 히드록시 기를 갖는 것인 경화물 패턴의 제조 방법.14. The method of claim 13, wherein the substrate has a hydroxy group on the surface. 제13항에 기재된 경화물 패턴의 제조 방법에 의해 경화물 패턴을 얻는 단계를 포함하는, 광학 부품의 제조 방법.A process for producing an optical component, comprising the step of obtaining a cured product pattern by the process for producing a cured product according to claim 13. 제13항에 기재된 경화물 패턴의 제조 방법에 의해 경화물 패턴을 얻는 단계; 및
얻어진 경화물 패턴을 마스크로서 사용하여 기재에 대해 에칭 또는 이온 주입을 행하는 단계
를 포함하는, 회로 기판의 제조 방법.
Obtaining a cured product pattern by the method for producing a cured product according to claim 13; And
Performing etching or ion implantation on the substrate using the obtained cured product pattern as a mask
Wherein the method further comprises the steps of:
제17항에 있어서, 상기 회로 기판이 반도체 소자에 사용하기 위한 회로 기판인 회로 기판의 제조 방법.18. The method of claim 17, wherein the circuit board is a circuit board for use in a semiconductor device. 기재 상에, 제13항에 기재된 경화물 패턴의 제조 방법에 의해 경화물 패턴을 얻는 단계; 및
얻어진 경화물 패턴을 마스크로서 사용하여 상기 기재에 대해 에칭을 행하는 단계
를 포함하는, 임프린트용 몰드의 제조 방법.
A method for producing a cured product, comprising: obtaining a cured product pattern on a substrate by the method for producing a cured product according to claim 13; And
And etching the substrate using the obtained cured product pattern as a mask
Wherein the imprint mold is formed by a method comprising the steps of:
삭제delete
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