JP6632340B2 - Adhesive layer forming composition, method for producing cured product pattern, method for producing optical component, method for producing circuit board, method for producing imprint mold, and device component - Google Patents

Adhesive layer forming composition, method for producing cured product pattern, method for producing optical component, method for producing circuit board, method for producing imprint mold, and device component Download PDF

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Description

本発明は、密着層形成組成物、硬化物パターンの製造方法、光学部品の製造方法、回路基板の製造方法、インプリント用モールドの製造方法、およびデバイス部品等に関する。   The present invention relates to a composition for forming an adhesion layer, a method for producing a cured product pattern, a method for producing an optical component, a method for producing a circuit board, a method for producing an imprint mold, and a device component.

半導体デバイスやMEMS等においては、微細化の要求が高まっており、その中で光ナノインプリント技術が注目されている。   In semiconductor devices, MEMS, and the like, demands for miniaturization are increasing, and among them, optical nanoimprint technology is receiving attention.

光ナノインプリント技術では、表面に微細な凹凸パターンが形成された型(モールド)を光硬化性組成物(レジスト)が塗布された基板(ウエハ)などの基材に押しつけた状態で光硬化性組成物を硬化させる。これにより、モールドの凹凸パターンを光硬化性組成物の硬化膜に転写し、パターンを基材上に形成する。光ナノインプリント技術によれば、基材上に数ナノメートルオーダーの微細な構造体を形成することができる。   In the photo-nanoimprint technology, a photo-curable composition is formed by pressing a mold (a mold) having a fine concavo-convex pattern on its surface against a substrate such as a substrate (wafer) coated with a photo-curable composition (resist). To cure. Thereby, the concave and convex pattern of the mold is transferred to the cured film of the photocurable composition, and the pattern is formed on the substrate. According to the optical nanoimprint technology, a fine structure of the order of several nanometers can be formed on a substrate.

光ナノインプリント技術では、まず、基材上のパターン形成領域に光硬化性組成物を塗布する(配置工程)。次に、この光硬化性組成物をパターンが形成されたモールドを用いて成形する(型接触工程)。そして、光を照射して光硬化性組成物を硬化(光照射工程)させたうえで引き離す(離型工程)。これらの工程を実施することにより、所定の形状を有する樹脂のパターン(光硬化物)が基材上に形成される。   In the photo nanoimprint technique, first, a photocurable composition is applied to a pattern formation region on a substrate (arrangement step). Next, this photocurable composition is molded using a mold on which a pattern is formed (mold contact step). Then, the photocurable composition is cured by light irradiation (light irradiation step) and then separated (mold release step). By performing these steps, a resin pattern (photocured product) having a predetermined shape is formed on the base material.

光ナノインプリント技術の離型工程においては、光硬化性組成物と基材との間の密着性が重要である。光硬化性組成物と基材との間の密着性が低いと、離型工程においてモールドを引き離す際に、光硬化性組成物を硬化させて得られた光硬化物の一部がモールドに付着したまま剥がれてしまう、パターン剥がれ欠陥が発生してしまう場合があるからである。   In the release step of the photo nanoimprint technique, the adhesion between the photocurable composition and the substrate is important. When the adhesion between the photocurable composition and the substrate is low, a part of the photocured product obtained by curing the photocurable composition adheres to the mold when the mold is separated in the mold release process. This is because there is a case where the pattern is peeled off as it is or a pattern peeling defect occurs.

従来、光硬化性組成物と基材との間の密着性を向上させる技術として、光硬化性組成物と基材との間に、光硬化性組成物と基材とを密着させるための層である密着層を形成する技術が提案されている(特許文献1)。   Conventionally, as a technique for improving the adhesion between the photocurable composition and the substrate, between the photocurable composition and the substrate, a layer for adhering the photocurable composition and the substrate (Patent Literature 1).

特開2013−202982号公報JP 2013-202982 A

特許文献1に記載の技術では、硬化性主剤と尿素系架橋剤とを含有する組成物を用いて密着層を形成している。しかしながら、尿素系架橋剤を含む組成物を用いた場合、密着層を形成する際の組成物の硬化性が不十分である場合があった。その結果、光硬化性組成物と基材との間の密着性を十分に向上させることができず、パターン剥がれ欠陥が発生してしまうという課題があった。   In the technique described in Patent Literature 1, the adhesive layer is formed using a composition containing a curable main agent and a urea-based crosslinking agent. However, when a composition containing a urea-based cross-linking agent is used, the curability of the composition at the time of forming the adhesion layer may be insufficient. As a result, there has been a problem that the adhesion between the photocurable composition and the substrate cannot be sufficiently improved, and a pattern peeling defect occurs.

そこで本発明は上述の課題に鑑み、パターン剥がれ欠陥の発生を抑制できる密着層形成組成物を提供することを目的とする。   In view of the above-mentioned problems, an object of the present invention is to provide an adhesive layer forming composition that can suppress the occurrence of pattern peeling defects.

本発明に係る密着層形成組成物は、1分子中に、アルコキシアルキル基またはアルキロール基のいずれか一方または両方を合計で少なくとも5つ有する化合物(A)と、1分子中にチオール基を少なくとも2つ有する化合物(B)と、を有することを特徴とする。   The composition for forming an adhesion layer according to the present invention comprises a compound (A) having at least five of one or both of an alkoxyalkyl group and an alkylol group in one molecule, and at least a thiol group in one molecule. And compound (B) having two.

本発明によれば、パターン剥がれ欠陥の発生を抑制できる密着層形成組成物を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the adhesion layer formation composition which can suppress generation | occurrence | production of a pattern peeling defect can be provided.

本実施形態に係る硬化物パターンの製造方法を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically the manufacturing method of the hardened | cured material pattern which concerns on this embodiment.

以下、本発明の実施の形態について詳細に説明する。なお、本発明は、以下の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、当業者の通常の知識に基づいて、以下の実施の形態に対して適宜変更、改良等が加えられたものも本発明の範囲に含まれる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. In addition, the present invention is not limited to the following embodiments, and may be appropriately modified based on ordinary knowledge of a person skilled in the art without departing from the spirit of the present invention. Modifications and the like are also included in the scope of the present invention.

本実施形態に係る密着層形成組成物100は、基材102と光硬化性組成物103との間に密着層101を形成するための組成物である。密着層形成組成物100は、1分子中に、アルコキシアルキル基またはアルキロール基のいずれか一方または両方を合計で少なくとも5つ有する化合物(A)と、1分子中にチオール基を少なくとも2つ有する化合物(B)と、を有することを特徴とする。   The adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment is a composition for forming an adhesive layer 101 between a substrate 102 and a photocurable composition 103. The adhesion layer forming composition 100 has a compound (A) having at least five of either or both of an alkoxyalkyl group and an alkylol group in one molecule and at least two thiol groups in one molecule. And compound (B).

本実施形態に係る密着層形成組成物100は、基材102上に配置して硬化させ、硬化物を形成する場合に特に好ましく用いられる。また、本実施形態に係る密着層形成組成物100を硬化してなる密着層101と、基材102と、を有する積層体は、光硬化性組成物103を積層体上に配置して光硬化物109を得るための基材として好ましく用いることができる。また、本実施形態に係る密着層形成組成物100は、インプリント用密着層形成組成物として用いることができ、特に、光ナノインプリント用密着層形成組成物として有用である。   The adhesion layer forming composition 100 according to the present embodiment is particularly preferably used when it is arranged and cured on a substrate 102 to form a cured product. Further, the laminate having the adhesion layer 101 obtained by curing the adhesion layer forming composition 100 according to the present embodiment and the substrate 102 is obtained by disposing the photocurable composition 103 on the laminate and performing photocuring. It can be preferably used as a substrate for obtaining the product 109. Further, the composition 100 for forming an adhesion layer according to the present embodiment can be used as a composition for forming an adhesion layer for imprint, and is particularly useful as a composition for forming an adhesion layer for optical nanoimprint.

以下、本実施形態に係る密着層形成組成物100が有する各成分について、詳細に説明する。   Hereinafter, each component of the adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment will be described in detail.

<化合物(A)>
本実施形態に係る化合物(A)は、1分子中に、アルコキシアルキル基またはアルキロール基のいずれか一方または両方(以下、「官能基a」と称する)を合計で少なくとも5つ有する化合物である。
<Compound (A)>
The compound (A) according to this embodiment is a compound having at least one of an alkoxyalkyl group and an alkylol group or both (hereinafter, referred to as “functional group a”) in one molecule. .

本実施形態に係る化合物(A)が有する官能基aは、後述する密着層形成工程において、化合物(B)の有するチオール基と反応する官能基である。その結果、化合物(A)と化合物(B)との間に結合が生成する。化合物(A)は1分子中に官能基aを複数個有するため、化合物(A)は複数個の化合物(B)との間にそれぞれ結合を生じることができる。化合物(A)が複数個の化合物(B)との間にそれぞれ結合を生じることによって、密着層101を構成する化合物同士が架橋した構造(架橋構造)を形成することができる。   The functional group a of the compound (A) according to the present embodiment is a functional group that reacts with the thiol group of the compound (B) in the adhesion layer forming step described later. As a result, a bond is formed between the compound (A) and the compound (B). Since the compound (A) has a plurality of functional groups a in one molecule, the compound (A) can form a bond with each of the plurality of compounds (B). By generating a bond between the compound (A) and the plurality of compounds (B), a structure in which the compounds constituting the adhesion layer 101 are cross-linked (cross-linked structure) can be formed.

本実施形態に係る化合物(A)が有する官能基aと、化合物(B)の有するチオール基との間の反応は、後述する密着層形成工程における加熱プロセスによって生じることが好ましい。   The reaction between the functional group a of the compound (A) according to the present embodiment and the thiol group of the compound (B) is preferably caused by a heating process in a later-described adhesion layer forming step.

上述のように架橋構造を有する密着層101を形成することで、基材102に接続されていない、遊離した未反応の化合物(A)または化合物(B)の量を低減させることができる。これにより、密着層101の膜強度を向上させることができる。   By forming the adhesion layer 101 having a crosslinked structure as described above, the amount of the free unreacted compound (A) or compound (B) that is not connected to the base material 102 can be reduced. Thereby, the film strength of the adhesion layer 101 can be improved.

未反応の化合物(A)や化合物(B)が密着層101中に遊離した状態で存在していると、後述する光硬化性組成物103の配置工程において、これらの化合物が光硬化性組成物103中へと溶出する可能性がある。その結果、光硬化性組成物103の組成が変化することによって光硬化性組成物103の特性が変化し、例えば光硬化性組成物103を硬化させて得られる光硬化物109のパターンの剥がれ欠陥などを生じてしまう。   If the unreacted compound (A) or compound (B) is present in the adhesive layer 101 in a free state, these compounds may be used in the photocurable composition 103 in the step of arranging the photocurable composition 103 described below. May elute into 103. As a result, when the composition of the photocurable composition 103 changes, the characteristics of the photocurable composition 103 change. For example, a pattern peeling defect of the photocurable product 109 obtained by curing the photocurable composition 103. And so on.

一方、本実施形態に係る密着層形成組成物100を用いると、密着層101中の、基材102に接続されていない遊離した化合物(A)や化合物(B)の量を従来よりも大幅に低減させることができる。これにより、光硬化性組成物103の配置工程における光硬化性組成物103中への化合物(A)または化合物(B)の溶出も大幅に抑制することができる。その結果、上述した光硬化物109のパターンの剥がれ欠陥などの発生を抑制することができる。   On the other hand, when the adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment is used, the amount of the free compound (A) or the compound (B) that is not connected to the base material 102 in the adhesive layer 101 can be significantly increased. Can be reduced. Thereby, the dissolution of the compound (A) or the compound (B) into the photocurable composition 103 in the step of disposing the photocurable composition 103 can be significantly suppressed. As a result, it is possible to suppress the occurrence of the peeling defect or the like of the pattern of the photocured product 109 described above.

また、化合物(A)の有する官能基aは、基材102の表面に存在する官能基との間で、共有結合、イオン結合、水素結合、分子間力などのいずれかの化学結合または相互作用を生じてもよい。例えば、基材102として表面にシラノール基などの水酸基を有する基材を用いた場合には、アルコキシアルキル基とシラノール基との間で脱アルコール反応が生じる。その結果、化合物(A)と基材102との間に共有結合を形成することができる。これにより、密着層101と基材102との間の密着性を向上させることができる。   Further, the functional group a of the compound (A) is any one of a chemical bond such as a covalent bond, an ionic bond, a hydrogen bond, an intermolecular force or an interaction with a functional group present on the surface of the substrate 102. May occur. For example, when a substrate having a hydroxyl group such as a silanol group on the surface is used as the substrate 102, a dealcoholization reaction occurs between the alkoxyalkyl group and the silanol group. As a result, a covalent bond can be formed between the compound (A) and the substrate 102. Thereby, the adhesion between the adhesion layer 101 and the substrate 102 can be improved.

さらに化合物(A)は、下記一般式(1)で表される化合物であることが好ましい。   Further, the compound (A) is preferably a compound represented by the following general formula (1).

式(1)において、R〜Rはそれぞれ独立に、水素原子、アルキル基、アルコキシアルキル基、またはアルキロール基のいずれかを表す。ただし、R〜Rの少なくとも5つはアルコキシアルキル基またはアルキロール基である。 In the formula (1), R 1 to R 6 each independently represent any one of a hydrogen atom, an alkyl group, an alkoxyalkyl group, and an alkylol group. However, at least five of R 1 to R 6 are an alkoxyalkyl group or an alkylol group.

上記一般式(1)で表される化合物は、構造の中心にトリアジン環を有するメラミンの誘導体である。すなわち、一般式(1)で表される化合物は、1,3,5−トリアジンの2位、4位、6位に窒素原子がそれぞれ結合した構造を有している。さらに、一般式(1)で表される化合物は、5つまたは6つの官能基aをもつ。すなわち、上記一般式(1)で表される化合物は、グリコールウリルの誘導体等の尿素系化合物に比べて、官能基aを多く有する。   The compound represented by the general formula (1) is a melamine derivative having a triazine ring at the center of the structure. That is, the compound represented by the general formula (1) has a structure in which a nitrogen atom is bonded to each of the 2-, 4- and 6-positions of 1,3,5-triazine. Further, the compound represented by the general formula (1) has five or six functional groups a. That is, the compound represented by the general formula (1) has more functional groups a than urea-based compounds such as glycoluril derivatives.

また、尿素系化合物は分子内に電子吸引性の酸素原子を有するため、官能基aを有する尿素系化合物中の官能基aのチオール基等との反応性は、分子内に電子吸引性の酸素原子を有さない場合に比べて低下する傾向がある。一方、上記一般式(1)で表される化合物の母体であるトリアジン環は、構造中に電子吸引性の酸素原子を有さない。そのため、上記一般式(1)で表される化合物の有する官能基aは、尿素系化合物中の官能基aに比べて高い反応性を有すると考えられる。   Further, since the urea-based compound has an electron-withdrawing oxygen atom in the molecule, the reactivity of the functional group a in the urea-based compound having the functional group a with the thiol group is such that the electron-withdrawing oxygen atom is present in the molecule. There is a tendency for it to decrease as compared to the case without atoms. On the other hand, the triazine ring which is the parent of the compound represented by the general formula (1) does not have an electron-withdrawing oxygen atom in the structure. Therefore, it is considered that the functional group a of the compound represented by the general formula (1) has higher reactivity than the functional group a in the urea-based compound.

以上のことから、化合物(A)として上記一般式(1)で表される化合物を用いることで、本実施形態に係る密着層形成組成物100の硬化性を向上させることができる。また、密着層形成組成物100を用いて形成する密着層101の膜強度を向上させることができる。   From the above, the curability of the adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment can be improved by using the compound represented by the general formula (1) as the compound (A). Further, the film strength of the adhesion layer 101 formed using the adhesion layer forming composition 100 can be improved.

化合物(A)が有するアルコキシアルキル基またはアルキロール基の種類は特に限定はされないが、アルコキシアルキル基としてはメトキシメチル基が好ましく、アルキロール基としてはメチロール基が好ましい。このようにアルコキシアルキル基またはアルキロール基として式量の小さな官能基を用いることで、密着層101中の単位質量あたりの架橋密度を向上させることができる。その結果、密着層101の膜強度を向上させることができる。   The type of the alkoxyalkyl group or the alkylol group of the compound (A) is not particularly limited, but the alkoxyalkyl group is preferably a methoxymethyl group, and the alkylol group is preferably a methylol group. By using a functional group having a small formula weight as the alkoxyalkyl group or the alkylol group in this manner, the crosslink density per unit mass in the adhesion layer 101 can be improved. As a result, the film strength of the adhesion layer 101 can be improved.

化合物(A)の具体例としては、ペンタメトキシメチルメラミン、ヘキサメトキシメチルメラミン、(ヒドロキシメチル)ペンタキス(メトキシメチル)メラミン、ヘキサエトキシメチルメラミン、ヘキサブトキシメチルメラミン、ペンタメチロールメラミン、ヘキサメチロールメラミンなどが挙げられるが、これらに限定はされない。   Specific examples of the compound (A) include pentamethoxymethylmelamine, hexamethoxymethylmelamine, (hydroxymethyl) pentakis (methoxymethyl) melamine, hexaethoxymethylmelamine, hexabutoxymethylmelamine, pentamethylolmelamine, and hexamethylolmelamine. But not limited thereto.

なお、化合物(A)は、一種類の化合物で構成されていても良く、複数種類の化合物で構成されていても良い。   In addition, the compound (A) may be composed of one kind of compound, or may be composed of plural kinds of compounds.

<化合物(B)>
本発明の化合物(B)は、1分子中にチオール基を少なくとも2つ有する化合物である。
<Compound (B)>
The compound (B) of the present invention is a compound having at least two thiol groups in one molecule.

化合物(B)の有するチオール基は、上述のように、化合物(A)の有する官能基aと反応する官能基である。その結果、化合物(A)と化合物(B)との間に結合が生成する。化合物(B)は1分子中にチオール基を複数個有するため、化合物(B)は複数個の化合物(A)との間にそれぞれ結合を生じることができる。化合物(B)が複数個の化合物(A)との間にそれぞれ結合を生じることによって、密着層101を構成する化合物同士が架橋した構造(架橋構造)を形成することができる。   The thiol group of the compound (B) is a functional group that reacts with the functional group a of the compound (A) as described above. As a result, a bond is formed between the compound (A) and the compound (B). Since the compound (B) has a plurality of thiol groups in one molecule, the compound (B) can form a bond with each of the plurality of compounds (A). When the compound (B) forms a bond with each of the plurality of compounds (A), a structure in which the compounds constituting the adhesion layer 101 are cross-linked (cross-linked structure) can be formed.

上述のように架橋構造を有する密着層101を形成することで、基材102に接続されていない、遊離した未反応の化合物(A)または化合物(B)の量を低減させることができる。これにより、密着層101の膜強度を向上させることができる。また、後述する光硬化性組成物103の配置工程における光硬化性組成物103中への化合物(A)または化合物(B)の溶出も大幅に抑制することができる。その結果、上述した光硬化物109のパターンの剥がれ欠陥などの発生を抑制することができる。   By forming the adhesion layer 101 having a crosslinked structure as described above, the amount of the free unreacted compound (A) or compound (B) that is not connected to the base material 102 can be reduced. Thereby, the film strength of the adhesion layer 101 can be improved. In addition, elution of the compound (A) or the compound (B) into the photocurable composition 103 in the step of disposing the photocurable composition 103 described later can be significantly suppressed. As a result, it is possible to suppress the occurrence of the peeling defect or the like of the pattern of the photocured product 109 described above.

また、化合物(B)の有するチオール基は、基材102の表面に存在する官能基との間で、共有結合、水素結合、分子間力などのいずれかの化学結合または相互作用を生じることができる。これにより、密着層101と基材102との間の密着性を向上させることができる。   The thiol group of the compound (B) may cause any chemical bond or interaction such as a covalent bond, a hydrogen bond, or an intermolecular force with a functional group present on the surface of the base material 102. it can. Thereby, the adhesion between the adhesion layer 101 and the substrate 102 can be improved.

さらに、化合物(B)の有するチオール基は、後述する光照射工程において光硬化性組成物103中に発生するラジカルとの間の連鎖移動反応により、光硬化性組成物103中の重合性化合物との間に共有結合を生じる。これにより、密着層101と光硬化性組成物103または硬化膜109との間の密着性を向上させることができる。密着層101は上述の通り、基材102との間にも化学結合または相互作用を生じているため、結果として、密着層101によって基材102と光硬化性組成物103または硬化膜109との間の密着性を向上させることができる。   Further, the thiol group of the compound (B) is converted into a polymerizable compound in the photocurable composition 103 by a chain transfer reaction with a radical generated in the photocurable composition 103 in a light irradiation step described below. Form a covalent bond between Thereby, the adhesiveness between the adhesive layer 101 and the photocurable composition 103 or the cured film 109 can be improved. As described above, since the adhesion layer 101 also has a chemical bond or interaction with the base material 102, as a result, the adhesion layer 101 causes the base material 102 and the photocurable composition 103 or the cured film 109 to be in contact with each other. Adhesion between them can be improved.

以上のような効果をより発揮するために、本実施形態に係る化合物(B)が有するチオール基の数は多い方が好ましく、少なくとも3つであることがより好ましく、少なくとも4つであることがさらに好ましい。化合物(B)が有するチオール基の数を少なくとも3つとすることで、化合物(B)によって形成される架橋構造が立体的になり、密着層101の膜の強度がより向上する。また、化合物(B)と化合物(A)、基材102との間の結合が生じやすくなる。化合物(B)が有するチオール基の数が多い方が上述の効果は大きくなるため、化合物(B)が有するチオール基の数は、少なくとも4つであることがさらに好ましい。   In order to further exert the above effects, the compound (B) according to the present embodiment preferably has a large number of thiol groups, more preferably at least three, and preferably at least four. More preferred. By setting the number of thiol groups in the compound (B) to at least three, a crosslinked structure formed by the compound (B) becomes three-dimensional, and the strength of the film of the adhesion layer 101 is further improved. Further, the bond between the compound (B), the compound (A), and the base material 102 is easily generated. Since the effect described above increases as the number of thiol groups in the compound (B) increases, the number of thiol groups in the compound (B) is more preferably at least four.

また、化合物(B)は1級チオールであることが好ましい。化合物(B)を1級チオールとすることで、化合物(B)の有するチオール基の周りの立体障害を減らすことができる。その結果、化合物(B)の有するチオール基の反応性を高め、密着層形成組成物100の硬化性を向上させることができる。   Further, the compound (B) is preferably a primary thiol. By making the compound (B) a primary thiol, steric hindrance around the thiol group of the compound (B) can be reduced. As a result, the reactivity of the thiol group of the compound (B) can be increased, and the curability of the adhesive layer forming composition 100 can be improved.

本実施形態に係る化合物(B)として用いることが可能な、チオール基を少なくとも2つ有する化合物の具体例としては、1,6−ヘキサンジチオール、1,8−オクタンジチオール、1,10−デカンジチオール、1,4−ブタンジオールビス(チオグリコレート)、1,4−ビス(3−メルカプトブチリルオキシ)ブタン等の2官能チオール化合物;1,3,5−トリス(3−メルカプトブチリルオキシエチル)−1,3,5−トリアジン−2,4,6(1H,3H,5H)−トリオン、トリメチロールプロパントリス(3−メルカプトプロピオネート)、ペンタエリスリトールトリス(3−メルカプトブチレート)等の3官能チオール化合物;ペンタエリトリトールテトラキス(メルカプトアセタート)、ペンタエリスリトールテトラキス(3−メルカプトブチレート)、ペンタエリスリトールテトラキス(3−メルカプトプロピオネート)等の4官能チオール等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Specific examples of the compound having at least two thiol groups that can be used as the compound (B) according to the present embodiment include 1,6-hexanedithiol, 1,8-octanedithiol, and 1,10-decanedithiol. Bifunctional thiol compounds such as 1,4-butanediol bis (thioglycolate) and 1,4-bis (3-mercaptobutyryloxy) butane; 1,3,5-tris (3-mercaptobutyryloxyethyl) ) -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -trione, trimethylolpropane tris (3-mercaptopropionate), pentaerythritol tris (3-mercaptobutyrate), etc. Trifunctional thiol compounds; pentaerythritol tetrakis (mercaptoacetate), pentaerythritol tetra Scan (3-mercapto butyrate), but tetrafunctional thiols such as pentaerythritol tetrakis (3-mercaptopropionate) and the like, but are not limited to.

なお、化合物(B)は、一種類の化合物で構成されていても良く、複数種類の化合物で構成されていても良い。   In addition, the compound (B) may be composed of one kind of compound, or may be composed of plural kinds of compounds.

<化合物(A)および化合物(B)の配合比率>
密着層形成組成物100のうち、化合物(A)または化合物(B)のどちらか一方の配合比率が極端に小さいと、密着層101の架橋密度が小さくなり、膜強度や硬化性が不十分となる。したがって、化合物(A)、化合物(B)の密着層形成組成物100全体に対する重量分率をそれぞれα、βとすると、α:βは1:9〜9:1であることが好ましく、1:4〜4:1であることがより好ましい。すなわち、α/βは0.11以上9以下であることが好ましく、0.25以上4以下であることが好ましい。なお、最適な配合比率は、化合物(A)および化合物(B)の官能基の数や分子量、反応性によって異なるが、概ね上述の範囲内の配合比率とすることで、密着層形成組成物100の硬化性を高めることができる。
<Compounding ratio of compound (A) and compound (B)>
When the compounding ratio of either the compound (A) or the compound (B) in the adhesive layer forming composition 100 is extremely small, the crosslinking density of the adhesive layer 101 becomes small, and the film strength and the curability are insufficient. Become. Therefore, assuming that the weight fractions of the compound (A) and the compound (B) with respect to the whole adhesive layer forming composition 100 are α and β, respectively, α: β is preferably 1: 9 to 9: 1, and 1: 9 to 9: 1. More preferably, the ratio is 4 to 4: 1. That is, α / β is preferably 0.11 or more and 9 or less, and more preferably 0.25 or more and 4 or less. The optimum mixing ratio varies depending on the number, molecular weight, and reactivity of the functional groups of the compound (A) and the compound (B). However, by setting the mixing ratio within the above range, the adhesion layer forming composition 100 Curability can be increased.

化合物(A)および化合物(B)の密着層形成組成物100における配合割合(αとβの和)は、密着層形成組成物100の粘度や、目的とする密着層101の膜厚などによって適宜調整することができる。αとβの和は、密着層形成組成物100の全重量に対して、0.01以上10以下であることが好ましく、0.1以上10以下であることがより好ましく、0.1以上7以下であることがさらに好ましい。化合物(A)および化合物(B)の密着層形成組成物100における配合割合を上記範囲にすることで、密着層形成組成物100の粘度を低くすることができ、形成される密着層101の膜厚を小さくすることができる。   The compounding ratio (the sum of α and β) of the compound (A) and the compound (B) in the adhesion layer forming composition 100 is appropriately determined according to the viscosity of the adhesion layer forming composition 100, the intended thickness of the adhesion layer 101, and the like. Can be adjusted. The sum of α and β is preferably 0.01 or more and 10 or less, more preferably 0.1 or more and 10 or less, and 0.1 or more 7 with respect to the total weight of the adhesion layer forming composition 100. It is more preferred that: By setting the compounding ratio of the compound (A) and the compound (B) in the adhesion layer forming composition 100 within the above range, the viscosity of the adhesion layer forming composition 100 can be reduced, and the formed film of the adhesion layer 101 is formed. The thickness can be reduced.

<揮発性溶剤(C)>
本実施形態に係る密着層形成組成物100は、揮発性溶剤(C)(以下、単に「溶剤(C)」と称する)を含有する。密着層形成組成物100が溶剤(C)を含有することによって、密着層形成組成物100の粘度を低下させることができる。その結果、密着層形成組成物100の基材102に対する塗布性を向上させることができる。
<Volatile solvent (C)>
The adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment contains a volatile solvent (C) (hereinafter, simply referred to as “solvent (C)”). When the adhesive layer forming composition 100 contains the solvent (C), the viscosity of the adhesive layer forming composition 100 can be reduced. As a result, the applicability of the adhesive layer forming composition 100 to the substrate 102 can be improved.

溶剤(C)は、化合物(A)および化合物(B)が溶解する溶剤であれば、特に限定はされないが、常圧における沸点が80〜200℃の溶剤が好ましい。また、溶剤(C)は、水酸基、エーテル構造、エステル構造、ケトン構造のいずれかを少なくとも1つ有する有機溶剤であることが好ましい。これらの溶剤は、化合物(A)および化合物(B)の溶解性や、基材102に対する濡れ性などに優れる。   The solvent (C) is not particularly limited as long as it dissolves the compound (A) and the compound (B), but is preferably a solvent having a boiling point at normal pressure of 80 to 200 ° C. The solvent (C) is preferably an organic solvent having at least one of a hydroxyl group, an ether structure, an ester structure, and a ketone structure. These solvents are excellent in the solubility of the compound (A) and the compound (B), the wettability to the substrate 102, and the like.

本実施形態に係る溶剤(C)として用いることが可能な溶剤の具体例としては、プロピルアルコール、イソプロピルアルコール、ブチルアルコールなどのアルコール系溶剤;エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテルなどのエーテル系溶剤;ブチルアセテート、エチレングリコールモノエチルエーテルアセテート、エチレングリコールモノブチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートなどのエステル系溶剤;メチルイソブチルケトン、ジイソブチルケトン、シクロヘキサノン、2−ヘプタノン、γ−ブチロラクトン、乳酸エチルなどのケトン系溶剤から選ばれる単独、あるいはこれらの混合溶剤が挙げられる。この中でもプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、またはその混合溶液が、塗布性の観点で特に好ましい。   Specific examples of solvents that can be used as the solvent (C) according to the present embodiment include alcohol solvents such as propyl alcohol, isopropyl alcohol, and butyl alcohol; ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol dimethyl ether, and ethylene glycol monoethyl ether. , Ether solvents such as ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol monobutyl ether, propylene glycol monomethyl ether; ester solvents such as butyl acetate, ethylene glycol monoethyl ether acetate, ethylene glycol monobutyl ether acetate, propylene glycol monomethyl ether acetate; methyl isobutyl Ketone, diisobutyl ketone, cyclohexanone, 2-heptanone, γ Butyrolactone, alone is selected from a ketone solvent, such as ethyl lactate, or mixtures of these solvents. Among them, propylene glycol monomethyl ether acetate or a mixed solution thereof is particularly preferable from the viewpoint of applicability.

本実施形態に係る溶剤(C)の、密着層形成組成物100における配合割合は、化合物(A)および化合物(B)の粘度や塗布性、形成する密着層101の膜厚などによって適宜調整することができる。溶剤(C)の密着層形成組成物100における配合割合は、密着層形成組成物100の全重量に対して70質量%以上が好ましく、90質量%以上がより好ましく、95質量%以上がさらに好ましい。溶剤(C)の密着層形成組成物100における配合割合が大きいほど、形成する密着層101の膜厚を薄くできるため、インプリント用密着層形成組成物として好ましい。溶剤(C)の密着層形成組成物100における配合割合が70質量%未満である場合には、十分な塗布性が得られない場合がある。なお、溶剤(C)の配合割合の上限は特に限定はされないが、99.9質量%以下であることが好ましく、99質量%以下であることがより好ましい。   The mixing ratio of the solvent (C) according to the present embodiment in the adhesion layer forming composition 100 is appropriately adjusted depending on the viscosity and the applicability of the compound (A) and the compound (B), the thickness of the adhesion layer 101 to be formed, and the like. be able to. The mixing ratio of the solvent (C) in the adhesion layer forming composition 100 is preferably 70% by mass or more, more preferably 90% by mass or more, and still more preferably 95% by mass or more based on the total weight of the adhesion layer forming composition 100. . The larger the mixing ratio of the solvent (C) in the composition 100 for forming an adhesion layer, the smaller the thickness of the adhesion layer 101 to be formed. When the blending ratio of the solvent (C) in the adhesion layer forming composition 100 is less than 70% by mass, sufficient coating properties may not be obtained. The upper limit of the mixing ratio of the solvent (C) is not particularly limited, but is preferably 99.9% by mass or less, and more preferably 99% by mass or less.

<その他の成分(D)>
本実施形態に係る密着層形成組成物100は、前述した化合物(A)、化合物(B)および溶剤(C)の他に、種々の目的に応じて、本発明の効果を損なわない範囲で、更なる添加成分(D)を含有していてもよい。このような添加成分としては、界面活性剤、架橋剤、ポリマー成分、酸化防止剤、重合禁止剤等が挙げられる。密着層形成組成物100は基材102上に配置した後、加熱により溶剤(C)を揮発させつつ硬化させることで、形成される密着層101の膜厚を薄くすることができる。そのため本実施形態に係る密着層形成組成物100は、光照射によって密着層形成組成物100を硬化させる目的などで添加する、光重合開始剤を含まないことが好ましい。密着層形成組成物100が光重合開始剤を含むと、密着層101の形成の過程で光重合が生じ、溶剤(C)が完全に揮発する前に密着層形成組成物100が硬化してしまい、密着層101の膜厚が厚くなる可能性がある。
<Other components (D)>
The adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment may be, in addition to the compound (A), the compound (B), and the solvent (C) described above, according to various purposes, within a range that does not impair the effects of the present invention. Further additional components (D) may be contained. Examples of such additional components include a surfactant, a crosslinking agent, a polymer component, an antioxidant, and a polymerization inhibitor. After the adhesion layer forming composition 100 is disposed on the substrate 102, the composition is cured while the solvent (C) is volatilized by heating, whereby the thickness of the adhesion layer 101 to be formed can be reduced. Therefore, the adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment preferably does not include a photopolymerization initiator added for the purpose of curing the adhesive layer forming composition 100 by light irradiation. When the adhesive layer forming composition 100 contains a photopolymerization initiator, photopolymerization occurs in the process of forming the adhesive layer 101, and the adhesive layer forming composition 100 is cured before the solvent (C) is completely volatilized. In addition, there is a possibility that the thickness of the adhesion layer 101 is increased.

<密着層形成組成物の粘度>
本実施形態に係る密着層形成組成物100の23℃における粘度は、化合物(A)、化合物(B)および溶剤(C)などの各成分の種類や配合割合によって異なるが、0.5mPa・s以上20mPa・s以下であることが好ましい。より好ましくは1mPa・s以上10mPa・s以下であり、さらに好ましくは1mPa・s以上5mPa・s以下である。
<Viscosity of adhesive layer forming composition>
The viscosity at 23 ° C. of the adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment varies depending on the type and the mixing ratio of each component such as the compound (A), the compound (B) and the solvent (C), but is 0.5 mPa · s. It is preferably at least 20 mPa · s. It is more preferably 1 mPa · s or more and 10 mPa · s or less, and still more preferably 1 mPa · s or more and 5 mPa · s or less.

密着層形成組成物100の粘度を20mPa・s以下とすることにより、密着層形成組成物100の基材102に対する塗布性が優れ、基材102上における密着層形成組成物100の膜厚の調整などを容易に行うことができる。   By setting the viscosity of the adhesive layer forming composition 100 to 20 mPa · s or less, the coatability of the adhesive layer forming composition 100 to the substrate 102 is excellent, and the thickness of the adhesive layer forming composition 100 on the substrate 102 is adjusted. Can be easily performed.

<密着層形成組成物に混入している不純物>
本実施形態に係る密着層形成組成物100は、できる限り不純物を含まないことが好ましい。ここで記載する不純物とは、前述した化合物(A)、化合物(B)、溶剤(C)およびその他の成分(D)以外のものを意味する。
<Impurities mixed into the adhesion layer forming composition>
It is preferable that the adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment does not contain impurities as much as possible. The impurities described here mean those other than the above-mentioned compound (A), compound (B), solvent (C) and other components (D).

密着層形成組成物100をナノインプリントプロセスに用いる場合には、特に、パーティクルおよび固形成分を含まないことが好ましい。ここで、パーティクルとは、典型的には数nm〜数μmの粒径(直径)を有するゲル状ないし固形状の粒状物質を指す。したがって密着層形成組成物100は、粒径が0.2μmより大きい粒子の含有量が、密着層形成組成物100の全体を100質量%としたときに0質量%以上3質量%未満であることが好ましい。   When the adhesive layer forming composition 100 is used in a nanoimprint process, it is particularly preferable that the composition does not contain particles and solid components. Here, the particles typically refer to gel-like or solid granular substances having a particle diameter (diameter) of several nm to several μm. Therefore, the content of the particles having a particle size larger than 0.2 μm is 0% by mass or more and less than 3% by mass when the whole of the composition 100 is 100% by mass. Is preferred.

したがって、本実施形態に係る密着層形成組成物100は、精製工程を経て得られたものであることが好ましい。このような精製工程としては、フィルタを用いた濾過等が好ましい。   Therefore, the adhesive layer forming composition 100 according to the present embodiment is preferably obtained through a purification step. As such a purification step, filtration using a filter or the like is preferable.

フィルタを用いた濾過を行う際には、具体的には、前述した化合物(A)、化合物(B)、溶剤(C)および必要に応じて添加するその他の成分(D)を混合した後、例えば、孔径0.001μm以上5.0μm以下のフィルタで濾過することが好ましい。また、孔径0.001μm以上0.2μm以下のフィルタで濾過することがより好ましい。フィルタを用いた濾過を行う際には、多段階で行ったり、多数回繰り返したりすることがさらに好ましい。また、濾過した液を再度濾過してもよい。孔径の異なるフィルタを複数用いて濾過してもよい。濾過に使用するフィルタとしては、ポリエチレン樹脂製、ポリプロピレン樹脂製、フッ素樹脂製、ナイロン樹脂製等のフィルタを使用することができるが、特に限定されるものではない。   When performing filtration using a filter, specifically, after mixing the aforementioned compound (A), compound (B), solvent (C) and other components (D) to be added as necessary, For example, it is preferable to filter with a filter having a pore size of 0.001 μm or more and 5.0 μm or less. Further, it is more preferable to perform filtration with a filter having a pore size of 0.001 μm or more and 0.2 μm or less. When performing filtration using a filter, it is more preferable to perform the filtration in multiple steps or to repeat the filtration many times. Further, the filtered liquid may be filtered again. The filtration may be performed using a plurality of filters having different pore sizes. As a filter used for filtration, a filter made of polyethylene resin, polypropylene resin, fluorine resin, nylon resin, or the like can be used, but is not particularly limited.

このような精製工程を経ることで、密着層形成組成物100に混入したパーティクル等の不純物を取り除くことができる。これにより、パーティクル等の不純物によって、密着層形成組成物100を塗布した後に得られる密着層101に不用意に欠陥が発生することを防止することができる。   Through such a purification step, impurities such as particles mixed into the adhesive layer forming composition 100 can be removed. Accordingly, it is possible to prevent the adhesion layer 101 obtained after applying the adhesion layer forming composition 100 from being inadvertently generating a defect due to impurities such as particles.

なお、密着層形成組成物100を半導体集積回路などの、半導体素子で利用される回路基板を製造するために使用する場合、密着層形成組成物100中に金属原子を含有する不純物(金属不純物)が混入することを極力避けることが好ましい。これは、金属などの不純物によって回路基板の動作を阻害しないようにするためである。このような場合、密着層形成組成物100に含まれる金属不純物の濃度としては、10ppm以下にすることが好ましく、100ppb以下にすることがさらに好ましい。   When the adhesive layer forming composition 100 is used for manufacturing a circuit board used for a semiconductor device such as a semiconductor integrated circuit, an impurity containing a metal atom in the adhesive layer forming composition 100 (metal impurity) It is preferable to avoid mixing as much as possible. This is to prevent the operation of the circuit board from being hindered by impurities such as metal. In such a case, the concentration of metal impurities contained in the adhesion layer forming composition 100 is preferably set to 10 ppm or less, more preferably 100 ppb or less.

したがって、密着層形成組成物100は、その製造工程において、金属に接触させずに調製されることが好ましい。すなわち、化合物(A)、化合物(B)、溶剤(C)および必要に応じて添加するその他の成分(D)の各原料を秤量する際や、配合して撹拌する際には、金属製の秤量器具、容器などを使用しないことが好ましい。また、前述した精製工程において、さらに金属不純物除去フィルタを用いて濾過することが好ましい。金属不純物除去フィルタとしては、セルロース及び珪藻土製、イオン交換樹脂製等のフィルタを使用することができるが、特に限定されるものではない。これらの金属不純物除去フィルタは洗浄してから用いることが好ましい。洗浄方法としては、超純水による洗浄、アルコールによる洗浄、密着層形成組成物100による共洗いの順で実施することが好ましい。   Therefore, it is preferable that the adhesive layer forming composition 100 is prepared without contacting the metal in the manufacturing process. That is, when weighing each raw material of the compound (A), the compound (B), the solvent (C), and other components (D) to be added as necessary, or when mixing and stirring, the metal It is preferable not to use a weighing instrument, a container or the like. Further, in the above-mentioned purification step, it is preferable to further perform filtration using a metal impurity removal filter. As the metal impurity removing filter, a filter made of cellulose and diatomaceous earth, an ion exchange resin, or the like can be used, but is not particularly limited. It is preferable that these metal impurity removal filters are used after being cleaned. As the cleaning method, it is preferable to perform cleaning with ultrapure water, cleaning with alcohol, and co-cleaning with the adhesion layer forming composition 100 in this order.

<光硬化性組成物>
本実施形態に係る密着層形成組成物100から形成した密着層101と一緒に用いられる光硬化性組成物103は、通常、重合性化合物である成分(E)と、光重合開始剤である成分(F)と、を含有する。
<Photocurable composition>
The photocurable composition 103 used together with the adhesion layer 101 formed from the adhesion layer forming composition 100 according to the present embodiment is generally composed of a component (E) which is a polymerizable compound and a component which is a photopolymerization initiator. (F).

[成分(E):重合性化合物]
成分(E)は、重合性化合物である。ここで、本明細書において重合性化合物とは、光重合開始剤(成分(F))から発生した重合因子(ラジカル等)と反応し、連鎖反応(重合反応)によって高分子化合物(重合体)からなる膜を形成する化合物である。
[Component (E): polymerizable compound]
Component (E) is a polymerizable compound. Here, in the present specification, the polymerizable compound reacts with a polymerization factor (radical or the like) generated from a photopolymerization initiator (component (F)), and undergoes a chain reaction (polymerization reaction) to produce a polymer compound (polymer). Is a compound that forms a film consisting of

成分(E)は、一種類の重合性化合物で構成されていても良く、複数種類の重合性化合物で構成されていても良い。   Component (E) may be composed of one type of polymerizable compound, or may be composed of a plurality of types of polymerizable compounds.

このような重合性化合物としては、例えば、ラジカル重合性化合物が挙げられる。ラジカル重合性化合物としては、アクリロイル基又はメタクリロイル基を1つ以上有する化合物、すなわち、(メタ)アクリル化合物であることが好ましい。   Examples of such a polymerizable compound include a radical polymerizable compound. The radical polymerizable compound is preferably a compound having at least one acryloyl group or methacryloyl group, that is, a (meth) acryl compound.

したがって、成分(E)である重合性化合物は、(メタ)アクリル化合物を含むことが好ましい。また、成分(E)の主成分が(メタ)アクリル化合物であることがより好ましく、(メタ)アクリル化合物であることが最も好ましい。なお、ここで記載する成分(E)の主成分が(メタ)アクリル化合物であるとは、成分(E)の90重量%以上が(メタ)アクリル化合物であることを示す。   Therefore, the polymerizable compound as the component (E) preferably contains a (meth) acrylic compound. Further, the main component of the component (E) is more preferably a (meth) acrylic compound, and most preferably a (meth) acrylic compound. The fact that the main component of the component (E) described herein is a (meth) acrylic compound means that 90% by weight or more of the component (E) is a (meth) acrylic compound.

ラジカル重合性化合物が、アクリロイル基又はメタクリロイル基を1つ以上有する複数種類の化合物で構成される場合には、単官能(メタ)アクリレートモノマーと多官能(メタ)アクリレートモノマーを含むことが好ましい。これは、単官能(メタ)アクリレートモノマーと多官能(メタ)アクリレートモノマーを組み合わせることで、強度が強い硬化膜が得られるからである。   When the radical polymerizable compound is composed of a plurality of types of compounds having one or more acryloyl groups or methacryloyl groups, it is preferable to include a monofunctional (meth) acrylate monomer and a polyfunctional (meth) acrylate monomer. This is because a cured film having high strength can be obtained by combining a monofunctional (meth) acrylate monomer and a polyfunctional (meth) acrylate monomer.

アクリロイル基又はメタクリロイル基を1つ有する単官能(メタ)アクリル化合物としては、例えば、フェノキシエチル(メタ)アクリレート、フェノキシ−2−メチルエチル(メタ)アクリレート、フェノキシエトキシエチル(メタ)アクリレート、3−フェノキシ−2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−フェニルフェノキシエチル(メタ)アクリレート、4−フェニルフェノキシエチル(メタ)アクリレート、3−(2−フェニルフェニル)−2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、EO変性p−クミルフェノールの(メタ)アクリレート、2−ブロモフェノキシエチル(メタ)アクリレート、2,4−ジブロモフェノキシエチル(メタ)アクリレート、2,4,6−トリブロモフェノキシエチル(メタ)アクリレート、EO変性フェノキシ(メタ)アクリレート、PO変性フェノキシ(メタ)アクリレート、ポリオキシエチレンノニルフェニルエーテル(メタ)アクリレート、イソボルニル(メタ)アクリレート、1−アダマンチル(メタ)アクリレート、2−メチル−2−アダマンチル(メタ)アクリレート、2−エチル−2−アダマンチル(メタ)アクリレート、ボルニル(メタ)アクリレート、トリシクロデカニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンタニル(メタ)アクリレート、ジシクロペンテニル(メタ)アクリレート、シクロヘキシル(メタ)アクリレート、4−ブチルシクロヘキシル(メタ)アクリレート、アクリロイルモルホリン、2−ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシプロピル(メタ)アクリレート、2−ヒドロキシブチル(メタ)アクリレート、メチル(メタ)アクリレート、エチル(メタ)アクリレート、プロピル(メタ)アクリレート、イソプロピル(メタ)アクリレート、ブチル(メタ)アクリレート、アミル(メタ)アクリレート、イソブチル(メタ)アクリレート、t−ブチル(メタ)アクリレート、ペンチル(メタ)アクリレート、イソアミル(メタ)アクリレート、へキシル(メタ)アクリレート、ヘプチル(メタ)アクリレート、オクチル(メタ)アクリレート、イソオクチル(メタ)アクリレート、2−エチルヘキシル(メタ)アクリレート、ノニル(メタ)アクリレート、デシル(メタ)アクリレート、イソデシル(メタ)アクリレート、ウンデシル(メタ)アクリレート、ドデシル(メタ)アクリレート、ラウリル(メタ)アクリレート、ステアリル(メタ)アクリレート、イソステアリル(メタ)アクリレート、ベンジル(メタ)アクリレート、1−ナフチルメチル(メタ)アクリレート、2−ナフチルメチル(メタ)アクリレート、テトラヒドロフルフリル(メタ)アクリレート、ブトキシエチル(メタ)アクリレート、エトキシジエチレングリコール(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールモノ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールモノ(メタ)アクリレート、メトキシエチレングリコール(メタ)アクリレート、エトキシエチル(メタ)アクリレート、メトキシポリエチレングリコール(メタ)アクリレート、メトキシポリプロピレングリコール(メタ)アクリレート、ジアセトン(メタ)アクリルアミド、イソブトキシメチル(メタ)アクリルアミド、N,N−ジメチル(メタ)アクリルアミド、t−オクチル(メタ)アクリルアミド、ジメチルアミノエチル(メタ)アクリレート、ジエチルアミノエチル(メタ)アクリレート、7−アミノ−3,7−ジメチルオクチル(メタ)アクリレート、N,N−ジエチル(メタ)アクリルアミド、N,N−ジメチルアミノプロピル(メタ)アクリルアミド等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Examples of the monofunctional (meth) acryl compound having one acryloyl group or methacryloyl group include, for example, phenoxyethyl (meth) acrylate, phenoxy-2-methylethyl (meth) acrylate, phenoxyethoxyethyl (meth) acrylate, and 3-phenoxy -2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2-phenylphenoxyethyl (meth) acrylate, 4-phenylphenoxyethyl (meth) acrylate, 3- (2-phenylphenyl) -2-hydroxypropyl (meth) acrylate, EO-modified p-cumylphenol (meth) acrylate, 2-bromophenoxyethyl (meth) acrylate, 2,4-dibromophenoxyethyl (meth) acrylate, 2,4,6-tribromophenoxyethyl (meth) acryl EO-modified phenoxy (meth) acrylate, PO-modified phenoxy (meth) acrylate, polyoxyethylene nonyl phenyl ether (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, 1-adamantyl (meth) acrylate, 2-methyl-2- Adamantyl (meth) acrylate, 2-ethyl-2-adamantyl (meth) acrylate, bornyl (meth) acrylate, tricyclodecanyl (meth) acrylate, dicyclopentanyl (meth) acrylate, dicyclopentenyl (meth) acrylate, Cyclohexyl (meth) acrylate, 4-butylcyclohexyl (meth) acrylate, acryloylmorpholine, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, 2 Hydroxybutyl (meth) acrylate, methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, isopropyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, amyl (meth) acrylate, isobutyl (meth) acrylate, t -Butyl (meth) acrylate, pentyl (meth) acrylate, isoamyl (meth) acrylate, hexyl (meth) acrylate, heptyl (meth) acrylate, octyl (meth) acrylate, isooctyl (meth) acrylate, 2-ethylhexyl (meth) Acrylate, nonyl (meth) acrylate, decyl (meth) acrylate, isodecyl (meth) acrylate, undecyl (meth) acrylate, dodecyl (meth) acrylate, lauryl (meth) TA) acrylate, stearyl (meth) acrylate, isostearyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, 1-naphthylmethyl (meth) acrylate, 2-naphthylmethyl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate, butoxy Ethyl (meth) acrylate, ethoxydiethylene glycol (meth) acrylate, polyethylene glycol mono (meth) acrylate, polypropylene glycol mono (meth) acrylate, methoxyethylene glycol (meth) acrylate, ethoxyethyl (meth) acrylate, methoxypolyethylene glycol (meth) Acrylate, methoxy polypropylene glycol (meth) acrylate, diacetone (meth) acrylamide, isobutoxymethyl (Meth) acrylamide, N, N-dimethyl (meth) acrylamide, t-octyl (meth) acrylamide, dimethylaminoethyl (meth) acrylate, diethylaminoethyl (meth) acrylate, 7-amino-3,7-dimethyloctyl (meth) Examples include, but are not limited to, acrylate, N, N-diethyl (meth) acrylamide, N, N-dimethylaminopropyl (meth) acrylamide, and the like.

上記単官能(メタ)アクリル化合物の市販品としては、アロニックスM101、M102、M110、M111、M113、M117、M5700、TO−1317、M120、M150、M156(以上、東亞合成製)、MEDOL10、MIBDOL10、CHDOL10、MMDOL30、MEDOL30、MIBDOL30、CHDOL30、LA、IBXA、2−MTA、HPA、ビスコート#150、#155、#158、#190、#192、#193、#220、#2000、#2100、#2150(以上、大阪有機化学工業製)、ライトアクリレートBO−A、EC−A、DMP−A、THF−A、HOP−A、HOA−MPE、HOA−MPL、PO−A、P−200A、NP−4EA、NP−8EA、エポキシエステルM−600A(以上、共栄社化学製)、KAYARAD TC110S、R−564、R−128H(以上、日本化薬製)、NKエステルAMP−10G、AMP−20G(以上、新中村化学工業製)、FA−511A、512A、513A(以上、日立化成製)、PHE、CEA、PHE−2、PHE−4、BR−31、BR−31M、BR−32(以上、第一工業製薬製)、VP(BASF製)、ACMO、DMAA、DMAPAA(以上、興人製)等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Commercially available monofunctional (meth) acrylic compounds include Aronix M101, M102, M110, M111, M113, M117, M5700, TO-1317, M120, M150, M156 (all manufactured by Toagosei), MEDOL10, MIBDOL10, CHDOL10, MMDOL30, MEDOL30, MIBDOL30, CHDOL30, LA, IBXA, 2-MTA, HPA, viscote # 150, # 155, # 158, # 190, # 192, # 193, # 220, # 2000, # 2100, # 2150 (Above, manufactured by Osaka Organic Chemical Industry), Light Acrylate BO-A, EC-A, DMP-A, THF-A, HOP-A, HOA-MPE, HOA-MPL, PO-A, P-200A, NP- 4EA, NP-8EA, Epoxy S M-600A (Kyoeisha Chemical), KAYARAD TC110S, R-564, R-128H (Nippon Kayaku), NK ester AMP-10G, AMP-20G (Shin Nakamura Chemical), FA-511A, 512A, 513A (manufactured by Hitachi Chemical), PHE, CEA, PHE-2, PHE-4, BR-31, BR-31M, BR-32 (manufactured by Daiichi Kogyo Seiyaku), VP ( BASF), ACMO, DMAA, DMAPAA (all manufactured by Kojin) and the like, but are not limited thereto.

アクリロイル基又はメタクリロイル基を2つ以上有する多官能(メタ)アクリル化合物としては、例えば、トリメチロールプロパンジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、PO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、EO,PO変性トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ジメチロールトリシクロデカンジアクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、テトラエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールジ(メタ)アクリレート、ポリプロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、1,4−ブタンジオールジ(メタ)アクリレート、1,6−へキサンジオールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、1,3−アダマンタンジメタノールジアクリレート、o−キシリレンジ(メタ)アクリレート、m−キシリレンジ(メタ)アクリレート、p−キシリレンジ(メタ)アクリレート、1,9−ノナンジオールジアクリレート、1,10−デカンジオールジアクリレート、トリス(2−ヒドロキシエチル)イソシアヌレートトリ(メタ)アクリレート、トリス(アクリロイルオキシ)イソシアヌレート、ビス(ヒドロキシメチル)トリシクロデカンジ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、EO変性2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシ)フェニル)プロパン、PO変性2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシ)フェニル)プロパン、EO,PO変性2,2−ビス(4−((メタ)アクリロキシ)フェニル)プロパン等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Examples of the polyfunctional (meth) acrylic compound having two or more acryloyl groups or methacryloyl groups include trimethylolpropane di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, and EO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate , PO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, EO, PO-modified trimethylolpropane tri (meth) acrylate, dimethylol tricyclodecane diacrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, ethylene Glycol di (meth) acrylate, tetraethylene glycol di (meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, polypropylene glycol di ( T) acrylate, 1,4-butanediol di (meth) acrylate, 1,6-hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, 1,3-adamantane dimethanol diacrylate, o- Xylylene di (meth) acrylate, m-xylylene di (meth) acrylate, p-xylylene di (meth) acrylate, 1,9-nonanediol diacrylate, 1,10-decanediol diacrylate, tris (2-hydroxyethyl) isocyanurate tri (Meth) acrylate, tris (acryloyloxy) isocyanurate, bis (hydroxymethyl) tricyclodecanedi (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meta) Acrylate, EO-modified 2,2-bis (4-((meth) acryloxy) phenyl) propane, PO-modified 2,2-bis (4-((meth) acryloxy) phenyl) propane, EO, PO-modified 2,2- Examples include, but are not limited to, bis (4-((meth) acryloxy) phenyl) propane.

上記多官能(メタ)アクリル化合物の市販品としては、ユピマーUV SA1002、SA2007(以上、三菱化学製)、ビスコート#195、#230、#215、#260、#335HP、#295、#300、#360、#700、GPT、3PA(以上、大阪有機化学工業製)、ライトアクリレート4EG−A、9EG−A、NP−A、DCP−A、BP−4EA、BP−4PA、TMP−A、PE−3A、PE−4A、DPE−6A(以上、共栄社化学製)、A−DCP、A−HD−N、A−NOD−N、A−DOD−N(以上、新中村化学工業製)、KAYARAD PET−30、TMPTA、R−604、DPHA、DPCA−20、−30、−60、−120、HX−620、D−310、D−330(以上、日本化薬製)、アロニックスM208、M210、M215、M220、M240、M305、M309、M310、M315、M325、M400(以上、東亞合成製)、リポキシVR−77、VR−60、VR−90(以上、昭和電工製)等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Commercially available polyfunctional (meth) acrylic compounds include Iupimer UV SA1002, SA2007 (all manufactured by Mitsubishi Chemical), Biscoat # 195, # 230, # 215, # 260, # 335HP, # 295, # 300, # 360, # 700, GPT, 3PA (all manufactured by Osaka Organic Chemical Industry), light acrylate 4EG-A, 9EG-A, NP-A, DCP-A, BP-4EA, BP-4PA, TMP-A, PE- 3A, PE-4A, DPE-6A (all made by Kyoeisha Chemical), A-DCP, A-HD-N, A-NOD-N, A-DOD-N (all made by Shin-Nakamura Chemical), KAYARAD PET -30, TMPTA, R-604, DPHA, DPCA-20, -30, -60, -120, HX-620, D-310, D-330 (all manufactured by Nippon Kayaku) ), Aronix M208, M210, M215, M220, M240, M305, M309, M310, M315, M325, M400 (all manufactured by Toagosei), Lipoxy VR-77, VR-60, VR-90 (all manufactured by Showa Denko) ), But are not limited to these.

なお、上述した化合物群において、(メタ)アクリレートとは、アクリレートまたはそれと同等のアルコール残基を有するメタクリレートを意味する。(メタ)アクリロイル基とは、アクリロイル基またはそれと同等のアルコール残基を有するメタクリロイル基を意味する。EOは、エチレンオキサイドを示し、EO変性化合物Aとは、化合物Aの(メタ)アクリル酸残基とアルコール残基がエチレンオキサイド基のブロック構造を介して結合している化合物を示す。また、POは、プロピレンオキサイドを示し、PO変性化合物Bとは、化合物Bの(メタ)アクリル酸残基とアルコール残基がプロピレンオキサイド基のブロック構造を介して結合している化合物を示す。   In the above-mentioned compound group, (meth) acrylate means acrylate or methacrylate having an alcohol residue equivalent thereto. The (meth) acryloyl group means an acryloyl group or a methacryloyl group having an alcohol residue equivalent thereto. EO indicates ethylene oxide, and EO-modified compound A indicates a compound in which a (meth) acrylic acid residue and an alcohol residue of compound A are bonded via a block structure of an ethylene oxide group. PO indicates propylene oxide, and PO-modified compound B indicates a compound in which a (meth) acrylic acid residue and an alcohol residue of compound B are bonded via a propylene oxide group block structure.

[成分(F):光重合開始剤]
成分(F)は、光重合開始剤である。ここで、本明細書において光重合開始剤は、所定の波長の光を感知して重合因子(ラジカル)を発生させる化合物である。具体的には、光重合開始剤は、光(赤外線、可視光線、紫外線、遠紫外線、X線、電子線等の荷電粒子線、放射線等)によりラジカルを発生する重合開始剤(ラジカル発生剤)である。より具体的には、例えば、150nm以上400nm以下の波長の光によりラジカルを発生する重合開始剤である。
[Component (F): Photopolymerization initiator]
Component (F) is a photopolymerization initiator. Here, in the present specification, the photopolymerization initiator is a compound that senses light having a predetermined wavelength to generate a polymerization factor (radical). Specifically, the photopolymerization initiator is a polymerization initiator (radical generator) that generates radicals by light (infrared rays, visible rays, ultraviolet rays, far ultraviolet rays, charged particle beams such as X-rays, electron beams, and radiation). It is. More specifically, for example, a polymerization initiator that generates a radical by light having a wavelength of 150 nm or more and 400 nm or less.

成分(F)は、一種類の光重合開始剤で構成されていても良く、複数種類の光重合開始剤で構成されていても良い。   Component (F) may be composed of one type of photopolymerization initiator or may be composed of a plurality of types of photopolymerization initiators.

ラジカル発生剤としては、例えば、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−クロロフェニル)−4,5−ジ(メトキシフェニル)イミダゾール二量体、2−(o−フルオロフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体、2−(o−又はp−メトキシフェニル)−4,5−ジフェニルイミダゾール二量体等の置換基を有してもよい2,4,5−トリアリールイミダゾール二量体;ベンゾフェノン、N,N’−テトラメチル−4,4’−ジアミノベンゾフェノン(ミヒラーケトン)、N,N’−テトラエチル−4,4’−ジアミノベンゾフェノン、4−メトキシ−4’−ジメチルアミノベンゾフェノン、4−クロロベンゾフェノン、4,4’−ジメトキシベンゾフェノン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン等のベンゾフェノン誘導体;2−ベンジル−2−ジメチルアミノ−1−(4−モルフォリノフェニル)−ブタノン−1、2−メチル−1−〔4−(メチルチオ)フェニル〕−2−モルフォリノ−プロパン−1−オン等のα―アミノ芳香族ケトン誘導体;2−エチルアントラキノン、フェナントレンキノン、2−t−ブチルアントラキノン、オクタメチルアントラキノン、1,2−ベンズアントラキノン、2,3−ベンズアントラキノン、2−フェニルアントラキノン、2,3−ジフェニルアントラキノン、1−クロロアントラキノン、2−メチルアントラキノン、1,4−ナフトキノン、9,10−フェナンタラキノン、2−メチル−1,4−ナフトキノン、2,3−ジメチルアントラキノン等のキノン類;ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインフェニルエーテル等のベンゾインエーテル誘導体;ベンゾイン、メチルベンゾイン、エチルベンゾイン、プロピルベンゾイン等のベンゾイン誘導体;ベンジルジメチルケタール等のベンジル誘導体;9−フェニルアクリジン、1,7−ビス(9,9’−アクリジニル)ヘプタン等のアクリジン誘導体;N−フェニルグリシン等のN−フェニルグリシン誘導体;アセトフェノン、3−メチルアセトフェノン、アセトフェノンベンジルケタール、1−ヒドロキシシクロヘキシルフェニルケトン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン等のアセトフェノン誘導体;チオキサントン、ジエチルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン、2−クロロチオキサントン等のチオキサントン誘導体;2,4,6−トリメチルベンゾイルジフェニルフォスフィンオキサイド、ビス(2,4,6−トリメチルベンゾイル)フェニルフォスフィンオキサイド、ビス−(2,6−ジメトキシベンゾイル)−2,4,4−トリメチルペンチルフォスフィンオキサイド等のアシルフォスフィンオキサイド誘導体;1,2−オクタンジオン,1−[4−(フェニルチオ)−,2−(O−ベンゾイルオキシム)]、エタノン,1−[9−エチル−6−(2−メチルベンゾイル)−9H−カルバゾール−3−イル]−,1−(O−アセチルオキシム)等のオキシムエステル誘導体;キサントン、フルオレノン、ベンズアルデヒド、フルオレン、アントラキノン、トリフェニルアミン、カルバゾール、1−(4−イソプロピルフェニル)−2−ヒドロキシ−2−メチルプロパン−1−オン、2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Examples of the radical generator include 2- (o-chlorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o-chlorophenyl) -4,5-di (methoxyphenyl) imidazole dimer, (O-fluorophenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, 2- (o- or p-methoxyphenyl) -4,5-diphenylimidazole dimer, which may have a substituent, 4,5-triarylimidazole dimer; benzophenone, N, N'-tetramethyl-4,4'-diaminobenzophenone (Michler's ketone), N, N'-tetraethyl-4,4'-diaminobenzophenone, 4-methoxy -4'-dimethylaminobenzophenone, 4-chlorobenzophenone, 4,4'-dimethoxybenzophenone, 4,4'-diamino Benzophenone derivatives such as benzophenone; 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1,2-methyl-1- [4- (methylthio) phenyl] -2-morpholino-propane- Α-amino aromatic ketone derivatives such as 1-one; 2-ethylanthraquinone, phenanthrenequinone, 2-t-butylanthraquinone, octamethylanthraquinone, 1,2-benzanthraquinone, 2,3-benzanthraquinone, 2-phenylanthraquinone , 2,3-diphenylanthraquinone, 1-chloroanthraquinone, 2-methylanthraquinone, 1,4-naphthoquinone, 9,10-phenantaraquinone, 2-methyl-1,4-naphthoquinone, 2,3-dimethylanthraquinone, etc. Quinones; benzoin methyl e Benzoin ether derivatives such as ether, benzoin ethyl ether and benzoin phenyl ether; benzoin derivatives such as benzoin, methyl benzoin, ethyl benzoin and propyl benzoin; benzyl derivatives such as benzyl dimethyl ketal; 9-phenyl acridine, 1,7-bis (9 Acridine derivatives such as, 9'-acridinyl) heptane; N-phenylglycine derivatives such as N-phenylglycine; acetophenone, 3-methylacetophenone, acetophenone benzyl ketal, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2,2-dimethoxy-2- Acetophenone derivatives such as phenylacetophenone; thioxane such as thioxanthone, diethylthioxanthone, 2-isopropylthioxanthone and 2-chlorothioxanthone 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide, bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) phenylphosphine oxide, bis- (2,6-dimethoxybenzoyl) -2,4,4-trimethyl Acylphosphine oxide derivatives such as pentylphosphine oxide; 1,2-octanedione, 1- [4- (phenylthio)-, 2- (O-benzoyloxime)], ethanone, 1- [9-ethyl-6- Oxime ester derivatives such as (2-methylbenzoyl) -9H-carbazol-3-yl]-, 1- (O-acetyloxime); xanthone, fluorenone, benzaldehyde, fluorene, anthraquinone, triphenylamine, carbazole, 1- ( 4-isopropylphenyl) -2-hydr Carboxymethyl-2-methylpropan-1-one, 2-hydroxy-2-methyl-1 but one, and the like, but are not limited to.

上記ラジカル発生剤の市販品として、Irgacure184、369、651、500、819、907、784、2959、CGI−1700、−1750、−1850、CG24−61、Darocur 1116、1173、Lucirin TPO、LR8893、LR8970(以上、BASF製)、ユベクリルP36(UCB製)等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Commercial products of the above radical generators include Irgacure 184, 369, 651, 500, 819, 907, 784, 2959, CGI-1700, -1750, -1850, CG24-61, Darocur 1116, 1173, Lucirin TPO, LR8893, and LR8970. (Above, manufactured by BASF), Ubecryl P36 (manufactured by UCB) and the like, but are not limited thereto.

成分(F)の光硬化性組成物103における配合割合は、成分(E)の全量に対して、0.01重量%以上10重量%以下であることが好ましく、0.1重量%以上7重量%以下であることがより好ましい。   The compounding ratio of the component (F) in the photocurable composition 103 is preferably from 0.01% by weight to 10% by weight, and more preferably from 0.1% by weight to 7% by weight, based on the total amount of the component (E). % Is more preferable.

成分(F)の光硬化性組成物103における配合割合を成分(E)の全量に対して0.01重量%以上とすることにより、光硬化性組成物103の硬化速度が速くなり、反応効率を高めることができる。また、成分(F)の配合割合を成分(E)の全量に対して10.0重量%以下とすることにより、得られる硬化膜(109、110)の機械的強度の劣化を防げる場合が多いからである。   By setting the mixing ratio of the component (F) in the photocurable composition 103 to 0.01% by weight or more based on the total amount of the component (E), the curing speed of the photocurable composition 103 is increased, and the reaction efficiency is increased. Can be increased. By setting the blending ratio of the component (F) to 10.0% by weight or less based on the total amount of the component (E), deterioration of the mechanical strength of the obtained cured film (109, 110) can be prevented in many cases. Because.

[その他の添加成分(G)]
光硬化性組成物103は、前述した、成分(E)、成分(F)の他に、種々の目的に応じて、本発明の効果を損なわない範囲で、更なる添加成分(G)を含有していてもよい。このような添加成分(G)としては、増感剤、水素供与体、内添型離型剤、界面活性剤、酸化防止剤、揮発性溶剤、ポリマー成分、前記成分(F)でない重合開始剤、等が挙げられる。
[Other additive components (G)]
The photocurable composition 103 contains, in addition to the components (E) and (F) described above, other additional components (G) according to various purposes within a range that does not impair the effects of the present invention. It may be. Examples of such an additive component (G) include a sensitizer, a hydrogen donor, an internal release agent, a surfactant, an antioxidant, a volatile solvent, a polymer component, and a polymerization initiator other than the component (F). And the like.

増感剤は、重合反応促進や反応転化率の向上を目的として、適宜添加される化合物である。増感剤として、例えば、増感色素等が挙げられる。   The sensitizer is a compound appropriately added for the purpose of accelerating the polymerization reaction and improving the reaction conversion. Examples of the sensitizer include a sensitizing dye.

増感色素は、特定の波長の光を吸収することにより励起され、成分(F)と相互作用する化合物である。なお、ここで記載する相互作用とは、励起状態の増感色素から成分(F)へのエネルギー移動や電子移動等である。   The sensitizing dye is a compound that is excited by absorbing light of a specific wavelength and interacts with the component (F). The interaction described here refers to energy transfer, electron transfer, or the like from the sensitizing dye in the excited state to the component (F).

増感色素の具体例としては、アントラセン誘導体、アントラキノン誘導体、ピレン誘導体、ペリレン誘導体、カルバゾール誘導体、ベンゾフェノン誘導体、チオキサントン誘導体、キサントン誘導体、クマリン誘導体、フェノチアジン誘導体、カンファキノン誘導体、アクリジン系色素、チオピリリウム塩系色素、メロシアニン系色素、キノリン系色素、スチリルキノリン系色素、ケトクマリン系色素、チオキサンテン系色素、キサンテン系色素、オキソノール系色素、シアニン系色素、ローダミン系色素、ピリリウム塩系色素等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Specific examples of the sensitizing dye include anthracene derivatives, anthraquinone derivatives, pyrene derivatives, perylene derivatives, carbazole derivatives, benzophenone derivatives, thioxanthone derivatives, xanthone derivatives, coumarin derivatives, phenothiazine derivatives, camphorquinone derivatives, acridine dyes, and thiopyrylium salt-based dyes. Dyes, merocyanine dyes, quinoline dyes, styrylquinoline dyes, ketocoumarin dyes, thioxanthene dyes, xanthene dyes, oxonol dyes, cyanine dyes, rhodamine dyes, pyrylium salt dyes, and the like, It is not limited to these.

増感剤は、一種類を単独で用いてもよいし、二種類以上を混合して用いてもよい。   One type of sensitizer may be used alone, or two or more types may be mixed and used.

水素供与体は、成分(F)から発生した開始ラジカルや、重合生長末端のラジカルと反応し、より反応性が高いラジカルを発生する化合物である。成分(F)が光ラジカル発生剤である場合に添加することが好ましい。   The hydrogen donor is a compound that reacts with a starting radical generated from the component (F) or a radical at the terminal of polymerization growth to generate a radical having higher reactivity. It is preferable to add when component (F) is a photoradical generator.

このような水素供与体の具体例としては、n−ブチルアミン、ジ−n−ブチルアミン、トリ−n−ブチルホスフィン、アリルチオ尿素、s−ベンジルイソチウロニウム−p−トルエンスルフィネート、トリエチルアミン、ジエチルアミノエチルメタクリレート、トリエチレンテトラミン、4,4’−ビス(ジアルキルアミノ)ベンゾフェノン、N,N−ジメチルアミノ安息香酸エチルエステル、N,N−ジメチルアミノ安息香酸イソアミルエステル、ペンチル−4−ジメチルアミノベンゾエート、トリエタノールアミン、N−フェニルグリシンなどのアミン化合物、2−メルカプト−N−フェニルベンゾイミダゾール、メルカプトプロピオン酸エステル等のメルカプト化合物、等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Specific examples of such a hydrogen donor include n-butylamine, di-n-butylamine, tri-n-butylphosphine, allylthiourea, s-benzylisothiuronium-p-toluenesulfinate, triethylamine, diethylaminoethyl Methacrylate, triethylenetetramine, 4,4'-bis (dialkylamino) benzophenone, N, N-dimethylaminobenzoic acid ethyl ester, N, N-dimethylaminobenzoic acid isoamyl ester, pentyl-4-dimethylaminobenzoate, triethanol Examples thereof include, but are not limited to, amines, amine compounds such as N-phenylglycine, and mercapto compounds such as 2-mercapto-N-phenylbenzimidazole and mercaptopropionate.

水素供与体は、一種類を単独で用いてもよいし二種類以上を混合して用いてもよい。   As the hydrogen donor, one kind may be used alone, or two or more kinds may be used in combination.

水素供与体は、増感剤としての機能を有してもよい。   The hydrogen donor may have a function as a sensitizer.

光硬化性組成物103が、その他の添加成分(G)として増感剤や水素供与体を含む場合、これらの含有量はそれぞれ、成分(E)の全量に対して、好ましくは0.1重量%以上20重量%以下である。また、より好ましくは0.1重量%以上5.0重量%以下であり、さらに好ましくは0.2重量%以上2.0重量%以下である。成分(E)の全量に対して、増感剤が0.1重量%以上含まれていれば、重合促進効果をより効果的に発現することができる。また、増感剤もしくは水素供与体の含量を5.0重量%以下とすることにより、作製される硬化膜を構成する高分子化合物の分子量を十分に高くすることができる。さらに、これらの成分の光硬化性組成物103に対する溶解不良や光硬化性組成物103の保存安定性の低下を抑制することができる。   When the photocurable composition 103 contains a sensitizer or a hydrogen donor as the other additive component (G), the content of each of them is preferably 0.1% by weight based on the total amount of the component (E). % To 20% by weight. Further, the content is more preferably 0.1% by weight or more and 5.0% by weight or less, and still more preferably 0.2% by weight or more and 2.0% by weight or less. If the sensitizer is contained in an amount of 0.1% by weight or more with respect to the total amount of the component (E), the polymerization promoting effect can be more effectively exhibited. Further, by setting the content of the sensitizer or the hydrogen donor to 5.0% by weight or less, the molecular weight of the polymer compound constituting the cured film to be produced can be sufficiently increased. Furthermore, poor dissolution of these components in the photocurable composition 103 and a decrease in storage stability of the photocurable composition 103 can be suppressed.

光硬化性組成物103を硬化させて得られる硬化膜109とモールド104との間の界面結合力の低減、すなわち後述する離型工程における離型力の低減を目的として、光硬化性組成物103に内添型離型剤を添加することができる。本明細書において、内添型とは、光硬化性組成物103の配置工程の前に予め光硬化性組成物103に添加されていることを意味する。内添型離型剤は、一種類を単独で用いてもよいし、二種類以上を混合して用いてもよい。   In order to reduce the interfacial bonding force between the cured film 109 obtained by curing the photocurable composition 103 and the mold 104, that is, to reduce the releasing force in a releasing step described later, the photocurable composition 103 is used. Can be added with an internal release agent. In this specification, the internal addition type means that the photocurable composition 103 is added to the photocurable composition 103 before the step of disposing the photocurable composition 103. One type of the internal release agent may be used alone, or two or more types may be used as a mixture.

内添型離型剤としては、シリコーン系界面活性剤、フッ素系界面活性剤及び炭化水素系界面活性剤等の界面活性剤等を使用できる。本実施形態において、内添型離型剤は、重合性を有さない。   As the internal release agent, a surfactant such as a silicone-based surfactant, a fluorine-based surfactant, and a hydrocarbon-based surfactant can be used. In the present embodiment, the internal release agent has no polymerizability.

フッ素系界面活性剤としては、パーフルオロアルキル基を有するアルコールのポリアルキレンオキサイド(ポリエチレンオキサイド、ポリプロピレンオキサイド等)付加物、パーフルオロポリエーテルのポリアルキレンオキサイド(ポリエチレンオキサイド、ポリプロピレンオキサイド等)付加物等が含まれる。なお、フッ素系界面活性剤は、分子構造の一部(例えば、末端基)に、ヒドロキシル基、アルコキシ基、アルキル基、アミノ基、チオール基等を有してもよい。   Examples of the fluorinated surfactant include a polyalkylene oxide (polyethylene oxide, polypropylene oxide, etc.) adduct of an alcohol having a perfluoroalkyl group and a polyalkylene oxide (polyethylene oxide, polypropylene oxide, etc.) adduct of a perfluoropolyether. included. Note that the fluorine-based surfactant may have a hydroxyl group, an alkoxy group, an alkyl group, an amino group, a thiol group, or the like in a part (for example, a terminal group) of a molecular structure.

フッ素系界面活性剤としては、市販品を使用してもよい。市販品としては、例えば、メガファックF−444、TF−2066、TF−2067、TF−2068(以上、DIC製)、フロラード FC−430、FC−431(以上、住友スリーエム製)、サーフロン S−382(AGC製)、EFTOP EF−122A、122B、122C、EF−121、EF−126、EF−127、MF−100(以上、トーケムプロダクツ製)、PF−636、PF−6320、PF−656、PF−6520(以上、OMNOVA Solutions製)、ユニダインDS−401、DS−403、DS−451(以上、ダイキン工業製)、フタージェント 250、251、222F,208G(以上、ネオス製)等が挙げられるが、これらに限定はされない。   Commercial products may be used as the fluorine-based surfactant. Commercially available products include, for example, Megafac F-444, TF-2066, TF-2067, TF-2068 (all made by DIC), Florard FC-430, FC-431 (all made by Sumitomo 3M), Surflon S- 382 (manufactured by AGC), EFTOP EF-122A, 122B, 122C, EF-121, EF-126, EF-127, MF-100 (all manufactured by Tochem Products), PF-636, PF-6320, PF-656 , PF-6520 (above, manufactured by OMNOVA Solutions), Unidyne DS-401, DS-403, DS-451 (above, manufactured by Daikin Industries), Futergent 250, 251, 222F, 208G (above, manufactured by Neos) and the like. But not limited to these.

また、内添型離型剤は、炭化水素系界面活性剤でもよい。   Further, the internal release agent may be a hydrocarbon-based surfactant.

炭化水素系界面活性剤としては、炭素数1〜50のアルキルアルコールに炭素数2〜4のアルキレンオキサイドを付加した、アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物等が含まれる。   Examples of the hydrocarbon surfactant include an alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct obtained by adding an alkyl alcohol having 2 to 4 carbon atoms to an alkyl alcohol having 1 to 50 carbon atoms.

アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物としては、メチルアルコールエチレンオキサイド付加物、デシルアルコールエチレンオキサイド付加物、ラウリルアルコールエチレンオキサイド付加物、セチルアルコールエチレンオキサイド付加物、ステアリルアルコールエチレンオキサイド付加物、ステアリルアルコールエチレンオキサイド/プロピレンオキサイド付加物等が挙げられる。なお、アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物の末端基は、単純にアルキルアルコールにポリアルキレンオキサイドを付加して製造できるヒドロキシル基に限定はされない。このヒドロキシル基が他の置換基、例えば、カルボキシル基、アミノ基、ピリジル基、チオール基、シラノール基等の極性官能基やアルキル基、アルコキシ基等の疎水性官能基に変換されていてもよい。   Examples of the alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct include methyl alcohol ethylene oxide adduct, decyl alcohol ethylene oxide adduct, lauryl alcohol ethylene oxide adduct, cetyl alcohol ethylene oxide adduct, stearyl alcohol ethylene oxide adduct, stearyl alcohol ethylene oxide / And propylene oxide adducts. The terminal group of the alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct is not limited to a hydroxyl group that can be produced by simply adding a polyalkylene oxide to an alkyl alcohol. This hydroxyl group may be converted into another substituent, for example, a polar functional group such as a carboxyl group, an amino group, a pyridyl group, a thiol group, a silanol group, or a hydrophobic functional group such as an alkyl group or an alkoxy group.

アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物は、市販品を使用してもよい。市販品としては、例えば、青木油脂工業製のポリオキシエチレンメチルエーテル(メチルアルコールエチレンオキサイド付加物)(BLAUNON MP−400、MP−550、MP−1000)、青木油脂工業製のポリオキシエチレンデシルエーテル(デシルアルコールエチレンオキサイド付加物)(FINESURF D−1303、D−1305、D−1307、D−1310)、青木油脂工業製のポリオキシエチレンラウリルエーテル(ラウリルアルコールエチレンオキサイド付加物)(BLAUNON EL−1505)、青木油脂工業製のポリオキシエチレンセチルエーテル(セチルアルコールエチレンオキサイド付加物)(BLAUNON CH−305、CH−310)、青木油脂工業製のポリオキシエチレンステアリルエーテル(ステアリルアルコールエチレンオキサイド付加物)(BLAUNON SR−705、SR−707、SR−715、SR−720、SR−730、SR−750)、青木油脂工業製のランダム重合型ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンステアリルエーテル(BLAUNON SA−50/50 1000R、SA−30/70 2000R)、BASF製のポリオキシエチレンメチルエーテル(Pluriol A760E)、花王製のポリオキシエチレンアルキルエーテル(エマルゲンシリーズ)等が挙げられるが、これらに限定はされない。   As the alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct, a commercially available product may be used. Commercially available products include, for example, polyoxyethylene methyl ether (methyl alcohol ethylene oxide adduct) (BLAUNON MP-400, MP-550, MP-1000) manufactured by Aoki Yushi Kogyo, and polyoxyethylene decyl ether manufactured by Aoki Yushi Kogyo (Decyl alcohol ethylene oxide adduct) (FINESURF D-1303, D-1305, D-1307, D-1310), polyoxyethylene lauryl ether (lauryl alcohol ethylene oxide adduct) manufactured by Aoki Yushi Kogyo Kogyo (BLAUNON EL-1505) ), Polyoxyethylene cetyl ether (cetyl alcohol ethylene oxide adduct) manufactured by Aoki Yushi Kogyo (BLAUNON CH-305, CH-310), polyoxyethylene stearyl ether manufactured by Aoki Yushi Kogyo Ter (stearyl alcohol ethylene oxide adduct) (BLAUNON SR-705, SR-707, SR-715, SR-720, SR-730, SR-750), randomized polyoxyethylene polyoxypropylene manufactured by Aoki Yushi Kogyo Kogyo Examples include stearyl ether (BLAUNON SA-50 / 50 1000R, SA-30 / 70 2000R), polyoxyethylene methyl ether (Plurio A760E) manufactured by BASF, and polyoxyethylene alkyl ether (Emulgen series) manufactured by Kao. It is not limited to these.

これらの炭化水素系界面活性剤の中でも内添型離型剤としては、アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物であることが好ましく、長鎖アルキルアルコールポリアルキレンオキサイド付加物であることがより好ましい。   Among these hydrocarbon surfactants, the internal release agent is preferably an alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct, more preferably a long-chain alkyl alcohol polyalkylene oxide adduct.

光硬化性組成物103がその他の添加成分(G)として内添型離型剤を含む場合、この内添型離型剤の含有量は、成分(E)の全量に対して、例えば、0.001重量%以上10重量%以下であることが好ましい。より好ましくは0.01重量%以上7重量%以下であり、さらに好ましくは、0.05重量%以上5重量%以下である。少なくとも0.001重量%以上10重量%以下とすることで、離型力低減効果及び充填性に優れる。   When the photocurable composition 103 contains an internal additive release agent as another additive component (G), the content of the internal additive release agent is, for example, 0 with respect to the total amount of the component (E). It is preferably from 0.001% by weight to 10% by weight. It is more preferably 0.01% by weight or more and 7% by weight or less, and further preferably 0.05% by weight or more and 5% by weight or less. When the content is at least 0.001% by weight or more and 10% by weight or less, the releasing force reducing effect and the filling property are excellent.

また、光硬化性組成物103はその他の添加成分(G)として、揮発性溶剤を含有していてもよいが、揮発性溶剤を実質的に含まない方が好ましい。ここで、実質的に溶剤を含まないとは、不純物等、意図せずに含まれてしまう揮発性溶剤以外の揮発性溶剤を含まないことを言う。すなわち、例えば、揮発性溶剤の光硬化性組成物103における含有量は光硬化性組成物103全体に対して3重量%以下であることが好ましく、1重量%以下であることがさらに好ましい。なお、ここで言う揮発性溶剤とは、光硬化性組成物103やフォトレジストで一般的に用いられている揮発性溶剤を指す。すなわち揮発性溶剤の種類は、光硬化性組成物103を構成する各化合物を溶解し均一分散させるもので、かつ該化合物と反応しないものであれば特に限定はされない。   Further, the photocurable composition 103 may contain a volatile solvent as another additive component (G), but it is preferable that the photocurable composition 103 contains substantially no volatile solvent. Here, substantially not containing a solvent means that a volatile solvent other than a volatile solvent that is unintentionally included such as an impurity is not contained. That is, for example, the content of the volatile solvent in the photocurable composition 103 is preferably 3% by weight or less, more preferably 1% by weight or less based on the entire photocurable composition 103. Here, the volatile solvent refers to a volatile solvent generally used in the photocurable composition 103 and the photoresist. That is, the type of the volatile solvent is not particularly limited as long as it dissolves and uniformly disperses each compound constituting the photocurable composition 103 and does not react with the compound.

[光硬化性組成物の配合時の温度]
本実施形態に係る光硬化性組成物103を調製する際には、少なくとも成分(E)と、成分(F)とを、所定の温度条件下で混合し、溶解させる。具体的には、0℃以上100℃以下の範囲で行う。その他の添加成分(G)を含有する場合も同様である。
[Temperature at the time of mixing the photocurable composition]
When preparing the photocurable composition 103 according to this embodiment, at least the component (E) and the component (F) are mixed and dissolved under a predetermined temperature condition. Specifically, the heat treatment is performed in a range of 0 ° C. or more and 100 ° C. or less. The same applies to the case where other additive components (G) are contained.

[光硬化性組成物の粘度]
本実施形態に係る光硬化性組成物103のうち、揮発性溶剤を除く各成分の混合物の23℃での粘度は、1mPa・s以上100mPa・s以下であることが好ましい。また、より好ましくは1mPa・s以上50mPa・s以下であり、さらに好ましくは1mPa・s以上20mPa・s以下である。
[Viscosity of photocurable composition]
In the photocurable composition 103 according to this embodiment, the viscosity at 23 ° C. of the mixture of each component excluding the volatile solvent is preferably from 1 mPa · s to 100 mPa · s. Further, it is more preferably 1 mPa · s or more and 50 mPa · s or less, and still more preferably 1 mPa · s or more and 20 mPa · s or less.

光硬化性組成物103の粘度を100mPa・s以下とすることにより、光硬化性組成物103をモールド104に接触する際に、モールド上の微細パターンのうち凹部に光硬化性組成物103が充填するのにかかる時間が長時間とならずに済む。また、充填不良によるパターン欠陥が生じにくい。   By setting the viscosity of the photocurable composition 103 to 100 mPa · s or less, when the photocurable composition 103 comes into contact with the mold 104, the photocurable composition 103 fills the concave portions of the fine pattern on the mold. The time it takes to do so does not have to be long. In addition, pattern defects due to poor filling hardly occur.

また、粘度を1mPa・s以上とすることにより、光硬化性組成物103を基材102上に塗布する際に塗りムラが生じにくくなり、光硬化性組成物103をモールド104に接触する際に、モールド104の端部から光硬化性組成物103が流出しにくくなる。   Further, by setting the viscosity to 1 mPa · s or more, coating unevenness is less likely to occur when the photocurable composition 103 is applied on the substrate 102, and when the photocurable composition 103 is brought into contact with the mold 104. This makes it difficult for the photocurable composition 103 to flow out of the end of the mold 104.

[光硬化性組成物の表面張力]
本実施形態に係る光硬化性組成物103の表面張力は、溶剤を除く各成分の混合物の23℃での表面張力が、5mN/m以上70mN/m以下であることが好ましい。また、より好ましくは7mN/m以上35mN/m以下であり、さらに好ましくは10mN/m以上32mN/m以下である。ここで、表面張力を5mN/m以上とすることにより、光硬化性組成物103をモールド104に接触させる際にモールド104上の微細パターンのうち凹部に光硬化性組成物103が充填するのにかかる時間が長時間とならずにすむ。
[Surface tension of photocurable composition]
As for the surface tension of the photocurable composition 103 according to the present embodiment, the surface tension at 23 ° C. of the mixture of each component excluding the solvent is preferably 5 mN / m or more and 70 mN / m or less. Further, it is more preferably 7 mN / m or more and 35 mN / m or less, and still more preferably 10 mN / m or more and 32 mN / m or less. Here, by setting the surface tension to 5 mN / m or more, when the photocurable composition 103 is brought into contact with the mold 104, the concave portion of the fine pattern on the mold 104 is filled with the photocurable composition 103. The time does not need to be long.

また、表面張力を70mN/m以下とすることにより、光硬化性組成物103を光硬化して得られる硬化膜(109、110)が表面平滑性を有する硬化膜となる。   Further, by setting the surface tension to 70 mN / m or less, the cured films (109, 110) obtained by photocuring the photocurable composition 103 become cured films having surface smoothness.

[光硬化性組成物に混入している不純物]
本実施形態に係る光硬化性組成物103は、密着層形成組成物100と同様に、できる限り不純物を含まないことが好ましい。
[Impurities mixed into the photocurable composition]
It is preferable that the photocurable composition 103 according to the present embodiment does not contain impurities as much as possible, similarly to the adhesive layer forming composition 100.

したがって光硬化性組成物103は、密着層形成組成物100と同様に、精製工程を経て得られたものであることが好ましい。このような精製工程としては、フィルタを用いた濾過等が好ましい。   Therefore, the photocurable composition 103 is preferably obtained through a purification step, similarly to the adhesive layer forming composition 100. As such a purification step, filtration using a filter or the like is preferable.

フィルタを用いた濾過を行う際には、具体的には、前述した成分(E)、成分(F)および必要に応じて添加するその他の添加成分(G)を混合した後、例えば、孔径0.001μm以上5.0μm以下のフィルタで濾過することが好ましい。フィルタを用いた濾過を行う際には、多段階で行ったり、多数回繰り返したりすることがさらに好ましい。また、濾過した液を再度濾過してもよい。孔径の異なるフィルタを複数用いて濾過してもよい。濾過に使用するフィルタとしては、ポリエチレン樹脂製、ポリプロピレン樹脂製、フッ素樹脂製、ナイロン樹脂製等のフィルタを使用することができるが、特に限定されるものではない。   When performing filtration using a filter, specifically, after mixing the above-mentioned component (E), component (F) and other additional components (G) to be added as needed, for example, It is preferable to filter with a filter of 0.001 μm or more and 5.0 μm or less. When performing filtration using a filter, it is more preferable to perform the filtration in multiple steps or to repeat the filtration many times. Further, the filtered liquid may be filtered again. The filtration may be performed using a plurality of filters having different pore sizes. As a filter used for filtration, a filter made of polyethylene resin, polypropylene resin, fluorine resin, nylon resin, or the like can be used, but is not particularly limited.

このような精製工程を経ることで、光硬化性組成物103に混入したパーティクル等の不純物を取り除くことができる。これにより、パーティクル等の不純物によって光硬化性組成物103を光硬化した後に得られる硬化膜109に不用意に凹凸が生じて、パターンの欠陥が発生することを防止することができる。   Through such a purification step, impurities such as particles mixed into the photocurable composition 103 can be removed. Accordingly, it is possible to prevent the cured film 109 obtained after photocuring the photocurable composition 103 by impurities such as particles from inadvertently causing irregularities, thereby preventing pattern defects.

なお、光硬化性組成物103を半導体集積回路などの、半導体素子で利用される回路基板を製造するために使用する場合、光硬化性組成物103中に金属原子を含有する不純物(金属不純物)が混入することを極力避けることが好ましい。これは、密着層形成組成物100に混入している不純物と同様、金属などの不純物によって回路基板の動作を阻害しないようにするためである。このような場合、光硬化性組成物103に含まれる金属不純物の濃度としては、10ppm以下にすることが好ましく、100ppb以下にすることがさらに好ましい。   When the photocurable composition 103 is used for manufacturing a circuit board used for a semiconductor device such as a semiconductor integrated circuit, an impurity containing a metal atom in the photocurable composition 103 (metal impurity) It is preferable to avoid mixing as much as possible. This is to prevent the operation of the circuit board from being hindered by impurities such as metals, as in the case of the impurities mixed in the adhesion layer forming composition 100. In such a case, the concentration of the metal impurities contained in the photocurable composition 103 is preferably set to 10 ppm or less, more preferably 100 ppb or less.

したがって、光硬化性組成物103は、その製造工程において、金属に接触させずに調製されることが好ましい。すなわち、成分(E)、成分(F)、および添加成分(G)の各原料を秤量する際や、配合して撹拌する際には、金属製の秤量器具、容器などを使用しないことが好ましい。また、前述した精製工程において、さらに金属不純物除去フィルタを用いて濾過することが好ましい。金属不純物除去フィルタとしては、セルロース及び珪藻土製、イオン交換樹脂製等のフィルタを使用することができるが、特に限定されるものではない。これらの金属不純物除去フィルタは洗浄してから用いることが好ましい。洗浄方法としては、超純水による洗浄、アルコールによる洗浄、光硬化性組成物103による共洗いの順で実施することが好ましい。   Therefore, it is preferable that the photocurable composition 103 is prepared without being brought into contact with metal in the production process. That is, when weighing each raw material of the component (E), the component (F), and the additive component (G), or when mixing and stirring, it is preferable not to use a metal weighing instrument, a container, or the like. . Further, in the above-mentioned purification step, it is preferable to further perform filtration using a metal impurity removal filter. As the metal impurity removing filter, a filter made of cellulose and diatomaceous earth, an ion exchange resin, or the like can be used, but is not particularly limited. It is preferable that these metal impurity removal filters are used after being cleaned. As the cleaning method, it is preferable to perform the cleaning with ultrapure water, the cleaning with alcohol, and the co-washing with the photocurable composition 103 in this order.

<硬化物パターンの製造方法>
次に、本実施形態に係る硬化物パターン(パターン形状を有する硬化膜)の製造方法について説明する。図1は、本実施形態に係る硬化物パターンの製造方法の例を模式的に示す断面図である。
<Method of manufacturing cured product pattern>
Next, a method for manufacturing a cured product pattern (a cured film having a pattern shape) according to the present embodiment will be described. FIG. 1 is a cross-sectional view schematically illustrating an example of a method for manufacturing a cured product pattern according to the present embodiment.

本実施形態に係る硬化物パターンの製造方法は、
[1]基材上に、前述の本実施形態に係る密着層形成組成物を用いて密着層を形成する第1の工程(密着層形成工程)と、
[2]基材上に、前述の光硬化性組成物を配置する第2の工程(配置工程)と、
[3]基材上に配置した光硬化性組成物とモールドとを接触させる第3の工程(型接触工程)と、
[5]光硬化性組成物とモールドとを接触させた状態で、光硬化性組成物に光を照射する第4の工程(光照射工程)と、
[6]第4の工程によって得られた硬化物とモールドとを引き離す第5の工程(離型工程)と、
を有する。
The method for producing a cured product pattern according to the present embodiment includes:
[1] a first step (adhesion layer forming step) of forming an adhesion layer on a substrate using the above-described adhesion layer forming composition according to the present embodiment;
[2] a second step (arranging step) of arranging the photocurable composition on a substrate,
[3] a third step of bringing the photocurable composition disposed on the substrate into contact with the mold (a mold contact step);
[5] a fourth step (light irradiation step) of irradiating the photocurable composition with light in a state where the photocurable composition and the mold are in contact with each other;
[6] a fifth step of releasing the cured product obtained in the fourth step and the mold (release step);
Having.

また、本実施形態に係る硬化物パターンの製造方法は、第3の工程と第4の工程との間に、
[4]基材とモールドとの位置を合わせる工程(位置合わせ工程)
を有していてもよい。
In addition, the method for manufacturing a cured product pattern according to the present embodiment includes the following steps between the third step and the fourth step.
[4] Step of aligning the position of the substrate and the mold (alignment step)
May be provided.

本実施形態に係る硬化物パターンの製造方法は、光ナノインプリント法を利用した硬化物パターンの製造方法である。   The method for manufacturing a cured product pattern according to the present embodiment is a method for manufacturing a cured product pattern using a photo nanoimprint method.

本実施形態に係る硬化物パターンの製造方法によって得られる硬化物パターンは、1nm以上10mm以下のサイズのパターンを有する膜であることが好ましい。また、10nm以上100μm以下のサイズのパターンを有する膜であることがより好ましい。なお、一般に、光を利用してナノサイズ(1nm以上100nm以下)のパターン(凹凸構造)を有する膜を作製するパターン形成技術は、光ナノインプリント法と呼ばれている。   The cured product pattern obtained by the method for producing a cured product pattern according to the present embodiment is preferably a film having a pattern having a size of 1 nm or more and 10 mm or less. It is more preferable that the film has a pattern having a size of 10 nm or more and 100 μm or less. In general, a pattern forming technique for forming a film having a nano-sized (1 nm or more and 100 nm or less) pattern (irregular structure) using light is called an optical nanoimprint method.

以下、各工程について説明する。   Hereinafter, each step will be described.

[[1]密着層形成工程]
本工程(密着層形成工程)では、図1(a)に示す通り、前述した本実施形態に係る密着層形成組成物100を用いて、高分子化合物(重合体)を主成分とする密着層101を基材102上に形成する。
[[1] Adhesive layer forming step]
In this step (adhesion layer forming step), as shown in FIG. 1A, an adhesion layer containing a polymer compound (polymer) as a main component using the above-described adhesion layer forming composition 100 according to the present embodiment. 101 is formed on a substrate 102.

光硬化性組成物103を配置する対象である基材102は、基板または支持体であり、種々の目的によって任意の基材を選択することができる。例えば、シリコンウエハ、アルミニウム、チタン−タングステン合金、アルミニウム−ケイ素合金、アルミニウム−銅−ケイ素合金、酸化ケイ素、窒化ケイ素等の半導体デバイス用基板や、石英、ガラス、光学フィルム、セラミック材料、蒸着膜、磁性膜、反射膜、Ni、Cu、Cr、Feなどの金属基材、紙、ポリエステルフイルム、ポリカーボネートフィルム、ポリイミドフィルム等のポリマー基材、TFTアレイ基材、PDPの電極板、プラスチック基材、ITOや金属などの導電性基材、絶縁性基材等を用いることができる。しかしながら、後述する基材加工工程において基材をエッチング等により加工する場合には、シリコンウエハなどの半導体デバイス用基板を用いることが好ましい。基材102は、上述の基板上にスピン・オン・グラス、有機物、金属、酸化物、窒化物など、1種類あるいは複数種類の膜を成膜したものを用いてもよい。   The substrate 102 on which the photocurable composition 103 is to be disposed is a substrate or a support, and any substrate can be selected for various purposes. For example, substrates for semiconductor devices such as silicon wafers, aluminum, titanium-tungsten alloy, aluminum-silicon alloy, aluminum-copper-silicon alloy, silicon oxide, silicon nitride, quartz, glass, optical films, ceramic materials, vapor-deposited films, Magnetic film, reflective film, metal substrate such as Ni, Cu, Cr, Fe, etc., polymer substrate such as paper, polyester film, polycarbonate film, polyimide film, TFT array substrate, PDP electrode plate, plastic substrate, ITO A conductive base such as metal or metal, an insulating base, or the like can be used. However, when the substrate is processed by etching or the like in the substrate processing step described later, it is preferable to use a semiconductor device substrate such as a silicon wafer. As the base material 102, one or more kinds of films such as spin-on-glass, organic substances, metals, oxides, and nitrides formed on the above-described substrate may be used.

本実施形態では特に、表面にシラノール基(SiOH基)などの水酸基(OH基)を有する基材を用いることが好ましい。これらの基材としては、例えばシリコンウエハや石英、ガラスなどが挙げられる。表面に水酸基を有する基材を用いることで、基本工程における加熱処理により、基材102が表面に有する水酸基と化合物(B)のチオール基とが、容易に化学結合を形成すると考えられる。また、化合物(A)がアルコキシアルキル基を有する場合も、水酸基と化学結合を形成すると考えられる。   In the present embodiment, it is particularly preferable to use a substrate having a hydroxyl group (OH group) such as a silanol group (SiOH group) on the surface. Examples of these base materials include a silicon wafer, quartz, and glass. It is considered that by using a substrate having a hydroxyl group on the surface, the hydroxyl group on the surface of the substrate 102 and the thiol group of the compound (B) easily form a chemical bond by heat treatment in the basic step. Also, when the compound (A) has an alkoxyalkyl group, it is considered to form a chemical bond with a hydroxyl group.

密着層形成組成物100を基材102上に塗布する方法としては、例えば、インクジェット法、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法、エクストルージョンコート法、スピンコート法、スリットスキャン法等を用いることができる。これらの方法の中でも、塗布性、特に膜厚均一性の観点から、スピンコート法が特に好ましい。   Examples of a method for applying the adhesive layer forming composition 100 on the base material 102 include an inkjet method, a dip coating method, an air knife coating method, a curtain coating method, a wire bar coating method, a gravure coating method, an extrusion coating method, A spin coating method, a slit scanning method, or the like can be used. Among these methods, the spin coating method is particularly preferable from the viewpoint of applicability, particularly, uniformity of film thickness.

密着層形成組成物100を基材102に塗布した後、密着層形成組成物100に含まれる溶剤(C)を乾燥によって揮発させる。このとき溶剤(C)を揮発させると同時に、基材102と化合物(A)または化合物(B)とを反応させ、化合物(A)と化合物(B)とを反応させるとよい。これにより、基材102と密着層101との間に結合を形成させ、密着層101の中の化合物(A)と化合物(B)との間に結合を形成させる。なお、化合物(A)と化合物(B)との間の結合は、以下のいずれかの反応によって形成されるスルフィド結合になると推測される。すなわち、化合物(A)の有するアルコキシアルキル基と化合物(B)の有するチオール基との間の脱アルコール反応、または、化合物(A)の有するアルキロール基と化合物(B)の有するチオール基との間の脱水反応である。   After applying the adhesive layer forming composition 100 to the base material 102, the solvent (C) contained in the adhesive layer forming composition 100 is volatilized by drying. At this time, at the same time as the solvent (C) is volatilized, the base material 102 may be reacted with the compound (A) or the compound (B), and the compound (A) and the compound (B) may be reacted. Thus, a bond is formed between the base material 102 and the adhesion layer 101, and a bond is formed between the compound (A) and the compound (B) in the adhesion layer 101. The bond between the compound (A) and the compound (B) is assumed to be a sulfide bond formed by any of the following reactions. That is, a dealcoholization reaction between an alkoxyalkyl group of the compound (A) and a thiol group of the compound (B), or a reaction between an alkylol group of the compound (A) and a thiol group of the compound (B) During the dehydration reaction.

これらの反応の際には、加熱することが好ましい。反応の際の温度は、化合物(A)または化合物(B)と基材102との反応性、化合物(A)と化合物(B)との反応性、化合物(A)や化合物(B)、溶剤(C)の沸点等により適宜選択することができる。好ましくは70℃以上250℃以下であり、より好ましくは100℃以上220℃以下であり、さらに好ましくは140℃以上220℃以下である。また、溶剤(C)の乾燥、基材102と化合物(A)または化合物(B)との反応、化合物(A)と化合物(B)との架橋反応は、同一の温度で行ってもよいし、別々の温度で行ってもよい。すなわち、これらの反応は同時に行ってもよいし、逐次的に行なってもよい。   In these reactions, it is preferable to heat. The temperature at the time of the reaction depends on the reactivity between the compound (A) or the compound (B) and the substrate 102, the reactivity between the compound (A) and the compound (B), the compound (A), the compound (B), and the solvent. It can be appropriately selected depending on the boiling point of (C) and the like. Preferably it is 70 to 250 degreeC, More preferably, it is 100 to 220 degreeC, More preferably, it is 140 to 220 degreeC. The drying of the solvent (C), the reaction between the base material 102 and the compound (A) or the compound (B), and the crosslinking reaction between the compound (A) and the compound (B) may be performed at the same temperature. And at different temperatures. That is, these reactions may be performed simultaneously or sequentially.

本実施形態に係る密着層形成組成物100を基材102上に配置して形成した密着層101の膜厚は、使用する用途によっても異なるが、例えば、0.1nm以上100nm以下である。より好ましくは0.5nm以上60nm以下であり、さらに好ましくは1nm以上10nm以下である。   The thickness of the adhesion layer 101 formed by disposing the adhesion layer forming composition 100 according to the present embodiment on the substrate 102 varies depending on the intended use, but is, for example, 0.1 nm or more and 100 nm or less. The thickness is more preferably 0.5 nm or more and 60 nm or less, and still more preferably 1 nm or more and 10 nm or less.

なお、本実施形態に係る密着層形成組成物100を基材102上に適用して密着層101を形成する際には、形成した密着層101の上にさらに密着層形成組成物100を用いて密着層を形成する、多重塗布により形成してもよい。また、形成した密着層101の表面はできる限り平坦であることが好ましい。表面の粗さが1nm以下であることが好ましい。   When the adhesion layer forming composition 100 according to the present embodiment is applied on the base material 102 to form the adhesion layer 101, the adhesion layer forming composition 100 is further used on the formed adhesion layer 101. The adhesive layer may be formed by multiple coatings. Further, the surface of the formed adhesion layer 101 is preferably as flat as possible. The surface roughness is preferably 1 nm or less.

以上の工程により、基材102と、基材102上に積層された重合体層(密着層101)とを有する積層体を形成することができる。上述のとおり、重合体層は化合物(A)の有するアルコキシアルキル基またはアルキロール基と化合物(B)の有するチオール基との間の反応によって生成するスルフィド結合を分子中に含む。   Through the above steps, a laminate including the base material 102 and the polymer layer (the adhesion layer 101) stacked on the base material 102 can be formed. As described above, the polymer layer contains, in the molecule, a sulfide bond generated by a reaction between the alkoxyalkyl group or alkylol group of the compound (A) and the thiol group of the compound (B).

[[2]配置工程]
本工程(配置工程)では、図1(b)に示す通り、前述した光硬化性組成物103を基材102上に形成した密着層101上に配置(塗布)して塗布膜を形成する。
[[2] Arrangement step]
In this step (arrangement step), as shown in FIG. 1B, the above-described photocurable composition 103 is arranged (coated) on the adhesion layer 101 formed on the base material 102 to form a coating film.

本実施形態において、光硬化性組成物103を基材102上に配置する方法としては、例えば、インクジェット法、ディップコート法、エアーナイフコート法、カーテンコート法、ワイヤーバーコート法、グラビアコート法、エクストルージョンコート法、スピンコート法、スリットスキャン法等を用いることができる。これらの方法の中でも、光ナノインプリント法においては、インクジェット法が特に好ましい。なお、塗布膜(被形状転写層)の膜厚は、使用する用途によっても異なるが、例えば、0.01μm以上100.0μm以下である。   In the present embodiment, examples of the method of disposing the photocurable composition 103 on the substrate 102 include an inkjet method, a dip coating method, an air knife coating method, a curtain coating method, a wire bar coating method, a gravure coating method, Extrusion coating, spin coating, slit scanning, and the like can be used. Among these methods, the inkjet method is particularly preferable in the photo nanoimprint method. The thickness of the coating film (shape transfer layer) varies depending on the intended use, but is, for example, 0.01 μm or more and 100.0 μm or less.

[[3]型接触工程]
次に、図1(c)に示すように、前工程(配置工程)で形成された光硬化性組成物103からなる塗布膜にパターン形状を転写するための原型パターンを有するモールド104を接触させる(図1(c−1))。これにより、モールド104が表面に有する微細パターンの凹部に光硬化性組成物103からなる塗布膜(の一部)が充填されて、モールドの微細パターンに充填された塗布膜105となる(図1(c−2))。
[[3] Mold contact step]
Next, as shown in FIG. 1C, a mold 104 having a prototype pattern for transferring a pattern shape is brought into contact with the coating film made of the photocurable composition 103 formed in the previous step (arrangement step). (FIG. 1 (c-1)). As a result, (part of) the coating film made of the photocurable composition 103 fills the concave portions of the fine pattern on the surface of the mold 104, and becomes the coating film 105 filled in the fine pattern of the mold (FIG. 1). (C-2)).

モールド104としては、次の工程(光照射工程)を考慮して光透過性の材料で構成されたモールド104を用いるとよい。モールド104を構成する材料の材質としては、具体的には、ガラス、石英、PMMA、ポリカーボネート樹脂等の光透明性樹脂、透明金属蒸着膜、ポリジメチルシロキサン等の柔軟膜、光硬化膜、金属膜等が好ましい。ただし、モールド104の構成する材料の材質として光透明性樹脂を使用する場合は、光硬化性組成物103に含まれる成分に溶解しない樹脂を選択する必要がある。熱膨張係数が小さくパターン歪みが小さいことから、モールド104を構成する材料の材質は、石英であることが特に好ましい。   As the mold 104, a mold 104 made of a light-transmitting material may be used in consideration of the next step (light irradiation step). Specific examples of the material of the material constituting the mold 104 include light transparent resin such as glass, quartz, PMMA, and polycarbonate resin, transparent metal vapor-deposited film, flexible film such as polydimethylsiloxane, light cured film, and metal film. Are preferred. However, when a light-transparent resin is used as the material of the material constituting the mold 104, it is necessary to select a resin that does not dissolve in the components contained in the photocurable composition 103. Since the coefficient of thermal expansion is small and the pattern distortion is small, the material of the material forming the mold 104 is particularly preferably quartz.

モールド104が表面に有する微細パターンは、4nm以上200nm以下のパターン高さおよび1以上10以下のアスペクト比を有することが好ましい。   The fine pattern of the surface of the mold 104 preferably has a pattern height of 4 nm or more and 200 nm or less and an aspect ratio of 1 or more and 10 or less.

モールド104には、光硬化性組成物103とモールド104の表面との剥離性を向上させるために、光硬化性組成物103とモールド104との型接触工程である本工程の前に表面処理を行っておいてもよい。表面処理の方法としては、モールド104の表面に離型剤を塗布して離型剤層を形成する方法が挙げられる。   In order to improve the releasability between the photocurable composition 103 and the surface of the mold 104, the mold 104 is subjected to a surface treatment before this step, which is a mold contacting step between the photocurable composition 103 and the mold 104. You may go. As a method of the surface treatment, a method of applying a release agent to the surface of the mold 104 to form a release agent layer is exemplified.

ここで、モールド104の表面に塗布する離型剤としては、シリコーン系離型剤、フッ素系離型剤、炭化水素系離型剤、ポリエチレン系離型剤、ポリプロピレン系離型剤、パラフィン系離型剤、モンタン系離型剤、カルナバ系離型剤等が挙げられる。例えば、ダイキン工業(株)製のオプツールDSX等の市販の塗布型離型剤も好適に用いることができる。なお離型剤は、一種類を単独で用いてもよいし、二種類以上を併用して用いてもよい。これらの中でも、フッ素系および炭化水素系の離型剤が特に好ましい。   Here, the release agent applied to the surface of the mold 104 includes a silicone release agent, a fluorine release agent, a hydrocarbon release agent, a polyethylene release agent, a polypropylene release agent, and a paraffin release agent. Mold release agents, montan release agents, carnauba release agents, and the like. For example, a commercially available coating release agent such as Optool DSX manufactured by Daikin Industries, Ltd. can also be suitably used. One type of release agent may be used alone, or two or more types may be used in combination. Among these, fluorine-based and hydrocarbon-based release agents are particularly preferred.

本工程(型接触工程)において、図1(c−1)に示すように、モールド104と光硬化性組成物103とを接触させる際に光硬化性組成物103に加える圧力(モールド圧力)は特に限定されない。通常、0MPa以上100MPa以下である。その中でも0MPa以上50MPa以下であることが好ましく、0MPa以上30MPa以下であることがより好ましく、0MPa以上20MPa以下であることがさらに好ましい。   In this step (mold contact step), as shown in FIG. 1 (c-1), when the mold 104 and the photocurable composition 103 are brought into contact with each other, the pressure (mold pressure) applied to the photocurable composition 103 is: There is no particular limitation. Usually, it is 0 MPa or more and 100 MPa or less. Among them, the pressure is preferably from 0 MPa to 50 MPa, more preferably from 0 MPa to 30 MPa, even more preferably from 0 MPa to 20 MPa.

また、本工程においてモールド104を光硬化性組成物103に接触させる時間は、特に限定はされない。通常、0.1秒以上600秒以下であり、0.1秒以上300秒以下であることが好ましく、0.1秒以上180秒以下であることがより好ましく、0.1秒以上120秒以下であることが特に好ましい。   In this step, the time during which the mold 104 is brought into contact with the photocurable composition 103 is not particularly limited. Usually, it is 0.1 to 600 seconds, preferably 0.1 to 300 seconds, more preferably 0.1 to 180 seconds, and more preferably 0.1 to 120 seconds. Is particularly preferred.

本工程は、大気雰囲気下、減圧雰囲気下、不活性ガス雰囲気下のいずれの条件下でも行うことができるが、酸素や水分による硬化反応への影響を防ぐことができるため、減圧雰囲気や不活性ガス雰囲気とすることが好ましい。不活性ガス雰囲気下で本工程を行う場合に使用することができる不活性ガスの具体例としては、窒素、二酸化炭素、ヘリウム、アルゴン、各種フロンガス等、あるいはこれらの混合気体が挙げられる。大気雰囲気下を含めて特定のガスの雰囲気下で本工程を行う場合、好ましい圧力は、0.0001気圧以上10気圧以下である。   This step can be performed under any conditions of an air atmosphere, a reduced pressure atmosphere, and an inert gas atmosphere.However, since the influence of oxygen or moisture on the curing reaction can be prevented, the reduced pressure atmosphere or the inert It is preferable to use a gas atmosphere. Specific examples of the inert gas that can be used when performing this step under an inert gas atmosphere include nitrogen, carbon dioxide, helium, argon, various types of chlorofluorocarbon, and the like, or a mixed gas thereof. In the case where this step is performed under a specific gas atmosphere including an air atmosphere, a preferable pressure is 0.0001 to 10 atm.

型接触工程は、凝縮性ガスを含む雰囲気(以下、「凝縮性ガス雰囲気」と称する)下で行ってもよい。本明細書において凝縮性ガスとは、充填時の圧力により発生する毛細管圧力で凝縮して液化するガスのことを指す。凝縮性ガスは、具体的には、モールド104上に形成された微細パターンの凹部、およびモールド104と基材102または密着層101との間隙に塗布膜(の一部)105と一緒に雰囲気中のガスが充填されたときに凝縮して液化する。なお凝縮性ガスは、型接触工程で光硬化性組成物103(被形状転写層)とモールド104とが接触する前(図1(c−1))は雰囲気中に気体として存在する。   The mold contact step may be performed in an atmosphere containing a condensable gas (hereinafter, referred to as “condensable gas atmosphere”). In this specification, a condensable gas refers to a gas that is condensed and liquefied by a capillary pressure generated by a pressure at the time of filling. Specifically, the condensable gas is supplied to the concave portion of the fine pattern formed on the mold 104 and the gap between the mold 104 and the base material 102 or the adhesion layer 101 together with (part of) the coating film 105 in the atmosphere. When the gas is filled, it condenses and liquefies. Note that the condensable gas exists as a gas in the atmosphere before the photocurable composition 103 (shape transfer layer) and the mold 104 come into contact with each other in the mold contacting step (FIG. 1C-1).

凝縮性ガス雰囲気下で型接触工程を行うと、微細パターンの凹部に充填されたガスが液化することで気泡が消滅するため、充填性が優れる。凝縮性ガスは、光硬化性組成物103中に溶解してもよい。   When the mold contacting step is performed in a condensed gas atmosphere, the gas filled in the concave portions of the fine pattern is liquefied, and the bubbles disappear, so that the filling property is excellent. The condensable gas may be dissolved in the photocurable composition 103.

凝縮性ガスの沸点は、型接触工程の雰囲気温度以下であれば制限がないが、−10℃〜23℃が好ましく、さらに好ましくは10℃〜23℃である。この範囲であれば、充填性がさらに優れる。   The boiling point of the condensable gas is not limited as long as it is equal to or lower than the ambient temperature in the mold contact step, but is preferably from -10 ° C to 23 ° C, more preferably from 10 ° C to 23 ° C. In this range, the filling property is further excellent.

凝縮性ガスの型接触工程の雰囲気温度での蒸気圧は、型接触工程で押印するときのモールド圧力以下であれば制限がないが、0.1〜0.4MPaが好ましい。この範囲であれば、充填性がさらに優れる。雰囲気温度での蒸気圧が0.4MPaより大きいと、気泡の消滅の効果を十分に得ることができない傾向がある。一方、雰囲気温度での蒸気圧が0.1MPaよりも小さいと、減圧が必要となり、本実施形態に係る製造方法を用いてパターン形状を有する膜を製造するインプリント装置の装置構成が複雑になる傾向がある。   The vapor pressure of the condensable gas at the ambient temperature in the mold contacting step is not limited as long as it is equal to or lower than the mold pressure at the time of stamping in the mold contacting step, but is preferably 0.1 to 0.4 MPa. In this range, the filling property is further excellent. If the vapor pressure at ambient temperature is higher than 0.4 MPa, the effect of eliminating bubbles may not be sufficiently obtained. On the other hand, when the vapor pressure at the ambient temperature is lower than 0.1 MPa, decompression is required, and the apparatus configuration of an imprint apparatus that manufactures a film having a pattern shape using the manufacturing method according to the present embodiment is complicated. Tend.

なお、型接触工程の雰囲気温度は特に制限はないが、20℃〜25℃が好ましい。   The atmosphere temperature in the mold contact step is not particularly limited, but is preferably 20 ° C to 25 ° C.

凝縮性ガスとして、具体的には、トリクロロフルオロメタン等のクロロフルオロカーボン(CFC)、フルオロカーボン(FC)、ハイドロクロロフルオロカーボン(HCFC)、1,1,1,3,3−ペンタフルオロプロパン(CHFCHCF、HFC−245fa、PFP)等のハイドロフルオロカーボン(HFC)、ペンタフルオロエチルメチルエーテル(CFCFOCH、HFE−245mc)等のハイドロフルオロエーテル(HFE)等のフロン類が挙げられるが、これらに限定はされない。 As the condensable gas, specifically, chlorofluorocarbon (CFC) such as trichlorofluoromethane, fluorocarbon (FC), hydrochlorofluorocarbon (HCFC), 1,1,1,3,3-pentafluoropropane (CHF 2 CH) 2 CF 3 , HFC-245fa, PFP) and other hydrofluorocarbons (HFC), pentafluoroethyl methyl ether (CF 3 CF 2 OCH 3 , HFE-245mc) and other fluorocarbons such as HFE. However, it is not limited to these.

これらのうち、型接触工程の雰囲気温度が20℃〜25℃での充填性が優れるという観点から、1,1,1,3,3−ペンタフルオロプロパン(23℃での蒸気圧0.14MPa、沸点15℃)、トリクロロフルオロメタン(23℃での蒸気圧0.1056MPa、沸点24℃)、およびペンタフルオロエチルメチルエーテルが好ましく、さらに安全性が優れるという観点から、1,1,1,3,3−ペンタフルオロプロパンが特に好ましい。   Of these, 1,1,1,3,3-pentafluoropropane (vapor pressure at 23 ° C. 0.14 MPa, (Boiling point 15 ° C.), trichlorofluoromethane (vapor pressure at 23 ° C. 0.1056 MPa, boiling point 24 ° C.) and pentafluoroethyl methyl ether are preferred, and from the viewpoint of further excellent safety, 1,1,1,3,3 3-Pentafluoropropane is particularly preferred.

凝縮性ガスは、一種類を単独で用いてもよいし、二種類以上を混合して用いてもよい。またこれら凝縮性ガスは、空気、窒素、二酸化炭素、ヘリウム、アルゴン等の非凝縮性ガスと混合した混合ガスを用いてもよい。凝縮性ガスと混合する非凝縮性ガスとしては、充填性の観点から、ヘリウムが好ましい。ヘリウムはモールド104を透過することができる。そのため、型接触工程でモールド104上に形成された微細パターンの凹部に塗布膜(の一部)105と一緒に雰囲気中のガス(凝縮性ガス及びヘリウム)が充填されたとき、凝縮性ガスが液化するとともにヘリウムがモールド104を透過する。そのため、上述の非凝縮性ガスとしてヘリウムを用いると、充填性が優れる。   As the condensable gas, one type may be used alone, or two or more types may be mixed and used. As the condensable gas, a mixed gas mixed with a non-condensable gas such as air, nitrogen, carbon dioxide, helium, and argon may be used. As the non-condensable gas mixed with the condensable gas, helium is preferable from the viewpoint of filling properties. Helium can pass through the mold 104. Therefore, when the gas (condensable gas and helium) in the atmosphere is filled together with (part of) the coating film 105 into the concave portion of the fine pattern formed on the mold 104 in the mold contacting step, the condensable gas becomes As it liquefies, helium permeates the mold 104. Therefore, when helium is used as the above-mentioned non-condensable gas, the filling property is excellent.

[[4]位置合わせ工程]
次に図1(d)に示すように、必要に応じて、モールド側位置決めマーク106と、基材102の位置決めマーク107とが一致するように、モールド104および/または基材102の位置を調整する。
[[4] Positioning process]
Next, as shown in FIG. 1D, if necessary, the position of the mold 104 and / or the base material 102 is adjusted so that the mold-side positioning mark 106 and the positioning mark 107 of the base material 102 coincide with each other. I do.

[[5]光照射工程]
次に、図1(e)に示すように、工程[4](位置合わせ工程)によって位置を合わせた状態で、光硬化性組成物103のモールド104との接触部分に、モールド104を介して光を照射する。より詳細には、モールド104の微細パターンに充填された塗布膜105に、モールド104を介して光を照射する(図1(e−1))。これにより、モールド104の微細パターンに充填された塗布膜105は、照射される光108によって硬化して硬化物109となる(図1(e−2))。
[[5] Light irradiation step]
Next, as shown in FIG. 1 (e), in a state where the alignment is performed by the step [4] (positioning step), the contact portion of the photocurable composition 103 with the mold 104 is interposed via the mold 104. Irradiate light. More specifically, the coating film 105 filled in the fine pattern of the mold 104 is irradiated with light via the mold 104 (FIG. 1 (e-1)). Thereby, the coating film 105 filled in the fine pattern of the mold 104 is cured by the irradiated light 108 to become a cured product 109 (FIG. 1 (e-2)).

ここで、モールド104の微細パターンに充填された塗布膜105を構成する光硬化性組成物103に照射する光は、光硬化性組成物103の感度波長に応じて選択される。具体的には、150nm以上400nm以下の波長の紫外光や、X線、電子線等を適宜選択して使用することが好ましい。   Here, light for irradiating the photocurable composition 103 constituting the coating film 105 filled in the fine pattern of the mold 104 is selected according to the sensitivity wavelength of the photocurable composition 103. Specifically, it is preferable to appropriately select and use ultraviolet light having a wavelength of 150 nm or more and 400 nm or less, X-rays, electron beams, or the like.

これらの中でも、光硬化性組成物103に照射する光(照射光108)は、紫外光が特に好ましい。これは、硬化助剤(光重合開始剤)として市販されているものは、紫外光に感度を有する化合物が多いからである。ここで紫外光を発する光源としては、例えば、高圧水銀灯、超高圧水銀灯、低圧水銀灯、Deep−UVランプ、炭素アーク灯、ケミカルランプ、メタルハライドランプ、キセノンランプ、KrFエキシマレーザ、ArFエキシマレーザ、Fエキシマレーザ等が挙げられるが、超高圧水銀灯が特に好ましい。また使用する光源の数は1つでもよいし又は複数であってもよい。また、光照射を行う際には、モールド104の微細パターンに充填された塗布膜105の全面に行ってもよく、一部領域にのみ行ってもよい。 Among these, the light (irradiation light 108) for irradiating the photocurable composition 103 is particularly preferably ultraviolet light. This is because many of those commercially available as curing assistants (photopolymerization initiators) have sensitivity to ultraviolet light. Examples of the light source that emits ultraviolet light include a high-pressure mercury lamp, an ultra-high-pressure mercury lamp, a low-pressure mercury lamp, a Deep-UV lamp, a carbon arc lamp, a chemical lamp, a metal halide lamp, a xenon lamp, a KrF excimer laser, an ArF excimer laser, and F 2. An excimer laser and the like are mentioned, and an ultra-high pressure mercury lamp is particularly preferable. The number of light sources used may be one or more. Light irradiation may be performed on the entire surface of the coating film 105 filled in the fine pattern of the mold 104, or may be performed only on a partial region.

また、光照射は、基材102上の全領域に断続的に複数回行ってもよいし、全領域に連続照射してもよい。さらに、第一の照射過程で一部領域Aを照射し、第二の照射過程で領域Aとは異なる領域Bを照射してもよい。   The light irradiation may be performed intermittently a plurality of times on the entire region on the base material 102 or may be continuously performed on the entire region. Furthermore, a partial area A may be irradiated in the first irradiation step, and an area B different from the area A may be irradiated in the second irradiation step.

本実施形態において、本工程における光硬化性組成物103への露光量は、90mJ/cm以下であることが好ましく、30mJ/cm以下であることがより好ましい。 In the present embodiment, the exposure amount of the photocurable composition 103 in this step is preferably at 90 mJ / cm 2 or less, more preferably 30 mJ / cm 2 or less.

[[6]離型工程]
次に、硬化物109とモールド104と引き離す。このとき基材102上に所定のパターン形状を有する硬化物パターン110が形成されている。
[[6] Release process]
Next, the cured product 109 and the mold 104 are separated from each other. At this time, a cured product pattern 110 having a predetermined pattern shape is formed on the base material 102.

本工程(離型工程)では、図1(f)に示すように、硬化物109とモールド104とを引き離し、工程[5](光照射工程)において、モールド104上に形成された微細パターンの反転パターンとなるパターン形状を有する硬化物パターン110が得られる。   In this step (release step), as shown in FIG. 1F, the cured product 109 and the mold 104 are separated from each other, and in step [5] (light irradiation step), the fine pattern formed on the mold 104 is removed. A cured product pattern 110 having a pattern shape that becomes a reverse pattern is obtained.

なお、型接触工程を凝縮性ガス雰囲気下で行った場合、離型工程で硬化物109とモールド104とを引き離す際に、硬化物109とモールド104とが接触する界面の圧力が低下することに伴って凝縮性ガスが気化する。これにより、硬化物109とモールド104とを引き離すために必要な力である離型力を低減する効果を奏する傾向がある。   When the mold contacting step is performed in a condensable gas atmosphere, when the cured product 109 and the mold 104 are separated from each other in the release process, the pressure at the interface where the cured product 109 and the mold 104 come into contact with each other decreases. Accordingly, the condensable gas evaporates. Accordingly, there is a tendency that an effect of reducing a releasing force, which is a force necessary for separating the cured product 109 and the mold 104, is obtained.

硬化物109とモールド104とを引き離す方法としては、引き離す際に硬化膜109の一部が物理的に破損しなければ特に限定されず、各種条件等も特に限定はされない。例えば、基材102を固定してモールド104を基材102から遠ざかるように移動させて剥離してもよい。あるいは、モールド104を固定して基材102をモールドから遠ざかるように移動させて剥離してもよい。もしくは、これらの両方を反対の方向へ引っ張って剥離してもよい。   The method of separating the cured product 109 and the mold 104 is not particularly limited as long as a part of the cured film 109 is not physically damaged when separated, and various conditions are not particularly limited. For example, the base material 102 may be fixed and the mold 104 may be moved away from the base material 102 and peeled off. Alternatively, the mold 104 may be fixed and the base material 102 may be moved away from the mold and peeled off. Alternatively, both of them may be pulled in opposite directions to be separated.

以上の工程[1]〜工程[6]を有する一連の工程(製造プロセス)によって、所望の凹凸パターン形状(モールド104の凹凸形状に因むパターン形状)を、所望の位置に有する硬化膜を得ることができる。得られた硬化膜は、例えば、フレネルレンズや回折格子などの光学部材(光学部材の一部材として用いる場合を含む。)として利用することもできる。このような場合、少なくとも、基材102と、この基材102の上に配置された硬化物パターン110と、を有する光学部材とすることができる。   Through a series of steps (manufacturing process) including the above steps [1] to [6], a cured film having a desired concavo-convex pattern shape (pattern shape due to the concavo-convex shape of the mold 104) at a desired position is obtained. Can be. The obtained cured film can be used, for example, as an optical member such as a Fresnel lens or a diffraction grating (including a case where it is used as one member of an optical member). In such a case, an optical member having at least the base material 102 and the cured product pattern 110 arranged on the base material 102 can be provided.

本実施形態に係るパターン形状を有する膜の製造方法では、工程[1]〜工程[6]からなる繰り返し単位(ショット)を、同一の基材102上で繰り返して複数回行うことができる。工程[1]〜工程[6]からなる繰り返し単位(ショット)を複数回繰り返すことで、基材102の所望の位置に複数の所望の凹凸パターン形状(モールド104の凹凸形状に因むパターン形状)を有する硬化膜110を得ることができる。   In the method for manufacturing a film having a pattern shape according to this embodiment, the repeating unit (shot) including the steps [1] to [6] can be repeatedly performed on the same base material 102 a plurality of times. By repeating the repeating unit (shot) comprising the steps [1] to [6] a plurality of times, a plurality of desired concavo-convex pattern shapes (pattern shapes due to the concavo-convex shape of the mold 104) are formed at desired positions on the base material 102. Thus, a cured film 110 can be obtained.

[[7]硬化膜の一部を除去する残膜除去工程]
工程[6](離型工程)により得られる硬化物パターン110は、特定のパターン形状を有するものの、このパターン形状が形成される領域以外の領域においても硬化膜の一部が残る場合がある。なお、以降の記載において、このような硬化膜の一部を残膜と呼ぶことがある。そのような場合は、図1(g)に示すように、得られたパターン形状を有する硬化膜のうちの除去すべき領域にある硬化膜(残膜)およびその下部にある密着層101を除去する。これにより、所望の凹凸パターン形状(モールド104の凹凸形状に因むパターン形状)を有する硬化物パターン111を得ることができる。
[[7] Remaining film removing step of removing a part of the cured film]
Although the cured product pattern 110 obtained in the step [6] (the releasing step) has a specific pattern shape, a part of the cured film may remain in a region other than a region where the pattern shape is formed. In the following description, a part of such a cured film may be referred to as a residual film. In such a case, as shown in FIG. 1 (g), the cured film (remaining film) in the region to be removed and the adhesive layer 101 below the cured film having the pattern shape are removed. I do. Thus, a cured product pattern 111 having a desired concavo-convex pattern shape (a pattern shape resulting from the concavo-convex shape of the mold 104) can be obtained.

ここで、残膜およびその下部にある密着層101を除去する方法としては、例えば、硬化物パターン110の凹部である硬化膜(残膜)をエッチングなどの方法により取り除く方法が挙げられる。これにより、硬化物パターン110が有するパターンの凹部において基材102の表面を露出させることができる。   Here, as a method of removing the remaining film and the adhesion layer 101 thereunder, for example, a method of removing a cured film (remaining film) which is a concave portion of the cured product pattern 110 by etching or the like can be mentioned. Thereby, the surface of the base material 102 can be exposed in the concave portions of the pattern of the cured product pattern 110.

硬化物パターン110の凹部にある硬化膜およびその下部にある密着層101をエッチングにより除去する場合、その具体的な方法は特に限定はされない。例えば、ドライエッチングを用いることができる。ドライエッチングには、従来公知のドライエッチング装置を用いることができる。そして、ドライエッチング時のソースガスは、エッチングに供される硬化膜110の元素組成によって適宜選択されるが、CF、C、C、CCl、CCl、CBrF、BCl、PCl、SF、Cl等のハロゲン系ガス、O、CO、CO等の酸素原子を含むガス、He、N、Ar等の不活性ガス、H、NHのガス等を使用することができる。なお、これらのガスは混合して用いることもできる。 When the cured film in the concave portion of the cured product pattern 110 and the adhesive layer 101 under the cured film are removed by etching, the specific method is not particularly limited. For example, dry etching can be used. A conventionally known dry etching apparatus can be used for the dry etching. The source gas at the time of dry etching is appropriately selected depending on the element composition of the cured film 110 to be subjected to the etching, but CF 4 , C 2 F 6 , C 3 F 8 , CCl 2 F 2 , CCl 4 , CBrF 3 , a halogen-based gas such as BCl 3 , PCl 3 , SF 6 and Cl 2 , a gas containing an oxygen atom such as O 2 , CO and CO 2 , an inert gas such as He, N 2 and Ar, H 2 and NH 3 gas or the like can be used. Note that these gases can be used as a mixture.

以上の工程[1]〜工程[7]の製造プロセスによって、所望の凹凸パターン形状(モールド104の凹凸形状に因むパターン形状)を、所望の位置に有する硬化物パターン111を得ることができ、硬化物パターン111を有する物品を得ることができる。すなわち、基材102と、基材102上に形成された密着層101と、密着層101上に形成された凹凸パターンを有する光硬化物(硬化物パターン111)を有するデバイス部品を得ることができる。   The cured product pattern 111 having a desired concavo-convex pattern shape (pattern shape due to the concavo-convex shape of the mold 104) at a desired position can be obtained by the manufacturing process of the above steps [1] to [7]. An article having the object pattern 111 can be obtained. That is, it is possible to obtain a device component having the base material 102, the adhesive layer 101 formed on the base material 102, and the photocured product (cured product pattern 111) having the uneven pattern formed on the adhesive layer 101. .

本実施形態で得られるデバイス部品は、密着層101が、化合物(A)と化合物(B)とから形成される架橋構造を有する。また、化合物(A)として一般式(1)で表される化合物を用いた場合は、密着層101が、2位および4位および6位が窒素原子で置換された1,3,5−トリアジン環と、スルフィド結合を構造中に有する。すなわち、本実施形態で得られるデバイス部品は、基材と、該基材上に凹凸パターンを有する光硬化物を有するデバイス部品であって、前記基材と前記光硬化物との間に有機層を有し、該有機層が、1,3,5−トリアジン環とスルフィド結合とを含む。   In the device component obtained in the present embodiment, the adhesion layer 101 has a crosslinked structure formed from the compound (A) and the compound (B). When the compound represented by the general formula (1) is used as the compound (A), the adhesion layer 101 is made of 1,3,5-triazine in which the 2-, 4-, and 6-positions are substituted with nitrogen atoms. It has a ring and a sulfide bond in the structure. That is, the device component obtained in the present embodiment is a device component having a substrate and a photocured product having a concavo-convex pattern on the substrate, and an organic layer between the substrate and the photocured product. And the organic layer contains a 1,3,5-triazine ring and a sulfide bond.

さらに、得られた硬化物パターン111を利用して基材102を加工する場合は、後述する基材加工工程(工程[8])を行う。   Further, when processing the base material 102 using the obtained cured product pattern 111, a base material processing step (step [8]) described later is performed.

一方、得られた硬化物パターン111を回折格子や偏光板などの光学部材(光学部材の一部材として用いる場合を含む)として利用し、光学部品を得ることもできる。このような場合、少なくとも、基材102と、この基材102の上に配置された硬化物パターン111と、を有する光学部品とすることができる。   On the other hand, the obtained cured product pattern 111 can be used as an optical member (including a case where it is used as one member of an optical member) such as a diffraction grating or a polarizing plate to obtain an optical component. In such a case, an optical component having at least the base material 102 and the cured product pattern 111 disposed on the base material 102 can be obtained.

[[8]基材加工工程]
本実施形態に係るパターン形状を有する膜の製造方法によって得られる、凹凸パターン形状を有する硬化物パターン111は、例えば半導体素子等の電子部品に含まれる層間絶縁膜用膜として利用することも可能である。また、半導体素子製造時におけるレジスト膜として利用することも可能である。ここでいう半導体素子とは、例えば、LSI、システムLSI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDRAM等が挙げられるが、これに限定はされない。
[[8] Substrate processing step]
The cured product pattern 111 having a concavo-convex pattern shape obtained by the method for producing a film having a pattern shape according to the present embodiment can also be used as a film for an interlayer insulating film included in an electronic component such as a semiconductor element. is there. Further, it can be used as a resist film at the time of manufacturing a semiconductor element. The semiconductor element here includes, for example, an LSI, a system LSI, a DRAM, an SDRAM, an RDRAM, a D-RDRAM, and the like, but is not limited thereto.

硬化物パターン111をレジスト膜として利用する場合、工程[7](残膜除去工程)にて表面が露出した基材102の一部分(図1(g)における符号112の領域)に対して、エッチングまたはイオン注入等を行う。なおこの際、硬化物パターン111は、エッチングマスクとして機能する。これに加えて、電子部材を形成することにより、硬化物パターン111のパターン形状に基づく回路構造113(図1(h))を基材102に形成することができる。これにより、半導体素子等で利用される回路基板を製造することができる。また、この回路基板と回路基板の回路制御機構などとを接続することにより、ディスプレイ、カメラ、医療装置などの電子機器を形成することもできる。   When the cured product pattern 111 is used as a resist film, etching is performed on a part of the substrate 102 (the region denoted by reference numeral 112 in FIG. 1G) whose surface is exposed in step [7] (remaining film removal step). Alternatively, ion implantation or the like is performed. At this time, the cured product pattern 111 functions as an etching mask. In addition, by forming an electronic member, a circuit structure 113 (FIG. 1H) based on the pattern shape of the cured product pattern 111 can be formed on the base material 102. Thereby, a circuit board used for a semiconductor element or the like can be manufactured. Further, by connecting the circuit board to a circuit control mechanism of the circuit board, an electronic device such as a display, a camera, and a medical device can be formed.

また、同様に、硬化物パターン111をレジスト膜として利用して、エッチング又はイオン注入等を行い、光学部品やマイクロフルイディクスの流路構造、パターンドメディアの構造体等のデバイス部品を得ることもできる。   Similarly, using the cured product pattern 111 as a resist film, etching or ion implantation is performed to obtain device components such as an optical component, a microfluidic channel structure, and a patterned media structure. it can.

また、同様に、硬化物パターン111をマスク(レジスト膜)として利用して、エッチング又はイオン注入等を行い、光学部品を得ることもできる。   Similarly, by using the cured product pattern 111 as a mask (resist film), etching or ion implantation can be performed to obtain an optical component.

あるいは、硬化物パターン111を用いて基板102である石英基板をエッチングすることにより、インプリント用モールドを製造することもできる。この場合、硬化物パターン111をマスクとして用いて基板102である石英基板を直接エッチングしてもよい。または、硬化物パターン111をマスクとして用いてハードマスク材料層をエッチングし、これにより転写されたハードマスク材料からなるパターンをマスクとして用いて石英基板をエッチングしてもよい。あるいは、硬化物パターン111の凹部に第2の硬化性材料による第2の硬化物を形成し、該第2の硬化物をマスクとして用いて石英基板をエッチングしてもよい。   Alternatively, an imprint mold can be manufactured by etching a quartz substrate as the substrate 102 using the cured product pattern 111. In this case, the quartz substrate as the substrate 102 may be directly etched using the cured product pattern 111 as a mask. Alternatively, the hard mask material layer may be etched using the cured product pattern 111 as a mask, and the quartz substrate may be etched using the transferred pattern of the hard mask material as a mask. Alternatively, a second cured product made of a second curable material may be formed in the concave portion of the cured product pattern 111, and the quartz substrate may be etched using the second cured product as a mask.

硬化物パターン111をマスクとして利用して表面が露出した基板の一部分をエッチングする場合、ドライエッチングを用いることができる。ドライエッチングには、従来公知のドライエッチング装置を用いることができる。そして、ドライエッチング時のソースガスは、エッチングに供される硬化膜の元素組成によって適宜選択されるが、CF、CHF、C、C、C、CCl、CCl、CBrF、BCl、PCl、SF、Cl等のハロゲン系ガス、O、CO、CO等の酸素原子を含むガス、He、N、Ar等の不活性ガス、H、NHのガス等を使用することができる。CF、CHF、C、C、C、CCl、CBrF、SFなどのフッ素系ガスが好ましい。本実施形態に係る光硬化性組成物は、前記のフッ素系ガスによるドライエッチングに対して高い耐性を示すからである。なお、これらのガスは混合して用いることもできる。 When a part of the substrate whose surface is exposed is etched using the cured product pattern 111 as a mask, dry etching can be used. A conventionally known dry etching apparatus can be used for the dry etching. The source gas at the time of dry etching is appropriately selected depending on the element composition of the cured film to be subjected to the etching, but CF 4 , CHF 3 , C 2 F 6 , C 3 F 8 , C 4 F 8 , CCl 2 F 2, CCl 4, CBrF 3 , BCl 3, PCl 3, SF 6, Cl 2 or the like halogen-containing gas, O 2, CO, a gas containing oxygen atoms such as CO 2, He, of N 2, Ar or the like not An active gas, a gas of H 2 , NH 3 or the like can be used. Fluorine-based gases such as CF 4 , CHF 3 , C 2 F 6 , C 3 F 8 , C 4 F 8 , CCl 2 F 2 , CBrF 3 , and SF 6 are preferable. This is because the photocurable composition according to this embodiment has high resistance to dry etching using the fluorine-based gas. Note that these gases can be used as a mixture.

硬化物パターン111をマスクとして用いて基板102を加工する方法としてエッチングおよびイオン注入について述べたが、これに限定はされない。例えば、基板102上に硬化物パターン111が形成された状態で、めっき処理等を行うこともできる。   Although etching and ion implantation have been described as methods for processing the substrate 102 using the cured product pattern 111 as a mask, the method is not limited to this. For example, a plating process or the like can be performed in a state where the cured product pattern 111 is formed on the substrate 102.

なお、回路基板や電子部品を作製する場合、最終的には、加工された基材から硬化物パターン111を除去してもよいが、素子を構成する部材として残す構成としてもよい。   When a circuit board or an electronic component is manufactured, the cured product pattern 111 may be finally removed from the processed base material, but may be left as a component of the element.

以下、実施例を用いて本発明をより詳細に説明するが、本発明の技術的範囲は以下の実施例に限定されるものではない。なお、以下に使用される「部」および「%」は、特に示さない限りすべて重量基準である。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples, but the technical scope of the present invention is not limited to the following Examples. All “parts” and “%” used below are based on weight unless otherwise specified.

<(1)硬化性の評価>
以下に示す方法により、密着層形成組成物の硬化性を評価した。
<(1) Evaluation of curability>
The curability of the adhesive layer forming composition was evaluated by the following method.

(1−1)密着層形成組成物の調製
以下に示す化合物(A)および化合物(B)を、表1に示す重量比で配合し、揮発性溶剤(C)としてプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(東京化成工業製)に溶解した。これにより、化合物(A)および化合物(B)の合計濃度が5重量%の混合溶液を得た。
(1-1) Preparation of Composition for Forming Adhesion Layer Compound (A) and compound (B) shown below were blended at the weight ratio shown in Table 1, and propylene glycol monomethyl ether acetate (Tokyo) was used as volatile solvent (C). (Manufactured by Kasei Kogyo). Thus, a mixed solution having a total concentration of the compound (A) and the compound (B) of 5% by weight was obtained.

次に、得られた混合溶液を、フィルタの孔径が0.2μmのポリテトラフルオロエチレン製フィルタにて濾過した。これにより、硬化性評価用の密着層形成組成物である組成物1〜組成物11を調製した。   Next, the obtained mixed solution was filtered with a polytetrafluoroethylene filter having a pore size of 0.2 μm. In this way, Compositions 1 to 11, which are compositions for forming an adhesive layer for evaluation of curability, were prepared.

(化合物(A))
(A−1)メトキシメチル基を6つ有する化合物:ヘキサメトキシメチルメラミン(三和ケミカル製、商品名:ニカラックMW−390)(式(a))
(Compound (A))
(A-1) Compound having six methoxymethyl groups: hexamethoxymethylmelamine (manufactured by Sanwa Chemical Co., trade name: Nicalac MW-390) (Formula (a))

(A−2)メトキシメチル基を4つ有する化合物(比較例用):1,3,4,6−テトラキス(メトキシメチル)グリコールウリル(三和ケミカル製、商品名:ニカラックMX−270)(式(b))   (A-2) Compound having four methoxymethyl groups (for comparative example): 1,3,4,6-tetrakis (methoxymethyl) glycoluril (manufactured by Sanwa Chemical, trade name: Nicalac MX-270) (formula (B))

(化合物(B))
(B−1)1,3,5−トリス(3−メルカプトブチリルオキシエチル)−1,3,5−トリアジン−2,4,6(1H,3H,5H)−トリオン(昭和電工製、商品名:カレンズMT NR−1)(式(c))
(Compound (B))
(B-1) 1,3,5-tris (3-mercaptobutyryloxyethyl) -1,3,5-triazine-2,4,6 (1H, 3H, 5H) -trione (manufactured by Showa Denko, Name: Karenz MT NR-1) (Formula (c))

(B−2)トリメチロールプロパントリス(3−メルカプトプロピオネート)(東京化成工業製)(式(d))   (B-2) Trimethylolpropane tris (3-mercaptopropionate) (manufactured by Tokyo Kasei Kogyo) (Formula (d))

(B−3)ペンタエリスリトールテトラキス(3−メルカプトブチレート)(昭和電工製、商品名:カレンズMT PE−1)(式(e))   (B-3) Pentaerythritol tetrakis (3-mercaptobutyrate) (manufactured by Showa Denko, trade name: Karenz MT PE-1) (Formula (e))

(B−4)ペンタエリスリトールテトラキス(3−メルカプトプロピオネート)(東京化成工業製)(式(f))   (B-4) Pentaerythritol tetrakis (3-mercaptopropionate) (manufactured by Tokyo Chemical Industry) (formula (f))

(1−2)密着層の形成
調製した組成物1〜組成物11のそれぞれを、シリコンウエハ上にスピンコートによって塗布した。スピンコートの条件としては、3000rpm、30秒とした。その後、ホットプレート上においてそれぞれの組成物の加熱を行い、密着層を形成した。加熱の条件は表2に示した。
(1-2) Formation of Adhesion Layer Each of the prepared compositions 1 to 11 was applied onto a silicon wafer by spin coating. The spin coating conditions were 3000 rpm and 30 seconds. Then, each composition was heated on a hot plate to form an adhesion layer. The heating conditions are shown in Table 2.

(1−3)硬化性評価
(1−2)で形成した密着層の表面を、アセトンを染み込ませたベンコットで拭きとることにより、密着層の溶解や剥がれを目視により確認して硬化性を評価した。本実施例においては、密着層の溶解や剥がれを生じなかった場合をA、一部でも溶解や剥がれが生じた場合をBとして評価した。その結果をまとめて表2に示す。
(1-3) Evaluation of curability By wiping the surface of the adhesion layer formed in (1-2) with a bencot impregnated with acetone, dissolution or peeling of the adhesion layer was visually checked to evaluate curability. did. In this example, A was evaluated when no dissolution or peeling of the adhesion layer occurred, and B was evaluated when dissolution or peeling occurred even in part. Table 2 summarizes the results.

組成物1〜組成物7は、化合物(A)としてA−1を用いた組成物である。この組成物1〜組成物7は、硬化性に優れていた(実施例1〜実施例7)。   Compositions 1 to 7 are compositions using A-1 as compound (A). The compositions 1 to 7 were excellent in curability (Examples 1 to 7).

一方、組成物8〜組成物11は、化合物(A)としてA−2を用いた組成物である。この組成物8〜組成物11は、硬化性が不十分であった(比較例1〜比較例4)。   On the other hand, Compositions 8 to 11 are compositions using A-2 as compound (A). Compositions 8 to 11 had insufficient curability (Comparative Examples 1 to 4).

A−1は化合物(B)の有するチオール基を結合可能な官能基であるメトキシメチル基を6つ有する。そのため、化合物(B)との反応性に優れるとともに、反応後に形成される密着層中の化合物(A)および化合物(B)が互いに架橋したネットワーク構造がより密になると推測される。その結果、実施例に係る組成物1〜組成物7は、硬化性に優れていた。   A-1 has six methoxymethyl groups, which are functional groups capable of binding to the thiol group of compound (B). Therefore, it is presumed that the reactivity with the compound (B) is excellent, and the network structure in which the compound (A) and the compound (B) in the adhesion layer formed after the reaction are crosslinked to each other becomes denser. As a result, the compositions 1 to 7 according to the examples were excellent in curability.

一方で、A−2は化合物(B)の有するチオール基を結合可能な官能基であるメトキシメチル基を4つ有する。すなわち、A−2の有するメトキシメチル基の数は、A−1の有するメトキシメチル基の数よりも少ない。そのため、A−2は化合物(B)との反応性が不十分であると推測される。また、反応後に形成される密着層中の化合物(A)および化合物(B)が互いに架橋したネットワーク構造が、化合物(A)としてA−1を用いた場合よりも疎になると推測される。その結果、比較例に係る組成物8〜組成物11は、硬化性が不十分であった。   On the other hand, A-2 has four methoxymethyl groups, which are functional groups capable of binding to the thiol group of compound (B). That is, the number of methoxymethyl groups in A-2 is smaller than the number of methoxymethyl groups in A-1. Therefore, it is presumed that A-2 has insufficient reactivity with the compound (B). Further, it is presumed that the network structure in which the compound (A) and the compound (B) in the adhesion layer formed after the reaction are cross-linked to each other is less sparse than when A-1 is used as the compound (A). As a result, Compositions 8 to 11 according to Comparative Examples had insufficient curability.

また、A−2は、分子構造中にカルボニル基を有する。カルボニル基中の酸素原子は電子吸引性を示すため、A−2の有するメトキシメチル基は、A−1の有するメトキシメチル基に比べて、化合物(B)の有するチオール基との反応性が低いことが推測される。このことも、組成物8〜組成物11の硬化性が不十分であったことの一因であると推測される。一方、A−1は、分子構造中にカルボニル基を有さない。そのため、A−1の有するメトキシメチル基は上述のような反応性の低下効果を受けることがなく、組成物1〜組成物7の硬化性が優れていたと考えられる。   A-2 has a carbonyl group in the molecular structure. Since the oxygen atom in the carbonyl group has an electron-withdrawing property, the methoxymethyl group of A-2 has lower reactivity with the thiol group of the compound (B) than the methoxymethyl group of A-1. It is supposed that. This is also presumed to be one reason that the curability of Compositions 8 to 11 was insufficient. On the other hand, A-1 has no carbonyl group in the molecular structure. Therefore, it is considered that the methoxymethyl group of A-1 did not receive the effect of decreasing the reactivity as described above, and the curability of Composition 1 to Composition 7 was excellent.

以上のように、本実施例に係る組成物1〜組成物7は十分な硬化性を有していることがわかった。このことから、実施例に係る組成物1〜組成物7を用いて密着層を形成することで、パターン剥がれ欠陥の発生を抑制できると考えられる。   As described above, it was found that the compositions 1 to 7 according to this example had sufficient curability. From this, it is considered that the occurrence of pattern peeling defects can be suppressed by forming the adhesion layer using the compositions 1 to 7 according to the examples.

<(2)密着性の評価>
次に、以下に示す方法により、基材と光硬化性組成物を硬化させて得られる硬化膜との密着性を評価した。
<(2) Evaluation of adhesion>
Next, the adhesion between the substrate and the cured film obtained by curing the photocurable composition was evaluated by the following method.

(2−1)密着層形成組成物の調製
上述の硬化性の評価にて十分な硬化性を示した組成物1〜組成物7を、揮発性溶剤(C)であるプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(東京化成工業製)で10倍に希釈した。これにより、化合物(A)および化合物(B)および添加成分(D)の合計濃度が0.5重量%の混合溶液を得た。
(2-1) Preparation of Adhesion Layer Forming Composition Compositions 1 to 7, which showed sufficient curability in the above-described curability evaluation, were treated with propylene glycol monomethyl ether acetate (V) as a volatile solvent (C). (Manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.). Thus, a mixed solution having a total concentration of 0.5% by weight of the compound (A), the compound (B), and the additive component (D) was obtained.

次に、得られた混合溶液のそれぞれを、フィルタの孔径が0.2μmのポリテトラフルオロエチレン製フィルタにて濾過した。これにより、密着性評価用の組成物である組成物1’〜組成物7’を調製した。   Next, each of the obtained mixed solutions was filtered with a polytetrafluoroethylene filter having a pore size of 0.2 μm. Thus, Compositions 1 'to 7', which are compositions for evaluating adhesion, were prepared.

(2−2)光硬化性組成物の調製
以下に示す成分(E)(重合性化合物)、成分(F)(光重合開始剤)およびその他の添加成分(G)を、表3に示す重量比率で配合して混合溶液を得た。表3中の数字は重量部を表す。
(2-2) Preparation of photocurable composition The components (E) (polymerizable compound), component (F) (photopolymerization initiator) and other additional components (G) shown below are weighted as shown in Table 3. A mixed solution was obtained by blending in a ratio. The numbers in Table 3 represent parts by weight.

次に、得られた混合溶液を、フィルタの孔径が0.2μmの超高分子量ポリエチレン製フィルタにて濾過した。これにより、光硬化性組成物1および光硬化性組成物2を調製した。   Next, the obtained mixed solution was filtered with an ultrahigh molecular weight polyethylene filter having a pore size of 0.2 μm. Thereby, the photocurable composition 1 and the photocurable composition 2 were prepared.

(成分(E):重合性化合物)
(E−1)イソボルニルアクリレート(共栄社化学製、商品名:IB−XA)
(E−2)ベンジルアクリレート(大阪有機化学工業製、商品名:V#160)
(E−3)ネオペンチルグリコールジアクリレート(共栄社化学製、商品名:NP−A)
(E−4)ジメチロールトリシクロデカンジアクリレート(共栄社化学製、商品名:DCP−A)
(Component (E): polymerizable compound)
(E-1) Isobornyl acrylate (Kyoeisha Chemical, trade name: IB-XA)
(E-2) Benzyl acrylate (manufactured by Osaka Organic Chemical Industry, trade name: V # 160)
(E-3) Neopentyl glycol diacrylate (Kyoeisha Chemical, trade name: NP-A)
(E-4) Dimethylol tricyclodecane diacrylate (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name: DCP-A)

(成分(F):光重合開始剤)
(F−1)Lucirin TPO(BASF製)(式(g))
(Component (F): Photopolymerization initiator)
(F-1) Lucirin TPO (manufactured by BASF) (Formula (g))

(その他の成分(G))
(G−1)4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン(東京化成工業製)
(G−2)ポリオキシエチレンステアリルエーテル エマルゲン320P(花王製)(式(h))
(Other components (G))
(G-1) 4,4'-bis (diethylamino) benzophenone (Tokyo Kasei Kogyo)
(G-2) Polyoxyethylene stearyl ether Emulgen 320P (manufactured by Kao) (Formula (h))

(2−3)密着層の形成
調製した組成物1’〜組成物7’のそれぞれを、シリコンウエハ上にスピンコートによって塗布した。スピンコートの条件としては、3000rpm、30秒とした。その後、ホットプレート上においてそれぞれの組成物の加熱を行い、密着層を形成した。加熱の条件は、組成物1’〜組成物3’については220℃で30分間、組成物4’〜組成物7’については220℃で3分間加熱した。これにより、膜厚10nm以下の密着層を、それぞれ形成した。
(2-3) Formation of Adhesion Layer Each of the prepared compositions 1 ′ to 7 ′ was applied on a silicon wafer by spin coating. The spin coating conditions were 3000 rpm and 30 seconds. Then, each composition was heated on a hot plate to form an adhesion layer. The heating conditions were as follows: composition 1 ′ to composition 3 ′ were heated at 220 ° C. for 30 minutes, and composition 4 ′ to composition 7 ′ were heated at 220 ° C. for 3 minutes. Thereby, adhesion layers having a thickness of 10 nm or less were formed.

(2−4)光硬化性組成物の硬化
(2−3)で形成した、シリコンウエハ上に形成された密着層上に、(2−2)で調製した光硬化性組成物1を2μL滴下して配置した。さらにその上から、厚さ1mmの石英ガラスを被せ、35mm×25mmの領域を光硬化性組成物1で充填させた。
(2-4) Curing of the photocurable composition 2 μL of the photocurable composition 1 prepared in (2-2) was dropped on the adhesion layer formed on the silicon wafer formed in (2-3). And placed. Further, a quartz glass having a thickness of 1 mm was covered thereover, and an area of 35 mm × 25 mm was filled with the photocurable composition 1.

次に、超高圧水銀ランプを備えたUV光源から出射された光を、後述する干渉フィルタを通した上で石英ガラスを通して200秒照射した。これにより、光硬化性組成物1を硬化させて硬化膜を得た。なお、光照射の際に使用した干渉フィルタはVPF−25C−10−15−31300(シグマ光機製)である。また、使用した照射光は、313±5nmの単一波長光の紫外光とし、照度を1mW/cmとした。 Next, light emitted from a UV light source equipped with an ultra-high pressure mercury lamp was irradiated for 200 seconds through quartz glass after passing through an interference filter described later. Thus, the photocurable composition 1 was cured to obtain a cured film. In addition, the interference filter used at the time of light irradiation is VPF-25C-10-15-31300 (made by Sigma Koki). The irradiation light used was ultraviolet light of a single wavelength of 313 ± 5 nm, and the illuminance was 1 mW / cm 2 .

光硬化性組成物2に関しても、光硬化性組成物1と同様にして光硬化させて硬化膜を得た。   The photocurable composition 2 was also photocured in the same manner as the photocurable composition 1 to obtain a cured film.

(2−5)密着性評価
光硬化後、石英ガラスを引き剥がし、基材側からの硬化膜の剥がれの有無を、目視で確認した。本実施例においては、35mm×25mmの領域全面で硬化膜の剥がれが生じなかった場合をA、35mm×25mmの領域の一部でも剥がれが生じた場合をBとして評価した。
(2-5) Evaluation of Adhesion After photocuring, the quartz glass was peeled off, and the presence or absence of peeling of the cured film from the substrate side was visually confirmed. In this example, A was evaluated when the cured film did not peel over the entire area of 35 mm × 25 mm, and B was evaluated when peeling occurred even in a part of the 35 mm × 25 mm area.

その結果をまとめて表4に示す。   Table 4 summarizes the results.

実施例1a〜実施例7aはそれぞれ、組成物1’〜組成物7’を用いて密着層を形成し、光硬化性組成物aを用いて硬化膜を形成した場合の例である。また、実施例1b〜実施例7bはそれぞれ、組成物1’〜組成物7’を用いて密着層を形成し、光硬化性組成物bを用いて硬化膜を形成した場合の例である。また、比較例5aおよび比較例5bは、密着層を形成せずに、シリコンウエハ上に光硬化性組成物a、光硬化性組成物bをそれぞれ用いて直接硬化膜を形成した例場合の例である。   Examples 1a to 7a are examples in which an adhesion layer was formed using compositions 1 'to 7' and a cured film was formed using photocurable composition a, respectively. Examples 1b to 7b are examples in which an adhesion layer was formed using compositions 1 'to 7' and a cured film was formed using photocurable composition b, respectively. Comparative Example 5a and Comparative Example 5b are examples in which a photocurable composition a and a photocurable composition b are directly formed on a silicon wafer without forming an adhesion layer, respectively. It is.

実施例1a〜実施例7a、実施例1b〜実施例7bについてはいずれも、剥がれ欠陥は生じなかった。一方、本実施例に係る密着層を用いなかった例である、比較例5aおよび比較例5bでは、剥がれ欠陥が発生した。   In Examples 1a to 7a and Examples 1b to 7b, no peeling defect occurred. On the other hand, in Comparative Examples 5a and 5b, which are examples in which the adhesion layer according to the present example was not used, peeling defects occurred.

すなわち、各実施例の密着層形成組成物を用いることで、基材と硬化膜との密着性を向上させることのできる密着層を形成することができ、パターン剥がれ欠陥の発生を抑制することができる。   That is, by using the adhesive layer forming composition of each example, an adhesive layer capable of improving the adhesiveness between the substrate and the cured film can be formed, and the occurrence of pattern peeling defects can be suppressed. it can.

100 密着層形成組成物
101 密着層
102 基材
103 光硬化性組成物
104 モールド
105 塗布膜
106 モールド側位置合わせマーク
107 基材側位置合わせマーク
108 照射光
109 光硬化物
110 パターン形状を有する硬化膜
111 硬化物パターン
112 表面が露出した基材の一部分
113 回路構造
REFERENCE SIGNS LIST 100 adhesive layer forming composition 101 adhesive layer 102 substrate 103 photocurable composition 104 mold 105 coating film 106 mold-side alignment mark 107 substrate-side alignment mark 108 irradiation light 109 photocured product 110 cured film having pattern shape 111 Cured Product Pattern 112 Part of Base Material with Exposed Surface 113 Circuit Structure

Claims (19)

密着層形成組成物であって、
1分子中に、アルコキシアルキル基またはアルキロール基のいずれか一方または両方を合計で少なくとも5つ有する化合物(A)と、
1分子中にチオール基を少なくとも2つ有する化合物(B)と、
を有することを特徴とする密着層形成組成物。
An adhesive layer forming composition,
A compound (A) having at least five of one or both of an alkoxyalkyl group and an alkylol group in one molecule;
A compound (B) having at least two thiol groups in one molecule,
A composition for forming an adhesion layer, comprising:
揮発性溶剤をさらに有し、
前記揮発性溶剤の含有量が、前記密着層形成組成物の全体を100質量%としたときに、70質量%以上99.9質量%以下であることを特徴とする請求項1に記載の密着層形成組成物。
Further comprising a volatile solvent,
The adhesion according to claim 1, wherein the content of the volatile solvent is 70% by mass or more and 99.9% by mass or less when the whole of the composition for forming an adhesion layer is 100% by mass. Layer forming composition.
光重合開始剤を含有しないことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の密着層形成組成物。   The adhesion layer forming composition according to claim 1 or 2, wherein the composition does not contain a photopolymerization initiator. 粒径が0.2μmより大きい粒子の含有量が、前記密着層形成組成物の全体を100質量%としたときに、3質量%未満であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の密着層形成組成物。   The content of particles having a particle size larger than 0.2 μm is less than 3% by mass when the whole of the adhesive layer forming composition is 100% by mass. The composition for forming an adhesion layer according to any one of the preceding claims. 前記化合物(A)が、下記一般式(1)で表される化合物であることを特徴とする請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載の密着層形成組成物。

(式(1)において、R〜Rはそれぞれ独立に、水素原子、アルキル基、アルコキシアルキル基、またはアルキロール基のいずれかを表す。ただし、R〜Rの少なくとも5つはアルコキシアルキル基またはアルキロール基である。)
The composition for forming an adhesion layer according to any one of claims 1 to 4, wherein the compound (A) is a compound represented by the following general formula (1).

(In the formula (1), R 1 to R 6 each independently represent any of a hydrogen atom, an alkyl group, an alkoxyalkyl group, or an alkylol group. However, at least five of R 1 to R 6 are alkoxy groups. It is an alkyl group or an alkylol group.)
前記化合物(A)が、ペンタメトキシメチルメラミン、ヘキサメトキシメチルメラミン、(ヒドロキシメチル)ペンタキス(メトキシメチル)メラミン、ヘキサエトキシメチルメラミン、ヘキサブトキシメチルメラミン、ペンタメチロールメラミン、ヘキサメチロールメラミンの中から選択される少なくとも一種を含むことを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の密着層形成組成物。   The compound (A) is selected from pentamethoxymethylmelamine, hexamethoxymethylmelamine, (hydroxymethyl) pentakis (methoxymethyl) melamine, hexaethoxymethylmelamine, hexabutoxymethylmelamine, pentamethylolmelamine, and hexamethylolmelamine. The adhesive layer forming composition according to any one of claims 1 to 5, wherein the composition comprises at least one of the following. 前記化合物(A)が、1分子中に、アルコキシアルキル基またはアルキロール基のいずれか一方または両方を合計で少なくとも6つ有する化合物であることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか一項に記載の密着層形成組成物。   7. The compound according to claim 1, wherein the compound (A) is a compound having at least one of an alkoxyalkyl group and an alkylol group or both in one molecule. The composition for forming an adhesion layer according to claim 1. 前記化合物(B)が、1分子中にチオール基を少なくとも3つ有することを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の密着層形成組成物。   The composition for forming an adhesion layer according to any one of claims 1 to 7, wherein the compound (B) has at least three thiol groups in one molecule. 前記化合物(B)が、1級チオールであることを特徴とする請求項1乃至請求項8のいずれか一項に記載の密着層形成組成物。   The adhesion layer forming composition according to any one of claims 1 to 8, wherein the compound (B) is a primary thiol. 前記化合物(A)および前記化合物(B)の密着層形成組成物の全重量に対する重量分率をそれぞれα、βとすると、α/βが、0.25以上4以下であることを特徴とする請求項1乃至請求項9のいずれか一項に記載の密着層形成組成物。   When the weight fractions of the compound (A) and the compound (B) with respect to the total weight of the composition for forming an adhesion layer are α and β, respectively, α / β is 0.25 or more and 4 or less. The adhesion layer forming composition according to any one of claims 1 to 9. 前記化合物(A)および前記化合物(B)の密着層形成組成物の全重量に対する重量分率をそれぞれα、βとすると、αとβの和が、0.1以上10以下であることを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれか一項に記載の密着層形成組成物。   Assuming that the weight fractions of the compound (A) and the compound (B) with respect to the total weight of the adhesive layer forming composition are α and β, respectively, the sum of α and β is 0.1 or more and 10 or less. The composition for forming an adhesion layer according to any one of claims 1 to 10. 前記密着層形成組成物が、光ナノインプリント用であることを特徴とする請求項1乃至請求項11のいずれか一項に記載の密着層形成組成物。   The adhesive layer forming composition according to any one of claims 1 to 11, wherein the adhesive layer forming composition is for photo nanoimprinting. 基材上に、請求項1乃至請求項12のいずれか一項に記載の密着層形成組成物を配置して密着層を形成する第1の工程と、
前記密着層が形成された前記基材上に、光硬化性組成物を配置する第2の工程と、パターン形状を転写するための原型パターンを有するモールドと前記光硬化性組成物とを接触させる第3の工程と、
前記光硬化性組成物に光を照射して硬化物とする第4の工程と、
前記硬化物と前記モールドとを引き離す第5の工程と、を有する硬化物パターンの製造方法。
A first step of forming an adhesion layer by disposing the adhesion layer forming composition according to any one of claims 1 to 12 on a substrate,
A second step of disposing a photocurable composition on the substrate on which the adhesion layer is formed, and contacting the photocurable composition with a mold having a prototype pattern for transferring a pattern shape; A third step;
A fourth step of irradiating the photocurable composition with light to form a cured product;
And a fifth step of separating the cured product and the mold from each other.
前記光硬化性組成物が、アクリロイル基またはメタクリロイル基を有する化合物を含有する、請求項13に記載の硬化物パターンの製造方法。   The method for producing a cured product pattern according to claim 13, wherein the photocurable composition contains a compound having an acryloyl group or a methacryloyl group. 前記第1の工程が、表面に水酸基を有する基材上に前記密着層形成組成物を配置する工程であることを特徴とする請求項13または請求項14に記載の硬化物パターンの製造方法。   The method according to claim 13, wherein the first step is a step of arranging the adhesive layer forming composition on a substrate having a hydroxyl group on a surface. 請求項13乃至請求項15のいずれか一項に記載の硬化物パターンの製造方法により硬化物パターンを得る工程を有することを特徴とする光学部品の製造方法。   A method for producing an optical component, comprising a step of obtaining a cured product pattern by the method for producing a cured product pattern according to any one of claims 13 to 15. 請求項13乃至請求項15のいずれか一項に記載の硬化物パターンの製造方法により硬化物パターンを得る工程と、
得られた硬化物パターンをマスクとして基材にエッチング又はイオン注入を行う工程と、を有することを特徴とする回路基板の製造方法。
A step of obtaining a cured product pattern by the method for producing a cured product pattern according to any one of claims 13 to 15,
Etching or ion-implanting the substrate using the obtained cured product pattern as a mask.
前記回路基板が半導体素子で利用される回路基板である請求項17に記載の回路基板の製造方法。   The method according to claim 17, wherein the circuit board is a circuit board used in a semiconductor device. 基材上に、請求項12乃至請求項15のいずれか一項に記載の硬化物パターンの製造方法により硬化物パターンを得る工程と、
得られた硬化物パターンをマスクとして用いて前記基材にエッチングを行う工程と、を有することを特徴とするインプリント用モールドの製造方法
A step of obtaining a cured product pattern on a base material by the method for producing a cured product pattern according to any one of claims 12 to 15,
Etching the base material using the obtained cured product pattern as a mask .
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6741855B2 (en) * 2017-02-28 2020-08-19 富士フイルム株式会社 Composition for forming primer layer, kit, primer layer and laminate
JP6942487B2 (en) * 2017-03-03 2021-09-29 キヤノン株式会社 Imprinting equipment, imprinting method, and article manufacturing method
TW201900704A (en) * 2017-04-11 2019-01-01 日商富士軟片股份有限公司 Composition, adhesion film, laminate, method for producing cured pattern, and method for manufacturing circuit board
TWI783115B (en) * 2018-02-14 2022-11-11 日商富士軟片股份有限公司 Kit, composition for forming underlayer film for imprint, method for forming pattern, method for manufacturing semiconductor device
WO2020203387A1 (en) 2019-03-29 2020-10-08 富士フイルム株式会社 Composition for forming underlayer film in imprint method, kit, pattern forming method, multilayer body, and method for producing semiconductor element
TWI728489B (en) * 2019-10-04 2021-05-21 永嘉光電股份有限公司 Imprint method using a soluble mold and its related imprint system
CN114730142A (en) * 2019-11-15 2022-07-08 日产化学株式会社 Method for producing resin lens using developing solution and rinse solution, and rinse solution
CN114641520A (en) * 2019-11-24 2022-06-17 陶氏东丽株式会社 Photocurable silicone composition and cured product thereof
TWI758185B (en) * 2021-05-12 2022-03-11 永嘉光電股份有限公司 Imprint method for improving demolding stability and the related imprint system

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7959975B2 (en) * 2007-04-18 2011-06-14 Micron Technology, Inc. Methods of patterning a substrate
JP2010157706A (en) * 2008-12-03 2010-07-15 Fujifilm Corp Curable composition for optical imprint and method of manufacturing hardened material using same
JP5871324B2 (en) * 2010-06-11 2016-03-01 Hoya株式会社 Substrate with adhesion auxiliary layer, mold manufacturing method, and master mold manufacturing method
JP2012079782A (en) * 2010-09-30 2012-04-19 Dainippon Printing Co Ltd Photosensitive resin composition for uv nanoimprint, method for manufacturing resist substrate using the photosensitive resin composition, and method for manufacturing copying template
KR101291727B1 (en) * 2011-07-14 2013-07-31 (주)휴넷플러스 Method for manufacturing implint resin and implinting method
JP5767615B2 (en) * 2011-10-07 2015-08-19 富士フイルム株式会社 Underlayer film composition for imprint and pattern forming method using the same
JP5891814B2 (en) * 2012-01-25 2016-03-23 大日本印刷株式会社 Pattern structure manufacturing method and pattern forming substrate used therefor
JP5891090B2 (en) * 2012-03-29 2016-03-22 富士フイルム株式会社 Underlayer film composition for imprint and pattern forming method using the same

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