KR101955423B1 - Display device and driving methode of an organic electroluminescent - Google Patents

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Abstract

본 발명의 실시 예에 따르면 표시 패널 내의 유기발광소자의 구동 트랜지스터 또는 유기발광소자(유기발광다이오드)가 가지는 문턱 전압을 측정하는 것으로써 상기 구동 트랜지스터 또는 유기발광소자에 대응되는 픽셀들이 온도 평형 상태일 때 이들로부터 신뢰성 있는 문턱 전압에 대한 센싱 데이터를 얻고자 한다. 상기 표시 패널 내의 픽셀들의 문턱 전압이 상기 기준 전압의 범위를 벗어나는지 판단하여 가변일 수 있는 기준 전압의 범위를 벗어나지 않는 경우에 상기 표시 패널로부터 획득한 센싱 데이터를 열화 보상 시 사용될 센싱 데이터로 이용함으로써 열화 보상 능력을 향상시킬 수 있다.
한편 픽셀들의 열화에 따른 문턱 전압 상승과 상기 픽셀들의 온도 상승에 따른 문턱 전압의 하강에 따른 상쇄 효과를 반영하여 새로운 기준 전압을 설정하여 픽셀의 온도 평형 여부를 정확히 판단할 수 있다.According to an embodiment of the present invention, by measuring the threshold voltage of a driving transistor or an organic light emitting diode (organic light emitting diode) of an organic light emitting element in a display panel, pixels corresponding to the driving transistor or the organic light emitting element are in a temperature balanced state We want to obtain the sensing data for the reliable threshold voltage. The sensing data obtained from the display panel is used as sensing data to be used for deterioration compensation when it is determined that the threshold voltage of the pixels in the display panel is out of the range of the reference voltage and does not exceed the range of the reference voltage that can be varied Degradation compensation ability can be improved.
The threshold voltage of the pixel can be precisely determined by setting a new reference voltage to reflect the offset of the threshold voltage due to the deterioration of the pixels and the decrease of the threshold voltage due to the temperature rise of the pixels.

Description

유기발광소자 표시장치 및 이의 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHODE OF AN ORGANIC ELECTROLUMINESCENT}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an organic light emitting diode (OLED) display device and a method of driving the same.

본 발명은 유기발광소자 표시장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an OLED display and a driving method thereof.

최근 정보화 사회가 발전함에 따라 디스플레이 분야에 대한 요구도 다양한 형태로 증가하고 있으며, 이에 부응하여 박형화, 경량화, 저소비 전력화 등의 특징을 지닌 여러 평판 표시 장치(Flat Panel Display device), 예를 들어, 액정표시장치(Liquid Crystal Display device), 플라즈마표시장치(Plasma Display Panel device), 유기발광소자 표시장치(Organic Light Emitting Diode device) 등이 연구되고 있다. 유기발광소자 표시장치(Organic Light Emitting Diode device)는 투명 기판에 적(R), 녹(G), 청(B) 등의 빛을 내는 유기 화합물을 사용하여 자체 발광되는 표시장치로서, 일반적으로 OLED 패널과 구동회로를 포함한다. 따라서, 유기발광소자 표시장치는 액정표시장치(Liquid Crystal Display device)와 달리 별도의 광원을 필요로 하지 않다. 그 결과 백라이트 유닛이 필요 없어 액정표시장치 대비 제조 공정이 단순하고, 제조비용을 줄일 수 있는 장점이 있어 차세대 평판 표시 장치로 각광을 받고 있다 또한, 유기발광소자 표시장치는 액정표시장치에 비해 시야각과 대조비 등이 우수할 뿐만 아니라, 직류 저전압 구동이 가능하고 응답속도가 빠르며 외부충격에 강하고 사용온도범위도 넓다는 장점이 있다. 특히, 액티브 매트릭스 방식(active matrix type)에서는 화소 영역에 인가되는 전류를 제어하는 전압이 스토리지 캐패시터(storage capacitor)에 충전되어 있어, 그 다음 프레임(frame) 신호가 인가될 때까지 전압을 유지해 줌으로써, 게이트 배선 수에 관계없이 한 화면이 표시되는 동안 발광상태를 유지하도록 구동된다. 따라서, 액티브 매트릭스 방식에서는, 낮은 전류를 인가해 주더라도 동일한 휘도를 나타내므로 저소비전력, 대형화가 가능한 장점을 가진다. 2. Description of the Related Art [0002] With the development of information society in recent years, demands for the display field have been increasing in various forms. In response to this demand, various flat panel display devices having characteristics such as thinning, light weight and low power consumption have been developed, A liquid crystal display device, a plasma display panel device, and an organic light emitting diode display device have been studied. Organic light emitting diode (OLED) devices are self-luminous display devices using organic compounds emitting light such as red (R), green (G), and blue (B) Panel and a drive circuit. Therefore, unlike a liquid crystal display device, an organic light emitting diode display device does not require a separate light source. As a result, a backlight unit is not required, which is advantageous in that the manufacturing process is simple compared to a liquid crystal display device and manufacturing cost can be reduced. Thus, the OLED display device has a wider viewing angle than a liquid crystal display device Control ratio, etc., and is capable of DC low voltage driving, has a high response speed, is resistant to external impact, and has a wide operating temperature range. Particularly, in the active matrix type, a voltage for controlling a current applied to a pixel region is charged in a storage capacitor, and a voltage is maintained until a next frame signal is applied, Regardless of the number of gate wirings. Therefore, in the active matrix system, even if a low current is applied, the same brightness is exhibited, which has advantages of low power consumption and large size.

도 1은 종래의 유기발광소자 표시장치의 화소영역의 등가회로를 개략적으로 도시한 도면이다. 1 is a schematic diagram showing an equivalent circuit of a pixel region of a conventional OLED display.

도1에 도시한 바와 같이, 종래의 유기발광소자 표시장치에는 서로 교차하여 화소영역(P)을 정의하는 게이트 배선(GL) 및 데이터 배선(DL)이 형성되고, 일 화소영역(P)은 스위칭 트랜지스터(Tsw)와 구동 트랜지스터(Tdr)와 스토리지 커패시터(Cst)와 발광다이오드(D)를 포함한다. 스위칭 트랜지스터(Tsw)는 게이트 배선(GL)과 데이터 배선(DL) 그리고 스토리지 커패시터(Cst)의 일단에 연결된다. 그리고, 구동 트랜지스터(Tdr)는 스토리지 커패시터(Cst)의 일단과 발광다이오드(D) 및 스토리지 커패시터(Cst)의 타단과 연결된다. 이때, 발광다이오드(D) 및 구동 트랜지스터(Tdr)는 고전위 전압 배선(VDD) 및 저전위 전압 배선(VSS) 사이에 연결된다. 유기발광소자 표시장치의 화소영역의 구동을 살펴보면, 먼저 게이트 배선(GL)을 통하여 게이트 신호가 공급되어 스위칭 트랜지스터(Tsw)가 턴-온(Turn-On)되면, 데이터 배선(DL)을 통하여 공급되는 데이터 신호가 구동 트랜지스터(Tdr) 및 스토리지 커패시터(Cst)로 전달된다. 그리고, 구동 트랜지스터(Tdr)가 데이터 신호에 의해 턴-온(Turn-On)되면 발광다이오드(D)을 통해 전류가 흐르게 되어 발광다이오드(D)는 발광하게 된다. 이때, 발광다이오드(D)가 방출하는 빛의 세기는 발광다이오드(D)를 흐르는 전류의 양에 비례하고, 발광다이오드(D)를 흐르는 전류의 양은 데이터 신호의 크기에 비례한다. 따라서, 유기발광소자 표시장치는 각 화소영역(P) 마다 다양한 크기의 데이터 신호를 인가하여 상이한 계조를 표시하고, 그 결과 영상을 표시할 수 있다. 그리고, 스토리지 커패시터(Cst)는 데이터 신호를 일 프레임(frame) 동안 유지하여 발광다이오드(D)를 흐르는 전류의 양을 일정하게 하고 발광다이오드(D)가 표시하는 계조를 일정하게 유지시키는 역할을 한다. 화소영역의 트랜지스터가 일 프레임 중 상대적으로 짧은 시간 동안만 턴-온 되는 액정표시장치의 경우와는 달리, 유기전계발광 표시장치에서는 발광 다이오드(D)가 발광하여 계조를 표시하는 상대적으로 긴 시간 동안 데이터 신호가 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 전극에 인가되어 턴-온 된 상태를 유지하는데, 이러한 데이터 신호의 장시간 인가에 의하여 구동 트랜지스터(Tdr)는 열화(deterioration) 될 수 있다. 그 결과 구동 트랜지스터(Tdr)의 문턱전압(threshold voltage: Vth)이 변하게 되는데, 이러한 구동 트랜지스(Tdr)의 문턱전압(Vth)의 변동은 유기발광소자 표시장치의 화질에 악영향을 미칠 수 있다. OLED의 열화 편차를 보상하기 위해 다양한 열화 보상방법이 제안되고 있다. 열화 보상방법은 화소의 열화 정도를 화소 내의 보상회로나 외부 보상회로를 통하여 검출하고, 검출된 열화 정도를 감안하여 화소의 휘도를 높여 원래 목적한 휘도를 구현한다. 이처럼 열화 정도를 검출하는 근거로써 표시장치의 각 픽셀을 센싱하여 이들이 가지는 문턱 전압에 대한 정보가 필요하다. 그러나 문턱 전압은 열화뿐만 아니라 표시장치의 온도에 따라서도 달라질 수 있기 때문에 유의미한 센싱 데이터를 얻기 위하여는 표시 장치가 온도 평형 상태에 있는지 판단을 해야 한다. 종래에는 온도 평형 상태를 고려하지 않고 픽셀의 문턱 전압을 센싱하여 얻는 데이터를 기준으로 열화 보상이 진행되므로 해서 목표하는 휘도를 얻지 못하는 문제가 있었다.1, a gate line GL and a data line DL which define a pixel region P are formed to intersect with each other in a conventional organic light emitting diode display device, and one pixel region P is formed by switching A transistor Tsw, a driving transistor Tdr, a storage capacitor Cst, and a light-emitting diode D. The switching transistor Tsw is connected to one end of the gate line GL, the data line DL, and the storage capacitor Cst. The driving transistor Tdr is connected to one end of the storage capacitor Cst and the other end of the light emitting diode D and the storage capacitor Cst. At this time, the light emitting diode D and the driving transistor Tdr are connected between the high potential wiring VDD and the low potential wiring VSS. When the gate signal is supplied through the gate line GL and the switching transistor Tsw is turned on, the pixel region of the organic light emitting diode display device is supplied with the data signal through the data line DL. Is transferred to the driving transistor Tdr and the storage capacitor Cst. When the driving transistor Tdr is turned on by a data signal, a current flows through the light emitting diode D so that the light emitting diode D emits light. At this time, the intensity of the light emitted by the light emitting diode D is proportional to the amount of the current flowing through the light emitting diode D, and the amount of the current flowing through the light emitting diode D is proportional to the size of the data signal. Therefore, the organic light emitting diode display device can display different gradations by applying data signals of various sizes to each pixel region P, and can display an image as a result. The storage capacitor Cst holds the data signal for one frame to keep the amount of the current flowing through the light emitting diode D constant and to maintain the gradation displayed by the light emitting diode D constant . Unlike the case of a liquid crystal display in which a transistor in a pixel region is turned on only for a relatively short time in one frame, in the organic light emitting display, the light emitting diode D emits light for a relatively long time The data signal is applied to the gate electrode of the driving transistor Tdr to maintain the turned-on state, and the driving transistor Tdr may be deterioration due to the application of such a data signal for a long time. As a result, the threshold voltage (Vth) of the driving transistor Tdr is changed. The variation of the threshold voltage Vth of the driving transistor Tdr may adversely affect the image quality of the OLED display device. Various degradation compensation methods have been proposed to compensate for the deterioration of the OLED. The deterioration compensation method detects the deterioration degree of the pixel through a compensation circuit or an external compensation circuit in the pixel and increases the luminance of the pixel in consideration of the detected deterioration degree to realize the original intended luminance. As a basis for detecting the degree of deterioration, it is necessary to sense each pixel of the display device and to have information on the threshold voltage of the pixels. However, since the threshold voltage may vary not only with deterioration but also with the temperature of the display device, it is necessary to determine whether the display device is in a temperature equilibrium state in order to obtain meaningful sensing data. Conventionally, there has been a problem in that the target luminance can not be obtained because deterioration compensation proceeds based on data obtained by sensing the threshold voltage of the pixel without considering the temperature equilibrium state.

본 발명은 표시 패널의 온도 평형 판단의 정확성을 향상시켜 신뢰성 있는 센싱 테이터를 얻을 수 있는 유기발광소자 표시장치를 제공한다.The present invention provides an organic light emitting diode display device capable of improving the accuracy of temperature balance determination of a display panel and obtaining a reliable sensing data.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치는 더미 픽셀(Pixel) 및 표시 픽셀을 포함하는 표시 패널 및 상기 더미 및 표시 픽셀을 센싱(Sensing)하여 이들의 문턱 전압인 센싱 데이터를 추출하는 센싱부; 상기 센싱 데이터를 저장하는 메모리부; 제1 및 제2 시점 각각에서 측정한 상기 더미 픽셀의 문턱 전압의 차 전압인 온도 오프셋(Offset) 전압의 절대치와 상기 제1 및 제2 시점 각각에서 측정한 상기 표시 픽셀의 문턱 전압의 차 전압인 표시 픽셀의 문턱 전압차의 절대치를 비교하는 제1 판단부; 상기 제1 판단부의 결과를 인가 받아 기준 전압을 설정하는 기준 전압 설정부; 상기 기준 전압의 절대치와 상기 표시 픽셀의 문턱 전압차의 절대치를 비교하는 제2 판단부; 및 상기 제2 판단부로부터 결과를 인가 받아 상기 메모리부에 상기 제2 시점에서 센싱한 센싱 데이터의 기록 여부를 결정하는 기록부;를 포함하는 센싱 기록부를 포함한다.The OLED display according to the first embodiment of the present invention includes a display panel including a dummy pixel and display pixels, and sensing data of the dummy and display pixels to extract sensing data, Sensing unit; A memory unit for storing the sensing data; A difference voltage between an absolute value of a temperature offset voltage which is a difference voltage of a threshold voltage of the dummy pixel measured at each of the first and second time points and a threshold voltage of the display pixel measured at each of the first and second time points, A first judgment unit for comparing the absolute value of the threshold voltage difference of the display pixel; A reference voltage setting unit configured to receive a result of the first determination unit and to set a reference voltage; A second determination unit for comparing an absolute value of the reference voltage with an absolute value of a threshold voltage difference of the display pixel; And a recording unit that receives a result from the second determination unit and determines whether or not to write the sensing data sensed at the second time point to the memory unit.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치에서 상기 센싱 기록부는, 상기 센싱 데이터에 포함된 노이즈를 제거하기 위한 필터부를 더 포함한다.In the organic light emitting diode display according to the first embodiment of the present invention, the sensing recording unit further includes a filter unit for removing noise included in the sensing data.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치에서 상기 필터부는 중간 값 필터로 이루어진다.In the organic light emitting diode display according to the first embodiment of the present invention, the filter unit comprises an intermediate value filter.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치에서 상기 기준 전압 설정부는, 상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀의 수가 제1 기준 값 미만에 해당하는 경우 상기 메모리부에 저장된 제1 기준 전압을 제2 판단부로 제공하고, 상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀의 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀의 수가 제1 기준 값 이상에 해당하는 경우 제2 기준 전압을 설정하여 상기 제2 판단부로 제공한다.In the OLED display according to the first embodiment of the present invention, when the number of pixels having the absolute value of the threshold voltage difference of the display pixel greater than the absolute value of the temperature offset voltage is less than the first reference value When a number of pixels having an absolute value of a threshold voltage difference of a display pixel that is larger than an absolute value of the temperature offset voltage is greater than or equal to a first reference value, And supplies the voltage to the second determination unit.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치에서 상기 제2 기준 전압은 하기의 수식에 의하여 결정되고, 하기의 수학식에서 최대 문턱 전압은 상기 표시 픽셀 문턱 전압차 중에서 가장 큰 값이다.In the OLED display according to the first embodiment of the present invention, the second reference voltage is determined by the following equation, and the maximum threshold voltage is the largest value among the display pixel threshold voltage differences.

(수학식)(Equation)

Figure 112013041342125-pat00001
Figure 112013041342125-pat00001

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치에서 상기 기준 전압 설정부는 제1 및 제2 기준 전압 설정부를 포함하고, 상기 제1 기준 전압 설정부는, 상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀의 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀의 수가 제1 기준 값 미만에 해당하는 경우 제1 기준 전압을 설정하여 상기 제2 판단부로 제공하고, 상기 제2 기준 전압 설정부는, 상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀의 문턱 전압 차의 절대치를 가지는 픽셀의 수가 제1 기준 값 이상에 해당하는 경우 제2 기준 전압을 설정하여 상기 제2 판단부로 제공한다.In the OLED display according to the first embodiment of the present invention, the reference voltage setting unit may include first and second reference voltage setting units, and the first reference voltage setting unit may include a first reference voltage setting unit, When the number of pixels having the absolute value of the threshold voltage difference is less than the first reference value, the second reference voltage setting unit sets the first reference voltage to the second determination unit, And sets the second reference voltage to the second determination unit when the number of pixels having the absolute value of the threshold voltage difference of the large display pixel is greater than or equal to the first reference value.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치에서 상기 제2 기준 전압은 하기의 수식에 의하여 결정되고, 하기의 수학식에서 최대 문턱 전압은 상기 표시 픽셀 문턱 전압차 중에서 가장 큰 값이다.In the OLED display according to the first embodiment of the present invention, the second reference voltage is determined by the following equation, and the maximum threshold voltage is the largest value among the display pixel threshold voltage differences.

(수학식)(Equation)

Figure 112013041342125-pat00002
Figure 112013041342125-pat00002

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치에서 상기 제2 판단부는,In the OLED display according to the first embodiment of the present invention,

상기 제1 및 제2 기준 전압 중 어느 하나의 전압의 절대치보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수가 제2 기준 값 이상인지 미만인지 판단하여 이 결과를 상기 기록부에 제공한다.And determines whether or not the number of display pixels having an absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage that is larger than the absolute value of any one of the first and second reference voltages is greater than or equal to a second reference value and provides the result to the recording unit.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치에서 상기 기록부는,In the OLED display according to the first embodiment of the present invention,

상기 제1 및 제2 기준 전압 중 어느 하나의 전압의 절대치보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수가 제2 기준 값 미만인 경우에만 상기 제2 시점에서 센싱한 센싱 데이터를 상기 메모리부에 기록한다.When the number of display pixels having the absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage greater than the absolute value of any one of the first and second reference voltages is less than a second reference value, .

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 구동방법은 제1 시점에서 센싱된 표시 패널의 더미 및 표시 픽셀의 문턱 전압인 센싱 데이터를 저장하는 단계, 제2 시점에서 상기 더미 및 표시 픽셀의 문턱 전압을 센싱하는 단계; 상기 제1 및 제2 시점 각각의 더미 픽셀의 문턱 전압의 차 전압인 온도 오프셋 전압의 절대치보다 큰 상기 제1 및 제2 시점 각각의 표시 픽셀의 문턱 전압의 차 전압인 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가진 표시 픽셀의 수와 제1 기준 값과 비교하는 단계; 상기 온도 오프셋 전압의 절대치와 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치의 크기를 비교하여 제1 또는 제2 기준 전압을 설정하는 단계; 상기 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치 이상의 값을 가지는 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀수와 제2 기준 값과 비교하는 단계; 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀수와 제2 기준 값의 비교 결과에 따라 메모리부에 상기 제2 시점에서 센싱한 센싱 데이터를 기록할지 여부를 결정하는 단계를 포함한다.The driving method of the OLED display according to the first embodiment of the present invention includes the steps of storing sensing data which is a threshold voltage of a dummy pixel and a display pixel sensed at a first point in time, Sensing a threshold voltage of the pixel; Which is a difference voltage between threshold voltages of display pixels of the first and second viewpoints, which is greater than the absolute value of the temperature offset voltage, which is the difference voltage of the threshold voltages of the dummy pixels at the first and second viewpoints, Comparing the number of display pixels with a first reference value; Setting a first or second reference voltage by comparing an absolute value of the temperature offset voltage with a magnitude of an absolute value of the display pixel threshold voltage difference; Comparing the number of pixels having the absolute value of the difference of the threshold voltage of the display pixel having the absolute value of the first or second reference voltage with a second reference value; Determining whether to write sensing data sensed at the second time point to the memory unit according to a comparison result between the number of pixels having the absolute value of the display pixel threshold voltage difference and the second reference value.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 구동방법에서 상기 제2 기준 전압은 하기의 수식에 의하여 결정되고, 하기의 수학식에서 최대 문턱 전압은 상기 표시 픽셀 문턱 전압차 중에서 가장 큰 값이다.In the driving method of an organic light emitting diode display device according to the first embodiment of the present invention, the second reference voltage is determined by the following equation, and the maximum threshold voltage is the largest value among the display pixel threshold voltage differences to be.

(수학식)(Equation)

Figure 112013041342125-pat00003
Figure 112013041342125-pat00003

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 구동방법에서 상기 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치 이상의 값을 가지는 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀수와 제2 기준 값과 비교하는 단계에 있어서, 상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가진 표시 픽셀의 수가 상기 제1 기준값 미만인 경우 상기 제1 기준 전압의 절대치보다 큰 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수를 제2 기준 값과 비교한다.In the method of driving an organic light emitting diode display according to the first embodiment of the present invention, the number of pixels having the absolute value of the difference of the threshold voltage of the display pixel having the absolute value or more of the first or second reference voltage and the second reference value Wherein an absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage difference which is larger than the absolute value of the first reference voltage when the number of display pixels having an absolute value of the display pixel threshold voltage difference larger than the absolute value of the temperature offset voltage is less than the first reference value And compares the number of display pixels with a second reference value.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 구동방법에서 상기 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치 이상의 값을 가지는 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀수와 제2 기준 값과 비교하는 단계에 있어서, 상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가진 표시 픽셀의 수가 상기 제1 기준값 이상인 경우 상기 제2 기준 전압의 절대치보다 큰 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수를 제2 기준 값과 비교한다.In the method of driving an organic light emitting diode display according to the first embodiment of the present invention, the number of pixels having the absolute value of the difference of the threshold voltage of the display pixel having the absolute value or more of the first or second reference voltage and the second reference value Wherein when the number of display pixels having an absolute value of the display pixel threshold voltage difference that is greater than the absolute value of the temperature offset voltage is greater than or equal to the first reference value, And compares the number of display pixels with a second reference value.

본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 구동방법에서 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀수와 제2 기준 값의 비교 결과에 따라 메모리부에 상기 제2 시점에서 센싱한 센싱 데이터를 기록할지 여부를 결정하는 단계는, 상기 제1 및 제2 기준 전압 중 어느 하나의 전압의 절대치보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수가 제2 기준 값 미만인 경우에만 상기 제2 시점에서 센싱한 센싱 데이터를 상기 메모리부에 기록한다.In the driving method of an organic light emitting diode display according to the first embodiment of the present invention, in the method of driving the organic light emitting display according to the first embodiment of the present invention, Wherein the step of determining whether or not to record the sensing data comprises the step of determining whether or not the number of display pixels having the absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage greater than the absolute value of any one of the first and second reference voltages is less than a second reference value And the sensing data sensed at the second time point is written into the memory unit.

본 발명의 실시 예에 따르면 표시 패널 내의 유기발광소자의 구동 트랜지스터 또는 유기발광소자가 가지는 문턱 전압을 측정하는 것으로써 상기 구동 트랜지스터 또는 유기발광소자에 대응되는 픽셀들이 온도 평형 상태일 때 이들로부터 신뢰성 있는 문턱 전압에 대한 센싱 데이터를 얻고자 한다. 상기 표시 패널 내의 픽셀들의 문턱 전압이 상기 기준 전압의 범위를 벗어나는지 판단하여 가변일 수 있는 기준 전압의 범위를 벗어나지 않는 경우에 상기 표시 패널로부터 획득한 센싱 데이터를 열화 보상 시 사용될 센싱 데이터로 이용함으로써 열화 보상 능력을 향상시킬 수 있다.According to the embodiment of the present invention, by measuring the threshold voltage of the driving transistor or the organic light emitting element of the organic light emitting element in the display panel, when the pixels corresponding to the driving transistor or the organic light emitting element are in a temperature equilibrium state, We want to get the sensing data about the threshold voltage. The sensing data obtained from the display panel is used as sensing data to be used for deterioration compensation when it is determined that the threshold voltage of the pixels in the display panel is out of the range of the reference voltage and does not exceed the range of the reference voltage that can be varied Degradation compensation ability can be improved.

한편 픽셀들의 열화에 따른 문턱 전압 상승과 상기 픽셀들의 온도 상승에 따른 문턱 전압의 하강에 따른 상쇄 효과를 반영하여 새로운 기준 전압을 설정하여 픽셀의 온도 평형 여부를 정확히 판단할 수 있다.The threshold voltage of the pixel can be precisely determined by setting a new reference voltage to reflect the offset of the threshold voltage due to the deterioration of the pixels and the decrease of the threshold voltage due to the temperature rise of the pixels.

도1은 종래의 유기발광소자 표시장치의 화소 영역의 등가회로를 개략적으로 도시한 도면.
도 2는 문턱전압 변동을 보상하기 위한 유기발광소자 표시장치의 일 화소 영역의 등가회로도.
도 3은 유기발광소자의 열화에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸 그래프.
도 4는 유기발광소자의 열화에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸 그래프.
도 5는 유기발광소자의 열화와 온도에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸 그래프.
도 6는 유기발광소자의 온도에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸 그래프.
도 7은 유기발광소자의 문턱전압의 열화 및 온도에 따른 영향을 나타낸 그래프.
도 8는 본 발명의 제1실시예에 따른 유기발광소자 표시장치를 도시한 개략도.
도 9은 센싱 기록부에 대한 블록도.
도 10은 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 나타낸 그래프.
도 11은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 센싱 기록부의 블록도.
도 12는 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압 값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 나타낸 도면.
도 13은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 나타낸 도면.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 schematically shows an equivalent circuit of a pixel region of a conventional organic light emitting diode display. FIG.
2 is an equivalent circuit diagram of one pixel region of an organic light emitting diode display device for compensating a threshold voltage variation.
3 is a graph showing changes in optical characteristics with deterioration of an organic light emitting device.
4 is a graph showing changes in optical characteristics with deterioration of the organic light emitting device.
5 is a graph showing changes in optical characteristics depending on deterioration of an organic light emitting device and temperature.
6 is a graph showing changes in optical characteristics of an organic light emitting device according to temperature.
7 is a graph showing degradation of threshold voltage and influence of temperature of an organic light emitting device.
FIG. 8 is a schematic view illustrating an OLED display according to a first embodiment of the present invention. FIG.
9 is a block diagram of a sensing recording section;
10 is a graph illustrating a process of obtaining sensing data based on a threshold voltage value of all pixels of a display device to compensate for a deteriorated area of the display device and recording the sensed data.
11 is a block diagram of a sensing recording unit of an OLED display according to a second embodiment of the present invention.
12 is a view illustrating a process of obtaining sensing data and recording the sensed data based on threshold voltage values of all pixels of a display device in order to compensate for a deterioration area of an organic light emitting diode display device according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 13 illustrates a process of obtaining sensing data based on a threshold voltage value of all pixels of a display device and recording the deteriorated area of the organic light emitting diode display device according to the second embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 실시예에 의한 유기발광소자 표시장치의 도면을 참고하여 상세하게 설명한다. 다음에 소개되는 실시 예들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 설명되는 실시 예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 그리고, 도면들에 있어서, 장치의 크기 및 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조 번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, a detailed description will be given with reference to the drawings of an organic light emitting diode display device according to an embodiment of the present invention. The following embodiments are provided by way of example so that those skilled in the art can fully understand the spirit of the present invention. Therefore, the present invention is not limited to the embodiments described below, but may be embodied in other forms. In the drawings, the size and thickness of an apparatus may be exaggerated for convenience. Like reference numerals designate like elements throughout the specification.

도 2를 참고하여 유기발광다이오드가 열화되는 정도에 따라서 그 특성이 어떻게 달라지는지 살펴본다.The characteristics of the organic light emitting diode according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode will be described with reference to FIG.

도 2는 문턱전압 변동을 보상하기 위한 유기발광소자 표시장치의 일 화소 영역의 등가회로도 이다.2 is an equivalent circuit diagram of one pixel region of an organic light emitting diode display device for compensating a threshold voltage variation.

도 2에 도시한 바와 같이, 유기발광소자 표시장치에는 서로 교차하여 화소영역(P)을 정의하는 게이트 배선(GL) 및 데이터 배선(DL)과, 게이트 배선(GL)에 평행하게 이격되는 센싱 배선(SL)이 형성되고, 일 화소영역(P)은 스위칭 트랜지스터(Tsw)와, 구동 트랜지스터(Tdr)와, 센싱 트랜지스터(Tse)와, 스토리지 커패시터(Cst)와, 발광 다이오드(D)를 포함할 수 있다. 2, the organic light emitting diode display device includes a gate wiring GL and a data wiring DL that define pixel regions P and intersect with each other and a sensing wiring One pixel region P includes a switching transistor Tsw, a driving transistor Tdr, a sensing transistor Tse, a storage capacitor Cst, and a light emitting diode D .

스위칭 트랜지스터(Tsw)는 게이트 배선(GL) 및 데이터 배선(DL)에 연결되고, 스토리지 커패시터(Cst)는 스위칭 트랜지스터(Tsw) 및 구동 트랜지스터(Tdr) 사이에 연결되며, 발광 다이오드(D) 및 구동 트랜지스터(Tdr)는 고전위 전압(VDD) 및 저전위 전압(VSS) 사이에 연결될 수 있고, 센싱 트랜지스터(Tse)는 센싱 배선(SL)에 연결되고, 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 전극 및 드레인 전극 사이에 연결될 수 있다. 이러한 화소 구조를 갖는 유기발광소자 표시장치에서는, 매 프레임마다 데이터 신호를 구동 트랜지스터(Tdr)에 인가하기 전에 센싱 트랜지스터(Tse)를 턴-온(turn-on) 시켜 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 전극 및 드레인 전극을 연결함으로써, 구동 트랜지스터(Tdr)를 다이오드 연결상태로 만들고, 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 전극으로부터 드레인 전극을 통하여 소스 전극으로 전류가 흐르게 한다. 이때, 다이오드 연결된 구동 트랜지스터(Tdr)에 전류가 흐름에 따라 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 전극 및 드레인 전극의 전압은 점차 감소하고 최종적으로 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 전극의 전압이 문턱전압(Vth)이 되면 구동 트랜지스터(Tdr)의 채널이 닫히고, 더 이상 전류가 흐르지 않게 된다. 즉, 센싱 트랜지스터(Tse)를 턴-온 시키면, 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 전극은 문턱전압이 될 때까지 방전하고 이러한 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 전극의 최종 전압인 문턱전압은 스토리지 커패시터(Cst)에 저장된다. 이후 스위칭 트랜지스터(Tsw)가 턴-온 되어 데이터 신호가 스토리지 커패시터(Cst)에 공급되고, 스토리지 커패시터(Cst)에 저장되어 있던 문턱전압에 데이터 신호가 합쳐져서 구동 트랜지스터(Tdr)의 게이트 전극에 인가됨으로써, 구동 트랜지스터(Tdr)에는 문턱전압의 변동에 무관하게 항상 데이터 신호에 대응되는 채널이 생성되게 된다. 이때, 문턱전압을 제대로 측정하기 위해서는 센싱 트랜지스터(Tse)가 턴-온 되기 전에 구동 트랜지스터 (Tdr)의 드레인 전극의 전압, 즉 A 노드의 전압(VA)이 구동 트랜지스터(Tdr)의 문턱전압보다 높아야 한다.The switching transistor Tsw is connected to the gate line GL and the data line DL while the storage capacitor Cst is connected between the switching transistor Tsw and the driving transistor Tdr, The transistor Tdr may be connected between the high potential voltage VDD and the low potential voltage VSS and the sensing transistor Tse may be connected to the sensing wiring SL and the gate electrode and the drain electrode of the driving transistor Tdr, Respectively. In the OLED display device having such a pixel structure, the sensing transistor Tse is turned on before the data signal is applied to the driving transistor Tdr every frame, and the gate electrode of the driving transistor Tdr is turned on, And the drain electrode are connected to make the driving transistor Tdr diode-connected, and current flows from the gate electrode of the driving transistor Tdr to the source electrode through the drain electrode. At this time, as the current flows through the diode-connected driving transistor Tdr, the voltage of the gate electrode and the drain electrode of the driving transistor Tdr gradually decreases, and finally the voltage of the gate electrode of the driving transistor Tdr becomes the threshold voltage Vth. The channel of the driving transistor Tdr is closed and the current no longer flows. That is, when the sensing transistor Tse is turned on, the gate electrode of the driving transistor Tdr is discharged until the threshold voltage is reached, and the threshold voltage, which is the final voltage of the gate electrode of the driving transistor Tdr, ). The switching transistor Tsw is turned on so that the data signal is supplied to the storage capacitor Cst and the data signal is added to the threshold voltage stored in the storage capacitor Cst and applied to the gate electrode of the driving transistor Tdr , The channel corresponding to the data signal is always generated in the driving transistor Tdr irrespective of the variation of the threshold voltage. In order to properly measure the threshold voltage, the voltage at the drain electrode of the driving transistor Tdr, that is, the voltage VA at the node A must be higher than the threshold voltage of the driving transistor Tdr before the sensing transistor Tse is turned on do.

도 3은 유기발광소자의 열화에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸 그래프이다.FIG. 3 is a graph showing a change in optical characteristics due to deterioration of an organic light emitting device.

도 3을 참조하면, 그래프는 유기발광소자의 열화에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸다. 그래프의 가로축은 유기발광소자에 흐르는 전류를 나타내고 세로축은 휘도를 나타낸다. 전류(Ix)에서 열화 전과 열화 후의 휘도 차이가 발생한다. 즉 열화전 휘도 L1은 열화 후 휘도 L2보다 높은 값을 가지게 된다. 발광 효율을 휘도/전류라고 정의할 수 있고 이때 열화 전과 열화 후의 발광 효율을 비교해보면 열화전의 기울기보다 열화 후의 기울기가 작아지므로 발광 효율이 감소하는 것을 확인할 수 있다. Referring to FIG. 3, the graph shows a change in optical characteristics with deterioration of the organic light emitting element. The abscissa of the graph represents the current flowing through the organic light emitting element and the ordinate represents the luminance. A difference in luminance before and after deterioration occurs in the current Ix. That is, the pre-deterioration luminance L1 has a value higher than the luminance L2 after deterioration. The luminous efficiency can be defined as the luminance / current. In this case, when comparing the luminous efficiency before deterioration and after deterioration, it is confirmed that the luminous efficiency is reduced since the slope after deterioration is smaller than the slope before deterioration.

도 4는 유기발광소자의 열화에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸 그래프이다.4 is a graph showing changes in optical characteristics as the organic light emitting device deteriorates.

도 4를 참조하면, 그래프는 유기발광소자의 열화에 따른 전기 특성의 변화를 나타내고 있다. 그래프의 가로축은 유기발광소자에 인가되는 전압을 의미한다. 동일한 전압(Vx) 하에서 열화가 진행될수록 유기발광소자에 흐르는 전류는 감소하는 것을 확인 할 수 있다. 이는 유기발광다이오드의 Vth가 열화가 진행될수록 증가하게 되고 그에 따라 유기발광소자에 흐르는 전류 또한 적어질 수 있음을 의미한다. 즉 I1>I2>I3의 관계가 성립할 수 있다.Referring to FIG. 4, the graph shows changes in electrical characteristics as the organic light emitting device deteriorates. The abscissa of the graph means a voltage applied to the organic light emitting element. It can be seen that as the deterioration progresses under the same voltage Vx, the current flowing through the organic light emitting element decreases. This means that as the Vth of the organic light emitting diode increases as the deterioration progresses, the current flowing through the organic light emitting diode can also be reduced. That is, the relationship of I1> I2> I3 can be established.

도 5는 유기발광소자의 열화와 온도에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸 그래프이다.5 is a graph showing changes in optical characteristics depending on deterioration of an organic light emitting device and temperature.

도 5를 참고하여 유기발광소자가 열화와 온도의 변화가 함께 발생한 경우 그 특성이 어떻게 달라지는지 살펴본다.Referring to FIG. 5, the characteristics of the organic light emitting diode when the deterioration and temperature change occur together will be examined.

도 5를 참조하면, 그래프는 유기발광소자의 열화와 온도에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸다. 그래프의 가로축은 유기발광소자에 흐르는 전류를 의미하고 세로축은 휘도를 나타낸다. 특정 전류(Iy)에서의 휘도는 열화 전 보다 열화 된 후의 휘도가 낮은 특성을 보이지만 열화에 의한 영향만을 고려하여 광학 특성이 변화되는 도 3과 비교하여 볼 때 열화 및 온도에 따른 휘도의 차이는 상대적으로 크지 않는다는 것을 확인할 수 있다. 이는 열화에 따른 문턱 전압이 커지지만 온도 상승에 따라 문턱 전압이 낮아지게 되어 상쇄 효과가 나타나기 때문이다.Referring to FIG. 5, the graph shows the deterioration of the organic light emitting device and the change of optical characteristics with temperature. The abscissa of the graph represents the current flowing through the organic light emitting element and the ordinate represents the luminance. The luminance at the specific current Iy shows a characteristic of lower luminance after deterioration than before the deterioration but the difference in luminance due to deterioration and temperature is relatively high compared with FIG. 3 in which the optical characteristic is changed only in consideration of the deterioration . ≪ / RTI > This is because the threshold voltage increases as the deterioration increases, but the threshold voltage decreases as the temperature rises.

도 6는 유기발광소자의 온도에 따른 광학 특성의 변화를 나타낸 그래프이다.6 is a graph showing changes in optical characteristics of an organic light emitting device according to temperature.

도 6을 참조하면, 그래프는 유기발광소자의 온도에 따른 전기 특성의 변화를 나타내고 있다. 그래프의 가로축은 유기발광소자에 인가되는 전압을 의미한다. 동일한 전압(Vy)하에서 온도가 상승할수록 유기발광소자에 흐르는 전류는 증가한다는 것을 확인 할 수 있다. 이는 유기발광다이오드의 문턱 전압인 Vth가 온도가 높아질수록 감소하게 되고 그에 따라 유기발광소자에 흐르는 전류 또한 증가될 수 있음을 의미한다. 즉 I1>I2>I3의 관계가 성립할 수 있다.Referring to FIG. 6, the graph shows a change in electrical characteristics of the organic light emitting device with temperature. The abscissa of the graph means a voltage applied to the organic light emitting element. It can be confirmed that the current flowing to the organic light emitting element increases as the temperature rises under the same voltage Vy. This means that Vth, which is the threshold voltage of the organic light emitting diode, decreases as the temperature increases, and accordingly the current flowing through the organic light emitting diode can also be increased. That is, the relationship of I1> I2> I3 can be established.

도 7은 유기발광소자의 문턱전압의 열화 및 온도에 따른 영향을 나타낸 그래프이다.7 is a graph showing degradation of threshold voltage and influence of temperature of an organic light emitting diode.

도 7을 참조하면, 그래프의 가로축은 온도를 의미하고 세로축은 유기발광소자(유기발광소자)의 문턱전압(Vth)을 의미한다. 온도가 상승할수록 문턱 전압(Vth)은 감소하는 것을 확인할 수 있고, 열화가 진행될수록 문턱 전압(Vth)은 증가하는 것을 확인 할 수 있다. 열화가 진행되지 않은 경우 온도 변화(T1~T2)에 따른 문턱 전압(Vth)의 변화량은 VTH1에 해당하고 열화가 진행되는 경우까지 함께 고려하면 그때의 문턱 전압(Vth)의 변화량은 VTH2에 해당한다. 열화에 따른 문턱 전압의 변화만을 고려한 양은 VTH3에 해당한다. 문턱 전압의 변화량은 온도와 열화 정도를 함께 반영한 경우 더 적은 양을 가지는 것을 확인할 수 있다. 이와 같이 유기발광소자의 열화 정도에 따라 휘도를 보상하고자 하는 경우에는 유기발광소자의 온도 또한 함께 고려의 대상이 되어야 함을 알 수 있다. Referring to FIG. 7, the abscissa of the graph indicates the temperature and the ordinate indicates the threshold voltage (Vth) of the organic light emitting device (organic light emitting device). It can be seen that the threshold voltage Vth decreases as the temperature rises, and the threshold voltage Vth increases as the deterioration progresses. When the deterioration does not proceed, the amount of change in the threshold voltage Vth corresponding to the temperature change (T1 to T2) corresponds to VTH1 and the amount of change in the threshold voltage (Vth) at that time corresponds to VTH2 . The amount considering only the change in the threshold voltage due to deterioration corresponds to VTH3. It can be seen that the amount of change in the threshold voltage is smaller when the temperature and the degree of deterioration are reflected together. When the luminance is to be compensated according to the degree of deterioration of the organic light emitting diode, the temperature of the organic light emitting diode should also be considered.

도 8은 본 발명의 제1실시예에 따른 유기발광소자 표시장치를 도시한 개략도이다.FIG. 8 is a schematic view illustrating an OLED display according to a first embodiment of the present invention.

도 8에 도시한 바와 같이, 본 발명의 제1실시예에 따른 유기발광소자 표시장치(100)는, 영상을 표시하는 유기발광(유기전계발광)표시 패널(110)과, 상기 표시 패널(110)에 게이트 신호 및 센싱 신호를 공급하는 게이트 구동회로부(120)와, 상기 표시 패널(110)에 데이터 신호를 공급하는 데이터 구동회로부(130)와, 상기 표시 패널(110)에 포함된 유기발광 소자의 문턱 전압을 측정하고 기록하는 센싱 기록부(140)와, 상기 게이트 구동회로부(120), 데이터 구동회로부(130) 및 센싱 기록부(140)에 다수의 신호 및 전원을 생성하여 공급하는 타이밍 제어부(150)를 포함할 수 있다. 8, the organic light emitting diode display 100 according to the first embodiment of the present invention includes an organic light emitting (organic light emitting) display panel 110 for displaying an image, A data driving circuit 130 for supplying a data signal to the display panel 110 and a driving circuit unit 120 for supplying a gate signal and a sensing signal to the organic light emitting diode And a timing controller 150 for generating and supplying a plurality of signals and power to the gate driving circuit 120, the data driving circuit 130 and the sensing and writing unit 140, ).

상기 표시 패널(110)에는, 서로 교차하여 화소영역을 정의하는 제1 내지 제m게이트 배선(GL1 내지 GLm), 센싱 배선(SL) 및 제1 내지 제n데이터 배선(DL1 내지 DLn) 이 형성될 수 있고, 각 화소영역에는 구동 트랜지스터, 스토리지 커패시터, 커플링 커패시터및 발광 다이오드로 이루어진 화소가 형성될 수 있다. 도시하지는 않았지만, 표시 패널(110)은, 증착, 사진식각(photolithography) 등을 통하여 제1 내지 제m게이트 배선(GL1 내지 GLm), 센싱 배선(SL), 제1 내지 제n데이터 배선(DL1 내지 DLn), 구동 트랜지스터 스토리지 커패시터, 커플링 커패시터, 발광 다이오드를 제1기판에 형성하고, 제1기판의 소자를 덮도록 제2기판을 합착하여 형성할 수도 있고, 증착, 사진식각(photolithography) 등을 통하여 제1 내지 제m게이트 배선(GL1 내지 GLm), 제1 내지 제n데이터 배선(DL1 내지 DLn), 센싱 배선(SL), 구동 트랜지스터, 스토리지 커패시터, 커플링 커패시터를 제1기판에 형성하고, 발광다이오드는 제2기판에 형성한 후 각 기판의 소자가 마주보도록 제1 및 제2기판을 합착하여 형성할 수도 있다.First to mth gate wirings GL1 to GLm, a sensing wiring SL and first to nth data wirings DL1 to DLn which define pixel regions intersect with each other are formed on the display panel 110 And a pixel including a driving transistor, a storage capacitor, a coupling capacitor, and a light emitting diode may be formed in each pixel region. Although not shown, the display panel 110 may include first through m-th gate lines GL1 through GLm, a sensing line SL, first through n-th data lines DL1 through DLn through deposition, photolithography, DLn, the driving transistor storage capacitor, the coupling capacitor, and the light emitting diode may be formed on the first substrate and the second substrate may be attached to cover the elements of the first substrate, or may be formed by deposition, photolithography, The first to the m-th gate lines GL1 to GLm, the first to the n-th data lines DL1 to DLn, the sensing line SL, the driving transistor, the storage capacitor and the coupling capacitor are formed on the first substrate, The light emitting diode may be formed by bonding the first and second substrates such that the light emitting diodes are formed on the second substrate and the elements of the respective substrates face each other.

도 9은 센싱 기록부에 대한 블록도이다.9 is a block diagram of a sensing recording unit.

도 9를 참조하여 본 발명의 제1 실시예에 유기발광소자 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 패널(110)의 모든 픽셀의 문턱 전압(Vth)값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 설명한다.Referring to FIG. 9, in order to compensate the deterioration region of the organic light emitting diode display device according to the first embodiment of the present invention, sensing data is obtained based on the threshold voltage (Vth) of all the pixels of the display panel 110, .

도 9를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치(100)의 센싱 기록부(140)는 메모리부(141), 센싱부(142), 필터부(143), 기준 전압 설정부(146), 판단부(144) 및 기록부(145)를 포함할 수 있다.9, the sensing and writing unit 140 of the organic light emitting diode display 100 according to the first embodiment of the present invention includes a memory unit 141, a sensing unit 142, a filter unit 143, A setting unit 146, a determination unit 144, and a recording unit 145. [

메모리부(141)에는 열화 영역을 보상하기 위한 여러 가지 데이터를 포함할 수 있다. 특히 유기발광소자 표시장치(100)의 표시 패널(100)은 화면을 표시하지 않는 더미 픽셀(111)과 화면을 표시하는 표시 픽셀(112)을 포함할 수 있고, 상기 더미 픽셀(111)에 포함된 구동 트랜지스터의 문턱 전압(Vth)을 센싱부(142)를 통해 읽어 드려 그 값 일시적으로 또는 계속해서 기억할 수 있고, 픽셀을 센싱할 때마다 재 기록되면서 저장하고자 하는 값을 변경할 수 있다. 상기 센싱부(142)는 구동 트랜지스터의 문턱 전압을 센싱하는 것으로 표현되어 있으나 이에 한정되는 것은 아니고 픽셀 내의 유기발광소자, 즉 유기발광다이오드의 문턱 전압을 센싱할 수도 있다. 따라서 상기 센싱부(142)는 픽셀에 포함된 구동 트랜지스터 및 유기발광다이오드 모두를 측정할 수도 있고, 그들 중 어느 하나의 문턱 전압을 측정할 수도 있다.The memory unit 141 may include various data for compensating for the degraded area. In particular, the display panel 100 of the OLED display 100 may include a dummy pixel 111 that does not display a screen and a display pixel 112 that displays a screen, and may be included in the dummy pixel 111 The threshold voltage Vth of the driving transistor may be read through the sensing unit 142 to temporarily or continuously store the value of the threshold voltage Vth and to change the value to be stored while being rewritten each time the pixel is sensed. The sensing unit 142 senses the threshold voltage of the driving transistor. However, the sensing unit 142 may sense the threshold voltage of the organic light emitting diode in the pixel, that is, the organic light emitting diode. Accordingly, the sensing unit 142 may measure both the driving transistor and the organic light emitting diode included in the pixel, or may measure one of the threshold voltages.

센싱부(142)는 유기발광소자 표시장치(100)에 포함된 각 게이트 라인에 대응하는 유기발광소자의 구동 트랜지스터의 문턱 전압(Vth)을 센싱할 수 있다. 정밀한 데이터를 얻기 위하여 표시 장치의 전 영역을 여러 횟수에 걸쳐서 센싱할 수 있다. 센싱된 데이터를 필터에 통과시켜 노이즈가 제거된 대표값을 추출할 수 있다. 상기 필터부(143)에는 중간 값 필터 (median filter)가 이용될 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니고 데이터의 노이즈를 제거하고 대표값을 추출할 수 있는 필터라면 가능하다. 상기 중간 값 필터를 이용하여 센싱 데이터에 포함된 노이즈 등을 제거할 수 있다. 상기 필터부(143)를 통과한 데이터는 판단부(144)에서 온도 불평형 기준 전압 이하(BV; Base voltage)의 값을 가지는 픽셀의 개수를 카운터하여 온도 불평형 기준 전압 이하(BV)의 전압을 가지는 픽셀의 개수가 일정 개수 이상이 되는 경우에는 표시장치가 현재 온도 불 평형 상태로 판단하여 상기 센싱 데이터는 상기 메모리부(141)에 기록되지 않고 버려지게 된다. 그러나 온도 불평형 기준 전압(BV) 이하의 전압을 가지는 픽셀의 개수가 일정 개수 미만인 경우에는 상기 센싱 데이터를 상기 메모리부(141)에 저장하고 이렇게 새롭게 저장된 데이터는 유기발광소자의 열화에 따른 특성 변화를 보상하기 위한 데이터로 쓰이게 될 수 있다. The sensing unit 142 may sense the threshold voltage Vth of the driving transistor of the organic light emitting element corresponding to each gate line included in the OLED display 100. [ In order to obtain precise data, the entire area of the display device can be sensed over a number of times. The sensed data can be passed through a filter to extract a representative value from which noise has been removed. A median filter may be used for the filter unit 143. However, the present invention is not limited thereto, and a filter capable of removing noise and extracting a representative value can be used. The noise included in the sensing data can be removed using the intermediate value filter. The data that has passed through the filter unit 143 is supplied to the determiner 144 to count the number of pixels having a value equal to or less than a temperature unbalance reference voltage BV, When the number of pixels is equal to or greater than a predetermined number, the display device is judged to be in the current temperature unbalance state, and the sensing data is discarded without being recorded in the memory unit 141. However, when the number of pixels having a voltage equal to or lower than the temperature unbalance reference voltage BV is less than a certain number, the sensing data is stored in the memory unit 141, and the newly stored data is changed in accordance with deterioration of the organic light emitting element Can be used as compensation data.

상기 온도 불평형 기준 전압(BV)은 픽셀의 열화 정도와 온도 오프셋(Offset)과 노이즈(Noise)를 고려하여 실험적으로 결정될 수 있다. 예를 들면 상기 온도 불평형 기준 전압(BV)은 픽셀이 열화된 경우의 문턱 전압에서 온도 오프셋 전압 및 노이즈에 따른 전압을 뺀 값으로 정할 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니다. The temperature unbalance reference voltage BV may be experimentally determined in consideration of the degree of deterioration of a pixel, a temperature offset, and noise. For example, the temperature unbalance reference voltage BV may be a value obtained by subtracting a voltage corresponding to a temperature offset voltage and a noise from a threshold voltage when a pixel is deteriorated, but is not limited thereto.

상기 온도 오프셋은 메모리부(141)에 저장되어 있는 이전 더미 픽셀(111)의 문턱 전압의 평균값과 현재 더미 픽셀(111)의 문턱 전압의 평균값의 차이 값에 해당할 수 있다. 상기 이전 더미 픽셀(111)의 문턱 전압이란, 표시 장치를 디스플레이 하는 경우 디스플레이 하는 시점에 1회로 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압을 측정할 수 있고, 디스플레이 하는 중간 중간에 일정한 시구간 또는 서로 다른 시구간을 두고 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압을 측정할 수 있다. 이때 이전 시점에 표시장치 내의 더미 픽셀(111)문턱 전압을 측정하고 이를 평균한 값인 제1 평균값이 메모리부(141)에 저장되고, 현재 시점에 표시장치 내의 더미 픽셀(111)에 대한 문턱 전압을 측정하고 이를 평균한 값인 제2 평균값이 상기 메모리부(141)에 저장될 수 있다. 한편 상기 더미 픽셀(111)은 화면이 표시되지 않는 영역이므로 픽셀의 열화에 따른 영향은 거의 없다고 볼 수 있고 온도에 의한 영향으로 문턱 전압의 변화만 있다고 볼 수 있다. 따라서 이전 시점에서의 더미 픽셀(111)의 온도와 현재 시점에서의 더미 픽셀(111)의 온도가 상이할 수 있고 구체적으로 이전 시점보다 현재 시점의 더미 픽셀(111)의 온도가 더 높을 것이므로 현재 시점의 더미 픽셀(111)의 온도가 더 높다고 볼 수 있다. 따라서 제1 및 제2 평균값 또한 상이한 값을 가져 상기 제1 평균값에서 제2 평균값을 뺀 차 전압 값을 온도 오프셋 전압이라고 정의할 수 있다.The temperature offset may correspond to a difference value between an average value of the threshold voltages of the previous dummy pixel 111 and an average value of the threshold voltages of the current dummy pixel 111 stored in the memory unit 141. The threshold voltage of the previous dummy pixel 111 means a threshold voltage of all the pixels of the display device at a time of displaying the display device when the display device is displayed, The threshold voltage of all the pixels of the display device can be measured. At this time, the threshold voltage of the dummy pixel 111 in the display device is measured at a previous time, and a first average value obtained by averaging the threshold voltage is stored in the memory unit 141, and the threshold voltage for the dummy pixel 111 And a second average value, which is a value obtained by averaging them, may be stored in the memory unit 141. On the other hand, since the dummy pixel 111 is an area where the screen is not displayed, it is considered that there is almost no influence of deterioration of the pixel, and only the threshold voltage changes due to the influence of the temperature. Therefore, the temperature of the dummy pixel 111 at the previous time may be different from the temperature of the dummy pixel 111 at the current time. Specifically, since the temperature of the dummy pixel 111 at the current time is higher than the previous time, The temperature of the dummy pixel 111 is higher. Therefore, the difference voltage value obtained by subtracting the second average value from the first average value having the first and second average values is also defined as the temperature offset voltage.

도 10은 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 나타낸 그래프이다.10 is a graph illustrating a process of obtaining sensing data based on a threshold voltage value of all pixels of a display device to compensate for a deteriorated area of the display device and recording the sensed data.

도 10을 참조하여 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압(Vth)값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 설명한다.Referring to FIG. 10, a process of obtaining sensing data based on the threshold voltage (Vth) value of all the pixels of the display device and compensating the deteriorated area of the display device will be described.

도 9 및 10을 참조하여 이를 구체적으로 설명하면 다음과 같다.This will be described in detail with reference to FIGS. 9 and 10. FIG.

유기발광소자 표시패널(110) 내에는 화면을 표시하지 않은 더미 픽셀(111)과 화면을 표시하는 표시 픽셀(112)을 포함하고 화면을 표시하는 표시 픽셀(112) 영역 내에는 열화가 진행된 영역(A)과 상대적으로 온도가 더 많이 상승된 영역(B)을 포함하고 있다. The organic light emitting diode display panel 110 includes a dummy pixel 111 that does not display a screen and a display pixel 112 that displays a screen and a region of the display pixel 112 that displays a screen includes a region A) and a region (B) in which the temperature is relatively increased.

센싱부(142)에서는 표시 패널(110)내의 모든 픽셀을 센싱 라인(SL)을 통해 센싱하여 해당 센싱 라인(SL)에 연결된 유기발광소자의 문턱 전압(Vth)을 추출할 수 있다. 이렇게 추출된 문턱 전압을 센싱 데이터라고 명명하고 상기 센싱 데이터에는 더미 픽셀(111)의 문턱 전압과 표시 픽셀(112)의 문턱 전압이 포함되어 있다. 상기 센싱 데이터는 메모리부(141)에 바로 기록되거나 필터부(143)을 거쳐 노이즈가 제거된 상태로 메모리부(141)에 저장될 수 있다.The sensing unit 142 may sense all the pixels in the display panel 110 through the sensing line SL and extract the threshold voltage Vth of the organic light emitting device connected to the sensing line SL. The extracted threshold voltage is referred to as sensing data, and the sensing data includes the threshold voltage of the dummy pixel 111 and the threshold voltage of the display pixel 112. The sensing data may be stored in the memory unit 141 in a state in which the noise is removed through the filter unit 143 or directly written in the memory unit 141.

기준 전압 설정부(146)에서는 메모리부(141)에 이미 저장되어 있던 이전 시점의 더미 픽셀(111)의 문턱 전압에 대한 제1 평균값과 현재 시점의 더미 픽셀(111)의 문턱 전압에 대한 제2 평균값의 차 전압인 온도 오프셋 전압을 추출하고, 현재 시점에서 센싱된 표시 픽셀(112)의 문턱 전압에 따른 열화 정도와 노이즈를 고려하여 기준 전압(BV)을 설정할 수 있다. 상기 기준 전압(BV)은 센싱 시점마다 상기 기준 전압 설정부(146)에서 연산을 통하여 계산되거나 실험적으로 결정된 값이 메모리부(141)에 미리 저장되어 있을 수 있다. 기준 전압(BV)이 메모리부(141)에 저장되어 있는 경우에는 상기 기준 전압 설정부(146)는 삭제될 수 있다. 그리고 상기 기준 전압(BV)은 표시 장치의 사이즈나 특성 등을 반영하여 실험적으로 결정될 수 있다.The reference voltage setting unit 146 sets the reference voltage for the threshold voltage of the dummy pixel 111 at the previous point of time and the first average value for the threshold voltage of the dummy pixel 111 at the current point of time, The reference voltage BV can be set in consideration of the degree of deterioration and noise in accordance with the threshold voltage of the display pixel 112 sensed at the current time point by extracting the temperature offset voltage which is the difference voltage of the average value. The reference voltage BV may be calculated through calculation in the reference voltage setting unit 146 at each sensing time, or may be stored in advance in the memory unit 141 in an experimentally determined value. When the reference voltage BV is stored in the memory unit 141, the reference voltage setting unit 146 may be deleted. The reference voltage BV may be determined experimentally by reflecting the size and characteristics of the display device.

판단부(144)에서는 표시 픽셀(112)의 현재 문턱 전압과 이전 시점의 문턱 전압의 차 전압이 기준 전압(BV)보다 작은 값을 가지는 픽셀의 개수가 기준 값을 초과하는지 여부를 기록부(145)에 전달 할 수 있다. 다시 말해 표시 픽셀(112)의 현재 문턱 전압과 이전 시점의 문턱 전압의 차 전압의 절대값이 기준 전압(BV)의 절대값보다 큰 값을 가지는 픽셀의 개수가 기준 값을 초과하는지 여부를 기록부(145)에 전달 할 수 있다.The determination unit 144 determines whether the number of pixels whose difference voltage between the current threshold voltage of the display pixel 112 and the threshold voltage of the previous pixel is less than the reference voltage BV exceeds a reference value, . That is, whether the number of pixels whose absolute value of the difference voltage between the current threshold voltage of the display pixel 112 and the threshold voltage of the previous time is greater than the absolute value of the reference voltage BV exceeds a reference value, 145).

기록부(145)는 상기 판단부(144)로부터 전달 받은 결과를 통해서 현재 센싱 데이터를 메모리부(141)에 기록할 지 여부를 결정할 수 있다. 만약 표시 픽셀(112)의 현재 문턱 전압과 이전 시점의 문턱 전압의 차 전압이 기준 전압(BV)보다 작은 값을 가지는 픽셀의 개수가 기준 값을 초과하는 경우에는 현재 센싱된 센싱 데이터는 버려지게 되고, 그렇지 않은 경우에는 메모리부(141)에 새로운 센싱 데이터가 기록되고 이를 기반으로 하여 열화 보상이 진행될 수 있다.The recording unit 145 may determine whether to write the current sensing data to the memory unit 141 through the result received from the determination unit 144. [ If the number of pixels whose difference voltage between the current threshold voltage of the display pixel 112 and the threshold voltage of the previous time is less than the reference voltage BV exceeds the reference value, the currently sensed sensing data is discarded Otherwise, new sensing data is recorded in the memory unit 141, and deterioration compensation can proceed based on the new sensing data.

한편 상기 기준 전압(BV)은 마이너스의 전압을 가질 수 있고, 표시 픽셀(112)의 현재 문턱 전압과 이전 시점의 문턱 전압의 차 전압 또한 마이너스 전압 값을 가지면서 각각의 절대 값을 비교하였을 때 픽셀의 현재 및 이전의 문턱 전압의 차 전압에 대한 절대 값이 상기 기준 전압(BV)의 절대 값보다 더 큰 경우가 되는 픽셀들의 수가 기준 값을 초과하는지 판단한다. 다시 말하면 표시 픽셀(112)의 현재 문턱 전압과 이전 시점의 문턱 전압의 차 전압이 기준 전압(BV)보다 더 낮은 픽셀들의 수가 기준 값을 초과하는지 판단한다.On the other hand, the reference voltage BV may have a negative voltage. When the absolute value of the difference between the current threshold voltage of the display pixel 112 and the threshold voltage of the previous pixel has a minus voltage value, The absolute value of the absolute value of the difference voltage between the current and previous threshold voltages of the current and previous threshold voltages is greater than the absolute value of the reference voltage BV. In other words, it is determined whether the number of pixels whose difference voltage between the current threshold voltage of the display pixel 112 and the threshold voltage of the previous time is lower than the reference voltage BV exceeds a reference value.

한편 표시 픽셀(112)들 중에서 열화가 진행된 픽셀(A)의 경우에는 문턱 전압이 증가하기 때문에 메모리부(141)에 저장된 이전 시점의 A 영역의 픽셀의 문턱전압과의 차이 전압 값은 커질 수 있다. 다시 말해 A영역 픽셀의 이전 및 현재의 문턱 전압의 차 전압의 절대치는 작아질 수 있다. 그리고 표시 픽셀(112) 내에서 온도가 국부적으로 상승한 픽셀(B)의 문턱 전압은 감소할 수 있다. 이 경우 온도가 국부적으로 상승된 픽셀(B)의 문턱 전압과 메모리부(141)에 저장된 이전 시점의 B 영역의 픽셀의 문턱전압의 차이 전압 값은 작아질 수 있다. 다시 말해 B 영역의 픽셀의 이전 및 현재의 문턱 전압의 차 전압의 절대치는 커질 수 있다. 여기서 온도가 국부적으로 상승된 픽셀(B)의 현재 및 이전 시점의 문턱 전압의 차 전압 값이 기준 전압(BV)보다 낮은 값을 가지고 여기에 해당하는 픽셀 수가 메모리부(141)에 저장된 기준 값 이상이 되는 경우에는 현재 이 표시 장치는 온도 불평형 상태라고 판단하고 이로부터 얻어진 센싱 데이터는 메모리부(141)에 기록되지 않는다. 이 경우 이전에 저장된 센싱 데이터를 유기발광소자의 열화에 따른 특성 변화를 보상하기 위한 기준 데이터로 사용하게 된다. 그러나 픽셀 수가 일정 개수 미만이 되는 경우에는 이로부터 얻어진 센싱 데이터를 메모리부(141)에 기록하고 이를 기반으로 유기발광소자의 열화에 따른 특성 변화를 보상하게 된다.On the other hand, in the case of the pixel A having undergone deterioration in the display pixels 112, since the threshold voltage increases, the difference voltage value with respect to the threshold voltage of the pixel of the A region at the previous time stored in the memory unit 141 can be increased . In other words, the absolute value of the difference voltage between the previous and current threshold voltages of the A region pixel can be made small. And the threshold voltage of the pixel B in which the temperature has locally increased in the display pixel 112 may decrease. In this case, the difference voltage value between the threshold voltage of the pixel B in which the temperature is locally raised and the threshold voltage of the pixel in the B region in the previous time stored in the memory unit 141 can be reduced. In other words, the absolute value of the difference voltage between the previous and present threshold voltages of the pixels of the B region can be increased. Here, the difference voltage value between the current and previous threshold voltages of the pixel B in which the temperature is locally raised is lower than the reference voltage BV and the number of pixels corresponding thereto is equal to or greater than the reference value stored in the memory unit 141 It is determined that the display device is in the temperature unbalance state and the sensing data obtained from this display device is not recorded in the memory unit 141. [ In this case, the previously stored sensing data is used as reference data for compensating for the characteristic change due to deterioration of the organic light emitting diode. However, when the number of pixels is less than a predetermined number, the sensing data obtained from the sensing data is written in the memory unit 141, and the characteristic change due to deterioration of the organic light emitting diode is compensated based on the sensing data.

구체적으로 더미 픽셀(111)의 이전 시점의 문턱 전압에 대한 제1 평균치와 현재 시점의 문턱 전압에 대한 제2 평균치의 차 전압인 온도 오프셋 전압이 -0.3V라고 가정하고 이전 시점에서 모든 표시 픽셀의 온도가 30도이고 이에 따른 문턱 전압이 0.7V라고 하고, 현 재 시점에서의 일부 표시 픽셀(112)의 온도가 40도라고 했을 때의 문턱 전압이 0.4V라고 가정을 한다. 이 경우 현재 시점의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압과 메모리부(141)에 저장된 이전 시점의 동일 영역의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.4V-0.7V=-0.3V가 된다. 그리고 표시 픽셀(111) 중 일부 픽셀인 5개의 픽셀이 현재 열화(A영역의 픽셀)되어 해당 픽셀(A)의 문턱 전압이 상승할 수 있고 그 때의 문턱 전압이 0.6V라고 한다면 이때 열화가 진행된 5개의 픽셀(A)의 문턱 전압과 이전 시점의 동일 영역(A)의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.6V-0.7V=-0.1V가 된다. 그리고 표시장치의 일부 영역의 온도 상승으로 일부 픽셀인 10개의 픽셀(B영역의 픽셀)의 온도가 상승하는 경우 해당 픽셀(B)의 온도가 50도라고 하고 이때의 문턱 전압이 0.1V라고 한다면 온도가 상승된 10개의 픽셀(B)의 문턱 전압과 이전 시점의 해당 동일 영역(B)의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.1V-0.7V=-0.6V가 된다. 그리고 일부 픽셀인 2개의 픽셀(C영역의 픽셀)이 열화가 진행되었을 뿐만 아니라 온도도 함께 상승한 경우에는 열화에 따른 문턱 전압 상승과 온도에 따른 문턱 전압 감소를 모두 고려하여 해당 픽셀(C)의 문턱 전압이 0.2V가 되고 이 경우에는 열화가 진행되고 온도가 상승된 2개의 픽셀(C)의 문턱 전압과 이전 시점의 C 영역의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.2V-0.7V=-0.5V가 된다. 이 때 메모리부(141)에 미리 저장되어 있거나 기준 전압 설정부(146)으로부터 설정된 기준 전압이 -0.55V라고 하고 상기 기준 전압인 -0.55V보다 더 작은 문턱 전압 차이 값을 가지는 픽셀 수가 10개 이상이 되는 경우 해당 표시장치를 온도 불 평형으로 판단한다면 상기 예로든 표시장치에는 온도 불 평형에 해당하는 픽셀이 10개가 됨에도 불구하고 온도 불 평형에 해당하는 픽셀을 8개로 판단한다. 따라서 현재 표시 장치는 온도 불 평형이기 때문에 이로부터 얻어진 센싱 데이터는 버려져야 하지만 열화와 온도 상승에 따른 전압 변동량의 상쇄로 인하여 기준 전압(BV)보다 낮은 전압을 가진 픽셀 수가 8개라고 판단하여 해당 표시장치를 온도 평형으로 판단하여 이로부터 얻어진 데이터를 메모리부(141)에 기록하고 이를 기반으로 휘도 보상 프로세서가 진행될 수 있다.Specifically, it is assumed that the temperature offset voltage, which is the difference between the first average value of the threshold voltage at the previous point of the dummy pixel 111 and the second average value of the threshold voltage at the current point, is -0.3 V, Assume that the temperature is 30 degrees, the threshold voltage is 0.7 V, and the threshold voltage is 0.4 V when the temperature of some display pixels 112 at present is 40 degrees. In this case, the difference between the threshold voltage of the display pixel 112 at the current time and the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area at the previous time stored in the memory unit 141 is Va-Vb = 0.4V-0.7V = -0.3 V. If the threshold voltage of the corresponding pixel A is 0.6 V and five pixels which are some pixels of the display pixel 111 are presently deteriorated (pixels of the A region) The difference between the threshold voltage of the five pixels A and the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area A at the previous time is Va-Vb = 0.6V-0.7V = -0.1V. When the temperature of the pixel (B region) is raised to 50 degrees and the threshold voltage at this time is 0.1 V, the temperature of the pixel The difference between the threshold voltage of the eleven pixels B and the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area B at the previous time is Va-Vb = 0.1V-0.7V = -0.6V. In addition, in the case where two pixels (pixels in the C region), which are some pixels, are not only deteriorated but also increased in temperature, the threshold voltage of the corresponding pixel (C) The difference between the threshold voltage of the two pixels C in which the voltage becomes 0.2 V and in which the deterioration progresses and the temperature is raised and the threshold voltage of the display pixel 112 of the C region of the previous time is Va-Vb = 0.2 V -0.7V = -0.5V. At this time, when the reference voltage set in advance in the memory unit 141 or set by the reference voltage setting unit 146 is -0.55 V and the number of pixels having a threshold voltage difference value smaller than the reference voltage of -0.55 V is 10 or more , If it is determined that the display device is temperature unbalanced, it is determined that the number of pixels corresponding to temperature unbalance is eight, although the number of pixels corresponding to temperature unbalance is ten in the exemplary display device. Therefore, since the current display device is temperature unbalanced, the sensing data obtained therefrom should be discarded, but it is determined that the number of pixels having a voltage lower than the reference voltage (BV) is 8 due to the deterioration of the voltage variation due to deterioration and temperature rise, The apparatus is judged as temperature equilibrium, the data obtained from the equilibrium is recorded in the memory unit 141, and the luminance compensation processor can proceed based on the data.

도 11은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 센싱 기록부의 블록도를 나타낸 도면이다.11 is a block diagram of a sensing recording unit of an OLED display according to a second embodiment of the present invention.

도 11을 참조하여 본 발명의 제1 실시예보다 정밀한 센싱 데이터를 확보하는 제2 실시예에 대해서 설명한다.A second embodiment for securing more accurate sensing data than the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.

도 11을 참조하면, 유기발광소자 표시장치(100)의 센싱 기록부(1400)는 메모리부(1410), 센싱부(1420), 필터부(1430), 제1 및 제2 판단부(1440,1470), 제1 및 제2 기준 전압 설정부(1460, 1461) 및 기록부(1450) 내에 포함된 각 센싱 라인(SL)에 해당하는 유기발광소자의 구동 트랜지스터의 문턱 전압을 센싱부(1420)에서 센싱하고 센싱된 데이터를 필터부(1430)에서 중간값 필터링을 통해 노이즈를 제거한 데이터를 얻을 수 있고 노이즈가 제거된 센싱 데이터는 메모리부(1410)에 저장될 수 있다. 상기 제1 및 제2 기준 전압 설정부(1461, 1460)는 하나의 기준 전압 설정부로 구성될 수 있고 도면에서와 같이 별도의 구성이 될 수 있다.11, the sensing and writing unit 1400 of the OLED display 100 includes a memory unit 1410, a sensing unit 1420, a filter unit 1430, first and second determination units 1440 and 1470 The threshold voltage of the driving transistor of the organic light emitting element corresponding to each sensing line SL included in the first and second reference voltage setting sections 1460 and 1461 and the writing section 1450 is sensed by the sensing section 1420 The sensed data may be filtered by the filter unit 1430 to remove noise, and the noise-removed sensing data may be stored in the memory unit 1410. The first and second reference voltage setting units 1461 and 1460 may be configured as one reference voltage setting unit and may have a separate configuration as shown in the drawing.

제1 기준 전압 설정부(1461)에서는 메모리부(1410)에 이미 저장되어 있던 이전 시점의 더미 픽셀(111)의 문턱 전압에 대한 제1 평균값과 현재 시점의 더미 픽셀(111)의 문턱 전압에 대한 제2 평균값의 차 전압인 온도 오프셋 전압을 추출하고, 현재 시점에서 센싱된 표시 픽셀(112)의 문턱 전압에 따른 열화 정도와 노이즈를 고려하여 제1 기준 전압(BV1)을 설정할 수 있다. 상기 제1 기준 전압(BV1)은 센싱 시점마다 연산을 통하여 설정되거나, 실험적으로 결정된 값이 메모리부(1410)에 미리 저장되어 있을 수 있다. 제1 기준 전압(BV1)이 메모리부(1410)에 저장되어 있는 경우에는 상기 제1 기준 전압 설정부(1461)는 삭제될 수 있고, 이 경우 상기 제1 기준 전압(BV1)은 표시 장치의 사이즈나 특성 등을 반영하여 실험적으로 결정될 수 있다.The first reference voltage setting unit 1461 sets the first reference voltage value for the threshold voltage of the dummy pixel 111 at the previous time and the threshold voltage of the dummy pixel 111 at the current time, The first reference voltage BV1 can be set in consideration of the degree of deterioration and noise in accordance with the threshold voltage of the display pixel 112 sensed at the current time point by extracting the temperature offset voltage which is the difference voltage between the second average value. The first reference voltage BV1 may be set by calculation at each sensing time, or an experimentally determined value may be stored in the memory unit 1410 in advance. When the first reference voltage BV1 is stored in the memory unit 1410, the first reference voltage setting unit 1461 may be erased. In this case, the first reference voltage BV1 may be the size of the display device And can be empirically determined in consideration of the characteristics and the like.

제1 판단부(1440)에서는 상기 필터부(1430)를 통과한 센싱 데이터와 메모리부(1410)에 저장되어 있는 이전 시점에서 센싱된 센싱 데이터와의 차이 전압과 메모리부(1410)에 저장된 온도 오프셋 전압을 비교 판단할 수 있다. 상기 온도 오프셋 전압은 메모리부(141)에 저장되어 있는 이전 더미 픽셀(111)의 문턱 전압의 평균값과 현재 더미 픽셀(111)의 문턱 전압의 평균값의 차이 값에 해당할 수 있다. 제1 판단부(1440)에서는 이전 및 현재 시점에서의 센싱 데이터의 문턱 전압의 차이값(이하, 표시 픽셀의 문턱 전압차라 한다)과 상기 온도 오프셋 전압을 비교하여 표시 픽셀의 문턱 전압차이 값이 상기 온도 오프셋 전압보다 낮은 값, 다시 말해 표시 픽셀의 문턱 전압차이 값의 절대 값이 상기 오프셋 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀 수가 제1 기준 값을 초과하는지 판단한다. The first decision unit 1440 compares the difference between the sensing data passed through the filter unit 1430 and the sensing data sensed at the previous time stored in the memory unit 1410 and the difference between the temperature offset The voltage can be compared and judged. The temperature offset voltage may correspond to a difference between an average value of the threshold voltages of the previous dummy pixel 111 and an average value of the threshold voltages of the current dummy pixel 111 stored in the memory unit 141. The first determination unit 1440 compares the threshold voltage difference (hereinafter, referred to as a threshold voltage of the display pixel) of the sensing data at the previous and current points with the temperature offset voltage, It is determined whether the number of pixels corresponding to a value lower than the temperature offset voltage, that is, when the absolute value of the threshold voltage difference value of the display pixel is larger than the absolute value of the offset voltage, exceeds the first reference value.

제2 기준 전압 설정부(1460)에서는 상기 제1 판단부(1440)에서 판단한 결과를 근거로 온도 불평형 제2 기준 전압(BV2)을 설정한다. 그리고 제2 판단부(1470)에서는 상기 제1 기준 전압 설정부(1461)에서 설정되거나 메모리부(1410)에 미리 저장되어 있던 온도 불평형 제1 기준 전압(BV1) 또는 제2 기준 전압 설정부(1460)에서 설정된 온도 불평형 제2 기준 전압 값(BV2)을 바탕으로 상기 온도 불평형 제1 기준 전압(BV1) 또는 상기 온도 불평형 제2 기준 전압(BV2)보다 낮은 전압을 가지는 픽셀이 몇 개가 되는지 판단하여 일정 개수를 초과하지 않는 경우만 상기 센싱부(1420)로부터 얻은 센싱 데이터를 메모리부(1410)에 기록하게 되고 상기 메모리부(1410)에 새롭게 기록된 데이터를 기반으로 휘도 보상 프로세서가 진행된다. The second reference voltage setting unit 1460 sets a temperature unbalanced second reference voltage BV2 based on the determination result of the first determination unit 1440. [ The second determination unit 1470 compares the first reference voltage BV1 set by the first reference voltage setting unit 1461 or the temperature unbalanced first reference voltage BV1 stored in advance in the memory unit 1410 or the second reference voltage setting unit 1460 (BV1) or the temperature unbalanced second reference voltage (BV2) on the basis of the temperature unbalanced second reference voltage value (BV2) Only the sensing data obtained from the sensing unit 1420 is written to the memory unit 1410 and the luminance compensation processor proceeds based on the data newly written in the memory unit 1410. [

상기 제2 기준 전압 설정부(1460)에 대해서 구체적으로 살펴보면 만약 제1 판단부(1440)에서 표시 픽셀의 문턱 전압차이 값이 온도 오프셋 전압보다 낮은 픽셀들이 제1 기준값을 초과하지 않는다고 판단한 결과를 상기 제2 기준 전압 설정부(1460)가 인가 받은 경우에는 제2 기준 전압 값(BV2)을 설정하지 않고 다음 단계인 제2 판단부(1470)에서는 제1 기준 전압(BV1)을 이용한다. 이 경우 메모리부(1410)에 미리 저장된 제1 기준 전압 값(BV1)을 읽어드려 제2 판단부(1470)에 제공하거나 상기 제2 판단부(1470)가 직접 상기 메모리부(1410)에 저장된 제1 기준 전압 값(BV1)을 읽어 드릴 수 있다. Specifically, if the first determination unit 1440 determines that the threshold voltage difference of the display pixels does not exceed the first reference value, The second determination unit 1470 does not set the second reference voltage BV2 when the second reference voltage setting unit 1460 is applied and uses the first reference voltage BV1. In this case, the first reference voltage BV1 stored in the memory 1410 may be read and provided to the second determiner 1470, or the second determiner 1470 may directly read the first reference voltage BV1 stored in the memory 1410, 1 reference voltage value (BV1).

만약 제2 기준 전압 설정부(1460)에서 한편 상기 제1 판단부(1440)에서 표시 픽셀의 문턱 전압차이 값이 온도 오프셋 전압보다 낮은 픽셀들이 제1 기준값을 초과한다고 판단한 결과를 상기 기준 전압 설정부(1460)가 인가받은 경우에는 제2 기준 전압 값(BV2)을 설정할 수 있다. If it is determined in the second reference voltage setting unit 1460 that the threshold voltage difference value of the display pixel in the first determination unit 1440 exceeds the first reference value, The second reference voltage value BV2 can be set.

상기 제2 기준 전압 값(BV2) 하기와 같은 수학식에 의하여 결정될 수 있다.The second reference voltage value BV2 may be determined by the following equation.

(수학식)(Equation)

Figure 112013041342125-pat00004
Figure 112013041342125-pat00004

상기 수식을 구체적으로 살펴보면, 표시 픽셀 중에서 최대 문턱 전압 값과 온도 오프셋 전압의 차 전압의 절대 값을 제1 기준 전압에 더한 값을 제2 기준 전압으로 정한다.Specifically, the second reference voltage is a value obtained by adding the absolute value of the difference voltage between the maximum threshold voltage value and the temperature offset voltage to the first reference voltage among the display pixels.

도 12는 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 나타낸 도면이다.12 is a diagram illustrating a process of obtaining sensing data based on a threshold voltage value of all pixels of a display device and recording the sensed data in order to compensate for a deterioration region of the organic light emitting diode display device according to the second embodiment of the present invention.

도 12를 참조하여 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압(Vth)값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 설명한다.Referring to FIG. 12, description will be made of a process of obtaining sensing data based on a threshold voltage (Vth) value of all the pixels of the display device and recording the same, in order to compensate the deterioration region of the organic light emitting diode display device according to the second embodiment of the present invention. do.

도 11 및 12를참조하면, 더미 픽셀(111)의 이전 시점의 문턱 전압에 대한 제1 평균치와 현재 시점의 문턱 전압에 대한 제2 평균치의 차 전압인 온도 오프셋 전압이 -0.3V라고 가정하고 이전 시점에서 모든 표시 픽셀의 온도가 30도이고 이에 따른 문턱 전압이 0.7V라고 하고, 현 재 시점에서의 일부 표시 픽셀(112)의 온도가 40도라고 했을 때의 문턱 전압이 0.4V라고 가정을 한다. 이 경우 현재 시점의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압과 메모리부(141)에 저장된 이전 시점의 동일 영역의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.4V-0.7V=-0.3V가 된다. 그리고 표시 픽셀(111) 중 일부 픽셀인 5개의 픽셀이 현재 열화(A영역의 픽셀)되어 해당 픽셀(A)의 문턱 전압이 상승할 수 있고 그 때의 문턱 전압이 0.6V라고 한다면 이때 열화가 진행된 5개의 픽셀(A)의 문턱 전압과 이전 시점의 동일 영역(A)의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.6V-0.7V=-0.1V가 된다. 그리고 표시장치의 일부 영역의 온도 상승으로 일부 픽셀인 10개의 픽셀(B영역의 픽셀)의 온도가 상승하는 경우 해당 픽셀(B)의 온도가 50도라고 하고 이때의 문턱 전압이 0.1V라고 한다면 온도가 상승된 10개의 픽셀(B)의 문턱 전압과 이전 시점의 해당 동일 영역(B)의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.1V-0.7V=-0.6V가 된다. 그리고 일부 픽셀인 2개의 픽셀(C영역의 픽셀)이 열화가 진행되었을 뿐만 아니라 온도도 함께 상승한 경우에는 열화에 따른 문턱 전압 상승과 온도에 따른 문턱 전압 감소를 모두 고려하여 해당 픽셀(C)의 문턱 전압이 0.2V가 되고 이 경우에는 열화가 진행되고 온도가 상승된 2개의 픽셀(C)의 문턱 전압과 이전 시점의 C 영역의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.2V-0.7V=-0.5V가 된다. 11 and 12, it is assumed that the temperature offset voltage, which is the difference between the first average value of the threshold voltage of the dummy pixel 111 at the previous time and the second average value of the threshold voltage at the current time, is -0.3 V, It is assumed that the temperature of all the display pixels at the time point is 30 degrees, the threshold voltage thereof is 0.7 V, and the threshold voltage when the temperature of some display pixels 112 at present is 40 degrees. In this case, the difference between the threshold voltage of the display pixel 112 at the current time and the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area at the previous time stored in the memory unit 141 is Va-Vb = 0.4V-0.7V = -0.3 V. If the threshold voltage of the corresponding pixel A is 0.6 V and five pixels which are some pixels of the display pixel 111 are presently deteriorated (pixels of the A region) The difference between the threshold voltage of the five pixels A and the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area A at the previous time is Va-Vb = 0.6V-0.7V = -0.1V. When the temperature of the pixel (B region) is raised to 50 degrees and the threshold voltage at this time is 0.1 V, the temperature of the pixel The difference between the threshold voltage of the eleven pixels B and the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area B at the previous time is Va-Vb = 0.1V-0.7V = -0.6V. In addition, in the case where two pixels (pixels in the C region), which are some pixels, are not only deteriorated but also increased in temperature, the threshold voltage of the corresponding pixel (C) The difference between the threshold voltage of the two pixels C in which the voltage becomes 0.2 V and in which the deterioration progresses and the temperature is raised and the threshold voltage of the display pixel 112 of the C region of the previous time is Va-Vb = 0.2 V -0.7V = -0.5V.

제1 판단부(1440)에서는 메모리부(1410)에 저장되어 있는 온도 오프셋 전압(-0.3V) 보다 낮은 값을 가지는 표시 픽셀(112)의 수가 제1 기준 값, 예로써 5개 이상인지 판단을 한다. 상기 예에서 온도 오프셋 전압(-0.3V) 보다 낮은 값을 가지는 표시 픽셀(112)의 수가 10개가 되고 그 결과를 기준 전압 설정부(1460)에 제공한다. The first determination unit 1440 determines whether the number of the display pixels 112 having a value lower than the temperature offset voltage (-0.3V) stored in the memory unit 1410 is equal to or greater than a first reference value, for example, five do. In this example, the number of display pixels 112 having a value lower than the temperature offset voltage (-0.3V) is 10, and the result is provided to the reference voltage setting unit 1460.

만약 제1 판단부(1440)에서 판단한 결과로써 온도 오프셋 전압 보다 낮은 값을 가지는 표시 픽셀(112)의 수가 5개 미만이라는 결과를 제2 기준 전압 설정부(1460)에 제공하였다고 가정해본다. 이 경우 제2 기준 전압 설정부(1460)는 제2 기준 전압(BV2)를 설정하지 않고 이 결과를 제2 판단부(1470)에 제공한다. 제2 판단부(1470)는 제1 기준 전압 설정부(1461)으로부터 설정된 제1 기준 전압(BV1)을 읽어드리거나 메모리부(1410)에 미리 저장되어 있는 제1 기준 전압(BV1)을 읽어 드려 제2 판단을 수행한다.It is assumed that the second reference voltage setting unit 1460 provides a result that the number of display pixels 112 having a value lower than the temperature offset voltage is less than five as a result of the first determination unit 1440. [ In this case, the second reference voltage setting unit 1460 does not set the second reference voltage BV2 and provides the result to the second determining unit 1470. [ The second determination unit 1470 reads the first reference voltage BV1 read from the first reference voltage setting unit 1461 or reads the first reference voltage BV1 stored in advance in the memory unit 1410 And performs a second determination.

그러나 위에서 예를 든 바와 같이 상기 제1 판단부(1440)에서 판단한 결과로써 온도 오프셋 전압(-0.3V) 보다 낮은 값을 가지는 표시 픽셀(112)의 수가 5개 이상이 되므로 이러한 결과를 제2 기준 전압 설정부(1460)에 제공할 것이고, 이 경우 상기 제2 기준 전압 설정부(1460)는 최대 문턱 전압인 -0.1V에서 온도 오프셋 전압인 -0.3V를 차분한 값의 절대 값, 즉 -0.3V-(-0.1V)=-0.2V의 절대치인 0.2V를 보상 전압(CV; Compensation voltage)으로 정의하고 상기 보상 전압(CV)을 제1 기준 전압(BV1)에 합한다. 예를 들어 제1 기준 전압 설정부(1461)에 구성 없이 메모리부(141)에 미리 저장되어 있거나 제1 기준 전압 설정부(1461)에서 설정된 제1 기준 전압이 -0.55V라고 한다면 -0.55V에 상기 보상 전압(CV)을 합하여, 즉 -0.55+0.2=-0.35V값을 제2 온도 불평형 기준 전압(BV2)으로 설정하고 이를 제2 판단부(1470)로 제공한다.However, since the number of display pixels 112 having a value lower than the temperature offset voltage (-0.3V) is 5 or more as a result of the determination by the first determination unit 1440 as described above, In this case, the second reference voltage setting unit 1460 sets the temperature offset voltage of -0.3V at the maximum threshold voltage of -0.1V to the absolute value of the subtracted value, that is, -0.3V - 0.2V which is the absolute value of - (- 0.1V) = - 0.2V is defined as a compensation voltage (CV) and the compensation voltage CV is added to the first reference voltage BV1. For example, if the first reference voltage set in the first reference voltage setting unit 1461 is stored in the memory unit 141 without the configuration or if the first reference voltage set in the first reference voltage setting unit 1461 is -0.55V, And sets the value of -0.55 + 0.2 = -0.35V to the second temperature unbalance reference voltage BV2, and provides the second temperature unbalance reference voltage BV2 to the second determination unit 1470. [

제2 판단부(1470)에서는 상기 제2 기준 전압 설정부(1460)에서 설정된 제2 기준 전압(BV2)을 초과하는 픽셀의 수가 10개 이상인지 미만인지 판단하여 기록부(1450)에 그 결과를 제공한다. 상기 예에서는 제2 기준 전압(BV2)인 -0.35V 이하의 전압을 가지는 픽셀 수가 10개가 되므로 현재 표시 장치는 온도 불평형 상태로 판단하고 이 결과를 상기 기록부(1450)에 제공한다.The second determination unit 1470 determines whether the number of pixels exceeding the second reference voltage BV2 set by the second reference voltage setting unit 1460 is greater than or equal to 10 and supplies the result to the recording unit 1450 do. In this example, since the number of pixels having a voltage of -0.35 V or less, which is the second reference voltage BV2, becomes 10, the present display device determines that the temperature is unbalanced and provides the result to the recording unit 1450.

기록부(1450)에서는 상기 제2 판단부(1470)로부터 제2 온도 불평형 기준 전압(BV2)을 초과하는 픽셀의 수가 10개 이상이라는 결과를 제공 받았으므로 센싱부(1420)에서 센싱한 센싱 데이터를 메모리부(1410)에 기록하지 않고, 상기 메모리부(1410)에 저장된 기존 센싱 데이터를 기준으로 휘도 보상이 진행된다. 만약 10개 미만이라는 결과를 제공받은 경우에는 현재 센싱한 센싱 데이터를 메모리부(1410)에 기록한다. Since the recording unit 1450 receives the result that the number of pixels exceeding the second temperature unbalance reference voltage BV2 is more than 10 from the second determination unit 1470, the sensing unit 1420 outputs the sensed data sensed by the sensing unit 1420, The brightness compensation is performed based on the existing sensing data stored in the memory unit 1410 without writing the data in the memory unit 1410. If the result is less than 10, the sensing data currently sensed is stored in the memory unit 1410.

한편 상기 제1 및 제2 판단부(1440, 1470)에서 판단 기준인 픽셀의 수는 측정 대상인 표시 장치의 사이즈 등의 제품 자체의 품질에 따라서 달라질 수 있고, 측정의 정밀도에 따라서 달라질 수 있으므로 이에 한정되는 것은 아니다.On the other hand, the number of pixels, which are judgment criteria in the first and second determination units 1440 and 1470, may vary according to the quality of the product itself such as the size of the display device to be measured, It is not.

도 13은 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 나타낸 도면이다.13 is a view illustrating a process of obtaining sensing data based on a threshold voltage value of all pixels of a display device and recording the deteriorated area of the display device according to the second embodiment of the present invention.

도 13을 참조하여 본 발명의 제2 실시예에 따른 유기발광소자 표시장치의 열화 영역을 보상하기 위해 표시 장치의 모든 픽셀의 문턱 전압(Vth)값을 토대로 센싱 데이터를 얻고 이를 기록하는 과정을 설명한다.Referring to FIG. 13, description will be made of a process of obtaining sensing data based on a threshold voltage (Vth) value of all pixels of a display device and recording the deteriorated area of the OLED display device according to the second embodiment of the present invention do.

도 11 및 도 13를 참조하면, 더미 픽셀(111)의 이전 시점의 문턱 전압에 대한 제1 평균치와 현재 시점의 문턱 전압에 대한 제2 평균치의 차 전압인 온도 오프셋 전압이 -0.3V라고 가정하고 이전 시점에서 모든 표시 픽셀의 온도가 30도이고 이에 따른 문턱 전압이 0.7V라고 하고, 현 재 시점에서의 일부 영역(F 영역)의 표시 픽셀(112)의 온도가 40도라고 했을 때의 문턱 전압이 0.4V라고 가정을 한다. 이 경우 현재 시점의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압과 메모리부(141)에 저장된 이전 시점의 동일 영역의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.4V-0.7V=-0.3V가 된다. 그리고 표시 픽셀(111) 중 일부 픽셀인 5개의 픽셀이 현재 열화(A영역의 픽셀)되어 해당 픽셀(A)의 문턱 전압이 상승할 수 있고 그 때의 문턱 전압이 0.6V라고 한다면 이때 열화가 진행된 5개의 픽셀(A)의 문턱 전압과 이전 시점의 동일 영역(A)의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.6V-0.7V=-0.1V가 된다. 그리고 표시장치의 일부 영역(B 영역)의 온도 상승으로 일부 픽셀인 10개의 픽셀(B영역의 픽셀)의 온도가 상승하는 경우 해당 픽셀(B)의 온도가 50도라고 하고 이때의 문턱 전압이 0.1V라고 한다면 온도가 상승된 10개의 픽셀(B)의 문턱 전압과 이전 시점의 해당 동일 영역(B)의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.1V-0.7V=-0.6V가 된다. 그리고 상기 B 영역 중에서 일부 영역(C)의 5개의 픽셀은 온도가 더 많이 상승하여 60도가 된다고 하였을 때 이때의 문턱 전압이 0.05(V)라고 하면 온도가 상승된 5개의 픽셀(C)의 문턱 전압과 이전 시점의 해당 동일 영역(C)의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.05V-0.7V=-0.65V가 된다. 그리고 D 영역에 해당하는 픽셀 수가 3개이고 이들 픽셀(D)은 열화와 온도 상승이 동시에 진행된 픽셀(D)로써, 이들 픽셀(D)이 가지는 문턱 전압을 0.2V라고 하면 D영역의 픽셀의 문턱 전압과 이전 시점의 해당 동일 영역(D)의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.2V-0.7V=-0.5V가 된다. 그리고 E 영역에 해당하는 픽셀 수가 2개이고 이들 픽셀(E)은 열화와 온도 상승이 동시에 진행된 픽셀(E)로써, 이들 픽셀(E)이 가지는 문턱 전압을 0.17V라고 하면 E영역의 픽셀의 문턱 전압과 이전 시점의 해당 동일 영역(E)의 표시 픽셀(112)의 문턱 전압의 차는 즉 Va-Vb=0.17V-0.7V=-0.53V가 된다.11 and 13, it is assumed that the temperature offset voltage, which is the difference between the first average value of the threshold voltage of the dummy pixel 111 at the previous time point and the second average value of the threshold voltage at the current point of time, is -0.3 V The threshold voltage when the temperature of all the display pixels at the previous time is 30 degrees and the corresponding threshold voltage is 0.7 V and the temperature of the display pixel 112 of the partial area (F region) at the present time is 40 degrees 0.4V. In this case, the difference between the threshold voltage of the display pixel 112 at the current time and the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area at the previous time stored in the memory unit 141 is Va-Vb = 0.4V-0.7V = -0.3 V. If the threshold voltage of the corresponding pixel A is 0.6 V and five pixels which are some pixels of the display pixel 111 are presently deteriorated (pixels of the A region) The difference between the threshold voltage of the five pixels A and the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area A at the previous time is Va-Vb = 0.6V-0.7V = -0.1V. When the temperature of 10 pixels (pixels in the B region), which is a part of pixels, rises due to the temperature rise of a certain region (region B) of the display device, the temperature of the pixel B is 50 degrees, and the threshold voltage at this time is 0.1 V The difference between the threshold voltage of the ten pixels B whose temperature has been raised and the threshold voltage of the display pixel 112 of the corresponding same area B at the previous time is Va-Vb = 0.1V-0.7V = -0.6V . Assuming that five pixels in a certain region C of the B region have a temperature rising to 60 degrees, when the threshold voltage is 0.05 (V), the threshold voltages of five pixels C And the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area C at the previous point of time is Va-Vb = 0.05V-0.7V = -0.65V. The number of pixels corresponding to the D region is 3, and the pixel D is a pixel D in which deterioration and temperature elevation are simultaneously performed. Assuming that the threshold voltage of these pixels D is 0.2 V, And the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area D at the previous point of time is Va-Vb = 0.2V-0.7V = -0.5V. Assuming that the number of pixels corresponding to the E region is 2 and the number of pixels E is degraded and the temperature rises simultaneously, if the threshold voltage of these pixels E is 0.17V, the threshold voltage And the threshold voltage of the display pixel 112 of the same area E at the previous point of time is Va-Vb = 0.17V-0.7V = -0.53V.

제1 판단부(1440)에서는 온도 오프셋 전압(-0.3V) 보다 낮은 값을 가지는 표시 픽셀(112)의 수가 5 이상인지 판단을 한다. 상기 예에서 온도 오프셋 전압(-0.3V) 보다 낮은 값을 가지는 표시 픽셀(112)의 수가 5개가 되고 그 결과를 제2 기준 전압 설정부(1460)에 제공한다. The first determination unit 1440 determines whether the number of the display pixels 112 having a value lower than the temperature offset voltage (-0.3V) is 5 or more. In this example, the number of display pixels 112 having a value lower than the temperature offset voltage (-0.3V) is 5, and the result is provided to the second reference voltage setting unit 1460.

만약 제1 판단부(1440)에서 판단한 결과로써 온도 오프셋 전압 보다 낮은 값을 가지는 표시 픽셀(112)의 수가 5개 미만라는 결과를 제2 기준 전압 설정부(1460)에 제공하였다고 가정해본다. 이 경우 상기 제2 기준 전압 설정부(1460)는 제2 기준 전압(BV2)를 설정하지 않고 제2 판단부(1470)는 제1 기준 전압 설정부(1461)에서 설정되거나 메모리부(1410)에 미리 저장된 제1 기준 전압(BV1)인 -0.55V를 읽어 드린다. 그러나 위에서 예를 든 바와 같이 상기 제1 판단부(1440)에서 판단한 결과로써 온도 오프셋 전압(-0.3V) 보다 낮은 값을 가지는 표시 픽셀(112)의 수가 5개 이상이 되므로 이러한 결과를 제2 기준 전압 설정부(1460)에 제공할 것이고, 이 경우 제2 상기 기준 전압 설정부(1460)는 상기 온도 오프셋 전압인 -0.3V에서 상기 최대 문턱 전압인 -0.1V를 차분한 값의 절대 값, 즉 -0.3V-(-0.1V)=-0.2V의 절대치인 0.2V를 보상 전압(CV; Compensation voltage)으로 정의하고 상기 보상 전압(CV)을 상기 제1 기준 전압 설정부(1461)에서 설정되거나 미리 메모리부(1410)에 저장된 제1 기준 전압(BV1)인 -0.55V에 합하여, 즉 -0.55+0.2=-0.35V값을 제2 온도 불평형 기준 전압(BV2)으로 설정하고 이를 제2 판단부(1470)로 제공한다.It is assumed that the second reference voltage setting unit 1460 provides a result that the number of the display pixels 112 having a value lower than the temperature offset voltage is less than five as a result of the first determination unit 1440. In this case, the second reference voltage setting unit 1460 does not set the second reference voltage BV2, and the second determining unit 1470 sets the second reference voltage BV2 in the first reference voltage setting unit 1461 or in the memory unit 1410 And reads -0.55V which is the first reference voltage BV1 stored in advance. However, since the number of display pixels 112 having a value lower than the temperature offset voltage (-0.3V) is 5 or more as a result of the determination by the first determination unit 1440 as described above, In this case, the second reference voltage setting unit 1460 sets the maximum threshold voltage -0.1V at the temperature offset voltage of -0.3V to the absolute value of the subtracted value, that is, The absolute value of 0.3V - (- 0.1V) = - 0.2V is defined as a compensation voltage (CV) and the compensation voltage CV is set in the first reference voltage setting section 1461 The value of -0.55 + 0.2 = -0.35V is set to the second temperature unbalance reference voltage BV2, which is the sum of the first reference voltage BV1 stored in the memory 1410 and -0.55V, 1470).

제2 판단부(1470)에서는 상기 제2 기준 전압 설정부(1460)에서 설정된 제2 기준 전압(BV2)을 초과하는 픽셀의 수가 10개 이상인지 미만인지 판단하여 기록부(1450)에 그 결과를 제공한다. 상기 예에서는 제2 기준 전압(BV2)인 -0.35V 이하의 전압을 가지는 픽셀 수가 10개가 되므로 현재 표시 장치는 온도 불평형 상태로 판단하고 이 결과를 상기 기록부(1450)에 제공한다.The second determination unit 1470 determines whether the number of pixels exceeding the second reference voltage BV2 set by the second reference voltage setting unit 1460 is greater than or equal to 10 and supplies the result to the recording unit 1450 do. In this example, since the number of pixels having a voltage of -0.35 V or less, which is the second reference voltage BV2, becomes 10, the present display device determines that the temperature is unbalanced and provides the result to the recording unit 1450.

기록부(1450)에서는 상기 제2 판단부(1470)로부터 제2 (온도 불평형) 기준 전압(BV2)을 초과하는 픽셀의 수가 10개 이상이라는 결과를 제공 받았으므로 센싱부(1420)에서 센싱한 센싱 데이터를 메모리부(1410)에 기록하지 않고, 상기 메모리부(1410)에 저장된 기존 센싱 데이터를 기준으로 휘도 보상이 진행된다. 만약 10개 미만이라는 결과를 제공받은 경우에는 현재 센싱한 센싱 데이터를 메모리부(1410)에 기록한다.The recording unit 1450 receives the result that the number of pixels exceeding the second (temperature unbalanced) reference voltage BV2 is more than 10 from the second determination unit 1470. Therefore, the sensing unit 1420 The luminance compensation is performed on the basis of the existing sensing data stored in the memory unit 1410 without recording the luminance data in the memory unit 1410. [ If the result is less than 10, the sensing data currently sensed is stored in the memory unit 1410.

이와 같이 본 발명의 제2 실시예는 온도 변화에 민감한 문턱 전압의 특성을 반영하여 패널 전면의 온도 평형을 먼저 이루어 센싱 데이터를 얻고 이를 통해서 휘도를 보상하는 프로세서를 진행함으로써 표시 장치의 열화 보상 능력을 향상 시킬 수 있다.As described above, according to the second embodiment of the present invention, the temperature compensation of the front panel is performed first by reflecting the characteristic of the threshold voltage sensitive to the temperature change, and the processor for compensating the brightness through the sensing data is obtained. Can be improved.

이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술분야에 통상의 지식을 갖는 자라면 후술할 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of limitation, It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification, but should be defined by the claims.

100. 표시장치
110. 표시 패널
111. 더미 픽셀
112. 표시 픽셀
120. 게이트 드라이버
130. 데이터 드라이버
140. 센싱 기록부
141. 메모리부
142. 센싱부
143. 필터부
144. 판단부
145. 기록부
146. 기준 전압 설정부
150. 타이밍 컨트롤러
1410. 메모리부
1420. 센싱부
1430. 필터부
1440. 제1 판단부
1450. 기록부
1460. 제2 기준 전압 설정부
1461. 제1 기준 전압 설정부100. Display device
110. Display panel
111. Dummy pixel
112. Display pixel
120. Gate driver
130. The data driver
140. The sensing record
141. The memory unit
142. Sensing unit
143. Filter section
144. Judgment section
145. Register
146. Reference voltage setting section
150. Timing controller
1410. Memory section
1420. Sensing unit
1430. Filter section
1440. The first determination unit
1450. Register
1460. The second reference voltage setting unit
1461. The first reference voltage setting unit

Claims (14)

더미 픽셀(Pixel) 및 표시 픽셀을 포함하는 표시 패널 및
상기 더미 및 표시 픽셀을 센싱(Sensing)하여 상기 더미 및 표시 픽셀의 문턱 전압인 센싱 데이터를 각각 추출하는 센싱부;
상기 추출된 센싱 데이터를 저장하는 메모리부;
제1 시점에서 측정한 상기 더미 픽셀의 문턱 전압과 제2 시점에서 측정한 상기 더미 픽셀의 문턱 전압의 차인 온도 오프셋(Offset) 전압의 절대치와, 상기 제1 시점에서 측정한 상기 표시 픽셀의 문턱 전압과 상기 제2 시점에서 측정한 상기 표시 픽셀의 문턱 전압의 차인 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 비교하여, 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치가 상기 온도 오프셋 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀 수가 제1 기준 값 이상인지 판단하는 제1 판단부;
상기 제1 판단부의 판단 결과에 따라 기준 전압을 설정하는 기준 전압 설정부;
상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치와 상기 설정된 기준 전압의 절대치를 비교하여, 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치가 상기 기준 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀 수가 제2 기준 값 이상인지 판단하는 제2 판단부; 및
상기 제2 판단부의 판단 결과에 따라 상기 메모리부에 상기 제2 시점에서 센싱한 센싱 데이터를 기록할지 여부를 결정하는 기록부;를 포함하는 유기발광소자 표시장치.A display panel including a dummy pixel (Pixel) and a display pixel and
A sensing unit sensing each of the dummy pixel and the display pixel to extract sensing data, which is a threshold voltage of the dummy pixel and the display pixel, respectively;
A memory unit for storing the extracted sensing data;
The absolute value of a temperature offset voltage which is a difference between a threshold voltage of the dummy pixel measured at the first time point and a threshold voltage of the dummy pixel measured at the second time point, And the absolute value of the difference between the threshold voltage of the display pixel and the absolute value of the threshold voltage of the display pixel measured at the second time point is greater than the absolute value of the temperature offset voltage A first judging unit for judging whether the first reference value is greater than or equal to a first reference value;
A reference voltage setting unit for setting a reference voltage according to the determination result of the first determination unit;
And comparing the absolute value of the display pixel threshold voltage difference with the absolute value of the set reference voltage to determine whether the number of pixels corresponding to the absolute value of the display pixel threshold voltage difference is greater than or equal to a second reference value 2 judgment unit; And
And a recording unit for determining whether to write sensing data sensed at the second time point to the memory unit according to the determination result of the second determination unit. 제1 항에 있어서,
상기 기록부는,
상기 센싱 데이터에 포함된 노이즈를 제거하기 위한 필터부를 더 포함하는 유기발광소자 표시장치.The method according to claim 1,
Wherein,
And a filter unit for removing noise included in the sensing data. 제1 항에 있어서,
센싱되는 문턱 전압은 픽셀에 포함된 구동 트랜지스터 및 유기발광다이오드 중 적어도 어느 하나의 문턱 전압인 유기발광소자 표시장치.The method according to claim 1,
Wherein the threshold voltage to be sensed is a threshold voltage of at least one of a driving transistor and an organic light emitting diode included in the pixel. 제1 항에 있어서,
상기 기준 전압 설정부는,
상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀의 수가 제1 기준 값 미만에 해당하는 경우 상기 메모리부에 저장된 제1 기준 전압을 제2 판단부로 제공하고,
상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀의 수가 제1 기준 값 이상에 해당하는 경우 제2 기준 전압을 설정하여 상기 제2 판단부로 제공하는 유기발광소자 표시장치.The method according to claim 1,
Wherein the reference voltage setting unit includes:
And supplies a first reference voltage stored in the memory unit to a second determination unit when the number of pixels having an absolute value of a display pixel threshold voltage difference that is greater than an absolute value of the temperature offset voltage is less than a first reference value,
And sets a second reference voltage and supplies the second reference voltage to the second determination unit when the number of pixels having an absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage that is larger than the absolute value of the temperature offset voltage is equal to or greater than a first reference value. 제4 항에 있어서,
상기 제2 기준 전압은 하기의 수학식에 의하여 결정되고, 하기의 수학식에서 최대 문턱 전압은 상기 표시 픽셀 문턱 전압차 중에서 가장 큰 값인 유기발광소자 표시장치.
(수학식)
Figure 112013041342125-pat00005
5. The method of claim 4,
Wherein the second reference voltage is determined by the following equation, and the maximum threshold voltage is the largest value among the display pixel threshold voltage differences in the following equation.
(Equation)
Figure 112013041342125-pat00005
 제1 항에 있어서,
상기 기준 전압 설정부는 제1 및 제2 기준 전압 설정부를 포함하고,
상기 제1 기준 전압 설정부는,
상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀의 문턱 전압차의 절대치를 가지는 픽셀의 수가 제1 기준 값 미만에 해당하는 경우 제1 기준 전압을 설정하여 상기 제2 판단부로 제공하고,
상기 제2 기준 전압 설정부는,
상기 온도 오프셋 전압의 절대치 보다 큰 표시 픽셀의 문턱 전압 차의 절대치를 가지는 픽셀의 수가 제1 기준 값 이상에 해당하는 경우 제2 기준 전압을 설정하여 상기 제2 판단부로 제공하는 유기발광소자 표시장치.The method according to claim 1,
Wherein the reference voltage setting unit includes first and second reference voltage setting units,
Wherein the first reference voltage setting unit includes:
And sets the first reference voltage to the second determination unit when the number of pixels having the absolute value of the threshold voltage difference of the display pixel that is larger than the absolute value of the temperature offset voltage is less than the first reference value,
Wherein the second reference voltage setting unit sets,
And sets a second reference voltage to the second determination unit when the number of pixels having an absolute value of a threshold voltage difference of a display pixel that is larger than an absolute value of the temperature offset voltage is equal to or greater than a first reference value. 제6 항에 있어서,
상기 제2 기준 전압은 하기의 수학식에 의하여 결정되고, 하기의 수학식에서 최대 문턱 전압은 상기 표시 픽셀 문턱 전압차 중에서 가장 큰 값인 유기발광소자 표시장치.
(수학식)
Figure 112013041342125-pat00006
The method according to claim 6,
Wherein the second reference voltage is determined by the following equation, and the maximum threshold voltage is the largest value among the display pixel threshold voltage differences in the following equation.
(Equation)
Figure 112013041342125-pat00006
 제4항 또는 5항에 있어서,
상기 제2 판단부는,
상기 제1 및 제2 기준 전압 중 어느 하나의 전압의 절대치보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수가 제2 기준 값 이상인지 미만인지 판단하여 이 결과를 상기 기록부에 제공하는 유기발광소자 표시장치.5. The method according to claim 4 or 5,
The second determination unit may determine,
Wherein the number of display pixels having an absolute value of a threshold voltage difference of a display pixel greater than an absolute value of the first and second reference voltages is greater than or equal to a second reference value, Device display. 제8 항에 있어서,
상기 기록부는,
상기 제1 및 제2 기준 전압 중 어느 하나의 전압의 절대치보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수가 제2 기준 값 미만인 경우에만 상기 제2 시점에서 센싱한 센싱 데이터를 상기 메모리부에 기록하는 유기발광소자 표시장치.9. The method of claim 8,
Wherein,
When the number of display pixels having the absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage greater than the absolute value of any one of the first and second reference voltages is less than a second reference value, In the organic light emitting display device. 제1 시점에서 센싱된 표시 패널의 더미 및 표시 픽셀의 문턱 전압인 센싱 데이터를 저장하는 단계,
제2 시점에서 상기 더미 및 표시 픽셀의 문턱 전압을 센싱하는 단계;
상기 제1 시점에서 측정한 상기 더미 픽셀의 문턱 전압과 제2 시점에서 측정한 상기 더미 픽셀의 문턱 전압의 차인 온도 오프셋 전압의 절대치와, 상기 제1 시점에서 측정한 상기 표시 픽셀의 문턱 전압과 상기 제2 시점에서 측정한 상기 표시 픽셀의 문턱 전압의 차인 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 비교하여, 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치가 상기 온도 오프셋 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀의 수가 제1 기준 값 이상인지 판단하는 단계;
상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치가 상기 온도 오프셋 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀의 수가 상기 제1 기준 값 이상인지 여부에 따라 제1 또는 제2 기준 전압을 설정하는 단계;
상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치와 상기 설정된 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치를 비교하여 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치가 상기 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀의 수가 제2 기준 값 이상인지 판단하는 단계;
상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치가 상기 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀의 수가 상기 제2 기준 값 이상인지 여부에 따라 메모리부에 상기 제2 시점에서 센싱한 센싱 데이터를 기록할지 여부를 결정하는 단계를 포함하는 유기발광소자 표시장치의 구동방법.Storing sensing data which is a threshold voltage of a display pixel and a dummy of a display panel sensed at a first time point,
Sensing a threshold voltage of the dummy and display pixels at a second time point;
The absolute value of a temperature offset voltage, which is a difference between a threshold voltage of the dummy pixel measured at the first time point and a threshold voltage of the dummy pixel measured at the second time point, and a threshold voltage of the display pixel measured at the first time point, The absolute value of the difference of the threshold voltage of the display pixel measured at the second time point is compared with the absolute value of the difference of the threshold voltage of the display pixel to determine the number of pixels corresponding to the absolute value of the threshold voltage difference 1 < / RTI > reference value;
Setting a first or second reference voltage according to whether the number of pixels corresponding to an absolute value of the display pixel threshold voltage difference is greater than an absolute value of the temperature offset voltage or not is equal to or greater than the first reference value;
And comparing the absolute value of the display pixel threshold voltage difference with the absolute value of the first or second reference voltage to determine whether the absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage is greater than the absolute value of the first or second reference voltage Determining whether the number is equal to or greater than a second reference value;
The sensing data being sensed at the second time point according to whether the number of pixels corresponding to the absolute value of the display pixel threshold voltage difference is greater than the absolute value of the first or second reference voltage, The method comprising the steps of: (a) 제10 항에 있어서,
상기 제2 기준 전압은 하기의 수학식에 의하여 결정되고, 하기의 수학식에서 최대 문턱 전압은 상기 표시 픽셀 문턱 전압차 중에서 가장 큰 값인 유기발광소자 표시장치의 구동방법.
(수학식)
Figure 112013041342125-pat00007
11. The method of claim 10,
Wherein the second reference voltage is determined by the following equation, and the maximum threshold voltage is the largest value among the display pixel threshold voltage differences in the following equation.
(Equation)
Figure 112013041342125-pat00007
 제10 항에 있어서,
상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치와 상기 설정된 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치를 비교하여 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치가 상기 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀의 수가 제2 기준 값 이상인지 판단하는 단계에 있어서,
상기 온도 오프셋 전압의 절대치보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가진 표시 픽셀의 수가 상기 제1 기준값 미만인 경우, 상기 제1 기준 전압의 절대치보다 큰 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수를 제2 기준 값과 비교하는 유기발광소자 표시장치의 구동 방법.11. The method of claim 10,
And comparing the absolute value of the display pixel threshold voltage difference with the absolute value of the first or second reference voltage to determine whether the absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage is greater than the absolute value of the first or second reference voltage Determining whether the number is equal to or greater than a second reference value,
The absolute value of the display pixel threshold voltage difference being greater than the absolute value of the temperature offset voltage, when the number of display pixels having the absolute value of the display pixel threshold voltage difference is less than the first reference value, And the second reference value is compared with a second reference value. 제10 항에 있어서,
상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치와 상기 설정된 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치를 비교하여 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치가 상기 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀의 수가 제2 기준 값 이상인지 판단하는 단계에 있어서,
상기 온도 오프셋 전압의 절대치보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가진 표시 픽셀의 수가 상기 제1 기준값 이상인 경우, 상기 제2 기준 전압의 절대치보다 큰 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수를 제2 기준 값과 비교하는 유기발광소자 표시장치의 구동 방법.
11. The method of claim 10,
And comparing the absolute value of the display pixel threshold voltage difference with the absolute value of the first or second reference voltage to determine whether the absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage is greater than the absolute value of the first or second reference voltage Determining whether the number is equal to or greater than a second reference value,
The absolute value of the threshold voltage difference of the display pixel having the absolute value of the display pixel threshold voltage difference larger than the absolute value of the temperature offset voltage is greater than or equal to the first reference value, And the second reference value is compared with a second reference value.
제10 항에 있어서,
상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치와 상기 설정된 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치를 비교하여 상기 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치가 상기 제1 또는 제2 기준 전압의 절대치보다 큰 경우에 해당하는 픽셀의 수가 제2 기준 값 이상인지 판단하는 단계는,
상기 제1 및 제2 기준 전압 중 어느 하나의 전압의 절대치보다 큰 표시 픽셀 문턱 전압차의 절대치를 가지는 표시 픽셀의 수가 제2 기준 값 미만인 경우에만 상기 제2 시점에서 센싱한 센싱 데이터를 상기 메모리부에 기록하는 유기발광소자 표시장치의 구동 방법.11. The method of claim 10,
And comparing the absolute value of the display pixel threshold voltage difference with the absolute value of the first or second reference voltage to determine whether the absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage is greater than the absolute value of the first or second reference voltage Determining whether the number is equal to or greater than a second reference value,
When the number of display pixels having the absolute value of the difference of the display pixel threshold voltage greater than the absolute value of any one of the first and second reference voltages is less than a second reference value, In the organic light emitting display device.
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