KR101948223B1 - 차동 증폭기 회로 - Google Patents

차동 증폭기 회로 Download PDF

Info

Publication number
KR101948223B1
KR101948223B1 KR1020120062122A KR20120062122A KR101948223B1 KR 101948223 B1 KR101948223 B1 KR 101948223B1 KR 1020120062122 A KR1020120062122 A KR 1020120062122A KR 20120062122 A KR20120062122 A KR 20120062122A KR 101948223 B1 KR101948223 B1 KR 101948223B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
node
current
output node
differential amplifier
response
Prior art date
Application number
KR1020120062122A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20130138490A (ko
Inventor
정해강
Original Assignee
에스케이하이닉스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 에스케이하이닉스 주식회사 filed Critical 에스케이하이닉스 주식회사
Priority to KR1020120062122A priority Critical patent/KR101948223B1/ko
Priority to US13/717,536 priority patent/US8878609B2/en
Publication of KR20130138490A publication Critical patent/KR20130138490A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101948223B1 publication Critical patent/KR101948223B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45076Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier
    • H03F3/45179Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of implementation of the active amplifying circuit in the differential amplifier using MOSFET transistors as the active amplifying circuit
    • H03F3/45183Long tailed pairs
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/45Differential amplifiers
    • H03F3/45071Differential amplifiers with semiconductor devices only
    • H03F3/45479Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection
    • H03F3/45632Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection in differential amplifiers with FET transistors as the active amplifying circuit
    • H03F3/45636Differential amplifiers with semiconductor devices only characterised by the way of common mode signal rejection in differential amplifiers with FET transistors as the active amplifying circuit by using feedback means
    • H03F3/45641Measuring at the loading circuit of the differential amplifier
    • H03F3/4565Controlling the common source circuit of the differential amplifier
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45008Indexing scheme relating to differential amplifiers the addition of two signals being made by a resistor addition circuit for producing the common mode signal
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45696Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising more than two resistors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F2203/00Indexing scheme relating to amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements covered by H03F3/00
    • H03F2203/45Indexing scheme relating to differential amplifiers
    • H03F2203/45702Indexing scheme relating to differential amplifiers the LC comprising two resistors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Abstract

차동 증폭기 회로는, 입력신호와 기준전압을 차동 증폭해 정출력 신호와 부출력 신호를 생성하는 차동 증폭부; 상기 차동 증폭부에 흐르는 전류량을 제어하기 위한 전류원; 및 상기 입력신호의 레벨에 따라 상기 전류원의 전류량을 제어하기 위한 전류 제어부를 포함한다.

Description

차동 증폭기 회로{DIFFERENTIAL AMPLIFIER CIRCUIT}
본 발명은 차동 증폭기 회로에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 수도 디퍼런셜(pseudo-differential) 방식의 입력 신호를 입력받는 차동 증폭기 회로(버퍼 회로)에서 출력신호 비대칭인 현상을 개선하기 위한 기술에 관한 것이다.
도 1은 종래의 차동 증폭기 회로(100)의 구성도이다.
도 1을 참조하면, 종래의 차동 증폭기 회로는, 차동 증폭부(110)와, 전류원(120)을 포함한다.
차동 증폭부(110)는 정입력단(A)과 부입력단(B)의 전압 차이를 증폭해 정출력 신호(OUT)와 부출력 신호(OUTB)를 생성한다. 그리고, 전류원(120)은 차동 증폭부(110)에 일정한 양의 전류가 흐를 수 있도록 제어한다.
도 2a,b는 차동 증폭기 회로(100)의 입력단자들(A,B)로 입력되는 입력신호들의 파형에 따른 출력신호들(OUT, OUTB)의 파형을 도시한 도면이다.
도 2a를 참조하면, 입력단자(A)에는 정입력 신호(IN)가 입력되고 입력단자(B)에는 정입력 신호(IN)를 반전한 부입력 신호(INB)가 입력된다. 이와 같은 입력을 완전한 디퍼런셜 입력(fully-differential input)이라고 한다. 완전한 디퍼런셜 방식의 입력신호들(IN, INB)은 대칭적인(symmetric) 파형을 가지므로, 차동 증폭기 회로(100)의 출력신호들(OUT, OUTB)도 입력신호들(IN, INB)과 마찬가지로 대칭적인 파형을 가진다.
도 2b를 참조하면, 입력단자(A)에는 입력 신호가 입력되고, 입력단자(B)에는 기준전압(VREF)이 입력된다. 이와 같은 입력을 수도 디퍼런셜 입력(pseudo-differential input)이라고 한다. 수도 디퍼런셜 방식의 입력신호들(IN, VREF)은 기준전압(VREF)이 스윙하지 않으므로 비대칭적인(asymmetric) 파형을 가지며, 차동 증폭기 회로(100)의 출력신호들(OUT, OUTB)도 비대칭적인 파형을 가지게 된다. 특히, 정출력 신호(OUT)의 스윙폭이 부출력 신호(OUTB)의 스윙폭보다 좁아지며, 이는 차동 증폭기 회로(100) 후단에서 정출력 신호(OUT)와 부출력 신호(OUTB)를 사용하는 회로에서의 신호 왜곡(amplitude (DC) 왜곡, time (AC) 왜곡, duty error 등)을 발생시킨다.
도 2b에 나타난 문제를 해결하기 위해서는 완전한 디퍼런셜 방식의 입력을 사용하면 되지만, 다양한 집적회로 칩들 중에는 디퍼런셜 방식의 입력신호를 제공받지 못하고 싱글 엔디드(single-ended) 방식의 입력신호만을 제공받는 경우가 많으므로, 수도 디퍼런셜 방식의 입력을 사용은 필수적인 경우가 많다.
차동 증폭기 회로에 수도 디퍼런셜 방식의 입력신호들이 입력될 때 발생하는 문제를 해결하기 위한 연구로 Hamid Partovi 등에 의해 발표된 논문 'Single-Ended Transceiver Design Techniques for 5.33Gb/s Graphics Application' (ISCCC 2009/SESSION 7/DRAM/7.5)에서 차동 증폭기의 입력단자(A)와 공통 노드(C) 간에 보상 캐패시터(compensation capacitor)를 추가하는 것이 제안되었지만, 보상 캐패시터의 사용은 입력신호(IN)가 초고주파로 천이하는 경우에만 실질적인 효과를 발휘한다는 제한이 있으며, 출력 신호의 스윙 레벨이 일정하게 유지되지 않는 등 완벽한 해결책이 될 수 없다는 문제점이 있다.
본 발명은 상기한 종래기술의 문제점을 해결하기 위해 제안된 것으로, 수도 디퍼런셜 방식의 입력신호를 입력받으면서도 대칭적인 출력신호를 제공할 수 있는 차동 증폭기 회로를 제공하고자 하는데 그 목적이 있다.
또한, 고주파수 영역뿐만이 아니라 저주파수 영역에서도 대칭적인 출력신호를 제공하는 차동 증폭기 회로를 제공하고자 하는데 그 목적이 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 차동 증폭기 회로는, 입력신호와 기준전압을 차동 증폭해 정출력 신호와 부출력 신호를 생성하는 차동 증폭부; 상기 차동 증폭부에 흐르는 전류량을 제어하기 위한 전류원; 및 상기 입력신호의 레벨에 따라 상기 전류원의 전류량을 제어하기 위한 전류 제어부를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 차동 증폭기 회로는, 전원전압단과 제1출력노드 사이의 제1부하; 상기 전원전압단과 제2출력노드 사이의 제2부하; 입력신호에 응답해 상기 제1출력노드와 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제1트랜지스터; 기준전압에 응답해 상기 제2출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제2트랜지스터; 제어전압에 응답해 상기 공통노드로부터 전류를 싱킹하는 전류원; 및 상기 제1출력노드와 상기 제2출력노드의 전압 레벨에 응답해 상기 제어전압을 생성하는 전류 제어부를 포함할 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 차동 증폭기 회로는, 제어전압에 응답해 공통노드로 전류를 소싱하는 전류원; 입력신호에 응답해 제1출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제1트랜지스터; 기준전압에 응답해 제2출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제2트랜지스터; 및 상기 제1출력노드와 상기 제2출력노드의 전압 레벨에 응답해 상기 제어전압을 생성하는 전류 제어부를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 입력 데이터의 레벨이 무엇이냐에 따라 차동 증폭기 회로에 흐르는 전류량을 변경해 차동 증폭기의 구동력을 조절한다. 따라서, 차동 증폭기 회로로 수도 디퍼런셜 방식으로 입력신호가 입력되더라도 대칭적인 파형을 가지는 출력신호를 생성할 수 있다.
도 1은 종래의 차동 증폭기 회로(100)의 구성도.
도 2a,b는 차동 증폭기 회로(100)의 입력단자들(A,B)로 입력되는 입력신호들의 파형에 따른 출력신호들(OUT, OUTB)의 파형을 도시한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 차동 증폭기 회로(300)의 일실시예 구성도.
도 4는 도 3의 제1상세 실시예 구성도.
도 5는 도 3의 제2상세 실시예 구성도.
도 6은 도 3의 제3상세 실시예 구성도.
도 7은 본 발명 및 종래 기술에 따른 차동 증폭기 회로들의 동작을 도시한 시뮬레이션 파형도.
도 8은 본 발명에 따른 차동 증폭기 회로(800)의 다른 실시예 구성도.
도 9는 도 8의 제1상세 실시예 구성도.
도 10은 도 8의 제2상세 실시예 구성도.
도 11은 도 8의 제3상세 실시예 구성도.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도 3은 본 발명에 따른 차동 증폭기 회로(300)의 일실시예 구성도이다.
도 3을 참조하면, 차동 증폭기 회로(300)는, 입력신호(IN)와 기준전압(VREF)을 차동 증폭해 정출력 신호(OUT)와 부출력 신호(OUTB)를 생성하는 차동 증폭부(310), 차동 증폭부(310)에 흐르는 전류량을 제어하기 위한 전류원(320), 및 입력신호(IN)의 레벨에 따라 전류원(320)의 전류량을 제어하기 위한 전류 제어부(330)를 포함한다.
차동 증폭부(310)는 전원전압단(VDD)과 부출력 노드(OUTB) 사이의 부하(311), 전원전압단(VDD)과 정출력 노드(OUT) 사이의 부하(312), 입력신호(IN)에 응답해 부출력 노드(OUTB)와 공통노드(C) 사이에서 전류 경로(current path)를 형성하기 위한 트랜지스터(N1), 및 기준전압(VREF)에 응답해 정출력 노드(OUT)와 공통노드(C) 사이에서 전류 경로를 형성하기 위한 트랜지스터(N2)를 포함한다. 차동 증폭부(310)는 NMOS 트랜지스터들(N1, N2)을 이용해 입력신호(IN)와 기준전압(VREF)을 입력받는데, 이러한 차동 증폭부(310)를 NMOS 타입이라 한다.
전류원(320)은 차동 증폭부(310)로부터 접지단(VSS)으로 싱킹(sinking)되는 전류량을 조절하여 차동 증폭부(310)에 흐르는 전류량을 제어한다.
전류 제어부(330)는 입력신호(IN)의 레벨에 따라 전류원(320)의 전류량을 제어한다. 입력신호(IN)가 높은 레벨일수록 전류원(320)에 흐르는 전류량을 줄이고, 입력신호(IN)가 낮은 레벨일수록 전류원(320)에 흐르는 전류량을 늘인다
수도 디퍼런셜(pseudo-differential) 방식의 입력 신호들(IN, VREF)을 입력받는 차동 증폭기 회로에서 출력신호들(OUT, OUTB)의 파형이 비대칭적으로 되는 것은, 입력 신호(IN)의 스윙폭이 크지만 기준전압(VREF)은 일정한 레벨을 유지하기 때문이다. 트랜지스터(N1)는 크게 스윙하는 입력신호(IN)에 의해 동작하므로 부출력 노드(OUTB)를 강하게 구동할 수 있지만, 트랜지스터(N2)는 일정한 레벨을 유지하는 기준전압(VREF)에 의해 동작하므로 정출력 노드(OUT)를 강하게 구동할 수 없는 것이다.
그러나, 본 발명에 따르면 입력신호(IN)가 기준전압(VREF)보다 높은 하이 레벨인 경우, 즉 입력신호(IN)에 의해 부출력 노드(OUTB)가 구동되는 경우, 에는 차동 증폭부(310)에 흐르는 전류량이 줄어들어 부출력 노드(OUTB)가 비교적 약하게 구동되지만, 입력신호(IN)가 기준전압(VREF)보다 낮은 로우 레벨인 경우, 즉 기준전압(VREF)에 의해 정출력 노드(OUT)가 구동되는 경우, 에는 차동 증폭부(310)에 흐르는 전류량이 늘어나 정출력 노드(OUT)가 강하게 구동될 수 있도록 한다.
즉, 본 발명에 따르면, 비대칭적으로 입력되는 입력신호들(IN, VREF)에 대응하여, 차동 증폭기 회로(300)가 입력신호들(IN, VREF)와 반대되는 방향으로 비대칭적으로 동작한다. 따라서 대칭적인 파형을 갖는 출력신호(OUT, OUTB)가 생성될 수 있다.
도 4는 도 3의 제1상세 실시예 구성도이다. 도 4에서는 전류 제어부(330)와 전류원(320)의 상세 실시예에 대해 알아보기로 한다.
전류 제어부(330)는 정출력 노드(OUT)와 부출력 노드(OUTB)의 전압 레벨을 이용해 제어전압(VCTRL)을 생성한다. 전류 제어부(330)는 정출력 노드(OUT)의 전압과 부출력 노드(OUTB)의 전압을 전압 분배하기 위한 저항들(331, 332)을 포함한다. 저항(332)은 저항(331)보다 더 큰 저항값을 가진다. 전류 제어부(330)는 제어전압(VCTRL)을 생성하기 위한 구성일 뿐이며, 정출력 노드(OUT)와 부출력 노드(OUTB)의 전압 레벨에는 변화를 주지 않아야 하므로, 저항들(331, 332)은 매우 큰 저항값을 가진다. 도면에서는 저항(331)은 10(1-x)R의 저항값을 갖는 것으로 예시되었으며, 저항(332)은 10(1+x)R의 저항값을 갖는 것으로 예시되었다(x는 1보다 작은 자연수임). 하지만, 이는 예시일 뿐이며, 전류 제어부(330)가 정출력 노드(OUT)와 부출력 노드(OUTB)의 전압 레벨에 큰 영향을 주지 않을 정도로 저항들(331, 332)의 저항값은 변경될 수 있다. 즉, 전류 제어부(330)의 저항들(331, 332)은 저항들(311, 312)보다는 훨씬 큰 저항값을 갖되, 저항(332)이 저항(331)보다 큰 저항값을 갖도록 설계되면 된다.
입력신호(IN)가 높은 레벨을 가질수록 부출력 노드(OUTB)의 전압은 낮아지고, 정출력 노드(OUT)의 전압은 높아진다. 또한, 입력신호(IN)가 낮은 레벨을 가질수록 부출력 노드(OUTB)의 전압은 높아지고, 정출력 노드(OUT)의 전압은 낮아진다. 따라서, 입력신호(IN)가 높은 레벨을 가지면 제어전압(VCTRL)의 레벨은 낮아지고, 입력신호(IN)가 낮은 레벨을 가지면 제어전압(VCTRL)의 레벨은 높아진다. 결국, 제어전압(VCTRL)의 레벨은 입력신호(IN)의 레벨에 따라 결정된다.
전류원(320)은 제어전압(VCTRL)의 제어에 따라 공통노드(C)로부터 전류를 싱킹(sinking)하는 NMOS 트랜지스터로 구성된다. 전류원(320)은 제어전압(VCTRL)이 높을수록 많은 양의 전류를 싱킹하고, 제어전압(VCTRL)이 낮을수록 적은 양의 전류를 싱킹한다. 따라서, 전류원(320)은 입력신호(IN)가 높은 레벨일 때에는 적은 양의 전류를 싱킹하고, 입력신호(IN)가 낮은 레벨일 때는 많은 양의 전류를 싱킹한다.
도 5는 도 3의 제2상세 실시예 구성도이다.
도 5에서는 차동 증폭부(310)의 변형 예와 함께 전류 제어부(330)와 전류원(320)의 상세 실시예에 대해 알아보기로 한다.
도 3에서의 차동 증폭부(310)의 부하들(311, 312)은 도 5에서는 각각 2개의 부하(311_1, 311_2, 312_1, 312_2)로 나누어진다. 그리고, 전류 제어부(330)는 부하들(311_1, 311_2)의 중간 노드의 전압과 부하들(312_1, 312_2)의 중간 노드의 전압을 전압분배해 제어전압(VCTRL)을 생성한다. 또한, 전류원(320)은 제어전압(VCTRL)에 응답해 공통노드(C)의 전류를 싱킹하는 트랜지스터로 구성된다. 도 5에서의 저항들(311_1, 311_2, 312_1, 312_2, 331, 332)의 저항값은 도면에 도시된 바와 같다. 참고로, 도면의 a,b는 1보다 작은 자연수이고, c는 5 이상의 자연수이다.
도 5에서는 차동 증폭부(310)의 내부 구성과 전류 제어부(330)의 구성이 도 4와 다르게 변형되었지만, 입력신호(IN)가 높은 레벨일 때에는 전류원(320)이 적은 양의 전류를 싱킹하고, 입력신호(IN)가 낮은 레벨일 때에는 전류원(320)이 많은 양의 전류를 싱킹한다는 점에서 도 5는 도 4와 동일하게 동작한다.
도 6은 도 3의 제3상세 실시예 구성도이다.
도 6의 실시예에서는 도 4의 실시예에서 보상 캐패시터(610, compensation capacitor)가 더 포함된다. 보상 캐패시터(610)는 입력신호(IN)가 입력되는 노드와 공통 노드(C) 사이에 연결된다.
배경기술 부분에서 언급한 Hamid Partovi 등에 의해 발표된 논문에 언급된 것처럼, 보상 캐패시터(610)의 사용은 특히 입력신호가 초고주파로 천이하는 경우에 출력신호의 대칭성을 확보하는데 도움을 준다.
보상 캐패시터(610)는 도 5의 실시예에서도 동일한 형태로 추가될 수 있다.
도 7은 본 발명 및 종래 기술에 따른 차동 증폭기 회로들의 동작을 도시한 시뮬레이션 파형도이다. 도 7의 시뮬레이션 조건은, 입력신호(IN)의 스윙 레벨은 0.62~1.02V의 범위, 입력신호(IN)의 펄스 폭이 333 pico seconds 이다.
(a)는 도 1의 차동 증폭기 회로에 완전한 디퍼런셜 신호(IN, INB)가 입력되는 경우의 출력신호(OUT, OUTB) 파형도이다. (b)는 도 1의 차동 증폭기 회로에 수도 디퍼런셜 신호(IN, VREF)가 입력되는 경우의 출력신호(OUT, OUTB) 파형도이다. (c)는 도 1의 차동 증폭기 회로에 보상 캐패시터가 추가되고 수도 디퍼런셜 신호(IN, VREF)가 입력되는 경우의 출력신호(OUT, OUTB) 파형도이다. (d)는 도 4의 차동 증폭기 회로에 수도 디퍼런셜 신호(IN, VREF)가 입력되는 경우의 출력신호(OUT, OUTB) 파형도이다. 또한, (e)는 도 6의 차동 증폭기 회로에 수도 디퍼런셜 신호(IN, VREF)가 입력되는 경우의 출력신호(OUT, OUTB) 파형도이다.
도 7을 참조하면, 본 발명 {(d), (e)}에서는 차동 증폭기 회로에 수도 디퍼런셜 신호(IN, VREF)가 입력됨에도 불구하고, 출력신호(OUT, OUTB)의 파형이 거의 대칭적임을 확인할 수 있다.
도 8은 본 발명에 따른 차동 증폭기 회로(800)의 다른 실시예 구성도이다.
도 8을 참조하면, 차동 증폭기 회로(800)는, 입력신호(IN)와 기준전압(VREF)을 차동 증폭해 정출력 신호(OUT)와 부출력 신호(OUTB)를 생성하는 차동 증폭부(810), 차동 증폭부(810)에 흐르는 전류량을 제어하기 위한 전류원(820), 및 입력신호(IN)의 레벨에 따라 전류원(820)의 전류량을 제어하기 위한 전류 제어부(830)를 포함한다.
차동 증폭부(810)는 입력신호(IN)에 응답해 부출력 노드(OUTB)와 공통노드(C) 사이에서 전류 경로를 형성하기 위한 트랜지스터(P1), 기준전압(VREF)에 응답해 정출력 노드(OUT)와 공통노드(C) 사이에서 전류 경로를 형성하기 위한 트랜지스터(P2), 부출력 노드(OUTB)와 접지단 사이의 부하(811), 및 정출력 노드(OUT)와 접지단 사이의 부하(812)를 포함한다. 차동 증폭부(810)는 PMOS 트랜지스터들(P1, P2)을 이용해 입력신호와 기준전압을 입력받는데, 이러한 차동 증폭부를 PMOS 타입이라 한다.
전류원(820)은 전원전압단(VDD)으로부터 공통노드로 소싱(sourcing)되는 전류량을 조절하여 차동 증폭부(810)에 흐르는 전류량을 제어한다.
전류 제어부(830)는 입력신호(IN)의 레벨에 따라 전류원(820)의 전류량을 제어한다. 입력신호(IN)가 낮은 레벨일수록 전류원(820)에 흐르는 전류량을 줄이고, 입력신호(IN)가 높은 레벨일수록 전류원(820)에 흐르는 전류량을 늘린다.
수도 디퍼런셜(pseudo-differential) 방식의 입력 신호들(IN, VREF)을 입력받는 차동 증폭기 회로에서 출력신호들(OUT, OUTB)의 파형이 비대칭적으로 되는 것은, 입력 신호(IN)의 스윙폭이 크지만 기준전압(VREF)은 일정한 레벨을 유지하기 때문이다. 트랜지스터(P1)는 크게 스윙하는 입력신호(IN)에 의해 동작하므로 부출력 노드(OUTB)를 강하게 구동할 수 있지만, 트랜지스터(P2)는 일정한 레벨을 유지하는 기준전압(VREF)에 의해 동작하므로 정출력 노드(OUT)를 강하게 구동할 수 없는 것이다.
그러나, 본 발명에 따르면 입력신호(IN)가 기준전압(VREF)보다 낮은 로우 레벨인 경우, 즉 입력신호(IN)에 의해 부출력 노드(OUTB)가 구동되는 경우, 에는 차동 증폭부(810)에 흐르는 전류량이 줄어들어 부출력 노드(OUTB)가 비교적 약하게 구동되지만, 입력신호(IN)가 기준전압(VREF)보다 높은 하이 레벨인 경우, 즉 기준전압(VREF)에 의해 정출력 노드(OUT)가 구동되는 경우, 에는 차동 증폭부(810)에 흐르는 전류량이 늘어나 정출력 노드(OUT)가 강하게 구동될 수 있도록 한다.
즉, 본 발명에 따르면, 비대칭적으로 입력되는 입력신호들(IN, VREF)에 대응하여, 차동 증폭기 회로(800)가 입력신호들(IN, VREF)와 반대되는 방향으로 비대칭적으로 동작한다. 따라서 대칭적인 파형을 갖는 출력신호(OUT, OUTB)가 생성될 수 있다.
도 9는 도 8의 제1상세 실시예 구성도이다. 도 9에서는 전류 제어부(830)와 전류원(920)의 상세 실시예에 대해 알아보기로 한다.
전류 제어부(830)는 정출력 노드(OUT)와 부출력 노드(OUTB)의 전압 레벨을 이용해 제어전압(VCTRL)을 생성한다. 전류 제어부(830)는 정출력 노드(OUT)의 전압과 부출력 노드(OUTB)의 전압을 전압 분배하기 위한 저항들(831, 832)을 포함한다. 저항(832)은 저항(831)보다 더 큰 저항값을 가진다. 전류 제어부(830)는 제어전압(VCTRL)을 생성하기 위한 구성일 뿐이며, 정출력 노드(OUT)와 부출력 노드(OUTB)의 전압 레벨에는 변화를 주지 않아야 하므로, 저항들(831, 832)은 매우 큰 저항값을 가진다. 도면에서는 저항(831)은 10(1-x)R의 저항값을 갖는 것으로 예시되었으며, 저항(832)은 10(1+x)R의 저항값을 갖는 것으로 예시되었다(x는 1보다 작은 자연수임). 즉, 전류 제어부(830)의 저항들(831, 832)은 저항들(811, 812)보다는 훨씬 큰 저항값을 갖되, 저항(832)이 저항(831)보다 큰 저항값을 갖도록 설계된다.
입력신호(IN)가 낮은 레벨을 가질수록 부출력 노드(OUTB)의 전압은 높아지고, 정출력 노드(OUT)의 전압은 낮아진다. 또한, 입력신호(IN)가 높은 레벨을 가질수록 부출력 노드(OUTB)의 전압은 낮아지고, 정출력 노드(OUT)의 전압은 높아진다. 따라서, 입력신호(IN)가 낮은 레벨을 가지면 제어전압(VCTRL)의 레벨은 높아지고, 입력신호(IN)가 높은 레벨을 가지면 제어전압(VCTRL)의 레벨은 낮아진다. 결국, 제어전압(VCTRL)의 레벨은 입력신호(IN)의 레벨에 따라 결정된다.
전류원(820)은 제어전압(VCTRL)의 제어에 따라 전원전압단으로부터 공통노드로 전류를 소싱(sourcing)하는 PMOS 트랜지스터로 구성된다. 전류원(820)은 제어전압(VCTRL)이 낮을수록 많은 양의 전류를 싱킹하고, 제어전압(VCTRL)이 높을수록 적은 양의 전류를 싱킹한다. 따라서, 전류원(820)은 입력신호(IN)가 낮은 레벨일 때에는 적은 양의 전류를 소싱하고, 입력신호(IN)가 높은 레벨일 때는 많은 양의 전류를 소싱한다.
도 10은 도 8의 제2상세 실시예 구성도이다.
도 10에서는 차동 증폭부(810)의 변형 예와 함께 전류 제어부(830)와 전류원(820)의 상세 실시예에 대해 알아보기로 한다.
도 8에서의 차동 증폭부(810)의 부하들(811, 812)은 도 10에서는 각각 2개의 부하(811_1, 811_2, 812_1, 812_2)로 나누어진다. 그리고, 전류 제어부(830)는 부하들(811_1, 811_2) 중간 노드의 전압과 부하들(812_1, 812_2) 중간 노드의 전압을 전압분배해 제어전압(VCTRL)을 생성한다. 또한, 전류원(820)은 제어전압(VCTRL)에 응답해 공통노드(C)로 전류를 소싱하는 트랜지스터로 구성된다. 도 10에서의 저항들(811_1, 811_2, 812_1, 812_2, 831, 832)의 저항값은 도면에 도시된 바와 같다. 참고로, 도면의 a, b는 1보다 작은 자연수이고, c는 5 이상의 자연수이다.
도 10에서는 차동 증폭부(810)의 내부 구성과 전류 제어부(830)의 구성이 도 9와 다르게 변형되었지만, 입력신호(IN)가 낮은 레벨일 때에는 전류원(820)이 적은 양의 전류를 소싱하고, 입력신호(IN)가 높은 레벨일 때에는 전류원(820)이 많은 양의 전류를 싱킹한다는 점에서 도 10는 도 9와 동일하게 동작한다.
도 11은 도 8의 제3상세 실시예 구성도이다.
도 11의 실시예에서는 도 9의 실시예에서 보상 캐패시터(1100, compensation capacitor)가 더 포함된다. 보상 캐패시터(1100)는 입력신호(IN)가 입력되는 노드와 공통노드(C) 사이에 연결된다.
본 발명의 기술사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 알 수 있을 것이다.
특히, 상기한 실시예들에서는 NMOS 타입의 차동 증폭기 회로에 본 발명이 적용된 예들(도 3 내지 도 6) 및 PMOS 타입의 차동 증폭기 회로에 본 발명이 적용된 예들(도 8 내지 도 11)을 설명하였는데, 이들 실시예들의 조합으로 본 발명이 구현될 수 있음은 당연하다.
300: 차동 증폭기 회로 310: 차동 증폭부
320: 전류원 330: 전류 제어부

Claims (19)

  1. 삭제
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 삭제
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 전원전압단과 제1출력노드 사이의 제1부하;
    상기 전원전압단과 제2출력노드 사이의 제2부하;
    입력신호에 응답해 상기 제1출력노드와 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제1트랜지스터;
    기준전압에 응답해 상기 제2출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제2트랜지스터;
    제어전압에 응답해 상기 공통노드로부터 전류를 싱킹하는 전류원; 및
    상기 제1출력노드와 상기 제2출력노드의 전압 레벨에 응답해 상기 제어전압을 생성하는 전류 제어부를 포함하고,
    상기 전류 제어부는
    상기 제1출력노드와 제어전압단 사이에 연결된 제1저항; 및
    상기 제2출력노드와 상기 제어전압단 사이에 연결되고, 상기 제1저항보다 더 큰 저항값을 갖는 제2저항을 포함하는
    차동 증폭기 회로.
  11. 전원전압단과 제1출력노드 사이의 제1부하;
    상기 전원전압단과 제2출력노드 사이의 제2부하;
    입력신호에 응답해 상기 제1출력노드와 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제1트랜지스터;
    기준전압에 응답해 상기 제2출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제2트랜지스터;
    제어전압에 응답해 상기 공통노드로부터 전류를 싱킹하는 전류원;
    상기 제1출력노드와 상기 제2출력노드의 전압 레벨에 응답해 상기 제어전압을 생성하는 전류 제어부; 및
    상기 제1트랜지스터의 게이트와 상기 공통노드 사이에 연결되는 캐패시터
    를 포함하는 차동 증폭기 회로.
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 제어전압에 응답해 공통노드로 전류를 소싱하는 전류원;
    입력신호에 응답해 제1출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제1트랜지스터;
    기준전압에 응답해 제2출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제2트랜지스터; 및
    상기 제1출력노드와 상기 제2출력노드의 전압 레벨에 응답해 상기 제어전압을 생성하는 전류 제어부를 포함하고,
    상기 전류 제어부는
    상기 제1출력노드와 제어전압단 사이에 연결된 제1저항; 및
    상기 제2출력노드와 상기 제어전압단 사이에 연결되고, 상기 제1저항보다 더 큰 저항값을 갖는 제2저항을 포함하는
    차동 증폭기 회로.
  15. 제어전압에 응답해 공통노드로 전류를 소싱하는 전류원;
    입력신호에 응답해 제1출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제1트랜지스터;
    기준전압에 응답해 제2출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제2트랜지스터;
    상기 제1출력노드와 상기 제2출력노드의 전압 레벨에 응답해 상기 제어전압을 생성하는 전류 제어부; 및
    상기 제1트랜지스터의 게이트와 상기 공통노드 사이에 연결되는 캐패시터
    를 포함하는 차동 증폭기 회로.
  16. 전원전압단과 제1노드 사이의 제1부하;
    상기 제1노드와 제1출력노드 사이의 제2부하;
    상기 전원전압단과 제2노드 사이의 제3부하;
    상기 제2노드와 제2출력 노드 사이의 제4부하;
    입력신호에 응답해 상기 제1출력노드와 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제1트랜지스터;
    기준전압에 응답해 상기 제2출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제2트랜지스터;
    제어전압에 응답해 상기 공통노드로부터 전류를 싱킹하는 전류원;
    상기 제1노드와 제어전압단 사이에 연결된 제1저항; 및
    상기 제2노드와 상기 제어전압단 사이에 연결되고, 상기 제1저항보다 더 큰 저항값을 갖는 제2저항
    을 포함하는 차동 증폭기 회로.
  17. ◈청구항 17은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈
    제 16항에 있어서,
    상기 제1트랜지스터의 게이트와 상기 공통노드 사이에 연결되는 캐패시터
    를 더 포함하는 차동 증폭기 회로.
  18. 제어전압에 응답해 공통노드로 전류를 소싱하는 전류원;
    입력신호에 응답해 제1출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제1트랜지스터;
    기준전압에 응답해 제2출력노드와 상기 공통노드 사이에서 전류경로를 형성하기 위한 제2트랜지스터;
    상기 제1출력노드와 제1노드 사이의 제1부하;
    상기 제1노드와 접지단 사이의 제2부하;
    상기 제2출력노드와 제2노드 사이의 제3부하;
    상기 제2노드와 상기 접지단 사이의 제4부하; 및
    상기 제1노드와 제어전압단 사이에 연결되는 제1저항;
    상기 제2노드와 상기 제어전압단 사이에 연결되고, 상기 제1저항보다 더 큰 저항값을 갖는 제2저항
    을 포함하는 차동 증폭기 회로.
  19. ◈청구항 19은(는) 설정등록료 납부시 포기되었습니다.◈
    제 18항에 있어서,
    상기 제1트랜지스터의 게이트와 상기 공통노드 사이에 연결된 캐패시터
    를 더 포함하는 차동 증폭기 회로.
KR1020120062122A 2012-06-11 2012-06-11 차동 증폭기 회로 KR101948223B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120062122A KR101948223B1 (ko) 2012-06-11 2012-06-11 차동 증폭기 회로
US13/717,536 US8878609B2 (en) 2012-06-11 2012-12-17 Differential amplifier circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120062122A KR101948223B1 (ko) 2012-06-11 2012-06-11 차동 증폭기 회로

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130138490A KR20130138490A (ko) 2013-12-19
KR101948223B1 true KR101948223B1 (ko) 2019-02-14

Family

ID=49714797

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120062122A KR101948223B1 (ko) 2012-06-11 2012-06-11 차동 증폭기 회로

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8878609B2 (ko)
KR (1) KR101948223B1 (ko)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102237733B1 (ko) 2014-12-05 2021-04-08 삼성전자주식회사 기준 전압 신호의 변동에 강인한 버퍼 회로
KR102450299B1 (ko) * 2018-05-15 2022-10-05 에스케이하이닉스 주식회사 증폭기, 이를 이용하는 수신 회로, 반도체 장치 및 시스템
KR102600629B1 (ko) * 2018-12-24 2023-11-10 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 장치의 버퍼 회로
US11722108B2 (en) * 2021-11-30 2023-08-08 Pacesetter, Inc. Fully-differential preamplifier

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR980012885A (ko) 1996-07-16 1998-04-30 김광호 소비전력을 줄인 차동 증폭형 입력버퍼
KR0135972Y1 (ko) 1996-08-29 1999-03-30 대우자동차 주식회사 자동차용 루프패널 삽입식 인사이드미러
US5939904A (en) * 1998-02-19 1999-08-17 Lucent Technologies, Inc. Method and apparatus for controlling the common-mode output voltage of a differential buffer

Also Published As

Publication number Publication date
US8878609B2 (en) 2014-11-04
US20130328629A1 (en) 2013-12-12
KR20130138490A (ko) 2013-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2498398B1 (en) Amplifier circuit and method
CN101911479B (zh) 差分放大器系统
KR101948223B1 (ko) 차동 증폭기 회로
JP2005223872A (ja) 差動駆動回路およびそれを内蔵する電子機器
JP4614234B2 (ja) 電源装置およびそれを備える電子機器
US7167052B2 (en) Low voltage differential amplifier circuit for wide voltage range operation
US7768307B2 (en) Current mode logic-complementary metal oxide semiconductor converter
WO2017051490A1 (ja) 通信ノード
US20060001446A1 (en) Duty cycle controlled CML-CMOS converter
US6930530B1 (en) High-speed receiver for high I/O voltage and low core voltage
KR100813464B1 (ko) 저 전력 가변이득증폭기
US7579911B2 (en) Semiconductor circuit
US20050285637A1 (en) CMOS LvPECL driver with output level control
US9337789B2 (en) Differential receiver
KR101560785B1 (ko) Lvpecl송신기
JP2015192447A (ja) 半導体回路及び増幅回路
TWI781598B (zh) 放大器以及lpddr3輸入緩衝器
WO2022110696A1 (zh) 电位产生电路、反相器、延时电路和逻辑门电路
JP2012156826A (ja) コンパレータ
TW202211628A (zh) 緩衝電路
US7564272B2 (en) Differential amplifier
JP2006050638A (ja) 対称パルス信号発生器
CN116073921A (zh) 用于校正低附加噪声差分信号的占空比和相位误差的电路
KR100870431B1 (ko) 반도체 소자
US8963582B2 (en) Signal amplification circuit and method

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right