KR101923729B1 - 태양전지의 제조방법 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 33
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title abstract description 17
- 239000007769 metal material Substances 0.000 claims abstract description 65
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 20
- 125000004430 oxygen atom Chemical group O* 0.000 claims abstract description 18
- 229910052976 metal sulfide Inorganic materials 0.000 claims abstract description 10
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 claims abstract description 9
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 6
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 19
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 claims description 18
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 claims description 7
- MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N Hydrogen peroxide Chemical compound OO MHAJPDPJQMAIIY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 6
- 239000011669 selenium Substances 0.000 claims description 5
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011575 calcium Substances 0.000 claims description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 claims description 3
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 3
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims description 3
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Chemical compound O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 3
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 claims description 2
- NWONKYPBYAMBJT-UHFFFAOYSA-L zinc sulfate Chemical group [Zn+2].[O-]S([O-])(=O)=O NWONKYPBYAMBJT-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 2
- 229960001763 zinc sulfate Drugs 0.000 claims description 2
- 229910000368 zinc sulfate Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L Sodium Carbonate Chemical compound [Na+].[Na+].[O-]C([O-])=O CDBYLPFSWZWCQE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910008772 Sn—Se Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N chalcopyrite Chemical compound [S-2].[S-2].[Fe+2].[Cu+2] DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052951 chalcopyrite Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 1
- PCRGAMCZHDYVOL-UHFFFAOYSA-N copper selanylidenetin zinc Chemical compound [Cu].[Zn].[Sn]=[Se] PCRGAMCZHDYVOL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005240 physical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 229920000307 polymer substrate Polymers 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 229910000029 sodium carbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000017550 sodium carbonate Nutrition 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 150000003467 sulfuric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 1
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 1
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
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- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
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- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
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- C23C14/00—Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
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- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
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- H01L21/02104—Forming layers
- H01L21/02365—Forming inorganic semiconducting materials on a substrate
- H01L21/02436—Intermediate layers between substrates and deposited layers
- H01L21/02439—Materials
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- H01L21/02439—Materials
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- H01L21/02494—Structure
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- H01L21/02502—Layer structure consisting of two layers
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- H01L21/02518—Deposited layers
- H01L21/02521—Materials
- H01L21/02551—Group 12/16 materials
- H01L21/02554—Oxides
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Abstract
태양전지의 제조방법이 제공된다. 기판 상에 광흡수층을 형성하고, 상기 광흡수층 상에 버퍼층을 형성하고, 상기 버퍼층 상에 윈도우 전극층을 형성한다. 상기 버퍼층을 형성하는 것은 상기 광흡수층 상에 금속 물질을 증착하는 것, 상기 광흡수층 상에 비금속 물질을 공급하는 것, 상기 광흡수층 상에 산소 원자를 포함하는 기체 물질을 공급하는 것, 및 상기 금속 물질과 상기 비금속 물질을 반응시키는 것을 포함한다. 상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질은 상기 금속 물질 및 상기 비금속 물질과 반응하여 상기 광흡수층 상에 금속 황산화물을 형성한다.
Description
본 발명은 태양전지의 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 진공 증착 방법으로 형성된 버퍼층을 포함하는 태양전지의 제조방법에 관한 것이다.
태양전지는 태양광을 직접 전기로 변화하는 반도체 소자이다. 태양전지 기술은 태양전지의 대면적화, 저가화, 및 고효율화를 지향하고 있다.
박막 태양전지는 실리콘 태양전지에 비하여 에너지 회수 기간이 짧고, 초박막화 및 대면적화가 가능하다. 따라서, 박막 태양전지는 생산 기술의 개발 등으로 혁신적인 생산 비용 절감이 가능할 것으로 전망되고 있다. 또한, 박막 태양전지의 광전변환(photoelectric transformation) 효율을 높이기 위해, 구리-인듐-갈륨-셀레늄(Cu-In-Ga-Se) 또는 구리-아연-주석-셀레늄(Cu-Zn-Sn-Se)의 조성을 가지는 CIS계 박막을 이용한 CIS계 박막 태양전지의 개발에 많은 연구가 진행되어 왔다.
특히, CIGS(Cu-In-Ga-Se) 박막 태양전지는 비정질 실리콘 태양전지에 비해 효율이 높고 초기 열화현상이 없는 등 비교적 안정성이 높아 상용화를 위한 기술개발이 진행 중에 있다. CIGS 박막 태양전지는 기존의 단결정 실리콘 (20W/kg) 태양전지를 대체할 수 있는 우주용의 경량 고효율 태양전지로 처음 연구되었을 만큼 우수한 특성을 가지고 있다. CIGS 박막 태양전지는 단위 중량당의 발전량이 약 100W/kg으로 기존의 실리콘이나 GaAs 태양전지의 20~40W/kg에 비해 월등히 우수하다. 이러한 장점에도 불구하고, CIGS 박막 태양전지는 생산성이 낮은 편이다. 이는 CIGS 태양전지의 연속적인 생산에 적합한 기술이 없고 복잡한 배치 프로세싱을 이용하기 때문이다. 최근에는, CIGS 태양전지의 생산성을 높이기 위한 연구가 활발히 진행되고 있다.
본 발명의 기술적 과제는 고효율 태양전지를 쉽게 제조할 수 있는 태양전지의 제조방법을 제공하는 데 있다.
본 발명에 따른 태양전지의 제조방법은, 기판 상에 광흡수층을 형성하는 것; 상기 광흡수층 상에 버퍼층을 형성하는 것; 및 상기 버퍼층 상에 윈도우 전극층을 형성하는 것을 포함하되, 상기 버퍼층을 형성하는 것은, 상기 광흡수층 상에 금속 물질을 증착하는 것; 상기 광흡수층 상에 비금속 물질을 공급하는 것; 상기 광흡수층 상에 산소 원자를 포함하는 기체 물질을 공급하는 것; 및 상기 금속 물질과 상기 비금속 물질을 반응시키는 것을 포함하고, 상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질은 상기 금속 물질 및 상기 비금속 물질과 반응하여 상기 광흡수층 상에 금속 황산화물을 형성할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 상기 기판 상에 비금속 물질을 공급하는 것은, 상기 비금속 물질을 기화시키는 제1 열처리를 수행하는 것; 및 상기 제1 열처리보다 높은 온도에서 상기 비금속 물질을 원자 또는 분자로 열 분해하는 제2 열처리를 수행하는 것을 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 상기 금속 물질과 상기 비금속 물질을 반응시키는 것은, 상기 비금속 물질을 상기 금속 물질에 확산시키는 제3 열처리를 수행하는 것을 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 상기 금속 물질은 아연, 인듐, 카드늄, 마그네슘, 베릴륨, 칼슘, 및 주석 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 상기 비금속 물질은 황, 셀레늄, 및 텔레늄 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
일 실시예에 따르면, 상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질은 산소, 수증기, 과산화수소, 또는 이들의 조합일 수 있다.
일 실시예에 따르면, 상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질은 상기 비금속 물질과 동시에 공급될 수 있다.
일 실시예에 따르면, 상기 금속 황산화물은 아연 황산화물일 수 있다.
일 실시예에 따르면, 상기 버퍼층은 진공 증착 방법에 의해 형성될 수 있다.
일 실시예에 따르면, 상기 버퍼층은 스퍼터링 또는 증발 방법에 의해 형성될 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따르면, 버퍼층을 진공 증착 방법에 의해 형성함으로써 고효율 태양전지의 제조 공정이 진공 증착 방법을 이용하여 연속적으로 수행될 수 있다. 따라서, 고효율 태양전지를 쉽게 제조할 수 있다.
도 1 내지 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 태양전지의 제조방법을 설명하기 위한 단면도들이다.
도 7은 본 발명의 개념에 따른 버퍼층의 제조방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 8은 본 발명의 개념에 따른 버퍼층의 제조에 사용되는 진공 증착 장치의 개략도이다.
도 7은 본 발명의 개념에 따른 버퍼층의 제조방법을 설명하기 위한 순서도이다.
도 8은 본 발명의 개념에 따른 버퍼층의 제조에 사용되는 진공 증착 장치의 개략도이다.
본 발명의 구성 및 효과를 충분히 이해하기 위하여, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 설명한다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라, 여러가지 형태로 구현될 수 있고 다양한 변경을 가할 수 있다. 단지, 본 실시예들의 설명을 통해 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위하여 제공되는 것이다. 첨부된 도면에서 구성 요소들은 설명의 편의를 위하여 그 크기가 실제보다 확대하여 도시한 것이며, 각 구성 요소의 비율은 과장되거나 축소될 수 있다.
본 발명의 실시예들에서 사용되는 용어들은 다르게 정의되지 않는 한, 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 통상적으로 알려진 의미로 해석될 수 있다. 이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명함으로써 본 발명을 상세히 설명한다.
도 1 내지 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 태양전지의 제조방법을 설명하기 위한 단면도들이다. 도 7은 본 발명의 개념에 따른 버퍼층의 제조방법을 설명하기 위한 순서도이고, 도 8은 본 발명의 개념에 따른 버퍼층의 제조에 사용되는 진공 증착 장치의 개략도이다.
도 1을 참조하면, 기판(10)이 제공될 수 있다. 상기 기판(10)은 유리, 금속판, 또는 고분자(polymer)일 수 있다. 일 예로, 상기 기판(10)은 소다회 유리 기판, 스테인레스 스틸(stainless) 금속 기판, 또는 폴리마이드 폴리머 기판일 수 있다.
도 2를 참조하면, 상기 기판(10) 상에 후면 전극(20)이 형성될 수 있다. 상기 후면 전극(20)은 몰리브데늄(Mo)과 같은 불투명 금속층을 포함할 수 있다. 상기 후면 전극(20)은 스퍼터링(sputtering) 방법 또는 증발(evaporation)법과 같은 진공 증착 방법으로 형성될 수 있다.
도 3을 참조하면, 상기 후면 전극(20) 상에 광흡수층(30)이 형성될 수 있다. 상기 광흡수층(30)은 CuInSe, CuInSe2, CuInGaSe, 또는 CuInGaSe2와 같은 칼코파이라이트(chalcopyrite)계 화합물 반도체를 포함할 수 있다. 상기 광흡수층(80)은 스퍼터링 방법 및 동시 증발법(co-evaporation)과 같은 진공 증착 방법에 의해 형성될 수 있다.
도 4를 참조하면, 상기 광흡수층(30) 상에 버퍼층(40)이 형성될 수 있다. 상기 버퍼층(40)은 후술될 윈도우 전극층과 상기 광흡수층(30)의 에너지 밴드갭 차이를 완화할 수 있다. 상기 버퍼층(40)은 상기 광흡수층(30)보다 에너지 밴드 갭이 크고, 후술될 윈도우 전극층보다 에너지 밴드 갭이 작을 수 있다. 상기 버퍼층(40)은 금속 황산화물을 포함할 수 있다. 일 예로, 상기 금속 황산화물은 ZnOS일 수 있다. 상기 버퍼층(90)은 약 10nm 내지 약 200nm의 두께를 가질 수 있다.
상기 버퍼층(40)은 진공 증착 방법에 의해 형성될 수 있다. 이하, 상기 버퍼층(40)의 구체적인 제조방법을 도 7 및 도 8을 참조하여 설명한다.
먼저, 기판(10) 상에 금속 물질(110)이 증착된다(S10). 구체적으로, 진공 증착 장치(1000)의 챔버(100) 내로 상기 기판(10)이 제공될 수 있다. 상기 기판(10)은 유리, 금속판, 또는 고분자(polymer)일 수 있다. 상기 기판(10)은, 도 3에 도시된 바와 같이, 상기 기판(10) 상에 형성된 후면전극(20) 및 광흡수층(30)을 포함할 수 있다. 상기 금속 물질(110)은 금속 물질 공급부(115)를 통해 상기 챔버(100) 내부로 공급될 수 있다. 일 예로, 상기 금속 물질(110)은 아연, 인듐, 카드뮴, 마그네슘, 베릴륨, 칼슘, 및 주석 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 금속 물질(110)은 스퍼터링(sputtering) 방법 또는 증발(evaporation)법과 같은 진공 증착 방법으로 상기 기판(10) 상에 형성될 수 있다.
이 후, 상기 챔버(100) 내로 비금속 물질(130)이 공급된다(S20). 상기 비금속 물질(130)은 비금속 물질 공급부(131)와 비금속 물질 열 분해 유닛(132)을 통해 상기 챔버(100) 내로 공급될 수 있다. 일 예로, 상기 비금속 물질(130)은 황, 셀레늄, 및 텔레늄 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 상기 비금속 물질 공급부(131)에서 제1 열처리 공정이 수행됨으로써, 상기 비금속 물질(130)은 기화될 수 있다. 일 예로, 상기 제1 열처리 공정은 약 200oC 내지 약 500oC 에서 수행될 수 있다. 상기 비금속 물질 열 분해 유닛(132)은 상기 비금속 물질(130)을 원자 또는 분자 상태로 분해시킬 수 있다. 상기 비금속 물질 열 분해 유닛(132)에서 제2 열처리 공정이 수행됨으로써, 상기 비금속 물질(130)은 원자 또는 분자 상태로 분해되어 상기 챔버(100) 내로 공급될 수 있다. 상기 제2 열처리 공정은 상기 제1 열처리 공정보다 높은 온도에서 수행될 수 있다. 일 예로, 상기 제2 열처리 공정은 약 500oC 내지 약 1100oC에서 수행될 수 있다.
그 다음, 상기 챔버(100) 내로 산소 원자를 포함하는 기체 물질(120)이 공급된다(S30). 상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질(120)은 기체 물질 공급부(125)를 통해 상기 챔버(100) 내부로 공급될 수 있다. 일 예로, 상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질(120)은 산소, 수증기, 과산화수소 또는 이들의 조합일 수 있다. 상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질(120)은 상기 챔버(100) 내부에서 상기 산소 원자의 분압을 조절하기 위해 반응에 참여하지 않는 물질(일 예로, 아르곤, 네온, 질소 등)을 더 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질(120)은, 도 7에 도시된 바와 달리, 상기 비금속 물질(130)의 공급 전, 또는 상기 비금속 물질(130)의 공급과 동시에 상기 챔버(100) 내부로 공급될 수 있다.
이 후, 상기 기판(10) 상에 증착된 상기 금속 물질(110)과 상기 비금속 물질(130)을 반응시킨다(S40). 구체적으로, 상기 챔버(100) 내에 가열부(140)가 배치될 수 있다. 상기 가열부(140)는 상기 기판(10)을 지지할 수 있다. 상기 가열부(140)에 의해 제3 열처리 공정이 수행됨으로써, 상기 기판(10) 상에 증착된 금속 물질(110) 내로 상기 비금속 물질(130)이 균일하게 확산되어 반응할 수 있다. 일 예로, 상기 제3 열처리 공정은 약 100oC 내지 약 600oC에서 수행될 수 있다. 상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질(120)은 열 분해된 상기 비금속 물질(130)과 반응하여 산화물을 형성한 후 상기 금속 물질(110)과 반응하거나, 상기 비금속 물질(130)과 상기 금속 물질(110)이 반응하여 형성된 화합물과 반응할 수 있다. 이렇게 하여, 진공 증착 방법에 의해, 상기 금속 물질(110) 내에 상기 비금속 물질(130) 및 상기 기체 물질(120)이 결합된 상기 버퍼층(40)이 형성될 수 있다. 일 예로, 상기 버퍼층(40)은 아연 황산화물(ZnOS)과 같은 금속 황산화물일 수 있다.
본 발명의 개념에 따르면, 금속 황산화물을 포함하는 버퍼층이 진공 증착 방법에 의해 형성됨으로써, 고효율 태양전지의 생산성이 증대 또는 극대화될 수 있다.
계속하여, 도 5를 참조하면, 상기 버퍼층(40) 상에 윈도우 전극층(50)이 형성될 수 있다. 상기 윈도우 전극층(50)은 산화 인듐 주석 또는 산화 아연을 포함할 수 있다. 또한, 상기 윈도우 전극층(50)은 금속 산화물층과 금속층을 포함할 수 있다. 상기 윈도우 전극층(50)은 물리 기상 증착과 같은 진공 증착 방법으로 형성될 수 있다.
도 6을 참조하면, 상기 윈도우 전극층(50) 상에 그리드(60) 및 반사방지층(70)이 형성될 수 있다. 상기 그리드(60)는 상기 광흡수층(30)에서 생성된 전자를 방출시킬 수 있다. 상기 그리드(60)는 상기 윈도우 전극층(50)에 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 그리드(60)는 일 예로, 금, 은, 알루미늄, 인듐과 같은 적어도 하나의 금속층을 포함할 수 있다. 상기 그리드(60)는 스퍼터링 또는 증발과 같은 진공 증착 방법을 이용하여 형성될 수 있다. 상기 반사방지층(70)은 상기 광흡수층(30)으로 입사된 태양광의 반사를 방지할 수 있다. 일 예로, 상기 반사방지층(70)은 불화마그네슘(Magnesium fluoride, MgF2)을 포함할 수 있다. 상기 반사방지층(70) 또한 스퍼터링 또는 증발과 같은 진공 증착 방법을 이용하여 형성될 수 있다.
본 발명의 개념에 따르면, 금속 황산화물을 포함하는 버퍼층이 진공 증착 방법에 의해 형성됨으로써, 태양전지의 후면 전극에서부터 그리드 및 반사방지층까지의 제조 공정이 진공 증착 방법을 이용하여 연속적으로 수행될 수 있다. 따라서, 금속 황산화물을 포함하는 고효율 태양전지를 쉽게 제조할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 대한 이상의 설명은 본 발명의 설명을 위한 예시를 제공한다. 따라서 본 발명은 이상의 실시예들에 한정되지 않으며, 본 발명의 기술적 사상 내에서 당해 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에 의하여 상기 실시예들을 조합하여 실시하는 등 여러 가지 많은 수정 및 변경이 가능함은 명백하다.
10: 기판
20: 후면전극
30: 광흡수층
40: 버퍼층
50: 윈도우 전극층
60: 그리드
70: 반사방지층
100: 진공 증착 장치의 챔버
110: 금속 물질
115: 금속 물질 공급부
120: 산소 원자를 포함하는 기체 물질
125: 기체 물질 공급부
130: 비금속 물질
131: 비금속 물질 공급부
132: 비금속 물질 열 분해 유닛
140: 가열부
1000: 진공 증착 장치
20: 후면전극
30: 광흡수층
40: 버퍼층
50: 윈도우 전극층
60: 그리드
70: 반사방지층
100: 진공 증착 장치의 챔버
110: 금속 물질
115: 금속 물질 공급부
120: 산소 원자를 포함하는 기체 물질
125: 기체 물질 공급부
130: 비금속 물질
131: 비금속 물질 공급부
132: 비금속 물질 열 분해 유닛
140: 가열부
1000: 진공 증착 장치
Claims (10)
- 기판 상에 광흡수층을 형성하는 것;
상기 광흡수층 상에 버퍼층을 형성하는 것; 및
상기 버퍼층 상에 윈도우 전극층을 형성하는 것을 포함하되,
상기 버퍼층을 형성하는 것은:
상기 광흡수층 상에 금속 물질을 증착하는 것;
상기 광흡수층 상에 비금속 물질을 공급하는 것;
상기 광흡수층 상에 산소 원자를 포함하는 기체 물질을 공급하는 것; 및
상기 금속 물질과 상기 비금속 물질을 반응시키는 것을 포함하고,
상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질은 상기 금속 물질 및 상기 비금속 물질과 반응하여 상기 광흡수층 상에 금속 황산화물을 형성하고,
상기 비금속 물질을 공급하는 것은:
상기 비금속 물질을 기화시키는 제1 열처리를 수행하는 것; 및
상기 제1 열처리보다 높은 온도에서 상기 비금속 물질을 원자 또는 분자로 열 분해하는 제2 열처리를 수행하는 것을 포함하는 태양전지의 제조방법. - 삭제
- 청구항 1에 있어서,
상기 금속 물질과 상기 비금속 물질을 반응시키는 것은, 상기 비금속 물질을 상기 금속 물질에 확산시키는 제3 열처리를 수행하는 것을 포함하는 태양전지의 제조방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 금속 물질은 아연, 인듐, 카드늄, 마그네슘, 베릴륨, 칼슘, 및 주석 중 적어도 하나를 포함하는 태양전지의 제조방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 비금속 물질은 황, 셀레늄, 및 텔레늄 중 적어도 하나를 포함하는 태양전지의 제조방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질은 산소, 수증기, 과산화수소, 또는 이들의 조합인 태양전지의 제조방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 산소 원자를 포함하는 기체 물질은 상기 비금속 물질과 동시에 공급되는 태양전지의 제조방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 금속 황산화물은 아연 황산화물인 태양전지의 제조방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 버퍼층은 진공 증착 방법에 의해 형성되는 태양전지의 제조방법. - 청구항 9에 있어서,
상기 버퍼층은 스퍼터링 또는 증발 방법에 의해 형성되는 태양전지의 제조방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120120415A KR101923729B1 (ko) | 2012-10-29 | 2012-10-29 | 태양전지의 제조방법 |
US13/841,772 US8987037B2 (en) | 2012-10-29 | 2013-03-15 | Methods of manufacturing a solar cell |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120120415A KR101923729B1 (ko) | 2012-10-29 | 2012-10-29 | 태양전지의 제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20140056543A KR20140056543A (ko) | 2014-05-12 |
KR101923729B1 true KR101923729B1 (ko) | 2018-11-29 |
Family
ID=50547612
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120120415A KR101923729B1 (ko) | 2012-10-29 | 2012-10-29 | 태양전지의 제조방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8987037B2 (ko) |
KR (1) | KR101923729B1 (ko) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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- 2012-10-29 KR KR1020120120415A patent/KR101923729B1/ko active IP Right Grant
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Publication number | Publication date |
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US8987037B2 (en) | 2015-03-24 |
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