KR101887899B1 - Apparatus and method for detecting short circuit among output pins out and among driver ics - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치는, 부하를 구동하기 위한 구동부; 출력 핀간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치; 상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중, 검사 대상이 아닌 출력 핀에 인가하는 복수의 전압 분배기; 상기 복수의 출력 핀에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및 상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하는 구동 IC; 및 상기 구동 IC에 상기 출력 핀간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 제어부를 포함할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따르면, 본 발명은 시스템 동작 전 모든 출력을 특정 전압으로 설정하고 검사 대상 핀에만 다른 전압을 인가하여 핀의 출력을 모니터링함으로써 접지 단락뿐만 아니라 핀 간의 단락도 검출 가능하다. 특히 구동 IC 간의 출력 단락 발생 시에도 1개의 IC 출력에 모두 특정 검사 전압을 인가한 후, 나머지 다른 IC의 출력을 모니터링함으로써 구동 IC들 간의 단락을 진단/검출할 수 있다.An apparatus for short-circuiting an output pin of a driving IC according to the present invention includes: a driving unit for driving a load; A plurality of test voltage application switches for applying an inspection voltage to an output pin to be inspected among a plurality of output pins in accordance with an output pin short-circuit diagnosis command; A plurality of voltage dividers for applying a default voltage different from the inspection voltage to the output pins not to be inspected among the plurality of output pins; A multiplexer for sequentially selecting and outputting a voltage value applied to the plurality of output pins; And a diagnostic IC for generating a diagnostic signal for the voltage value; And a controller for transmitting the output pin short-circuit diagnosis command to the driving IC and determining a short pin among the plurality of output pins based on the diagnostic signal. Therefore, according to the present invention, not only a ground short circuit but also a short circuit between the pins can be detected by setting all outputs before the system operation to a specific voltage and monitoring the output of the pin by applying different voltages only to the pins to be inspected. In particular, even when an output short-circuit occurs between drive ICs, a specific inspection voltage is applied to one IC output, and the outputs of the remaining ICs are monitored to diagnose / detect a short circuit between the drive ICs.

Description

구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치 및 구동 IC 간 단락 진단 장치 {APPARATUS AND METHOD FOR DETECTING SHORT CIRCUIT AMONG OUTPUT PINS OUT AND AMONG DRIVER ICS}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an apparatus and a method for short-circuit diagnosis between an output pin of a driving IC and a driving IC,

본 발명은 에어백 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 에어백 시스템에서 IC 출력 단락을 진단하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an air bag system, and more particularly, to an apparatus and method for diagnosing an IC output short circuit in an air bag system.

최근, 소비자들의 요구에 따라 차량에 장착되는 에어백의 수가 증가되는 추세이다. 최근 출시되고 있는 차량은 운전석, 조수석, 사이드 에어백, 커튼 에어백 등 기본 6개 이상의 에어백을 장착하고 있으며 차량의 급이 높아질수록 에어백의 수도 증가한다. In recent years, the number of airbags mounted on a vehicle has increased in accordance with the demand of consumers. Recently released vehicles are equipped with more than 6 basic airbags such as driver's seat, passenger's seat, side airbags and curtain airbags.

따라서, 복수의 에어백을 제어하기 위하여 에어백 제어 IC(Integrated Circuit)는 다채널 하이/로우 사이드(HS/LS, High Side/Low Side) 구동부를 내장하여 에어백 점화기(팽창기) 등의 외부 부하에 전류를 공급하도록 구성된다. Therefore, in order to control a plurality of airbags, an airbag control IC (integrated circuit) incorporates a multi-channel high / low side (HS / LS, high side / low side) driving part to control an external load such as an airbag igniter (inflator) .

그러나, 다채널로 외부 부하와 긴 도선으로 연결되도록 구성되어 있으므로, 채널 간 단락 고장 등이 발생할 가능성이 있다. 따라서, 이러한 단락 고장을 진단하기 위하여 시스템 동작 중에 에어백 출력 핀의 전압 상태를 피드백 받아서 예측치과 차이를 비교하여 에어백 출력 핀의 단락을 진단하는 기존 기술들이 개발되어 있다.However, since it is configured to be connected by an external load and a long conductor in multiple channels, there is a possibility that a short-circuit failure between the channels occurs. Accordingly, existing technologies for diagnosing short-circuiting of the airbag output pin by comparing the predicted dental difference by receiving the voltage state of the airbag output pin during system operation to diagnose such short-circuit failure have been developed.

하지만, 기존 기술은 회로 동작 중에만 이상 여부를 판단하기 때문에, 시스템 동작 전에 구동 IC의 출력 핀간 단락 상태를 판단하기 어렵다. 또한, 에어백의 수의 증가와 함께 에어백 구동 IC의 수도 증가하고 있지만, 에어백 내에서 채널 간 단락 고장뿐만 아니라 구동 IC들 사이의 단락 고장을 검사할 수 있는 수단이 없었다.However, it is difficult to judge the short-circuit state between the output pins of the driving IC before the system operation because the existing technology judges whether or not the abnormality occurs only during circuit operation. In addition, although the number of airbag driving ICs increases with the increase in the number of airbags, there is no means to inspect short-circuit faults between the driving ICs as well as interchannel short-circuit faults in the airbag.

본 발명은 상술한 기술적 문제에 대응하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 시스템 동작 전 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하고 나머지 다른 출력 핀들의 전압값을 모니터링하여 자동차의 동작 전에 출력 핀간 단락을 검출할 수 있는 구동 IC의 단락 진단 장치 및 방법을 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to address the above-mentioned technical problems, and it is an object of the present invention to provide a method and a system for monitoring a voltage of an output pin to be tested before a system operation, Which can detect a short circuit of a driving IC.

본 발명의 다른 목적은 구동 IC간의 출력 단락 발생 시에도 1개의 IC 출력에 검사 전압을 인가한 후, 나머지 다른 IC의 출력 핀들의 전압값을 모니터링하여 구동 IC간 단락을 진단/검출할 수 있는 복수의 구동 IC 간 단락 진단 장치 및 방법을 제공하는데 있다.It is another object of the present invention to provide a semiconductor integrated circuit device capable of diagnosing / detecting a short circuit between drive ICs by monitoring a voltage value of output pins of other ICs after applying an inspection voltage to one IC output even when an output short- And a method for diagnosing a short circuit between the driving ICs.

상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 장치는 구동 IC; 및 상기 구동 IC에 출력 핀간 단락 진단 명령을 전송하는 제어부를 포함하되, 상기 구동 IC는, 부하를 구동하기 위한 복수의 HS(High Side) 구동부 및 상기 복수의 HS 구동부에 각각 대응하는 복수의 LS(Low Side) 구동부; 상기 출력 핀간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치; 상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중, 검사 대상이 아닌 출력 핀들에 인가하는 복수의 전압 분배기; 상기 복수의 출력 핀에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및 상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하며, 상기 제어부는 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하며, 차량 시스템 동작 전 단락 진단 모드에서 상기 검사 대상이 되는 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 검사 전압의 등전위면이 형성되고, 검사 대상이 아닌 출력 핀들 각각에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 디폴트 전압의 등전위면이 각각 형성되도록 구성되며, 검사 대상이 아닌 출력 핀들 중 적어도 하나와 상기 검사 대상이 되는 출력 핀 사이에 단락이 있는 경우에 단락 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 핀과 LS 구동부의 출력 핀 및 상기 검사 대상이 되는 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 핀과 LS 구동부의 출력 핀의 전압값으로 상기 검사 전압이 검출되도록 구성될 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided an apparatus for short-circuiting a driving IC output pin, including: a driving IC; And a controller for transmitting an output pin short-circuit diagnostic command to the driving IC, wherein the driving IC includes a plurality of HS (High Side) drivers for driving a load, and a plurality of LS Low Side) driver; A plurality of test voltage application switches for applying an inspection voltage to an output pin to be inspected among a plurality of output pins in accordance with the output pin short-circuit diagnosis command; A plurality of voltage dividers for applying a default voltage different from the inspection voltage to the output pins not to be inspected among the plurality of output pins; A multiplexer for sequentially selecting and outputting a voltage value applied to the plurality of output pins; And a diagnostic signal generator for generating a diagnostic signal for the voltage value, wherein the controller determines a shorting pin among the plurality of output pins based on the diagnostic signal, The output node of the HS driving unit corresponding to the output pin, the load, and the output node of the LS driving unit corresponding to the output pin corresponding to the output pin of the HS driving unit, And an equipotential surface of the default voltage is formed at the output node of the driving unit. When there is a short circuit between at least one of the output pins that are not to be inspected and the output pin to be inspected, An output pin of the HS driving unit corresponding to the output pin of the LS driving unit and an output pin of the HS driving unit, And the inspection voltage is detected with the voltage value of the output pin of the east portion.

이 경우, 상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 검사 전압을 인가하는 검사 전원과 상기 복수의 전압 분배기 출력 노드 사이에 각각 연결될 수 있다.In this case, the plurality of inspection voltage application switches may be connected between the inspection power source for applying the inspection voltage and the output nodes of the plurality of voltage divider, respectively.

또한, 상기 구동 IC는 상기 출력 핀간 단락 진단 명령 시 상기 복수의 HS 구동부 및 복수의 LS 구동부가 오프될 수 있다.In addition, the drive IC may turn off the plurality of HS drivers and the plurality of LS drivers when the output pin short-circuit diagnosis command is issued.

또한, 상기 디폴트 전압은 상기 검사 전압이 상기 전압 분배기에 의하여 분배된 전압 일 수 있다.Also, the default voltage may be a voltage distributed by the voltage divider.

한편 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 장치는 제 1 구동 IC; 제 2 구동 IC; 및 상기 제 1 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하는 제어부를 포함하며, 상기 제 1 구동 IC 및 상기 제 2 구동 IC는 각각 부하를 구동하기 위한 복수의 HS(High Side) 구동부 및 상기 복수의 HS 구동부에 각각 대응하는 복수의 LS(Low Side) 구동부; 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치; 상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 아닌 출력 핀에 인가하는 복수의 전압 분배기; 상기 복수의 출력 핀 중 적어도 일부에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및 상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하며, 상기 검사 대상이 되는 출력 핀은 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 결정되고, 상기 제어부는 상기 진단 신호에 기초하여 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하도록 구성되며, 차량 시스템 동작 전 단락 진단 모드에서 상기 제 1 구동 IC의 검사 대상이 되는 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 검사 전압의 등전위면이 형성되고, 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀 각각에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 디폴트 전압의 등전위면이 각각 형성되도록 구성되며, 상기 제 1 구동 IC와 상기 제 2 구동 IC 사이에 단락이 있는 경우에 상기 제 2 구동 IC에서 단락 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 핀과 LS 구동부의 출력 핀의 전압값으로 상기 검사 전압이 검출되도록 구성될 수 있다.Meanwhile, an apparatus for short-circuit diagnosis between drive ICs according to an embodiment of the present invention includes a first drive IC; A second driving IC; And a control unit for transmitting a short-circuit diagnosis command between the first driving IC and the first driving IC and transmitting a short-circuit diagnosis command between the second driving IC to the second driving IC, wherein the first driving IC and the second The driving IC includes a plurality of HS (High Side) drivers for driving loads and a plurality of LS (Low Side) drivers respectively corresponding to the plurality of HS drivers; A plurality of test voltage application switches for applying an inspection voltage to an output pin to be inspected among a plurality of output pins in accordance with the short-circuit diagnosis command between the first drive ICs; A plurality of voltage dividers for applying a default voltage different from the inspection voltage to an output pin not to be inspected among the plurality of output pins; A multiplexer sequentially selecting and outputting a voltage value applied to at least a part of the plurality of output pins; And a diagnostic signal generator for generating a diagnostic signal for the voltage value, wherein the output pin to be inspected is determined in accordance with the short-circuit diagnosis command between the first drive ICs, The output node of the HS driving unit corresponding to the output pin to be inspected of the first driving IC in the short-circuit diagnosis mode before the vehicle system operation, the load and the LS An equipotential surface of the inspection voltage is formed at an output node of the driving unit and an equipotential surface of the default voltage is applied to the output node of the HS driving unit, the load, and the output node of the LS driving unit corresponding to each of the plurality of output pins of the second driving IC Respectively, and when there is a short circuit between the first driving IC and the second driving IC, an HS The inspection voltage may be detected by the voltage value of the output pin of the driving unit and the output pin of the LS driving unit.

또한, 상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 검사 전압을 인가하는 검사 전원과 상기 복수의 전압 분배기 출력 노드 사이에 각각 연결될 수 있다.The plurality of test voltage application switches may be connected between an inspection power source for applying the inspection voltage and an output node of the plurality of voltage divider devices.

또한, 상기 제 1 구동 IC의 HS 구동부와 LS 구동부 및 상기 제 2 구동 IC의 HS 구동부와 LS 구동부는 상기 제 1 구동 IC 및 상기 제 2 구동 IC 간 단락 진단 명령 시 오프될 수 있다.In addition, the HS driving unit and the LS driving unit of the first driving IC, and the HS driving unit and the LS driving unit of the second driving IC may be turned off in the short-circuit diagnosis command between the first driving IC and the second driving IC.

또한, 상기 디폴트 전압은 상기 검사 전압이 상기 전압 분배기에 의하여 분배된 전압일 수 있다.Also, the default voltage may be a voltage distributed by the voltage divider.

또한, 상기 제 1 구동 IC의 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 동시에 턴온되도록 구성될 수 있다.In addition, the plurality of inspection voltage application switches of the first driving IC may be configured to be turned on simultaneously according to the short-circuit diagnosis command between the first driving ICs.

한편, 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법은, 구동 IC 및 제어부를 포함하는 구동 시스템의 구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법에 있어서, 상기 제어부에서 전송한 출력 핀 간 단락 진단 명령에 따라 상기 구동 IC가 상기 구동 IC의 HS(High Side) 구동부 및 LS(Low Side) 구동부를 오프시키는 단계; 상기 구동 IC의 복수의 출력 핀 중, 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하고, 상기 복수의 출력 핀 중, 상기 검사 대상 출력 핀 외 나머지 출력 핀에 디폴트 전압을 인가하는 단계; 상기 복수의 출력 핀 중, 상기 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀들의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하고 진단 신호를 생성하는 단계; 및 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하며, 상기 디폴트 전압을 인가하는 단계는 차량 시스템 동작 전 단락 진단 모드에서 상기 검사 대상 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 검사 전압의 등전위면이 형성되고, 검사 대상이 아닌 출력 핀들에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 디폴트 전압의 등전위면이 형성되는 단계를 포함하며, 검사 대상이 아닌 출력 핀들 중 적어도 하나와 상기 검사 대상 출력 핀 사이에 단락이 있는 경우에 단락 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 핀과 LS 구동부의 출력 핀 및 상기 검사 대상 출력 핀에 대응하는 HS 구동부와 LS 구동부의 출력 핀의 전압값으로 상기 검사 전압이 검출될 수 있다.Meanwhile, a method for diagnosing a short-circuit between output pins of a driving IC according to an embodiment of the present invention is a method for short-circuiting an output pin of a driving IC of a driving system including a driving IC and a control unit, Turning off the HS (High Side) driver and the LS (Low Side) driver of the driving IC according to an instruction; Applying a test voltage to an inspection target output pin among a plurality of output pins of the driving IC and applying a default voltage to the output pins other than the inspection target output pin among the plurality of output pins; Sequentially selecting a voltage value of the output pins other than the inspection target output pin among the plurality of output pins and outputting the selected voltage value to the diagnostic signal generator and generating a diagnostic signal; And determining a shorting pin among the plurality of output pins based on the diagnostic signal, wherein the step of applying the default voltage includes: determining a shorting pin of the HS driving unit corresponding to the inspection target output pin in the short- An equipotential surface of the test voltage is formed at an output node of the output node, the load, and the LS drive unit, and an equipotential surface of the default voltage is applied to the output node of the HS drive unit, When there is a short circuit between at least one of the output pins which are not to be inspected and the output pin to be tested, the output pin of the HS driving unit and the output pin of the LS driving unit corresponding to the shorting pin, The inspection voltage can be detected by the voltage value of the HS drive part corresponding to the output pin and the output pin of the LS driving part.

이 경우, 상기 결정된 단락 핀을 플래그에 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.In this case, it may further comprise storing the determined shorting pin in a flag.

또한, 상기 단락 핀을 결정하는 단계는 상기 전압 값을 상기 디폴트 전압과 비교하여 상기 단락 핀을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.In addition, the step of determining the shorting pin may include comparing the voltage value with the default voltage to determine the shorting pin.

또한, 상기 진단 신호를 생성하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 통하여 변환된 디지털 전압 값을 상기 제어부로 전송하는 단계를 포함할 수 있다.The generating of the diagnostic signal may include transmitting the converted digital voltage value through the analog-to-digital converter to the controller.

또한, 상기 검사 대상 출력 핀 외 나머지 출력 핀 중 어느 하나를 제 2 검사 대상으로 지정하는 단계; 상기 복수의 출력 핀 중, 상기 제 2 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀들의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하고 진단 신호를 생성하는 단계; 및 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 더 수행할 수 있다.Designating any one of the output pins other than the output pin to be inspected as a second inspection target; Sequentially selecting a voltage value of the output pins other than the second check target output pin among the plurality of output pins and outputting the selected voltage value to the diagnostic signal generator and generating a diagnostic signal; And determining a shorting pin of the plurality of output pins based on the diagnostic signal.

한편, 본 발명에 따른 구동 IC간 단락 진단 방법은, 제 1 구동 IC, 제 2 구동 IC 및 제어부를 포함하는 구동 IC간 단락 진단 방법에 있어서, 상기 제어부가 상기 제 1 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 1 구동 IC 및 제 2 구동 IC의 HS(High Side) 구동부 및 LS(Low Side) 구동부를 턴오프하는 단계; 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 상기 제 1 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 단계; 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀에 디폴트 전압을 인가하고, 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하는 단계; 상기 제 2 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호를 생성하는 단계; 및 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하며, 상기 디폴트 전압을 인가하는 단계는 차량 시스템 동작 전 단락 진단 모드에서, 상기 제 1 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 검사 전압의 등전위면이 형성되고, 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀 각각에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 디폴트 전압의 등전위면이 각각 형성되도록 구성되는 단계를 포함하며, 상기 제 1 구동 IC와 상기 제 2 구동 IC 사이에 단락이 있는 경우에 상기 제 2 구동 IC에서 단락 핀에 대응하는 LS 구동부의 출력 핀 및 HS 구동부의 출력 핀의 전압값으로 상기 검사 전압이 검출되도록 구성될 수 있다.Meanwhile, a method for short-circuit diagnosis between drive ICs according to the present invention is a method for short-circuit diagnosis between drive ICs including a first drive IC, a second drive IC and a control unit, wherein the control unit controls the first drive IC (High Side) driver and the LS (Low Side) driver of the first driver IC and the second driver IC, and transmits the short-circuit diagnostic command to the second driver IC, Off; Applying an inspection voltage to an inspection target output pin of the first driving IC in accordance with a short circuit diagnostic command between the first driving ICs; Applying a default voltage to a plurality of output pins of the second driver IC, sequentially selecting a voltage value of a plurality of output pins of the second driver IC, and outputting the selected voltage to a diagnostic signal generator; Generating a diagnostic signal for the plurality of output pins of the second driver IC; And determining a shorting pin of the plurality of output pins based on the diagnostic signal, wherein the step of applying the default voltage comprises: in a short-circuit diagnosis mode before the vehicle system operation, The output node of the HS driver corresponding to each of the plurality of output pins of the second driver IC, the load and the LS of the load, and the output node of the LS driver corresponding to the plurality of output pins of the second driver IC, Each of the first driving IC and the second driving IC having an equal potential surface of the default voltage formed at an output node of the driving unit, wherein when the short circuit is present between the first driving IC and the second driving IC, The voltage of the output pin of the LS driving unit and the voltage of the output pin of the HS driving unit may be detected.

또한, 상기 결정된 단락 핀을 플래그에 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.The method may further include storing the determined shorting pin in a flag.

또한, 상기 단락 핀을 결정하는 단계는 상기 전압 값을 디폴트 전압과 비교하여 상기 단락 핀을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.Also, determining the shorting pin may include comparing the voltage value to a default voltage to determine the shorting pin.

또한, 상기 진단 신호를 생성하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 통하여 변환된 디지털 전압 값을 상기 제어부로 전송하는 단계를 포함할 수 있다.The generating of the diagnostic signal may include transmitting the converted digital voltage value through the analog-to-digital converter to the controller.

또한, 상기 단락 핀을 결정하는 단계 후에, 상기 제어부가 상기 제 1 구동 IC에 상기 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하는 단계; 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 상기 제 2 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 단계; 상기 제 1 구동 IC의 복수의 출력 핀에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하는 단계; 상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호를 생성하는 단계; 및 상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호에 기초하여 상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 더 포함할 수 있다.Further, after the step of determining the shorting pin, the control unit transmits a short-circuit diagnosis command between the second driving ICs to the first driving IC, and transmits a short-circuit diagnosis command between the first driving ICs to the second driving IC step; Applying an inspection voltage to an inspection target output pin of the second driving IC according to a short circuit diagnostic command between the first driving ICs; Sequentially selecting a voltage value applied to the plurality of output pins of the first driving IC and outputting the selected voltage value to the diagnostic signal generating unit; Generating a diagnostic signal for the plurality of output pins of the first driver IC; And determining a shorting pin among the plurality of output pins of the first driving IC based on a diagnostic signal for the plurality of output pins of the first driving IC.

또한, 상기 검사 대상 출력 핀은 상기 제 1 구동 IC의 모든 출력 핀이고, 동시에 검사 전압이 인가되도록 구성될 수 있다.In addition, the inspection target output pin may be configured to apply all of the output pins of the first driving IC and the inspection voltage at the same time.

본 발명은 시스템 동작 전 출력 핀을 디폴트 전압으로 설정하고 검사 대상 출력 핀에만 검사 전압을 인가하여 출력 핀의 전압값을 모니터링함으로써 출력 핀 간의 단락도 검출 가능하다. 또한, 복수의 구동 IC 간의 단락 발생 시에도 1개의 구동 IC에 모두 검사 전압을 인가한 후, 나머지 다른 IC의 출력 핀의 전압을 모니터링함으로써 구동 IC들 간의 단락을 진단/검출할 수 있다.The present invention is capable of detecting a short circuit between output pins by setting the output pin to the default voltage before the system operation and monitoring the voltage value of the output pin by applying the inspection voltage only to the inspection target output pin. Further, even when a short circuit occurs between a plurality of driving ICs, it is possible to diagnose / detect a short circuit between the driving ICs by monitoring the voltages of the output pins of the other ICs after applying the inspection voltage to all of the driving ICs.

따라서, 서로 독립된 구동 IC 간의 통신없이 마이크로컨트롤러 유닛의 제어 만으로 구동 IC들 간의 단락을 진단/검출할 수 있다. 본 발명은 구동 IC 간의 단락 진단 시, 구동 IC들 간의 동작 타이밍 문제를 해결하고 진단 방식을 단순화함으로써 시스템의 진단을 용이하게 하고 검사 시간을 단축시킬 수 있다.Therefore, it is possible to diagnose / detect a short circuit between the driving ICs only by controlling the microcontroller unit without communication between the driving ICs independent of each other. The present invention solves the operation timing problem between the driving ICs and simplifies the diagnosis method when diagnosing a short circuit between the driving ICs, thereby facilitating the diagnosis of the system and shortening the inspection time.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
도 3은 도 1에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 4는 도 2에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC의 출력 출력 핀간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 7은 도 6에 도시된 제1 및 제2 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
도 8은 도 7에 도시된 구동 IC간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.1 is a block diagram showing the configuration of a drive IC output pin short-circuit diagnosis apparatus according to an embodiment of the present invention.
2 is a circuit diagram showing the detailed circuit of the driving IC shown in Fig.
3 is a diagram showing an example of a case where a short circuit between output pins of the driving IC shown in Fig. 1 occurs.
4 is a circuit diagram showing a detailed circuit of a driving IC when a short-circuit between output pins of the driving IC shown in Fig. 2 occurs.
5 is a flowchart illustrating a method of diagnosing a short-circuit between output output pins of a driving IC according to an embodiment of the present invention.
6 is a block diagram showing the configuration of an apparatus for short-circuit diagnosis between drive ICs according to an embodiment of the present invention.
7 is a circuit diagram showing detailed circuits of the first and second driving ICs shown in Fig.
8 is a diagram showing an example of a case where a short circuit occurs between the driving ICs shown in FIG.
9 is a flowchart illustrating a method of diagnosing a short circuit between drive ICs according to an embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있는 것으로, 이하의 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 또한, 설명의 편의를 위하여 도면에서는 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다. 그러나, 이하의 실시예는 이 기술분야에서 통상적인 지식을 가진 자에게 본 발명이 충분히 이해되도록 제공되는 것으로서 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 다음에 기술되는 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. It should be understood, however, that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but may be embodied in many different forms and should not be construed as limited to the embodiments set forth herein. Rather, these embodiments are provided so that this disclosure will be thorough and complete, Is provided to fully inform the user. In addition, for convenience of explanation, components may be exaggerated or reduced in size. However, it should be understood that the following embodiments are provided so that those skilled in the art will be able to fully understand the present invention, and that various modifications may be made without departing from the scope of the present invention. It is not.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락을 진단하는 장치의 구성을 나타낸 블록도이다. 도 2는 도 1에 도시된 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다. 도 3은 도 1에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다. 도 4는 도 2에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.1 is a block diagram showing a configuration of an apparatus for diagnosing a short-circuit between drive IC output pins according to an embodiment of the present invention. 2 is a circuit diagram showing the detailed circuit of the driving IC shown in Fig. 3 is a diagram showing an example of a case where a short circuit between output pins of the driving IC shown in Fig. 1 occurs. 4 is a circuit diagram showing a detailed circuit of a driving IC when a short-circuit between output pins of the driving IC shown in Fig. 2 occurs.

본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 장치는 구동 IC(100) 및 제어부(200)를 포함하며 에어백 점화기 등의 외부 부하(300)와 연결되어 있다. 단, 본 발명에서는 외부 부하(300)로서 에어백 점화기의 예를 들어서 설명하고 있으나, 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 당업자는 에어백 시스템 및 에어백 점화기 외에도 복수의 출력 핀을 가지는 구동 IC가 채택되는 장치 및 방법 등에 본 발명을 적용할 수 있다. The driving IC output pin short-circuit diagnosis apparatus according to an embodiment of the present invention includes a driving IC 100 and a control unit 200 and is connected to an external load 300 such as an airbag igniter. However, in the present invention, an example of the airbag igniter is described as the external load 300, but the present invention is not limited thereto. Those skilled in the art can apply the present invention to apparatuses and methods employing a driving IC having a plurality of output pins in addition to an airbag system and an airbag igniter.

IC(100)는 복수의 구동부(121, 125) 및 진단 회로(110)을 포함한다.The IC 100 includes a plurality of drivers 121 and 125 and a diagnostic circuit 110.

복수의 구동부(121, 125)는 정상 구동 중에 전류를 공급하여 외부 부하(300)을 구동할 수 있다. 복수의 구동부(121, 125)는 HS 구동부(121) 및 LS 구동부를 포함한다. 그리고, 각각의 구동부(122, 123, 126, 127)는 구동 드라이버(128) 및 구동 스위치(129)를 포함한다. 각각의 구동부(122, 123, 126, 127)는 출력 핀간 단락 진단 시에 차단된다.The plurality of drivers 121 and 125 can drive the external load 300 by supplying current during normal driving. The plurality of driving units 121 and 125 include an HS driving unit 121 and an LS driving unit. Each of the driving units 122, 123, 126, and 127 includes a driving driver 128 and a driving switch 129. Each of the drivers 122, 123, 126, and 127 is cut off at the time of diagnosis of the output pin short-circuit.

진단 회로(110)는 복수의 전압 분배기(112, 115, 116, 117), 검사 전압 인가 스위치(111, 114), 멀티플렉서(140), 진단 신호 생성부(130)를 포함한다. The diagnostic circuit 110 includes a plurality of voltage dividers 112, 115, 116 and 117, test voltage applying switches 111 and 114, a multiplexer 140 and a diagnostic signal generating unit 130.

복수의 전압 분배기(112, 115, 116, 117)는 상기 복수의 구동부(121, 125)와 복수의 HS/LS 출력 핀(H#1 ~ H#n, L#1 ~ L#n(단, n은 핀의 개수)) 사이에 각각 구비된다. 검사 전압 인가 스위치(111, 114)는 검사 전원(V_test)과 HS 구동부(122, 123)와 연결된 전압 분배기(112, 115)의 출력 노드(113) 사이에 각각 설치된다. The plurality of voltage dividers 112, 115, 116 and 117 are connected to the plurality of driving units 121 and 125 and the plurality of HS / LS output pins H # 1 to H # n, L # 1 to L # and n is the number of pins). The inspection voltage application switches 111 and 114 are installed between the inspection power source V_test and the output nodes 113 of the voltage dividers 112 and 115 connected to the HS driving units 122 and 123, respectively.

출력 핀간 단락 진단 시에는 복수의 검사 전압 인가 스위치(111, 114) 중, 검사 대상인 검사 전압 인가 스위치(111)만 턴온(Turn-on)과 동시에 검사 전원(V_test)이 인가된다. 단, 검사 대상은 순차적으로 변경된다. 즉, 검사 전압 인가 스위치(111) 및 검사 전압 인가 스위치(114)가 미리 정해진 순서대로 하나씩 턴온된다. At the time of short-circuit diagnosis between output pins, only the inspection voltage application switch 111 to be inspected among the plurality of inspection voltage application switches 111 and 114 is turned on and the inspection power source V_test is applied. However, the objects to be inspected are sequentially changed. That is, the inspection voltage application switch 111 and the inspection voltage application switch 114 are turned on one by one in a predetermined order.

설명의 편의를 위하여 복수의 전압 인가 스위치 및 전압 분배기 중 도면에 표시한 일부를 제 1 검사 전압 인가 스위치(111), 제 1 HS 전압 분배기(112), 제 1 LS 전압 분배기(117), 제 2 검사 전압 인가 스위치(114), 제 2 HS 전압 분배기(115), 제 2 LS 전압 분배기(116)이라고 칭한다. 본 명세서에서는 설명의 편의를 위하여 제 1, 제 2라고 칭하였지만, 당업자는 필요한 수만큼 검사 전압 인가 스위치 및 전압 분배기를 마련할 수 있다.For convenience of explanation, a part of the plurality of voltage applying switches and voltage dividers shown in the drawing is referred to as a first inspection voltage application switch 111, a first HS voltage divider 112, a first LS voltage divider 117, The inspection voltage application switch 114, the second HS voltage divider 115, and the second LS voltage divider 116, respectively. Although the first and second embodiments are referred to herein for convenience of explanation, a person skilled in the art can arrange as many inspection voltage application switches and voltage dividers as necessary.

한편, 도 1에 도시한 바와 같이, 제 1 HS 전압 분배기의 출력 노드(113), 제 1 HS 출력 핀(H#1), 제 1 LS 출력 핀(L#1), 외부 부하(300)를 포함하는 제 1 채널에는 등전위면(350)이 형성된다. 또한, 제 2 HS 전압 분배기의 출력 노드, 제 2 HS 출력 핀(H#2), 제 2 LS 출력 핀(L#2), 또 다른 외부 부하(300)를 포함하는 제 2 채널에도 등전위면이 형성되어 있다. 1, the output node 113, the first HS output pin H # 1, the first LS output pin L # 1, and the external load 300 of the first HS voltage divider An equipotential surface 350 is formed in the first channel. The second channel including the output node of the second HS voltage divider, the second HS output pin H # 2, the second LS output pin L # 2 and another external load 300 also has an equipotential surface Respectively.

진단이 시작되면, 먼저 제 1 검사 전압 인가 스위치(111)가 턴온되면서 검사 전원(V_test)과 출력 노드(113)이 연결되고, 제 1 채널에 형성된 등전위면(350)에 검사 전압이 인가된다. 이 경우, 제 2 검사 전압 인가 스위치(114)는 턴오프된 상황이므로, 제 2 채널에 형성된 등전위면에는 검사 전원이 제 2 HS 전압 분배기(115)기에 의하여 분배된 전압, 즉, 검사 전원(V_test)의 전압과는 다른 디폴트 전압이 인가되어 있다.The first inspection voltage application switch 111 is turned on so that the inspection power source V_test and the output node 113 are connected and the inspection voltage is applied to the equipotential surface 350 formed in the first channel. In this case, since the second inspection voltage application switch 114 is turned off, the inspection power is supplied to the equipotential surface formed on the second channel by the voltage distributed by the second HS voltage divider 115, that is, Quot;) is applied to the terminal.

단, 도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이, 제 1 채널과 제 2 채널의 출력 핀간 단락이 발생하면, 제 2 채널에도 검사 전원(V_test)의 전압이 인가되게 된다. 그리고, 제 1 채널 및 제 2 채널이 등전위면(355)이 형성되게 된다.As shown in FIGS. 3 and 4, when a short between the output pins of the first channel and the second channel occurs, the voltage of the test power source V_test is also applied to the second channel. Then, the first channel and the second channel are formed with the equipotential surface 355.

멀티플랙서(140)는 채널 선택 신호(150)에 기초하여 각 출력 핀별 전압을 진단 신호 생성부(130)에 순차적으로 인가한다. 진단 신호 생성부(130)는 아날로그-디지털 변환기를 포함할 수 있으며, 이 경우, 진단 신호 생성부(130)는 제어부(200)에 디지털로 변환된 각 채널의 전압값을 전송한다. 또는 진단 신호 생성부(130)는 비교기를 포함할 수도 있다. 비교기일 경우, 기준 전압과 각 채널별 전압값을 비교하여 이상이 발생한 경우에는 이상 신호를 진단 신호로서 생성하여 제어부(200)에 전송할 수 있다. The multiplexer 140 sequentially applies a voltage for each output pin to the diagnostic signal generating unit 130 based on the channel selection signal 150. The diagnostic signal generator 130 may include an analog-to-digital converter. In this case, the diagnostic signal generator 130 transmits the voltage value of each channel converted to the digital signal to the controller 200. Or the diagnostic signal generator 130 may include a comparator. In the case of a comparator, the reference voltage and the voltage value for each channel are compared. If an abnormality occurs, an abnormal signal can be generated as a diagnostic signal and transmitted to the controller 200.

바람직하게는 기준 전압은 검사 전압을 인가하지 않았을 때의 디폴트 전압(즉, 검사 전원이 각 전압 분배기(115)기에 의하여 분배된 전압)일 수 있으며, 진단 신호는 예컨대, 전압 이상이 발생한 채널의 출력 핀을 단락핀으로 결정하여 각 채널의 단락 여부에 대한 플래그에 저장하고, 제어부(200)에 전송할 수 있다.Preferably, the reference voltage may be a default voltage when the inspection voltage is not applied (that is, a voltage distributed by the voltage divider 115 of the inspection power source), and the diagnostic signal may be, for example, It can be determined that the pin is a shorting pin and stored in a flag indicating whether each channel is short-circuited and transmitted to the control unit 200. [

예를 들어, 도 3 및 도 4와 같이 제 1 채널과 제 2 채널에 단락이 발생한 경우에는, 진단 신호 생성부(130)에서 제 2 채널의 전압값을 읽을 때에 검사 전원(V_test)과 동일한 전압이 인가되게 되고, 다른 채널의 전압값을 읽을 때에는 상술한 디폴트 전압이 읽히게 된다. 이 경우, 제 1 채널 및 제 2 채널의 출력 핀을 단락 핀으로 결정하고, 제 1 출력 핀(H#1,L#1)과 제 2 출력 핀(H#2,L#2)를 단락핀으로 플래그에 저장할 수 있다. For example, when a short circuit occurs between the first channel and the second channel as shown in FIGS. 3 and 4, when the voltage value of the second channel is read by the diagnostic signal generation unit 130, the same voltage as the inspection power source V_test When the voltage value of another channel is read, the above-mentioned default voltage is read. In this case, the output pins of the first channel and the second channel are determined as shorting pins, and the first output pins H # 1 and L # 1 and the second output pins H # 2 and L # Can be stored in the flag.

제어부(200)는 마이크로컨트롤러 유닛(MCU)일 수 있다. 그리고, 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 명령을 상기 구동 IC(100)에 제공하여 복수의 구동부(121, 125)를 턴오프하고, 상기 복수의 검사 전압 인가 스위치를 순차적으로 턴온시키고, 채널 선택 신호(150)를 멀티플랙서(140)에 인가하여 채널별 전압값을 진단 신호 생성부(130)에 전송할 수 있다.The control unit 200 may be a microcontroller unit (MCU). Then, the driving IC output pin short-circuit diagnosis command is supplied to the driving IC 100 to turn off the plurality of driving units 121 and 125, sequentially turn on the plurality of inspection voltage application switches, May be applied to the multiplexer 140 to transmit the voltage value of each channel to the diagnostic signal generating unit 130. [

단, 진단 신호 생성부(130) 및/또는 멀티플랙서(140)는 구동 IC(100)에 포함될 수도 있고, 제어부(200)에 포함될 수도 있으며, 구동 IC(100) 및 제어부(200)와 별도 칩으로 구현될 수도 있다.The diagnosis signal generating unit 130 and / or the multiplexer 140 may be included in the driving IC 100 or may be included in the control unit 200 and may be separate from the driving IC 100 and the control unit 200 Chip.

이하, 도 5를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 에어백 시스템에서 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 방법을 설명한다. 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.Hereinafter, with reference to FIG. 5, a description will be given of a method of diagnosing short-circuiting between drive IC output pins in an airbag system according to an embodiment of the present invention. 5 is a flowchart illustrating a method of diagnosing short-circuiting between drive IC output pins according to an embodiment of the present invention.

제어부(200)는 구동 IC 출력 핀 간 단락 진단 명령을 구동 IC(100)로 제공한다. 이 경우, 구동 IC는 출력 핀 간 단락 진단 모드로 돌입하게 되고, 구동부(121, 125)를 모두 턴오프한다(단계 S504). 그리고, 검사 전원(V_test)이 모든 전압 분배기에 공급되면서, 모든 출력 핀에 디폴트 전압이 공급되게 된다.The control unit 200 provides a driving IC output pin short-circuit diagnosis command to the driving IC 100. [ In this case, the drive IC enters the output pin short-circuit diagnosis mode and turns off all the drivers 121 and 125 (step S504). Then, the inspection power supply (V_test) is supplied to all the voltage dividers, so that a default voltage is supplied to all the output pins.

그 후, 구동 IC(100)는 구동 IC 출력 핀 간 단락 진단 명령에 응답하여, 검사 대상인 출력 핀에 대응되는 검사 전압 인가 스위치를 턴온한다. 해당 검사 전압 인가 스위치가 턴온 되면, 검사 대상 출력 핀에 검사 전압이 인가된다. 상술한 바와 같이, 검사 전압은 디폴트 전압과는 다르다. 최초 검사 대상이 상술한 제 1 채널인 경우, 제 1 채널에는 검사 전압의 등전위면이 형성된다(단계 S504). Thereafter, the driving IC 100 turns on the inspection voltage application switch corresponding to the output pin to be inspected in response to the drive IC output pin short-circuit diagnosis command. When the corresponding inspection voltage applying switch is turned on, the inspection voltage is applied to the inspection target output pin. As described above, the inspection voltage differs from the default voltage. If the first inspection target is the first channel described above, an equipotential surface of the inspection voltage is formed in the first channel (step S504).

이 경우, 단락 고장이 없는 경우에는 제 1 채널을 제외한 나머지 채널은 디폴트 전압의 등전위면이 형성된다. 하지만, 제 1 채널과 단락된 채널의 출력 핀은 검사 전압이 그대로 공급되게 된다.In this case, when there is no short-circuit failure, the remaining channels except for the first channel have an equipotential surface of the default voltage. However, the output pin of the first channel and the short-circuited channel are supplied with the inspection voltage as it is.

상기 멀티플렉서(140)는 채널 선택 신호에 따라 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀의 전압을 순차적으로 선택하고, 진단 신호 생성부(130)로 출력한다(단계 S506).The multiplexer 140 sequentially selects the voltages of the remaining output pins except for the output pin to be tested according to the channel selection signal, and outputs the voltages to the diagnostic signal generator 130 (step S506).

상기 진단 신호 생성부(130)는 상기 멀티플렉서(140)로부터의 상기 나머지 출력의 단락 이상 여부를 판단하여 진단 신호를 출력한다(단계 S508). 진단 신호 생성부(130)가 비교기로 구현되는 경우에는 상기 나머지 출력 핀의 전압을 디폴트 전압과 비교하여 진단 신호를 생성한다. 진단 신호 생성부(130)가 아날로그-디지털 변환기로 구현되는 경우에는 각 출력 핀의 전압값을 제어부(200)로 출력한다(단계 S508).The diagnostic signal generator 130 determines whether there is a short circuit of the remaining output from the multiplexer 140 and outputs a diagnostic signal (step S508). When the diagnostic signal generating unit 130 is implemented as a comparator, the voltage of the remaining output pin is compared with a default voltage to generate a diagnostic signal. When the diagnostic signal generator 130 is implemented as an analog-to-digital converter, the voltage value of each output pin is output to the controller 200 (step S508).

제어부(200) 또는 구동 IC(100)는 상기 진단 신호에 기초하여, 단락이 발생한 출력 핀의 단락 고장 플래그에 단락 여부를 저장할 수 있다(S510). 예를 들어, 제어부(200)에서 각 출력 핀의 전압 값을 수신하여 직접 디폴트 전압과 비교하여 단락 고장 플래그에 단락 여부를 저장할 수도 있으며, 구동 IC(100)에서 버퍼 등에 출력 핀 별 단락 고장 플래그를 저장하여 제어부(200)에 전송할 수도 있다.The control unit 200 or the driving IC 100 may store the short circuit fault flag of the output pin where a short circuit occurs, based on the diagnostic signal (S510). For example, the control unit 200 may receive the voltage value of each output pin and compare the output voltage with the direct default voltage to store the short-circuit failure flag in the control IC 200. In the drive IC 100, a short- And transmit the same to the control unit 200.

제어부(200) 또는 구동 IC(100)는 정해진 순서에 따라 검사 대상 출력 핀을 변경하면서, 모든 출력 핀들 사이의 단락 여부를 결정할 때까지 상술한 단계들(S502 내지 S510)을 반복할 수 있다.The control unit 200 or the driving IC 100 may repeat the steps S502 to S510 until the output pin to be tested is changed according to a predetermined order and the short circuit between all the output pins is determined.

따라서, 본 발명의 실시예에 따르면, 동작 중에만 검사가 가능하였던 종래 기술과는 달리, 시스템의 동작 전에 단락 고장 이상 유무를 판단하는 것이 가능하다.Therefore, according to the embodiment of the present invention, it is possible to determine whether there is a short-circuit failure before the operation of the system, unlike the prior art in which inspection was possible only during operation.

도 6은 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간의 단락 진단을 검사하는 구성을 나타낸 블록도이다. 도 7은 도 6에 도시된 제 1 및 제 2 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다. 도 8은 도 7에 도시된 복수의 구동 IC간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다.6 is a block diagram showing a configuration for checking short-circuit diagnosis between drive ICs according to an embodiment of the present invention. 7 is a circuit diagram showing detailed circuits of the first and second driving ICs shown in Fig. 8 is a diagram showing an example of a case where a short circuit occurs between the plurality of driving ICs shown in Fig.

도 6 및 도 7을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 장치는 복수의 구동 IC(500 및 600) 및 제어부(700)를 포함한다. Referring to FIGS. 6 and 7, an apparatus for short-circuit diagnosis between drive ICs according to an embodiment of the present invention includes a plurality of drive ICs 500 and 600 and a controller 700.

복수의 구동 IC(500 및 600)는 각각 도 2에 나타낸 구동 IC와 동일한 구조를 가진다. 설명의 간략화를 위하여 동일한 내용에 대해서는 설명을 생략한다. 또한, 이하에서는 2개의 구동 IC(500 및 600)를 통해 발명을 설명하고 있지만, 본 발명은 2개 이상의 구동 IC에도 적용이 가능하다.The plurality of drive ICs 500 and 600 each have the same structure as the drive IC shown in Fig. For the sake of simplicity of description, the same description will be omitted. In the following, although the invention has been described using two drive ICs 500 and 600, the present invention is also applicable to two or more drive ICs.

제어부(700)는 제 1 구동 IC(500)와 제 2 구동 IC(600)에 구동 IC간 단락 진단 명령을 전달할 수 있다. 이 경우, 제 1 구동 IC(500)와 제 2 구동 IC(600)는 구동 IC간 단락 진단 모드에 돌입한다. The control unit 700 can transmit a short-circuit diagnosis command between the first IC 500 and the second IC 600. [ In this case, the first drive IC 500 and the second drive IC 600 enter the short circuit diagnostic mode between the drive ICs.

구동 IC간 단락 진단 명령은 2개의 명령을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제어부(700)는 제 1 구동 IC에는 제 1 구동 IC간 진단 명령을 전송하고, 제 2 구동 IC에는 제 2 구동 IC간 진단 명령을 전송할 수 있다. The short-circuit diagnostic command between the driving ICs may include two instructions. For example, the control unit 700 may transmit the first drive IC diagnosis command to the first drive IC and the second drive IC diagnostic command to the second drive IC.

제 1 구동 IC간 진단 명령은 예를 들어, 구동부(121, 125)를 모두 오프하고 전압 인가 모드에 있는 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 명령을 포함할 수 있다. 바람직하게는 모든 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 동시에 검사 전압을 인가할 수도 있다.The first drive IC diagnostic command may include, for example, an instruction to turn off all of the drivers 121 and 125 and apply an inspection voltage to an inspection target output pin of the drive IC in the voltage application mode. Preferably, the inspection voltage may be simultaneously applied to the output pin to be inspected of all the driving ICs.

제 2 구동 IC간 진단 명령은 예를 들어, 구동부(121, 125)를 모두 오프하고 복수의 출력 핀의 전압을 순차적으로 진단 신호 생성부(130)에 출력하도록 하는 명령을 포함할 수 있다.The second drive IC diagnosis command may include, for example, a command to turn off all of the drivers 121 and 125 and sequentially output the voltages of the plurality of output pins to the diagnostic signal generator 130.

따라서, 제 1 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압이 인가되고 제 2 구동 IC의 출력 핀들의 전압을 모니터링하여 제 1 구동 IC와 제 2 구동 IC 사이의 단락을 진단할 수 있다. Therefore, the inspection voltage is applied to the inspection target output pin of the first driving IC and the voltage of the output pins of the second driving IC is monitored to diagnose a short circuit between the first driving IC and the second driving IC.

이하에서는 도 7 및 도 8을 참조하여 본 발명의 동작 및 원리에 대하여 설명한다.Hereinafter, the operation and principle of the present invention will be described with reference to Figs. 7 and 8. Fig.

제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 제 1 구동 IC(500)는 모든 구동부(510)를 턴오프시키고 검사 대상인 출력 핀에 해당하는 검사 전압 인가 스위치(520)가 턴온되면, 검사 대상 출력 핀(H#n)에 검사 전압이 인가된다. 바람직하게는 제 1 구동 IC(500)의 모든 출력 핀에 검사 전압이 동시에 인가될 수 있다.The first driving IC 500 turns off all the driving units 510 according to the short-circuit diagnosis command between the first driving ICs, and when the inspection voltage applying switch 520 corresponding to the output pin to be inspected is turned on, H # n). The inspection voltage may be applied to all the output pins of the first driving IC 500 simultaneously.

그리고, 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 제 2 구동 IC(600)에서 모든 구동부(610)가 턴오프되고, 출력 핀이 멀티플랙서(640)에 의하여 순차적으로 선택된다. 진단 신호 생성부(650)는 멀티플랙서(640)에서 순차적으로 출력되는 각 출력 핀의 전압값에 기초하여 진단 신호를 생성한다.In accordance with the short-circuit diagnosis command between the second driving ICs, all the driving units 610 are turned off in the second driving IC 600, and the output pins are sequentially selected by the multiplexer 640. The diagnostic signal generator 650 generates diagnostic signals based on the voltage values of the output pins sequentially output from the multiplexer 640.

상기 진단 신호는 제어부(700)로 전송되며, 다시 제 1 구동 IC에는 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 제 2 구동 IC에는 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하여 동일한 검사를 반복한다. 이 경우, 도 7 및 도 8과 같이, 구동 IC간 단락이 있는 경우에는 검사 전압이 모니터링 대상 구동 IC의 출력 핀에서 검출되게 된다. The diagnostic signal is transmitted to the controller 700. The short diagnosis command is transmitted to the first driver IC and the short drive diagnostic command is sent to the second driver IC. do. In this case, as shown in Figs. 7 and 8, when there is a short circuit between the driving ICs, the inspection voltage is detected at the output pin of the monitoring target driving IC.

이하, 도 9를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 복수의 구동 IC간 단락 진단 방법을 설명한다. 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.Hereinafter, a method for diagnosing a short circuit between a plurality of driving ICs according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 9 is a flowchart illustrating a method of diagnosing a short circuit between drive ICs according to an embodiment of the present invention.

제어부(700)가 제 1 구동 IC(500)로 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전달하면, 제 1 구동 IC(500)를 전압 인가 모드로 설정하고, 제 1 구동 IC(500)의 모든 구동부(510)를 오프한다. 또한, 제어부(700)는 검사 대상 출력 핀에 대응하는 검사 전압 인가 스위치(520)를 턴온하여 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가한다(단계 S902). 앞서 설명한 바와 같이, 바람직하게는 모든 출력 핀을 검사 대상으로 하여 동시에 검사 전압을 인가할 수 있다. The control unit 700 sets the first driving IC 500 to the voltage application mode when all of the first driving ICs 500 and the first driving IC 500 are connected to each other, (510) is turned off. In addition, the controller 700 turns on the inspection voltage applying switch 520 corresponding to the inspection subject output pin and applies the inspection voltage to the inspection subject output pin (step S902). As described above, preferably, all the output pins are to be inspected and the inspection voltage can be applied at the same time.

한편, 제어부(700)는 제2 구동 IC(600)에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전달하여 제2 구동 IC(600)을 모니터링 모드로 설정하고, 제 2 구동 IC(600)의 구동부(610)를 모두 오프한다. 그리고, 제 2 구동 IC(600)의 멀티플렉서(640)를 통하여 상기 제 2 구동 IC(600)의 출력 핀의 전압을 순차적으로 진단 신호 생성부(650)로 출력한다(S904)Meanwhile, the controller 700 transmits a short-circuit diagnosis command between the second driving ICs to the second driving IC 600 to set the second driving IC 600 in the monitoring mode, and the driving unit 600 of the second driving IC 600 610 are all turned off. The voltage of the output pin of the second driver IC 600 is sequentially output to the diagnostic signal generator 650 through the multiplexer 640 of the second driver IC 600 (S904)

제 2 구동 IC(600)의 진단 신호 생성부(650)는 멀티플렉서(640)로부터의 출력 핀들에 인가된 전압값을 비교기를 통하여 순차적으로 디폴트 값과 비교하여 진단 신호를 생성 및 제어부(700)로 전달하거나, 또는 진단 신호로서, 상기 전압값을 디지털 값으로 변환하여 제어부(700)로 전달한다(단계 S906).The diagnostic signal generator 650 of the second driver IC 600 sequentially generates a diagnostic signal by comparing the voltage value applied to the output pins from the multiplexer 640 with a default value through a comparator and outputs the diagnostic signal to the controller 700 Or converts the voltage value into a digital value as a diagnostic signal and transmits the digital value to the controller 700 (step S906).

상기 제어부(700)는 상기 진단 신호들을 기초로 하여 디폴트 값과 다른 전압이 인가된 제 2 구동 IC의 출력 핀을 제 1 구동 IC(500)에 단락된 것으로 판단하고, 플래그에 저장한다(단계 S908).The controller 700 determines that the output pin of the second driving IC to which the voltage different from the default value is applied is short-circuited to the first driving IC 500 and stores the output pin in the flag based on the diagnostic signals (step S908 ).

제 1 구동 IC의 모든 출력 핀에 대한 검사 전압 인가를 마친 후, 제 1 구동 IC와 제 2 구동 IC와 서브모드를 서로 바꾸고 단계 S902 내지 S908을 반복한다 (단계 S910). 따라서, 본 발명의 실시예에 따르면, 구동 IC 간 단락 여부를 확인하는 것이 가능하다.After finishing the application of the inspection voltage to all the output pins of the first driving IC, the first driving IC and the second driving IC are interchanged with the submode, and steps S902 to S908 are repeated (step S910). Therefore, according to the embodiment of the present invention, it is possible to confirm whether the drive IC is short-circuited.

한편, 본 발명의 상세한 설명 및 첨부도면에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명은 개시된 실시예에 한정되지 않고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다. 따라서, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들을 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다.While the present invention has been described in connection with what is presently considered to be practical exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, It is to be understood that the invention is not limited to the disclosed embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and similarities. Accordingly, the scope of the present invention should be construed as being limited to the embodiments described, and it is intended that the scope of the present invention encompasses not only the following claims, but also equivalents thereto.

100: 구동 IC
110: 진단 회로
121, 125: 구동부
200, 700: 제어부
300, 800: 부하
500: 제 1 구동 IC
510, 610: HS/LS 구동부
600: 제 2 구동 IC100: driving IC
110: diagnostic circuit
121, 125:
200, 700:
300, 800: load
500: first driving IC
510, 610: HS / LS driver
600: second driving IC

Claims (20)

구동 IC; 및
상기 구동 IC에 출력 핀간 단락 진단 명령을 전송하는 제어부를 포함하되,
상기 구동 IC는,
부하를 구동하기 위한 복수의 HS(High Side) 구동부 및 상기 복수의 HS 구동부에 각각 대응하는 복수의 LS(Low Side) 구동부;
상기 출력 핀간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치;
상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중, 검사 대상이 아닌 출력 핀들에 인가하는 복수의 전압 분배기;
상기 복수의 출력 핀에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및
상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하며,상기 제어부는 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하며,
차량 시스템 동작 전 단락 진단 모드에서 상기 검사 대상이 되는 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 검사 전압의 등전위면이 형성되고, 검사 대상이 아닌 출력 핀들 각각에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 디폴트 전압의 등전위면이 각각 형성되도록 구성되며,
검사 대상이 아닌 출력 핀들 중 적어도 하나와 상기 검사 대상이 되는 출력 핀 사이에 단락이 있는 경우에 단락 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 핀과 LS 구동부의 출력 핀 및 상기 검사 대상이 되는 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 핀과 LS 구동부의 출력 핀의 전압값으로 상기 검사 전압이 검출되도록 구성되는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치.
Driving IC; And
And a controller for transmitting an output pin short-circuit diagnosis command to the drive IC,
The driving IC includes:
A plurality of HS (High Side) drivers for driving loads and a plurality of LS (Low Side) drivers respectively corresponding to the plurality of HS drivers;
A plurality of test voltage application switches for applying an inspection voltage to an output pin to be inspected among a plurality of output pins in accordance with the output pin short-circuit diagnosis command;
A plurality of voltage dividers for applying a default voltage different from the inspection voltage to the output pins not to be inspected among the plurality of output pins;
A multiplexer for sequentially selecting and outputting a voltage value applied to the plurality of output pins; And
And a diagnostic signal generator for generating a diagnostic signal for the voltage value, wherein the controller determines a shorting pin among the plurality of output pins based on the diagnostic signal,
In the short-circuit diagnosis mode before the vehicle system operation, an equipotential surface of the inspection voltage is formed at the output node of the HS driving unit, the load, and the output node of the LS driving unit corresponding to the output pin to be inspected, An equipotential surface of the default voltage is respectively formed at the output node of the corresponding HS driver, the load, and the output node of the LS driver,
When there is a short circuit between at least one of the output pins that are not to be inspected and the output pin to be tested, the output pin of the HS driving unit corresponding to the shorting pin, the output pin of the LS driving unit, The test voltage is detected by the voltage value of the output pin of the HS driving unit and the output pin of the LS driving unit,
Short circuit diagnosis device between output pin of drive IC.
제 1 항에 있어서,
상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 검사 전압을 인가하는 검사 전원과 상기 복수의 전압 분배기 출력 노드 사이에 각각 연결되는
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치.
The method according to claim 1,
The plurality of inspection voltage application switches are connected between an inspection power source for applying the inspection voltage and the output nodes of the plurality of voltage divider
Short circuit diagnosis device between output pin of drive IC.
제 1 항에 있어서,
상기 구동 IC는 상기 출력 핀간 단락 진단 명령 시 상기 복수의 HS 구동부 및 복수의 LS 구동부가 오프되는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the driving IC is configured to turn off the plurality of HS driving units and the plurality of LS driving units when the output pin short-
Short circuit diagnosis device between output pin of drive IC.
제 1 항에 있어서,
상기 디폴트 전압은 상기 검사 전압이 상기 전압 분배기에 의하여 분배된 전압인,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the default voltage is a voltage that the inspection voltage is distributed by the voltage divider,
Short circuit diagnosis device between output pin of drive IC.
제 1 구동 IC;
제 2 구동 IC; 및
상기 제 1 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하는 제어부를 포함하며,
상기 제 1 구동 IC 및 상기 제 2 구동 IC는 각각
부하를 구동하기 위한 복수의 HS(High Side) 구동부 및 상기 복수의 HS 구동부에 각각 대응하는 복수의 LS(Low Side) 구동부;
상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치;
상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 아닌 출력 핀에 인가하는 복수의 전압 분배기;
상기 복수의 출력 핀 중 적어도 일부에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및
상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하며,
상기 검사 대상이 되는 출력 핀은 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 결정되고, 상기 제어부는 상기 진단 신호에 기초하여 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하도록 구성되며,
차량 시스템 동작 전 단락 진단 모드에서 상기 제 1 구동 IC의 검사 대상이 되는 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 검사 전압의 등전위면이 형성되고, 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀 각각에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 디폴트 전압의 등전위면이 각각 형성되도록 구성되며,
상기 제 1 구동 IC와 상기 제 2 구동 IC 사이에 단락이 있는 경우에 상기 제 2 구동 IC에서 단락 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 핀과 LS 구동부의 출력 핀의 전압값으로 상기 검사 전압이 검출되도록 구성되는,
구동 IC간 단락 진단 장치.
A first driving IC;
A second driving IC; And
And a controller for transmitting a short-circuit diagnosis command between the first driving ICs to the first driving IC and transmitting a short-circuit diagnosis command between the second driving ICs to the second driving IC,
The first driving IC and the second driving IC are
A plurality of HS (High Side) drivers for driving loads and a plurality of LS (Low Side) drivers respectively corresponding to the plurality of HS drivers;
A plurality of test voltage application switches for applying an inspection voltage to an output pin to be inspected among a plurality of output pins in accordance with the short-circuit diagnosis command between the first drive ICs;
A plurality of voltage dividers for applying a default voltage different from the inspection voltage to an output pin not to be inspected among the plurality of output pins;
A multiplexer sequentially selecting and outputting a voltage value applied to at least a part of the plurality of output pins; And
And a diagnostic signal generator for generating a diagnostic signal for the voltage value,
Wherein the output pin to be inspected is determined in accordance with the short-circuit diagnosis command between the first drive ICs, and the control unit is configured to determine a short-circuit pin among the plurality of output pins of the second drive IC based on the diagnostic signal,
An equipotential surface of the inspection voltage is formed at the output node of the HS driving unit, the load, and the output node of the LS driving unit corresponding to the output pin to be inspected of the first driving IC in the short-circuit diagnosis mode before the vehicle system operation, An equipotential surface of the default voltage is respectively formed at the output node of the HS driver, the load, and the output node of the LS driver corresponding to the plurality of output pins of the driver IC,
So that the inspection voltage is detected by the voltage value of the output pin of the HS driving unit and the output pin of the LS driving unit corresponding to the shorting pin in the second driving IC when there is a short circuit between the first driving IC and the second driving IC Configured,
Short circuit diagnosis device between drive ICs.
제 5 항에 있어서,
상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 검사 전압을 인가하는 검사 전원과 상기 복수의 전압 분배기 출력 노드 사이에 각각 연결되는
구동 IC간 단락 진단 장치.
6. The method of claim 5,
The plurality of inspection voltage application switches are connected between an inspection power source for applying the inspection voltage and the output nodes of the plurality of voltage divider
Short circuit diagnosis device between drive ICs.
제 5 항에 있어서,
상기 제 1 구동 IC의 HS 구동부와 LS 구동부 및 상기 제 2 구동 IC의 HS 구동부와 LS 구동부는 상기 제 1 구동 IC 및 상기 제 2 구동 IC 간 단락 진단 명령 시 오프되는,
구동 IC간 단락 진단 장치.
6. The method of claim 5,
Wherein the HS driving unit and the LS driving unit of the first driving IC and the HS driving unit and the LS driving unit of the second driving IC are turned off at the time of a short-circuit diagnosis command between the first driving IC and the second driving IC,
Short circuit diagnosis device between drive ICs.
제 5 항에 있어서,
상기 디폴트 전압은 상기 검사 전압이 상기 전압 분배기에 의하여 분배된 전압인,
구동 IC간 단락 진단 장치.
6. The method of claim 5,
Wherein the default voltage is a voltage that the inspection voltage is distributed by the voltage divider,
Short circuit diagnosis device between drive ICs.
제 5 항에 있어서,
상기 제 1 구동 IC의 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 동시에 턴온되도록 구성되는,
구동 IC간 단락 진단 장치.
6. The method of claim 5,
Wherein the plurality of inspection voltage application switches of the first driving IC are configured to be turned on at the same time in accordance with the short-
Short circuit diagnosis device between drive ICs.
구동 IC 및 제어부를 포함하는 구동 시스템의 구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법에 있어서,
상기 제어부에서 전송한 출력 핀 간 단락 진단 명령에 따라 상기 구동 IC가 상기 구동 IC의 HS(High Side) 구동부 및 LS(Low Side) 구동부를 오프시키는 단계;
상기 구동 IC의 복수의 출력 핀 중, 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하고, 상기 복수의 출력 핀 중, 상기 검사 대상 출력 핀 외 나머지 출력 핀에 디폴트 전압을 인가하는 단계;
상기 복수의 출력 핀 중, 상기 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀들의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하고 진단 신호를 생성하는 단계; 및
상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하며,
상기 디폴트 전압을 인가하는 단계는 차량 시스템 동작 전 단락 진단 모드에서 상기 검사 대상 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 검사 전압의 등전위면이 형성되고, 검사 대상이 아닌 출력 핀들에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 디폴트 전압의 등전위면이 형성되는 단계를 포함하며,
검사 대상이 아닌 출력 핀들 중 적어도 하나와 상기 검사 대상 출력 핀 사이에 단락이 있는 경우에 단락 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 핀과 LS 구동부의 출력 핀 및 상기 검사 대상 출력 핀에 대응하는 HS 구동부와 LS 구동부의 출력 핀의 전압값으로 상기 검사 전압이 검출되는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
A method of diagnosing a short-circuit between output pins of a drive IC of a drive system including a drive IC and a control unit,
Turning off the HS (High Side) driver and the LS (Low Side) driver of the driving IC according to an output pin short-circuit diagnostic command transmitted from the controller;
Applying a test voltage to an inspection target output pin among a plurality of output pins of the driving IC and applying a default voltage to the output pins other than the inspection target output pin among the plurality of output pins;
Sequentially selecting a voltage value of the output pins other than the inspection target output pin among the plurality of output pins and outputting the selected voltage value to the diagnostic signal generator and generating a diagnostic signal; And
And determining a shorting pin of the plurality of output pins based on the diagnostic signal,
The step of applying the default voltage includes forming an equipotential surface of the inspection voltage at the output node of the HS driving unit, the load and the output node of the LS driving unit corresponding to the inspection target output pin in the short-circuit diagnosis mode before the vehicle system operation, And forming an equipotential surface of the default voltage at the output node of the HS driver, the load, and the output node of the LS driver corresponding to the output pins,
When there is a short circuit between at least one of the output pins that are not to be inspected and the output pin to be tested, an output pin of the HS driving unit corresponding to the shorting pin, an output pin of the LS driving unit, And the inspection voltage is detected by the voltage value of the output pin of the LS driver.
A method of short-circuit diagnosis between output pins of a driving IC.
제 10 항에 있어서,
상기 결정된 단락 핀을 플래그에 저장하는 단계를 더 포함하는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
11. The method of claim 10,
Further comprising the step of storing said determined shorting pin in a flag,
A method of short-circuit diagnosis between output pins of a driving IC.
제 10 항에 있어서,
상기 단락 핀을 결정하는 단계는 상기 전압 값을 상기 디폴트 전압과 비교하여 상기 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
11. The method of claim 10,
Wherein determining the shorting pin comprises comparing the voltage value to the default voltage to determine the shorting pin.
A method of short-circuit diagnosis between output pins of a driving IC.
제 10 항에 있어서,
상기 진단 신호를 생성하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 통하여 변환된 디지털 전압 값을 상기 제어부로 전송하는 단계를 포함하는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
11. The method of claim 10,
Wherein the generating of the diagnostic signal comprises transmitting the converted digital voltage value through the analog to digital converter to the controller.
A method of short-circuit diagnosis between output pins of a driving IC.
제 10 항에 있어서,
상기 검사 대상 출력 핀 외 나머지 출력 핀 중 어느 하나를 제 2 검사 대상으로 지정하는 단계;
상기 복수의 출력 핀 중, 상기 제 2 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀들의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하고 진단 신호를 생성하는 단계; 및
상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 더 수행하는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
11. The method of claim 10,
Designating any one of the output pins other than the output pin to be inspected as a second inspection target;
Sequentially selecting a voltage value of the output pins other than the second check target output pin among the plurality of output pins and outputting the selected voltage value to the diagnostic signal generator and generating a diagnostic signal; And
Further comprising determining a shorting pin of the plurality of output pins based on the diagnostic signal,
A method of short-circuit diagnosis between output pins of a driving IC.
제 1 구동 IC, 제 2 구동 IC 및 제어부를 포함하는 구동 IC간 단락 진단 방법에 있어서,
상기 제어부가 상기 제 1 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 1 구동 IC 및 제 2 구동 IC의 HS(High Side) 구동부 및 LS(Low Side) 구동부를 턴오프하는 단계;
상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 상기 제 1 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 단계;
상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀에 디폴트 전압을 인가하고, 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하는 단계;
상기 제 2 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호를 생성하는 단계; 및
상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하며,
상기 디폴트 전압을 인가하는 단계는 차량 시스템 동작 전 단락 진단 모드에서, 상기 제 1 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 검사 전압의 등전위면이 형성되고, 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀 각각에 대응하는 HS 구동부의 출력 노드, 부하 및 LS 구동부의 출력 노드에 상기 디폴트 전압의 등전위면이 각각 형성되도록 구성되는 단계를 포함하며,
상기 제 1 구동 IC와 상기 제 2 구동 IC 사이에 단락이 있는 경우에 상기 제 2 구동 IC에서 단락 핀에 대응하는 LS 구동부의 출력 핀 및 HS 구동부의 출력 핀의 전압값으로 상기 검사 전압이 검출되도록 구성되는
구동 IC간 단락 진단 방법.
A method for short-circuit diagnosis between drive ICs including a first drive IC, a second drive IC, and a control unit,
The control unit transmits a short-circuit diagnosis command between the first driving ICs to the first driving IC, transmits a short-circuit diagnosis command between the second driving ICs to the second driving IC, Turning off the HS (High Side) driver and the LS (Low Side) driver;
Applying an inspection voltage to an inspection target output pin of the first driving IC in accordance with a short circuit diagnostic command between the first driving ICs;
Applying a default voltage to a plurality of output pins of the second driver IC, sequentially selecting a voltage value of a plurality of output pins of the second driver IC, and outputting the selected voltage to a diagnostic signal generator;
Generating a diagnostic signal for the plurality of output pins of the second driver IC; And
And determining a shorting pin of the plurality of output pins based on the diagnostic signal,
Wherein the step of applying the default voltage comprises the steps of: applying, to the output node of the HS driving unit, the load and the output node of the LS driving unit corresponding to the subject output pin of the first driving IC, And an equipotential surface of the default voltage is respectively formed at the output node of the HS driver, the load, and the output node of the LS driver corresponding to each of the plurality of output pins of the second driver IC,
When the short circuit is present between the first driving IC and the second driving IC, the inspection voltage is detected by the voltage value of the output pin of the LS driving part and the output pin of the HS driving part corresponding to the shorting pin in the second driving IC Constituted
A method for short - circuit diagnosis between drive ICs.
제 15 항에 있어서,
상기 결정된 단락 핀을 플래그에 저장하는 단계를 더 포함하는,
구동 IC간 단락 진단 방법.
16. The method of claim 15,
Further comprising the step of storing said determined shorting pin in a flag,
A method for short - circuit diagnosis between drive ICs.
제 15 항에 있어서,
상기 단락 핀을 결정하는 단계는 상기 전압 값을 디폴트 전압과 비교하여 상기 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하는,
구동 IC간 단락 진단 방법.
16. The method of claim 15,
Wherein determining the shorting pin comprises comparing the voltage value to a default voltage to determine the shorting pin.
A method for short - circuit diagnosis between drive ICs.
제 15 항에 있어서,
상기 진단 신호를 생성하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 통하여 변환된 디지털 전압 값을 상기 제어부로 전송하는 단계를 포함하는,
구동 IC간 단락 진단 방법.
16. The method of claim 15,
Wherein the generating of the diagnostic signal comprises transmitting the converted digital voltage value through the analog to digital converter to the controller.
A method for short - circuit diagnosis between drive ICs.
제 15 항에 있어서,
상기 단락 핀을 결정하는 단계 후에,
상기 제어부가 상기 제 1 구동 IC에 상기 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하는 단계;
상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 상기 제 2 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 단계;
상기 제 1 구동 IC의 복수의 출력 핀에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하는 단계;
상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호를 생성하는 단계; 및
상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호에 기초하여 상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 더 포함하는,
구동 IC간 단락 진단 방법.
16. The method of claim 15,
After determining the shorting pin,
The controller transmits a short-circuit diagnosis command to the first driver IC between the second driver ICs and transmits a short-circuit diagnosis command between the first driver ICs to the second driver IC;
Applying an inspection voltage to an inspection target output pin of the second driving IC according to a short circuit diagnostic command between the first driving ICs;
Sequentially selecting a voltage value applied to the plurality of output pins of the first driving IC and outputting the selected voltage value to the diagnostic signal generating unit;
Generating a diagnostic signal for the plurality of output pins of the first driver IC; And
Further comprising determining a shorting pin of the plurality of output pins of the first driving IC based on a diagnostic signal for the plurality of output pins of the first driving IC.
A method for short - circuit diagnosis between drive ICs.
제 15 항에 있어서,
상기 검사 대상 출력 핀은 상기 제 1 구동 IC의 모든 출력 핀이고, 동시에 검사 전압이 인가되도록 구성되는,
구동 IC간 단락 진단 방법.16. The method of claim 15,
Wherein the output pin to be tested is all the output pins of the first driver IC and is configured to simultaneously apply an inspection voltage.
A method for short - circuit diagnosis between drive ICs.
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