KR101824629B1 - 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계 및 그 감마선 신호처리 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 감마선을 이용한 측정 시 이극(bipolar) 펄스 신호를 적용할 수 있도록 구성되는 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계 및 그 감마선 신호처리 방법에 관한 것이다.
상기 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계는, 신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비하여 입력된 감마선을 증폭한 후 전기 신호로 변환하여 출력하는 감마선 검출부(120); 및 상기 감마선 검출부(120)에서 출력되는 전기 신호에서 이극 펄스 신호를 추출한 후, 펄스 위상차 신호처리, 제로교차점(zero crossover point) 신호처리 또는 파일업 리젝션(pileup rejection) 신호처리 중 하나 이상의 신호처리를 수행한 후 단극 펄스에 대응하는 에너지를 가지는 이극 펄스의 스펙트럼 신호를 출력하는 신호처리부(130);를 포함하여 구성될 수 있다.
상기 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계는, 신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비하여 입력된 감마선을 증폭한 후 전기 신호로 변환하여 출력하는 감마선 검출부(120); 및 상기 감마선 검출부(120)에서 출력되는 전기 신호에서 이극 펄스 신호를 추출한 후, 펄스 위상차 신호처리, 제로교차점(zero crossover point) 신호처리 또는 파일업 리젝션(pileup rejection) 신호처리 중 하나 이상의 신호처리를 수행한 후 단극 펄스에 대응하는 에너지를 가지는 이극 펄스의 스펙트럼 신호를 출력하는 신호처리부(130);를 포함하여 구성될 수 있다.
Description
본 발명은 감마선 분광계 및 감사선 신호처리 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 감마선을 이용한 행성탐사 시 이극(bipolar) 펄스 신호를 적용할 수 있도록 구성되는 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계 및 그 감마선 신호처리 방법에 관한 것이다.
감마선 분광계는 미지의 동위원소로부터 나오는 감마선의 에너지를 측정하는 기기로 원자력 분야 및 지질화학, 천체물리학 등의 분야에서 이용되고 있다. 특히, 행성탐사 시 물의 존재 여부 등의 확인을 위해서는 감마선 분광 기술의 적용이 필수적이다.
이러한 감마선 분광계의 이용 시 분광계의 광전증배기(PMT)는 단극(unipolar) 펄스와 이극(bipolar) 펄스를 출력한다. 이중 이극 펄스가 단극 펄스에 비해 일반적으로 에너진 분해능에서 대략 25 ~ 50% 정도 좋지 않으며, 단극 펄스가 우수한 신호 대 잡음비(signal-to-noise)를 가지므로 단극 펄스가 에너지 분석에 이용되고 있다.
그러나 우중 공간에서의 감마선 측정의 경우 저주파 잡음이 많이 포함되므로, 단극 펄스의 사용이 용이하지 않게 된다.
이에 반해 이극 펄스는 뛰어난 타이밍(timing) 정보와 오버로드 리커버리(overload recovery) 특징을 가진다. 이에 따라 이극 펄스는 베이스 라인 쉬프트(baseline shift) 제거, 영점(pole zero) 조정의 용이함, 낮은 주파수 노이즈(noise)를 억제할 수 있는 장점 등을 가지고 있어, 이극 펄스를 행성탐사용 감마선 분광계에 적용할 필요성이 커지고 있으나, 단극 펄스에 비해 낮은 분해능을 가지는 문제의 해결이 요구된다.
따라서 본 발명은 상술한 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 감마선의 이극 펄스를 이용한 행성탐사를 수행하는 경우, 단극 펄스에 해당하는 에너지를 이극 펄스로부터 도출할 수 있도록 하는 신호처리를 수행하여 이극 펄스의 분해능 저하 문제를 해결함으로써, 감마선의 이극 펄스를 이용하여 정확한 행성탐사를 수행할 수 있도록 하는 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계 및 그 감마선 신호처리 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계는,
신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비하여 입력된 감마선을 증폭한 후 전기 신호로 변환하여 출력하는 감마선 검출부(120); 및
상기 감마선 검출부(120)에서 출력되는 전기 신호에서 이극 펄스 신호를 추출한 후, 펄스 위상차 신호처리, 제로교차점(zero crossover point) 신호처리 또는 파일업 리젝션(pileup rejection) 신호처리 중 하나 이상의 신호처리를 수행한 후 단극 펄스에 대응하는 에너지를 가지는 이극 펄스의 스펙트럼 신호를 출력하는 신호처리부(130);를 포함하여 구성될 수 있다.
상기 펄스 위상차 신호처리는,
상기 이극 펄스에서 양의 영역과 음의 영역에서 각각 위상이 최고가 되는 지점을 설정한 후 펄스 영역을 산출하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리일 수 있다.
상기 제로교차점 신호처리는,
상기 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 면적을 적분하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리일 수 있다.
상기 파일업 리젝션 신호처리는,
감마선 측정 시 불감시간(Dead time)이 존재하지 않는 백그라운드 측정에서의 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 시간인 ΔT를 추출한 후, 이극 펄스의 시작점에서 제로교차점까지의 시간이 일정 오차 범위 내에서 ΔT보다 크거나 작은 펄스를 제거하는 신호 처리인 것을 특징으로 한다.
상기 이극 펄스 특성을 이용한 행성 탐사용 분광계는,
물질별 감마선 대응 스펙트럼 정보를 저장하는 스펙트럼DB부(110); 및
상기 스펙트럼 신호를 수신한 후 상기 스펙트럼DB부(110)에서 대응되는 분석정보를 추출하여 출력하는 스펙트럼분석부(140);를 더 포함하여 구성될 수 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계의 신호처리 방법은,
신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비하여 입력된 감마선을 증폭한 후 전기 신호로 변환하여 출력하는 감마선 검출부(120); 및 상기 감마선 검출부(120)에서 출력되는 전기 신호에서 이극 펄스 신호를 추출한 후, 펄스 위상차 신호처리, 제로교차점(zero crossover point) 신호처리 또는 파일업 리젝션(pileup rejection) 신호처리 중 하나 이상의 신호처리를 수행한 후 단극 펄스에 대응하는 에너지를 가지는 이극 펄스의 스펙트럼 신호를 출력하는 신호처리부(130);를 포함하는 이극 펄스를 이용한 행성 탐사용 감마선 분광계에 의한 감마선 분광 신호 처리 방법은,
신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비한 감마선 검출부(120)가 입사된 감마선을 증폭한 후 전기신호로 변환하여 출력하는 감마선신호검출과정(S100);
상기 출력된 전기신호로부터 이극 펄스 신호를 분리하여 추출하는 이극펄스신호추출과정(S200); 및
상기 추출된 이극 펄스 신호에 대하여 펄스위상차신호처리과정(S310) 또는 제로교차점(zero crossover point) 신호처리과정(S320) 중 하나 이상의 신호처리와 파일업 리젝션(pileup rejection) 신호처리과정(S330)을 수행한 후 단극 펄스에 대응하는 에너지를 가지는 이극 펄스의 스펙트럼 신호를 출력하는 이극펄스신호처리과정(S300);을 포함하여 이루어진다.
상기 펄스위상차신호처리과정은,
상기 이극 펄스에서 양의 영역과 음의 영역에서 각각 위상이 최고가 되는 지점을 설정한 후 펄스 영역을 산출하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리일 수 있다.
상기 제로교차점 신호처리과정은,
상기 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 면적을 적분하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리일 수 있다.
상기 파일업리젝션신호처리과정은,
감마선 측정 시 불감시간(Dead time)이 존재하지 않는 백그라운드 측정에서의 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 시간인 ΔT를 추출한 후, 이극 펄스의 시작점에서 제로교차점까지의 시간이 일정 오차 범위 내에서 ΔT보다 크거나 작은 펄스를 제거하는 신호 처리 과정인 것을 특징으로 한다.
상술한 구성을 가지는 본 발명은, 우주 공간에서의 행성탐사를 위한 감마선 분광을 수행함에 있어서, 이극 펄스 신호에서 단극 펄스에 대응하는 에너지 값을 추출하는 것에 의해 이극 펄스의 분해능을 향상시킴으로서 이극 펄스에 의한 감마선 분광 결과 값의 신뢰도를 현저히 향상시키는 효과를 제공한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따르는 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계(100)의 기능 블록 구성도.
도 2는 본 발명의 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광 신호처리 방법의 처리과정을 나타내는 순서도.
도 3은 도 2의 처리과정 중 이극펄스신호처리과정(S300)의 상세 처리과정을 나타내는 순서도.
도 4는 도 3의 처리과정 중 펄스위상차신호처리과정(S310)을 나타내는 그래프.
도 5는 도 3의 처리과정 중 제로교차점신호처리과정(S320)을 나타내는 그래프.
도 6은 도 3의 처리과정 중 파일업리젝션신호처리과정(S330)을 나타내는 그래프.
도 2는 본 발명의 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광 신호처리 방법의 처리과정을 나타내는 순서도.
도 3은 도 2의 처리과정 중 이극펄스신호처리과정(S300)의 상세 처리과정을 나타내는 순서도.
도 4는 도 3의 처리과정 중 펄스위상차신호처리과정(S310)을 나타내는 그래프.
도 5는 도 3의 처리과정 중 제로교차점신호처리과정(S320)을 나타내는 그래프.
도 6은 도 3의 처리과정 중 파일업리젝션신호처리과정(S330)을 나타내는 그래프.
이하, 본 발명의 실시예를 나타내는 첨부 도면을 참조하여 본 발명을 더욱 상세히 설명한다.
하기에서 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다.
본 발명의 개념에 따른 실시 예는 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있으므로, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 본 명세서 또는 출원서에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명의 개념에 따른 실시 예를 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명은 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하, 본 발명의 실시예를 나타내는 첨부 도면을 참조하여 본 발명을 더욱 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따르는 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계(100)의 기능 블록 구성도이다.
도 1과 같이 상기 감마선 분광계((100)는 스펙트럼DB부(110), 감마선 검출부(120), 신호처리부(130) 및 스펙트럼분석부(140)를 포함하여 구성된다.
상기 스펙트럼DB부(110)는 물질별 감마선 대응 스펙트럼 정보를 저장하는 데이터베이스로 구성된다.
상기 감마선 검출부(120)는 신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비하여, 신틸레이터에서 입사된 감마선에 의해 발광이 수행된 후 전자증배관에서 전자가 증폭되어 전기적인 감마선 측정 신호를 출력하도록 구성된다.
상기 신호처리부(130)는 측정된 감마선 신호 중 이극 펄스에서 단극 펄스에 대응하는 에너지를 추출하거나, 데드 타임(dead time)을 가지는 신호를 제거하는 신호처리를 수행하도록 구성된다. 구체적으로, 상기 신호처리부(130)는 이극 펄스에서 단극 펄스에 대응하는 에너지를 추출하기 위한 펄스 위상차 신호처리 또는 제로교차점 신호처리, 데드 타임(dead time)을 가지는 신호를 제거하기 위한 파일업 리젝션 신호처리 중 하나 이상의 신호처리를 수행하도록 구성된다.
상기 펄스 위상차 신호처리 또는 제로교차점 신호처리, 데드 타임(dead time)을 가지는 신호를 제거하기 위한 파일업 리젝션 신호처리는 하기에서 더욱 상세히 설명된다.
상기 스펙트럼분석부(140)는 신호처리부(130)에 의해 단극 펄스 대응 에너지 값을 가지며, 데드 타임을 가지는 신호가 제거되어 입력된 감마선 스펙트럼에 대응하는 정보를 스펙트럼DB부(110)로부터 추출하여 감마선 스펙트럼에 대한 분석 정보를 출력하도록 구성된다.
도 2는 본 발명의 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광 신호처리 방법의 처리과정을 나타내는 순서도이다.
도 2와 같이, 상기 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광 신호 처리 방법은, 감마선신호검출과정(S100), 이극펄스신호추출과정(S200) 및 이극펄스신호처리과정(S300)을 포함하여 이루어진다.
먼저 신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비한 감마선 검출부(120)가 입사된 감마선을 증폭한 후 전기신호로 변환하여 출력하는 상기 감마선신호검출과정(S100)이 수행된다.
이 후, 신호처리부(130)가 상기 출력된 전기신호로부터 이극 펄스 신호를 분리하여 추출하는 이극펄스신호추출과정(S200)이 수행된다.
이극펄스신호추출과정(S200)에 의해 이극 펄스 신호가 추출된 후에는, 상기 신호처리부(130)가 추출된 이극 펄스에 대하여 단극 펄스에 대응하는 에너지를 가지며, 데드 타임을 가지는 신호가 제거된 감마선의 이극 펄스 스펙트럼 신호를 생성하는 이극펄스신호처리과정(S300)을 수행한다.
도 3은 도 2의 처리과정 중 이극펄스신호처리과정(S300)의 상세 처리과정을 나타내는 순서도이다.
도 3에 도시된 바와 가팅, 상기 이극펄스신호처리과정(S300)은 추출된 이극 펄스에 대하여 단극 펄스에 대응하는 에너지를 추출하는 펄스위상차신호처리과정(S310)과 제로교차점(zero crossover point) 신호처리과정(S320) 및 데드 타임을 가지는 신호를 제거하는 파일업 리젝션(pileup rejection) 신호처리과정(S330)을 포함한다.
도 4는 도 3의 처리과정 중 펄스위상차신호처리과정(S310)을 나타내는 그래프이고, 도 5는 도 3의 처리과정 중 제로교차점신호처리과정(S320)을 나타내는 그래프이며, 도 6은 도 3의 처리과정 중 파일업리젝션신호처리과정(S330)을 나타내는 그래프이다.
상기 펄스위상차신호처리과정(S310)은, 도 4와 같이, 상기 이극 펄스에서 양의 영역과 음의 영역에서 각각 위상이 최고가 되는 지점을 설정한 후 펄스 영역을 산출하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리 과정이 된다.
상기 제로교차점신호처리과정(S320)은, 도 5와 같이, 상기 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 면적을 적분하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리 과정이 된다.
상술한 바와 같이, 이극펄스신호처리과정(S310)과 제로교차점신호처리과정(S320)은 신호 처리 지점이 다른 차이점을 가지며, 이는 신호처리에서 트리(trigger) 설정이 매우 중요하게 되므로 두 개의 신호처리 방식으로 나누어서 신호 처리를 수행한다.
상기 파일업리젝션신호처리과정(S330)은 감마선 측정 시 불감시간(Dead time)이 존재하지 않는 백그라운드 측정에서의 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 시간인 ΔT를 추출한 후, 이극 펄스의 시작점에서 제로교차점까지의 시간이 일정 오차 범위 내에서 ΔT보다 크거나 작은 펄스를 제거하는 신호 처리 과정이다.
상술한 바와 같이, 감마선을 이용하여 행성탐사 시 감마선 분광계에서 이극 펄스에 대한 신호처리를 수행하는 것에 의해, 이극 펄스의 에너지 값을 단극 펄스에 대응하도록 추출하여 분해능을 높일 수 있으며, 이극 펄스의 베이스 라인 쉬프트(baseline shift) 제거, 영점(pole zero) 조정의 용이함, 낮은 주파수 노이즈(noise) 등의 장점을 이용할 수 있어, 정확한 탐사를 수행할 수 있게 된다.
상기에서 설명한 본 발명의 기술적 사상은 바람직한 실시예에서 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술적 분야의 통상의 지식을 가진자라면 본 발명의 기술적 사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
100: 감마선 분광계
Claims (9)
- 신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비하여 입력된 감마선을 증폭한 후 전기 신호로 변환하여 출력하는 감마선 검출부(120); 및
상기 감마선 검출부(120)에서 출력되는 전기 신호에서 이극 펄스 신호를 추출한 후, 펄스 위상차 신호처리, 제로교차점(zero crossover point) 신호처리 또는 파일업 리젝션(pileup rejection) 신호처리 중 하나 이상의 신호처리를 수행한 후 단극 펄스에 대응하는 에너지를 가지는 이극 펄스의 스펙트럼 신호를 출력하는 신호처리부(130);를 포함하여 구성되고,
상기 펄스 위상차 신호처리는,
상기 이극 펄스에서 양의 영역과 음의 영역에서 각각 위상이 최고가 되는 지점을 설정한 후 펄스 영역을 산출하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리인 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계.
- 삭제
- 청구항 1에 있어서, 상기 제로교차점 신호처리는,
상기 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 면적을 적분하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리인 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계.
- 청구항 1에 있어서, 상기 파일업 리젝션 신호처리는,
감마선 측정 시 불감시간(Dead time)이 존재하지 않는 백그라운드 측정에서의 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 시간인 ΔT를 추출한 후, 이극 펄스의 시작점에서 제로교차점까지의 시간이 일정 오차 범위 내에서 ΔT보다 크거나 작은 펄스를 제거하는 신호 처리인 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계.
- 청구항 1에 있어서,
물질별 감마선 대응 스펙트럼 정보를 저장하는 스펙트럼DB부(110); 및
상기 스펙트럼 신호를 수신한 후 상기 스펙트럼DB부(110)에서 대응되는 분석정보를 추출하여 출력하는 스펙트럼분석부(140);를 더 포함하여 구성되는 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계.
- 신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비하여 입력된 감마선을 증폭한 후 전기 신호로 변환하여 출력하는 감마선 검출부(120); 및 상기 감마선 검출부(120)에서 출력되는 전기 신호에서 이극 펄스 신호를 추출한 후, 펄스 위상차 신호처리, 제로교차점(zero crossover point) 신호처리 또는 파일업 리젝션(pileup rejection) 신호처리 중 하나 이상의 신호처리를 수행한 후 단극 펄스에 대응하는 에너지를 가지는 이극 펄스의 스펙트럼 신호를 출력하는 신호처리부(130);를 포함하는 이극 펄스를 이용한 행성 탐사용 감마선 분광계에 의한 감마선 분광 신호 처리 방법은,
신틸레이터(scintillator)와 전자증배관(PMT, Photo Multiply Tube)을 구비한 감마선 검출부(120)가 입사된 감마선을 증폭한 후 전기신호로 변환하여 출력하는 감마선신호검출과정(S100);
상기 출력된 전기신호로부터 이극 펄스 신호를 분리하여 추출하는 이극펄스신호추출과정(S200); 및
상기 추출된 이극 펄스 신호에 대하여 펄스위상차신호처리과정(S310) 또는 제로교차점(zero crossover point) 신호처리과정(S320) 중 하나 이상의 신호처리와 파일업 리젝션(pileup rejection) 신호처리과정(S330)을 수행한 후 단극 펄스에 대응하는 에너지를 가지는 이극 펄스의 스펙트럼 신호를 출력하는 이극펄스신호처리과정(S300);을 포함하여 이루어지며,
상기 펄스위상차신호처리과정은,
상기 이극 펄스에서 양의 영역과 음의 영역에서 각각 위상이 최고가 되는 지점을 설정한 후 펄스 영역을 산출하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리인 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계의 신호처리 방법.
- 삭제
- 청구항 6에 있어서, 상기 제로교차점 신호처리과정은,
상기 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 면적을 적분하여 합산하는 것에 의해 이극 펄스로부터 단극 펄스 대응 에너지 값을 추출하는 신호처리인 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계의 신호처리 방법.
- 청구항 6에 있어서, 상기 파일업리젝션신호처리과정은,
감마선 측정 시 불감시간(Dead time)이 존재하지 않는 백그라운드 측정에서의 이극 펄스의 시작점에서 제로 교차점까지의 시간인 ΔT를 추출한 후, 이극 펄스의 시작점에서 제로교차점까지의 시간이 일정 오차 범위 내에서 ΔT보다 크거나 작은 펄스를 제거하는 신호 처리 과정인 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계의 신호처리 방법.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| KR1020170073425A KR101824629B1 (ko) | 2017-06-12 | 2017-06-12 | 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계 및 그 감마선 신호처리 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| KR1020170073425A KR101824629B1 (ko) | 2017-06-12 | 2017-06-12 | 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계 및 그 감마선 신호처리 방법 |
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|---|---|
| KR101824629B1 true KR101824629B1 (ko) | 2018-02-01 |
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ID=61232111
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| KR1020170073425A KR101824629B1 (ko) | 2017-06-12 | 2017-06-12 | 이극 펄스 특성을 이용한 행성탐사용 감마선 분광계 및 그 감마선 신호처리 방법 |
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|---|---|
| KR (1) | KR101824629B1 (ko) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11815632B2 (en) | 2019-08-09 | 2023-11-14 | Kyungpook National University Industry-Academic Cooperation Foundation | Photosensor |
| KR102626569B1 (ko) | 2023-08-17 | 2024-01-19 | 한국지질자원연구원 | 위성의 감마선 분광기 데이터 모니터링 시스템 및 방법 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014228464A (ja) * | 2013-05-24 | 2014-12-08 | 株式会社日立製作所 | 放射線計測装置および放射線計測方法 |
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2017
- 2017-06-12 KR KR1020170073425A patent/KR101824629B1/ko active IP Right Grant
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|---|---|---|---|---|
| JP2014228464A (ja) * | 2013-05-24 | 2014-12-08 | 株式会社日立製作所 | 放射線計測装置および放射線計測方法 |
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| US11815632B2 (en) | 2019-08-09 | 2023-11-14 | Kyungpook National University Industry-Academic Cooperation Foundation | Photosensor |
| KR102626569B1 (ko) | 2023-08-17 | 2024-01-19 | 한국지질자원연구원 | 위성의 감마선 분광기 데이터 모니터링 시스템 및 방법 |
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