KR101819153B1 - 발열 거동 테스터 - Google Patents

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이수림
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주식회사 엘지화학
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    • G01K7/02—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가를 위한 발열 거동 테스터는, 전지의 내부를 단락시킬 수 있게 전지의 내부로 찔러지는 테스터 본체 및 테스터 본체에 구비되며, 전지의 내부 단락시 전지의 온도를 측정하는 적어도 하나의 온도 측정부재를 포함하며, 적어도 하나의 온도 측정부재는 테스터 본체 내에 부분적으로 삽입되는 것을 특징으로 한다.

Description

발열 거동 테스터{HEAT BEHAVIOR TESTER}
본 발명은 발열 거동 테스터에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가를 위한 발열 거동 테스터에 관한 것이다.
리튬 2차 전지는 경량으로도 고에너지 밀도를 가질 수 있는 장점으로 인해 최근 들어, 주로 포터블 기기용 전원이나, 또는, 고용량 및 고출력을 필요로 하는 전기 자동차용 전원으로 주목받고 있다. 이에 따라, 리튬 2차 전지의 연구 개발이 활발히 수행되고 있으며, 보다 더 안전하고 고용량의 전지 구현을 위한 노력이 이루어지고 있다.
리튬 2차 전지는 외부에서 못과 같은 날카로운 물체에 찔리는 등의 외부 충격시, 양극판과 음극판의 접촉으로 인한 내부 단락을 일으킬 수 있다. 전지의 내부 단락은 전지의 폭발이나 발화 등을 일으키는 주요한 인자이다. 그러므로, 전지의 내부 단락시의 발열 거동에 따른 전지의 안정성 평가는 리튬 2차 전지의 다양한 안전성 평가 항목들 중에서도 특히 중요하다.
도 1은 종래 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험을 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 참조하면, 종래 발열 거동 평가 시험의 경우, 우선적으로 전지(1)의 일측면(2)으로부터 전지(1) 내부로 못(3)을 찔러 넣어, 전지(1) 내부에서 양극판과 음극판을 전기적으로 접촉시켜 내부 단락을 일으키게 한다. 이때, 못(3)은 발열 거동 평가 시험의 테스터로서, 전지(1)의 내부 단락을 일으킬 수 있게 전지(1) 내에 삽입되거나 또는 관통될 수 있다.
전지(1)의 내부 단락시, 전지(1)의 내부 단락 부분(S)에는 단락 전류가 흘러 줄열이 발생하게 된다. 이 내부 단락 부분(S)의 온도를 열전대 온도계(5) 등과 같은 온도 측정부재(5)로 측정하여 발생하는 발열의 정도를 평가하게 된다. 이때, 온도 측정부재(5)는 전지(1)의 일측면(2)과 같은 전지(1)의 외부 표면(2)이나 전지(1)의 외부에 배치되는 못(3)의 외부 표면(4) 등에 접촉하여 온도를 측정하게 된다.
그러나, 종래 발열 거동 평가 시험의 경우, 온도 측정부재(5)의 온도 측정이 실제 발열의 근원인 내부 단락 부분(S)과 멀리 떨어진 곳에서 이루어지는 바, 측정된 온도의 정확도가 떨어지는 문제가 있다. 이는 측정된 온도의 안전성 평가 척도 및 현상 분석 자료로서의 신뢰도 저하로 이어지게 된다.
따라서, 본 발명의 목적은, 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험시 보다 더 정확한 온도 측정을 할 수 있는 발열 거동 테스터를 제공하는 데 있다.
상기 목적을 해결하기 위해, 본 발명은, 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가를 위한 발열 거동 테스터로서, 상기 전지의 내부를 단락시킬 수 있게 상기 전지의 내부로 찔러지는 테스터 본체; 및 상기 테스터 본체에 구비되며, 상기 전지의 내부 단락시 상기 전지의 온도를 측정하는 적어도 하나의 온도 측정부재;를 포함하며, 상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 상기 테스터 본체 내에 부분적으로 삽입되는 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터를 제공한다.
상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 상기 테스터 본체 내에서 상기 테스터 본체의 길이 방향을 따라 길게 배치될 수 있다.
상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일단부는 상기 테스터 본체 내에 배치되며, 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 타단부는 상기 테스터 본체의 외부에 배치될 수 있다.
상기 테스터 본체의 일단부에는 상기 테스터 본체의 상기 전지 내부로의 삽입을 가이드하는 삽입팁이 형성되며, 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일단부는 상기 삽입팁에 인접하게 배치될 수 있다.
상기 테스터 본체를 통한 상기 전지의 내부 단락시, 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일단부는 상기 전지의 내부에 배치되며, 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 타단부는 상기 전지의 외부에 배치될 수 있다.
상기 테스터 본체는, 일단부에 상기 테스터 본체의 상기 전지 내부로의 삽입을 가이드하는 삽입팁이 형성되며, 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일부를 수용할 수 있는 적어도 하나의 수용홈이 구비되는 소정 길이의 테스터 네일; 및 상기 적어도 하나의 수용홈에 수용되는 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일부를 커버할 수 있게 상기 테스터 네일의 상기 적어도 하나의 수용홈을 둘러싸는 테스터 튜브;를 포함할 수 있다.
상기 적어도 하나의 수용홈은 상기 테스터 네일의 길이 방향을 따라 형성될 수 있다.
상기 적어도 하나의 온도 측정부재는, 상기 적어도 하나의 수용홈에 수용되며, 상기 테스터 튜브에 둘러싸이는 제1 측정부; 상기 테스터 본체와 이격 배치되는 제2 측정부; 및 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부를 연결하는 연결부;를 포함할 수 있다.
상기 수용홈은 복수 개로 구비되며, 상기 복수 개의 수용홈들은 상기 테스터 네일의 둘레 방향을 따라 서로 소정 거리 이격 배치될 수 있다.
상기 온도 측정부재는 복수 개로 구비될 수 있다.
상기 수용홈은 상기 테스터 네일의 외측면에서 소정 깊이를 갖는 단일의 수용홈으로 이루어지며, 상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 상기 수용홈의 둘레 방향을 따라 회전 가능하게 구비될 수 있다.
상기 수용홈에는 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 회전을 제한하기 위한 적어도 하나의 스토퍼가 형성될 수 있다.
상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 상기 수용홈의 길이 방향을 따라 이동 가능하게 구비될 수 있다.
상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 열전대 온도계(Thermocouple)일 수 있다.
이상과 같은 다양한 실시예들에 따라, 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험시 보다 더 정확한 온도 측정을 할 수 있는 발열 거동 테스터를 제공할 수 있다.
도 1은 종래 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 발열 거동 테스터를 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 도 2의 발열 거동 테스터의 "A-A'" 부분의 단면도이다.
도 4 및 도 5는 도 2의 발열 거동 테스터의 삽입팁의 다양한 형상을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 도 2의 발열 거동 테스터를 이용한 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험을 설명하기 위한 도면이다.
도 7 내지 도 10은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 발열 거동 테스터들을 설명하기 위한 도면이다.
본 발명은 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명함으로써 더욱 명백해 질 것이다. 여기서 설명되는 실시예는 발명의 이해를 돕기 위하여 예시적으로 나타낸 것이며, 본 발명은 여기서 설명되는 실시예와 다르게 다양하게 변형되어 실시될 수 있음이 이해되어야 할 것이다. 또한, 발명의 이해를 돕기 위하여, 첨부된 도면은 실제 축척대로 도시된 것이 아니라 일부 구성요소의 치수가 과장되게 도시될 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 발열 거동 테스터를 설명하기 위한 도면이며, 도 3은 도 2의 발열 거동 테스터의 "A-A'" 부분의 단면도이며, 도 4 및 도 5는 도 2의 발열 거동 테스터의 삽입팁의 다양한 형상을 설명하기 위한 도면이다.
도 2 내지 도 5를 참조하면, 발열 거동 테스터(10)는 전지(20, 도 6 참조)의 내부 단락시의 발열 거동에 따른 전지(20)의 안정성 평가 장치로서, 테스터 본체(100) 및 온도 측정부재(200)를 포함한다.
테스터 본체(100)는 전지(20)의 내부를 단락시킬 수 있게 전지(20)의 내부로 직접적으로 찔러지는 구성요소이다. 이러한 테스터 본체(100)는 테스터 네일(110) 및 테스터 튜브(160)를 포함할 수 있다.
테스터 네일(110)은 소정 길이를 갖는 대략 길다란 바 형상으로 형성되며, 금속 재질로 이루어질 수 있다. 구체적으로, 테스터 네일(110)은 일반적인 못과 유사한 형태 및 재질을 가질 수 있다.
이러한 테스터 네일(110)은 삽입팁(120) 및 수용홈(130)을 포함할 수 있다.
삽입팁(120)은 테스터 네일(110)의 일단부(112)에 형성되며, 전지(20, 도 6 참조) 내부로의 테스터 본체(100)의 용이한 삽입을 가이드한다.. 이를 위해, 삽입팁(120)은 도 2에 개시된 것과 같은 뾰족한 삼각 형상인 첨예부로 이루어질 수 있다. 이에 한정되는 것은 아니며, 테스터 본체(100)의 전지(20) 내부로의 용이한 삽입을 가이드할 수 있다면, 도 4에 개시된 것과 같은 라운드진 형상을 갖는 삽입팁(120A), 도 5에 개시된 것과 같은 평평한 블레이드 형상을 갖는 삽입팁(120B) 또는 기타 예리한 단부를 갖는 다양한 형상 등으로 이루어진 삽입팁으로 이루어질 수 있다.
수용홈(130)은 후술하는 온도 측정부재(200)의 일부(210)를 수용하며, 테스터 네일(110)의 길이 방향(Y축 방향)을 따라 테스터 네일(110)의 외측 일면에 길게 형성될 수 있다.
테스터 튜브(160)는 온도 측정부재(200)의 일부(210)를 커버할 수 있게 테스터 네일(110)의 수용홈(130)을 둘러싸도록 테스터 네일(110)에 장착될 수 있다. 테스터 튜브(160)는 테스터 네일(110)과 같은 금속 재질로 이루어질 수 있다. 여기서, 테스터 튜브(160)는 테스터 네일(110)과 동일한 금속이거나 또는 다른 금속으로 이루어질 수 있다.
한편, 테스터 튜브(160)는 테스터 네일(110)과 일체로 형성되는 것도 가능할 수 있다. 즉, 제조자 등은 테스터 본체(100)의 설계에 따라 테스터 네일(110)과 테스터 튜브(160)를 별도로 제조하여 결합하거나 또는 일체로 형성할 수 있다. 별도로 제조하여 결합할 경우, 테스터 본체(100)의 직경(R)은 테스터 네일(110)의 직경(r)과 테스터 튜브(160)의 두께(2t)를 더한 값으로 이루어진다.
온도 측정부재(200)는 테스터 본체(100)에 구비되며, 전지(20, 도 6 참조)의 내부 단락시 전지(20)의 온도를 측정하는 것으로서, 테스터 본체(100) 내에 부분적으로 삽입될 수 있다. 이러한 온도 측정부재(200)는 테스터 본체(100) 내에서 테스터 본체(100)의 길이 방향(Y축 방향)을 따라 길게 배치될 수 있다.
온도 측정부재(200)의 배치를 테스터 본체(100) 및 전지(20, 도 6 참조)를 기준으로 살펴 보면 다음과 같다. 먼저, 테스터 본체(100)를 기준으로 하면, 온도 측정부재(200)의 일단부(202)는 테스터 본체(100) 내에 배치되며, 온도 측정부재(200)의 타단부(206)는 테스터 본체(100)의 외부에 배치된다. 그리고, 전지(20)를 기준으로 하면, 테스터 본체(100)를 통한 전지(20)의 내부 단락시, 온도 측정부재(200)의 일단부(202)는 전지(20)의 내부에 배치되며, 온도 측정부재(200)의 타단부(206)는 전지(20)의 외부에 배치되게 된다.
본 실시예에서는 온도 측정부재(200)의 일부(210)가 전지(20)에 삽입되거나 또는 관통되는 테스터 본체(100) 내에 구비되는 바, 테스터 본체(100)를 통한 전지(20)의 내부 단락시, 전지(20)의 내부 단락 부분(S, 도 6 참조) 가까이에서 온도를 측정할 수 있다.
한편, 온도 측정부재(200)의 일단부(202)는 앞선 테스터 네일(110)의 삽입팁(120)에 인접하게 배치되는 것이 바람직하다. 이는 삽입팁(120)에서 멀리 떨어진 곳에서 배치될 경우 전지(20) 내부로의 테스터 본체(100)의 삽입시 온도 측정부재(200)의 일단부가 전지(20) 내부가 아닌 외부에 배치될 수 있어 측정 온도의 신뢰도가 저하될 수 있기 때문이다.
온도 측정부재(200)의 구성을 더 자세히 살펴 보면, 온도 측정부재(200)는 열전대 온도계(Thermocouple)로 구비되며, 제1 측정부(210), 제2 측정부(220) 및 연결부(230)를 포함할 수 있다.
제1 측정부(210)는 테스터 네일(110)의 수용홈(130)에 수용되며, 테스터 튜브(160)에 둘러싸일 수 있다. 제1 측정부(210)는 소정 길이를 갖는 금속 재질로 구비될 수 있으며, 제1 측정부(210)의 선단부(202)는 열접점으로서, 전지(20, 도 6 참조)의 내부 단락시의 온도를 측정하게 된다.
제2 측정부(220)는 테스터 본체(100)와 이격 배치되며, 제1 측정부(210)와 같이 소정 길이를 갖는 금속 재질로 구비될 수 있다. 다만, 제2 측정부(220)는 제1 측정부(210)와 서로 다른 금속 재질로 이루어진다. 그리고, 제2 측정부(220)의 선단부(206)는 기준 접점으로서, 정온으로 유지된다.
연결부(230)는 제1 측정부(210)와 제2 측정부(220)를 서로 연결할 수 있다. 이러한 구성을 통해, 제2 측정부(220)의 선단부(206)에서 정온을 유지하면서 제1 측정부(210)의 선단부(202)에서 측정된 온도 변화에 따른 열기전력의 값에서 측정 온도를 산출하게 된다.
이하에서는, 본 발명의 일 실시예에 따른 발열 거동 테스터(10)를 이용한 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험에 대해 설명한다.
도 6은 도 2의 발열 거동 테스터를 이용한 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험을 설명하기 위한 도면이다.
도 6을 참조하면, 먼저, 제조자 등은 테스터 본체(100)를 전지(20)의 일측 표면(22), 구체적으로 상면(22)으로부터 전지(20)의 내부로 찔러질 수 있게 하방(-Y축 방향)으로 가압한다. 이때, 테스터 본체(100)는 전지(20)의 내부 단락을 위해 전지(20)에 삽입되거나 또는 관통될 수 있다. 테스터 본체(100)의 전지(20)로의 삽입이나 관통을 통해, 전지(20)의 양극판과 음극판이 전기적으로 접촉되면, 전지(20)의 내부 단락이 발생된다.
이후, 전지(20)의 내부 단락 부분(S)에는 단락 전류로 인한 줄열이 발생된다. 온도 측정부재(200)는 전지(20)의 내부 단락 부분(S)에서 발생하는 발열의 정도를 측정한다. 본 실시예에서는 온도 측정부재(200)의 열접점으로서의 제1 측정부(210)의 선단부(202)가 전지(20)의 내부에 배치되는 바, 전지(20)의 내부 단락 부분(S) 가까이에서 내부 단락 부분(S)의 온도를 측정할 수 있다.
이에 따라, 본 실시예에 따른 발열 거동 테스터(10)에서는, 전지(20)의 발열 거동 평가 시험에 따른 전지(20)의 내부 단락 부분(S)의 온도 측정시, 전지(20)의 표면(22)이나 테스터 본체(100)의 전지(20)의 외부에 배치된 표면(105)을 측정하는 간접적인 온도 측정이 아닌 전지(20)의 내부에서 전지(20)의 내부 단락 부분(S) 가까이에서 거의 직접적인 온도 측정이 이루어질 수 있다.
그러므로, 본 실시예에 따른 발열 거동 테스터(10)는 전지(20)의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험 수행시, 보다 더 정확하게 내부 단락 부분(S)의 온도를 측정할 수 있다.
아울러, 본 실시예에 따른 발열 거동 테스터(10)는 간단한 구조로 결합된 테스터 본체(100)와 온도 측정부재(200)를 통해 전술한 보다 정확한 온도 측정을 수행할 수 있는 바, 보다 정확한 온도 측정을 위한 테스터 제작의 난이도를 낮추고 상대적으로 가는 굵기의 테스터 본체(100)에서도 용이하게 구현할 수 있다.
따라서, 본 실시예에 따른 발열 거동 테스터(10)는 발열 거동 평가 시험시, 측정된 온도의 안전성 평가 척도 및 현상 분석 자료로써의 신뢰도를 현저히 향상시킬 수 있다.
도 7 내지 도 10은 본 발명의 다양한 실시예에 따른 발열 거동 테스터들을 설명하기 위한 도면이다.
이하, 실시예에 따른 발열 거동 테스터들(30, 40, 50, 60)은 앞선 실시예에서의 발열 거동 테스터(10)와 실질적으로 동일하거나 또는 유사하므로, 동일하거나 또는 유사한 구성들에 대해서는 반복적으로 설명하지 않고 앞선 실시예와의 차이점을 중심으로 설명한다.
도 7을 참조하면, 발열 거동 테스터(30)의 테스터 네일(310)은 복수 개의 수용홈들(331, 332, 333, 334)을 포함할 수 있다.
복수 개의 수용홈들(331, 332, 333, 334)은 테스터 네일(310)의 둘레 방향(XZ축 방향)을 따라 서로 소정 거리 이격 배치될 수 있다. 본 실시예에서는 네 개의 수용홈들(331, 332, 333, 334)이 구비된다. 이는 예시적인 것일 뿐 수용홈들의 개수는 설계에 따라 적절히 변경될 수 있다.
그리고, 본 실시예에 따른 발열 가동 테스터(30)는 복수 개의 온도 측정부재들(351, 352, 353, 354)을 포함할 수 있다.
복수 개의 온도 측정부재들(351, 352, 353, 354)은 복수 개의 수용홈들(331, 332, 333, 334)의 개수에 대응되게 구비될 수 있으며, 각각, 복수 개의 수용홈들(331, 332, 333, 334)에 수용될 수 있다. 본 실시예에서는 네 개의 수용홈들(331, 332, 333, 334)의 개수에 대응되게 네 개로 구비된다. 이는 예시적인 것일 뿐 복수 개의 온도 측정부재들(351, 352, 353, 354)의 개수는 수용홈들(331, 332, 333, 334)의 개수에 대응되지 않게 구비되는 것도 가능하다.
본 실시예에 따른 발열 거동 테스터(30)는, 테스터 네일(310)의 복수 개의 수용홈들(331, 332, 333, 334)에 구비되는 복수 개의 온도 측정부재들(351, 352, 353, 354)을 통해, 전지(20, 도 6 참조)의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험 수행시, 내부 단락을 일으키는 실제 단락 부분 방향을 보다 더 정확하게 찾을 수 있다.
도 8을 참조하면, 발열 거동 테스터(40)는, 테스터 튜브(460) 내에서 중심축(O)에 대해 수평 방향(XZ축 방향)에서 회전 가능하게 구비되는 테스터 네일(410)을 포함할 수 있다. 즉, 테스터 네일(460)은 테스터 튜브(460)의 둘레 방향(XZ축 방향)을 따라 회전 가능하게 구비될 수 있다.
테스터 네일(410)은 그 중심축(O)에 대해 수평 방향(XZ축 방향)에서 회전되며, 온도 측정부재(450)를 수용하는 수용홈(430)을 포함할 수 있다. 여기서, 온도 측정부재(450)는 테스테 네일(410)의 회전시 테스터 네일(410)와 함께 테스터 네일(410)의 둘레 방향(XZ축 방향)을 따라 회전될 수 있게 수용홈(430)에 삽입될 수 있다.
본 실시예에 따른 발열 거동 테스터(40)에서는, 테스터 튜브(460) 내에서 테스터 네일(410)과 온도 측정부재(410)가 수평 방향(XZ축 방향)에서 회전 가능하게 구비되는 바, 전지(20, 도 6 참조)의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험 수행시, 하나의 온도 측정부재(410)로도 다양한 방향의 온도를 측정할 수 있다.
이에 따라, 본 실시예에 따른 발열 거동 테스터(40)는 전지(20, 도 6 참조)의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험 수행시, 내부 단락 부분을 일으키는 실제 단락 부분 방향을 보다 더 정확하게 찾을 수 있다.
도 9를 참조하면, 발열 거동 테스터(50)는, 테스터 네일(610)의 외측면에서 소정 깊이를 갖는 단일의 수용홈(530)을 포함할 수 있다.
단일의 수용홈(530)에는 테스터 네일(610)의 중심축(O)에 대해 수평 방향(XZ축 방향)에서 회전 가능하게 온도 측정부재(550)가 삽입될 수 있다. 이에 따라, 온도 측정부재(550)는 수용홈(530)의 둘레 방향(XZ축 방향)을 따라 시계 방향 또는 반시계 방향으로 회전될 수 있다. 이러한 온도 측정부재(550)는 하나 또는 그 이상의 복수 개로 구비될 수 있다.
단일의 수용홈(530)에는 하나 또는 그 이상의 온도 측정부재(550)의 회전을 제한하기 위한 적어도 하나의 스토퍼(531, 532, 533, 534)가 형성될 수 있다. 본 실시예에서는 복수 개의 스토퍼들(531, 532, 533, 534)이 구비되며, 수용홈(530)의 둘레 방향(XZ축 방향)을 따라 서로 소정 거리 이격 배치된다.
본 실시예에 따른 발열 거동 테스터(50)는 회전 가능하게 테스터 네일(510)의 수용홈(530)에 회전 가능하게 구비되는 적어도 하나의 온도 측정부재(550) 및 이러한 온도 측정부재(550)의 회전을 제한할 수 있는 적어도 하나의 스토퍼(531, 532, 533, 534)를 통해, 전지(20, 도 6 참조)의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험 수행시, 내부 단락 부분을 일으키는 실제 단락 부분 방향을 보다 더 정확하게 찾을 수 있다.
도 10을 참조하면, 발열 거동 테스터(60)는, 테스터 네일(610)의 수용홈(630)에 수직 방향(Y축 방향), 즉, 수용홈(630)의 길이 방향(Y축 방향)을 따라 이동 가능하게 구비되는 온도 측정부재(620)를 포함할 수 있다.
온도 측정부재(620)의 수직 방향(Y축 방향)으로의 이동 가능한 장착을 통해, 온도 측정부재(620)의 열접점으로서의 선단부(602)는 수용홈(630) 내에서 수직 방향(Y축 방향)으로 이동될 수 있다.
본 실시예에 따른 발열 거동 테스터(60)는, 테스터 네일(610)의 수용홈(630) 내에서 수직 방향(Y축 방향)으로 이동 가능한 온도 측정부재(620)를 통해, 전지(20, 도 6 참조)의 내부 단락시의 발열 거동 평가 시험 수행시, 내부 단락을 일으키는 실제 발열 근원인 열원의 깊이를 보다 용이하게 측정할 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해돼서는 안 될 것이다.
10: 발열 거동 테스터 20: 전지
100: 테스터 본체 110: 테스터 네일
120: 삽입팁 130: 수용홈
160: 테스터 튜브 200: 온도 측정부재
210: 제1 측정부 220: 제2 측정부
230: 연결부

Claims (14)

  1. 전지의 내부 단락시의 발열 거동 평가를 위한 발열 거동 테스터에 있어서,
    상기 전지의 내부를 단락시킬 수 있게 상기 전지의 내부로 찔러지는 테스터 본체; 및
    상기 테스터 본체에 구비되며, 상기 전지의 내부 단락시 상기 전지의 온도를 측정하는 적어도 하나의 온도 측정부재;를 포함하며,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 상기 테스터 본체 내에 부분적으로 삽입되며,
    상기 테스터 본체는,
    일단부에 상기 테스터 본체의 상기 전지 내부로의 삽입을 가이드하는 삽입팁이 형성되며, 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일부를 수용할 수 있는 적어도 하나의 수용홈이 구비되는 소정 길이의 테스터 네일; 및
    상기 적어도 하나의 수용홈에 수용되는 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일부를 커버할 수 있게 상기 테스터 네일의 상기 적어도 하나의 수용홈을 둘러싸는 테스터 튜브;를 포함하며,
    상기 수용홈은 상기 테스터 네일의 외측면에서 소정 깊이를 갖는 단일의 수용홈으로 이루어지며,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 상기 수용홈의 둘레 방향을 따라 회전 가능하게 구비되는 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 상기 테스터 본체 내에서 상기 테스터 본체의 길이 방향을 따라 길게 배치되는 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일단부는 상기 테스터 본체 내에 배치되며,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 타단부는 상기 테스터 본체의 외부에 배치되는 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 테스터 본체의 일단부에는 상기 테스터 본체의 상기 전지 내부로의 삽입을 가이드하는 삽입팁이 형성되며,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일단부는 상기 삽입팁에 인접하게 배치되는 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 테스터 본체를 통한 상기 전지의 내부 단락시,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 일단부는 상기 전지의 내부에 배치되며, 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 타단부는 상기 전지의 외부에 배치되는 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터.
  6. 삭제
  7. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 수용홈은 상기 테스터 네일의 길이 방향을 따라 형성되는 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재는,
    상기 적어도 하나의 수용홈에 수용되며, 상기 테스터 튜브에 둘러싸이는 제1 측정부;
    상기 테스터 본체와 이격 배치되는 제2 측정부; 및
    상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부를 연결하는 연결부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터.
  9. 삭제
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 제1항에 있어서,
    상기 수용홈에는 상기 적어도 하나의 온도 측정부재의 회전을 제한하기 위한 적어도 하나의 스토퍼가 형성되는 것을 특징으로 발열 거동 테스터.
  13. 제7항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 상기 수용홈의 길이 방향을 따라 이동 가능하게 구비되는 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터.
  14. 제1항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 온도 측정부재는 열전대 온도계(Thermocouple)인 것을 특징으로 하는 발열 거동 테스터.
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