KR101810705B1 - 층위치 검출장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 제 1 홀-센서 (42)를 가지며, 적어도 하나의 층위치 특성변수를 포함하도록 제공된 적어도 제 1 센서 유닛 (18) 및 층 신호 (54)의 생성을 위한 층위치 특성변수를 평가하도록 제공된 평가 유닛 (50)을 가지는 리프트 시스템 (10)의 층위치 검출장치에 관한 것이다. 바람직하게는, 상기 센서 유닛 (18)은 적어도 제 2 홀-센서 (46)을 가지며 상기 평가 유닛 (50)은 층 신호 (54)의 발생을 위한 적어도 두개의 층위치 특성변수를 평가하도록 제공된다.

Description

층위치 검출장치{FLOOR POSITION DETECTION DEVICE}
본 발명은 특히 청구항 1의 전제부에 따른 리프트 시스템의 층 위치 검출 시스템에 관한 것이다.
엘레베이터 카에 의해 층에 도달하였는지가 검출될 수 있는 장치가 EP 0847953 A1 공보에 개시되어 있다. 이 장치는 층을 특징짓는 장소에 배열된 동일한 방위를 갖는 두 개의 영구자석들, 이 영구자석들에 의해 생성된 자계를 검출하는 자계 센서, 및 자계센서의 신호를 평가하는 평가 유닛을 포함한다.
본 발명은 층의 위치의 안정한 검출을 위한 간단하고 경제적인 장치를 리프트 시스템에 제공하는 데 특히 목적이 있다. 본 발명의 목적은 본 발명에 따른 청구항1의 특징들에 의해 해결된다. 추가 구현예들은 부가 종속항들에 의해 이루어진다.
본 발명은 제 1 홀-센서를 가지며 적어도 하나의 층위치 특성변수를 포함하도록 제공된 적어도 하나의 센서 유닛 및 층 신호의 생성을 위한 상기 층위치 특성변수를 평가하도록 제공된 평가 유닛을 갖는 리프트 시스템의 층위치 검출장치에 관한 것이다.
센서 유닛은 적어도 하나의 제 2 홀-센서를 가지며 평가 유닛은 층 신호의 생성을 위한 적어도 두개의 층위치 특성변수들을 분석하도록 제공되는 것이 바람직하다. 단순하고 경제적인 해결책은 층위치 특성변수의 안정한 검출을 위한 적어도 하나의 제 2 홀-센서를 포함시킴으로써 제공된다. "층 위치 특성변수"라 함은 특히 층 위치를 특징짓는 장소에 장착된 자석 수단에 의한 홀-센서신호를 의미한다고 해석될 것이다. 여기서 "층 신호" 라 함은 엘리베이터 카와 층 사이의 예정된 상대 위치의 도달을 표시하도록 제공된 전기 또는 전자신호, 특히 트리거 신호를 의미하는 것으로 해석될 것이다. "평가 유닛"이라 함은 특히 아날로그 및/또는 디지털 전기 신호를 처리하는 전자 유닛을 의미하는 것으로 해석될 것이다. "에 제공된다"라 함은 특히 특정하여 설치되고 해석 및/또는 프로그램된다는 것으로 해석될 것이다. 여기서 "자석 수단"이라 함은 특히 자기장의 발생을 위한 수단, 특히 원통형의 영구자석으로 해석될 것이다. 바람직하게는 그 적어도 두개의 홀-센서들이 공지의 공간거리에 배열되어, 층의 위치의 아주 정확한 결정이 얻어질 수 있다. 홀-센서들의 거리는 유리하게는 센서들의 신호의 반값전폭(Full Width at Half Maximum, FWHM)의 50%와 100%의 사이에 있다.
여기서 "반값전폭"이라 함은 홀-센서의 신호가 자석 수단에 의해 홀-센서의 두 위치에서 발생된 최대 진폭의 50%에 해당하는 홀-센서의 두 위치의 거리와 동일한 것을 의미한다.
게다가, 층위치 검출장치는 절대위치시스템 및 층 신호를 발생시키고, 층 신호로 절대위치시스템의 절대위치데이터로부터 읽어낸 값(탐독값)을 동기화하도록 설계된 타이밍 발생기를 포함하며, 이를 통하여 층의 절대위치의 신속하고 간단한 결정 및 검사를 할 수 있다. 여기서 "절대위치시스템"라 함은 절대위치시스템의 작동이 상세하게 기재된, 예를 들면 공개공보 WO 03/011733 A1에 따른 엘리베이터 카의 절대위치의 검출을 위한 이미 공지된 시스템을 의미하는 것으로 해석한다. "동기 유닛"이라 함은 상세하게는 기본적으로 디지털 전기신호를 처리하는 전자 유닛을 의미하는 것으로 해석된다. 평가 유닛과 동기 유닛은 적어도 부분적으로 하나의 부품으로 설계될 수 있다. 그러나, 이들 두 유닛의 분리도 또한 기본적으로 가능하다.
하나의 바람직한 실시예에서, 평가 유닛은 적어도 두개의 홀-센서들의 아날로그신호의 진폭들을 일치시키고 그리고 동일한 진폭을 이용하여 적어도 하나의 디지털 스위칭 상태를 변화시키도록 설계된 적어도 하나의 전자회로를 포함하고, 따라서 엘리베이터 카에서의 센서 수단 및 자석 수단의 절대고도위치의 상관관계가, 시간에 기반하여 층을 특징짓는 위치에서 정확하게 감지될 수 있고, 또한 추가적으로 적용될 수 있는 형태로 아주 간단하게 처리될 수 있다. 바람직하게는 그 적어도 두개의 홀-센서들의 신호들 중에 하나가 전자회로에 의해 그의 부호가 역으로 전환되고 제 2 홀 센서의 신호에 부가될 수 있다. 아날로그신호들로부터의 전자 감산에 대한 종래의 방법들이 당업자에게 알려져 있다. 그래서 바람직하게는 두 개의 홀-센서의 동일한 신호레벨은 크기 영의 하나의 단일 검출가능한 신호레벨로 전환될 수 있다. 특히, 다양한 센서 감도 및/또는 자석수단까지의 다양한 최단거리에 의한 전자회로내의 두개의 홀-센서의 신호들의 다양한 이득에 의해, 신호의 다양한 높이의 진폭이 보상될 수 있어, 층위치 검출장치의 정밀도가 증가될 수 있다. 진폭의 보상을 위해 요구되는 이득은 엘리베이터 카의 교본적인 가동에서 얻어질 수 있다.
게다가, 센서 유닛은 적어도 제 3 홀-센서를 가지며, 평가 유닛이 층 신호의 생성을 위한 적어도 세 개의 층위치 특성변수들을 분석하도록 제공될 수 있다. 바람직하게는 두개의 다른 홀-센서들의 신호들의 잘못된 해석은 제 3 홀-센서를 포함시킴으로써 배제될 수 있으며, 그래서 층위치 검출장치의 신뢰성이 간단하고 경제적인 방식으로 향상된다. 바람직하게는 제 3 홀-센서는 두 다른 홀-센서들에 대하여 중간 위치에 설치될 수 있으며, 처음 두 홀-센서들의 신호의 진폭의 균등은 층위치 검출장치의 신뢰성의 증가에 관련하여 제 3 홀-센서의 최소 진폭에 의해 동시에 만족될 부가조건과 관계가 있을 수 있다. 바람직하게는, 자석 수단의 분산장들 및 측면영역 자력선들에 의한 세 홀-센서들의 신호의 잘못된 해석을 피하기 위하여, 층을 특징짓는 위치에 있는 자석 수단의 근처로 엘리베이터 카를 이동시키기 위해 절대위치시스템으로부터의 일부 정보가 사용될 수 있다. "근처에"라 함은 그 관계에서 두 개의 바깥 홀-센서들의 중간거리에 해당하는 세 개의 홀-센서들의 자석 수단까지의 가까운 거리를 의미하는 것으로 해석된다.
또 하나의 바람직하게는, 평가수단은 적어도 하나의 전자 비교기 회로를 가지며 적어도 세개의 홀-센서들 중 적어도 하나의 아날로그 신호를 디지털화하도록 제공되어, 홀-센서들의 신호의 조건들이 전자형태로 간단하게 평가될 수 있다. 바람직하게는, 홀-센서들 중 적어도 하나의 홀 센서의 신호의 양의 진폭에 대한 최소값을 비교기 문턱값으로 정의하고, 홀-센서들 중 적어도 하나의 홀 센서의 신호의 음의 진폭에 대한 최대값을 또 하나의 비교기의 문턱값으로 정의하여, 바람직하게는 홀-센서들 중 적어도 하나의 접근은 비교기 출력의 전압 레벨을 변화시킴으로써 층을 특징짓는 위치에 있는 자석 수단에서 특히 쉽게 검출될 수 있다. 바람직하게는, 비교기 출력의 전압레벨은 센서 유닛의 자석수단으로의 접근상황을 결정하고 동시회로에서 다른 홀-센서들의 평가에 의해 생길 수 있는 오류 스위칭 신호들을 제거하는 데 사용될 수 있다. 전자비교회로는 한 부품비교기와 함께 형성되거나 윈도 비교기로서 형성된다. 종래의 방법들이 당업자에게 알려져 있다.
또한, 센서 유닛은 적어도 하나의 제 4 및 제 5 홀-센서를 가지며, 평가 유닛은 층 신호의 생성을 위한 적어도 다섯개의 층위치 특성변수를 평가하도록 설계되는 것이 바람직하다. 바람직하게는 제 4 및 제 5 홀-센서를 포함시킴으로써 제 1 및 제 2 홀-센서의 신호들의 있을지도 모를 또 하나의 잘못된 해석을 제거할 수 있어, 층위치 검출장치의 신뢰성이 간단하고 경제적인 방식으로 또한 증가된다. 바람직하게는, 제 4 및 제 5 홀 센서들 각각이 일련의 홀 센서들의 외측 위치에 배치되고, 이로 인해 바람직하게는 이들 홀 센서의 신호들에 의해, 층을 특징짓는 위치에 있는 자석 수단에 의해 발생되는 자계의 극성이 추론될 수 있다.
바람직한 실시예에서, 동기 유닛은 홀 센서들의 결합된 그리고 디지털화된 신호들의 시간적 일치를 결정하기 위한 수단을 포함함으로써, 층을 특성화하는 위치에서 센서 유닛과 자석 수단의 절대 위치들의 일치 시점이 정확히 검출되고, 홀 센서들의 신호들의 잘못된 해석이 간단하고 경제적인 방식으로 확실하게 배제될 수 있다.
센서 유닛은 하나의 공통 층에 할당된 적어도 2개의 자석 수단들을 포함한다. 층을 특성화하는 위치에 두개의 자석수단을 사용함으로써 층위치 검출장치의 신뢰성을 간단하고 경제적인 방식으로 증가시킬 수 있다. 바람직하게는 센서 유닛에 의한 제 1 자석 수단의 검출은 엘리베이터 카가 층으로 접근한다는 표시로서 사용될 수 있어서, 제 2 자석 수단에 의해 발생되는 홀 센서들의 신호들을 포함하여, 층의 제 2 자석 수단에 대한 엘리베이터 카의 비교적 작은 이동 거리가 매우 정확히 계산될 수 있다.
바람직한 실시예에서, 층 위치 검출 장치는 제 1 센서 유닛에 기능적으로 의존하며 리던던트 층 신호를 발생시키는 적어도 하나의 제 2 센서 유닛을 포함하기 때문에, 간단하고 경제적인 방식으로 층 위치 검출과 관련한 높은 신뢰성이 달성된다.
적어도 하나의 엘리베이터 카 및 층 위치 검출 장치를 포함하는 리프트 장치가 제공되며, 이 장치에서 적어도 제 1 센서 유닛이 엘리베이터 카에 배치됨으로써, 특히 간단하고 경제적인 해결책 및 설치와 관련해서 매우 낮은 비용이 주어진다. 그러나, 기본적으로 자석 수단이 엘리베이터 카의 특성적 위치에 장착되며 적어도 제 1 센서 유닛이 층의 특성적 위치에 장착되는 구성도 가능하다.
다른 장점들은 하기 도면 설명에 제시된다. 도면에는 본 발명의 실시예가 도시된다. 상세한 설명 및 청구범위는 많은 특징들의 조합을 포함한다. 당업자는 상기 특징들을 바람직하게는 개별적으로 고려하고, 의미있는 다른 조합으로 통합할 수 있다.
도 1은 엘리베이터 카가 리프트 축내에 있는 리프트 시스템을 보여준다.
도 2는 5개의 홀-센서를 갖는 하나의 센서 유닛 및 그 신호의 평가의 개략적인 표시도를 보여준다.
도 3은 평가 유닛 및 동기 유닛의 전자회로 다이어그램이다.
도 1은 리프트 축 14을 따라 이동할 수 있는 엘리베이터 카 12를 갖는 리프트 시스템 10의 일부를 보여준다. 층 16의 근처에 위치한 엘리베이터 카 12에, 서로 독립적으로 작동하는 두개의 기능형 센서 유닛들 18, 20이 측면들의 각각에 배열되며, 그 센서 유닛들은 각각 하나의 층위치특성변수를 포함하도록 제공된다. 층위치특성변수는 그래서 제 1 센서 유닛 18에 포함되며, 자석수단 28은 리프트 축 14내의 층 16을 특징짓는 위치 22에 배열되고, 자석수단은 영구자석으로 설계되며 그의 자기장 34은 5개의 홀-센서 40, 42, 44, 46, 48를 포함하는 제 1 센서 유닛 18이 접근할 때 홀 센서들 40, 42, 44, 46, 48 내에 전기신호를 발생시킨다. 제2 센서 유닛20의 경우, 이 목적을 위해 2 개의 자석수단 30, 32으로의 통과가 제공되며, 이 자석수단들은 각각 영구자석으로 설계되며 층 16을 나타내는 위치들 24, 26에 배열되고 자기장 36, 38을 생성한다. 센서 유닛들 18, 20의 각각은 각각의 평가 유닛 50, 52와 전기적으로 연결되어 있고, 이 평가 유닛은 층 신호 54, 56의 발생을 위해 센서 유닛 18, 20의 다섯개의 층위치특성변수들 각각을 평가하도록 제공된다.
제 1 센서 유닛 18과 무관하게 작동하는 제 2 센서 유닛 20이 중복 층 신호 56의 발생을 위한 안전이유로 설치된다.
두 독립된 평가 유닛들 50, 52의 각각은 동기 유닛 58, 60과 전기적으로 연결되며 하나의 공통 하우징 70, 70'에 배열된다. 동기회로들 58, 60은 각각의 평가 유닛 50, 52의 전기신호로부터 층 신호 54, 56을 발생시키고 또한 층 신호 54, 56로 절대위치시스템 72의 절대위치데이터로부터의 판독값을 평가하기 위하여 제공된다. 신호케이블 66, 68은 동기 유닛 58, 60의 출력 62, 64로부터 제어 유닛 74로 이어지며, 제어 유닛은 절대위치시스템 72와 데이터에 의해 연결되어 있으며, 그것은 여기에 더 상세하게 기재되지 않을 것이며 도1의 상세한 내용도 보여지지 않을 것이다. 여기서 "제어 유닛"이라 함은 연산 유닛, 저장 유닛 및 거기에 저장된 작동프로그램을 의미하는 것으로 해석한다. "제어"라 함은 개방 루프 제어순서 및/또는 폐 루프 제어순서에서의 정밀작동을 의미한다. 제어 유닛 74는 동기 유닛 58, 60의 층 신호 54, 56을 도달시에 체크하고, 두 층 신호들 54, 56의 시간적 일치와 관련하여 제어 유닛 74내에 저장된 조건들의 달성시 절대위치시스템 72의 절대위치데이터를 얻으며, 또한 제어 유닛 74의 저장요소에 저장하도록 제공된다.
도 1에 도시된 층위치 검출장치의 실시예는 중복이유에서 두개의 서로 독립적으로 작동하는 센서 유닛들 18, 20, 독립된 자석수단들 28 그리고 30 및 32, 두개의 독립된 평가 유닛들 50, 52 및 층 신호들 54, 56의 발생을 위한 두개의 독립된 동기 유닛들 58, 60을 포함한다. 그러나, 층위치 검출장치는 원칙적으로 본 발명의 사상을 일탈하지 않으면서 하나의 센서 유닛 18 또는 20, 하나의 자석수단 28 또는 30 및 32, 하나의 평가수단 50 또는 52 및 층 신호 54 또는 56의 발생을 위한 하나의 동기 유닛 58 또는 60을 갖도록 배열될 수 있다.
도 2에는 도 1의 센서 유닛들 중 하나 18이 있고 5개의 홀-센서들 40, 42, 44, 46, 48 및 평가의 개략적인 도면이 도시되어 있다. 5개의 홀-센서들 40, 42, 44, 46, 48 은 곧은 수직선을 따라 일렬로 배열되고 중앙 센서로부터 중앙 센서까지 약 8 밀리미터의 정규 거리를 두고 있어, 홀-센서들은 층 16의 특성을 나타내는 위치 22에 놓여있는 도 1의 자석수단 28까지 예를들면 약 5 미터의 가까운 측방향 거리내를 통과시에 자석수단 28로부터의 자기장 34를 검출한다.
5개의 홀 센서들 40, 42, 44, 46, 48은 평가 유닛 50 내에서 그들의 아날로그 신호들 76의 나중 평가에 따라 표시된다. 2개의 홀 센서들 42 및 46은 메인 센서들이고, 센서 유닛 18의 제 2 및 제 4 자리에 배치된다. 홀 센서44는 인에이블 센서로서 표시되고 중앙에 배치된다. 홀 센서들 40, 42, 44, 46, 48의 장치의 외부 위치에 홀 센서들40 및 48이 배치되고, 상기 홀 센서들은 홀 센서44와 함께 극성 센서로서 표시된다.
도 2의 중앙 부분에는 층 16을 특성화하는 위치22를 도 1의 자석 수단28이 통과하는 동안에 홀 센서들40, 42, 44, 46, 48의, 평가를 위해 조합된 아날로그 신호들76이 개략적으로 도시된다. 5개의 홀 센서들40, 42, 44, 46, 48의 아날로그 신호들76의 신호 처리는 도 3의 중앙 부분에 따라 평가 유닛50의 전자 회로 내에서 이루어진다. 도 2의 우측 부분은 5개의 홀 센서들40, 42, 44, 46, 48의 조합된, 아날로그 신호들76로부터 얻어진 디지털 신호들 CLK, ENABLE A, ENABLE B 및 POL을 도시하고, 상기 신호들은 도 3의 우측 부분에 도시된 동기화 유닛58에 공급된다.디지털 신호들 CLK, ENABLE A, ENABLE B 및 POL 을 얻는 것은 하기에 설명된다.
도 3의 평가 유닛50은 홀 센서들42 및 46의 아날로그 신호들76의 진폭들을 비교하고 진폭들이 동일한 경우 디지털 스위칭 상태를 변화시키기 위해 제공된 전자 회로78를 포함한다. 신호 CLK는 홀 센서46의 아날로그 신호76가 연산 증폭기80 내에서 홀 센서42의 아날로그 신호로부터 감산됨으로써 발생된다. 연산 증폭기80의 회로에서 전기 저항의 조정에 의해, 테스트 드라이브에서 검출된 상이한 감도 및 홀 센서들42 및 46과 자석 수단28 사이의 최소 간격이 보상되었다. 이로 인해, 연산 증폭기80의 입력부들에서 동일한 진폭은 층16을 특성화하는 위치22에 배치된 자석 수단28과 홀 센서들42 및 46 사이의 동일한 간격에 상응한다.저항의 결정에 필요한 방법들은 당업자에게 공지되어 있다.홀 센서들42 및 46의 신호들76의 차이의 제로 통과는 연산 증폭기80의 출력 전압을 변화시킨다. 신호 CLK를 발생시키기 위해 후방에 접속된 다른 연산 증폭기82의 디지털 스위칭 상태는 기준 전압 V_REF에 대한 연산 증폭기80의 출력 전압의 높이에 의해 변화된다.
디지털 신호들 ENABLE A 및 ENABLE B를 발생시키기 위해, 평가 유닛50은 전자 비교기 회로84를 포함하고, 상기 전자 비교기 회로는 홀 센서44의 아날로그 신호76를 디지털화하기 위해 제공된다.홀 센서44의 아날로그 신호76가 +60 mV의 포지티브 전압 문턱값을 초과하면, 연산 증폭기의 저항 회로86에 의해 신호 ENABLE A = "1"가 발생된다. 홀 센서44의 아날로그 신호76가 -60 mV의 네거티브 전압 문턱값에 미달하면, 다른 연산 증폭기의 저항 회로88에 의해 신호 ENABLE B = "1"가 발생된다.
또 하나의 연산 증폭기90는 고정적으로 설정된 기준 전압94을 홀 센서들40, 44 및 48의 신호들로 조합된 진폭96과 비교하고, 상기 조합된 진폭96이 상기 기준 전압94을 초과하거나 미달하면, 그 디지털 스위칭 출력을 변화시키는 또 하나의 비교기 회로 92를 나타낸다. 연산 증폭기90의 출력 전압은 디지털 신호 POL을 형성한다.
동기화 유닛58은 홀 센서들40, 42, 44, 46, 48의 조합된 그리고 디지털화된 신호들, 즉 디지털 신호들 CLK, ENABLE A, ENABLE B 및 POL의 시간적 일치를 결정하기 위한 수단으로서 전자 로직 모듈로 이루어진 로직 회로98를 포함한다. ENABLE A가 "1"에 그리고 POL이 "0"에 접속되거나 또는 ENABLE B가 "1"에 그리고 POL이 "1"에 접속되면, 상기 로직 회로98의 출력부100는 전압 레벨 논리 "1"에 접속된다. 상기 논리적 조건은 센서 유닛18이 자석 수단28 가까이에 있을 때만 평가 유닛50이 반응하는 것을 보장한다. 논리 회로100의 출력부는 포지티브 에지 상승에 반응하는 2개의 D-플립-플롭102, 104의 리셋 입력부들에 접속되고, 상기 D-플립-플롭의 클록 입력부들은 각각 신호 CLK 또는 반전 CLK 신호에 의해 제어된다. D-플립-플롭의 2개의 반전 데이터 출력부들은 논리 NAND-게이트106에서 평가되고, 이는 비반전 데이터 출력부들에서의 OR 조건에 상응한다. 홀 센서들42 및 46의 진폭이 동일하고 신호들 ENABLE A, ENABLE B 및 POL에 대한 논리적 조건이 충족되면, NAND 게이트 106의 출력부 108가 논리 "1"에 접속되고 층 신호 54를 발생시킨다.

Claims (11)

  1. 제 1 홀-센서 (42)를 가지며, 적어도 하나의 층위치 특성변수를 포함하도록 제공된 적어도 제 1 센서 유닛 (18) 및 층 신호 (54)의 생성을 위한 층위치 특성변수를 평가하도록 제공된 평가 유닛 (50)을 가지고, 상기 제1 센서 유닛 (18)은 적어도 제 2 홀-센서 (46)를 가지며 상기 평가 유닛 (50)은 층 신호 (54)의 생성을 위한 적어도 두개의 층위치 특성변수를 평가하도록 제공된 리프트 시스템 (10)의 층위치 검출장치에 있어서,
    상기 평가 유닛 (50)은 적어도 두개의 홀-센서들 (42, 46)의 아날로그 신호 (76)로부터의 진폭을 비교하고, 진폭들이 동일한 경우, 적어도 하나의 디지털 스위칭 상태를 변경하도록 제공된 적어도 하나의 전자회로 (78)인 것을 특징으로 하는 리프트 시스템의 층위치 검출장치.
  2. 제1항에 있어서,
    절대위치 시스템 (72) 및 층 신호 (54)를 생성시키고 층 신호 (54)와 절대위치시스템 (72)의 절대위치데이터로부터 탐독값을 동기화하도록 제공된 동기 유닛 (58)을 갖는 것을 특징으로 하는 층위치 검출장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    상기 제1 센서 유닛 (18)은 적어도 제 3 홀-센서 (44)를 가지며, 평가 유닛 (50)은 층 신호 (54)의 발생을 위한 적어도 3개의 층위치 특성변수를 평가하도록 제공되는 것을 특징으로 하는 층위치 검출장치.
  4. 제3항에 있어서,
    평가 유닛 (50)은 적어도 하나의 전자 비교기회로 (84, 92)를 가지며 상기 적어도 3개의 홀-센서 (42, 44, 46) 중 적어도 하나의 아날로그 신호 (76)를 디지털화하도록 제공되는 것을 특징으로 하는 층위치 검출장치.
  5. 제3항에 있어서,
    센서 유닛 (18)은 적어도 제 4 및 제 5 홀-센서 (40, 48)를 가지며 평가수단 (50)은 층 신호 (54)의 발생을 위한 적어도 5개의 층위치 특성변수를 평가하도록 제공되는 것을 특징으로 하는 층위치 검출장치.
  6. 제5항에 있어서,
    동기 유닛 (58)은 홀-센서들 (40, 42, 44, 46, 48)의 합성 및 디지털화된 신호들의 시간적 일치를 결정하기 위한 수단을 가지는 것을 특징으로 하는 층위치 검출장치.
  7. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    공통층(16)에 할당된 적어도 두 개의 자석수단 (30, 32)을 통과하도록 제공되는 제 2 센서 유닛 (20)을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 층위치 검출장치.
  8. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    리던던트 층 신호 (56)의 발생을 위한, 기능적으로 제 1 센서 유닛 (18)과 독립된 적어도 제 2 센서 유닛 (20)을 포함하는 것을 특징으로 하는 층위치 검출장치.
  9. 제1항 또는 제2항에 따른 적어도 하나의 엘리베이터 카 (12) 및 층위치 검출장치를 갖는 리프트 시스템 (10)에 있어서,
    적어도 제 1 센서 유닛 (18)은 엘리베이터 카 (12)에 배열되는 것을 특징으로 하는 리프트 시스템.
  10. 제1항 또는 제2항에 따른 층위치 검출장치를 사용하는 층위치 검출방법에 있어서,
    층 신호(54)를 생성하기 위하여 상기 적어도 두개의 홀-센서들(42, 46)의 층위치 특성변수들이 평가되는 것을 특징으로 하는 층위치 검출방법.
  11. 제10항에 있어서,
    층 신호(54, 56)는 절대위치시스템 (72)에 의해 제어 유닛 (74)으로 절대위치를 공급하는 것을 적어도 개시시키는 것을 특징으로 하는 층위치 검출방법.
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