KR101777038B1 - 보호 릴레이 장치 - Google Patents

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Abstract

AMU(2)는, 계통 전기량을 나타내는 아날로그 데이터를 CT/VT(8)로부터 받음과 함께, 외부로부터 공급되는 동기 신호에 동기하여, 입력된 아날로그 데이터를 디지털 데이터로 변환하여 IED(1)에 출력한다. NMU(3)는, 동기 신호를 받아 A/D 변환 요구 신호를 생성하여 ECT/EVT(4)에 출력한다. ECT/EVT(4)는, NMU(3)로부터의 A/D 변환 요구 신호에 동기하여 아날로그 데이터를 디지털 데이터로 변환하여 NMU(3)에 출력한다. NMU(3)는, 입력된 디지털 데이터를 IED(1)에 출력한다. IED(1)는, AMU(2)로부터 IED(1)에 입력되는 디지털 데이터의 위상을 지연시킴에 의해, AMU(2)와 NMU(3)(ECT/EVT(4)) 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 보상한다.

Description

보호 릴레이 장치{PROTECTION RELAY DEVICE}
본 발명은, 전력 계통을 보호하는 목적으로 설치되는 보호 릴레이 장치에 관한 것이다.
전력 계통으로부터 전류 및 전압 등의 정보(이하 「계통 전기량」이라고 칭한다.)를 수집함과 함께, 전력 계통 또는 전력 설비에 사고가 발생한 경우에, 당해 사고를 검출함과 함께, 당해 사고를 전력 계통으로부터 절리(切離)하기 위해, 보호 릴레이 장치가 사용되고 있다.
전력 계통에 관한 설비에서는, 근래의 정보 통신 기술 및 디지털 제어 기술의 진보에 수반하여, 네트워크화가 진행되고 있다. 이와 같은 네트워크화의 하나로서, 분산형의 보호 릴레이 장치가 제안되고, 실용화되어 있다. 분산형의 보호 릴레이 장치는, 종래의 보호 릴레이 장치를 기능적으로 분리시킨 것이고, 전력 계통으로부터 계통 전기량을 수집하는 하나 또는 복수의 통합 유닛과, 이들의 통합 유닛으로부터의 정보에 의거하여 전력 계통을 보호, 제어, 감시하기 위한 하나 또는 복수의 연산 장치로 이루어진다.
예를 들면, 일본국 특개2002-315233호 공보(특허 문헌 1)에 개시되는 변전기기 보호 제어 시스템에서는, 모선(母線), 스위치 및 송전선으로 구성되는 변전기기 본체에 흐르는 교류 전류와, 변전기기 본체에 인가되어 있는 교류 전압을 계량기용 변성기에 의해 추출하고, 이 추출한 아날로그 전기량을 A/D 변환(아날로그/디지털 변환)한 후, 디지털 데이터로서 통합 유닛을 통하여 프로세스 버스에 송신한다. 그리고, 이 디지털 데이터는, 프로세스 버스에 접속되는 보호 제어 유닛에 받아들여지고, 변전기기 본체의 감시, 제어 및 보호의 연산에 사용된다. 보호 제어 유닛으로부터의 제어 지령 및 변전기기 본체로부터의 감시 정보 등은 프로세스 버스를 통하여 기기 제어 유닛에 의해 주고받아(授受)지고, 이 기기 제어 유닛에 의해 스위치에 대한 차단 지령 등이 출력된다.
특허 문헌 1 : 일본국 특개2002-315233호 공보
상술한 바와 같은 분산형의 보호 릴레이 장치는, 보호 릴레이 장치를 구성하는 복수의 회로를 디지털화하고, 또한 당해 복수의 회로 사이를 프로세스 버스에 의해 결합함에 의해, 장치의 소형화를 실현한다. 또한, 정보의 유효 활용도 가능해지기 때문에, 보수(保守) 운용성 및 경제성을 향상할 수 있다.
그 한편으로, 연산 장치는, 프로세스 버스로 결합되는 복수의 통합 유닛의 각각으로부터, 계통 전기량에 대응한 디지털 데이터를 방아들이기 위해, 복수의 통합 유닛의 사이에서 디지털 데이터의 위상을 일치시킬 필요가 있다. 이것에는, 복수의 통합 유닛의 사이에서 A/D 변환의 타이밍의 동기를 취할 필요가 있다.
그러나, 통합 유닛에는, 계량기용 변성기로부터 수집한 아날로그 전기량을, 내장하는 A/D 변환기를 이용하여 디지털 데이터로 변환하여 프로세스 버스에 출력하도록 구성된 것과, 계량기용 변성기 내부의 A/D 변환기에서 생성된 디지털 데이터를 수집하여 프로세스 버스에 출력하도록 구성된 것이 있다. 또한, 후자의 구성에서는, 통합 유닛이 계기용 변성기에서의 A/D 변환의 타이밍을 제어한다. 그 때문에, 하나의 보호 릴레이 장치에 상기 2개의 구성의 통합 유닛을 이용한 경우에는, 통합 유닛 사이에서 A/D 변환 타이밍에 어긋남이 생겨 버린다는 문제가 생긴다. 이 결과, 복수의 통합 유닛 사이에서 디지털 데이터의 위상이 다르기 때문에, 연산 장치가 정상적으로 기능하지 않게 된다.
본 발명은, 이와 같은 문제를 해결하기 위해 이루어진 것으로, 그 목적은, 복수의 통합 유닛 사이에서 디지털 데이터의 위상을 일치시키는 것이 가능한 분산형의 보호 릴레이 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 어느 국면에 따르면, 보호 릴레이 장치는, 전력 계통으로부터 계통 전기량을 나타내는 정보를 수집하기 위한 복수의 통합 유닛과, 상기 복수의 통합 유닛으로부터의 정보에 의거하여, 전력 계통을 보호하기 위한 연산 장치를 구비한다. 제1의 통합 유닛은, 계통 전기량을 나타내는 아날로그 데이터를 제1의 변성기로부터 받음과 함께, 외부로부터 공급되는 동기 신호에 동기하여, 입력된 아날로그 데이터를 디지털 데이터로 변환하여 연산 장치에 출력하도록 구성된다. 제2의 통합 유닛은, 계통 전기량을 나타내는 아날로그 데이터로부터 생성된 디지털 데이터를 제2의 변성기로부터 받음과 함께, 입력된 디지털 데이터를 연산 장치에 출력하도록 구성된다. 제2의 통합 유닛은, 동기 신호를 받아 아날로그/디지털 변환을 요구하는 요구 신호를 생성하여 제2의 변성기에 출력한다. 제2의 변성기는, 제2의 통합 유닛으로부터의 요구 신호에 동기하여 아날로그 데이터를 디지털 데이터로 변환하여 상기 제2의 통합 유닛에 출력한다. 보호 릴레이 장치는, 제1의 통합 유닛과 제2의 변성기 사이의 아날로그/디지털 변환 타이밍의 어긋남을 보상하기 위한 보정부를 구비한다.
본 발명에 의하면, 분산형의 보호 릴레이 장치에서, 복수의 통합 유닛의 사이에서 디지털 데이터의 위상을 일치시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치의 전체 구성도.
도 2는 AMU에서의 A/D 변환 타이밍 및 NMU에서의 A/D 변환 타이밍의 관계를 도시하는 파형도.
도 3은 이 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치에서의 IED의 기능 블록도.
도 4는 IED의 위상 보정부에서의 AI 데이터의 위상 보정을 설명하는 도면.
도 5는 위상 보정 후의 AMU 데이터를 도시하는 벡터도.
도 6은 본 발명의 실시의 형태 2에 의한 보호 릴레이 장치에서의 AMU의 기능 블록도.
도 7은 본 발명의 실시의 형태 2에 의한 보호 릴레이 장치에서의 ECT/EVT 및 NMU의 기능 블록도.
도 8은 AMU, NMU 및 ECT/EVT의 각각의 처리 순서를 도시하는 플로 차트.
도 9는 본 발명의 실시의 형태 3에 의한 보호 릴레이 장치의 전체 구성도.
도 10은 본 발명의 실시의 형태 4에 의한 보호 릴레이 장치에서의 IED의 기능 블록도.
도 11은 본 발명의 실시의 형태 5에 의한 보호 릴레이 장치에서의 IED 및 AMU의 기능 블록도.
본 발명의 실시의 형태에 관해, 도면을 참조하면서 상세히 설명한다. 또한, 도면 중의 동일 또는 상당 부분에 관해서는, 동일 부호를 붙이고 그 설명은 반복하지 않는다.
실시의 형태 1.
(보호 릴레이 장치의 전체 구성)
도 1은, 본 발명의 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치의 전체 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치는, 전력 계통을 구성하는 송전선(7)의 부근에 설치되고, 전력 계통으로부터 전류 및 전압 등의 정보(계통 전기량)를 수집한다. 보호 릴레이 장치는, 수집하는 계통 전기량에 의거하여, 전력 계통의 보호, 제어 및 감시 등의 처리를 실행한다.
구체적으로는, 보호 릴레이 장치는, 전력 계통으로부터 계통 전기량을 수집하는 복수의 통합 유닛(Merging Unit : 이하 「MU」이라고도 칭한다.)(2, 3)과, 전력 계통의 보호, 제어 및 감시하기 위한 연산 장치(Intelligent Electric Device : 이하 「IED」이라고도 칭한다.)(1)를 구비한다. 복수의 MU(2, 3)와 IED(1)와의 사이는, 프로세스 버스(6)를 통하여 서로 데이터 통신 가능하게 되어 있다. 즉, 본 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치는, 프로세스 버스(6)를 통하여 보호 릴레이 장치의 기능을 주로2개의 기능에 분할한, 프로세스 버스 대응 보호 릴레이 장치를 구성한다.
프로세스 버스 대응 보호 릴레이 장치에서는, 전력 계통에 사고가 발생한 때에 사고가 일어난 개소를 즉시 차단하기 위해, 복수의 MU(2, 3)가 타이밍을 맞추어서 계통 전기량을 수집하고, IED(1)에 송신할 필요가 있다. 복수의 MU(2, 3) 및 IED(1)의 사이에서 시각을 동기하기 위해, 보호 릴레이 장치는, 동기 신호 출력 장치(5)를 또한 구비한다. 동기 신호 출력 장치(5)는, 예를 들면 GPS(전지구 측위 시스템)를 이용하여 고정밀도로 시각을 파악하고, 시각을 나타낸 동기 신호를 MU(2, 3) 및 IED(1)에 출력한다.
복수의 MU(2, 3)의 각각은, 수집하는 계통 전기량을 IED(1)에 송출한다. IED(1)는, 각 MU로부터 송신된 계통 전기량에 의거하여, 전력 계통의 보호, 제어, 감시 등의 처리를 실행한다. 일반적인 보호 릴레이 장치에서는, 용도(예를 들면, 보호의 대상이나 제어의 대상 마다)에 응하여 복수의 IED(1)가 배치된다. 이와 같은 용도별의 IED로서는, 예를 들면, 보호 기능을 실현하는 보호 IED나, 제어 기능을 실현하는 제어 IED를 들 수 있다.
IED(1)는, 보호 기능의 한 예로서, 미리 정하여진 릴레이 연산 로직이 성립하는지를 소정 주기마다 판단한다. 릴레이 연산 로직이 성립한 때, IED(1)는, 대응하는 차단기에 대해 트립 신호를 출력한다. 이 트립 신호는, 프로세스 버스(6)를 통하여 전송되어도 좋다. IED(1)는, 제어 기능의 한 예로서, 전력 계통에서의 스위치의 투입/개방 등의 지령을 출력하는 것도 가능하다.
또한, IED(1)는, 감시 기능의 한 예로서, 전력 계통에 어떠한 고장이 발생한 경우에, 그 발생 전후에 있어서의 전력 계통의 정보의 파형 기록(로깅)을 행할 수 있고, 또한, 전력 계통의 정보를 리얼타임으로 출력할 수도 있다. 예를 들면, IED(1)는, 도시는 생략하지만, 스테이션 버스를 통하여, 변전소 자동화 시스템(Substation Automation System : SAS) 및 원방 감시 제어 장치와 접속된다. IED(1)는, 변전소 자동화 시스템 및 원방 감시 제어 장치에 전력 계통의 정보를 출력할 수 있다. IED(1)에는, 상술한 처리 이외의 임의의 처리를 실장할 수도 있다. 예를 들면, IED(1)를 이용하여, 변전소 자동화 시스템에 상당하는 기능을 실현하여도 좋다.
도 1에서, 송전선(7)에는, 차단기(10)가 설치됨과 함께, 계량기용 변성기(4, 8)가 설치된다. 계량기용 변성기란, 변류기(Current Transformer : CT) 및 계량기용 변압기(Voltage Transformer : VT)의 총칭이다. 계량기용 변성기(4, 8)는, 송전선(7)을 흐르는 전류의 정보(전류 파형)와, 송전선(7)에 생기는 전압의 정보(전압 파형)를 측정한다. 계량기용 변성기(4, 8)가 측정한 전류 및 전압의 정보(계통 전기량)는, 대응하는 MU(2, 3)에 입력된다. 즉, MU(2, 3)는, 송전선(7)을 흐르는 전류 및 송전선(7)에 생기는 전압의 정보(계통 전기량)를 수집한다.
여기서, 계량기용 변성기에는, 측정한 전류 및 전압의 정보를 나타내는 아날로그 데이터를 출력하도록 구성된 계량기용 변성기와, 당해 아날로그 데이터를, 내장하는 A/D 변환기를 이용하여 디지털 데이터로 변환하여 출력하도록 구성된 계량기용 변성기가 있다. 이하의 설명에서는, 각각의 계량기용 변성기를 구별하기 위해, 아날로그 데이터를 출력하는 계량기용 변성기(8)를 「CT/VT」로도 표기하고, 당해 아날로그 데이터를, 내장하는 A/D 변환기(43)를 이용하여 디지털 데이터로 변환하여 출력하는 계량기용 변성기(4)를 「ECT/EVT」로도 표기한다.
또한, MU에는, 계통 전기량을 나타내는 아날로그 데이터를 수집하는 것과, 계통 전기량을 나타내는 디지털 데이터를 수집하는 것이 있다. 이하의 설명에서는, 아날로그 데이터를 수집하는 MU를 「AMU(Analog Merging Unit)」로도 표기하고, 디지털 데이터를 수집하는 MU를 「NMU(Numerical Merging Unit)」로도 표기한다. AMU 및 NMU는, 대응하는 계량기용 변성기의 구성에 응하여 나누어 사용할 수 있다. 도 1에서는, CT/VT(8)로부터 출력되는 아날로그 데이터는 AMU(2)에 입력된다. 한편, ECT/EVT(4)로부터 출력되는 디지털 데이터는 NMU(3)에 입력된다.
AMU(2)는, CT/VT(8)의 측정치인 아날로그 데이터를 수집하고, 이 수집한 아날로그 데이터를, 내장하는 A/D 변환기(23)를 이용하여 디지털 데이터로 변환한다. 구체적으로는, A/D 변환기(23)는, 미리 정하여진 샘플링 주기마다 아날로그 데이터를 샘플링하여 양자화한다. A/D 변환기(23)의 샘플링 타이밍은, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호에 의해 제어된다. AMU(2)는 또한, A/D 변환기(23)로부터 출력되는 디지털 데이터에 대해 게인 조정 및 위상 보정 등의 처리를 시행함에 의해, AI(Analog Input) 데이터를 생성한다. AMU(2)는, 생성한 AI 데이터를 프로세스 버스(6)를 통하여 IED(1)에 송신한다. IED(1)에 송신되는 AI 데이터로서는, 전형적으로는, 측정치를 샘플링 주기마다 시계열로 나열한 시리얼 데이터가 사용된다. 즉, AMU(2)는, CT/VT(8)로부터의 측정치(아날로그 데이터)를 입력으로 하고, A/D 변환 후에 시리얼 데이터인 AI 데이터로서 프로세스 버스(6)를 통하여 출력한다. 또한, 프로세스 버스(6)는, 전기 신호의 형태로 AI 데이터를 전송하는 구성이라도 좋고, 광파이버를 이용하여 광신호의 형태로 AI 데이터를 전송하는 구성이라도 좋다.
NMU(3)는, ECT/EVT(4)로부터 출력되는 디지털 데이터를 수집하고, 수집한 디지털 데이터에 대해 게인 조정 및 위상 보정 등의 처리를 시행함에 의해, AI 데이터를 생성한다. NMU(3)는, 생성한 AI 데이터를 프로세스 버스(6)를 통하여 IED(1)에 송신한다. 즉, NMU(3)는, ECT/EVT(4)로부터의 측정치(디지털 데이터)를 입력으로 하고, 시리얼 데이터인 AI 데이터로서 프로세스 버스(6)를 통하여 출력한다.
IED(1)는, 프로세스 버스(6)를 통하여 AMU(2)로부터 송신된 AI 데이터 및 NMU(3)로부터 송신된 AI 데이터를 수신한다. IED(1)는, AMU(2) 및 NMU(3)로부터 송신된 AI 데이터에 의거하여, 미리 정하여진 릴레이 연산 로직이 성립하는지를 소정 주기마다 판단한다. 릴레이 연산 로직이 성립하면, IED(1)는, 대응하는 차단기(10)에 대해 트립 신호를 출력한다.
여기서, ECT/EVT(4)에서, A/D 변환기(43)의 샘플링 타이밍(A/D 변환 타이밍)은, NMU(3)로부터의 A/D 변환 요구 신호에 의해 제어된다. 구체적으로는, NMU(3)는, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호를 수신하면, 이 동기 신호를 이용하여, A/D 변환의 시작을 지시하는 A/D 변환 요구 신호를 생성한다. NMU(3)는, 생성한 A/D 변환 요구 신호를 A/D 변환기(43)에 송신한다. A/D 변환기(43)는, NMU(3)로부터의 A/D 변환 요구 신호에 동기하여 A/D 변환을 행하여, 디지털 데이터를 NMU(3)에 출력한다.
즉, ECT/EVT(4) 내부의 A/D 변환기(43)에서의 A/D 변환 타이밍은, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호에 따라 NMU(3)가 생성하는 A/D 변환 요구 신호에 의해 제어된다. 이에 대해, AMU(2) 내부의 A/D 변환기(23)에서의 A/D 변환 타이밍은, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호에 의해 제어된다.
도 2는, AMU(2)에서의 A/D 변환 타이밍 및 NMU(3)에서의 A/D 변환 타이밍의 관계를 도시하는 파형도이다. 도 2에서는, 각 MU에서의 A/D 변환 타이밍(샘플링 타이밍)을 화살표로 나타내고 있다. 또한, 각 MU에서의 샘플링 시간을 T0로 나타내고 있다.
도 2를 참조하면, NMU(3)에서의 A/D 변환 타이밍은, 실질적으로는, ECT/EVT(4) 내부의 A/D 변환기(43)의 A/D 변환 타이밍에 상당한다. NMU(3)에서의 A/D 변환 타이밍은, 상술한 바와 같이, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호를 받아 NMU(3)로부터 출력되는 A/D 변환 요구 신호에 의해 제어된다. 이에 대해, AMU(2)에서의 A/D 변환 타이밍은, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호에 의해 제어된다. 그 때문에, 도 2에 도시하는 바와 같이,, NMU(3)에서의 A/D 변환 타이밍은, AMU(2)에서의 A/D 변환 타이밍보다도 늦어버려, AMU(2)와 NMU(3) 사이에서 계통 전기량을 수집하는 타이밍에 어긋남이 생겨 버린다.
그래서, 본 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치에서는, IED(1)에, 통상의 보호 기능, 제어 기능 및 감시 기능에 더하여, AMU(2) 및 NMU(3) 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 보상하기 위한 보정 기능을 갖게 한다.
(IED의 구성)
도 3을 참조하여, IED(1)에 관해 더욱 설명한다. 도 3은, 본 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치에서의 IED(1)의 기능 블록도이다. 또한, 도 3에 기재된 각 기능 블록에 관해서는, 미리 설정된 프로그램에 따라 IED(1)가 소프트웨어 처리를 실행함에 의해 실현된다. 또는, IED(1)의 내부에, 당해 기능 블록에 상당하는 기능을 갖는 회로(하드웨어)를 구성하는 것도 가능하다.
도 3을 참조하여, IED(1)는, 입력부(11)와, 위상 보정부(12)와, 연산부(13)와, 타이밍 동기 회로(14)를 포함한다.
입력부(11)는, 프로세스 버스(6)와 접속하기 위한 인터페이스이고, MU(2, 3) 및 다른 IED 사이에서, 필요한 데이터를 교환한다. 입력부(11)는, 프로세스 버스(6)를 통하여 AI 데이터를 접수하면, 당해 AI 데이터를, AMU(2)로부터의 AI 데이터인 AMU 데이터와, NMU(3)로부터의 AI 데이터인 NMU 데이터로 분리한다.
위상 보정부(12)는, 보호 릴레이 장치의 외부로부터 입력되는 위상 보정 데이터를 이용하여, AI 데이터(AMU 데이터 및 NMU 데이터)의 위상을 보정한다. 구체적으로는, 위상 보정부(12)는, 위상 보정 회로(120, 121)와, 위상 보정 설정 회로(122)를 포함한다.
위상 보정 설정 회로(122)는, 외부로부터 입력되는 위상 보정 데이터에 의거하여, AMU 데이터 및 NMU 데이터의 위상이 일치하도록, AMU 데이터 및 NMU 데이터의 위상의 보정량을 설정한다. 위상 보정 데이터란, AMU(2)와 NMU(3) 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남에 기인하여 생기는, AMU 데이터와 NMU 데이터 사이의 위상의 어긋남량을 나타내는 데이터이다. 이 위상 보정 데이터는, 미리 측정된 A/D 변환 타이밍의 어긋남의 크기(이하 「지연량」이라고도 칭한다.)에 응하여 설정되고, IED(1)에 외부 입력된다.
위상 보정 회로(120)는, 위상 보정 설정 회로(122)에 의해 설정된 위상 보정량에 의거하여, AMU 데이터(110)의 위상을 보정한다. 위상 보정 회로(121)는, 위상 보정 설정 회로(122)에 의해 설정된 위상 보정량에 의거하여, NMU 데이터(111)의 위상을 보정한다.
연산부(13)는, 보정 후의 AMU 데이터 및 NMU 데이터에 대해 연산 처리를 실행한다. 연산부(13)에서의 연산 타이밍은, 타이밍 동기 회로(14)에 의해 제어된다. 구체적으로는, 타이밍 동기 회로(14)는, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호에 따라, 연산부(13)의 연산 타이밍을 제어한다. 연산부(13)는, 미리 정하여진 릴레이 연산 로직이 성립하는지를 소정 주기마다 판단한다. 그리고, 릴레이 연산 로직이 성립하는 경우, 대응하는 차단기(10)(도 1)에 대해 트립 신호를 출력한다.
이하, 도 4를 참조하여, 위상 보정부(12)에서의 AI 데이터의 위상 보정을 설명한다.
상술한 바와 같이, 위상 보정부(12)에는, 입력부(11)로부터의 AI 데이터(AMU 데이터 및 NMU 데이터)가 입력된다. 도 4에서는, 입력부(11)로부터 입력되는 AMU 데이터를 파형(a(t))(도 4에서 점선의 파형)으로 나타냄과 함께, 입력부(11)로부터 입력된 NMU 데이터를 파형(n(t))(도 4에서 실선의 파형)으로 나타내고 있다. 또한 도 4에서는, 연산부(13)에서의 연산 타이밍을 화살표로 나타내고 있다. 또한, 연산부(13)에서의 연산 타이밍은, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호를 받는 타이밍 동기 회로(14)에 의해 제어된다.
도 2에 도시한 바와 같이 NMU(3)에서의 A/D 변환 타이밍은, AMU(2)에서의 A/D 변환 타이밍보다도 늦어진다. 이 A/D 변환 타이밍의 지연에 기인하여, NMU 데이터를 나타내는 파형(n(t))은, AMU 데이터를 나타내는 파형(a(t))과 비교하고, 위상에 지연이 생기고 있다.
이와 같이 AMU(2) 및 NMU(3)의 양쪽을 이용하여 보호 릴레이 장치를 구성한 경우, AMU(2)로부터 출력되는 AI 데이터(AMU 데이터)의 위상과, NMU(3)로부터 출력된 AI 데이터(NMU 데이터)의 위상이 다르다. 따라서 각 연산 타이밍에서의 연산 처리를 정확하게 행할 수시 없게 되어, 계통 사고의 발생시에 즉시 차단기(10)를 개방하지 못할 가능성이 있다. 또는, 전력 계통이 정상임에도 불구하고 차단기(10)를 잘못 개방하여 버릴 가능성이 있다.
그래서, 위상 보정부(12)는, AMU 데이터를 나타내는 파형(a(t))의 위상을 지연시킴에 의해, 각 연산 타이밍에서의 AMU 데이터 및 NMU 데이터의 위상을 정돈한. 도 4에서는, 위상 보정 후의 AMU 데이터를 파형(a(t))(도 4에서 실선의 파형)에서 나타내고 있다. 이에 의해, 연산부(13)는, 각 연산 타이밍에서, 동일한 타이밍에 수집되는 AI 데이터를 이용하는 것이 가능해진다.
구체적으로는, 위상 보정 설정 회로(122)는, 위상 보정 데이터에 의거하여 AMU 데이터의 위상의 보정량(T)을 설정한다. 한편, 위상 보정 설정 회로(122)는, NMU 데이터의 위상의 보정량을 제로로 한다. 위상 보정 회로(120)는, 위상 보정량(T)에 따라, AMU 데이터의 위상을 지연시킨다. 한편, 위상 보정 회로(121)는, NMU 데이터의 위상을 보정하지 않고, 그대로로 한다.
도 5에, 어느 샘플링 타이밍(t)에서의 AMU 데이터(a(t))와, 전회의 샘플링 타이밍(t-T0)에서의 AMU 데이터(a(t-T0))를 벡터 표시한다. 위상 보정 후의 AMU 데이터(a(t))는, AMU 데이터(a(t))에서 보아 보정량(T)만큼 위상이 늦어진. 즉, 위상 보정 후의 AMU 데이터(a(t))는, a(t-T)에 상당한다.
도 5의 벡터도에서, 위상 보정 후의 AMU 데이터(a(t))를, 샘플링 타이밍(t)에서의 AMU 데이터(a(t))를 소정의 계수배(係數倍)(계수를 A로 한다)하는 것과, 전회의 샘플링 타이밍(t-T0)에서의 AMU 데이터(a(t-T0))를 소정의 계수배(계수를 B로 한다)한 것을 벡터 합성한 것으로 생각한다. 위상 보정 후의 AMU 데이터(a(t))는, 하기한 식(1)과 같이 표시된다.
a(t)=a(t-T)=A·a(t)+B·a(t-T0) … (1)
여기서, 3개의 벡터(A·a(t), B·a(t-T0), a#(t))의 사이에는, 정현(正弦) 정리에 의해, 하기한 식(2)의 관계가 성립한다.
A·a(t)/sin(T0-T)
=B·a(t-T0)/sin(T)=a(t)/sin(180°-T) … (2)
상기한 식(1), (2)를 정리함에 의해, 계수(A, B)는 하기한 식(3), (4)이 된다.
A=sin(T0-T)/sin(180°-T) … (3)
B=sin(T)/sin(180°-T) … (4)
즉, 상기 식(3), (4)에서 표시되는 계수(A, B)를 이용하여 샘플링 타이밍(t)에서의 AI 데이터(a(t))와 전회의 샘플링 타이밍(t-T0)에서의 AI 데이터(a(t-T0))를 가산함에 의해, 위상 보정 후의 AMU 데이터(a(t))를 도출할 수 있다. 이와 같이 하여 AMU 데이터의 위상을 지연시킴에 의해, AMU 데이터 및 NMU 데이터의 위상을 일치시킨다.
이상과 같이, 본 발명의 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치에 의하면, AMU 및 NMU로부터의 AI 데이터를 수신하는 IED가 AMU 데이터의 위상을 지연시킴에 의해, 실질적으로, AMU 및 NMU 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 보상할 수 있다. 이에 의해, AMU와 NMU 사이에서 계통 전기량을 수집하는 타이밍을 정돈할 수 있기 때문에, 보호 릴레이 장치는, 전력 계통의 보호, 제어 및 감시 등의 처리를 정확하게 행하는 것이 가능해진다.
실시의 형태 2.
상기한 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치에서는, AMU 및 NMU 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 보상하는 보정 기능을 IED에 갖게 하는 구성에 관해 설명했다. 한편, 프로세스 버스 대응 보호 릴레이 장치에서는, 이 보정 기능을, IED에 대신하여, MU에 갖게 하는 것도 가능하다. 실시의 형태 2에서는, A/D 변환 타이밍의 어긋남을 보상하기 위한 보정 기능을 MU에 갖게 하는 구성에 관해 설명한다.
(AMU의 구성)
도 6은, 본 발명의 실시의 형태 2에 의한 보호 릴레이 장치에서의 AMU(2)의 기능 블록도이다. 또한, 도 6에 기재된 각 기능 블록에 관해서는, 미리 설정된 프로그램에 따라 AMU(2)가 소프트웨어 처리를 실행함에 의해 실현된다. 또는, AMU(2)의 내부에, 당해 기능 블록에 상당하는 기능을 갖는 회로(하드웨어)를 구성하는 것도 가능하다.
도 6을 참조하면, AMU(2)는, 아날로그 입력부(21)와, 멀티플렉서(22)와, A/D 변환기(23)와, 연산부(24)와, 송수신부(25)와, 타이밍 동기 회로(26)를 포함한다.
아날로그 입력부(21)는, CT/VT(8)로부터의 계통 전기량(아날로그 데이터)을, 전자 회로에 취급 용이한 소정 범위 내의 레벨로 변환하여 출력한다. 구체적으로는, 아날로그 입력부(21)는, CT로부터의 전류 신호를 소정 범위 내의 전류 신호로 변환함과 함께, VT로부터의 전압 신호를 소정 범위 내의 전압 신호로 변환한다. 또한, 아날로그 입력부(21)는, 도시하지 않은 아날로그 필터를 이용하여, 변환된 전류 신호 및 전압 신호로부터 불필요한 주파수 성분(전형적으로는, 고조파 성분)을 제거한다.
멀티플렉서(22)는, 상기한 아날로그 필터로부터 출력되는 복수의 아날로그 신호의 중에서 하나의 아날로그 신호를 소정 순서에 따라 순차적으로 선택하여 A/D 변환기(23)에 출력한다. 이와 같은 구성으로 함으로써, 단일한 A/D 변환기(23)를 이용하여, 복수의 아날로그 신호에 각각 대응하는 복수의 디지털 신호를 얻을 수 있다.
연산부(24)는, A/D 변환기(23)로부터의 디지털 신호를 연산 처리한다. 구체적으로는, 연산부(24)는, A/D 변환기(23)로부터 출력되는 디지털 신호에 대해 게인 조정 및 위상 보정 등의 처리를 시행함에 의해, 프로세스 버스(6)로서 규정되는 프로토콜에 따른 디지털 데이터(AI 데이터)를 생성한다. AI 데이터로서는, 상술한 바와 같이, 측정치를 샘플링 주기마다 시계열로 나열한 시리얼 데이터가 사용된다.
타이밍 동기 회로(26)는, 동기 신호 출력 장치(5)(도 1)로부터의 동기 신호에 따라, A/D 변환기(23)에서의 샘플링 타이밍(A/D 변환 타이밍) 및 연산부(24)에서의 연산 타이밍을 제어한다. 타이밍 동기 회로(26)는 또한, 후술하는 방법에 의해, 보호 릴레이 장치의 외부로부터 입력되는 위상 보정 데이터를 이용하여, A/D 변환기(23)에서의 A/D 변환 타이밍을 보정한다.
송수신부(25)는, 연산부(24)에 의해 생성된 AI 데이터를 프로세스 버스(6)(도 1)를 통하여 IED(1)에 송신한다. 송수신부(25)는 또한, IED(1)로부터의 트립 신호를 프로세스 버스(6)를 통하여 수신하면, 트립 신호의 수신을 연산부(24)에 통지한다.
연산부(24)는, IED(1)로부터 트립 신호를 수신한 것이 통지되면, 그 통지 타이밍을 기준으로 하는 소정 시간에 걸처서 디지털 데이터를 로그 데이터로서 격납한다. 이 격납된 로그 데이터는, 도시하지 않은 변전소 자동화 시스템에 접속된 해석 장치에 송신된다. 해석 장치는, 로그 데이터와 함께 IED(1)로부터도 기록된 정보를 수집하고, 이들의 정보에 의거하여 계통 사고가 발생한 원인을 해석한다.
(ECT/EVT(4) 및 NMU(3)의 구성)
도 7은, 본 발명의 실시의 형태 2에 의한 보호 릴레이 장치에서의 ECT/EVT(4) 및 NMU(3)의 기능 블록도이다. 또한, 도 7에 기재된 각 기능 블록에 관해서는, 미리 설정된 프로그램에 따라 ECT/EVT(4) 및 NMU(3)가 소프트웨어 처리를 실행함에 의해 실현된다. 또는, ECT/EVT(4) 및 NMU(3)의 내부에, 당해 기능 블록에 상당하는 기능을 갖는 회로(하드웨어)를 구성하는 것도 가능하다.
도 7을 참조하면, ECT/EVT(4)는, 아날로그 입력부(41)와, 멀티플렉서(42)와, A/D 변환기(43)와, 연산부(44)와, 송신부(45)와, 샘플링 타이밍 발생부(46)를 포함한다.
아날로그 입력부(41)는, 측정한 계통 전기량(아날로그 데이터)을, 전자 회로에 취급 용이한 소정 범위 내의 레벨로 변환하여 출력한다. 구체적으로는, 아날로그 입력부(41)는, 전력 계통으로부터의 전류 신호를 소정 범위 내의 전류 신호로 변환함과 함께, 전력 계통으로부터의 전압 신호를 소정 범위 내의 전압 신호로 변환한다. 또한, 아날로그 입력부(41)는, 도시하지 않은 아날로그 필터를 이용하여, 변환된 전류 신호 및 전압 신호로부터 불필요한 주파수 성분(전형적으로는, 고조파 성분)을 제거한다.
멀티플렉서(42)는, 상기한 아날로그 필터로부터 출력되는 복수의 아날로그 신호의 중에서 하나의 아날로그 신호를 소정 순서에 따라 순차적으로 선택하여 A/D 변환기(43)에 출력한다.
연산부(44)는, A/D 변환기(43)로부터의 디지털 신호를 연산 처리한다. 구체적으로는, 연산부(24)는, A/D 변환기(23)로부터 출력되는 디지털 신호에 대해 게인 조정 및 위상 보정 등의 처리를 시행함에 의해, 디지털 데이터를 생성한다.
샘플링 타이밍 발생부(46)는, NMU(3) 내부의 타이밍 동기 회로(34)로부터의 A/D 변환 요구 신호를 받는다. 샘플링 타이밍 발생부(46)는, 이 A/D 변환 요구 신호에 응답하여, A/D 변환기(43)의 샘플링 타이밍을 나타내는 타이밍 신호를 발생한다. A/D 변환기(43)는, 샘플링 타이밍 발생부(46)로부터의 타이밍 신호에 동기하여 A/D 변환을 행한다. 이와 같이 하여, A/D 변환기(43)에서의 A/D 변환 타이밍은, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호에 따라 NMU(3)로부터 출력된 A/D 변환 요구 신호에 동기시킨 타이밍 신호에 의해 제어된다.
송신부(45)는, 연산부(44)에 의해 생성된 디지털 데이터를 NMU(3)에 송신한다.
NMU(3)는, 수신부(31)와, 연산부(32)와, 송수신부(33)와, 타이밍 동기 회로(34)를 포함한다.
수신부(31)는, ECT/EVT(4)로부터의 디지털 데이터를 수신하면, 이 디지털 데이터를 연산부(32)에 출력한다.
연산부(32)는, 디지털 데이터로부터 프로세스 버스(6)로서 규정되는 프로토콜에 따른 디지털 데이터(AI 데이터)를 생성한다. AI 데이터로서는, 상술한 바와 같이, 측정치를 샘플링 주기마다 시계열로 나열한 시리얼 데이터가 사용된다.
타이밍 동기 회로(34)는, 동기 신호 출력 장치(5)(도 1)로부터의 동기 신호에 따라, 연산부(32)에서의 연산 타이밍을 제어한다. 타이밍 동기 회로(34)는 또한, 동기 신호에 의거하여 A/D 변환 요구 신호를 생성하고, 생성한 A/D 변환 요구 신호를 A/D 변환기(43)에 송신한다.
이하, 도 8을 참조하여, AMU(2)에서의 A/D 변환 타이밍의 보정을 설명한다.
도 8은, AMU(2), NMU(3) 및 ECT/EVT(4)의 각각의 처리 순서를 도시하는 플로 차트이다. 상술한 바와 같이, AMU(2) 및 NMU(3)는 각각, 동기 신호 출력 장치(5)(도 1)로부터 출력되는 동기 신호를 수신한다. 그러나, ECT/EVT(4) 내부의 A/D 변환기(43)의 A/D 변환 타이밍은, 상술한 바와 같이, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호를 받아 NMU(3)로부터 출력되는 A/D 변환 요구 신호에 의해 제어된다. 이에 대해, AMU(2)에서의 A/D 변환 타이밍은, 동기 신호 출력 장치(5)로부터의 동기 신호에 의해 제어된다. 그 때문에, NMU(3)에서의 A/D 변환 타이밍은, AMU(2)에서의 A/D 변환 타이밍보다도 늦어버린다.
그래서, AMU(2)는, A/D 변환 타이밍을 지연시킴에 의해, AMU(2) 및 NMU(3)의 A/D 변환 타이밍을 일치시킨다. 구체적으로는, AMU(2) 내부의 타이밍 동기 회로(26)는, 위상 보정 데이터에 의거하여 A/D 변환 타이밍의 보정량을 설정하고, 그 설정한 보정량에 따라 A/D 변환 타이밍을 지연시킨다.
이상과 같이, 본 발명의 실시의 형태 2에 의한 보호 릴레이 장치에 의하면, AMU가 A/D 변환의 타이밍을 지연시킴에 의해, AMU 및 NMU 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 보상할 수 있다. 이에 의해, AMU와 NMU 사이에서 계통 전기량을 수집하는 타이밍을 정돈할 수 있기 때문에, 보호 릴레이 장치는, 전력 계통의 보호, 제어 및 감시 등의 처리를 정확하게 행하는 것이 가능해진다.
이와 같이, 본 발명에 의한 보호 릴레이 장치는, AMU 및 NMU 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남(실제로는, AMU 및 ECT/EVT 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남에 상당)을 보상하기 위한 「보정부」를 구비하고 있다. 상술한 실시의 형태 1 및 2에서는, IED 또는 AMU가 「보정부」를 실현한다.
실시의 형태 3.
상기한 실시의 형태 1, 2에서는, 보호 릴레이 장치의 외부로부터 입력된 위상 보정 데이터에 의거하여, IED 또는 AMU가 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 보상하는 구성에 관해 설명하였지만, 이 위상 보정 데이터를, 보호 릴레이 장치 내부에서 취득하도록 하여도 좋다. 실시의 형태 3에서는, A/D 변환 타이밍의 어긋남의 크기(지연량)를 자동 측정하는 구성에 관해 설명한다.
도 9는, 본 발명의 실시의 형태 3에 의한 보호 릴레이 장치의 전체 구성도이다. 본 발명의 실시의 형태 3에 의한 보호 릴레이 장치의 전체 구성은, A/D 변환 타이밍의 지연량을 자동 측정하는 기능을 제외하고, 도 1에 도시하는 구성과 마찬가지이기 때문에, 상세한 설명을 반복하지 않는다.
본 발명의 실시의 형태 3에 의한 보호 릴레이 장치는, 도 1에 도시하는 보호 릴레이 장치에서, 시험 장치(9)를 또한 마련한 것이다. 시험 장치(9)는, 계통 전기량을 모의(模擬)한 아날로그 데이터를 생성하고, 생성한 아날로그 데이터를 AMU(2) 및 ECT/EVT(4)에 입력한다. 즉, AMU(2) 및 ECT/EVT(4)에는, 서로 동위상의 아날로그 데이터가 입력된다.
AMU(2)는, 시험 장치(9)로부터의 아날로그 데이터를 A/D 변환기(23)를 이용하여 디지털 데이터로 변환한다. AMU(2)는 또한, A/D 변환기(23)로부터 출력된 디지털 데이터에 대해 게인 조정 및 위상 보정 등의 처리를 시행함에 의해, AI 데이터를 생성한다. AMU(2)는, 생성한 AI 데이터를 프로세스 버스(6)를 통하여 IED(1)에 송신한다.
ECT/EVT(4)는, NMU(3)로부터의 A/D 변환 요구 신호를 수신하면, 시험 장치(9)로부터의 아날로그 데이터를 A/D 변환기(43)를 이용하여 디지털 데이터로 변환하여 NMU(3)에 출력한다. NMU(3)는, ECT/EVT(4)로부터 출력된 디지털 데이터에 대해 게인 조정 및 위상 보정 등의 처리를 시행함에 의해, AI 데이터를 생성한다. NMU(3)는, 생성한 AI 데이터를 프로세스 버스(6)를 통하여 IED(1)에 송신한다.
IED(1)는, 프로세스 버스(6)를 통하여 AI 데이터를 접수하면, 당해 AI 데이터를, AMU(2)로부터의 AI 데이터인 AMU 데이터와, NMU(3)로부터의 AI 데이터인 NMU 데이터로 분리한다. 그리고, IED(1)는, AMU 데이터와 NMU 데이터를 비교함에 의해, A/D 변환 타이밍의 지연량을 연산한다.
이상과 같이, 본 발명의 실시의 형태 3에 의한 보호 릴레이 장치에 의하면, 보호 릴레이 장치의 내부에서 A/D 변환 타이밍의 지연량을 자동 측정할 수 있기 때문에, 장치 외부로부터 위상 보정 데이터를 받아들여서 유지하여 두기 위한 구성이 불필요하다고 된다. 따라서 보호 릴레이 장치의 구성을 간략화할 수 있다.
또한, 보호 릴레이 장치를 변전소 등의 전기소의 소 내에 설치하여 실제로 사용할 때에 A/D 타이밍의 지연량을 자동 측정함에 의해, A/D 변환 타이밍의 지연량의 정확도를 높일 수 있다. 또한, 정기적으로 지연량을 자동 측정을 행하는 구성으로 함으로써, A/D 변환 타이밍의 지연량의 정확도를 보증할 수 있다.
실시의 형태 4.
본 실시의 형태 4에서는, 상기한 실시의 형태 3에서 기술한 A/D 변환 타이밍의 지연량을 자동 측정하는 기능을, 실시의 형태 1에 의한 보호 릴레이 장치에 적용한 구성에 관해 설명한다.
또한, 본 발명의 실시의 형태 4에 의한 보호 릴레이 장치는, 도 1에 도시하는 보호 릴레이 장치에서, IED(1)에 대신하여 IED(1A)를 마련한 것이다. 보호 릴레이 장치의 전체 구성은, IED(1A)에서의 제어 구조를 제외하고, 도 1에 도시하는 구성과 같기 때문에, 상세한 설명을 반복하지 않는다.
도 10은, 본 발명의 실시의 형태 4에 의한 보호 릴레이 장치에서의 IED(1A)의 기능 블록도이다. 또한, 도 10에 기재된 각 기능 블록에 관해서는, 미리 설정된 프로그램에 따라 IED(1A)가 소프트웨어 처리를 실행함에 의해 실현된다. 또는, IED(1A)의 내부에, 당해 기능 블록에 상당하는 기능을 갖는 회로(하드웨어)를 구성하는 것도 가능하다.
도 10을 참조하면, IED(1A)는, 입력부(11)와, 위상 보정부(12)와, 연산부(13)와, 타이밍 동기 회로(14)와, 지연량 연산부(15)를 포함한다.
입력부(11)는, 프로세스 버스(6)를 통하여 AI 데이터를 접수하면, 당해 AI 데이터를, AMU(2)로부터의 AI 데이터인 AMU 데이터와, NMU(3)로부터의 AI 데이터인 NMU 데이터로 분리한다.
지연량 연산부(15)는, AMU 데이터의 위상과 NMU 데이터의 위상을 비교함에 의해, A/D 변환 타이밍의 지연량을 연산한다. 지연량 연산부(15)는, 산출한 지연량을 위상 보정부(12) 내부의 위상 보정 설정 회로(122)에 출력한다.
위상 보정부(12)는, 지연량 연산부(15)로부터 입력된 지연량을 이용하여, AI 데이터(AMU 데이터 및 NMU 데이터)의 위상을 보정한다. 구체적으로는, 위상 보정 설정 회로(122)는, 산출된 지연량에 의거하여 AMU 데이터의 위상의 보정량(T)을 설정한다. 위상 보정 회로(120)는, 위상 보정 설정 회로(122)에 의해 설정된 위상 보정량(T)에 의거하여, AMU 데이터의 위상을 지연시킨다. 한편, 위상 보정 회로(121)는, NMU 데이터의 위상을 보정하지 않고, 그대로로 한다. 이와 같이 하여, 위상 보정부(12)는, AMU 데이터 및 NMU 데이터의 위상을 일치시킨다.
연산부(13)는, 보정 후의 AMU 데이터 및 NMU 데이터에 대해 연산 처리를 실행한다. 연산부(13)에서의 연산 타이밍은, 타이밍 동기 회로(14)에 의해 제어된다. 연산부(13)는, 미리 정하여진 릴레이 연산 로직이 성립하는지를 소정 주기마다 판단한다. 연산부(13)는, 릴레이 연산 로직이 성립하는 경우, 대응하는 차단기(10)(도 1)에 대해 트립 신호를 출력한다.
이상과 같이, 본 발명의 실시의 형태 4에 의한 보호 릴레이 장치에 의하면, 보호 릴레이 장치 내부에서 자동 측정한 A/D 변환 타이밍의 지연량에 응하여 IED가 AMU 데이터의 위상을 지연시킨다. 이에 의해, 간이한 장치 구성으로, AMU 및 NMU 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 확실하게 보상할 수 있다.
실시의 형태 5.
본 실시의 형태 5에서는, 상기한 실시의 형태 3에서 기술한 A/D 변환 타이밍의 지연량을 자동 측정하는 기능을, 실시의 형태 2에 의한 보호 릴레이 장치에 적용한 구성에 관해 설명한다.
또한, 본 발명의 실시의 형태 5에 의한 보호 릴레이 장치는, 도 1에 도시하는 보호 릴레이 장치에서, IED(1)에 대신하여, IED(1B)를 마련한 것이다. 보호 릴레이 장치의 전체 구성은, IED(1B)에서의 제어 구조를 제외하고, 도 1에 도시하는 구성과 같기 때문에, 상세한 설명을 반복하지 않는다.
도 11은, 본 실시의 형태 5에 의한 보호 릴레이 장치에서의 IED(1B) 및 AMU(2)의 기능 블록도이다. 또한, 도 11에 기재된 각 기능 블록에 관해서는, 미리 설정된 프로그램에 따라 IED(1B) 및 AMU(2)가 소프트웨어 처리를 실행함에 의해 실현된다. 또는, IED(1B) 및 AMU(2)의 내부에, 당해 기능 블록에 상당하는 기능을 갖는 회로(하드웨어)를 구성하는 것도 가능하다.
도 11을 참조하면, IED(1B)는, 입력부(11)와, 연산부(13)와, 타이밍 동기 회로(14)와, 지연량 연산부(15)를 포함한다.
입력부(11)는, 프로세스 버스(6)를 통하여 AI 데이터를 접수하면, 당해 AI 데이터를, AMU(2)로부터의 AI 데이터인 AMU 데이터와, NMU(3)로부터의 AI 데이터인 NMU 데이터로 분리한다.
지연량 연산부(15)는, AMU 데이터의 위상과 NMU 데이터의 위상을 비교함에 의해, A/D 변환 타이밍의 지연량을 연산한다. 또한, 지연량의 연산은, 실시의 형태 3에서 설명한 바와 같이, 보호 릴레이 장치가 설치된 때에 (또는 정기적으로) 시험 장치(9)(도 9)로부터 입력되는 의사 아날로그 데이터를 이용하여 행하여진다. 지연량 연산부(15)는, 산출한 지연량을 위상 보정 데이터로서 AMU(2) 내부의 타이밍 동기 회로(26)에 출력한다.
AMU(2)에서, 타이밍 동기 회로(26)는, 동기 신호 출력 장치(5)(도 1)로부터의 동기 신호에 따라, A/D 변환기(23)에서의 샘플링 타이밍(A/D 변환 타이밍) 및 연산부(24)에서의 연산 타이밍을 제어한다. 타이밍 동기 회로(26)는 또한, IED(1B)로부터 입력된 위상 보정 데이터를 이용하여, A/D 변환기(23)에서의 A/D 변환 타이밍을 보정한다. 구체적으로는, 타이밍 동기 회로(26)는, 위상 보정 데이터에 의거하여 A/D 변환 타이밍의 보정량을 설정하고, 그 설정한 보정량에 따라 A/D 변환 타이밍을 지연시킨다. 이와 같이 하여, AMU(2)의 A/D 변환 타이밍과 NMU(3)의 A/D 변환 타이밍과 일치시킴에 의해, IED(1B)의 입력부(11)에 입력되는 AMU 데이터 및 NMU 데이터의 위상이 일치한다.
IED(1B)에서, 연산부(13)는, 입력부(11)로부터의 AMU 데이터 및 NMU 데이터에 대해 연산 처리를 실행함에 의해, 미리 정하여진 릴레이 연산 로직이 성립하는지를 소정 주기마다 판단한다. 연산부(13)는, 릴레이 연산 로직이 성립하는 경우, 대응하는 차단기(10)(도 1)에 대해 트립 신호를 출력한다.
이상과 같이, 본 발명의 실시의 형태 5에 의한 보호 릴레이 장치에 의하면, 보호 릴레이 장치 내부에서 자동 측정한 A/D 변환 타이밍의 지연량에 응하여 AMU가 A/D 변환 타이밍을 지연시킨다. 이에 의해, 간이한 장치 구성으로, AMU 및 NMU 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 확실하게 보상할 수 있다.
또한, 실시의 형태 1∼5에서는, 보호 릴레이 장치의 한 예로서, AMU 및 NMU를 구비하고, 또한 AMU 및 NMU 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 보상하는 것이 가능한 보호 릴레이 장치의 구성에 관해 설명하였다. 그러나, 본 발명의 적용은 이와 같은 보호 릴레이 장치로 한정된 것이 아니다. 구체적으로는, 다른 메이커의 AMU를 복수개 구비하는 보호 릴레이 장치나, 다른 메이커의 NMU를 복수개 구비하는 보호 릴레이 장치에 대해서도, 복수의 AMU 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남, 또는 복수의 NMU 사이의 A/D 변환 타이밍의 어긋남을 보상하기 위해, 본 발명을 적용하는 것이 가능하다.
금회 개시된 실시의 형태는 모든 점에서 예시이고 제한적인 것이 아니라고 생각되어야 할 것이다. 본 발명의 범위는, 상기한 설명이 아니라, 청구의 범위에 의해 나타나고, 청구의 범위와 균등한 의미 및 범위 내에서의 모든 변경이 포함되는 것이 의도된다.
1, 1A, 1B : IED
2 : AMU
3 : NMU
4 : ECT/EVT
5 : 동기 신호 출력 장치
6 : 프로세스 버스
7 : 송전선
8 : CT/VT
9 : 시험 장치
10 : 차단기
11 : 입력부
12 : 위상 보정부
13, 24, 32, 44 : 연산부
14, 26, 34 : 타이밍 동기 회로
15 : 지연량 연산부
21, 41 : 아날로그 입력부
22, 42 : 멀티플렉서
23, 43 : A/D 변환기
25, 33 : 송수신부
31 : 수신부
46 : 샘플링 타이밍 발생부
45 : 송신부

Claims (6)

  1. 전력 계통으로부터 계통 전기량을 나타내는 정보를 수집하기 위한 복수의 통합 유닛과,
    상기 복수의 통합 유닛으로부터의 정보에 의거하여, 상기 전력 계통을 보호하기 위한 연산 장치를 구비하고,
    상기 복수의 통합 유닛은,
    계통 전기량을 나타내는 아날로그 데이터를 제1의 변성기로부터 받음과 함께, 외부로부터 공급되는 동기 신호에 동기하여, 상기 입력된 아날로그 데이터를 디지털 데이터로 변환하여 상기 연산 장치에 출력하도록 구성된 제1의 통합 유닛과,
    상기 계통 전기량을 나타내는 아날로그 데이터로부터 생성된 디지털 데이터를 제2의 변성기로부터 받음과 함께, 상기 입력된 디지털 데이터를 상기 연산 장치에 출력하도록 구성된 제2의 통합 유닛을 포함하고,
    상기 제2의 통합 유닛은, 상기 동기 신호를 받아 아날로그/디지털 변환을 요구하는 요구 신호를 생성하여 상기 제2의 변성기에 출력하고,
    상기 제2의 변성기는, 상기 제2의 통합 유닛으로부터의 상기 요구 신호에 동기하여 아날로그 데이터를 디지털 데이터로 변환하여 상기 제2의 통합 유닛에 출력하고,
    상기 제1의 통합 유닛과 상기 제2의 변성기 사이의 아날로그/디지털 변환 타이밍의 어긋남을 보상하기 위한 보정부를 또한 구비하는 것을 특징으로 하는 보호 릴레이 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 보정부는, 상기 연산 장치에 마련되고, 상기 제1의 통합 유닛에서의 아날로그/디지털 변환 타이밍으로부터의 상기 제2의 변성기의 아날로그/디지털 변환 타이밍의 지연량에 응하여, 상기 제1의 통합 유닛으로부터 상기 연산 장치에 입력되는 디지털 데이터의 위상을 지연시키는 것을 특징으로 하는 보호 릴레이 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 아날로그/디지털 변환 타이밍의 지연량을 연산하기 위한 연산부를 또한 구비하고,
    상기 보정부는, 상기 연산부에서의 상기 아날로그/디지털 변환 타이밍의 지연량에 응하여, 상기 제1의 통합 유닛으로부터 상기 연산 장치에 입력되는 디지털 데이터의 위상을 지연시키는 것을 특징으로 하는 보호 릴레이 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 보정부는, 상기 제1의 통합 유닛에 마련되고, 상기 제1의 통합 유닛에서의 아날로그/디지털 변환 타이밍으로부터의 상기 제2의 변성기의 아날로그/디지털 변환 타이밍의 지연량에 응하여, 상기 제1의 통합 유닛에서의 아날로그/디지털 변환 타이밍을 지연시키는 것을 특징으로 하는 보호 릴레이 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 아날로그/디지털 변환 타이밍의 지연량을 연산하기 위한 연산부를 또한 구비하고,
    상기 보정부는, 상기 연산부에서의 상기 아날로그/디지털 변환 타이밍의 지연량에 응하여, 상기 제1의 통합 유닛에서의 아날로그/디지털 변환 타이밍을 지연시키는 것을 특징으로 하는 보호 릴레이 장치.
  6. 제3항 또는 제5항에 있어서,
    상기 제1의 변성기 및 상기 제2의 변성기의 각각에 서로 동위상의 의사 아날로그 데이터를 입력하기 위한 시험 장치를 또한 구비하고,
    상기 연산부는, 상기 의사 아날로그 데이터에 응하여 상기 제1의 통합 유닛으로부터 상기 연산 장치에 입력되는 디지털 데이터와, 상기 의사 아날로그 데이터에 응하여 상기 제2의 통합 유닛으로부터 상기 연산 장치에 입력되는 디지털 데이터를 비교함에 의해, 상기 아날로그/디지털 변환 타이밍의 지연량을 연산하는 것을 특징으로 하는 보호 릴레이 장치.
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