KR101721314B1 - Rolled copper foil, copper clad laminate, and flexible printed board and electronic device - Google Patents

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Abstract

(과제) 에칭성과 굴곡성이 모두 우수한 압연 동박, 구리 피복 적층판, 그리고 플렉시블 프린트 기판 및 전자 기기를 제공한다.
(해결 수단) 질량률로 99.9 % 이상의 구리를 함유하는 압연 동박으로서, 350 ℃×1 초, 350 ℃×20 분 또는 200 ℃×30 분 중, 어느 하나의 조건으로 열처리를 실시한 후, 표면이 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 이상 50 % 이하이다.
[PROBLEMS] To provide a rolled copper foil, a copper clad laminate, a flexible printed circuit board, and an electronic apparatus excellent in both etching property and flexibility.
(Solution) A rolled copper foil containing 99.9% by mass or more of copper in terms of a mass ratio is subjected to a heat treatment under either of the conditions of 350 占 폚 for 1 second, 350 占 폚 for 20 minutes, or 200 占 폚 for 30 minutes, 102} is not less than 1% and not more than 50%.

Description

압연 동박, 구리 피복 적층판, 그리고 플렉시블 프린트 기판 및 전자 기기{ROLLED COPPER FOIL, COPPER CLAD LAMINATE, AND FLEXIBLE PRINTED BOARD AND ELECTRONIC DEVICE}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a rolled copper foil, a copper clad laminate, a flexible printed circuit board,

본 발명은 FPC (플렉시블 프린트 기판) 등에 바람직하게 사용되는 압연 동박, 구리 피복 적층판, 그리고 플렉시블 프린트 기판 및 전자 기기에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a rolled copper foil, a copper clad laminate, and a flexible printed circuit board and an electronic apparatus which are preferably used for an FPC (Flexible Printed Circuit Board) or the like.

전자 기기의 가동부나 공간적 제약이 있는 부분에 대한 배선을 실시하는 방법으로서, FPC (플렉시블 프린트 기판) 가 사용되고 있다. FPC 로는 동박과 수지층을 적층하여 이루어지는 구리 피복 적층판이 사용되고 있다.BACKGROUND ART An FPC (Flexible Printed Circuit) is used as a method of performing wiring for a moving part of an electronic device or a part having a space limitation. As the FPC, a copper clad laminate formed by laminating a copper foil and a resin layer is used.

FPC 는 기기 내에서 구부려서 사용되는데, 기기의 소형화와 함께 FPC 의 절곡 (折曲) 반경이 작아지고 있어 FPC 의 절곡성 향상이 요구되고 있다. 또, 이후에는 웨어러블 단말이 보급될 것으로 생각되어, FPC 에는 피로 특성의 향상도 요구된다. 나아가서는 FPC 의 배선의 미세화에 수반하여, 회로를 형성할 때의 동박의 에칭성도 요구되고 있다.The FPC is bent and used in the apparatus, and the bending radius of the FPC is reduced along with the miniaturization of the apparatus, and the bending property of the FPC is required to be improved. Further, thereafter, wearable terminals are expected to be widespread, and the FPC is also required to be improved in fatigue characteristics. Further, with the miniaturization of the wiring of the FPC, the etching property of the copper foil in forming a circuit is also required.

그런데, FPC 는 동박이 재결정된 상태에서 사용되는 것이 일반적이다. 동박을 압연 가공하면 결정이 회전하여, 압연 집합 조직이 형성된다. 그리고 압연 동박을 압연 후에 어닐링하거나, 최종 제품으로 가공되기까지의 공정, 요컨대 FPC 가 되기까지의 공정에서 열이 가해지면 재결정된다. 이 압연 동박이 된 후의 재결정 조직을 이하에서는 간단히 「재결정 조직」이라고 부르고, 열이 가해지기 전의 압연 조직을 간단히 「압연 조직」이라고 부른다. 또, 재결정 조직은 압연 조직에 의해 크게 좌우되어, 압연 조직을 제어함으로써 재결정 조직도 제어할 수 있다.However, it is general that the FPC is used while the copper foil is recrystallized. When the copper foil is rolled, the crystal is rotated to form a rolled aggregate structure. Then, the rolled copper foil is annealed after rolling, or recrystallized when heat is applied in the process until the final product is processed, in other words, until the FPC is obtained. The recrystallized structure after being rolled copper foil is referred to simply as " recrystallized structure " hereinafter, and the rolled structure before heat is applied is simply referred to as " rolled structure ". The recrystallized structure largely depends on the rolled structure, and the recrystallized structure can be controlled by controlling the rolled structure.

이러한 점에서, 압연 동박의 재결정 조직으로서 Cube 방위인 (200) 면 ({100}) 을 발달시켜 굴곡성을 향상시키는 기술이 제안되어 있다 (예를 들어, 특허문헌 1).In view of this, a technique has been proposed in which the (200) plane ({100}) which is the Cube orientation is developed as the recrystallized structure of the rolled copper foil to thereby improve the bendability (for example, Patent Document 1).

일본 공개특허공보 평11-286760호Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 11-286760

그러나, 동박의 Cube 방위가 지나치게 발달하면 에칭성이 저하된다는 문제가 있다. 이는, Cube 집합 조직이 발달하였다고 해도 단결정이 아니라 Cube 방위의 큰 결정립 속에 다른 방위의 작은 결정립이 존재하는 혼립 상태로 되어 있고, 각 방위의 입자에서 에칭 속도가 변화하기 때문인 것으로 생각된다. 특히, 회로의 L/S 폭이 좁아질수록 (파인 피치) 에칭성이 문제가 된다. 또, Cube 방위가 지나치게 발달하면, 동박이 지나치게 유연해져 핸들링성이 떨어지는 경우가 있다.However, when the orientation of the Cube of the copper foil is excessively developed, there is a problem that the etching property is deteriorated. This is considered to be due to the fact that even if the Cube set texture is developed, it is in a mixed state in which small crystal grains of different orientations are present in large crystal grains of the Cube orientation rather than a single crystal, and the etching rate varies in each orientation grain. Particularly, as the L / S width of the circuit is narrowed (fine pitch), the etching property becomes a problem. In addition, if the orientation of the Cube is excessively developed, the copper foil becomes excessively flexible, and the handling property may deteriorate.

그래서, Cube 방위를 발달시키지 않고서 굴곡성을 향상시키는 기술이 요망되고 있다. 또한, Cube 방위는 순동계의 재결정 집합 방위이다.Therefore, there is a demand for a technique for improving the flexural properties without developing the Cube bearing. Also, the Cube bearing is the recrystallization set bearing of the pure copper system.

따라서 본 발명의 목적은 에칭성과 굴곡성이 모두 우수한 압연 동박, 구리 피복 적층판, 그리고 플렉시블 프린트 기판 및 전자 기기를 제공하는 것에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a rolled copper foil, a copper clad laminate, and a flexible printed circuit board and an electronic apparatus which are excellent in both etching and bending properties.

본 발명자들은, Cube 방위를 발달시키지 않고서 굴곡성을 향상시키는 방법으로서, 압연 동박의 {102} 에 착안하였다. 판면에 {102} 를 발달시키면, Cube 방위가 발달되어 있지 않은 종래의 전해 동박과 동등한 에칭성을 확보하면서, 굴곡성 및 절곡성도 향상시킬 수 있다. {102} 가 굴곡성 및 절곡성을 향상시키는 이유로는, Cube 방위만큼은 아니지만 영률이 낮은 방위이기 때문으로 생각된다. 또, {100} 이란, (100) 면 또는 (100) 방위를 의미한다.The present inventors paid attention to the rolled copper foil {102} as a method for improving the flexural properties without developing the Cube orientation. When {102} is developed on the surface of the plate, the flexibility and bending property can be improved while ensuring the same etching property as that of the conventional electrolytic copper foil in which the Cube orientation is not developed. The reason why {102} improves the flexural and bending properties is considered to be that the Young's modulus is not as high as the Cube orientation but low. In addition, {100} means a (100) plane or a (100) plane.

즉, 본 발명의 압연 동박은, 질량률로 99.9 % 이상의 구리를 함유하고, 350 ℃×1 초, 350 ℃×20 분 또는 200 ℃×30 분 중, 어느 하나의 조건으로 열처리를 실시한 후, 표면이 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 이상 50 % 이하이다.That is, the rolled copper foil of the present invention contains copper in a mass ratio of 99.9% or more and is subjected to heat treatment under any one of conditions of 350 ° C x 1 second, 350 ° C x 20 minutes, or 200 ° C x 30 minutes, The ratio of crystal grains in the angular difference within 10 degrees from {102} is 1% or more and 50% or less.

본 발명의 압연 동박은, Ag, Sn, Zn, Ni, Ti, 및 Zr 의 군에서 선택되는 1 종 또는 2 종 이상을 합계로 10 ∼ 300 질량ppm 함유하고, 잔부 Cu 및 불가피적 불순물로 이루어지는 것이 바람직하다.The rolled copper foil of the present invention is a rolled copper foil containing 10 to 300 mass ppm in total of one or more selected from the group consisting of Ag, Sn, Zn, Ni, Ti, and Zr in total and containing the remainder Cu and inevitable impurities desirable.

본 발명의 구리 피복 적층판은, 상기 압연 동박을 수지층의 양면 또는 편면에 적층하여 이루어지고, 적어도 일방의 상기 압연 동박에 있어서, 표면이 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 이상 50 % 이하이다.The copper clad laminate according to the present invention is characterized in that the rolled copper foil is laminated on both sides or one side of the resin layer and the ratio of the crystal grains in the angular difference of 10 degrees or less from the surface {102} Is not less than 1% and not more than 50%.

본 발명의 플렉시블 프린트 기판은, 상기 구리 피복 적층판을 사용해서, 상기 압연 동박에 회로를 형성하여 이루어진다.The flexible printed board of the present invention is formed by forming a circuit in the rolled copper foil using the copper clad laminate.

본 발명의 전자 기기는, 상기 플렉시블 프린트 기판을 사용하여 이루어진다.The electronic apparatus of the present invention is formed using the flexible printed circuit board.

본 발명에 의하면, 에칭성과 굴곡성이 모두 우수한 압연 동박을 얻을 수 있다.According to the present invention, it is possible to obtain a rolled copper foil excellent in both etching property and flexibility.

도 1 은 180°밀착 구부림의 시험 방법을 나타내는 도면이다.
도 2 는 굴곡 시험 방법을 나타내는 도면이다.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a view showing a test method of 180 ° contact bending.
2 is a view showing a bending test method.

이하, 본 발명의 실시형태에 관련된 압연 동박에 대해서 설명한다. 또, 본 발명에 있어서 % 란, 특별히 언급하지 않는 한 질량% 를 나타내는 것으로 한다. 본 발명의 실시형태에 관련된 압연 동박은, 수지와 적층되어 구리 피복 적층판으로 된 후 에칭에 의해 회로 부분 이외의 것을 제거하여 FPC 로 하는 용도에 유용하다.Hereinafter, a rolled copper foil according to an embodiment of the present invention will be described. In the present invention, "% " means mass% unless otherwise specified. The rolled copper foil according to the embodiment of the present invention is useful for use as an FPC by removing other parts than the circuit part by post-etching with a resin laminated with a copper clad laminate.

<조성> <Composition>

압연 동박은 질량률로 99.9 % 이상의 구리를 함유한다. 이러한 조성으로는, JIS-H3510 (C1011) 또는 JIS-H3100 (C1020) 으로 규격되는 무산소동, JIS-H3100 (C1100) 으로 규격되는 터프 피치동, 또는 JIS-H3100 (C1201 및 C1220) 으로 규격되는 인탈산동을 들 수 있다. 또, 구리에 함유되는 산소 함유량의 상한은 특별히 한정되지는 않지만, 일반적으로는 500 질량ppm 이하, 더 일반적으로는 320 질량ppm 이하이다.The rolled copper foil contains at least 99.9% by mass of copper. Examples of such a composition include tough pitch copper specified by JIS-H3510 (C1011) or JIS-H3100 (C1020), JIS-H3100 (C1100), or taff pitch copper specified by JIS-H3100 (C1201 and C1220) Shandong can be heard. The upper limit of the oxygen content in the copper is not particularly limited, but is generally 500 mass ppm or less, more usually 320 mass ppm or less.

그리고 Ag, Sn, Zn, Ni, Ti, 및 Zr 의 군에서 선택되는 1 종 또는 2 종 이상의 원소를 합계로 10 ∼ 300 질량ppm 함유해도 된다. {102} 를 발달시키기 위해서는 압연 동박의 중간 어닐링 (최종 냉간 압연 전의 어닐링) 에 의해 {112} 를 발달시킬 필요가 있는데, 이러한 원소들을 첨가하면, 중간 어닐링에 의해 {112} 를 발달시키기 위한 조건 범위가 넓어져, 보다 확실하게 {102} 를 발달시킬 수 있음과 함께 제조가 용이해진다. 상기 원소의 합계량이 10 질량ppm 미만이면, 중간 어닐링에 의해 {112} 를 발달시키는 효과가 적고, 300 질량ppm 을 초과하면 도전율이 저하됨과 함께 재결정 온도가 상승하여, 최종 압연 후의 어닐링에 있어서 동박의 표면 산화를 억제하면서 재결정시키는 것이 곤란해지는 경우가 있다.And may contain one or more elements selected from the group consisting of Ag, Sn, Zn, Ni, Ti, and Zr in a total amount of 10 to 300 mass ppm. In order to develop {102}, it is necessary to develop {112} by intermediate annealing of the rolled copper foil (annealing before final cold rolling). When these elements are added, the range of conditions for developing {112} The {102} can be more reliably developed, and manufacturing is facilitated. When the total amount of the above elements is less than 10 mass ppm, the effect of developing {112} by the intermediate annealing is small. When the mass exceeds 300 mass ppm, the conductivity is lowered and the recrystallization temperature is raised. It may be difficult to recrystallize while suppressing surface oxidation.

<두께> <Thickness>

동박의 두께는 4 ∼ 100 ㎛ 인 것이 바람직하고, 5 ∼ 70 ㎛ 인 것이 더욱 바람직하다. 두께가 4 ㎛ 미만이면 동박의 핸들링성이 떨어지는 경우가 있고, 두께가 100 ㎛ 를 초과하면 동박의 굴곡성이 떨어지는 경우가 있다.The thickness of the copper foil is preferably 4 to 100 占 퐉, more preferably 5 to 70 占 퐉. If the thickness is less than 4 mu m, the handling property of the copper foil may be lowered. If the thickness exceeds 100 mu m, the foaming property of the copper foil may be deteriorated.

<동박 표면의 {102}> &Lt; 102 >

350 ℃×1 초, 350 ℃×20 분 또는 200 ℃×30 분 중, 어느 하나의 조건으로 열처리를 실시한 후, 압연 동박의 표면이 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 이상 50 % 이하이다. 또, 압연 동박의 「표면」이란, 최표면을 전해 연마에 의해 0.5 ∼ 2 ㎛ 연마한 후의 표면을 말한다.The surface of the rolled copper foil has a ratio of crystal grains having an angle difference of 10 degrees or less from the surface of the rolled copper foil after being subjected to the heat treatment under any one of the conditions of 350 DEG C x 1 second, 350 DEG C x 20 minutes, or 200 DEG C x 30 minutes 1% or more and 50% or less. The &quot; surface &quot; of the rolled copper foil refers to the surface after polishing the outermost surface by electrolytic polishing at 0.5 to 2 占 퐉.

여기서, 에칭 (특히 소프트 에칭) 은 동박 표면의 결정립의 면방위에 영향을 받는다. 또한, 굴곡성 및 절곡성도 동박 표면에 가장 큰 변형이 가해져 생긴다. 이러한 점에서, 동박 표면 (압연면) 의 {102} 의 발달 정도를 규정한다. 단, 동박 표면에 산화층, 녹방지층 등이 존재하고, 이들을 제거할 필요가 있는 경우에는 제거 후의 표면을 동박 표면으로 간주한다. 일반적으로 동박 표면을 두께 1 ㎛ 이하 제거하면, 면방위를 측정할 수 있고, 제거 전후에서 방위에 차가 없는 것으로 생각된다.Here, the etching (particularly soft etching) is affected by the plane orientation of the crystal grains on the surface of the copper foil. Also, the bending property and the bending property are caused by the greatest deformation applied to the surface of the copper foil. In this respect, the degree of development of {102} of the copper foil surface (rolled surface) is defined. However, when the oxide layer, the rust prevention layer, and the like are present on the surface of the copper foil and it is necessary to remove them, the surface after removal is regarded as the copper foil surface. Generally, if the surface of the copper foil is removed to a thickness of 1 mu m or less, the plane orientation can be measured, and it is considered that there is no difference in the orientation before and after the removal.

또, {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립은 {102} 근방의 면방위로 간주할 수 있기 때문에, 이와 같이 규정한다. {102} 로부터의 각도차가 10 도를 초과하면, {102} 와의 차가 커진다.Since the crystal grains in the angular difference within 10 degrees from {102} can be regarded as the surface in the vicinity of {102}, they are defined in this manner. If the angle difference from {102} exceeds 10 degrees, the difference from {102} becomes larger.

또 압연 동박은 통상 「압연 조직」의 상태로 출하되어, 구리 피복 적층판을 제조할 때, 수지층과 맞붙일 때에 재결정되어 재결정 집합 조직을 형성한다. 따라서 구리 피복 적층판의 굴곡성, 절곡성, 에칭성을 평가하기 위해서는, 압연 동박의 「재결정 조직」을 대상으로 할 필요가 있다. 한편으로 재결정 조직은, 압연 조직만으로는 결정되지 않고, 재결정할 때의 온도 조건에 따라서 크게 변화한다.The rolled copper foil is usually shipped in the state of &quot; rolled structure &quot;, and when the copper clad laminate is manufactured, it is recrystallized when it is combined with the resin layer to form a recrystallized aggregate structure. Therefore, in order to evaluate the bendability, bending property, and etching property of the copper clad laminate, it is necessary to target the "recrystallized structure" of the rolled copper foil. On the other hand, the recrystallized structure is not determined only by the rolling structure but varies greatly depending on the temperature condition at the time of recrystallization.

그래서, 구리 피복 적층판의 대표적인 제법에 있어서 압연 동박이 받는 열 이력을, 350 ℃×1 초, 350 ℃×20 분 또는 200 ℃×30 분 중 어느 것으로 모의적으로 재현하여, 구리 피복 적층판 중에서 재결정된 동박의 상태를 나타내는 것으로 한다.Therefore, in the typical production method of the copper clad laminate, the thermal history of the rolled copper foil is reproduced simulatively at 350 ° C. × 1 second, 350 ° C. × 20 minutes, or 200 ° C. × 30 minutes to obtain a recrystallized It is assumed that the state of the copper foil is indicated.

따라서, 열처리 자체는 3 개의 조건 중 어느 1 개만을 실시하는 것으로서, 350 ℃×1 초의 열처리를 실시한 후, 동일한 시료에 대해서 두 번째로 350 ℃×20 분의 열처리를 실시하는 경우는 없다. 단, 예를 들어, 350 ℃×1 초의 열처리를 실시했을 때, 및 350 ℃×20 분의 열처리를 실시했을 때에 모두, 상기 결정립의 비율이 1 % 이상 50 % 이하가 되어도 된다.Therefore, the heat treatment itself is carried out in any one of the three conditions. After the heat treatment at 350 占 폚 for 1 second, the second sample is not subjected to the heat treatment at 350 占 폚 for 20 minutes. However, for example, the ratio of the crystal grains may be 1% or more and 50% or less both when the heat treatment is performed at 350 占 폚 for 1 second and when the heat treatment is performed at 350 占 폚 for 20 minutes.

그리고, 동박 표면의 면방위가 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 이상이면, {102} 가 발달하여, 구리 피복 적층판의 굴곡성 및 절곡성이 향상된다. 한편, 상기 결정립의 비율을 50 % 보다 많게 하는 것은 공업적으로 곤란하다.And, when the ratio of the crystal grains in the angular difference of 10 degrees or less from the plane orientation of the copper foil surface is {102} is 1% or more, {102} is developed and the bending property and the folding property of the copper clad laminate are improved. On the other hand, it is industrially difficult to increase the ratio of the crystal grains to more than 50%.

동박 표면의 면방위는, EBSD (전자 후방 산란 회절 : electron backscatter diffraction) 로 측정한다. EBSD 는 시료 표면 부근의 결정 방위를 ㎚ 오더의 분해능으로 측정할 수 있어, 측정 데이터로부터 국소적인 결정 방위의 변화 (국소 방위차) 를 산출할 수 있다. 그리고, 이러한 데이터들로부터, {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율을 산출한다.The plane orientation of the copper foil surface is measured by EBSD (electron backscatter diffraction). The EBSD can measure the crystal orientation in the vicinity of the sample surface by the resolution of the order of nm, and can calculate the local crystal orientation change (local orientation difference) from the measurement data. From these data, the ratio of crystal grains in the angular difference within 10 degrees from {102} is calculated.

또, EBSD 는 측정 면적을 넓히면 측정 간격이 넓어져, 엉성한 데이터가 되기 때문에 바람직하지 않다. 한편, 압연면에 {100} 이 발달하면 결정입경이 100 ㎛ 정도까지 커지지만, 이 경우에도 충분한 수의 결정립이 측정 영역 내에 존재하 도록 측정 면적은 4 ㎟ 로 한다. 또, 측정점의 간격은 1 ㎛ 이하로 한다. 이 경우, 1 회의 측정으로 4 ㎟ 의 면적 전부를 측정하기란 곤란하기 때문에, 랜덤하게 추출한 장소를 복수 회 측정하고, 측정 면적의 합계가 4 ㎟ 가 되면 된다.In addition, the EBSD has a wider measurement area, which results in wider measurement intervals, which is undesirable. On the other hand, when {100} is developed on the rolled surface, the crystal grain size increases up to about 100 μm. In this case, however, the measurement area is set to 4 mm 2 so that a sufficient number of crystal grains are present in the measurement region. The interval between the measurement points is set to 1 占 퐉 or less. In this case, since it is difficult to measure the entire area of 4 mm 2 by one measurement, a randomly extracted place is measured a plurality of times, and the sum of the measurement areas becomes 4 mm 2.

본 발명의 압연 동박은 통상, 열간 압연 및 면삭 (面削) 후, 냉간 압연과 어닐링을 수 회 (통상 2 회 정도) 반복하고, 이어서 최종 재결정 어닐링한 후, 최종 냉간 압연하여 원하는 박 두께로 제조할 수 있다. 그리고 이 동박을 탈지시킨 후에, 수지층과의 밀착성을 확보하기 위해 편면 (수지층과의 적층면) 에 조화 처리하고, 다시 녹방지 처리를 실시하여 구리 피복 적층판에 사용할 수 있다.The rolled copper foil of the present invention is usually subjected to hot rolling and surface cutting after cold rolling and annealing several times (usually about twice), followed by final recrystallization annealing, final cold rolling, can do. After the copper foil is degreased, the copper foil is subjected to a roughening treatment on one side (a lamination surface with the resin layer) to ensure adhesion with the resin layer, and the copper foil can be used again for the copper clad laminate.

「최종 재결정 어닐링」이란, 최종 냉간 압연 전의 어닐링 중 가장 마지막의 것을 말한다.The term &quot; final recrystallization annealing &quot; refers to the last annealing before final cold rolling.

여기서 전술한 바와 같이 동박 표면의 {102} 를 발달시키기 위해서, 「최종 재결정 어닐링」후에 최종 냉간 압연 전의 판면이 {100} 인 결정의 발달 정도를 나타내는 X 선 회절의 적분 회절 강도비 (I(200)/I0(200)) 이 2 ∼ 10 의 범위가 되도록 어닐링 조건을 조정한다. 강도 (I/I0) 은, 압연면의 X 선 회절에 의해 구한 적분 회절 강도의 강도 (I(200)) 과 미분말동 (微粉末銅) 의 X 선 회절에 의해 구한 (200) 면의 적분 회절 강도 (I0(200)) 과의 비로, cube (입방체 집합) 조직의 발달 정도를 나타낸다.In order to develop {102} of the copper foil surface as described above, the integral diffraction intensity ratio I (200) of X-ray diffraction indicating the degree of development of the crystal having {100} before the final cold rolling after "final recrystallization annealing" ) / I 0 (200)) is in the range of 2 to 10. The intensity (I / I 0 ) of the (200) plane obtained by X-ray diffraction of the intensity (I (200)) of the integral diffraction intensity obtained by X-ray diffraction of the rolled surface and the fine powder copper And the diffraction intensity (I 0 (200)), indicating the degree of development of the cube (cube assembly) structure.

상기 (I(200)/I0(200)) 아 2 미만이면, 최종 냉간 압연 후에 최종적으로 얻어지는 동박에 있어서 {200} 이 집합되어 버리기 때문에, 동박 표면의 {102} 가 발달하지 않는다. 이는, 최종 재결정 어닐링의 단계에서 (I/I0) 이 작으면, 그 후, 최종 냉간 압연했을 때에 (I(200)/I0(200)) 이 커져, {100} 의 비율이 늘어나서 {102} 가 발달하지 않기 때문이다.If {I (200) / I 0 (200)) is less than 2, {200} is gathered in the finally obtained copper foil after the final cold rolling, so that {102} of the copper foil surface is not developed. This is because when (I / I 0 ) is small in the final recrystallization annealing step, then the ratio I (200) / I 0 (200) increases at the time of the final cold rolling, } Is not developed.

한편, 상기한 (I(200)/I0(200)) 이 10 을 초과하면, 동박 표면이 랜덤에 가까운 방위가 되어 {102} 가 발달하지 않는다. 이는, 최종 냉간 압연 전의 (I(200)/I0(200)) 이 10 을 초과하면, 그 후, 최종 냉간 압연했을 때에 랜덤에 가까운 방위가 되어 {102} 가 발달하지 않기 때문이다.On the other hand, if the above (I (200) / I 0 (200)) exceeds 10, the surface of the copper foil becomes randomly close to the orientation, and {102} is not developed. This is because, when I (200) / I 0 (200) before final cold rolling exceeds 10, there is a random orientation near to the final cold rolling, and {102} is not developed.

최종 재결정 어닐링 후에 최종 냉간 압연 전의 (I(200)/I0(200)) 을 2 ∼ 10 으로 관리하는 방법으로는, 최종 재결정 어닐링을 600 ℃ 이상의 온도에서 실시하는 것과 함께, 그 승온 과정에서 200 ∼ 500 ℃ 의 통과 시간을 5 ∼ 60 초로 제어하면 된다. 통과 시간이 5 초 미만이면, (I(200)/I0(200)) 이 2 미만이 되고, 60 초를 초과하면 (I(200)/I0(200)) 이 10 을 초과한다. 또, 일단 승온되어 「최종 재결정 어닐링」을 실시한 후의 냉각 과정은, {102} 의 생성에 영향을 미치지 않는다.The final recrystallization annealing after the final cold rolling (I (200) / I 0 (200)) is controlled to 2 to 10 by performing the final recrystallization annealing at a temperature of 600 ° C or higher, And the passage time of ~ 500 ° C may be controlled to 5 to 60 seconds. If the passage time is less than 5 seconds, I (200) / I 0 (200) becomes less than 2, and if it exceeds 60 seconds, I (200) / I 0 (200) exceeds 10. In addition, the cooling process after the temperature is once raised and subjected to the &quot; final recrystallization annealing &quot; does not affect the generation of {102}.

또, 동박 표면의 {102} 방위를 발달시키기 위해서, 최종 냉간 압연의 가공도 (η) 를 2.8 ∼ 3.7 로 관리한다. η 가 2.8 미만인 경우, 동박 표면이 랜덤에 가까운 방위가 되어 {102} 가 발달하지 않는다. η 가 3.7 을 초과하면, {100} 이 집합하여, 동박 표면의 {102} 가 발달하지 않는다.In order to develop the {102} orientation of the surface of the copper foil, the final degree of cold rolling (eta) is controlled to be 2.8 to 3.7. When? is less than 2.8, the surface of the copper foil is randomly oriented and {102} is not developed. When? is more than 3.7, {100} is gathered and {102} of the surface of the copper foil does not develop.

또, η = ln(A/B) 로 나타내고, A, B 는 각각 냉간 압연 전, 최종 냉간 압연 후의 단면적이다.In addition, η = ln (A / B), and A and B are sectional areas before cold rolling and after final cold rolling, respectively.

본 발명의 구리 피복 적층판은, 수지층의 양면 또는 편면에 상기한 특성을 갖는 압연 동박을 적층하여 이루어진다. 수지층은 프린트 배선판 등에 적용 가능한 특성을 갖는 것이면 특별히 제한되지 않지만, 예를 들어, 리지드 PWB 용으로 종이 기재 페놀 수지, 종이 기재 에폭시 수지, 합성 섬유포 기재 에폭시 수지, 유리포(布)ㆍ종이 복합 기재 에폭시 수지, 유리포ㆍ유리 부직포 복합 기재 에폭시 수지 및 유리포 기재 에폭시 수지 등을 사용할 수 있다. 또, FPC 용으로 폴리에스테르 필름이나 폴리이미드 필름, 액정 폴리머 (LCP) 필름, 테플론 (등록상표) 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름, 폴리에틸렌나프탈레이트 필름 등을 사용할 수 있다.The copper clad laminate of the present invention is formed by laminating rolled copper foils having the above properties on both sides or one side of a resin layer. The resin layer is not particularly limited as long as it has characteristics applicable to a printed wiring board and the like. For example, for the rigid PWB, a paper base phenol resin, a paper base epoxy resin, a synthetic fiber base epoxy resin, a glass cloth, Epoxy resin, glass / glass nonwoven fabric composite base epoxy resin, and glass cloth base epoxy resin. A polyester film, a polyimide film, a liquid crystal polymer (LCP) film, a Teflon (registered trademark) film, a polyethylene terephthalate film, a polyethylene naphthalate film, or the like can be used for the FPC.

수지층 자체가 다층이어도 된다.The resin layer itself may be multilayered.

또, 폴리에틸렌테레프탈레이트 등 내열성이 낮은 수지층과 동박을 맞붙이는 경우, 맞붙일 때의 열압착 조건에 따라서는 「압연 조직」상태의 동박이 상기한 「재결정 조직」이 되지 않을 가능성이 있다. 이 경우에는, 미리 상기한 350 ℃×1 초, 350 ℃×20 분 또는 200 ℃×30 분 중 어느 하나의 열처리를 동박에 실시하여 재결정시켜서, {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율을 10 % 이상으로 조정한 후, 수지층과 맞붙여서 구리 피복 적층판으로 하면 된다.Further, when the copper foil is brought into contact with the resin layer having low heat resistance such as polyethylene terephthalate, there is a possibility that the copper foil in the state of "rolled tissue" may not become the above-mentioned "recrystallized structure" depending on the thermocompression conditions at the time of sticking. In this case, any one of the above-mentioned 350 ° C x 1 second, 350 ° C x 20 minutes, or 200 ° C x 30 minutes heat treatment is performed on the copper foil to recrystallize the crystal grains, May be adjusted to 10% or more, and then the laminate may be bonded to the resin layer to form a copper clad laminate.

그리고 FPC 의 구성에 따라서는, 구리 피복 적층판의 한쪽 동박에만 가혹한 절곡이나 굴곡이 가해지는 경우가 있다. 이러한 용도에 사용하는 경우, 구리 피복 적층판의 수지층의 양면에 동박을 적층하며, 그 중 가혹한 절곡 조건이 가해지는 일방의 동박측에 본 발명의 동박을 사용하고, 다른 면에 별도의 동박 (예를 들어 저렴한 전해 동박) 을 적층해도 된다.Depending on the configuration of the FPC, only one of the copper foils of the copper clad laminate may be severely bent or bent. When the copper foil is used for such a purpose, the copper foil is laminated on both sides of the resin layer of the copper clad laminate, the copper foil of the present invention is used on one copper foil side where severe bending conditions are applied, For example, an inexpensive electrolytic copper foil may be laminated.

압연 동박과 수지의 적층 방법은, 리지드 PWB 용의 경우, 유리포 등의 기재에 수지를 함침시키고, 수지를 반경화 상태까지 경화시킨 프리프레그를 준비하고, 동박을 프리프레그에 중첩하여 가열 가압시키는 방법을 들 수 있다. FPC 의 경우, 폴리이미드 필름 등의 수지층에 접착제를 통해서 동박을 접착하거나, 또는, 접착제를 사용하지 않고서 고온 고압하에 동박을 적층 접착하여 구리 피복 적층판을 제조할 수 있다. FPC 의 경우, 또는 폴리이미드 전구체를 압연 동박에 도포한 후, 건조 및 경화 등을 실시함으로써 구리 피복 적층판을 제조할 수 있다.The method for laminating a rolled copper foil and a resin includes the steps of preparing a prepreg in which a base material such as a glass foil is impregnated with a resin and the resin is hardened to a semi-hardened state, and the copper foil is superposed on the prepreg and heated and pressed Method. In the case of FPC, a copper clad laminate can be produced by adhering a copper foil to a resin layer such as a polyimide film through an adhesive or by laminating copper foils under high temperature and high pressure without using an adhesive. In the case of FPC, a copper clad laminate can be produced by applying a polyimide precursor to a rolled copper foil, followed by drying and curing.

수지 (층) 의 두께는 특별히 제한되는 것은 아니지만, 일반적으로 9 ∼ 50 ㎛ 정도인 것이 사용된다. 또, 수지의 두께가 50 ㎛ 이상의 두꺼운 것도 사용되는 경우가 있다. 수지의 두께의 상한은 특별히 제한되지 않지만, 예를 들어 150 ㎛ 이다.The thickness of the resin (layer) is not particularly limited, but it is generally about 9 to 50 mu m. In addition, a thick resin having a thickness of 50 탆 or more may be used. The upper limit of the thickness of the resin is not particularly limited, but is, for example, 150 占 퐉.

본 발명의 구리 피복 적층판은 각종 플렉시블 프린트 기판 (프린트 배선판 (PWB)) 에 사용 가능하다. 프린트 배선판으로는 특별히 제한되는 것은 아니지만, 예를 들어, 도체 패턴의 층수의 관점에서는 편면 PWB, 양면 PWB, 다층 PWB (3 층 이상) 에 적용 가능하고 ; 절연 기판 재료의 종류의 관점에서는 리지드 PWB, 플렉시블 PWB (FPC), 리지드ㆍ플렉스 PWB 에 적용가능하다.The copper clad laminate of the present invention can be used for various flexible printed boards (printed wiring board (PWB)). The printed wiring board is not particularly limited, but is applicable to single-sided PWB, double-sided PWB, multilayer PWB (three or more layers) from the viewpoint of the number of layers of the conductor pattern, for example. The present invention is applicable to Rigid PWB, Flexible PWB (FPC) and Rigid Flex PWB from the viewpoint of kinds of insulating substrate materials.

실시예Example

<압연 동박의 제조> <Production of rolled copper foil>

표 1 에 나타내는 조성의 원소를 첨가한 터프 피치동 또는 무산소동을 원료로 하여 두께 100 ㎜ 의 잉곳을 주조하고, 800 ℃ 이상에서 두께 10 ㎜ 까지 열간 압연을 실시하여, 표면의 산화 스케일을 면삭하였다. 그 후, 냉간 압연과 어닐링을 반복하여, 0.5 ㎜ 두께의 압연 판코일을 얻었다. 그 후의 냉간 압연 후 에, 표 1 의 조건으로 최종 재결정 어닐링을 실시하였다. 마지막으로 표 1 의 가공도로 최종 냉간 압연에 의해 소정 두께 (실시예 9, 6, 13 은 두께 9 ㎛, 실시예 7 은 두께 18 ㎛, 그 밖의 실시예 및 비교예 1 ∼ 4 는 두께 12 ㎛) 로 마무리하였다.An ingot having a thickness of 100 mm was cast using tough pitch copper or oxygen-free copper added with an element of the composition shown in Table 1 as a raw material, and hot rolling was performed at 800 캜 or higher to a thickness of 10 탆 to finish the oxide scale of the surface . Thereafter, cold rolling and annealing were repeated to obtain a rolled sheet coil having a thickness of 0.5 mm. After the subsequent cold rolling, final recrystallization annealing was carried out under the conditions shown in Table 1. Finally, a predetermined thickness (Examples 9, 6 and 13 have a thickness of 9 占 퐉, Example 7 has a thickness of 18 占 퐉, and the other Examples and Comparative Examples 1 to 4 have a thickness of 12 占 퐉) Respectively.

또, 표 1 의 조성란의 「OFC+30 ppm Ag」는, JIS-H3100 (C1020) 의 무산소동 OFC 에 30 질량ppm 의 Ag 를 첨가한 것을 의미한다. 또, 「TPC+200 ppm Ag」는, JIS-H3100 (C1100) 의 터프 피치동 (TPC) 에 200 질량ppm 의 Ag 를 첨가한 것을 의미한다. 다른 첨가량의 경우도 동일하다.&Quot; OFC + 30 ppm Ag &quot; in the composition column in Table 1 means that 30 mass ppm of Ag was added to the oxygen-free copper OFC of JIS-H3100 (C1020). "TPC + 200 ppm Ag" means that 200 mass ppm of Ag is added to tough pitch copper (TPC) of JIS-H3100 (C1100). The same is true for other addition amounts.

<X 선의 적분 회절 강도비 (I(200)/I0(200))><Integrated diffraction intensity ratio of X-ray (I (200) / I 0 (200))>

최종 재결정 어닐링 후이면서 최종 냉간 압연 전의 동박의 표면에 대해, {100} 면의 X 선 회절 강도를 측정하였다. 그리고, 동일 조건으로 X 선 회절을 실시한 순동 분말의 값 (I0(200) : X 선 반사 평균 강도) 을 사용하여 규격화하였다.The X-ray diffraction intensity of the {100} plane was measured on the surface of the copper foil after the final recrystallization annealing and before the final cold rolling. Then, the value of the pure powder (I 0 (200): X-ray reflection average intensity) subjected to X-ray diffraction under the same conditions was standardized.

X 선 회절의 측정 조건은, 입사 X 선원 : Cu, 가속 전압 : 25 kV, 관 전류 : 20 mA, 발산 슬릿 : 1 도, 산란 슬릿 : 1 도, 수광 슬릿 : 0.3 ㎜, 발산 세로 제한 슬릿 : 10 ㎜, 모노크롬 수광 슬릿 : 0.8 ㎜ 로 하였다. 순동 분말은, 미분말동 (325 mesh) 을 사용하였다.X-ray diffraction measurement conditions were as follows: incident X-ray source: Cu, acceleration voltage: 25 kV, tube current: 20 mA, divergent slit: 1 degree, scattering slit: 1 degree, light receiving slit: 0.3 mm, Mm, and a monochrome light receiving slit: 0.8 mm. Fine powders (325 mesh) were used as the pure powders.

<결정 방위> &Lt; Crystal orientation >

최종 냉간 압연 후의 동박에, 추가로 표 1 에 나타내는 각 열처리를 실시한 후, 표면을 가볍게 전해 연마하여, 표면의 EBSD 측정을 실시하였다. 측정 면적은 상기한 바와 같이 합계로 4 ㎟ 로 하였다. EBSD 장치에 부속된 해석 소프트웨어 (TSL 솔루션사의 OIM Analysis) 를 사용하여, 표면의 면방위가 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율을 산출하였다.The copper foil after the final cold rolling was further subjected to the respective heat treatments shown in Table 1, and the surface was lightly electrolytically polished to perform EBSD measurement of the surface. The measurement area was 4 mm &lt; 2 &gt; in total as described above. Using the analysis software attached to the EBSD apparatus (OIM Analysis by TSL Solutions), the ratio of crystal grains in the angular difference within 10 degrees from the plane orientation of {102} of the surface was calculated.

또, 350 ℃×1 sec 의 열처리는, 350 ℃ 의 노 내에 단순히 동박을 1 초간 넣어도 시간이 짧아서 350 ℃×1 sec 의 열처리를 한 것으로 되지 않는다. 그래서, 350 ℃ 로 달군 2 장의 스테인리스판 (SUS410 / 두께 5 ㎜, Ra 0.1, Rz 0.6) 사이에 동박을 1 초간 끼워 350 ℃×1 sec 의 열처리로 하였다.Also, in the heat treatment at 350 占 폚 for 1 sec, even if the copper foil is simply put in the furnace at 350 占 폚 for 1 second, the time is short and the heat treatment at 350 占 폚 占 1 sec is not performed. Thus, a copper foil was sandwiched between two stainless steel plates (SUS410 / thickness 5 mm, Ra 0.1, and Rz 0.6) at 350 占 폚 for one second to perform a heat treatment at 350 占 폚 for 1 sec.

또, 각각 350 ℃×20 분, 200 ℃×30 분의 열처리는, 각각 350 ℃, 200 ℃ 의 노 내에 동박을 소정 시간 장입하여 실시하였다.The heat treatment at 350 ° C for 20 minutes and at 200 ° C for 30 minutes, respectively, was conducted by charging copper foil in a furnace at 350 ° C and 200 ° C for a predetermined time, respectively.

<구리 피복 적층판의 제조> &Lt; Preparation of copper clad laminate &

표 1 의 각 실시예 및 비교예의 압연 동박에 대해서, 표 2 에 나타내는 적층 방법으로 수지층과 적층하여 구리 피복 적층판을 제조하였다. 또, 표 1 의 압연 동박에 대해, 표 1 의 열처리를 실시하기 전의 것을 사용하였다.A rolled copper foil of each of Examples and Comparative Examples in Table 1 was laminated with a resin layer by a lamination method shown in Table 2 to prepare a copper clad laminate. For the rolled copper foil of Table 1, those before the heat treatment of Table 1 were used.

수지층의 두께는 실시예 3 이 50 ㎛, 실시예 8, 12, 19 가 35 ㎛, 그 밖의 실시예 및 비교예 1 ∼ 4 가 25 ㎛ 로 하였다. 각 수지층 중, 폴리이미드 및 에폭시는 열경화성, 액정 폴리머는 열가소성이었다. 또, 「폴리이미드/에폭시」는 폴리이미드층과 에폭시층을 적층한 다층의 수지층을 나타내고, 후술하는 적층 방법 「C」에 나타내는 바와 같이, 에폭시층측이 접착층으로서 동박과 접착되어 있다.The thickness of the resin layer was 50 탆 for Example 3, 35 탆 for Examples 8, 12 and 19, and 25 탆 for other Examples and Comparative Examples 1 to 4. Among the resin layers, the polyimide and epoxy were thermosetting, and the liquid crystal polymer was thermoplastic. The term &quot; polyimide / epoxy &quot; refers to a multilayer resin layer in which a polyimide layer and an epoxy layer are laminated, and the epoxy layer side is bonded to the copper foil as an adhesive layer, as shown in a lamination method &quot; C &quot;

표 2 에 있어서, 동박의 적층이 「양면」인 경우, 수지층의 양면에 각각 동박을 적층한 것을 나타낸다.In Table 2, when the lamination of the copper foil is &quot; both surfaces &quot;, the copper foil is laminated on both surfaces of the resin layer.

또 표 2 에 있어서, 적층 방법 「A」는, 시판되는 열가소성 첨가 폴리이미드 필름 또는 액정 폴리머 필름과 동박을 중첩한 적층체를, 350 ℃ 로 달군 2 장의 스테인리스판 (SUS410) 사이에 세팅하고, 프레스하여 1 초간 유지하는 열 프레스법으로 하였다. 또, 열가소성 첨가 폴리이미드 필름이란, 통상적인 폴리이미드 필름이 열경화성이어서 열을 가해도 접착되지 않기 때문에, 폴리이미드 필름의 기재 표면에 열가소성을 갖는 폴리이미드를 미리 2 ㎛ 정도 부착시킨 폴리이미드 필름을 말한다.In Table 2, the lamination method "A" is a method in which a laminate obtained by laminating a commercially available thermoplastic-added polyimide film or a liquid crystal polymer film and a copper foil is set between two stainless steel plates (SUS410) And held for 1 second. The thermoplastic-added polyimide film refers to a polyimide film in which a polyimide film having a thermoplasticity of 2 占 퐉 is adhered to the substrate surface of a polyimide film in advance, since a conventional polyimide film is thermosetting and therefore does not adhere to heat .

적층 방법 「B」는, 시판되는 폴리이미드 전구체 바니시를 동박에 도포하고, 건조 및 큐어시켰다. 건조 온도는 200 ℃×3 분, 큐어는 350 ℃×30 분으로 하였다.In the lamination method "B", a commercially available polyimide precursor varnish was applied to a copper foil, followed by drying and curing. The drying temperature was 200 占 폚 for 3 minutes and the cure was 350 占 폚 for 30 minutes.

적층 방법 「C」는, 시판되는 폴리이미드 필름에 시판되는 에폭시 접착제를 도포한 후, 건조시켜 에폭시 접착제 중의 용제를 증발시키고, 다시 동박을 맞붙인 후, 접착제를 경화 (큐어) 시켰다. 건조 온도는 200 ℃×3 분, 큐어는 200 ℃×30 분으로 하였다.The lamination method "C" is a method in which a commercially available polyimide film is coated with a commercially available epoxy adhesive, followed by drying to evaporate the solvent in the epoxy adhesive, coagulate the copper foil again, and cure (cure) the adhesive. The drying temperature was 200 占 폚 for 3 minutes and the cure was 200 占 폚 for 30 minutes.

얻어진 구리 피복 적층판에 대해, 이하의 평가를 실시하였다.The obtained copper clad laminate was subjected to the following evaluation.

<결정 방위> &Lt; Crystal orientation >

상기 압연 동박의 경우와 동일하게, 구리 피복 적층판의 동박면에 대해서, 표면의 면방위가 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율을 측정하였다. 구리 피복 적층판의 양면에 동박이 적층되어 있는 경우에는, 임의로 어느 한 쪽의 동박면에 대해서 측정하였다.As in the case of the rolled copper foil, the ratio of crystal grains in the angular difference within 10 degrees from the plane orientation of {102} to the copper foil surface of the copper clad laminate was measured. When the copper foil is laminated on both surfaces of the copper clad laminate, the copper foil surface is optionally measured on one of the copper foil surfaces.

<절곡성> However,

이하의 절곡성과 굴곡성은, 시험편이 갈라지기까지의 사이클 수가 적은 것을 절곡성으로 평가하고, 사이클수가 많은 것을 굴곡성으로 평가하였다.The following bending property and bending property were evaluated in terms of bending property with a small number of cycles until the specimen was cracked and bending property with a large number of cycles.

구리 피복 적층판의 180°밀착 구부림을 반복해서 실시하여, 동박이 갈라지기까지의 횟수를 측정하였다. 갈라짐의 유무는, 각 회의 구부림 후의 동박 표면 (구부린 외면) 을 CCD 카메라로 관찰하였다. 3 회 구부려도 갈라지지 않는 것을 ○, 갈라지는 것을 × 로 하였다.The copper clad laminate was repeatedly subjected to 180 ° close bending, and the number of times until the copper foil was cracked was measured. The presence or absence of cracking was observed with a CCD camera after the bending of the copper foil surface (curved outer surface). It was rated as ○ when it bend 3 times and not divided as 3 times.

180°밀착 구부림은 도 1 에 나타내는 바와 같이 하여 실시한다. 먼저, 동박의 압연 방향이 길이 방향이 되도록 시험편을 12.7 ㎜×100 ㎜ 의 단책상 (短冊狀) 으로 잘라낸다. 이 시험편 (S1) 을 길이 방향의 양단끼리 만나도록 중앙부에서 U 자상으로 구부려, 길이 방향이 수평이 되도록 옆을 향해 역 C 자상으로 한 상태로 압축 시험기 (시마즈 제작소 제조의 만능 시험기 AGS-5kN) 에 세팅한다 (도 1 의 (a)). 구체적으로는, 시험편 (S1) 을 압축 시험기의 대좌 (12) 상에 재치 (載置) 하고, 시험편 (S1) 의 상방의 크로스헤드 (11) 를 하중 98 kN (10 kgf), 50 ㎜/min 의 속도로 하강시켜, 하중을 가하고 난 후 5 초 유지하여 시험편 (S1) 을 완전히 찌부러뜨린다. 그 후, 크로스헤드 (11) 를 상승시켜 U 자부가 찌부러진 시험편 (S2) 을 꺼내고, 길이 방향이 상하가 되도록 방향을 바꿔 시험편 (S3) 으로 한다 (도 1 의 (b)). 시험편 (S2, S3) 은, U 자부가 찌부러진 돌출된 형상의 구부림부 (C) 를 갖는다.The 180 ° contact bending is carried out as shown in Fig. First, the test piece is cut into a short plate of 12.7 mm x 100 mm such that the rolling direction of the copper foil is the longitudinal direction. The test piece (S1) was bent in a U-shape at the center so as to meet both ends in the longitudinal direction, and the test specimen (S1) was placed in a reverse tester C- (Fig. 1 (a)). Specifically, the test piece S1 is placed on the pedestal 12 of the compression tester and the crosshead 11 above the test piece S1 is subjected to a load of 98 kN (10 kgf) and 50 mm / min , And the test piece (S1) is completely crushed by holding it for 5 seconds after the load is applied. Thereafter, the crosshead 11 is raised to take out the test piece S2 which is crushed by the U-shaped portion, and the direction of the test piece S2 is changed so that the lengthwise direction is up and down, thereby obtaining a test piece S3 (FIG. The test pieces S2 and S3 have bent portions C in which the U-shaped portions are crushed and protruded.

그리고, 구부림부 (C) 가 상향이 되도록 하여 시험편 (S3) 을 상기 압축 시험기의 대좌 (12) 상에 재치하고, 구부림부 (C) 의 상방의 크로스헤드 (11) 를 상기와 동일한 하중 및 속도로 하강시켜, 하중을 가하고 난 후 5 초 유지하여 시험편 (S3) 을 완전히 찌부러뜨린다 (도 1 의 (c), (d)). 그 후, 크로스헤드 (11) 를 상승시켜, 구부림부 (C) 가 찌부러져 거의 평탄하게 된 시험편 (S4) 을 꺼내고, 구부림부 (C) 를 중심으로 하는 소정 영역의 구부린 외면 (Sk) 을 관찰하여, 갈라짐 유무를 판정한다 (도 1 의 (e)).The test piece S3 is placed on the pedestal 12 of the compression tester so that the bending portion C is upward and the crosshead 11 above the bending portion C is placed at the same load and speed And the test piece S3 is completely crushed by maintaining the load for 5 seconds after the load is applied (Fig. 1 (c), (d)). Thereafter, the crosshead 11 is raised to take out the test piece S4 whose bending portion C is crushed and becomes almost flat, and the bent outer surface Sk of the predetermined region around the bending portion C is observed , And judges the presence or absence of cracking (Fig. 1 (e)).

<굴곡성> <Flexibility>

구리 피복 적층판의 동박을 에칭하여 소정의 회로를 형성한 후, 도 2 에 나타내는 IPC (미국 프린트 회로 공업회) 굴곡 시험 장치에 의해 굴곡 시험을 실시하였다. 슬라이딩 굴곡 시험 중에 회로부의 전기 저항을 측정하여, 저항치가 초기로부터 15 % 상승했을 때에 파단되지 않고, 또한 굴곡 횟수가 10000 회를 초과한 것을 ○, 저항치가 초기로부터 15 % 상승하기 전 또는 15 % 상승한 시점에서 파단된 것을 × 로 하였다.After the copper foil of the copper clad laminate was etched to form a predetermined circuit, a bending test was conducted by an IPC (American Printed Circuit Industry) bending test apparatus shown in Fig. The electrical resistance of the circuit portion was measured during the sliding bending test to determine that the resistance value did not break when the resistance value was increased by 15% from the beginning and that the number of bending times exceeded 10000, And the sample which was broken at the time point was rated as x.

이 IPC 굴곡 시험 장치는 발진 구동체 (4) 에 진동 전달 부재 (3) 를 결합한 구조로 되어 있고, 시험편 (1) 은 화살표로 나타낸 나사 (2) 부분과 (3) 의 선단부의 합계 4 점에서 장치에 고정된다. 진동부 (3) 가 상하로 구동하면, 시험편 (1) 의 중간부는 소정의 곡률반경 (r) 으로 헤어핀상으로 굴곡된다.This IPC bending test apparatus has a structure in which the vibration transmitting member 3 is coupled to the oscillation drive body 4 and the test piece 1 has a total of four points of the screw 2 portion indicated by the arrow and the tip portion of the Lt; / RTI &gt; When the vibration portion 3 is driven up and down, the intermediate portion of the test piece 1 is bent on the hair pin at a predetermined radius of curvature r.

또, 시험 조건은 다음과 같다 : 시험편 폭 : 12.7 ㎜, 시험편 길이 : 200 ㎜, 시험편 채취 방향 : 시험편의 길이 방향이 압연 방향과 평행이 되도록 채취, 곡률반경 (r) : 1.5 ㎜, 진동 스트로크 : 25 ㎜, 진동 속도 : 1500 회/분 The test conditions were as follows: specimen width: 12.7 mm; specimen length: 200 mm; specimen collection direction: taken such that the longitudinal direction of the specimen was parallel to the rolling direction; radius of curvature (r): 1.5 mm; 25 mm, vibration speed: 1500 times / minute

또, 동박이 구리 피복 적층판의 편면에 형성되어 있는 경우에는, 도 2 의 곡률반경 (r) 의 굴곡 내면에 동박을 향하게 하였다. 또, 구리 피복 적층판의 양면에 동박이 적층되어 있는 경우에는, 상기 결정 방위를 측정한 동박면을 에칭하여 회로를 형성하고, 반대면의 동박을 에칭에 의해 완전히 제거하였다. 그리고, 이 회로면을 도 2 의 곡률반경 (r) 의 굴곡 내면으로 하였다.When the copper foil is formed on one side of the copper clad laminate, the copper foil is directed to the curved inner surface of the radius of curvature r in Fig. When the copper foil is laminated on both surfaces of the copper clad laminate, the copper foil surface on which the crystal orientation is measured is etched to form a circuit, and the copper foil on the opposite surface is completely removed by etching. This circuit surface was defined as a curved inner surface having a curvature radius r shown in Fig.

에칭성은, 이하의 회로 직선성 및 하프 에칭성으로 판정하였다. 또, 구리 피복 적층판의 양면에 동박이 적층되어 있는 경우에는, 상기 결정 방위를 측정한 동박면을 에칭하였다.The etchability was determined by the following circuit linearity and half-etchability. When the copper foil was laminated on both surfaces of the copper clad laminate, the copper foil surface on which the crystal orientation was measured was etched.

회로 직선성은, 구리 피복 적층판의 동박 표면에, 폭 방향이 50 ㎛ 폭이고 길이 방향으로 긴 단책상의 회로 패턴을 마스킹 형성한 후, 60 ℃ 의 염화제이철을 동박 표면에 스프레이하는 스프레이 에칭에 의해 50 ㎛ 폭의 단책상 회로를 형성하였다. 이 회로의 길이 방향으로 5 ㎛ 피치로, 각각 상기 폭 방향의 회로폭을 SEM 에 의해 측정하였다. 상기 피치로 100 점을 측정한 것에 대해, 회로폭의 정규 분포의 3σ 가 ±2 ㎛ 이내인 경우를 ○ 로 하였다.The circuit linearity is obtained by masking a circuit pattern on a copper foil of a copper clad laminate with a width of 50 占 퐉 and a lengthwise direction on the surface of the copper foil and spraying 50 占 폚 of ferric chloride on the copper foil surface by spray etching Thereby forming a short circuit circuit having a width of 탆. The circuit width in the width direction was measured by SEM at a pitch of 5 占 퐉 in the longitudinal direction of the circuit. When 100 points were measured at the above-mentioned pitch, the case where the 3σ of the normal distribution of the circuit width was within 2 占 퐉 was evaluated as?.

하프 에칭은, 과황산나트륨 (40 g/ℓ) 과 황산 (20 g/ℓ) 의 혼합 수용액으로 동박의 두께가 초기의 절반이 될 때까지 에칭하고, CP (크로스섹션 폴리셔) 로 단면을 절단한 후, 에칭 면방위를 따라 5 ㎛ 피치로, 각각 단면에 있어서의 두께를 SEM 에 의해 측정하였다. 상기 피치로 100 점을 측정한 것에 대해, 두께의 정규 분포의 3σ 가 ±2 ㎛ 이내인 경우를 ○ 로 하였다.The half etching was performed by etching the copper foil with a mixed aqueous solution of sodium persulfate (40 g / l) and sulfuric acid (20 g / l) until the thickness of the copper foil reached the initial half and cutting the cross section with CP (cross section polisher) Then, the thickness of each cross section was measured by SEM at a pitch of 5 탆 along the etched plane orientation. When 100 points were measured at the above pitches, the case where the 3σ of the normal distribution of thickness was within 2 占 퐉 was evaluated as?.

에칭성의 평가는, 회로 직선성 및 하프 에칭성이 모두 ○ 인 경우를 종합 평가 ○ 로 하고, 회로 직선성과 하프 에칭 중 어느 것이 ○ 가 아닌 경우를 종합 평가 × 로 하였다.In the evaluation of the etching property, a case in which the circuit linearity and the half-etching property were all? Was evaluated as the overall evaluation?, And a case in which neither the circuit linearity nor the half etching was?

얻어진 결과를 표 1, 표 2 에 나타낸다.The obtained results are shown in Tables 1 and 2.

Figure 112015048771816-pat00001
Figure 112015048771816-pat00001

Figure 112015048771816-pat00002
Figure 112015048771816-pat00002

표 1 ∼ 표 2 로부터 분명한 바와 같이, 구리 피복 적층판에 있어서의 동박 표면의 면방위가 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 이상 50 % 이하인 각 실시예의 경우, 절곡성, 굴곡성 및 에칭성이 모두 우수한 것이 되었다.As apparent from Tables 1 to 2, in the case of each embodiment in which the ratio of the crystal grains in the angular difference within 10 degrees from the plane orientation of the copper foil surface in the copper clad laminate was 1% or more and 50% or less, Curvature, bendability and etchability were both excellent.

또, 각 실시예의 구리 피복 적층판에 적층되기 전의 동박을, 350 ℃×1 초, 350 ℃×20 분 또는 200 ℃×30 분의 열처리를 실시하면, 표면의 면방위가 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 이상 50 % 이하였다.When the copper foil before lamination to the copper clad laminate of each example is subjected to heat treatment at 350 ° C for 1 second, 350 ° C for 20 minutes, or 200 ° C for 30 minutes, the surface orientation of the surface is within 10 degrees from {102} Of the crystal grains in the angle difference was 1% or more and 50% or less.

한편, 동박의 최종 재결정 어닐링시의 승온 과정에서 200 ∼ 500 ℃ 의 통과 시간이 60 초를 초과한 비교예 1, 2 의 경우, (I(200)/I0(200)) 이 10 을 넘어 동박 표면이 랜덤에 가까운 방위가 되어, {102} 가 발달하지 않고, 동박 표면의 면방위가 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 미만이 되었다. 이 때문에, 비교예 1, 2 의 경우, 절곡성, 굴곡성이 열등하였다.On the other hand, compare the in the temperature rising stage at the time of the final recrystallization annealing of the copper foil is passed through time of 200 ~ 500 ℃ more than 60 seconds in Example 1, for 2, (I (200) / I 0 (200)) the copper foil beyond this 10 The surface became randomly oriented, and {102} was not developed, and the ratio of crystal grains in the angle difference within 10 degrees from the plane orientation of the copper foil surface from {102} became less than 1%. Therefore, in the case of Comparative Examples 1 and 2, bending property and bending property were inferior.

동박의 최종 냉간 압연의 가공도 (η) 가 3.7 을 초과한 비교예 3, 4 의 경우, 최종 재결정 어닐링 후의 X 선 회절 강도비 (I(200)/I0(200)) 이 2 미만이 되었기 때문에, 최종적으로 얻어진 동박 표면에 {100} 가 집합하여, 동박 표면의 {102} 방위가 발달하지 않고, 동박 표면의 면방위가 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 미만이 되었다. 이 때문에, 비교예 3, 4 의 경우, 절곡성, 굴곡성은 양호해졌지만, 에칭성이 열등하였다.In the case of Comparative Examples 3 and 4 in which the final cold rolling of the copper foil had a processing degree (?) Of more than 3.7, the X-ray diffraction intensity ratio (I (200) / I 0 (200)) after the final recrystallization annealing was less than 2 Therefore, the ratio of crystal grains having an angle difference of less than 10 degrees from the plane orientation of the copper foil surface of {102} is 1 % &Lt; / RTI &gt; Therefore, in the case of Comparative Examples 3 and 4, the bending property and the bending property were improved, but the etching property was inferior.

Claims (5)

질량률로 99.9 % 이상의 구리를 함유하는 압연 동박으로서,
350 ℃×1 초, 350 ℃×20 분 또는 200 ℃×30 분 중, 어느 하나의 조건으로 열처리를 실시한 후, 표면이 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 이상 50 % 이하인 압연 동박.
A rolled copper foil containing 99.9% by mass or more of copper as a mass ratio,
After a heat treatment is performed under any one of conditions of 350 占 폚 for 1 second, 350 占 폚 for 20 minutes, or 200 占 폚 for 30 minutes, the ratio of crystal grains having an angle difference of 10 degrees or less from the surface {102} Rolled copper foil of 50% or less.
제 1 항에 있어서,
Ag, Sn, Zn, Ni, Ti, 및 Zr 의 군에서 선택되는 1 종 또는 2 종 이상을 합계로 10 ∼ 300 질량ppm 함유하고, 잔부 Cu 및 불가피적 불순물로 이루어지는 압연 동박.
The method according to claim 1,
Ag, Sn, Zn, Ni, Ti, and Zr in a total amount of 10 to 300 mass ppm, and the balance Cu and inevitable impurities.
제 1 항 또는 제 2 항에 기재된 압연 동박을 수지층의 양면 또는 편면에 적층하여 이루어지는 구리 피복 적층판으로서,
적어도 일방의 상기 압연 동박에 있어서, 표면이 {102} 로부터 10 도 이내의 각도차에 있는 결정립의 비율이 1 % 이상 50 % 이하인 구리 피복 적층판.
A copper clad laminate obtained by laminating the rolled copper foil according to claim 1 or 2 on both sides or one side of a resin layer,
Wherein the ratio of the crystal grains in the angular difference of 10 degrees or less from the surface {102} in the at least one rolled copper foil is 1% or more and 50% or less.
제 3 항에 기재된 구리 피복 적층판을 사용해서, 상기 압연 동박에 회로를 형성하여 이루어지는 플렉시블 프린트 기판.A flexible printed circuit board comprising a copper clad laminate according to claim 3 and a circuit formed on the rolled copper foil. 제 4 항에 기재된 플렉시블 프린트 기판을 사용한 전자 기기.
An electronic device using the flexible printed circuit board according to claim 4.
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