KR101717857B1 - Method and system for producing cutting product - Google Patents

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Abstract

본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템에 관한 것으로, 본 발명의 일 측면에 따르면, 원단의 결점 정보에 기초하여 원단의 폭 방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하는 단계 및 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 큰 영역에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 작은 영역에 제1 크기 보다 큰 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당되도록 가상 재단선을 결정하는 단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of producing a cut product and a production system of the cut product, the method comprising the steps of: calculating a defect distribution density along a width direction of a fabric based on defect information of the fabric; A unit product having a first size is allocated to a region where the distribution density is relatively large, and a virtual cut line is determined such that a unit product having a second size larger than the first size is allocated to a region having a relatively small defect- The method comprising the steps of:

Description

재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템{Method and system for producing cutting product}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a production method and a production system for a foundation product,

본 발명은 재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a production method and a production system of a cut product.

일반적으로, 필름(또는 시트) 상의 제품은 실제 사용될 제품의 크기보다 큰 크기의 원단 형태로 제조된다. 예를 들어, 디스플레이 장치 등에 사용되는 편광판이나 위상차판 등과 같은 광학 부재 등이 그러하다. 구체적인 예를 들어, 편광판 공급자(제조업자)는 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 다양한 요인들을 고려하여, 편광판의 제조 시에 실제 사용될 제품보다 큰 크기의 길이와 폭을 가지는 원단으로 제조하고 있다.In general, a product on a film (or sheet) is produced in the form of a fabric having a size larger than the size of the product to be actually used. For example, optical members such as a polarizing plate and a retardation plate used for a display device and the like are the same. For example, considering the various factors such as the efficiency of the manufacturing process and the fluctuation of the demand for the product, the polarizer supplier (manufacturer) has to fabricate a polarizer having a length and width larger in size than the product .

또한, 원단은, 대부분의 경우 연속적인 공정을 통해 띠 형상으로 제조되며, 제조된 원단은 롤(roll)에 권취(winding)되어 보관된다. 이후, 롤에 권취된 원단은 인출된 다음, 소정 크기의 단위 제품으로 재단된다.Further, the fabric is, in most cases, produced in a strip shape through a continuous process, and the fabric is wound on a roll and stored. Thereafter, the fabric wound on the roll is taken out and cut into a unit product of a predetermined size.

일반적으로, 원단을 재단함에 있어서는, 1회의 재단 공정으로 복수 개의 단위 제품이 동시에 얻어질 수 있도록 재단하는 방법이 많이 사용되고 있다. 예를 들어, 복수의 커터가 장착된 재단 프레임을 이용한다. 이때, 재단을 어떠한 방식으로 진행하는가에 따라 재단된 단위 제품의 수율이 달라진다. 낮은 재단 효율성은 재단 후 버려지는 스크랩(scrap), 즉 폐기물의 양을 증가시키며, 이는 궁극적으로 제품의 제조비용을 상승시키는 원인이 된다.In general, in cutting a fabric, a method of cutting a plurality of unit products simultaneously in a single cutting process is widely used. For example, a cutter frame equipped with a plurality of cutters is used. At this time, the yield of the unit product that is cut depends on how the cutting is carried out. Lower cutting efficiency increases scrap, or waste, that is discarded after cutting, which ultimately leads to increased product manufacturing costs.

또한, 원단의 종류에 따라 제품으로 바람직하지 못한 결점(defect)이 존재할 수 있다. 이 경우, 원단의 재단 시에는 양질의 품질화(양품화)를 위해 결점이 고려된다. 일반적으로, 결점은 원단의 제조 공정이나 권취 공정 등에서 형성된다.Also, depending on the type of fabric, there may be undesirable defects in the product. In this case, defects are considered for quality (quality improvement) at the time of cutting the fabric. Generally, defects are formed in the manufacturing process of the fabric or the winding process.

예를 들어, TV 등의 디스플레이 장치에 사용되는 편광판은, (1)편광자를 얻는 공정, (2)편광자 보호층을 적층하는 공정, 및 (3)보호 필름이나 이형 필름을 적층하는 공정을 통해 제조된다. 편광자를 얻는 공정에서는 주로 폴리비닐알코올(PVA) 필름을 염색 및 연신하여 편광자를 얻는다. 편광자 보호층을 적층하는 공정에서는 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름을 부착하여 편광자 보호층을 적층한다. 이때, 편광판은 각 공정을 진행하는 과정에서 롤에 권취될 수 있으며, 적어도 상기 (3)공정을 진행한 제품은 롤에 권취되어 보관된다. 이와 같이 롤에 권취하는 경우, 각 공정으로의 운반성은 물론, 보관의 용이성 및 재단 공정 등에서 취급성 등이 유리하다.For example, a polarizing plate used in a display device such as a TV is manufactured by (1) a step of obtaining a polarizer, (2) a step of laminating a polarizer protective layer, and (3) a step of laminating a protective film or a release film do. In the step of obtaining a polarizer, a polyvinyl alcohol (PVA) film is mainly dyed and stretched to obtain a polarizer. In the step of laminating the polarizer protective layer, a triacetylcellulose (TAC) film is attached to both surfaces of the polarizer through an adhesive to laminate the polarizer protective layer. At this time, the polarizing plate can be wound on the roll in the course of each step, and at least the product that has undergone the step (3) is wound and held on a roll. When the film is wound on a roll in this manner, it is advantageous not only in terms of transportability to each step, but also ease of storage and handling in the cutting process.

원단의 결점은 상기 연신이나 권취 공정에서 주로 발생된다. 예를 들어, 연신 공정에서는 원단의 양측 단부를 연신 장치에 고정하고 있는데, 이때 상기 고정 부위에 결점이 발생할 수 있다. 권취 공정의 경우에는 롤에 고정하는 단부 부위에 결점이 발생할 수 있다. 또한, 권취 공정의 경우, 롤에 흠집이 존재하는 경우, 회전하는 롤의 특성상 롤과 접촉되는 부위에 주기적인 결점(periodic defect)이 발생할 수 있다. 재단된 단위 제품에 결점이 확인되는 경우, 제품의 손실이 커진다.Defects of the fabric mainly occur in the stretching or winding step. For example, in the stretching process, both end portions of the fabric are fixed to the stretching device, and defects may occur in the fixing portions. In the case of the winding process, defects may occur at the end portion fixed to the roll. Further, in the case of the winding process, if there is a scratch on the roll, a periodic defect may occur in a region contacting with the roll due to the nature of the rotating roll. If defects are identified in the cut unit product, the loss of the product becomes large.

이에 따라, 결점을 가지는 원단을 재단함에 있어서는 재단에 앞서 결점 검사가 이루어지며, 재단된 단위 제품에 결점이 포함되지 않도록 결점을 피하여 재단한다. 또한, 상기한 바와 같이 재단된 단위 제품의 수율이 고려된다. Accordingly, when cutting a fabric having defects, defect inspection is performed prior to cutting, and cuts are made to avoid defects so that defects are not included in the cut unit products. Also, the yield of the unit product cut as described above is taken into consideration.

일반적으로, 원단의 재단은, 결점의 위치(분포)를 검사하는 검사 과정, 상기 검사된 결점 정보에 기초하여 가상으로 재단할 때의 단위 제품의 수율을 산출하는 수율 산출 과정, 상기 수율 산출 과정에서 계산 값을 바탕으로 소정치 이상의 수율(최고 수율)을 갖도록 재단하는 재단 과정을 통해 진행되고 있다.In general, the cutting of the fabric may include an inspection process for inspecting the position (distribution) of the defect, a yield calculation process for calculating the yield of the unit product when the cutting is performed virtually on the basis of the defect information, It is proceeding through a cutting process in which the yield is determined to be higher than a predetermined value (highest yield) based on the calculated value.

예를 들어, 대한민국 공개특허 제10-2008-0033863호, 대한민국 등록특허 제10-1179071호, 및 대한민국 등록특허 제10-1315102호 등에는 위와 관련한 기술이 개시되어 있다.For example, Korean Patent Laid-Open No. 10-2008-0033863, Korean Patent No. 10-1179071, and Korean Patent No. 10-1315102 disclose techniques related to the above.

위와 같이 원단을 재단함에 있어서는 결점을 피하여 재단하되, 최고의 수율을 고려하여 재단한다. 이때, 수율은 양품화율로서, 이는 재단 후에 얻어지는 단위 제품의 총면적을 재단 전 원단의 총면적으로 나누어 산출하며, 통상 백분율(%)로 나타낸다.In cutting the fabric as described above, it is cut by avoiding defects, but cutting is performed considering the highest yield. In this case, the yield is an improvement rate, which is calculated by dividing the total area of the unit product obtained after the cutting by the total area of the cutting fabric beforehand, and is usually expressed as a percentage (%).

그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은, 예를 들어 다음과 같은 문제점이 지적된다.However, in the cutting method according to the prior art, for example, the following problems are pointed out.

최근, 대부분의 원단은 매우 큰 폭으로 제조되고 있다. 이 또한 원단 제조공정의 효율성 측면과 제품에 대한 수요 변동 등의 요인들을 고려한 것이다. 이러한 큰 폭을 가지는 원단에 대해서는 원단의 길이 방향으로 재단하는 슬리팅(slitting) 재단이 필요할 수 있다. 그러나 종래 기술에 따른 재단 방법은 최대의 면적 수율을 위한 단위 제품의 재단에 국한되고, 슬리팅 재단은 고려하지 않고 있다. 이에 따라, 최대의 재단 효율성을 고려한 방법으로 보기 어렵다. In recent years, most fabrics have been manufactured in very large sizes. This also takes into account factors such as the efficiency of fabric manufacturing process and the fluctuation of demand for products. For such large width fabrics, a slitting cut in the lengthwise direction of the fabric may be required. However, the cutting method according to the prior art is confined to the cutting of a unit product for the greatest area yield, and the slitting cutting is not considered. As a result, it is difficult to see the method considering the maximum cutting efficiency.

한국공개특허공보 제10-2008-0033863호Korean Patent Publication No. 10-2008-0033863 한국등록특허공보 제10-1179071호Korean Patent Registration No. 10-1179071 한국등록특허공보 제10-1315102호Korean Patent Registration No. 10-1315102

본 발명은 원단의 결점 분포 밀도에 기초하여 최적의 재단위치를 선정함으로써 양품화율을 향상시킬 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.An object of the present invention is to provide a production method and a production system of a cut product which can improve the productivity by selecting an optimum cutting position based on the defect distribution density of the fabric.

또한, 본 발명은 최적의 재단위치를 선정함으로써 양품화율을 향상시킬 수 있는 재단 제품의 생산방법 및 재단 시스템을 제공하는 것을 해결하고자 하는 과제로 한다.Another object of the present invention is to provide a method of producing a cut product and a cutting system that can improve the productivity by selecting an optimum cutting position.

상기한 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 일 측면에 따르면, 원단의 결점 정보에 기초하여 원단의 폭 방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하는 단계 및 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 큰 영역에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 작은 영역에 제1 크기 보다 큰 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당되도록 가상 재단선을 결정하는 단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a defect inspection apparatus, comprising the steps of: calculating a defect distribution density along a width direction of a fabric based on defect information of a fabric; And determining a virtual cut line so that a unit product having a size larger than the first size is allocated to a region where a widthwise defect distribution density is relatively small, / RTI >

또한, 원단의 폭 방향의 결점 분포 밀도는 단위 폭당 결점의 개수에 따라 산출될 수 있다.Further, the defect distribution density in the width direction of the fabric can be calculated according to the number of defects per unit width.

또한, 상기 재단 제품의 생산방법은 원단의 길이방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하는 단계 및 원단의 길이방향 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 2개 이상의 영역으로 분할할 위치를 결정하는 단계를 추가로 포함할 수 있다.The method of producing the cut product may further include calculating a defect distribution density along the length direction of the fabric and calculating a position at which the fabric is divided into two or more regions along the length direction of the fabric, May further comprise a step of determining.

또한, 분할된 2개 이상의 영역은 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정될 수 있다.Further, the virtual cut line can be independently determined for each of two or more divided regions.

또한, 원단의 길이방향의 결점 분포 밀도는 단위 길이당 결점의 개수에 따라 산출될 수 있다.In addition, the defect distribution density in the longitudinal direction of the fabric can be calculated in accordance with the number of defects per unit length.

또한, 가상 재단선은 원단 재단 시, 면적 효율이 소정 값 이상이 되도록 결정될 수 있다.In addition, the virtual cutting line can be determined so that the area efficiency becomes equal to or larger than a predetermined value at the time of cutting the fabric.

또한, 가상 재단선은 원단 재단 시, 동일한 면적 효율을 갖는 복수 개의 가상 재단선 중에서 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선으로 결정될 수 있다.Further, the virtual cut line may be determined as an imaginary cut line that maximizes the flatness rate among a plurality of virtual cut lines having the same area efficiency at the time of cutting the cloth.

또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단 상의 결점을 검사함으로써 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 단계와 원단의 결점 분포 지도에 기초하여 원단의 길이방향 및 폭 방향에 따른 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 단계 및 원단 상의 영역별 결점 분포 밀도에 기초하여 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 큰 영역에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 작은 영역에 제1 크기 보다 큰 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당되도록 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 단계를 포함하는 재단 제품의 생산방법이 제공된다.According to still another aspect of the present invention, defect density distributions along the length and width directions of the fabric are calculated based on a step of generating a defect distribution map of the fabric by inspecting defects on the fabric and a defect distribution map of the fabric, A unit product having a first size is allocated to an area having a relatively large width defect distribution density and a unit product having a relatively large width distribution density is allocated to a region having a relatively small width distribution density Determining a virtual cut line reflecting the size and position of the unit product to be cut so that a unit product having a large second size is allocated.

또한, 원단의 폭 방향의 결점 분포 밀도는 단위 폭당 결점의 개수에 따라 산출될 수 있다.Further, the defect distribution density in the width direction of the fabric can be calculated according to the number of defects per unit width.

또한, 재단 제품의 생산방법은 원단의 길이방향 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 2개 이상의 영역으로 분할할 위치를 결정하는 단계를 추가로 포함할 수 있다.The method of producing the cut product may further include determining a position to divide the fabric into two or more regions along the length direction of the fabric based on the longitudinal defect distribution density of the fabric.

또한, 분할된 2개 이상의 영역은 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정될 수 있다.Further, the virtual cut line can be independently determined for each of two or more divided regions.

또한, 원단의 길이방향의 결점 분포 밀도는 단위 길이당 결점의 개수에 따라 산출될 수 있다.In addition, the defect distribution density in the longitudinal direction of the fabric can be calculated in accordance with the number of defects per unit length.

또한, 가상 재단선은 원단 재단 시, 면적 효율이 소정 값 이상이 되도록 결정될 수 있다.In addition, the virtual cutting line can be determined so that the area efficiency becomes equal to or larger than a predetermined value at the time of cutting the fabric.

또한, 가상 재단선은 원단 재단 시, 동일한 면적 효율을 갖는 복수 개의 가상 재단선 중에서 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선으로 결정될 수 있다.Further, the virtual cut line may be determined as an imaginary cut line that maximizes the flatness rate among a plurality of virtual cut lines having the same area efficiency at the time of cutting the cloth.

또한, 본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 원단 상의 결점을 검사함으로써 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 결점 검사 모드 및 원단의 결점 분포 지도에 기초하여 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하고, 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 큰 영역에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 작은 영역에 제1 크기 보다 큰 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당되도록 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 모드를 포함하는 재단 제품의 생산 시스템이 제공된다.According to still another aspect of the present invention, there is provided a defect inspection method for inspecting a defect in at least one of a longitudinal direction and a width direction of a fabric based on a defect inspection mode for generating a defect distribution map of a fabric by inspecting a defect on the fabric, A unit product having a first size is allocated to an area having a relatively large defect density distribution in the width direction and a unit product having a relatively large defect density distribution in a width direction is calculated based on the calculated defect distribution density, And a mode for determining a virtual cut line reflecting the size and position of the unit product to be cut so that a unit product having a second size larger than the first size is allocated.

이상에서 살펴본 바와 같이, 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법 및 생산 시스템은 다음과 같은 효과를 갖는다.INDUSTRIAL APPLICABILITY As described above, the production method and the production system of the cut product related to the embodiment of the present invention have the following effects.

원단의 길이방향의 결점 분포 밀도에 기초하여 최적의 위치에서 원단을 분할할 수 있다. 또한, 분할된 각각의 원단에 대하여 독립적으로 재단 계획을 수립할 수 있다. 구체적으로, 분할된 각각의 원단에 대한 가상 재단선을 독립적으로 결정할 수 있다. 또한, 원단의 폭 방향의 결점 분포 밀도에 기초하여 양품화율을 최대로 하는 최적의 가상 재단선을 결정할 수 있다. 또한, 원단의 결점 분포 밀도에 기초하여 재단될 단위 제품의 크기 및 상기 단위 제품의 원단 상의 위치를 선정할 수 있다.The fabric can be divided at the optimum position based on the defect distribution density in the longitudinal direction of the fabric. It is also possible to independently establish a cut plan for each of the divided fabrics. Specifically, the virtual cut lines for each of the divided fabrics can be independently determined. In addition, it is possible to determine an optimal virtual cut line that maximizes the flatness rate based on the defect distribution density in the width direction of the fabric. Further, the size of the unit product to be cut and the position on the raw end of the unit product can be selected based on the defect distribution density of the fabric.

또한, 가능한 다양한 조합을 통해 원단의 폭 방향으로 생산 가능한 스트립의 개수를 결정할 수 있다. 이때 면적 효율을 최대로 하는 하나 이상의 가상 재단선을 도출할 수 있다. 또한, 원단의 결점 정보에 기초하여 양품화율을 최대로 하는 최적의 가상 재단선을 결정할 수 있다. 따라서, 가상 재단을 통해 최적의 재단 위치를 선정함으로써 양품화율을 향상시킬 수 있다.It is also possible to determine the number of strips that can be produced in the width direction of the fabric through various possible combinations. At this time, one or more virtual cut lines that maximize the area efficiency can be derived. In addition, it is possible to determine an optimal virtual cut line that maximizes the yield rate based on the defect information of the fabric. Therefore, by selecting the optimum cutting position through the virtual cutting, the productivity can be improved.

도 1은 본 발명과 관련된 원단을 나타내는 평면도이다.
도 2는 본 발명과 관련된 원단 및 스트립을 설명하기 위한 평면도이다.
도 3은 본 발명과 관련된 원단의 결점분포지도를 설명하기 위한 평면도이다.
도 4는 본 발명과 관련된 결점 분포 밀도를 설명하기 위한 평면도이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우 차트이다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우 차트이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템을 나타내는 블록 구성도이다.
도 8은 본 발명의 제3 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 설명하기 위한 원단의 평면도이다.
도 9는 본 발명의 제4 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 설명하기 위한 원단의 평면도이다.
1 is a plan view showing a fabric according to the present invention.
2 is a plan view for explaining fabrics and strips related to the present invention.
3 is a plan view for explaining a defect distribution map of a fabric related to the present invention.
4 is a plan view for explaining defect distribution density related to the present invention.
5 is a flowchart showing a production method of a cut product related to the first embodiment of the present invention.
6 is a flowchart showing a production method of a cut product related to the second embodiment of the present invention.
7 is a block diagram showing a production system of a cut product related to an embodiment of the present invention.
8 is a plan view of a fabric for explaining a production method of a cut product related to the third embodiment of the present invention.
9 is a plan view of a fabric for explaining a production method of a cut product related to the fourth embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 일 실시예에 따른 재단 제품의 생산방법 및 재단 제품의 생산 시스템을 첨부된 도면을 참고하여 상세히 설명한다.Hereinafter, a production method of a cut product and a production system of a cut product according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

또한, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응되는 구성요소는 동일 또는 유사한 참조번호를 부여하고 이에 대한 중복 설명은 생략하기로 하며, 설명의 편의를 위하여 도시된 각 구성 부재의 크기 및 형상은 과장되거나 축소될 수 있다.In addition, the same or corresponding reference numerals are given to the same or corresponding reference numerals regardless of the reference numerals, and redundant description thereof will be omitted. For convenience of explanation, the size and shape of each constituent member shown in the drawings are exaggerated or reduced .

도 1은 본 발명과 관련된 원단(10)을 나타내는 평면도이고, 도 2는 본 발명과 관련된 원단(10) 및 스트립(11 내지 13)을 설명하기 위한 평면도이다.Fig. 1 is a plan view showing a fabric 10 related to the present invention, and Fig. 2 is a plan view for explaining a fabric 10 and strips 11 to 13 associated with the present invention.

또한, 도 3은 본 발명과 관련된 원단의 결점분포지도(30)를 설명하기 위한 평면도이고, 도 4는 본 발명과 관련된 결점 분포 밀도(40, 50)를 설명하기 위한 평면도이다.3 is a plan view for explaining a defect distribution map 30 of a fabric related to the present invention, and FIG. 4 is a plan view for explaining defect distribution density 40 and 50 associated with the present invention.

본 문서에서, 재단의 대상이 되는 "원단"은 필름(또는 시트) 상의 모재로서, 이는 재단 전보다 상대적으로 큰 크기를 가지는 것이면 여기에 포함한다. 또한, 본 발명에서, 원단(10)의 종류나 적층 구조는 특별히 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 전기, 전자 제품 등에 적용되는 필름(또는 시트) 상의 광학 부재나 보호 부재 등으로부터 선택될 수 있다. 원단(10)은, 보다 구체적인 예를 들어 TV나 모니터 등과 같은 디스플레이 장치 등에 적용되는 광학 부재로부터 선택될 수 있다. 또한, 원단(10)은 단층체 및/또는 적층체를 포함한다. In this document, the "fabric" to be cut is a base material on a film (or sheet), which is included in the base material if it has a relatively large size before the cutting. In addition, in the present invention, the kind and laminated structure of the fabric 10 are not particularly limited. The fabric 10 can be selected from an optical member or a protective member on a film (or sheet), for example, applied to an electric or electronic product or the like. The fabric 10 may be selected from optical members applied to a more specific example, a display device such as a TV or a monitor. Further, the fabric 10 includes a single layer body and / or a laminate body.

하나의 예시에서, 원단(10)은 편광판으로부터 선택될 수 있다. 이때, 상기 편광판은 편광자와, 상기 편광자 상에 형성된 편광자 보호층을 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다. 상기 편광자는, 예를 들어 폴리비닐알코올(PVA) 필름 등을 염색 및 연신한 것으로부터 선택될 수 있다. 상기 편광자 보호층은, 예를 들어 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름 등으로부터 선택되어, 상기 편광자의 양면에 접착제를 통해 부착될 수 있다. 아울러, 상기 편광판은 편광자 보호층 상에 형성된 보호 필름 및/또는 이형 필름을 더 포함하는 적층 구조를 가질 수 있다. In one example, the fabric 10 may be selected from a polarizer. At this time, the polarizing plate may have a laminated structure including a polarizer and a polarizer protective layer formed on the polarizer. The polarizer may be selected from, for example, a polyvinyl alcohol (PVA) film or the like which is dyed and stretched. The polarizer protective layer may be selected from, for example, triacetylcellulose (TAC) film and attached to both sides of the polarizer through an adhesive. In addition, the polarizing plate may have a laminated structure further comprising a protective film and / or a release film formed on the polarizer protective layer.

원단(10)은, 예를 들어 띠 형상으로서, 롤에 권취된 상태에서 인출될 수 있다. 원단(10)의 폭(X)과 길이(Y)는 제한되지 않는다. 원단(10)은, 예를 들어 40 ㎜ 내지 2,500 ㎜의 폭(X)과, 1,000 ㎝ 내지 3,000 m의 길이(Y)를 가질 수 있다. The fabric 10 may be, for example, in the form of a strip, which can be drawn out while being wound on a roll. The width X and the length Y of the fabric 10 are not limited. The fabric 10 may have a width X of, for example, 40 mm to 2,500 mm and a length Y of 1,000 cm to 3,000 m.

또한, 본 발명에서, 재단의 대상이 되는 원단(10)은 결점(d, defect)이 존재하는 것, 및/또는 결점(d)이 존재하지 않는 것을 포함한다. 결점(d)은 제품으로 바람직하지 못한 불량점으로서, 이는 원단(10)의 제조 공정 및/또는 권취 공정 등에서 형성된 것일 수 있다. 결점은, 예를 들어 이물질, 오염, 비틀림, 스크래치 및/또는 기포 등을 예로 들 수 있다.Further, in the present invention, the fabric 10 to be cut includes the defect d, and / or the defect d. The defect (d) is an unfavorable defect point in the product, which may be formed in the manufacturing process of the fabric 10 and / or the winding process. Defects include, for example, foreign matter, contamination, twisting, scratches, and / or bubbles.

원단(10)의 결점(d)은 검사자 또는 재단 시스템을 구성하는 결점 검사 장치에 의해 검사될 수 있다. 일 실시예에서, 결점(d)은 결점 검사부에 의해 검사될 수 있으며, 상기 결점 검사부는 화상을 통한 자동 스캐닝(scanning) 방식으로 결점(d)을 검사하는 결점 검사 장치를 포함할 수 있다. 또한, 결점 검사부는 디스플레이부를 추가로 포함할 수 있다. 결점 검사 장치에서 검사된 원단(10)의 결점 정보는 디스플레이부를 통해 화면상으로 표시될 수 있다.The defect (d) of the fabric 10 can be inspected by the inspector or defect inspection apparatus constituting the cutting system. In one embodiment, the defect (d) can be inspected by a defect inspecting unit, and the defect inspecting unit can include an defect inspecting apparatus for inspecting the defect (d) by an automatic scanning method through an image. Further, the defect inspection part may further include a display part. Defect information of the fabric 10 inspected by the defect inspection apparatus can be displayed on the screen through the display unit.

상기 결정 정보는 결점(d)의 위치(분포), 종류, 크기 및/또는 개수 등을 포함하며, 결점(d)의 위치(분포)의 경우에는, 예를 들어 직교 좌표계 상에 x-y 좌표로 디스플레이부에 표시될 수 있다. 결점(d)의 검사 방법 및 표시 방법 등은 특별히 제한되지 않으며, 이들은 예를 들어 통상적인 방법으로 수행할 수 있다. 이와 같이, 원단의 결정정보에 기초하여 원단(10)의 결점 분포 지도(30)가 생성된다. 상기 원단(10)의 결점 분포 지도(30)의 생성은 재단 시스템을 구성하는 제어부를 통해 수행될 수 있다.The determination information includes the position (distribution), type, size, and / or number of the defect (d), and in the case of the position (distribution) of the defect (d), for example, Can be displayed on the display. The inspection method and display method of the defect (d) are not particularly limited, and they can be carried out by a conventional method, for example. As described above, the defect distribution map 30 of the fabric 10 is generated based on the determination information of the fabric. Generation of the defect distribution map 30 of the fabric 10 may be performed through a control unit constituting the cutting system.

첨부된 도면에서, "*"은 결점(d)을 나타낸다. 원단(10)에는 위와 같은 결점(d)이 1종류 또는 서로 다른 2종류 이상이 존재할 수 있으나, 도면에서는 결점(d)의 종류를 고려하지 않고 "*"로 나타내었다. In the accompanying drawings, "*" represents defect (d). The fabric 10 may have one or more of the above-mentioned defects (d), but in the drawings, the type of defects (d) is not taken into account and is denoted by "* ".

한편, 본 문서에서, "재단"은 "슬리팅 재단" 및 "단위 재단" 중에서 선택된 하나 이상을 의미로 사용될 수 있다. 또한, 본 발명에서, 상기 "슬리팅 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향으로 길게 재단하여 띠 형상의 반제품으로 재단하는 것을 의미하여, 상기 "단위 재단"은 원단(10)을 길이(Y) 방향 및 폭(X) 방향으로 재단하여 단위 제품으로 재단하는 것을 의미한다. 이때, 본 발명에서는, 상기 슬리팅 재단을 통해 얻어진 띠 형상의 반제품을 '스트립(strip)'이라 하고, 상기 단위 재단을 통해 얻어진 재단 제품을 '단품' 또는 ‘단위 제품’이라 한다. On the other hand, in this document, "cutting" can be used to mean one or more selected from among "slitting cutting" and "unit cutting ". In the present invention, the term "slitting cutting" means that the raw material 10 is cut into a strip-shaped semi-finished product by cutting the raw material 10 in the length direction Y, (Y) direction and the width (X) direction and cut into a unit product. At this time, in the present invention, the band-shaped semi-finished product obtained through the slitting cut is referred to as a 'strip', and the cut product obtained through the unit cut is referred to as a 'single product' or a 'unit product'.

상기 단품은 원단(10)보다 작은 길이와 폭을 가지는 낱장의 최종 제품으로서, 이는 예를 들어 사각형의 형상을 가질 수 있다. 또한, 도 2를 참조하면, 본 발명에서, 상기 스트립(11)(12)(13)은 원단(10)보다 폭이 작은 띠 형상의 반제품으로서, 이는 단위 재단을 통해 낱장의 단품으로 재단될 수 있다. 참고로, 도 2는 원단(10)을 슬리팅 재단하여 제1 스트립(11), 제2 스트립(12) 및 제3 스트립(13)으로 분할 재단하기 위한 상태를 나타낸다.The single piece is a single piece of finished product having a length and width smaller than the raw fabric 10, which may have the shape of, for example, a quadrangle. 2, the strips 11, 12 and 13 are band-shaped semi-finished products having a width smaller than that of the fabric 10, which can be cut into a single piece through a unit cut have. For reference, FIG. 2 shows a state in which the raw fabric 10 is slit-cut and divided into a first strip 11, a second strip 12 and a third strip 13.

본 발명에서, 재단 방법은 특별히 제한되지 않는다. 재단 방법은 원단(10)을 적어도 하나 이상의 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로 분할 수 있는 것이면 좋다. 재단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및/또는 광원 등을 통해 진행될 수 있으며, 상기 광원은 레이저 빔 등을 예로 들 수 있다. In the present invention, the cutting method is not particularly limited. The cutting method may be such that the cloth 10 can be divided into at least one piece and / or strips 11, 12, 13. The cutting may be performed, for example, through a metal knife, a jet water knife and / or a light source, and the light source may be a laser beam or the like.

본 문서에서, "면적 효율"은 재단 후에 얻어지는 재단 제품의 총면적을 재단 전 원단(10)의 총면적으로 나누어 산출된 것을 의미한다. 면적 효율은, 통상과 같이 백분율(%)로 나타내어질 수 있다. 이때, 상기 재단 제품은 단품 및/또는 스트립(11)(12)(13)으로부터 선택된다. 그리고 상기 '재단 제품의 총면적'은 재단 제품 1개의 면적 x 생산된 재단 제품의 개수로 계산된다. In this document, "area efficiency" means that the total area of the cut products obtained after cutting is calculated by dividing the total area of the cutting front fabric 10 by the total area. The area efficiency can be expressed as a percentage (%) as usual. At this time, the cut product is selected from the single product and / or the strips 11, 12 and 13. The total area of the cut products is calculated as the area of one cut product x the number of cut products produced.

또한, 본 문서에서, "크기"는 원단(10)이나 재단 제품(단품 및/또는 스트립)의 폭, 길이, 면적, 및 대각선 길이 중에서 선택된 하나 이상을 의미한다. In this document, the term "size" means at least one selected from the width, length, area, and diagonal length of the fabric 10 or the cut product (piece and / or strip).

본 발명에서, "크기"는 이하의 실시형태에서 특별히 한정하여 언급하지 않는 한 위와 같은 의미로 사용된다. 또한, 길이를 나타내는 "인치(inch)"는, 주지된 바와 같이 대각선 길이를 의미할 수 있다. 인치는, 예를 들어 제품이 편광판 등과 같이 사각형 단품인 경우에 대각선 길이를 의미할 수 있다.In the present invention, "size" is used in the same meaning unless otherwise stated in the following embodiments. Further, "inch" representing the length may mean diagonal length as is well known. The inch may refer to a diagonal length, for example, when the product is a square single piece such as a polarizing plate.

도 3을 참조하면, 상기 원단(10)은 마킹부(15, marking part)를 포함할 수 있다. 구체적으로, 원단(10)에는 좌측과 우측을 구분할 수 있는 하나 이상의 마킹부(15)가 형성될 수 있다. 본 문서에서, 마킹부(15)는 원단(10)의 방향을 구분할 수 있도록 마련될 수 있다. 마킹부(15)는, 구체적으로 원단(10)의 적어도 좌측과 우측을 구분할 수 있도록 마련되는 것이 바람직하다.Referring to FIG. 3, the fabric 10 may include a marking part 15. Specifically, the fabric 10 may be provided with one or more marking portions 15 that can distinguish between the left side and the right side. In this document, the marking unit 15 can be provided to be able to distinguish the direction of the fabric 10. The marking portion 15 is preferably provided so as to be able to distinguish at least the left and right sides of the fabric 10.

상기 마킹부(15)는 원단(10)의 좌측 단부(DS) 및 우측 단부(OS) 중 적어도 하나의 단부에 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 형성될 수 있다. 여기서, 각 단부(OS)(DS)는 원단(10)의 가장자리를 의미하며, 이는 예를 들어 원단(10)의 좌측이나 우측의 끝단에서부터 2cm 이내의 폭을 의미할 수 있다. 이때, 마킹부(15)의 폭은 제한되지 않는다. 예를 들어, 마킹부(15)는 0.01mm 내지 2cm, 0.02mm 내지 1.5cm, 0.1 내지 1cm, 또는 0.5mm 내지 0.5cm의 폭을 가질 수 있다. 또한, 마킹부(15)는 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 연속적 또는 불연속적으로 형성될 수 있다. 도 3에는 마킹부(15)가 원단(10)의 길이(Y) 방향을 따라 일직선상으로 연속적으로 형성된 실시예가 도시되어 있다.  The marking portion 15 may be formed along the length Y direction of the fabric 10 at at least one of the left end portion DS and the right end portion OS of the fabric 10. Here, each end portion OS (DS) means the edge of the fabric 10, which may mean a width within 2 cm from the left or right end of the fabric 10, for example. At this time, the width of the marking portion 15 is not limited. For example, the marking portion 15 may have a width of from 0.01 mm to 2 cm, from 0.02 mm to 1.5 cm, from 0.1 to 1 cm, or from 0.5 mm to 0.5 cm. In addition, the marking portion 15 may be formed continuously or discontinuously along the length (Y) direction of the fabric 10. 3 shows an embodiment in which the marking portions 15 are continuously formed in a straight line along the length (Y) direction of the fabric 10.

상기 마킹부(15)는 육안 및/또는 식별 장치 등에 의해 인식이 가능한 것이면 제한되지 않는다. 마킹부(15)는, 예를 들어 인쇄에 의해 형성된 인쇄부, 두께 단차에 의해 형성된 노치(notch)부, 및 천공에 의해 형성된 천공부 중 적어도 하나를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 인쇄부는 색상 물질의 인쇄에 의해 마련될 수 있다. 또한, 상기 노치부는 두께 단차를 가지는 것이면 제한되지 않으며, 이는 가압에 의해 형성된 오시 처리부나 하프 커팅(half- cutting)하여 형성된 하프 커팅부 등으로부터 선택될 수 있다. 또한, 상기 천공부는 불연속적으로 형성될 수 있다. The marking unit 15 is not limited as long as it can be recognized by the naked eye and / or the identification device. The marking portion 15 may include at least one of a printing portion formed by printing, a notch portion formed by a thickness step, and a perforation formed by perforation, for example. For example, the printing unit may be provided by printing a color material. Further, the notch portion is not limited as long as it has a thickness step, and it can be selected from an osmosis treatment portion formed by pressurization, a half cutting portion formed by half cutting, and the like. Also, the perforations may be discontinuously formed.

상기 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사 전에 형성되거나, 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다. 일 실시예로, 마킹부(15)는 원단(10)의 결점 검사가 이루어진 후에 형성될 수 있다. The marking portion 15 may be formed before the defect 10 is inspected for defects or after defect inspection of the fabric 10 is performed. In one embodiment, the marking portion 15 may be formed after defect inspection of the fabric 10 is performed.

상기 마킹부(15)는 원단(10)의 적어도 재단 생산성 등을 개선한다. 앞서 언급한 바와 같이, 일반적으로 원단(10)은 결점 검사가 이루어진 후에 풀림과 감김을 반복하면서 좌측과 우측이 계속해서 바뀔 수 있다. 이때, 마킹부(15)는 풀림과 감김의 반복에 의해 좌측과 우측이 바뀌는 경우에도 원단(10)의 방향을 구분할 수 있게 한다.The marking portion 15 improves at least cutting productivity of the fabric 10. As mentioned above, the fabric 10 can be continuously changed between the left and right sides while repeating the unwinding and winding after the defect inspection is performed. At this time, the marking unit 15 can distinguish the direction of the fabric 10 even when the left and right sides are changed by repeating the unwinding and winding.

도 1 및 도 2에는 하나의 원단(10)이 도시되어 있다. 원단(10)은 띠 형상으로서, 예를 들어 롤에 권취되어 있다. 도 1및 도 2에 보인 원단(10)은 펼쳐진 모습으로서, 이는 전체 길이(Y)의 일부를 보이고 있다. One fabric 10 is shown in Figures 1 and 2. The fabric 10 has a strip shape, for example, wound on a roll. The fabric 10 shown in Figs. 1 and 2 is in an unfolded form, showing a part of the overall length Y. Fig.

위와 같이 장폭(X)을 가지는 원단(10)에 대해서는 슬리팅 재단과 단위 재단을 순차적으로 진행하는 경우가, 단위 재단만을 진행하는 경우보다 공정 상에서 유리할 수 있다. 즉, 단위 재단에 앞서 원단(10)을 길이(Y) 방향으로 슬리팅 재단하여, 원단(10)의 폭(X)보다 작은 크기의 폭을 가지는 복수의 스트립(11)(12)(13)으로 분할하는 것이 좋다. 이후, 각 스트립(11)(12)(13)을 단위 재단으로 통해 단품으로 재단한다. 또한, 상기 분할된 각 스트립(11)(12)(13)은 롤에 권취된 후에, 수요자의 요청에 따라 단품으로 재단될 수 있다. 이때, 각각의 스트립(11)(12)(13)의 폭(Wa, Wb)은 최종 제품, 즉 단품의 크기(폭 및/또는 길이)와 동일하거나 그 이상일 수 있다.As described above, with respect to the fabric 10 having the longest width X, the slit cutting and the unit cutting may be progressed sequentially, which may be advantageous in the process than in the case of the unit cutting alone. 12 and 13 having a width smaller than the width X of the fabric 10 by slitting the fabric 10 in the direction of the length Y prior to the unit cutting, . Thereafter, each of the strips 11, 12, and 13 is cut into single pieces through a unit cut. In addition, each of the divided strips 11, 12, 13 may be cut into a single piece at the request of a consumer after being wound on a roll. At this time, the widths Wa and Wb of the respective strips 11, 12 and 13 may be equal to or larger than the size (width and / or length) of the end product, that is,

도 5는 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우 차트이다.5 is a flowchart showing a production method of a cut product related to the first embodiment of the present invention.

본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 원단의 결점 정보에 기초하여 원단의 폭 방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하는 단계 및 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 큰 영역에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 작은 영역에 제1 크기 보다 큰 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당되도록 가상 재단선을 결정하는 단계를 포함한다.The method of producing a cut product related to the first embodiment of the present invention includes the steps of calculating a defect distribution density along a width direction of a fabric based on defect information of a fabric and calculating a defect distribution density in a region where a widthwise defect distribution density is relatively large And determining a virtual cut line so that a unit product having a second size larger than the first size is allocated to a region where the widthwise defect distribution density is relatively small.

도 4 및 도 5를 참조하면, 본 발명의 제1 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 원단(10)의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도(40, 50)를 산출하는 단계(S101)을 포함한다.4 and 5, the method of producing a cut product according to the first embodiment of the present invention is characterized in that the defect distribution density 40, 50 along the direction of at least one of the longitudinal direction and the width direction of the fabric 10 (S101).

또한, 재단 제품의 생산방법은 산출된 결점 분포 밀도(40, 50)에 기초하여 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 단계(S102)를 포함한다. 여기서, 가상 재단선(20)은 전술한 바와 같이 재단 계획을 의미하는 것으로서, 가상 재단선은 복수 개의 스트립의 배열로 이루어질 수도 있고, 복수 개의 단위 제품의 배열로 이루어질 수도 있다. 또한, 가상 재단선(20)은 스트립과 단위 제품의 배열로 이루어질 수도 있다. 또한, 상기 가상 재단선(20)은 슬리팅 재단을 위한 가상 재단선을 의미할 수도 있고, 단위 재단을 위한 가상 재단선을 의미할 수도 있으며, 슬리팅 재단 및 단위 재단이 차례로 이루어질 수 있는 가상 재단선을 의미할 수도 있다. 또한, 가상 재단선을 결정하는 단계(S102)는 단위 제품의 크기 및 재단 위치를 결정하는 단계가 지칭할 수도 있다.In addition, the production method of the cut product includes a step (S102) of determining a virtual cut line reflecting the size and position of the unit product to be cut based on the calculated defect distribution density (40, 50). Here, the virtual cutting line 20 means a cutting plan as described above, and the virtual cutting line may be an array of a plurality of strips or an array of a plurality of unit products. The virtual cut line 20 may also be an array of strips and unit products. The virtual cutting line 20 may mean a virtual cutting line for slitting cutting, a virtual cutting line for cutting the unit, or a virtual cutting line in which a slitting cutting and a unit cutting can be performed one after another, It can also mean a line. In addition, the step of determining the virtual cutting line (S102) may be referred to as the step of determining the size and the cutting position of the unit product.

일 실시예로, 가상 재단선(20)은 소정 폭(예를 들어, WA)을 갖는 복수 개의 스트립(11 내지 13)의 배열로 이루어질 수 있다. 이때, 도 2를 참조하면, 가상 재단선(20)을 구성하는 각각의 스트립(11 내지 13)의 폭은 서로 다르게 설정될 수 있다. 이와는 다르게, 가상 재단선(20)을 구성하는 적어도 2개의 스트립(11 내지 13)의 폭은 서로 동일하게 설정될 수 있다. 이때, 가상 재단선(20)을 구성하는 각각의 스트립(21 내지 23)의 폭은 생산되는 단위 제품의 폭 또는 길이와 동일할 수 있다.In one embodiment, the virtual cut line 20 may be comprised of an array of a plurality of strips 11-13 having a predetermined width (e.g., WA). At this time, referring to FIG. 2, the widths of the respective strips 11 to 13 constituting the virtual cut line 20 may be set to be different from each other. Alternatively, the widths of the at least two strips 11 to 13 constituting the virtual cutting line 20 may be set equal to each other. At this time, the width of each of the strips 21 to 23 constituting the virtual cutting line 20 may be equal to the width or length of the unit product to be produced.

한편 원단(10)의 길이방향의 결점 분포 밀도(40)는 단위 길이(△y)당 결점(d)의 개수에 따라 산출될 수 있다. 이러한 길이방향 결점 분포 밀도(40)는 그래프 또는 테이블 형식으로 생성, 저장 및 사용될 수 있다. On the other hand, the defect distribution density 40 in the longitudinal direction of the fabric 10 can be calculated according to the number of defects d per unit length? Y. This longitudinal defect distribution density 40 can be created, stored and used in graphical or tabular form.

또한, 원단(10)의 폭 방향의 결점 분포 밀도는 단위 폭(△x)당 결점(d)의 개수에 따라 산출될 수 있다. 이러한 폭 방향 결점 분포 밀도(50)는 그래프 또는 테이블 형식으로 생성, 저장 및 사용될 수 있다. The defect distribution density in the width direction of the fabric 10 can be calculated according to the number of defects d per unit width DELTA x. This widthwise defect distribution density 50 can be created, stored and used in graphical or tabular form.

상기 재단 제품의 생산방법은 원단의 길이방향 결점 분포 밀도에 기초하여 원단(10)의 길이방향(Y)을 따라 원단(10)을 2개 이상의 영역(10a, 10b)으로 분할할 위치를 결정하는 단계를 추가로 포함할 수 있다.The production method of the cut product determines a position to divide the fabric 10 into two or more regions 10a and 10b along the longitudinal direction Y of the fabric 10 based on the longitudinal direction defect distribution density of the fabric Step < / RTI >

이때 분할된 2개 이상의 영역(10a, 10b)은 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정될 수 있다. 즉, 길이방향의 결점 분포 밀도(40)를 기초로 원단(10)을 길이방향을 따라 복수 개의 영역으로 분할할 수 있고, 각각의 영역에 대하여 독립적인 재단 계획을 수립할 수 있다. 일 실시태양으로, 원단의 길이방향 결점 분포 밀도(40)를 기초로 하여, 결점 분포 밀도의 차이가 큰 적어도 2개 이상의 영역을 분할할 수 있다. 즉, 길이방향을 따라 결점 분포 밀도(40)의 차이가 큰 원단을 단일의 가상 재단선을 기초로 재단하는 경우 양품화율이 떨어질 수 있다.At this time, the virtual cut lines can be independently determined for each of the two or more divided regions 10a and 10b. That is, the fabric 10 can be divided into a plurality of regions along the longitudinal direction based on the defect distribution density 40 in the longitudinal direction, and an independent cutting plan can be established for each region. In one embodiment, based on the longitudinal defect distribution density 40 of the fabric, at least two regions having a large difference in defect distribution density can be divided. That is, when the fabric having a large difference in the defect distribution density 40 along the length direction is cut on the basis of a single virtual cut line, the productivity can be lowered.

가상 재단선에는 폭 방향 결점 분포 밀도(50)가 상대적으로 큰 영역(10c)에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도(50)가 상대적으로 작은 영역(10d, 10e)에 제1 크기와는 다른 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당될 수 있다. 이때, 제1 크기는 제2 크기보다 작을 수 있다. 구체적으로, 폭 방향 결점 분포 밀도(50)를 기초로 재단될 단위 제품의 배치를 결정할 수 있다. 폭 방향 결점 밀도 분포(50)가 큰 영역에 상대적으로 작은 단위 제품을 배치하고, 폭 방향 결점 밀도(50)가 상대적으로 작은 영역에 상대적으로 큰 단위 제품을 배치함으로써 전체적인 양품화율을 향상시킬 수 있다. 예를 들어, 도 3을 참조하면, 폭 방향을 기준으로 중앙 영역(10c)의 밀도가 나머지 영역(10d, 10e)에 비해 높게 나타나기 때문에, 중앙 영역(10c)에 32인치 또는 37인치의 단위 제품을 배치하고, 나머지 영역(10d, 10e)에 47인치 또는 55인치의 단위 제품을 배치하게 되면, 전체적인 수율이 높아지게 된다. 즉, 결점 밀도가 높은 영역이라 함은 결점들 사이의 간격이 상대적으로 좁은 영역을 의미할 수 있으며, 이러한 영역에 큰 단위제품을 배치하게 될 경우, 불량률이 높아질 수 있다. A unit product having a first size is allocated to the region 10c having a relatively large defect distribution density 50 in the width direction and a region 10d or 10e having a relatively small defect distribution density 50 in the width direction is assigned to the virtual cut line. A unit product having a second size different from the first size may be allocated to the unit product. At this time, the first size may be smaller than the second size. Specifically, the arrangement of the unit products to be cut based on the widthwise defect distribution density 50 can be determined. A relatively small unit product is disposed in a region where the widthwise defect density distribution 50 is large and a relatively large unit product is disposed in a region where the widthwise defect density 50 is relatively small, . For example, referring to FIG. 3, since the density of the central region 10c is higher than that of the remaining regions 10d and 10e with respect to the width direction, And arranging the unit products of 47 inches or 55 inches in the remaining regions 10d and 10e, the overall yield is increased. That is, a region having a high defect density may mean a region where a gap between defects is relatively narrow, and a defect rate may be increased if a large unit product is disposed in such a region.

정리하면, 가상 재단선(20)은 가상 재단에 따른 양품화율이 최대가 되도록 결정될 수 있다.In summary, the virtual cut line 20 can be determined so that the yield rate of the virtual cut is maximized.

또한, 가상 재단선(20)은 원단 재단 시, 면적 효율이 소정 값 이상이 되도록 결정될 수 있고, 또한, 가상 재단선(20)은 원단 재단 시 동일한 면적 효율을 갖는 복수 개의 가상 재단선 중에서 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선으로 결정될 수 있다.The virtual cutting line 20 can be determined so that the area efficiency becomes equal to or larger than a predetermined value at the time of cutting the cloth, and the virtual cutting line 20 can be determined from the plurality of virtual cutting lines having the same area efficiency at the time of cutting the cloth, The virtual cut line can be determined as the maximum virtual cut line.

도 6은 본 발명의 제2 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 나타내는 플로우 차트이다.6 is a flowchart showing a production method of a cut product related to the second embodiment of the present invention.

제2 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은, 원단 상의 결점을 검사함으로써 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 단계와 원단의 결점 분포 지도에 기초하여 원단의 길이방향 및 폭 방향에 따른 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 단계 및 원단 상의 영역별 결점 분포 밀도에 기초하여 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 큰 영역에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 작은 영역에 제1 크기 보다 큰 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당되도록 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 단계를 포함한다.The production method of the cut product related to the second embodiment includes a step of generating a defect distribution map of the fabric by inspecting defects on the fabric and a defect distribution density along the length direction and the width direction of the fabric based on the defect distribution map of the fabric A unit product having a first size is allocated to an area having a relatively large defect distribution density in the width direction and a unit product having a first defect size is allocated to a region having a relatively small defect distribution density in the width direction, And determining a virtual cut line reflecting the size and position of the unit product to be cut so that the unit product having the second size larger than the size is allocated.

또한, 제2 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 원단(10) 상의 결점을 검사함으로써 원단의 결점 분포 지도(30)를 생성하는 단계(S201)와 원단의 결점 분포 지도(30)에 기초하여 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도(40, 50)를 산출하는 단계(S202) 및 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 단계(S203)를 포함한다.The production method of the cut product related to the second embodiment is based on the step S201 of generating the defect distribution map 30 of the fabric by checking the defect on the fabric 10 and the defect distribution map 30 of the fabric (S202) of calculating a defect distribution density (40, 50) along at least one of a longitudinal direction and a width direction of the fabric, and calculating a size of the unit product to be cut based on the calculated defect distribution density And determining a line (S203).

즉, 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도(40, 50)는 원단의 결점 분포 지도(30)를 기초로 산출될 수 있다. 나머지 단계는 제1 실시예에서 설명한 각 단계와 동일하므로 구체적인 설명은 생략하도록 한다.That is, the defect distribution density (40, 50) along at least one of the longitudinal direction and the width direction of the fabric can be calculated based on the defect distribution map 30 of the fabric. The remaining steps are the same as the steps described in the first embodiment, so a detailed description thereof will be omitted.

도 7은 본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템(100)을 나타내는 블록 구성도이다.7 is a block diagram illustrating a production system 100 for a cut product in accordance with an embodiment of the present invention.

본 발명의 일 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템(100)은 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하고, 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 모드를 포함한다.The production system 100 for a cut product according to an embodiment of the present invention calculates a defect distribution density along at least one of a longitudinal direction and a width direction of a fabric and calculates a defect distribution density based on the calculated defect distribution density, And a mode for determining a virtual cut line reflecting the size and position of the virtual cut line.

또한, 본 발명의 또 다른 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템(100)은 원단 상의 결점을 검사함으로써 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 결점 검사 모드 및 원단의 결점 분포 지도에 기초하여 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하고, 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 모드를 포함한다.In addition, the production system 100 of the cut product related to another embodiment of the present invention may further include a defect inspection mode for generating a defect distribution map of the fabric by inspecting defects on the fabric, And a width direction, and determining a virtual cut line reflecting the size and position of the unit product to be cut based on the calculated defect distribution density.

또한, 본 발명의 또 다른 실시예와 관련된 재단 제품의 생산 시스템(100)은 원단의 결점 분포 지도에 기초하여 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하고, 산출된 결점 분포 밀도에 기초하여, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 큰 영역에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 작은 영역에 제1 크기 보다 큰 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당되도록 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 모드를 포함한다.Further, the production system 100 of the cut product related to another embodiment of the present invention calculates the defect distribution density along at least one of the length direction and the width direction of the fabric on the basis of the defect distribution map of the fabric, A unit product having a first size is allocated to an area having a relatively large width defect distribution density, and a second size larger than the first size is allocated to an area having a relatively small width defect distribution density And a mode for determining a virtual cutting line that reflects the size and position of the unit product to be cut so that the unit product having the unit product is allocated.

도 7을 참조하면, 재단 제품의 생산 시스템(100)은 양품 산출부(500)와 재단부(300)를 포함할 수 있다. 또한, 재단 제품의 생산 시스템(100)은 제품 정보 입력부(110) 및 원단 정보 입력부(120)를 포함할 수 있다. 또한, 재단 시스템(100)은 결점 정보 저장부(400)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7, a production system 100 of a cut product may include a good product calculating unit 500 and a cutting unit 300. The production system 100 of the cut product may include a product information input unit 110 and a far-end information input unit 120. In addition, the cutting system 100 may include a defect information storage unit 400.

상기 제품 정보 입력부(110)에는 제품의 정보가 입력되어 저장된다. 이때, 상기 제품의 정보는 각 제품의 크기를 포함한다. 예를 들어, 원단(10)을 임의의 n개의 제품으로 재단 시, 상기 재단되는 n개의 각 제품에 대한 크기가 제품 정보 입력부(110)에 입력된다. 여기서, n개의 제품(n ≥ 2)은 앞서 설명한 바와 같다. 일례를 들어, 상기 재단되는 제품으로서, 크기(면적 또는 인치)가 서로 동일하거나, 다른 복수 개의 스트립 제품이 있을 때, 상기 제품 정보 입력부(110)에는 각각의 스트립 제품에 대한 크기가 입력되어 저장될 수 있다. The product information input unit 110 stores product information. At this time, the information of the product includes the size of each product. For example, when the cloth 10 is cut into n products, the sizes of the n products to be cut are input to the product information input unit 110. Here, n products (n? 2) are as described above. For example, when there are a plurality of strip products having the same size (area or inch) or different products as the product to be cut, the size of each strip product is input and stored in the product information input unit 110 .

원단 정보 입력부(120)에는 원단(10)에 대한 원단 정보가 입력된다. 원단 정보 입력부(120)에는 원단 정보로서, 예를 들어 원단(10)의 크기가 입력될 수 있다. 구체적으로, 원단 정보 입력부(120)에는 당해 원단(10)의 폭(X) 및 길이(Y) 중에서 선택된 하나 이상이 입력될 수 있다.The raw information of the raw fabric 10 is input to the raw fabric information input unit 120. In the far-end information input unit 120, the size of the raw material 10, for example, may be input as far-end information. More specifically, at least one selected from the width X and the length Y of the fabric 10 may be input to the fabric information input unit 120.

상기 결점 정보 저장부(400)에는 원단(10)의 결점 정보가 입력되어 저장된다. 상기 결점 정보는 원단(10)에 존재하는 결점(d)의 분포(위치) 및/또는 결점(d)의 종류 등을 예로 들 수 있다. 상기 결점 정보는, 예를 들어 결점 검사 장치(도시하지 않음)에 의해 검사되어 결점 정보 저장부(400)에 입력될 수 있다. 또한, 상기 결점 정보는 모니터(도시하지 않음)을 통해 x-y 좌표 상으로 표시될 수 있다. 또한, 상기 결점 정보 저장부(400)에는 원단(10)의 결점 분포 지도(30)와 원단의 길이방향 및 폭 방향 중 적어도 하나의 방향에 따른 결점 분포 밀도(40, 50)가 저장될 수 있다.The defect information of the fabric 10 is stored in the defect information storage 400. The defect information may be, for example, the distribution (position) and / or the type of the defect (d) of the defect (d) present in the fabric 10. The defect information may be inspected by, for example, a defect inspection apparatus (not shown) and input to the defect information storage unit 400. [ In addition, the defect information may be displayed on an x-y coordinate through a monitor (not shown). The defect information storage unit 400 may store defect distribution maps 30 and defect distribution densities 40 and 50 along at least one of a longitudinal direction and a width direction of the fabric 10 .

상기 양품 산출부(500)는 결점 정보 저장부(400)에 저장된 결점(d) 분포에 기초하여 양품화율, 즉 결점(d)의 분포에 따른 면적 수율(양품화율)을 산출한다. 상기 양품 산출부(500)는 결점(d) 분포를 고려하여 가상 재단선에 따른 양품화율을 산출한다.The good product calculating unit 500 calculates the yield rate of the flat product based on the distribution of defects (d) stored in the defect information storage unit 400, that is, the area yield according to the distribution of defects (d). The good product calculating unit 500 calculates the quantity of the positive product according to the virtual cut line in consideration of the defect (d) distribution.

상기 재단부(300)는 양품 산출부(500)에서 산출된 결과에 기초하여, 면적 효율 및 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선을 따라 원단(10)을 재단할 수 있다. 상기 재단부(300)는 적어도 재단 장치를 포함한다. 상기 재단 장치는, 예를 들어 통상과 같이 구성될 수 있다. 상기 재단 장치는, 예를 들어 원단(10)을 지지하는 지지 수단과, 원단(10)을 재단하는 재단 수단을 포함할 수 있다. 상기 지지 수단은, 예를 들어 이송 컨베이어, 롤(roll), 및 지지 플레이트 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함할 수 있다. 상기 재단 수단은, 예를 들어 금속 나이프, 제트 워터 나이프 및 광원(레이저 빔 조사기 등) 등으로부터 선택된 하나 이상을 포함하는 구조를 가질 수 있다. 또한, 상기 재단부(300)는 원단(10)을 길이 방향으로 슬리팅 재단하여 복수의 스트립(11)(12)(13)을 얻는 제1 재단부를 포함할 수 있다. 아울러, 상기 재단부(300)는, 상기 얻어진 복수의 스트립(11)(12)(13)을 폭 방향으로 재단하여 단위 제품을 얻는 제2 재단부를 포함할 수 있다.The cutting unit 300 can cut the fabric 10 along an imaginary cutting line that maximizes the area efficiency and the yield rate based on the result calculated by the good product calculating unit 500. [ The cutting unit 300 includes at least a cutting device. The above-described cutting device can be configured as usual, for example. The cutting device may include, for example, a supporting means for supporting the fabric 10 and a cutting means for cutting the fabric 10. The support means may comprise at least one selected from, for example, a conveying conveyor, a roll, and a support plate. The cutting means may have a structure including at least one selected from a metal knife, a jet water knife, a light source (laser beam irradiator, etc.), and the like. The cutting unit 300 may include a first cutting unit for obtaining a plurality of strips 11, 12, and 13 by slitting and cutting the raw material 10 in the longitudinal direction. In addition, the cutting unit 300 may include a second cutting unit for cutting the obtained strips 11, 12, 13 in the width direction to obtain a unit product.

한편, 면적 효율 산출부(200)는 원단(10)을 가상 재단 시, 면적 효율을 최대로 하는 스트립(11)(12)(13)의 개수 및 각각의 스트립(11)(12)(13)의 폭을 산출한다. 하나의 예시에서, 면적 효율 산출부(200)는 제품 정보 입력부(110) 및/또는 원단 정보 입력부(120)의 정보에 기초하여, 면적 효율을 최대로 하는 스트립의 개수 및 스트립의 폭을 산출할 수 있다.The area efficiency calculation unit 200 calculates the area efficiency of the strips 11, 12, 13 and the strips 11, 12, 13, which maximize the area efficiency, . In one example, the area efficiency calculation unit 200 calculates the number of strips and the width of strips that maximize area efficiency based on the information of the product information input unit 110 and / or the far-end information input unit 120 .

이하, 가상 재단선의 결정에 따른 면적 효율과 양품화율의 관계를 첨부된 도면을 참조하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, the relationship between the area efficiency and the production rate according to the determination of the virtual cut line will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 8은 본 발명의 제3 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 설명하기 위한 원단의 평면도이다.8 is a plan view of a fabric for explaining a production method of a cut product related to a third embodiment of the present invention.

도 8을 참조하면, 본 발명의 제3 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 원단(10) 상에 동일한 면적 효율을 갖는 복수 개의 가상 재단선(20, 21)을 도출하는 가상 재단선 도출 단계를 포함한다.Referring to FIG. 8, a method of producing a cut product according to a third embodiment of the present invention includes a virtual cut line derivation step of deriving a plurality of virtual cut lines 20, 21 having the same area efficiency on a raw material 10 .

또한, 재단 제품의 생산방법은 원단 상의 결점 정보에 기초하여, 도출된 복수 개의 가상 재단선(20, 21) 중 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선(30)을 결정하는 가상 재단선 결정 단계를 포함한다.The method of producing a cut product may further include a virtual cut line determination step of determining a virtual cut line 30 that maximizes a positive rate among a plurality of derived virtual cut lines 20 and 21 based on defect information on the far end .

도 8을 참조하면, 각각의 가상 재단선(20, 21)은 소정 폭(예를 들어, WA)을 갖는 복수 개의 스트립(11, 12, 13)의 배열로 이루어질 수 있다. 이때, 가상 재단선(20)을 구성하는 각각의 스트립(11, 12, 13)의 폭은 동일하게 설정될 수 있다. 이와는 다르게, 가상 재단선(20)을 구성하는 적어도 2개의 스트립(11, 12, 13)의 폭은 서로 다르게 설정될 수 있다. 이때, 가상 재단선 도출 단계에서, 가상 재단선(20)을 구성하는 각각의 스트립(11, 12, 13)의 폭은 생산되는 단품의 폭 또는 길이와 동일할 수 있다. 즉, 스트립의 폭은 단위 제품의 폭에 대응할 수 있으며, 원단 상의 각각의 영역의 결점 분포 밀도에 따라 폭이 서로 다른 스트립들 간의 배열이 이루어질 수도 있다.Referring to FIG. 8, each virtual cut line 20, 21 may be an array of a plurality of strips 11, 12, 13 having a predetermined width (e.g., WA). At this time, the widths of the strips 11, 12, and 13 constituting the virtual cutting line 20 can be set to be the same. Alternatively, the widths of the at least two strips 11, 12, 13 constituting the virtual cutting line 20 may be set to be different from each other. At this time, in the virtual cut line deriving step, the widths of the strips 11, 12, and 13 constituting the virtual cut line 20 may be the same as the width or length of the produced individual product. That is, the width of the strip may correspond to the width of the unit product, and may be arranged between strips having different widths depending on the defect distribution density of each region on the far end.

또한, 가상 재단선 도출 단계에서, 각각의 가상 재단선(20, 21)의 폭은 원단의 폭(X)보다 작게 결정될 수 있다. Further, in the virtual cut line derivation step, the widths of the respective virtual cut lines 20 and 21 may be determined to be smaller than the width X of the far end.

한편, 각각의 가상 재단선(20, 21)은 면적 효율을 최대로 하는 스트립의 개수 및 폭에 기초하여 도출될 수 있다. 전술한 면적 효율을 최대로 하는 스트립의 개수 및 폭이 각각 결정되면, 이러한 스트립의 배열로 이루어진 가상 재단선(20, 21)이 적어도 2개 이상 도출될 수 있다. 가상 재단선(20)을 형성하는 스트립(11, 12, 13)의 개수 및 각각의 스트립(11, 12, 13)의 폭이 결정되면, 가상 재단선(20)의 전체 폭(X-Z)이 결정될 수 있다. 즉, 원단(10) 상에 가상 재단선(20)이 도출되면, 원단(10) 상에는 원단의 폭(X)과 가상 재단선의 전체 스트립의 폭(X-Z)의 차이(Z)만큼, 원단(10)의 폭 방향을 따라 재단이 이루어지지 않는 영역이 발생한다. On the other hand, each imaginary cut line 20, 21 can be derived based on the number and width of the strips that maximize the area efficiency. When the number and the width of the strips that maximize the area efficiency described above are respectively determined, at least two virtual cut lines 20 and 21 composed of such strips can be derived. When the number of strips 11, 12, 13 forming the virtual cutting line 20 and the width of each strip 11, 12, 13 are determined, the total width XZ of the virtual cutting line 20 is determined . That is, when the virtual cutting line 20 is led out on the fabric 10, the cloth 10 is cut on the cloth 10 by the difference Z between the width X of the cloth and the width XZ of the entire strip of the virtual cut line In the widthwise direction of the sheet.

도 8을 참조하면, 가상 재단선 도출 단계에서, 복수 개의 가상 재단선(20, 21)은 원단(10)의 폭 방향을 따라 각각의 가상 재단선(20, 21)의 중심이 편심될 수 있다. 이때, 편심 간격은 원단의 폭과 가상 재단선의 전체 스트립의 폭 차이(Z) 이하의 값으로 결정될 수 있다. 이때, 원단의 결점 정보에 기초하여 각각의 가상 재단선(20, 21)에 따른 양품화율이 산출될 수 있다.8, in the virtual cut line deriving step, the plurality of virtual cut lines 20 and 21 can be eccentrically centered on the respective virtual cut lines 20 and 21 along the width direction of the fabric 10 . At this time, the eccentricity interval may be determined to be a value equal to or less than the width (Z) of the width of the fabric and the width of the entire strip of the virtual cut line. At this time, based on the defect information of the fabric, the quantification rate of each virtual cut line 20, 21 can be calculated.

또한, 원단(10)의 결점정보는, 전술한 원단(10) 상의 결점(d)의 분포 밀도를 포함한다. 또한, 원단(10) 상의 결점(d)의 분포 밀도는 원단(10)의 길이방향에 따른 결점의 분포 밀도 및 원단(10)의 폭 방향에 따른 결점의 분포 밀도를 포함할 수 있다. 이때, 원단(10) 상의 결점(d)의 분포에 따라, 각각의 가상 재단선(20, 21)에 따른 양품화율은 서로 다르게 산출될 수 있다. 예를 들어, 도 8의 (a)에 도시된 제1 가상 재단선(20)에 따른 양품화율은 약 96%일 수 있고, 도 8의 (b)에 도시된 제2 가상 재단선(21)에 따른 양품화율은 약 98%일 수 있다. 따라서, 가상 재단선 결정 단계에서는 원단(10) 상의 결점(d) 정보에 기초하여, 도출된 복수 개의 가상 재단선(20, 21) 중 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선(21)을 결정할 수 있다.In addition, the defect information of the fabric 10 includes the distribution density of the defect (d) on the fabric 10 described above. The distribution density of defects d on the fabric 10 may include the distribution density of defects along the length direction of the fabric 10 and the distribution density of defects along the width direction of the fabric 10. [ At this time, depending on the distribution of the defects (d) on the fabric (10), the yield rate of each virtual cut line (20, 21) can be calculated differently. 8A may be about 96%, and the second virtual cut line 21 shown in FIG. 8B may be formed at a ratio of about 96% May be about 98%. Therefore, in the virtual cut line determination step, it is possible to determine the virtual cut line 21 that maximizes the quantization rate among the plurality of derived virtual cut lines 20, 21 based on the defect (d) information on the raw material 10 have.

또한, 재단 제품의 생산방법은 결정된 가상 재단선을 따라 원단(10)을 슬리팅 재단하는 재단단계를 포함할 수 있다. 상기와 같은 가상 재단 방법을 통해, 면적 수율 및 양품화율을 최대로 하는 최적의 가상 재단선을 결정할 수 있다. In addition, the method of producing a cut product may include a cutting step of slitting the fabric 10 along a determined virtual cut line. With the above-described virtual cutting method, it is possible to determine an optimal virtual cutting line that maximizes the area yield and the yield.

도 9는 본 발명의 제4 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법을 설명하기 위한 원단의 평면도이다.9 is a plan view of a fabric for explaining a production method of a cut product related to the fourth embodiment of the present invention.

도 9를 참조하면, 본 발명의 제4 실시예와 관련된 재단 제품의 생산방법은 원단(10)을 복수 개의 스트립(11, 12, 13)으로 재단하기 위하여, 원단의 면적 효율을 최대로 하는 스트립의 개수 및 스트립의 폭에 기초한 가상 재단선(20)을 도출하는 가상 재단선 도출 단계를 포함한다.9, a method of manufacturing a cut product according to a fourth embodiment of the present invention includes the steps of cutting a fabric 10 into a plurality of strips 11, 12, 13, And a virtual cut line 20 deriving a virtual cut line 20 based on the number of strips and the width of the strip.

또한, 재단 제품의 생산방법은 원단(10) 상의 결점 정보에 기초하여, 도출된 가상 재단선의 양품화율(면적 수율)을 산출하는 양품화율 산출단계를 포함한다.In addition, the production method of the cut product includes a yield rate calculation step of calculating the yield rate (area yield) of the derived virtual cut line on the basis of the defect information on the fabric 10.

또한, 재단 제품의 생산방법은 가상 재단선(20)을 원단(10)의 폭 방향을 따라 이동시키면서 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선의 위치를 결정하는 가상 재단선 위치 결정 단계를 포함한다.The method of producing a cut product includes a virtual cut line positioning step of determining a position of a virtual cut line that maximizes a yield rate while moving the virtual cut line 20 along the width direction of the tail end 10. [

이때, 가상 재단선 위치 결정 단계에서, 원단(10)의 폭 방향 에 따른 가상 재단선의 이동거리는 원단(10)의 폭과 가상 재단선을 형성하는 전체 스트립의 폭 차이 이하로 결정될 수 있다.At this time, in the virtual trimming line positioning step, the moving distance of the virtual trimming line along the width direction of the fabric 10 can be determined to be equal to or smaller than the width of the fabric 10 and the width difference of the entire strip forming the virtual trimming line.

또한, 가상 재단선 위치 결정 단계에서, 가상 재단선(20)은 원단의 폭 방향을 기준으로 좌측 및 우측 중 적어도 어느 한 원단의 가장자리로부터 소정 간격만큼 떨어지도록 위치가 결정될 수 있다. 여기서 상기 간격은 원단의 폭과 전체 스트립의 폭 차이 이하일 수 있다.In addition, in the virtual cut line positioning step, the virtual cut line 20 can be positioned so as to be spaced apart from the edge of at least one of the left and right cloths by a predetermined distance with respect to the width direction of the cloth. The gap may be less than the width of the fabric and the width of the entire strip.

정리하면, 제3 실시예에 따른 방법은 면적 효율이 소정 값 이상이거나 동일한 복수 개의 가상 재단선을 도출한 후, 양품화율이 최대가 되는 가상 재단선을 결정하는 방법이다. 또한, 제4 실시예에 따른 방법은 면적 수율을 최대로 하는 가상 재단선을 도출한 후, 도출된 가상 재단선을 원단의 폭 방향을 따라 이동시키면서 양품화율을 산출함으로써 양품화율이 최대가 되는 가상 재단선의 위치를 결정하는 방법이다.In summary, the method according to the third embodiment is a method for determining a virtual cut line in which a plurality of virtual cut lines having an area efficiency equal to or greater than a predetermined value are derived, and then the yield rate is maximized. In the method according to the fourth embodiment, after the virtual cut line that maximizes the area yield is derived, the derived virtual cut line is moved along the width direction of the fabric and the yield rate is calculated, It is a method of determining the position of the cutting line.

이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 슬리팅 재단에서 최고의 면적 수율을 갖도록 재단할 수 있다. 본 발명은, 예를 들어 각종 디스플레이 산업, 광학 산업 및 필름 제조 산업 등과 같은 기술 분야 등에서 유용하게 적용될 수 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY As described above, according to the present invention, cutting can be performed so as to have the highest area yield in the slitting cutting. INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be usefully applied in, for example, technical fields such as various display industries, optical industries and film manufacturing industries.

위에서 설명된 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위해 개시된 것이고, 본 발명에 대한 통상의 지식을 가지는 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정, 변경 및 부가는 하기의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.The foregoing description of the preferred embodiments of the present invention has been presented for purposes of illustration and various modifications, additions and substitutions are possible, without departing from the scope and spirit of the invention, And additions should be considered as falling within the scope of the following claims.

10: 원단
11, 12, 13: 스트립
20, 21: 가상 재단선
30: 결점 분포 지도
100: 재단 제품의 생산 시스템
10: Fabric
11, 12, 13: strip
20, 21: Virtual cut line
30: Defect distribution map
100: Production system of foundation products

Claims (15)

원단의 결점 정보에 기초하여 원단의 폭 방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하는 단계; 및
폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 큰 영역에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 작은 영역에 제1 크기보다 큰 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당되도록 가상 재단선을 결정하는 단계를 포함하며,
단위 제품은 원단의 길이방향 및 폭 방향으로 각각 재단되어 얻어지고,
가상 재단선은 복수 개의 단위 제품의 배열로 이루어지며,
원단을 재단함에 있어서, 1회의 재단 공정으로 복수 개의 단위 제품이 동시에 얻어지는 재단 제품의 생산방법.
Calculating a defect distribution density along the width direction of the fabric based on defect information of the fabric; And
A unit product having a first size is allocated to a region where a widthwise defect distribution density is relatively large and a unit product having a second size larger than a first size is allocated to a region having a relatively small defect distribution density in a width direction, Determining a line,
The unit product is obtained by being cut in each of the longitudinal direction and the width direction of the fabric,
The virtual cutting line comprises an array of a plurality of unit products,
A method of producing a cut product in which a plurality of unit products are simultaneously obtained in a single cutting process in cutting a fabric.
제 1 항에 있어서,
원단의 폭 방향의 결점 분포 밀도는 단위 폭당 결점의 개수에 따라 산출되는 재단 제품의 생산방법.
The method according to claim 1,
Wherein the defect distribution density in the width direction of the fabric is calculated according to the number of defects per unit width.
제 1 항에 있어서,
원단의 길이방향에 따른 결점 분포 밀도를 산출하는 단계; 및
원단의 길이방향 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 2개 이상의 영역으로 분할할 위치를 결정하는 단계를 추가로 포함하는 재단 제품의 생산방법.
The method according to claim 1,
Calculating a defect distribution density along the length direction of the fabric; And
Further comprising the step of determining a position to divide the fabric into two or more regions along the length direction of the fabric based on the longitudinal direction defect distribution density of the fabric.
제 3 항에 있어서,
분할된 2개 이상의 영역은 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정되는 재단 제품의 생산방법.
The method of claim 3,
A method of producing a cut product in which two or more divided regions are independently determined by virtual cut lines.
제 3 항에 있어서,
원단의 길이방향의 결점 분포 밀도는 단위 길이당 결점의 개수에 따라 산출됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.
The method of claim 3,
Wherein the defect distribution density in the longitudinal direction of the fabric is calculated according to the number of defects per unit length.
제 1 항에 있어서,
가상 재단선은 원단 재단 시, 면적 효율이 소정 값 이상이 되도록 결정되는 재단 제품의 생산방법.
The method according to claim 1,
Wherein the virtual cut line is determined so that the area efficiency at the time of cutting the fabric is equal to or greater than a predetermined value.
제 6 항에 있어서,
가상 재단선은 원단 재단 시, 동일한 면적 효율을 갖는 복수 개의 가상 재단선 중에서 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선으로 결정되는 재단 제품의 생산방법.
The method according to claim 6,
Wherein the virtual cutting line is determined as an imaginary cutting line that maximizes the flatness rate among a plurality of virtual cutting lines having the same area efficiency at the time of cutting the cloth.
원단 상의 결점을 검사함으로써 원단의 결점 분포 지도를 생성하는 단계;
원단의 결점 분포 지도에 기초하여 원단의 길이방향 및 폭 방향에 따른 결점 분포 밀도를 각각 산출하는 단계; 및
원단 상의 영역별 결점 분포 밀도에 기초하여 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 큰 영역에 제1 크기를 갖는 단위 제품이 할당되고, 폭 방향 결점 분포 밀도가 상대적으로 작은 영역에 제1 크기보다 큰 제2 크기를 갖는 단위 제품이 할당되도록 재단될 단위 제품의 크기 및 위치가 반영된 가상 재단선을 결정하는 단계를 포함하며,
단위 제품은 원단의 길이방향 및 폭 방향으로 각각 재단되어 얻어지고,
가상 재단선은 복수 개의 단위 제품의 배열로 이루어지며,
원단을 재단함에 있어서, 1회의 재단 공정으로 복수 개의 단위 제품이 동시에 얻어지는 재단 제품의 생산방법.
Generating a defect distribution map of the fabric by inspecting defects on the fabric;
Calculating a defect distribution density along a length direction and a width direction of the fabric based on a defect distribution map of the fabric; And
A unit product having a first size is allocated to a region where a widthwise defect distribution density is relatively large based on a defect distribution density for each region on the far end, and a unit product having a first size is allocated to a region where a widthwise defect distribution density is relatively large. Determining a virtual cut line reflecting the size and position of the unit product to be cut so that a unit product having a size is allocated,
The unit product is obtained by being cut in each of the longitudinal direction and the width direction of the fabric,
The virtual cutting line comprises an array of a plurality of unit products,
A method of producing a cut product in which a plurality of unit products are simultaneously obtained in a single cutting process in cutting a fabric.
제 8 항에 있어서,
원단의 폭 방향의 결점 분포 밀도는 단위 폭당 결점의 개수에 따라 산출되는 재단 제품의 생산방법.
9. The method of claim 8,
Wherein the defect distribution density in the width direction of the fabric is calculated according to the number of defects per unit width.
제 8 항에 있어서,
원단의 길이방향 결점 분포 밀도에 기초하여 원단의 길이방향을 따라 원단을 2개 이상의 영역으로 분할할 위치를 결정하는 단계를 추가로 포함하는 재단 제품의 생산방법.
9. The method of claim 8,
Further comprising the step of determining a position to divide the fabric into two or more regions along the length direction of the fabric based on the longitudinal direction defect distribution density of the fabric.
제 10 항에 있어서,
분할된 2개 이상의 영역은 가상 재단선이 독립적으로 각각 결정되는 재단 제품의 생산방법.
11. The method of claim 10,
A method of producing a cut product in which two or more divided regions are independently determined by virtual cut lines.
제 8 항에 있어서,
원단의 길이방향의 결점 분포 밀도는 단위 길이당 결점의 개수에 따라 산출됨을 특징으로 하는 재단 제품의 생산방법.
9. The method of claim 8,
Wherein the defect distribution density in the longitudinal direction of the fabric is calculated according to the number of defects per unit length.
제 8 항에 있어서,
가상 재단선은 원단 재단 시, 면적 효율이 소정 값 이상이 되도록 결정되는 재단 제품의 생산방법.
9. The method of claim 8,
Wherein the virtual cut line is determined so that the area efficiency at the time of cutting the fabric is equal to or greater than a predetermined value.
제 13 항에 있어서,
가상 재단선은 원단 재단 시, 동일한 면적 효율을 갖는 복수 개의 가상 재단선 중에서 양품화율을 최대로 하는 가상 재단선으로 결정되는 재단 제품의 생산방법.
14. The method of claim 13,
Wherein the virtual cutting line is determined as an imaginary cutting line that maximizes the flatness rate among a plurality of virtual cutting lines having the same area efficiency at the time of cutting the cloth.
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