KR101711737B1 - Detecting device for printed circuit board - Google Patents

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Abstract

본 발명에 따른 기판 검사장치는, 기판의 양부를 검사하는 기판 검사장치에 관한 것으로, 내부에 공간이 형성된 본체; 상기 본체의 일측에 설치되고, 상기 기판을 인식하여 기판정보를 판별하는 판별부; 및 제 1프레임과, 상기 제 1프레임과 이격되고 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판의 폭 방향으로 이동하는 제 2프레임을 포함하고, 상기 기판을 지지하는 프레임부, 상기 프레임부의 상측에 설치되고, 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판의 폭방향으로 이동되어 상기 기판과 접촉하고, 상기 기판을 검사하는 검사모듈, 상기 제 1프레임부와 상기 제 2프레임부의 사이에 설치되고, 상기 판별부에서 이송된 기판을 상기 프레임부의 길이방향으로 이송시키는 이송수단을 포함하는 검사부를 포함한다.
본 발명에 따른 기판 검사장치에 의하면, 검사모듈이 다양한 기판의 모델에 대응하여 가변되고, 기판과 접촉되는 검사핀을 공용화하여 다양한 기판 모델의 수용이 가능하다. 이는 검사핀의 교체시간을 절감하고, 기판의 모델에 따라 제작되어야 하는 검사모듈의 제작비용과 유지보수비용을 절감할 수 있다. 또한 검사모듈이 적층되어 복수개의 기판을 동시에 검사할 수 있도록 하여 점유공간을 확보하여 공간 이용효율이 높다. 더불어 이송수단과 승강부를 이용하여 기판을 자동적으로 이송시킬 수 있어 작업생산성을 향상시킬 수 있다.A substrate inspection apparatus according to the present invention is a substrate inspection apparatus for inspecting both sides of a substrate, comprising: a body having a space formed therein; A discrimination unit installed at one side of the main body, for discriminating the substrate information by recognizing the substrate; And a second frame which is spaced apart from the first frame and moves in a width direction of the substrate in correspondence with the substrate information, the frame portion supporting the substrate, An inspection module which is moved in the width direction of the substrate in correspondence to the substrate information and is in contact with the substrate and inspects the substrate; an inspection module installed between the first frame part and the second frame part, And transfer means for transferring the substrate in the longitudinal direction of the frame portion.
According to the substrate inspecting apparatus of the present invention, the inspection module can be varied according to the model of various substrates, and the inspection pins contacting with the substrate can be commonly used to accommodate various substrate models. This can reduce the replacement time of the inspection pin and reduce the manufacturing cost and maintenance cost of the inspection module, which must be manufactured according to the model of the substrate. In addition, inspection modules are stacked so that a plurality of substrates can be inspected at the same time, thereby ensuring an occupied space, resulting in high space utilization efficiency. In addition, the substrate can be automatically transferred using the transfer means and the elevation portion, so that the productivity of the work can be improved.

Description

기판 검사장치 {Detecting device for printed circuit board}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001]

본 발명은 기판을 검사하는 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 PBA(Printed Board Assembly)기판과 같은 인쇄회로기판에 접촉하여 전압, 전류, 저항 등을 검사하는 장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for inspecting a substrate, and more particularly, to an apparatus for inspecting a voltage, a current, a resistance, etc. by contacting a printed circuit board such as a PBA (Printed Board Assembly) substrate.

일반적으로 인쇄회로기판은 칩, 저항, 배선 등의 전자부품을 기판에 배치시켜 회로조립을 완료 한 후, 회로의 전압, 전류, 저항 등의 전기적인 불량여부를 검사하는 과정이 수행된다. 이러한 검사를 위하여 기판에는 테스트포인트(TestPoint)가 형성된다.2. Description of the Related Art In general, a printed circuit board is manufactured by arranging electronic components such as chips, resistors, and wires on a substrate, completing the circuit assembly, and then examining the electrical integrity of the circuit such as voltage, current, and resistance. For this inspection, a test point (Test Point) is formed on the substrate.

상기한 바와 같은 검사과정은 기판 검사장치에서 진행된다. 기판 검사장치에는 조립된 회로기판에 형성된 테스트포인트에 선택적으로 접촉하기 위한 핀블록이 구비된다. 상기 핀블록을 통해 회로기판에 전류를 흐르게 하여 불량 여부를 검출하여 검사한다. The inspection process as described above is performed in the substrate inspection apparatus. The substrate inspection apparatus is provided with a pin block for selectively contacting a test point formed on an assembled circuit board. A current is made to flow through the pin block to the circuit board to detect whether the defect is defective or not.

위와 같은 종래 기판 검사장치에 관한 기술로는 대한민국 공개특허 제10-2014-0080166호가 개시되어 있다.Korean Patent Laid-Open No. 10-2014-0080166 discloses a technique related to the above-described conventional substrate inspection apparatus.

그러나 종래와 같은 기판 검사장치는 인쇄회로기판의 크기와 종류에 따라 접촉되는 위치와 크기가 달라지기 때문에 그에 따라 알맞은 핀블록으로 교체하여야 한다. 또한, 핀블록의 종류에 따라 검사장치의 설비를 추가적으로 제작하여야 하는 불편함이 있다. However, since the position and size of the substrate inspection apparatus according to the related art vary depending on the size and type of the printed circuit board, it is necessary to replace the pin block with an appropriate pin block. Further, it is inconvenient to additionally prepare facilities of the inspection apparatus according to the type of the pin block.

한편, 복수개의 기판을 검사하기 위해서는 기판을 검사 장치에 수동으로 나열하고 각각을 검사장치와 연결시켜야 하므로, 그에 따라 시간과 인력이 낭비된다. 또한 상기한 바와 같이 수동으로 설치 시 부주의로 인한 사고를 유발할 수 있다.On the other hand, in order to inspect a plurality of substrates, the substrates must be manually arranged in the inspection apparatus and each of them must be connected to the inspection apparatus, thereby wasting time and manpower. In addition, as described above, an accident caused by carelessness can be caused by manual installation.

본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로, 다양한 기판의 모델을 하나의 검사장치를 통해 검사하도록 하여 제작비용과 제작시간을 절감하며, 복수개의 기판을 적층시켜 동시에 검사하도록 하여 공간 이용효율을 향상시킨 기판 검사장치를 제공하는 것에 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in order to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a method and apparatus for inspecting models of various substrates through a single inspection apparatus, And an object of the present invention is to provide a substrate inspection apparatus with improved utilization efficiency.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 기판 검사장치는, 기판의 양부를 검사하는 기판 검사장치로, 내부에 공간이 형성된 본체; 상기 본체의 일측에 설치되고, 상기 기판을 인식하여 기판정보를 판별하는 판별부; 및 제 1프레임과, 상기 제 1프레임과 이격되고 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판의 폭 방향으로 이동하는 제 2프레임을 포함하고, 상기 기판을 지지하는 프레임부, 상기 프레임부의 상측에 설치되고, 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판의 폭방향으로 이동되어 상기 기판과 접촉하고, 상기 기판을 검사하는 검사모듈, 상기 제 1프레임부와 상기 제 2프레임부의 사이에 설치되고, 상기 판별부에서 이송된 기판을 상기 프레임부의 길이방향으로 이송시키는 이송수단을 포함하는 검사부를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a substrate inspection apparatus for inspecting both sides of a substrate, the substrate inspection apparatus comprising: a body having a space formed therein; A discrimination unit installed at one side of the main body, for discriminating the substrate information by recognizing the substrate; And a second frame which is spaced apart from the first frame and moves in a width direction of the substrate in correspondence with the substrate information, the frame portion supporting the substrate, An inspection module which is moved in the width direction of the substrate in correspondence to the substrate information and is in contact with the substrate and inspects the substrate; an inspection module installed between the first frame part and the second frame part, And transfer means for transferring the substrate in the longitudinal direction of the frame portion.

여기서 상기 판별부는, 상기 기판이 안착되고, 상기 기판을 상기 검사부로 이송시키는 안착부와, 상기 안착부의 상측에 설치되고, X-Y 방향으로 이동하여 상기 기판을 판별하고, 상기 기판의 종류를 인식하는 인식기를 포함할 수 있다.The discrimination unit includes a seating unit on which the substrate is placed and which conveys the substrate to the inspection unit, a discriminator provided on the seating unit for discriminating the substrate by moving in the X and Y directions, . ≪ / RTI >

또한 상기 이송수단은, 상기 제 1 프레임과 상기 제 2프레임에 각각 설치되는 한 쌍의 컨베이어 벨트일 수 있으며, 상기 제 1 프레임과 상기 제 2프레임의 사이에 설치되고, 상기 프레임부의 길이방향으로 이송되는 기판의 위치를 제어하는 스토퍼실린더를 더 포함할 수 있다.The conveying means may be a pair of conveyor belts provided respectively in the first frame and the second frame, and may be provided between the first frame and the second frame, and may be conveyed in the longitudinal direction of the frame portion And a stopper cylinder for controlling the position of the substrate.

또한 상기 검사모듈은, 상기 기판에 접촉되는 일면에 하측방향으로 돌출된 복수개의 검사핀이 구비되고, 상기 검사핀이 상기 기판과 접촉될 수 있다.In addition, the inspection module may include a plurality of inspection pins protruding downward on one surface of the inspection module, the inspection pins contacting the substrate.

또한 상기 검사부는, 상기 본체 내부에 상하로 복수개가 적층될 수 있다. In addition, a plurality of the inspection units may be stacked up and down inside the main body.

또한 상기 기판 검사장치는 상기 본체 내부에 설치되고, 상기 검사부의 일측에 설치되며, 상기 판별부에서 이송된 기판을 승강 및 하강시켜 상기 검사부에 선택적으로 이송하는 승강부를 더 포함할 수 있다.The substrate inspecting apparatus may further include a lift unit installed in the main body and installed on one side of the inspection unit and selectively moving the substrate transferred by the determination unit up and down to the inspection unit.

본 발명에 따른 기판 검사장치에 의하면, According to the substrate inspection apparatus of the present invention,

검사모듈이 다양한 기판의 모델에 대응하여 가변되고, 기판과 접촉되는 검사핀을 공용화하여 다양한 기판 모델의 수용이 가능하다. 이는 검사핀의 교체시간을 절감하고, 기판의 모델에 따라 제작되어야 하는 검사모듈의 제작비용과 유지보수비용을 절감할 수 있다. The inspection module is variable in correspondence with the model of the various boards, and the inspection pins contacting with the boards are commonly used to accommodate various board models. This can reduce the replacement time of the inspection pin and reduce the manufacturing cost and maintenance cost of the inspection module, which must be manufactured according to the model of the substrate.

또한 검사모듈이 적층되어 복수개의 기판을 동시에 검사할 수 있도록 하여 점유공간을 확보하여 공간 이용효율이 높다. In addition, inspection modules are stacked so that a plurality of substrates can be inspected at the same time, thereby ensuring an occupied space, resulting in high space utilization efficiency.

더불어 이송수단과 승강부를 이용하여 기판을 자동적으로 이송시킬 수 있어 작업생산성을 향상시킬 수 있다.In addition, the substrate can be automatically transferred using the transfer means and the elevation portion, so that the productivity of the work can be improved.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사장치를 도시한 단면도,
도 2는 도 1에 나타낸 기판 검사장치의 검사부를 도시한 사시도,
도 3는 도 2에 나타낸 검사부를 도시한 평면도이다.1 is a cross-sectional view of a substrate inspection apparatus according to an embodiment of the present invention,
FIG. 2 is a perspective view showing an inspection unit of the substrate inspection apparatus shown in FIG. 1,
3 is a plan view showing the inspection unit shown in Fig.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 이에 앞서, 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여, 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Prior to this, terms and words used in the present specification and claims should not be construed as limited to ordinary or dictionary terms, and the inventor should appropriately interpret the concepts of the terms appropriately The present invention should be construed in accordance with the meaning and concept consistent with the technical idea of the present invention.

따라서 본 명세서에 기재된 실시 예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 실시예에 불과할 뿐이고, 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들은 대체할 수 있는 균등한 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.Therefore, the embodiments described in the present specification and the configurations shown in the drawings are merely the most preferred embodiments of the present invention, and not all of the technical ideas of the present invention are described. Therefore, at the time of the present application, It should be understood that variations can be made.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도1 내지 도3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 기판 검사장치(10)는, 기판(P)의 전압, 전류, 저항 등의 전기적인 불량의 여부를 검사하기 위한 장치로 본체(100), 판별부(200), 검사부(300)를 포함한다. 여기서 상기 기판(P)은 인쇄회로기판인 PCB(Printed Circuit Board)와 PBA(Printed Board Assembly) 같은 기판 일 수 있으나, 이는 예시적인 것으로서 다른 형태의 기판의 경우에도 적용될 수 있다. 또한 상기 기판(P)을 검사하기 위해서 상기 기판(P)의 양단에 테스트포인트(TestPoint)가 형성되어 있는 것이 바람직하다. 1 to 3, the apparatus for inspecting a substrate 10 according to an embodiment of the present invention is an apparatus for inspecting whether or not an electric defect such as a voltage, a current, A determination unit 200, and an inspection unit 300. [ Here, the substrate P may be a printed circuit board (PCB) and a printed board (PBA) substrate, but this is illustrative and can be applied to other types of substrates. In addition, a test point (Test Point) is preferably formed at both ends of the substrate (P) to inspect the substrate (P).

먼저 상기 본체(100)는 내부에 공간이 형성된 형태이다. 상기 본체(100)의 내부에는 상기 기판(P)을 검사하고 난 후 불량품인 기판(P)이 이송되는 NG buffer(미도시)와 같은 장치와 그에 따른 이송장치가 더 구비될 수 있다. 다만 이는 본 발명의 요지와 무관하므로, 여기서는 자세한 설명을 생략하도록 한다.First, the main body 100 has a space formed therein. An apparatus such as an NG buffer (not shown) in which a defective substrate P is inspected after inspecting the substrate P may be further provided in the body 100 and a conveying device may be further provided. However, this is irrelevant to the gist of the present invention, and a detailed description thereof will be omitted here.

상기 판별부(200)는 상기 기판(P)을 인식하여 기판정보를 판별하는 것으로, 상기 본체(100)의 일측에 설치된다. 이를 위해 상기 판별부(200)는 안착부(210)와 인식기(220)를 포함한다.The discrimination unit 200 recognizes the substrate P and discriminates the substrate information, and is installed on one side of the main body 100. For this, the determination unit 200 includes a seating unit 210 and a recognizer 220.

상기 안착부(210)는 그 상면에 상기 기판(P)이 안착되며, 상기 기판(P)의 종류를 판별하기 위한 위치에서 지지하도록 한다. 또한 상기 기판(P)을 후술(後術) 할 검사부(300)로 이송시킨다. 상기 안착부(210)는 상기 기판(P)의 양단을 지지하는 벨트로 구성되는 것이 바람직하며, 상기 벨트를 통해 상기 검사부(300)로 이송될 수 있다. 상기 벨트가 상기 기판(P)의 양단을 지지하도록하여 상기 기판(P)의 상측 및 하측에 설치된 부품, 배선, 전자칩이 외부와 간섭되지 않고 안전하게 검사부(300)로 이송시킬 수 있다.The mounting part 210 has the upper surface thereof on which the substrate P is mounted and is supported at a position for discriminating the type of the substrate P. [ And transfers the substrate P to the inspection unit 300 to be described later. The seating part 210 is preferably composed of a belt for supporting both ends of the substrate P and may be transferred to the inspection part 300 through the belt. The belt can support both ends of the substrate P so that the components, wiring, and electronic chips installed on the upper side and the lower side of the substrate P can be safely transported to the inspection unit 300 without interfering with the outside.

상기 인식기(220)는 상기 기판(P)의 종류를 판별하기 위한 것으로, 상기 안착부(210)의 상측에 이격되어 설치된다. 상기 인식기(220)는 X-Y 방향으로 이동하여 상기 기판(P)에 인쇄된 바코드를 스캔(Scan)한다. 이를 통해 상기 기판(P)의 종류를 인식하며, 기판정보를 판별하도록 한다. 상기한 바와 같이 기판(P)의 바코드를 스캔하여 인식하는 것이 바람직하지만, 이는 예시적인 것으로서 비전(Vision)을 통하여 형상을 인식하여 기판정보를 판별할 수도 있다.The recognizer 220 is provided to discriminate the type of the substrate P and is spaced apart from the seating part 210. The recognizer 220 moves in the X-Y direction to scan a barcode printed on the substrate P. [ Thereby recognizing the type of the substrate P and discriminating the substrate information. As described above, it is preferable that the barcode of the substrate P be scanned and recognized. However, the barcode may be recognized by recognizing the shape through a vision, for example.

도 2와 도 3을 참조하면, 상기 검사부(300)는 상기 기판(P)을 검사하기 위한 것으로, 프레임부(310), 검사모듈(320), 이송수단(330)을 포함한다.Referring to FIGS. 2 and 3, the inspection unit 300 includes a frame unit 310, an inspection module 320, and a conveying unit 330 for inspecting the substrate P. Referring to FIG.

상기 프레임부(310)는 상기 판별부(200)로부터 이송된 상기 기판(P)을 지지하도록 한다. 이를 위해 상기 프레임부(310)는 제 1 프레임(311)과 제 2프레임(312)을 포함한다.The frame unit 310 supports the substrate P transferred from the discrimination unit 200. For this, the frame unit 310 includes a first frame 311 and a second frame 312.

상기 제 1프레임(311)과 상기 제 2프레임(312)은 이격되어 설치된다. 또한 상기 제 2프레임(312)은 상기 판별부(200)에서 인식한 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판(P)의 폭 방향으로 이동한다. 즉 상기 제 2프레임(312)은 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판(P)의 폭 방향으로 이동가능하며, 이를 통해 상기 제 1프레임(311)과의 이격거리가 가변되도록 한다. 상기 제 2프레임(312)이 이동함에 따라 다양한 종류의 기판(P)이 지지될 수 있다. 여기서 상기한 바와 같이 상기 프레임부(310)가 상기 기판(P)을 지지할 때 상기 제 1 프레임(311)은 고정되도록 하여 기준점이 되는 것이 바람직하다. 또한 상기 제 2프레임(312)이 이동하여 상기 제 1프레임(311)과의 이격거리가 가변하고, 이를 통해 상기 기판(P)을 지지하도록 하는 것이 바람직하다. 하지만 이는 예시적인 것으로서 상기 제 1프레임(311)과 상기 제 2프레임(312)이 상기 판별부(200)에서 인식한 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판(P)의 폭 방향으로 함께 이동 될 수 있다. The first frame 311 and the second frame 312 are spaced apart from each other. The second frame 312 moves in the width direction of the substrate P corresponding to the substrate information recognized by the determination unit 200. That is, the second frame 312 is movable in the width direction of the substrate P in correspondence with the substrate information, and the distance between the second frame 312 and the first frame 311 is variable. As the second frame 312 moves, various types of substrates P can be supported. As described above, when the frame unit 310 supports the substrate P, it is preferable that the first frame 311 is fixed to be a reference point. Also, the second frame 312 may be moved to vary the distance from the first frame 311 to support the substrate P through the second frame 312. However, the first frame 311 and the second frame 312 may be moved together in the width direction of the substrate P corresponding to the substrate information recognized by the determination unit 200 .

상기 검사모듈(320)은 상기 프레임부(310)의 상측에 설치된다. 상기 제 2프레임(312)이 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판(P)의 폭 방향으로 이동됨에 따라 상기 검사모듈(320)은 함께 이동된다. 상기 검사모듈(320)은 이동되어 상기 기판(P)과 접촉되고, 상기 기판(P)을 검사한다. 이를 위해 상기 검사모듈(320)은 검사핀(321)이 구비된다.The inspection module 320 is installed on the upper side of the frame part 310. As the second frame 312 moves in the width direction of the substrate P corresponding to the substrate information, the inspection module 320 moves together. The inspection module 320 is moved to contact the substrate P and inspects the substrate P. [ For this, the inspection module 320 is provided with an inspection pin 321.

상기 검사핀(321)은 상기 검사모듈(320)의 상기 기판(P)에 접촉되는 일면에 하측방향으로 돌출되는 것이 바람직하다. 또한 상기 검사핀(321)은 복수개가 구비되는 것이 바람직하며, 상기 검사핀(321)이 상기 기판(P)과 접촉되어 상기 기판(P)의 전압, 전류, 저항 등을 검사한다. 즉 상기 검사핀(321)이 상기 기판(P)의 테스트포인트에 접촉하며, 이를 통해 상기 기판(P)에 전류를 흐르게 하여 불량 여부를 검출하여 검사한다. 여기서 상기 테스트포인트의 위치는 상기 기판(P)의 양단에 형성되어 있도록 하고, 상기 테스트포인트는 기판(P)의 종류와 상관없이 통일된 형태인 것이 바람직하다. 이를 통해 상기 검사핀(321)은 다양한 종류의 기판(P)에 대응하여 접촉이 가능하다. 따라서 상기 검사모듈(320)로 다양한 종류의 기판(P)을 검사할 수 있다.The inspection pin 321 may protrude downward on a surface of the inspection module 320 that contacts the substrate P. [ It is preferable that a plurality of the inspection pins 321 are provided, and the inspection pins 321 are brought into contact with the substrate P to inspect the voltage, current, resistance, etc. of the substrate P. That is, the inspection pin 321 is brought into contact with the test point of the substrate P, and a current is supplied to the substrate P through the inspection pin 321 to detect and inspect the defect. Here, it is preferable that the positions of the test points are formed at both ends of the substrate P, and the test points are unified regardless of the type of the substrate P. Accordingly, the inspection pins 321 can contact the various types of substrates P in a corresponding manner. Therefore, the inspection module 320 can inspect various types of substrates P.

상기 이송수단(330)은 상기 기판(P)을 상기 프레임부(310)의 길이방향으로 이송시킨다. 이를 위해 상기 이송수단(330)은 상기 제 1프레임(311)과 상기 제 2프레임(312)의 사이에 설치된다. 상기 이송수단(330)은 상기 제 1 프레임(311)과 상기 제 2프레임(312)에 각각 설치되는 한 쌍의 컨베이어 벨트인 것이 바람직하다. 상기 한 쌍의 컨베이어 벨트의 상면에 상기 기판(P)이 안착되어 슬라이드 이동되도록 한다. 즉 상기 이송수단(330)은, 상기 제 1프레임과 상기 제 2프레임에 각각 설치되며, 그 상면에 상기 기판(P)이 안착될 수 있다. 상기 기판(P)은 상기 이송수단(330)을 통해 상기 검사모듈(320)에 접촉되기 위한 위치로 이송된다. 상기 이송수단(330)이 상기 제 1프레임(311)과 상기 제 2프레임(312)에 각각 설치되어 상기 기판(P)의 양단을 지지하도록 함으로써 상기 기판(P)에 상측 및 하측에 설치되는 저항, 배선, 전자칩 등의 부품이 외부와 간섭되지 않으며, 이를 통해 상기 기판(P)을 안전하게 이송시킬 수 있다.The transfer unit 330 transfers the substrate P in the longitudinal direction of the frame unit 310. To this end, the conveying means 330 is installed between the first frame 311 and the second frame 312. It is preferable that the conveying means 330 is a pair of conveyor belts installed in the first frame 311 and the second frame 312, respectively. So that the substrate P is seated on the upper surfaces of the pair of conveyor belts and slidably moved. That is, the transfer means 330 is installed on the first frame and the second frame, respectively, and the substrate P can be seated on the upper surface thereof. The substrate P is transferred to a position for contacting the inspection module 320 through the transfer means 330. The transfer means 330 is installed on the first frame 311 and the second frame 312 so as to support both ends of the substrate P so that the resistances provided on the upper and lower sides of the substrate P , Wiring, electronic chip, and the like are not interfered with the outside, so that the substrate P can be safely transported.

또한 상기 이송수단(330)은 스토퍼실린더(331)를 더 포함할 수 있다. 상기 스토퍼실린더(331)는 상기 제 1 프레임(311)과 상기 제 2프레임(312)의 사이에 설치된다. 상기 스토퍼실린더(311)는 상기 기판(P)이 상기 프레임부(310)의 길이방향으로 이송될 때 상기 검사모듈(320)과 접촉가능한 적절한 위치에 오도록 기판(P)의 위치를 제어한다. 즉 상기 스토퍼실린더(331)는 상측으로 인장하는 슬라이딩 이동이 가능하며, 인장된 스토퍼실린더(331)에 의해 상기 기판(P)이 상기 프레임부(310)의 길이방향으로 이동되는 것이 제한된다. 이를 통해 상기 기판(P)의 위치를 제어할 수 있다. 부연하면, 상기 스토퍼실린더(331)는 상기 기판(P)의 검사가 끝난 후 다시 하측으로 수축하여 기판(P)의 이동을 제한하지 않도록 하고, 상기 기판(P)은 다음 공정으로 이송될 수 있다.The transfer means 330 may further include a stopper cylinder 331. The stopper cylinder 331 is installed between the first frame 311 and the second frame 312. The stopper cylinder 311 controls the position of the substrate P such that the stopper cylinder 311 is positioned at a proper position where the substrate P can contact the inspection module 320 when the substrate P is transported in the longitudinal direction of the frame part 310. That is, the stopper cylinder 331 is slidable upward and the movement of the substrate P in the longitudinal direction of the frame unit 310 is restricted by the tensioned stopper cylinder 331. Whereby the position of the substrate P can be controlled. The stopper cylinder 331 does not restrict the movement of the substrate P after the inspection of the substrate P is finished and then the substrate P is retracted downward so that the substrate P can be transferred to the next process .

한편, 이러한 상기 검사부(300)는 상기 본체(100) 내부에 상하로 복수개가 적층될 수 있다. 즉 복수개로 적층된 상기 검사부(300)는, 복수개의 기판(P)을 동시에 검사할 수 있으며, 이를 통해 점유공간을 확보하고, 생산효율이 높은 상기 기판 검사장치(10)를 제공할 수 있다. 이를 위해 상기 기판 검사장치(10)는 승강부(400)를 더 포함할 수 있다.The inspection unit 300 may be vertically stacked in the main body 100. That is, the inspection unit 300, which is stacked in a plurality of units, can simultaneously inspect a plurality of substrates P, thereby securing an occupied space and providing the substrate inspection apparatus 10 with high production efficiency. The substrate inspection apparatus 10 may further include a lifting unit 400.

상기 승강부(400)는 상기 본체(100) 내부에 설치되고, 상기 판별부(200)와 연결되어 상기 기판(P)을 상기 검사부(300)로 이송시킨다. 여기서 상기 검사부(300)는 복수개가 적층되어 있는 것이 적합하며, 상기 승강부(400)는 상기 검사부(300)의 일측과 연결되는 것이 바람직하다. 상기 승강부(400)는 상기 판별부(200)에서 이송된 기판(P)을 승강 및 하강시키고, 상기 기판(P)을 상기 검사부(300)에 선택적으로 이송한다. 부연하면 상기 승강부(400)가 상기 기판(P)을 이송할　때, 적층되어 있는 상기 검사부(300)중에서 기판(P)의 검사가 진행되지 않고 있는 검사부(300)를 판별하여 상측방향부터 하측방향으로 순차적으로 이송하는 것이 바람직하다. 여기서 상기 검사부(300)의 상측방향부터 하측방향으로 순차적으로 이송하는 것은 예시적인 적으로서 하측방향부터 상측방향으로 이송할 수도 있다. 즉, 상기 승강부(400)는 이송시킬 상기 검사부(300)의 위치에 대응하여 자동적으로 이송높이를 조절할 수 있으며, 상기한 바와 같은 자동화 과정을 통해 작업생산성을 높일 수 있다. The ascending and descending unit 400 is installed in the main body 100 and connected to the determining unit 200 to transfer the substrate P to the inspection unit 300. Here, it is preferable that a plurality of the inspection units 300 are stacked, and the elevation unit 400 is connected to one side of the inspection unit 300. The ascending and descending unit 400 ascends and descends the substrate P transferred from the determining unit 200 and selectively transfers the substrate P to the inspection unit 300. When the elevating part 400 transfers the substrate P, the inspection part 300 which is not inspected of the substrate P among the stacked inspection parts 300 is discriminated, In the direction of the arrow. Here, it is possible to convey the inspection unit 300 sequentially from the upper side to the lower side, for example, from the lower side to the upper side. That is, the elevation part 400 can automatically adjust the conveyance height corresponding to the position of the inspection part 300 to be conveyed, and the productivity of the work can be improved through the above-described automation process.

상기한 바와 같은 본 발명에 따른 기판 검사장치(10)에 의하면, 검사모듈(320)이 다양한 기판(P)의 모델에 대응하여 가변되고, 기판(P)과 접촉되는 검사핀(321)을 공용화하여 다양한 기판(P) 모델의 수용이 가능하다. 이는 검사핀(321)의 교체시간을 절감하고, 기판의 모델에 따라 제작되어야 하는 검사모듈(320)의 제작비용과 유지보수비용을 절감할 수 있다.According to the substrate inspection apparatus 10 of the present invention as described above, the inspection module 320 is varied in correspondence with the model of the various substrates P, and the inspection pins 321 which are in contact with the substrate P are shared To accommodate various substrate (P) models. This can reduce the replacement time of the inspection pins 321 and reduce the manufacturing cost and the maintenance cost of the inspection module 320 that must be manufactured according to the model of the substrate.

또한 검사모듈(320)이 적층되어 복수개의 기판(P)을 동시에 검사할 수 있도록 하여 점유공간을 확보하여 공간 이용효율이 높다. In addition, the inspection module 320 is stacked so that a plurality of substrates P can be inspected at the same time, thereby occupying an occupied space.

더불어 이송수단(330)과 승강부(400)를 이용하여 기판(P)을 자동적으로 이송시킬 수 있어 작업생산성을 향상시킬 수 있다.In addition, the substrate P can be automatically transferred using the transfer unit 330 and the elevation unit 400, thereby improving work productivity.

본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 다른 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.While the present invention has been described with reference to exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but, on the contrary, is intended to cover various modifications and equivalent arrangements included within the spirit and scope of the appended claims. Accordingly, the true scope of the present invention should be determined by the technical idea of the appended claims.

10 : 기판 검사장치 100 : 본체
200 : 판별부 210 : 안착부
220 : 인식기 300 : 검사부
310 : 프레임부 311 : 제 1프레임
312 : 제 2프레임 320 : 검사모듈
321 : 검사핀 330 : 이송수단 331 : 스토퍼실린더 400 : 승강부
P : 기판10: Substrate testing apparatus 100:
200: discrimination unit 210: seat part
220: recognizer 300:
310: frame part 311: first frame
312: second frame 320: inspection module
321: Test pin 330: Feeding means 331: Stopper cylinder 400:
P: substrate

Claims (7)

기판의 양부를 검사하는 기판 검사장치에 있어서,
내부에 공간이 형성된 본체;
상기 본체의 일측에 설치되고, 상기 기판을 인식하여 기판정보를 판별하는 판별부; 및
제 1프레임과, 상기 제 1프레임과 이격되고 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판의 폭 방향으로 이동하는 제 2프레임을 포함하고, 상기 기판을 지지하는 프레임부,
상기 프레임부의 상측에 설치되고, 상기 기판정보에 대응하여 상기 기판의 폭방향으로 이동되어 상기 기판과 접촉하고, 상기 기판을 검사하는 검사모듈,
상기 제 1프레임과 상기 제 2프레임의 사이에 설치되고, 상기 판별부에서 이송된 기판을 상기 프레임부의 길이방향으로 이송시키는 이송수단을 포함하는 검사부를 포함하고,
상기 판별부는,
상기 기판의 양단을 지지하도록 상기 기판이 안착되고, 상기 기판을 상기 검사부로 이송시키는 안착부와,
상기 안착부의 상측에 설치되고, X-Y 방향으로 이동하여 상기 기판을 판별하고, 상기 기판의 종류를 인식하는 인식기를 포함하며,
상기 검사모듈은,
상기 기판에 접촉되는 일면에 하측방향으로 돌출된 복수개의 검사핀이 구비되고, 상기 검사핀이 상기 기판과 접촉되는 기판 검사장치. A substrate inspection apparatus for inspecting both sides of a substrate,
A body having a space formed therein;
A discrimination unit installed at one side of the main body, for discriminating the substrate information by recognizing the substrate; And
And a second frame that is spaced apart from the first frame and moves in the width direction of the substrate in correspondence with the substrate information,
An inspection module installed on the frame part and moving in the width direction of the substrate in correspondence with the substrate information to make contact with the substrate and inspect the substrate,
And a conveying unit that is provided between the first frame and the second frame and conveys the substrate conveyed by the discriminating unit in the longitudinal direction of the frame unit,
Wherein,
A mounting portion on which the substrate is mounted to support both ends of the substrate, and which transfers the substrate to the inspection portion;
And a recognizer for recognizing the type of the substrate, wherein the recognizer recognizes the substrate by moving in the X and Y directions,
The inspection module comprises:
Wherein a plurality of inspection pins protruding downward are provided on one surface of the substrate in contact with the substrate, and the inspection pins are brought into contact with the substrate. 삭제delete 청구항 1에 있어서,
상기 이송수단은,
상기 제 1 프레임과 상기 제 2프레임에 각각 설치되는 한 쌍의 컨베이어 벨트인 기판 검사장치.The method according to claim 1,
The conveying means
And a pair of conveyor belts provided respectively in the first frame and the second frame. 청구항 1에 있어서,
상기 이송수단은,
상기 제 1 프레임과 상기 제 2프레임의 사이에 설치되고, 상기 프레임부의 길이방향으로 이송되는 기판의 위치를 제어하는 스토퍼실린더를 더 포함하는 기판 검사장치. The method according to claim 1,
The conveying means
And a stopper cylinder provided between the first frame and the second frame for controlling the position of the substrate to be transported in the longitudinal direction of the frame portion. 삭제delete 청구항 1, 청구항 3, 청구항 4 중 어느 한 항에 있어서,
상기 검사부는,
상기 본체 내부에 상하로 복수개가 적층되는 기판 검사장치. The method of claim 1, 3, or 4,
Wherein,
And a plurality of upper and lower substrates are stacked in the main body. 청구항 6에 있어서,
상기 본체 내부에 설치되고, 상기 검사부의 일측에 설치되며, 상기 판별부에서 이송된 기판을 승강 및 하강시켜 상기 검사부에 선택적으로 이송하는 승강부를 더 포함하는 기판 검사장치.The method of claim 6,
Further comprising a lift unit installed in the main body and installed at one side of the inspection unit for selectively lifting and lowering the substrate transferred by the determination unit and transferring the substrate to the inspection unit.
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