KR101701356B1 - Sputtering device and method for depositing side of substrate easily - Google Patents

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Abstract

본 발명은 스퍼터링 장치 및 스퍼터링 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 기재의 측면 증착이 용이하여 기재의 외면을 고루 증착할 수 있는 스퍼터링 장치 및 스퍼터링 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a sputtering apparatus and a sputtering method, and more particularly, to a sputtering apparatus and a sputtering method capable of easily depositing an outer surface of a substrate by side deposition of the substrate.

Description

기재의 측면 증착이 용이한 스퍼터링 장치 및 스퍼터링 방법{Sputtering device and method for depositing side of substrate easily}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sputtering apparatus and a sputtering method,

본 발명은 스퍼터링 장치 및 스퍼터링 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 기재의 측면 증착이 용이하여 기재의 외면을 고루 증착할 수 있는 스퍼터링 장치 및 스퍼터링 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a sputtering apparatus and a sputtering method, and more particularly, to a sputtering apparatus and a sputtering method capable of easily depositing an outer surface of a substrate by side deposition of the substrate.

스퍼터링(Sputtering)은 반도체, 디스플레이, MEMS 등과 같은 최첨단 산업에서 널리 이용되고 있는 박막 증착법 중 하나이다.Sputtering is one of the thin film deposition methods widely used in cutting-edge industries such as semiconductors, displays, and MEMS.

일반적으로 스퍼터링 장치는 진공 챔버와 진공 챔버 내부에 증착물질을 비산시키기 위한 타겟(target)으로 구성되며, 타겟에 대향하는 위치에 증착을 위한 기재가 놓인 후 스퍼터링이 수행된다.Generally, a sputtering apparatus is composed of a vacuum chamber and a target for scattering the deposition material inside the vacuum chamber, and a substrate for deposition is placed at a position opposite to the target, and then sputtering is performed.

또한, 스퍼터링의 원리는 진공 챔버 내부에 이온화된 플라즈마가 타겟에 충돌하고, 타겟의 증착물질이 기재로 낙하하여 퇴적됨으로으로써 증착이 이루어진다.Further, the principle of sputtering is that the ionized plasma collides with the target inside the vacuum chamber, and the deposition of the target is carried out by causing the deposition material of the target to fall and deposit on the substrate.

최근 타겟 내부에 마그네트를 구비하여 이온화된 플라즈마가 타겟으로 끌여당겨지는 속도를 가속함으로써 스퍼터링 효율을 향상시키기 위한 스퍼터링 장치가 개발되기도 하였다.Recently, a sputtering apparatus for improving sputtering efficiency has been developed by providing a magnet in a target and accelerating the rate at which an ionized plasma is drawn to a target.

한편, 스퍼터링은 증착물질이 타겟에서 이탈되어 자유낙하하거나 플라즈마 이온이 충돌하는 방향으로 비산되므로 증착물질이 소정의 방향성을 가지고 비산한다고 할 수 있는데, 두께가 있는 판상의 기재의 경우 증착물질이 주로 상면에만 퇴적되어 측면 증착이 용이하지 않은 문제점이 있다.On the other hand, in the case of sputtering, the evaporation material is scattered in the direction of free fall or collision with the plasma ions due to separation of the evaporation material from the target, So that side deposition is not easy.

즉, 두께가 있는 판상의 기재의 상면과 측면을 고른 두께로 증착하기 어려운 문제점이 있다.That is, there is a problem that it is difficult to vapor-deposit the upper and side surfaces of the plate-like base material with a uniform thickness.

[선행기술문헌][Prior Art Literature]

[특허문헌][Patent Literature]

1. 한국등록특허 제1113303호, '원통형 스퍼터링 캐소드'1. Korean Patent No. 1113303, 'Cylindrical Sputtering Cathode'

2. 한국등록특허 제1160680호, '원통형 스퍼터링 캐소드'2. Korean Patent No. 1160680, 'Cylindrical Sputtering Cathode'

3. 한국등록특허 제1089372호, '원통형 스퍼터링 캐소드 및 이를 구비한 스퍼터링 장치'
3. Korean Patent No. 1089372, 'Cylindrical Sputtering Cathode and Sputtering Apparatus Including It'

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로 본 발명의 목적은 두께가 있는 기재의 상면 및 측면을 고른 두께로 증착할 수 있어 증착품질을 매우 향상시킬 수 있는 스퍼터링 장치 및 스퍼터링 방법을 제공하는 데 있다.
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a sputtering apparatus and a sputtering method capable of depositing the upper and side surfaces of a base material with a uniform thickness, There is.

본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
The objects of the present invention are not limited to the above-mentioned objects, and other objects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기의 목적을 달성하기 위하여 본 발명은 진공챔버와 상기 진공챔버 내에 구비되고 외측에 코팅된 증착물질을 기재를 향해 비산시켜 증착되게 하는 타겟을 포함하는 스퍼터링 장치에 있어서, 상기 진공챔버 내에서 상기 타겟과 대향하는 위치에 구비되며, 상기 기재를 상기 진공챔버 내부 일측에서 타측으로 이동시켜 상기 증착물질이 비산하는 영역을 지나가게 하는 기재 이송 수단; 및 상기 기재 이송 수단에 구비되고, 상기 기재가 상기 기재 이동 수단에 놓이는 자세를 제어하는 자세 제어 수단;을 포함하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a sputtering apparatus including a vacuum chamber and a target disposed in the vacuum chamber and sputtering an evaporated material coated on the outside toward a substrate, A substrate transporting means provided at a position opposite to the substrate transporting means for moving the substrate from one side of the vacuum chamber to the other side so as to pass the region where the deposition material is scattered; And an attitude control means provided in the substrate transporting means for controlling an attitude of the substrate placed on the substrate moving means.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 기재는 소정의 높이가 있고 측면에 절곡된 모서리가 있는 기재이며, 상기 자세 제어 수단은 상기 기재의 모서리가 기재 이송 방향을 향하도록 자세를 제어한다.In a preferred embodiment, the substrate is a substrate having a predetermined height and an edge bent at a side thereof, and the posture control means controls the posture such that the edge of the substrate faces the substrate transport direction.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 자세 제어 수단은 상기 기재의 모서리 하단을 소정 높이 상부로 들어올려 상기 기재의 모서리가 기재 이송 방향의 상부를 향하도록 자세를 제어한다.In a preferred embodiment, the posture control means lifts the lower edge of the base of the base material up to a predetermined height, and controls the posture so that the edge of the base material faces the upper portion in the substrate transport direction.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 기재 이송 수단은 상기 기재를 상기 진공챔버 내부 일측에서 타측으로, 타측에서 일측으로 왕복이동시켜 상기 증착물질이 비산하는 영역을 소정 횟수 지나가게 한다.In a preferred embodiment, the substrate transporting means reciprocates the substrate from one side of the vacuum chamber to the other side and reciprocates from one side to the other side, so that the region where the evaporation material is scattered passes a predetermined number of times.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 자세 제어 수단은 상기 기재가 왕복이동할 때, 기재 이송 방향을 향하는 상기 기재의 일 측면이 기재 이송 방향의 상부를 향하도록 상기 기재의 일 측면과 타 측면 하단을 번갈아 상부로 들어올려 자세를 제어한다.In a preferred embodiment, the posture control means alternately turns the one side surface and the other side surface lower side of the substrate so that one side surface of the substrate facing the substrate conveyance direction faces the upper side in the substrate conveyance direction when the substrate reciprocates Lift to control posture.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 타겟:은, 외측에 증착물질이 코팅되고 회전축이 기재 이송 방향과 교차하는 방향을 향하도록 위치하는 캐소드; 및 상기 캐소드의 내측에 구비되고 상기 회전축에서 소정의 방향을 향해 방향성을 가지고 자기장을 형성하며, 자기장이 형성된 방향으로 증착물질이 비산하게 하는 마그네트;를 포함한다.In a preferred embodiment, the target includes: a cathode coated with an evaporation material on its outer side and positioned such that its rotation axis is in a direction crossing the substrate transport direction; And a magnet disposed on the inner side of the cathode and forming a magnetic field with a direction toward the predetermined direction on the rotation axis and causing the evaporation material to scatter in a direction in which the magnetic field is formed.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 마그네트는 상기 캐소드에 고정되고, 상기 캐소드는 상기 마그네트의 자기장이 이송되는 기재를 향하도록 회전한다.In a preferred embodiment, the magnet is fixed to the cathode, and the cathode rotates so that the magnetic field of the magnet faces the substrate to which it is transferred.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 마그네트는 상기 캐소드와 분리되고, 상기 마그네트는 형성되는 자기장이 이송되는 기재를 향하도록 상기 캐소드 내부에서 회전할 수 있다.In a preferred embodiment, the magnet is separated from the cathode, and the magnet can rotate within the cathode so that the magnetic field being formed is directed to the substrate being transported.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 마그네트는 기재 이송 라인 상에 서로 다른 위치를 바라보는 복수 개의 마그네트로 구성될 수 있다.In a preferred embodiment, the magnet may be composed of a plurality of magnets facing different positions on the substrate transfer line.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 타겟은 기재 이송 방향으로 서로 이격되어 위치하는 복수의 타겟들로 구성될 수 있다.In a preferred embodiment, the target may be composed of a plurality of targets spaced apart from each other in the substrate transport direction.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 캐소드는 회전축에 대한 수직단면이 원형인 원통형 캐소드이다.In a preferred embodiment, the cathode is a cylindrical cathode having a circular cross section perpendicular to the axis of rotation.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 캐소드는 회전축에 대한 수직단면이 다격형인 다각기둥형 캐소드일 수 있다.In a preferred embodiment, the cathode may be a polygonal columnar cathode with a vertical cross section perpendicular to the axis of rotation.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 다각기둥형 캐소드는 외부 일면이 이동하는 기재를 바라보도록 회전한다.In a preferred embodiment, the polycrystalline cathode is rotated so that the outer surface thereof faces the moving substrate.

또한, 본 발명은 상기 스퍼터링 장치에 의해 증착된 증착층을 갖는 디스플레이 패널, 터치 패널, LED 소자, 태양전지패널을 더 제공할 수 있다.In addition, the present invention can further provide a display panel, a touch panel, an LED device, and a solar cell panel having a deposition layer deposited by the sputtering apparatus.

또한, 본 발명은 상기 스퍼터링 장치를 이용하여 스퍼터링 공정을 수행하는 스퍼터링 방법으로서, 소정의 높이가 있고 측면에 절곡된 모서리를 갖는 기재를 상기 진공 챔버의 내부 일측에 위치하도록 상기 기재 이송 수단에 올려놓되 상기 기재의 모서리가 이송방향으로 향하도록 올려놓는 단계; 및 상기 타겟에서 증착물질이 비산하게 하고, 상기 기재를 상기 증착물질이 비산하는 영역을 거쳐 상기 진공 챔버의 내부 타측으로 이송시켜 상기 기재의 외면에 증착물질이 증착되게 하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 방법을 더 제공한다.The present invention also provides a sputtering method for performing a sputtering process using the sputtering apparatus, wherein a substrate having a predetermined height and a corner bent at a side thereof is placed on the substrate transporting means so as to be located at one side of the inside of the vacuum chamber Placing the edge of the substrate so as to face in the transport direction; And depositing a deposition material on an outer surface of the substrate by causing the deposition material to scatter in the target and transferring the substrate to the other side of the vacuum chamber through a region where the deposition material is scattered To the sputtering target.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 증착물질이 증착되게 하는 단계는, 상기 진공 챔버의 내부 일측에서 타측, 타측에서 일측으로 상기 기재를 왕복이동시키는 과정을 포함한다.In a preferred embodiment, the step of depositing the deposition material includes reciprocating the substrate from one side of the inside of the vacuum chamber to the other side of the substrate.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 기재 이송 수단에 기재를 올려놓는 단계는, 상기 기재의 이송 방향 하단을 소정 높이 들어올려, 상기 기재의 이송 방향 측면이 기재 이송 방향의 상부를 향하도록 한다.In a preferred embodiment of the present invention, the step of placing the substrate on the substrate transporting means includes raising the lower end of the substrate in the transport direction to a predetermined height so that the transport direction side of the substrate faces the upper portion of the substrate transport direction.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 증착물질이 증착되게 하는 단계는, 상기 기재가 왕복이동할 때, 기재 이송 방향을 향하는 상기 기재의 일 측면이 기재 이송 방향의 상부를 향하도록 상기 기재의 일 측면과 타 측면 하단을 번갈아 상부로 들어올려 증착되게 한다.In a preferred embodiment, the step of depositing the evaporation material is performed such that, when the substrate reciprocates, one side surface of the substrate facing the substrate transport direction faces one side of the substrate and the other side The bottom is alternately lifted up to the top.

바람직한 실시예에 있어서, 상기 증착물질이 증착되게 하는 단계는, 상기 기재가 이동할 때, 상기 타겟에서 발생하는 자기장이 상기 기재를 향하도록 자기장의 발생방향을 가변한다.
In a preferred embodiment, the step of causing the deposition material to be deposited varies the direction in which the magnetic field is generated so that the magnetic field generated in the target is directed toward the substrate when the substrate moves.

본 발명은 다음과 같은 우수한 효과를 가진다.The present invention has the following excellent effects.

본 발명의 스퍼터링 장치 및 스퍼터링 방법에 의하면, 기재의 측면 모서리가 증착 물질이 비산하는 방향 바라보도록 자세를 제어할 수 있으므로 측면과 상면을 고른 두께로 증착할 수 있는 장점이 있다.
According to the sputtering apparatus and the sputtering method of the present invention, since the posture can be controlled so that the side edges of the substrate face the direction in which the evaporation material is scattered, the side and top surfaces can be deposited with uniform thickness.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 구성도,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치에서 기재가 일측에서 타측으로 이동하며 증착되는 것을 설명하기 위한 도면,
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치에서 기재가 타측에서 일측으로 이동하며 증착되는 것을 설명하기 위한 도면,
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 전체 공정예를 설명하기 위한 도면,
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 마그네트의 다른 예를 보여주는 도면,
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 타겟의 다른 예를 보여주는 도면,
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치의 캐소드의 다른 예를 보여주는 도면이다.
FIG. 1 is a configuration diagram of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention,
FIG. 2 is a view for explaining deposition of a substrate in a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention,
3 is a view for explaining deposition of a substrate moving from one side to the other side in a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention;
4 is a view for explaining an overall process example of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention.
5 is a view showing another example of a magnet of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention,
6 is a view showing another example of a target of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention;
7 is a view showing another example of a cathode of a sputtering apparatus according to an embodiment of the present invention.

본 발명에서 사용되는 용어는 가능한 현재 널리 사용되는 일반적인 용어를 선택하였으나, 특정한 경우는 출원인이 임의로 선정한 용어도 있는데 이 경우에는 단순한 용어의 명칭이 아닌 발명의 상세한 설명 부분에 기재되거나 사용된 의미를 고려하여 그 의미가 파악되어야 할 것이다.Although the terms used in the present invention have been selected as general terms that are widely used at present, there are some terms selected arbitrarily by the applicant in a specific case. In this case, the meaning described or used in the detailed description part of the invention The meaning must be grasped.

이하, 첨부한 도면에 도시된 바람직한 실시예들을 참조하여 본 발명의 기술적 구성을 상세하게 설명한다.Hereinafter, the technical structure of the present invention will be described in detail with reference to preferred embodiments shown in the accompanying drawings.

그러나, 본 발명은 여기서 설명되는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화 될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐 동일한 참조번호는 동일한 구성요소를 나타낸다.
However, the present invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms. Like reference numerals designate like elements throughout the specification.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치를 보여주는 것으로, 도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 스퍼터링 장치(100)는 진공 챔버(110), 타겟(120), 기재 이송 수단(130) 및 자세 제어 수단(140)을 포함하여 이루어진다.1, a sputtering apparatus 100 according to an exemplary embodiment of the present invention includes a vacuum chamber 110, a target 120, (130) and an attitude control means (140).

또한, 본 발명은 상기 스퍼터링 장치(100)와는 별도로 상기 스퍼터링 장치(100)에 의해 증착된 증착층을 갖는 기재를 더 제공할 수 있다.Further, the present invention may further provide a substrate having a deposition layer deposited by the sputtering apparatus 100 separately from the sputtering apparatus 100.

또한, 상기 기재는 예를 들면, 디스플레이 패널, 터치 패널, LED소자(패널), 태양전지패널일 수 있고, 상기 증착층은 전극층, 반사 방지층, 보호층 등일 수 있다. 또한, 상기 디스플레이 패널은 LCD패널, OLED패널 등을 포함한다.The substrate may be, for example, a display panel, a touch panel, an LED device (panel), or a solar cell panel. The deposition layer may be an electrode layer, an antireflection layer, a protective layer, or the like. The display panel includes an LCD panel, an OLED panel, and the like.

상기 진공 챔버(110)는 내부에 진공 분위기를 형성할 수 있는 챔버이며, 스퍼터링 공정의 위해 기재가 놓일 수 있는 공간을 제공한다.The vacuum chamber 110 is a chamber capable of forming a vacuum atmosphere therein, and provides a space in which a substrate for a sputtering process can be placed.

또한, 도시하지는 않았으나 상기 챔버(110)에는 상기 챔버(110) 내부를 진공 상태로 만들어주기 위한 진공 펌프와 플라즈마 형성을 위해 가스를 공급하는 가스 공급장치가 구비될 수 있다.Although not shown, the chamber 110 may be provided with a vacuum pump for evacuating the inside of the chamber 110 and a gas supply device for supplying gas for plasma formation.

상기 타겟(120)은 상기 진공 챔버(110) 내부에 구비되고, 외측에 증착을 위한 재료물질인 증착 물질이 코팅된다.The target 120 is provided inside the vacuum chamber 110, and an evaporation material, which is a material for deposition, is coated on the outside.

또한, 상기 타겟(120)은 회전축이 기재 이송 방향과 교차하는 방향(예를 들면 직교하는 방향)을 향하도록 구비된다.Further, the target 120 is provided such that the rotation axis thereof is directed in a direction (for example, orthogonal direction) crossing the substrate transport direction.

또한, 상기 타겟(120)은 외측에 증착물질이 코팅되는 캐소드(121) 및 상기 캐소드(121)의 내부에 구비되고 상기 캐소드(121)의 회전축과 교차하는 방향을 향해 자기장을 형성하는 마그네트(122)를 포함한다.The target 120 includes a cathode 121 coated with an evaporation material on the outside and a magnet 122 disposed inside the cathode 121 and forming a magnetic field in a direction crossing the axis of rotation of the cathode 121 ).

또한, 상기 캐소드(121)는 도 1에 도시한 바와 같이 회전축에 대한 수직단면이 원형인 원통형 캐소드일 수 있고, 도 7에 도시한 바와 같이 회전축에 대한 수직단면이 다각형인 다각기둥형 캐소드(120')일 수 있다.1, the cathode 121 may be a cylindrical cathode having a vertical cross section perpendicular to the rotation axis, and may include a polygonal columnar cathode 120 having a polygonal vertical cross section with respect to the rotation axis, as shown in FIG. 7 ').

또한, 상기 마그네트(122)의 자기장은 이온화된 플라즈마가 상기 캐소드(121)를 향해 가속되어 끌어당겨져 충돌하게 하며, 플라즈마 이온이 충돌한 방향으로 증착물질이 비산하게 된다. 다시 말해서, 상기 타겟(120)의 증착물질은 상기 마그네트(122)의 자기장의 방향으로 비산한다고 할 수 있다.In addition, the magnetic field of the magnet 122 causes the ionized plasma to accelerate toward the cathode 121 to collide with it, and the deposition material is scattered in the direction in which the plasma ions impinge. In other words, the deposition material of the target 120 may scatter in the direction of the magnetic field of the magnet 122.

즉, 상기 마그네트(122)는 방향성을 가지고 자기장을 형성하며, 자기장이 형성되는 방향을 향해 상기 타겟(120)의 증착물질이 방향성을 가지고 비산하게 되는 것이다.That is, the magnet 122 has a directionality and forms a magnetic field, and the deposition material of the target 120 is directionally scattered toward a direction in which a magnetic field is formed.

또한, 상기 마그네트(122)는 도 5에 도시한 바와 같이 복수 개의 마그네트들(122a,122b,122c)로 구성될 수 있으며, 이 경우, 상기 마그네트들(122a,122b,122c)은 기재가 이송되는 궤적 상에 서로 다른 위치를 바라보도록 구비된다.5, the magnets 122a, 122b, and 122c may be formed of a plurality of magnets 122a, 122b, and 122c. In this case, the magnets 122a, 122b, And are provided to look at different positions on the trajectory.

다시 말해서, 상기 마그네트들(122a,122b,122c)은 상기 타겟(120)의 회전축을 중심으로 서로 다른 방향을 바라보며 상기 캐소드(120)의 내부에 구비된다.In other words, the magnets 122a, 122b, and 122c are provided inside the cathode 120 while looking at different directions about the rotational axis of the target 120.

이 경우에는 상기 캐소드(121) 또는 상기 마그네트들(122a,122b,122c)이 회전하지 않고 기재를 증착할 수 있다.In this case, the cathode 121 or the magnets 122a, 122b, and 122c may be deposited without rotating the substrate.

또한, 상기 마그네트(122)는 상기 캐소드(121)와 함께 회전할 수 있고, 상기 캐소드(121)는 고정된 채 독립적으로 회전할 수 있다.Also, the magnet 122 may rotate together with the cathode 121, and the cathode 121 may rotate independently while being fixed.

또한, 상기 타겟(120)은 도 6에 도시한 바와 같이 복수 개의 타겟(120a,120b,120c)으로 구성될 수 있으며, 이 경우 상기 타겟들(120a,120b,120c)은 기재 기송 방향으로 서로 이격되어 나란하게 구비될 수 있다.6, the target 120 may include a plurality of targets 120a, 120b, and 120c. In this case, the targets 120a, 120b, and 120c may be spaced apart from each other And can be provided side by side.

상기 기재 이송 수단(130)은 상기 진공 챔버(100) 내부에서 상기 타겟(120)과 대향하는 위치에 구비되며, 증착하고자 하는 기재(10)를 이송한다.The substrate transfer means 130 is provided at a position facing the target 120 in the vacuum chamber 100 and transfers the substrate 10 to be deposited.

더욱 자세하게는 상기 기재 이송 수단(130)은 상기 기재(10)를 상기 진공 챔버(100)의 내부 일측에서 타측으로 이송시켜 상기 타겟(120)에서 비산하는 증착물질의 비산 영역(b)을 지나가게 한다.More specifically, the substrate transporting unit 130 transports the substrate 10 from one side of the vacuum chamber 100 to the other side, passes the scattering region b of evaporation material scattered from the target 120, do.

또한, 상기 기재(10)는 소정의 높이가 있어 측면이 존재하는 기재이며, 측면에는 절곡된 모서리(11)가 있을 수 있다.Further, the substrate 10 is a substrate having a predetermined height and a side surface, and the side surface may have a curved edge 11.

또한, 상기 기재 이송 수단(130)은 컨베이어 밸트로 구성되는 것을 도시하였으나 평면상에서 기재를 이송시킬 수 있다면 어떠한 기재 이송 수단으로도 대체가 가능하다.Further, although the substrate transporting means 130 is shown as being composed of a conveyor belt, any substrate transport means can be used as long as the substrate can be transported on a flat surface.

상기 자세 제어 수단(140)은 상기 기재(10)가 상기 기재 이송 수단(130)에 놓이는 자세를 제어한다.The posture control means (140) controls the posture of the substrate (10) on the substrate conveyance means (130).

예를 들면, 상기 자세 제어 수단(140)은 상기 기재 이송 수단(130)에 구비되는 다 자유도 스테이지일 수 있다.For example, the posture control means 140 may be a multi-degree-of-freedom stage provided in the substrate conveying means 130.

도 2를 참조하면, 상기 자세 제어 수단(140)은 상기 기재(10)의 측면 모서리(11)가 기재 이송 방향(m)을 향하게 하는 동시에 상기 기재(10)의 모서리(11) 하단을 소정 높이 상부로 들어올린다.2, the posture control means 140 controls the side edge 11 of the substrate 10 to face the substrate conveyance direction m and the lower edge of the edge 11 of the substrate 10 to a predetermined height Raise to the top.

즉, 상기 자세 제어 수단(140)은 상기 기재(10)의 측면 모서리(11)가 기재 이송 방향의 상부(대각선 방향)를 바라보도록 상기 기재 이송 수단(130)에 위치시키는 것이다.That is, the posture control means 140 positions the side edge 11 of the substrate 10 on the substrate conveyance means 130 so as to observe the upper side (diagonal direction) of the substrate conveyance direction.

이는 상기 기재(10)가 증착물질 비산 영역을 통과할 때, 증착물질(a)이 기재의 모서리부분에 효과적으로 증착되게 하기 위함이다.This is to allow the deposition material (a) to be effectively deposited on the edge portion of the substrate when the substrate 10 passes through the deposition material scattering region.

따라서, 기재의 측면과 상면을 동시에 적정한 두께로 증착할 수 있다.Therefore, the side surface and the upper surface of the substrate can be deposited at the same thickness at the same time.

또한, 도 3을 참조하면, 상기 기재(10)는 상기 진공 챔버(110)의 내부 일측에서 타측으로, 타측에서 일측으로 왕복이동하면서 증착이 가능하다.Referring to FIG. 3, the substrate 10 can be deposited while reciprocating from one side of the vacuum chamber 110 to the other side, from one side to the other side.

또한, 상기 기재(10)가 상기 진공 챔버(110)의 내부 타측에서 일측으로 이동할 때는, 상기 기재(10)의 측면 모서리(11)는 하강시키고 반대편의 타 측면 모서리(12)가 기재 이송 방향의 상부를 바라보도록 상승시켜 타 측면 모서리(12)도 적절한 두께로 증착되게 한다.When the substrate 10 moves from one side to the other side of the vacuum chamber 110, the side edge 11 of the substrate 10 is lowered and the other side edge 12 of the substrate 10 is moved in the substrate transport direction The upper side is raised so that the other side edge 12 is also deposited to an appropriate thickness.

또한, 상기 자세 제어 수단(140)은 상기 기재(10)의 측면 전체에 고루 증착물질이 증착될 수 있도록, 상기 기재(10)를 회전시켜가며 상기 증착물질 비산 영역(b)을 왕복이동하게 할 수 있다.The posture control unit 140 controls the posture control unit 140 to reciprocate the deposition material scattering region b while rotating the substrate 10 so that the deposition material can be uniformly deposited on the entire side surface of the substrate 10 .

이하에서는 도 4를 참조하여 본 발명의 스퍼터링 방법을 상세히 설명한다. 본 발명의 스퍼터링 방법은 먼저, 기재(10)가 상기 진공 챔버(110)의 내부 일측에 위치하도록 상기 기재 이송 수단(130)에 올려지고, 상기 자세 제어 수단(140)은 상기 기재(10)의 측면 모서리(11)가 기재 이송 방향의 상단을 향하도록 자세를 제어한다(Ⅰ).Hereinafter, the sputtering method of the present invention will be described in detail with reference to FIG. The sputtering method of the present invention is such that the substrate 10 is first placed on the substrate transfer means 130 so that the substrate 10 is located at one side of the inside of the vacuum chamber 110, The posture is controlled so that the side edge 11 faces the upper end in the substrate transport direction (I).

또한, 상기 타겟(120)의 마그네트(122)는 자기장의 방향이 상기 기재(10)를 향하도록 회전축(c)을 중심으로 회전할 수 있다. 그러나, 상기 마그네트(122)는 하부를 향하도록 고정될 수 있음은 물론이며, 도 5에 도시한 바와 같이, 상기 마그네트(122)가 복수 개로 구성될 경우 고정되어 자기장을 발생시킬 수 있다.The magnet 122 of the target 120 may rotate about the rotation axis c so that the direction of the magnetic field is directed toward the substrate 10. However, the magnet 122 may be fixed so as to be directed downward, and as shown in FIG. 5, when the magnets 122 are constituted by a plurality of magnets 122, the magnet 122 may be fixed and generate a magnetic field.

다음, 상기 타겟(120)에서 증착물질이 비산하고, 상기 기재 이송 수단(130)은 상기 기재(10)를 상기 진공 챔버(110)의 내부 중앙부를 거쳐(Ⅱ), 상기 진공 챔버(110)의 내부 타측으로 이송한다(Ⅲ).Next, the evaporation material is scattered in the target 120, and the substrate transporting means 130 transports the substrate 10 through the inner central part of the vacuum chamber 110 (II), the vacuum chamber 110 And transferred to the other side (III).

이 때, 상기 마그네트(122)는 이송되는 기재(10)를 바라보도록 회전할 수 있다.At this time, the magnet 122 may be rotated to look at the substrate 10 to be transferred.

또한, 상기 자세 제어 수단(140)은 상기 기재(10)의 자세가 그대로 유지된 채 이송되게 할 수 있으나, 상기 진공 챔버(110)의 내부 중앙부에 이송되면 상기 기재(11)의 측면 모서리(11)를 하강시켜 상기 기재(11)의 상면이 수평이 되게 하고, 중앙부를 지나면, 타 측면 모서리(12)를 상승시켜 상기 진공 챔버(110)의 내부 타측으로 이송되게 할 수 있다. The posture control means 140 may be moved while maintaining the posture of the substrate 10 as it is. When the posture control means 140 is transferred to the inner central portion of the vacuum chamber 110, the side edges 11 The upper surface of the substrate 11 is lowered and the upper surface of the substrate 11 is leveled and the other side edge 12 is raised to be transferred to the other side of the vacuum chamber 110 when passing the center.

이는 상기 기재(10)의 측면과 상면에 증착물질이 고른 두께로 증착되게 하기 위함이다.This is for the purpose of depositing the deposition material with a uniform thickness on the side surface and the upper surface of the substrate 10.

다음, 상기 기재 이송 수단(130)은 상기 기재(10)를 상기 진공 챔버(110)의 내부 중앙부를 거쳐(Ⅳ) 다시 내부 일측으로 이송하며(Ⅴ), 이 경우에도 상기 자세 제어 수단(140)은 상기 기재(10)가 상기 진공 챔버(110) 내부 중앙부에 위치하면 상기 기재(10)의 상면이 수평이 되게 하고, 중앙부를 지나면 타 측면 모서리(12)는 하강시키고 측면 모서리(11)를 상승시켜 비산하는 증착물질을 바라보도록 자세를 제어할 수 있다.Next, the substrate transfer means 130 transfers the substrate 10 to the inside of the vacuum chamber 110 through the central portion of the vacuum chamber 110 (V) (V). In this case, When the substrate 10 is positioned in the center of the vacuum chamber 110, the upper surface of the substrate 10 is leveled and the other side edge 12 is lowered and the side edge 11 is raised The posture can be controlled so as to view the evaporated material.

또한, 상기 기재 이송 수단(130)은 상기 기재(10)를 상기 진공 챔버(110)의 내부 일측에서 타측으로 수회 반복 이동시켜 증착두께를 조절할 수 있다.The substrate transporting means 130 may regulate the deposition thickness by repeatedly moving the substrate 10 from the inner side to the other side of the vacuum chamber 110 several times.

또한, 상기 자세 제어 수단(140)은 상기 기재(10)가 왕복이동할 때, 상기 기재(10)의 측면이 기재 이송 방향 또는 상기 진공 챔버(110)의 중앙부를 바라보도록 일 측면과 타 측면 번갈아 승하강 시킨다.When the substrate 10 is reciprocally moved, the posture control means 140 controls the posture of the substrate 10 so that the side surface of the substrate 10 alternately faces one side surface and the other side so as to face the substrate transfer direction or the central portion of the vacuum chamber 110 Descend.

또한, 도 6에 도시한 바와 같이 상기 타겟(120)이 복수 개로 구비될 경우, 상기 진공 챔버(110)의 중앙부에 위치하는 타겟(120b)은 마그네트가 수직 하부를 바라보게 위치할 수 있고, 외곽 타겟(120a,120c)은 각각 상기 기재 이송 수단(130)의 단부를 바라보도록 고정되어 위치할 수 있다.6, when a plurality of the targets 120 are provided, the target 120b positioned at the center of the vacuum chamber 110 may be positioned so that the magnet may face the vertical lower portion, The targets 120a and 120c may be fixedly positioned so as to face the end of the substrate transporting unit 130, respectively.

그러나, 상기 외곽 타겟(120a,120c)은 각각 마그네트가 상기 기재 이송 수단(130)의 중앙부를 바라보도록 고정되어 위치할 수 있다.However, the outer targets 120a and 120c may be fixed and positioned so that the magnets face the central portion of the substrate transfer means 130, respectively.

그러나, 상기 타겟들(120a,120b,120c)의 마그네트는 각각 독립적으로 회전하여 자기장의 방향을 가변하며 증착이 수행되게 할 수 있다.However, the magnets of the targets 120a, 120b, and 120c may independently rotate to vary the direction of the magnetic field and perform deposition.

또한, 도 7에 도시한 바와 같이 상기 타겟(120)의 캐소드가 다각기둥형 캐소드(120')일 경우에는 외부 일면이 이동하는 기재(10)를 향하도록 회전하며 증착이 수행되게 할 수 있다.
As shown in FIG. 7, when the cathode of the target 120 is a polycrystalline cathode 120 ', the outer surface of the target 120 may be rotated toward the moving substrate 10 to perform deposition.

이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은 바람직한 실시예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기한 실시예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경과 수정이 가능할 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of limitation in the present invention. Various changes and modifications will be possible.

100:스퍼터링 장치 110:진공 챔버
120:타겟 121:캐소드
122:마그네트 130:기재 이송 수단
140:자세 제어 수단
100: Sputtering apparatus 110: Vacuum chamber
120: target 121: cathode
122: magnet 130: substrate transporting means
140: posture control means

Claims (22)

삭제delete 진공챔버와 상기 진공챔버 내에 구비되고 외측에 코팅된 증착물질을 기재를 향해 비산시켜 증착되게 하는 타겟을 포함하는 스퍼터링 장치에 있어서,
상기 진공챔버 내에서 상기 타겟과 대향하는 위치에 구비되며, 상기 기재를 상기 진공챔버 내부 일측에서 타측으로 이동시켜 상기 증착물질이 비산하는 영역을 지나가게 하는 기재 이송 수단; 및
상기 기재 이송 수단에 구비되고, 상기 기재가 상기 기재 이동 수단에 놓이는 자세를 제어하는 자세 제어 수단;을 포함하고,
상기 기재는 소정의 높이가 있고 측면에 절곡된 모서리가 있는 기재이며,
상기 자세 제어 수단은 상기 기재의 측면 모서리가 기재 이송 방향을 향하도록 자세를 제어하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
A sputtering apparatus comprising a vacuum chamber and a target disposed in the vacuum chamber and adapted to be deposited by spattering an outer coated material toward the substrate,
A substrate transporting means provided at a position facing the target in the vacuum chamber and moving the substrate from one side of the vacuum chamber to the other side so as to pass the region through which the deposition material is scattered; And
And posture control means provided in the substrate transfer means for controlling an orientation of the substrate placed on the substrate moving means,
The substrate is a substrate having a predetermined height and having a corner bent to the side,
Wherein the posture control means controls the posture so that the side edge of the substrate faces the substrate transport direction.
제 2 항에 있어서,
상기 자세 제어 수단은 상기 기재의 모서리 하단을 소정 높이 상부로 들어올려 상기 기재의 모서리가 기재 이송 방향의 상부를 향하도록 자세를 제어하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the posture control means lifts the lower edge of the base of the base material up to a predetermined height and controls the posture so that the edge of the base material faces the upper portion in the substrate conveyance direction.
제 3 항에 있어서,
상기 기재 이송 수단은 상기 기재를 상기 진공챔버 내부 일측에서 타측으로, 타측에서 일측으로 왕복이동시켜 상기 증착물질이 비산하는 영역을 소정 횟수 지나가게 하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
The method of claim 3,
Wherein the substrate transporting means reciprocates the substrate from one side of the vacuum chamber to the other side and reciprocates from one side to the other side so that the region where the evaporation material is scattered passes a predetermined number of times.
제 4 항에 있어서,
상기 자세 제어 수단은 상기 기재가 왕복이동할 때, 기재 이송 방향을 향하는 상기 기재의 일 측면이 기재 이송 방향의 상부를 향하도록 상기 기재의 일 측면과 타 측면 하단을 번갈아 상부로 들어올려 자세를 제어하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
5. The method of claim 4,
The posture control means controls the posture by alternately lifting one side surface and the other side surface lower side of the substrate upward so that one side surface of the substrate facing the substrate conveyance direction faces the upper side in the substrate conveyance direction when the substrate reciprocates Wherein the sputtering apparatus is a sputtering apparatus.
제 2 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 타겟:은,
외측에 증착물질이 코팅되고 회전축이 기재 이송 방향과 교차하는 방향을 향하도록 위치하는 캐소드; 및
상기 캐소드의 내측에 구비되고 상기 회전축에서 소정의 방향을 향해 방향성을 가지고 자기장을 형성하며, 자기장이 형성된 방향으로 증착물질이 비산하게 하는 마그네트;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
6. The method according to any one of claims 2 to 5,
The target:
A cathode that is coated on the outer side with an evaporation material and positioned such that the rotation axis thereof is in a direction crossing the substrate transport direction; And
And a magnet disposed on the inner side of the cathode and forming a magnetic field with a direction toward the predetermined direction on the rotation axis and causing the deposition material to scatter in a direction in which the magnetic field is formed.
제 6 항에 있어서,
상기 마그네트는 상기 캐소드에 고정되고, 상기 캐소드는 상기 마그네트의 자기장이 이송되는 기재를 향하도록 회전하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the magnet is fixed to the cathode and the cathode rotates so as to face the substrate to which the magnetic field of the magnet is transferred.
제 6 항에 있어서,
상기 마그네트는 상기 캐소드와 분리되고, 상기 마그네트는 형성되는 자기장이 이송되는 기재를 향하도록 상기 캐소드 내부에서 회전하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the magnet is separated from the cathode and the magnet rotates within the cathode so that the magnetic field to be formed is directed to the substrate being transported.
제 6 항에 있어서,
상기 마그네트는 기재 이송 라인 상에 서로 다른 위치를 바라보는 복수 개의 마그네트로 구성되는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the magnet is comprised of a plurality of magnets facing different positions on the substrate transfer line.
제 6 항에 있어서,
상기 타겟은 기재 이송 방향으로 서로 이격되어 위치하는 복수의 타겟들로 구성되는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the target is comprised of a plurality of targets spaced apart from one another in the substrate transport direction.
제 6 항에 있어서,
상기 캐소드는 회전축에 대한 수직단면이 원형인 원통형 캐소드인 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the cathode is a cylindrical cathode having a circular cross section perpendicular to the rotation axis.
제 6 항에 있어서,
상기 캐소드는 회전축에 대한 수직단면이 다격형인 다각기둥형 캐소드인 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
The method according to claim 6,
Wherein the cathode is a polygonal columnar cathode having a vertical cross section perpendicular to the rotation axis.
제 12 항에 있어서,
상기 다각기둥형 캐소드는 외부 일면이 이동하는 기재를 바라보도록 회전하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 장치.
13. The method of claim 12,
Wherein the polycrystalline cathode is rotated so as to look at a substrate on which an outer surface of the polycrystalline cathode moves.
제 6 항에 스퍼터링 장치에 의해 증착된 증착층을 갖는 디스플레이 패널.
A display panel having a deposition layer deposited by a sputtering apparatus.
제 6 항에 스퍼터링 장치에 의해 증착된 증착층을 갖는 터치 패널.
A touch panel having a deposition layer deposited by a sputtering apparatus.
제 6 항에 스퍼터링 장치에 의해 증착된 증착층을 갖는 LED 소자.
7. An LED device having a deposition layer deposited by a sputtering apparatus according to claim 6.
제 6 항에 스퍼터링 장치에 의해 증착된 증착층을 갖는 태양전지패널.
A solar cell panel having a deposition layer deposited by a sputtering apparatus.
제 6 항의 스퍼터링 장치를 이용하여 스퍼터링 공정을 수행하는 스퍼터링 방법으로서,
소정의 높이가 있고 측면에 절곡된 모서리를 갖는 기재를 상기 진공 챔버의 내부 일측에 위치하도록 상기 기재 이송 수단에 올려놓되 상기 기재의 모서리가 이송방향으로 향하도록 올려놓는 단계; 및
상기 타겟에서 증착물질이 비산하게 하고, 상기 기재를 상기 증착물질이 비산하는 영역을 거쳐 상기 진공 챔버의 내부 타측으로 이송시켜 상기 기재의 외면에 증착물질이 증착되게 하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 방법.
A sputtering method for performing a sputtering process using the sputtering apparatus of claim 6,
Placing a substrate having a predetermined height and a curved edge on a side thereof on the substrate transfer means so as to be located at one side of the inside of the vacuum chamber so that the edge of the substrate faces the transfer direction; And
And depositing a deposition material on an outer surface of the substrate by causing the deposition material to scatter in the target and transferring the substrate to the other side of the vacuum chamber through a region where the deposition material is scattered, .
제 18 항에 있어서,
상기 증착물질이 증착되게 하는 단계는,
상기 진공 챔버의 내부 일측에서 타측, 타측에서 일측으로 상기 기재를 왕복이동시키는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 방법.
19. The method of claim 18,
Wherein depositing the deposition material comprises:
And reciprocating the substrate from one side of the inner side of the vacuum chamber to one side of the other side of the vacuum chamber.
제 19 항에 있어서,
상기 기재 이송 수단에 기재를 올려놓는 단계는,
상기 기재의 이송 방향 하단을 소정 높이 들어올려, 상기 기재의 이송 방향 측면이 기재 이송 방향의 상부를 향하도록 하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 방법.
20. The method of claim 19,
Wherein the step of placing the substrate on the substrate transporting means comprises:
The lower end of the substrate in the conveying direction is raised to a predetermined height so that the conveying direction side of the substrate faces the upper portion in the substrate conveying direction.
제 20 항에 있어서,
상기 증착물질이 증착되게 하는 단계는,
상기 기재가 왕복이동할 때, 기재 이송 방향을 향하는 상기 기재의 일 측면이 기재 이송 방향의 상부를 향하도록 상기 기재의 일 측면과 타 측면 하단을 번갈아 상부로 들어올려 증착되게 하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 방법.
21. The method of claim 20,
Wherein depositing the deposition material comprises:
Wherein one side of the substrate and the other side of the other side of the substrate are alternately lifted upward to be deposited so that one side of the substrate facing the substrate transport direction faces the top of the substrate transport direction when the substrate reciprocates .
제 21 항에 있어서,
상기 증착물질이 증착되게 하는 단계는,
상기 기재가 이동할 때, 상기 타겟에서 발생하는 자기장이 상기 기재를 향하도록 자기장의 발생방향을 가변하는 것을 특징으로 하는 스퍼터링 방법.


22. The method of claim 21,
Wherein depositing the deposition material comprises:
Wherein a direction of the magnetic field is changed so that a magnetic field generated in the target is directed to the substrate when the substrate moves.


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