KR101687526B1 - 방사선 검출기 및 이의 제조 방법 - Google Patents
방사선 검출기 및 이의 제조 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101687526B1 KR101687526B1 KR1020150096508A KR20150096508A KR101687526B1 KR 101687526 B1 KR101687526 B1 KR 101687526B1 KR 1020150096508 A KR1020150096508 A KR 1020150096508A KR 20150096508 A KR20150096508 A KR 20150096508A KR 101687526 B1 KR101687526 B1 KR 101687526B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- scintillator
- photodetector
- active layer
- substrate
- dimensional nanomaterial
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 124
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 26
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 79
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 claims abstract description 69
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 83
- 239000002086 nanomaterial Substances 0.000 claims description 77
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 70
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 54
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 39
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 31
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 claims description 26
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 21
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims description 19
- 238000007639 printing Methods 0.000 claims description 13
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 12
- 238000000059 patterning Methods 0.000 claims description 12
- 239000011669 selenium Substances 0.000 claims description 12
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 9
- CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N Acetone Chemical compound CC(C)=O CSCPPACGZOOCGX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims description 8
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 7
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 6
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 230000001376 precipitating effect Effects 0.000 claims description 5
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 claims description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 2
- 239000002096 quantum dot Substances 0.000 abstract description 8
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 106
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 6
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 5
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 5
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- 229910004140 HfO Inorganic materials 0.000 description 4
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 4
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 3
- CWQXQMHSOZUFJS-UHFFFAOYSA-N molybdenum disulfide Chemical compound S=[Mo]=S CWQXQMHSOZUFJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052982 molybdenum disulfide Inorganic materials 0.000 description 3
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 3
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001787 chalcogens Chemical class 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 2
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SDDGNMXIOGQCCH-UHFFFAOYSA-N 3-fluoro-n,n-dimethylaniline Chemical compound CN(C)C1=CC=CC(F)=C1 SDDGNMXIOGQCCH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 LaBr 3 Chemical class 0.000 description 1
- 229910016001 MoSe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920006311 Urethane elastomer Polymers 0.000 description 1
- 238000005411 Van der Waals force Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical group [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001721 carbon Chemical group 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000002925 chemical effect Effects 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000007123 defense Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000011982 device technology Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- MHWZQNGIEIYAQJ-UHFFFAOYSA-N molybdenum diselenide Chemical compound [Se]=[Mo]=[Se] MHWZQNGIEIYAQJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 238000005424 photoluminescence Methods 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002901 radioactive waste Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 125000004434 sulfur atom Chemical group 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- ITRNXVSDJBHYNJ-UHFFFAOYSA-N tungsten disulfide Chemical compound S=[W]=S ITRNXVSDJBHYNJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004148 unit process Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2006—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using a combination of a scintillator and photodetector which measures the means radiation intensity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2002—Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
- G01T1/2023—Selection of materials
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
도 2는 기판 위에 방사선 검출기가 결합되어 그 구조를 나타내는 사시도.
도 3은 본 발명인 방사선 검출기를 나타내는 사시도.
도 4는 본 발명인 방사선 검출기를 도 3에 표시된 선으로 자르고, A 방향에서 바라본 단면도.
도 5는 광검출기의 활성층에 패시베이션층이 결합된 방사선 검출기의 사시도.
도 6은 방사선 검출기를 제작하는 과정을 나타내는 개념도.
도 7은 섬광체를 제조하는 과정을 포함한 방사선 검출기를 제작하는 과정을 나타내는 흐름도.
도 8은 원하는 기판 위에 직접 방사선 검출기를 형성시키는 과정을 나타내는 개념도.
도 9는 원하는 기판 위에 직접 방사선 검출기를 형성시키는 과정을 나타내는 흐름도.
도 10은 섬광체 상에 광검출기를 형성시키는 과정을 나타내는 개념도.
도 11은 섬광체 상에 광검출기를 형성시키는 과정을 나타내는 흐름도.
도 12는 소자 전사 임시기판을 사용하여 섬광체 상에 광검출기를 형성시키는 과정을 나타내는 개념도.
도 13은 소자 전사 임시기판을 사용하여 섬광체 상에 광검출기를 형성시키는 과정을 나타내는 흐름도.
도 14는 본 발명이 결합된 휴대장치를 나타내는 개념도.
도 15는 도 14의 휴대장치를 실제 사용하는 예를 나타내는 그림.
도 16은 방사선 검출기를 대면적에 형성시키고, 그 실사용 예를 나타내는 그림.
도 17은 본 발명을 포함하는 방사선 측정 과정의 개략도.
20 : SiO2 에칭용액 30 : 휴대 장치
100 : 방사선 검출기 110 : 섬광체
111 : 절연층 120 : 광검출기
123 : 활성층 124 : 패시베이션층
125 : 기판 126 : 실리콘옥사이드 기판
130 : 소자 전사 임시기판
Claims (13)
- 방사선을 흡수하여 빛을 발생시키는 섬광체;
상기 섬광체 위에 형성되고, 상기 섬광체에서 발생되는 빛을 흡수하여 전기적인 신호를 발생시키는 광검출기; 및
상기 섬광체와 상기 광검출기 사이에 개재되어 상기 섬광체와 상기 광검출기 사이의 전기적 신호를 차단하는 절연층을 포함하고,
상기 섬광체는, 연성을 부여하는 2차원 나노 물질의 적층으로 이루어지며,
상기 광검출기는,
서로 이격된 위치에 배치되는 제1 접촉 전극과 제2 접촉 전극;
상기 제1 접촉 전극과 상기 제2 접촉 전극의 사이를 연결하고, 빛을 흡수하여 전자-정공 쌍을 형성하며, 연성을 부여하는 2차원 나노 물질로 이루어지는 활성층; 및
상기 활성층에 밀착 형성되어 덮도록 이루어지며, 상기 활성층의 외부 노출을 제한하는 패시베이션층을 포함하며,
유연한 특성을 가지고 방사선량을 측정하기 하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출기. - 제1항에 있어서,
상기 섬광체는,
상기 2차원 나노 물질로서 그래핀 옥사이드, 환원된 그래핀 옥사이드 및 그래핀 양자점 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출기. - 제1항에 있어서,
상기 섬광체의 2차원 나노 물질은 MX2의 화학식을 가지고,
상기 M은 주기율표상 4 내지 6족에 속하는 원소들 중 하나이며,
상기 X는 황(S), 셀레늄(Se) 및 텔루늄(Te) 중 하나인 것을 특징으로 하는 방사선 검출기. - 제1항에 있어서,
상기 활성층은, 상기 섬광체에 대응된 형상으로 결합되는 것을 특징으로 하는 방사선 검출기. - 제4항에 있어서,
상기 2차원 나노 물질은 그래핀, 그래핀 옥사이드, 환원된 그래핀 옥사이드 및 그래핀 양자점 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출기. - 제4항에 있어서,
상기 활성층의 2차원 나노 물질은 MX2의 화학식을 가지고,
상기 M은 주기율표상 4 내지 6족에 속하는 원소들 중 하나이며,
상기 X는 황(S), 셀레늄(Se) 및 텔루늄(Te) 중 하나인 것을 특징으로 하는 방사선 검출기. - 삭제
- 삭제
- 섬광체를 제조하는 단계; 및
상기 섬광체 상에 광검출기를 형성하는 단계를 포함하고,
상기 섬광체를 제조하는 단계는,
그래핀을 제외한 2차원 나노 물질을 포함하는 폴리머 솔루션을 제조하는 단계;
상기 폴리머 솔루션을 인쇄 공정을 통해 기판에 도포하는 단계;
상기 폴리머 솔루션의 수분을 제거하여 상기 섬광체를 형성하는 건조 단계; 및
상기 섬광체 위에 절연층을 형성하는 단계를 포함하고,
상기 섬광체 상에 광검출기를 형성하는 단계는,
2차원 나노 물질을 활성층의 재료로서 섬광체 상에 형성하는 단계;
상기 활성층의 표면에 접촉 전극을 형성하는 단계; 및
상기 활성층을 패터닝하여 상기 접촉 전극 사이에 상기 활성층이 개재되도록 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출기의 제조 방법. - 삭제
- 그래핀을 제외한 2차원 나노 물질로 섬광체를 형성하는 단계;
상기 2차원 나노 물질을 포함하는 광검출기를 실리콘옥사이드 기판 상에 형성하는 단계;
소자 전사 임시기판을 상기 광검출기 상에 형성시키고, 상기 실리콘옥사이드 기판을 SiO2 에칭용액에 침전시켜 제거하는 단계; 및
상기 광검출기를 지지하는 상기 소자 전사 임시기판을 상기 섬광체의 표면에 부착하는 단계를 포함하고,
상기 광검출기를 실리콘옥사이드 기판 상에 형성하는 단계는,
실리콘옥사이드 기판 상에 2차원 나노 물질을 전사하여 활성층을 형성하는 단계;
상기 활성층의 표면에 서로 이격된 두 개의 접촉 전극을 형성하는 단계; 및
상기 활성층을 패터닝하여 상기 접촉 전극들의 사이에 상기 활성층이 위치하도록 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출기의 제조 방법. - 삭제
- 제11항에 있어서,
상기 섬광체의 표면에 부착된 상기 소자 전사 임시기판의 제거를 위하여,
수분을 제거하는 건조 단계; 및
아세톤용액에 침전시켜 화학반응이 이루어지도록 하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 방사선 검출기의 제조 방법.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020150096508A KR101687526B1 (ko) | 2015-07-07 | 2015-07-07 | 방사선 검출기 및 이의 제조 방법 |
US15/739,873 US10408948B2 (en) | 2015-07-07 | 2016-03-02 | Radiation detector and method for manufacturing same |
PCT/KR2016/002082 WO2017007108A1 (ko) | 2015-07-07 | 2016-03-02 | 방사선 검출기 및 이의 제조 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020150096508A KR101687526B1 (ko) | 2015-07-07 | 2015-07-07 | 방사선 검출기 및 이의 제조 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR101687526B1 true KR101687526B1 (ko) | 2016-12-19 |
Family
ID=57685151
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020150096508A Active KR101687526B1 (ko) | 2015-07-07 | 2015-07-07 | 방사선 검출기 및 이의 제조 방법 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10408948B2 (ko) |
KR (1) | KR101687526B1 (ko) |
WO (1) | WO2017007108A1 (ko) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018226715A1 (en) * | 2017-06-07 | 2018-12-13 | General Electric Company | Apparatus and method for flexible gamma ray detectors |
WO2023022294A1 (ko) * | 2021-08-20 | 2023-02-23 | 경희대학교 산학협력단 | 그래핀 광원의 제조 방법, 상기 그래핀 광원을 포함하는 유기 발광 소자 및 상기 유기 발광 소자의 제조 방법 |
KR20230170175A (ko) | 2022-06-09 | 2023-12-19 | 한국원자력연구원 | 유기 섬광체 및 이를 포함하는 중성자/감마선 검출 시스템 |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10422886B1 (en) * | 2016-11-17 | 2019-09-24 | Clinitraq | Real-time location aware radiation system and method for use thereof |
US20200301027A9 (en) * | 2018-03-19 | 2020-09-24 | Massachusetts Institute Of Technology | Materials for ionizing radiation detection |
CN208422918U (zh) * | 2018-08-01 | 2019-01-22 | 北京京东方光电科技有限公司 | 光电转换阵列基板及光电转换装置 |
US11119058B2 (en) * | 2019-05-22 | 2021-09-14 | The Boeing Company | Non-destructive inspection methods, systems and apparatuses using focusable x-ray backscatter detectors |
IT202100004058A1 (it) * | 2021-02-22 | 2022-08-22 | AVANEIDI srl | Dosimetro personale a base di grafene |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013502735A (ja) * | 2009-08-24 | 2013-01-24 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 単一またはいくつかの層のグラフェン・ベースの光検出デバイスおよびその形成方法 |
JP2013258274A (ja) * | 2012-06-12 | 2013-12-26 | Rohm Co Ltd | エックス線用固体撮像素子 |
KR20140037702A (ko) * | 2012-09-19 | 2014-03-27 | 경희대학교 산학협력단 | 다층 전이금속 칼코겐화합물을 이용한 투명전자소자, 이를 이용한 광전자 소자 및 트랜지스터 소자 |
KR20140067257A (ko) * | 2012-11-26 | 2014-06-05 | 한국전기연구원 | 플렉서블 엑스레이 디텍터의 제조 방법 및 플렉서블 엑스레이 디텍터를 갖는 방사선 검출 장치 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7375341B1 (en) | 2006-05-12 | 2008-05-20 | Radiation Monitoring Devices, Inc. | Flexible scintillator and related methods |
KR101099139B1 (ko) | 2010-06-08 | 2011-12-27 | 한국표준과학연구원 | 주사 전자 현미경용 신틸레이터 제조 방법 |
US20120001761A1 (en) * | 2010-07-01 | 2012-01-05 | Nokia Corporation | Apparatus and method for detecting radiation |
KR101969853B1 (ko) | 2012-05-25 | 2019-04-17 | 삼성전자주식회사 | 그래핀 전사 방법 및 이를 이용한 소자의 제조방법 |
-
2015
- 2015-07-07 KR KR1020150096508A patent/KR101687526B1/ko active Active
-
2016
- 2016-03-02 WO PCT/KR2016/002082 patent/WO2017007108A1/ko active Application Filing
- 2016-03-02 US US15/739,873 patent/US10408948B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013502735A (ja) * | 2009-08-24 | 2013-01-24 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 単一またはいくつかの層のグラフェン・ベースの光検出デバイスおよびその形成方法 |
JP2013258274A (ja) * | 2012-06-12 | 2013-12-26 | Rohm Co Ltd | エックス線用固体撮像素子 |
KR20140037702A (ko) * | 2012-09-19 | 2014-03-27 | 경희대학교 산학협력단 | 다층 전이금속 칼코겐화합물을 이용한 투명전자소자, 이를 이용한 광전자 소자 및 트랜지스터 소자 |
KR20140067257A (ko) * | 2012-11-26 | 2014-06-05 | 한국전기연구원 | 플렉서블 엑스레이 디텍터의 제조 방법 및 플렉서블 엑스레이 디텍터를 갖는 방사선 검출 장치 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018226715A1 (en) * | 2017-06-07 | 2018-12-13 | General Electric Company | Apparatus and method for flexible gamma ray detectors |
US10261213B2 (en) | 2017-06-07 | 2019-04-16 | General Electric Company | Apparatus and method for flexible gamma ray detectors |
WO2023022294A1 (ko) * | 2021-08-20 | 2023-02-23 | 경희대학교 산학협력단 | 그래핀 광원의 제조 방법, 상기 그래핀 광원을 포함하는 유기 발광 소자 및 상기 유기 발광 소자의 제조 방법 |
KR20230170175A (ko) | 2022-06-09 | 2023-12-19 | 한국원자력연구원 | 유기 섬광체 및 이를 포함하는 중성자/감마선 검출 시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20180196147A1 (en) | 2018-07-12 |
WO2017007108A1 (ko) | 2017-01-12 |
US10408948B2 (en) | 2019-09-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101687526B1 (ko) | 방사선 검출기 및 이의 제조 방법 | |
US8637831B2 (en) | Hybrid organic photodiode | |
CN101521246B (zh) | 成像探测器 | |
Büchele et al. | X-ray imaging with scintillator-sensitized hybrid organic photodetectors | |
TWI470262B (zh) | 形成於閃爍器上之放射線偵測器 | |
TWI475673B (zh) | 使用奈米管織物之電磁及熱偵測器及其製造方法 | |
US10483316B2 (en) | Fabrication and operation of multi-function flexible radiation detection systems | |
KR100716495B1 (ko) | 기체전자증폭기를 이용한 디지털 영상 광 검출장치 | |
US7358506B2 (en) | Structured X-ray conversion screen fabricated with molded layers | |
KR102454412B1 (ko) | 다이렉트 변환 방사선 검출기 | |
Tian et al. | Co-axial silicon/perovskite heterojunction arrays for high-performance direct-conversion pixelated X-ray detectors | |
US10367112B2 (en) | Device for direct X-ray detection | |
WO2009072056A2 (en) | Monolithically integrated crystalline direct-conversion semiconductor detector for detecting incident x-radiation at ultra-fine pitch and method for manufacturing such an x-ray semiconductor detector | |
CN102695968A (zh) | 检测器、用于制造检测器的方法和成像装置 | |
Oliveira et al. | Indirect X-ray detectors based on inkjet-printed photodetectors with a screen-printed scintillator layer | |
JP4892894B2 (ja) | 光または放射線検出ユニットの製造方法、およびその製造方法で製造された光または放射線検出ユニット | |
KR20160148372A (ko) | 방사선 검출기 및 그 제조 방법 | |
WO2006083109A1 (en) | Digital x-ray image detector using an fed device | |
US6727503B1 (en) | Two dimensional ionizing radiation detector and method for the production thereof | |
CN105428435A (zh) | 一种高灵敏度紫外光探测器及其制作方法 | |
US20060065842A1 (en) | X-ray detector and x-ray examination device using it | |
JP2004340737A (ja) | 放射線検出器及びその製造方法 | |
JP6790005B2 (ja) | 検出素子および検出器 | |
Nagano et al. | Improvement of multi-pixel photon counter (MPPC) | |
TWI825249B (zh) | X射線檢測器的製備方法及其使用方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20150707 |
|
PA0201 | Request for examination | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20160902 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20161129 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20161213 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20161213 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191209 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20191209 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20201102 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210927 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20230921 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |