KR101644339B1 - 오버레이 용접장치 - Google Patents

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박희용
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Abstract

본 발명은 전자기파를 이용하여 오버레이 용접을 수행하는 오버레이 용접장치에 관한 것으로, 전자기파를 생성하는 발생부, 상기 발생부에서 생성된 전자기파를 일부는 반사시키고 일부는 통과시켜 복수의 전자기파로 변환시키는 변환부, 상기 변환부의 각도를 조절하는 조절부 및 상기 조절부를 제어하여, 상기 변환된 복수의 전자기파가 한 점에 조사되도록 상기 복수의 변환부의 각도를 조절하는 계산부를 포함하는 오버레이 용접장치가 개시된다.

Description

오버레이 용접장치{Overlay Welding Apparatus}
본 발명은 오버레이 용접장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 전자기파를 이용하여 오버레이 용접을 수행하는 오버레이 용접장치에 관한 것이다.
오버레이 용접은 피용접물에 내마모성, 내식성 및 내열성이 우수한 금속을 용접하여 입히는 작업으로서, 기계 부품의 마멸 충격, 침식에 의하여 마모되거나 환경에 영향으로 부식이 발생하여 생기는 경제적 손실을 감소시킬 수 있다.
하지만 오버레이 용접이 수행되기 전에 피용접물의 표면처리 작업이 수행되어야 한다. 그리고 오버레이 용접작업 중에 피용접물의 성분이 상기 금속에 흘러 들어가 상기 금속의 내마모성, 내식성 및 내열성이 감소될 수 있다.
한국등록특허 10-0719014 (공개일: 2006.05.19)
본 발명은 전자기파를 이용한 오버레이 용접을 수행하여, 피용접물의 표면처리작업이 수행되지 않는 오버레이 용접장치를 제공하는 것이 과제이다.
본 발명은 복수의 전자기파를 협소한 접점에 중첩시켜 열영향에 의한 피용접물의 성능저하를 감소시키는 오버레이 용접장치를 제공하는 것이 과제이다.
본 발명의 과제는 이상에서 언급한 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않는 또 다른 과제는 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일측면에 따르면, 전자기파를 생성하는 발생부, 상기 발생부에서 생성된 전자기파를 일부는 반사시키고 일부는 통과시켜 복수의 전자기파로 변환시키는 변환부, 상기 변환부의 각도를 조절하는 조절부 및 상기 조절부를 제어하여, 상기 변환된 복수의 전자기파가 한 점에 조사되도록 상기 복수의 변환부의 각도를 조절하는 계산부를 포함하는 오버레이 용접장치가 개시된다.
상기 변환부에서 통과한 전자기파를 반사시키는 반사부를 더 포함하고, 상기 조절부는, 상기 반사부에서 반사된 전자기파를 상기 변환부에서 반사된 전자기파와 한 점에 조사되도록 상기 반사부의 각도를 조절할 수 있다.
본 발명의 다른 측면에 따르면, 복수의 전자기파를 생성하는 복수의 발생부, 상기 복수의 발생부의 각도를 조절하는 조절부 및 상기 조절부를 제어하여, 상기 복수의 전자기파가 한 점에 조사되도록 상기 발생부의 각도를 조절하는 계산부를 포함할 수 있다.
상기 발생부 및 변환부를 이동시키는 이동부를 더 포함하고, 상기 이동부는, 상기 발생부가 설치되는 대차, 상기 대차를 지지하는 지지부 및 상기 지지부 상에 구비되어 상기 대차의 슬라이딩을 안내하는 레일을 포함할 수 있다.
상기 복수의 전자기파가 조사된 한 점과 상기 발생부 사이의 거리에 따라, 전자기파의 파장을 조절 파장제어부를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 오버레이 용접장치는 전자기파를 이용하여 오버레이 용접을 수행하기 때문에 피용접물의 표면처리작업이 수행되지 않을 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 오버레이 용접장치는 복수의 전자기파를 협소한 접점에 중첩시키기 때문에 열영향에 의한 피용접물의 성능저하를 감소시킬 수 있다.
본 발명의 효과는 이상에서 언급한 효과로 제한되지 않으며, 언급되지 않는 또 다른 효과는 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 제1 실시예에 따른 오버레이 용접장치를 도시한 사시도;
도 2는 본 발명의 제1 실시예에 따른 오버레이 용접장치를 도시한 평면도;
도 3은 본 발명의 제1 실시예에 따른 오버레이 용접장치가 구동되는 과정을 도시한 평면도;
도 4는 도 2의 A-A'구역의 중첩되지 않은 전자기파를 나타낸 그래프;
도 5는 도 2의 A-A'구역의 중첩된 전자기파를 나타낸 그래프; 및
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 오버레이 용접장치를 도시한 평면도;이다.
이하 본 발명의 실시예에 대하여 첨부한 도면을 참조하여 상세하게 설명하기로 한다. 다만, 첨부된 도면은 본 발명의 내용을 보다 쉽게 개시하기 위하여 설명되는 것일 뿐, 본 발명의 범위가 첨부된 도면의 범위로 한정되는 것이 아님은 이 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 용이하게 알 수 있을 것이다.
또한, 본 발명에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
본 발명에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 오버레이 용접장치는 복수의 전자기파(E)를 서로 인접한 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)에 방출시킬 수 있다. 상기 복수의 전자기파(E)는, 제1 피용접물(10)을 통과하여, 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)의 접선 상의 접점(P)에서 교차되어 중첩될 수 있다.
이 때 제2 피용접물(20)은 제1 피용접물(10) 상에 배치되며, 제1 피용접물(10)에 비해 내마모성, 내식성 및 내열성이 우수한 재질이며, 평평한 플레이트(plate) 형상일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
복수의 전자기파(E)가 중첩되면 중첩된 전자기파(E)의 에너지는 증가되며, 이에 따라 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)을 구성하는 원자 집단이 열에 의해서 들뜨게 되어, 전자기파(E)를 복사하는 열복사 현상이 발생될 수 있다.
제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)의 접선 상의 접점(P)에서 복수의 전자기파(E)가 중첩되어 열복사가 일어남에 따라, 온도가 올라가 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)이 용융되어 제2 피용접물(20)이 제1 피용접물(10) 상에 용접될 수 있다.
한편 복수의 전자기파(E)가 중첩되지 않은 구역은, 전자기파(E)의 세기가 낮기 때문에 제1 피용접물(10) 및 제2 피용접물(20)에 영향을 주지 않을 수 있다. 이에 따라 제1 실시예에 따른 오버레이 용접장치는 제2 피용접물(20)이 용융되어 제1 피용접물(10)로 흘러 들어가, 제1 피용접물(10)의 내마모성 및 내열성이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
이 때 전자기파(E)는 엑스레이(X-ray)일 수 있으나 이에 한정되는 것은 아니며, 제1 피용접물(10) 및 제2 피용접물(20)의 종류 또는 작업환경에 따라 감마선 등 다른 전자기파가 이용될 수 있다.
본 발명은 제1 실시예 및 제2 실시예로 구현될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
이제부터 본 발명의 제1 실시예에 따른 오버레이 용접장치에 대해 설명하기로 한다.
도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 오버레이 용접장치는 발생부(130), 변환부(120), 조절부(140), 계산부(400), 이동부(200), 파장제어부(300) 및 반사부(600)를 포함할 수 있다.
발생부(130)는 전자기파(E)를 변환부(120)를 향해 조사시킬 수 있다.
변환부(120)는 발생부(130)에서 조사된 전자기파(E)의 일부를 반사시키고 나머지를 통과시키는 구성요소이며, 발생부(130)에서 조사된 전자기파(E)의 경로를 따라 복수로 구비될 수 있다.
도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이, 복수의 변환부(120)는 4개의 제1 변환부 내지 제4 변환부(121, 122, 123, 124)를 포함할 수 있으나, 변환부(120)의 개수를 한정하는 것은 아니다.
이 때 상기 발생부(130)에서 조사된 전자기파(E)의 경로 상에 제1 변환부 내지 제4 변환부(121, 122, 123, 124)가 배치될 수 있다.
또한 변환부(120)는 전자기파(E)의 일부는 반사시키고 나머지는 통과시키는 하프 미러(half mirror)일 수 있다.
한편 반사부(600)는 제4 변환부(124)와 인접배치되며, 제4 변환부(124)에서 통과한 전자기파(E)를 모두 반사시키는 구성요소로서, 반사부(600)에서 반사된 전자기파(E)가 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)의 접선 상의 접점(P)으로 보낼 수 있다. 이에 따라 각 변환부(120)에서 반사된 전자기파(E)와, 반사부(600)에서 반사된 전자기파(E)는 상기 접점(P)에서 교차할 수 있다.
복수의 전자기파(E)가 상기 접점(P)으로 모이는 과정은 다음과 같다.
발생부(130)에서 조사된 전자기파(E)는 제1 변환부(121)로 보내져서 일부는 상기 접점(P)으로 반사되고 나머지는 통과되어 제2 변환부(122)로 보내질 수 있다. 제2 변환부(122)로 보내진 전자기파(E)는 일부는 상기 접점(P)으로 반사되고 나머지는 통과되어 제3 변환부(123)로 보내질 수 있다. 제3 변환부(123)로 보내진 전자기파(E)는 일부는 상기 접점(P)으로 반사되고 나머지는 통과되어 제4 변환부(124)로 보내질 수 있다. 제4 변환부(124)로 보내진 전자기파(E)는 일부는 상기 접점(P)으로 반사되고 나머지는 통과되어 반사부(600)로 보내질 수 있다. 그리고 반사부(600)로 보내진 전자기파(E)는 상기 접점(P)으로 모두 반사되어 보내질 수 있다.
즉, 제1 변환부 내지 제4 변환부(121, 122, 123, 124)와 반사부(600)에서 반사된 5개의 전자기파(E)가 상기 접점(P)에 교차되어 중첩될 수 있다.
또한 변환부(120)는 각도 조절이 가능하도록 구비되며, 변환부(120)의 각도가 조절되도록 모터(motor)가 각 변환부(120)마다 구비될 수 있다. 다만 변환부(120)의 각도를 조절하는 설비를 모터로 한정하는 것은 아니며, 변환부(120)에 힘을 인가하여 변환부(120)의 각도를 조절하는 다른 설비가 구비될 수 있다.
계산부(400)는 복수의 변환부(120)와 반사부(600)에서 반사된 전자기파(E)가 만나는 지점이, 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)의 접선 상의 접점(P)에 위치하도록, 각 변환부(120)와 반사부(600)의 각도를 계산할 수 있고, 계산된 각 변환부(120)와 반사부(600)의 각도에 대한 정보를 조절부(140)로 출력할 수 있다.
이 때 계산부(400)는 발생부(130)와, 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)의 접선 상의 접점(P) 사이의 거리에 따라, 반사된 복수의 전자기파(E)가 상기 접점(P)에서 교차되어 중첩되도록 복수의 변환부(120)와 반사부(600)의 각도를 각각 계산할 수 있다.
조절부(140)는 계산부(400)에서 계산된 정보를 수신하여 복수의 변환부(120)와 반사부(600)의 각도를 조절할 수 있으며, 복수의 변환부(120)와 반사부(600)의 각도가 조절됨에 따라 전자기파(E)가 반사되는 각도 역시 조절될 수 있다.
도 3을 참고하여 복수의 전자기파(E)가 교차되어 중첩되는 과정을 설명하기로 한다.
도 3에 도시된 바와 같이, 전자기파(E)는 사인파와 유사한 형상을 지닌 규칙적인 파동일 수 있다. 복수의 전자기파(E)의 마루는 상기 접점(P)에서 만나 중첩되어 열복사 현상이 발생될 수 있다.
이 때 발생부(130)와 특정한 변환부(120) 또는 반사부(600) 사이의 거리와, 상기 특정한 변환부(120) 또는 반사부(600)와 상기 접점(P) 사이의 거리의 합은 전자기파(E) 파장(λ)의 임의의 정수(n)배와 같을 수 있다.
발생부(130)와 제1 변환부(121) 사이의 거리(a1)와, 제1 변환부(121)와 상기 접점(P) 사이의 거리(b1)의 합은, 전자기파(E) 파장(λ)의 임의의 정수(n)배와 같을 수 있다.
a1+b1=nλ
발생부(130)와 제2 변환부(122) 사이의 거리(a1+a2)와, 제2 변환부(122)와 상기 접점(P) 사이의 거리(b2)의 합은, 전자기파(E) 파장(λ)의 임의의 정수(n)배와 같을 수 있다.
(a1+a2)+b2=nλ
발생부(130)와 제3 변환부(123) 사이의 거리(a1+a2+a3)와, 제3 변환부(123)와 상기 접점(P) 사이의 거리(b3)의 합은, 전자기파(E) 파장(λ)의 임의의 정수(n)배와 같을 수 있다.
(a1+a2+a3)+b3=nλ
발생부(130)와 제4 변환부(124) 사이의 거리(a1+a2+a3+a4)와, 제4 변환부(124)와 상기 접점(P) 사이의 거리(b4)의 합은, 전자기파(E) 파장(λ)의 임의의 정수(n)배와 같을 수 있다.
(a1+a2+a3+a4)+b4=nλ
발생부(130)와 반사부(600) 사이의 거리(a1+a2+a3+a4+a5)와, 반사부(600)와 상기 접점(P) 사이의 거리(b5)의 합은, 전자기파(E) 파장(λ)의 임의의 정수(n)배와 같을 수 있다.
(a1+a2+a3+a4+a5)+b5=nλ
도 4는 도 2의 A-A'구역의 중첩되지 않은 전자기파(E)를 나타낸 그래프이고, 도 5는 도 2의 A-A'구역의 중첩된 전자기파(E)를 나타낸 그래프이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 전자기파(E)가 중첩되지 않는다면, A-A'구역에서 제3 변환부(123)에서 반사된 전자기파(E)만이 나타날 수 있다. 이 때 중첩되지 않은 전자기파(E)는 중첩된 전자기파(E)보다 세기가 낮으며, 이에 따라 열복사 현상이 발생되지 않아 제1 피용접물(10) 및 제2 피용접물(20)에 영향을 주지 않을 수 있다.
반면 도 5에 도시된 바와 같이, 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)의 접선 상의 접점(P)에서 전자기파(E)가 중첩될 경우, 전자기파(E)의 진폭이 중첩되어 전자기파(E)의 세기가 증가되며, 이에 따라 열복사 현상이 발생하여 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)이 용접될 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이, 이동부(200)는 대차(260), 지지부(220), 롤러(270) 및 레일(240)을 포함할 수 있다.
대차(260)는 지지부(220)에 설치된 레일(240)에 연결되며, 발생부(130), 변환부(120) 및 반사부(600)가 설치되는 공간을 제공할 수 있다. 이 때 대차(260)는 레일(240)을 따라 판부재(226)의 면을 따라 움직여질 수 있다.
지지부(220)는 지면으로부터 연장된 4개의 세로부재(223)와 세로부재(223)들을 연결하는 플레이트(plate) 형상의 판부재(226)를 포함할 수 있다.
레일(240)은 판부재(226) 일면의 가로방향과 세로방향으로, 판부재(226) 일면의 하부에 설치되어 대차(260)의 슬라이딩을 안내할 수 있다.
발생부(130), 변환부(120) 및 반사부(600)와 연결된 이동부(200)가 이동함에 따라 전자기파(E)가 모이는 점이 이동하여 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)을 용접시킬 수 있다.
롤러(270)는 대차(260)의 상면에 구비되며, 레일(240)에 결합될 수 있다. 롤러(270)가 회전함에 따라 대차(260)는 레일(240) 상을 이동할 수 있다.
파장제어부(300)는 변환부(120) 및 반사부(600)에서 반사된 전자기파(E)가 상기 접점(P)에서 중첩되도록 전자기파(E)의 파장 및 종류를 제어할 수 있다.
이 때 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 실시예에 따른 파장제어부(300)는 발생부(130)에 구비되며, 발생부(130)에서 조사되는 전자기파(E)의 파장 및 종류를 제어할 수 있다.
파장제어부(300)는 발생부(130)에서 조사되는 전자기파(E)의 파장 및 종류를 제어하여, 상기 접점(P)에서 교차되는 각 전자기파(E)의 마루가 상기 접점(P)에서 만나 중첩되도록 조절할 수 있다.
즉, 본 발명의 제1 실시예에 따른 오버레이 용접장치는 전자기파(E)의 파장 및 종류와, 변환부(120) 및 반사부(600)의 각도를 조절하여, 각 전자기파(E)는 상기 접점(P)에서 교차할 수 있으며, 이 때 각 전자기파(E)의 마루는 상기 접점(P)에서 만나 중첩될 수 있다.
이제부터 본 발명의 제2 실시예에 따른 오버레이 용접장치에 대해 설명하기로 한다.
도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 제2 실시예에 따른 오버레이 용접장치는 발생부(130), 조절부(140), 계산부(400), 이동부(200) 및 파장제어부(300)를 포함할 수 있다.
발생부(130)는 전자기파(E)를 제1 피용접물(10) 및 제2 피용접물(20)로 조사시킬 수 있다. 이 때 발생부(130)는 복수로 구비될 수 있으며, 복수의 발생부(130)는 5개의 제1 발생부 내지 제5 발생부(131, 132, 133, 134, 135)를 포함할 수 있으나, 발생부(130)의 개수를 한정하는 것은 아니다. 이 때 제1 발생부 내지 제5 발생부(131, 132, 133, 134, 135)는 상기 접점(P)을 중심으로 그려지는 부채꼴의 호(미도시) 상에 배치될 수 있으며, 각 발생부(130)와 상기 접점(P) 사이의 거리는 각각 동일할 수 있다.
이 때 제1 발생부 내지 제5 발생부(131, 132, 133, 134, 135)에서 조사된 복수의 전자기파(E)는 제1 피용접물(10) 및 제2 피용접물(20) 접선 상의 접점(P)에서 교차되어 중첩될 수 있다. 또한 복수의 전자기파(E)의 마루는 상기 접점(P)에서 만나 중첩되어 열복사 현상이 발생될 수 있다.
그리고 복수의 발생부(130)는 대차(260)의 하부에 힌지연결되어 회전될 수 있으며, 각 발생부(130)가 힌지를 중심으로 회전함 따라 각 발생부(130)의 각도가 조절될 수 있다. 한편 대차(260)를 포함한 이동부(200)의 구성은 제1 실시예의 구성과 동일할 수 있다.
계산부(400)는 복수의 발생부(130)에서 조사된 전자기파(E)가 만나는 지점이, 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)의 접선 상의 접점(P)에 위치하도록, 복수의 발생부(130)가 전자기파(E)를 조사시키는 각도를 계산할 수 있고, 계산된 복수의 발생부(130)의 각도에 대한 정보를 조절부(140)로 출력할 수 있다.
이 때 계산부(400)는 발생부(130)와, 제1 피용접물(10)과 제2 피용접물(20)의 접선 상의 접점(P) 사이의 거리에 따라, 방출된 복수의 전자기파(E)가 상기 접점(P)에서 교차되도록 복수의 발생부(130)의 각도를 각각 계산할 수 있다.
조절부(140)는 계산부(400)에서 계산된 정보를 수신하여 복수의 발생부(130)의 각도를 조절할 수 있으며, 복수의 발생부(130)의 각도가 조절됨에 따라 전자기파(E)가 조사되는 각도 역시 조절될 수 있다.
한편 도 6에 도시된 바와 같이, 제2 실시예에 따른 파장제어부(300)는, 제1 발생부 내지 제5 발생부(131, 132, 133, 134, 135)마다 구비되어 각 발생부(130)에서 조사되는 전자기파(E)의 파장 및 종류를 제어할 수 있다.
파장제어부(300)는 각 발생부(130)에서 조사되는 전자기파(E)의 파장 및 종류를 제어하여, 상기 접점(P)에서 교차되는 각 전자기파(E)의 마루가 상기 접점(P)에서 만나 중첩되도록 조절할 수 있다.
이 때 각 발생부(130)에서 조사되는 각 전자기파(E)의 파장은 서로 같으며, 파장제어부(300)의 제어에 의해 각 전자기파(E)의 마루가 상기 접점(P)에서 교차되어 중첩될 수 있다. 다만 각 전자기파(E)의 파장은 서로 같은 것으로 한정되지 않으며, 각 전자기파(E)의 파장이 서로 다를 경우, 파장제어부(300)의 제어에 의해 각 전자기파(E)의 마루가 상기 접점(P)에서 교차되어 중첩될 수 있다.
즉, 본 발명의 제2 실시예에 따른 오버레이 용접장치는 전자기파(E)의 파장 및 종류와, 각 발생부(130)가 전자기파(E)를 조사하는 각도를 조절할 수 있다. 이에 따라 각 전자기파(E)는 상기 접점(P)에서 교차하며, 이 때 각 전자기파(E)의 마루는 상기 접점(P)에서 만나 중첩될 수 있다.
이상과 같이 본 발명에 따른 실시예를 살펴보았으며, 앞서 설명된 실시예 이외에도 본 발명이 그 취지나 범주에서 벗어남이 없이 다른 특정 형태로 구체화 될 수 있다는 사실은 해당 기술에 통상의 지식을 가진 이들에게는 자명한 것이다. 그러므로, 상술된 실시예는 제한적인 것이 아니라 예시적인 것으로 여겨져야 하고, 이에 따라 본 발명은 상술한 설명에 한정되지 않고 첨부된 청구항의 범주 및 그 동등 범위 내에서 변경될 수도 있다.
10: 제1 피용접물 20: 제2 피용접물
120: 변환부 121: 제1 변환부
122: 제2 변환부 123: 제3 변환부
124: 제4 변환부 130: 발생부
131: 제1 발생부 132: 제2 발생부
133: 제3 발생부 134: 제4 발생부
135: 제5 발생부 140: 조절부
200: 이동부 220: 지지부
223: 세로부재 226: 판부재
240: 레일 260: 대차
270: 롤러 300: 파장제어부
400: 계산부 600: 반사부
P: 접점 E: 전자기파

Claims (5)

  1. 엑스선인 전자기파를 생성하는 발생부;
    상기 발생부에서 생성된 전자기파를 일부는 반사시키고 일부는 통과시켜 복수의 전자기파로 변환시키는 복수의 변환부;
    상기 복수의 변환부를 통과한 전자기파를 반사시키는 반사부;
    상기 복수의 변환부에서 반사된 전자기파와 상기 반사부에서 반사된 전자기파가 한 점에 조사되도록, 상기 복수의 변환부와 상기 반사부의 각도를 조절하는 조절부; 및
    상기 복수의 변환부에서 반사된 전자기파와 상기 반사부에서 반사된 전자기파가 제1 피용접물과 제2 피용접물의 접선 상의 접점에 위치하도록, 상기 복수의 변환부와 상기 반사부의 각도를 계산하여 상기 조절부를 제어하는 계산부;를 포함하는 오버레이 용접장치.
  2. 삭제
  3. 복수의 엑스선인 전자기파를 생성하는 복수의 발생부;
    상기 복수의 발생부에서 생성된 복수의 전자기파가 한 점에 조사되도록, 상기 복수의 발생부의 각도를 조절하는 조절부;
    상기 복수의 발생부에서 생성된 복수의 전자기파가 제1 피용접물과 제2 피용접물의 접선 상의 접점에 위치하도록, 상기 복수의 발생부의 각도를 계산하여 상기 조절부를 제어하는 계산부;
    상기 복수의 발생부가 설치되는 대차, 상기 대차를 지지하는 지지부 및 상기 지지부 상에 구비되어 상기 대차의 슬라이딩을 안내하는 레일로 구성되어, 상기 복수의 발생부를 이동시키는 이동부; 및
    상기 복수의 전자기파가 조사된 한 점과 상기 발생부 사이의 거리에 따라, 상기 복수의 전자기파의 파장을 조절하는 파장제어부;를 포함하는 오버레이 용접장치.
  4. 삭제
  5. 삭제
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