KR101631821B1 - Improved Line Light Source Module, and Light Irradiation Apparatus and Method Having the Same - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 개선된 라인 광원 모듈, 및 이를 구비한 광조사 장치 및 광조사 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an improved line light source module, a light irradiation device having the same, and a light irradiation method.
좀 더 구체적으로, 본 발명은 서로 상이한 파장을 방출하는 복수의 라인 광원을 회전 가능한 정다각형 고정 블록의 정다각형 표면 상에 각각 제공하고, 상기 정다각형 고정 블록은 프레임 상에 장착되며, 상기 프레임은 상기 복수의 라인 광원의 각각의 한 쌍의 전극부와 접속하는 한 쌍의 콘택 부재를 구비하도록 함으로써, 검사 장치 또는 경화 장치 등에 사용되는 광조사 장치에서 사용되는 다양한 파장에 대응되는 복수의 라인 광원을 하나의 모듈로 제공하는 것이 가능하고, 광조사 장치에서 상이한 파장의 라인 광원의 사용이 요구될 때 해당 파장의 라인 광원으로 교체 셋팅할 필요가 없으며, 양산 공정에 적용 시 라인 광원의 교체 셋팅 등에 따른 전체 공정 시간(tact time)이 현저하게 단축되어 생산성이 크게 증가하고, 상이한 파장을 방출하는 각각의 라인 광원에 사용되는 일부 구성요소(예를 들어, 일부 렌즈 부재)의 사용이 불필요하므로 전체 장치의 제조 비용이 현저하게 절감될 수 있는 개선된 라인 광원 모듈, 및 이를 구비한 광조사 장치 및 광조사 방법에 관한 것이다.More specifically, the present invention provides a plurality of line light sources emitting different wavelengths from each other on a regular polygonal surface of a rotatable regular polygonal fixed block, wherein the regular polygonal fixed block is mounted on a frame, A plurality of line light sources corresponding to various wavelengths used in a light irradiation apparatus used in an inspection apparatus, a curing apparatus, or the like can be provided as one module It is not necessary to replace the line light source of the corresponding wavelength when it is required to use a line light source of a different wavelength in the light irradiation apparatus and it is not necessary to set the whole process time the tact time is remarkably shortened, the productivity is greatly increased, and each of the wavelengths Since the use of some components (for example, some lens elements) used in the line light source of the light source of the present invention is unnecessary, the manufacturing cost of the entire apparatus can be remarkably reduced, And to a survey method.
일반적으로 노광 장치는 평판 디스플레이(Flat Panel Display: FPD) 및 인쇄 회로기판(Printed Circuit Board: PCB) 기술 분야에 사용된다. 좀 더 구체적으로, 노광 장치는 글래스 기판(glass substrate) 또는 인쇄 회로기판(PCB)(이하 통칭하여 “기판”이라 합니다) 상에 전극(electrodes) 또는 도트(dots) 등과 같은 여러 개의 동일 또는 상이한 패턴들(예를 들어, 전극 회로 패턴, 컬러 필터(color filter), 블랙 매트릭스(black matrix) 또는 외장형 전자파 차단(electromagnetic interference: EMI) 필터 등)을 형성하거나, PCB 상의 회로를 구성하는 패턴들을 형성하는데 사용된다. 이러한 패턴들은 일반적으로 포토레지스트(photoresist: PR)액 또는 구리(Cu), 은(Ag), 알루미늄(Al) 등과 같은 금속 페이스트(paste)(이하, 통칭하여 "도액"이라 합니다)를 코팅하여 패턴을 형성한 후, 코팅된 패턴 상에 광원으로부터 방출된 빔을 이용하여 패턴을 검사하거나 또는 경화시키는 광조사 장치가 사용되고 있다.In general, an exposure apparatus is used in a flat panel display (FPD) and a printed circuit board (PCB) technology. More specifically, the exposure apparatus includes a plurality of identical or different patterns, such as electrodes or dots, on a glass substrate or a printed circuit board (PCB) (E.g., an electrode circuit pattern, a color filter, a black matrix, or an electromagnetic interference (EMI) filter), or to form patterns that constitute circuitry on the PCB Is used. These patterns are generally formed by coating a photoresist (PR) solution or a metal paste (hereinafter collectively referred to as "coating solution") such as copper (Cu), silver (Ag) There is used a light irradiation apparatus for inspecting or hardening a pattern using a beam emitted from a light source on a coated pattern.
상술한 광조사 장치의 하나로 라인 광원 모듈이 사용되고 있다. 이러한 라인 광원 모듈은 예를 들어 본 출원인에 의해 2010년 11월 5일자에 "노광 장치용 라인 광원 및 라인 광원 모듈, 및 이를 구비한 패턴 형성용 노광 장치 및 노광 시스템"이라는 발명의 명칭으로 대한민국 특허출원 제10-2010-0110077호로 출원되어, 2011년 11월 22일에 등록된 대한민국 특허 제10-1087787호에 상세히 기술되어 있다.A line light source module is used as one of the light irradiation devices described above. Such a line light source module is disclosed in, for example, " Line light source and line light source module for an exposure apparatus, exposure apparatus for forming a pattern having the same, and exposure system " Filed as Application No. 10-2010-0110077, and described in Korean Patent No. 10-1087787, filed on Nov. 22,
좀 더 구체적으로, 도 1a는 종래 기술에 따른 라인 광원 모듈의 평면도를 도시한 도면이고, 도 1b는 도 1a에 도시된 라인 광원 모듈에 사용되는 라인 광원의 일부 평면도와 라인 광원 모듈의 일부 사시도이다.More specifically, FIG. 1A is a plan view of a conventional line light source module, FIG. 1B is a partial plan view of a line light source used in the line light source module shown in FIG. 1A, and a partial perspective view of the line light source module .
도 1a 및 도 1b를 참조하면, 종래 기술에 따른 라인 광원 모듈(111)은 라인 광원(110); 및 상기 라인 광원(110)의 하부에 장착되며, 상기 라인 광원(110)에서 방출되는 빔을 집속하기 위한 복수의 마이크로 렌즈(122,124)로 구성되는 마이크로 렌즈 어레이(120)를 포함한다.1A and 1B, a conventional line
상술한 라인 광원 모듈(111)은 라인 광원(110)을 구성하는 복수의 제 1 및 제 2 자외선 발광다이오드 칩(112a,112b)과 복수의 제 3 및 제 4 자외선 발광다이오드 칩(114a,114b)의 공통 신호를 하나로 연결하기 위한 공통 전극(116)을 구비한다. 이러한 공통 전극(116)에 의해 최대한 많은 수의 자외선 발광다이오드 칩이 노광 장치용 라인 광원 모듈(111)의 라인 광원(110) 내에 포함되도록 구성할 수 있다.The line
또한, 종래 기술의 라인 광원 모듈(111)은 복수의 제 1 및 제 2 자외선 발광다이오드 칩(112a,112b)과 복수의 제 3 및 제 4 자외선 발광다이오드 칩(114a,114b) 각각에 제어 신호를 제공하기 위한 외부 연결용 신호 전극(118)를 구비한다. 이 경우, 복수의 제 1 내지 제 4 자외선 발광다이오드 칩(112a,...,114b) 중 양극(anode)이 공통 전극(116)이고, 음극(cathode)이 외부 연결용 신호 전극(118)이거나, 또는 복수의 제 1 내지 제 4 자외선 발광다이오드 칩(112a,,...,114b) 중 음극이 공통 전극(116)이고, 양극이 외부 연결용 신호 전극(118)으로 구현될 수 있다. 상술한 외부 연결용 신호 전극(118)을 통해 복수의 제 1 내지 제 4 자외선 발광다이오드 칩(112a,...,114b)은 각각 개별적으로 제어될 수 있다.The conventional line
한편, 마이크로 렌즈 어레이(120)는 라인 광원(110)을 구성하는 복수의 제 1 내지 제 4 자외선 발광다이오드 칩(112a,...,114b)의 중심과 정렬된 상태로 배열된 복수의 제 1 내지 제 4 마이크로 렌즈(122a,...,124b)로 구성된다.The
또한, 종래 기술의 라인 광원 모듈(111)에서는 라인 광원(110)을 구성하는 복수의 제 1 내지 제 4 자외선 발광다이오드 칩(112a,...,114b)의 동시 구동에 의한 발열 문제가 발생한다. 이러한 문제를 해결하기 위해, 종래 기술의 라인 광원 모듈(111)은 라인 광원(110)의 상부(또는 배면)에 장착되는 지지 부재(130)를 추가로 포함할 수 있다.In addition, in the conventional line
한편, 도 1c는 종래 기술의 제 1 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 1d는 도 1c에 도시된 라인 광원 모듈에 사용되는 복수의 라인 광원의 구체적인 구성을 도시한 평면도이다.1C is a view schematically showing a line light source module and a light irradiation device according to a first embodiment of the prior art. FIG. 1D is a diagram illustrating a specific configuration of a plurality of line light sources used in the line light source module shown in FIG. Fig.
도 1c 및 도 1d를 참조하면, 종래 기술의 제 1 실시예에 따른 라인 광원 모듈(111)은 각각이 복수의 발광다이오드 칩(112a,112b,112c)으로 구성되는 복수의 광원 유닛(113a,113b,113c), 및 상기 복수의 발광다이오드 칩(112a,112b,112c)과 각각 연결되는 공통 전극(116)과 외부 연결용 신호 전극(118)으로 구성되는 복수의 라인 광원(110a,110b,110c); 상기 복수의 라인 광원(110a,110b,110c)이 장착되는 지지 부재(130); 및 상기 지지 부재(130)가 장착되는 프레임(102)을 포함한다.1C and 1D, the line
또한, 종래 기술의 제 1 실시예에 따른 광조사 장치(100)는 각각이 복수의 발광다이오드 칩(112a,112b,112c)으로 구성되는 복수의 광원 유닛(113a,113b,113c), 및 상기 복수의 발광다이오드 칩(112a,112b,112c)과 각각 연결되는 공통 전극(116)과 외부 연결용 신호 전극(118)로 구성되는 복수의 라인 광원(110a,110b,110c); 상기 복수의 라인 광원(110a,110b,110c)이 장착되는 지지 부재(130); 상기 지지 부재(130)가 장착되는 프레임(102); 상기 복수의 광원 유닛(113a,113b,113c) 중 어느 하나의 광원 유닛의 하부에서 상기 프레임(102)과 상대적으로 이동 가능하게 제공되며, 상기 어느 하나의 광원 유닛에서 방출되는 광을 축소하여 기판(150) 상의 대상물(미도시)에 결상하기 위한 렌즈 부재(140)를 포함한다.The
한편, 도 1e는 종래 기술의 제 2 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.1E is a view schematically showing a line light source module and a light irradiation device according to a second embodiment of the prior art.
도 1e를 도 1d와 함께 참조하면, 종래 기술의 제 2 실시예에 따른 라인 광원 모듈(111)은 도 1c에 도시된 종래 기술의 제 1 실시예에 따른 라인 광원 모듈(111)과 완전히 동일하다.Referring to FIG. 1E and FIG. 1D, the line
또한, 종래 기술의 제 2 실시예에 따른 광조사 장치(100)는 각각이 복수의 발광다이오드 칩(112a,112b,112c)으로 구성되는 복수의 광원 유닛(113a,113b,113c), 및 상기 복수의 발광다이오드 칩(112a,112b,112c)과 각각 연결되는 공통 전극(116)과 외부 연결용 신호 전극(118)로 구성되는 복수의 라인 광원(110a,110b,110c); 상기 복수의 라인 광원(110a,110b,110c)이 장착되는 지지 부재(130); 상기 지지 부재(130)가 장착되는 프레임(102); 상기 복수의 광원 유닛(113a,113b,113c)의 각각의 하부에 제공되며, 상기 복수의 광원 유닛(113a,113b,113c)에서 각각 방출되는 광을 축소하여 기판(150) 상의 대상물(미도시)에 결상하기 위한 복수의 렌즈 부재(140a,140b,140c)를 포함한다.The
상술한 종래 기술의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 라인 광원 모듈(111) 및 광조사 장치(100)에 사용되는 복수의 라인 광원(110a,110b,110c)을 구성하는 공통 전극(116)과 외부 연결용 신호 전극(118)은 인쇄회로기판(PCB)으로 구현될 수 있고, 그에 따라 각각의 복수의 라인 광원(110a,110b,110c)은 LED PCB 모듈로 지칭될 수 있다.A
또한, 지지 부재(130)는 복수의 발광다이오드 칩(112a,112b,112c)의 방열판 기능을 구비한다.Also, the
또한, 광원 유닛(113a)을 구성하는 복수의 발광다이오드 칩(112a), 광원 유닛(113b)을 구성하는 복수의 발광다이오드 칩(112b), 및 광원 유닛(113c)을 구성하는 복수의 발광다이오드 칩(112c)은 각각 서로 상이한 파장의 광(예를 들어, 가시광선, 365nm의 자외선, 및 405nm의 자외선)을 방출할 수 있다.The plurality of light
상술한 종래 기술의 제 1 및 제 2 실시예에 따른 라인 광원 모듈(111) 및 광조사 장치(100)는, 예를 들어 기판(150) 상의 대상물(미도시)(예를 들어, 특정 패턴 또는 얼라인 마크 등)을 경화시키거나 또는 검사하기 위해 사용될 수 있으며, 이 경우 다음과 같은 문제가 발생한다.The line
도 1c에 도시된 종래 기술의 제 1 실시예에 따른 라인 광원 모듈(111) 및 광조사 장치(100)가 예를 들어 기판(150) 상의 대상물(미도시)(예를 들어, 특정 패턴)을 검사 또는 경화하기 위한 장치로 사용되고, 도액 1에 의해 형성된 패턴은 광원 유닛(113b)을 이용하여 검사 또는 경화되어야 하고, 도액 1과 상이한 도액 2에 의해 형성된 패턴은 광원 유닛(113a)을 이용하여 검사 또는 경화되어야 하는 경우가 발생한다. 이 때, 패턴의 형성 위치(P)가 광원 유닛(113b)의 하부에 위치되는 경우, 광원 유닛(113a)을 이용하여 패턴을 검사 또는 경화하기 위해서는 광원 유닛(113a)이 렌즈 부재(140) 상에 위치되도록 프레임(102)을 우측으로 이동하여야 할 뿐만 아니라, 광원 유닛(113b)과 광원 유닛(113a)에서 각각 발생하는 광의 파장이 서로 상이하므로, 렌즈 부재(140)를 광원 유닛(113a)에서 발생되는 광의 파장에 대응되는 또 다른 렌즈 부재로 변경하여야 하고, 프레임(102)의 이동에 따른 광원 유닛(113a)의 위치가 변경되므로 광원 유닛(113a)과 기판(150) 간의 높이가 변경될 수 있으므로 높이를 조정하기 위한 새로운 세팅 공정이 요구된다. 그에 따라. 전체 공정 시간이 증가한다.The line
또한, 도 1e에 도시된 종래 기술의 제 2 실시예에 따른 라인 광원 모듈(111) 및 광조사 장치(100)에서는, 상술한 패턴 검사 또는 경화의 경우 광원 유닛(113a)을 이용하여 패턴을 검사 또는 경화하기 위해서는 여전히 광원 유닛(113a)과 렌즈 부재(140a)가 광원 유닛(113b)과 렌즈 부재(140b) 상의 위치로 이동시키기 위해 프레임(102)을 우측으로 이동하여야 할 뿐만 아니라, 렌즈 부재의 변경은 불필요하지만 프레임(102)의 이동에 따른 광원 유닛(113a)의 위치가 변경되므로 광원 유닛(113a)과 기판(150) 간의 높이가 변경될 수 있으므로 높이를 조정하기 위한 새로운 세팅 공정이 여전히 요구된다. 그에 따라. 종래 기술의 제 2 실시예에 따른 라인 광원 모듈(111) 및 광조사 장치(100)에서는, 사용이 요구되는 구성요소인 렌즈 부재의 수가 증가할 뿐만 아니라, 전체 공정 시간이 증가한다.In the line
또한, 종래 기술에서는 이용진에 의해 2012년 5월 21일자에 "현미경용 조광장치"라는 발명의 명칭으로 대한민국 특허출원 제10-2012-0053542호로 출원되어, 2012년 8월 3일에 등록된 대한민국 특허 제10-1172840호에는, 발광되는 빛의 파장이 서로 다른 복수개의 LED를 사용하면서, 표본으로 서로 다른 파장의 빛을 순차적으로 조사할 경우 빛의 이동 경로로 하나의 광가이드를 사용하는 현미경용 조광장치가 상세히 기술되어 있다.In addition, in the prior art, in Korean Patent Application No. 10-2012-0053542 filed on May 21, 2012 under the name of the invention entitled " Dimmer for Microscope ", the Korean Patent registered on August 3, 2012 No. 10-1172840 discloses a technique in which a plurality of LEDs having different wavelengths of emitted light are used and light of different wavelengths is successively irradiated onto the specimen while a light guide for a microscope The device is described in detail.
좀 더 구체적으로, 도 2a는 종래 기술에 따른 현미경용 조광장치를 개략적으로 도시한 사시도이고, 도 2b는 도 2a에 도시된 현미경용 조광장치의 모터부를 개략적으로 도시한 사시도이며, 도 2c는 도 2a에 도시된 현미경용 조광장치의 모터부를 개략적으로 도시한 분해 사시도이다.More specifically, FIG. 2A is a perspective view schematically showing a conventional dimming apparatus for a microscope, FIG. 2B is a perspective view schematically showing a motor unit of the dimming apparatus for a microscope shown in FIG. 2A, 2B is an exploded perspective view schematically showing the motor portion of the light modulation device for a microscope shown in Figs.
도 2a 내지 도 2c를 참조하면, 종래 기술에 따른 현미경용 조광장치(200)는 하우징부(210)와, 모터부(240); 커넥터부(230); 냉각수부(250); 방열부(270); 및 제어부(280)를 포함한다.Referring to FIGS. 2A to 2C, a
하우징부(210)는 하부 하우징(211) 및 상부 하우징(212)을 포함한다. 상부 하우징(212)은 하부 하우징(211)과 착탈 가능하게 결합되어 하부 하우징(211)의 개방된 양 측부 및 상부를 폐쇄한다.The
모터부(240)는 하부 하우징(211) 내에 설치되는 것으로, 모터(241); 쿨링 디스크(242); 및 결합판(246)을 포함한다. 쿨링 디스크(242)는 모터(241)의 전방 측에 배치되며, 모터(241)의 회전축에 결합되어 회전된다.The
또한, 쿨링 디스크(242)의 전면에는 일정한 간격으로 복수개의 LED 칩(290)이 서로 소정 간격 이격되어 결합된다. 복수개의 LED 칩(290)은 서로 다른 파장의 빛을 발광한다. 쿨링 디스크(242)의 내부에는 냉각수가 흐를 수 있는 유로(244)가 형성되어 LED 칩(290)의 동작 시 발생되는 열과 유로를 흐르는 저온의 냉각수 사이에 열교환이 이루어진다.In addition, a plurality of
결합판(246)은 모터(241)의 후방 측에 배치되며, 모터(241)의 회전축에 결합되어 쿨링 디스크(242)와 함께 회전된다. 이러한 결합판(246)에는 복수개의 LED 칩(290)과 연결되는 기판(미도시)이 결합되며, 기판과 LED 칩(290) 사이를 연결하는 배선이 쿨링 디스크(242)의 회전 시 꼬이지 않도록 결합판(246)도 모터(241)에 결합되어 회전된다.The
커넥터부(230)는 상기 하부 하우징(211)의 전면에 결합되며,중심부가 개구되어 하부 하우징(211)의 전면에 결합 시 하부 하우징(211)의 전면에 개구된 부분과 중첩되는 베이스판(231) 및 상기 베이스판(231)의 중심부에 결합되어 베이스판(231)의 개구된 부분을 폐쇄하되, 일정한 간격으로 복수개의 삽입홀(233)이 이격 형성되어 하부 하우징(211)의 내외부를 연통시키는 연결판(232)을 포함한다.The
상술한 바와 같이, 종래 기술에 따른 현미경용 조광장치(200)에서는 서로 다른 파장의 빛을 발광하는 복수개의 LED 칩(290)이 서로 일정 간격 이격되어 쿨링 디스크(242)의 전면에 결합되므로, 사용자는 하나의 광가이드를 삽입홀(233)에 삽입 후 조작버튼을 누르게 되면 모터(241)가 회전되어 해당 파장의 LED 칩(290)이 광가이드와 일직선으로 배치되어 표본으로 해당 파장의 빛을 순차적으로 공급할 수 있다는 장점이 달성되지만, 여전히 다음과 같은 문제가 발생한다.As described above, since the plurality of
좀 더 구체적으로, 종래 기술에 따른 현미경용 조광장치(200)에서는, 기판과 LED 칩(290) 사이를 연결하는 배선이 쿨링 디스크(242)의 회전 시 꼬이지 않도록 하기 위해서는 모터(241)의 후방 측에 배치되며, 모터(241)의 회전축에 결합되어 쿨링 디스크(242)와 함께 회전되어야 하는 별도의 결합판(246)의 사용이 요구된다.In order to prevent the wiring connecting between the substrate and the
또한, 하나의 LED 칩(290)에 대해 2개의 배선(입력 및 출력 배선)이 필요하므로, 도 1c 내지 도 1e에 도시된 바와 같은 복수의 LED(112a,112b,112c)를 각각 구비한 복수의 라인 광원(110a110b,110c)이 사용되는 경우에는, 상당한 수의 배선이 요구된다. 이 경우, 배선이 꼬이지 않도록 하기 위해서는 쿨링 디스크(242), 결합판(246), 및 모터(241)의 사이즈가 상당히 커져야 한다는 문제점이 발생한다.Further, since two wirings (input and output wirings) are required for one
따라서, 상술한 문제점을 해결하기 위한 새로운 방안이 요구된다.Therefore, a new method for solving the above-mentioned problems is required.
본 발명은 상술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 서로 상이한 파장을 방출하는 복수의 라인 광원을 회전 가능한 정다각형 고정 블록의 정다각형 표면 상에 각각 제공하고, 상기 정다각형 고정 블록은 프레임 상에 장착되며, 상기 프레임은 상기 복수의 라인 광원의 각각의 한 쌍의 전극부와 접속하는 한 쌍의 콘택 부재를 구비하도록 함으로써, 검사 장치 또는 경화 장치 등에 사용되는 광조사 장치에서 사용되는 다양한 파장에 대응되는 복수의 라인 광원을 하나의 모듈로 제공하는 것이 가능하고, 광조사 장치에서 상이한 파장의 라인 광원의 사용이 요구될 때 해당 파장의 라인 광원으로 교체 셋팅할 필요가 없으며, 양산 공정에 적용 시 라인 광원의 교체 셋팅 등에 따른 전체 공정 시간(tact time)이 현저하게 단축되어 생산성이 크게 증가하고, 상이한 파장을 방출하는 각각의 라인 광원에 사용되는 일부 구성요소(예를 들어, 일부 렌즈 부재)의 사용이 불필요하므로 전체 장치의 제조 비용이 현저하게 절감될 수 있는 개선된 라인 광원 모듈, 및 이를 구비한 광조사 장치 및 광조사 방법을 제공하기 위한 것이다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems of the prior art, and it is an object of the present invention to provide a plurality of line light sources emitting different wavelengths from each other on a regular polygonal surface of a rotatable regular polygonal fixed block, And the frame is provided with a pair of contact members connected to each pair of electrode portions of the plurality of line light sources, whereby a plurality of contact lenses corresponding to various wavelengths used in the light irradiation apparatus used in the inspection apparatus, It is possible to provide a line light source of a different wavelength in a light irradiating apparatus, and when it is required to use a line light source of a different wavelength, it is not necessary to replace and set the line light source of the corresponding wavelength, The total process time (tact time) due to the replacement setting and the like is remarkably shortened, and the productivity is greatly increased An improved line light source module in which the manufacturing cost of the entire apparatus can be remarkably reduced since the use of some components (for example, some lens elements) used in each line light source emitting different wavelengths is unnecessary, and And a light irradiation apparatus and a light irradiation method having the same.
본 발명의 제 1 특징에 따른 라인 광원 모듈은 각각이 서로 상이한 파장의 광을 방출하는 복수의 발광다이오드 칩으로 구성되는 복수의 광원 유닛, 및 상기 복수의 발광다이오드 칩과 각각 연결되는 공통 전극과 외부 연결용 신호 전극으로 구성되는 복수의 라인 광원; 상기 복수의 라인 광원이 각각 장착되는 정다각형 표면을 구비하는 정다각형 고정 블록; 및 상기 정다각형 고정 블록이 회전 가능하게 장착되는 프레임을 포함하고, 상기 공통 전극 및 상기 외부 연결용 신호 전극은 각각 상기 프레임의 수평 부재 상에 제공되는 한 쌍의 콘택 부재와 접속되는 것을 특징으로 한다.A line light source module according to a first aspect of the present invention includes a plurality of light source units each comprising a plurality of light emitting diode chips emitting light of different wavelengths, a common electrode connected to each of the plurality of light emitting diode chips, A plurality of line light sources constituted by signal electrodes for connection; A regular polygonal fixed block having a regular polygonal surface on which the plurality of line light sources are mounted; And a frame to which the regular polygonal fixed block is rotatably mounted, wherein the common electrode and the signal electrode for external connection are each connected to a pair of contact members provided on a horizontal member of the frame.
본 발명의 제 2 특징에 따른 광조사 장치는 각각이 서로 상이한 파장의 광을 방출하는 복수의 발광다이오드 칩으로 구성되는 복수의 광원 유닛, 및 상기 복수의 발광다이오드 칩과 각각 연결되는 공통 전극과 외부 연결용 신호 전극으로 구성되는 복수의 라인 광원; 상기 복수의 라인 광원이 각각 장착되는 정다각형 표면을 구비하는 정다각형 고정 블록; 상기 정다각형 고정 블록이 회전 가능하게 장착되는 프레임; 상기 프레임의 수평 부재 상에 제공되며, 상기 공통 전극 및 상기 외부 연결용 신호 전극과 각각 접속되는 한 쌍의 콘택 부재; 상기 한 쌍의 콘택 부재와 한 쌍의 케이블에 의해 각각 연결되며, 상기 한 쌍의 콘택 부재에 전원을 공급하는 한 쌍의 전원 공급 부재; 및 상기 수평 부재의 하부에 제공되며, 상기 복수의 광원 유닛에서 방출되는 상기 서로 상이한 광을 축소하여 기판 상의 대상물에 결상하기 위한 렌즈 부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.A light irradiation apparatus according to a second aspect of the present invention includes a plurality of light source units each comprising a plurality of light emitting diode chips emitting light of different wavelengths, a common electrode connected to each of the plurality of light emitting diode chips, A plurality of line light sources constituted by signal electrodes for connection; A regular polygonal fixed block having a regular polygonal surface on which the plurality of line light sources are mounted; A frame in which the regular polygon fixing block is rotatably mounted; A pair of contact members provided on the horizontal member of the frame and respectively connected to the common electrode and the signal electrode for external connection; A pair of power supply members connected to the pair of contact members and a pair of cables, respectively, for supplying power to the pair of contact members; And a lens member provided at a lower portion of the horizontal member and configured to image the different light beams emitted from the plurality of light source units to an object on the substrate.
본 발명의 제 3 특징에 따른 광조사 방법은 a) 정다각형 고정 블록에 구비된 정다각형 표면에 각각 장착된 복수의 라인 광원 중 제 1 파장의 광을 방출하는 하나의 라인 광원을 이용하여 상기 하나의 라인 광원의 하부에 제공되는 렌즈 부재를 통해 기판 상의 대상물에 상기 제 1 파장의 광을 조사하는 단계; b) 상기 정다각형 고정 블록을 상기 프레임의 상방향으로 이동시키는 단계; c) 상기 복수의 라인 광원 중 제2 파장의 광을 방출하는 다른 하나의 라인 광원이 상기 렌즈 부재의 상부에 위치되도록 상기 정다각형 고정 블록을 상기 프레임의 회전축을 기준으로 미리 정해진 각도만큼 회전시키는 단계; d) 상기 정다각형 고정 블록을 상기 프레임의 하방향으로 미리 정해진 위치로 이동시키는 단계; 및 e) 상기 다른 하나의 라인 광원을 이용하여 상기 렌즈 부재를 통해 상기 기판 상의 상기 대상물에 제 2 파장의 광을 조사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The light irradiation method according to the third aspect of the present invention is characterized in that a) a plurality of line light sources mounted on regular polygonal surfaces provided on a regular polygonal fixed block, using one line light source for emitting light of a first wavelength, Irradiating the object on the substrate with light of the first wavelength through a lens member provided at a lower portion of the light source; b) moving the regular polygonal fixed block in an upward direction of the frame; rotating the regular polygonal fixed block with respect to the rotation axis of the frame by a predetermined angle so that the other one of the plurality of line light sources emitting the light of the second wavelength is positioned on the lens member; d) moving the regular polygonal fixed block to a predetermined position in a downward direction of the frame; And e) irradiating light of a second wavelength to the object on the substrate through the lens member using the other one of the line light sources.
본 발명에 따른 개선된 라인 광원 모듈, 및 이를 구비한 광조사 장치 및 광조사 방법을 사용하면 다음과 같은 장점이 달성된다.The following advantages can be achieved by using the improved line light source module according to the present invention, the light irradiation device having the same, and the light irradiation method.
1. 검사 장치 또는 경화 장치 등에 사용되는 광조사 장치에서 사용되는 다양한 파장에 대응되는 복수의 라인 광원을 하나의 모듈로 제공하는 것이 가능하다.1. It is possible to provide a plurality of line light sources corresponding to various wavelengths used in a light irradiation apparatus used for an inspection apparatus or a curing apparatus as a single module.
2. 광조사 장치에서 상이한 파장의 라인 광원의 사용이 요구될 때 해당 파장의 라인 광원으로 교체 셋팅할 필요가 없다.2. When it is required to use line light sources of different wavelengths in the light irradiation apparatus, it is not necessary to set the replacement light source with the line light source of the corresponding wavelength.
3. 양산 공정에 적용 시 라인 광원의 교체 셋팅 등에 따른 전체 공정 시간(tact time)이 현저하게 단축되어 생산성이 크게 증가한다.3. When applied to the mass production process, the total process time (tact time) due to the replacement setting of the line light source, etc. is remarkably shortened and the productivity is greatly increased.
4. 상이한 파장을 방출하는 각각의 라인 광원에 사용되는 일부 구성요소(예를 들어, 렌즈 부재)의 사용이 불필요하다.4. The use of some components (e.g., lens elements) used in each line light source emitting different wavelengths is unnecessary.
5. 전체 장치의 제조 비용이 현저하게 절감된다.5. The manufacturing cost of the entire apparatus is significantly reduced.
본 발명의 추가적인 장점은 동일 또는 유사한 참조번호가 동일한 구성요소를 표시하는 첨부 도면을 참조하여 이하의 설명으로부터 명백히 이해될 수 있다.Further advantages of the present invention can be clearly understood from the following description with reference to the accompanying drawings, in which like or similar reference numerals denote like elements.
도 1a는 종래 기술에 따른 라인 광원 모듈의 평면도를 도시한 도면이다.
도 1b는 도 1a에 도시된 라인 광원 모듈에 사용되는 라인 광원의 일부 평면도와 라인 광원 모듈의 일부 사시도이다.
도 1c는 종래 기술의 제 1 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 1d는 도 1c에 도시된 라인 광원 모듈에 사용되는 복수의 라인 광원의 구체적인 구성을 도시한 평면도이다.
도 1e는 종래 기술의 제 2 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2a는 종래 기술에 따른 현미경용 조광장치를 개략적으로 도시한 사시도이다.
도 2b는 도 2a에 도시된 현미경용 조광장치의 모터부를 개략적으로 도시한 사시도다.
도 2c는 도 2a에 도시된 현미경용 조광장치의 모터부를 개략적으로 도시한 분해 사시도이다.
도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치를 개략적으로 도시한 측면도이다.
도 3b는 도 3a에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치를 A 방향에서 본 정면도이다.
도 3c는 도 3a 및 도 3b에 도시된 라인 광원 모듈에 사용되는 복수의 라인 광원의 구체적인 구성을 도시한 평면도이다.
도 3d는 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치에서 라인 광원 모듈의 회전 상태를 개략적으로 도시한 측면도이다.
도 3e 내지 도 3h는 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치에서 서로 다른 파장의 라인 광원 모듈의 교체 방법을 설명하기 위한 측면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사 방법의 플로우차트를 도시한 도면이다.1A is a plan view of a conventional line light source module.
1B is a partial plan view of a line light source used in the line light source module shown in FIG. 1A and a partial perspective view of the line light source module.
1C is a schematic view of a line light source module and a light irradiation device according to a first embodiment of the related art.
FIG. 1D is a plan view showing a specific configuration of a plurality of line light sources used in the line light source module shown in FIG. 1C.
FIG. 1E is a view schematically showing a line light source module and a light irradiation device according to a second embodiment of the prior art.
2A is a perspective view schematically showing a conventional dimming device for a microscope.
Fig. 2B is a perspective view schematically showing the motor portion of the dimming device for a microscope shown in Fig. 2A. Fig.
2C is an exploded perspective view schematically showing the motor portion of the light modulation device for a microscope shown in FIG. 2A.
3A is a side view schematically showing a line light source module and a light irradiation device according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3B is a front view of the line light source module and the light irradiation device according to the embodiment of the present invention shown in FIG. 3A, viewed from direction A. FIG.
3C is a plan view showing a specific configuration of a plurality of line light sources used in the line light source module shown in FIGS. 3A and 3B.
FIG. 3D is a side view schematically showing the rotation state of the line light source module in the line light source module and the light irradiation device according to the embodiment of the present invention.
3E to 3H are side views for explaining a method of replacing a line light source module having different wavelengths in the line light source module and the light irradiation device according to an embodiment of the present invention.
4 is a flowchart showing a light irradiation method according to an embodiment of the present invention.
이하에서 본 발명의 실시예 및 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to embodiments and drawings of the present invention.
도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치를 개략적으로 도시한 측면도이고, 도 3b는 도 3a에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치를 A 방향에서 본 정면도이며, 도 3c는 도 3a 및 도 3b에 도시된 라인 광원 모듈에 사용되는 복수의 라인 광원의 구체적인 구성을 도시한 평면도이고, 도 3d는 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치에서 라인 광원 모듈의 회전 상태를 개략적으로 도시한 측면도이다.FIG. 3A is a side view schematically showing a line light source module and a light irradiation device according to an embodiment of the present invention, FIG. 3B is a sectional view of a line light source module and a light irradiation device according to an embodiment of the present invention, FIG. 3C is a plan view showing a specific configuration of a plurality of line light sources used in the line light source module shown in FIGS. 3A and 3B, and FIG. 3D is a plan view showing a line light source according to an embodiment of the present invention. FIG. 5 is a side view schematically showing the rotation state of the line light source module in the module and the light irradiation device. FIG.
도 3a 내지 도 3d를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈(311)은 각각이 서로 상이한 파장의 광을 방출하는 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)으로 구성되는 복수의 광원 유닛(313a,313b,313c), 및 상기 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)과 각각 연결되는 공통 전극(316)과 외부 연결용 신호 전극(318)로 구성되는 복수의 라인 광원(310a,310b,310c); 상기 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)이 각각 장착되는 정다각형 표면을 구비하는 정다각형 고정 블록(330); 및 상기 정다각형 고정 블록(330)이 회전 가능하게 장착되는 프레임(302)을 포함하고, 상기 공통 전극(316) 및 상기 외부 연결용 신호 전극(318)은 각각 상기 프레임(302)의 수평 부재(302a) 상에 제공되는 한 쌍의 콘택 부재(317,319)와 접속되는 것을 특징으로 한다.3A to 3D, a line
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사 장치(300)는 각각이 서로 상이한 파장의 광을 방출하는 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)으로 구성되는 복수의 광원 유닛(313a,313b,313c), 및 상기 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)과 각각 연결되는 공통 전극(316)과 외부 연결용 신호 전극(318)로 구성되는 복수의 라인 광원(310a,310b,310c); 상기 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)이 각각 장착되는 정다각형 표면을 구비하는 정다각형 고정 블록(330); 상기 정다각형 고정 블록(330)이 회전 가능하게 장착되는 프레임(302); 상기 프레임(302)의 수평 부재(302a) 상에 제공되며, 상기 공통 전극(316) 및 상기 외부 연결용 신호 전극(318)과 각각 접속되는 한 쌍의 콘택 부재(317,319); 상기 한 쌍의 콘택 부재(317,319)와 한 쌍의 케이블(306,308)에 의해 각각 연결되며, 상기 한 쌍의 콘택 부재(317,319)에 전원을 공급하는 한 쌍의 전원 공급 부재(307,309); 및 상기 수평 부재(302a)의 하부에 제공되며, 상기 복수의 광원 유닛(313a,313b,313c)에서 방출되는 상기 서로 상이한 파장의 광을 축소하여 기판(350) 상의 대상물(미도시)에 결상하기 위한 렌즈 부재(340)를 포함한다.The light irradiating apparatus 300 according to an embodiment of the present invention includes a plurality of light source units 313a and 313b each composed of a plurality of light emitting diode chips 312a, 312b, and 312c that emit light of different wavelengths, A plurality of line light sources 310a, 310b, and 310c including a common electrode 316 and an external signal electrode 318 connected to the plurality of light emitting diode chips 312a, 312b, and 312c, ; A regular polygonal fixing block 330 having a regular polygonal surface on which the plurality of line light sources 310a, 310b and 310c are mounted; A frame 302 to which the regular polygonal fixing block 330 is rotatably mounted; A pair of contact members 317 and 319 provided on the horizontal member 302a of the frame 302 and respectively connected to the common electrode 316 and the external connection signal electrode 318; A pair of power supply members 307 and 309 connected to the pair of contact members 317 and 319 by a pair of cables 306 and 308 and supplying power to the pair of contact members 317 and 319; And a plurality of light source units 313a, 313b, and 313c that are provided at a lower portion of the horizontal member 302a and reduce light of different wavelengths emitted from the plurality of light source units 313a, 313b, and 313c to form an image on an object (not shown) And a lens member (340).
상술한 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈(311) 및 광조사 장치(300)에 사용되는 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)은 도 1d에 도시된 종래 기술에 따른 복수의 라인 광원(110a,110b,110c)과 실질적으로 동일한 구성을 갖는다는 점에 유의하여야 한다. 따라서, 각각의 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)은 LED PCB 모듈로 지칭될 수 있다.The plurality of line
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사 장치(300)에 사용되는 한 쌍의 케이블(306,308)은 각각 플렉시블 인쇄회로기판(FPCB)으로 구현될 수 있다.Further, the pair of
이하에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈(311) 및 광조사 장치(300)의 구체적인 구성 및 동작을 상세히 기술한다.Hereinafter, the detailed configuration and operation of the line
다시 도 3a 내지 도 3d를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈(311)은 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)을 포함한다. 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)은 각각이 서로 상이한 서로 상이한 파장의 광을 방출하는 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)으로 구성되는 복수의 광원 유닛(313a,313b,313c)을 포함한다. 예를 들어, 복수의 발광다이오드 칩(312a)은 가시광선을 방출하고, 복수의 발광다이오드 칩(312b)은 365nm의 자외선을 방출하며, 복수의 발광다이오드 칩(312c)은 405nm의 자외선을 방출할 수 있다. 또한, 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)은 상기 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)과 각각 연결되는 공통 전극(316)과 외부 연결용 신호 전극(318)을 포함한다.Referring again to FIGS. 3A to 3D, the line
상술한 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)은 각각 정다각형 고정 블록(330)에 구비된 정다각형 표면 상에 장착된다. 본 발명의 일 실시예에서는, 정다각형 고정 블록(330)이 정삼각형 고정 블록이고, 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)이 3개의 라인 광원인 것으로 예시적으로 도시되어 있지만, 당업자라면 정다각형 고정 블록(330)이 정n각형 고정 블록(여기서, n은 3 이상의 자연수)이고, 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)이 n개의 라인 광원으로 구현될 수 있다는 것을 충분히 이해할 수 있을 것이다.The plurality of line
또한, 정다각형 고정 블록(330)은 프레임(302)에 회전 가능하게 장착된다. 이를 위해, 정다각형 고정 블록(330)은 회전축(334) 및 외부 조정 노브(knob: 336)에 의해 프레임(302)에 장착된다.In addition, the regular
또한, 정다각형 고정 블록(330)은 그 정다각형 표면에 장착되는 복수의 광원 유닛(313a,313b,313c)을 구성하는 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)에서 발생하는 열을 방출하기 위한 방열판 기능을 구비한다. 이를 위해, 정다각형 고정 블록(330), 회전축(334), 및 외부 조정 노브(336)는 각각 그 길이 방향을 따라 중공부(332)를 구비하고, 외부 조정 노브(336)의 일측 단부에는 에어 블로워(air blower)와 같은 에어 공급 부재(미도시)가 제공된다. 외부 조정 노브(336)의 타측 단부에는 진공 장치와 같은 에어 배기 부재(미도시)가 선택적으로 제공될 수 있지만, 이러한 에어 배기 부재(미도시)는 필수적으로 사용되는 것은 아니라는 점에 유의하여야 한다.The regular
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사 장치(300)는 상술한 라인 광원 모듈(311) 이외에도 상기 프레임(302)의 수평 부재(302a) 상에 제공되는 한 쌍의 콘택 부재(317,319)를 포함한다. 이러한 한 쌍의 콘택 부재(317,319)는 상기 공통 전극(316) 및 외부 연결용 신호 전극(318)과 각각 접속된다. 이 경우, 한 쌍의 콘택 부재(317,319)는 상기 공통 전극(316) 및 외부 연결용 신호 전극(318)과 결합하는 결합홈(미도시)을 구비한다. 이러한 한 쌍의 콘택 부재(317,319)의 결합홈(미도시)은 후술하는 바와 같이 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)의 각각의 공통 전극(316) 및 외부 연결용 신호 전극(318)이 한 쌍의 콘택 부재(317,319)와 접속될 때 가이드 기능을 하여, 정다각형 고정 블록(330)가 승강 이동(수직 이동) 및 회전 이동하더라도 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)에서 방출되는 서로 상이한 파장의 광이 렌즈 부재(340)를 통해 기판(350) 상의 동일한 위치에 결상되도록 해준다.The
또한, 상기 한 쌍의 콘택 부재(317,319)는 한 쌍의 케이블(306,308)에 의해 각각 한 쌍의 전원 공급 부재(307,309)에 연결된다. 한 쌍의 전원 공급 부재(307,309)는 한 쌍의 콘택 부재(317,319)에 전원을 공급한다. 이 경우, 외부 연결용 신호 전극(318)은 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)과 각각 연결되어 있으며(도 3c 참조), 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)의 온/오프 동작은 개별적으로 또는 그룹 방식으로 제어될 수 있다. 예를 들어, 복수의 발광다이오드 칩(312a)이 10개인 경우, 10개 발광다이오드 칩(312a)이 하나씩 개별적으로 온/오프되거나, 또는 2개 이상의 그룹(예를 들어, 발광다이오드 칩(312a) 중 1번 및 2번 발광다이오드 칩(312a)만이 온/오프되거나, 5번 내지 10번 발광다이오드 칩(312a)만이 온/오프되거나, 1번 내지 10번 발광다이오드 칩(312a)이 모두 온/포프 되는 등의 경우)으로 온/오프가 제어될 수 있다.The pair of
또한, 수평 부재(302a)의 하부에는 렌즈 부재(340)가 제공된다. 이러한 렌즈 부재(340)는 복수의 광원 유닛(313a,313b,313c)에서 방출되는 광을 축소하여 기판(350) 상의 대상물(미도시)에 결상시킨다.Further, a
이하에서는, 서로 다른 파장의 라인 광원 모듈의 교체 방법을 상세히 설명한다.Hereinafter, a method for replacing the line light source modules having different wavelengths will be described in detail.
좀 더 구체적으로, 도 3e 내지 도 3h는 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈 및 광조사 장치에서 서로 다른 파장의 라인 광원 모듈의 교체 방법을 설명하기 위한 측면도이다.More specifically, FIGS. 3E to 3H are side views for explaining a method of replacing a line light source module having different wavelengths in the line light source module and the light irradiation device according to an embodiment of the present invention.
도 3e 내지 도 3h를 도 3a 내지 도 3d와 함께 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈(311) 및 광조사 장치(300)가 예를 들어 기판(350) 상의 대상물(미도시)(예를 들어, 특정 패턴)을 검사 또는 경화하기 위한 장치로 사용되고, 도액 1에 의해 형성된 패턴은 광원 유닛(313b)을 이용하여 검사 또는 경화되어야 하고, 도액 1과 상이한 도액 2에 의해 형성된 패턴은 광원 유닛(313a)을 이용하여 검사 또는 경화되어야 하는 경우가 발생한다. 이를 위해, 본 발명의 일 실시예에 따른 라인 광원 모듈(311) 및 광조사 장치(300)에서는 먼저 광원 유닛(313a)이 렌즈 부재(340)의 상부에 위치되는 경우, 광원 유닛(313a)을 이용하여 도액 1에 의해 형성된 패턴을 검사 또는 경화한다(도 3e 참조).3A to 3H, the line
그 후, 도액 1에 의해 형성된 패턴을 검사 또는 경화하기 위해 광원 유닛(313c)의 사용이 필요한 경우, 예를 들어 리니어모터(미도시)를 이용하여 정다각형 고정 블록(330)을 프레임(302)의 상방향으로 이동시킨다(도 3f 참조).Thereafter, when it is necessary to use the
그 후, 예를 들어 회전모터(미도시)를 이용하여 정다각형 고정 블록(330)을 회전축(334)을 기준으로 시계방향으로 120도 회전시킨다(도 3g 참조). 그에 따라, 정다각형 고정 블록(330) 상의 광원 유닛(313c)이 렌즈 부재(340)의 상부에 위치하게 된다. 도 3g의 실시예에서는, 정다각형 고정 블록(330)이 정삼각형 고정 블록(330)으로 구현되므로 120도 회전시키지만, 당업자라면 정다각형 고정 블록(330)이 정n각형 고정 블록(330)인 경우에는 360/n의 각도만큼 회전시켜야 한다는 충분히 이해할 수 있을 것이다.Thereafter, the regular
그 후, 리니어모터(미도시)를 이용하여 정다각형 고정 블록(330)을 프레임(302)의 하방향으로 이동시킨다(도 3h 참조). 그 결과, 정다각형 고정 블록(330) 상의 광원 유닛(313a)이 광원 유닛(313c)으로 교체된다. 이 때, 광원 유닛(313a)과 광원 유닛(313c)은 서로 다른 파장의 광을 방출하므로, 리니어모터는 광원 유닛(313c)에서 방출되는 광이 렌즈 부재(340)를 통해 기판(350) 상의 대상물(미도시)에 결상되는 미리 정해진 위치로 정다각형 고정 블록(330)을 프레임(302)의 하방향으로 정확하고 정밀하게 이동시킨다. 즉, 본 발명에서는 광원 유닛(313a), 광원 유닛(313b), 및 광원 유닛(313c)에서 방출되는 각각의 광이 렌즈 부재(340)를 통해 기판(350) 상의 대상물(미도시)에 결상되는 정확한 위치(높이)가 미리 정해져 있으며, 그에 따라 정다각형 고정 블록(330)을 프레임(302) 상에서 상승 이동 후 하강 이동시킬 때, 검사 또는 경화에 사용될 광원 유닛(313a), 광원 유닛(313b), 및 광원 유닛(313c)에 따라 정다각형 고정 블록(330)이 미리 정해진 위치(높이)로 하강된다는 점에 유의하여야 한다. 그에 따라, 본 발명에서는 렌즈 부재(340)를 교체할 필요가 없다.Thereafter, the regular
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사 방법의 플로우차트를 도시한 도면이다.4 is a flowchart showing a light irradiation method according to an embodiment of the present invention.
도 4를 도 3a 내지 도 3h와 함께 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사 방법(400)은 a) 정다각형 고정 블록(330)에 구비된 정다각형 표면에 각각 장착된 복수의 라인 광원(310a,310b,310c) 중 제 1 파장의 광을 방출하는 하나의 라인 광원을 이용하여 상기 하나의 라인 광원의 하부에 제공되는 렌즈 부재(340)를 통해 기판(350) 상의 대상물(미도시)에 상기 제 1 파장의 광을 조사하는 단계(410); b) 상기 정다각형 고정 블록(330)을 상기 프레임(302)의 상방향으로 이동시키는 단계(420); c) 상기 복수의 라인 광원(310a,310b,310c) 중 제2 파장의 광을 방출하는 다른 하나의 라인 광원이 상기 렌즈 부재(340)의 상부에 위치되도록 상기 정다각형 고정 블록(330)을 상기 프레임(302)의 회전축(334)을 기준으로 미리 정해진 각도만큼 회전시키는 단계(430); d) 상기 정다각형 고정 블록(330)을 상기 프레임(302)의 하방향으로 미리 정해진 위치로 이동시키는 단계(440); 및 e) 상기 다른 하나의 라인 광원을 이용하여 상기 렌즈 부재(340)를 통해 상기 기판(350) 상의 상기 대상물(미도시)에 제 2 파장의 광을 조사하는 단계(450)를 포함하는 것을 특징으로 한다.Referring to FIG. 4, with reference to FIGS. 3A to 3H, a
상술한 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사 방법(400)은 복수의 라인 광원(310a,310b,310c) 중 제 3 파장의 광을 방출하는 또 다른 라인 광원에 대해 상기 b) 단계 내지 상기 e) 단계를 수행하는 단계를 추가로 포함할 수 있다.The
또한, 상기 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사 방법(400)의 상기 c) 단계에서, 상기 미리 정해진 위치는 상기 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)에서 각각 방출되는 서로 상이한 파장의 광이 상기 렌즈 부재(340)를 통해 상기 기판(350) 상의 상기 대상물(미도시)에 결상되도록 해주는 위치이다.In addition, in the step c) of the
또한, 상기 본 발명의 일 실시예에 따른 광조사 방법(400)에서는, 상기 복수의 라인 광원(310a,310b,310c)을 각각 구성하는 복수의 발광다이오드 칩(312a,312b,312c)과 각각 연결되는 공통 전극(316) 및 외부 연결용 신호 전극(318)은 각각 상기 프레임(302)의 수평 부재(302a) 상에 제공되는 한 쌍의 콘택 부재(317,319)와 접속된다.In the
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 라인 광원 모듈(311), 광조사 장치(300), 및 광조사 방법(400)을 사용하면, 1) 검사 장치 또는 경화 장치 등에 사용되는 광조사 장치(400)에서 사용되는 다양한 파장에 대응되는 복수의 라인 광원(310a,310b,310b)을 하나의 모듈로 제공하는 것이 가능해지고, 2) 광조사 장치(300)에서 상이한 파장의 라인 광원의 사용이 요구될 때 해당 파장의 라인 광원으로 교체 셋팅할 필요가 없으며, 3) 양산 공정에 적용 시 라인 광원의 교체 셋팅 등에 따른 전체 공정 시간(tact time)이 현저하게 단축되어 생산성이 크게 증가하고, 4) 상이한 파장을 방출하는 각각의 라인 광원에 사용되는 일부 구성요소(예를 들어, 렌즈 부재)의 사용이 불필요하며, 5) 전체 장치의 제조 비용이 현저하게 절감된다는 장점이 달성된다.As described above, when the line
다양한 변형예가 본 발명의 범위를 벗어남이 없이 본 명세서에 기술되고 예시된 구성 및 방법으로 만들어질 수 있으므로, 상기 상세한 설명에 포함되거나 첨부 도면에 도시된 모든 사항은 예시적인 것으로 본 발명을 제한하기 위한 것이 아니다. 따라서, 본 발명의 범위는 상술한 예시적인 실시예에 의해 제한되지 않으며, 이하의 청구범위 및 그 균등물에 따라서만 정해져야 한다.It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory and are intended to be illustrative, of illustration, and not limitative of the invention, as various changes may be made therein without departing from the scope of the invention. It is not. Accordingly, the scope of the present invention should not be limited by the above-described exemplary embodiments, but should be determined only in accordance with the following claims and their equivalents.
102,302: 프레임 110,110a,110b,110c,310a,310b,310c: 라인 광원
111,311: 라인 광원 모듈 113a,113b,113c,313a,313b,313c: 광원 유닛
120: 마이크로 렌즈 어레이 122,122a,124,124a: 마이크로 렌즈
112a,112b,114a,114b: 자외선 발광다이오드 칩 102,302: 프레임
116,316: 공통 전극 118,318: 외부 연결용 산호 전극
130,330: 지지 부재 140,140a,140b,140c,340: 렌즈 부재
150,350: 기판 200: 현미경용 조광장치 210: 하우징부
211: 하부 하우징 212: 상부 하우징 230: 커넥터부
231: 베이스판 232: 연결판 233: 삽입홀 240: 모터부
241: 모터 242: 쿨링 디스크 244: 유로 246: 결합판
250: 냉각수부 270: 방열부 280: 제어부
290,312a,312b,312c: (LED) 발광다이오드 칩 300: 광조사 장치
302: 수평 부재 306,308: 케이블 307,309: 전원 공급 부재
330: 정다각형 고정 블록 317,319: 콘택 부재 332: 중공부
334: 회전축 336: 외부 조정 노브102, 302:
111, 311: Line
120:
112a, 112b, 114a, 114b: ultraviolet light emitting
116, 116:
130, 330:
150, 350: substrate 200: dimmer for microscope 210: housing part
211: lower housing 212: upper housing 230:
231: base plate 232: connecting plate 233: insertion hole 240:
241: Motor 242: Cooling disk 244: Flow path 246: Coupling plate
250: cooling water part 270: heat dissipating part 280: control part
290, 312a, 312b, 312c: (LED) light emitting diode chip 300:
302:
330: regular polygonal
334: rotating shaft 336: external adjusting knob
Claims (16)
각각이 서로 상이한 파장의 광을 방출하는 복수의 발광다이오드 칩으로 구성되는 복수의 광원 유닛, 및 상기 복수의 발광다이오드 칩과 각각 연결되는 공통 전극과 외부 연결용 신호 전극으로 구성되는 복수의 라인 광원;
상기 복수의 라인 광원이 각각 장착되는 정다각형 표면을 구비하는 정다각형 고정 블록; 및
상기 정다각형 고정 블록이 회전 가능하게 장착되는 프레임
을 포함하고,
상기 공통 전극 및 상기 외부 연결용 신호 전극은 각각 상기 프레임의 수평 부재 상에 제공되는 한 쌍의 콘택 부재와 접속되는
라인 광원 모듈.In the line light source module,
A plurality of light source units each composed of a plurality of light emitting diode chips emitting light of different wavelengths, a plurality of line light sources composed of a common electrode connected to each of the plurality of light emitting diode chips, and a signal electrode for external connection;
A regular polygonal fixed block having a regular polygonal surface on which the plurality of line light sources are mounted; And
The regular polygonal fixed block is rotatably mounted on a frame
/ RTI >
Wherein the common electrode and the external connection signal electrode are respectively connected to a pair of contact members provided on a horizontal member of the frame
Line light source module.
상기 한 쌍의 케이블은 각각 플렉시블 인쇄회로기판(FPCB)으로 구현되는 라인 광원 모듈.The method according to claim 1,
Wherein the pair of cables are each implemented as a flexible printed circuit board (FPCB).
상기 라인 광원 모듈은 상기 정다각형 고정 블록을 상기 프레임에 회전 가능하게 장착시키기 위한 회전축 및 외부 조정 노브를 추가로 포함하는 라인 광원 모듈.The method according to claim 1,
Wherein the line light source module further comprises a rotation axis and an external adjustment knob for rotatably mounting the regular polygonal fixed block on the frame.
상기 정다각형 고정 블록, 상기 회전축, 및 상기 외부 조정 노브는 각각 그 길이 방향을 따라 중공부를 구비하고,
상기 외부 조정 노브의 일측 단부에는 에어 공급 부재가 제공되며,
상기 외부 조정 노브의 타측 단부에는 에어 배기 부재가 선택적으로 제공되는
라인 광원 모듈.The method of claim 3,
The regular polygonal fixing block, the rotation shaft, and the external adjustment knob each have a hollow portion along the longitudinal direction thereof,
An air supply member is provided at one end of the external adjustment knob,
An air exhausting member is selectively provided at the other end of the external control knob
Line light source module.
상기 복수의 발광다이오드 칩의 온/오프 동작은 개별적으로 또는 그룹 방식으로 제어되는 라인 광원 모듈.The method according to claim 1,
Wherein the on / off operations of the plurality of light emitting diode chips are controlled individually or in a group manner.
상기 한 쌍의 콘택 부재는 상기 공통 전극 및 상기 외부 연결용 신호 전극과 각각 결합하는 결합홈을 구비하는 라인 광원 모듈.6. The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein the pair of contact members has a coupling groove for coupling with the common electrode and the signal electrode for external connection, respectively.
각각이 서로 상이한 파장의 광을 방출하는 복수의 발광다이오드 칩으로 구성되는 복수의 광원 유닛, 및 상기 복수의 발광다이오드 칩과 각각 연결되는 공통 전극과 외부 연결용 신호 전극으로 구성되는 복수의 라인 광원;
상기 복수의 라인 광원이 각각 장착되는 정다각형 표면을 구비하는 정다각형 고정 블록;
상기 정다각형 고정 블록이 회전 가능하게 장착되는 프레임;
상기 프레임의 수평 부재 상에 제공되며, 상기 공통 전극 및 상기 외부 연결용 신호 전극과 각각 접속되는 한 쌍의 콘택 부재;
상기 한 쌍의 콘택 부재와 한 쌍의 케이블에 의해 각각 연결되며, 상기 한 쌍의 콘택 부재에 전원을 공급하는 한 쌍의 전원 공급 부재; 및
상기 수평 부재의 하부에 제공되며, 상기 복수의 광원 유닛에서 방출되는 상기 서로 상이한 광을 축소하여 기판 상의 대상물에 결상하기 위한 렌즈 부재
를 포함하는 광조사 장치.In the light irradiation apparatus,
A plurality of light source units each composed of a plurality of light emitting diode chips emitting light of different wavelengths, a plurality of line light sources composed of a common electrode connected to each of the plurality of light emitting diode chips, and a signal electrode for external connection;
A regular polygonal fixed block having a regular polygonal surface on which the plurality of line light sources are mounted;
A frame in which the regular polygon fixing block is rotatably mounted;
A pair of contact members provided on the horizontal member of the frame and respectively connected to the common electrode and the signal electrode for external connection;
A pair of power supply members connected to the pair of contact members and a pair of cables, respectively, for supplying power to the pair of contact members; And
And a lens member provided on a lower portion of the horizontal member to image the different light beams emitted from the plurality of light source units to form an image on an object on the substrate,
And irradiating the light.
상기 한 쌍의 케이블은 각각 플렉시블 인쇄회로기판(FPCB)으로 구현되는 광조사 장치.8. The method of claim 7,
Wherein the pair of cables are each embodied as a flexible printed circuit board (FPCB).
상기 라인 광원 모듈은 상기 정다각형 고정 블록을 상기 프레임에 회전 가능하게 장착시키기 위한 회전축 및 외부 조정 노브를 추가로 포함하는 광조사 장치.8. The method of claim 7,
Wherein the line light source module further comprises a rotation axis and an external adjustment knob for rotatably mounting the regular polygonal fixed block on the frame.
상기 정다각형 고정 블록, 상기 회전축, 및 상기 외부 조정 노브는 각각 그 길이 방향을 따라 중공부를 구비하고,
상기 외부 조정 노브의 일측 단부에는 에어 공급 부재가 제공되며,
상기 외부 조정 노브의 타측 단부에는 에어 배기 부재가 선택적으로 제공되는
광조사 장치.10. The method of claim 9,
The regular polygonal fixing block, the rotation shaft, and the external adjustment knob each have a hollow portion along the longitudinal direction thereof,
An air supply member is provided at one end of the external adjustment knob,
An air exhausting member is selectively provided at the other end of the external control knob
Light irradiation device.
상기 복수의 발광다이오드 칩의 온/오프 동작은 개별적으로 또는 그룹 방식으로 제어되는 광조사 장치.8. The method of claim 7,
Wherein the on / off operation of the plurality of light emitting diode chips is controlled individually or in a group manner.
상기 한 쌍의 콘택 부재는 상기 공통 전극 및 상기 외부 연결용 신호 전극과 각각 결합하는 결합홈을 구비하는 광조사 장치.12. The method according to any one of claims 7 to 11,
Wherein the pair of contact members have coupling grooves that respectively couple with the common electrode and the signal electrode for external connection.
a) 정다각형 고정 블록에 구비된 정다각형 표면에 각각 장착된 복수의 라인 광원 중 제 1 파장의 광을 방출하는 하나의 라인 광원을 이용하여 상기 하나의 라인 광원의 하부에 제공되는 렌즈 부재를 통해 기판 상의 대상물에 상기 제 1 파장의 광을 조사하는 단계;
b) 상기 정다각형 고정 블록을 상기 정다각형 고정 블록이 회전 가능하게 장착되는 프레임의 상방향으로 이동시키는 단계;
c) 상기 복수의 라인 광원 중 제2 파장의 광을 방출하는 다른 하나의 라인 광원이 상기 렌즈 부재의 상부에 위치되도록 상기 정다각형 고정 블록을 상기 프레임의 회전축을 기준으로 미리 정해진 각도만큼 회전시키는 단계;
d) 상기 정다각형 고정 블록을 상기 프레임의 하방향으로 미리 정해진 위치로 이동시키는 단계; 및
e) 상기 다른 하나의 라인 광원을 이용하여 상기 렌즈 부재를 통해 상기 기판 상의 상기 대상물에 제 2 파장의 광을 조사하는 단계
를 포함하는 광조사 방법.In the light irradiation method,
a) a plurality of line light sources mounted on a regular polygonal surface of a regular polygonal fixed block, each of the plurality of line light sources emitting light of a first wavelength, Irradiating the object with light of the first wavelength;
b) moving the regular polygonal fixed block in an upward direction of a frame on which the regular polygonal fixed block is rotatably mounted;
rotating the regular polygonal fixed block with respect to the rotation axis of the frame by a predetermined angle so that the other one of the plurality of line light sources emitting the light of the second wavelength is positioned on the lens member;
d) moving the regular polygonal fixed block to a predetermined position in a downward direction of the frame; And
e) irradiating light of a second wavelength to the object on the substrate through the lens member using the another line light source
≪ / RTI >
상기 복수의 라인 광원 중 제 3 파장의 광을 방출하는 또 다른 라인 광원에 대해 상기 b) 단계 내지 상기 e) 단계를 수행하는 단계를 추가로 포함하는 광조사 방법.14. The method of claim 13,
And performing the steps b) to e) for another line light source that emits light of a third wavelength among the plurality of line light sources.
상기 c) 단계에서, 상기 미리 정해진 위치는 상기 복수의 라인 광원에서 각각 방출되는 서로 상이한 파장의 광이 상기 렌즈 부재를 통해 상기 기판 상의 상기 대상물에 결상되도록 해주는 위치인 광 조사 방법. 14. The method of claim 13,
Wherein in the step (c), the predetermined position is a position at which light of mutually different wavelengths emitted from each of the plurality of line light sources is caused to form an image on the object on the substrate through the lens member.
상기 복수의 라인 광원을 각각 구성하는 복수의 발광다이오드 칩과 각각 연결되는 공통 전극 및 외부 연결용 신호 전극은 각각 상기 프레임의 수평 부재 상에 제공되는 한 쌍의 콘택 부재와 접속되는 광조사 방법.16. The method according to any one of claims 13 to 15,
Wherein a common electrode and a signal electrode for external connection, which are respectively connected to a plurality of light emitting diode chips constituting the plurality of line light sources, are connected to a pair of contact members provided on a horizontal member of the frame, respectively.
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KR101087787B1 (en) | 2010-11-05 | 2011-11-30 | 주식회사 나래나노텍 | Line light source and light source module for exposure apparatus, and exposure apparatus and system for forming patterns having the same |
KR101172840B1 (en) | 2012-05-21 | 2012-08-09 | 주식회사디에치엠 | Lighting equipment for microscope |
KR20140125538A (en) * | 2013-04-19 | 2014-10-29 | 이기창 | A fully or partially electronic-scanned high speed 3-dimensional laser scanner system using laser diode arrays |
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2014
- 2014-12-17 KR KR1020140182393A patent/KR101631821B1/en active IP Right Grant
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